JP2005057248A - Characteristic impedance inspection apparatus for circuit wiring board - Google Patents

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賢一 羽廣
Shuzo Tomii
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a characteristic impedance inspection apparatus for a circuit wiring board that inspects characteristic impedance while winding off reel formed products, has a function for discriminating the quality of the products, for grasping manufactured conditions thereof, or for providing the feedback of information to adjust manufacturing conditions to an abnormal manufacturing process and individually associates relations between the products and the results. <P>SOLUTION: The characteristic impedance inspection apparatus inspects an object to be inspected while winding off the object, winds up to a reel form after the inspection, and provides the manufacturing process for the feedback of the identification of failure causes or the information to adjust the manufacturing conditions based on the obtained product information. A conduction and disconnection inspecting portion 20 is provided behind an inspection portion 10. A means for inspecting with reading identification codes added to the products is provided so as to associate individual products with manufacturing histories thereof. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、半導体素子を搭載する高速信号ラインを含んだ回路配線基板の特性インピーダンスを保証するための検査装置に関する。   The present invention relates to an inspection apparatus for guaranteeing the characteristic impedance of a circuit wiring board including a high-speed signal line on which a semiconductor element is mounted.

現在、半導体デバイスの高速化が著しい。例えば、インテル製CPUのPentium(登録商標)4では3GHzを越え、ランバス製メモリのRDRAMでは800MHzとなっている。従って、これらの部品に使用されるサブストレート基板を含む回路配線基板においても、高速信号特性が要求されるようになって来た。   At present, the speeding up of semiconductor devices is remarkable. For example, Pentium (registered trademark) 4 of an Intel CPU exceeds 3 GHz, and RDRAM of a RAMBUS memory has 800 MHz. Therefore, high-speed signal characteristics have been required for circuit wiring boards including substrate boards used for these components.

それは、高周波化すると波長が短くなるために、半導体パッケージのような線路長の短いものにも無視出来なくなって来た、ということである。例えば、3GHzで1波長10cmであるため、デバイスが使用される周辺部品との接続長さも含めると、波長以上の長さになり得るため、信号の反射を無視出来なくなってきたわけである。そこで、従来特に問題とされて来なかった特性インピーダンス整合が必要とされるようになって来ている。   That is, since the wavelength becomes shorter as the frequency becomes higher, it has become impossible to ignore even a short line length such as a semiconductor package. For example, since the wavelength is 10 cm at 3 GHz, including the connection length with the peripheral components in which the device is used, the length can be longer than the wavelength, so that the signal reflection cannot be ignored. Therefore, characteristic impedance matching, which has not been particularly problematic in the past, has been required.

配線基板においては、特性インピーダンスを決定づける製造因子としては、以下の要素がある。(1)導体線路幅、(2)導体厚さ、(3)ポリイミド基材と接着剤層からなる絶縁層厚さ、(4)導体線路上の誘電体層厚さ、(5)絶縁材料の誘電率、である。特性特性インピーダンスがコントロールされた基板を製造するには、これらの要素を制御する必要がある。   In a wiring board, there are the following factors as manufacturing factors that determine characteristic impedance. (1) Conductor line width, (2) Conductor thickness, (3) Insulating layer thickness composed of polyimide base material and adhesive layer, (4) Dielectric layer thickness on conductor line, (5) Insulating material Dielectric constant. In order to manufacture a substrate with controlled characteristic characteristic impedance, it is necessary to control these factors.

製造工法としては、高速信号の特性向上のために上記要素の制御と、回路基板の量産性をもって製造するために、リール形態で製品を製造する場合があった。   As a manufacturing method, there is a case where a product is manufactured in the form of a reel in order to manufacture the above-mentioned elements with high-speed signal characteristics and mass-production of a circuit board.

従来、このような製品に対する検査は、ある合否基準に対して、個々の製品がその合格基準に入っているか否かをチェックするためのものであった。すなわち、個々の製品の良否を判断、選別するためのものであって、不良品の流出防止が目的であった。そのために、出荷前に製品の品質保証の目的で行われてきた。   Conventionally, the inspection for such a product is for checking whether or not an individual product falls within the acceptance criteria for a certain acceptance / rejection criterion. That is, it is for judging the quality of individual products and selecting them, and is intended to prevent the outflow of defective products. Therefore, it has been performed for the purpose of product quality assurance before shipment.

しかし、近年、製品に対して高い品質が求められるのに従い、製作する難易度が高くなり製造収率が落ちるようになって来た。そこで、その対応として製品の良否だけでなく、製品の悪さや、製造工程の悪さの把握が必要とされて来た。   However, in recent years, as the quality of products has been demanded, the difficulty of manufacturing has increased and the manufacturing yield has fallen. Therefore, as a countermeasure, it is necessary to grasp not only the quality of the product but also the badness of the product and the bad manufacturing process.

そうするために、検査装置としては、検査情報として製品の出来具合を把握でき、また、製品の不良原因を特定出来るか、製造工程の製造条件を調整出来る情報をフィードバックできることが求められて来た。   In order to do so, the inspection device has been required to be able to grasp the quality of the product as inspection information and to feed back information that can identify the cause of the product defect or adjust the manufacturing conditions of the manufacturing process. .

元々、特性インピーダンスの検査ということには、製品の良否選別の他に、プロセス監視の意味合いが含まれていた。例えば、ポリイミド基材上の回路配線パターンは凹凸を持っているため、絶縁層厚さを一定にする装置条件で製造したとしても、最終製品で特性インピーダンスが設計値どおりに出来ていない可能性があった。従って、特性インピーダンスを決める他の製造因子が一定であったとすれば、製品の特性インピーダンス値を測定することで、絶縁層厚さ不良を特定することが可能となる。   Originally, the inspection of characteristic impedance included implications for process monitoring in addition to product quality selection. For example, the circuit wiring pattern on the polyimide substrate has irregularities, so even if it is manufactured under equipment conditions with a constant insulating layer thickness, the final product may not have the characteristic impedance as designed. there were. Therefore, if other manufacturing factors that determine the characteristic impedance are constant, it is possible to specify the insulation layer thickness defect by measuring the characteristic impedance value of the product.

このようなプロセス監視という目的に、特性インピーダンスの測定結果を使おうとすると、その検査工程を内層の回路形成後や外層の回路形成後、あるいはソルダーレジスト塗
布後などで行いたい、という要求が出てくる。すると、リール形態のまま検査できる検査装置が必要とされる。
If you want to use the measurement results of characteristic impedance for the purpose of such process monitoring, there is a demand to perform the inspection process after forming the inner layer circuit, after forming the outer layer circuit, or after applying the solder resist. come. Then, an inspection apparatus capable of inspecting the reel form is required.

しかし、リール・ツー・リール構成で、テープ状回路基板の特性インピーダンスを検査する装置はない。   However, there is no device for inspecting the characteristic impedance of a tape-like circuit board in a reel-to-reel configuration.

また、製品の枚葉の検査では、生産性(単位時間あたりの生産数)が上がらないという問題があった。これは、半導体パッケージのような受動部品では製造コストを少しでも抑えることが重要な問題となっていた。しかし、生産性が落ちるということは、コストもかかることになっていた。   Further, in the inspection of single wafers of products, there is a problem that productivity (the number of production per unit time) does not increase. For passive components such as semiconductor packages, it has been an important problem to suppress the manufacturing cost as much as possible. However, the drop in productivity was also costly.

また、製品と検査結果とを1:1で対応付けるとすると、製品そのものに識別コードを付けるようにし、また読み取れるようにするしかなかった。   Further, if the product and the inspection result are associated with each other at 1: 1, an identification code must be attached to the product itself so that the product can be read.

本発明は、上記問題に鑑みてなされたものである。すなわち、上記問題を解決するために、リール形態の製品を巻出しながら、特性インピーダンスを検査し、またリール形態に巻き取ることができる装置で、製品の良否判別機能だけではなく、製品の出来具合を把握する機能、例えば、エッチング後に特性インピーダンス検査を行うことで、製品の導体線路幅や導体厚さに異常を見出す機能、或いは製造条件を調整する情報を異常な製造工程へフィードバックする機能を持ち、また、製品と検査結果を1:1で対応付けることの出来る回路配線基板の特性インピーダンス検査装置を提供することを課題とする。   The present invention has been made in view of the above problems. In other words, in order to solve the above problem, a device that can inspect the characteristic impedance while unwinding a reel-shaped product and wind it up to the reel shape. For example, it has a function to detect abnormalities in the conductor line width and conductor thickness of products by performing characteristic impedance inspection after etching, or a function to feed back information for adjusting manufacturing conditions to abnormal manufacturing processes. It is another object of the present invention to provide a circuit wiring board characteristic impedance inspection apparatus capable of associating products with inspection results on a 1: 1 basis.

また、特性インピーダンス検査機能と導通/断線検査機能を組み合わせた検査装置を提供することを課題とする。   It is another object of the present invention to provide an inspection apparatus that combines a characteristic impedance inspection function and a continuity / disconnection inspection function.

本発明は、長尺基材を用い、連続的に配線基板を形成するリール・ツー・リール工程によって製造された回路配線基板の特性インピーダンス検査装置において、リール形態の被検査物をリールから巻き出しながら検査し、検査後にリール形態に巻き取り、検査によって得た製品情報をもとにして、不良原因の特定、或いは製造条件を調整する情報を製造工程へフィードバックすることを特徴とする回路配線基板の特性インピーダンス検査装置である。   The present invention relates to a circuit wiring board characteristic impedance inspection apparatus manufactured by a reel-to-reel process in which a long base material is used to continuously form a wiring board, and a reel-shaped inspection object is unwound from the reel. The circuit wiring board is characterized in that after inspection, it is wound up in a reel form, and based on the product information obtained by the inspection, information for identifying the cause of failure or adjusting manufacturing conditions is fed back to the manufacturing process. Is a characteristic impedance inspection apparatus.

また、本発明は、上記発明による回路配線基板の特性インピーダンス検査装置において、前記検査を行う検査部の後に、導通/断線検査部を具備することを特徴とする回路配線基板の特性インピーダンス検査装置である。   According to another aspect of the present invention, there is provided the characteristic impedance inspection apparatus for circuit wiring board according to the invention, further comprising a continuity / disconnection inspection section after the inspection section for performing the inspection. is there.

また、本発明は、上記発明による回路配線基板の特性インピーダンス検査装置において、前記検査を行う際に、個々の製品と製造履歴を対応付けられるように、製品に付加した識別コードを読み取りながら検査を行う手段を具備することを特徴とする回路配線基板の特性インピーダンス検査装置である。   Further, according to the present invention, in the characteristic impedance inspection apparatus for circuit wiring boards according to the above invention, when performing the inspection, the inspection is performed while reading the identification code added to the product so that each product can be associated with the manufacturing history. A characteristic impedance inspection apparatus for a circuit wiring board, characterized by comprising means for performing.

請求項1、2記載の特性インピーダンス検査装置によれば、リール形態の回路配線基板をリール状態から巻出しながら特性インピーダンスを検査することが出来る。本検査装置によれば、製品の品質管理を製品単体の良否選別だけでなく、検査結果の製造工程への即時フィードバックを可能とすることができ、生産性をあげ、コストを抑えることができる。
また、時系列的に測定結果を収集することが出来るようになる。これは、製品毎に番号付けをしなくても、また検査面や向きが変わることが無いというリール形態の検査をすることによって、初めて可能になったことである。製品の良否結果とその履歴情報とを合わせることが出来るようになったことで、製造プロセスの工程管理に役立てることが出来る。
According to the characteristic impedance inspection apparatus of the first and second aspects, the characteristic impedance can be inspected while the reel-shaped circuit wiring board is unwound from the reel state. According to this inspection apparatus, quality control of a product can be performed not only for quality determination of a single product, but also for immediate feedback of the inspection result to the manufacturing process, thereby increasing productivity and reducing costs.
In addition, measurement results can be collected in time series. This is possible for the first time by inspecting the reel form that the product does not have to be numbered and the inspection surface and orientation do not change. Since it is possible to match the quality results of the product with the history information, it can be used for process management of the manufacturing process.

また、請求項3記載の特性インピーダンス検査装置によれば、製品自体につけた識別コードを認識する手段を有することで、製品個々と検査結果との対応付けが出来るようになり、後から検査条件等の履歴を追うことが可能となる。この手段は更に、将来的には抜取りタイミングや抜取り数の決定にも活用が考えられる。   In addition, according to the characteristic impedance inspection apparatus of the third aspect, by having means for recognizing the identification code attached to the product itself, it becomes possible to associate each product with the inspection result, and the inspection conditions and the like later. It is possible to follow the history of In the future, this means can also be used to determine the sampling timing and the number of sampling.

リール形態のままで得られた検査結果から、製品の出来具合、製造条件の異常が把握出来れば、断裁等の別の加工工程をはさむことなく、早期に製造工程に戻すことができる。   If it is possible to grasp the product quality and manufacturing condition abnormality from the inspection results obtained in the form of a reel, it is possible to return to the manufacturing process at an early stage without interposing another processing process such as cutting.

また、リール形態のまま検査できるということの副次的な効果としては、製品の取扱い易さやハンドリング時間の短縮によるタクトタイムの向上、つまり生産性の向上も挙げられる。
以上のように、本発明の特性インピーダンス検査装置によれば、製品の出荷の際の品質管理手段にとどまることなく、製造工程管理手段とすることができる。
Further, as a secondary effect that the inspection can be performed in the reel form, there is an improvement in tact time, that is, an improvement in productivity, due to the ease of handling the product and the reduction of the handling time.
As described above, according to the characteristic impedance inspection apparatus of the present invention, the manufacturing process management means can be used without being limited to the quality control means at the time of product shipment.

以下に、本発明を実施の形態に基づき詳細に説明する。
図1は、本発明による回路配線基板の特性インピーダンス検査装置の全体図を示したものである。図1に示すように、図1中、左側が製品の巻出し側で、右側が製品の巻取り側である。そして、巻出し側の上部に製品巻出し軸1、下部に製品間に入っている層間紙(スペーサーとも称する)を巻き取るための、層間紙巻取り軸2がある。また、巻取り側には、製品巻取り軸3と層間紙を巻き出すための層間紙巻出し軸4がある。上記巻出し側、巻取り側の間に、検査部10があるという構成になっている。
Hereinafter, the present invention will be described in detail based on embodiments.
FIG. 1 shows an overall view of a characteristic impedance inspection apparatus for a circuit wiring board according to the present invention. As shown in FIG. 1, in FIG. 1, the left side is a product unwinding side, and the right side is a product winding side. There is a product unwinding shaft 1 at the upper part on the unwinding side, and an interlayer paper take-up shaft 2 for winding up an interlayer paper (also referred to as a spacer) contained between the products at the lower part. On the winding side, there are a product winding shaft 3 and an interlayer paper unwinding shaft 4 for unwinding the interlayer paper. The inspection unit 10 is configured between the unwinding side and the winding side.

薄い基材のリール製品に発生する静電気は特性インピーダンスを測定するための測定器に対して、致命的な問題点となる。それは、特性インピーダンスを測定するユニットが、TDR(Time Domain Reflectmetory)法という、45ps前後の立上がり時間が早い信号を発生させて、その反射信号を測定する測定器であるためである。この測定器は、入射電圧に対する耐性がなく、通常±2V程度であるため、静電気のような数kVに達するような電圧がかかると、すぐに破壊されてしまうためである。   Static electricity generated in a reel product having a thin base material is a fatal problem for a measuring instrument for measuring characteristic impedance. This is because the unit that measures the characteristic impedance is a measuring instrument that generates a signal with a fast rise time of around 45 ps and measures the reflected signal, called the TDR (Time Domain Reflectometry) method. This measuring instrument is not resistant to the incident voltage and is normally about ± 2 V, and therefore, when a voltage that reaches several kV such as static electricity is applied, it is destroyed immediately.

製品、層間紙など薄い基材間で発生する静電気を除去するために、製品の巻出し軸と検査部との間に除電器5を設置する。これは導電性ブラシなどでも良いが、製品へのダメージを与えないためには、イオン発生型等の非接触タイプが好ましい。   In order to remove static electricity generated between thin substrates such as products and interlayer paper, a static eliminator 5 is installed between the unwinding shaft of the product and the inspection unit. This may be a conductive brush or the like, but a non-contact type such as an ion generating type is preferred in order not to damage the product.

更に、プローブ7を介して検査する製品と測定器が接続される検査ステージ8上にも、除電出来るようにしておく必要がある。ただし、電気特性の検査をするために、検査ステージ8自体を導電性の金属で製作することは出来ない。そこで、ここにも、非接触型の除電器5を使用する。   Furthermore, it is necessary to be able to remove static electricity also on the inspection stage 8 to which the product to be inspected and the measuring instrument are connected via the probe 7. However, the inspection stage 8 itself cannot be made of a conductive metal in order to inspect electric characteristics. Therefore, the non-contact type static eliminator 5 is also used here.

リール製品の巻出し、搬送、送り量制御は、巻出しモータ(図示せず)の巻取り量によって制御する。また、検査ステージ8上での製品の固定は吸着にて行う。   The reel product unwinding, conveyance, and feed amount control are controlled by the unwinding amount of a unwinding motor (not shown). The product is fixed on the inspection stage 8 by suction.

回路配線基板の測定箇所は、図2に一例を示すように、高速信号伝送ラインと同一条件で製造され、回路配線基板の周辺近傍の4辺に配された特性インピーダンスの検査用テストパターン11である。この特性インピーダンスの検査用テストパターン11を検査する
ことによって、特性インピーダンスを保証する。
As shown in an example in FIG. 2, the circuit wiring board is measured at a characteristic impedance test pattern 11 that is manufactured under the same conditions as the high-speed signal transmission line and arranged on the four sides near the periphery of the circuit wiring board. is there. By inspecting the test pattern 11 for inspecting the characteristic impedance, the characteristic impedance is guaranteed.

特性インピーダンスを測定し、検査しようとする場合、製品自体の中の配線パターンを検査するとなると、信号ピンとグランドピンとの距離が様々になったり、その位置も当然のことながら、まちまちになる。これは検査時間の増大をもたらすか、製品毎に検査治具を準備するというコスト増大を招くかのどちらかである。   When measuring and testing the characteristic impedance, if the wiring pattern in the product itself is inspected, the distance between the signal pin and the ground pin will vary, and the position will of course vary. This either increases the inspection time or increases the cost of preparing an inspection jig for each product.

また、プリント配線板の検査でも同様だが、特性インピーダンスを検査する場合は、ある面付け単位の基板に、検査用テストパターン11を設けて、検査できるようにする。   The same applies to the inspection of the printed wiring board. However, when the characteristic impedance is inspected, an inspection test pattern 11 is provided on a substrate in a certain imposition unit so that the inspection can be performed.

そのために、回路配線基板の測定箇所として、高速信号伝送ラインと同一条件で製造され、回路配線基板の周辺近傍の4辺に配された特性インピーダンス検査用テストパターン11を製品と同時に作り込んでおくこととする。   For this purpose, test patterns 11 for characteristic impedance inspection, which are manufactured under the same conditions as the high-speed signal transmission line and are arranged on the four sides in the vicinity of the periphery of the circuit wiring board, are created at the same time as the product. I will do it.

この特性インピーダンスの検査用テストパターン11に、高周波測定専用プローブが接触できるようにしておくことで、製品が変わっても、時間、コストの増大を招くことなく、検査出来るようにすることが出来る。   By making it possible to contact the test pattern 11 for testing the characteristic impedance with a probe dedicated for high-frequency measurement, it is possible to perform testing without increasing time and cost even if the product changes.

上記特性インピーダンスの検査用テストパターンに接触させて、被検査物の特性インピーダンスを検査するために、グランド(G)ピンと信号(S)ピンが200μmピッチ程度離れているファインピッチプローブを使用する。そのプローブの配列の例を、図2中に(12)として示す。   A fine pitch probe in which the ground (G) pin and the signal (S) pin are separated by about 200 μm pitch is used in order to inspect the characteristic impedance of the object to be inspected in contact with the characteristic impedance inspection test pattern. An example of the probe sequence is shown as (12) in FIG.

そして、このプローブを制御するために、Z軸の高さ方向をセンシングできる変位計(図示せず)を装備しておく。自動検査時に測定するたびごとに計測し、その結果でファインピッチプローブの移動量を制御することで、正確に被検査物に接触させることが出来るようになる。   And in order to control this probe, the displacement meter (not shown) which can sense the height direction of a Z-axis is equipped. By measuring each time measurement is performed during automatic inspection and controlling the amount of movement of the fine pitch probe based on the result, the object can be brought into contact with the object accurately.

プロービング機構はXYZθの移動ステージ13によって制御される。   The probing mechanism is controlled by a moving stage 13 of XYZθ.

本検査装置におけるプロセス監視は、例えば、以下のようなものである。   For example, the process monitoring in this inspection apparatus is as follows.

特性インピーダンスを決定づける製造因子としての、前記(1)導体線路幅、(2)導体厚さ、(3)ポリイミド基材と接着剤層からなる絶縁層厚さ、(4)導体線路上の誘電体層厚さ、(5)絶縁材料の誘電率の要素の内、例えば、予め、(1)導体線路幅と(2)導体厚さを測定しておき、次に特性インピーダンスを測定することによって、(5)絶縁材料の誘電率は既知であるので、(3)ポリイミド基材と接着剤層からなる絶縁層厚さ、及び(4)導体線路上の誘電体層厚さが求まる。   (1) Conductor line width, (2) Conductor thickness, (3) Insulating layer thickness composed of polyimide base material and adhesive layer, (4) Dielectric on conductor line as manufacturing factors that determine characteristic impedance Among the elements of the layer thickness and (5) dielectric constant of the insulating material, for example, by measuring (1) conductor line width and (2) conductor thickness in advance, and then measuring characteristic impedance, (5) Since the dielectric constant of the insulating material is known, (3) the thickness of the insulating layer composed of the polyimide base material and the adhesive layer, and (4) the thickness of the dielectric layer on the conductor line are obtained.

これらの情報を前工程へフィードバックし、各々の製造条件を変える。すなわち、(3)ポリイミド基材と接着剤層からなる絶縁層厚さに異常がある場合には、例えば、ポリイミド基材と絶縁層とをラミネートする圧力を変え、(4)導体線路上の誘電体層厚さに異常がある場合には、例えば、誘電体層(ソルダーレジスト)を印刷する膜厚を変える。   This information is fed back to the previous process, and each manufacturing condition is changed. That is, (3) when there is an abnormality in the thickness of the insulating layer composed of the polyimide base material and the adhesive layer, for example, the pressure for laminating the polyimide base material and the insulating layer is changed, and (4) the dielectric on the conductor line When the body layer thickness is abnormal, for example, the film thickness for printing the dielectric layer (solder resist) is changed.

本発明の検査装置は、単機能の検査装置単体としてだけでなく、従来からある他の製造装置と組み合わせてもよい。例えば、特性インピーダンス検査装置と製品に対して電気的な検査である導通/断線検査装置を組み合わせた検査装置でもよい。   The inspection apparatus of the present invention may be combined not only with a single-function inspection apparatus but also with other conventional manufacturing apparatuses. For example, an inspection apparatus that combines a characteristic impedance inspection apparatus and a continuity / disconnection inspection apparatus that is an electrical inspection of a product may be used.

図3に、特性インピーダンス検査部と導通/断線検査部の組合わせた場合の検査装置を例として示した。   FIG. 3 shows, as an example, an inspection apparatus in which a characteristic impedance inspection unit and a continuity / disconnection inspection unit are combined.

個々の製品との対応付けを確実にするために、製品に識別コード(例えば、2次元コードなど)を付け、検査装置には製品の巻出し後に、この識別コード読取のための識別コードリーダーを装備しておき、検査した結果を識別コード番号と共に記録するようにする。   In order to ensure the correspondence with each product, an identification code (for example, a two-dimensional code) is attached to the product. Equipped and record the inspection result together with the identification code number.


図1、図3に示す特性インピーダンス検査装置によれば、製品に付加された識別コードを2次元コードリーダー6で読み取りながら検査を行うことで、リール形態で生産した製品の履歴を完全に把握、追跡することが可能となる。

According to the characteristic impedance inspection apparatus shown in FIG. 1 and FIG. 3, the identification code attached to the product is inspected while being read by the two-dimensional code reader 6 so that the history of the product produced in the reel form is completely grasped. It becomes possible to track.

次に、本発明の検査装置における製品情報をもとにして、製造条件を調整する情報のフィードバックや、検査を実施することによる製品の品質保証について説明する。
まず、図2に示すような検査用テストパターン11の配置を基本として、製品の面付けやサイズを考慮した上で検査用テストパターン11の割付を行う。基本的には少なくとも作製する回路基板の積層数と同数の検査用テストパターン11を配置するものとし、製品製造上の特徴に応じて、長尺流れ方向であるとか幅方向であるとか、製造プロセスへフィードバックする際に重要な要素となりうる情報が抽出可能なように配置を行う。線路の構造(ストリップ構造、マイクロストリップ構造)や、種類(シングルエンド線路、差動線路)も実際の製品部の信号伝送形態に合わせて設計することが望ましい。
Next, feedback of information for adjusting manufacturing conditions and product quality assurance by performing inspection will be described based on product information in the inspection apparatus of the present invention.
First, based on the arrangement of the test pattern 11 for inspection as shown in FIG. 2, the test pattern 11 for inspection is assigned in consideration of the imposition and size of the product. Basically, at least as many test patterns 11 for inspection as the number of stacked circuit boards to be produced are arranged, and depending on the characteristics of product production, the longitudinal flow direction or the width direction, Arrangement is made so that information that can be an important factor in feedback is extracted. It is desirable to design the line structure (strip structure, microstrip structure) and type (single-end line, differential line) according to the actual signal transmission form of the product part.

ただし、注意するべきは[0025]項でも述べたように製品が変わっても時間やコストの増大を招かぬよう、同一条件で検査用テストパターン11を作製することである。例えば、シグナルピンとグランドピンのピッチ(間隔)及び、ピンの構成(GSG、GS、SG等)は統一し、固定が望ましい。また、[0027]項で述べた検査用テストパターン11の配置であるが、これもまた製品に因らない配置が実現できるのであれば[0025]項の観点からも固定配置が望ましい。   However, it should be noted that, as described in the section [0025], the test pattern 11 for inspection is produced under the same conditions so as not to increase time and cost even if the product is changed. For example, the pitch (interval) between the signal pin and the ground pin and the pin configuration (GSG, GS, SG, etc.) are preferably unified and fixed. In addition, the test pattern 11 for inspection described in the section [0027] is arranged, but if this can also be realized, a fixed arrangement is desirable from the viewpoint of the item [0025].

本発明により、リール形態の製品の検査用テストパターン11をTDR法で検査を実施する。ただし、製品部の伝送線路にキズが付かないほどのプロービングが可能な場合、若しくはキズの有無を問わない場合には、検査用テストパターン11ではなく実際の製品部分に配置されている伝送線路による検査でも良い。
そして、得られた測定値の結果を検査用テストパターン11(11a〜11d)毎、具体的には配置方向による分類であるとか、幅方向の位置による分類であるとか製造安定度や製造工程の特長による任意の分類に分け、リールの始めから終わりまでの傾向を掴む。具体的には図4及び表1に示すように、視覚的に分かりやすくすると良い。
According to the present invention, the test pattern 11 for inspection of a reel-shaped product is inspected by the TDR method. However, when probing is possible to the extent that the transmission line of the product part is not scratched, or whether or not there is a scratch, it depends on the transmission line arranged in the actual product part instead of the test pattern 11 for inspection. Inspection is also acceptable.
And the result of the obtained measurement value is classified for each test pattern 11 (11a to 11d) for inspection, specifically, classification by arrangement direction, classification by position in the width direction, manufacturing stability and manufacturing process. Divide it into arbitrary categories according to its features, and grasp the tendency from the beginning to the end of the reel. Specifically, as shown in FIG. 4 and Table 1, it is desirable to make it visually easy to understand.

Figure 2005057248
つまり、この特性インピーダンスの検査により得られた検査結果を製品情報として、製造工程へフィードバックすることにより、製造工程における不安定箇所の追求であるとか、製品の出来不出来を顕著にし、製造の安定化や品質の向上に貢献することが可能となる。
Figure 2005057248
In other words, the inspection results obtained by this characteristic impedance inspection are fed back to the manufacturing process as product information, thereby pursuing unstable parts in the manufacturing process or making the product unsatisfactory and making the product stable. It is possible to contribute to improvement and quality improvement.

そして、本来の検査目的である品質保証に関しては、[0041]項によって得られた製品全域に渡る検査用テストパターン11の検査結果を用いる事により、今までは抜き取り検査による完全とは言えない保証体系であったのを、全数検査することにより全数保証する事が可能となる。   With regard to quality assurance, which is the original inspection purpose, by using the inspection result of the test pattern 11 for inspection over the entire product obtained by the item [0041], it can be said that the inspection is not completely complete by sampling inspection until now. It is possible to guarantee all systems by inspecting all systems.

実際には、検査用テストパターン11の特性インピーダンスのみでは製品の特性インピーダンスの保証にはならないために、リールの始めの部分と中間の部分、最後の部分という具合で数サンプルを抜き取り、その抜き取りサンプルの製品実パターン(有効エリア)
部14の伝送線路の特性インピーダンスと、検査用テストパターン11の特性インピーダンスの検査を行い、それらに整合性があることを確認し、結果としてリール製品全域に渡る製品の特性インピーダンスを全数保証する。
Actually, since the characteristic impedance of the test pattern 11 alone does not guarantee the characteristic impedance of the product, several samples are extracted from the reel, such as the first part, the middle part, and the last part. Actual product pattern (effective area)
The characteristic impedance of the transmission line of the unit 14 and the characteristic impedance of the test pattern 11 for inspection are inspected to confirm that they are consistent, and as a result, all the characteristic impedances of the products over the entire reel product are guaranteed.

また、実際に製品実パターン(有効エリア)部14の特性インピーダンスが測定不可能な場合(測定可能な伝送線路が配置されていない場合)には、図5に示すような製品実パターンを代表するようなパターンを組み込んだ第二の検査用テストパターン31を製品実パターン(有効エリア)部14内に作製し、この第二の検査用テストパターン31をリール形態製品の最初の部分と最後の部分、或いは可能であれば中央部等に挿入し、製品実パターン(有効エリア)部14と同等の製造条件で作製し、前記同様に第二の検査用テストパターン31の伝送線路の特性インピーダンスと、検査用テストパターン11の特性インピーダンスの検査を行い、それらに整合性があることを確認し、結果としてリール製品全域に渡る製品の特性インピーダンスを全数保証する。   When the characteristic impedance of the actual product pattern (effective area) portion 14 cannot actually be measured (when no measurable transmission line is arranged), the actual product pattern as shown in FIG. 5 is representative. A second inspection test pattern 31 incorporating such a pattern is produced in the actual product pattern (effective area) portion 14, and the second inspection test pattern 31 is the first part and the last part of the reel-shaped product. Or, if possible, it is inserted into the central portion or the like, and manufactured under the same manufacturing conditions as the actual product pattern (effective area) portion 14, and the characteristic impedance of the transmission line of the second test pattern 31 for inspection as described above, The characteristic impedance of the test pattern 11 for inspection is inspected to confirm that they are consistent, and as a result, the characteristic impedance of the product over the entire reel product The scan guaranteed 100%.

また、特性インピーダンスは、TDR測定機の種類によって測定値に差異があるので、特性インピーダンスの保証というのは顧客指定によるTDR測定機によって行われていたのが実情である。すると、それでは複数の顧客の要望に応じた、複数のTDR測定機を搭載した検査装置、或いは各TDR測定機を搭載した複数の検査装置が必要となり、膨大なコストがかかってしまう。   In addition, since the measured value of characteristic impedance varies depending on the type of TDR measuring machine, the guarantee of the characteristic impedance is actually performed by the TDR measuring machine specified by the customer. Then, an inspection apparatus equipped with a plurality of TDR measuring machines or a plurality of inspection apparatuses equipped with each TDR measuring machine according to requests from a plurality of customers is required, and enormous costs are required.

しかし、[0045]項の方法で製品の保証を行うことにより、抜き取り検査の際に顧客指定のTDR測定機を用いて特性インピーダンスを検査すれば十分であり、リール形態の製品の特性インピーダンス検査(本発明)に用いるTDR測定機の種類に関しては不問となる。なぜならば、本発明による特性インピーダンス検査装置は、特性インピーダンスの絶対値そのものよりも、リール形態製品全域の特性インピーダンスのばらつきを見ることを主眼としており、このばらつき結果と、抜き取り検査による絶対値の測定結果とを併せることによって、総合的に製品の特性インピーダンス保証を行うものであるからである。   However, by guaranteeing the product by the method of [0045], it is sufficient to inspect the characteristic impedance using a customer-specified TDR measuring machine at the time of sampling inspection. The type of TDR measuring machine used in the present invention is not questioned. This is because the characteristic impedance inspection apparatus according to the present invention mainly focuses on the variation of the characteristic impedance across the reel-shaped product rather than the absolute value of the characteristic impedance itself. The result of the variation and the measurement of the absolute value by sampling inspection. This is because the characteristic impedance of the product is comprehensively guaranteed by combining the results.

本発明による回路配線基板の特性インピーダンス検査装置の全体図である。1 is an overall view of a characteristic impedance inspection apparatus for a circuit wiring board according to the present invention. 特性インピーダンスの検査用テストパターンとプローブの配置例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the example of arrangement | positioning of the test pattern for a characteristic impedance test, and a probe. 特性インピーダンス検査部と導通/断線検査部の組合わせた場合の検査装置を例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows an example of the test | inspection apparatus at the time of combining a characteristic impedance test | inspection part and a continuity / disconnection test part. 検査用テストパターンとプローブの配置例と検査結果のまとめ方の例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the example of the test pattern for a test | inspection, the example of arrangement | positioning of a probe, and the method of summarizing a test result. 第二の検査用テストパターンの配置例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the example of arrangement | positioning of the 2nd test pattern for a test | inspection.

符号の説明Explanation of symbols

1・・・製品巻出し軸
2・・・層間紙巻取り軸
3・・・製品巻取り軸
4・・・層間紙巻出し軸
5・・・除電器
6・・・2次元コードリーダー
7・・・プローブ
8・・・検査ステージ
10・・・検査部
11・・・検査用テストパターン
11a・・・検査用テストパターンa
11b・・・検査用テストパターンb
11c・・検査用テストパターンc
11d・・検査用テストパターンd
12・・・プローブ配列
13、23・・・XYZθ移動ステージ
14・・・製品実パターン(有効エリア)部
20・・・導通/断線検査装置
21・・・フライングプローバー部
22・・・フライングプローブ
31・・・第二の検査用テストパターン
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Product unwinding axis | shaft 2 ... Interlayer paper winding axis | shaft 3 ... Product winding axis | shaft 4 ... Interlayer paper unwinding axis | shaft 5 ... Static elimination device 6 ... Two-dimensional code reader 7 ... Probe 8 ... Inspection stage 10 ... Inspection unit 11 ... Inspection test pattern 11a ... Inspection test pattern a
11b ... test pattern b for inspection
11c ··· Test pattern c for inspection
11d ··· Test pattern d for inspection
DESCRIPTION OF SYMBOLS 12 ... Probe arrangement | sequence 13, 23 ... XYZ (theta) movement stage 14 ... Product real pattern (effective area) part 20 ... Conductivity / disconnection test apparatus 21 ... Flying prober part 22 ... Flying probe 31 ... Second test pattern

Claims (3)

長尺基材を用い、連続的に配線基板を形成するリール・ツー・リール工程によって製造された回路配線基板の特性インピーダンス検査装置において、リール形態の被検査物をリールから巻き出しながら検査し、検査後にリール形態に巻き取り、検査によって得た製品情報をもとにして、不良原因の特定、或いは製造条件を調整する情報を製造工程へフィードバックすることを特徴とする回路配線基板の特性インピーダンス検査装置。   In a characteristic impedance inspection apparatus for a circuit wiring board manufactured by a reel-to-reel process that continuously forms a wiring board using a long base material, an inspection object in a reel form is inspected while being unwound from the reel, Characteristic impedance inspection of circuit wiring board, which is wound on a reel after inspection and based on product information obtained by inspection, information for identifying the cause of defects or adjusting manufacturing conditions is fed back to the manufacturing process apparatus. 前記検査を行う検査部の後に、導通/断線検査部を具備することを特徴とする請求項1記載の回路配線基板の特性インピーダンス検査装置。   The characteristic impedance inspection apparatus for a circuit wiring board according to claim 1, further comprising a continuity / disconnection inspection section after the inspection section for performing the inspection. 前記検査を行う際に、個々の製品と製造履歴を対応付けられるように、製品に付加した識別コードを読み取りながら検査を行う手段を具備することを特徴とする請求項1、又は請求項2記載の回路配線基板の特性インピーダンス検査装置。   3. The apparatus according to claim 1, further comprising means for performing an inspection while reading an identification code added to a product so that each product can be associated with a manufacturing history when the inspection is performed. Circuit wiring board characteristic impedance testing equipment.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2015019163A (en) * 2013-07-09 2015-01-29 富士通株式会社 Control device and control method
CN114966210A (en) * 2022-05-26 2022-08-30 欣强电子(清远)有限公司 Optical module connecting sheet impedance test method

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