JP2005083865A - Temperature-monitoring device - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To specify detection location of set temperature in a temperature-monitoring device in which signals from each temperature detection location is concentrated in one signal line. <P>SOLUTION: The signal line 31 is provided with a resistance partial voltage circuit part 20 and a temperature sensor part 10, consisting of a plurality of temperature sensor circuit. The temperature sensor circuit is connected with each signal line 31. If the values of resistance 21, resistance 22-k and resistance 23-k constituting the resistance partial voltage circuit part 20 are set properly, a voltage determined independently according to the particular sensor appears at the output terminal of the signal line 31, when an arbitrary temperature sensor circuit detects temperature abnormality. Since an A/D converter and a microcomputer are provided at the output terminal of the signal line 31, the location of the temperature abnormality occurrence is specified by analyzing the output voltage value. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、電子機器等に用いられ、当該機器を過熱状態から保護するために複数箇所の温度を監視する温度監視装置に関する。   The present invention relates to a temperature monitoring device that is used in an electronic device or the like and monitors temperatures at a plurality of locations in order to protect the device from an overheated state.

感温素子を利用した温度監視装置が各種の電子機器における異常監視などに用いられている。特許文献1には、この種の温度監視装置として、感温素子に加えて、ラダー回路と比較器とを用いたものが開示されている。この温度監視装置では、時間経過に伴って値が階段状に増加する温度データ信号が発生され、この温度データ信号に対応した波形のアナログ信号がラダー回路によって生成される。そして、このアナログ信号と感温素子の両端の電圧とが比較器により比較され、両者が一致する時点における温度データ信号に基づいて、監視対象たる温度が求められる。
特開昭63−198839号公報
Temperature monitoring devices using temperature sensitive elements are used for monitoring abnormalities in various electronic devices. Patent Document 1 discloses a temperature monitoring device of this type that uses a ladder circuit and a comparator in addition to a temperature sensitive element. In this temperature monitoring device, a temperature data signal whose value increases stepwise as time elapses is generated, and an analog signal having a waveform corresponding to the temperature data signal is generated by a ladder circuit. Then, the analog signal and the voltage across the temperature sensing element are compared by a comparator, and the temperature to be monitored is determined based on the temperature data signal at the time when the two match.
JP-A 63-198839

ところで、電子機器には、正常な機能を維持するために、複数箇所において温度監視を行うことが必要なものがある。そのような例として、自動演奏ピアノが挙げられる。この自動演奏ピアノは、鍵盤に配備された個々の鍵を駆動するための複数のソレノイドを有している。自動演奏時、自動演奏ピアノでは、鍵の駆動を指令する時系列の演奏データが順次再生される。そして、ある鍵の駆動を指令する演奏データが再生されると、その鍵に対応したソレノイドに駆動電流が流され、この駆動電流により磁界が発生し、この磁界によって鍵の駆動が行われる。このような鍵の駆動の繰り返しにより自動演奏が行われる。一方、自動演奏ピアノの個々のソレノイドは、駆動電流が流されることにより発熱する。ここで、あるソレノイドに対する駆動電流の通電が頻繁に行われると、そのソレノイドに熱が蓄積し、過度の発熱状態(以降「過熱状態」)となる。このようなソレノイドを過熱状態のまま使用し続けると、動作異常が起こって、演奏が正しく行われなくなる可能性があるので好ましくない。また、過熱状態のソレノイドを放置することは、当該自動演奏ピアノの故障要因ともなる。従って、自動演奏ピアノにおいては、個々のソレノイドの温度を監視し、個々のソレノイドが加熱状態になるのを未然に防止する手段が求められる。また、自動演奏ピアノ以外にも、複数の熱源を持った電子機器があり、それらの熱源の過剰発熱から機器を保護することが求められる場合がある。   Incidentally, some electronic devices require temperature monitoring at a plurality of locations in order to maintain a normal function. An example of this is an auto-playing piano. This automatic performance piano has a plurality of solenoids for driving individual keys arranged on the keyboard. During automatic performance, the automatic performance piano sequentially reproduces time-series performance data instructing key driving. When the performance data instructing driving of a certain key is reproduced, a driving current is supplied to the solenoid corresponding to the key, a magnetic field is generated by this driving current, and the key is driven by this magnetic field. An automatic performance is performed by repeating such key driving. On the other hand, each solenoid of the automatic performance piano generates heat when a drive current is applied. Here, when a drive current is frequently applied to a certain solenoid, heat is accumulated in the solenoid, resulting in an excessive heat generation state (hereinafter referred to as “overheated state”). If such a solenoid continues to be used in an overheated state, an abnormal operation may occur and performance may not be performed correctly. In addition, leaving the solenoid in an overheated state causes a failure of the automatic performance piano. Therefore, in an automatic performance piano, a means for monitoring the temperature of each solenoid and preventing the individual solenoid from being heated is required. In addition to the automatic performance piano, there are electronic devices having a plurality of heat sources, and it may be required to protect the devices from excessive heat generation of these heat sources.

しかしながら、このような温度監視を上述した従来の温度監視装置を用いて行うとなると、この温度監視装置を測定箇所の数だけ用意する必要があり不経済であった。ここで、温度検出の対象となる箇所全てにサーミスタを近接配置して、その検知信号を一本の信号線に集約し、信号線の電圧に基づいて加熱状態の熱源の有無を判定する、といった温度監視装置も考えられる。かかる温度監視装置によれば、小規模の回路構成により、温度異常の発生を検出することができる。しかし、そのような温度異常が発生している箇所を特定することはできない。   However, when such temperature monitoring is performed using the above-described conventional temperature monitoring device, it is necessary to prepare as many temperature monitoring devices as the number of measurement points, which is uneconomical. Here, a thermistor is arranged close to all the places to be subjected to temperature detection, the detection signals are aggregated into one signal line, and the presence or absence of a heat source in a heating state is determined based on the voltage of the signal line, etc. A temperature monitoring device is also conceivable. According to such a temperature monitoring device, it is possible to detect the occurrence of a temperature abnormality with a small circuit configuration. However, it is not possible to specify a location where such a temperature abnormality occurs.

この発明は、以上説明した事情に鑑みてなされたものであり、小規模の回路構成により複数箇所の温度を監視することができ、かつ、いずれかの箇所において温度異常が発生した場合にはその箇所を特定することができる温度監視装置を提供することを目的としている。   The present invention has been made in view of the circumstances described above, and it is possible to monitor the temperature at a plurality of locations with a small-scale circuit configuration, and when a temperature abnormality occurs at any location, An object of the present invention is to provide a temperature monitoring device capable of specifying a location.

上記課題を解決するため、この発明は、温度に応じて物理的性質が変化する素子、及び前記素子の前記物理的性質の変化を電圧変化に変換する変換手段、及び前記変換手段の出力電圧を2値信号に変換して出力端子から出力する2値化手段を備えた温度センサ回路を複数備えると共に、前記複数の温度センサ回路の出力経路となる一本の信号線と、前記信号線に接続された電源と、前記信号線上で任意に決定された出力端と、前記出力端に接続された判断手段とを備え、前記複数の温度センサ回路の出力が、各々の温度センサ回路で異なる抵抗値となる抵抗を介して前記判断手段に入力されるように前記信号線に接続された温度監視回路を提供する。
かかる温度監視回路によれば、1本の信号線を介して、各温度センサ回路が発生する2値信号を反映した電圧が判断手段に出力されるので、判断手段は、目標値を検出した温度センサ回路を特定することができる。
好ましい態様において、前記抵抗は、前記複数の温度センサ回路のうち、任意の一温度センサ回路が目標値を検出した際に、当該温度センサ回路に応じて一意に定まる電圧を前記信号線の出力端に出力するように決定されている。
また、他の好ましい態様において、前記抵抗は、前記複数の温度センサ回路における一温度センサ回路が目標値を検出した際に前記信号線の出力端に出力される電圧が各温度センサ回路間で等しい差分を持つように決定されている。
この態様によれば、いずれの温度センサ回路が目標値を検出したかについて、判断手段の誤認を効果的に防止することができる。
In order to solve the above problems, the present invention relates to an element whose physical properties change according to temperature, a conversion means for converting the change in the physical properties of the element into a voltage change, and an output voltage of the conversion means. A plurality of temperature sensor circuits each having a binarizing means for converting to a binary signal and outputting from an output terminal are provided, and one signal line serving as an output path of the plurality of temperature sensor circuits and connected to the signal line A power source, an output terminal arbitrarily determined on the signal line, and a determination unit connected to the output terminal, and outputs of the plurality of temperature sensor circuits have different resistance values in the respective temperature sensor circuits. There is provided a temperature monitoring circuit connected to the signal line so as to be input to the determination means via a resistor.
According to such a temperature monitoring circuit, the voltage reflecting the binary signal generated by each temperature sensor circuit is output to the determination means via one signal line, so that the determination means detects the temperature at which the target value is detected. A sensor circuit can be identified.
In a preferred aspect, the resistor has a voltage that is uniquely determined according to the temperature sensor circuit when an arbitrary temperature sensor circuit of the plurality of temperature sensor circuits detects a target value. Has been determined to output.
In another preferable aspect, the resistor has a voltage that is output to the output end of the signal line when one temperature sensor circuit in the plurality of temperature sensor circuits detects a target value is equal between the temperature sensor circuits. It is decided to have a difference.
According to this aspect, it is possible to effectively prevent misjudgment of the determination means as to which temperature sensor circuit has detected the target value.

以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。
<A:第1実施形態>
図1は、本発明の第1実施形態に係る温度監視装置の構成を示す回路図である。この温度監視装置は、大別して、温度センサ部10と、抵抗分圧回路部20と、電源30と、A/Dコンバータ32と、マイクロコンピュータ(以下、マイコンという)33とにより構成されている。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
<A: First Embodiment>
FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of a temperature monitoring apparatus according to the first embodiment of the present invention. This temperature monitoring device is roughly divided into a temperature sensor unit 10, a resistance voltage dividing circuit unit 20, a power source 30, an A / D converter 32, and a microcomputer (hereinafter referred to as a microcomputer) 33.

温度センサ部10は、図示しない複数の被監視体(この例では4個)に配置された温度センサ回路Sk(k:センサ回路番号、k=1〜4)からなる。各温度センサ回路Skは、抵抗12およびPTC(正温度特性)サーミスタ13は、電源11および接地間に直列に接続されており、電源11の出力電圧V2を分圧する抵抗分圧回路を構成している。ここで、PTCサーミスタ13は、目標温度Tにおいて電気抵抗値が急激に増加する特性をもち、被監視体に接触した状態で、あるいは被監視体の近傍に固定されている。なお、目標温度Tは、被監視対象毎に変えてもよい。インバータ14は、例えば出力部がNチャネルMOSトランジスタにより構成されたオープンドレインタイプのインバータである。このインバータ14の入力端には、抵抗12およびPTCサーミスタ13の接続点の電圧、すなわち、抵抗分圧回路の出力電圧が与えられる。   The temperature sensor unit 10 includes a temperature sensor circuit Sk (k: sensor circuit number, k = 1 to 4) arranged on a plurality of monitored objects (four in this example) not shown. Each temperature sensor circuit Sk includes a resistor 12 and a PTC (positive temperature characteristic) thermistor 13 connected in series between the power supply 11 and the ground, and constitutes a resistance voltage dividing circuit that divides the output voltage V2 of the power supply 11. Yes. Here, the PTC thermistor 13 has a characteristic that the electric resistance value rapidly increases at the target temperature T, and is fixed in the state of being in contact with the monitored object or in the vicinity of the monitored object. The target temperature T may be changed for each monitored object. The inverter 14 is, for example, an open drain type inverter whose output unit is configured by an N channel MOS transistor. The voltage at the connection point of the resistor 12 and the PTC thermistor 13, that is, the output voltage of the resistance voltage dividing circuit is applied to the input terminal of the inverter 14.

ここで、被監視体の温度が目標温度Tより低い場合、PTCサーミスタ13の抵抗値は低いため、抵抗分圧回路の出力電圧は、インバータ14の閾値電圧よりも低くなる。このため、インバータ14の出力部は、NチャネルMOSトランジスタがオフ状態であり、出力部の出力端が浮いている状態となる。以下では、説明の便宜のため、この状態のことを温度センサ回路SkがOFFであるという。一方、被監視体の温度が目標温度T以上である場合、PTCサーミスタ13の抵抗値は高く、抵抗分圧回路の出力電圧は、インバータ14の閾値電圧よりも高くなる。このため、インバータ14の出力部は、NチャネルMOSトランジスタがオン状態であり、出力端と接地間がこのNチャネルMOSトランジスタを介して短絡されている状態となる。以下では、説明の便宜のため、この状態のことを温度センサ回路SkがONであるという。図2には、発明の理解を容易にするため、各温度センサ回路Skを、ON/OFFの2状態を有するスイッチにより表したものが示されている。   Here, when the temperature of the monitored object is lower than the target temperature T, since the resistance value of the PTC thermistor 13 is low, the output voltage of the resistance voltage dividing circuit is lower than the threshold voltage of the inverter 14. For this reason, the output part of the inverter 14 is in a state where the N-channel MOS transistor is off and the output terminal of the output part is floating. Hereinafter, for convenience of explanation, this state is referred to as the temperature sensor circuit Sk being OFF. On the other hand, when the temperature of the monitored object is equal to or higher than the target temperature T, the resistance value of the PTC thermistor 13 is high, and the output voltage of the resistance voltage dividing circuit is higher than the threshold voltage of the inverter 14. For this reason, in the output portion of the inverter 14, the N-channel MOS transistor is in an ON state, and the output terminal and the ground are short-circuited via the N-channel MOS transistor. Hereinafter, for convenience of explanation, this state is referred to as the temperature sensor circuit Sk being ON. FIG. 2 shows each temperature sensor circuit Sk represented by a switch having two ON / OFF states for easy understanding of the invention.

抵抗分圧回路部20は、信号線31を有している。この信号線31は、電源30からA/Dコンバータ32のアナログ入力端にかけて、抵抗値3R(Rは任意の値)の抵抗21と抵抗値Rを有するn個(nは被監視体の数)の抵抗22−k(k=1〜n)を順次直列に接続したものである。   The resistance voltage dividing circuit unit 20 has a signal line 31. This signal line 31 has n resistors 21 having a resistance value 3R (R is an arbitrary value) and a resistance value R from the power supply 30 to the analog input terminal of the A / D converter 32 (n is the number of monitored objects). Resistors 22-k (k = 1 to n) are sequentially connected in series.

この信号線31上において、隣り合った2つの抵抗間の接続点である各ノードNk(k=1〜n)は、抵抗23−k(k=1〜n)を各々介して、温度センサ回路Sk(k=1〜n)のインバータ14の出力端に各々接続されている。ここで、抵抗23−k(k=1〜n)の抵抗値は、次のようになっている。まず、電源30に最も近い抵抗21と抵抗22−1との接続点であるノードN1には、抵抗値(n−1)R(図示の例では3R)の抵抗23−1が接続されている。次に抵抗22−1と抵抗22−2の接続点であるノードN2には、抵抗値(n−2)R(図示の例では2R)の抵抗23−2が接続されている。以下同様であり、抵抗22−(k−1)と抵抗22−kとの接続点であるノードNkには、抵抗値(n−k)Rの抵抗23−kが接続されている。図1には、n=4の場合が示されており、抵抗23−k(k=1〜4)の抵抗値は、各々、3R、2R、R、0となっている。   On this signal line 31, each node Nk (k = 1 to n), which is a connection point between two adjacent resistors, is connected to a temperature sensor circuit via a resistor 23-k (k = 1 to n). Each is connected to the output terminal of the inverter 14 of Sk (k = 1 to n). Here, the resistance value of the resistor 23-k (k = 1 to n) is as follows. First, a resistor 23-1 having a resistance value (n−1) R (3R in the illustrated example) is connected to a node N 1 that is a connection point between the resistor 21 and the resistor 22-1 closest to the power supply 30. . Next, a resistor 23-2 having a resistance value (n-2) R (2R in the illustrated example) is connected to a node N2, which is a connection point between the resistor 22-1 and the resistor 22-2. The same applies to the following, and a resistor 23-k having a resistance value (n−k) R is connected to a node Nk that is a connection point between the resistor 22- (k−1) and the resistor 22-k. FIG. 1 shows a case where n = 4, and the resistance values of the resistors 23-k (k = 1 to 4) are 3R, 2R, R, and 0, respectively.

A/Dコンバータ32は、信号線31を介して供給されるアナログ電圧をデジタルデータに変換する。マイコン33は、このデジタルデータに基づいて、目標温度以上の被監視体があるか否か、あるとしたらどの被監視体かを判断する。   The A / D converter 32 converts an analog voltage supplied via the signal line 31 into digital data. Based on this digital data, the microcomputer 33 determines whether there is a monitored object having a temperature equal to or higher than the target temperature, and if so, which monitored object.

次に、本実施形態の動作について説明する。
図2において、いずれの被監視体の温度も目標温度T未満である場合、全ての温度センサ回路Sk(k=1〜n)がOFFとなる。このため、A/Dコンバータ32の入力電圧Vinは、電源30の出力電圧V1となる。
Next, the operation of this embodiment will be described.
In FIG. 2, when the temperature of any monitored object is lower than the target temperature T, all the temperature sensor circuits Sk (k = 1 to n) are turned off. For this reason, the input voltage Vin of the A / D converter 32 becomes the output voltage V1 of the power supply 30.

一方、任意の1つのノードNkに接続された温度センサ回路がONになると、抵抗分圧回路50のうち、電源30からノードNkに至る区間の抵抗と抵抗23−kとにより電圧V1が分圧され、この電圧が抵抗22−k〜22−nを介し、入力電圧VinとしてA/Dコンバータ32に入力される。この入力電圧Vinは、いずれのノードNkが分圧された電圧の出力端となるか、すなわち、いずれの温度センサ回路SkがONであるかに依存する。具体的には、電源30からノードNkに至る区間の抵抗の抵抗値は3R+(k−1)Rとなり、抵抗23−kの抵抗値は(n−k)Rであるから、入力電圧Vinは次式(1)により与えられる。
Vin
=V1・(n−k)R/{3R+(k−1)R+(n−k)R}
=V1・(n−k)R/(2R+nR) ・・・(1)
ただし、上記式において、kはONになっている温度センサ回路Skのインデックスである。A/Dコンバータ32は、この入力電圧Vinをデジタルデータに変換し、マイコン33は、このデジタルデータに基づき、ONになった温度センサ回路Skを特定する。かかる動作によって、目標温度に達した(「温度異常」とする)被監視体が特定される。
On the other hand, when the temperature sensor circuit connected to any one node Nk is turned on, the voltage V1 is divided by the resistance in the section from the power supply 30 to the node Nk and the resistance 23-k in the resistance voltage dividing circuit 50. This voltage is input to the A / D converter 32 as the input voltage Vin via the resistors 22-k to 22-n. This input voltage Vin depends on which node Nk serves as the output terminal of the divided voltage, that is, which temperature sensor circuit Sk is ON. Specifically, the resistance value of the resistor in the section from the power supply 30 to the node Nk is 3R + (k−1) R, and the resistance value of the resistor 23-k is (n−k) R. Therefore, the input voltage Vin is It is given by the following equation (1).
Vin
= V1 · (n−k) R / {3R + (k−1) R + (n−k) R}
= V1 · (n−k) R / (2R + nR) (1)
In the above equation, k is an index of the temperature sensor circuit Sk that is ON. The A / D converter 32 converts the input voltage Vin into digital data, and the microcomputer 33 specifies the temperature sensor circuit Sk that is turned on based on the digital data. By such an operation, the monitored object that has reached the target temperature (referred to as “temperature abnormality”) is specified.

図3は、各温度センサ回路Skの状態とA/Dコンバータ32の入力電圧Vinとの関係を示している。本実施形態によれば、温度センサ回路S1がONであるとき(すなわち、上記式(1)においてk=1であるとき)、抵抗分圧回路部20の分圧比は最も高くなるが、その場合でも、分圧比は、(n−1)R/(2R+nR)、n=4の場合の分圧比は3/6となり、温度異常が全く発生していないときの分圧比である1よりもかなり低い。従って、本実施形態によれば、温度異常が発生しているか否かを容易に判別することができる。   FIG. 3 shows the relationship between the state of each temperature sensor circuit Sk and the input voltage Vin of the A / D converter 32. According to the present embodiment, when the temperature sensor circuit S1 is ON (that is, when k = 1 in the above formula (1)), the voltage dividing ratio of the resistance voltage dividing circuit unit 20 is the highest. However, the partial pressure ratio is (n-1) R / (2R + nR), and the partial pressure ratio when n = 4 is 3/6, which is considerably lower than 1 which is the partial pressure ratio when no temperature abnormality has occurred. . Therefore, according to the present embodiment, it is possible to easily determine whether or not a temperature abnormality has occurred.

また、式(1)にも示されているように、抵抗分圧回路部20の分圧比は、ONになっている温度センサ回路Skのインデックスkに対してリニアに変化する。そして、V1・(n−1)R/(2R+nR)〜0の範囲において、V1・R/(2R+nR)間隔で並んだn種類の電圧のうち、ONになっている温度センサ回路Skに対応したものが入力電圧VinとしてA/Dコンバータ32に入力される。この場合、隣り合った温度センサ回路SkおよびSk+1間において、各温度センサ回路SkがONであるときの各入力電圧Vin間には、V1・R/(2R+nR)の差がある。従って、マイコン33は、A/Dコンバータ32の分解能が低い場合でも、誤認することなく、ONとなっている温度センサ回路Skを求めることができる。   Further, as shown in the equation (1), the voltage dividing ratio of the resistance voltage dividing circuit unit 20 changes linearly with respect to the index k of the temperature sensor circuit Sk that is ON. In the range of V1 · (n−1) R / (2R + nR) to 0, among the n types of voltages arranged at intervals of V1 · R / (2R + nR), it corresponds to the temperature sensor circuit Sk that is ON. Is input to the A / D converter 32 as the input voltage Vin. In this case, between the adjacent temperature sensor circuits Sk and Sk + 1, there is a difference of V1 · R / (2R + nR) between each input voltage Vin when each temperature sensor circuit Sk is ON. Therefore, even when the resolution of the A / D converter 32 is low, the microcomputer 33 can obtain the temperature sensor circuit Sk that is ON without misunderstanding.

本実施形態において、複数の温度センサ回路がONとなった場合、いずれの温度センサ回路がONになっているかを特定することは困難である。しかしながら、いずれの温度センサ回路がONになったとしても、抵抗分圧回路部20の分圧比は、温度センサ回路が全てOFFである場合に比べて十分に低いので、少なくとも温度異常の有無については誤認することはない。さらに一箇所でも温度異常が検知された場合には、温度監視装置は監視対象機器の動作を直ちに停止させるのが一般的であるから、複数の温度センサ回路がONとなるような事態は生じにくい。なお、図1および図2には、4箇所の被監視体の温度監視を行う場合の構成例を示したが、被監視体の個数はこれに限定されるものではない。例えば、自動演奏ピアノのように「88」ある鍵盤の全てにサーミスタを近接配置し、温度を監視することも勿論可能である。   In this embodiment, when a plurality of temperature sensor circuits are turned on, it is difficult to specify which temperature sensor circuit is turned on. However, even if any temperature sensor circuit is turned on, the voltage dividing ratio of the resistance voltage dividing circuit unit 20 is sufficiently lower than when all the temperature sensor circuits are turned off. There is no misunderstanding. Furthermore, when a temperature abnormality is detected even at one location, the temperature monitoring device generally stops the operation of the monitored device immediately, so that it is unlikely that a plurality of temperature sensor circuits will be turned on. . Although FIG. 1 and FIG. 2 show a configuration example in the case of performing temperature monitoring of four monitored objects, the number of monitored objects is not limited to this. For example, it is of course possible to monitor the temperature by arranging the thermistor close to all of the “88” keys like an automatic performance piano.

<B:第2実施形態>
図4は、本実施形態に係る温度監視装置の回路図である。尚、図2と重複する部分については同一の符号を付してその説明を省略する。上記第1実施形態においては、温度センサ回路Skの出力端に抵抗23−kが接続されていた。これに対し、本実施形態は、この抵抗23−kに相当するものをなくし、温度監視装置の回路構成を単純化したものである。本実施形態において、A/Dコンバータ32の入力端は、抵抗値Rupを有する抵抗41により電源30にプルアップされている。抵抗分圧回路部40は、温度センサ部10における温度センサ回路Sk(k=0〜n−1)のON/OFF状態を反映した電圧VinをA/Dコンバータ32の入力端に伝える信号線43を有している。この信号線43は、抵抗値Rk(k=0〜n−1)を有する抵抗42−k(k=0〜n−1)を直列接続してなるものであり、抵抗値R0を有する抵抗42−0の一端が、A/Dコンバータ32の入力端に接続されている。ここで、抵抗42−k(k=0〜n−1)を各々間に挟んだ信号線43上の各ノードのうちA/Dコンバータ32の入力端を除くものを、A/Dコンバータ32から近い順にNk(k=0〜n−1)とすると、各ノードNk(k=0〜n−1)は、温度センサ回路Sk(k=1〜n)に接続されている。
<B: Second Embodiment>
FIG. 4 is a circuit diagram of the temperature monitoring device according to the present embodiment. In addition, about the part which overlaps with FIG. 2, the same code | symbol is attached | subjected and the description is abbreviate | omitted. In the first embodiment, the resistor 23-k is connected to the output terminal of the temperature sensor circuit Sk. On the other hand, the present embodiment eliminates the one corresponding to the resistor 23-k and simplifies the circuit configuration of the temperature monitoring device. In the present embodiment, the input end of the A / D converter 32 is pulled up to the power supply 30 by a resistor 41 having a resistance value Rup. The resistance voltage dividing circuit unit 40 transmits a voltage Vin reflecting the ON / OFF state of the temperature sensor circuit Sk (k = 0 to n−1) in the temperature sensor unit 10 to the input terminal of the A / D converter 32. have. This signal line 43 is formed by connecting resistors 42-k (k = 0 to n-1) having a resistance value Rk (k = 0 to n-1) in series, and a resistor 42 having a resistance value R0. One end of −0 is connected to the input end of the A / D converter 32. Here, from the A / D converter 32, the nodes other than the input end of the A / D converter 32 among the nodes on the signal line 43 sandwiching the resistors 42-k (k = 0 to n-1) between them are removed. Assuming Nk (k = 0 to n−1) in the closest order, each node Nk (k = 0 to n−1) is connected to the temperature sensor circuit Sk (k = 1 to n).

本実施形態においては、次の条件を満たすように、抵抗値RupおよびRk(k=0〜n−1)が決定されている。
a.温度センサ回路Sn−1のみがONであるとき、A/Dコンバータ32に対する入力電圧Vinが、電源30の出力電圧のほぼ1/2になること。
b.温度センサ回路Sk(k=0〜n−1)の1つがONとなる場合において、A/Dコンバータ32に対する入力電圧Vinが、ONとなる温度センサSkのインデックスkに対してリニアに変化すること。
In the present embodiment, the resistance values Rup and Rk (k = 0 to n−1) are determined so as to satisfy the following condition.
a. When only the temperature sensor circuit Sn-1 is ON, the input voltage Vin to the A / D converter 32 is approximately ½ of the output voltage of the power supply 30.
b. When one of the temperature sensor circuits Sk (k = 0 to n−1) is turned on, the input voltage Vin to the A / D converter 32 changes linearly with respect to the index k of the temperature sensor Sk that is turned on. .

以下、この条件を満たす抵抗値RupおよびRk(k=0〜n−1)の算出方法を説明する。まず、図4において、電源30の出力電圧V1とすると、A/Dコンバータ32に対する入力電圧Vinは、次式(2)のようになる。
Vin=V1×ΣRi/(Rup+ΣRi) ・・・(2)
ただし、上記式(2)においてΣRiは、A/Dコンバータ32の入力端から、ONである温度センサ回路Skの出力端までの間の各抵抗の抵抗値の総和Ri(i=0〜k)である。
Hereinafter, a method of calculating the resistance values Rup and Rk (k = 0 to n−1) satisfying this condition will be described. First, in FIG. 4, when the output voltage V1 of the power supply 30 is assumed, the input voltage Vin to the A / D converter 32 is expressed by the following equation (2).
Vin = V1 × ΣRi / (Rup + ΣRi) (2)
However, in the above equation (2), ΣRi is the sum Ri (i = 0 to k) of the resistance values of the resistors from the input end of the A / D converter 32 to the output end of the temperature sensor circuit Sk that is ON. It is.

この式(2)の右辺と左辺をV1によって除算すると、次式に示す抵抗分圧回路部40の分圧比が得られる。
Vin/V1=ΣRi/(Rup+ΣRi) ・・・(3)
上記条件aおよびbを満たすためには、この分圧比が例えば次式を満足すればよい。
Vin/V1
=ΣRi/(Rup+ΣRi)
=k/{2(n−1)} ・・・(4)
By dividing the right side and the left side of the equation (2) by V1, the voltage dividing ratio of the resistance voltage dividing circuit unit 40 shown in the following equation is obtained.
Vin / V1 = ΣRi / (Rup + ΣRi) (3)
In order to satisfy the above conditions a and b, this voltage division ratio only needs to satisfy the following equation, for example.
Vin / V1
= ΣRi / (Rup + ΣRi)
= K / {2 (n-1)} (4)

ここで、簡単のため、Rup=1とおくと、上記式(4)は更に簡略化され、次式(5)となる。
ΣRi/(1+ΣRi)=k/{2(n−1)} ・・・(5)
この式(5)式をΣRiについて解くと、下記(6)式となる。
ΣRi=k/{2(n−1)−k} ・・・(6)
この式(6)式は、今着目している温度センサ回路Skだけでなく、k−1番目の温度センサ回路Sk−1がONとなる場合についても適用可能である。従って、i=0〜k−1までのRiの総和をΣRi’とすると、次式が成立するはずである。
ΣRi’=(k−1)/{2(n−1)−(k−1)} ・・・(7)
Here, for the sake of simplicity, when Rup = 1, the above formula (4) is further simplified to the following formula (5).
ΣRi / (1 + ΣRi) = k / {2 (n−1)} (5)
When this equation (5) is solved for ΣRi, the following equation (6) is obtained.
ΣRi = k / {2 (n−1) −k} (6)
This equation (6) is applicable not only to the temperature sensor circuit Sk of interest, but also to the case where the (k−1) th temperature sensor circuit Sk-1 is turned on. Therefore, if the sum of Ri from i = 0 to k−1 is ΣRi ′, the following equation should be established.
ΣRi ′ = (k−1) / {2 (n−1) − (k−1)} (7)

ここで、上記式(6)および(7)の右辺同士の差分、左辺同士の差分をとると、次式のようにRkが得られる。
ΣRi−ΣRi’
=Rk
=k/{2(n−1)−k}−(k−1)/{2(n−1)−(k−1)}
=2(n−1)/{k−(4n−3)k+2(2n−1)(n−1)}
・・・(8)
Here, if the difference between the right sides and the difference between the left sides of the above formulas (6) and (7) are taken, Rk is obtained as in the following formula.
ΣRi-ΣRi '
= Rk
= K / {2 (n-1) -k}-(k-1) / {2 (n-1)-(k-1)}
= 2 (n-1) / {k 2 - (4n-3) k + 2 (2n-1) (n-1)}
... (8)

図5は、被監視体の数nを「1」〜「8」とした各場合について、式(8)によって得られた抵抗42−k(k=0〜n−1)の抵抗値Rk(k=0〜n−1)を示したものである。式(8)により得られるのは、Rupを「1」とした場合のRk、すなわち、抵抗比率Rk/Rupであるから、実際に回路に組み入れる抵抗42−kの抵抗値RkはRup倍する必要がある。図5では、通分して整数化された抵抗値がカッコ内に示されている。
本実施形態においても、上記第1実施形態と同様な効果が得られる。
FIG. 5 shows the resistance value Rk () of the resistor 42-k (k = 0 to n−1) obtained by the equation (8) in each case where the number n of the monitored objects is “1” to “8”. k = 0 to n-1). The equation (8) provides Rk when Rup is “1”, that is, the resistance ratio Rk / Rup. Therefore, the resistance value Rk of the resistor 42-k that is actually incorporated in the circuit needs to be multiplied by Rup. There is. In FIG. 5, resistance values that are converted into whole numbers are shown in parentheses.
Also in this embodiment, the same effect as the first embodiment can be obtained.

<C:変形例>
以上、本発明の実施形態について説明したが、上記実施形態はあくまでも例示であり、上記実施形態に対しては、本発明の趣旨から逸脱しない範囲で様々な変形を加えることができる。
<C: Modification>
The embodiment of the present invention has been described above, but the above embodiment is merely an example, and various modifications can be made to the above embodiment without departing from the spirit of the present invention.

例えば、上記第2実施形態において、抵抗値Rk(k=0〜n−1)を固定値Rとし、抵抗値Rupを例えば(n−1)Rとしてもよい。この場合、ONとなる温度センサ回路SkのインデックスkとVinとはリニアな関係にならない。しかし、抵抗41の値が抵抗42−k(k=0〜n−1)より十分に大きいので、正常(温度異常が発生していない)時と異常(温度異常が発生している)時のVinの値に大きな差をもたせることができる。また、いずれか一箇所で温度異常が発生したときには、Vinの値が一意に決定されるから、本発明の本質的な特徴は阻害されない。更には、抵抗42−k(k=0〜n−1)の抵抗値を全て同一とすることによって、温度監視装置を構成する部品の種類数が減り、上記第2実施形態よりもコストダウンを図ることができる。   For example, in the second embodiment, the resistance value Rk (k = 0 to n−1) may be a fixed value R, and the resistance value Rup may be (n−1) R, for example. In this case, the index k of the temperature sensor circuit Sk that is turned ON and Vin do not have a linear relationship. However, since the value of the resistor 41 is sufficiently larger than the resistor 42-k (k = 0 to n-1), it is normal (no temperature abnormality has occurred) and abnormal (a temperature abnormality has occurred). A large difference can be given to the value of Vin. Further, when a temperature abnormality occurs in any one place, the value of Vin is uniquely determined, and thus the essential features of the present invention are not hindered. Furthermore, by making all the resistance values of the resistors 42-k (k = 0 to n-1) the same, the number of types of parts constituting the temperature monitoring device is reduced, and the cost can be reduced more than in the second embodiment. You can plan.

なお、上記実施形態および変形例において、温度検知体としてPTCサーミスタを使用しているが、温度に応じて電気抵抗値が変化するものであれば、代替可能である。例えば、NTC(負温度特性)サーミスタを用いた場合は、抵抗値の温度特性線の傾きが反転するので、低温検出用の温度センサ回路に用いることができる。   In the above-described embodiments and modifications, the PTC thermistor is used as the temperature detector, but it can be replaced if the electrical resistance value changes according to the temperature. For example, when an NTC (negative temperature characteristic) thermistor is used, the slope of the temperature characteristic line of the resistance value is inverted, so that it can be used for a temperature sensor circuit for low temperature detection.

本発明の第1実施形態に係る温度監視装置の構成を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the structure of the temperature monitoring apparatus which concerns on 1st Embodiment of this invention. 同温度監視装置の温度センサ回路をスイッチで表現した等価回路図である。It is the equivalent circuit diagram which expressed the temperature sensor circuit of the temperature monitoring apparatus with the switch. 同実施形態におけるA/Dコンバータの入力電圧Vinと温度センサ回路の状態との関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the input voltage Vin of the A / D converter in the same embodiment, and the state of a temperature sensor circuit. 本発明の第2実施形態に係る温度監視装置の構成を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the structure of the temperature monitoring apparatus which concerns on 2nd Embodiment of this invention. 同実施形態における信号線上の抵抗とプルアップ抵抗の比率を示す図である。It is a figure which shows the ratio of the resistance on the signal wire | line in this embodiment, and a pull-up resistance.

符号の説明Explanation of symbols

10・・・温度センサ部、11・・・電源、12・・・抵抗、13・・・PTCサーミスタ、14・・・インバータ、20・・・抵抗分圧回路部、21・・・抵抗、22−k・・・抵抗、23−k・・・抵抗、30・・・電源、31・・・信号線、32・・・A/Dコンバータ、33・・・マイコン、40・・・抵抗分圧回路部、41・・・抵抗、42−k・・・抵抗。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Temperature sensor part, 11 ... Power supply, 12 ... Resistance, 13 ... PTC thermistor, 14 ... Inverter, 20 ... Resistance voltage dividing circuit part, 21 ... Resistance, 22 -K ... resistance, 23-k ... resistance, 30 ... power supply, 31 ... signal line, 32 ... A / D converter, 33 ... microcomputer, 40 ... resistance voltage division Circuit part, 41... Resistor, 42-k.

Claims (3)

温度に応じて物理的性質が変化する素子、及び前記素子の前記物理的性質の変化を電圧変化に変換する変換手段、及び前記変換手段の出力電圧を2値信号に変換して出力端子から出力する2値化手段、
を備えた温度センサ回路を複数備えると共に、
前記複数の温度センサ回路の出力経路となる一本の信号線と、
前記信号線に接続された電源と、
前記信号線上で任意に決定された出力端と、
前記出力端に接続された判断手段とを備え、
前記複数の温度センサ回路の出力が、各々の温度センサ回路で異なる抵抗値となる抵抗を介して前記判断手段に入力されるように前記信号線に接続された温度監視回路。
An element whose physical property changes according to temperature, a conversion means for converting the change in the physical property of the element into a voltage change, and an output voltage of the conversion means is converted into a binary signal and output from an output terminal Binarization means for
With a plurality of temperature sensor circuits with
One signal line serving as an output path of the plurality of temperature sensor circuits;
A power source connected to the signal line;
An output terminal arbitrarily determined on the signal line;
Determination means connected to the output end,
A temperature monitoring circuit connected to the signal line so that outputs of the plurality of temperature sensor circuits are input to the determination means via resistors having different resistance values in the respective temperature sensor circuits.
前記抵抗は、前記複数の温度センサ回路のうち、任意の一温度センサ回路が目標値を検出した際に、当該温度センサ回路に応じて一意に定まる電圧を前記信号線の出力端に出力するように決定されている
ことを特徴とする請求項1記載の温度監視装置。
The resistor outputs a voltage uniquely determined according to the temperature sensor circuit to the output end of the signal line when any one of the plurality of temperature sensor circuits detects a target value. The temperature monitoring device according to claim 1, wherein the temperature monitoring device is determined as follows.
前記抵抗は、前記複数の温度センサ回路における一温度センサ回路が目標値を検出した際に前記信号線の出力端に出力される電圧が各温度センサ回路間で等しい差分を持つように決定されている
ことを特徴とする請求項1記載の温度監視装置。
The resistance is determined such that a voltage output to the output end of the signal line when one temperature sensor circuit in the plurality of temperature sensor circuits detects a target value has an equal difference between the temperature sensor circuits. The temperature monitoring apparatus according to claim 1, wherein:
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008142370A (en) * 2006-12-12 2008-06-26 Fujishoji Co Ltd Game machine
KR20190002966A (en) * 2017-06-30 2019-01-09 현대모비스 주식회사 Poly phase Converter with Fault Detection

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52475A (en) * 1975-06-23 1977-01-05 Nippon Seimitsu Keisoku Kk Central temperature supervisor
JPS55118139U (en) * 1979-02-16 1980-08-21
JPS60222949A (en) * 1984-03-12 1985-11-07 テ−ガル・コ−ポレ−シヨン Existence sensor for module
JPS6292720A (en) * 1985-10-16 1987-04-28 住友電気工業株式会社 Abnormal overheat detector of bus-duct joint part
JPS6327841U (en) * 1986-08-05 1988-02-24
JPH04231884A (en) * 1990-11-21 1992-08-20 Tokyo Electric Co Ltd State monitor apparatus in electronic machinery
JPH11101837A (en) * 1997-09-26 1999-04-13 Toshiba Corp Failure diagnosis circuit of electric apparatus
JP2003087965A (en) * 2001-09-14 2003-03-20 Kenwood Corp Temperature protection circuit and electronic device

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52475A (en) * 1975-06-23 1977-01-05 Nippon Seimitsu Keisoku Kk Central temperature supervisor
JPS55118139U (en) * 1979-02-16 1980-08-21
JPS60222949A (en) * 1984-03-12 1985-11-07 テ−ガル・コ−ポレ−シヨン Existence sensor for module
JPS6292720A (en) * 1985-10-16 1987-04-28 住友電気工業株式会社 Abnormal overheat detector of bus-duct joint part
JPS6327841U (en) * 1986-08-05 1988-02-24
JPH04231884A (en) * 1990-11-21 1992-08-20 Tokyo Electric Co Ltd State monitor apparatus in electronic machinery
JPH11101837A (en) * 1997-09-26 1999-04-13 Toshiba Corp Failure diagnosis circuit of electric apparatus
JP2003087965A (en) * 2001-09-14 2003-03-20 Kenwood Corp Temperature protection circuit and electronic device

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008142370A (en) * 2006-12-12 2008-06-26 Fujishoji Co Ltd Game machine
JP4584236B2 (en) * 2006-12-12 2010-11-17 株式会社藤商事 Game machine
KR20190002966A (en) * 2017-06-30 2019-01-09 현대모비스 주식회사 Poly phase Converter with Fault Detection
KR20220081961A (en) * 2017-06-30 2022-06-16 현대모비스 주식회사 Poly phase Converter with Fault Detection
KR102413234B1 (en) 2017-06-30 2022-06-24 현대모비스 주식회사 Poly phase Converter with Fault Detection
KR102608995B1 (en) 2017-06-30 2023-12-01 현대모비스 주식회사 Poly phase Converter with Fault Detection

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