JP2005071898A - Flash lamp light emitting device - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a novel structure of a flash lamp light emitting device which heats silicon wafers, etc. and does not generate white turbidity in an arc tube of a flash lamp. <P>SOLUTION: The flash lamp light emitting device, which is composed of the flash lamp 10 and a power feeding device 20 to control light emission of the flash lamp 10, is provided with a plurality of trigger electrodes 14a, 14b to feed a high voltage to the outer surface of the arc tube 11 of the flash lamp 10. By feeding a high voltage selectively to one or more trigger electrodes out of the plurality of trigger electrodes 14a, 14b every light emission of one or a plurality of times of the flash lamp 10, the flash lamp is made to emit light. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明はフラッシュランプ発光装置に関し、特に、シリコンウエハ等の基板を光照射することにより急速に加熱処理するフラッシュランプ発光装置に関する。   The present invention relates to a flash lamp light emitting device, and more particularly to a flash lamp light emitting device that rapidly heats a substrate such as a silicon wafer by irradiating light.

従来からシリコンウエハ等の基板を光照射により加熱する加熱装置が知られている。これは半導体製造工程においてウエハを急速加熱、高温保持、急速冷却するものであり、成膜(ウエハ表面に酸化膜を形成する)、拡散(ウエハ内部に不純物を拡散させる)等広い範囲で利用されている。拡散についていえば、シリコンウエハの表層部分におけるシリコン結晶に対してホウ素やヒ素のイオンを注入して、この状態のシリコンウエハに、例えば1000℃以上の熱処理を施すことによって不純物を拡散させるものである。   Conventionally, a heating apparatus for heating a substrate such as a silicon wafer by light irradiation is known. This is a method for rapidly heating, maintaining a high temperature, and rapidly cooling a wafer in a semiconductor manufacturing process, and is used in a wide range such as film formation (forming an oxide film on the wafer surface) and diffusion (diffusing impurities inside the wafer). ing. Speaking of diffusion, boron or arsenic ions are implanted into the silicon crystal in the surface layer portion of the silicon wafer, and the silicon wafer in this state is subjected to heat treatment at, for example, 1000 ° C. to diffuse the impurities. .

シリコンウエハを加熱処理する装置としては、ランプを加熱源として用い、この加熱源から放射される光をウエハに対して照射することによって急速に加熱し、その後、急速に冷却することができるRTP(Rapid Thermal Process)装置が知られている。この装置の加熱源は従来からハロゲンランプが用いられている。   As an apparatus for heat-treating a silicon wafer, a lamp is used as a heating source, and RTP (which can be rapidly heated and then rapidly cooled by irradiating the wafer with light emitted from the heating source). A Rapid Thermal Process device is known. Conventionally, a halogen lamp has been used as a heating source for this apparatus.

しかしながら、近年は、半導体集積回路の高集積化、微細化がますます要求されきており、例えば20nm以下というより浅いレベルで不純物拡散を形成することが必要となっており、ハロゲンランプを加熱源とした装置では、25〜30nmレベルの深さで処理することは可能であるが、上記深度では十分に対応することが困難になっている。   However, in recent years, there has been an increasing demand for higher integration and miniaturization of semiconductor integrated circuits. For example, it is necessary to form impurity diffusion at a shallower level of 20 nm or less. Although it is possible to process at a depth of 25 to 30 nm with the apparatus described above, it is difficult to sufficiently cope with the above depth.

また、極めて浅い領域に不純物拡散を達成させる方法としては、レーザ照射(XeCL)するものが知られており、これは数ミリメートルの照射幅を持つレーザ光によりシリコンウエハをスキャンする方法である。しかし、レーザ光を使う装置は非常に高価であり、また、シリコンウエハの表面上を小さなスポット径のレーザビームでスキャンしながら熱処理するため、スループットという点で問題がある。   As a method for achieving impurity diffusion in a very shallow region, laser irradiation (XeCL) is known. This is a method of scanning a silicon wafer with laser light having an irradiation width of several millimeters. However, an apparatus using laser light is very expensive, and heat treatment is performed while scanning the surface of the silicon wafer with a laser beam having a small spot diameter, which causes a problem in terms of throughput.

そこで、加熱源として、フラッシュランプを使い、シリコンウエハに対して極めて短時間で加熱する方法が提案されている。フラッシュランプによる加熱方法は、シリコンウエハが受ける温度を下げることができ、照射時間も極めて短いことから大きなメリットがある。   In view of this, a method of heating a silicon wafer in a very short time by using a flash lamp as a heating source has been proposed. The heating method using a flash lamp has a great advantage because it can lower the temperature received by the silicon wafer and the irradiation time is extremely short.

従来のフラッシュランプとしては、例えば、特開2001−185088号に開示されたものが知られている。
特開2001−185088号
As a conventional flash lamp, for example, one disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-185088 is known.
JP 2001-185088 A

ところで、フラッシュランプを用いたフラッシュランプ発光装置においては、フラッシュランプが点灯時間の経過に伴い発光管表面が白く変色してしまい、これに伴い放射光の被処理物における照度も低下したり、または不均一になるという問題が発生していた。   By the way, in the flash lamp light emitting device using the flash lamp, the surface of the arc tube turns white as the lighting time elapses, and accordingly, the illuminance of the processed object of the emitted light also decreases, or There was a problem of non-uniformity.

本発明の目的は、上記の問題点に鑑み、シリコンウエハ等を加熱するフラッシュランプ発光装置において、フラッシュランプの発光管に白濁が生じないフラッシュランプ発光装置を提供することにある。   In view of the above problems, an object of the present invention is to provide a flash lamp light emitting device that heats a silicon wafer or the like and that does not cause white turbidity in the light emitting tube of the flash lamp.

本発明は、上記の課題を解決するために、次のような手段を採用した。
第1の手段は、フラッシュランプと、このフラッシュランプを発光制御する給電装置とから構成されるフラッシュランプ発光装置において、前記フラッシュランプの発光管外表面に高電圧を供給する複数個のトリガー電極を設け、前記フラッシュランプの1または複数回の発光毎に、前記複数個のトリガー電極から1または複数個のトリガー電極に選択して高電圧を供給することにより、前記フラッシュランプを発光させるようにしたことを特徴とする。
The present invention employs the following means in order to solve the above problems.
The first means is a flash lamp light emitting device comprising a flash lamp and a power feeding device for controlling the light emission of the flash lamp, and a plurality of trigger electrodes for supplying a high voltage to the outer surface of the light emitting tube of the flash lamp. The flash lamp is made to emit light by selecting one or a plurality of trigger electrodes from the plurality of trigger electrodes and supplying a high voltage every one or a plurality of times of light emission of the flash lamp. It is characterized by that.

第2の手段は、フラッシュランプと、このフラッシュランプを発光制御する給電装置とから構成されるフラッシュランプ発光装置において、前記フラッシュランプの発光管外表面に高電圧を供給する複数個のトリガー電極を設け、前記フラッシュランプの1または複数回の発光毎に、前記複数個のトリガー電極のうち1または複数個のトリガー電極と残余の1または複数個のトリガー電極に交互に高電圧を供給することにより、前記フラッシュランプを発光させるようにしたことを特徴とする。   The second means is a flash lamp light emitting device comprising a flash lamp and a power feeding device for controlling the light emission of the flash lamp, and a plurality of trigger electrodes for supplying a high voltage to the outer surface of the light emitting tube of the flash lamp. Providing a high voltage alternately to one or a plurality of trigger electrodes and the remaining one or a plurality of trigger electrodes among the plurality of trigger electrodes every one or a plurality of times of light emission of the flash lamp. The flash lamp is made to emit light.

第3の手段は、第1の手段または第2の手段において、前記トリガー電極は、プリント印刷または蒸着により、前記発光管外表面に密着して設けられていることを特徴とする。   A third means is characterized in that, in the first means or the second means, the trigger electrode is provided in close contact with the outer surface of the arc tube by printing or vapor deposition.

第4の手段は、第3の手段において、前記プリント印刷または蒸着は、セラミックス酸化物層を塗布された発光管外表面上に施されていることを特徴とする。   A fourth means is characterized in that, in the third means, the printing or vapor deposition is performed on an outer surface of the arc tube coated with a ceramic oxide layer.

第5の手段は、第1の手段乃至第4の手段のいずれか1つの手段において、前記トリガー電極は、高融点酸化物により被覆されていることを特徴とする。   A fifth means is characterized in that, in any one of the first to fourth means, the trigger electrode is covered with a high melting point oxide.

第6の手段は、第5の手段において、前記高融点酸化物は、アルミナまたはイットリアであることを特徴とする。   A sixth means is characterized in that, in the fifth means, the refractory oxide is alumina or yttria.

第7の手段は、第1の手段または第2の手段において、前記トリガー電極は、誘電体材料からなるパイプの中に線状導体が配置されていることを特徴とする。   A seventh means is characterized in that, in the first means or the second means, the trigger electrode has a linear conductor disposed in a pipe made of a dielectric material.

第8の手段は、第1の手段乃至第7の手段のいずれか1つの手段において、前記発光管は、酸化アルミニウム(Al)を主成分とする材質から構成され、前記トリガー電極はタングステンまたはモリブデンを主成分とする材質から構成されることを特徴とする。 According to an eighth means, in any one of the first to seventh means, the arc tube is made of a material mainly composed of aluminum oxide (Al 2 O 3 ), and the trigger electrode is It is made of a material mainly composed of tungsten or molybdenum.

第9の手段は、第1の手段乃至第8の手段のいずれか1つの手段において、前記フラッシュランプは、複数本が並べて配置され、前記トリガー電極は隣合うフラッシュランプに対して共用するように配置されていることを特徴とする。   According to a ninth means, in any one of the first to eighth means, a plurality of the flash lamps are arranged side by side, and the trigger electrode is shared by adjacent flash lamps. It is arranged.

請求項1に記載の発明によれば、フラッシュランプと、このフラッシュランプを発光制御する給電装置とから構成されるフラッシュランプ発光装置において、前記フラッシュランプの発光管外表面に高電圧を供給する複数個のトリガー電極を設け、前記フラッシュランプの1または複数回の発光毎に、前記複数個のトリガー電極から1または複数個のトリガー電極に選択して高電圧を供給することにより、前記フラッシュランプを発光させるようにしたので、フラッシュランプの発光毎に、トリガー電極に選択されて高電圧が供給されるので、プラズマの発生位置が放電容器内の一定位置に固定されず、放電容器の白濁化を防止することができる。   According to the first aspect of the present invention, in the flash lamp light emitting device including the flash lamp and a power feeding device that controls light emission of the flash lamp, a plurality of lamps that supply a high voltage to the outer surface of the arc tube of the flash lamp. A plurality of trigger electrodes, and each time the flash lamp emits light one or more times, the flash lamp is selected by supplying one or more trigger electrodes from the plurality of trigger electrodes and supplying a high voltage. Since the light is emitted, each time the flash lamp emits light, the trigger electrode is selected and a high voltage is supplied, so the plasma generation position is not fixed at a fixed position in the discharge vessel, and the discharge vessel becomes clouded. Can be prevented.

請求項2に記載の発明によれば、フラッシュランプと、このフラッシュランプを発光制御する給電装置とから構成されるフラッシュランプ発光装置において、前記フラッシュランプの発光管外表面に高電圧を供給する複数個のトリガー電極を設け、前記フラッシュランプの1または複数回の発光毎に、前記複数個のトリガー電極のうち1または複数個のトリガー電極と残余の1または複数個のトリガー電極に交互に高電圧を供給することにより、前記フラッシュランプを発光させるようにしたので、フラッシュランプの発光毎に、トリガー電極が交互に高電圧が供給されるので、プラズマの発生位置が放電容器内の一定位置に固定されず、放電容器の白濁化を防止することができる。   According to the second aspect of the present invention, in the flash lamp light emitting device including the flash lamp and a power feeding device that controls the light emission of the flash lamp, a plurality of lamps that supply a high voltage to the outer surface of the light emitting tube of the flash lamp. A plurality of trigger electrodes are provided, and each time the flash lamp emits light one or more times, one or more trigger electrodes of the plurality of trigger electrodes and the remaining one or more trigger electrodes are alternately switched to a high voltage. Since the flash lamp is caused to emit light by supplying a high voltage, the trigger electrode is alternately supplied every time the flash lamp emits light, so that the plasma generation position is fixed at a fixed position in the discharge vessel. It is not possible to prevent the discharge vessel from becoming clouded.

請求項3に記載の発明によれば、トリガー電極は、プリント印刷または蒸着により、前記発光管外表面に密着して設けられるので、フラッシュランプの発光に伴いその位置が変化しないので、トリガー電極の放電容器に対する高電圧の印加を確実に行うことができ、また、幅や高さの小さいトリガー電極を正確に塗布することができるので、トリガー電極の数を容易に増加することができる。   According to the invention described in claim 3, since the trigger electrode is provided in close contact with the outer surface of the arc tube by printing or vapor deposition, the position of the trigger electrode does not change as the flash lamp emits light. A high voltage can be reliably applied to the discharge vessel, and a trigger electrode having a small width or height can be accurately applied, so that the number of trigger electrodes can be easily increased.

請求項4に記載の発明によれば、プリント印刷または蒸着は、セラミックス酸化物層を塗布された発光管外表面上に施されるので、放電容器の外表面に凹凸が形成されていても、前記プリント印刷または蒸着を確実に行うことができる。   According to the invention described in claim 4, since the printing or vapor deposition is performed on the outer surface of the arc tube coated with the ceramic oxide layer, even if the outer surface of the discharge vessel is uneven, The print printing or vapor deposition can be performed reliably.

請求項5に記載の発明によれば、トリガー電極は、高融点酸化物により被覆されているので、トリガー電極の酸化や接触による滑落による断線を防止できる。   According to the invention described in claim 5, since the trigger electrode is coated with the high melting point oxide, it is possible to prevent disconnection due to oxidation of the trigger electrode or sliding due to contact.

請求項6に記載の発明によれば、高融点酸化物は、アルミナまたはイットリアを用いたので、これによって真空蒸着、スパッタリング蒸着やゾルーゲル法を用いたガラスや結晶性の薄膜を容易に形成することができる。   According to the sixth aspect of the present invention, alumina or yttria is used as the high melting point oxide, so that glass or crystalline thin film using vacuum deposition, sputtering deposition or sol-gel method can be easily formed. Can do.

請求項7に記載の発明によれば、トリガー電極は、誘電体材料からなるパイプの中に線状導体が配置されているので、線状導体の構成材料がスパッタにより飛散した場合でも、放電容器の外表面に付着して汚したり、被照射物面上に落下することを防止することができる。   According to the seventh aspect of the present invention, since the linear conductor is arranged in the pipe made of the dielectric material, the trigger electrode has a discharge vessel even when the constituent material of the linear conductor is scattered by sputtering. Can be prevented from adhering to and contaminating the outer surface of the material or falling onto the surface of the irradiated object.

請求項8に記載の発明によれば、発光管は、酸化アルミニウム(Al)を主成分とする材質から構成され、トリガー電極はタングステンまたはモリブデンを主成分とする材質から構成したので、発光管の白濁防止を最も効果的に奏することができる。 According to the invention described in claim 8, since the arc tube is composed of a material mainly composed of aluminum oxide (Al 2 O 3 ), and the trigger electrode is composed of a material mainly composed of tungsten or molybdenum, It is possible to most effectively prevent white turbidity of the arc tube.

請求項9に記載の発明によれば、フラッシュランプは、複数本が並べて配置され、トリガー電極は隣合うフラッシュランプに対して共用するように配置されているので、トリガー電極の使用数を抑えることができ、トリガー電極の損耗を防止することができる。さらにトリガー回路の小型化を図ることもできる。   According to the ninth aspect of the present invention, a plurality of flash lamps are arranged side by side, and the trigger electrode is arranged so as to be shared with adjacent flash lamps, so that the number of trigger electrodes used can be suppressed. It is possible to prevent the trigger electrode from being worn. Furthermore, the trigger circuit can be reduced in size.

本発明の一実施形態を図1乃至図8を用いて説明する。
図1は、本発明に係るフラッシュランプ発光装置の概略構成を示す図である。
同図において、フラッシュランプ10の直管型の石英ガラス製放電容器11には、例えば、キセノンガスが封入されており、両端は封止されて内部に放電空間が区画されている。放電空間には一対の電極である陽極12と陰極13が対向配置されており、放電容器11の外面には長手方向に沿って2本の線状トリガー電極14a、14bが配設され、各線状トリガー電極14a、14bはトリガーバンド15によって保持されている。
An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a flash lamp light emitting device according to the present invention.
In the figure, a straight tube type quartz glass discharge vessel 11 of a flash lamp 10 is filled with, for example, xenon gas, and both ends are sealed to define a discharge space inside. A pair of electrodes, an anode 12 and a cathode 13, are disposed opposite to each other in the discharge space, and two linear trigger electrodes 14 a and 14 b are disposed along the longitudinal direction on the outer surface of the discharge vessel 11. The trigger electrodes 14 a and 14 b are held by a trigger band 15.

フラッシュランプ10は、一例として、放電容器11の内径がφ6〜φ15mmの範囲から選択され、例えばφ10mm、放電容器11の長さは200〜550mmの範囲から選択され、例えば300mmである。
封入ガスであるキセノンガスの封入量は、200〜1500torrの範囲から選択され、例えば500torrである。また、主要な封入ガスとしてはキセノンガスに限らず、アルゴンやクリプトンガスを採用することもできる。また、キセノンガスに加えて水銀等他の物質を添加することも可能である。
放電容器11は、石英ガラス、アルミナ、サファイア、YAG、イットリア等が使われる。
電極12,13は、タングステンを主成分とする焼結型電極であって、大きさは外径が4〜10mmの範囲から選択され、例えば5mm、長さは5〜9mmの範囲から選択され、例えば7mmである。電極間距離は160〜500mmの範囲から選択され、例えば280mmである。また、陰極13にはエミッターとして酸化バリウム(BaO)、酸化カルシウム(CaO)、酸化ストロンチウム(SrO)、アルミナ(Al)等が混入されている。
As an example, the flash lamp 10 has an inner diameter of the discharge vessel 11 selected from a range of φ6 to φ15 mm, for example, φ10 mm, and a length of the discharge vessel 11 is selected from a range of 200 to 550 mm, for example, 300 mm.
The amount of sealed xenon gas is selected from the range of 200 to 1500 torr, for example, 500 torr. Further, the main sealed gas is not limited to xenon gas, and argon or krypton gas may be employed. It is also possible to add other substances such as mercury in addition to xenon gas.
For the discharge vessel 11, quartz glass, alumina, sapphire, YAG, yttria, or the like is used.
The electrodes 12 and 13 are sintered electrodes mainly composed of tungsten, and the size is selected from the range of 4 to 10 mm in outer diameter, for example, 5 mm, and the length is selected from the range of 5 to 9 mm. For example, 7 mm. The distance between the electrodes is selected from a range of 160 to 500 mm, for example, 280 mm. Further, barium oxide (BaO), calcium oxide (CaO), strontium oxide (SrO), alumina (Al 2 O 3 ) and the like are mixed in the cathode 13 as an emitter.

また、トリガー電極14a、14bはフラッシュランプ10の全長にわたり配設されており、トリガーバンド15は、複数個のトリガー電極同士を電気的に絶縁する必要があるため、テフロン(登録商標)、ポリ塩化ビニル等の絶縁体が用いられる。   The trigger electrodes 14a and 14b are disposed over the entire length of the flash lamp 10, and the trigger band 15 needs to electrically insulate a plurality of trigger electrodes, so that Teflon (registered trademark), polychlorinated chloride is required. An insulator such as vinyl is used.

また、給電装置20は、発光回路21とトリガー回路22とから構成され、発光回路20は陽極11と陰極12に電気的に接続され、トリガー回路21はトリガー電極14a、14bに接続される。発光回路21とトリガー回路22は相互に信号を送受信しており、後述するように発光回路21内の主コンデンサに放電可能な充電が完了すると、その信号がトリガー回路22に送信されてトリガー回路22からトリガー電極14に対して高電圧が印加され、フラッシュランプ10が発光するようになっている。   The power feeding device 20 includes a light emitting circuit 21 and a trigger circuit 22. The light emitting circuit 20 is electrically connected to the anode 11 and the cathode 12, and the trigger circuit 21 is connected to trigger electrodes 14a and 14b. The light emitting circuit 21 and the trigger circuit 22 transmit / receive signals to / from each other. When the main capacitor in the light emitting circuit 21 is fully charged to be discharged as described later, the signal is transmitted to the trigger circuit 22 and the trigger circuit 22 is transmitted. Therefore, a high voltage is applied to the trigger electrode 14 so that the flash lamp 10 emits light.

それぞれのトリガー電極14a、14bは、トリガー回路22からの信号を独立して受信することが可能なように構成されており、トリガー回路22が選択したトリガー電極14aまたはトリガー電極14bを使ってランプを発光させている。
フラッシュランプ10の発光間隔は、例えば1分間に1発光であり、この場合、それぞれのトリガー電極14a、14bは2分毎に高電圧が印加されることになる。各トリガー電極14a、14bに印加される高電圧は、例えば−15KVである。
Each of the trigger electrodes 14a and 14b is configured to be able to receive a signal from the trigger circuit 22 independently. The trigger electrode 14a or the trigger electrode 14b selected by the trigger circuit 22 is used to switch the lamp. The light is emitted.
The light emission interval of the flash lamp 10 is, for example, one light emission per minute. In this case, a high voltage is applied to each trigger electrode 14a, 14b every two minutes. The high voltage applied to each trigger electrode 14a, 14b is, for example, −15 KV.

図2(a)は、トリガー電極14aに高電圧を印加したときの放電容器11内の状態を示す放電容器の断面図、図2(b)は、トリガー電極14bに高電圧を印加したときの放電容器11内の状態を示す放電容器の断面図である。
これら図に示すように、放電容器11の外表面2箇所にトリガー電極14a、14bがほぼ対称的に配置されており、最初に、図2(a)に示すように、トリガー電極14aに高電圧(15KV)を印加すると、放電容器11のトリガー電極14aに近い領域でプラズマP1が発生し、フラッシュランプ10は発光する。次に、図2(b)に示すように、トリガー電極14bに高電圧を印加すると放電容器11のトリガー電極14bに近い領域でプラズマP2が発生し、フラッシュランプ10は発光する。同様に、発光毎にトリガー電極を順次代えてフラッシュランプ10を発光させる。
2A is a cross-sectional view of the discharge vessel showing a state in the discharge vessel 11 when a high voltage is applied to the trigger electrode 14a, and FIG. 2B is a view when a high voltage is applied to the trigger electrode 14b. 2 is a cross-sectional view of a discharge vessel showing a state in the discharge vessel 11. FIG.
As shown in these figures, the trigger electrodes 14a and 14b are arranged almost symmetrically at two locations on the outer surface of the discharge vessel 11, and first, as shown in FIG. 2A, a high voltage is applied to the trigger electrode 14a. When (15 KV) is applied, plasma P1 is generated in a region near the trigger electrode 14a of the discharge vessel 11, and the flash lamp 10 emits light. Next, as shown in FIG. 2B, when a high voltage is applied to the trigger electrode 14b, plasma P2 is generated in a region near the trigger electrode 14b of the discharge vessel 11, and the flash lamp 10 emits light. Similarly, the flash lamp 10 is caused to emit light by sequentially changing the trigger electrode for each light emission.

ここで、従来の放電容器内面の白濁を引き起す原因について説明すると、従来から知られているフラッシュランプは、1つのトリガー電極が放電容器外面のいずれかの位置に配置される構造であるため、放電容器内のトリガー電極に近い部分に常にプラズマが発生してフラッシュ発光する。そのため、放電容器内面に白濁を引き起こし、放射光の光量低下や位置的な放射光のバラツキを発生させるものと推測される。また、白濁化が進行すると、放電容器を構成する材料、例えば、石英ガラスが微小な粉状体となって放電容器内に落下し、堆積していまい、上記の放射光量低下と位置的バラツキを一層助長させてしまう。さらに、プラズマは放電容器の構成材料に対して歪を発生されることもある。   Here, to explain the cause of white turbidity on the inner surface of the conventional discharge vessel, the conventionally known flash lamp has a structure in which one trigger electrode is arranged at any position on the outer surface of the discharge vessel. Plasma is always generated near the trigger electrode in the discharge vessel, and flash emission occurs. For this reason, it is presumed that white turbidity is caused on the inner surface of the discharge vessel, causing a decrease in the amount of emitted light and a variation in positional emitted light. Further, as the white turbidity progresses, the material constituting the discharge vessel, for example, quartz glass, becomes a fine powder and falls into the discharge vessel and does not accumulate. It will be further encouraged. Furthermore, the plasma may be distorted with respect to the constituent materials of the discharge vessel.

これに対し、本発明のフラッシュランプ発光装置では、複数個のトリガー電極14a、14bを交互に、かつ規則性をもってバランス良く活用するため、プラズマの発生位置が放電容器内の一定位置に固定されることがない。そのため、放電容器の特定位置における白濁化を防止することができる。   On the other hand, in the flash lamp light emitting device of the present invention, since the plurality of trigger electrodes 14a and 14b are used alternately and regularly with good balance, the plasma generation position is fixed at a fixed position in the discharge vessel. There is nothing. Therefore, white turbidity at a specific position of the discharge vessel can be prevented.

ここで、複数個のトリガー電極14a、14bを交互に使った場合の放電容器11内の現象について説明する。まず、最初の発光で、放電容器11内の動作させたトリガー電極(例えば、14a)に近い領域でプラズマP1が発生し、このプラズマP1に近接した発光管内壁の表面は、熱伝導と光による加熱で昇温して溶融する。そのため、放電容器11内でシリカ(SiO(0<x<2))なる組成の蒸発が起る。さらに、発光管には強力な紫外光の作用によって歪みが発生する(いわゆる、UV歪み)。他方、動作したトリガー電極14aと相対する側の発光管内壁には前記蒸発したシリカが飛来して堆積して、白色変色を起こす原因となる。
次に、他方のトリガー電極(例えば、14b)を動作させると、トリガー電極14bに近い領域でプラズマP2が発生するが、トリガー電極14bに近接する発光管内壁には、先に飛来したシリカが堆積しており、発光管はシリカを介してプラズマに曝されることになる。従って、トリガー電極14bに近接する発光管内壁は、最初の発光の場合と同じく加熱されるが、蒸発するのは先に堆積したシリカの部分であり、発光管内壁面は殆ど蒸発しない。また、シリカが紫外光を吸収するため、UV歪みは殆ど誘起されず、発光管の機械的強度の低下は殆ど起こらないことになる。
Here, a phenomenon in the discharge vessel 11 when a plurality of trigger electrodes 14a and 14b are alternately used will be described. First, in the first light emission, plasma P1 is generated in a region near the activated trigger electrode (for example, 14a) in the discharge vessel 11, and the surface of the inner wall of the arc tube adjacent to the plasma P1 is caused by heat conduction and light. It is heated up to melt. Therefore, evaporation of a composition of silica (SiO x (0 <x <2)) occurs in the discharge vessel 11. Furthermore, the arc tube is distorted by the action of strong ultraviolet light (so-called UV distortion). On the other hand, the evaporated silica comes and accumulates on the inner wall of the arc tube opposite to the activated trigger electrode 14a, causing white discoloration.
Next, when the other trigger electrode (for example, 14b) is operated, plasma P2 is generated in a region close to the trigger electrode 14b. However, silica that has come first is deposited on the inner wall of the arc tube adjacent to the trigger electrode 14b. The arc tube is exposed to the plasma through silica. Accordingly, the inner wall of the arc tube adjacent to the trigger electrode 14b is heated in the same manner as in the case of the first light emission, but it is the silica portion deposited earlier that evaporates, and the inner wall surface of the arc tube hardly evaporates. Further, since silica absorbs ultraviolet light, almost no UV distortion is induced, and the mechanical strength of the arc tube hardly decreases.

要するに、繰り返される発光サイクルの中で、最初の発光で飛散したシリカはプラズマからの熱と光により加熱を受けて発光管内を移動し続けるので、発光管の白色化進行が抑制され、また、UV歪みの発生または蓄積が防止される。   In short, in the repeated light emission cycle, the silica scattered by the first light emission is heated by the heat and light from the plasma and continues to move in the arc tube, so the progress of whitening of the arc tube is suppressed, and UV Generation or accumulation of distortion is prevented.

特に、半導体ウエハや液晶基板等の被処理物の急速加熱に使うフラッシュランプでは、発光エネルギーが6000Jという大きなものであり、被処理物の温度は瞬間的に1500℃という高温に昇温される。このようなフラッシュランプに対するエネルギー的負荷や熱的負荷は極めて厳しく過酷なものにおいては、上記のトリガー電極への高電圧の供給方法は極めて有効に機能する。即ち、フラッシュランプそのものは、カメラのストロボやプリンターの定着用光源等に従来から広く使用されてはいるが、このような発光エネルギーの小さい用途においては、放電容器の白濁は決して起こらず、上記のようなトリガー電極への高電圧の供給方法を採用する必要はない。   In particular, a flash lamp used for rapid heating of an object to be processed such as a semiconductor wafer or a liquid crystal substrate has a large emission energy of 6000 J, and the temperature of the object to be processed is instantaneously increased to 1500 ° C. When the energy load and the thermal load on such a flash lamp are extremely severe and severe, the above-described method of supplying a high voltage to the trigger electrode functions extremely effectively. In other words, the flash lamp itself has been widely used for camera strobes, printer fixing light sources, etc., but in such applications with low emission energy, the cloudiness of the discharge vessel never occurs. It is not necessary to adopt such a high voltage supply method to the trigger electrode.

なお、ここでトリガー電極14a、14bは、1回のフラッシュ発光毎に切り替える場合について説明したが、このような態様に限定されるものではなく、数回、同じトリガー電極を使ってフラッシュ発光することも可能である。例えば、トリガー電極14aを使って100回続けてフラッシュ発光を行い、次にトリガー電極14bを使って同様に100回続けてフラッシュ発光させるようにしてもよい。また、トリガー電極は規則的に駆動させてもよいし、ランダムに駆動させてもよい。
また、トリガー電極の数は2個に限定されず、多数個設けてもよい。この場合、多数個のトリガー電極を1個ずつ発光させてもよいし、複数個のトリガー電極をグループ化し、グループ単位で発光させてもよい。例えば、トリガー電極が4個配置されている場合、任意の2個のトリガー電極を一つのグループ、残りの2個のトリガー電極をもう一つのグループとして、これらをグループ毎に使用するようにしてもよい。
The trigger electrodes 14a and 14b have been described here as being switched for each flash emission. However, the present invention is not limited to this mode, and the same trigger electrode is used for flash emission several times. Is also possible. For example, the flash emission may be performed 100 times continuously using the trigger electrode 14a, and then the flash emission may be continuously performed 100 times using the trigger electrode 14b. In addition, the trigger electrode may be driven regularly or randomly.
Further, the number of trigger electrodes is not limited to two, and a large number may be provided. In this case, a large number of trigger electrodes may be caused to emit light one by one, or a plurality of trigger electrodes may be grouped to emit light in group units. For example, when four trigger electrodes are arranged, any two trigger electrodes may be used as one group and the remaining two trigger electrodes as another group, and these may be used for each group. Good.

このように本発明のフラッシュランプ発光装置は、フラッシュランプの放電容器外表面に複数個配設されたトリガー電極のうち、いずれかのトリガー電極を交互かつ規則性をもって選択することにより、放電容器内における片寄ったフラッシュ発光を防止することができ、これにより放電容器の白濁等の問題を解決することができる。   As described above, the flash lamp light emitting device of the present invention has a plurality of trigger electrodes arranged on the outer surface of the discharge vessel of the flash lamp. In this case, it is possible to prevent the flash emission that is offset in the case, and thus it is possible to solve problems such as cloudiness of the discharge vessel.

なお、本発明者らは、放電容器11の構成材料がアルミナ(Al)であって、トリガー電極としてタングステンを主成分とする材料を蒸着させた場合に、上記白濁防止の効果が最も優れていることを確認した。 Note that the present inventors have the most effective white turbidity prevention effect when the constituent material of the discharge vessel 11 is alumina (Al 2 O 3 ) and a material mainly composed of tungsten is deposited as a trigger electrode. It was confirmed that it was excellent.

図3(a)乃至図3(c)は、それぞれ図2に示したトリガー電極構造とは異なるトリガー電極構造を有する放電容器の断面図である。   FIGS. 3A to 3C are cross-sectional views of a discharge vessel having a trigger electrode structure different from the trigger electrode structure shown in FIG.

図3(a)は、放電容器11の外表面8箇所にトリガー電極14a〜14hを均等間隔をもってバランス良く配置した放電容器の断面図であり、これらのトリガー電極14a〜14hは、放電容器11の外表面にプリント印刷もしくは蒸着によって形成される。   FIG. 3A is a cross-sectional view of a discharge vessel in which trigger electrodes 14a to 14h are arranged in a balanced manner at eight positions on the outer surface of the discharge vessel 11, and these trigger electrodes 14a to 14h are formed on the discharge vessel 11. It is formed on the outer surface by printing or vapor deposition.

このトリガー電極構造の利点は、トリガー電極14a〜14hが放電容器11の外表面に密着して固定されるので、フラッシュランプ10の発光に伴いその位置が変化しないことである。即ち、線状導体の場合は発光時の高温により、トリガー電極自身が伸縮したり、振動等により放電容器から部分的に離間することがある。このためトリガー電極の放電容器に対する高電圧の印加が不十分なものとなったり、または位置的に不均一を生じる。特に、半導体ウエハや液晶基板の加熱においては、ランプ発光時の放電容器が100℃程度であるのに対し、線状トリガー電極は数百℃の高温となるため、両者の温度の違いからその傾向が著しい。   The advantage of this trigger electrode structure is that the positions of the trigger electrodes 14a to 14h do not change as the flash lamp 10 emits light because the trigger electrodes 14a to 14h are fixed in close contact with the outer surface of the discharge vessel 11. That is, in the case of a linear conductor, the trigger electrode itself may expand or contract due to the high temperature during light emission, or may be partially separated from the discharge vessel due to vibration or the like. For this reason, application of a high voltage to the discharge vessel of the trigger electrode becomes insufficient, or the position is uneven. In particular, in the heating of semiconductor wafers and liquid crystal substrates, the discharge vessel at the time of lamp emission is about 100 ° C., whereas the linear trigger electrode has a high temperature of several hundred degrees C. Is remarkable.

プリント印刷または蒸着による利点は、トリガー電極14a〜14hを形成する場合、幅や高さの小さい電極を正確に塗布することができ、図示するようにトリガー電極の数を容易に増加することができる。   The advantage of printing or vapor deposition is that when the trigger electrodes 14a to 14h are formed, an electrode having a small width or height can be accurately applied, and the number of trigger electrodes can be easily increased as shown in the figure. .

トリガー電極14a〜14hの材料は、例えば、タングステン、ニッケル、アルミニウム、白金、銀、パラジウム、ロジウム、インコネル(ニッケルークロムー鉄合金)、モリブデン金、珪化モリブデン、金合金等であり、トリガー電極14a〜14hの幅、厚さは数百μmのレベルで作ることができる。
さらに、フラッシュランプ10は、数ミリ程度、具体的には2mm程度の間隔を置いて配置する場合があるが、このようなフラッシュランプの配置構造の場合には、トリガー電極14a〜14hの高さが低いのは有利である。
The materials of the trigger electrodes 14a to 14h are, for example, tungsten, nickel, aluminum, platinum, silver, palladium, rhodium, inconel (nickel-chromium-iron alloy), molybdenum gold, molybdenum silicide, gold alloy, and the like. The width and thickness of 14h can be made at a level of several hundred μm.
Furthermore, the flash lamp 10 may be arranged at intervals of about several millimeters, specifically about 2 mm. In the case of such a flash lamp arrangement structure, the height of the trigger electrodes 14a to 14h is increased. Is low.

また、トリガー電極14a〜14hの放電容器11への密着性を向上させるために、放電容器11に高融点セラミックス酸化物を塗布して、その上にトリガー電極14a〜14hを形成する。これにより放電容器の外表面は凹凸が形成されている場合でも、トリガー電極の塗布作業を容易に行うことができる。   Further, in order to improve the adhesion of the trigger electrodes 14a to 14h to the discharge vessel 11, a high melting point ceramic oxide is applied to the discharge vessel 11 to form the trigger electrodes 14a to 14h thereon. Thereby, even when the outer surface of the discharge vessel is uneven, the trigger electrode can be easily applied.

図3(b)は放電容器11の外表面8箇所に高融点酸化物で外表面を被膜したトリガー電極14a〜14hを均等間隔をもってバランス良く配置した放電容器の断面図であり、これらのトリガー電極14a〜14hは放電容器11の外表面にプリント印刷もしくは蒸着によって形成される。
上記高融点酸化物の被膜材料としては、アルミナ、イットリアが用いられ、これによって真空蒸着、スパッタリング蒸着やゾルーゲル法を用いたガラスや結晶性の薄膜を形成することができる。
トリガー電極14a〜14hをこのように構成することにより、トリガー電極の酸化や接触による滑落による断線を防止できる。
FIG. 3B is a cross-sectional view of the discharge vessel in which the trigger electrodes 14a to 14h whose outer surfaces are coated with high melting point oxides are arranged at equal intervals on the outer surface 8 of the discharge vessel 11 in a balanced manner. 14a to 14h are formed on the outer surface of the discharge vessel 11 by printing or vapor deposition.
As the refractory oxide film material, alumina or yttria is used, whereby a glass or crystalline thin film using vacuum deposition, sputtering deposition or sol-gel method can be formed.
By configuring the trigger electrodes 14a to 14h in this manner, disconnection due to oxidation of the trigger electrode or sliding due to contact can be prevented.

図3(c)は放電容器11の外表面3箇所にトリガー電極14a〜14cを配置した放電容器の断面図であり、トリガー電極14a〜14cは被照射物が配置される側(図示下方)には配置されておらず、また、各トリガー電極14a〜14cは石英ガラス等の誘電体材料からなるパイプ管141の中に線状導体142を配置した構造となっている。
トリガー電極14a〜14cをこのように構成することにより、線状導体142の構成材料がスパッタにより飛散した場合に、放電容器11の外表面に付着して汚したり、または、被照射物面上に落下することを防止することができる。なお、トリガー電極14a〜14cの酸化を防止するためにパイプ管141の中には窒素やアルゴン等の不活性ガスを封入することも可能である。
FIG. 3C is a cross-sectional view of the discharge vessel in which the trigger electrodes 14a to 14c are arranged at three locations on the outer surface of the discharge vessel 11, and the trigger electrodes 14a to 14c are on the side (lower side in the drawing) where the irradiated object is arranged. The trigger electrodes 14a to 14c have a structure in which a linear conductor 142 is arranged in a pipe tube 141 made of a dielectric material such as quartz glass.
By configuring the trigger electrodes 14a to 14c in this way, when the constituent material of the linear conductor 142 is scattered by sputtering, it adheres to the outer surface of the discharge vessel 11 and becomes dirty, or on the surface of the irradiated object. It can be prevented from falling. In order to prevent the trigger electrodes 14a to 14c from being oxidized, an inert gas such as nitrogen or argon can be enclosed in the pipe pipe 141.

放電容器11の外表面であって被照射物が配置される側にトリガー電極14a〜14cを配置しないのは、被照射物に対する遮光を防止するためであり、またプラズマの片寄った発生による白濁の発生が実用上の影響のないレベルであれば、特定の位置においてはトリガー電極を配置させないことも可能ということである。   The reason why the trigger electrodes 14a to 14c are not disposed on the outer surface of the discharge vessel 11 on the side where the irradiated object is disposed is to prevent light shielding against the irradiated object, and also the cloudiness caused by the occurrence of the plasma being offset. If the generation is at a level that does not have a practical influence, it is possible to dispose the trigger electrode at a specific position.

なお、ここで、図2および図3(a)に示すトリガー電極の線状導体としては、例えば、タングステン、ニッケル、アルミニウム、白金、インコネル(ニッケルークロムー鉄合金)、モリブデン等が使用される。外径は、例えばφ0.5〜3.0mmの範囲から選択されて、例えばφ1.0mmのものが採用される。
また、トリガー電極の構造、数、配置は図2および図3(a)〜(c)に示す構造に限定されるものではなく、その他の形態も適宜可能である。例えば、図3(c)に示す構造のトリガー電極を図3(a)に示すように8ヶ所配設することや、図2および図3(a)
〜(c)に示す構造のトリガー電極を組み合わせて使うことも可能である。
また、図2および図3(a)〜(c)に示すトリガー電極は直線形状に限定されるものではなく、例えば、螺旋状に放電容器に巻き付けることも可能であり、この場合は電気的に絶縁された複数の螺旋状電極を交互に放電容器に巻き付けることになる。
Here, as the linear conductor of the trigger electrode shown in FIGS. 2 and 3A, for example, tungsten, nickel, aluminum, platinum, inconel (nickel-chromium-iron alloy), molybdenum, or the like is used. The outer diameter is selected from, for example, a range of φ0.5 to 3.0 mm, and for example, a φ1.0 mm is adopted.
Further, the structure, number, and arrangement of the trigger electrodes are not limited to the structures shown in FIG. 2 and FIGS. 3A to 3C, and other forms are also possible as appropriate. For example, eight trigger electrodes having the structure shown in FIG. 3C are disposed as shown in FIG. 3A, or FIG. 2 and FIG.
It is also possible to use a combination of trigger electrodes having the structure shown in (c).
Further, the trigger electrode shown in FIG. 2 and FIGS. 3A to 3C is not limited to a linear shape. For example, the trigger electrode can be spirally wound around the discharge vessel. A plurality of insulated spiral electrodes are alternately wound around the discharge vessel.

図4は、図1に示した給電装置20の発光回路21とトリガー回路22の具体的構成を示す図である。
同図に示すように、発光回路21は、交流電源ACに接続されて、スイッチングインバータ回路、トランスT、整流回路、インバータ回路の制御回路、および、整流回路の二次側に逆流防止用ダイオードD、抵抗R、主コンデンサC、コイルLから構成される。
抵抗Rは、主コンデンサCの充電電圧を検出するもので、その信号は制御回路に送信される。
フラッシュランプ10にはトリガー電極14a、14bが配設され、各トリガー電極14a、14bはトリガー回路22に接続される。
FIG. 4 is a diagram illustrating a specific configuration of the light emitting circuit 21 and the trigger circuit 22 of the power feeding device 20 illustrated in FIG. 1.
As shown in the figure, the light emitting circuit 21 is connected to an AC power source AC, and a switching inverter circuit, a transformer T, a rectifier circuit, a control circuit for the inverter circuit, and a backflow prevention diode D on the secondary side of the rectifier circuit. , Resistor R, main capacitor C, and coil L.
The resistor R detects the charging voltage of the main capacitor C, and the signal is transmitted to the control circuit.
The flash lamp 10 is provided with trigger electrodes 14 a and 14 b, and each trigger electrode 14 a and 14 b is connected to a trigger circuit 22.

発光回路21において、スイッチングインバータ回路や整流回路等を経て主コンデンサCにエネルギーが充電される。主コンデンサCに十分なエネルギーが充電されると、抵抗Rからの検出値が制御回路に送信され、制御回路からの指令がトリガー回路22に伝達される。トリガー回路22は指令を受けると、トリガー電極14を駆動する。これによって、トリガー電極14に高電圧が発生して、放電容器10を誘電体として電界を誘発すると共に、それにつれて主コンデンサCのエネルギーが瞬時に放電してフラッシュ発光(閃光発光)する。
ここで、トリガー回路22には、複数個のトリガー電極14a、14bのうち、いずれのトリガー電極を使うかを決める選択機能を有しており、選択されたトリガー電極に対して高電圧を発生させる。
In the light emitting circuit 21, energy is charged in the main capacitor C through a switching inverter circuit, a rectifier circuit, and the like. When the main capacitor C is charged with sufficient energy, a detection value from the resistor R is transmitted to the control circuit, and a command from the control circuit is transmitted to the trigger circuit 22. When receiving the command, the trigger circuit 22 drives the trigger electrode 14. As a result, a high voltage is generated at the trigger electrode 14 to induce an electric field using the discharge vessel 10 as a dielectric, and at the same time, the energy of the main capacitor C is instantaneously discharged and flash emission (flash emission) occurs.
Here, the trigger circuit 22 has a selection function for determining which one of the plurality of trigger electrodes 14a and 14b is used, and generates a high voltage for the selected trigger electrode. .

この給電装置20におけるフラッシュランプ10の発光について、数値例をあげると、主コンデンサCの充放電は、例えば1分間に0.5〜2回、具体的には1回の割合で繰り返され、主コンデンサCには、例えば、2000〜5000Vの範囲から選択され、例えば4500V、エネルギーで表現すると1200〜7500Jの範囲から選択され、例えば6000Jのエネルギーが充放電を起こし、フラッシュランプに供給される。
トリガー電極には、例えば−5〜−15KVの高電圧が印加される。因みに、トリガー電極にマイナス高電圧が印加することが、放電容器11内のトリガー電極に近い領域にプラズマを発生させる原因となる。
通常、フラッシュランプ10は、図1に示すようなフラッシュランプを複数並べて配置するが、具体的には5〜30本から選択され、例えば、10本である。また、被照射面における光強度は、フラッシュランプ10の本数が5〜30の範囲として、10〜50J/cm範囲から選択され、例えば20J/cmとなる。
With regard to the light emission of the flash lamp 10 in the power supply device 20, for example, charging / discharging of the main capacitor C is repeated, for example, 0.5 to 2 times per minute, specifically at a rate of 1 time. The capacitor C is selected from, for example, a range of 2000 to 5000 V, for example, 4500 V, and is selected from a range of 1200 to 7500 J in terms of energy. For example, energy of 6000 J is charged and discharged and supplied to the flash lamp.
For example, a high voltage of −5 to −15 KV is applied to the trigger electrode. Incidentally, the application of a minus high voltage to the trigger electrode causes plasma to be generated in a region near the trigger electrode in the discharge vessel 11.
Normally, a plurality of flash lamps as shown in FIG. 1 are arranged side by side as the flash lamp 10. Specifically, the flash lamp 10 is selected from 5 to 30, for example, ten. Further, the light intensity on the irradiated surface, the range number of 5-30 flash lamp 10, is selected from 10~50J / cm 2 range, for example, a 20 J / cm 2.

図5は、本発明に係るフラッシュランプ発光装置を用いた光加熱装置の概略構成を示す図である。
同図に示すように、この光加熱装置はフラッシュランプ発光装置30と加熱装置本体50とから構成される。
FIG. 5 is a diagram showing a schematic configuration of a light heating device using the flash lamp light emitting device according to the present invention.
As shown in the figure, the light heating device includes a flash lamp light emitting device 30 and a heating device main body 50.

フラッシュランプ10はケーシング41の中に反射ミラー42とともに収納されており、フラッシュランプ10は複数本、例えば、5本配置されているが、現実には、約30本のフラッシュランプ10が2〜3mmの間隙で並べて配置される。各フラッシュランプ10毎にトリガー電極14が、例えば、3つ配設される。なお、ケーシング41の前面に透光性ガラスを配置して後述するチャンバー51と区画してもよい。
チャンバー51は、雰囲気ガス導入口51Aと排出口51Bとを有する石英ガラス製であって、内部に被処理物の一例としてのシリコンウエハWを載せるステージ52を備えている。チャンバー51の天井面(図示上面)には、石英の平板54が気密な透光部材として設けられる。また、ステージ52にはヒータランプ53が埋設されており、ヒータランプ53は、チャンバー制御回路55により温度制御される。このチャンバー制御回路55は、ステージ52の昇降機能やガス導入口51A、ガス排出口51Bの開閉制御等も行う。
なお、その他の構成は図1に示した同符号の構成に対応するので説明を省略する。
The flash lamp 10 is housed in the casing 41 together with the reflecting mirror 42, and a plurality of, for example, five flash lamps 10 are arranged, but in reality, about 30 flash lamps 10 are 2 to 3 mm. Are arranged side by side in the gap. For example, three trigger electrodes 14 are provided for each flash lamp 10. Note that a translucent glass may be disposed on the front surface of the casing 41 to partition the chamber 51 described later.
The chamber 51 is made of quartz glass having an atmospheric gas inlet 51A and an outlet 51B, and includes a stage 52 on which a silicon wafer W as an example of an object to be processed is placed. A quartz flat plate 54 is provided as an airtight light-transmitting member on the ceiling surface (illustrated upper surface) of the chamber 51. A heater lamp 53 is embedded in the stage 52, and the temperature of the heater lamp 53 is controlled by a chamber control circuit 55. The chamber control circuit 55 also performs an elevating function of the stage 52, opening / closing control of the gas inlet 51A and the gas outlet 51B, and the like.
Other configurations correspond to the configurations of the same reference numerals shown in FIG.

加熱装置本体50のチャンバー51に、不純物が注入されたシリコンウエハWが搬入されると、ヒータランプ53によりシリコンウエハWを不純物の熱拡散が問題にならない所定温度まで予備加熱する。その後、フラッシュランプ10を発光させて、シリコンウエハWへの閃光放射による熱処理を行なう。
この熱処理により、シリコンウエハWは20nm以内の表層部分が急速に高温化され、その後、急速に冷却される。なお、予備加熱は、ウエハの厚み方向の温度勾配を小さくすることと被照射面の温度を必要な程度まで上昇させるために必要なランプに注入するエネルギーを最小に留めるという理由で行なうことが好ましく、加熱温度は、300〜500℃の範囲から選択され、例えば、350℃である。
また、ヒータランプ53とフラッシュランプ10による熱処理中におけるウエハの表面温度は1000℃以上になり、具体的には1000℃〜1300℃の範囲で熱処理される。このように、ウエハにおける最大温度を1000℃以上にまで加熱することにより、ウエハ表層部分に確実に不純物拡散層を形成することができる。
When the silicon wafer W into which impurities are implanted is carried into the chamber 51 of the heating apparatus main body 50, the silicon wafer W is preheated to a predetermined temperature by the heater lamp 53 so that thermal diffusion of impurities does not become a problem. Thereafter, the flash lamp 10 is caused to emit light, and the silicon wafer W is subjected to heat treatment by flash radiation.
By this heat treatment, the surface portion of the silicon wafer W within 20 nm is rapidly heated to a high temperature and then rapidly cooled. The preheating is preferably performed for the purpose of reducing the temperature gradient in the thickness direction of the wafer and minimizing the energy injected into the lamp necessary for raising the temperature of the irradiated surface to a necessary level. The heating temperature is selected from the range of 300 to 500 ° C, and is, for example, 350 ° C.
Further, the surface temperature of the wafer during the heat treatment by the heater lamp 53 and the flash lamp 10 is 1000 ° C. or more, and specifically, the heat treatment is performed in the range of 1000 ° C. to 1300 ° C. Thus, by heating the maximum temperature of the wafer to 1000 ° C. or higher, the impurity diffusion layer can be reliably formed on the surface layer portion of the wafer.

このフラッシュランプ発光装置30においては、各フラッシュランプ10毎にトリガー電極14を3つ配設したが、後述するように、隣接するフラッシュランプ10の間にトリガー電極を配置させた場合は、互いに隣接するトリガー電極は両方のフラッシュランプに対して共用することが可能である。   In this flash lamp light emitting device 30, three trigger electrodes 14 are arranged for each flash lamp 10. However, as described later, when trigger electrodes are arranged between adjacent flash lamps 10, they are adjacent to each other. The trigger electrode to be used can be shared for both flash lamps.

図6は、隣接するフラッシュランプ間に配設されたトリガー電極を隣接するフラッシュランプに対して共用させた構成を示す図である。
同図に示すように、ここでは便宜的に4本のフラッシュランプ10a〜10dと5個のトリガー電極14a〜14eが反射ミラー42の中に配置された構成を示している。
これらのトリガー電極14a〜14eは、図3(c)に示したものと同様であり、石英ガラス管の中に例えばモリブデンからなる線状導体が配設されている。
FIG. 6 is a diagram showing a configuration in which a trigger electrode disposed between adjacent flash lamps is shared by adjacent flash lamps.
As shown in the figure, here, for convenience, four flash lamps 10 a to 10 d and five trigger electrodes 14 a to 14 e are arranged in a reflection mirror 42.
These trigger electrodes 14a to 14e are the same as those shown in FIG. 3C, and a linear conductor made of, for example, molybdenum is disposed in a quartz glass tube.

このような構成において、5個のトリガー電極14a〜14eのうちトリガー電極14b、14dに高電圧を印加すると、全てのフラッシュランプ10a〜10dを同時に発光させることができる。次の発光時、5個のトリガー電極14a〜14eのうちトリガー電極14a、14c、14eに高電圧を印加すると、同様に全てのフラッシュランプ10a〜10dを同時に発光させることができる。
このようにフラッシュランプが近接して配置される構造であって、トリガー電極に高い電圧を印加するような場合には、1つのトリガー電極によって隣接する2つのフラッシュランプを発光させることができる。
In such a configuration, when a high voltage is applied to the trigger electrodes 14b and 14d among the five trigger electrodes 14a to 14e, all the flash lamps 10a to 10d can emit light simultaneously. At the time of the next light emission, if a high voltage is applied to the trigger electrodes 14a, 14c, 14e among the five trigger electrodes 14a-14e, all the flash lamps 10a-10d can be made to emit light at the same time.
When the flash lamps are arranged close to each other as described above and a high voltage is applied to the trigger electrode, two adjacent flash lamps can be caused to emit light by one trigger electrode.

トリガー電極をこのように構成することにより、トリガー電極の使用数を抑えることができ、トリガー電極の損耗を防止することができる。また、トリガー回路の小型化を図ることもできる。さらに、当然のこととして、トリガー電極の選択を交互かつ規則的に行うことにより、放電容器の白濁の発生を良好に防止することができる。   By configuring the trigger electrode in this way, the number of trigger electrodes used can be reduced, and wear of the trigger electrodes can be prevented. In addition, the trigger circuit can be reduced in size. Furthermore, as a matter of course, the occurrence of white turbidity in the discharge vessel can be satisfactorily prevented by selecting the trigger electrodes alternately and regularly.

図7は、図5に示したシリコンウエハWに照射される放射光のスペクトルを表す。縦軸は波長500nmの強度に対する相対放射強度を示し、横軸は波長(nm)を示している。
このうち、波長220nm〜波長370nmを短波長の光、波長370〜800nmを長波長の光とすれば、短波長の光と長波長の光は、シリコンウエハの厚み方向において吸収量が異なる。
具体的には、波長220nm〜波長370nmの光は、大きな光強度として表面のごく浅い部分のみを加熱するのに対し、波長370〜800nmの光は表面から深さ400nmの領域まで同じ程度(短波長に比較すると)の光強度をもって加熱に寄与する。
ここで、シリコンウエハの厚さは、概略725μmであり、イオン注入等で導入された不純物を活性化させるためには、表層部10nmを含む約100nmの深さまでを加熱させなければならない。
FIG. 7 shows the spectrum of the radiation emitted to the silicon wafer W shown in FIG. The vertical axis indicates the relative radiation intensity with respect to the intensity at a wavelength of 500 nm, and the horizontal axis indicates the wavelength (nm).
Among these, if the wavelength 220 nm to wavelength 370 nm is short wavelength light and the wavelength 370 to 800 nm is long wavelength light, the short wavelength light and the long wavelength light have different absorption amounts in the thickness direction of the silicon wafer.
Specifically, light with a wavelength of 220 nm to 370 nm heats only a very shallow portion of the surface with high light intensity, whereas light with a wavelength of 370 to 800 nm has the same degree (short) from the surface to a region of depth of 400 nm. Contributes to heating with a light intensity of (compared to wavelength).
Here, the thickness of the silicon wafer is approximately 725 μm, and in order to activate impurities introduced by ion implantation or the like, it is necessary to heat up to a depth of about 100 nm including the surface layer portion 10 nm.

次に、本発明のフラッシュランプ発光装置の効果を立証するための実験について説明する。
図8は、従来例、発明1および発明2の実験結果を示す図であり、縦軸は相対照度、横軸は発光回数を示す。
同図において、従来例は、フラッシュランプの放電容器外面にモリブデンからなる線状導体を1本だけ配置した場合であり、発明1および発明2は、フラッシュランプの放電容器外面に図3(b)に示す構造のトリガー電極を用いたものであり、モリブデン材料をプリント印刷して高融点酸化物で被覆したものである。発明1と発明2の違いは、発明1は1つのフラッシュランプの放電容器外面に8本のトリガー電極を設け、フラッシュ発光毎に3本のトリガー電極を選択して点灯する点灯方式であるのに対して、発明2は、1つのフラッシュランプの放電容器外面に8本のトリガー電極を設け、フラッシュ発光毎に3本のトリガー電極を選択してフラッシュ発光させるが、100回は続けて同一のトリガー電極により発光させる点灯方式である。
なお、実験に使ったフラッシュランプは上記のトリガー電極に関する構造、点灯方式以外は全て同一の条件であって、電極間距離300mm、内径φ10mm、1本当たりの入力エネルギー900J、放電時間幅は200μ秒である。
Next, an experiment for verifying the effect of the flash lamp light emitting device of the present invention will be described.
FIG. 8 is a diagram showing experimental results of the conventional example, Invention 1 and Invention 2, wherein the vertical axis indicates relative illuminance and the horizontal axis indicates the number of times of light emission.
In the figure, the conventional example is a case where only one linear conductor made of molybdenum is arranged on the outer surface of the discharge vessel of the flash lamp. Inventions 1 and 2 are shown in FIG. 3B on the outer surface of the discharge vessel of the flash lamp. A trigger electrode having a structure shown in FIG. 2 is used, and a molybdenum material is printed and coated with a high melting point oxide. The difference between Invention 1 and Invention 2 is that the invention 1 is a lighting system in which eight trigger electrodes are provided on the outer surface of the discharge vessel of one flash lamp, and three trigger electrodes are selected and lighted for each flash emission. On the other hand, in the invention 2, eight trigger electrodes are provided on the outer surface of the discharge vessel of one flash lamp, and three trigger electrodes are selected for each flash emission, and the flash emission is performed. This is a lighting method in which light is emitted by an electrode.
The flash lamp used in the experiment is the same except for the structure related to the trigger electrode and the lighting method described above. The distance between the electrodes is 300 mm, the inner diameter is 10 mm, the input energy is 900 J, and the discharge time width is 200 μsec. It is.

照度の測定は、フラッシュランプから50mm離れた位置に、φ5mmのピンホールを設け、光ファイバーを通して瞬時分光器(スペクトルラジオメータ)によって波長分解能0.5nm、時間分解能5m秒で測定し、波長200nm〜波長800nmの光放射強度を求めた。
この照度測定は、従来例、発明1および発明2のそれぞれについて、1回目のフラッシュ発光、1000回目のフラッシュ発光、5000回目のフラッシュ発光、10000回目のフラッシュ発光時における照度を測定した。
同図に示すように、従来例のフラッシュランプでは、初期照度を1としたとき、1000回の発光では0.9、5000回の発光では0.5、10000回の発光では0.4まで低下した。
これに対し、本発明のフラッシュランプでは、発明1および発明2はほぼ共に、1000回の発光で0.9、10000回の発光でも約0.9の相対照度値を維持することが確認された。
なお、10000回発光させた後の放電容器を見ると、従来例のフラッシュランプは内表面に白濁が激しく形成されていたのに対し、発明1および発明2の各フラッシュランプはいずれも目視で観察できる白濁は形成されていなかった。
The illuminance is measured by providing a pinhole of φ5 mm at a position 50 mm away from the flash lamp, and measuring with an instantaneous spectroscope (spectral radiometer) through an optical fiber with a wavelength resolution of 0.5 nm and a time resolution of 5 ms. The light emission intensity at 800 nm was determined.
In this illuminance measurement, the illuminance at the first flash emission, the 1000th flash emission, the 5000th flash emission, and the 10000th flash emission was measured for each of the conventional example, Invention 1 and Invention 2.
As shown in the figure, in the conventional flash lamp, when the initial illuminance is 1, it is 0.9 for 1000 flashes, 0.5 for 5000 flashes, and 0.4 for 10000 flashes. did.
On the other hand, in the flash lamp of the present invention, it was confirmed that the invention 1 and the invention 2 both maintain a relative illuminance value of about 0.9 even after 1000 times of light emission and 0.9 and 10,000 times of light emission. .
In addition, when looking at the discharge vessel after emitting light 10,000 times, the flash lamp of the conventional example was intensely clouded on the inner surface, whereas each flash lamp of Invention 1 and Invention 2 was visually observed. The cloudiness that could be formed was not formed.

以上説明したように、本発明のフラッシュランプ発光装置は、複数個のトリガー電極のうちいくつかの電極を交互にかつ規則的に選択することにより、過酷な条件で使用する場合においても放電容器の白濁を良好に防止することが明らかとなった。   As described above, the flash lamp light emitting device according to the present invention can select a plurality of trigger electrodes alternately and regularly, so that the discharge vessel can be used even under severe conditions. It became clear that cloudiness was prevented well.

本発明に係るフラッシュランプ発光装置の概略構成を示す図である。It is a figure which shows schematic structure of the flash lamp light-emitting device based on this invention. トリガー電極14a、14bに高電圧を印加したときの放電容器11内の状態を示す放電容器の断面図である。It is sectional drawing of the discharge container which shows the state in the discharge container 11 when a high voltage is applied to trigger electrode 14a, 14b. 図2に示したトリガー電極構造とは異なるトリガー電極構造を有する放電容器の断面図である。It is sectional drawing of the discharge vessel which has a trigger electrode structure different from the trigger electrode structure shown in FIG. 図1に示した給電装置20の発光回路21とトリガー回路22の具体的構成を示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating a specific configuration of a light emitting circuit 21 and a trigger circuit 22 of the power feeding device 20 illustrated in FIG. 1. 本発明に係るフラッシュランプ発光装置を用いた光加熱装置の概略構成を示す図である。It is a figure which shows schematic structure of the optical heating apparatus using the flash lamp light-emitting device based on this invention. 隣接するフラッシュランプ間に配設されたトリガー電極を隣接するフラッシュランプに対して共用させた構成を示す図である。It is a figure which shows the structure which shared the trigger electrode arrange | positioned between adjacent flash lamps with respect to the adjacent flash lamp. 図5に示したシリコンウエハWに照射される放射光のスペクトルを表す図である。It is a figure showing the spectrum of the emitted light irradiated to the silicon wafer W shown in FIG. 従来例、発明1および発明2の実験結果を示す図である。It is a figure which shows the experimental result of a prior art example, invention 1 and invention 2.

符号の説明Explanation of symbols

10、10a〜10d フラッシュランプ
11 石英ガラス製放電容器
12 陽極
13 陰極
14,14a〜14h トリガー電極
141 パイプ管
142 線状導体
15 トリガーバンド
20 給電装置
21 発光回路
22 トリガー回路
30 フラッシュランプ発光装置
41 ケーシング
42 反射ミラー
50 光加熱装置本体
51 チャンバー
51A 雰囲気ガス導入口
51B 排出口
52 ステージ
53 ヒータランプ
54 石英平板
55 チャンバー制御回路
W シリコンウエハ
10, 10a to 10d Flash lamp 11 Quartz glass discharge vessel 12 Anode 13 Cathode 14, 14a to 14h Trigger electrode 141 Pipe tube 142 Linear conductor 15 Trigger band 20 Power feeding device 21 Light emitting circuit 22 Trigger circuit 30 Flash lamp light emitting device 41 Casing 42 reflective mirror 50 light heating device main body 51 chamber 51A atmosphere gas inlet 51B outlet 52 stage 53 heater lamp 54 quartz flat plate 55 chamber control circuit W silicon wafer

Claims (9)

フラッシュランプと、このフラッシュランプを発光制御する給電装置とから構成されるフラッシュランプ発光装置において、
前記フラッシュランプの発光管外表面に高電圧を供給する複数個のトリガー電極を設け、
前記フラッシュランプの1または複数回の発光毎に、前記複数個のトリガー電極から1または複数個のトリガー電極に選択して高電圧を供給することにより、前記フラッシュランプを発光させるようにしたことを特徴とするフラッシュランプ発光装置。
In a flash lamp light emitting device composed of a flash lamp and a power feeding device that controls the light emission of the flash lamp,
Provided with a plurality of trigger electrodes for supplying a high voltage to the outer surface of the arc tube of the flash lamp,
The flash lamp is caused to emit light by selecting one or a plurality of trigger electrodes from the plurality of trigger electrodes and supplying a high voltage every one or a plurality of times of light emission of the flash lamp. A flash lamp light emitting device.
フラッシュランプと、このフラッシュランプを発光制御する給電装置とから構成されるフラッシュランプ発光装置において、
前記フラッシュランプの発光管外表面に高電圧を供給する複数個のトリガー電極を設け、
前記フラッシュランプの1または複数回の発光毎に、前記複数個のトリガー電極のうち1または複数個のトリガー電極と残余の1または複数個のトリガー電極に交互に高電圧を供給することにより、前記フラッシュランプを発光させるようにしたことを特徴とするフラッシュランプ発光装置。
In a flash lamp light emitting device composed of a flash lamp and a power feeding device that controls the light emission of the flash lamp,
Provided with a plurality of trigger electrodes for supplying a high voltage to the outer surface of the arc tube of the flash lamp,
By alternately supplying a high voltage to one or a plurality of trigger electrodes and the remaining one or a plurality of trigger electrodes among the plurality of trigger electrodes for each one or a plurality of times of light emission of the flash lamp, A flash lamp light emitting device characterized by causing a flash lamp to emit light.
前記トリガー電極は、プリント印刷または蒸着により、前記発光管外表面に密着して設けられていることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のフラッシュランプ発光装置。   The flash lamp light emitting device according to claim 1, wherein the trigger electrode is provided in close contact with the outer surface of the arc tube by printing or vapor deposition. 前記プリント印刷または蒸着は、セラミックス酸化物層を塗布された発光管外表面上に施されていることを特徴とする請求項3に記載のフラッシュランプ発光装置。   4. The flash lamp light emitting device according to claim 3, wherein the print printing or vapor deposition is performed on an outer surface of the arc tube coated with a ceramic oxide layer. 前記トリガー電極は、高融点酸化物により被覆されていることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか1つの請求項に記載のフラッシュランプ発光装置。   The flash lamp light emitting device according to any one of claims 1 to 4, wherein the trigger electrode is coated with a high melting point oxide. 前記高融点酸化物は、アルミナまたはイットリアであることを特徴とする請求項5に記載のフラッシュランプ発光装置。   6. The flash lamp light emitting device according to claim 5, wherein the high melting point oxide is alumina or yttria. 前記トリガー電極は、誘電体材料からなるパイプの中に線状導体が配置されていることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のフラッシュランプ発光装置。   3. The flash lamp light emitting device according to claim 1, wherein the trigger electrode includes a linear conductor disposed in a pipe made of a dielectric material. 4. 前記発光管は、酸化アルミニウム(Al)を主成分とする材質から構成され、前記トリガー電極はタングステンまたはモリブデンを主成分とする材質から構成されることを特徴とする請求項1乃至請求項7のいずれか1つの請求項に記載のフラッシュランプ発光装置。 The arc tube is composed of a material mainly containing aluminum oxide (Al 2 O 3), the trigger electrode claims 1 to, characterized in that they are composed of a material composed mainly of tungsten or molybdenum The flash lamp light emitting device according to claim 7. 前記フラッシュランプは、複数本が並べて配置され、前記トリガー電極は隣合うフラッシュランプに対して共用するように配置されていることを特徴とする請求項1乃至請求項8のいずれか1つの請求項に記載のフラッシュランプ発光装置。   9. The flash lamp according to claim 1, wherein a plurality of the flash lamps are arranged side by side, and the trigger electrode is disposed so as to be shared by adjacent flash lamps. A flash lamp light emitting device according to claim 1.
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005347569A (en) * 2004-06-03 2005-12-15 Ushio Inc Flash lamp irradiation apparatus
JP2007012542A (en) * 2005-07-04 2007-01-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd Flash discharge tube and stroboscope device
KR100973119B1 (en) 2008-01-15 2010-07-29 우시오덴키 가부시키가이샤 Lamp unit
KR20130106301A (en) * 2012-03-19 2013-09-27 우시오덴키 가부시키가이샤 Flash lamp
CN103748512A (en) * 2011-07-14 2014-04-23 保富图公司 A flash tube with an external triggering wire
JP2014135507A (en) * 2014-03-17 2014-07-24 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Heat treatment apparatus
JP2018029043A (en) * 2016-08-19 2018-02-22 岩崎電気株式会社 Flash lamp device and flash lamp unit
JP2018206614A (en) * 2017-06-05 2018-12-27 岩崎電気株式会社 Xenon flash lamp
JP2020053127A (en) * 2018-09-25 2020-04-02 株式会社ユメックス Ultraviolet light radiation short arc type flash lamp

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7191516B2 (en) 2003-07-16 2007-03-20 Maxwell Technologies, Inc. Method for shielding integrated circuit devices

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005347569A (en) * 2004-06-03 2005-12-15 Ushio Inc Flash lamp irradiation apparatus
US8054000B2 (en) 2004-06-03 2011-11-08 Ushio Denki Kabushiki Kaisha Flash lamp irradiation apparatus
JP2007012542A (en) * 2005-07-04 2007-01-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd Flash discharge tube and stroboscope device
KR100973119B1 (en) 2008-01-15 2010-07-29 우시오덴키 가부시키가이샤 Lamp unit
CN103748512A (en) * 2011-07-14 2014-04-23 保富图公司 A flash tube with an external triggering wire
EP2732333A1 (en) * 2011-07-14 2014-05-21 Profoto AB A flash tube with an external triggering wire
EP2732333A4 (en) * 2011-07-14 2015-02-18 Profoto Ab A flash tube with an external triggering wire
JP2013196899A (en) * 2012-03-19 2013-09-30 Ushio Inc Flush lump
KR20130106301A (en) * 2012-03-19 2013-09-27 우시오덴키 가부시키가이샤 Flash lamp
KR101656917B1 (en) * 2012-03-19 2016-09-12 우시오덴키 가부시키가이샤 Flash lamp
JP2014135507A (en) * 2014-03-17 2014-07-24 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Heat treatment apparatus
JP2018029043A (en) * 2016-08-19 2018-02-22 岩崎電気株式会社 Flash lamp device and flash lamp unit
JP2018206614A (en) * 2017-06-05 2018-12-27 岩崎電気株式会社 Xenon flash lamp
JP2020053127A (en) * 2018-09-25 2020-04-02 株式会社ユメックス Ultraviolet light radiation short arc type flash lamp
JP7137835B2 (en) 2018-09-25 2022-09-15 株式会社ユメックス UV light emitting short arc type flash lamp

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