JP2005105318A - Electroless gold-plating liquid - Google Patents

Electroless gold-plating liquid Download PDF

Info

Publication number
JP2005105318A
JP2005105318A JP2003338100A JP2003338100A JP2005105318A JP 2005105318 A JP2005105318 A JP 2005105318A JP 2003338100 A JP2003338100 A JP 2003338100A JP 2003338100 A JP2003338100 A JP 2003338100A JP 2005105318 A JP2005105318 A JP 2005105318A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gold
plating solution
plating
acid
compound
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2003338100A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP4000101B2 (en
Inventor
Masato Furukawa
誠人 古川
Hiroyuki Yamaguchi
博之 山口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NE Chemcat Corp
Original Assignee
NE Chemcat Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NE Chemcat Corp filed Critical NE Chemcat Corp
Priority to JP2003338100A priority Critical patent/JP4000101B2/en
Publication of JP2005105318A publication Critical patent/JP2005105318A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4000101B2 publication Critical patent/JP4000101B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Chemically Coating (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an autocatalyst type electroless gold-plating liquid excellent in liquid stability and having a high plating rate. <P>SOLUTION: The electroless gold-plating liquid comprises the salt of gold sulfite, a complexing agent and a reducing agent, and further comprises one or more selected from glycolic acid, diglycolic acid and their salts. As the complexing agent, e.g., water-soluble aminocarboxylic acid or water-soluble amine is used. As the reducing agent, at least one selected from a hydrazine compound, hydroquinone, its derivative, pyrogallol and its derivative is used. Further, at least one selected from an arsenic compound, a thallium compound and a lead compound, and a benzotriazole compound as a base metal elution inhibitor are preferably incorporated therein. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、銅素地の微細配線基板等へ長時間安定に厚付け金めっきを施すことが可能で、析出速度が速い無電解金めっき液に関する。   The present invention relates to an electroless gold plating solution capable of performing thick gold plating stably for a long time on a fine wiring board or the like of a copper substrate and having a high deposition rate.

金は電気伝導性が良好で、軟らかく、化学的性質が非常に安定であることから、電子部品のめっきに汎用されている。   Gold is widely used for plating electronic parts because it has good electrical conductivity, is soft, and has very stable chemical properties.

従来、回路基板上の配線の表面処理は電気めっき法が用いられてきているが、近年では回路設計の高密度化に伴い、めっき用通電配線の引き回しが困難であること、めっき用通電配線によるノイズ発生などの問題から、無電解めっき法が不可欠となっている。また、無電解金めっき法は、独立回路パターン上への金めっきを行なう方法としても広く利用されている。   Conventionally, electroplating has been used for the surface treatment of wiring on circuit boards. However, due to the recent increase in circuit design density, it is difficult to route plating current wiring. The electroless plating method is indispensable because of problems such as noise generation. The electroless gold plating method is also widely used as a method for performing gold plating on an independent circuit pattern.

回路基板上の配線のめっきは、ワイヤボンディングする際の接続信頼性などの点から金膜厚が0.2μm以上必要である。無電解めっき法によって0.2μm以上の金膜厚を得るには、自己触媒めっき法が適している。自己触媒めっき法は、金塩と還元剤を含有する金めっき液を使用して還元剤の金塩を還元する作用を利用するものである。自己触媒めっき法においては、金が素地卑金属を完全に被覆した後でも還元剤の酸化反応の進行に伴い金の皮膜厚が増加し続けるため、厚付け金めっきが可能である。   The plating of wiring on the circuit board requires a gold film thickness of 0.2 μm or more from the viewpoint of connection reliability when wire bonding is performed. The autocatalytic plating method is suitable for obtaining a gold film thickness of 0.2 μm or more by the electroless plating method. The autocatalytic plating method utilizes the action of reducing the gold salt of the reducing agent using a gold plating solution containing a gold salt and a reducing agent. In the autocatalytic plating method, the thickness of the gold film continues to increase with the progress of the oxidizing reaction of the reducing agent even after the gold has completely covered the base metal, so that thick gold plating is possible.

これまで多くの自己触媒型無電解金めっき液が開発されているが、金イオン源としてシアン化金塩を使用し、高アルカリ性でめっきをするめっき液が多い。シアン化金塩を含有するめっき液は、毒性が高く、レジストの耐久性が低いという問題がある。   Many autocatalytic electroless gold plating solutions have been developed so far, but there are many plating solutions that use gold cyanide as a gold ion source and perform plating with high alkalinity. A plating solution containing a gold cyanide salt has a problem of high toxicity and low durability of the resist.

一方、シアン化合物を含有しない無電解めっき液としては、例えば特許第3030114号公報(特許文献1)記載のめっき液がある。この無電解めっき液はシアン化合物を含有しないため毒性が低く、pHも中性であるためレジストの耐久性に優れている。   On the other hand, as an electroless plating solution not containing a cyanide compound, for example, there is a plating solution described in Japanese Patent No. 3030114 (Patent Document 1). Since this electroless plating solution does not contain a cyanide compound, its toxicity is low and its pH is neutral, so that the durability of the resist is excellent.

しかし、特許第3030114号公報記載のめっき液は、水溶性ポリアミノカルボン酸としてエチレンジアミン四酢酸を使用している。エチレンジアミン四酢酸の使用は金属不純物の錯化を目的としているが、錯化力が強すぎる為、金属不純物の錯化だけではなくめっき素材表面に吸着して、金の析出を大きく阻害してしまい、めっきの析出速度を遅くする。めっき液からエチレンジアミン四酢酸を除くと、析出速度の高速化は期待できるが、加温中又はめっき中に金粒子が析出して液分解してしまい、液安定性が極端に低下してめっき液として成り立たない。このように、エチレンジアミン四酢酸はめっき液の安定性に寄与している反面、金の析出速度を遅くしており、めっきの高速化と液安定性の維持の両方を満たすことは非常に困難である。   However, the plating solution described in Japanese Patent No. 3030114 uses ethylenediaminetetraacetic acid as the water-soluble polyaminocarboxylic acid. The use of ethylenediaminetetraacetic acid is aimed at complexing metal impurities, but because the complexing power is too strong, not only the metal impurities are complexed but also adsorbed on the surface of the plating material, greatly hindering gold deposition. Reduce the deposition rate of the plating. If ethylenediaminetetraacetic acid is removed from the plating solution, the deposition rate can be expected to increase, but gold particles are deposited during heating or during plating, resulting in liquid decomposition, resulting in a drastic decrease in solution stability and plating solution. It does not hold as. Thus, while ethylenediaminetetraacetic acid contributes to the stability of the plating solution, it slows down the gold deposition rate, making it very difficult to satisfy both high-speed plating and maintenance of solution stability. is there.

このように、エチレンジアミン四酢酸は亜硫酸金錯体の安定化剤及び金属不純物の錯化剤として不可欠であることから多くの非シアン系自己触媒型めっき液に使用されている。しかしながら、近年、エチレンジアミン四酢酸は微生物による分解性が低く、環境中に長く留まり、水系環境に悪影響を及ぼすことが明らかとなっている。加えて、化学物質管理促進法(PRTR法)の対象物質に該当し、さまざまな分野で使用が制限されている。このため、無電解金めっきにおいてもエチレンジアミン四酢酸を使用しないめっき液の開発が求められている。
特許第3030114号公報(請求項1)
As described above, ethylenediaminetetraacetic acid is indispensable as a stabilizer for gold sulfite complex and a complexing agent for metal impurities, so that it is used in many non-cyanide autocatalytic plating solutions. However, in recent years, it has been revealed that ethylenediaminetetraacetic acid is poorly degradable by microorganisms, stays in the environment for a long time, and adversely affects the aqueous environment. In addition, it falls under the scope of chemical substances management promotion law (PRTR law) and its use is restricted in various fields. For this reason, development of a plating solution that does not use ethylenediaminetetraacetic acid is also required in electroless gold plating.
Japanese Patent No. 3030114 (Claim 1)

本発明の目的は、毒性が高いシアン化金塩を含まず、更に環境負荷が高いエチレンジアミン四酢酸を使用しなくても液安定性に優れ、めっき速度が速い自己触媒型無電解金めっき液を得ることにある。   The object of the present invention is to provide a self-catalyzed electroless gold plating solution that does not contain highly toxic gold cyanide salt and has excellent solution stability and high plating speed without using ethylenediaminetetraacetic acid, which has a high environmental load. There is to get.

本発明者は鋭意研究の結果、亜硫酸金塩、錯化剤、還元剤を含むめっき液に、グリコール酸、ジグリコール酸及びそれらの塩から選ばれる1以上を添加することにより、シアン化金塩を含まず、更にエチレンジアミン四酢酸を使用しなくても液安定性に優れ、めっき速度が速いめっき液が得られることを見出し本発明を完成するに到った。   As a result of earnest research, the present inventor has added gold cyanide salt by adding one or more selected from glycolic acid, diglycolic acid and salts thereof to a plating solution containing gold sulfite, a complexing agent and a reducing agent. In addition, the present inventors have found that a plating solution having excellent liquid stability and a high plating rate can be obtained without using ethylenediaminetetraacetic acid.

〔1〕 亜硫酸金塩、錯化剤及び還元剤を含む無電解金めっき液であって、グリコール酸、ジグリコール酸及びそれらの塩から選ばれる1以上を含有することを特徴とする無電解金めっき液。   [1] An electroless gold plating solution containing gold sulfite, a complexing agent and a reducing agent, wherein the electroless gold plating solution contains at least one selected from glycolic acid, diglycolic acid and salts thereof Plating solution.

〔2〕 錯化剤が、エチレンジアミン四酢酸(EDTA)を除く水溶性アミノカルボン酸又は水溶性アミンである〔1〕に記載の無電解金めっき液。   [2] The electroless gold plating solution according to [1], wherein the complexing agent is a water-soluble aminocarboxylic acid or water-soluble amine excluding ethylenediaminetetraacetic acid (EDTA).

〔3〕 還元剤として、ヒドラジン化合物、ヒドロキノン及びその誘導体、ピロガロール及びその誘導体の少なくとも一つを使用する〔1〕又は〔2〕に記載の無電解金めっき液。   [3] The electroless gold plating solution according to [1] or [2], wherein at least one of a hydrazine compound, hydroquinone and a derivative thereof, pyrogallol and a derivative thereof is used as a reducing agent.

〔4〕 ひ素化合物、タリウム化合物及び鉛化合物の少なくとも一つを含有する〔1〕乃至〔3〕のいずれかに記載の無電解金めっき液。   [4] The electroless gold plating solution according to any one of [1] to [3], which contains at least one of an arsenic compound, a thallium compound, and a lead compound.

〔5〕 下地金属溶出抑制剤としてベンゾトリアゾール系化合物を含有する〔1〕乃至〔4〕の何れかに記載の無電解金めっき液。   [5] The electroless gold plating solution according to any one of [1] to [4], which contains a benzotriazole-based compound as a base metal elution inhibitor.

本発明の無電解めっき液は、シアン化金塩を使用せず亜硫酸金塩を使用するため、毒性が低く安全上有利である。シアン化金塩を使用しないことから中性のめっき条件で使用できるので、微細回路基板上のレジストを溶解することなく、パターン形成性良く金が析出する。更に、グリコール酸、ジグリコール酸及びそれらの塩から選ばれる1以上を使用することによりPRTR法の対象物質であるエチレンジアミン四酢酸を使用しなくとも液安定性を維持することができ、環境負荷を低減できる。また、エチレンジアミン四酢酸を使用した場合に従来避けられなかっためっきの析出速度の低下を改善し、めっき速度を上げることができる。   Since the electroless plating solution of the present invention uses gold sulfite instead of gold cyanide, it has low toxicity and is advantageous in terms of safety. Since gold cyanide salt is not used, it can be used under neutral plating conditions. Therefore, gold is deposited with good pattern formation without dissolving the resist on the fine circuit board. Furthermore, by using one or more selected from glycolic acid, diglycolic acid and salts thereof, liquid stability can be maintained without using ethylenediaminetetraacetic acid, which is a target substance of the PRTR method, and the environmental load is reduced. Can be reduced. In addition, when ethylenediaminetetraacetic acid is used, it is possible to improve the decrease in the deposition rate of the plating, which was conventionally unavoidable, and to increase the plating rate.

また、本発明の無電解めっき液を使用すれば銅、ニッケル等の素地のめっき液への溶け込みがないため、金の部分的異常析出やパターン形成性の劣化を生じることなく、ムラ、ガスピット等の外観不良のない金皮膜を得ることができる。更に、金めっき液の液安定性を劣化させる銅の溶け込みがないため、自己分解を生じることなくめっき液を長時間安定に使用することが可能である。   In addition, if the electroless plating solution of the present invention is used, since there is no dissolution of the base material such as copper and nickel into the plating solution, unevenness, gas pits, etc. occur without causing partial abnormal precipitation of gold or deterioration of pattern formation. It is possible to obtain a gold film having no appearance defects. Furthermore, since there is no penetration of copper that degrades the liquid stability of the gold plating solution, the plating solution can be used stably for a long time without causing self-decomposition.

本発明の無電解金めっき液は、銅素地のレジストを用いたICフレーム、プリント基板、セラミック基板又はレジストを用いないウエハーなどの微細回路上の金めっきを施すのに最適である。   The electroless gold plating solution of the present invention is optimal for gold plating on a fine circuit such as an IC frame, a printed circuit board, a ceramic substrate, or a wafer not using a resist using a copper base resist.

以下、本発明の無電解金めっき液について詳細に説明する。   Hereinafter, the electroless gold plating solution of the present invention will be described in detail.

本発明の無電解金めっき液は、金イオン源として亜硫酸金塩を使用する。亜硫酸金塩としては、例えば亜硫酸金アンモニウム、亜硫酸金カリウム、亜硫酸金ナトリウム等を挙げることができる。本発明の無電解金めっき液の金イオン濃度は、1〜8g/Lとすることが好ましく、2〜5g/Lとすることがより好ましい。金イオン濃度が1g/L未満であると、めっき反応の進行が遅いか、ほとんどめっき反応が起こらない。一方、8g/Lを超えると金イオンの安定性が低下して金めっき液に金粒子が生成して沈殿し、自己分解に至りやすい。   The electroless gold plating solution of the present invention uses gold sulfite as a gold ion source. Examples of the gold sulfite include gold ammonium sulfite, gold potassium sulfite, and sodium gold sulfite. The gold ion concentration of the electroless gold plating solution of the present invention is preferably 1 to 8 g / L, and more preferably 2 to 5 g / L. When the gold ion concentration is less than 1 g / L, the plating reaction proceeds slowly or hardly occurs. On the other hand, if it exceeds 8 g / L, the stability of the gold ions is lowered, and gold particles are generated and precipitated in the gold plating solution, which easily leads to self-decomposition.

本発明の無電解金めっき液には錯化剤として、水溶性アミノカルボン酸又は水溶性アミンを用いることが好ましい。錯化剤として水溶性アミノカルボン酸又は水溶性アミンを用いることにより、めっき液中の亜硫酸金塩の自己分解が抑制される。また、これらの錯化剤を用いた場合には、素地金属の銅、ニッケルなどの溶け込みによる金属不純物を隠ぺいするため、めっき液は沈殿を生じず、パターン形成性良く、外観良好な金皮膜を析出することができる。   It is preferable to use a water-soluble aminocarboxylic acid or a water-soluble amine as a complexing agent in the electroless gold plating solution of the present invention. By using a water-soluble aminocarboxylic acid or a water-soluble amine as a complexing agent, autolysis of gold sulfite in the plating solution is suppressed. In addition, when these complexing agents are used, the plating solution does not cause precipitation because it conceals metal impurities caused by the penetration of the base metals such as copper and nickel. It can be deposited.

錯化剤として用いる水溶性アミノカルボン酸、水溶性アミンとしては、例えばニトリロ三酢酸、イミノ二カルボン酸、グリシン、グルタミン酸、アスパラギン酸等の水溶性アミノカルボン酸及びそれらの塩;トリエタノールアミン、トリエチレンテトラミン、エチレンジアミン、ジメチルアミン、ヒドロキシアミン、メチルグリシン二酢酸(BASF社製、Trilon M)等の水溶性アミン及びそれらの塩を挙げることができる。   Examples of the water-soluble aminocarboxylic acid and water-soluble amine used as a complexing agent include water-soluble aminocarboxylic acids such as nitrilotriacetic acid, iminodicarboxylic acid, glycine, glutamic acid, and aspartic acid, and salts thereof; Examples thereof include water-soluble amines such as ethylenetetramine, ethylenediamine, dimethylamine, hydroxyamine, methylglycine diacetate (manufactured by BASF, Trilon M) and salts thereof.

錯化剤として水溶性アミノカルボン酸であるエチレンジアミン四酢酸(EDTA)を用いることも可能であるが、上述したように環境負荷が大きいことからEDTAを使用しない方が好ましい。   Although it is possible to use ethylenediaminetetraacetic acid (EDTA), which is a water-soluble aminocarboxylic acid, as the complexing agent, it is preferable not to use EDTA because of the large environmental burden as described above.

本発明の無電解金めっき液は、錯化剤として水溶性アミノカルボン酸を使用する場合には含有量を10〜150g/Lとすることが好ましく、10〜100g/Lとすることがより好ましい。水溶性アミノカルボン酸の含有量が10g/L未満であると金めっき液がニッケルなどの金属不純物の影響を受け易くなり、液安定性が低下する。150g/Lを超えるとそれに見合う効果が得られにくく、経済的でない。錯化剤として水溶性アミンを使用する場合には含有量を1〜10g/Lとすることが好ましく、2〜6g/Lとすることがより好ましい。水溶性アミンの含有量が1g/L未満であるとガスピットの抑制効果がなく、10g/L以上を超えるとめっき物の外観が悪くなる傾向がある。   When the electroless gold plating solution of the present invention uses a water-soluble aminocarboxylic acid as a complexing agent, the content is preferably 10 to 150 g / L, more preferably 10 to 100 g / L. . If the content of the water-soluble aminocarboxylic acid is less than 10 g / L, the gold plating solution is easily affected by metal impurities such as nickel, and the solution stability is lowered. If it exceeds 150 g / L, it is difficult to obtain an effect corresponding to it, and it is not economical. When a water-soluble amine is used as the complexing agent, the content is preferably 1 to 10 g / L, and more preferably 2 to 6 g / L. When the content of the water-soluble amine is less than 1 g / L, there is no gas pit suppressing effect, and when it exceeds 10 g / L, the appearance of the plated product tends to be deteriorated.

本発明の無電解金めっき液は、還元剤としてヒドラジン化合物、ヒドロキノン及びその誘導体、ピロガロール及びその誘導体の少なくとも一つを使用することが好ましい。ヒドラジン、ヒドロキノン、ピロガロールの他、具体的には、塩化ヒドラジン、硫酸ヒドラジン、一塩化ヒドラジン及び二塩化ヒドラジン等のヒドラジン化合物;メチルヒドロキノン等のヒドロキノン誘導体;ピロガロールモノメチルエーテル、ピロガロール−4−カルボン酸、ピロガロール4,6−ジカルボン酸、没食子酸等のピロガロール誘導体等を挙げることができる。本発明無電解めっき液は、還元剤の含有量を5〜50g/Lとすることが好ましく、10〜30g/Lとすることがより好ましい。還元剤の含有量が5g/L未満であると、めっき反応がほとんど起こらず、50g/Lを超えると、液安定性が低下し、自己分解しやすい。   The electroless gold plating solution of the present invention preferably uses at least one of a hydrazine compound, hydroquinone and a derivative thereof, pyrogallol and a derivative thereof as a reducing agent. In addition to hydrazine, hydroquinone and pyrogallol, specifically, hydrazine compounds such as hydrazine chloride, hydrazine sulfate, hydrazine monochloride and hydrazine dichloride; hydroquinone derivatives such as methylhydroquinone; pyrogallol monomethyl ether, pyrogallol-4-carboxylic acid, pyrogallol Examples include pyrogallol derivatives such as 4,6-dicarboxylic acid and gallic acid. The electroless plating solution of the present invention preferably has a reducing agent content of 5 to 50 g / L, and more preferably 10 to 30 g / L. When the content of the reducing agent is less than 5 g / L, the plating reaction hardly occurs. When the content exceeds 50 g / L, the liquid stability is lowered and self-decomposition tends to occur.

本発明の無電解金めっき液は、上記成分に加えてグリコール酸、ジグリコール酸及びそれらの塩から選ばれる1以上を使用する。具体的には、グリコール酸、ジグリコール酸の他、グリコール酸カリウム、グリコール酸ナトリウム;ジグリコール酸カリウム、ジグリコール酸ナトリウム等を挙げることができる。グリコール酸、ジグリコール酸及びそれらの塩の含有量は1〜200g/Lとすることが好ましく、5〜150g/Lとすることがより好ましい。含有量が1g/L未満であると、液安定性が低下する傾向があり、200g/Lを超えるとそれに見合う効果が得られず、経済的でない。   The electroless gold plating solution of the present invention uses one or more selected from glycolic acid, diglycolic acid and salts thereof in addition to the above components. Specific examples include glycolic acid and diglycolic acid, as well as potassium glycolate and sodium glycolate; potassium diglycolate and sodium diglycolate. The content of glycolic acid, diglycolic acid and salts thereof is preferably 1 to 200 g / L, and more preferably 5 to 150 g / L. If the content is less than 1 g / L, the liquid stability tends to decrease, and if it exceeds 200 g / L, an effect commensurate with it cannot be obtained and it is not economical.

本発明の無電解金めっき液は、上記の必須成分に加えて下記の成分を含有することが好ましい。   The electroless gold plating solution of the present invention preferably contains the following components in addition to the above essential components.

(1)チオ硫酸塩
チオ硫酸塩としては、例えばチオ硫酸アンモニウム、チオ硫酸カリウム、チオ硫酸ナトリウム等を挙げることができる。チオ硫酸塩の含有量としては、1〜50g/Lとすることが好ましく、5〜30g/Lとすることがより好ましい。チオ硫酸塩の含有量が1g/L未満または50g/Lを超えると、めっき液の安定性が低下する傾向がある。
(1) Thiosulfate Examples of the thiosulfate include ammonium thiosulfate, potassium thiosulfate, sodium thiosulfate, and the like. The content of thiosulfate is preferably 1 to 50 g / L, and more preferably 5 to 30 g / L. When the content of thiosulfate is less than 1 g / L or exceeds 50 g / L, the stability of the plating solution tends to decrease.

(2)亜硫酸塩
亜硫酸塩としては、例えば亜硫酸アンモニウム、亜硫酸カリウム、亜硫酸ナトリウム等を挙げることができる。亜硫酸塩の含有量としては、5〜150g/Lとすることが好ましく、30〜100g/Lとすることがより好ましい。亜硫酸塩の含有量が5g/L未満であると液安定性が低下する傾向があり、150g/Lを超えるとめっき反応速度が遅くなる傾向がある。
(2) Sulfite Examples of the sulfite include ammonium sulfite, potassium sulfite, and sodium sulfite. The content of sulfite is preferably 5 to 150 g / L, and more preferably 30 to 100 g / L. If the sulfite content is less than 5 g / L, the liquid stability tends to decrease, and if it exceeds 150 g / L, the plating reaction rate tends to be slow.

(3)ヒ素化合物、タリウム化合物、鉛化合物
ヒ素化合物としては、亜ヒ酸、ヒ酸等を、タリウム化合物としては、酢酸タリウム、硝酸タリウム、塩化タリウム等を、鉛化合物としては、酢酸鉛、硝酸鉛、塩化鉛等を挙げることができる。本発明の無電解金めっき液は、これらの化合物の少なくとも一つを含有することが好ましい。これらの化合物を含有することにより、金皮膜外観、パターン形成性、自己分解抑制性がより一層向上する。これらの化合物の含有量としては1.0〜10.0mg/Lとすることが好ましく、3.0〜7.0mg/Lとすることがより好ましい。含有量が1.0mg/L未満ではめっき速度の低下やめっき液が自己分解し易くなり、一方10.0mg/Lを超えると添加しても添加量に見合う効果が得られない。
(3) Arsenic compounds, thallium compounds, lead compounds As arsenic compounds, arsenic acid, arsenic acid, etc., as thallium compounds, thallium acetate, thallium nitrate, thallium chloride, etc., as lead compounds, lead acetate, nitric acid Lead, lead chloride and the like can be mentioned. The electroless gold plating solution of the present invention preferably contains at least one of these compounds. By containing these compounds, the appearance of the gold film, the pattern forming property, and the self-decomposition suppressing property are further improved. The content of these compounds is preferably 1.0 to 10.0 mg / L, more preferably 3.0 to 7.0 mg / L. If the content is less than 1.0 mg / L, the plating rate is lowered and the plating solution tends to self-decompose. On the other hand, if it exceeds 10.0 mg / L, an effect commensurate with the added amount cannot be obtained.

(4)ベンゾトリアゾール系化合物
本発明の無電解金めっきがベンゾトリアゾール系化合物を含有する場合には、ベンゾトリアゾール系化合物が下地金属溶出抑制剤として作用するため素地の銅がめっき液に溶解しない。このため、銅の溶解に伴うめっきの部分的異常析出が生じなくなり、膜厚のばらつきが小さく、パターン形成性の良好な金皮膜を得ることができる。
(4) Benzotriazole compound When the electroless gold plating of the present invention contains a benzotriazole compound, the base copper does not dissolve in the plating solution because the benzotriazole compound acts as a base metal elution inhibitor. For this reason, the partial abnormal precipitation of plating accompanying the dissolution of copper does not occur, and the film thickness variation is small, and a gold film having good pattern formability can be obtained.

ベンゾトリアゾール系化合物としては、例えばベンゾトリアゾールナトリウム、ベンゾトリアゾールカリウム、テトラヒドロベンゾトリアゾール、メチルベンゾトリアゾール、ニトロベンゾトリアゾール等を挙げることができる。ベンゾトリアゾール系化合物の含有量としては1〜20g/Lとすることが好ましく、3〜10g/Lとすることがより好ましい。ベンゾトリアゾール系化合物の含有量が1g/L未満であると銅のめっき液への溶解抑制に効果がなく、銅の溶解による部分的異常析出が生じパターン形成性が悪くなるばかりでなく、液安定性が低下する傾向がある。20g/Lを超えるとめっき反応の進行が極端に遅くなる傾向がある。   Examples of the benzotriazole-based compound include benzotriazole sodium, benzotriazole potassium, tetrahydrobenzotriazole, methylbenzotriazole, and nitrobenzotriazole. The content of the benzotriazole-based compound is preferably 1 to 20 g / L, and more preferably 3 to 10 g / L. If the content of the benzotriazole compound is less than 1 g / L, there is no effect in suppressing the dissolution of copper into the plating solution, and partial abnormal precipitation due to the dissolution of copper results in poor pattern formation and liquid stability. Tend to decrease. If it exceeds 20 g / L, the progress of the plating reaction tends to be extremely slow.

(5)pH調整剤
本発明の無電解金めっき液は、pH5.0〜10.0で使用可能であるが、pH6.0〜8.0で使用することが好ましい。pHが5.0より低い場合にはめっき反応の進行がほとんど起こらず、pHが10.0より高い場合にはめっき液は自己分解し易くなる。またpHが10.0より高い場合、金めっき液がレジストを溶解し易くなる。pH調整剤としては、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、水酸化アンモニウム、亜硫酸水等を使用することができる。
(5) pH adjuster The electroless gold plating solution of the present invention can be used at pH 5.0 to 10.0, but is preferably used at pH 6.0 to 8.0. When the pH is lower than 5.0, the plating reaction hardly proceeds, and when the pH is higher than 10.0, the plating solution is easily decomposed. On the other hand, when the pH is higher than 10.0, the gold plating solution easily dissolves the resist. As the pH adjuster, sodium hydroxide, potassium hydroxide, ammonium hydroxide, aqueous sulfite, or the like can be used.

また、本発明の無電解金めっき液は、液温30〜90℃で使用可能であるが、50〜80℃で使用することが好ましい。めっき液の液温が30℃より低いと、めっき反応がほとんど起こらず、90℃より高いと液安定性が低下し、めっき液が分解する傾向がある。   The electroless gold plating solution of the present invention can be used at a solution temperature of 30 to 90 ° C, but is preferably used at 50 to 80 ° C. When the temperature of the plating solution is lower than 30 ° C., the plating reaction hardly occurs. When the temperature is higher than 90 ° C., the solution stability is lowered and the plating solution tends to be decomposed.

実施例1
レジストを使用して線幅50〜1000μmの回路を形成した。大きさ5×5cmの銅素地微細回路基板上に、厚さ3μmの市販の無電解ニッケルめっき液(エヌ・イー ケムキャット(株) スーパーニック100)でニッケル皮膜を形成し、その後市販の置換金めっき液(エヌ・イー ケムキャット(株) ATOMEX)に浸漬してめっきした。10分後にこの基板を取り出し、ケイ光X線膜厚測定器により析出膜厚を測定した。置換金めっきの膜厚は0.05μmであった。以下この置換めっきを施した基板を試料と称する。
亜硫酸金ナトリウム :4g/L(Auとして)
グリコール酸 :52g/L
エチレンジアミン :3.0g/L
チオ硫酸ナトリウム :20g/L
亜硫酸ナトリウム :50g/L
硫酸ヒドラジン :25g/L
ベンゾトリアゾール :4.0g/L
硫酸タリウム :5mg/L
上記成分を含有するめっき液をpH7.0に調整し、液温70℃として試料を1時間浸漬した。1時間後に試料を取り出し、蛍光X線膜厚測定器により析出膜厚を測定した。1時間後の金膜厚は0.50μmであった。目視及び実体顕微鏡により確認したところ、レジストの変色は認められず、パターン形成性良く微細回路上に金が析出した。析出した金皮膜は、色調がレモンイエローで、外観はムラ、ガスピットがなく、良好な外観が得られた。また、めっき液の分解は認められなかった。
Example 1
A circuit having a line width of 50 to 1000 μm was formed using a resist. A nickel film is formed on a copper substrate microcircuit board with a size of 5 x 5 cm using a commercially available electroless nickel plating solution with a thickness of 3 μm (NEC Chemcat Co., Ltd. Supernic 100), and then a commercially available replacement gold plating. It was immersed in a liquid (N Chemchem ATOMEX) and plated. After 10 minutes, the substrate was taken out, and the deposited film thickness was measured with a fluorescent X-ray film thickness measuring instrument. The thickness of the displacement gold plating was 0.05 μm. Hereinafter, the substrate subjected to the displacement plating is referred to as a sample.
Sodium gold sulfite: 4 g / L (as Au)
Glycolic acid: 52 g / L
Ethylenediamine: 3.0g / L
Sodium thiosulfate: 20 g / L
Sodium sulfite: 50 g / L
Hydrazine sulfate: 25 g / L
Benzotriazole: 4.0 g / L
Thallium sulfate: 5mg / L
The plating solution containing the above components was adjusted to pH 7.0, and the sample was immersed for 1 hour at a solution temperature of 70 ° C. A sample was taken out after 1 hour, and the deposited film thickness was measured with a fluorescent X-ray film thickness measuring instrument. The gold film thickness after 1 hour was 0.50 μm. When confirmed by visual observation and a stereoscopic microscope, discoloration of the resist was not recognized, and gold was deposited on the fine circuit with good pattern formation. The deposited gold film had a lemon-yellow color tone, had no uneven appearance and no gas pits, and had a good appearance. Moreover, decomposition of the plating solution was not observed.

実施例2
亜硫酸金ナトリウム :4g/L(Auとして)
グリコール酸 :52g/L
エチレンジアミン :3.0g/L
チオ硫酸ナトリウム :20g/L
亜硫酸ナトリウム :50g/L
ヒドロキノン :10g/L
ベンゾトリアゾール :4.0g/L
硫酸タリウム :5mg/L
上記成分を含有するめっき液をpH7.0に調整し、液温70℃として試料を1時間浸漬した。1時間後に試料を取り出し、蛍光X線膜厚測定器により析出膜厚を測定した。1時間後の金膜厚は1.20μmであった。目視及び実体顕微鏡により確認したところ、レジストの変色は認められず、パターン形成性良く微細回路上に金が析出した。析出した金皮膜は、色調がレモンイエローで、外観はムラ、ガスピットがなく、良好な外観が得られた。また、めっき液の分解は認められなかった。
Example 2
Sodium gold sulfite: 4 g / L (as Au)
Glycolic acid: 52 g / L
Ethylenediamine: 3.0g / L
Sodium thiosulfate: 20 g / L
Sodium sulfite: 50 g / L
Hydroquinone: 10g / L
Benzotriazole: 4.0 g / L
Thallium sulfate: 5mg / L
The plating solution containing the above components was adjusted to pH 7.0, and the sample was immersed for 1 hour at a solution temperature of 70 ° C. A sample was taken out after 1 hour, and the deposited film thickness was measured with a fluorescent X-ray film thickness measuring instrument. The gold film thickness after 1 hour was 1.20 μm. When confirmed by visual observation and a stereoscopic microscope, discoloration of the resist was not recognized, and gold was deposited on the fine circuit with good pattern formation. The deposited gold film had a lemon-yellow color tone, had no uneven appearance and no gas pits, and had a good appearance. Moreover, decomposition of the plating solution was not observed.

実施例3
亜硫酸金ナトリウム :4g/L(Auとして)
グリコール酸 :52g/L
イミノ二酢酸 :23g/L
エチレンジアミン :3.0g/L
チオ硫酸ナトリウム :20g/L
亜硫酸ナトリウム :50g/L
ヒドロキノン :10g/L
ベンゾトリアゾール :4.0g/L
硫酸タリウム :5mg/L
上記成分を含有するめっき液をpH7.0に調整し、液温70℃として試料を1時間浸漬した。1時間後に試料を取り出し、蛍光X線膜厚測定器により析出膜厚を測定した。1時間後の金膜厚は0.80μmであった。目視及び実体顕微鏡により確認したところ、レジストの変色は認められず、パターン形成性良く微細回路上に金が析出した。析出した金皮膜は、色調がレモンイエローで、外観はムラ、ガスピットがなく、良好な外観が得られた。また、めっき液の分解は認められなかった。
Example 3
Sodium gold sulfite: 4 g / L (as Au)
Glycolic acid: 52 g / L
Iminodiacetic acid: 23 g / L
Ethylenediamine: 3.0g / L
Sodium thiosulfate: 20 g / L
Sodium sulfite: 50 g / L
Hydroquinone: 10g / L
Benzotriazole: 4.0 g / L
Thallium sulfate: 5mg / L
The plating solution containing the above components was adjusted to pH 7.0, and the sample was immersed for 1 hour at a solution temperature of 70 ° C. A sample was taken out after 1 hour, and the deposited film thickness was measured with a fluorescent X-ray film thickness measuring instrument. The gold film thickness after 1 hour was 0.80 μm. When confirmed by visual observation and a stereoscopic microscope, discoloration of the resist was not recognized, and gold was deposited on the fine circuit with good pattern formation. The deposited gold film had a lemon-yellow color tone, had no uneven appearance and no gas pits, and had a good appearance. Moreover, decomposition of the plating solution was not observed.

実施例4
亜硫酸金ナトリウム :4g/L(Auとして)
グリコール酸 :52g/L
ニトリロ三酢酸 :33g/L
エチレンジアミン :3.0g/L
チオ硫酸ナトリウム :20g/L
亜硫酸ナトリウム :50g/L
ヒドロキノン :10g/L
ベンゾトリアゾール :4.0g/L
硫酸タリウム :5mg/L
上記成分を含有するめっき液をpH7.0に調整し、液温70℃として試料を1時間浸漬した。1時間後に試料を取り出し、蛍光X線膜厚測定器により析出膜厚を測定した。1時間後の金膜厚は0.73μmであった。目視及び実体顕微鏡により確認したところ、レジストの変色は認められず、パターン形成性良く微細回路上に金が析出した。析出した金皮膜は、色調がレモンイエローで、外観はムラ、ガスピットがなく、良好な外観が得られた。また、めっき液の分解は認められなかった。
Example 4
Sodium gold sulfite: 4 g / L (as Au)
Glycolic acid: 52 g / L
Nitrilotriacetic acid: 33 g / L
Ethylenediamine: 3.0g / L
Sodium thiosulfate: 20 g / L
Sodium sulfite: 50 g / L
Hydroquinone: 10g / L
Benzotriazole: 4.0 g / L
Thallium sulfate: 5mg / L
The plating solution containing the above components was adjusted to pH 7.0, and the sample was immersed for 1 hour at a solution temperature of 70 ° C. A sample was taken out after 1 hour, and the deposited film thickness was measured with a fluorescent X-ray film thickness measuring instrument. The gold film thickness after 1 hour was 0.73 μm. When confirmed by visual observation and a stereoscopic microscope, discoloration of the resist was not recognized, and gold was deposited on the fine circuit with good pattern formation. The deposited gold film had a lemon-yellow color tone, had no uneven appearance and no gas pits, and had a good appearance. Moreover, decomposition of the plating solution was not observed.

実施例5
亜硫酸金ナトリウム :4g/L(Auとして)
グリコール酸 :52g/L
メチルグリシン二酢酸 :30g/L
エチレンジアミン :3.0g/L
チオ硫酸ナトリウム :20g/L
亜硫酸ナトリウム :50g/L
ヒドロキノン :10g/L
ベンゾトリアゾール :4.0g/L
硫酸タリウム :5mg/L
上記成分を含有するめっき液をpH7.0に調整し、液温70℃として試料を1時間浸漬した。1時間後に試料を取り出し、蛍光X線膜厚測定器により析出膜厚を測定した。1時間後の金膜厚は1.15μmであった。目視及び実体顕微鏡により確認したところ、レジストの変色は認められず、パターン形成性良く微細回路上に金が析出した。析出した金皮膜は、色調がレモンイエローで、外観はムラ、ガスピットがなく、良好な外観が得られた。また、めっき液の分解は認められなかった。
Example 5
Sodium gold sulfite: 4 g / L (as Au)
Glycolic acid: 52 g / L
Methylglycine diacetate: 30g / L
Ethylenediamine: 3.0g / L
Sodium thiosulfate: 20 g / L
Sodium sulfite: 50 g / L
Hydroquinone: 10g / L
Benzotriazole: 4.0 g / L
Thallium sulfate: 5mg / L
The plating solution containing the above components was adjusted to pH 7.0, and the sample was immersed for 1 hour at a solution temperature of 70 ° C. A sample was taken out after 1 hour, and the deposited film thickness was measured with a fluorescent X-ray film thickness measuring instrument. The gold film thickness after 1 hour was 1.15 μm. When confirmed by visual observation and a stereoscopic microscope, discoloration of the resist was not recognized, and gold was deposited on the fine circuit with good pattern formation. The deposited gold film had a lemon-yellow color tone, had no uneven appearance and no gas pits, and had a good appearance. Moreover, decomposition of the plating solution was not observed.

実施例6
亜硫酸金ナトリウム :4g/L(Auとして)
グリコール酸 :52g/L
エチレンジアミン :3.0g/L
チオ硫酸ナトリウム :20g/L
亜硫酸ナトリウム :50g/L
ピロガロール :12g/L
ベンゾトリアゾール :4.0g/L
硫酸タリウム :5mg/L
上記成分を含有するめっき液をpH7.0に調整し、液温70℃として試料を1時間浸漬した。1時間後に試料を取り出し、蛍光X線膜厚測定器により析出膜厚を測定した。1時間後の金膜厚は1.49μmであった。目視及び実体顕微鏡により確認したところ、レジストの変色は認められず、パターン形成性良く微細回路上に金が析出した。析出した金皮膜は、色調がレモンイエローで、外観はムラ、ガスピットがなく、良好な外観が得られた。また、めっき液の分解は認められなかった。
Example 6
Sodium gold sulfite: 4 g / L (as Au)
Glycolic acid: 52 g / L
Ethylenediamine: 3.0g / L
Sodium thiosulfate: 20 g / L
Sodium sulfite: 50 g / L
Pyrogallol: 12g / L
Benzotriazole: 4.0 g / L
Thallium sulfate: 5mg / L
The plating solution containing the above components was adjusted to pH 7.0, and the sample was immersed for 1 hour at a solution temperature of 70 ° C. A sample was taken out after 1 hour, and the deposited film thickness was measured with a fluorescent X-ray film thickness measuring instrument. The gold film thickness after 1 hour was 1.49 μm. When confirmed by visual observation and a stereoscopic microscope, discoloration of the resist was not recognized, and gold was deposited on the fine circuit with good pattern formation. The deposited gold film had a lemon-yellow color tone, had no uneven appearance and no gas pits, and had a good appearance. Moreover, decomposition of the plating solution was not observed.

実施例7
亜硫酸金ナトリウム :4g/L(Auとして)
ジグリコール酸 :46g/L
エチレンジアミン :3.0g/L
チオ硫酸ナトリウム :20g/L
亜硫酸ナトリウム :50g/L
ピロガロール :10g/L
ベンゾトリアゾール :4.0g/L
硫酸タリウム :5mg/L
上記成分を含有するめっき液をpH7.0に調整し、液温70℃として試料を1時間浸漬した。1時間後に試料を取り出し、蛍光X線膜厚測定器により析出膜厚を測定した。1時間後の金膜厚は1.21μmであった。目視及び実体顕微鏡により確認したところ、レジストの変色は認められず、パターン形成性良く微細回路上に金が析出した。析出した金皮膜は、色調がレモンイエローで、外観はムラ、ガスピットがなく、良好な外観が得られた。また、めっき液の分解は認められなかった。
Example 7
Sodium gold sulfite: 4 g / L (as Au)
Diglycolic acid: 46g / L
Ethylenediamine: 3.0g / L
Sodium thiosulfate: 20 g / L
Sodium sulfite: 50 g / L
Pyrogallol: 10g / L
Benzotriazole: 4.0 g / L
Thallium sulfate: 5mg / L
The plating solution containing the above components was adjusted to pH 7.0, and the sample was immersed for 1 hour at a solution temperature of 70 ° C. A sample was taken out after 1 hour, and the deposited film thickness was measured with a fluorescent X-ray film thickness measuring instrument. The gold film thickness after 1 hour was 1.21 μm. When confirmed by visual observation and a stereoscopic microscope, discoloration of the resist was not recognized, and gold was deposited on the fine circuit with good pattern formation. The deposited gold film had a lemon-yellow color tone, had no uneven appearance and no gas pits, and had a good appearance. Moreover, decomposition of the plating solution was not observed.

比較例1
亜硫酸金ナトリウム :4g/L(Auとして)
エチレンジアミン :3.0g/L
チオ硫酸ナトリウム :20g/L
亜硫酸ナトリウム :50g/L
硫酸ヒドラジン :25g/L
ベンゾトリアゾール :4.0g/L
硫酸タリウム :5mg/L
上記成分を含有するめっき液をpH7.0に調整し、液温70℃として試料を1時間浸漬した。試料を浸漬中にめっき液が分解して、浸漬を中断した為、析出膜厚を測定することが出来なかった。目視及び実体顕微鏡により確認したところ、レジストの変色は認められなかったが、パターン形成性が悪く微細回路上以外にも金が析出した。析出した金皮膜は、色調が赤黄色外観であった。
Comparative Example 1
Sodium gold sulfite: 4 g / L (as Au)
Ethylenediamine: 3.0g / L
Sodium thiosulfate: 20 g / L
Sodium sulfite: 50 g / L
Hydrazine sulfate: 25 g / L
Benzotriazole: 4.0 g / L
Thallium sulfate: 5mg / L
The plating solution containing the above components was adjusted to pH 7.0, and the sample was immersed for 1 hour at a solution temperature of 70 ° C. Since the plating solution was decomposed during immersion of the sample and the immersion was interrupted, the deposited film thickness could not be measured. As a result of visual observation and confirmation with a stereomicroscope, no discoloration of the resist was observed, but the pattern formation was poor and gold was deposited not only on the fine circuit. The deposited gold film had a red-yellow appearance.

比較例2
亜硫酸金ナトリウム :4g/L(Auとして)
エチレンジアミン四酢酸 :100g/L
エチレンジアミン :3.0g/L
チオ硫酸ナトリウム :20g/L
亜硫酸ナトリウム :50g/L
硫酸ヒドラジン :25g/L
ベンゾトリアゾール :4.0g/L
硫酸タリウム :5mg/L
上記成分を含有するめっき液をpH7.0に調整し、液温70℃として試料を1時間浸漬した。1時間後に試料を取り出し、蛍光X線膜厚測定器により析出膜厚を測定した。1時間後の金膜厚は0.28μmであった。目視及び実体顕微鏡により確認したところ、レジストの変色は認められず、パターン形成性良く微細回路上に金が析出した。析出した金皮膜は、色調がレモンイエローで、外観はムラ、ガスピットがなく、良好な外観が得られた。また、めっき液の分解は認められなかった。
Comparative Example 2
Sodium gold sulfite: 4 g / L (as Au)
Ethylenediaminetetraacetic acid: 100g / L
Ethylenediamine: 3.0g / L
Sodium thiosulfate: 20 g / L
Sodium sulfite: 50 g / L
Hydrazine sulfate: 25 g / L
Benzotriazole: 4.0 g / L
Thallium sulfate: 5mg / L
The plating solution containing the above components was adjusted to pH 7.0, and the sample was immersed for 1 hour at a solution temperature of 70 ° C. A sample was taken out after 1 hour, and the deposited film thickness was measured with a fluorescent X-ray film thickness measuring instrument. The gold film thickness after 1 hour was 0.28 μm. When confirmed by visual observation and a stereoscopic microscope, discoloration of the resist was not recognized, and gold was deposited on the fine circuit with good pattern formation. The deposited gold film had a lemon-yellow color tone, had no uneven appearance and no gas pits, and had a good appearance. Moreover, decomposition of the plating solution was not observed.

比較例3
亜硫酸金ナトリウム :4g/L(Auとして)
エチレンジアミン :3.0g/L
チオ硫酸ナトリウム :20g/L
亜硫酸ナトリウム :50g/L
ヒドロキノン :10g/L
ベンゾトリアゾール :4.0g/L
硫酸タリウム :5mg/L
上記成分を含有するめっき液をpH7.0に調整し、液温70℃として試料を1時間浸漬した。試料を浸漬中にめっき液が分解して、浸漬を中断した為、析出膜厚を測定することが出来なかった。目視及び実体顕微鏡により確認したところ、レジストの変色は認められなかったが、パターン形成性が悪く微細回路上以外にも金が析出した。析出した金皮膜は、色調が赤黄色外観であった。
Comparative Example 3
Sodium gold sulfite: 4 g / L (as Au)
Ethylenediamine: 3.0g / L
Sodium thiosulfate: 20 g / L
Sodium sulfite: 50 g / L
Hydroquinone: 10g / L
Benzotriazole: 4.0 g / L
Thallium sulfate: 5mg / L
The plating solution containing the above components was adjusted to pH 7.0, and the sample was immersed for 1 hour at a solution temperature of 70 ° C. Since the plating solution was decomposed during immersion of the sample and the immersion was interrupted, the deposited film thickness could not be measured. As a result of visual observation and confirmation with a stereomicroscope, no discoloration of the resist was observed, but the pattern formation was poor and gold was deposited not only on the fine circuit. The deposited gold film had a red-yellow appearance.

比較例4
亜硫酸金ナトリウム :4g/L(Auとして)
エチレンジアミン四酢酸 :100g/L
エチレンジアミン :3.0g/L
チオ硫酸ナトリウム :20g/L
亜硫酸ナトリウム :50g/L
ヒドロキノン :10g/L
ベンゾトリアゾール :4.0g/L
硫酸タリウム :5mg/L
上記成分を含有するめっき液をpH7.0に調整し、液温70℃として試料を1時間浸漬した。1時間後に試料を取り出し、蛍光X線膜厚測定器により析出膜厚を測定した。1時間後の金膜厚は0.59μmであった。目視及び実体顕微鏡により確認したところ、レジストの変色は認められず、パターン形成性良く微細回路上に金が析出した。析出した金皮膜は、色調がレモンイエローで、外観はムラ、ガスピットがなく、良好な外観が得られた。また、めっき液の分解は認められなかった。
Comparative Example 4
Sodium gold sulfite: 4 g / L (as Au)
Ethylenediaminetetraacetic acid: 100g / L
Ethylenediamine: 3.0g / L
Sodium thiosulfate: 20 g / L
Sodium sulfite: 50 g / L
Hydroquinone: 10g / L
Benzotriazole: 4.0 g / L
Thallium sulfate: 5mg / L
The plating solution containing the above components was adjusted to pH 7.0, and the sample was immersed for 1 hour at a solution temperature of 70 ° C. A sample was taken out after 1 hour, and the deposited film thickness was measured with a fluorescent X-ray film thickness measuring instrument. The gold film thickness after 1 hour was 0.59 μm. When confirmed by visual observation and a stereoscopic microscope, discoloration of the resist was not recognized, and gold was deposited on the fine circuit with good pattern formation. The deposited gold film had a lemon-yellow color tone, had no uneven appearance and no gas pits, and had a good appearance. Moreover, decomposition of the plating solution was not observed.

比較例5
亜硫酸金ナトリウム :4g/L(Auとして)
エチレンジアミン :3.0g/L
チオ硫酸ナトリウム :20g/L
亜硫酸ナトリウム :50g/L
ピロガロール :12g/L
ベンゾトリアゾール :4.0g/L
硫酸タリウム :5mg/L
上記成分を含有するめっき液をpH7.0に調整し、液温70℃として試料を1時間浸漬した。試料を浸漬中にめっき液が分解して、浸漬を中断した為、析出膜厚を測定することが出来なかった。目視及び実体顕微鏡により確認したところ、レジストの変色は認められなかったが、パターン形成性が悪く微細回路上以外にも金が析出した。析出した金皮膜は、色調が赤黄色外観であった。
Comparative Example 5
Sodium gold sulfite: 4 g / L (as Au)
Ethylenediamine: 3.0g / L
Sodium thiosulfate: 20 g / L
Sodium sulfite: 50 g / L
Pyrogallol: 12g / L
Benzotriazole: 4.0 g / L
Thallium sulfate: 5mg / L
The plating solution containing the above components was adjusted to pH 7.0, and the sample was immersed for 1 hour at a solution temperature of 70 ° C. Since the plating solution was decomposed during immersion of the sample and the immersion was interrupted, the deposited film thickness could not be measured. As a result of visual observation and confirmation with a stereomicroscope, no discoloration of the resist was observed, but the pattern formation was poor and gold was deposited not only on the fine circuit. The deposited gold film had a red-yellow appearance.

比較例6
亜硫酸金ナトリウム :4g/L(Auとして)
エチレンジアミン四酢酸 :100g/L
エチレンジアミン :3.0g/L
チオ硫酸ナトリウム :20g/L
亜硫酸ナトリウム :50g/L
ピロガロール :12g/L
ベンゾトリアゾール :4.0g/L
硫酸タリウム :5mg/L
上記成分を含有するめっき液をpH7.0に調整し、液温70℃として試料を1時間浸漬した。1時間後に試料を取り出し、蛍光X線膜厚測定器により析出膜厚を測定した。1時間後の金膜厚は0.88μmであった。目視及び実体顕微鏡により確認したところ、レジストの変色は認められず、パターン形成性良く微細回路上に金が析出した。析出した金皮膜は、色調がレモンイエローで、外観はムラ、ガスピットがなく、良好な外観が得られた。また、めっき液の分解は認められなかった。
Comparative Example 6
Sodium gold sulfite: 4 g / L (as Au)
Ethylenediaminetetraacetic acid: 100g / L
Ethylenediamine: 3.0g / L
Sodium thiosulfate: 20 g / L
Sodium sulfite: 50 g / L
Pyrogallol: 12g / L
Benzotriazole: 4.0 g / L
Thallium sulfate: 5mg / L
The plating solution containing the above components was adjusted to pH 7.0, and the sample was immersed for 1 hour at a solution temperature of 70 ° C. A sample was taken out after 1 hour, and the deposited film thickness was measured with a fluorescent X-ray film thickness measuring instrument. The gold film thickness after 1 hour was 0.88 μm. When confirmed by visual observation and a stereoscopic microscope, discoloration of the resist was not recognized, and gold was deposited on the fine circuit with good pattern formation. The deposited gold film had a lemon-yellow color tone, had no uneven appearance and no gas pits, and had a good appearance. Moreover, decomposition of the plating solution was not observed.

Claims (5)

亜硫酸金塩、錯化剤及び還元剤を含む無電解金めっき液であって、グリコール酸、ジグリコール酸及びそれらの塩から選ばれる1以上を含有することを特徴とする無電解金めっき液。 An electroless gold plating solution containing gold sulfite, a complexing agent and a reducing agent, wherein the electroless gold plating solution contains at least one selected from glycolic acid, diglycolic acid and salts thereof. 錯化剤が、エチレンジアミン四酢酸(EDTA)を除く水溶性アミノカルボン酸又は水溶性アミンである請求項1に記載の無電解金めっき液。 The electroless gold plating solution according to claim 1, wherein the complexing agent is a water-soluble aminocarboxylic acid or water-soluble amine excluding ethylenediaminetetraacetic acid (EDTA). 還元剤として、ヒドラジン化合物、ヒドロキノン及びその誘導体、ピロガロール及びその誘導体の少なくとも一つを使用する請求項1又は2に記載の無電解金めっき液。 The electroless gold plating solution according to claim 1 or 2, wherein at least one of a hydrazine compound, hydroquinone and a derivative thereof, pyrogallol and a derivative thereof is used as the reducing agent. ひ素化合物、タリウム化合物及び鉛化合物の少なくとも一つを含有する請求項1乃至3のいずれかに記載の無電解金めっき液。 The electroless gold plating solution according to any one of claims 1 to 3, comprising at least one of an arsenic compound, a thallium compound, and a lead compound. 下地金属溶出抑制剤としてベンゾトリアゾール系化合物を含有する請求項1乃至4の何れかに記載の無電解金めっき液。
The electroless gold plating solution according to any one of claims 1 to 4, comprising a benzotriazole-based compound as a base metal elution inhibitor.
JP2003338100A 2003-09-29 2003-09-29 Electroless gold plating solution Expired - Fee Related JP4000101B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003338100A JP4000101B2 (en) 2003-09-29 2003-09-29 Electroless gold plating solution

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003338100A JP4000101B2 (en) 2003-09-29 2003-09-29 Electroless gold plating solution

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005105318A true JP2005105318A (en) 2005-04-21
JP4000101B2 JP4000101B2 (en) 2007-10-31

Family

ID=34533721

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003338100A Expired - Fee Related JP4000101B2 (en) 2003-09-29 2003-09-29 Electroless gold plating solution

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4000101B2 (en)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008174774A (en) * 2007-01-17 2008-07-31 Okuno Chem Ind Co Ltd Reduction precipitation type electroless gold plating liquid for palladium film
JP2008266712A (en) * 2007-04-19 2008-11-06 Hitachi Chem Co Ltd Electroless gold plating method for electronic component, and electronic component
JP2009155671A (en) * 2007-12-25 2009-07-16 Ne Chemcat Corp Immersion gold plating solution for copper base and gold plating method using the same
JP2010180467A (en) * 2009-02-09 2010-08-19 Ne Chemcat Corp Non-cyanide electroless gold plating solution and plating method of conductor pattern
JP2010255010A (en) * 2009-04-21 2010-11-11 C Uyemura & Co Ltd Electroless gold plating bath
WO2022124303A1 (en) * 2020-12-09 2022-06-16 日本高純度化学株式会社 Electroless gold plating solution
RU2814757C1 (en) * 2023-08-01 2024-03-04 Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики им. А.В. Гапонова-Грехова Российской академии наук" (ИПФ РАН) Chemical gilding solution

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008174774A (en) * 2007-01-17 2008-07-31 Okuno Chem Ind Co Ltd Reduction precipitation type electroless gold plating liquid for palladium film
JP2008266712A (en) * 2007-04-19 2008-11-06 Hitachi Chem Co Ltd Electroless gold plating method for electronic component, and electronic component
JP2009155671A (en) * 2007-12-25 2009-07-16 Ne Chemcat Corp Immersion gold plating solution for copper base and gold plating method using the same
JP2010180467A (en) * 2009-02-09 2010-08-19 Ne Chemcat Corp Non-cyanide electroless gold plating solution and plating method of conductor pattern
JP2010255010A (en) * 2009-04-21 2010-11-11 C Uyemura & Co Ltd Electroless gold plating bath
WO2022124303A1 (en) * 2020-12-09 2022-06-16 日本高純度化学株式会社 Electroless gold plating solution
RU2814757C1 (en) * 2023-08-01 2024-03-04 Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики им. А.В. Гапонова-Грехова Российской академии наук" (ИПФ РАН) Chemical gilding solution

Also Published As

Publication number Publication date
JP4000101B2 (en) 2007-10-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0618307B1 (en) Electroless gold plating bath
US5803957A (en) Electroless gold plating bath
KR20030033034A (en) Electroless displacement gold plating solution and additive for preparing said plating solution
JP2927142B2 (en) Electroless gold plating bath and electroless gold plating method
JP4000101B2 (en) Electroless gold plating solution
JP2005082883A (en) Electroless nickel plating liquid
JP5686939B2 (en) Replacement gold plating solution for copper substrate and gold plating method using the same
JP5371465B2 (en) Non-cyan electroless gold plating solution and conductor pattern plating method
JP2007308796A (en) Electroless gold plating liquid and electroless gold plating method
JP5305079B2 (en) Pretreatment liquid for reducing electroless gold plating and electroless gold plating method
JP3565302B2 (en) Electroless gold plating method
JP4932542B2 (en) Electroless gold plating solution
TW201002859A (en) Catalyst-imparting liquid for solder plating
JP4599599B2 (en) Electroless gold plating solution
JPS6214034B2 (en)
TW202208682A (en) Electroless nickel plating bath
JP5216372B2 (en) Electroless tin plating bath and electroless tin plating method
JP2006265648A (en) Electroless gold plating liquid repreparation method, electroless gold plating method and gold ion-containing liquid
JP2005256072A (en) Gold complex
JPH0711448A (en) Catalytic solution for electroless plating selective to copper-based material
JP4603320B2 (en) Electroless gold plating solution
TWI804539B (en) Electroless gold plating bath
JP2005194569A (en) Electroless gold plating liquid
JP3058178B2 (en) Electroless plating solution
JPH05295558A (en) High-speed substitutional electroless gold plating solution

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050729

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20061128

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061212

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070206

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070807

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070810

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100817

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110817

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110817

Year of fee payment: 4

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120817

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120817

Year of fee payment: 5

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120817

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120817

Year of fee payment: 5

R370 Written measure of declining of transfer procedure

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120817

Year of fee payment: 5

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120817

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130817

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees