JP2005077180A - Cause estimation device and cause estimation program and cause estimation method of surface defect of metal plate - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a cause estimation device and a cause estimation program and a cause estimation method capable of estimating a cause of surface defects of a metal plate rapidly and with high accuracy. <P>SOLUTION: The cause estimation device 10 comprises a storage part 13 receiving data concerning the surface defects of a cause estimation object and storing the data, a classification part 14 classifying the surface defects of the cause estimation object into cyclic defects and acyclic defects based on the data concerning the surface defects of the cause estimation object stored in the storage part 13, a retrieval part 15 retrieving an estimation cause corresponding to the data concerning the surface defects of the cause estimation object from a database 11 in which the data concerning the surface defects generated in the past is stored concerning the surface defects of the cause estimation object classified by the classification part 14, and an output part 16 outputting the estimation cause discovered by the retrieval part 15. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、アルミニウム板材や銅板材等の金属板材に表面欠陥が生じた場合に、その原因を推定する際に用いる原因推定装置および原因推定プログラムならびに原因推定方法に関する。   The present invention relates to a cause estimation device, a cause estimation program, and a cause estimation method used when estimating the cause when a surface defect occurs in a metal plate such as an aluminum plate or a copper plate.

従来、金属板材の外観検査は、製造中または製造後に、目視観察により行われていたが、目視観察による外観検査では個人差があるため、近年、検査装置を導入するケースが増えている。
検査装置としては、例えば、CCDカメラを利用した装置や、レーザー光線を利用した装置等が用いられる。図6に、CCDカメラを利用した検査装置の一例を示す。この検査装置60にて金属板材61を検査する場合は、照明装置62によって照明された金属板材61の表面の画像をCCDカメラ63で撮像し、その画像データを欠陥判定器64に入力する。そして、予め設定された検査基準と比較することにより良否を判定し、表面欠陥の検出を行う。
Conventionally, an appearance inspection of a metal plate material has been performed by visual observation during or after manufacture. However, since there are individual differences in the appearance inspection by visual observation, in recent years, the number of cases in which an inspection apparatus is introduced is increasing.
As the inspection device, for example, a device using a CCD camera, a device using a laser beam, or the like is used. FIG. 6 shows an example of an inspection apparatus using a CCD camera. When the inspection apparatus 60 inspects the metal plate material 61, an image of the surface of the metal plate material 61 illuminated by the illumination device 62 is captured by the CCD camera 63, and the image data is input to the defect determination device 64. Then, the quality is determined by comparing with the inspection standard set in advance, and the surface defect is detected.

検査装置60では、画像の濃淡データにより表面欠陥の検出を行なうため、例えば、金属板材61に疵が発生した場合に、疵の大きさやコントラスト等の2次元的なデータは得られるが、疵の深さに関するデータは得られないのが現状である。   Since the inspection apparatus 60 detects surface defects based on image density data, for example, when wrinkles occur in the metal plate 61, two-dimensional data such as wrinkle size and contrast can be obtained. At present, data on depth cannot be obtained.

一方、図7に示すようなレーザー光線を利用した検査装置70を用いる場合は、金属板材71上に、レーザー光源72からのレーザー光線73を、回転ミラー74を介して走査し、更に、金属板材71からの反射光75を、回折レンズ76により回折させる。そして、その回折光77を、光検出器78を介して欠陥判定器79に入力する。そして、予め設定された検査基準と比較することにより良否を判定し、表面欠陥の検出を行う。   On the other hand, when an inspection apparatus 70 using a laser beam as shown in FIG. 7 is used, a laser beam 73 from a laser light source 72 is scanned on a metal plate 71 via a rotating mirror 74, and further from the metal plate 71. The reflected light 75 is diffracted by the diffraction lens 76. Then, the diffracted light 77 is input to the defect determiner 79 via the photodetector 78. Then, the quality is determined by comparing with the inspection standard set in advance, and the surface defect is detected.

検査装置70では、回折光77の変化により表面欠陥の検出を行う。回折光77は、金属板材71の表面の凹凸により変化するため、表面欠陥の深さに関するデータが得られる。しかし、2次元的な表面欠陥である変色等については、検出が困難であるのが現状である。なお、前記した検査装置60および検査装置70は、図には示していないが、金属板材61,71の両面(表面と裏面)を検査できるように、金属板材61,71の表面側および裏面側にそれぞれ設置されている。また、金属板材61,71の搬送速度は、およそ50〜1000m/min程度である。   In the inspection apparatus 70, the surface defect is detected by the change of the diffracted light 77. Since the diffracted light 77 changes due to the unevenness of the surface of the metal plate 71, data on the depth of the surface defect can be obtained. However, it is difficult to detect discoloration that is a two-dimensional surface defect. Although the above-described inspection device 60 and inspection device 70 are not shown in the drawing, the front surface side and the back surface side of the metal plate materials 61 and 71 so that both surfaces (front and back surfaces) of the metal plate materials 61 and 71 can be inspected. Respectively. Moreover, the conveyance speed of the metal plate materials 61 and 71 is about 50 to 1000 m / min.

ところで、従来の目視観察または検査装置を用いた外観検査では、金属板材の表面欠陥を検出した場合、欠陥箇所をサンプリングし、各種分析装置(SEM、ESCA等)を用いて分析することにより原因を究明し、対策を講じていた。したがって、原因究明に長時間を要する場合は、速やかに対策を講じることができず、表面欠陥によっては、金属板材の生産ラインを数日間も操業停止しなければならない場合もあった。   By the way, in the conventional visual inspection or visual inspection using the inspection device, when a surface defect of the metal plate material is detected, the defect is sampled and analyzed by using various analyzers (SEM, ESCA, etc.). I investigated and took measures. Therefore, when it takes a long time to investigate the cause, it is not possible to take measures promptly, and depending on the surface defect, the production line of the metal plate material may have to be stopped for several days.

他方、半導体集積回路の製造工程においては、従来から、過去に発生した不良(例えば、パターン不良、異物、疵等)について、不良箇所のデータとその原因を関連付けてデータベース化していた。これにより、半導体集積回路に不良が発生した場合は、不良箇所のデータに対応する推定原因を、コンピュータを用いて、前記データベースから検索し、不良発生原因を推定していた。例えば、特許文献1には、不良が発生した半導体集積回路の不良箇所のデータを入力することにより、そのデータから不良キーワード(例えば、パターン不良、異物、疵等)を推論し、その不良キーワードと、過去事例データベースとから、不良発生原因を推定する不良解析装置について記載されている。
特開平10−209230号公報(段落0026〜0028、図1〜3)
On the other hand, in the process of manufacturing a semiconductor integrated circuit, conventionally, a defect (for example, a pattern defect, a foreign object, a flaw, etc.) that has occurred in the past has been databased by associating the data of the defective part with its cause. As a result, when a defect occurs in the semiconductor integrated circuit, an estimated cause corresponding to the data of the defective portion is retrieved from the database using a computer, and the cause of the defect is estimated. For example, in Patent Document 1, by inputting data of a defective portion of a semiconductor integrated circuit in which a defect has occurred, a defect keyword (for example, pattern defect, foreign matter, flaw, etc.) is inferred from the data, and the defect keyword and In addition, a failure analysis apparatus for estimating the cause of occurrence of a failure from a past case database is described.
JP-A-10-209230 (paragraphs 0026 to 0028, FIGS. 1 to 3)

しかし、前記した不良解析装置を、金属板材の表面欠陥の原因推定に用いても、圧延ロール表面の凹凸に起因する転写疵のように、周期的に発生する表面欠陥に対し、精度の高い原因推定ができない。即ち、転写疵が圧延ロールに起因する表面欠陥であることが推定されても、どの位置に設置された圧延ロールに起因するものかを判断することができないため、速やかに対策を講じることができない。このように、単品の製品についての不良解析装置を、連続する金属板材等の製品に転用することは簡単なことではなかった。   However, even if the above-described defect analysis apparatus is used to estimate the cause of the surface defect of the metal plate material, it is a highly accurate cause for the surface defect that occurs periodically, such as a transfer flaw caused by irregularities on the surface of the rolling roll. Cannot be estimated. In other words, even if it is estimated that the surface defects are caused by the rolling rolls, it is not possible to determine where the transfer defects are caused by the rolling rolls installed, so it is not possible to take quick measures. . As described above, it is not easy to divert a failure analysis apparatus for a single product to a continuous product such as a metal plate.

本発明は、金属板材の製造時において、金属板材に表面欠陥が生じた場合に、その原因を高精度かつ速やかに推定することができる原因推定装置および原因推定プログラムならびに原因推定方法を提供することを課題とする。   The present invention provides a cause estimation device, a cause estimation program, and a cause estimation method capable of quickly and accurately estimating the cause when a surface defect occurs in a metal plate during production of the metal plate. Is an issue.

前記課題を解決した本発明のうちの請求項1に記載された発明は、過去に発生した金属板材の表面欠陥に関するデータと、それに対応する原因とが予め登録されたデータベースを備えた、金属板材の表面欠陥の原因推定装置であって、原因推定対象の表面欠陥(以下、単に「推定対象欠陥」という)に関するデータを受信し、そのデータを記憶する記憶部と、前記記憶部により記憶された推定対象欠陥に関するデータを基に、前記推定対象欠陥を、金属板材の長手方向に周期的に発生する周期性欠陥と非周期性欠陥とに分類する分類部と、前記分類部により分類された前記推定対象欠陥について、前記データベースから、前記推定対象欠陥に関するデータに対応する推定原因を検索する検索部と、前記検索部により発見された推定原因を出力する出力部とを備えたことを特徴とする。   The invention described in claim 1 of the present invention that has solved the above problems is a metal plate material including a database in which data relating to surface defects of a metal plate material that has occurred in the past and causes corresponding thereto are registered in advance. The apparatus for estimating the cause of surface defects of the present invention, which receives data related to the surface defect of the cause estimation target (hereinafter simply referred to as “estimation target defect”), stores the data, and stored by the storage unit Based on the data related to the estimation target defect, a classification unit that classifies the estimation target defect into a periodic defect and a non-periodic defect that occur periodically in the longitudinal direction of the metal plate material, and the classification unit that classifies the defect For the estimation target defect, a search unit that searches the database for an estimated cause corresponding to the data related to the estimation target defect, and outputs the estimated cause found by the search unit Characterized by comprising a that output section.

請求項1に記載の原因推定装置では、記憶部に記憶された推定対象欠陥に関するデータを基に、分類部により、それぞれの前記推定対象欠陥を、所定の基準により同一の原因によるものと判断された表面欠陥が金属板材の長手方向に周期的に発生する周期性欠陥と、それ以外の非周期性欠陥とに分類する。この分類は、例えば、前記推定対象欠陥のうち、それぞれの前記推定対象欠陥に関する所定のデータが、所定の基準により互いに合致する推定対象欠陥を抽出し、その抽出された推定対象欠陥が、所定の基準により金属板材の長手方向に一定の間隔で発生していると判断した場合に、その推定対象欠陥のそれぞれについて、周期性欠陥コードを付すことにより行われる。このようにして、前記推定対象欠陥を周期性欠陥と非周期性欠陥とに分類した後、検索部により、過去に発生した表面欠陥に関するデータ、即ち、表面欠陥の形状データや濃淡データ等が、その原因と関連付けて登録されたデータベースから、前記推定対象欠陥に関するデータに対応する推定原因を検索するので、表面欠陥の原因を高精度かつ速やかに推定することができる。   In the cause estimation device according to claim 1, based on the data related to the estimation target defect stored in the storage unit, the classification unit determines that each of the estimation target defects is caused by the same cause based on a predetermined criterion. The surface defects are classified into periodic defects in which the surface defects are periodically generated in the longitudinal direction of the metal plate and other non-periodic defects. In this classification, for example, among the estimation target defects, the estimation target defects in which the predetermined data related to the respective estimation target defects match each other according to a predetermined criterion are extracted. When it is determined by the reference that the metal plate material is generated at a constant interval in the longitudinal direction, it is performed by attaching a periodic defect code to each of the estimation target defects. In this way, after classifying the estimation target defect into a periodic defect and a non-periodic defect, the search unit provides data related to the surface defect that has occurred in the past, that is, surface defect shape data, density data, etc. Since the estimated cause corresponding to the data related to the estimation target defect is searched from the database registered in association with the cause, the cause of the surface defect can be estimated with high accuracy and promptly.

また、請求項2に記載された発明は、請求項1に記載の原因推定装置において、前記検索部により、前記推定対象欠陥に関するデータに対応する推定原因を検索した結果、推定原因を発見することができなかった場合に、前記推定対象欠陥に関するデータが、前記データベースに登録されるように構成したことを特徴とする。   The invention described in claim 2 is the cause estimation device according to claim 1, wherein the search unit finds an estimated cause as a result of searching for an estimated cause corresponding to data related to the estimation target defect. In the case where it is not possible, data related to the estimation target defect is registered in the database.

請求項2に記載の原因推定装置では、登録されていない表面欠陥に関するデータが、予め定められた表面欠陥の判断項目に対応するように、データベースに逐次登録されていくので、新たに発生した表面欠陥に関するデータを登録する手間を省くことができる。   In the cause estimation device according to claim 2, since the data related to the unregistered surface defect is sequentially registered in the database so as to correspond to a predetermined determination item of the surface defect, the newly generated surface It is possible to save the trouble of registering data related to defects.

また、請求項3に記載された発明は、請求項1または請求項2に記載の原因推定装置において、検査対象の金属板材の表面欠陥を検出する検出部を備え、前記検出部により検出された推定対象欠陥に関するデータが、前記記憶部に送信されるように構成したことを特徴とする。   The invention described in claim 3 is the cause estimation apparatus according to claim 1 or 2, further comprising a detection unit that detects a surface defect of the metal plate material to be inspected, and is detected by the detection unit. Data regarding the estimation target defect is configured to be transmitted to the storage unit.

請求項3に記載の原因推定装置では、検出部により、検査対象の金属板材を検査し、所定の基準により表面欠陥であると判断した場合には、その表面欠陥、即ち、推定対象欠陥に関するデータを記憶部に送信し、そのデータを受信した記憶部がそのデータを記憶する。これにより、検出部により検出された表面欠陥に関するデータが、全て記憶部に記憶されるので、表面欠陥の検出から、その推定原因の出力までの一連の作業を行うことができる。   In the cause estimation apparatus according to claim 3, when the detection unit inspects the metal plate material to be inspected and determines that it is a surface defect based on a predetermined standard, the surface defect, that is, data on the estimation object defect. Is transmitted to the storage unit, and the storage unit that has received the data stores the data. Thereby, since all the data regarding the surface defect detected by the detection part are memorize | stored in a memory | storage part, a series of operation | work from the detection of a surface defect to the output of the presumed cause can be performed.

また、請求項4に記載された発明は、過去に発生した金属板材の表面欠陥に関するデータと、それに対応する原因とが予め登録されたデータベースを備え、かつ、推定対象欠陥に関するデータを受信し、そのデータを記憶する記憶部を備えた、金属板材の表面欠陥の原因推定装置における原因推定プログラムであって、前記記憶部により記憶された推定対象欠陥に関するデータを基に、前記推定対象欠陥を、金属板材の長手方向に周期的に発生する周期性欠陥と非周期性欠陥とに分類する分類ステップと、前記分類ステップにより分類された前記推定対象欠陥について、前記データベースから、前記推定対象欠陥に関するデータに対応する推定原因を検索する検索ステップと、前記検索ステップにより発見された推定原因を出力する出力ステップとをコンピュータに実行させることを特徴とする。   Further, the invention described in claim 4 includes a database in which data on surface defects of a metal plate material generated in the past and a cause corresponding thereto are registered in advance, and receives data on defects to be estimated, A cause estimation program in a cause estimation device for a surface defect of a metal plate material having a storage unit for storing the data, based on the data on the estimation target defect stored by the storage unit, the estimation target defect, A classification step for classifying periodic defects and non-periodic defects that occur periodically in the longitudinal direction of the metal plate material, and data relating to the estimation target defects from the database for the estimation target defects classified by the classification step A search step for searching for an estimated cause corresponding to the output step, and an output step for outputting the estimated cause found by the search step. Characterized in that to execute the up to the computer.

請求項4に記載の原因推定プログラムによれば、記憶部に記憶された推定対象欠陥に関するデータを基に、前記推定対象欠陥を周期性欠陥と非周期性欠陥とに分類する作業をコンピュータに実行させる。この分類は、例えば、前記推定対象欠陥のうち、それぞれの前記推定対象欠陥に関する所定のデータが、所定の基準により互いに合致する推定対象欠陥を抽出し、その抽出された推定対象欠陥が、所定の基準により金属板材の長手方向に一定の間隔で発生していると判断した場合に、その推定対象欠陥のそれぞれについて、周期性欠陥コードを付すことにより行われる。このようにして、前記推定対象欠陥を周期性欠陥と非周期性欠陥とに分類した後、過去に発生した表面欠陥に関するデータが、その原因と関連付けて登録されたデータベースから、前記推定対象欠陥に関するデータに対応する推定原因を検索する作業をコンピュータに実行させるので、表面欠陥の原因を高精度かつ速やかに推定することができる。   According to the cause estimation program according to claim 4, the computer performs an operation of classifying the estimation target defect into a periodic defect and an aperiodic defect based on data on the estimation target defect stored in the storage unit. Let In this classification, for example, among the estimation target defects, the estimation target defects in which the predetermined data related to the respective estimation target defects match each other according to a predetermined criterion are extracted. When it is determined by the reference that the metal plate material is generated at a constant interval in the longitudinal direction, it is performed by attaching a periodic defect code to each of the estimation target defects. In this way, after classifying the estimation target defect into a periodic defect and a non-periodic defect, data relating to a surface defect that has occurred in the past is related to the cause from the database registered in association with the cause. Since the computer is caused to search for an estimated cause corresponding to the data, the cause of the surface defect can be estimated with high accuracy and promptly.

また、請求項5に記載された発明は、請求項4に記載の原因推定プログラムにおいて、前記検索ステップにより、前記推定対象欠陥に関するデータに対応する推定原因を検索した結果、推定原因を発見することができなかった場合に、前記推定対象欠陥に関するデータを前記データベースに登録する登録ステップを、コンピュータに実行させることを特徴とする。   Further, in the invention described in claim 5, in the cause estimation program according to claim 4, as a result of searching the estimated cause corresponding to the data relating to the estimation target defect in the search step, the estimated cause is found. In a case where the data cannot be registered, the computer is caused to execute a registration step of registering data relating to the estimation target defect in the database.

請求項5に記載の原因推定プログラムによれば、登録ステップをコンピュータに実行させることにより、登録されていない表面欠陥に関するデータが、予め定められた表面欠陥の判断項目に対応するように、データベースに逐次登録されていくので、新たに発生した表面欠陥に関するデータを登録する手間を省くことができる。   According to the cause estimation program according to claim 5, by causing the computer to execute the registration step, the data relating to the unregistered surface defect is stored in the database so as to correspond to a predetermined determination item of the surface defect. Since registration is performed sequentially, it is possible to save the trouble of registering data relating to newly generated surface defects.

また、請求項6に記載された発明は、過去に発生した金属板材の表面欠陥に関するデータと、それに対応する原因とが予め登録されたデータベースを備え、かつ、推定対象欠陥に関するデータを受信し、そのデータを記憶する記憶部を備えた、金属板材の表面欠陥の原因推定装置における原因推定方法であって、前記記憶部により記憶された推定対象欠陥に関するデータを基に、前記推定対象欠陥を、金属板材の長手方向に周期的に発生する周期性欠陥と非周期性欠陥とに分類する分類ステップと、前記分類ステップにより分類された前記推定対象欠陥について、前記データベースから、前記推定対象欠陥に関するデータに対応する推定原因を検索する検索ステップと、前記検索ステップにより発見された推定原因を出力する出力ステップとを備えたことを特徴とする。   Further, the invention described in claim 6 includes a database in which data on surface defects of a metal plate material generated in the past and a cause corresponding thereto are registered in advance, and receives data on defects to be estimated, A cause estimation method in a surface defect cause estimation device for a metal plate material, including a storage unit that stores the data, based on the data related to the estimation target defect stored by the storage unit, the estimation target defect, A classification step for classifying periodic defects and non-periodic defects that occur periodically in the longitudinal direction of the metal plate material, and data relating to the estimation target defects from the database for the estimation target defects classified by the classification step A search step for searching for an estimated cause corresponding to the output, and an output step for outputting the estimated cause found by the search step; Characterized by comprising.

請求項6に記載の原因推定方法によれば、分類ステップにより、記憶部に記憶された推定対象欠陥に関するデータを基に、前記推定対象欠陥を周期性欠陥と非周期性欠陥とに分類する。この分類は、例えば、前記推定対象欠陥のうち、それぞれの前記推定対象欠陥に関する所定のデータが、所定の基準により互いに合致する推定対象欠陥を抽出し、その抽出された推定対象欠陥が、所定の基準により金属板材の長手方向に一定の間隔で発生していると判断した場合に、その推定対象欠陥のそれぞれについて、周期性欠陥コードを付すことにより行われる。このようにして、前記推定対象欠陥を周期性欠陥と非周期性欠陥とに分類した後、検索ステップにより、過去に発生した表面欠陥に関するデータが、その原因と関連付けて登録されたデータベースから、前記推定対象欠陥に関するデータに対応する推定原因を検索するので、表面欠陥の原因を高精度かつ速やかに推定することができる。   According to the cause estimation method of the sixth aspect, in the classification step, the estimation target defect is classified into the periodic defect and the non-periodic defect based on the data related to the estimation target defect stored in the storage unit. In this classification, for example, among the estimation target defects, the estimation target defects in which the predetermined data related to the respective estimation target defects match each other according to a predetermined criterion are extracted. When it is determined by the reference that the metal plate material is generated at a constant interval in the longitudinal direction, it is performed by attaching a periodic defect code to each of the estimation target defects. In this way, after classifying the estimation target defect into a periodic defect and a non-periodic defect, the data relating to the surface defect that occurred in the past by the search step is registered from the database registered in association with the cause. Since the estimated cause corresponding to the data related to the estimation target defect is searched, the cause of the surface defect can be estimated with high accuracy and promptly.

また、請求項7に記載された発明は、請求項6に記載の原因推定方法において、前記検索ステップにより、前記推定対象欠陥に関するデータに対応する推定原因を検索した結果、推定原因を発見することができなかった場合に、前記推定対象欠陥に関するデータを前記データベースに登録する登録ステップを備えたことを特徴とする。   The invention described in claim 7 is the cause estimation method according to claim 6, wherein the search step finds the estimated cause as a result of searching the estimated cause corresponding to the data related to the estimation target defect in the search step. In the case where the data could not be obtained, a registration step of registering data related to the estimation target defect in the database is provided.

請求項7に記載の原因推定方法によれば、登録ステップにより、登録されていない表面欠陥に関するデータが、予め定められた表面欠陥の判断項目に対応するように、データベースに逐次登録されていくので、新たに発生した表面欠陥に関するデータを登録する手間を省くことができる。   According to the cause estimation method of claim 7, the registration step sequentially registers the data related to the unregistered surface defect in the database so as to correspond to the predetermined determination item of the surface defect. Thus, it is possible to save the trouble of registering data relating to newly generated surface defects.

また、請求項8に記載された発明は、請求項6または請求項7に記載の原因推定方法において、検査対象の金属板材の表面欠陥を検出する検出ステップと、前記検出ステップにより検出された推定対象欠陥に関するデータを、前記記憶部に送信する送信ステップとを備えたことを特徴とする。   The invention described in claim 8 is the cause estimation method according to claim 6 or claim 7, wherein a detection step of detecting a surface defect of the metal plate material to be inspected and an estimation detected by the detection step A transmission step of transmitting data relating to the target defect to the storage unit.

請求項8に記載の原因推定方法によれば、検出ステップにより、検査対象の金属板材を検査し、所定の基準により表面欠陥であると判断した場合には、その表面欠陥、即ち、推定対象欠陥に関するデータを記憶部に送信し、記憶部にそのデータが記憶される。これにより、検出ステップにより検出された表面欠陥に関するデータが、全て記憶部に記憶されるので、表面欠陥の検出から、その推定原因の出力までの一連の作業を行うことができる。   According to the cause estimation method according to claim 8, when the metal plate material to be inspected is inspected by the detection step and is determined to be a surface defect according to a predetermined standard, the surface defect, that is, the estimation object defect Is transmitted to the storage unit, and the data is stored in the storage unit. Thereby, since all the data regarding the surface defect detected by the detection step are memorize | stored in a memory | storage part, a series of operation | work from the detection of a surface defect to the output of the presumed cause can be performed.

このような金属板材の表面欠陥の原因推定装置および原因推定プログラムならびに原因推定方法によれば、表面欠陥が生じた原因を、高精度かつ速やかに推定することができる。これにより、速やかに対策を講じることが可能となる。   According to such a cause estimation apparatus, cause estimation program, and cause estimation method for a surface defect of a metal plate material, the cause of the surface defect can be estimated with high accuracy and promptly. This makes it possible to take measures promptly.

以下、本発明の実施形態について、アルミニウム板材の製造工程を例として、適宜図面を参照しつつ詳細に説明する。   Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings as appropriate, taking as an example the manufacturing process of an aluminum plate material.

まず、アルミニウム板材の製造工程について図1を参照して説明する。例えば、アルミニウム板材は、所望の組成を溶解、鋳造したスラブ1を均質化熱処理し、図1(a)に示すように、熱間粗圧延ロール2,2により熱間粗圧延し、これにより得られたラフバー3を、図1(b)に示すように、複数の熱間仕上げ圧延ロール4により熱間仕上げ圧延し、続いて、図1(c)に示すように、複数の冷間圧延ロール5により冷間圧延した後、図1(d)に示すように、焼鈍炉6を通して中間焼鈍し、更に複数の冷間圧延ロール5[図1(c)参照]により冷間圧延することにより得られる。また、図示はしないが、最終冷間圧延工程後に、矯正工程やクロメート処理工程等が設けられる場合もある。   First, the manufacturing process of an aluminum plate will be described with reference to FIG. For example, an aluminum plate is obtained by homogenizing and heat-treating a slab 1 in which a desired composition is dissolved and cast, and hot hot rolling with hot rough rolling rolls 2 and 2 as shown in FIG. As shown in FIG. 1 (b), the resulting rough bar 3 is hot finish-rolled by a plurality of hot finish rolling rolls 4, and subsequently, a plurality of cold rolling rolls as shown in FIG. 1 (c). After cold rolling with 5, as shown in FIG. 1 (d), it is obtained by intermediate annealing through an annealing furnace 6 and further cold rolling with a plurality of cold rolling rolls 5 [see FIG. 1 (c)]. It is done. Although not shown, a straightening process, a chromate treatment process, and the like may be provided after the final cold rolling process.

本発明の一実施形態である原因推定装置10は、図1(c)に示すように、最終冷間圧延工程の巻取り部7の手前に設置している。なお、原因推定装置10の設置位置は特に限定されないが、原因推定装置10の検出部として、検査装置を用いる場合は、その検査装置の設置位置は、コイル最終巻取り工程前に設置するのが好ましい。   The cause estimation apparatus 10 which is one embodiment of the present invention is installed in front of the winding unit 7 in the final cold rolling step, as shown in FIG. In addition, although the installation position of the cause estimation apparatus 10 is not specifically limited, When using an inspection apparatus as a detection part of the cause estimation apparatus 10, the installation position of the inspection apparatus should be installed before the coil final winding process. preferable.

次に、原因推定装置10の詳細について、図2を用いて説明する。図2に示すように、原因推定装置10は、過去に発生した金属板材の表面欠陥に関するデータと、それに対応する原因とが予め登録されたデータベース11を備え、更に、検査対象のアルミニウム板材の表面欠陥を検出する検出部12と、検出部12により検出された表面欠陥、即ち、推定対象欠陥に関するデータを受信し、そのデータを記憶する記憶部13と、記憶部13に記憶された推定対象欠陥に関するデータを基に、前記推定対象欠陥を周期性欠陥と非周期性欠陥とに分類する分類部14と、分類部14により分類された前記推定対象欠陥について、データベース11から、前記推定対象欠陥に関するデータに対応する推定原因を検索する検索部15と、検索部15により発見された推定原因を出力する出力部16とを備えている。また、原因推定装置10は、データベース11に、過去に発生した表面欠陥に関するデータを登録するデータベース登録部17、および各部の動作を制御する制御部18も備えている。   Next, details of the cause estimating apparatus 10 will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 2, the cause estimating apparatus 10 includes a database 11 in which data related to surface defects of a metal plate material generated in the past and causes corresponding thereto are registered in advance, and the surface of the aluminum plate material to be inspected. A detection unit 12 that detects a defect, a surface defect detected by the detection unit 12, that is, a storage unit 13 that receives data related to an estimation target defect, stores the data, and an estimation target defect stored in the storage unit 13 Based on the data relating to, the classification unit 14 that classifies the estimation target defect into a periodic defect and a non-periodic defect, and the estimation target defect classified by the classification unit 14 from the database 11 A search unit 15 for searching for an estimated cause corresponding to the data and an output unit 16 for outputting the estimated cause found by the search unit 15 are provided. The cause estimation apparatus 10 also includes a database registration unit 17 that registers data on surface defects that have occurred in the past in the database 11 and a control unit 18 that controls the operation of each unit.

検出部12は、検査対象のアルミニウム板材の表面欠陥を検出し、そのデータを記憶部13に送信する。そして、データの送信が完了した際に、制御部18に送信完了通知を送信する。この検出部12には、背景技術で説明した検査装置60(図6参照)や、検査装置70(図7参照)等を使用することができる。例えば、検出部12として、検査装置60を使用した場合は、欠陥判定器64に、予め設定された検査基準を登録し、検査対象であるアルミニウム板材表面と比較することにより良否を判定し、表面欠陥の検出を行う。表面欠陥の判断項目は、使用する検査装置により異なるが、検査装置60を使用した場合は、表面欠陥の位置、長さ、面積、濃淡等を判断項目とする。なお、表面欠陥の位置および長さについては、それぞれアルミニウム板材の幅方向および長手方向について判断する。   The detection unit 12 detects a surface defect of the aluminum plate material to be inspected and transmits the data to the storage unit 13. When the data transmission is completed, a transmission completion notification is transmitted to the control unit 18. As the detection unit 12, the inspection device 60 (see FIG. 6) described in the background art, the inspection device 70 (see FIG. 7), or the like can be used. For example, when the inspection device 60 is used as the detection unit 12, the inspection standard set in advance is registered in the defect determination unit 64, and the quality is determined by comparing with the surface of the aluminum plate material to be inspected. Perform defect detection. The items for determining surface defects differ depending on the inspection apparatus used, but when the inspection apparatus 60 is used, the position, length, area, shading, etc. of the surface defects are determined as determination items. In addition, about the position and length of a surface defect, it judges about the width direction and longitudinal direction of an aluminum plate, respectively.

記憶部13は、検出部12から送信される推定対象欠陥に関するデータを受信し、記憶する。この記憶部13には、コンピュータのメモリ等を使用することができる。なお、検出部12を用いずに、目視観察によって表面欠陥を検出する場合は、キーボードやマウス等の入力手段(図示せず)を用いて、記憶部13に、そのデータを手入力すればよい。   The storage unit 13 receives and stores data on the estimation target defect transmitted from the detection unit 12. The memory 13 can be a computer memory or the like. In addition, when detecting a surface defect by visual observation without using the detection unit 12, the data may be manually input into the storage unit 13 using an input means (not shown) such as a keyboard or a mouse. .

分類部14は、記憶部13に記憶された推定対象欠陥に関するデータを基に、前記推定対象欠陥を、周期性欠陥と非周期性欠陥とに分類する。そして、分類が完了した際に、制御部18に分類完了通知を送信する。   The classification unit 14 classifies the estimation target defect into a periodic defect and an aperiodic defect based on the data related to the estimation target defect stored in the storage unit 13. When the classification is completed, a classification completion notification is transmitted to the control unit 18.

検索部15は、分類部14により分類された前記推定対象欠陥について、データベース11から、前記推定対象欠陥に関するデータに対応する推定原因を検索する。そして、推定原因を発見することができた場合は、前記推定対象欠陥に関するデータと共に、発見した推定原因を出力部16に送信し、制御部18に検索完了通知を送信する。一方、推定原因を発見することができなかった場合は、前記推定対象欠陥に関するデータを、データベース11に、予め定められた表面欠陥の判断項目に対応するように登録し、制御部18に検索完了通知を送信する。なお、推定原因を発見することができなかった場合において、別途、前記推定対象欠陥に関するデータを、データベース登録部17により登録してもよい。   The search unit 15 searches the database 11 for an estimated cause corresponding to the data related to the estimation target defect with respect to the estimation target defect classified by the classification unit 14. If the estimated cause can be found, the found estimated cause is transmitted to the output unit 16 together with the data related to the estimation target defect, and the search completion notification is transmitted to the control unit 18. On the other hand, when the estimation cause cannot be found, the data related to the estimation target defect is registered in the database 11 so as to correspond to the predetermined determination item of the surface defect, and the search is completed in the control unit 18. Send a notification. In addition, when the estimation cause cannot be found, data regarding the estimation target defect may be separately registered by the database registration unit 17.

出力部16は、検索部15から送信された前記推定対象欠陥に関するデータとその推定原因とを出力する。そして、出力が完了した際に、制御部18に出力完了通知を送信する。この出力部16には、ディスプレイやプリンタ等を使用することができる。   The output unit 16 outputs data on the estimation target defect transmitted from the search unit 15 and its estimation cause. Then, when the output is completed, an output completion notification is transmitted to the control unit 18. The output unit 16 can be a display, a printer, or the like.

制御部18は、Central Processing Unit(CPU)等を有しており、検出部12、分類部14、検索部15および出力部16の動作を制御する。   The control unit 18 includes a central processing unit (CPU) and the like, and controls operations of the detection unit 12, the classification unit 14, the search unit 15, and the output unit 16.

データベース11には、磁気ディスク、光ディスク、磁気テープ等を使用することができる。また、データベース登録部17には、キーボードやマウス等を使用することができる。データベース11には、周期性欠陥に分類された推定対象欠陥について、原因と推定される圧延ロール(設置位置)を検索する際に使用する第1のテーブル11aと、表面欠陥の種類、推定される原因および対策を検索する際に使用する第2のテーブル11bとが保存されている。この第1のテーブル11aおよび第2のテーブル11bへのデータの登録や、登録されているデータの変更等は、データベース登録部17により行う。   The database 11 can be a magnetic disk, an optical disk, a magnetic tape, or the like. The database registration unit 17 can be a keyboard, a mouse, or the like. In the database 11, the first table 11 a used for searching for the rolling roll (installation position) estimated to be the cause and the type of surface defect are estimated for the estimation target defect classified as the periodic defect. A second table 11b used when searching for causes and countermeasures is stored. Registration of data in the first table 11a and the second table 11b, change of registered data, and the like are performed by the database registration unit 17.

次に、第1のテーブル11aおよび第2のテーブル11bについて、図3を参照して説明する。図3(a)に、第1のテーブル11aの一例を示し、図3(b)に第2のテーブル11bの一例を示す。なお、図3(b)は、検出部12として、CCDカメラを用いた検査装置60(図6参照)を使用した場合について示す(以下、検出部12として、検査装置60を使用した場合について説明する)。   Next, the first table 11a and the second table 11b will be described with reference to FIG. FIG. 3A shows an example of the first table 11a, and FIG. 3B shows an example of the second table 11b. 3B shows a case where an inspection apparatus 60 using a CCD camera (see FIG. 6) is used as the detection unit 12 (hereinafter, the case where the inspection apparatus 60 is used as the detection unit 12 will be described. To do).

図3(a)に示すように、第1のテーブル11aは、周期性欠陥の発生間隔の下限値(P1,P3,P5・・・)および上限値(P2,P4,P6・・・)が登録される数値データエリア111aと、それに対応する原因と推定される圧延ロールの名称(設置位置)が登録されるテキストデータエリア112aとを備えている。発生間隔(P1,P2,P3・・・)は、図3(a)には示していないが、実際の数値が登録される。この発生間隔(P1,P2,P3・・・)は、それぞれの圧延ロールの径と、それぞれの圧延ロールによる圧下率とにより定まる。発生間隔(P1,P2,P3・・・)を登録する際は、実際の数値を登録してもよいし、それぞれの圧延ロールの径と、それぞれの圧延ロールによる圧下率とを登録することにより、発生間隔(P1,P2,P3・・・)が算出されるようにしてもよい。なお、発生間隔の下限値(P1,P3,P5・・・)および上限値(P2,P4,P6・・・)を登録する際は、圧延ロールのすべり等を考慮し、ある程度の幅を持たせるのが好ましい。   As shown in FIG. 3A, the first table 11a has a lower limit value (P1, P3, P5...) And an upper limit value (P2, P4, P6...) Of the periodic defect occurrence interval. A numerical data area 111a to be registered and a text data area 112a to register the name (installation position) of the rolling roll presumed to be the cause corresponding thereto are provided. The generation intervals (P1, P2, P3...) Are not shown in FIG. 3A, but actual numerical values are registered. This generation | occurrence | production space | interval (P1, P2, P3 ...) is decided by the diameter of each rolling roll, and the rolling reduction by each rolling roll. When registering the generation intervals (P1, P2, P3...), Actual numerical values may be registered, or by registering the diameter of each rolling roll and the rolling reduction by each rolling roll. The generation intervals (P1, P2, P3...) May be calculated. In addition, when registering the lower limit value (P1, P3, P5...) And the upper limit value (P2, P4, P6...) Of the generation interval, a certain amount of width is given in consideration of slip of the rolling roll. Preferably.

また、図3(b)に示すように、第2のテーブル11bは、表面欠陥の判断項目について、それぞれの下限値および上限値が登録される数値データエリア111bと、それに対応する表面欠陥の種類、推定される原因および対策が登録されるテキストデータエリア112bとを備えている。数値データエリア111bには、表面欠陥の判断項目のうち、表面欠陥の長さ(幅方向および長手方向)、面積、明強度および暗強度が登録されている。なお、明強度および暗強度は、いずれも表面欠陥の濃淡を示す判断項目で、表面欠陥の画像データにおいて、それぞれ明るさの段階を表す階調(0〜255)の最大値および最小値を示す。また、後記するように、それぞれの判断項目には、C〜Gのコードが付されている。   As shown in FIG. 3B, the second table 11b includes a numerical data area 111b in which the lower limit value and the upper limit value are registered for the determination items of the surface defects, and the types of surface defects corresponding thereto. And a text data area 112b in which estimated causes and countermeasures are registered. In the numerical data area 111b, among the determination items of the surface defect, the length (width direction and longitudinal direction), area, light intensity, and dark intensity of the surface defect are registered. Note that the light intensity and the dark intensity are both determination items indicating the density of the surface defect, and in the image data of the surface defect, indicate the maximum value and the minimum value of the gradation (0 to 255) indicating the brightness level, respectively. . Further, as will be described later, codes C to G are attached to the respective determination items.

次に、図2〜図5に基づいて、本発明の一実施形態である原因推定装置10を用いた原因推定方法について説明する。図4は、原因推定装置10の動作を示すフローチャートである。また、図5は、記憶部13に記憶された推定対象欠陥に関するデータの一例を示すテーブルである。なお、図5には、推定対象欠陥に関するデータのうち、位置データおよび長さデータのみを示しているが、実際にはその他のデータも記憶されている。また、図5には示していないが、それぞれの判断項目について、検出部12により実測された数値が記憶されている。   Next, a cause estimation method using the cause estimation apparatus 10 according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 4 is a flowchart showing the operation of the cause estimating apparatus 10. FIG. 5 is a table showing an example of data related to the estimation target defect stored in the storage unit 13. FIG. 5 shows only the position data and the length data among the data relating to the estimation target defect, but other data is actually stored. Although not shown in FIG. 5, numerical values actually measured by the detection unit 12 are stored for each determination item.

[検出ステップ]
図4に示すように、原因推定装置10は、まず、検出部12(図2参照)によって、検査対象であるアルミニウム板材の表面欠陥を検出する(検出ステップS30)。この際、周期性欠陥が検出できる程度の長さ(例えば100m程度)を検査できるように、制御部18において制御するのが好ましい。
[Detection step]
As shown in FIG. 4, the cause estimating apparatus 10 first detects a surface defect of the aluminum plate material to be inspected by the detection unit 12 (see FIG. 2) (detection step S <b> 30). At this time, it is preferable to control in the control unit 18 so that a length (for example, about 100 m) that can detect a periodic defect can be inspected.

[送信ステップ]
検出部12により、アルミニウム板材の所定の長さを検査した後、検出した全ての表面欠陥(推定対象欠陥)について、その位置(幅方向および長手方向)、長さ(幅方向および長手方向)、面積、明強度および暗強度のデータを記憶部13(図2参照)に送信する(送信ステップS31)。この際、判断項目のそれぞれにコード(アルファベット等)を付して送信すると、後記する分類ステップおよび検索ステップにおいて、それぞれのデータの区別を確実に行うことができるので、原因推定時間の短縮化が図れる。なお、本実施形態では、表面欠陥の幅方向の位置、長手方向の位置、幅方向の長さ、長手方向の長さ、面積、明強度および暗強度のそれぞれに対し、この順にA〜Gのコードを付して送信するものとする。
[Sending step]
After inspecting the predetermined length of the aluminum plate by the detection unit 12, the position (width direction and longitudinal direction), length (width direction and longitudinal direction), length (width direction and longitudinal direction) of all detected surface defects (defects to be estimated), The area, light intensity, and dark intensity data are transmitted to the storage unit 13 (see FIG. 2) (transmission step S31). At this time, if each judgment item is transmitted with a code (alphabet, etc.), the data can be reliably distinguished in the classification step and the search step described later, so that the cause estimation time can be shortened. I can plan. In the present embodiment, the position of the surface defect in the width direction, the position in the longitudinal direction, the length in the width direction, the length in the longitudinal direction, the area, the light intensity, and the dark intensity are in this order A to G. It shall be sent with a code.

送信ステップS31により、記憶部13に記憶された推定対象欠陥に関するデータの一例について、図5(a)を参照して説明する。図5(a)に示すように、推定対象欠陥に関するデータの一例を示すテーブル50は、表面欠陥番号が蓄積される表面欠陥番号エリア51と、周期性欠陥コードが蓄積される周期性欠陥コードエリア52と、位置データが蓄積される位置データエリア53と、長さデータが蓄積される長さデータエリア54とを備えている。表面欠陥番号エリア51には、それぞれの推定対象欠陥に付された番号が蓄積される。この番号は、例えば検出部12によって検出された順番に付される。周期性欠陥コードエリア52には、後記するように、周期性欠陥に分類された推定対象欠陥のそれぞれについて、その発生間隔が認識できる周期性欠陥コードが蓄積される。また位置データエリア53には、幅方向の位置データ(コードA)が蓄積される幅方向位置データエリア55と、長手方向の位置データ(コードB)が蓄積される長手方向位置データエリア56とが設けられている。更に、長さデータエリア54には、幅方向の長さデータ(コードC)が蓄積される幅方向長さデータエリア57と、長手方向の長さデータ(コードD)が蓄積される長手方向長さデータエリア58とが設けられている。   An example of data relating to the estimation target defect stored in the storage unit 13 in the transmission step S31 will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 5A, a table 50 showing an example of data relating to the estimation target defect includes a surface defect number area 51 in which surface defect numbers are accumulated and a periodic defect code area in which periodic defect codes are accumulated. 52, a position data area 53 for storing position data, and a length data area 54 for storing length data. In the surface defect number area 51, numbers assigned to the respective estimation target defects are accumulated. This number is given, for example, in the order detected by the detection unit 12. In the periodic defect code area 52, as will be described later, a periodic defect code that can recognize the generation interval of each of the estimation target defects classified as the periodic defect is accumulated. The position data area 53 includes a width direction position data area 55 in which position data in the width direction (code A) is stored, and a length direction position data area 56 in which position data in the longitudinal direction (code B) is stored. Is provided. Further, in the length data area 54, a width direction length data area 57 in which length direction length data (code C) is stored and a length direction length in which length direction length data (code D) is stored. A data area 58 is provided.

[分類ステップ]
続いて、記憶部13に記憶された全ての推定対象欠陥について、分類部14(図2参照)により、それぞれの推定対象欠陥を周期性欠陥と非周期性欠陥とに分類する(分類ステップS32)。分類は、まず、記憶された全ての推定対象欠陥のうち、幅方向の位置、長さ(幅方向および長手方向)、面積、明強度および暗強度のいずれの判断項目のデータについても所定の基準により互いに合致する推定対象欠陥を、同一の原因によるものと判断し、それらの推定対象欠陥を抽出する。この際、判断項目のそれぞれに付されたコード(A,C〜G)を照合した後で、それぞれのデータを比較する。次に、抽出された推定対象欠陥について、それぞれの長手方向の位置(コードB)から、所定の基準によりそれらの推定対象欠陥が周期的に発生していると判断した場合は、周期性欠陥に分類し、その推定対象欠陥のそれぞれについて、周期性欠陥コードを付す。
[Classification step]
Subsequently, for all estimation target defects stored in the storage unit 13, the classification unit 14 (see FIG. 2) classifies each estimation target defect into a periodic defect and an aperiodic defect (classification step S32). . The classification is based on a predetermined standard for the data in any of the judgment items of the position in the width direction, the length (width direction and longitudinal direction), the area, the light intensity, and the dark intensity among all the estimation target defects stored. Thus, it is determined that the estimation target defects that match each other are caused by the same cause, and the estimation target defects are extracted. At this time, after collating the codes (A, C to G) attached to the respective determination items, the respective data are compared. Next, regarding the extracted estimation target defects, if it is determined from the respective longitudinal positions (code B) that the estimation target defects are periodically generated according to a predetermined criterion, Classify and attach a periodic defect code to each of the estimated defects.

例えば、図5(a)の場合は、表面欠陥番号1,3,5,7についてはいずれも、幅方向の位置がX1、幅方向の長さがW1、長手方向の長さがL1であり、更に、面積、明強度および暗強度についても、所定の基準により互いに合致していれば、表面欠陥番号1,3,5,7が、図5(b)に示すように抽出される(以下、表面欠陥番号1,3,5,7が周期性欠陥、表面欠陥番号2,4,6が非周期性欠陥である場合について説明する)。そして、表面欠陥番号1,3,5,7の長手方向の位置が、間隔P5で周期的に発生しているため、図5(c)に示すように、周期性欠陥コードエリア52に、周期性欠陥コードとして、例えば、「P5a」が付される。一方、表面欠陥番号2,4,6のように、非周期性欠陥に分類された推定対象欠陥に関するデータには周期性欠陥コードは付されない。なお、前記した抽出および分類の際は、検出部12の測定誤差等を考慮して、それぞれの推定対象欠陥に関するデータを比較する際の基準(所定の基準)について、ある程度の幅を持たせたほうがよい。   For example, in the case of FIG. 5A, for the surface defect numbers 1, 3, 5 and 7, the position in the width direction is X1, the length in the width direction is W1, and the length in the longitudinal direction is L1. Furthermore, if the area, light intensity, and dark intensity also match each other according to a predetermined standard, surface defect numbers 1, 3, 5, and 7 are extracted as shown in FIG. The case where surface defect numbers 1, 3, 5, and 7 are periodic defects and surface defect numbers 2, 4, and 6 are non-periodic defects will be described). Since the longitudinal positions of the surface defect numbers 1, 3, 5, and 7 are periodically generated at the interval P5, the periodic defect code area 52 has a period as shown in FIG. For example, “P5a” is assigned as the sex defect code. On the other hand, the periodic defect code is not attached to the data related to the estimation target defect classified as the non-periodic defect like the surface defect numbers 2, 4, and 6. In the above-described extraction and classification, a certain range is given to the reference (predetermined reference) for comparing the data related to the respective estimation target defects in consideration of the measurement error of the detection unit 12 and the like. Better.

続いて、検索部15(図2参照)により、記憶部13に記憶された推定対象欠陥のうち、いずれか1つを選択し、推定原因の検索を行う。推定原因の検索は、まず、検索部15により、選択した推定対象欠陥が周期性欠陥であるかどうかを判定する(ステップS33)。そして、周期性欠陥である場合(Yes)は、第1の検索ステップS34へ進み、非周期性欠陥である場合(No)は、第2の検索ステップS37へ進む。なお、周期性欠陥であるかどうかの判定は、前記した周期性欠陥コードの有無により行う。   Subsequently, the search unit 15 (see FIG. 2) selects any one of the estimation target defects stored in the storage unit 13 and searches for an estimated cause. In the search for the estimated cause, first, the search unit 15 determines whether or not the selected estimation target defect is a periodic defect (step S33). If it is a periodic defect (Yes), the process proceeds to the first search step S34, and if it is a non-periodic defect (No), the process proceeds to the second search step S37. Whether or not the defect is a periodic defect is determined based on the presence or absence of the periodic defect code.

[第1の検索ステップ]
ステップS33で、周期性欠陥であると判定された推定対象欠陥について、検索部15により、原因と推定される圧延ロール(設置位置)を検索する(第1の検索ステップS34)。検索は、周期性欠陥コードから認識した発生間隔を、第1のテーブル11a[図3(a)参照]の数値データエリア111aに登録された数値データと照合することにより行う。そして、原因と推定される圧延ロールを発見することができた場合(ステップS35のYes)は、第1の出力ステップS36へ進む。一方、原因と推定される圧延ロールを発見することができなかった場合(ステップS35のNo)は、第2の検索ステップS37へ進む。
[First search step]
In step S33, for the estimation target defect determined to be a periodic defect, the search unit 15 searches for the rolling roll (installation position) estimated to be the cause (first search step S34). The search is performed by comparing the occurrence interval recognized from the periodic defect code with the numerical data registered in the numerical data area 111a of the first table 11a [see FIG. 3 (a)]. And when the rolling roll estimated to be a cause can be discovered (Yes of step S35), it progresses to 1st output step S36. On the other hand, when the rolling roll estimated to be the cause cannot be found (No in step S35), the process proceeds to the second search step S37.

[第1の出力ステップ]
第1の検索ステップS34で、原因と推定される圧延ロールを発見することができた(ステップS35のYes)推定対象欠陥について、出力部16(図2参照)により、その推定対象欠陥に関するデータと共に、原因と推定される圧延ロールの名称(設置位置)を出力する(第1の出力ステップS36)。例えば、前記した表面欠陥番号1,3,5,7(図5参照)の場合は、発生間隔がP5なので、原因と推定される圧延ロールとして、「熱間仕上げ圧延ロール(2段目)」と出力される。出力後、第2の検索ステップS37へ進む。
[First output step]
In the first search step S34, the rolling roll estimated to be the cause could be found (Yes in step S35), and the output target 16 (see FIG. 2), together with the data related to the estimation target defect. The name (installation position) of the rolling roll estimated to be the cause is output (first output step S36). For example, in the case of the aforementioned surface defect numbers 1, 3, 5, and 7 (see FIG. 5), since the generation interval is P5, as the rolling roll estimated to be the cause, “hot finish rolling roll (second stage)” Is output. After the output, the process proceeds to the second search step S37.

[第2の検索ステップ]
続いて、検索部15により、選択した推定対象欠陥の長さ(幅方向および長手方向)、面積、明強度および暗強度のデータのそれぞれを、第2のテーブル11b[図3(b)参照]の数値データエリア111bに登録された数値データと照合することにより、推定される原因を検索する(第2の検索ステップS37)。照合する際は、判断項目のそれぞれに付されたコード(C〜G)を照合した後で、それぞれのデータを照合する。そして、推定される原因を発見することができた場合(ステップS38のYes)は、第2の出力ステップS39へ進む。一方、推定される原因を発見することができなかった場合(ステップS38のNo)は、登録ステップS40へ進む。なお、前記した「第1の検索ステップS34」と、「第2の検索ステップS37」とが、特許請求の範囲にいう「検索ステップ」に相当し、前記した「原因と推定される圧延ロール」と、「推定される原因」とが、特許請求の範囲の「推定原因」に相当する。
[Second search step]
Subsequently, each of the length (width direction and longitudinal direction), area, light intensity, and dark intensity data of the selected estimation target defect by the search unit 15 is stored in the second table 11b [see FIG. 3B]. The estimated cause is searched by collating with the numerical data registered in the numerical data area 111b (second search step S37). When collating, after collating the code (CG) attached | subjected to each of the judgment item, each data is collated. If the estimated cause can be found (Yes in step S38), the process proceeds to the second output step S39. On the other hand, if the estimated cause cannot be found (No in step S38), the process proceeds to registration step S40. The “first search step S34” and the “second search step S37” correspond to the “search step” in the claims, and the “rolling roll estimated to be the cause” described above. And “estimated cause” correspond to “estimated cause” in the claims.

[第2の出力ステップ]
第2の検索ステップS37で、推定される原因を発見することができた(ステップS38のYes)推定対象欠陥について、出力部16により、その推定対象欠陥に関するデータと共に、表面欠陥の種類、推定される原因および対策を出力する(第2の出力ステップS39)。例えば、推定対象欠陥に関するデータのうち、幅方向および長手方向の長さが共に1mm、面積が1mm2、明強度が250、暗強度が80である場合は、表面欠陥の種類として「凹み疵」、推定される原因として「圧延ロール表面の突起物が転写した欠陥」、対策として「ロールの交換」と出力される。出力後、ステップS41へ進む。なお、前記した「第1の出力ステップS36」と、「第2の出力ステップS39」とが、特許請求の範囲にいう「出力ステップ」に相当する。
[Second output step]
In the second search step S37, the estimated cause was found (Yes in step S38), and the output unit 16 estimated the type of surface defect along with the data related to the estimated target defect. Cause and countermeasure are output (second output step S39). For example, in the data relating to the defect to be estimated, when the length in the width direction and the longitudinal direction are both 1 mm, the area is 1 mm 2 , the light intensity is 250, and the dark intensity is 80, the type of surface defect is “dent dimple”. As a presumed cause, “defect transferred by protrusions on the surface of the rolling roll” and “roll replacement” are output as countermeasures. After output, the process proceeds to step S41. The “first output step S36” and the “second output step S39” described above correspond to the “output step” in the claims.

[登録ステップ]
第2の検索ステップS37で、推定される原因を発見することができなかった(ステップS38のNo)推定対象欠陥については、検索部15により、その推定対象欠陥に関するデータを、第2のテーブル11bの数値データエリア111bに、それぞれの判断項目に対応するように登録し(登録ステップS40)、ステップS41へ進む。この際、出力部16として、例えばディスプレイを用いた場合は、ディスプレイ画面に「原因推定不能」と出力できるように、制御部18において制御してもよい。また、推定される原因を発見することができなかった推定対象欠陥をサンプリングし、各種分析装置により原因が明らかになった場合は、データベース登録部17(図2参照)から、その原因を第2のテーブル11bのテキストデータエリア112bに登録すればよい。
[Registration step]
In the second search step S37, for the estimation target defect for which the estimated cause could not be found (No in step S38), the search unit 15 stores data related to the estimation target defect in the second table 11b. Are registered so as to correspond to the respective determination items (registration step S40), and the process proceeds to step S41. At this time, for example, when a display is used as the output unit 16, the control unit 18 may perform control so that “cause cannot be estimated” can be output on the display screen. In addition, if the cause to be estimated was found by sampling various presumed defects for which the cause could not be found, and the cause was clarified by various analyzers, the cause is stored in the database registration unit 17 (see FIG. 2). It may be registered in the text data area 112b of the table 11b.

続いて、検索部15により、推定原因の検索が行われていない推定対象欠陥が存在するか否かを判断し(ステップS41)、存在しない場合は、原因推定完了(Yes)として、動作を終了する。一方、推定原因の検索が行われていない推定対象欠陥が存在する場合(No)は、ステップS33に戻って、同様に動作を行う。なお、周期性欠陥の推定原因を検索する場合は、検索時間の短縮化のため、周期性欠陥に分類された推定対象欠陥のうち、いずれか1つのみの推定原因を検索するように、制御部18において制御してもよい。   Subsequently, the search unit 15 determines whether or not there is an estimation target defect that has not been searched for an estimated cause (step S41), and if it does not exist, the cause estimation is completed (Yes) and the operation ends. To do. On the other hand, if there is an estimation target defect that has not been searched for the estimation cause (No), the process returns to step S33 and the same operation is performed. When searching for an estimated cause of a periodic defect, control is performed so as to search for only one estimated cause among the estimation target defects classified as the periodic defect in order to shorten the search time. You may control in the part 18. FIG.

以上のステップに基づいて、原因推定装置10を作動させることにより、表面欠陥の検出から、その推定原因の出力までの一連の作業を、高精度かつ速やかに行うことができる。特に、分類部14を設けたことにより、周期的に発生する表面欠陥に対して、精度の高い原因推定を行うことができる。なお、前記した各ステップを、コンピュータに実行させるプログラムにより、原因推定装置10を作動させることも可能である。   By operating the cause estimation apparatus 10 based on the above steps, a series of operations from detection of surface defects to output of the estimation cause can be performed with high accuracy and speed. In particular, by providing the classification unit 14, it is possible to estimate the cause with high accuracy for the periodic surface defects. In addition, it is also possible to operate the cause estimation apparatus 10 by a program that causes the computer to execute each of the steps described above.

以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は前記実施形態には限定されない。例えば、前記実施形態では、表面欠陥に関する数値データを受信し、その数値データに対応する推定原因を検索する原因推定装置について説明したが、表面欠陥に関する数値データに加え、表面欠陥に関する画像データも受信し、その数値データおよび画像データに対応する推定原因を検索する原因推定装置であってもよい。また、前記実施形態においては、アルミニウム板材の製造工程を例として説明したが、他の金属板材、例えば、銅板材の製造工程に用いても、本発明の効果が同様に発揮される。   As mentioned above, although embodiment of this invention was described, this invention is not limited to the said embodiment. For example, in the above-described embodiment, the cause estimation apparatus that receives numerical data related to surface defects and searches for the estimated cause corresponding to the numerical data has been described. However, in addition to numerical data related to surface defects, image data related to surface defects is also received. In addition, a cause estimation device that searches for an estimated cause corresponding to the numerical data and the image data may be used. Moreover, in the said embodiment, although the manufacturing process of the aluminum plate material was demonstrated as an example, even if it uses for the manufacturing process of another metal plate material, for example, a copper plate material, the effect of this invention is exhibited similarly.

また、第2のテーブル11b[図3(b)参照]に示す表面欠陥の種類のうち、季節要因に影響されるものや、特定の装置に限定して発生するもの等について、発生する季節や装置等と関連付けて第2のテーブル11bに登録しておき、原因推定の際、季節や装置等をキーワードとして、表面欠陥の種類(表面欠陥の原因)を絞り込んで検索するように制御部18において制御してもよい。これにより、検索時間の短縮化が図れる。   Of the types of surface defects shown in the second table 11b [see FIG. 3 (b)], those that are influenced by seasonal factors, those that occur only in a specific device, etc. In the second table 11b in association with the device or the like, the control unit 18 searches for the type of surface defect (cause of surface defect) by narrowing down and searching for the cause and the device or the like as keywords when estimating the cause. You may control. Thereby, the search time can be shortened.

本発明の一実施形態に係る原因推定装置が適用されたアルミニウム板材の製造工程を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the manufacturing process of the aluminum plate material to which the cause estimation apparatus which concerns on one Embodiment of this invention was applied. 本発明の一実施形態に係る原因推定装置の構成図である。It is a block diagram of the cause estimation apparatus which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明に用いられるデータベースの一例を示すものであり、(a)は第1のテーブル11aの一例を示し、(b)は第2のテーブル11bの一例を示す。2 shows an example of a database used in the present invention, where (a) shows an example of a first table 11a, and (b) shows an example of a second table 11b. 本発明の一実施形態に係る原因推定装置の動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows operation | movement of the cause estimation apparatus which concerns on one Embodiment of this invention. (a)は記憶部に記憶された推定対象欠陥に関するデータの一例を示すテーブルであり、(b)は(a)のテーブルにおいて、幅方向の位置、長さ(幅方向および長手方向)、面積、明強度および暗強度について、所定の基準により、いずれの判断項目のデータについても互いに合致する推定対象欠陥を抽出した後のテーブルであり、(c)は(b)のテーブルにおいて、所定の基準により、周期性欠陥と非周期性欠陥とに分類した後のテーブルである。(A) is a table which shows an example of the data regarding the estimation object defect memorize | stored in the memory | storage part, (b) is the position of a width direction, length (width direction and longitudinal direction), area in the table of (a). FIG. 5B is a table after extracting estimation target defects that match each other for data of any judgment item according to a predetermined criterion for light intensity and dark intensity, and FIG. This is a table after classification into periodic defects and non-periodic defects. CCDカメラを利用した検査装置の一例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows an example of the test | inspection apparatus using a CCD camera. レーザー光線を利用した検査装置の一例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows an example of the test | inspection apparatus using a laser beam.

符号の説明Explanation of symbols

10 原因推定装置
11 データベース
12 検出部
13 記憶部
14 分類部
15 検索部
16 出力部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Cause estimation apparatus 11 Database 12 Detection part 13 Storage part 14 Classification part 15 Search part 16 Output part

Claims (8)

過去に発生した金属板材の表面欠陥に関するデータと、それに対応する原因とが予め登録されたデータベースを備えた、金属板材の表面欠陥の原因推定装置であって、
原因推定対象の表面欠陥に関するデータを受信し、そのデータを記憶する記憶部と、
前記記憶部により記憶された原因推定対象の表面欠陥に関するデータを基に、前記原因推定対象の表面欠陥を、金属板材の長手方向に周期的に発生する周期性欠陥と非周期性欠陥とに分類する分類部と、
前記分類部により分類された前記原因推定対象の表面欠陥について、前記データベースから、前記原因推定対象の表面欠陥に関するデータに対応する推定原因を検索する検索部と、
前記検索部により発見された推定原因を出力する出力部とを備えたことを特徴とする原因推定装置。
A device for estimating the cause of a surface defect of a metal plate, comprising a database in which data related to the surface defect of the metal plate material generated in the past and a cause corresponding thereto are registered in advance,
A storage unit that receives data related to the surface defect of the cause estimation target and stores the data;
Based on the data related to the surface defect of the cause estimation object stored by the storage unit, the surface defect of the cause estimation object is classified into a periodic defect and a non-periodic defect that are periodically generated in the longitudinal direction of the metal plate material. A classification unit to
For the surface defect of the cause estimation target classified by the classification unit, a search unit that searches the database for an estimated cause corresponding to data related to the surface defect of the cause estimation target;
A cause estimation apparatus, comprising: an output unit that outputs an estimated cause discovered by the search unit.
前記検索部により、前記原因推定対象の表面欠陥に関するデータに対応する推定原因を検索した結果、推定原因を発見することができなかった場合に、前記原因推定対象の表面欠陥に関するデータが、前記データベースに登録されるように構成したことを特徴とする請求項1に記載の原因推定装置。   As a result of searching the estimated cause corresponding to the data related to the surface defect of the cause estimation target by the search unit, if the estimated cause cannot be found, the data related to the surface defect of the cause estimation target is the database. The cause estimation apparatus according to claim 1, wherein the cause estimation apparatus is configured to be registered in the system. 検査対象の金属板材の表面欠陥を検出する検出部を備え、
前記検出部により検出された原因推定対象の表面欠陥に関するデータが、前記記憶部に送信されるように構成したことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の原因推定装置。
Provided with a detection unit that detects surface defects of the metal plate material to be inspected,
The cause estimation apparatus according to claim 1 or 2, wherein data relating to a surface defect of a cause estimation target detected by the detection unit is transmitted to the storage unit.
過去に発生した金属板材の表面欠陥に関するデータと、それに対応する原因とが予め登録されたデータベースを備え、かつ、原因推定対象の表面欠陥に関するデータを受信し、そのデータを記憶する記憶部を備えた、金属板材の表面欠陥の原因推定装置における原因推定プログラムであって、
前記記憶部により記憶された原因推定対象の表面欠陥に関するデータを基に、前記原因推定対象の表面欠陥を、金属板材の長手方向に周期的に発生する周期性欠陥と非周期性欠陥とに分類する分類ステップと、
前記分類ステップにより分類された前記原因推定対象の表面欠陥について、前記データベースから、前記原因推定対象の表面欠陥に関するデータに対応する推定原因を検索する検索ステップと、
前記検索ステップにより発見された推定原因を出力する出力ステップとをコンピュータに実行させることを特徴とする原因推定プログラム。
It has a database in which data related to surface defects of metal plate materials that occurred in the past and causes corresponding to the data are registered in advance, and a storage unit that receives data related to surface defects to be estimated and stores the data In addition, a cause estimation program in the cause estimation device of the surface defect of the metal plate material,
Based on the data related to the surface defect of the cause estimation object stored by the storage unit, the surface defect of the cause estimation object is classified into a periodic defect and a non-periodic defect that are periodically generated in the longitudinal direction of the metal plate material. A classification step to
For the surface defect of the cause estimation target classified by the classification step, a search step of searching an estimated cause corresponding to data related to the surface defect of the cause estimation target from the database;
A cause estimation program causing a computer to execute an output step of outputting an estimated cause discovered by the search step.
前記検索ステップにより、前記原因推定対象の表面欠陥に関するデータに対応する推定原因を検索した結果、推定原因を発見することができなかった場合に、前記原因推定対象の表面欠陥に関するデータを前記データベースに登録する登録ステップを、コンピュータに実行させることを特徴とする請求項4に記載の原因推定プログラム。   As a result of searching the estimated cause corresponding to the data related to the surface defect of the cause estimation target by the search step, if the estimated cause cannot be found, the data related to the surface defect of the cause estimation target is stored in the database. The cause estimation program according to claim 4, wherein a registration step for registration is executed by a computer. 過去に発生した金属板材の表面欠陥に関するデータと、それに対応する原因とが予め登録されたデータベースを備え、かつ、原因推定対象の表面欠陥に関するデータを受信し、そのデータを記憶する記憶部を備えた、金属板材の表面欠陥の原因推定装置における原因推定方法であって、
前記記憶部により記憶された原因推定対象の表面欠陥に関するデータを基に、前記原因推定対象の表面欠陥を、金属板材の長手方向に周期的に発生する周期性欠陥と非周期性欠陥とに分類する分類ステップと、
前記分類ステップにより分類された前記原因推定対象の表面欠陥について、前記データベースから、前記原因推定対象の表面欠陥に関するデータに対応する推定原因を検索する検索ステップと、
前記検索ステップにより発見された推定原因を出力する出力ステップとを備えたことを特徴とする原因推定方法。
It has a database in which data related to surface defects of metal plate materials that occurred in the past and causes corresponding to the data are registered in advance, and a storage unit that receives data related to surface defects to be estimated and stores the data In addition, a cause estimation method in the cause estimation device of the surface defect of the metal plate material,
Based on the data related to the surface defect of the cause estimation object stored by the storage unit, the surface defect of the cause estimation object is classified into a periodic defect and a non-periodic defect that are periodically generated in the longitudinal direction of the metal plate material. A classification step to
For the surface defect of the cause estimation target classified by the classification step, a search step of searching an estimated cause corresponding to data related to the surface defect of the cause estimation target from the database;
An output step of outputting the estimated cause discovered by the search step.
前記検索ステップにより、前記原因推定対象の表面欠陥に関するデータに対応する推定原因を検索した結果、推定原因を発見することができなかった場合に、前記原因推定対象の表面欠陥に関するデータを前記データベースに登録する登録ステップを備えたことを特徴とする請求項6に記載の原因推定方法。   As a result of searching the estimated cause corresponding to the data related to the surface defect of the cause estimation target by the search step, if the estimated cause cannot be found, the data related to the surface defect of the cause estimation target is stored in the database. The cause estimation method according to claim 6, further comprising a registration step of registration. 検査対象の金属板材の表面欠陥を検出する検出ステップと、
前記検出ステップにより検出された原因推定対象の表面欠陥に関するデータを、前記記憶部に送信する送信ステップとを備えたことを特徴とする請求項6または請求項7に記載の原因推定方法。
A detection step for detecting surface defects of the metal plate material to be inspected;
The cause estimation method according to claim 6, further comprising: a transmission step of transmitting data related to the surface defect of the cause estimation target detected by the detection step to the storage unit.
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