JP2005083937A - Movable element device - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To detect a capacitance with high accuracy, while simplifying a wiring constitution, in a movable element device such as MEMS. <P>SOLUTION: In order to detect attitude displacement to a standard attitude of the movable element 3a by the capacitance 11 between the movable element 3a and an electrode 4, an antiphase input of a noninverting amplifier 10 is connected to the electrode 4, and a driving signal and a detection signal are inputted from a positive-phase input. Hereby, the movable element 3a is driven by the noninverting amplifier 10 and the capacitance 11 is detected from the output of the noninverting amplifier 10. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、可動エレメントと可動エレメントに隔離した電極との間の静電気力で可動エレメントを駆動する可動エレメント装置に関し、特に静電駆動MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)ミラーを駆動し角度を検出する際に用いて好適な可動エレメント装置に関するものである。   The present invention relates to a movable element device that drives a movable element by an electrostatic force between the movable element and an electrode isolated by the movable element, and particularly when driving an electrostatic drive MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) mirror to detect an angle. The present invention relates to a movable element device suitable for use in the above.

近年、データトラフィックの爆発的増大に応えるべく、大容量フォトニックネットワークの構築が進められている。メッシュ状フォトニックネットワークにおいて、フレキシブルな運用を実現するには、ネットワークノードにおいて任意のパスを交換(クロスコネクト)機能の実現が不可欠であり、そのためには、MEMS技術を適用したマイクロミラーによる光スイッチが有望である。   In recent years, construction of a large-capacity photonic network has been promoted in response to the explosive increase in data traffic. In order to realize flexible operation in mesh photonic networks, it is indispensable to implement an arbitrary path exchange (cross connect) function at the network node. To that end, an optical switch using micromirrors using MEMS technology is required. Is promising.

図20,図21は上述のMEMS技術を適用した一般的なマイクロミラーユニット(MEMSミラー)100を示す図であり、図20はその上視図、図21はその機構を説明するための図である。図21に示すように、マイクロミラーユニット100は、基板101上部にミラーデバイス102が中空の空間を空けて固設されている。
さらに、ミラーデバイス102は、図20に示すように、X軸,Y軸の2軸を回動軸として回動可能に構成されたものであって、ミラー103,ミラー103を支持するY軸トーションバー104y,ミラー103の外周に設けられY軸トーションバー104yに接続された第1フレーム105−1,Y軸トーションバー104yと第1フレーム105−1とを通じてミラー103を支持するX軸トーションバー104xおよび第1フレーム105−1外周に設けられX軸トーションバー104xに接続された第2フレーム105−2をそなえて構成されている。
20 and 21 are diagrams showing a general micromirror unit (MEMS mirror) 100 to which the above-described MEMS technology is applied. FIG. 20 is a top view thereof, and FIG. 21 is a diagram for explaining the mechanism. is there. As shown in FIG. 21, in the micromirror unit 100, a mirror device 102 is fixed on a substrate 101 with a hollow space.
Further, as shown in FIG. 20, the mirror device 102 is configured to be rotatable about two axes of the X-axis and the Y-axis, and the Y-axis torsion that supports the mirror 103 and the mirror 103. An X-axis torsion bar 104x that supports the mirror 103 through a first frame 105-1, a Y-axis torsion bar 104y, and a first frame 105-1 provided on the outer periphery of the bar 104y and the mirror 103 and connected to the Y-axis torsion bar 104y. The second frame 105-2 is provided on the outer periphery of the first frame 105-1 and connected to the X-axis torsion bar 104x.

また、このマイクロミラーユニット100の基板101上には、ミラー103をX軸,Y軸を中心としてそれぞれ回動させるための静電気力をミラー103に供給するための二対の電極がそなえられている(図21中においてはY軸を中心として回動させるための一対の電極106a,106bについてのみ図示している)。
これにより、これら一対の電極106a,106bのうちで、電極106aを正電極、電極106bを負電極として、それぞれの電極106a,106bに対して互いに異なる電圧信号を駆動信号♯1,♯2として供給すると、電極106a側または電極106b側からミラー103にかかる静電気力が変化する。これにより、Y軸トーションバー104yがねじれて、ミラー103がティルト(即ち、面位が偏向)することができるようになっている。
Further, on the substrate 101 of the micromirror unit 100, there are provided two pairs of electrodes for supplying an electrostatic force to the mirror 103 for rotating the mirror 103 about the X axis and the Y axis, respectively. (In FIG. 21, only a pair of electrodes 106a and 106b for rotating about the Y axis is shown).
As a result, of the pair of electrodes 106a and 106b, the electrode 106a is used as a positive electrode, the electrode 106b is used as a negative electrode, and different voltage signals are supplied to the electrodes 106a and 106b as drive signals # 1 and # 2. Then, the electrostatic force applied to the mirror 103 from the electrode 106a side or the electrode 106b side changes. Thereby, the Y-axis torsion bar 104y is twisted so that the mirror 103 can be tilted (that is, the surface position is deflected).

このように角度が変化したミラー103の反射面103aに光が入射すると、反射する光の方向が変わる。従来の光スイッチにおいても、マイクロミラーが有するこのような機能を光の方路切り替えに利用している。
ところで、上述のごときマイクロミラーユニット100によって光スイッチを構成する際の課題として、光の入出力を行なう光ファイバの直径が非常に小さいことから、反射光を出力側の光ファイバに高精度で導くために、ミラー103の面位の偏向角度(以下、単に角度という場合がある)を精細に制御する必要がある。
When light enters the reflection surface 103a of the mirror 103 whose angle has changed in this way, the direction of the reflected light changes. Even in the conventional optical switch, such a function of the micromirror is used for switching the light path.
By the way, as a problem when the optical switch is configured by the micromirror unit 100 as described above, since the diameter of the optical fiber for inputting and outputting light is very small, the reflected light is guided to the optical fiber on the output side with high accuracy. Therefore, it is necessary to finely control the deflection angle of the surface position of the mirror 103 (hereinafter sometimes simply referred to as an angle).

ここで、ミラー103の角度を検出する際には、ミラー103の角度が、ミラー103と駆動電極106aとの間の静電容量121の値CPおよびミラー103と駆動電極106aとの間の静電容量122の値CNと一意に対応することが知られているので、図21に示すように、ミラー103の角度センサとして、静電容量センサ110を適用することが考えられている。   Here, when the angle of the mirror 103 is detected, the angle of the mirror 103 depends on the value CP of the capacitance 121 between the mirror 103 and the drive electrode 106a and the electrostatic capacitance between the mirror 103 and the drive electrode 106a. Since it is known to uniquely correspond to the value CN of the capacitance 122, it is considered to apply the capacitance sensor 110 as the angle sensor of the mirror 103 as shown in FIG.

図22は、上述のミラー103の角度センサとして適用される従来の静電容量センサ110を示す模式図であり、この図22に示す静電容量センサ110は、静電容量の検出対象となる2つの容量121,122(値はそれぞれCP,CNと表記する)を入力容量とし、増幅回路111と帰還容量112(CF)とを有する、反転増幅回路型の加算回路構成を有している。更に、この静電容量センサ110においては、十分高い周波数において、利得(Gain)は式(1)により決定される。   FIG. 22 is a schematic diagram showing a conventional capacitance sensor 110 applied as an angle sensor of the above-described mirror 103. The capacitance sensor 110 shown in FIG. 22 is a capacitance detection target 2. It has an inverting amplifier circuit type adding circuit configuration having two capacitors 121 and 122 (values are represented as CP and CN, respectively) as input capacitors, and having an amplifier circuit 111 and a feedback capacitor 112 (CF). Further, in this capacitance sensor 110, the gain (Gain) is determined by the equation (1) at a sufficiently high frequency.

Gain = (CP−CN)/CF …(1)
例えばCF=1pFとした場合の利得の周波数特性を図23に示す。この図23に示すように、高周波の利得は(CP−CN)の増加に従って増大している。従って、既知の入力振幅に対する出力振幅の変動から、静電容量の変動(CP−CN)を検知することが可能である(例えば特許文献1、特許文献2)。
特許第2936286号公報(12〜14ページ,図8,図10) 特開平5―281256号公報(2〜3ページ,図4)
Gain = (CP-CN) / CF (1)
For example, FIG. 23 shows the frequency characteristics of the gain when CF = 1 pF. As shown in FIG. 23, the high frequency gain increases as (CP-CN) increases. Therefore, it is possible to detect the capacitance variation (CP-CN) from the variation in the output amplitude with respect to the known input amplitude (for example, Patent Document 1 and Patent Document 2).
Japanese Patent No. 2936286 (pages 12-14, FIG. 8, FIG. 10) JP-A-5-281256 (2-3 pages, FIG. 4)

上述の図22に示す技術においては、ミラー103を駆動するための駆動信号を供給するための2本の配線のみならず、静電容量センサ110において検出対象となる静電容量のアンプに接続される側の電位を検出対象ごとに全て分離するための配線も独立して必要となる。
したがって、特にMEMSミラーアレイのように、検出対象となるミラーである可動エレメントがアレイ状に複数配置されているような場合には、個々のミラー103の電位を分離する(取り出す)ために配線数が増加し、配線構成が複雑になり、また、MEMSミラーアレイをなす隣接ミラー間も絶縁する必要があり、製造工程が複雑になるという課題もある。特許文献1〜2に記載された静電容量を検出する装置においても同様である。
In the technique shown in FIG. 22 described above, not only two wires for supplying a drive signal for driving the mirror 103 but also a capacitance amplifier to be detected by the capacitance sensor 110 is connected. Wiring for separating all potentials for each detection target is also required independently.
Therefore, particularly when a plurality of movable elements, which are mirrors to be detected, are arranged in an array like a MEMS mirror array, the number of wirings for separating (extracting) the potentials of the individual mirrors 103. As a result, the wiring configuration becomes complicated, and it is necessary to insulate adjacent mirrors that form the MEMS mirror array, which complicates the manufacturing process. The same applies to the devices for detecting capacitance described in Patent Documents 1 and 2.

たとえば、上述の図22に示す静電容量センサ110を適用して、100チャンネル規模の大規模な光スイッチを構成しようとする場合には、ミラー側電位を分離することにより配線が増加し、導電体であるシリコンを別電位にするために隣接ミラー間を絶縁させる必要が生ずるなどの製造上の困難を伴うので、仮想接地(つまりミラー電位)の分離が困難となるのである。   For example, when the capacitance sensor 110 shown in FIG. 22 described above is applied and a large-scale optical switch having a 100-channel scale is to be configured, the wiring is increased by separating the mirror-side potential, and the conductivity is increased. This makes it difficult to separate the virtual ground (that is, the mirror potential) because it involves manufacturing difficulties such as the need to insulate adjacent mirrors in order to make silicon, which is a body, have a different potential.

本発明は、このような課題に鑑み創案されたもので、可動エレメント装置を接地し、可動エレメントを動作させる電極を通じて静電容量を検出することにより、可動エレメント装置との配線構成を簡素化しながら、高精度に静電容量を検出することができるようにした可動エレメント装置を提供することを目的とする。   The present invention has been devised in view of such problems, and by grounding the movable element device and detecting the capacitance through an electrode for operating the movable element, the wiring configuration with the movable element device is simplified. An object of the present invention is to provide a movable element device capable of detecting a capacitance with high accuracy.

第1の発明による可動エレメント装置は、接地された可動エレメントと静電気力により該可動エレメントを動作させる電極とを備えた可動エレメント部を複数備えたことを特徴とする。
第2の発明による可動エレメント装置は、接地された可動エレメントと、静電気力により該可動エレメントを動作させる電極とを備え、該可動エレメントの共振周波数より周波数の低い駆動信号を該電極に印加し該可動エレメントの動作を制御するとともに、該共振周波数より周波数の高い検出信号を該電極に印加し該可動エレメントと該電極との間の静電容量を検出することを特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a movable element device including a plurality of movable element portions each including a grounded movable element and an electrode for operating the movable element by electrostatic force.
A movable element device according to a second invention includes a grounded movable element and an electrode for operating the movable element by electrostatic force, and applies a drive signal having a frequency lower than the resonance frequency of the movable element to the electrode. The operation of the movable element is controlled, and a detection signal having a frequency higher than the resonance frequency is applied to the electrode to detect a capacitance between the movable element and the electrode.

第3の発明による可動エレメント装置は、接地された可動エレメントと、静電気力により該可動エレメントを動作させる第1および第2の電極とを備え、該可動エレメントの共振周波数より周波数の低い第1および第2の駆動信号をそれぞれ該第1および該第2の電極に印加し該可動エレメントの動作を制御するとともに、該共振周波数より周波数の高い検出信号を該第1および第2の電極に印加し該可動エレメントと該第1および第2の電極との間の静電容量を検出することを特徴とする。   A movable element device according to a third invention comprises a grounded movable element and first and second electrodes for operating the movable element by electrostatic force, and the first and second frequencies lower than the resonance frequency of the movable element. A second driving signal is applied to the first and second electrodes, respectively, to control the operation of the movable element, and a detection signal having a frequency higher than the resonance frequency is applied to the first and second electrodes. Capacitance between the movable element and the first and second electrodes is detected.

第4の発明による可動エレメント装置は、第2または第3の発明による可動エレメント装置であって、該駆動信号および該検出信号を正相入力より入力し、該電極を逆相入力に接続し、出力を該逆相入力に帰還させた差動増幅部を備え、該差動増幅部の帰還容量および帰還抵抗は、該駆動信号に対する該差動増幅部の利得が略1であり、該検出信号に対する該作動増幅部の利得が該静電容量の変化により変化する値であり、該差動増幅部の出力に基づき該可動エレメントの動作を検出することを特徴とする。   A movable element device according to a fourth invention is the movable element device according to the second or third invention, wherein the drive signal and the detection signal are input from a positive phase input, the electrode is connected to a negative phase input, A differential amplifying unit that feeds back an output to the negative-phase input; a feedback capacitor and a feedback resistor of the differential amplifying unit have a gain of the differential amplifying unit with respect to the drive signal of about 1; The gain of the operation amplification unit with respect to is a value that changes due to the change of the capacitance, and the operation of the movable element is detected based on the output of the differential amplification unit.

第5の発明による可動エレメント装置は、第4の発明による可動エレメント装置であって、該該可動エレメントの位置および方向を変化させる際に、該駆動信号の変化に連動して該差動増幅部の帰還抵抗を減少させることを特徴とする。   A movable element device according to a fifth aspect of the present invention is the movable element device according to the fourth aspect of the present invention, wherein when the position and direction of the movable element are changed, the differential amplifying unit is interlocked with the change of the drive signal. The feedback resistance is reduced.

このように、本発明による可動エレメント装置では、可動エレメント装置を接地し、可動エレメントを動作させる電極を通じて静電容量を検出することにより、可動エレメント装置との配線構成を簡素化しながら、高精度に静電容量を検出することができる。
また、本発明による可動エレメント装置では、駆動信号および検出信号を正相入力より入力し、電極を逆相入力に接続し、出力を逆相入力に帰還させた差動増幅部を備えることにより、検出対象となる静電容量の値に応じた利得で検出信号が増幅された信号を、静電容量の値の検出結果として出力することができる。すなわち、検出対象の静電容量をなす片側の電極として機能する電極4aによって、可動エレメント駆動と静電容量検知とを両立させることができる。
As described above, in the movable element device according to the present invention, the movable element device is grounded and the capacitance is detected through the electrode for operating the movable element, thereby simplifying the wiring configuration with the movable element device and highly accurately. Capacitance can be detected.
Further, in the movable element device according to the present invention, the drive signal and the detection signal are input from the positive phase input, the electrode is connected to the negative phase input, and the output is fed back to the negative phase input. A signal obtained by amplifying the detection signal with a gain corresponding to the capacitance value to be detected can be output as a detection result of the capacitance value. That is, it is possible to achieve both driving of the movable element and capacitance detection by the electrode 4a functioning as one electrode forming the capacitance to be detected.

これにより、可動エレメントをアレイ状に配置する際には、複数の可動エレメントを接地し、共通の電位となるように構成することができるので、可動エレメントごとの電位を配線により取り出す必要がなくなり、可動エレメント装置との配線構成を簡素化しながら、高精度に静電容量を検出することができ、歩留まり向上や特性改善に資するという利点がある。   Thereby, when arranging the movable elements in an array, it is possible to configure a plurality of movable elements to be grounded and to have a common potential, so there is no need to take out the potential of each movable element by wiring, While simplifying the wiring configuration with the movable element device, it is possible to detect the capacitance with high accuracy, and there is an advantage that it contributes to yield improvement and characteristic improvement.

また、本発明の光スイッチ制御装置および光スイッチング装置によれば、静電容量センサ部の各静電容量センサにより、ティルトミラー駆動と静電容量検知とを両立させることができる。これにより、静電容量センサとティルトミラーとの間で必要な配線構成としては、少なくとも電極と増幅回路の逆相入力とを接続するための2本の配線のみとして、配線構成を簡素化させることができる。更には、ティルトミラーをアレイ状に配置したミラーアレイを構成する際には、複数のティルトミラーを共通の電位となるように構成することができるので、ティルトミラーごとの電位を配線により取り出す必要がなくなり、ミラーアレイとの配線構成を簡素化しながら、高精度に静電容量を検出することができ、歩留まり向上や特性改善に資するという利点がある。   In addition, according to the optical switch control device and the optical switching device of the present invention, it is possible to achieve both tilt mirror driving and capacitance detection by each capacitance sensor of the capacitance sensor unit. As a result, the wiring configuration required between the capacitance sensor and the tilt mirror is simplified to include at least two wirings for connecting the electrode and the negative phase input of the amplifier circuit. Can do. Furthermore, when configuring a mirror array in which tilt mirrors are arranged in an array, a plurality of tilt mirrors can be configured to have a common potential, so that the potential for each tilt mirror must be extracted by wiring. Thus, there is an advantage that the capacitance can be detected with high accuracy while simplifying the wiring configuration with the mirror array, which contributes to improvement in yield and characteristics.

また、第1静電容量検出回路,第2静電容量検出回路および差信号出力部により、電極静電容量変位を求めることができるので、要求されるティルトミラー角度制御のために必要な微小容量変動を検出することができ、ひいてはティルトミラーを高精度に角度制御することができる利点もある。   Further, since the electrode capacitance displacement can be obtained by the first capacitance detection circuit, the second capacitance detection circuit, and the difference signal output unit, a minute capacitance necessary for tilt mirror angle control required. There is also an advantage that the fluctuation can be detected, and the tilt mirror can be angle-controlled with high accuracy.

以下、図面を参照することにより、本発明の実施の形態について説明する。
〔a〕第1実施形態の説明
図1は本発明の第1実施形態を示す図で、この図1において、10は静電容量センサであり、この静電容量センサ10は、可動エレメント3aの基準姿勢に対する姿勢変位を、可動エレメント3aと可動エレメント3aに隔離して配置された電極4との間の静電容量で検出するためのものである。即ち、可動エレメント3aと可動エレメント3aに隔離して配置された電極4との間の静電気力により可動エレメント3aが変位する可動エレメント装置1における上記の可動エレメント3aと電極4との間の静電容量を検出するためのものである。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[A] Description of First Embodiment FIG. 1 is a diagram showing a first embodiment of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 10 denotes a capacitance sensor, and the capacitance sensor 10 includes a movable element 3a. This is for detecting the attitude displacement with respect to the reference attitude by the electrostatic capacitance between the movable element 3a and the electrode 4 arranged separately from the movable element 3a. That is, the electrostatic force between the movable element 3a and the electrode 4 in the movable element device 1 in which the movable element 3a is displaced by the electrostatic force between the movable element 3a and the electrode 4 arranged separately from the movable element 3a. This is for detecting the capacity.

たとえば、可動エレメントとしてのミラー3aをそなえるとともにミラー3aに隔離して配置された電極4との間の静電気力によりミラー3aが変位(面位が偏向)する可動エレメント装置としてのMEMSミラーユニット1において、静電容量センサ10は、このミラー3aと電極4との間の静電容量を検出するためのものである。本実施形態にかかる静電容量センサ10にて検出しうる静電容量についても、前述の図22の場合と同様に、ミラー1の角度制御のためのミラー角度を検出するための情報として用いることができるようになっている。   For example, in the MEMS mirror unit 1 as a movable element device that includes a mirror 3a as a movable element and in which the mirror 3a is displaced (surface position is deflected) by an electrostatic force between the mirror 3a and an electrode 4 disposed separately from the mirror 3a. The electrostatic capacitance sensor 10 is for detecting the electrostatic capacitance between the mirror 3a and the electrode 4. The capacitance that can be detected by the capacitance sensor 10 according to the present embodiment is also used as information for detecting the mirror angle for controlling the angle of the mirror 1 as in the case of FIG. Can be done.

なお、図1中のMEMSミラーユニット1は、基板2をそなえるとともに、基板2と中空な空間を隔てて固設されたミラーデバイス3をそなえ、基板2上にはミラー3aの反射裏面に対向して電極4が形成されている。又、図1中においては、ミラーデバイス3としてはミラー3aおよびトーションバー3bに着目して図示しており、ミラー3aおよびトーションバー3bを支持する外郭フレームや基板2との固設部分等については図示を省略している。   The MEMS mirror unit 1 in FIG. 1 includes a substrate 2 and a mirror device 3 that is fixedly spaced from the substrate 2 with a hollow space. The MEMS mirror unit 1 on the substrate 2 faces the reflective back surface of the mirror 3a. Thus, an electrode 4 is formed. In FIG. 1, the mirror device 3 is illustrated focusing on the mirror 3 a and the torsion bar 3 b, and the outer frame that supports the mirror 3 a and the torsion bar 3 b, the portion fixed to the substrate 2, etc. The illustration is omitted.

ここで、第1実施形態にかかる静電容量センサ10においては、増幅回路13Aと、帰還容量(容量値をCFと表記する)13Bと、帰還抵抗(抵抗値をRFと表記する)13Cとをそなえるとともに、検出対象となる静電容量(容量値をCPと表記する)11を増幅回路13Aの逆相入力に接続しているので、これらの増幅回路13A,帰還容量13B,帰還抵抗13Cおよび検出対象の静電容量11により、非反転増幅回路13Uを構成している。   Here, in the capacitance sensor 10 according to the first embodiment, an amplifier circuit 13A, a feedback capacitor (capacitance value is expressed as CF) 13B, and a feedback resistor (resistance value is expressed as RF) 13C. In addition, since the electrostatic capacitance 11 (capacitance value is expressed as CP) 11 to be detected is connected to the negative phase input of the amplifier circuit 13A, the amplifier circuit 13A, the feedback capacitor 13B, the feedback resistor 13C, and the detection The target capacitance 11 constitutes a non-inverting amplifier circuit 13U.

また、上述のMEMSミラーユニット1は、例えば図2に示すような周波数応答特性を持つ。即ち、MEMSミラーユニット1は、機械的な共振特性を持ち、共振周波数(例えば1kHz程度の周波数)よりも低周波では安定的な回転効率を有しているが、共振周波数よりも高周波では回転効率が急激に減衰するようになっている。トーションバー3bのバネ定数をk、ミラー3aの慣性モーメントをIとすると、MEMSミラーユニット1の共振周波数frは、式(2)に示すようになる。   Moreover, the above-mentioned MEMS mirror unit 1 has a frequency response characteristic as shown in FIG. 2, for example. That is, the MEMS mirror unit 1 has mechanical resonance characteristics and has a stable rotation efficiency at a frequency lower than the resonance frequency (for example, a frequency of about 1 kHz), but the rotation efficiency at a frequency higher than the resonance frequency. Will decay rapidly. Assuming that the spring constant of the torsion bar 3b is k and the moment of inertia of the mirror 3a is I, the resonance frequency fr of the MEMS mirror unit 1 is as shown in Expression (2).

Figure 2005083937
Figure 2005083937

本実施形態にかかる静電容量センサ10においては、MEMSミラーユニット1の上述のごとき特性を利用して、MEMSミラーユニット1の応答する低周波領域では固定利得で動作させる一方、応答しない高周波に静電容量センサ用の信号を重畳することによって、MEMSミラーユニット1と静電容量センサ10との配線構成を、増幅回路13Aの逆相入力とミラー3a駆動用の電極4とを接続するだけで(ミラー3aの電位を分離させることなく)、駆動と静電容量検出を両立させることができる。   In the capacitance sensor 10 according to the present embodiment, the above-described characteristics of the MEMS mirror unit 1 are used to operate at a fixed gain in a low frequency region to which the MEMS mirror unit 1 responds, while at a high frequency that does not respond. By superimposing the signal for the capacitance sensor, the wiring configuration of the MEMS mirror unit 1 and the capacitance sensor 10 is simply connected to the reverse phase input of the amplifier circuit 13A and the electrode 4 for driving the mirror 3a ( Without separating the potential of the mirror 3a), it is possible to achieve both driving and capacitance detection.

つまり、増幅回路13Aの正相入力には、容量検出用信号とともに、容量検出用信号よりも低周波を有し可動エレメントとしてのミラー3aの変位を変化させるための駆動信号が重畳された信号を入力する一方、ミラー3aの電位を接地電位として検出対象となる静電容量を増幅回路13Aの逆相入力に接続するように構成されている。
これにより、ミラー3aの電位を基準電位(例えば接地電位)とし、静電容量センサ10とMEMSミラーユニット1との間で必要な配線構成としては、少なくとも電極4と増幅回路13Aの逆相入力とを接続するための1本の配線のみとしている。
In other words, the positive phase input of the amplifier circuit 13A includes a signal on which a drive signal for changing the displacement of the mirror 3a as a movable element having a lower frequency than the capacitance detection signal is superimposed together with the capacitance detection signal. On the other hand, the capacitance of the mirror 3a is set to the ground potential, and the capacitance to be detected is connected to the reverse phase input of the amplifier circuit 13A.
Thereby, the potential of the mirror 3a is set to a reference potential (for example, ground potential), and the necessary wiring configuration between the capacitance sensor 10 and the MEMS mirror unit 1 includes at least the reverse phase input of the electrode 4 and the amplifier circuit 13A. Only one wiring for connecting is used.

ところで、上述の非反転増幅回路13Uの利得(Gain)は、図3に示すように、帰還インピーダンスをZf,逆相入力インピーダンスをZiとすると、式(3)から得ることができる。
Gain=1+Zf/Zi …(3)
また、図1において、帰還インピーダンスZfおよび逆相入力インピーダンスZiはそれぞれ式(4),(5)に示すようになる。
By the way, the gain (Gain) of the non-inverting amplifier circuit 13U can be obtained from the equation (3) when the feedback impedance is Zf and the negative phase input impedance is Zi, as shown in FIG.
Gain = 1 + Zf / Zi (3)
In FIG. 1, the feedback impedance Zf and the negative phase input impedance Zi are as shown in equations (4) and (5), respectively.

Figure 2005083937
Figure 2005083937

したがって、図1に示す非反転増幅回路13Uの利得としては、式(6)に示すようになる。尚、fは増幅回路13Aの正相入力に入力される信号の周波数である。   Therefore, the gain of the non-inverting amplifier circuit 13U shown in FIG. Note that f is the frequency of the signal input to the positive phase input of the amplifier circuit 13A.

Figure 2005083937
Figure 2005083937

また、カットオフ周波数をfcとすると、(2πfc)CF・RF=1となるので、fcとしては式(7)のように表すことができる。
fc=1/2πCF・RF …(7)
ここで、入力信号の周波数fがカットオフ周波数よりも十分小さい(f<<fc)場合には、式(6)は式(6A)に示すように書き直すことができ、周波数fがカットオフ周波数よりも十分大きく(f>>fc)場合には、式(6)は式(6B)に示すように近似することができる。
Further, when the cutoff frequency is fc, (2πfc) CF · RF = 1, and therefore fc can be expressed as in Expression (7).
fc = 1 / 2πCF · RF (7)
Here, when the frequency f of the input signal is sufficiently smaller than the cutoff frequency (f << fc), Equation (6) can be rewritten as shown in Equation (6A), and the frequency f is the cutoff frequency. Is sufficiently larger (f >> fc), Equation (6) can be approximated as shown in Equation (6B).

Gain=1 …(6A)
Gain=1+CP/CF …(6B)
すなわち、正相入力に入力される信号について、ミラー3aの応答する(ミラー3aの面位が偏向する)低周波領域では利得1のボルテージホロアとして動作し、応答しない高周波においては、CPに応じて利得が上昇する。
Gain = 1 (6A)
Gain = 1 + CP / CF (6B)
That is, the signal input to the positive phase input operates as a voltage follower with a gain of 1 in the low frequency region where the mirror 3a responds (the surface position of the mirror 3a is deflected), and in response to the CP at a high frequency which does not respond. Gain.

これにより、この増幅回路13Aでは、静電容量を検出するための容量検出用信号を増幅回路13Aの正相入力に入力すると、検出対象となる静電容量11の値(CP)に応じた利得で容量検出用信号が増幅された信号を、静電容量11の検出結果として出力することができる。
また、第1実施形態における静電容量センサ10においては、増幅回路13Aからの出力から、駆動信号の低周波成分を除去するハイパスフィルタとしての容量15をそなえており、これにより、上述の検出対象となる静電容量11の値に応じた利得で容量検出用信号が増幅された信号を高精度に出力することができ、ミラー3aを駆動するための低周波信号についても無駄なく電極4に供給される。
Thus, in this amplifier circuit 13A, when a capacitance detection signal for detecting the capacitance is input to the positive phase input of the amplifier circuit 13A, the gain corresponding to the value (CP) of the capacitance 11 to be detected. Thus, the signal obtained by amplifying the capacitance detection signal can be output as the detection result of the capacitance 11.
In addition, the capacitance sensor 10 according to the first embodiment includes a capacitor 15 as a high-pass filter that removes a low-frequency component of the drive signal from the output from the amplifier circuit 13A. A signal obtained by amplifying the capacitance detection signal with a gain corresponding to the value of the capacitance 11 can be output with high accuracy, and a low-frequency signal for driving the mirror 3a is also supplied to the electrode 4 without waste. Is done.

なお、MEMSミラーユニット1としては、共振周波数fr〔式(2)参照〕程度以下の低周波を持つ駆動信号で駆動するので、式(7)に示すカットオフ周波数fcとしては、共振周波数よりも十分大きくなる値となるように、静電容量センサ10としての回路パラメータ(CF,RF)を設定する。
また、上述のハイパスフィルタ15としては、RCフィルタ、LCフィルタ、アクティブフィルタ等、様々な構成が適用できる。
Note that the MEMS mirror unit 1 is driven by a drive signal having a low frequency less than or equal to the resonance frequency fr (see Equation (2)). Therefore, the cutoff frequency fc shown in Equation (7) is higher than the resonance frequency. Circuit parameters (CF, RF) as the capacitance sensor 10 are set so that the value becomes sufficiently large.
In addition, as the above-described high pass filter 15, various configurations such as an RC filter, an LC filter, and an active filter can be applied.

上述の構成により、本発明の第1実施形態にかかる静電容量センサ10では、低周波の駆動信号と駆動信号よりも高周波の容量検出用信号との重畳信号が、静電容量センサ10を構成する増幅回路13Aの正相入力に入力する。正相入力から入力された信号は増幅されて、低周波成分については利得1で増幅されるとともに、高周波成分については検出対象の静電容量値CPと帰還容量値CFとの差に応じた利得で増幅されて出力される。   With the above-described configuration, in the capacitance sensor 10 according to the first embodiment of the present invention, the superimposed signal of the low frequency drive signal and the capacitance detection signal having a frequency higher than the drive signal configures the capacitance sensor 10. To the positive phase input of the amplifier circuit 13A. The signal input from the positive phase input is amplified, the low frequency component is amplified with a gain of 1, and the high frequency component is gain according to the difference between the capacitance value CP to be detected and the feedback capacitance value CF. Is amplified and output.

すなわち、低周波成分については、増幅回路13A,帰還容量13B,帰還抵抗13CおよびMEMS容量11からなる非反転増幅回路13Uは利得1のボルテージホロアとして動作するので、低周波成分の駆動信号は電極4に利得1で供給される。
また、MEMSミラーユニット1が応答しない高周波の容量検出信号については、上述の式(6B)により、検出対象のMEMS容量11の値CPに応じた利得で増幅されるので、静電容量センサ10では、増幅回路13Aの正相入力に入力された信号が式(6B)の利得値に応じて増幅された信号を、上述の静電容量11の検出信号としてハイパスフィルタ15を介して出力する。
That is, for the low frequency component, the non-inverting amplifier circuit 13U including the amplifier circuit 13A, the feedback capacitor 13B, the feedback resistor 13C, and the MEMS capacitor 11 operates as a voltage follower with a gain of 1. Therefore, the drive signal of the low frequency component is an electrode. 4 with a gain of 1.
Further, the high-frequency capacitance detection signal to which the MEMS mirror unit 1 does not respond is amplified by a gain corresponding to the value CP of the MEMS capacitance 11 to be detected by the above-described equation (6B). Then, a signal obtained by amplifying the signal input to the positive phase input of the amplifier circuit 13A according to the gain value of the equation (6B) is output through the high pass filter 15 as the detection signal of the capacitance 11 described above.

図4,図5は例えばCF=1pFの場合の静電容量センサ10による利得の周波数特性を示す図であり、図4はハイパスフィルタ15によるフィルタ処理前後によるその特性を、図5はCPの値に応じたハイパスフィルタ15出力における利得の周波数特性を、それぞれ示している。
すなわち、この図4ないし図5に示すように、低周波の利得は1で、高周波の利得は静電容量11の値CPの増加に従って増大しているので、利得は上述の式(6A),(6B)に従って上昇していることがわかる。従って、既知の入力振幅に対する出力振幅の変動から、静電容量11の変動値CPを一意に導出することができる。なお、本発明が、特性例に示すパラメータに縛られないことは、言うまでもない。
4 and 5 are graphs showing the frequency characteristics of the gain by the capacitance sensor 10 when CF = 1 pF, for example. FIG. 4 shows the characteristics before and after filtering by the high-pass filter 15, and FIG. 5 shows the value of CP. The frequency characteristics of the gain at the output of the high-pass filter 15 corresponding to are respectively shown.
That is, as shown in FIGS. 4 to 5, the low-frequency gain is 1, and the high-frequency gain increases as the value CP of the capacitance 11 increases. Therefore, the gain is expressed by the above equation (6A), It turns out that it has risen according to (6B). Therefore, the fluctuation value CP of the capacitance 11 can be uniquely derived from the fluctuation of the output amplitude with respect to the known input amplitude. Needless to say, the present invention is not limited to the parameters shown in the characteristic examples.

換言すれば、静電容量センサ10からの出力信号のレベル値に応じたCP値を予め準備しておくことで、ミラー3aの駆動中において常時静電容量11についての検出信号を出力することができる。
これにより、静電容量センサ付きの可動エレメント装置としてのMEMSミラーユニット1においては、低周波成分の信号が駆動信号として静電容量センサ10を経由して電極4に供給され、ミラー3aが所望の面位に角度調整される一方、高周波成分についても同様に電極4に印加されるがミラー3aの面位は変化しない。静電容量センサ10では、この高周波成分として出力される出力信号を、検出対象となる静電容量11の値即ちミラー3aの角度検出を行なうための値をあらわすレベルで出力している。
In other words, by preparing in advance a CP value corresponding to the level value of the output signal from the capacitance sensor 10, it is possible to always output a detection signal for the capacitance 11 while the mirror 3a is being driven. it can.
As a result, in the MEMS mirror unit 1 as a movable element device with a capacitance sensor, a low-frequency component signal is supplied as a drive signal to the electrode 4 via the capacitance sensor 10, and the mirror 3 a is desired. While the angle is adjusted to the surface position, the high-frequency component is similarly applied to the electrode 4, but the surface position of the mirror 3a does not change. The capacitance sensor 10 outputs the output signal output as the high frequency component at a level representing the value of the capacitance 11 to be detected, that is, the value for detecting the angle of the mirror 3a.

このように、本発明の第1実施形態にかかる静電容量センサ10によれば、増幅回路13Aと、帰還容量13Bと、帰還抵抗13Cとともに、検出対象となる静電容量11を増幅回路13Aの逆相入力に接続して非反転増幅回路13Uを構成するとともに、静電容量11の値CPを検出するための容量検出用信号を増幅回路13Aの正相入力に入力するとともに、検出対象となる静電容量11の値CPに応じた利得で容量検出用信号が増幅された信号を、静電容量11の値CPの検出結果として出力することができるので、検出対象となる静電容量11をなす片側の電極として機能するミラー3aの電位を基準電位として静電容量センサ10を構成することができる。   As described above, according to the capacitance sensor 10 according to the first embodiment of the present invention, the detection target capacitance 11 as well as the amplification circuit 13A, the feedback capacitance 13B, and the feedback resistor 13C are included in the amplification circuit 13A. The non-inverting amplifier circuit 13U is configured by being connected to the negative phase input, and a capacitance detection signal for detecting the value CP of the capacitance 11 is input to the positive phase input of the amplifier circuit 13A and becomes a detection target. Since a signal obtained by amplifying the capacitance detection signal with a gain corresponding to the value CP of the capacitance 11 can be output as a detection result of the value CP of the capacitance 11, the capacitance 11 to be detected can be selected. The capacitance sensor 10 can be configured with the potential of the mirror 3a functioning as one electrode formed as a reference potential.

言い換えれば、静電容量11をなす片側の電極として機能する電極4aによって、MEMSミラー駆動と静電容量検知とを両立させることができる。これにより、MEMSミラーユニット1をアレイ状に配置したMEMSミラーアレイを構成する際には、複数のミラーユニット1をなすミラー本体3を共通の電位となるように構成することができるので、従来技術(図21参照)のごとくミラー3aごとの電位を配線により取り出す必要がなくなり、可動エレメント装置との配線構成を簡素化しながら、高精度に静電容量を検出することができ、歩留まり向上や特性改善に資するという利点がある。   In other words, the MEMS mirror drive and the capacitance detection can be made compatible by the electrode 4a functioning as one electrode forming the capacitance 11. Thus, when configuring a MEMS mirror array in which the MEMS mirror units 1 are arranged in an array, the mirror body 3 forming the plurality of mirror units 1 can be configured to have a common potential. As shown in FIG. 21, it is not necessary to take out the potential of each mirror 3a by wiring, and the capacitance can be detected with high accuracy while simplifying the wiring configuration with the movable element device, thereby improving yield and improving characteristics. There is an advantage that contributes to.

〔b〕第2実施形態の説明
図6は本発明の第2実施形態を示す図で、この図6に示す第2実施形態においては、前述の第1実施形態の場合と同様に、MEMSミラーユニット1を、静電容量センサ20を介した駆動信号による静電気力で駆動するとともに、静電容量センサ20においてMEMSミラーユニット1のミラー3aと電極との間の静電容量を検出するものであるが、ミラー3aの面位の角度を正確に計算するために、2つの電極4a,4bとミラー3a間の静電容量の差を検出することができるようになっている点が異なっている。
[B] Description of Second Embodiment FIG. 6 is a diagram showing a second embodiment of the present invention. In the second embodiment shown in FIG. 6, as in the case of the first embodiment, a MEMS mirror is used. The unit 1 is driven by an electrostatic force generated by a drive signal via the electrostatic capacity sensor 20, and the electrostatic capacity between the mirror 3a and the electrode of the MEMS mirror unit 1 is detected by the electrostatic capacity sensor 20. However, the difference is that the difference in capacitance between the two electrodes 4a and 4b and the mirror 3a can be detected in order to accurately calculate the angle of the surface position of the mirror 3a.

前述の第1実施形態にかかる静電容量センサ10においては、少なくとも静電容量11の値CPの大きな変動を検出するには十分であるが、第2実施形態にかかる静電容量センサ20においては、MEMSミラーユニット1のミラー3aを高精度に角度制御するために、電極4aとミラー3aとの間の静電容量21の値CPおよび電極4bとミラー3aとの間の静電容量22の値CNとの差分(静電容量変位)CP−CNを求めることにより、静電容量センサ10の角度制御を行なう際に必要な微小容量変動の検出を実現できるようになっている。尚、図6中において、図1と同一の符号はほぼ同様の部分を示している。   In the capacitance sensor 10 according to the first embodiment described above, it is sufficient to detect at least a large variation in the value CP of the capacitance 11, but in the capacitance sensor 20 according to the second embodiment. In order to control the angle of the mirror 3a of the MEMS mirror unit 1 with high accuracy, the value CP of the capacitance 21 between the electrode 4a and the mirror 3a and the value of the capacitance 22 between the electrode 4b and the mirror 3a By obtaining a difference (capacitance displacement) CP-CN from CN, it is possible to realize detection of a minute capacitance change necessary for angle control of the capacitance sensor 10. In FIG. 6, the same reference numerals as those in FIG. 1 indicate almost the same parts.

ここで、この図6に示すMEMSミラーユニット1においては、静電容量センサ20を通じてミラー3aの駆動信号が2つの電極4a,4bに供給されてミラー3aの面位が可変するようになっている。即ち、2つの電極4a,4bを通じて、第1駆動信号,第2駆動信号がそれぞれ印加されて、これらの第1駆動信号および第2駆動信号が協働することでミラー3aの面位を可変するための静電気力を生成するようになっている。   Here, in the MEMS mirror unit 1 shown in FIG. 6, the drive signal of the mirror 3a is supplied to the two electrodes 4a and 4b through the capacitance sensor 20, so that the surface position of the mirror 3a is variable. . That is, the first drive signal and the second drive signal are applied through the two electrodes 4a and 4b, respectively, and the first drive signal and the second drive signal cooperate to change the surface position of the mirror 3a. For generating electrostatic force.

また、第2実施形態にかかる静電容量センサ20においては、ミラー3aの面位の角度を正確に計算するために、上述の電極4aと基準電位(例えば接地電位)のミラー3aとによる静電容量CPと、電極4bとミラー3aとによる静電容量CNとの差(CP−CN)を検出することができるようになっている。
換言すれば、静電容量センサ20は、可動エレメントとしてのミラー3aとミラー3aに隔離して配置された一対の電極4a,4bそれぞれとの間の静電気力により、ミラー3aが変位する可動エレメント装置としてのMEMSミラーユニット1におけるミラー3aと一対の電極4a,4bそれぞれとの間の静電容量21,22間の変位を検出するもので、第1静電容量検出回路23,第2静電容量検出回路24および差信号出力部27をそなえて構成されている。
Further, in the capacitance sensor 20 according to the second embodiment, in order to accurately calculate the angle of the surface position of the mirror 3a, the electrostatic force generated by the electrode 4a and the mirror 3a having a reference potential (for example, ground potential) is calculated. A difference (CP−CN) between the capacitance CP and the capacitance CN between the electrode 4b and the mirror 3a can be detected.
In other words, the capacitance sensor 20 is a movable element device in which the mirror 3a is displaced by an electrostatic force between the mirror 3a as a movable element and the pair of electrodes 4a and 4b arranged separately from the mirror 3a. In the MEMS mirror unit 1, the displacement between the capacitances 21 and 22 between the mirror 3 a and the pair of electrodes 4 a and 4 b is detected. The first capacitance detection circuit 23 and the second capacitance A detection circuit 24 and a difference signal output unit 27 are provided.

ここで、第1,第2静電容量検出回路23,24は、ともに前述の第1実施形態にかかる静電容量センサ10と同様の回路構成を有している。
また、第1静電容量検出回路23は、第1増幅回路23Aと、第1帰還容量(容量値をCFとする)23Bと、第1帰還抵抗(抵抗値をRFとする)23Cをそなえるとともに、ミラー3aと(一対の電極4a,4bをなす)第1電極4aとの間の第1静電容量(容量値をCPと記載する)21を第1増幅回路23Aの逆相入力に接続して非反転増幅回路23Uを構成する。
Here, both the first and second capacitance detection circuits 23 and 24 have the same circuit configuration as the capacitance sensor 10 according to the first embodiment.
The first capacitance detection circuit 23 includes a first amplifier circuit 23A, a first feedback capacitor (capacitance value is CF) 23B, and a first feedback resistor (resistance value is RF) 23C. The first capacitance (capacitance value is described as CP) 21 between the mirror 3a and the first electrode 4a (which forms a pair of electrodes 4a and 4b) is connected to the negative phase input of the first amplifier circuit 23A. Thus, a non-inverting amplifier circuit 23U is configured.

これにより、第1静電容量検出回路23においては、第1増幅回路23Aの正相に(第1静電容量21の値CPを検出するための)第1容量検出用信号を入力して、第1静電容量21の値CPに応じた利得で第1容量検出用信号が増幅された信号を出力するようになっている。換言すれば、第1静電容量検出回路23では、第1静電容量CPを検出するための信号を出力する。   As a result, in the first capacitance detection circuit 23, the first capacitance detection signal (for detecting the value CP of the first capacitance 21) is input to the positive phase of the first amplification circuit 23A. A signal obtained by amplifying the first capacitance detection signal with a gain corresponding to the value CP of the first capacitance 21 is output. In other words, the first capacitance detection circuit 23 outputs a signal for detecting the first capacitance CP.

具体的には、第1静電容量検出回路23における第1増幅回路23Aの正相入力に、上述の第1容量検出用信号と、第1容量検出用信号よりも低周波を有しミラー3aの変位を変化させるための第1駆動信号とが重畳された信号を入力する一方、ミラー3aの電位を基準電位(接地電位)として検出対象となる第1静電容量21を第1増幅回路23Aの逆相入力に接続するように構成されている。   Specifically, the positive phase input of the first amplifier circuit 23A in the first capacitance detection circuit 23 has a lower frequency than the first capacitance detection signal and the first capacitance detection signal, and the mirror 3a. On the other hand, a signal superimposed with a first drive signal for changing the displacement of the first capacitor 21 is input, while the first capacitance 21 to be detected is set to the first amplifier circuit 23A using the potential of the mirror 3a as a reference potential (ground potential). It is comprised so that it may connect to the reverse phase input of.

また、第2静電容量検出回路24は、第2増幅回路24Aと、第2帰還容量(容量値をCFとする)24Bと、第2帰還抵抗(抵抗値をRFとする)24Cとをそなえ、ミラー3aと(一対の電極をなす)第2電極4bとの間の第2静電容量(容量値をCNと記載する)22を第2増幅回路24Aの逆相入力に接続して非反転増幅回路24Uを構成する。
これにより、第2静電容量検出回路24においては、第2増幅回路24Aの正相に第2静電容量値CNを検出するための第2容量検出用信号を入力して、第2静電容量22の値CNに応じた利得で第2容量検出用信号が増幅された信号を出力するようになっている。換言すれば、第2静電容量検出回路24では、第2静電容量22の値CNを検出するための信号を出力する。
The second capacitance detection circuit 24 includes a second amplifier circuit 24A, a second feedback capacitor (capacitance value CF) 24B, and a second feedback resistor (resistance value RF) 24C. The second capacitance (capacitance value is described as CN) 22 between the mirror 3a and the second electrode 4b (which forms a pair of electrodes) is connected to the opposite phase input of the second amplifier circuit 24A and is not inverted. The amplifier circuit 24U is configured.
Thereby, in the second capacitance detection circuit 24, the second capacitance detection signal for detecting the second capacitance value CN is input to the positive phase of the second amplification circuit 24A, and the second capacitance detection circuit 24 inputs the second capacitance. A signal obtained by amplifying the second capacitance detection signal with a gain corresponding to the value CN of the capacitor 22 is output. In other words, the second capacitance detection circuit 24 outputs a signal for detecting the value CN of the second capacitance 22.

具体的には、第2静電容量検出回路24における第2増幅回路24Aの正相入力に、上述の第2容量検出用信号と、第2容量検出用信号よりも低周波を有しミラー3aの変位を変化させるための第2駆動信号とが重畳された信号を入力する一方、ミラー3aの電位を基準電位(接地電位)として検出対象となる第2静電容量22を第2増幅回路22aの逆相入力に接続するように構成されている。   Specifically, the positive phase input of the second amplifier circuit 24A in the second capacitance detection circuit 24 has a lower frequency than the above-described second capacitance detection signal and the second capacitance detection signal, and the mirror 3a. On the other hand, a signal superimposed with a second drive signal for changing the displacement of the second capacitor 22 is input, and the second capacitance 22 to be detected is set as a second amplification circuit 22a by using the potential of the mirror 3a as a reference potential (ground potential). It is comprised so that it may connect to the reverse phase input of.

さらに、第1静電容量検出回路23は、第1増幅回路23Aからの出力から、第1駆動信号の成分を除去する第1ハイパスフィルタとしての容量25Aをそなえ、第2静電容量検出回路24についても、第2増幅回路24Aからの出力から、第2駆動信号の成分を除去する第2ハイパスフィルタとしての容量26Aをそなえている。
これにより、第1静電容量検出回路23では、ミラー3aと電極4aとの間の第1静電容量21の値CPを検出するための信号として、第1容量検出用信号が増幅された信号を第1駆動信号の低周波成分を除去した上で出力することができるようになっている。同様に、第2静電容量検出回路24では、ミラー3aと電極4bとの間の第2静電容量22の値CNを検出するための信号として、第2容量検出用信号が増幅された信号を第2駆動信号の低周波成分を除去した上で出力することができるようになっている。
Further, the first capacitance detection circuit 23 includes a capacitor 25A as a first high-pass filter that removes the component of the first drive signal from the output from the first amplifier circuit 23A, and the second capacitance detection circuit 24. Also, a capacitor 26A is provided as a second high-pass filter that removes the component of the second drive signal from the output from the second amplifier circuit 24A.
Thus, in the first capacitance detection circuit 23, a signal obtained by amplifying the first capacitance detection signal as a signal for detecting the value CP of the first capacitance 21 between the mirror 3a and the electrode 4a. Can be output after removing the low frequency component of the first drive signal. Similarly, in the second capacitance detection circuit 24, a signal obtained by amplifying the second capacitance detection signal as a signal for detecting the value CN of the second capacitance 22 between the mirror 3a and the electrode 4b. Can be output after removing the low-frequency component of the second drive signal.

また、差信号出力部27は、第1,第2静電容量検出回路23,24からの出力の差により、ミラー3aと一対の電極4a,4bそれぞれとの間の静電容量による静電容量変位を検出するための信号を出力するものであり、第1,第2静電容量検出回路23,24からの出力信号についてインピーダンス整合させるための抵抗27B,27C,増幅回路27Aおよび帰還抵抗27Dをそなえて構成されている。   Further, the difference signal output unit 27 is based on the difference in output from the first and second capacitance detection circuits 23 and 24, and the capacitance due to the capacitance between the mirror 3a and each of the pair of electrodes 4a and 4b. A signal for detecting the displacement is output, and resistors 27B and 27C, an amplifier circuit 27A and a feedback resistor 27D for impedance matching of the output signals from the first and second capacitance detection circuits 23 and 24 are provided. It is composed.

すなわち、帰還抵抗27Dを増幅回路27Aの逆相入力に接続するとともに、第1,第2静電容量検出回路23,24からの出力信号についてそれぞれ抵抗27B,27Cを介して逆相入力に接続されて、これらの第1,第2静電容量検出回路23,24からの出力信号の差分を出力するようになっている。
ところで、第1容量検出信号は、第1静電容量検出回路23により前述の第1実施形態における式(6B)に示す利得で増幅されて出力されるようになっている。又、第2容量検出信号は、第2静電容量検出回路24により前述の第1実施形態における式(6B)に準じて、式(6C)に示す利得で増幅されて出力されるようになっている。
That is, the feedback resistor 27D is connected to the negative phase input of the amplifier circuit 27A, and the output signals from the first and second capacitance detection circuits 23 and 24 are connected to the negative phase input via the resistors 27B and 27C, respectively. Thus, the difference between the output signals from the first and second capacitance detection circuits 23 and 24 is output.
By the way, the first capacitance detection signal is amplified by the first capacitance detection circuit 23 with the gain shown in the above-described first embodiment (6B) and output. Further, the second capacitance detection signal is amplified and output by the second capacitance detection circuit 24 with the gain shown in the equation (6C) according to the equation (6B) in the first embodiment described above. ing.

Gain=1+CN/CF …(6C)
上述の第1,第2容量検出用信号として入力された信号の振幅をほぼ同一とし、第1,第2静電容量検出回路23,24の帰還容量CFの値についてもほぼ同一の値としているので、上述の差信号出力部27において出力する第1,第2静電容量検出回路23,24からの出力信号の差分信号の利得としては、上述の第1,第2容量検出信号の高周波域において式(8)に示すようになる。
Gain = 1 + CN / CF (6C)
The amplitudes of the signals input as the first and second capacitance detection signals are substantially the same, and the values of the feedback capacitors CF of the first and second capacitance detection circuits 23 and 24 are also substantially the same. Therefore, the gain of the differential signal of the output signals from the first and second capacitance detection circuits 23 and 24 output from the difference signal output unit 27 is the high frequency range of the first and second capacitance detection signals. As shown in equation (8).

Gain=(1+CP/CF)−(1+CN/CF)
=(CP−CN)/CF …(8)
式(8)における帰還容量CFの値は予め設定された既知の値である。従って、静電容量センサ20においては、上述の容量変位CP−CNに応じた利得で出力信号を出力するようになっている。
Gain = (1 + CP / CF)-(1 + CN / CF)
= (CP-CN) / CF (8)
The value of the feedback capacitance CF in equation (8) is a known value set in advance. Therefore, the capacitance sensor 20 outputs an output signal with a gain corresponding to the above-described capacitance displacement CP-CN.

上述の構成により、本発明の第2実施形態においても、低周波の第1駆動信号と第1駆動信号よりも高周波の第1容量検出用信号との重畳信号が、静電容量センサ20の第1静電容量検出回路23を構成する増幅回路23Aの正相入力に入力する。同様に、低周波の第2駆動信号と、第2駆動信号よりも高周波の第2容量検出用信号との重畳信号が、静電容量センサ20の第2静電容量検出回路24を構成する増幅回路24Aの正相入力に入力する。   With the above-described configuration, also in the second embodiment of the present invention, the superimposed signal of the low-frequency first drive signal and the first capacitance detection signal having a frequency higher than the first drive signal is the first of the capacitance sensor 20. 1 is input to the positive phase input of the amplification circuit 23A constituting the capacitance detection circuit 23. Similarly, the superimposed signal of the low-frequency second drive signal and the second capacitance detection signal having a higher frequency than the second drive signal constitutes the second capacitance detection circuit 24 of the capacitance sensor 20. Input to the positive phase input of the circuit 24A.

それぞれの増幅回路23A,24Aの正相入力から入力された信号は増幅されて、低周波成分については利得1で増幅されるとともに〔式(6A)参照〕、高周波成分についてはそれぞれの検出対象の静電容量値CP,CNと帰還容量値CFの値に応じた利得〔式(6B),(6C)参照〕で増幅されて出力される。
そして、上述のごとく増幅回路23A,24Aで増幅され出力された低周波成分および高周波成分の重畳信号は、帰還容量23B,24Bおよび帰還抵抗23C,24Cを通じて電極4a,4bにそれぞれ印加され、接地されたミラー3aとの間で静電気力が与えられる。
Signals input from the positive phase inputs of the respective amplifier circuits 23A and 24A are amplified, and the low frequency components are amplified with a gain of 1 (see equation (6A)), and the high frequency components are detected by respective detection targets. Amplified by a gain [see formulas (6B) and (6C)] corresponding to the capacitance values CP and CN and the feedback capacitance value CF, and then output.
The superposed signals of the low frequency component and the high frequency component amplified and output by the amplifier circuits 23A and 24A as described above are applied to the electrodes 4a and 4b through the feedback capacitors 23B and 24B and the feedback resistors 23C and 24C, respectively, and are grounded. An electrostatic force is applied to the mirror 3a.

電極4a,4bに印加された低周波成分および高周波成分の信号のうちで、前述の図2に示すように、高周波成分によって発生する静電気力によっては、ミラー3aが回転するようなトルクを発生しないが、低周波成分によって発生する静電気力によって、ミラー3aが回転するようなトルクを発生させることができる。
換言すれば、電極4a,4bに印加される低周波成分の信号によって、協働してミラー3aを回転させることができる。この場合においては、電極4aに電圧を印加するための静電容量センサ20入力を正相入力とし、電極4bに電圧を印加するための静電容量センサ20入力を逆相入力としている。
Of the low-frequency component and high-frequency component signals applied to the electrodes 4a and 4b, as shown in FIG. 2, the electrostatic force generated by the high-frequency component does not generate torque that rotates the mirror 3a. However, torque that rotates the mirror 3a can be generated by the electrostatic force generated by the low-frequency component.
In other words, the mirror 3a can be rotated in cooperation with the low-frequency component signal applied to the electrodes 4a and 4b. In this case, the capacitance sensor 20 input for applying a voltage to the electrode 4a is a positive phase input, and the capacitance sensor 20 input for applying a voltage to the electrode 4b is a negative phase input.

ところで、増幅回路23A,24Aで上述のごとく増幅された低周波成分および高周波成分の重畳信号は、ハイパスフィルタとしての容量25A,26Aにおいて低周波成分がカットオフされて、高周波成分の信号のみが差信号出力部27に出力される。
差信号出力部27の増幅回路27Aでは、容量25A,26Aからの高周波信号をそれぞれ入力抵抗27B,27Cを通じて逆相に入力されて、これら逆相に入力された信号の差信号を静電容量センサ20の出力信号として出力する。これにより、静電容量センサ20の利得としては、前述の式(8)に示すように、静電容量21の容量値CPと静電容量22の容量値CNとの差(CP−CN)に応じた値となる。
By the way, the low frequency component and the high frequency component superimposed signal amplified as described above by the amplifier circuits 23A and 24A are cut off by the capacitors 25A and 26A as high-pass filters, and only the high frequency component signal is different. The signal is output to the signal output unit 27.
In the amplifier circuit 27A of the difference signal output unit 27, the high frequency signals from the capacitors 25A and 26A are input in opposite phases through the input resistors 27B and 27C, respectively, and the difference signal of the signals input in these opposite phases is input to the capacitance sensor 20 output signals are output. As a result, the gain of the capacitance sensor 20 is the difference (CP−CN) between the capacitance value CP of the capacitance 21 and the capacitance value CN of the capacitance 22 as shown in the above equation (8). It becomes a corresponding value.

したがって、既知の第1,第2静電容量検出用信号の入力振幅に対する出力振幅の変動から、容量値の差CP−CNを検出することができるのである。そして、この容量差CP−CNの値から、一意にミラー3aの面位角度を特定することができる。
換言すれば、静電容量センサ20の正相,逆相入力としてそれぞれ重畳して入力される信号のうちで、低周波成分の信号についてはミラー3aの面位を変化させるために働き、高周波成分の信号については、上述の低周波成分の信号によって変化したミラー3aの面位の角度を検出するための信号として働く。
Therefore, the capacitance value difference CP-CN can be detected from the variation of the output amplitude with respect to the input amplitude of the known first and second capacitance detection signals. Then, the surface angle of the mirror 3a can be uniquely specified from the value of the capacitance difference CP-CN.
In other words, among the signals that are superimposed and input as the normal phase and reverse phase inputs of the capacitance sensor 20, the low frequency component signal works to change the surface position of the mirror 3a, and the high frequency component This signal serves as a signal for detecting the angle of the surface position of the mirror 3a changed by the above-mentioned low frequency component signal.

図7,図8は例えばCF=1pFの場合の静電容量センサ20による利得の周波数特性を示す図であり、図7はハイパスフィルタとしての容量25A,25Bによるフィルタ処理前後によるその特性を、図8はCP−CNの値に応じた静電容量センサ20出力における利得の周波数特性を、それぞれ示している。
すなわち、この図7ないし図8に示すように、低周波の利得は1で、高周波の利得は静電容量11の値CP−CNの増加に従って増大しているので、利得は上述の式(8)に従って上昇していることがわかる。従って、既知の第1,第2静電容量検出用信号の入力振幅に対する出力振幅の変動から、静電容量21,22の変動値CP−CNを一意に導出することができる。
FIGS. 7 and 8 are graphs showing the frequency characteristics of the gain by the capacitance sensor 20 when CF = 1 pF, for example. FIG. 7 is a graph showing the characteristics before and after filtering by the capacitors 25A and 25B as high-pass filters. Reference numeral 8 denotes frequency characteristics of the gain at the output of the capacitance sensor 20 according to the value of CP-CN.
That is, as shown in FIGS. 7 to 8, the low frequency gain is 1, and the high frequency gain increases as the value CP-CN of the capacitance 11 increases. ) And you can see that it is rising. Therefore, the fluctuation value CP-CN of the capacitances 21 and 22 can be uniquely derived from the fluctuation of the output amplitude with respect to the input amplitude of the known first and second capacitance detection signals.

換言すれば、静電容量センサ20からの出力信号のレベル値に応じたCP−CN値を予め準備しておくことで、ミラー3aの駆動中において常時静電容量21,22の差についての検出信号を出力することができる。なお、本発明が、特性例に示すパラメータに縛られないことは、言うまでもない。
このように、本発明の第2実施形態にかかる静電容量センサ20によれば、第1静電容量検出回路23および第2静電容量検出回路24により、前述の第1実施形態の場合と同様に、ミラー3aの電位を基準電位(例えば接地電位)として静電容量センサ20を構成することができ、検出対象となる静電容量21,22をなす片側の電極として機能するミラー3aの電位を基準電位として静電容量センサ20を構成することができる。
In other words, the CP-CN value corresponding to the level value of the output signal from the capacitance sensor 20 is prepared in advance, so that the difference between the capacitances 21 and 22 is always detected during the driving of the mirror 3a. A signal can be output. Needless to say, the present invention is not limited to the parameters shown in the characteristic examples.
As described above, according to the capacitance sensor 20 according to the second embodiment of the present invention, the first capacitance detection circuit 23 and the second capacitance detection circuit 24 can be used in the same manner as in the case of the first embodiment. Similarly, the capacitance sensor 20 can be configured with the potential of the mirror 3a as a reference potential (for example, ground potential), and the potential of the mirror 3a functioning as one electrode forming the capacitances 21 and 22 to be detected. The capacitance sensor 20 can be configured with reference potential.

言い換えれば、静電容量21,22をなす片側の電極として機能する電極4a,4bによって、MEMSミラー駆動と静電容量検知とを両立させることができる。これにより、静電容量センサ20とMEMSミラーユニット1との間で必要な配線構成としては、少なくとも電極4a,4bと増幅回路23A,24Aの逆相入力とを接続するための2本の配線のみとして、配線構成を簡素化させることができる。更には、MEMSミラーユニット1をアレイ状に配置したMEMSミラーアレイを構成する際には、複数のミラーユニット1をなすミラー本体3を共通の電位となるように構成することができるので、従来技術(図21参照)のごとくミラー3aごとの電位を配線により取り出す必要がなくなり、MEMSミラーアレイとの配線構成を簡素化しながら、高精度に静電容量を検出することができ、歩留まり向上や特性改善に資するという利点がある。   In other words, the MEMS mirror drive and the capacitance detection can be made compatible by the electrodes 4a and 4b functioning as one side electrodes forming the capacitances 21 and 22. Thereby, as a wiring configuration required between the capacitance sensor 20 and the MEMS mirror unit 1, only two wirings for connecting at least the electrodes 4a and 4b and the reverse phase inputs of the amplifier circuits 23A and 24A are provided. As a result, the wiring configuration can be simplified. Furthermore, when configuring a MEMS mirror array in which the MEMS mirror units 1 are arranged in an array, the mirror body 3 forming the plurality of mirror units 1 can be configured to have a common potential. As shown in FIG. 21, it is no longer necessary to take out the potential of each mirror 3a by wiring, and the capacitance can be detected with high accuracy while simplifying the wiring configuration with the MEMS mirror array, improving yield and improving characteristics. There is an advantage that contributes to.

また、第1静電容量検出回路23,第2静電容量検出回路24および差信号出力部27により、電極4aとミラー3aとの間の静電容量21の値CPおよび電極4bとミラー3aとの間の静電容量22の値CNとの差分CP−CNを求めることができるので、MEMSミラーユニット1として要求されるミラー3aの角度制御のために必要な微小容量変動を検出することができ、ひいてはMEMSミラーユニット1のミラー3aを高精度に角度制御することができる利点もある。   Further, the first capacitance detection circuit 23, the second capacitance detection circuit 24, and the difference signal output unit 27 allow the value CP of the capacitance 21 between the electrode 4a and the mirror 3a and the electrode 4b and the mirror 3a to be Since the difference CP-CN with the value CN of the capacitance 22 between can be obtained, it is possible to detect a minute capacitance variation required for the angle control of the mirror 3a required as the MEMS mirror unit 1. As a result, the angle of the mirror 3a of the MEMS mirror unit 1 can be controlled with high accuracy.

〔c〕第3実施形態の説明
図9は本発明の第3実施形態にかかる静電容量センサ30を示す図であり、この図9に示す静電容量センサ30は、前述の第2実施形態におけるものに比して、低周波成分の利得を1以外の値とするために、第1静電容量検出回路33の増幅回路23Aおよび第2静電容量検出回路34の増幅回路24Aの逆相入力に、付加抵抗33D,34Dがそれぞれ接続されている点が異なっており、それ以外については基本的に同様の構成を有している。尚、図9中、図6と同一の符号は、同様の部分を示している。
[C] Description of Third Embodiment FIG. 9 is a view showing a capacitance sensor 30 according to a third embodiment of the present invention. The capacitance sensor 30 shown in FIG. 9 is the same as the second embodiment described above. In order to set the gain of the low frequency component to a value other than 1 in comparison with those in FIG. 2, the amplification circuit 23A of the first capacitance detection circuit 33 and the amplification circuit 24A of the second capacitance detection circuit 34 have opposite phases. The difference is that the additional resistors 33D and 34D are connected to the inputs, respectively, and the other configurations are basically the same. In FIG. 9, the same reference numerals as those in FIG. 6 denote the same parts.

換言すれば、第1増幅回路23A,帰還容量23B,帰還抵抗23Cおよび負荷抵抗33Dとともに、増幅回路23Aの正相入力に接続された検出対象となる静電容量21により、非反転増幅回路33Uを構成する。同様に、第2増幅回路24A,帰還容量24B,帰還抵抗24C,負荷抵抗34Dおよび静電容量22により、非反転増幅回路34Uを構成する。   In other words, together with the first amplifier circuit 23A, the feedback capacitor 23B, the feedback resistor 23C, and the load resistor 33D, the non-inverting amplifier circuit 33U is constituted by the capacitance 21 to be detected connected to the positive phase input of the amplifier circuit 23A. Constitute. Similarly, the second amplifier circuit 24A, the feedback capacitor 24B, the feedback resistor 24C, the load resistor 34D, and the capacitance 22 constitute a non-inverting amplifier circuit 34U.

また、第1静電容量検出回路33の利得は以下の式(9)となり、カットオフ周波数fc1,fc2は、それぞれ式(10a),(10b)となる。   Further, the gain of the first capacitance detection circuit 33 is expressed by the following equation (9), and the cutoff frequencies fc1 and fc2 are expressed by equations (10a) and (10b), respectively.

Figure 2005083937
Figure 2005083937

カットオフ周波数fc1,fc2については、ほぼ等しい値としながら、第1,第2実施形態の場合と同様、ミラー3aの共振周波数frよりも十分大きく設定することが望ましい。式(9)において、入力信号の低周波成分に対しては(f<<fc≒fc1≒fc2)、式(9)に示す利得は式(11a)に示すように、入力信号の高周波成分に対しては(f>>fc≒fc1≒fc2)、式(9)に示す利得は式(12a)に示すように、それぞれ近似することができる。   The cut-off frequencies fc1 and fc2 are preferably set to be sufficiently larger than the resonance frequency fr of the mirror 3a, as in the first and second embodiments, while having substantially the same value. In equation (9), for the low frequency component of the input signal (f << fc≈fc1≈fc2), the gain shown in equation (9) is the high frequency component of the input signal as shown in equation (11a). On the other hand (f >> fc≈fc1≈fc2), the gain shown in the equation (9) can be approximated as shown in the equation (12a).

Figure 2005083937
Figure 2005083937

非反転増幅回路34Uの利得についても同様に、入力信号の低周波成分に対しては式(11b)に示すように、入力信号の高周波成分に対しては式(12b)に示すように、それぞれ近似することができる。   Similarly, with respect to the gain of the non-inverting amplifier circuit 34U, as shown in the equation (11b) for the low frequency component of the input signal and as shown in the equation (12b) for the high frequency component of the input signal, respectively. Can be approximated.

Figure 2005083937
Figure 2005083937

すなわち、上述の非反転増幅回路33Uは、ミラー3aの応答する低周波領域では任意の固定利得を有するアンプとして動作し、応答しない高周波においては、静電容量21の値CPに応じて利得が上昇する。非反転増幅回路34Uにおいても同様に、ミラー3aの応答する低周波領域では任意の固定利得を有するアンプとして動作し、応答しない高周波においては、静電容量22の値CNに応じて利得が上昇する。   That is, the above-described non-inverting amplifier circuit 33U operates as an amplifier having an arbitrary fixed gain in the low frequency region to which the mirror 3a responds, and the gain increases according to the value CP of the capacitance 21 at a high frequency that does not respond. To do. Similarly, the non-inverting amplifier circuit 34U operates as an amplifier having an arbitrary fixed gain in the low frequency region to which the mirror 3a responds, and the gain increases according to the value CN of the capacitance 22 at a high frequency that does not respond. .

なお、差信号出力部27では、前述の第2実施形態の場合と同様に、容量25A,26Aからの(低周波成分が除去された後の)高周波信号の差信号を静電容量センサ30の出力信号として出力する。即ち、第3実施形態にかかる静電容量センサ30の利得としても、式(13)に示すように、静電容量21の容量値CPと静電容量22の容量値CNとの差(CP−CN)に応じた値となる。換言すれば、静電容量センサ30においても、上述の容量変位CP−CNに応じた利得で出力信号を出力するようになっている。   In the difference signal output unit 27, as in the case of the second embodiment described above, the difference signal of the high frequency signal (after the low frequency component is removed) from the capacitors 25A and 26A is output from the capacitance sensor 30. Output as an output signal. That is, the gain of the capacitance sensor 30 according to the third embodiment is also the difference between the capacitance value CP of the capacitance 21 and the capacitance value CN of the capacitance 22 (CP−) as shown in Expression (13). CN). In other words, the capacitance sensor 30 also outputs an output signal with a gain corresponding to the above-described capacitance displacement CP-CN.

Figure 2005083937
Figure 2005083937

上述の構成により、本発明の第3実施形態にかかる静電容量センサ30でにおいても、低周波の第1駆動信号と第1駆動信号よりも高周波の第1容量検出用信号との重畳信号が、静電容量センサ30の第1静電容量検出回路33を構成する増幅回路23Aの正相入力に入力する。同様に、低周波の第2駆動信号と、第2駆動信号よりも高周波の第2容量検出用信号との重畳信号が、静電容量センサ30の第2静電容量検出回路34を構成する増幅回路24Aの正相入力に入力する。   With the configuration described above, even in the capacitance sensor 30 according to the third embodiment of the present invention, the superimposed signal of the low-frequency first drive signal and the first capacitance detection signal having a higher frequency than the first drive signal is generated. , And input to the positive phase input of the amplifier circuit 23A constituting the first capacitance detection circuit 33 of the capacitance sensor 30. Similarly, the superposition signal of the low-frequency second drive signal and the second capacitance detection signal having a frequency higher than that of the second drive signal is an amplification constituting the second capacitance detection circuit 34 of the capacitance sensor 30. Input to the positive phase input of the circuit 24A.

それぞれの増幅回路23A,24Aの正相入力から入力された信号は増幅されて、低周波成分については式(11a),(11b)に示す利得で増幅されるとともに、高周波成分についてはそれぞれの検出対象の静電容量値CP,CNと帰還容量値CFの値に応じた利得〔式(12a),(12b)参照〕で増幅されて出力される。
そして、上述のごとく増幅回路23A,24Aで増幅され出力された低周波成分および高周波成分の重畳信号は、帰還容量23B,24B,帰還抵抗23C,24Cおよび負荷抵抗33A,34Aを通じて電極4a,4bにそれぞれ印加され、接地されたミラー3aとの間で静電気力が与えられる。
The signals input from the positive phase inputs of the respective amplifier circuits 23A and 24A are amplified, the low frequency components are amplified with the gains shown in the equations (11a) and (11b), and the high frequency components are detected respectively. Amplified with a gain [see equations (12a) and (12b)] corresponding to the values of the target capacitance values CP and CN and the feedback capacitance value CF, and then output.
The superposed signals of the low frequency component and the high frequency component amplified and output by the amplifier circuits 23A and 24A as described above are applied to the electrodes 4a and 4b through the feedback capacitors 23B and 24B, the feedback resistors 23C and 24C, and the load resistors 33A and 34A. An electrostatic force is applied between the mirror 3a applied and grounded.

このとき、前述の第1,第2実施形態の場合と同様に、電極4a,4bに印加された低周波成分および高周波成分の信号のうちで、前述の図2に示すように、高周波成分によって発生する静電気力によっては、ミラー3aが回転するようなトルクを発生しないが、低周波成分によって発生する静電気力によって、ミラー3aが回転するようなトルクを発生させることができる。   At this time, in the same manner as in the first and second embodiments described above, among the low frequency component and high frequency component signals applied to the electrodes 4a and 4b, as shown in FIG. Although the torque that rotates the mirror 3a is not generated depending on the generated electrostatic force, the torque that rotates the mirror 3a can be generated by the electrostatic force generated by the low frequency component.

また、増幅回路23A,24Aで上述のごとく増幅された低周波成分および高周波成分の重畳信号は、ハイパスフィルタとしての容量25A,26Aにおいて低周波成分がカットオフされて、高周波成分の信号のみが差信号出力部27に出力され、差信号出力部27では、容量25A,26Aからの高周波信号の差信号を静電容量センサ30の出力信号として出力する。   In addition, the low frequency component and high frequency component superimposed signals amplified as described above by the amplifier circuits 23A and 24A are cut off by the capacitors 25A and 26A as high-pass filters, and only the high frequency component signal is different. The difference signal output unit 27 outputs the difference signal between the high frequency signals from the capacitors 25 </ b> A and 26 </ b> A as an output signal of the capacitance sensor 30.

これにより、静電容量センサ30の利得としては、前述の式(13)に示すように、静電容量21の容量値CPと静電容量22の容量値CNとの差(CP−CN)に応じた値となる。
したがって、既知の第1,第2静電容量検出用信号の入力振幅に対する出力振幅の変動から、容量値の差CP−CNを検出することができるのである。そして、この容量差CP−CNの値から、一意にミラー3aの面位角度を特定することができる。
As a result, the gain of the capacitance sensor 30 is the difference (CP−CN) between the capacitance value CP of the capacitance 21 and the capacitance value CN of the capacitance 22 as shown in the above equation (13). It becomes a corresponding value.
Therefore, the capacitance value difference CP-CN can be detected from the variation of the output amplitude with respect to the input amplitude of the known first and second capacitance detection signals. Then, the surface angle of the mirror 3a can be uniquely specified from the value of the capacitance difference CP-CN.

図10,図11は例えばCF=1pF、CP−CN=0.2 pF、RF/RLの値を「1」,「10」または「100」とした場合の静電容量センサ30による利得の周波数特性を示す図であり、図10はハイパスフィルタとしての容量25A,25Bによるフィルタ処理前によるその特性を、図11は静電容量センサ30出力における上記RF/RLの値に応じた利得の周波数特性を、それぞれ示している。   10 and 11 show the frequency characteristics of the gain by the capacitance sensor 30 when, for example, CF = 1 pF, CP-CN = 0.2 pF, and the value of RF / RL is “1”, “10” or “100”. FIG. 10 shows the characteristics before filtering by the capacitors 25A and 25B as high-pass filters, and FIG. 11 shows the frequency characteristics of the gain according to the RF / RL value at the output of the capacitance sensor 30. Each is shown.

すなわち、この図10ないし図11に示すように、低周波の利得は、RF/RLの値を「1」,「10」,「100」とした場合にそれぞれ「2」,「11」,「101」となり、RF/RLに応じて増大しているので、利得は上述の式(11a),(11b)に従って上昇していることがわかる。
また、高周波の利得については前述の第2実施形態の場合と同様にCP−CNの値にしたがって上昇する。即ち、既知の第1,第2静電容量検出用信号の入力振幅に対する出力振幅の変動から、静電容量21,22の変動値CP−CNを一意に導出することができる。これにより、静電容量センサ30からの出力信号のレベル値に応じたCP−CN値を予め準備しておくことで、ミラー3aの駆動中において常時静電容量21,22の差についての検出信号を出力することができる。なお、本発明が、特性例に示すパラメータに縛られないことは、言うまでもない。
That is, as shown in FIGS. 10 to 11, the low-frequency gains are “2”, “11”, and “100” when the RF / RL values are “1”, “10”, and “100”, respectively. 101 "and increases according to RF / RL, and it can be seen that the gain increases according to the above-described equations (11a) and (11b).
Further, the high-frequency gain increases according to the value of CP-CN as in the case of the second embodiment described above. That is, the variation value CP-CN of the capacitances 21 and 22 can be uniquely derived from the variation of the output amplitude with respect to the input amplitude of the known first and second capacitance detection signals. As a result, a CP-CN value corresponding to the level value of the output signal from the capacitance sensor 30 is prepared in advance, so that a detection signal for the difference between the capacitances 21 and 22 at all times during the driving of the mirror 3a. Can be output. Needless to say, the present invention is not limited to the parameters shown in the characteristic examples.

このように、本発明の第3実施形態にかかる静電容量センサ30においても、前述の第2実施形態の場合と同様に、検出対象となる静電容量21,22をなす片側の電極として機能するミラー3aの電位を基準電位として静電容量センサ30を構成することができる。これにより、静電容量センサ20とMEMSミラーユニット1との間で必要な配線構成としては、少なくとも電極4a,4bと増幅回路23A,24Aの逆相入力とを接続するための2本の配線のみとして、配線構成を簡素化させることができる。   As described above, also in the capacitance sensor 30 according to the third embodiment of the present invention, as in the case of the second embodiment described above, the capacitance sensor 30 functions as one electrode forming the capacitances 21 and 22 to be detected. The capacitance sensor 30 can be configured with the potential of the mirror 3a to be used as a reference potential. Thereby, as a wiring configuration required between the capacitance sensor 20 and the MEMS mirror unit 1, only two wirings for connecting at least the electrodes 4a and 4b and the reverse phase inputs of the amplifier circuits 23A and 24A are provided. As a result, the wiring configuration can be simplified.

言い換えれば、静電容量21,22をなす片側の電極として機能する電極4a,4bによって、MEMSミラー駆動と静電容量検知とを両立させることができる。更には、MEMSミラーユニット1をアレイ状に配置したMEMSミラーアレイを構成する際には、複数のミラーユニット1をなすミラー本体3を共通の電位となるように構成することができるので、従来技術(図21参照)のごとくミラー3aごとの電位を配線により取り出す必要がなくなり、MEMSミラーアレイとの配線構成を簡素化しながら、高精度に静電容量を検出することができ、歩留まり向上や特性改善に資するという利点がある。   In other words, the MEMS mirror drive and the capacitance detection can be made compatible by the electrodes 4a and 4b functioning as one side electrodes forming the capacitances 21 and 22. Furthermore, when configuring a MEMS mirror array in which the MEMS mirror units 1 are arranged in an array, the mirror body 3 forming the plurality of mirror units 1 can be configured to have a common potential. As shown in FIG. 21, it is no longer necessary to take out the potential of each mirror 3a by wiring, and the capacitance can be detected with high accuracy while simplifying the wiring configuration with the MEMS mirror array, improving yield and improving characteristics. There is an advantage that contributes to.

また、第1静電容量検出回路33,第2静電容量検出回路34および差信号出力部27により、電極4aとミラー3aとの間の静電容量21の値CPおよび電極4bとミラー3aとの間の静電容量22の値CNとの差分CP−CNを求めることができるので、MEMSミラーユニット1として要求されるミラー3aの角度制御のために必要な微小容量変動を検出することができ、ひいてはMEMSミラーユニット1のミラー3aを高精度に角度制御することができる利点もある。   Further, the first capacitance detection circuit 33, the second capacitance detection circuit 34, and the difference signal output unit 27 allow the value CP of the capacitance 21 between the electrode 4a and the mirror 3a and the electrode 4b and the mirror 3a to be Since the difference CP-CN with the value CN of the capacitance 22 between can be obtained, it is possible to detect a minute capacitance variation required for the angle control of the mirror 3a required as the MEMS mirror unit 1. As a result, the angle of the mirror 3a of the MEMS mirror unit 1 can be controlled with high accuracy.

さらに、負荷抵抗33D,34Dにより、電極4a,4bに供給される低周波の駆動信号を1よりも大きい利得で供給することができるので、低周波の駆動信号としては、前述の第2実施形態の場合よりも小さい振幅の信号を入力すれば足りる。
〔d〕第4実施形態の説明
図12は本発明の第4実施形態にかかる静電容量センサ40を示す図であり、この図12に示す静電容量センサ40においてもMEMSミラーユニット1におけるミラー3aの面位角度を検出する際に適用しうるものである。
Further, since the low-frequency drive signal supplied to the electrodes 4a and 4b can be supplied with a gain larger than 1 by the load resistors 33D and 34D, the low-frequency drive signal is the second embodiment described above. It is sufficient to input a signal having a smaller amplitude than in the case of.
[D] Description of Fourth Embodiment FIG. 12 is a diagram showing a capacitance sensor 40 according to a fourth embodiment of the present invention. The capacitance sensor 40 shown in FIG. This can be applied when detecting the surface position angle 3a.

そして、この図12に示す静電容量センサ40は、前述の第2実施形態におけるものに比して、帰還抵抗として、抵抗値をタイミングに応じて切り替え可能に構成された第1,第2帰還抵抗43C,44Cをそなえている点が異なっており、それ以外については基本的に同様の構成を有している。尚、図12中、図6と同一の符号は、同様の部分を示している。   The capacitance sensor 40 shown in FIG. 12 has first and second feedbacks configured so that the resistance value can be switched in accordance with the timing as a feedback resistor, compared with that in the second embodiment described above. The difference is that the resistors 43C and 44C are provided, and the other configurations are basically the same. In FIG. 12, the same reference numerals as those in FIG. 6 denote the same parts.

ここで、第1帰還抵抗43Aは、並列に接続された2つの抵抗44C−1,44C−2をそなえるとともに、抵抗44C−2の抵抗44C−1への並列接続状態を電気的にオンオフ制御するためのスイッチ44C−3をそなえて構成されている。このスイッチ44C−3としては、例えばトランジスタ等により構成することができる。
また、スイッチ43C−3,44C−3はそれぞれ、ミラー3aの角度を駆動制御するための前述の第1,第2駆動信号を生成する図示しない駆動制御部から、ミラー3aの面位角度の切り替え制御タイミングに応じたオンオフ制御信号を受けて切り替えられるようになっている。
Here, the first feedback resistor 43A includes two resistors 44C-1 and 44C-2 connected in parallel, and electrically controls on / off of the parallel connection state of the resistor 44C-2 to the resistor 44C-1. The switch 44C-3 is provided. The switch 44C-3 can be composed of, for example, a transistor.
Further, the switches 43C-3 and 44C-3 respectively switch the surface position angle of the mirror 3a from a drive control unit (not shown) that generates the first and second drive signals for driving and controlling the angle of the mirror 3a. Switching can be performed in response to an on / off control signal corresponding to the control timing.

具体的には、上述のミラー3aの面位切り替えを行なうために、第1,第2駆動信号が立ち上がるタイミングにおいては、スイッチ43C−3,44C−3をオン制御して、第1,第2帰還抵抗43A,44Aとしての帰還抵抗値を小さくする。これにより、静電容量CP,CNの充電スピードを速め、上述の第1,第2駆動信号が立ち上がるのを早め(スルーレートを向上させ)、ミラー3aの面位が可動する応答性も早めている。   Specifically, in order to switch the surface position of the mirror 3a, the switches 43C-3 and 44C-3 are turned on to control the first and second at the timing when the first and second drive signals rise. The feedback resistance values as the feedback resistors 43A and 44A are reduced. As a result, the charging speeds of the capacitances CP and CN are increased, the first and second drive signals rise earlier (the slew rate is improved), and the responsiveness of moving the mirror 3a is also accelerated. Yes.

一方で、第1,第2帰還抵抗43A,44Aを、上述の第1,第2駆動信号が立ち上がるタイミングにおいてミラー3aの面位が可動する応答性を早める設定とすると、ミラー3aの面位角度の検出を行なう回路43U,44Uとしてのカットオフ周波数fc〔式(7)参照〕が、ミラー本体3の共振周波数frに近づくことになる。従って、ミラー3aの面位角度を安定的に検出するためには、上述のごときミラー3aの面位が可動する応答性を早めるスイッチ設定を切り替えることが必要である。   On the other hand, if the first and second feedback resistors 43A and 44A are set so as to accelerate the responsiveness that the surface position of the mirror 3a moves at the timing when the first and second drive signals rise, the surface angle of the mirror 3a. The cut-off frequency fc [see the equation (7)] as the circuits 43U and 44U for detecting the above approaches the resonance frequency fr of the mirror body 3. Therefore, in order to stably detect the surface position angle of the mirror 3a, it is necessary to switch the switch setting that accelerates the response of moving the surface position of the mirror 3a as described above.

そこで、上述の第1,第2駆動信号が立ち上がるタイミングにおいてスイッチ43C−3,44C−3をオンとしてから、ミラー3aが共振せずに面位切り替え応答が十分得られる時間(例えば1ミリ秒程度のミリ秒オーダー)の経過後にはスイッチ43C−3,44C−3をオフ制御して、第1,第2帰還抵抗43A,44Aとしての帰還抵抗値を大きくして、回路43U,44Uとしてのカットオフ周波数fcが大きくなるようにする。   Therefore, after the switches 43C-3 and 44C-3 are turned on at the timing when the first and second drive signals rise, the time during which the mirror 3a does not resonate and a sufficient surface switching response is obtained (for example, about 1 millisecond). After the elapse of (millisecond order), the switches 43C-3 and 44C-3 are turned off to increase the feedback resistance values as the first and second feedback resistors 43A and 44A, and the circuits 43U and 44U are cut. The off frequency fc is increased.

具体的には、ミラー3aの角度を切り替える際に、切り替えのための低周波信号(第1,第2駆動信号)が電極4a,4bに供給されるタイミングに同期してスイッチ43C−3,44C−3をオンとして帰還抵抗値を小さくする一方、スイッチオン時点から電極4a,4bによりミラー3aの角度が目標角度周辺まで回動する程度の時間経過後にスイッチ43C−3,44C−3をオフとして、帰還抵抗値を大きくする。   Specifically, when the angle of the mirror 3a is switched, the switches 43C-3 and 44C are synchronized with the timing at which the low-frequency signals (first and second drive signals) for switching are supplied to the electrodes 4a and 4b. -3 is turned on to reduce the feedback resistance value, and the switches 43C-3 and 44C-3 are turned off after a lapse of time such that the angle of the mirror 3a is rotated to the periphery of the target angle by the electrodes 4a and 4b from the time of switch on. Increase the feedback resistance.

すなわち、第1,第2駆動信号が立ち上がるタイミングから上述の時間経過するまでの間以外においては、スイッチ43C−3,44C−3をオフとして、回路43U,44Uとしてのカットオフ周波数fcをミラー本体3の共振周波数frよりも十分大きくして、ミラー3aの面位角度を安定的に検出できるようにしている。
上述の構成により、本発明の第4実施形態にかかる静電容量センサ40においても、第1駆動信号と第1容量検出用信号との重畳信号が、増幅回路23Aの正相入力に入力する。同様に、低周波の第2駆動信号と第2容量検出用信号との重畳信号が増幅回路24Aの正相入力に入力する。
That is, the switches 43C-3 and 44C-3 are turned off and the cut-off frequency fc as the circuits 43U and 44U is set to the mirror main body except for the period from when the first and second drive signals rise until the above-described time elapses. 3 so that the surface angle of the mirror 3a can be detected stably.
With the above configuration, also in the capacitance sensor 40 according to the fourth embodiment of the present invention, the superimposed signal of the first drive signal and the first capacitance detection signal is input to the positive phase input of the amplifier circuit 23A. Similarly, a superimposed signal of the low-frequency second drive signal and the second capacitance detection signal is input to the positive phase input of the amplifier circuit 24A.

それぞれの増幅回路23A,24Aの正相入力から入力された信号は増幅されて、低周波成分については利得1で増幅されるとともに〔式(6A)参照〕、高周波成分についてはそれぞれの検出対象の静電容量値CP,CNと帰還容量値CFの値に応じた利得〔式(6B),(6C)参照〕で増幅されて、容量25A,26Aを通じて高周波成分のみが出力される。   Signals input from the positive phase inputs of the respective amplifier circuits 23A and 24A are amplified, and the low frequency components are amplified with a gain of 1 (see equation (6A)), and the high frequency components are detected by respective detection targets. Amplification is performed with a gain (see equations (6B) and (6C)) corresponding to the capacitance values CP and CN and the feedback capacitance value CF, and only high-frequency components are output through the capacitors 25A and 26A.

ところで、上述のごとく増幅回路23A,24Aで増幅された低周波成分および高周波成分の重畳信号は、帰還容量23B,24Bおよび帰還抵抗43C,44Cを通じて電極4a,4bにそれぞれ印加され、接地されたミラー3aとの間で静電気力が与えられる。ミラー3aは、上述の重畳信号成分のうちで、特に低周波成分となる第1,第2駆動信号に応答して回動する。   By the way, the superimposed signals of the low frequency components and the high frequency components amplified by the amplifier circuits 23A and 24A as described above are applied to the electrodes 4a and 4b through the feedback capacitors 23B and 24B and the feedback resistors 43C and 44C, respectively, and are grounded. An electrostatic force is applied to 3a. The mirror 3a rotates in response to the first and second drive signals that are particularly low frequency components among the above-described superimposed signal components.

さらに、差信号出力部27の増幅回路27Aでは、容量25A,26Aからの高周波信号をそれぞれ入力抵抗27B,27Cを通じて逆相に入力されて、これら逆相に入力された信号の差信号を静電容量センサ40の出力信号として出力する。これにより、静電容量センサ40の利得としては、前述の式(8)に示すように、静電容量21の容量値CPと静電容量22の容量値CNとの差(CP−CN)に応じた値となる。   Further, in the amplifier circuit 27A of the difference signal output unit 27, the high frequency signals from the capacitors 25A and 26A are input in opposite phases through the input resistors 27B and 27C, respectively, and the difference signals of the signals input in these opposite phases are electrostatically output. Output as an output signal of the capacitance sensor 40. As a result, the gain of the capacitance sensor 40 is set to the difference (CP−CN) between the capacitance value CP of the capacitance 21 and the capacitance value CN of the capacitance 22 as shown in the above equation (8). It becomes a corresponding value.

したがって、既知の第1,第2静電容量検出用信号の入力振幅に対する出力振幅の変動から、容量値の差CP−CNを検出することができるのである。そして、この容量差CP−CNの値から、一意にミラー3aの面位角度を特定することができる。
また、ミラー3aの角度を切り替える際に、切り替えのための低周波信号(第1,第2駆動信号)が電極4a,4bに供給されるタイミングに同期してスイッチ43C−3,44C−3をオンとしているので、帰還抵抗値が小さくなって第1,第2駆動信号の立ち上がりが早まり、ミラー3aの面位が可動する応答性も早まる。
Therefore, the capacitance value difference CP-CN can be detected from the variation of the output amplitude with respect to the input amplitude of the known first and second capacitance detection signals. Then, the surface angle of the mirror 3a can be uniquely specified from the value of the capacitance difference CP-CN.
Further, when the angle of the mirror 3a is switched, the switches 43C-3 and 44C-3 are switched in synchronization with the timing when the low-frequency signal (first and second drive signals) for switching is supplied to the electrodes 4a and 4b. Since it is turned on, the feedback resistance value is reduced, the rise of the first and second drive signals is accelerated, and the response of moving the surface of the mirror 3a is also accelerated.

さらに、上述のスイッチ43C−3,44C−3をオンとした時点から電極4a,4bによりミラー3aの角度が目標角度周辺まで回動する程度の時間経過後にスイッチ43C−3,44C−3をオフとしているので、帰還抵抗値が大きくなり、回路43U,44Uとしてのカットオフ周波数fcをミラー本体3の共振周波数frよりも十分大きくすることができるので、ミラー3aの面位角度を安定的に検出することができる。   Further, the switches 43C-3 and 44C-3 are turned off after a lapse of time such that the angle of the mirror 3a is rotated to the vicinity of the target angle by the electrodes 4a and 4b from the time when the switches 43C-3 and 44C-3 are turned on. Therefore, the feedback resistance value is increased, and the cut-off frequency fc as the circuits 43U and 44U can be made sufficiently higher than the resonance frequency fr of the mirror body 3, so that the surface angle of the mirror 3a can be detected stably. can do.

このように、本発明の第4実施形態にかかる静電容量センサ40によれば、第1静電容量検出回路43および第2静電容量検出回路44により、前述の第2,第3実施形態の場合と同様に、ミラー3aの電位を基準電位(例えば接地電位)として静電容量センサ40を構成することができ、検出対象となる静電容量21,22をなす片側の電極として機能するミラー3aの電位を基準電位として静電容量センサ40を構成することができる。これにより、静電容量センサ40とMEMSミラーユニット1との間で必要な配線構成としては、少なくとも電極4a,4bと増幅回路23A,24Aの逆相入力とを接続するための2本の配線のみとして、配線構成を簡素化させることができる。   As described above, according to the capacitance sensor 40 according to the fourth embodiment of the present invention, the first and second capacitance detection circuits 43 and 44 described above are used in the second and third embodiments. As in the case of the above, the capacitance sensor 40 can be configured with the potential of the mirror 3a as a reference potential (for example, ground potential), and the mirror functions as one electrode forming the capacitances 21 and 22 to be detected. The capacitance sensor 40 can be configured with the potential of 3a as a reference potential. Thereby, as a wiring configuration required between the capacitance sensor 40 and the MEMS mirror unit 1, only two wirings for connecting at least the electrodes 4a and 4b and the reverse phase inputs of the amplifier circuits 23A and 24A are provided. As a result, the wiring configuration can be simplified.

言い換えれば、静電容量21,22をなす片側の電極として機能する電極4a,4bによって、MEMSミラー駆動と静電容量検知とを両立させることができる。更には、MEMSミラーユニット1をアレイ状に配置したMEMSミラーアレイを構成する際には、複数のミラーユニット1をなすミラー本体3を共通の電位となるように構成することができるので、従来技術(図21参照)のごとくミラー3aごとの電位を配線により取り出す必要がなくなり、MEMSミラーアレイとの配線構成を簡素化しながら、高精度に静電容量を検出することができ、歩留まり向上や特性改善に資するという利点がある。   In other words, the MEMS mirror drive and the capacitance detection can be made compatible by the electrodes 4a and 4b functioning as one side electrodes forming the capacitances 21 and 22. Furthermore, when configuring a MEMS mirror array in which the MEMS mirror units 1 are arranged in an array, the mirror body 3 forming the plurality of mirror units 1 can be configured to have a common potential. As shown in FIG. 21, it is no longer necessary to take out the potential of each mirror 3a by wiring, and the capacitance can be detected with high accuracy while simplifying the wiring configuration with the MEMS mirror array, improving yield and improving characteristics. There is an advantage that contributes to.

また、第1静電容量検出回路43,第2静電容量検出回路44および差信号出力部27により、電極4aとミラー3aとの間の静電容量21の値CPおよび電極4bとミラー3aとの間の静電容量22の値CNとの差分CP−CNを求めることができるので、MEMSミラーユニット1として要求されるミラー3aの角度制御のために必要な微小容量変動を検出することができ、ひいてはMEMSミラーユニット1のミラー3aを高精度に角度制御することができる利点もある。   Further, the first capacitance detection circuit 43, the second capacitance detection circuit 44, and the difference signal output unit 27 allow the value CP of the capacitance 21 between the electrode 4a and the mirror 3a and the electrode 4b and the mirror 3a to Since the difference CP-CN with the value CN of the capacitance 22 between can be obtained, it is possible to detect a minute capacitance variation required for the angle control of the mirror 3a required as the MEMS mirror unit 1. As a result, the angle of the mirror 3a of the MEMS mirror unit 1 can be controlled with high accuracy.

さらに、帰還抵抗として、抵抗値をタイミングに応じて切り替え可能に構成された第1,第2帰還抵抗43C,44Cをそなえているので、ミラー3aの面位を切り替え制御時にはミラー3aの回動応答性を向上させるとともに、ミラー3aの面位角度の検出安定性についても図ることができる利点がある。
〔e〕第5実施形態の説明
図13は本発明の第5実施形態にかかる静電容量センサ50を示す図であり、この図13に示す静電容量センサ30においてもMEMSミラーユニット1におけるミラー3aの面位角度を検出する際に適用しうるものである。
Further, as the feedback resistor, the first and second feedback resistors 43C and 44C configured so that the resistance value can be switched in accordance with the timing are provided. Therefore, when the surface position of the mirror 3a is switched, the rotation response of the mirror 3a is controlled. And the detection stability of the surface position angle of the mirror 3a can be improved.
[E] Description of Fifth Embodiment FIG. 13 is a diagram showing a capacitance sensor 50 according to a fifth embodiment of the present invention. The capacitance sensor 30 shown in FIG. 13 also includes a mirror in the MEMS mirror unit 1. This can be applied when detecting the surface position angle 3a.

そして、この図13に示す静電容量センサ50は、前述の第2実施形態におけるものに比して、第1,第2静電容量検出回路23,24と差信号出力部27との間に、ハイパスフィルタとしての容量25A,26Aの出力についてそれぞれサンプルホールドするサンプルホールド回路55B,56Bが介装されている点が異なっており、それ以外については基本的に同様の構成を有している。尚、図13中、図6と同一の符号は、同様の部分を示している。   The capacitance sensor 50 shown in FIG. 13 is between the first and second capacitance detection circuits 23 and 24 and the difference signal output unit 27 as compared with the one in the second embodiment described above. The difference is that sample hold circuits 55B and 56B that sample and hold the outputs of the capacitors 25A and 26A as high-pass filters are provided, and the other configurations are basically the same. In FIG. 13, the same reference numerals as those in FIG. 6 denote the same parts.

ここで、サンプルホールド回路55Bは、容量25A,26Aから出力される(第1,第2容量検出用信号が増幅された)高周波信号に同期してサンプリングを行なうものであって、交流信号を直流に変換する働きを持っている。
これにより、差信号出力部27においては、静電容量21の容量値CPと静電容量22の容量値CNに応じた直流信号の振幅値信号を、サンプルホールド回路55B,56Bからそれぞれ入力されて、これらの容量値の差CP−CNに応じた振幅の直流信号を出力することができる。
Here, the sample-and-hold circuit 55B performs sampling in synchronization with the high-frequency signal output from the capacitors 25A and 26A (the first and second capacitance detection signals are amplified). Has the function of converting to
Thereby, in the difference signal output unit 27, amplitude value signals of DC signals corresponding to the capacitance value CP of the capacitance 21 and the capacitance value CN of the capacitance 22 are respectively input from the sample hold circuits 55B and 56B. A DC signal having an amplitude corresponding to the difference CP-CN between these capacitance values can be output.

上述の構成により、本発明の第5実施形態にかかる静電容量センサ50においても、第1駆動信号と第1容量検出用信号との重畳信号が、増幅回路23Aの正相入力に入力する。同様に、低周波の第2駆動信号と第2容量検出用信号との重畳信号が増幅回路24Aの正相入力に入力する。
それぞれの増幅回路23A,24Aの正相入力から入力された信号は増幅されて、低周波成分については利得1で増幅されるとともに〔式(6A)参照〕、高周波成分についてはそれぞれの検出対象の静電容量値CP,CNと帰還容量値CFの値に応じた利得〔式(6B),(6C)参照〕で増幅されて、容量25A,26Aを通じて高周波成分のみが出力される。
With the above configuration, also in the capacitance sensor 50 according to the fifth embodiment of the present invention, the superimposed signal of the first drive signal and the first capacitance detection signal is input to the positive phase input of the amplifier circuit 23A. Similarly, a superimposed signal of the low-frequency second drive signal and the second capacitance detection signal is input to the positive phase input of the amplifier circuit 24A.
Signals input from the positive phase inputs of the respective amplifier circuits 23A and 24A are amplified, and the low frequency components are amplified with a gain of 1 (see equation (6A)), and the high frequency components are detected by respective detection targets. Amplification is performed with a gain (see equations (6B) and (6C)) corresponding to the capacitance values CP and CN and the feedback capacitance value CF, and only high-frequency components are output through the capacitors 25A and 26A.

ところで、上述のごとく増幅回路23A,24Aで増幅された低周波成分および高周波成分の重畳信号は、帰還容量23B,24Bおよび帰還抵抗23C,24Cを通じて電極4a,4bにそれぞれ印加され、接地されたミラー3aとの間で静電気力が与えられる。ミラー3aは、上述の重畳信号成分のうちで、特に低周波成分となる第1,第2駆動信号に応答して回動する。   By the way, the superimposed signals of the low frequency component and the high frequency component amplified by the amplifier circuits 23A and 24A as described above are applied to the electrodes 4a and 4b through the feedback capacitors 23B and 24B and the feedback resistors 23C and 24C, respectively, and are grounded. An electrostatic force is applied to 3a. The mirror 3a rotates in response to the first and second drive signals that are particularly low frequency components among the above-described superimposed signal components.

また、サンプルホールド回路55B,56Bでは、容量25A,26Aから出力される高周波信号に同期してサンプリングを行なって、第1,第2容量検出用信号に対して静電容量値CP,CNと帰還容量値CFの値に応じた利得で増幅された振幅値を有する直流信号として出力する。
さらに、差信号出力部27の増幅回路27Aでは、サンプルホールド回路55B,56Bからの直流信号をそれぞれ入力抵抗27B,27Cを通じて逆相に入力されて、これら逆相に入力された信号の差信号を静電容量センサ50の出力信号として出力する。これにより、静電容量センサ50の利得としては、前述の式(8)に示すように、静電容量21の容量値CPと静電容量22の容量値CNとの差(CP−CN)に応じた振幅値の直流信号となる。
The sample hold circuits 55B and 56B perform sampling in synchronization with the high frequency signals output from the capacitors 25A and 26A, and feedback the capacitance values CP and CN with respect to the first and second capacitance detection signals. It outputs as a DC signal having an amplitude value amplified with a gain corresponding to the value of the capacitance value CF.
Further, in the amplifier circuit 27A of the difference signal output unit 27, the DC signals from the sample hold circuits 55B and 56B are input in opposite phases through the input resistors 27B and 27C, respectively, and the difference signal of the signals input in these opposite phases is obtained. Output as an output signal of the capacitance sensor 50. As a result, the gain of the capacitance sensor 50 is set to the difference (CP−CN) between the capacitance value CP of the capacitance 21 and the capacitance value CN of the capacitance 22 as shown in the above equation (8). It becomes a direct current signal having a corresponding amplitude value.

したがって、既知の第1,第2静電容量検出用信号の入力振幅に対する出力振幅の変動から、容量値の差CP−CNを検出することができるのである。そして、この容量差CP−CNの値から、一意にミラー3aの面位角度を特定することができる。
このように、本発明の第5実施形態にかかる静電容量センサ50においても、第1静電容量検出回路23および第2静電容量検出回路24および差信号出力部27により、前述の第2〜第4実施形態の場合と同様の利点があるほか、サンプルホールド回路が集積された静電容量センサを構成することができるので、静電容量センサとしての機能向上とともに、この静電容量センサ50を用いてMEMSミラーアレイの制御系を構築する際には、静電容量センサ出力について交流信号から直流信号に変換するための外部機器を設ける必要がなくなるという利点もある。
Therefore, the capacitance value difference CP-CN can be detected from the variation of the output amplitude with respect to the input amplitude of the known first and second capacitance detection signals. Then, the surface angle of the mirror 3a can be uniquely specified from the value of the capacitance difference CP-CN.
As described above, also in the capacitance sensor 50 according to the fifth embodiment of the present invention, the first capacitance detection circuit 23, the second capacitance detection circuit 24, and the difference signal output unit 27 described above are used. In addition to the same advantages as in the case of the fourth embodiment, a capacitance sensor in which a sample and hold circuit is integrated can be configured. When the control system of the MEMS mirror array is constructed using the above, there is an advantage that it is not necessary to provide an external device for converting the capacitance sensor output from an AC signal to a DC signal.

〔f〕第6実施形態の説明
第6実施形態においては、MEMSミラーアレイ61b,61cを用いた光スイッチング装置60において、MEMSミラーアレイ61b,61cをなす各ミラー3aの面位角度を検出する静電容量センサとして前述の第2実施形態におけるものと同様のものを用いている。
[F] Description of Sixth Embodiment In the sixth embodiment, in the optical switching device 60 using the MEMS mirror arrays 61b and 61c, the surface position angle of each mirror 3a forming the MEMS mirror arrays 61b and 61c is detected. The same capacitance sensor as that in the second embodiment is used.

図14は本発明の第6実施形態にかかる光スイッチング装置60を示す図であるが、この第6実施形態にかかる光スイッチング装置60においては、光スイッチ光学系61と光スイッチ制御装置65とをそなえて構成されている。
ここで、光スイッチ光学系61は、例えば図15に示すようなコリメータアレイ61a,61dをそなえるとともに、互いに90度の角度をなして配置された、入力用および出力用の2つのミラーアレイ61b,61cをそなえて構成されている。
FIG. 14 is a diagram showing an optical switching device 60 according to the sixth embodiment of the present invention. In the optical switching device 60 according to the sixth embodiment, an optical switch optical system 61 and an optical switch control device 65 are provided. It is composed.
Here, the optical switch optical system 61 includes, for example, collimator arrays 61a and 61d as shown in FIG. 15, and two mirror arrays 61b for input and output arranged at an angle of 90 degrees with each other. 61c is provided.

また、この図15に示す入力コリメータアレイ61aは、方路切替対象としてN(Nは複数、図15中においては8×8個)チャンネルの光を入力光として集光(コリメート)するためのN個の入力ポート61a−1をアレイ状に配置されて構成されて、例えばN本の光ファイバの束を構成するファイバブロックからの光をそれぞれの入力ポート61a−1に導入するとともに、集光された光を入力ミラーアレイ61b側に出射することができるようになっている。   Further, the input collimator array 61a shown in FIG. 15 collects (collimates) N (N is plural, 8 × 8 in FIG. 15) channel light as input light as a path switching target. A plurality of input ports 61a-1 are arranged in an array, for example, light from a fiber block constituting a bundle of N optical fibers is introduced into each input port 61a-1 and condensed. The emitted light can be emitted to the input mirror array 61b side.

入力ミラーアレイ61bは、入力コリメータアレイ61aの入力ポート61a−1の配置に1対1で対応するように、N個のティルトミラーユニット71がアレイ状に配置されて構成されている。即ち、この入力ミラーアレイ61bは、N個のティルトミラーユニット71が入力コリメータアレイ61aからのN個のコリメート光をそれぞれ後段の出力ミラーアレイ61cへ反射させるようにアレイ状に配置されている。   The input mirror array 61b is configured by arranging N tilt mirror units 71 in an array so as to correspond one-to-one to the arrangement of the input ports 61a-1 of the input collimator array 61a. That is, the input mirror array 61b is arranged in an array so that the N tilt mirror units 71 reflect the N collimated lights from the input collimator array 61a to the output mirror array 61c at the subsequent stage.

同様に、出力ミラーアレイ61cは、入力ミラーアレイ61bのティルトミラーユニット71の配置に1対1で対応するように、N個のティルトミラーユニット72がアレイ状に配置されて構成されている。即ち、この出力ミラーアレイ61cは、N個のティルトミラーユニット72がティルトミラーユニット71からのN個の反射光をそれぞれ後段の出力コリメータアレイ61dへ反射させるようにアレイ状に配置されている。   Similarly, the output mirror array 61c is configured by arranging N tilt mirror units 72 in an array so as to correspond one-to-one to the arrangement of the tilt mirror units 71 of the input mirror array 61b. That is, the output mirror array 61c is arranged in an array so that the N tilt mirror units 72 reflect the N reflected lights from the tilt mirror unit 71 to the output collimator array 61d at the subsequent stage.

さらに、出力コリメータアレイ61dは、出力ミラーアレイ61cのティルトミラーユニット72の配置に1対1で対応するように、N個の出力ポート61d−1がアレイ状に配置されて構成されて、ティルトミラーユニット72からのN個の反射光(スイッチング後のNチャンネルの光信号)をそれぞれコリメートして出力するものである。
また、上述の入力ミラーアレイ61bおよび出力ミラーアレイ61cのティルトミラーユニット71,72はともに、前述の各実施形態におけるMEMSミラーユニット1と同様に、静電気力により回動可能に構成され光信号を偏向反射させる3次元のMEMSミラー(3次元マイクロエレクトロメカニカルシステムミラー)として構成することができる。即ち、前述の図20に示すもの(符号100参照)と同様、x軸およびy軸をミラー回動軸として互いに独立して回動することができるようになっている。
Further, the output collimator array 61d is configured by arranging N output ports 61d-1 in an array so as to correspond to the arrangement of the tilt mirror unit 72 of the output mirror array 61c on a one-to-one basis. N reflected lights (N-channel optical signals after switching) from the unit 72 are collimated and output.
Further, both the tilt mirror units 71 and 72 of the input mirror array 61b and the output mirror array 61c described above are configured to be rotatable by electrostatic force and deflect optical signals in the same manner as the MEMS mirror unit 1 in the above-described embodiments. It can be configured as a three-dimensional MEMS mirror to be reflected (three-dimensional microelectromechanical system mirror). That is, like the above-described one shown in FIG. 20 (see reference numeral 100), the x-axis and the y-axis can be rotated independently of each other using the mirror rotation axis.

すなわち、入力ミラーアレイ61bおよび出力ミラーアレイ61cの各ティルトミラーユニット71,72は、入力ポート61a−1に入力された光信号を偏向させることにより、コリメータアレイ61aから入力される光信号のチャンネルとコリメータアレイ61dから出力される光信号のチャンネルとを切り替えを行なう可動エレメントを構成し、それぞれ第2〜第5実施形態におけるMEMSミラーユニット1と同様に、基板2,ミラー本体3および上述の2つのミラー回動軸に対応して2対の電極4をそなえている。   That is, each of the tilt mirror units 71 and 72 of the input mirror array 61b and the output mirror array 61c deflects the optical signal input to the input port 61a-1 to thereby change the channel of the optical signal input from the collimator array 61a. The movable element that switches the channel of the optical signal output from the collimator array 61d is configured, and, similarly to the MEMS mirror unit 1 in the second to fifth embodiments, respectively, the substrate 2, the mirror body 3, and the above two Two pairs of electrodes 4 are provided corresponding to the mirror rotation axis.

換言すれば、後述の光スイッチ制御装置65の制御により、ミラーアレイ61b,61cの反射面についての縦方向および横方向を軸として、3次元方向に個別にミラー面の面位を可変することができるようになっており、これにより、入射された光信号の反射光路を可変することができるようになっている。
すなわち、上述の入力ミラーアレイ61bおよび出力ミラーアレイ61cにおける、面位が設定された各ティルトミラーユニット71,72が協働することにより、入力コリメータアレイ61aの各入力ポート61a−1に入力される光信号を、ミラーアレイ61b,61cの各ティルトミラーユニット71,72で順次反射させることにより、出力コリメータアレイ61dにおける任意の位置の出力ポート61d−1を通じて出力することができ、光信号のチャンネル切替(光クロスコネクト)を行なうことができる。
In other words, the surface position of the mirror surface can be individually varied in the three-dimensional direction with the vertical and horizontal directions of the reflecting surfaces of the mirror arrays 61b and 61c as axes, under the control of the optical switch control device 65 described later. Thus, the reflected optical path of the incident optical signal can be varied.
That is, in the input mirror array 61b and the output mirror array 61c described above, the tilt mirror units 71 and 72 whose surface positions are set cooperate with each other, and are input to the input ports 61a-1 of the input collimator array 61a. By sequentially reflecting the optical signal by the tilt mirror units 71 and 72 of the mirror arrays 61b and 61c, the optical signal can be output through the output port 61d-1 at an arbitrary position in the output collimator array 61d, and the channel of the optical signal is switched. (Optical cross-connect) can be performed.

また、図14に示す光スイッチング装置60の光スイッチ制御装置65は、詳細には前述の第2実施形態におけるもの(符号20参照)と同様の静電容量センサ62−1〜62−mを有する静電容量センサ部62が設けられるとともに、制御部63および駆動部64−1〜64−mをそなえて構成されている。即ち、個々の静電容量センサ62−1〜62−mは、アレイ状に配置された一つのティルトミラーユニット71,72における2つのミラー回動軸のうちのいずれか一方の面位角度を検出するための静電容量を検出するようになっている。   Further, the optical switch control device 65 of the optical switching device 60 shown in FIG. 14 has capacitance sensors 62-1 to 62-m similar to those in the second embodiment (see reference numeral 20) in detail. A capacitance sensor unit 62 is provided, and a control unit 63 and driving units 64-1 to 64-m are provided. That is, each of the capacitance sensors 62-1 to 62-m detects the surface angle of one of the two mirror rotation axes in one tilt mirror unit 71, 72 arranged in an array. It is designed to detect the electrostatic capacity for this purpose.

図16は、上述のx軸およびy軸について回動可能なティルトミラーユニット71(又は72)とともに、このティルトミラーユニット71と2つの静電容量センサ62−a,62−(a+1)との結線関係について示す図である。
ここで、この図16に示すティルトミラーユニット71においては電極4a−X,4b−X,4a−Y,4b−Yがミラー本体3と一体に形成されたものであって、3b−Yはミラー3aを支持するy軸トーションバー、5−1はy軸トーションバー3b−Yを支持するフレーム、3b−Xはミラー3aをy軸トーションバー3b−Yおよびフレーム5−1を通じて支持するx軸トーションバー、5−2はx軸トーションバー3b−Xを支持する外郭フレームである。
FIG. 16 shows the tilt mirror unit 71 (or 72) rotatable about the x axis and the y axis, and the tilt mirror unit 71 and the two capacitance sensors 62-a and 62- (a + 1). It is a figure shown about no connection relation.
Here, in the tilt mirror unit 71 shown in FIG. 16, the electrodes 4a-X, 4b-X, 4a-Y, 4b-Y are integrally formed with the mirror body 3, and 3b-Y is a mirror. Y-axis torsion bar for supporting 3a, 5-1 is a frame for supporting y-axis torsion bar 3b-Y, 3b-X is an x-axis torsion for supporting mirror 3a through y-axis torsion bar 3b-Y and frame 5-1. Bars 5-2 are outer frames that support the x-axis torsion bars 3b-X.

また、ミラー3aは上述の櫛型電極4a−X,4b−Xの櫛間と嵌め合わさるように形成されたミラー側櫛型電極6a−X,6b−Xをそなえている。更に、フレーム5−1には一対の櫛型電極4a−X,4b−Xが一体に形成されるとともに、フレーム5−2には一対の櫛型電極4a−Y,4b−Yが一体に形成されている。
なお、フレーム5−1には櫛型電極4a−Y,4b−Yの櫛間と嵌め合わさるように形成されたミラー側櫛型電極6a−Y,6b−Yをそなえている。又、5−11は上述の電極4a−X,4b−Xおよび櫛型導電部5−Yを絶縁する絶縁部、5−21は上述の電極4a−Y,4b−Y間を絶縁する絶縁部であり、ミラー3a面は接地されている。
The mirror 3a includes mirror-side comb electrodes 6a-X and 6b-X formed so as to fit between the comb electrodes 4a-X and 4b-X. Further, a pair of comb electrodes 4a-X and 4b-X are integrally formed on the frame 5-1, and a pair of comb electrodes 4a-Y and 4b-Y are integrally formed on the frame 5-2. Has been.
The frame 5-1 is provided with mirror side comb electrodes 6a-Y and 6b-Y formed so as to be fitted between the comb electrodes 4a-Y and 4b-Y. 5-11 is an insulating part for insulating the electrodes 4a-X and 4b-X and the comb-shaped conductive part 5-Y, and 5-21 is an insulating part for insulating the electrodes 4a-Y and 4b-Y. The mirror 3a surface is grounded.

この図16に示すように、静電容量センサ62−aの第1静電容量検出回路23における非反転増幅回路23Uの正相入力には、電極4a−Yを通じてミラー3aをトーションバー3b−Xについて回動させるための低周波の駆動信号と、電極4a−Y,6a−Y間の静電容量21Yの値CPを検出するための高周波の第1容量検出用信号とが重畳された重畳信号が入力され、非反転増幅回路23Uの逆相入力は、電極4a−Yを通じて容量21Yに接続されている。   As shown in FIG. 16, for the positive phase input of the non-inverting amplifier circuit 23U in the first capacitance detection circuit 23 of the capacitance sensor 62-a, the mirror 3a is connected to the torsion bar 3b-X through the electrodes 4a-Y. Is a superimposed signal on which a low-frequency drive signal for rotating and a high-frequency first capacitance detection signal for detecting the value CP of the capacitance 21Y between the electrodes 4a-Y and 6a-Y are superimposed. Is input, and the negative phase input of the non-inverting amplifier circuit 23U is connected to the capacitor 21Y through the electrodes 4a-Y.

また、静電容量センサ62−aの第2静電容量検出回路24における非反転増幅回路24Uの正相入力には、電極4b−Yを通じてミラー3aをトーションバー3b−Xについて回動させるための低周波の駆動信号と、電極4b−Y,6b−Y間の静電容量22Yの値CNを検出するための高周波の第2容量検出用信号とが重畳された重畳信号が入力され、非反転増幅回路24Uの逆相入力は、電極4b−Yを通じて容量22Yに接続されている。   Further, the positive phase input of the non-inverting amplifier circuit 24U in the second capacitance detection circuit 24 of the capacitance sensor 62-a is for rotating the mirror 3a about the torsion bar 3b-X through the electrode 4b-Y. A superimposed signal in which a low-frequency drive signal and a high-frequency second capacitance detection signal for detecting the value CN of the capacitance 22Y between the electrodes 4b-Y and 6b-Y are superimposed is input, and is not inverted. The negative phase input of the amplifier circuit 24U is connected to the capacitor 22Y through the electrode 4b-Y.

同様に、静電容量センサ62−(a+1)の第1静電容量検出回路23における非反転増幅回路23Uの正相入力には、電極4a−Xを通じてミラー3aをトーションバー3b−Yについて回動させるための低周波の駆動信号と、電極4a−X,6a−X間の静電容量21Xの値CPを検出するための高周波の第1容量検出用信号とが重畳された重畳信号が入力され、非反転増幅回路23Uの逆相入力は、電極4a−Xを通じて容量21Xに接続されている。   Similarly, for the positive phase input of the non-inverting amplifier circuit 23U in the first capacitance detection circuit 23 of the capacitance sensor 62- (a + 1), the mirror 3a is rotated about the torsion bar 3b-Y through the electrodes 4a-X. And a superposition signal in which a low-frequency drive signal for superimposing and a high-frequency first capacitance detection signal for detecting the value CP of the capacitance 21X between the electrodes 4a-X and 6a-X are input. The negative phase input of the non-inverting amplifier circuit 23U is connected to the capacitor 21X through the electrodes 4a-X.

また、静電容量センサ62−(a+1)の第2静電容量検出回路24における非反転増幅回路24Uの正相入力には、電極4b−Xを通じてミラー3aをトーションバー3b−Yについて回動させるための低周波の駆動信号と、電極4b−X,6b−X間の静電容量22Xの値CNを検出するための高周波の第2容量検出用信号とが重畳された重畳信号が入力され、非反転増幅回路24Uの逆相入力は、電極4b−Xを通じて容量22Xに接続されている。   Further, for the positive phase input of the non-inverting amplifier circuit 24U in the second capacitance detection circuit 24 of the capacitance sensor 62- (a + 1), the mirror 3a is rotated about the torsion bar 3b-Y through the electrode 4b-X. A superimposed signal in which a low-frequency drive signal for detection and a high-frequency second capacitance detection signal for detecting the value CN of the capacitance 22X between the electrodes 4b-X and 6b-X are input, The negative phase input of the non-inverting amplifier circuit 24U is connected to the capacitor 22X through the electrode 4b-X.

これにより、静電容量センサ62−aを通じて電極4a−Y,4b−Yに供給される一対の駆動信号によってトーションバー3b−Xがねじれてミラー3aの面位が回動するとともに、静電容量21Y,22Y間の容量差CP−CNに応じた利得で高周波の容量検出用信号が増幅されて出力される。
同様に、静電容量センサ62−(a+1)を通じて電極4a−X,4b−Xに供給される一対の駆動信号によってトーションバー3b−Yがねじれてミラー3aの面位が回動するとともに、静電容量21X,22X間の容量差CP−CNに応じた利得で高周波の容量検出用信号が増幅されて出力される。
Accordingly, the torsion bar 3b-X is twisted by the pair of drive signals supplied to the electrodes 4a-Y and 4b-Y through the capacitance sensor 62-a, and the surface position of the mirror 3a is rotated. A high-frequency capacitance detection signal is amplified and output with a gain corresponding to the capacitance difference CP-CN between 21Y and 22Y.
Similarly, the torsion bar 3b-Y is twisted by the pair of drive signals supplied to the electrodes 4a-X and 4b-X through the capacitance sensor 62- (a + 1), and the surface position of the mirror 3a is rotated. A high frequency capacitance detection signal is amplified and output with a gain corresponding to the capacitance difference CP-CN between the capacitances 21X and 22X.

このようにして、個々のティルトミラーユニット71,72に接続された静電容量センサ62−1〜62−mは、非反転増幅回路23U,24Uを構成する2つの増幅回路23A,24A参照の正相に、第2実施形態の場合と同様の2対の重畳信号を、対応する駆動部64−1〜64−mから後述するように入力され、逆相にはティルトミラーユニット71,72をなす電極4a−Y,4b−Y,4a−X,4b−Xに接続されている。   In this way, the capacitance sensors 62-1 to 62-m connected to the individual tilt mirror units 71 and 72 are connected to the positive reference circuits of the two amplifier circuits 23A and 24A constituting the non-inverting amplifier circuits 23U and 24U. Two pairs of superimposed signals similar to those in the second embodiment are input to the phases as will be described later from the corresponding driving units 64-1 to 64-m, and tilt mirror units 71 and 72 are formed in the opposite phase. The electrodes 4a-Y, 4b-Y, 4a-X, and 4b-X are connected.

そして、ティルトミラーユニット71,72をなすミラー3aは、静電容量センサ62−1〜62−mを通じて上述の電極4a−Y,4b−Y,4a−X,4b−Xに供給される重畳信号のうちの低周波信号で駆動され、ミラー面位をx軸又はy軸について回動させることができる。更に、静電容量センサ62−1〜62−m出力により、x軸又はy軸について回動されたミラー面位角度を回動軸ごとに検出することができる。   The mirror 3a forming the tilt mirror units 71 and 72 is a superimposed signal supplied to the electrodes 4a-Y, 4b-Y, 4a-X, and 4b-X through the capacitance sensors 62-1 to 62-m. The mirror surface position can be rotated about the x-axis or the y-axis. Furthermore, the mirror surface position angle rotated about the x-axis or the y-axis can be detected for each rotation axis by the capacitance sensors 62-1 to 62-m outputs.

なお、上述のティルトミラーユニット71としては、例えばこの図16に示す電極4a−X,4b−X,4a−Y,4b−Yのように櫛型の電極構造を有することで、単位印加電圧あたりの静電容量変動が大きくなる。即ち、この図16に示す櫛型電極構造を有するティルトミラーユニット71(72)により、ミラー3aを回動させる単位角度に対する印加電圧を小さくすることができる。   The tilt mirror unit 71 described above has a comb-shaped electrode structure such as electrodes 4a-X, 4b-X, 4a-Y, and 4b-Y shown in FIG. The capacitance fluctuation of becomes large. That is, with the tilt mirror unit 71 (72) having the comb-shaped electrode structure shown in FIG. 16, the applied voltage per unit angle for rotating the mirror 3a can be reduced.

また、静電容量センサ62−1〜62−mにおいては、静電容量CPとCNの差に応じた利得の信号(静電容量検出信号)を、上述の回動軸についてのミラー面位角度を検出するための信号として制御部63に出力するようになっている。尚、この場合においては、ティルトミラーユニット71,72は2×N個あるので、m個とは2×2×N個に相当する。   Further, in the capacitance sensors 62-1 to 62-m, a gain signal (capacitance detection signal) corresponding to the difference between the capacitances CP and CN is transmitted to the mirror surface position angle with respect to the rotation axis described above. Is output to the control unit 63 as a signal for detecting. In this case, since there are 2 × N tilt mirror units 71 and 72, m corresponds to 2 × 2 × N.

したがって、静電容量センサ62−1〜62−mは、ミラーに対して静電気力による回転力を与えるための信号を供給する機能と、回転されたミラーの角度を検出する機能とを、一対の電極との結線のみで実現している。又、各ティルトミラーユニット71,72は共通の電位として例えば接地しておけばよいので、電位を分離して取り出す必要がなく、各ティルトミラーユニット71,72間を絶縁する必要もない。これにより、ティルトミラー71,72について配線構成を格段に簡素化させることができる。   Therefore, the capacitance sensors 62-1 to 62-m have a function of supplying a signal for applying a rotational force by an electrostatic force to the mirror and a function of detecting the angle of the rotated mirror. This is achieved only by connecting to the electrodes. Further, since the tilt mirror units 71 and 72 may be grounded as a common potential, for example, it is not necessary to separate the potentials and to insulate the tilt mirror units 71 and 72 from each other. As a result, the wiring configuration of the tilt mirrors 71 and 72 can be greatly simplified.

また、図14に示す光スイッチング装置60の制御部63は、複数チャンネルの光信号のチャンネル切替指示を外部から受けて、静電容量センサ部62からの各ティルトミラーユニット71,72についての静電容量変位をもとに、チャンネル切替を行なうためのミラーの回動変位量を制御するための制御信号を出力するものであり、サンプルホールド回路63a,アンプ63b,A/Dコンバータ63cおよびコントローラ63dをそなえて構成されている。   Also, the control unit 63 of the optical switching device 60 shown in FIG. 14 receives a channel switching instruction for optical signals of a plurality of channels from the outside, and electrostatically controls the tilt mirror units 71 and 72 from the electrostatic capacitance sensor unit 62. Based on the capacitance displacement, it outputs a control signal for controlling the amount of rotational displacement of the mirror for channel switching. The sample hold circuit 63a, amplifier 63b, A / D converter 63c and controller 63d are output. It is composed.

ここで、サンプルホールド回路63aは、前述の第5実施形態における静電容量センサ50にそなえられたもの(符号55B,56B参照)と同様の機能を有するもので、各静電容量センサ62−1〜62−mから出力される静電容量検出信号としての高周波信号に同期してサンプリングを行なうものであって、交流信号を直流に変換する働きを持っている。   Here, the sample hold circuit 63a has the same function as that provided in the capacitance sensor 50 in the fifth embodiment (see reference numerals 55B and 56B), and each capacitance sensor 62-1. Sampling is performed in synchronization with a high-frequency signal as a capacitance detection signal output from .about.62-m, and has a function of converting an alternating current signal into a direct current.

また、アンプ63bはサンプルホールド回路63aから出力される直流信号を増幅し、A/Dコンバータ63cはアンプ63bで増幅された直流信号をアナログ信号からディジタル信号に変換して、ディジタル値の静電容量検出信号としてコントローラ63dに出力する。
さらに、コントローラ63dは、光スイッチ光学系61に入力される複数チャンネルの光信号ごとの光パス設定(クロスコネクト設定)に対応する面位制御を駆動部64−1〜64−mを通じて行なわせるための制御信号を出力するものである。
The amplifier 63b amplifies the DC signal output from the sample and hold circuit 63a, and the A / D converter 63c converts the DC signal amplified by the amplifier 63b from an analog signal to a digital signal, thereby generating a digital capacitance. The detection signal is output to the controller 63d.
Further, the controller 63d causes the drive units 64-1 to 64-m to perform surface position control corresponding to the optical path setting (cross-connect setting) for each of the optical signals of a plurality of channels input to the optical switch optical system 61. The control signal is output.

具体的には、コントローラ63dは、A/Dコンバータ63cからのディジタル値の静電容量検出信号をもとに各ティルトミラー71,72のx軸、y軸の面位角度を求め、求められた面位角度に基づき、各ティルトミラー71,72のx軸、y軸の面位角度が上述の光パス設定のために最適な角度となるようにフィードバックして制御信号を出力するようになっている。   Specifically, the controller 63d obtains the surface angle of the x-axis and y-axis of each of the tilt mirrors 71 and 72 based on the digital capacitance detection signal from the A / D converter 63c. Based on the surface position angle, feedback is performed so that the surface position angle of each of the tilt mirrors 71 and 72 on the x-axis and y-axis becomes an optimum angle for the above-described optical path setting, and a control signal is output. Yes.

なお、上述のコントローラ63dにおいては、上述のごときティルトミラーユニット71,72のミラーを駆動させるための制御信号のほかに、静電容量センサ62−1〜62−mで静電容量CPとCNの差に応じた利得の信号を出力するための静電容量検出用信号についても、ディジタル信号として重畳して駆動部64−1〜64−mに出力するようになっている。   In the controller 63d, in addition to the control signals for driving the mirrors of the tilt mirror units 71 and 72 as described above, the capacitances CP and CN are detected by the capacitance sensors 62-1 to 62-m. A capacitance detection signal for outputting a signal having a gain corresponding to the difference is also superimposed as a digital signal and output to the drive units 64-1 to 64-m.

また、駆動部64−1〜64−mは、個々のティルトミラー71,72の回動軸について独立して回動させるためにm個設けられている。そして、各駆動部64−1〜64−mは、制御部63からの制御信号に基づいて、各ティルトミラー71,72に対する静電気力を対応する一対の電極への駆動信号を通じて供給するものであって、一対のD/Aコンバータ64aおよび一対のドライバ64bをそなえている。   Further, m drive units 64-1 to 64-m are provided to independently rotate the rotation axes of the individual tilt mirrors 71 and 72. Each of the drive units 64-1 to 64-m supplies the electrostatic force to each tilt mirror 71 and 72 through a drive signal to a corresponding pair of electrodes based on a control signal from the control unit 63. A pair of D / A converters 64a and a pair of drivers 64b are provided.

ここで、D/Aコンバータ64aは、コントローラ63dからの、制御信号および静電容量検出用信号の重畳信号(ディジタル信号)をアナログの重畳信号に変換するもので、上述の制御信号成分については低周波のアナログ信号に変換され、静電容量検出用信号については、ミラーが応答しない高周波のアナログ信号に変換される。
さらに、ドライバ64bは、D/Aコンバータ64aからのアナログの重畳信号について、ティルトミラー71,72における一対の電極に供給すべき振幅値の信号に増幅するものであり、増幅された一対のアナログの重畳信号はそれぞれ、前述したように対応する静電容量センサ62−1〜62−mを通じて一対の電極に供給される。
Here, the D / A converter 64a converts the superimposed signal (digital signal) of the control signal and the capacitance detection signal from the controller 63d into an analog superimposed signal. The capacitance detection signal is converted into a high-frequency analog signal that the mirror does not respond to.
Further, the driver 64b amplifies the analog superimposed signal from the D / A converter 64a into a signal having an amplitude value to be supplied to the pair of electrodes in the tilt mirrors 71 and 72. The driver 64b As described above, the superimposed signals are supplied to the pair of electrodes through the corresponding capacitance sensors 62-1 to 62-m.

上述の構成により、本発明の第6実施形態にかかる光スイッチング装置60においては、図17に示すように、光パス設定に応じた各ティルトミラーユニット71,72の面位制御を行なうことができる。
すなわち、制御部63のコントローラ63dで、外部からのパス設定命令を受けると(ステップA1)、このパス設定内容に応じて、図示しないディスク装置や媒体等に蓄積された制御情報データを検索し、命令に応じたパス設定を実現する面位角度に各ティルトミラーユニット71,72のミラーを設定するための制御データを持つ制御信号を、上述の静電容量検出用信号とともに駆動部64−1〜64−mに出力する。
With the configuration described above, in the optical switching device 60 according to the sixth embodiment of the present invention, as shown in FIG. 17, the surface position control of each tilt mirror unit 71, 72 according to the optical path setting can be performed. .
That is, when an external path setting command is received by the controller 63d of the control unit 63 (step A1), the control information data stored in a disk device or medium (not shown) is searched according to the contents of the path setting, A control signal having control data for setting the mirrors of the tilt mirror units 71 and 72 at a surface angle that realizes path setting according to a command is transmitted to the driving units 64-1 to 64-1 together with the above-described capacitance detection signal. Output to 64-m.

これにより、駆動部64−1〜64−mおよび静電容量センサ62−1〜62−mによって、光パス設定対象のティルトミラーユニット71,72をなす電極に駆動信号が供給されて、そのミラーは、入力された光パス設定に対して初期値として与えられたの面位角度となるように回動する(ステップA2)。
そして、静電容量センサ62−1〜62−mでは、上述のコントローラ63dからの制御信号によって、静電容量差CP−CN(図16参照)に応じた利得で増幅された信号を、個々のティルトミラー71,72におけるミラーの面位角度を検出するために制御部63に供給する。
As a result, drive signals are supplied to the electrodes forming the tilt mirror units 71 and 72 that are optical path setting targets by the drive units 64-1 to 64-m and the electrostatic capacitance sensors 62-1 to 62-m, and the mirrors thereof. Is rotated so as to have a surface angle given as an initial value with respect to the input optical path setting (step A2).
Then, in the capacitance sensors 62-1 to 62-m, the signals amplified by the gain according to the capacitance difference CP-CN (see FIG. 16) by the control signal from the controller 63d described above are individually received. This is supplied to the control unit 63 in order to detect the mirror surface angle in the tilt mirrors 71 and 72.

制御部63のコントローラ63dでは、静電容量センサ62−1〜62−mから出力される信号の振幅値と、駆動部64−1〜64−mに供給したもとの静電容量検出信号が静電容量センサ62−1〜62−mに入力する時点での振幅値とから、利得の測定値を求めるとともに、求められた利得測定値と帰還容量CFの値とを用いて、式(8)により静電容量差の値CP−CNを求め、静電容量差に一意に対応するミラーの面位角度を検出値として求める。   In the controller 63d of the control unit 63, the amplitude value of the signal output from the capacitance sensors 62-1 to 62-m and the original capacitance detection signal supplied to the driving units 64-1 to 64-m are received. A gain measurement value is obtained from the amplitude value at the time of input to the capacitance sensors 62-1 to 62-m, and using the obtained gain measurement value and feedback capacitance CF value, the equation (8) is obtained. ) To obtain the capacitance difference value CP-CN, and the mirror surface angle uniquely corresponding to the capacitance difference is obtained as a detection value.

そして、コントローラ63dでは、検出値として求められたミラーの面位角度が、光パス設定として命令された面位角度の目標値になるようにフィードバックして制御信号を駆動部64−1〜64−mに出力する(ステップA3,ステップA4)。
このように、本発明の第6実施形態にかかる光スイッチング装置60によれば、前述の第2実施形態の場合と同様の静電容量センサ62−1〜62―mを用いて構成されているので、ミラーアレイ61b,61cをなすティルトミラーユニット71,72のミラー本体を共通の電位となるように構成することができるので、従来技術(図21参照)のごとくミラー3aごとの電位を配線により取り出す必要がなくなり、ティルトミラーアレイとの配線構成を簡素化しながら高精度に静電容量を検出することができ、歩留まり向上や特性改善に資するという利点がある。
Then, the controller 63d feeds back the control signal so that the mirror surface angle obtained as the detection value becomes the target value of the surface angle commanded as the optical path setting, and sends control signals to the drive units 64-1 to 64-. m (step A3, step A4).
As described above, the optical switching device 60 according to the sixth embodiment of the present invention is configured using the capacitance sensors 62-1 to 62-m similar to those in the above-described second embodiment. Therefore, since the mirror main bodies of the tilt mirror units 71 and 72 forming the mirror arrays 61b and 61c can be configured to have a common potential, the potential of each mirror 3a can be set by wiring as in the prior art (see FIG. 21). There is no need to take out, and it is possible to detect the capacitance with high accuracy while simplifying the wiring configuration with the tilt mirror array, and there is an advantage that it contributes to yield improvement and characteristic improvement.

また、ミラーアレイ61b,61cをなす各ティルトミラー71,72に静電気力を供給するための一対の電極4a−X,4b−X,4a−Y,4b−Yが、それぞれ櫛型形状の電極により構成されているので、上述のごとき利点に加え、ミラー3aを回動させる単位角度に対する印加電圧を小さくすることができ、延いては装置の消費電力を抑制させ、ミラーアレイ61b,61cの発熱についても抑制させることができる。   The pair of electrodes 4a-X, 4b-X, 4a-Y, 4b-Y for supplying electrostatic force to the tilt mirrors 71, 72 constituting the mirror arrays 61b, 61c are respectively formed by comb-shaped electrodes. Since it is configured, in addition to the advantages as described above, it is possible to reduce the applied voltage per unit angle for rotating the mirror 3a, thereby suppressing the power consumption of the device and the heat generation of the mirror arrays 61b and 61c. Can also be suppressed.

〔g〕第7実施形態の説明
図18は本発明の第7実施形態にかかる光スイッチング装置80を示す図であるが、この第7実施形態にかかる光スイッチング装置80は、前述の第6実施形態におけるもの(符号60参照)に比して、光パワーモニタ88およびA/Dコンバータ89をそなえ、ミラーアレイ61b,61cをなすティルトミラーユニット71,72のミラー面位角度を、出力される光信号のパワーに応じて可変する機能が付加されている点が異なっている。
[G] Description of Seventh Embodiment FIG. 18 is a diagram showing an optical switching device 80 according to a seventh embodiment of the present invention. The optical switching device 80 according to the seventh embodiment is the same as the sixth embodiment described above. Compared to that in the embodiment (see reference numeral 60), an optical power monitor 88 and an A / D converter 89 are provided, and the mirror surface position angles of the tilt mirror units 71 and 72 forming the mirror arrays 61b and 61c are output. The difference is that a function that varies according to the power of the signal is added.

第7実施形態にかかる光スイッチング装置80においては上述のごとき機能が付加されているので、温度変動やデバイス性能の経時変化によって光学的な最適点に対する最適MEMSミラー角度が変化することに対応することができるようになっている。
また、この図18に示す光スイッチング装置80においては、上述の光パワーモニタ88およびA/Dコンバータ89以外の構成については前述の図14に示す光スイッチング装置60と基本的に同様である。尚、図18中において、図14と同一の符号はほぼ同様の部分を示している。即ち、第7実施形態においても、MEMSミラーアレイ61b,61cを用いた光スイッチング装置80において、MEMSミラーアレイ61b,61cをなす各ミラー3aの面位角度を検出する静電容量センサ62−1〜62−mとして前述の第2実施形態におけるものと同様のものを用いている。
In the optical switching device 80 according to the seventh embodiment, since the above-described functions are added, it is possible to cope with a change in the optimum MEMS mirror angle with respect to the optical optimum point due to a change in temperature or a change in device performance over time. Can be done.
In the optical switching device 80 shown in FIG. 18, the configuration other than the optical power monitor 88 and the A / D converter 89 is basically the same as that of the optical switching device 60 shown in FIG. In FIG. 18, the same reference numerals as those in FIG. 14 denote almost the same parts. That is, also in the seventh embodiment, in the optical switching device 80 using the MEMS mirror arrays 61b and 61c, the capacitance sensors 62-1 to 6-1 for detecting the surface position angle of each mirror 3a forming the MEMS mirror arrays 61b and 61c. 62-m is the same as that in the second embodiment described above.

ここで、光パワーモニタ88は、光スイッチ光学系61から出力される各チャンネルの光信号のパワーを一定率分岐した上で主信号系とは別にモニタするもので、A/Dコンバータ89は、光パワーモニタ88にてモニタされた、各チャンネルにおける出力光信号のパワーのモニタ値を、アナログ信号からディジタル信号に変換するものである。
コントローラ63dは、静電容量センサ部62からの各ティルトミラー3aについての静電容量変位とともに、光パワーモニタ88からのチャンネルごとの光信号のパワーをもとに、チャンネル切替を行なうための各ティルトミラー3aの回動変位量を制御するための制御信号を出力する。
Here, the optical power monitor 88 monitors the power of the optical signal of each channel output from the optical switch optical system 61 separately from the main signal system after branching at a constant rate, and the A / D converter 89 The monitor value of the power of the output optical signal in each channel monitored by the optical power monitor 88 is converted from an analog signal to a digital signal.
The controller 63d performs tilt switching for channel switching based on the capacitance displacement of each tilt mirror 3a from the capacitance sensor unit 62 and the power of the optical signal for each channel from the optical power monitor 88. A control signal for controlling the amount of rotational displacement of the mirror 3a is output.

具体的には、コントローラ63dにおいては、静電容量センサ62−1〜62−mからの容量検出情報から得られる角度検出情報をもとに、外部から命令として受ける光パス設定の内容に応じてミラー面位角度をフィードバック制御しているが、この制御によってミラー面位が設定された後に、各チャンネルの出力信号光のパワーが、設定されたパスにおいて温度変動やデバイス性能の経時変化に対応した最適な出力レベルとなるように、該当する光路のティルトミラーユニット71,72のミラー面位角度を調整制御するようになっているのである。   Specifically, in the controller 63d, based on the angle detection information obtained from the capacitance detection information from the capacitance sensors 62-1 to 62-m, according to the contents of the optical path setting received as an instruction from the outside. The mirror surface angle is feedback controlled. After the mirror surface position is set by this control, the output signal light power of each channel responds to temperature changes and device performance changes over time in the set path. The mirror surface angle of the tilt mirror units 71 and 72 in the corresponding optical path is adjusted and controlled so as to achieve an optimum output level.

上述の構成により、本発明の第7実施形態にかかる光スイッチング装置80では、図19に示すように、光パス設定に応じた各ティルトミラーユニット71,72の面位制御を行なうことができる。
すなわち、制御部63のコントローラ63dで、外部からのパス設定命令を受けると(ステップB1)、前述の第6実施形態の場合と同様に、命令に応じたパス設定を実現する面位角度に各ティルトミラーユニット71,72のミラーを設定するための制御データを持つ制御信号を、上述の静電容量検出用信号とともに駆動部64−1〜64−mに出力する。
With the above configuration, in the optical switching device 80 according to the seventh embodiment of the present invention, as shown in FIG. 19, the surface position control of each tilt mirror unit 71, 72 according to the optical path setting can be performed.
That is, when an external path setting command is received by the controller 63d of the control unit 63 (step B1), as in the case of the above-described sixth embodiment, each of the surface position angles for realizing the path setting according to the command is set. A control signal having control data for setting the mirrors of the tilt mirror units 71 and 72 is output to the drive units 64-1 to 64-m together with the above-described capacitance detection signal.

これにより、駆動部64−1〜64−mおよび静電容量センサ62−1〜62−mによって、光パス設定対象のティルトミラーユニット71,72をなす電極に駆動信号が供給されて、そのミラーは、入力された光パス設定に対して初期値として与えられたの面位角度となるように回動する(ステップB2)。
そして、静電容量センサ62−1〜62−mでは、上述のコントローラ63dからの制御信号によって、静電容量差CP−CN(図16参照)に応じた利得で増幅された信号を、個々のティルトミラー71,72におけるミラーの面位角度を検出するために出力する。この静電容量差CP−CNの値に応じた信号は制御部63のサンプルホールド回路63a,アンプ63b,A/Dコンバータ63cによる信号処理が施されたのちにコントローラ63dに入力される。
As a result, drive signals are supplied to the electrodes forming the tilt mirror units 71 and 72 that are optical path setting targets by the drive units 64-1 to 64-m and the electrostatic capacitance sensors 62-1 to 62-m, and the mirrors thereof. Is rotated so as to have the surface position angle given as the initial value for the input optical path setting (step B2).
Then, in the capacitance sensors 62-1 to 62-m, the signals amplified by the gain according to the capacitance difference CP-CN (see FIG. 16) by the control signal from the controller 63d described above are individually received. Output for detecting the mirror surface angle in the tilt mirrors 71 and 72. A signal corresponding to the value of the capacitance difference CP-CN is input to the controller 63d after being subjected to signal processing by the sample hold circuit 63a, the amplifier 63b, and the A / D converter 63c of the control unit 63.

制御部63のコントローラ63dでは、A/Dコンバータ63cからの静電容量差CP−CNの値に応じた信号をもとに静電容量差の値CP−CNを求めるとともに、静電容量差に一意に対応するミラーの面位角度を検出値として求める。
そして、コントローラ63dでは、この検出値として求められたミラーの面位角度が、光パス設定として命令された面位角度の目標値になるようにフィードバックして制御信号を駆動部64−1〜64−mに出力する(ステップB3)。
The controller 63d of the control unit 63 obtains a capacitance difference value CP-CN based on a signal corresponding to the value of the capacitance difference CP-CN from the A / D converter 63c, and calculates the capacitance difference. The surface angle of the uniquely corresponding mirror is obtained as a detection value.
Then, the controller 63d feeds back the control signal to the drive units 64-1 to 64-64 so that the mirror surface angle obtained as the detection value becomes the target value of the surface angle commanded as the optical path setting. -M (step B3).

コントローラ63dでは、このようにしてミラーの面位角度を目標値となるように設定したのちに、続いて温度変動やデバイス性能の経時変化対応して最適な出力光のパワーが得られるような面位制御を行なう。
すなわち、コントローラ63dにおいては、光パワーモニタ88においてモニタされた光スイッチ光学系61から出力される各チャンネルの光信号のパワーをA/Dコンバータ89を通じてディジタル信号として入力されて、各チャンネルの出力信号光のパワーが設定されたパスにおいて最適な出力レベルとなるように、該当する光路のティルトミラーユニット71,72のミラー面位角度を調整制御する(ステップB4,B5)。これによって、最終的に入力された命令に対する光パス設定動作が完了する(ステップB6)。
In the controller 63d, after setting the surface angle of the mirror to the target value in this way, a surface on which an optimum output light power can be obtained in response to temperature fluctuation and device performance over time. Position control is performed.
That is, in the controller 63d, the power of the optical signal of each channel output from the optical switch optical system 61 monitored by the optical power monitor 88 is input as a digital signal through the A / D converter 89, and the output signal of each channel. The mirror surface angle of the tilt mirror units 71 and 72 in the corresponding optical path is adjusted and controlled so that the light output has an optimum output level in the set path (steps B4 and B5). Thereby, the optical path setting operation for the finally inputted command is completed (step B6).

このように、本発明の第7実施形態にかかる光スイッチング装置80においても、前述の第2実施形態の場合と同様の静電容量センサ62−1〜62―mを用いて構成されているので、ミラーアレイ61b,61cをなすティルトミラーユニット71,72のミラー本体を共通の電位となるように構成することができるので、従来技術(図21参照)のごとくミラー3aごとの電位を配線により取り出す必要がなくなり、ミラーアレイ61b,61cとの配線構成を簡素化しながら、高精度に静電容量を検出することができ、歩留まり向上や特性改善に資するという利点がある。   As described above, the optical switching device 80 according to the seventh embodiment of the present invention is also configured using the capacitance sensors 62-1 to 62-m similar to those in the second embodiment described above. Since the mirror main bodies of the tilt mirror units 71 and 72 constituting the mirror arrays 61b and 61c can be configured to have a common potential, the potential for each mirror 3a is taken out by wiring as in the prior art (see FIG. 21). This eliminates the need for this, and it is possible to detect the capacitance with high accuracy while simplifying the wiring configuration with the mirror arrays 61b and 61c, and this has the advantage of improving yield and improving characteristics.

また、光パワーモニタ88およびA/Dコンバータ89を設けているので、温度変動やデバイス性能の経時変化によって光学的な最適点に対応する最適ミラー角度が変化することに適応することができ、装置80の長期的利用にわたっての信頼性を確保することができる利点もある。
〔h〕その他
上述の第1〜第5実施形態ではMEMSミラーユニット1のミラー面位を検出するために、第6,第7実施形態においても光スイッチ光学系61のミラーアレイ61b,61cをなすミラー面位を検出するために、それぞれ静電容量を検出しているが、本発明によればこれに限定されず、静電容量センサ10,20,30,40,50,62−1〜62−mとしてはこれ以外の可動エレメントの基準姿勢に対する姿勢変位を検出するために静電容量を検出するように構成してもよい。
In addition, since the optical power monitor 88 and the A / D converter 89 are provided, it is possible to adapt to changes in the optimum mirror angle corresponding to the optical optimum point due to temperature fluctuations and changes in device performance over time. There is also an advantage that reliability over 80 long-term utilization can be ensured.
[H] Others In the first to fifth embodiments described above, in order to detect the mirror surface position of the MEMS mirror unit 1, the mirror arrays 61b and 61c of the optical switch optical system 61 are also formed in the sixth and seventh embodiments. In order to detect the mirror surface position, each of the capacitances is detected. However, according to the present invention, the capacitance is not limited to this, and the capacitance sensors 10, 20, 30, 40, 50, 62-1 to 62 are used. -M may be configured to detect the capacitance in order to detect the displacement of the movable element other than this relative to the reference posture.

このとき、姿勢変位を検出するための容量検出用信号である高周波成分の信号のみを静電容量センサ10,20,30,40,50,62−1〜62−mに入力させるようにしてもよい。この場合においては、ハイパスフィルタとしての容量15,25A,26Aについては省略することができる。
また、上述の各実施形態において、ハイパスフィルタとして容量15,25A,26Aを用いているが、これ以外の公知の構成を持つハイパスフィルタを用いることとしてもよい。
At this time, only the high-frequency component signal, which is a capacitance detection signal for detecting the posture displacement, may be input to the capacitance sensors 10, 20, 30, 40, 50, 62-1 to 62-m. Good. In this case, the capacitors 15, 25A and 26A as high-pass filters can be omitted.
In each of the above-described embodiments, the capacitors 15, 25A, and 26A are used as the high-pass filter. However, a high-pass filter having a known configuration other than this may be used.

さらに、第1実施形態にかかる静電容量センサ10、第6,第7実施形態における静電容量センサ62−1〜62−mには、第3実施形態におけるものと同様の負荷抵抗(符号33D,34D参照)を設けることとしてもよい。このようにすれば、少なくとも静電容量センサ10,62−1〜62−mに入力される時点での駆動信号(第1,第2駆動信号)としての信号レベルを、負荷抵抗がない場合よりも低くしておくことができる。   Further, the capacitance sensor 10 according to the first embodiment and the capacitance sensors 62-1 to 62-m according to the sixth and seventh embodiments have the same load resistance as that in the third embodiment (reference numeral 33D). , 34D). In this case, the signal level as the drive signal (first and second drive signals) at the time of input to at least the capacitance sensors 10, 62-1 to 62-m is set to be higher than that in the case where there is no load resistance. Can also be kept low.

また、第1実施形態にかかる静電容量センサ10、第6,第7実施形態における静電容量センサ62−1〜62−mには、第4実施形態におけるものと同様のスイッチを含んだ帰還抵抗(符号43C,44C)をそなえることとしてもよい。このようにすれば、前述の第4実施形態の場合と同様に、ミラー3aの面位を切り替え制御時にはミラー3aの回動応答性を向上させるとともに、ミラー3aの面位角度の検出安定性についても図ることができる利点がある。   The capacitive sensor 10 according to the first embodiment and the capacitive sensors 62-1 to 62-m according to the sixth and seventh embodiments include a feedback including the same switch as that according to the fourth embodiment. It is good also as providing resistance (code | symbol 43C, 44C). In this way, as in the case of the fourth embodiment described above, the rotational response of the mirror 3a is improved during the switching control of the surface position of the mirror 3a, and the detection stability of the surface position angle of the mirror 3a is improved. There is also an advantage that can be achieved.

さらに、第1実施形態にかかる静電容量センサ10、第6,第7実施形態における静電容量センサ62−1〜62−mには、第5実施形態の場合と同様のサンプルホールド回路を設けることとしてもよい。このようにすれば、静電容量センサ10,62−1〜62−mの外部に設けるべきサンプルホールド回路(図14,図18の符号63a参照)をそなえる必要がなくなる。   Furthermore, the capacitance sensor 10 according to the first embodiment and the capacitance sensors 62-1 to 62-m according to the sixth and seventh embodiments are provided with the same sample and hold circuit as in the fifth embodiment. It is good as well. In this way, there is no need to provide a sample hold circuit (see reference numeral 63a in FIGS. 14 and 18) to be provided outside the capacitance sensors 10, 62-1 to 62-m.

また、第6,第7実施形態にかかる光スイッチング装置60,80において、光スイッチ光学系61としては、図15に示すもの以外に様々な構成があり、本発明は図15にて示した構成に縛られることなく様々な構成に適用することが可能である。又、ミラーアレイ61b,61cをなすティルトミラーユニット71,72としても、上述の図16に示すような櫛型電極構造以外のものを適用してもよいし、また2軸を回動させるミラー構造以外のものを用いることもできる。   Further, in the optical switching devices 60 and 80 according to the sixth and seventh embodiments, the optical switch optical system 61 has various configurations other than those shown in FIG. 15, and the present invention has the configuration shown in FIG. It is possible to apply to various configurations without being bound by Further, as the tilt mirror units 71 and 72 forming the mirror arrays 61b and 61c, those other than the comb electrode structure as shown in FIG. 16 may be applied, or a mirror structure for rotating two axes. Other than these can also be used.

〔i〕付記
(付記1) 可動エレメントの基準姿勢に対する姿勢変位を、該可動エレメントと該可動エレメントに隔離して配置された電極との間の静電容量で検出するための静電容量センサであって、
増幅回路と、帰還容量と、帰還抵抗とをそなえ、検出対象となる前記静電容量を該増幅回路の逆相入力に接続して非反転増幅回路を構成するとともに、
前記静電容量を検出するための容量検出用信号を該増幅回路の正相入力に入力するとともに、検出対象となる前記静電容量の値に応じた利得で前記容量検出用信号が増幅された信号を、前記静電容量の検出結果として出力するように構成されたことを特徴とする、静電容量センサ。
[I] Supplementary Note (Supplementary Note 1) A capacitance sensor for detecting a displacement of a movable element relative to a reference posture with a capacitance between the movable element and an electrode arranged separately from the movable element. There,
An amplification circuit, a feedback capacitor, and a feedback resistor are provided, and the capacitance to be detected is connected to a negative phase input of the amplification circuit to constitute a non-inverting amplification circuit,
A capacitance detection signal for detecting the capacitance is input to the positive phase input of the amplifier circuit, and the capacitance detection signal is amplified with a gain corresponding to the capacitance value to be detected. A capacitance sensor configured to output a signal as a detection result of the capacitance.

(付記2) 該増幅回路の正相入力には、前記容量検出用信号とともに、前記容量検出用信号よりも低周波を有し該可動エレメントの変位を静電気力で変化させるための駆動信号が重畳された信号を入力する一方、前記可動エレメントの電位を接地電位として検出対象となる前記静電容量を該増幅回路の逆相入力に接続するように構成され、
かつ、該増幅回路からの出力から、前記駆動信号の成分を除去するハイパスフィルタをそなえて構成されたことを特徴とする、付記1記載の静電容量センサ。
(Supplementary Note 2) The positive phase input of the amplifier circuit is superposed with a drive signal for changing the displacement of the movable element by electrostatic force, having a lower frequency than the capacitance detection signal, together with the capacitance detection signal. The input signal is input, and the capacitance to be detected is connected to the negative phase input of the amplifier circuit with the potential of the movable element as the ground potential,
The capacitance sensor according to appendix 1, further comprising a high-pass filter that removes a component of the drive signal from an output from the amplifier circuit.

(付記3) 該増幅回路の逆相入力に負荷抵抗が接続されていることを特徴とする、付記1記載の静電容量センサ。
(付記4) 該帰還抵抗の値をタイミングに応じて切り替えることを特徴とする、付記1記載の静電容量センサ。
(付記5) 該ハイパスフィルタの出力についてサンプルホールドするサンプルホールド回路をそなえて構成されたことを特徴とする、付記2記載の静電容量センサ。
(Additional remark 3) The load sensor is connected to the negative phase input of this amplifier circuit, The electrostatic capacitance sensor of Additional remark 1 characterized by the above-mentioned.
(Additional remark 4) The capacitance sensor of Additional remark 1 characterized by switching the value of this feedback resistance according to timing.
(Supplementary note 5) The capacitance sensor according to supplementary note 2, characterized by comprising a sample-and-hold circuit that samples and holds the output of the high-pass filter.

(付記6) 可動エレメントと該可動エレメントに隔離して配置された一対の電極それぞれとの間の静電気力により、該可動エレメントが変位する可動エレメント装置における上記の可動エレメントと一対の電極それぞれとの間の静電容量による静電容量変位を検出する静電容量センサであって、
第1増幅回路と、第1帰還容量と、第1帰還抵抗とをそなえ、前記可動エレメントと前記一対の電極をなす第1電極との間の第1静電容量を該第1増幅回路の逆相入力に接続して非反転増幅回路を構成するとともに、前記第1静電容量を検出するための第1容量検出用信号を該第1増幅回路の正相に入力するとともに、前記第1静電容量の値に応じた利得で前記第1容量検出用信号が増幅された信号を出力するように構成された第1静電容量検出回路と、
第2増幅回路と、第2帰還容量と、第2帰還抵抗とをそなえ、前記可動エレメントと前記一対の電極をなす第2電極との間の第2静電容量を該第2増幅回路の逆相入力に接続して非反転増幅回路を構成するとともに、前記第2静電容量を検出するための第2容量検出用信号を該第2増幅回路の正相に入力するとともに、前記第2静電容量の値に応じた利得で前記第2容量検出用信号が増幅された信号を出力するように構成された第2静電容量検出回路と、
上記の第1,第2静電容量検出回路からの出力の差により、上記の可動エレメントと一対の電極それぞれとの間の静電容量による静電容量変位を検出するための信号を出力する差信号出力部と、をそなえて構成されたことを特徴とする、静電容量センサ。
(Supplementary Note 6) The above-mentioned movable element and each of the pair of electrodes in the movable element device in which the movable element is displaced by an electrostatic force between the movable element and each of the pair of electrodes arranged separately from the movable element. A capacitance sensor for detecting a capacitance displacement due to a capacitance between,
A first amplifier circuit, a first feedback capacitor, and a first feedback resistor are provided, and a first capacitance between the movable element and the first electrode forming the pair of electrodes is set to be the inverse of the first amplifier circuit. A non-inverting amplifier circuit is configured by connecting to a phase input, and a first capacitance detection signal for detecting the first capacitance is input to the positive phase of the first amplifier circuit, and the first static signal is detected. A first capacitance detection circuit configured to output a signal obtained by amplifying the first capacitance detection signal with a gain according to a capacitance value;
A second amplifying circuit, a second feedback capacitor, and a second feedback resistor are provided, and a second capacitance between the movable element and the second electrode forming the pair of electrodes is reversed from the second amplifying circuit. A non-inverting amplifier circuit is configured by connecting to a phase input, and a second capacitance detection signal for detecting the second capacitance is input to the positive phase of the second amplifier circuit, and the second static signal is input. A second capacitance detection circuit configured to output a signal obtained by amplifying the second capacitance detection signal with a gain according to a capacitance value;
Difference in outputting a signal for detecting capacitance displacement due to capacitance between the movable element and each of the pair of electrodes due to a difference in output from the first and second capacitance detection circuits. A capacitance sensor, comprising: a signal output unit.

(付記7) 上記の第1静電容量検出回路が、第1増幅回路の正相入力に前記第1容量検出用信号とともに、前記第1容量検出用信号よりも低周波を有し該可動エレメントの変位を変化させるための第1駆動信号が重畳された信号を入力する一方、前記可動エレメントの電位を接地電位として検出対象となる前記第1静電容量を該第1増幅回路の逆相入力に接続するように構成され、かつ、該第1増幅回路からの出力から、前記第1駆動信号の成分を除去する第1ハイパスフィルタをそなえて構成され、
上記の第2静電容量検出回路が、第2増幅回路の正相入力に前記第2容量検出用信号とともに、前記第2容量検出用信号よりも低周波を有し該可動エレメントの変位を変化させるための第2駆動信号が重畳された信号を入力する一方、前記可動エレメントの電位を接地電位として検出対象となる前記第2静電容量を該第2増幅回路の逆相入力に接続するように構成され、かつ、該第2増幅回路からの出力から、前記第2駆動信号の成分を除去する第2ハイパスフィルタをそなえて構成されたことを特徴とする、付記6記載の静電容量センサ。
(Additional remark 7) Said 1st electrostatic capacitance detection circuit has a lower frequency than said 1st capacity | capacitance detection signal with said 1st capacity | capacitance detection signal in the positive phase input of a 1st amplifier circuit, and this movable element The first drive signal for changing the displacement of the first input signal is input, while the potential of the movable element is set to the ground potential, and the first capacitance to be detected is input to the first amplifier circuit as a negative phase input. And a first high-pass filter that removes the component of the first drive signal from the output from the first amplifier circuit,
The second capacitance detection circuit has a lower frequency than the second capacitance detection signal at the positive phase input of the second amplification circuit and changes the displacement of the movable element together with the second capacitance detection signal. A signal on which a second drive signal is superimposed is input, and the second capacitance to be detected is connected to a negative phase input of the second amplifier circuit with the potential of the movable element as a ground potential. And a second high-pass filter that removes the component of the second drive signal from the output from the second amplifier circuit. .

(付記8) 該第1,第2増幅回路の逆相入力のそれぞれに負荷抵抗が接続されていることを特徴とする、付記6記載の静電容量センサ。
(付記9) 該第1,第2帰還抵抗の値をタイミングに応じて切り替えることを特徴とする、付記6記載の静電容量センサ。
(付記10) 該第1静電容量回路が、該第1ハイパスフィルタの出力についてサンプルホールドする第1サンプルホールド回路をそなえるとともに、該第2静電容量回路が、該第2ハイパスフィルタの出力についてサンプルホールドする第2サンプルホールド回路をそなえて構成されたことを特徴とする、付記7記載の静電容量センサ。
(Additional remark 8) The load sensor is connected to each of the negative phase input of this 1st, 2nd amplifier circuit, The electrostatic capacitance sensor of Additional remark 6 characterized by the above-mentioned.
(Supplementary note 9) The capacitance sensor according to supplementary note 6, wherein the values of the first and second feedback resistors are switched according to timing.
(Supplementary Note 10) The first capacitance circuit includes a first sample and hold circuit that samples and holds the output of the first high-pass filter, and the second capacitance circuit provides an output of the second high-pass filter. 8. The capacitance sensor according to appendix 7, characterized by comprising a second sample and hold circuit for sample and hold.

(付記11) 可動エレメントと該可動エレメントに隔離して配置された電極との間の静電気力により該可動エレメントが変位する可動エレメント装置における上記の可動エレメントと電極との間の静電容量を検出する静電容量センサであって、
該可動エレメントの変位を変化させるための低周波の駆動信号と前記駆動信号よりも高周波を有して前記静電容量を検出するための容量検出用信号とが重畳された信号を正相に入力する一方、前記可動エレメントの電位を接地電位として検出対象となる前記静電容量を前記電極を介して逆相入力に接続する増幅回路と、
該増幅回路の出力を前記逆相入力に帰還するための並列接続された帰還容量および帰還抵抗と、
該増幅回路からの出力から、前記低周波の信号成分を除去するハイパスフィルタと、をそなえ、
該ハイパスフィルタから、検出対象となる前記静電容量の値に応じた利得で前記容量検出用信号が増幅された信号を出力するように構成されたことを特徴とする、静電容量センサ。
(Additional remark 11) The electrostatic capacitance between said movable element and electrode in the movable element apparatus to which this movable element displaces with the electrostatic force between the movable element and the electrode arrange | positioned separately from this movable element is detected. A capacitive sensor,
A signal in which a low frequency drive signal for changing the displacement of the movable element and a capacitance detection signal for detecting the capacitance having a higher frequency than the drive signal are superimposed is input in the positive phase. On the other hand, an amplification circuit that connects the electrostatic capacitance to be detected to a negative phase input through the electrode, with the potential of the movable element as a ground potential,
A feedback capacitor and a feedback resistor connected in parallel to feed back the output of the amplifier circuit to the negative phase input;
A high-pass filter that removes the low-frequency signal component from the output from the amplifier circuit;
A capacitance sensor configured to output a signal obtained by amplifying the capacitance detection signal with a gain corresponding to the capacitance value to be detected from the high-pass filter.

(付記12) 可動エレメントと該可動エレメントに隔離して配置された一対の電極それぞれとの間の静電気力により、該可動エレメントが変位する可動エレメント装置における上記の可動エレメントと一対の電極それぞれとの間の静電容量による静電容量変位を検出する静電容量センサであって、
該可動エレメントの変位を変化させるための低周波の第1駆動信号と前記第1駆動信号よりも高周波を有して前記可動エレメントと前記一対の電極をなす第1電極との間の第1静電容量を検出するための第1容量検出用信号とが重畳された信号を正相に入力する一方、前記可動エレメントの電位を接地電位として前記第1静電容量を逆相入力に接続する第1増幅回路と、該第1増幅回路の出力を前記逆相入力に帰還するための並列接続された第1帰還容量および第1帰還抵抗と、該第1増幅回路からの出力から前記低周波の信号成分を除去する第1ハイパスフィルタと、をそなえ、前記第1静電容量を検出するための第1静電容量検出回路と、
該可動エレメントの変位を変化させるための低周波の第2駆動信号と前記第2駆動信号よりも高周波を有して前記可動エレメントと前記一対の電極をなす第2電極との間の第2静電容量を検出するための第2容量検出用信号とが重畳された信号を正相に入力する一方、前記可動エレメントの電位を接地電位として前記第2静電容量を逆相入力に接続する第2増幅回路と、該第2増幅回路の出力を前記逆相入力に帰還するための並列接続された第2帰還容量および第2帰還抵抗と、該第2増幅回路からの出力から前記低周波の信号成分を除去する第2ハイパスフィルタと、をそなえ、前記第2静電容量を検出するための第2静電容量検出回路と、
上記の第1,第2静電容量検出回路からの出力の差により、上記の可動エレメントと一対の電極それぞれとの間の静電容量による静電容量変位を検出するための信号を出力する差信号出力部と、をそなえて構成されたことを特徴とする、静電容量センサ。
(Supplementary Note 12) The above-mentioned movable element and each of the pair of electrodes in the movable element device in which the movable element is displaced by electrostatic force between the movable element and each of the pair of electrodes arranged separately from the movable element. A capacitance sensor for detecting a capacitance displacement due to a capacitance between,
A first static signal between the movable element and the first electrode forming the pair of electrodes having a higher frequency than the first drive signal and a low frequency first drive signal for changing the displacement of the movable element. A signal on which a first capacitance detection signal for detecting capacitance is superimposed is input to the positive phase, and the first capacitance is connected to a negative phase input with the potential of the movable element as the ground potential. A first amplifying circuit, a first feedback capacitor and a first feedback resistor connected in parallel for feeding back the output of the first amplifying circuit to the negative-phase input, and the output of the low frequency from the output from the first amplifying circuit. A first high-pass filter for removing signal components; and a first capacitance detection circuit for detecting the first capacitance;
A second low-frequency drive signal for changing the displacement of the movable element and a second static signal between the movable element and the second electrode forming the pair of electrodes having a higher frequency than the second drive signal. A signal superimposed with a second capacitance detection signal for detecting the capacitance is input in the positive phase, while the second capacitance is connected to the negative phase input with the potential of the movable element as the ground potential. A second amplifying circuit, a second feedback capacitor and a second feedback resistor connected in parallel for feeding back the output of the second amplifying circuit to the negative phase input, and the output of the low frequency from the output from the second amplifying circuit. A second high-pass filter for removing a signal component; a second capacitance detection circuit for detecting the second capacitance;
Difference in outputting a signal for detecting capacitance displacement due to capacitance between the movable element and each of the pair of electrodes due to a difference in output from the first and second capacitance detection circuits. A capacitance sensor, comprising: a signal output unit.

(付記13) 該可動エレメントが、アレイ状に複数個一体に配置されていることを特徴とする、付記1〜12のいずれか1項記載の静電容量センサ。
(付記14) 該可動エレメントが、ティルトミラーであることを特徴とする、付記1〜13のいずれか1項記載の静電容量センサ。
(付記15) 該電極が、櫛型形状の電極により構成されたことを特徴とする、付記1〜14のいずれか1項記載の静電容量センサ。
(Appendix 13) The capacitance sensor according to any one of Appendixes 1 to 12, wherein a plurality of the movable elements are integrally arranged in an array.
(Supplementary note 14) The capacitance sensor according to any one of supplementary notes 1 to 13, wherein the movable element is a tilt mirror.
(Supplementary note 15) The capacitance sensor according to any one of Supplementary notes 1 to 14, wherein the electrode is configured by a comb-shaped electrode.

(付記16) 静電気力により回動可能に構成され光信号を偏向反射させるためのティルトミラーをアレイ状に配置して構成されたミラーアレイをそなえ、複数チャンネルの光信号のチャンネル切り替えを行なう光スイッチ光学系を制御する光スイッチ制御装置であって、
上記のティルトミラーと当該ティルトミラーに隔離して配置され前記静電気力を供給するための一対の電極それぞれとの間の静電容量により、当該ティルトミラーについての静電容量変位を検出する静電容量センサを、該ミラーアレイをなすティルトミラーの回動軸ごとにそなえられた静電容量センサ部と、
前記複数チャンネルの光信号のチャンネル切替指示を受けて、該静電容量センサ部からの各ティルトミラーについての静電容量変位をもとに、前記チャンネル切替を行なうための各ティルトミラーの回動変位量を制御するための制御信号を出力する制御部と、
該制御部からの制御信号に基づいて、各ティルトミラーに対する静電気力を対応する一対の電極への駆動信号を通じて供給する駆動部と、をそなえ、
かつ、該静電容量センサ部における各静電容量センサが、
該駆動部からの対応するティルトミラーの回動変位量を変化させるための低周波の第1駆動信号と前記第1駆動信号よりも高周波を有して該対応するティルトミラーと前記対応する一対の電極をなす第1電極との間の第1静電容量を検出するための第1容量検出用信号とが重畳された信号を正相に入力する一方、該対応するティルトミラーの電位を接地電位として前記第1静電容量を逆相入力に接続する第1増幅回路と、該第1増幅回路の出力を前記逆相入力に帰還するための並列接続された第1帰還容量および第1帰還抵抗と、該第1増幅回路からの出力から前記低周波の信号成分を除去する第1ハイパスフィルタと、をそなえ、前記第1静電容量を検出するための第1静電容量検出回路と、
該駆動部からの該対応するティルトミラーの変位を変化させるための低周波の第2駆動信号と前記第2駆動信号よりも高周波を有して該対応するティルトミラーと前記対応する一対の電極をなす第2電極との間の第2静電容量を検出するための第2容量検出用信号とが重畳された信号を正相に入力する一方、該対応するティルトミラーの電位を接地電位として前記第2静電容量を逆相入力に接続する第2増幅回路と、該第2増幅回路の出力を前記逆相入力に帰還するための並列接続された第2帰還容量および第2帰還抵抗と、該第2増幅回路からの出力から前記低周波の信号成分を除去する第2ハイパスフィルタと、をそなえ、前記第2静電容量を検出するための第2静電容量検出回路と、
上記の第1,第2静電容量検出回路からの出力の差により、上記の対応するティルトミラーと一対の電極それぞれとの間の静電容量による静電容量変位を検出するための信号を出力する差信号出力部と、をそなえて構成されたことを
特徴とする、光スイッチ制御装置。
(Supplementary Note 16) An optical switch configured to switch a plurality of optical signals by providing a mirror array which is configured to be rotated by electrostatic force and is configured by arranging tilt mirrors for deflecting and reflecting optical signals in an array. An optical switch control device for controlling an optical system,
Capacitance for detecting a capacitance displacement of the tilt mirror by a capacitance between the tilt mirror and a pair of electrodes arranged separately from the tilt mirror and supplying the electrostatic force. A capacitance sensor unit provided for each rotation axis of the tilt mirror constituting the mirror array;
In response to the channel switching instruction of the optical signals of the plurality of channels, the rotational displacement of each tilt mirror for performing the channel switching based on the capacitance displacement of each tilt mirror from the capacitance sensor unit. A control unit for outputting a control signal for controlling the amount;
A drive unit that supplies an electrostatic force to each tilt mirror through a drive signal to a corresponding pair of electrodes based on a control signal from the control unit;
And each capacitance sensor in the capacitance sensor unit,
A low-frequency first drive signal for changing a rotational displacement amount of the corresponding tilt mirror from the drive unit and a corresponding pair of the corresponding tilt mirrors having a higher frequency than the first drive signal. A signal superimposed with a first capacitance detection signal for detecting a first capacitance between the first electrode and the first electrode is input in the positive phase, and the potential of the corresponding tilt mirror is set to the ground potential. A first amplifier circuit for connecting the first capacitance to the negative phase input, and a first feedback capacitor and a first feedback resistor connected in parallel for feeding back the output of the first amplifier circuit to the negative phase input. A first high-pass filter that removes the low-frequency signal component from the output from the first amplifier circuit, and a first capacitance detection circuit for detecting the first capacitance;
A second driving signal having a low frequency for changing the displacement of the corresponding tilt mirror from the driving unit and a higher frequency than the second driving signal, the corresponding tilt mirror and the corresponding pair of electrodes A signal superimposed with a second capacitance detection signal for detecting the second capacitance between the second electrode and the second electrode is input in the positive phase, while the potential of the corresponding tilt mirror is set as the ground potential. A second amplifier circuit for connecting the second capacitance to the negative phase input; a second feedback capacitor and a second feedback resistor connected in parallel for feeding back the output of the second amplifier circuit to the negative phase input; A second capacitance detection circuit for detecting the second capacitance, and a second high-pass filter for removing the low-frequency signal component from the output from the second amplifier circuit;
A signal for detecting a capacitance displacement due to the capacitance between the corresponding tilt mirror and each of the pair of electrodes is output based on a difference in output from the first and second capacitance detection circuits. An optical switch control device, comprising: a difference signal output unit that performs the above-described operation.

(付記17) 静電気力により回動可能に構成され光信号を偏向反射させるためのティルトミラーをアレイ状に配置して構成されたミラーアレイをそなえ、複数チャンネルの光信号のチャンネル切り替えを行なう光スイッチ光学系と、
上記のティルトミラーと当該ティルトミラーに隔離して配置され前記静電気力を供給するための一対の電極それぞれとの間の静電容量により、当該ティルトミラーについての静電容量変位を検出する静電容量センサを、該ミラーアレイをなすティルトミラーの回動軸ごとにそなえられた静電容量センサ部と、
前記複数チャンネルの光信号のチャンネル切替指示を受けて、該静電容量センサ部からの各ティルトミラーについての静電容量変位をもとに、前記チャンネル切替を行なうための各ティルトミラーの回動変位量を制御するための制御信号を出力する制御部と、
該制御部からの制御信号に基づいて、各ティルトミラーに対する静電気力を対応する一対の電極への駆動信号を通じて供給する駆動部と、をそなえ、
かつ、該静電容量センサ部における各静電容量センサが、
該駆動部からの対応するティルトミラーの回動変位量を変化させるための低周波の第1駆動信号と前記第1駆動信号よりも高周波を有して該対応するティルトミラーと前記対応する一対の電極をなす第1電極との間の第1静電容量を検出するための第1容量検出用信号とが重畳された信号を正相に入力する一方、該対応するティルトミラーの電位を接地電位として前記第1静電容量を逆相入力に接続する第1増幅回路と、該第1増幅回路の出力を前記逆相入力に帰還するための並列接続された第1帰還容量および第1帰還抵抗と、該第1増幅回路からの出力から前記低周波の信号成分を除去する第1ハイパスフィルタと、をそなえ、前記第1静電容量を検出するための第1静電容量検出回路と、
該駆動部からの該対応するティルトミラーの変位を変化させるための低周波の第2駆動信号と前記第2駆動信号よりも高周波を有して該対応するティルトミラーと前記対応する一対の電極をなす第2電極との間の第2静電容量を検出するための第2容量検出用信号とが重畳された信号を正相に入力する一方、該対応するティルトミラーの電位を接地電位として前記第2静電容量を逆相入力に接続する第2増幅回路と、該第2増幅回路の出力を前記逆相入力に帰還するための並列接続された第2帰還容量および第2帰還抵抗と、該第2増幅回路からの出力から前記低周波の信号成分を除去する第2ハイパスフィルタと、をそなえ、前記第2静電容量を検出するための第2静電容量検出回路と、
上記の第1,第2静電容量検出回路からの出力の差により、上記の対応するティルトミラーと一対の電極それぞれとの間の静電容量による静電容量変位を検出するための信号を出力する差信号出力部と、をそなえて構成されたことを
特徴とする、光スイッチング装置。
(Supplementary Note 17) An optical switch that includes a mirror array that is configured to be rotated by electrostatic force and that is configured to arrange tilt mirrors for deflecting and reflecting optical signals in an array, and that performs channel switching of a plurality of optical signals. Optical system,
Capacitance for detecting a capacitance displacement of the tilt mirror by a capacitance between the tilt mirror and a pair of electrodes arranged separately from the tilt mirror and supplying the electrostatic force. A capacitance sensor unit provided for each rotation axis of the tilt mirror constituting the mirror array;
In response to the channel switching instruction of the optical signals of the plurality of channels, the rotational displacement of each tilt mirror for performing the channel switching based on the capacitance displacement of each tilt mirror from the capacitance sensor unit. A control unit for outputting a control signal for controlling the amount;
A drive unit that supplies an electrostatic force to each tilt mirror through a drive signal to a corresponding pair of electrodes based on a control signal from the control unit;
And each capacitance sensor in the capacitance sensor unit,
A low-frequency first drive signal for changing a rotational displacement amount of the corresponding tilt mirror from the drive unit and a corresponding pair of the corresponding tilt mirrors having a higher frequency than the first drive signal. A signal superimposed with a first capacitance detection signal for detecting a first capacitance between the first electrode and the first electrode is input in the positive phase, and the potential of the corresponding tilt mirror is set to the ground potential. A first amplifier circuit for connecting the first capacitance to the negative phase input, and a first feedback capacitor and a first feedback resistor connected in parallel for feeding back the output of the first amplifier circuit to the negative phase input. A first high-pass filter that removes the low-frequency signal component from the output from the first amplifier circuit, and a first capacitance detection circuit for detecting the first capacitance;
A second driving signal having a low frequency for changing the displacement of the corresponding tilt mirror from the driving unit and a higher frequency than the second driving signal, the corresponding tilt mirror and the corresponding pair of electrodes A signal superimposed with a second capacitance detection signal for detecting the second capacitance between the second electrode and the second electrode is input in the positive phase, while the potential of the corresponding tilt mirror is set as the ground potential. A second amplifier circuit for connecting the second capacitance to the negative phase input; a second feedback capacitor and a second feedback resistor connected in parallel for feeding back the output of the second amplifier circuit to the negative phase input; A second capacitance detection circuit for detecting the second capacitance, and a second high-pass filter for removing the low-frequency signal component from the output from the second amplifier circuit;
A signal for detecting a capacitance displacement due to the capacitance between the corresponding tilt mirror and each of the pair of electrodes is output based on a difference in output from the first and second capacitance detection circuits. An optical switching device, comprising: a difference signal output unit configured to output the difference signal output unit.

(付記18) 該光スイッチ光学系から出力されるチャンネルごとの光信号のパワーをモニタする光パワーモニタをそなえ、
該制御部が、該静電容量センサ部からの各ティルトミラーについての静電容量変位とともに、該光パワーモニタからのチャンネルごとの光信号のパワーをもとに、前記チャンネル切替を行なうための各ティルトミラーの回動変位量を制御するための制御信号を出力するように構成されたことを特徴とする、付記17記載の光スイッチング装置。
(Supplementary Note 18) An optical power monitor for monitoring the power of an optical signal for each channel output from the optical switch optical system is provided.
The control unit performs each channel switching based on the power of the optical signal for each channel from the optical power monitor together with the capacitance displacement for each tilt mirror from the capacitance sensor unit. 18. The optical switching device according to appendix 17, wherein the optical switching device is configured to output a control signal for controlling a rotational displacement amount of the tilt mirror.

(付記19) 該ミラーアレイをなす各ティルトミラーに前記静電気力を供給するための一対の電極が、それぞれ櫛型形状の電極により構成されたことを特徴とする、付記17記載の光スイッチング装置。
(付記20) 接地された可動エレメントと、静電気力により該可動エレメントを動作させる電極とを備えた可動エレメント部を複数備えた可動エレメント装置。
(Supplementary note 19) The optical switching device according to supplementary note 17, wherein each of the pair of electrodes for supplying the electrostatic force to each tilt mirror constituting the mirror array is composed of comb-shaped electrodes.
(Additional remark 20) The movable element apparatus provided with two or more movable element parts provided with the grounded movable element and the electrode which operates this movable element by electrostatic force.

(付記21) 接地された可動エレメントと、
静電気力により該可動エレメントを動作させる電極とを備え、
該可動エレメントの共振周波数より周波数の低い駆動信号を該電極に印加し該可動エレメントの動作を制御するとともに、該共振周波数より周波数の高い検出信号を該電極に印加し該可動エレメントと該電極との間の静電容量を検出することを特徴とする可動エレメント装置。
(Appendix 21) A grounded movable element;
An electrode for operating the movable element by electrostatic force,
A drive signal having a frequency lower than the resonance frequency of the movable element is applied to the electrode to control the operation of the movable element, and a detection signal having a frequency higher than the resonance frequency is applied to the electrode, and the movable element and the electrode A movable element device for detecting a capacitance between the two.

(付記22) 接地された可動エレメントと、
静電気力により該可動エレメントを動作させる第1および第2の電極とを備え、
該可動エレメントの共振周波数より周波数の低い第1および第2の駆動信号をそれぞれ該第1および該第2の電極に印加し該可動エレメントの動作を制御するとともに、該共振周波数より周波数の高い検出信号を該第1および第2の電極に印加し該可動エレメントと該第1および第2の電極との間の静電容量を検出することを特徴とする可動エレメント装置。
(Appendix 22) A grounded movable element;
First and second electrodes for operating the movable element by electrostatic force,
The first and second drive signals having a frequency lower than the resonance frequency of the movable element are applied to the first and second electrodes, respectively, to control the operation of the movable element, and the detection has a frequency higher than the resonance frequency. A movable element device, wherein a signal is applied to the first and second electrodes to detect a capacitance between the movable element and the first and second electrodes.

(付記23) 該駆動信号および該検出信号を正相入力より入力し、該電極を逆相入力に接続し、出力を該逆相入力に帰還させた差動増幅部を備え、
該差動増幅部の帰還容量および帰還抵抗は、該駆動信号に対する該差動増幅部の利得が略1であり、
該検出信号に対する該作動増幅部の利得が該静電容量の変化により変化する値であり、
該差動増幅部の出力に基づき該可動エレメントの動作を検出することを特徴とする付記21または付記22記載の可動エレメント装置。
(Supplementary Note 23) A differential amplification unit that inputs the drive signal and the detection signal from a positive phase input, connects the electrode to a negative phase input, and feeds back an output to the negative phase input.
The feedback capacitance and feedback resistance of the differential amplifier have a gain of approximately 1 for the drive signal,
The gain of the operation amplification unit with respect to the detection signal is a value that changes due to a change in the capacitance,
The movable element device according to appendix 21 or appendix 22, wherein the operation of the movable element is detected based on an output of the differential amplifier.

(付記24) 該該可動エレメントの位置および方向を変化させる際に、該駆動信号の変化に連動して該差動増幅部の帰還抵抗を減少させることを特徴とする付記23記載の可動エレメント装置。     (Supplementary note 24) The movable element device according to supplementary note 23, wherein when the position and direction of the movable element are changed, the feedback resistance of the differential amplifier is decreased in conjunction with the change of the drive signal. .

本発明の第1実施形態を示す図である。It is a figure which shows 1st Embodiment of this invention. MEMSミラーユニットの周波数応答特性の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the frequency response characteristic of a MEMS mirror unit. 本発明の第1実施形態における非反転増幅回路の利得について説明するための図である。It is a figure for demonstrating the gain of the non-inverting amplifier circuit in 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1実施形態にかかる静電容量センサの特性について示す図である。It is a figure shown about the characteristic of the capacitance sensor concerning a 1st embodiment of the present invention. 本発明の第1実施形態にかかる静電容量センサの特性について示す図である。It is a figure shown about the characteristic of the capacitance sensor concerning a 1st embodiment of the present invention. 本発明の第2実施形態を示す図である。It is a figure which shows 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2実施形態にかかる静電容量センサの特性について示す図である。It is a figure shown about the characteristic of the capacitance sensor concerning a 2nd embodiment of the present invention. 本発明の第2実施形態にかかる静電容量センサの特性について示す図である。It is a figure shown about the characteristic of the capacitance sensor concerning a 2nd embodiment of the present invention. 本発明の第3実施形態を示す図である。It is a figure which shows 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第3実施形態にかかる静電容量センサの特性について示す図である。It is a figure shown about the characteristic of the capacitance sensor concerning a 3rd embodiment of the present invention. 本発明の第3実施形態にかかる静電容量センサの特性について示す図である。It is a figure shown about the characteristic of the capacitance sensor concerning a 3rd embodiment of the present invention. 本発明の第4実施形態を示す図である。It is a figure which shows 4th Embodiment of this invention. 本発明の第5実施形態を示す図である。It is a figure which shows 5th Embodiment of this invention. 本発明の第6実施形態を示す図である。It is a figure which shows 6th Embodiment of this invention. 本発明の第6実施形態に適用される光スイッチ光学系を示す図である。It is a figure which shows the optical switch optical system applied to 6th Embodiment of this invention. 本発明の第6実施形態の要部を示す図である。It is a figure which shows the principal part of 6th Embodiment of this invention. 本発明の第6実施形態の動作を説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating operation | movement of 6th Embodiment of this invention. 本発明の第6実施形態を示す図である。It is a figure which shows 6th Embodiment of this invention. 本発明の第6実施形態の動作を説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating operation | movement of 6th Embodiment of this invention. MEMS技術を適用した一般的なマイクロミラーユニットを示す図である。It is a figure which shows the general micromirror unit to which MEMS technology is applied. MEMS技術を適用した一般的なマイクロミラーユニットを示す図である。It is a figure which shows the general micromirror unit to which MEMS technology is applied. ミラーの角度センサとして適用される従来の静電容量センサを示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the conventional electrostatic capacitance sensor applied as an angle sensor of a mirror. 図22に示す静電容量センサの周波数特性を示す図である。It is a figure which shows the frequency characteristic of the electrostatic capacitance sensor shown in FIG.

符号の説明Explanation of symbols

1 MEMSミラーユニット(可動エレメント装置)
2 基板
3 ミラー本体
3a ミラー
3b,3b−X,3b−Y,104x,104y トーションバー
4,4a,4b,106a,106b 電極
4a−X,4b−X,4a−Y,4b−Y 櫛型電極
5−1,5−2,105−1,105−2 フレーム
5−11,5−21 絶縁部
6a−X,6b−X,6a−Y,6b−Y 櫛型第2電極
10,20,30,40,50,62−1〜62−m,62−a,62−(a+1),110 静電容量センサ
13A,23A,24A,27A,111 増幅回路
13B,23B,24B,112 帰還容量
13C,23C,24C,27D,43C,44C 帰還抵抗
13U,23U,24U,33U,34U 非反転増幅回路
15,25A,26A 容量(ハイパスフィルタ)
11,21,22,21X,22X,21Y,22Y,121,122 静電容量
23 第1静電容量検出回路
24 第2静電容量検出回路
27 差信号出力部
27B,27C 入力抵抗
33D,34D 負荷抵抗
43C−1,43C−2,44C−1,44C−2 抵抗
43C−3,44C−3 スイッチ
55B,56B,63a サンプルホールド回路
60,80 光スイッチング装置
61 光スイッチ光学系
61a,61d コリメータアレイ
61a−1,61d−1 ポート
61b,61c ミラーアレイ
62 静電容量センサ部
63 制御部
63b アンプ
63c A/Dコンバータ
63d コントローラ
64−1〜64−m 駆動部
64a D/Aコンバータ
64b ドライバ
65 光スイッチ制御装置
71,72 ティルトミラーユニット
88 光パワーモニタ
89 A/Dコンバータ
100 マイクロミラーユニット
101 基板
102 ミラーデバイス
103 ミラー
1 MEMS mirror unit (movable element device)
2 Substrate 3 Mirror body 3a Mirror 3b, 3b-X, 3b-Y, 104x, 104y Torsion bar 4, 4a, 4b, 106a, 106b Electrode 4a-X, 4b-X, 4a-Y, 4b-Y Comb electrode 5-1, 5-2, 105-1, 105-2 Frame 5-11, 5-21 Insulating part 6a-X, 6b-X, 6a-Y, 6b-Y Comb-shaped second electrode 10, 20, 30 , 40, 50, 62-1 to 62-m, 62-a, 62- (a + 1), 110 Capacitance sensor 13A, 23A, 24A, 27A, 111 Amplifier circuit 13B, 23B, 24B, 112 Feedback capacitance 13C, 23C, 24C, 27D, 43C, 44C Feedback resistor 13U, 23U, 24U, 33U, 34U Non-inverting amplifier circuit 15, 25A, 26A Capacitance (high pass filter)
11, 21, 22, 21X, 22X, 21Y, 22Y, 121, 122 Capacitance 23 First capacitance detection circuit 24 Second capacitance detection circuit 27 Difference signal output unit 27B, 27C Input resistance 33D, 34D Load Resistor 43C-1, 43C-2, 44C-1, 44C-2 Resistor 43C-3, 44C-3 Switch 55B, 56B, 63a Sample hold circuit 60, 80 Optical switching device 61 Optical switch optical system 61a, 61d Collimator array 61a -1, 61d-1 Port 61b, 61c Mirror array 62 Capacitance sensor unit 63 Control unit 63b Amplifier 63c A / D converter 63d Controller 64-1 to 64-m Drive unit 64a D / A converter 64b Driver 65 Optical switch control Equipment 71, 72 Tilt mirror unit 88 Optical power monitor 89 A / D converter 100 Micro mirror unit 101 Substrate 102 Mirror device 103 Mirror

Claims (5)

接地された可動エレメントと、静電気力により該可動エレメントを動作させる電極とを備えた可動エレメント部を複数備えた可動エレメント装置。   A movable element device comprising a plurality of movable element parts each comprising a grounded movable element and an electrode for operating the movable element by electrostatic force. 接地された可動エレメントと、
静電気力により該可動エレメントを動作させる電極とを備え、
該可動エレメントの共振周波数より周波数の低い駆動信号を該電極に印加し該可動エレメントの動作を制御するとともに、該共振周波数より周波数の高い検出信号を該電極に印加し該可動エレメントと該電極との間の静電容量を検出することを特徴とする可動エレメント装置。
A grounded movable element;
An electrode for operating the movable element by electrostatic force,
A drive signal having a frequency lower than the resonance frequency of the movable element is applied to the electrode to control the operation of the movable element, and a detection signal having a frequency higher than the resonance frequency is applied to the electrode, and the movable element and the electrode A movable element device for detecting a capacitance between the two.
接地された可動エレメントと、
静電気力により該可動エレメントを動作させる第1および第2の電極とを備え、
該可動エレメントの共振周波数より周波数の低い第1および第2の駆動信号をそれぞれ該第1および該第2の電極に印加し該可動エレメントの動作を制御するとともに、該共振周波数より周波数の高い検出信号を該第1および第2の電極に印加し該可動エレメントと該第1および第2の電極との間の静電容量を検出することを特徴とする可動エレメント装置。
A grounded movable element;
First and second electrodes for operating the movable element by electrostatic force,
The first and second drive signals having a frequency lower than the resonance frequency of the movable element are applied to the first and second electrodes, respectively, to control the operation of the movable element, and the detection has a frequency higher than the resonance frequency. A movable element device, wherein a signal is applied to the first and second electrodes to detect a capacitance between the movable element and the first and second electrodes.
該駆動信号および該検出信号を正相入力より入力し、該電極を逆相入力に接続し、出力を該逆相入力に帰還させた差動増幅部を備え、
該差動増幅部の帰還容量および帰還抵抗は、該駆動信号に対する該差動増幅部の利得が略1であり、
該検出信号に対する該作動増幅部の利得が該静電容量の変化により変化する値であり、
該差動増幅部の出力に基づき該可動エレメントの動作を検出することを特徴とする請求項2または請求項3記載の可動エレメント装置。
The drive signal and the detection signal are input from a positive phase input, the electrode is connected to a negative phase input, and a differential amplification unit that feeds back an output to the negative phase input is provided.
The feedback capacitance and feedback resistance of the differential amplifier have a gain of approximately 1 for the drive signal,
The gain of the operation amplification unit with respect to the detection signal is a value that changes due to a change in the capacitance,
4. The movable element device according to claim 2, wherein an operation of the movable element is detected based on an output of the differential amplifier.
該該可動エレメントの位置および方向を変化させる際に、該駆動信号の変化に連動して該差動増幅部の帰還抵抗を減少させることを特徴とする請求項4記載の可動エレメント装置。   5. The movable element device according to claim 4, wherein when changing the position and direction of the movable element, the feedback resistance of the differential amplifying unit is decreased in conjunction with the change of the drive signal.
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