JP2005092678A - Semiconductor memory card and method for deleting data in nonvolatile memory - Google Patents

Semiconductor memory card and method for deleting data in nonvolatile memory Download PDF

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Kiminori Matsuno
公則 松野
Tomoaki Izumi
智紹 泉
Masahiro Nakanishi
雅浩 中西
Tetsushi Kasahara
哲志 笠原
Kazuaki Tamura
和明 田村
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To solve the problem with a semiconductor memory card wherein the time it takes to physically delete data in the card gets longer as the volume of the card increases. <P>SOLUTION: An address management table LPT and a physical block management table ET are held in a physical block different from data in a nonvolatile memory 20. When a delete command is received from an external host device, a corresponding logical address is registered as being yet to be allocated, and a physical block that has been allocated to the logical address of the physical block management table is registered as being yet to be used and is written back into the nonvolatile memory 20. This eliminates the need to delete data physically, enabling the data to be deleted at high speed. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、書き換え可能な不揮発性メモリを有する半導体メモリカード及び不揮発性メモリの情報を消去する消去処置方法に関する。   The present invention relates to a semiconductor memory card having a rewritable nonvolatile memory and an erasing method for erasing information in the nonvolatile memory.

書き換え可能な不揮発性メモリを有する半導体メモリカードは、不揮発性メモリにアクセスするために与えられる論理アドレスを物理アドレスに変換することで、内部データへのアクセスが行われる。従来の半導体メモリカードは、物理ブロックの冗長領域に論理アドレスをデータと共に書き込むことで不揮発性メモリの物理ブロックと論理アドレスを関連付けている。外部から内部データへのアクセスが発生する前に、半導体メモリカード内全物理ブロックの冗長領域をサーチし、論理アドレスを物理アドレスに変換するためのアドレス管理テーブルを内部の揮発性メモリに作成していた。   A semiconductor memory card having a rewritable nonvolatile memory accesses internal data by converting a logical address given to access the nonvolatile memory into a physical address. A conventional semiconductor memory card associates a physical address and a logical address of a nonvolatile memory by writing a logical address together with data in a redundant area of the physical block. Before an external access to internal data occurs, redundant areas of all physical blocks in the semiconductor memory card are searched, and an address management table for converting logical addresses to physical addresses is created in the internal volatile memory. It was.

半導体メモリカード内のデータを消去する場合には、アドレス管理テーブルを基に該当論理アドレスが割り当てられた物理ブロックをサーチして、物理的に消去していた。   When erasing data in the semiconductor memory card, the physical block to which the corresponding logical address is assigned is searched based on the address management table and physically erased.

又物理的に消去する際には時間がかかるため、例えば特許文献1では複数のブロック消去動作を同時に行うことによって消去を高速化するようにしたフラッシュメモリカードが提案されている。
特開平8−263361号公報
In addition, since it takes time to physically erase, for example, Patent Document 1 proposes a flash memory card in which a plurality of block erase operations are simultaneously performed to speed up the erase.
JP-A-8-263361

しかしながら、上記従来の半導体メモリカードにおいては、複数のブロックを同時に消去する場合であっても、大容量化に伴い物理ブロック数が増加すると、FATによる初期化時に全領域を物理的に消去する場合に、処理時間が増大する可能性があった。   However, in the above conventional semiconductor memory card, even when a plurality of blocks are erased simultaneously, when the number of physical blocks increases as the capacity increases, the entire area is physically erased at the time of initialization by FAT. In addition, the processing time may increase.

本発明は不揮発性メモリにおいて、データの消去期間を大幅に短縮できるようにすることを目的とする。   An object of the present invention is to make it possible to greatly shorten the data erasing period in a nonvolatile memory.

本願の請求項1の発明は、揮発性メモリと、不揮発性メモリと、前記揮発性メモリ及び不揮発性メモリにデータを書き込むと共に外部からの信号に応じてデータを消去する制御部と、を具備する半導体メモリカードであって、前記不揮発性メモリは、前記不揮発性メモリにアクセスするために外部から与えられる論理アドレスを物理アドレスに変換する複数のアドレス管理テーブルと、前記不揮発性メモリの物理ブロック使用状況を管理する複数の物理ブロック管理テーブルと、前記複数のアドレス管理テーブルおよび物理ブロック管理テーブルの不揮発性メモリ上の位置を示すアドレス変換テーブルインデックス情報群を保持するものであり、前記制御部は、外部からのデータ消去指令に基づきデータを消去する場合に、前記アドレス管理テーブルの該当論理アドレスを未使用とすると共に、前記物理ブロック管理情報を未使用として前記不揮発性メモリに書き込むことを特徴とする。   The invention of claim 1 of the present application includes a volatile memory, a nonvolatile memory, and a controller that writes data into the volatile memory and the nonvolatile memory and erases the data in response to an external signal. A semiconductor memory card, wherein the nonvolatile memory includes a plurality of address management tables for converting a logical address given from the outside to access the nonvolatile memory into a physical address, and physical block usage status of the nonvolatile memory And a plurality of address management table index information groups indicating positions of the plurality of address management tables and physical block management tables on a nonvolatile memory, and the control unit When erasing data based on the data erasure command from With the unused appropriate logical address of Buru, and writes in the non-volatile memory as unused the physical block management information.

本願の請求項2の発明は、揮発性メモリと、不揮発性メモリと、前記揮発性メモリ及び不揮発性メモリにデータを書き込むと共に外部からの信号に応じてデータを消去する制御部と、を具備する機器におけるデータ消去処理方法であって、前記不揮発性メモリは、前記不揮発性メモリにアクセスするために外部から与えられる論理アドレスを物理アドレスに変換する複数のアドレス管理テーブルと、前記不揮発性メモリの物理ブロック使用状況を管理する複数の物理ブロック管理テーブルと、前記複数のアドレス管理テーブルおよび物理ブロック管理テーブルの不揮発性メモリ上の位置を示すアドレス変換テーブルインデックス情報群を保持するものであり、外部からのデータ消去指令に基づきデータを消去する場合に、前記アドレス管理テーブルの該当論理アドレスを未使用とし、前記物理ブロック管理情報を未使用として前記不揮発性メモリに書き込むことを特徴とする。   The invention of claim 2 of the present application includes a volatile memory, a nonvolatile memory, and a controller that writes data into the volatile memory and the nonvolatile memory and erases the data in accordance with an external signal. A data erasing method in a device, wherein the nonvolatile memory includes a plurality of address management tables for converting a logical address given from the outside to access the nonvolatile memory into a physical address, and a physical memory of the nonvolatile memory. A plurality of physical block management tables for managing block usage status, and an address conversion table index information group indicating positions on the nonvolatile memory of the plurality of address management tables and the physical block management tables are stored. When erasing data based on the data erasure command, the address management And unused appropriate logical address table, and writes in the non-volatile memory as unused the physical block management information.

以上のように本発明によれば、半導体メモリカード等の不揮発性メモリのデータ消去を、アドレス管理テーブル及び物理ブロック管理テーブルを不揮発性メモリへ更新するだけで実現できるため、従来データ消去時間の大半を占めていた物理ブロック消去時間を削減できる。よって、今後の半導体メモリカードの大容量化により物理ブロック数が増大した場合にも、物理ブロック消去時間に依存することなく消去処理を実現することができる。FATによる初期化時に全記録データの消去処理を実行しても、全体の処理時間の増加を最低限に抑えることができる。   As described above, according to the present invention, data erasure of a nonvolatile memory such as a semiconductor memory card can be realized only by updating the address management table and the physical block management table to the nonvolatile memory. It is possible to reduce the physical block erase time that occupied Therefore, even when the number of physical blocks increases due to a future increase in the capacity of the semiconductor memory card, the erasing process can be realized without depending on the physical block erasing time. Even if the erasing process of all recorded data is executed at the time of initialization by FAT, the increase in the entire processing time can be minimized.

図1は、本発明の実施の形態による半導体メモリカード及び管理情報更新方法におけるアドレス管理テーブル(LPT)と物理ブロック管理テーブル(ET)、及びアドレス変換テーブルインデックス情報(ATI)の構成を示す概念図である。ここで、LPTとETを1つのペアとして以降ATと呼ぶ。図2は、本実施の形態による半導体メモリカードの構成、及び半導体メモリカード内の不揮発性メモリのアドレスマップを示す概念図である。また、図3は、本実施の形態によるデータ消去処理方法を示すフローチャートである。   FIG. 1 is a conceptual diagram showing a configuration of an address management table (LPT), a physical block management table (ET), and address translation table index information (ATI) in a semiconductor memory card and management information update method according to an embodiment of the present invention. It is. Here, LPT and ET are hereinafter referred to as AT as one pair. FIG. 2 is a conceptual diagram showing the configuration of the semiconductor memory card according to the present embodiment and the address map of the nonvolatile memory in the semiconductor memory card. FIG. 3 is a flowchart showing a data erasure processing method according to this embodiment.

また、図2において、半導体メモリカードは、フラッシュメモリ等の不揮発性メモリ20、ホストインターフェース回路(ホストI/F)21、制御部22、RAM(ランダム・アクセス・メモリ)23により構成される。ホストインターフェース回路21は半導体メモリカードとホスト機器との間でデータやコマンドなどの信号を送受信するものである。制御ブロック21はCPU(中央演算装置)を含み、ホスト機器からのコマンドなどにより不揮発性メモリ20や半導体メモリカードの動作を制御するものである。RAM23はデータやアドレス管理情報などを一時蓄える揮発性メモリである。   In FIG. 2, the semiconductor memory card includes a nonvolatile memory 20 such as a flash memory, a host interface circuit (host I / F) 21, a control unit 22, and a RAM (random access memory) 23. The host interface circuit 21 transmits and receives signals such as data and commands between the semiconductor memory card and the host device. The control block 21 includes a CPU (Central Processing Unit), and controls operations of the nonvolatile memory 20 and the semiconductor memory card by a command from a host device. The RAM 23 is a volatile memory that temporarily stores data, address management information, and the like.

不揮発性メモリ20は、ATI群領域4とデータ領域5からなる。ATI群領域4はATI群を記憶する領域であり、データ領域5はデータを記憶する領域である。データ領域5は、複数の領域(図中#0〜#3)で構成され、各々の領域にAT群6と現ATが管理するデータエントリ7が存在する。本実施の形態で説明する不揮発性メモリ20は、4バンク構成(Bank0〜Bank3)からなる。また、データ領域5の1つの領域は、1024ブロック/バンクとする。各物理ブロックはデータ容量が2KBのページが2ページで構成されるメモリに制限している。   The nonvolatile memory 20 includes an ATI group area 4 and a data area 5. The ATI group area 4 is an area for storing ATI groups, and the data area 5 is an area for storing data. The data area 5 is composed of a plurality of areas (# 0 to # 3 in the figure), and the data entry 7 managed by the AT group 6 and the current AT exists in each area. The nonvolatile memory 20 described in the present embodiment has a 4-bank configuration (Bank 0 to Bank 3). One area of the data area 5 is 1024 blocks / bank. Each physical block is limited to a memory in which a page with a data capacity of 2 KB is composed of two pages.

図1において、ATI群1は不揮発性メモリ20のAT群領域4に固定的に保持される。図1において、2及び3はLPT/ETを1つのペア(AT)とするAT群であり、便宜上AT群2、AT群3とする。AT群は図示した以外にも存在するものである。また10はブロック(物理ブロック)であり、本実施の形態によるATI群1、AT群2、AT群3、・・・は、それぞれバンクあたり1ブロック、合計4つのブロック10の構成にしている。   In FIG. 1, the ATI group 1 is fixedly held in the AT group area 4 of the nonvolatile memory 20. In FIG. 1, reference numerals 2 and 3 denote AT groups having LPT / ET as one pair (AT), and are referred to as AT group 2 and AT group 3 for convenience. There are AT groups other than those shown in the figure. Reference numeral 10 denotes a block (physical block), and the ATI group 1, AT group 2, AT group 3,... According to the present embodiment have a configuration of four blocks 10 in total, one block per bank.

ATI群領域4は、データ領域5の4つのデータ領域のAT群を管理するためのATI群を格納する領域である。ATIは、各AT群の物理ブロック番号(各データ領域の先頭物理ブロックを0とし、バンク毎に管理。最大1023)を持つ。図1では説明を簡単にするため、1つのAT群を4ブロック構成としデータ領域を4つとしたが、AT群を32ブロック構成(8ブロック/バンク)とし8個のデータ領域を管理する場合、1ワード(1024の物理ブロックを決定するために2B)×32(AT群)×8(データ領域数)=512Bとなる。従って図1に示すように1ブロック当たり8個のATIを記録することができる。先頭ATIは、例えば、図2に示すように不揮発性メモリ20の先頭物理ブロックに格納され、先頭ATIの格納されるページの冗長領域には、バンク当たり1ブロックへのリンク情報が書き込まれ、ATI群を形成する。よって、最大32個のATIを格納することができる。ATIの更新は、ATIの不揮発性メモリ20への書き込みが現ATIと同一ブロックに行われないように、書き込みの順番が予め決められる。   The ATI group area 4 is an area for storing ATI groups for managing the AT groups of the four data areas of the data area 5. The ATI has a physical block number of each AT group (the first physical block of each data area is set to 0 and managed for each bank, maximum 1023). In FIG. 1, in order to simplify the description, one AT group has a 4-block configuration and four data areas. However, when an AT group has a 32-block configuration (8 blocks / bank) and manages 8 data areas, 1 word (2B for determining 1024 physical blocks) × 32 (AT group) × 8 (number of data areas) = 512B. Accordingly, as shown in FIG. 1, eight ATIs can be recorded per block. For example, as shown in FIG. 2, the head ATI is stored in the head physical block of the non-volatile memory 20, and link information to one block per bank is written in the redundant area of the page where the head ATI is stored. Form a group. Therefore, a maximum of 32 ATIs can be stored. The update order of the ATI is determined in advance so that the ATI nonvolatile memory 20 is not written to the same block as the current ATI.

データ領域5は、外部のホスト機器から読み書きされるデータ(音楽データや画像データなどのいわゆるコンテンツ情報)を格納すると共に、AT群を格納する領域でもある。また、データ領域5は、1024ブロック/バンク毎に4つの領域(データ領域#0〜データ領域#3)に分割され、AT群はそれぞれのデータ領域を管理するため、それぞれのデータ領域に格納される。   The data area 5 stores data (so-called content information such as music data and image data) read / written from / to an external host device, and also stores an AT group. The data area 5 is divided into four areas (data area # 0 to data area # 3) every 1024 blocks / bank, and the AT group is stored in each data area in order to manage each data area. The

ATの内LPTが管理するデータエントリ7は、1ブロック/バンク、計4ブロックを1つのエントリとして管理され、論理アドレスの順に配置される。LPTの管理するエントリそれぞれの先頭ブロック(例えば、バンク0)下位ページの冗長領域には、バンク当たり1ブロックへのリンク情報が書き込まれる。そのためバンク0のアドレスのみを指定すれば足りる。それぞれのデータ領域において、基本的には論理アドレス(0〜1023[ブロック×ブロックサイズ×バンク数])を物理アドレス(0〜1023[ブロック×ブロックサイズ×バンク数])に変換するために、各論理アドレスに相当する論理ブロック番号毎(1ワード毎)に物理ブロック番号(例えば、バンク0の物理アドレス10ビットに相当)とアロケーションフラグ(1ビット)を持つ。アロケーションフラグはその物理ブロックが論理的に割り当てられているかどうかを示すフラグである。よって、1つのLPTのデータ容量は、1ワード(物理ブロック番号+アロケーションフラグ)×1024(ブロック)=2048Bとなり、1つのLPTが1ページに保持される。   The data entry 7 managed by the LPT in the AT is managed as one block / bank and a total of four blocks as one entry, and arranged in the order of logical addresses. In the redundant area of the lower page of the first block (for example, bank 0) of each entry managed by the LPT, link information to one block per bank is written. Therefore, it is sufficient to specify only the address of bank 0. In each data area, basically, in order to convert a logical address (0 to 1023 [block x block size x number of banks]) into a physical address (0 to 1023 [block x block size x number of banks]) Each logical block number (every word) corresponding to a logical address has a physical block number (for example, equivalent to 10 bits of the physical address of bank 0) and an allocation flag (1 bit). The allocation flag is a flag indicating whether or not the physical block is logically allocated. Therefore, the data capacity of one LPT is 1 word (physical block number + allocation flag) × 1024 (block) = 2048 B, and one LPT is held in one page.

また、ATの内ETは各バンクの物理ブロック番号(物理アドレス)の使用状況を識別するための管理情報であり、ブロック毎にエントリーフラグとして4ビット(使用・未使用・消去済み・使用不可)を割り当てる。よって1つのETのデータ容量は、4(ビット)×1024(ブロック/バンク)×4(バンク)=2048Bとなり、1つのETが1ページに保持される。LPTとETは、LPT#iとET#iとが1組でデータ領域のデータを管理しており、データが更新されたときには同時に更新されてLPT#i+1,ET#i+1となり、図1に示す同一のAT群の中で移動する。ここで、ATの更新は、次のATの不揮発性メモリ20への書き込みが現ATと同一ブロックに行われないように、書き込みの順番が予め決められる。また、現在のAT群が図1中ATI群1のATI#4で管理するAT群2の場合でATの更新によりAT群2内の更新ができなくなれば、同一データ領域内で新たにAT群(図1中AT群3)を確保し(イレーズ)、新たに確保されたAT群3の先頭にATを更新すると共に、AT群3を登録した新たなATIを作成しATI群のATI#5に書き込む。   The ET in the AT is management information for identifying the usage status of the physical block number (physical address) of each bank. The entry flag for each block is 4 bits (used / unused / erased / unusable). Assign. Therefore, the data capacity of one ET is 4 (bits) × 1024 (block / bank) × 4 (bank) = 2048 B, and one ET is held in one page. LPT and ET are a set of LPT # i and ET # i that manage data in the data area. When data is updated, LPT # i and ET # i are simultaneously updated to become LPT # i + 1 and ET # i + 1, as shown in FIG. Move within the same AT group. Here, in the AT update, the order of writing is determined in advance so that writing to the non-volatile memory 20 of the next AT is not performed in the same block as the current AT. If the current AT group is the AT group 2 managed by ATI # 4 of the ATI group 1 in FIG. 1 and the AT group 2 cannot be updated due to the AT update, a new AT group is created in the same data area. (AT group 3 in FIG. 1) is secured (erase), the AT is updated at the head of the newly secured AT group 3, and a new ATI in which the AT group 3 is registered is created, and ATI # 5 of the ATI group is created. Write to.

次に、図1及び図3を用いて本実施の形態によるデータ消去動作について説明する。ATI群の中から最新のATIを検出する処理(図3のステップS1)は、例えば、初期化時に実施され、外部(ホスト)からメモリカードに対するデータ書き込み指令毎には実施されない。また、図3に示す一連の制御は、図2に示した制御部22によって実行される。   Next, the data erasing operation according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. The process of detecting the latest ATI from the ATI group (step S1 in FIG. 3) is performed at the time of initialization, for example, and is not performed for each data write command from the outside (host) to the memory card. Moreover, a series of control shown in FIG. 3 is performed by the control part 22 shown in FIG.

1つのATIが管理するAT群内でのデータ消去処理について、図3のフローチャートを参照しつつ説明する。外部(ホスト)から与えられる論理アドレスに従い、データ消去先の領域を決定する。例えば、外部のホスト装置から論理アドレス0が指定されると、ステップS1において、不揮発性メモリ20の中のデータ領域#0に対応するAT群の物理ブロック番号を現ATIから求める。なお、現ATを検出する場合は、現在のATを含むAT群は事前にイレーズ処理されるため、図1に示す予め決められたATの書き込み順(#0〜#3)に従い、正常に読み出された最終書き込み済みのATを現ATとする。現時点の有効LPTとETとを不揮発性メモリ20から読出して、揮発性メモリ(RAM23)に移す(ステップS2)。そしてポインタとして用いられる消去データエントリカウントBCを0とする(ステップS3)。次いで読み出された現AT群内で、現LPT(例えば、LPT#1)を検出して論理ブロック番号に対応する1ワード中の物理ブロック番号をチェックする(ステップS4)。その物理ブロックがアロケート済みでなければステップS6に進み、アロケート済みであればステップS5においてブロックリング情報を読み出す。論理ブロック番号に対応する1ワード中に物理ブロック番号が登録されている場合は、登録されている物理ブロック番号の冗長領域から各バンクに割り当てられた物理ブロック番号を読み出す(ステップS5)。そしてステップS6に進んで消去データエントリカウントBCをインクリメントし、現データ領域内のデータエントリアドレスLBAをインクリメントする。次いでステップS7に進んで読み出されたブロック番号を揮発性メモリ(RAM23)内ET上で未使用として登録する。また、外部ホストから与えられた論理アドレスに従い、揮発性メモリ(RAM23)内LPTのブロック番号に対応するブロック番号を消去するか、または、アロケーションフラグを未アロケートに登録する。そしてステップS8においてポスト機器からの指定量の消去処理が完了したかどうかをチェックし、完了していなければステップS4に戻る。ステップS4からS8までの処理は、データエントリ単位で実施される。なお、S03でLPTの論理ブロック番号に対応する1ワード中に物理ブロック番号が登録されていない場合は、ステップS5及びS7の処理は省略する。外部ホストから指定されたデータ量の処理が完了したら、揮発性メモリ(RAM23)内のLPT及びETを不揮発性メモリ20内の予め決められていた書き込み領域(例えば、LPT#2、ET#2)に書き込む(ステップS9)。   Data erasure processing within an AT group managed by one ATI will be described with reference to the flowchart of FIG. A data erasure destination area is determined according to a logical address given from the outside (host). For example, when the logical address 0 is designated from an external host device, the physical block number of the AT group corresponding to the data area # 0 in the nonvolatile memory 20 is obtained from the current ATI in step S1. When the current AT is detected, the AT group including the current AT is erased in advance, so that the normal AT is read according to the predetermined AT writing order (# 0 to # 3) shown in FIG. The issued last written AT is set as the current AT. The current effective LPT and ET are read from the nonvolatile memory 20 and transferred to the volatile memory (RAM 23) (step S2). Then, the erase data entry count BC used as a pointer is set to 0 (step S3). Next, the current LPT (for example, LPT # 1) is detected in the read current AT group, and the physical block number in one word corresponding to the logical block number is checked (step S4). If the physical block has not been allocated, the process proceeds to step S6. If the physical block has been allocated, block ring information is read in step S5. When the physical block number is registered in one word corresponding to the logical block number, the physical block number assigned to each bank is read from the redundant area of the registered physical block number (step S5). In step S6, the erase data entry count BC is incremented, and the data entry address LBA in the current data area is incremented. In step S7, the read block number is registered as unused on the ET in the volatile memory (RAM 23). Further, according to the logical address given from the external host, the block number corresponding to the block number of the LPT in the volatile memory (RAM 23) is deleted, or the allocation flag is registered as unallocated. In step S8, it is checked whether or not the specified amount of erasure processing from the post device has been completed. If not, the process returns to step S4. The processing from step S4 to S8 is performed in units of data entries. If the physical block number is not registered in one word corresponding to the logical block number of LPT in S03, the processes in steps S5 and S7 are omitted. When the processing of the data amount designated by the external host is completed, the LPT and ET in the volatile memory (RAM 23) are changed to predetermined write areas in the nonvolatile memory 20 (for example, LPT # 2, ET # 2). (Step S9).

以上のように、半導体メモリカード内のデータの消去は、不揮発性メモリ内のLPT及びETを更新するだけで実現できるため、従来データ消去時間の大半を占めていた物理ブロックの消去時間を削減できる。よって、今後の半導体メモリカードの大容量化により物理ブロック数が増大した場合にも、物理ブロック消去時間に依存することなく消去処理を実現することができる。従ってFATによる初期化時に全記録データの消去処理を実行しても、全体の処理時間の増加を最低限に抑えることができる。   As described above, erasing of data in the semiconductor memory card can be realized only by updating the LPT and ET in the nonvolatile memory, so that it is possible to reduce the erasing time of the physical block which has occupied the majority of the conventional data erasing time. . Therefore, even when the number of physical blocks increases due to a future increase in the capacity of the semiconductor memory card, the erasing process can be realized without depending on the physical block erasing time. Therefore, even if the erasing process of all recorded data is executed at the initialization by the FAT, the increase in the entire processing time can be minimized.

なお、本実施の形態においては、メモリカード内に1つの不揮発性メモリで構成する場合について述べたが、複数の不揮発性メモリで構成する場合についても1つのデータエントリを8ブロック(1ブロック/バンク)とし、ETの管理を8ブロック管理するように変更することで、2つの不揮発性メモリを1つのATで管理するよう構成すれば、本実施の形態と同様の処理が可能である。   In this embodiment, the case where the memory card is configured by one nonvolatile memory has been described. However, even when the memory card is configured by a plurality of nonvolatile memories, one data entry is divided into 8 blocks (1 block / bank). If the configuration is such that two non-volatile memories are managed by one AT by changing the management of ET to 8 blocks, the same processing as in this embodiment is possible.

また、本実施の形態においては、図2に示すようにメモリカードを例に説明したが、メモリカードに限ることなく、例えば、不揮発性メモリが内蔵された機器に本発明のデータ消去処理方法を用いてもよい。この場合、ホストI/F21や制御部22は、同様の機能を有する機器内の資源を用いて構成すればよい。   In the present embodiment, the memory card has been described as an example as shown in FIG. 2. However, the present invention is not limited to the memory card. For example, the data erasing processing method of the present invention is applied to a device incorporating a nonvolatile memory. It may be used. In this case, the host I / F 21 and the control unit 22 may be configured using resources in a device having the same function.

本発明は半導体メモリカード等の不揮発性メモリの消去を高速にすることができる。従ってこのような記憶媒体は大容量化が進む半導体メモリカード、例えばオーディオビデオ機器、カメラ、携帯電話を含む通信機器やビデオ機器やその他の不揮発性メモリを有する機器等の幅広い用途に使用することができる。   The present invention can speed up erasure of a nonvolatile memory such as a semiconductor memory card. Accordingly, such a storage medium can be used in a wide range of applications such as semiconductor memory cards whose capacity is increasing, such as audio video equipment, cameras, communication equipment including mobile phones, video equipment, and other equipment having nonvolatile memory. it can.

本発明の実施の形態によるアドレス管理方法を示す概念図The conceptual diagram which shows the address management method by embodiment of this invention 本発明の実施の形態によるメモリカードの構成及びアドレスマップを示す図The figure which shows the structure and address map of a memory card by embodiment of this invention 本発明の実施の形態によるアドレス管理方法の動作を説明するためのフローチャートFlowchart for explaining the operation of the address management method according to the embodiment of the present invention

符号の説明Explanation of symbols

1 ATI群
2、3 AT群
4 ATI群領域
5 データ領域
6 AT領域
7 1データエントリ範囲
20 不揮発性メモリ
21 ホストI/F
22 制御部
23 RAM
1 ATI group 2, 3 AT group 4 ATI group area 5 Data area 6 AT area 7 1 Data entry range 20 Non-volatile memory 21 Host I / F
22 control unit 23 RAM

Claims (2)

揮発性メモリと、不揮発性メモリと、前記揮発性メモリ及び不揮発性メモリにデータを書込むと共に外部からの信号に応じてデータを消去する制御部と、を具備する半導体メモリカードであって、
前記不揮発性メモリは、
前記不揮発性メモリにアクセスするために外部から与えられる論理アドレスを物理アドレスに変換する複数のアドレス管理テーブルと、
前記不揮発性メモリの物理ブロック使用状況を管理する複数の物理ブロック管理テーブルと、
前記複数のアドレス管理テーブルおよび物理ブロック管理テーブルの不揮発性メモリ上の位置を示すアドレス変換テーブルインデックス情報群とを保持するものであり、
前記制御部は、
外部からのデータ消去指令に基づきデータを消去する場合に、前記アドレス管理テーブルの該当論理アドレスを未使用とすると共に、前記物理ブロック管理情報を未使用として前記不揮発性メモリに書き込むことを特徴とする半導体メモリカード。
A semiconductor memory card comprising: a volatile memory; a nonvolatile memory; and a controller that writes data to the volatile memory and the nonvolatile memory and erases the data in response to an external signal,
The nonvolatile memory is
A plurality of address management tables for converting a logical address given from the outside to access the nonvolatile memory into a physical address;
A plurality of physical block management tables for managing physical block usage status of the nonvolatile memory;
An address conversion table index information group indicating a position on the nonvolatile memory of the plurality of address management tables and the physical block management table;
The controller is
When erasing data based on an external data erasure command, the corresponding logical address in the address management table is unused and the physical block management information is written to the nonvolatile memory as unused. Semiconductor memory card.
揮発性メモリと、不揮発性メモリと、前記揮発性メモリ及び不揮発性メモリにデータを書込むと共に外部からの信号に応じてデータを消去する制御部と、を具備する機器におけるデータ消去処理方法であって、
前記不揮発性メモリは、
前記不揮発性メモリにアクセスするために外部から与えられる論理アドレスを物理アドレスに変換する複数のアドレス管理テーブルと、
前記不揮発性メモリの物理ブロック使用状況を管理する複数の物理ブロック管理テーブルと、
前記複数のアドレス管理テーブルおよび物理ブロック管理テーブルの不揮発性メモリ上の位置を示すアドレス変換テーブルインデックス情報群とを保持するものであり、
外部からのデータ消去指令に基づきデータを消去する場合に、前記アドレス管理テーブルの該当論理アドレスを未使用とし、
前記物理ブロック管理情報を未使用として前記不揮発性メモリに書き込むことを特徴とするデータ消去処理方法。
A data erasing processing method in a device comprising: a volatile memory; a nonvolatile memory; and a control unit that writes data to the volatile memory and the nonvolatile memory and erases data according to an external signal. And
The nonvolatile memory is
A plurality of address management tables for converting a logical address given from the outside to access the nonvolatile memory into a physical address;
A plurality of physical block management tables for managing physical block usage status of the nonvolatile memory;
An address conversion table index information group indicating a position on the nonvolatile memory of the plurality of address management tables and the physical block management table;
When erasing data based on an external data erasure command, the corresponding logical address in the address management table is unused,
A data erasure processing method, wherein the physical block management information is written in the nonvolatile memory as unused.
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