JP2005005496A - Semiconductor integrated circuit and semiconductor integration circuit block - Google Patents

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JP2005005496A
JP2005005496A JP2003167496A JP2003167496A JP2005005496A JP 2005005496 A JP2005005496 A JP 2005005496A JP 2003167496 A JP2003167496 A JP 2003167496A JP 2003167496 A JP2003167496 A JP 2003167496A JP 2005005496 A JP2005005496 A JP 2005005496A
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power
semiconductor integrated
integrated circuit
circuit
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Inventor
Junichi Yano
純一 矢野
Michio Numa
道男 沼
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To solve the problem that, in a semiconductor integrated circuit with at least two power supply systems, when connecting a plurality of circuits to perform signal propagation in a first power receiving region, if the circuits are wired and connected directly in a second power receiving region, operation is likely to become unstable, and if the circuits are wired by bypassing the second power receiving region to avoid the unstable operation problem, operation speed is lowered and more power is consumed due to a multistage structure of a repeater buffer. <P>SOLUTION: The semiconductor integrated circuit with at least two power supply systems is equipped with the first power receiving region A1 which is supplied with power from a first power supply, the second power receiving region A2 which is formed within the first power receiving region A1 and is supplied with power from a second power supply, and a third power receiving region A3 which is formed within the second power receiving region and includes a signal relay circuit (repeater buffer) RB which is supplied with power from the first power supply. The plurality of circuits B1 and B2 in the first power receiving region A1 are connected via the signal relay circuit RB located in the third power receiving region A3. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、少なくとも2つの電源系統を持つ半導体集積回路、および半導体集積回路の構成要素である半導体集積回路ブロックにかかわり、詳しくは、信号の高速化および低消費電力化のための技術に関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体集積回路における長い配線は、寄生抵抗、寄生容量による信号のなまりや速度劣化、貫通電流の増加、ノイズ発生の増加、ノイズ耐性の劣化の原因となっていた。従来、この課題の解決方法として、長い配線の途中にバッファ(以下リピータバッファと称す。)を挿入して回避する方法があった。
【0003】
上記課題を解決する従来の解決策について、図5を用いて説明する(例えば、特許文献1参照)。
【0004】
スタンダードセルSC1〜SC9で構成されるブロック内には電源VDD、グランドVSSの未結線をなくすためにフィードセルFC1,FC2を配置する。このフィードセルFC1,FC2にリピータバッファRB51,RB52の機能を持たせ、セル間に跨る長い配線はこれらのバッファを経由することにより、長い配線を回避する。図5では、スタンダードセルSC2の出力とスタンダードセルSC5の入力との間に配線L51,L52を介してリピータバッファRB51を挿入することにより、スタンダードセルSC2の出力とスタンダードセルSC5の入力を直接接続する場合に比べて配線長を短くしている。また、スタンダードセルSC3の出力とスタンダードセルSC8の入力との間に配線L53,L54を介してリピータバッファRB52を挿入することにより、スタンダードセルSC3の出力とスタンダードセルSC8の入力を直接接続する場合に比べて最大配線長を短くしている。
【0005】
【特許文献1】
特開平6−112317号公報(第2−3頁、第1−2図)
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
近年、低消費電力化等を目的として単一の半導体集積回路内に複数の電源を供給し、それぞれの電源に対して異なる電圧を供給したり、個々の電源に対して電源遮断、電源制御などを行っている。このような中で上記の従来技術を用いると、電源の制約によりリピータバッファが多段になり、高速化および低消費電力化の妨げとなる場合がある。
【0007】
図4に具体例を示す。
【0008】
図4において、半導体集積回路400には、第1の電源が供給される第1の電源受給領域A41と第2の電源が供給される第2の電源受給領域A42とがあり、第2の電源受給領域A42は第1の電源受給領域A41の内部に形成されている。第1の電源受給領域A41内にはブロックB41,B42が第2の電源受給領域A42を挟む状態で存在する。
【0009】
ここでブロックB41から出力されブロックB42へ入力される信号があり、かつその距離が長い場合を考える。その接続は高速化等のためにリピータバッファを介して行う必要がある。そのためには、ブロックB41から第2の電源受給領域A42の部分を介してブロックB42へと直線的にリピータバッファの配置および配線を行うことが好ましい。ところが、第2の電源受給領域A42はブロックB41,B42とは異なる電源が供給されている。そのため、第2の電源受給領域A42内に配置されたリピータバッファが所望の電圧の電源が供給されなかったり、所望の動作を行わなかったりする場合がある。したがって、同じ電源系統の第1の電源受給領域A41内に配置されたリピータバッファを介して接続する必要がある。つまり、第2の電源受給領域A42を迂回して配置されたリピータバッファRB41〜RB43および配線L41〜L44によって接続することとなる。しかし、この場合、ブロックB41からブロックB42へ直線的にリピータバッファの配置および配線を行う場合に比べて、リピータバッファが多段になり高速化および低消費電力化の妨げとなる。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記の課題を解決するために、本発明は次のような手段を講じる。
【0011】
第1の解決手段として、本発明による半導体集積回路は、少なくとも2つの電源系統を有し、第1の電源が供給される第1の電源受給領域と、前記第1の電源受給領域の内部に形成され第2の電源が供給される第2の電源受給領域と、前記第2の電源受給領域内に形成され前記第1の電源が供給される信号中継回路を有する第3の電源受給領域とを備え、前記第1の電源受給領域における複数の回路を前記第3の電源受給領域における前記信号中継回路を経由して接続している。
【0012】
この構成による作用は次のとおりである。第1の電源受給領域内に信号伝播を行うべき複数の回路があり、これら複数の回路どうし間に、第2の電源受給領域が存在している。第1の電源受給領域への供給電源と第2の電源受給領域への供給電源とは異なる系統であるので、第1の電源受給領域内の信号伝播を行うべき複数の回路どうしを接続するに、第2の電源受給領域内に直接に配線して接続すると、動作不安定の問題が生じる。一方、これを避けるために、第2の電源受給領域を迂回して配線するとなれば、リピータバッファの多段化の問題が生じる。そこで、本解決手段は、第2の電源受給領域の内部に第3の電源受給領域を設け、この第3の電源受給領域には第1の電源受給領域と同様の第1の電源を供給するようにし、第3の電源受給領域に信号中継回路を形成している。そして、第1の電源受給領域内の信号伝播を行うべき複数の回路どうしを接続するに、同じ電源系統の第3の電源受給領域における信号中継セルを経由して接続している。つまり、第1の電源受給領域内での信号伝播を信号中継回路を経由して伝播することができる。これにより、迂回配線に伴うリピータバッファの多段化を避けることができ、回路の高速化および低消費電力化を図ることができる。
【0013】
第2の解決手段として、本発明による半導体集積回路は、第1の電源が供給される第1の電源受給領域と、前記第1の電源受給領域の内部に形成され第2の電源が供給される第2の電源受給領域と、前記第2の電源受給領域内に複数形成され各々前記第1の電源が供給される信号中継回路を有する第3の電源受給領域とを備え、前記第1の電源受給領域における複数の回路を前記複数の第3の電源受給領域における複数の信号中継回路を経由して接続している。
【0014】
この第2の解決手段は、上記第1の解決手段との対比において、第2の電源受給領域に、信号中継回路を有する第3の電源受給領域を複数設けており、これら複数の第3の電源受給領域における複数の信号中継回路を経由して、第1の電源受給領域内の信号伝播を行うべき複数の回路どうしを接続している点に特徴がある。ある第3の電源受給領域の信号中継回路を中心にみると、その信号中継回路の入力信号は第1の電源受給領域内の回路と接続され、出力信号は別の第3の電源受給領域の信号中継回路と接続される。また、別の第3の電源受給領域を中心にみると、その信号中継回路の入力信号は他の第3の電源受給領域内の信号中継回路と接続され、出力信号は第1の電源受給領域の別の回路と接続される。これにより、配線長が長くなっても、迂回配線に伴うリピータバッファの多段化を避けることができ、回路の高速化および低消費電力化を図ることができる。
【0015】
上記において好ましい態様は、前記信号中継回路をバッファ回路とすることである。このように構成すると、バッファ回路をリピータバッファとして利用することでリピータバッファの多段化を避け、回路の高速化および低消費電力化を図ることができる。
【0016】
さらに、前記バッファ回路をリピータバッファとするのが好ましい態様である。このように構成すると、リピータバッファにより、リピータバッファの多段化を避けることができ、回路の高速化および低消費電力化を図ることができる。
【0017】
上記の半導体集積回路の発明は、半導体集積回路の構成要素である半導体集積回路ブロックとして次のように展開することも可能である。
【0018】
本発明による半導体集積回路ブロックは、第1の電源が供給される第1の電源受給領域と、前記第1の電源受給領域の内部に形成され第2の電源が供給される信号中継回路を有する第2の電源受給領域とを備え、前記第2の電源受給領域における前記信号中継回路の入出力信号がブロックの外部とのみ接続されている。この半導体集積回路ブロックについての説明で、“第1”、“第2”については、上記の半導体集積回路についての説明の“第1”、“第2”とは関係しないものである。ただし、対比することは可能で、半導体集積回路の説明の“第2”が半導体集積回路ブロックの“第1”に対応し、半導体集積回路の説明の“第3”が半導体集積回路ブロックの“第2”に対応すると考えることが可能である。
【0019】
この構成による作用は次のとおりである。第2の電源受給領域内には信号中継回路が設けられ、この信号中継回路はその周囲の第1の電源受給領域内の回路とは接続されず、接続されているのはブロックの外部に対してのみである。
【0020】
この半導体集積回路ブロックを利用することにより、ブロック外部の任意の回路どうしを、ブロックを迂回することなく、第2の電源受給領域内の信号中継回路を経由して伝播させることが可能となる。すなわち、リピータバッファの多段化の回避を通じて回路の高速化および低消費電力化を有利に展開することができる。
【0021】
上記において好ましい態様は、前記信号中継回路の入出力信号があらかじめブロック外周部まで入出力ピンとして引き出された状態に半導体集積回路ブロックが構成されていることである。この構成によれば、信号中継回路の入出力信号をその都度ブロック外周部まで引き出す必要がなくなり、設計工数を削減することができる。
【0022】
上記において好ましい態様は、前記の入出力ピンに接続される配線が前記第1の電源受給領域内の回路の動作への影響が少なくなるように引かれていることである。この構成によれば、信号中継回路の入出力信号によってブロック内の他の部分に与える影響を抑えることができる。
【0023】
上記において好ましい態様は、前記第2の電源があらかじめブロック外周部まで電源ピンとして引き出された状態に半導体集積回路ブロックが構成されていることである。この構成によれば、信号中継回路に対する電源をその都度ブロック外周部まで引き出す必要がなくなり、設計工数を削減することができる。
【0024】
上記において好ましい態様は、前記の電源ピンに接続される配線が前記第1の電源受給領域内の回路の動作への影響が少なくなるように引かれていることである。この構成によれば、電源ピンに接続される電源配線によってブロック内の他の部分に与える影響を抑えることができる。
【0025】
上記において好ましい態様は、前記信号中継回路をバッファ回路とすることである。このように構成すると、バッファ回路をリピータバッファとして利用することでリピータバッファの多段化を避け、回路の高速化および低消費電力化を図ることができる。
【0026】
さらに、前記バッファ回路をリピータバッファとするのが好ましい態様である。このように構成すると、リピータバッファにより、リピータバッファの多段化を避けることができ、回路の高速化および低消費電力化を図ることができる。
【0027】
上記において好ましい態様は、前記半導体集積回路ブロックがハードマクロIP(IntellectualProperty)となっている場合である。この構成の場合、ハードマクロIPの修正を行うことなく、ブロック内にあらかじめ配置された信号中継回路をリピータバッファとして利用できる。
【0028】
上記において好ましい態様は、前記半導体集積回路ブロックがメモリブロックとなっている場合である。この構成の場合、メモリブロックの修正を行うことなく、メモリブロック内にあらかじめ配置された信号中継回路をリピータバッファとして利用できる。
【0029】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の形態について以下、図面を用いて説明する。
【0030】
(実施の形態1)
図1は本発明の実施の形態1における半導体集積回路の概略図である。
【0031】
図1において、半導体集積回路100には、第1の電源が供給される第1の電源受給領域A1と、第1の電源受給領域A1の内部に形成されて第2の電源が供給される第2の電源受給領域A2と、第2の電源受給領域A2の内部に形成されて第1の電源が供給される第3の電源受給領域A3とがある。第3の電源受給領域A3には信号中継回路としてのリピータバッファRBが設けられている。第2の電源受給領域A2は第1の電源受給領域A1に囲まれており、第3の電源受給領域A3は第2の電源受給領域A2に囲まれている。第1の電源受給領域A1内にはブロックB1,B2が第2の電源受給領域A2を挟んで存在する。
【0032】
ここで、ブロックB1から出力されブロックB2へ入力される信号があり、かつその距離が長い場合、その接続は高速化等のためにリピータバッファを介して行う必要がある。そのためには、ブロックB1からブロックB2へと直線的にリピータバッファの配置および配線を行うことが好ましい。しかし、第2の電源受給領域A2はブロックB1,B2とは異なる電源が供給されているため、第2の電源受給領域A2内にはリピータバッファは配置できない。
【0033】
第2の電源受給領域A2のさらに内側の第3の電源受給領域A3には、第1の電源受給領域A1と同一の電源が供給されている。このことを利用して、第1の電源受給領域A1におけるブロックB1とブロックB2とを、第3の電源受給領域A3内に配置されたリピータバッファRBおよび配線L1,L2を経由して互いに接続することができる。
【0034】
本実施の形態のような構成をとることにより、リピータバッファが多段になることがなく、半導体集積回路の高速化、および低消費電力化を図ることができる。
【0035】
なお、本実施の形態では第3の電源受給領域A3内にはリピータバッファのみが存在する構成としたが、リピータバッファ以外の回路が存在していてもよい。
【0036】
また、リピータバッファの数は複数であってもよい。
【0037】
また、リピータバッファはバッファから構成されるとしたが、インバータで構成されるとしてもよいし、他の回路、例えばAND回路を設け、その入出力を第1の電源受給領域A1内の回路に接続し、論理演算を行うとともにリピータとしても機能させるような構成であってもよい。
【0038】
また、ブロックB1,B2は同じ第1の電源受給領域A1に存在するとしたが、ブロックB1,B2は同じ電源が供給される別の電源受給領域に存在する構成であってもよい。
【0039】
また、電源は2種類であるとしたが、3種類以上あってもよい。
【0040】
(実施の形態2)
図2は本発明の実施の形態2における半導体集積回路の概略図である。
【0041】
図2において、半導体集積回路200は、大容量メモリM1〜M10とメモリ周辺制御ロジックG11,G12、ロジック部G2および電源パッドP1〜P3で構成される。ここで、メモリM1〜M10とメモリ周辺制御ロジックG11,G12は、メモリM1〜M10の動作状態によって電源電圧を可変できる電源制御が実施されるもので、電源パッドP1,P2から電源配線L11を介して電源が供給されるようになっている。一方、その他のロジック部G2は、常時動作するもので、電源パッドP3から電源配線L12を介して電源が供給される。ブロックの配置については、メモリM1〜M10とメモリ周辺制御ロジックG11,G12は、ロジック部G2に制御されることから、チップ外周に配置され、ロジック部G2はチップ中心に配置される構成となっている。また、メモリ周辺制御ロジックG11からメモリ周辺制御ロジックG12への信号バスが存在する。
【0042】
この半導体集積回路200において、ロジック部G2の内部に電源配線L11により電源が供給された電源受給領域A13a〜A13cを設けている。電源受給領域A13aには周辺制御回路G11と同一の電源が供給されているため、電源受給領域A13aに配置されたリピータバッファRB11および配線L13,L14によってメモリ周辺制御ロジックG11,G12間の配線を接続することができる。また、メモリ周辺制御ロジックG11からメモリ周辺制御ロジックG12への別の信号バスは、ロジック部G2の内部の電源受給領域A13b,A13cに配置されたリピータバッファRB12,RB13および配線L15〜L17によって配線を接続することができる。
【0043】
上記構成において、大容量メモリM1〜M10とメモリ周辺制御ロジックG11,G12などが存在する領域を第1の電源受給領域A11とする。また、ロジック部G2が存在する領域を第2の電源受給領域A12とする。そして、電源受給領域A13a,A13b,A13cを第3の電源受給領域とする。第1の電源受給領域A11には電源パッドP1,P2から電源配線L11を介して第1の電源が供給されている。第2の電源受給領域A12には電源パッドP3から電源配線L12を介して第2の電源が供給されている。第3の電源受給領域A13a,A13b,A13cには電源配線L11を介して第1の電源が供給されている。第2の電源受給領域A12は第1の電源受給領域A11の内部に設けられている。第3の電源受給領域A13a,A13b,A13cは第2の電源受給領域A12の内部に設けられている。そして、第1の電源受給領域A11におけるメモリ周辺制御ロジックG11とメモリ周辺制御ロジックG12とが、配線L13、第3の電源受給領域13aの信号中継回路であるリピータバッファRB11、および配線L14を介して互いに接続されているとともに、配線L15、第3の電源受給領域13bのリピータバッファRB12、配線L16、第3の電源受給領域13cのリピータバッファRB13および配線L17を介して互いに接続されている。
【0044】
本実施の形態のような構成をとることにより、リピータバッファが多段になることがなく、半導体集積回路の高速化、および低消費電力化を図ることができる。
【0045】
なお、本実施の形態では電源受給領域A13a〜A13c内にはリピータバッファのみが存在する構成としたが、リピータバッファ以外の回路が存在していてもよい。
【0046】
また、リピータバッファの数は電源受給領域A13a〜A13cにおいてそれぞれ複数であってもよい。
【0047】
また、リピータバッファはバッファから構成されるとしたが、インバータで構成されるとしてもよいし、他の回路、例えばAND回路を設け、論理演算を行うとともにリピータとしても機能させるような構成であってもよい。
【0048】
また、メモリ周辺制御ロジックG11,G12は同じ電源受給領域に存在するとしたが、メモリ周辺制御ロジックG11,G12は同じ電源が供給される別の電源受給領域に存在する構成であってもよい。
【0049】
また、電源はI/Oパッドから直接供給されるとしたが、内部で電源を生成し、供給する構成であってもよい。
【0050】
また、電源は2種類であるとしたが、3種類以上あってもよい。
【0051】
(実施の形態3)
図3は本発明の実施の形態3における半導体集積回路ブロックの概略図である。
【0052】
図3において、半導体集積回路ブロック300には、第1の電源が供給される第1の電源受給領域A21および第2の電源が供給される第2の電源受給領域A22があり、第2の電源受給領域A22は第1の電源受給領域A21の内部に形成されている。第2の電源受給領域A22内には信号中継回路としてのバッファRB2が配置され、その入力は配線L21を経由して半導体集積回路ブロック300の外周部の入力ピンP21に接続されており、出力は配線L22を経由して半導体集積回路ブロック300の外周部の出力ピンP22に接続されている。また、第2の電源受給領域A22の電源は電源配線L23を経由して半導体集積回路ブロック300の外周部の電源ピンP23およびP24に接続されている。入出力ピンP21,P22に接続される配線L21,L22は第1の電源受給領域A21内の回路の動作への影響が少なくなるように引かれている。また、電源ピンP23,P24に接続される配線L23は第1の電源受給領域A21内の回路の動作への影響が少なくなるように引かれている。
【0053】
ここで半導体集積回路ブロック300の左側から出力され右側へ入力される信号があり、かつその距離が長い場合、その接続は高速化等のためにリピータバッファを介して行う必要がある。そのためには、半導体集積回路ブロック300内部を直線的にリピータバッファの配置および配線を行うことが好ましい。ここで、バッファRB2を使用して信号を中継するように、入力ピンP21および出力ピンP22を接続し、電源ピンP23,P24を信号と同じ電源に接続することにより、バッファRB2をリピータバッファとして使用することができる。
【0054】
本実施の形態のようにブロック内にあらかじめバッファを設けておくことにより、リピータバッファが多段になることがなく、半導体集積回路の高速化、および低消費電力化を図ることができる。
【0055】
なお、本実施の形態では第2の電源受給領域A22内にはリピータバッファのみが存在する構成としたが、リピータバッファ以外の回路が存在していてもよい。
【0056】
また、リピータバッファの数は複数であってもよい。
【0057】
また、リピータバッファはバッファから構成されるとしたが、インバータで構成されるとしてもよいし、他の回路、例えばAND回路を設けその入出力をブロック300の入出力ピンに接続し、論理演算を行うとともにリピータとしても機能させるような構成であってもよい。
【0058】
また、電源は2種類であるとしたが、3種類以上あってもよい。
【0059】
また、入出力ピンはブロック外周部に設けるとしたが、外周部に設けなくてもよい。例えばバッファRB2の入出力ピンはバッファRB2近傍に設けておくことができる。この場合には、ブロックの左側から右側へのリピータバッファとしてだけでなく、ブロックの上側から下側へのリピータバッファ等としても利用することができる。
【0060】
また、電源ピンはブロック外周部に設けるとしたが、外周部に設けなくてもよい。例えば第2の電源受給領域A22の外周部に電源ピンを設けておくことができる。この場合には、第2の電源受給領域A22に必要な電源線を接続しやすい側に電源配線を接続することができる。
【0061】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、短距離配線で障害となる電源受給領域に信号中継回路を設け、その信号中継回路を経由して信号を伝播するので、迂回配線に伴うリピータバッファの多段化を避けることができ、回路の高速化および低消費電力化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1における半導体集積回路の概略図
【図2】本発明の実施の形態2における半導体集積回路の概略図
【図3】本発明の実施の形態3における半導体集積回路ブロックの概略図
【図4】従来技術の課題概略図
【図5】従来の半導体集積回路の概略図
【符号の説明】
100,200 半導体集積回路
300 半導体集積回路ブロック
A1,A11,A21 第1の電源受給領域
A2,A12,A22 第2の電源受給領域
A3,A13a〜A13c 第3の電源受給領域
B1,B2 ブロック
G11,G12 メモリ周辺制御ロジック
G2 ロジック部
L1,L2 信号配線
L11,L12 電源配線
L13〜L17 配線
M1〜M10 大容量メモリ
P1〜P3 電源パッド
P21 入力ピン
P22 出力ピン
P23,P24 電源ピン
RB,RB11〜RB13 リピータバッファ
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a semiconductor integrated circuit having at least two power supply systems and a semiconductor integrated circuit block which is a component of the semiconductor integrated circuit, and more particularly to a technique for increasing the speed of signals and reducing power consumption.
[0002]
[Prior art]
Long wiring in a semiconductor integrated circuit has caused signal rounding and speed degradation due to parasitic resistance and parasitic capacitance, increased through current, increased noise generation, and degraded noise resistance. Conventionally, there has been a method for avoiding this problem by inserting a buffer (hereinafter referred to as a repeater buffer) in the middle of a long wiring.
[0003]
A conventional solution for solving the above problem will be described with reference to FIG. 5 (see, for example, Patent Document 1).
[0004]
Feed cells FC1 and FC2 are arranged in a block composed of standard cells SC1 to SC9 in order to eliminate unconnected power supply VDD and ground VSS. The feed cells FC1 and FC2 are provided with the functions of repeater buffers RB51 and RB52, and long wires extending between the cells are routed through these buffers, thereby avoiding long wires. In FIG. 5, the output of the standard cell SC2 and the input of the standard cell SC5 are directly connected by inserting a repeater buffer RB51 via wirings L51 and L52 between the output of the standard cell SC2 and the input of the standard cell SC5. The wiring length is shortened compared to the case. When the output of the standard cell SC3 and the input of the standard cell SC8 are directly connected by inserting the repeater buffer RB52 via the wirings L53 and L54 between the output of the standard cell SC3 and the input of the standard cell SC8. Compared to the maximum wiring length.
[0005]
[Patent Document 1]
JP-A-6-112317 (page 2-3, FIG. 1-2)
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
In recent years, for the purpose of reducing power consumption, etc., a plurality of power supplies are supplied in a single semiconductor integrated circuit, different voltages are supplied to each power supply, power supply is cut off for each power supply, power supply control, etc. It is carried out. Under such circumstances, when the above-described conventional technology is used, the repeater buffer becomes multi-stage due to power supply restrictions, which may hinder speeding up and low power consumption.
[0007]
A specific example is shown in FIG.
[0008]
In FIG. 4, the semiconductor integrated circuit 400 includes a first power supply area A41 to which a first power is supplied and a second power supply area A42 to which a second power is supplied. The receiving area A42 is formed inside the first power supply receiving area A41. Blocks B41 and B42 exist in the first power supply area A41 with the second power supply area A42 sandwiched therebetween.
[0009]
Here, consider a case where there is a signal output from the block B41 and input to the block B42 and the distance is long. The connection needs to be made through a repeater buffer for speeding up. For this purpose, it is preferable that the repeater buffer is arranged and wired linearly from the block B41 to the block B42 through the second power supply area A42. However, the second power receiving area A42 is supplied with power different from the blocks B41 and B42. For this reason, the repeater buffer arranged in the second power supply area A42 may not be supplied with power of a desired voltage or may not perform a desired operation. Therefore, it is necessary to connect via a repeater buffer arranged in the first power supply area A41 of the same power supply system. That is, the connection is made by the repeater buffers RB41 to RB43 and the wirings L41 to L44 arranged around the second power supply area A42. However, in this case, the repeater buffers are multi-staged and hinder speeding and low power consumption compared to the case where the repeater buffers are arranged and wired linearly from the block B41 to the block B42.
[0010]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above problems, the present invention takes the following measures.
[0011]
As a first solution, a semiconductor integrated circuit according to the present invention has at least two power supply systems, and includes a first power supply region to which a first power is supplied, and an inside of the first power supply region. A second power receiving area formed and supplied with a second power; and a third power receiving area having a signal relay circuit formed in the second power receiving area and supplied with the first power; And a plurality of circuits in the first power supply receiving area are connected via the signal relay circuit in the third power supply receiving area.
[0012]
The effect | action by this structure is as follows. There are a plurality of circuits for signal propagation in the first power receiving area, and a second power receiving area exists between the plurality of circuits. Since the power supply to the first power supply area and the power supply to the second power supply area are different systems, a plurality of circuits that should perform signal propagation in the first power supply area are connected to each other. If the wiring is directly connected to the second power receiving area, the problem of unstable operation occurs. On the other hand, in order to avoid this, if the second power supply receiving area is detoured and wired, a problem of multi-stage repeater buffers arises. Therefore, the present solution provides a third power receiving area inside the second power receiving area, and supplies the first power similar to the first power receiving area to the third power receiving area. Thus, a signal relay circuit is formed in the third power supply receiving area. Then, in order to connect a plurality of circuits that should perform signal propagation in the first power supply receiving area, they are connected via a signal relay cell in the third power receiving area of the same power supply system. That is, the signal propagation in the first power supply receiving area can be propagated through the signal relay circuit. As a result, the number of repeater buffers associated with the bypass wiring can be avoided, and the circuit can be speeded up and the power consumption can be reduced.
[0013]
As a second solution, a semiconductor integrated circuit according to the present invention is provided with a first power supply area to which a first power is supplied, and a second power supply that is formed inside the first power supply area. A second power receiving area, and a third power receiving area formed in the second power receiving area, each having a signal relay circuit to which the first power is supplied. A plurality of circuits in the power receiving area are connected via a plurality of signal relay circuits in the plurality of third power receiving areas.
[0014]
In contrast to the first solving means, the second solving means is provided with a plurality of third power receiving areas having a signal relay circuit in the second power receiving area. A feature resides in that a plurality of circuits that should perform signal propagation in the first power supply receiving area are connected via a plurality of signal relay circuits in the power receiving area. Looking at a signal relay circuit in a certain third power supply region, the input signal of the signal relay circuit is connected to the circuit in the first power supply region, and the output signal is in another third power supply region. Connected to signal relay circuit. When viewed from the center of another third power receiving area, the input signal of the signal relay circuit is connected to the signal relay circuit in the other third power receiving area, and the output signal is the first power receiving area. Connected with another circuit. As a result, even if the wiring length becomes long, it is possible to avoid the multi-stage repeater buffer associated with the bypass wiring, and it is possible to increase the circuit speed and reduce the power consumption.
[0015]
In the above, a preferable aspect is that the signal relay circuit is a buffer circuit. With this configuration, by using the buffer circuit as a repeater buffer, the number of repeater buffers can be avoided, and the circuit can be increased in speed and power consumption.
[0016]
Furthermore, it is preferable that the buffer circuit is a repeater buffer. With this configuration, the repeater buffer can avoid a multi-stage repeater buffer, and the circuit can be increased in speed and power consumption.
[0017]
The invention of the above-mentioned semiconductor integrated circuit can also be developed as follows as a semiconductor integrated circuit block which is a component of the semiconductor integrated circuit.
[0018]
A semiconductor integrated circuit block according to the present invention includes a first power supply region to which a first power is supplied, and a signal relay circuit that is formed inside the first power supply region and to which a second power is supplied. And an input / output signal of the signal relay circuit in the second power receiving area is connected only to the outside of the block. In the description of the semiconductor integrated circuit block, “first” and “second” are not related to “first” and “second” in the description of the semiconductor integrated circuit. However, it is possible to compare, “second” in the description of the semiconductor integrated circuit corresponds to “first” in the semiconductor integrated circuit block, and “third” in the description of the semiconductor integrated circuit corresponds to “ It can be considered to correspond to the second ".
[0019]
The effect | action by this structure is as follows. A signal relay circuit is provided in the second power receiving area, and this signal relay circuit is not connected to the circuit in the surrounding first power receiving area, and is connected to the outside of the block. Only.
[0020]
By using this semiconductor integrated circuit block, any circuit outside the block can be propagated via the signal relay circuit in the second power supply receiving area without bypassing the block. That is, it is possible to advantageously develop a high speed circuit and low power consumption by avoiding multi-stage repeater buffers.
[0021]
In the above, a preferred aspect is that the semiconductor integrated circuit block is configured in such a manner that the input / output signals of the signal relay circuit are drawn in advance as input / output pins to the outer periphery of the block. According to this configuration, it is not necessary to draw the input / output signal of the signal relay circuit to the block outer periphery each time, and the design man-hour can be reduced.
[0022]
A preferable aspect in the above is that the wiring connected to the input / output pin is drawn so as to reduce the influence on the operation of the circuit in the first power supply receiving area. According to this configuration, the influence of the input / output signal of the signal relay circuit on other parts in the block can be suppressed.
[0023]
In the above, a preferable aspect is that the semiconductor integrated circuit block is configured in such a manner that the second power supply is drawn in advance as a power supply pin to the outer periphery of the block. According to this configuration, it is not necessary to draw the power source for the signal relay circuit to the block outer periphery each time, and the design man-hour can be reduced.
[0024]
A preferable aspect in the above is that the wiring connected to the power supply pin is drawn so as to reduce the influence on the operation of the circuit in the first power supply receiving area. According to this configuration, it is possible to suppress the influence of the power supply wiring connected to the power supply pin on other parts in the block.
[0025]
In the above, a preferable aspect is that the signal relay circuit is a buffer circuit. With this configuration, by using the buffer circuit as a repeater buffer, the number of repeater buffers can be avoided, and the circuit can be increased in speed and power consumption.
[0026]
Furthermore, it is preferable that the buffer circuit is a repeater buffer. With this configuration, the repeater buffer can avoid a multi-stage repeater buffer, and the circuit can be increased in speed and power consumption.
[0027]
A preferable aspect in the above is a case where the semiconductor integrated circuit block is a hard macro IP (Intellectual Property). In the case of this configuration, the signal relay circuit arranged in advance in the block can be used as a repeater buffer without correcting the hard macro IP.
[0028]
A preferable aspect in the above is a case where the semiconductor integrated circuit block is a memory block. In the case of this configuration, a signal relay circuit arranged in advance in the memory block can be used as a repeater buffer without correcting the memory block.
[0029]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
[0030]
(Embodiment 1)
FIG. 1 is a schematic diagram of a semiconductor integrated circuit according to Embodiment 1 of the present invention.
[0031]
In FIG. 1, the semiconductor integrated circuit 100 includes a first power supply region A1 to which a first power is supplied, and a second power source that is formed inside the first power supply region A1 and to which a second power is supplied. There are two power receiving areas A2 and a third power receiving area A3 formed in the second power receiving area A2 and supplied with the first power. A repeater buffer RB as a signal relay circuit is provided in the third power supply receiving area A3. The second power receiving area A2 is surrounded by the first power receiving area A1, and the third power receiving area A3 is surrounded by the second power receiving area A2. Blocks B1 and B2 exist in the first power supply area A1 across the second power supply area A2.
[0032]
Here, when there is a signal output from the block B1 and input to the block B2, and the distance is long, the connection needs to be made through a repeater buffer for speeding up or the like. For this purpose, it is preferable that the repeater buffers are arranged and wired linearly from the block B1 to the block B2. However, since the second power supply area A2 is supplied with power different from the blocks B1 and B2, no repeater buffer can be arranged in the second power supply area A2.
[0033]
The same power supply as that of the first power supply area A1 is supplied to the third power supply area A3 further inside the second power supply area A2. By utilizing this, the block B1 and the block B2 in the first power supply receiving area A1 are connected to each other via the repeater buffer RB and the wirings L1 and L2 arranged in the third power supply receiving area A3. be able to.
[0034]
By adopting the configuration as in this embodiment, the repeater buffer does not have multiple stages, and the semiconductor integrated circuit can be increased in speed and power consumption can be reduced.
[0035]
In the present embodiment, only the repeater buffer exists in the third power supply area A3. However, a circuit other than the repeater buffer may exist.
[0036]
The number of repeater buffers may be plural.
[0037]
Although the repeater buffer is composed of a buffer, it may be composed of an inverter, or may be composed of another circuit, for example, an AND circuit, and its input / output is connected to a circuit in the first power supply area A1. However, it may be configured to perform a logical operation and function as a repeater.
[0038]
Further, although the blocks B1 and B2 are present in the same first power supply area A1, the blocks B1 and B2 may be present in different power supply areas to which the same power is supplied.
[0039]
Further, although there are two types of power supplies, there may be three or more types.
[0040]
(Embodiment 2)
FIG. 2 is a schematic diagram of a semiconductor integrated circuit according to the second embodiment of the present invention.
[0041]
In FIG. 2, the semiconductor integrated circuit 200 includes large-capacity memories M1 to M10, memory peripheral control logics G11 and G12, a logic unit G2, and power supply pads P1 to P3. Here, the memories M1 to M10 and the memory peripheral control logic G11 and G12 are subjected to power supply control in which the power supply voltage can be changed according to the operation state of the memories M1 to M10. Power is supplied. On the other hand, the other logic part G2 operates constantly, and power is supplied from the power supply pad P3 via the power supply line L12. Regarding the arrangement of the blocks, the memories M1 to M10 and the memory peripheral control logic G11 and G12 are controlled by the logic unit G2, so that they are arranged on the outer periphery of the chip, and the logic unit G2 is arranged in the center of the chip. Yes. There is also a signal bus from the memory peripheral control logic G11 to the memory peripheral control logic G12.
[0042]
In the semiconductor integrated circuit 200, power receiving areas A13a to A13c to which power is supplied by the power supply wiring L11 are provided inside the logic part G2. Since the same power as the peripheral control circuit G11 is supplied to the power supply region A13a, the wiring between the memory peripheral control logics G11 and G12 is connected by the repeater buffer RB11 and the wirings L13 and L14 arranged in the power supply region A13a. can do. Further, another signal bus from the memory peripheral control logic G11 to the memory peripheral control logic G12 is wired by the repeater buffers RB12 and RB13 and the wirings L15 to L17 arranged in the power supply receiving areas A13b and A13c inside the logic part G2. Can be connected.
[0043]
In the above configuration, a region where the large-capacity memories M1 to M10 and the memory peripheral control logics G11 and G12 are present is defined as a first power supply region A11. Further, an area where the logic part G2 exists is defined as a second power supply area A12. Then, the power supply receiving areas A13a, A13b, A13c are set as a third power supply receiving area. The first power supply area A11 is supplied with the first power from the power pads P1 and P2 via the power supply line L11. The second power supply area A12 is supplied with the second power from the power supply pad P3 via the power supply line L12. The first power supply is supplied to the third power supply receiving areas A13a, A13b, and A13c via the power supply line L11. The second power receiving area A12 is provided inside the first power receiving area A11. The third power receiving areas A13a, A13b, A13c are provided inside the second power receiving area A12. Then, the memory peripheral control logic G11 and the memory peripheral control logic G12 in the first power supply area A11 are connected via the wiring L13, the repeater buffer RB11 that is a signal relay circuit of the third power supply area 13a, and the wiring L14. In addition to being connected to each other, they are connected to each other via a wiring L15, a repeater buffer RB12 in the third power supply region 13b, a wiring L16, a repeater buffer RB13 in the third power supply region 13c, and a wiring L17.
[0044]
By adopting the configuration as in this embodiment, the repeater buffer does not have multiple stages, and the semiconductor integrated circuit can be increased in speed and power consumption can be reduced.
[0045]
In the present embodiment, only the repeater buffer exists in the power supply receiving areas A13a to A13c. However, circuits other than the repeater buffer may exist.
[0046]
Further, the number of repeater buffers may be plural in the power supply receiving areas A13a to A13c.
[0047]
In addition, the repeater buffer is composed of a buffer. However, the repeater buffer may be composed of an inverter, or another circuit such as an AND circuit may be provided to perform a logical operation and function as a repeater. Also good.
[0048]
Further, although the memory peripheral control logics G11 and G12 are present in the same power supply receiving area, the memory peripheral control logics G11 and G12 may be present in different power supply receiving areas to which the same power is supplied.
[0049]
In addition, although power is directly supplied from the I / O pad, a configuration in which power is generated and supplied internally may be employed.
[0050]
Further, although there are two types of power supplies, there may be three or more types.
[0051]
(Embodiment 3)
FIG. 3 is a schematic diagram of a semiconductor integrated circuit block according to the third embodiment of the present invention.
[0052]
In FIG. 3, the semiconductor integrated circuit block 300 includes a first power receiving area A21 to which a first power is supplied and a second power receiving area A22 to which a second power is supplied. The receiving area A22 is formed inside the first power receiving area A21. A buffer RB2 as a signal relay circuit is arranged in the second power supply receiving area A22, and its input is connected to the input pin P21 on the outer periphery of the semiconductor integrated circuit block 300 via the wiring L21, and the output is The semiconductor integrated circuit block 300 is connected to the output pin P22 on the outer periphery via the wiring L22. The power supply of the second power supply area A22 is connected to the power supply pins P23 and P24 on the outer periphery of the semiconductor integrated circuit block 300 via the power supply line L23. The wirings L21 and L22 connected to the input / output pins P21 and P22 are drawn so as to reduce the influence on the operation of the circuit in the first power supply area A21. The wiring L23 connected to the power supply pins P23 and P24 is drawn so as to reduce the influence on the operation of the circuit in the first power supply receiving area A21.
[0053]
Here, when there is a signal output from the left side of the semiconductor integrated circuit block 300 and input to the right side and the distance is long, the connection needs to be made through a repeater buffer for speeding up and the like. For this purpose, it is preferable that repeater buffers are arranged and wired linearly in the semiconductor integrated circuit block 300. Here, the input pin P21 and the output pin P22 are connected so that the signal is relayed using the buffer RB2, and the power supply pins P23 and P24 are connected to the same power supply as the signal, so that the buffer RB2 is used as a repeater buffer. can do.
[0054]
By providing a buffer in the block in advance as in this embodiment, the repeater buffer does not have multiple stages, and the semiconductor integrated circuit can be increased in speed and power consumption.
[0055]
In the present embodiment, only the repeater buffer exists in the second power supply region A22. However, a circuit other than the repeater buffer may exist.
[0056]
The number of repeater buffers may be plural.
[0057]
The repeater buffer is composed of a buffer. However, the repeater buffer may be composed of an inverter, or another circuit such as an AND circuit may be provided to connect the input / output to the input / output pin of the block 300 to perform logical operation. It may be configured to perform as well as a repeater.
[0058]
Further, although there are two types of power supplies, there may be three or more types.
[0059]
Although the input / output pins are provided on the outer peripheral portion of the block, they may not be provided on the outer peripheral portion. For example, the input / output pins of the buffer RB2 can be provided near the buffer RB2. In this case, it can be used not only as a repeater buffer from the left side to the right side of the block, but also as a repeater buffer from the upper side to the lower side of the block.
[0060]
Moreover, although the power supply pin is provided on the outer peripheral portion of the block, it may not be provided on the outer peripheral portion. For example, a power pin can be provided on the outer periphery of the second power receiving area A22. In this case, the power supply wiring can be connected to the side where the necessary power supply line can be easily connected to the second power supply region A22.
[0061]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, a signal relay circuit is provided in a power supply reception area that becomes an obstacle in short-distance wiring, and signals are propagated through the signal relay circuit. Therefore, the circuit can be speeded up and the power consumption can be reduced.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic diagram of a semiconductor integrated circuit according to a first embodiment of the present invention. FIG. 2 is a schematic diagram of a semiconductor integrated circuit according to a second embodiment of the present invention. Schematic diagram of circuit block [FIG. 4] Schematic diagram of problems of prior art [FIG. 5] Schematic diagram of conventional semiconductor integrated circuit [Explanation of symbols]
100, 200 Semiconductor integrated circuit 300 Semiconductor integrated circuit blocks A1, A11, A21 First power supply areas A2, A12, A22 Second power supply areas A3, A13a to A13c Third power supply areas B1, B2 Block G11, G12 Memory peripheral control logic G2 Logic portion L1, L2 Signal wiring L11, L12 Power supply wiring L13-L17 Wiring M1-M10 Large capacity memory P1-P3 Power supply pad P21 Input pin P22 Output pin P23, P24 Power supply pins RB, RB11-RB13 Repeater buffer

Claims (13)

第1の電源が供給される第1の電源受給領域と、前記第1の電源受給領域の内部に形成され第2の電源が供給される第2の電源受給領域と、前記第2の電源受給領域内に形成され前記第1の電源が供給される信号中継回路を有する第3の電源受給領域とを備え、前記第1の電源受給領域における複数の回路を前記第3の電源受給領域における前記信号中継回路を経由して接続している半導体集積回路。A first power supply region to which a first power is supplied; a second power supply region that is formed inside the first power supply region and to which a second power is supplied; and the second power supply. And a third power receiving region having a signal relay circuit formed in the region and supplied with the first power, and a plurality of circuits in the first power receiving region are arranged in the third power receiving region. A semiconductor integrated circuit connected via a signal relay circuit. 第1の電源が供給される第1の電源受給領域と、前記第1の電源受給領域の内部に形成され第2の電源が供給される第2の電源受給領域と、前記第2の電源受給領域内に複数形成され各々前記第1の電源が供給される信号中継回路を有する第3の電源受給領域とを備え、前記第1の電源受給領域における複数の回路を前記複数の第3の電源受給領域における複数の信号中継回路を経由して接続している半導体集積回路。A first power supply region to which a first power is supplied; a second power supply region that is formed inside the first power supply region and to which a second power is supplied; and the second power supply. A third power supply region having a signal relay circuit formed in the region and supplied with the first power supply, and a plurality of circuits in the first power supply region are provided with the plurality of third power supplies. A semiconductor integrated circuit connected via a plurality of signal relay circuits in a receiving area. 前記信号中継回路はバッファ回路である請求項1または請求項2に記載の半導体集積回路。The semiconductor integrated circuit according to claim 1, wherein the signal relay circuit is a buffer circuit. 前記バッファ回路はリピータバッファである請求項3に記載の半導体集積回路。The semiconductor integrated circuit according to claim 3, wherein the buffer circuit is a repeater buffer. 第1の電源が供給される第1の電源受給領域と、前記第1の電源受給領域の内部に形成され第2の電源が供給される信号中継回路を有する第2の電源受給領域とを備え、前記第2の電源受給領域における前記信号中継回路の入出力信号がブロックの外部とのみ接続されている半導体集積回路ブロック。A first power receiving area to which a first power is supplied; and a second power receiving area having a signal relay circuit formed inside the first power receiving area and supplied with a second power. A semiconductor integrated circuit block in which an input / output signal of the signal relay circuit in the second power supply receiving area is connected only to the outside of the block. 前記入出力信号がブロック外周部まで入出力ピンとして引き出されている請求項5に記載の半導体集積回路ブロック。6. The semiconductor integrated circuit block according to claim 5, wherein the input / output signal is led out as an input / output pin to an outer periphery of the block. 前記入出力ピンに接続される配線は前記第1の電源受給領域内の回路の動作への影響が少なくなるように引かれている請求項6記載の半導体集積回路ブロック。7. The semiconductor integrated circuit block according to claim 6, wherein the wiring connected to the input / output pin is drawn so as to reduce the influence on the operation of the circuit in the first power supply receiving area. 前記第2の電源がブロック外周部まで電源ピンとして引き出されている請求項5から請求項7までのいずれかに記載の半導体集積回路ブロック。8. The semiconductor integrated circuit block according to claim 5, wherein the second power supply is drawn out as a power supply pin to the outer periphery of the block. 前記電源ピンに接続される配線は前記第1の電源受給領域内の回路の動作への影響が少なくなるように引かれている請求項8に記載の半導体集積回路ブロック。9. The semiconductor integrated circuit block according to claim 8, wherein the wiring connected to the power supply pin is drawn so as to reduce the influence on the operation of the circuit in the first power supply receiving area. 前記信号中継回路はバッファ回路である請求項5から請求項9までのいずれかに記載の半導体集積回路ブロック。The semiconductor integrated circuit block according to claim 5, wherein the signal relay circuit is a buffer circuit. 前記バッファ回路はリピータバッファである請求項10に記載の半導体集積回路ブロック。The semiconductor integrated circuit block according to claim 10, wherein the buffer circuit is a repeater buffer. 前記半導体集積回路ブロックはハードマクロIP(IntellectualProperty)である請求項5から請求項11までのいずれかに記載の半導体集積回路ブロック。The semiconductor integrated circuit block according to any one of claims 5 to 11, wherein the semiconductor integrated circuit block is a hard macro IP (Intellectual Property). 前記半導体集積回路ブロックはメモリブロックである請求項5から請求項12までのいずれかに記載の半導体集積回路ブロック。The semiconductor integrated circuit block according to claim 5, wherein the semiconductor integrated circuit block is a memory block.
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