JP2004530908A - プロセス測定用ポイント - Google Patents
プロセス測定用ポイント Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004530908A JP2004530908A JP2003508896A JP2003508896A JP2004530908A JP 2004530908 A JP2004530908 A JP 2004530908A JP 2003508896 A JP2003508896 A JP 2003508896A JP 2003508896 A JP2003508896 A JP 2003508896A JP 2004530908 A JP2004530908 A JP 2004530908A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- spectrometer
- measurement
- armature
- point according
- sensor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 67
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 66
- 230000008569 process Effects 0.000 title claims abstract description 64
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims abstract description 13
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims abstract description 3
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims abstract description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 16
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 11
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims description 10
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 9
- 238000004886 process control Methods 0.000 claims description 5
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 4
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 4
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 4
- 238000011065 in-situ storage Methods 0.000 claims description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 4
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 abstract 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 18
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 14
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 6
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 6
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 4
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 4
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000005102 attenuated total reflection Methods 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000010924 continuous production Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000036541 health Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0291—Housings; Spectrometer accessories; Spatial arrangement of elements, e.g. folded path arrangements
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
【選択図】図1
Description
【0001】
本発明は、分光計ならびに同分光計からの測定データ信号を受信し、処理を加え、送出する測定送信器を備えたプロセス測定用ポイントに関するものである。
【背景技術】
【0002】
分光分析は、ガスや液体の製造プロセス分野に限って言えば、当該製造に関する進行具合、同製造に関する生成物質または同製造に関する生成物質のその時点までに生成した量に関わる知識を獲得し、それに基づき、例えば、その分析時点までに完了した二物質間の変換状況を評価するために実施される。
【0003】
従来からの手法にあっては、場合に応じてプロセスあるいはプロセス流体から入手した検体試料について、一つのケースにあっては同検体試料を適当な試料容器に入れ直接分光計装置に装着し分析を実施する。その分析結果はPCに入力され検討が加えられる。別のケースにあっては、分光計に試料液体を直接装着することを不用とする目的で同検体試料を管で引出して、引出し部分の検体試料と分光計との間が光導波路で接続される。
【0004】
これら従来からの手法における問題点は、これらの操作に必要以上の長時間が消費されることである。ちなみに、ひとつは、検体試料の採取に人と時間が必要であることであり、ほかには、連続プロセスでは検体試料の採取と分光分析の結果取得との間に常に遅れが生じることである。すなわち、そのようなオフライン測定では、プロセスに直接追従することや、ひいては、分光分析によるその制御や管理は、不可能である。
【0005】
加えて、非連続の測定のみに伴う不便さと並行して、検体試料の採取が常に健康へのリスク要因であることに留意しなければならない。これは検体試料の採取作業者が採取対象とする流体と接触する可能性が存在することによる。また、当該製造プロセス物質を汚染する可能性も存在する。
【0006】
特に、光導波路を用いる測定にあっては、光を液体内に結合し、そこから同光を分光計に送り返すことになるが、そのような光導波結合は、むやみに長い距離に渡って実現することは不可能であり、また、全てのスペクトル領域で使用するということも不可能である。
【発明の開示】
【0007】
このようなことから、本発明は、分光計を備えたプロセス測定用ポイントであって、インサイチュー(in-situ)かつオンライン(on-line)で即時の連続測定を可能にするプロセス測定用ポイントを提供することを目的とする。
【0008】
本発明は、前記目的を達するため、少なくとも一つの分光計と、該分光計に接続され、該分光計からの測定信号を受取り、処理し、送出する測定送信器とを備えた、プロセス測定用ポイントであって、前記分光計は、プロセスまたはプロセス流、すなわちプロセス流体の中へ挿入するためのアーマチャ(armature)の中に設置され、前記分光計で生成されたデータはプロセスの制御に用いられるものであり、前記アーマチャは、前記分光計を受容し、かつプロセスまたはプロセス流体を収容するプロセス容器に前記アーマチャを固定するためのハウジングと、前記分光計と相互に作用するセンサーとを含み、該センサーはその軸方向に前記アーマチャ内で移動可能に案内され、かつ該センサーは、場合によっては伸長した状態で、前記プロセスまたはプロセス流体の中に突き出る位置をとる。
【0009】
本発明になる、この様な測定用ポイントの利点は、分光計を離れた位置に設置するのでなく、従来からあるノズルに使用される適当なアーマチャの中に収納して、反応容器やパイプライン上の適当な測定点に設置出来ることである。その結果、時間の浪費と危険な化学物質の取り扱いをともなう検体試料の採取作業が不要になる。
【0010】
加えて、反応容器そのものの内部での連続した測定を行えることである。これに伴って、変換プロセスを追跡できるし、分光計で得た結果に基づき当該プロセスを直接的にコントロールすることもできる。
【0011】
前記アーマチャ内に装着することにより、分光計を防爆仕様でアーマチャ内に設置することが出来るため、爆発危険区域内における使用も可能になる。
通常、分光計は距離の長い光導波路を介して接続されており、これだと全ての波長領域では使用できないという問題があったが、この様な長い光導波路の使用も不要となる。媒体までの極短い光経路を橋渡しするだけで良く、その結果、UV域、可視域、近赤外域ならびに中間赤外域における分光分析が可能になる。
【0012】
前記測定送信器には1台以上の分光計を接続することが出来る。同分光計は、更なるセンサーに接続し、それらからの多様な測定対象パラメータ、例えば、pH、導電度などの測定に利用できる。 同測定送信器は表示すること、評価することのほか、例えばプロフィバス(Profibus)、ファウンデーション(Foundation)、フィールドバス(Fieldbus)、イーサネット(Ethernet)などの、プロセスに対応したインターフェースを介してプロセス制御ポイントへスペクトルを送出することもできる。それを受けて同プロセス制御ポイントは同スペクトルのそれぞれに相当する測定パラメータを追跡する作業を実行する。
【0013】
当該測定送信器とそれに外部接続されたPCとの双方に用いる同一のオペレーション・サーフェスとして、例えば、同一のデバイス・タイプ・マネジャー(Device Type Manager:DTM)をそれら双方に採用することが可能である。
【0014】
例えば、FDTコンセプト(Field Device Tool コンセプト)に従った標準インターフェース規格を使うのが好適である。
前記測定送信器は、更に前記の測定パラメータを相互に関連付け、それら値を用いた計算を実行でき、また必要に応じてプロセス調整を実行する種々の部門と同調した作業、例えばプロセス規制やプロセス制御を遂行できる。
【0015】
一方、前記分光計は、特に、インライン(in-line)かつインサイチュー(in-situ)の、および/または連続した測定信号を配信する。
前記センサーは、前記分光計をプロセスおよび/またはプロセス流に光結合する光導波デバイス、特に複数の光導波路を含んでいても良い。光を液体に結合し液体から出てくる同光を分光計に送リ返すにあたり、光導波路を用いた従来技術に基づくケースにおける従来からある接続とはことなり、本発明になるケースにあっては短い距離間を繋ぐだけのものとなる。
【0016】
本ケースにあっては、該接続は、例えば吸収あるいはATR(Attenuated Total Reflection 減衰全反射)によって行われうるが、このような接続は液体や気体に光を結合する手法として一般的なものである。しかしこれら例としてあげたものとは異なる接続を利用することも考えられる。
【0017】
前記プロセス分光計は、例えば回折格子型分光計、ATOF結晶回折型分光計あるいはそれ以外の方式の分光計として良い。
分光計を測定送信器に接続するについて、同接続は例えばデジタルまたはアナログの電気的接続であって良く、あるいは、例えばデジタルデータを光導波路により送信するような光学的接続であっても良い。
【0018】
採用する分光計は、様々な波長領域で使用可能な、市販されている一般的な分光計であって良い。同分光計は前記アーマチャの内部で交換可能であって良く、また同アーマチャは往復運動の可能なアーマチャであって良い。
【0019】
測定が別の波長領域で行われる等の場合にあっては、前記アーマチャ内の全要素はセンサーも含めて、特に光導波路部や分光計自身は、交換可能である。これに関連していえば、前記センサーは、その長手方向に伸ばされた状態の時はプロセスあるいはプロセス流の中に、すなわち測定実施場所に位置し、引き込み収納された状態にあっては清掃実施あるいは補正実施場所に位置する。更に、この関連では前記測定送信器は同分光計の清掃あるいは補正を実施するため、往復運動の可能な前記アーマチャの制御を行うものとする。これは時刻とその時刻における実行動作の両方をプログラムコントロールのもとに置き進められるが、そのコントロールを外部から行っても良いし、測定データ信号そのものが行っても良い。この様にして、例えば汚染を検出した時に清掃を自動で実施し、あるいは測定データの値に疑義があるときには補正液を用いる補正行為を自動で実施することが可能になる。
【0020】
この目的のため、センサー固定具に保持された前記センサーは、プロセス媒体内から同センサーの軸方向に前記アーマチャの内部をガイド部品に沿って移動させられ、同アーマチャの内部に収められ、詳細には清掃作業位置または補正作業実施位置に移され、所期の処置をうける。同センサーは、その後必要に応じ下方向にすなわちプロセス媒体中に戻される。
【0021】
本発明の利点や特徴は以上述べた事項に留まるものでなく、これら以外にも存在するが、本願の以下の記述から明らかになるものである。以下には本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
【発明を実施するための最良の形態】
【0022】
添付する唯一の図面は化学または石油化学工業における製造プロセスのための本発明の測定用ポイントを示すものである。同図において、プロセス測定用ポイントは、その全体が参照符号10によって示されている。
【0023】
同プロセス測定用ポイントには、測定送信器12と2つのアーマチャ14、16が備わっている。同アーマチャ14、16の各々は、それぞれに属するハウジング18、20内に設置されたプロセス分光計(図示されていない)を備えている。
【0024】
当該分光分析器そのものは一般的な、市販されているデバイスであって、一定の波長領域での使用を前提として設計されている。ここで用いる分光計は防爆仕様のものである。
前記アーマチャ14,16は他に、それぞれのセンサーを収容するセンサー固定具22,24を持っており、これらはその軸方向(矢印26で示す方向)に移動できる。
【0025】
同図には、例えば化学反応容器内において、センサー固定具22,24が伸長し測定実行時に相当する状態で、すなわちプロセス液体中に突き出された時の状態で示されている。センサーの開口部22o、24oを清掃したり、センサーを補正したりするため、センサー固定具22、24は、前記アーマチャ14、16のハウジング部28、30の内部に引き込むことができ、そうなれば同固定具22、24はプロセス流体の中に突き出さない。この関連でいえば、前記センサー固定具22、24用の出口開口部は閉じられ同流体とアーマチャ14、16との接触はその時点で断たれる。
【0026】
前記センサー固定具22、24の内部には光導波路が置かれ、これら光導波路は吸収法により光を流体内に結合する。測定用開口部22o、24o内には当該液体の流れがあり、この開口部分でこの瞬間に測定は実行される。
【0027】
これら2つのプローブの測定信号はライン33を通して前記測定送信器12に送出される。同測定送信器12は複数パラメータ測定送信器として働くものであり、前記分光計の測定信号を受取り、処理を加え、送出する。
【0028】
前記分光計の測定信号と並行して、測定送信器12はライン29上で他のセンサーの測定信号、例えばpHや導電度などの信号を受信する。
獲得したデータは測定送信器12によって、インターネット接続30、あるいはプロフィバス接続32を経由して、前記製造プロセスの制御を司るプロセス制御システムに送られる。
【0029】
前記測定送信器12はその他、個々の測定パラメータを関連付け、それらに基づき計算を実行し、プロセス調整部品との相互行為を助ける。
更に加えて、同測定送信器12は前記分光計の清掃や補正を実行する為に、往復運動が可能なアーマチャ14,16を制御できる。
【0030】
前記測定送信器と外部接続用PCの双方が共通して利用する同一オペレーション・サーフェスとしては、例えばデバイス・タイプ・マネジャー(DTM)がある。
あるいは、上記に替えて、例えばFDT-コンセプト(フィールド・デバイス・ツール コンセプト)に基づく標準インターフェース規格を用いることが出来る。
【0031】
前記測定送信器は補正作業の実行によっても正確さを取り戻せず清掃の必要性を感知あるいは清掃が必要と判断すると、前記センサー固定具22、24を矢印32で示した方向に引き込み前記アーマチャ14、16のハウジング部28、30に取り込む。これらセンサー固定具22、24が通った開口部は閉鎖される。そして同ハウジング部28,30において同センサーの補正ないし清掃作業が実行される。補正や清掃の作業が完了すると、同センサー固定具22、24は矢印26の方向に伸長され再びプロセスと接続される。
【0032】
前記分光計と前記測定送信器12とを接続するライン28は、ここではアナログの電気信号ラインである。
前記アーマチャ14,16はそれぞれに具備されたフランジ14f、16fによってパイプラインに結合され、引いては同パイプラインに繋がっているノズルに、あるいは場合によっては反応容器内のノズルに強固にまたそのしかるべき位置から移動しない様に接合される。
【0033】
この様にして化学製品のスペクトルのインサイチューの測定を連続して行うこと、ひいては製造プロセスを監視することが可能になる。 これによって時間がかかり、当該作業員にとって危険である上、連続したプロセスの追跡を不可能なものにしてしまう試料採取作業を不要のものに出来るものである。この様にして、前記スペクトル、製造プロセスの連続した監視がより経済的に実行できる様になる。製造プロセス中に当該製造物質が所定量にまで生成され次第、製造プロセス中の早い時点においてそれを認知できるため、製造時間の短縮をもたらすこともある。
【図面の簡単な説明】
【0034】
【図1】化学または石油化学工業における製造プロセスのための本発明の測定用ポイントを示す図である。
Claims (13)
- 少なくとも一つの分光計と、該分光計に接続され、該少なくとも一つの分光計からの測定信号を受取り、処理し、送出する測定送信器(12)とを備えた、プロセス測定用ポイントであって、前記分光計はプロセス液中への挿入のためのアーマチャ(14,16)の中に設置され、前記分光計で生成されたデータはプロセスの制御に用いられるものであり、前記アーマチャ(14,16)は、前記分光計を受容し、かつプロセス流体を収容するプロセス容器に前記アーマチャを固定するためのハウジング(18,20)と、前記分光計と相互に作用するセンサー(22,24)の組み込まれたセンサー保持具とを含み、該センサーはその軸方向に前記アーマチャ(14,16)内で移動可能なように案内され、かつ前記センサー保持具(22,24)はその伸長状態にあっては前記プロセス液の中に突き出る位置をとるプロセス測定用ポイント。
- 前記分光計は、インサイチューかつインラインの、および/または連続した測定信号を供給する請求項1記載のプロセス測定用ポイント。
- 前記センサー保持具(22,24)は、前記分光計を前記プロセス流体に光結合する光導波デバイス、特には光導波路を有する請求項1または2記載のプロセス測定用ポイント。
- 前記分光計がATOF結晶回折型分光計あるいは回折格子型分光計である請求項1乃至3のいずれかに記載のプロセス測定用ポイント。
- 前記プロセスとの前記接続が吸収あるいはATRによって行われる請求項1乃至4のいずれかに記載のプロセス測定用ポイント。
- 前記分光計が電気的あるいは光学的に前記測定送信器(12)と接続されている請求項1乃至5のいずれかに記載のプロセス測定用ポイント。
- 前記センサー保持具(22,24)が、その引き戻された状態にあっては、前記ハウジング(28,30)内の前記センサーの清掃あるいは補正作業用位置に置かれる請求項1乃至6のいずれかに記載のプロセス測定用ポイント。
- 前記分光計が前記アーマチャ(14,16)内において交換可能である請求項1乃至7のいずれかに記載のプロセス測定用ポイント。
- 前記清掃および/あるいは補正作業の実施間隔が前記測定送信器(12)によって制御可能である請求項1乃至8のいずれかに記載のプロセス測定用ポイント。
- 前記測定送信器(12)がプロセス制御ポイントと接続されている請求項1乃至9のいずれかに記載のプロセス測定用ポイント。
- 前記測定送信器(12)にセンサーを追加的に接続できる請求項1乃至10のいずれかに記載のプロセス測定用ポイント。
- 前記測定送信器(12)と外部接続されたPCの双方が同一のデバイス・タイプ・マネジャーを使用することで当該双方が同一のオぺレーションサーフェスを使用する状況を実現する前述の請求項のいずれかに記載のプロセス測定用ポイント。
- 前記測定送信器(12)が外部のPCとフィールド・デバイス・ツール コンセプトに依拠したインターフェースを経由して接続されている前述の請求項のいずれかに記載のプロセス測定用ポイント。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10130862A DE10130862A1 (de) | 2001-06-28 | 2001-06-28 | Prozeßmessstelle |
PCT/EP2002/007008 WO2003002958A1 (de) | 2001-06-28 | 2002-06-25 | Prozessmessstelle |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004530908A true JP2004530908A (ja) | 2004-10-07 |
JP3936935B2 JP3936935B2 (ja) | 2007-06-27 |
Family
ID=7689551
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003508896A Expired - Lifetime JP3936935B2 (ja) | 2001-06-28 | 2002-06-25 | プロセス測定用ポイント |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7259848B2 (ja) |
EP (1) | EP1399718A1 (ja) |
JP (1) | JP3936935B2 (ja) |
DE (1) | DE10130862A1 (ja) |
WO (1) | WO2003002958A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009075073A (ja) * | 2007-08-31 | 2009-04-09 | Canon Inc | 電磁波の分析装置 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10313389A1 (de) | 2003-03-25 | 2004-10-07 | Endress + Hauser Process Solutions Ag | Verfahren zur Übertragung von Softwarecode von einer Steuereinheit zu einem Feldgerät der Prozessautomatisierungstechnik |
DK3608667T3 (da) * | 2018-11-15 | 2022-05-02 | Holcim Technology Ltd | Fremgangsmåde og indretning til at analysere prøver af en gas i en cementdrejeovn |
DE102019135598A1 (de) | 2019-12-20 | 2021-06-24 | Endress+Hauser Conducta Gmbh+Co. Kg | Intelligente Sicherheitsarmatur und Steuerverfahren einer intelligenten Sicherheitsarmatur |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4177676A (en) * | 1978-05-25 | 1979-12-11 | Welker Robert H | Sensor positioning apparatus |
GB8323409D0 (en) * | 1983-09-01 | 1983-10-05 | Ontario Ltd 471199 | Control of boiler operations |
US4786171A (en) * | 1986-07-29 | 1988-11-22 | Guided Wave, Inc. | Spectral analysis apparatus and method |
DE3839561C2 (de) * | 1988-11-24 | 1996-10-24 | Lange Gmbh Dr Bruno | Vorrichtung zum Bestimmen der Komponenten in flüssigen Medien |
US5051551A (en) * | 1989-05-18 | 1991-09-24 | Axiom Analytical, Inc. | Immersion probe for infrared internal reflectance spectroscopy |
GB9005021D0 (en) * | 1990-03-06 | 1990-05-02 | Alfa Laval Sharples Ltd | Turbidity measurement |
US5095275A (en) * | 1990-07-19 | 1992-03-10 | Auburn International, Inc. | Long term particle monitoring |
DE4414975C2 (de) * | 1994-04-29 | 2000-06-15 | Bayer Ag | Vorrichtung zur spektroskopischen Analyse von Prozeßgemischen |
SE9403543D0 (sv) | 1994-10-18 | 1994-10-18 | Arums Ltd | Method and probe for on-line optical analysis |
US5657404A (en) * | 1995-05-25 | 1997-08-12 | Eastman Chemical Company | Robust spectroscopic optical probe |
US5995916A (en) * | 1996-04-12 | 1999-11-30 | Fisher-Rosemount Systems, Inc. | Process control system for monitoring and displaying diagnostic information of multiple distributed devices |
DE19628348C1 (de) * | 1996-07-13 | 1997-09-25 | Parsum Ges Fuer Partikel Stroe | Meßsonde zur in-line-Bestimmung der Größe von bewegten Partikeln in transparenten Medien |
US5712710A (en) * | 1996-10-15 | 1998-01-27 | Cetin Karakus | Spectrophotometric probe for insitu measurement |
DE19730826A1 (de) * | 1996-11-15 | 1999-01-21 | Optosens Optische Spektroskopi | Kombinierte Absorptions- und Reflektanzspektroskopie zur synchronen Ermittlung der Absorption, Fluoreszenz, Streuung und Brechung transmittierender Flüssigkeiten, Gase und Festkörper |
US6043895A (en) * | 1998-11-10 | 2000-03-28 | Uop Llc | Radiation probe with flexible sleeve |
DE29821754U1 (de) * | 1998-12-07 | 1999-02-18 | Exner Gesellschaft für Analysenmesstechnik mbH + Co. KG, 41468 Neuss | Meßvorrichtung zur spektralphotometrischen Messung von Flüssigkeiten im UV/VIS- oder VIS/NIR-Bereich |
JP2000206045A (ja) | 1999-01-18 | 2000-07-28 | Horiba Ltd | インラインモニタ |
US6128079A (en) * | 1999-03-25 | 2000-10-03 | Electric Power Research Institute, Inc. | Fiber optic probe and system for measurement of moisture in steam turbines |
GB9908170D0 (en) | 1999-04-09 | 1999-06-02 | Central Research Lab Ltd | System and method for analysing a material |
AT408488B (de) * | 1999-12-22 | 2001-12-27 | Scan Messtechnik Gmbh | Miniaturisiertes spektrometer |
-
2001
- 2001-06-28 DE DE10130862A patent/DE10130862A1/de not_active Ceased
-
2002
- 2002-06-25 JP JP2003508896A patent/JP3936935B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2002-06-25 US US10/481,402 patent/US7259848B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-06-25 WO PCT/EP2002/007008 patent/WO2003002958A1/de active Application Filing
- 2002-06-25 EP EP02754749A patent/EP1399718A1/de not_active Ceased
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009075073A (ja) * | 2007-08-31 | 2009-04-09 | Canon Inc | 電磁波の分析装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1399718A1 (de) | 2004-03-24 |
JP3936935B2 (ja) | 2007-06-27 |
WO2003002958A1 (de) | 2003-01-09 |
US20050046838A1 (en) | 2005-03-03 |
DE10130862A1 (de) | 2003-01-23 |
US7259848B2 (en) | 2007-08-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4229529B2 (ja) | 反射率および透過率による分光分析装置および方法並びに分光計用のプローブ | |
US5730938A (en) | Chemistry analyzer | |
US5708273A (en) | Transflectance probe having adjustable window gap adapted to measure viscous substances for spectrometric analysis and method of use | |
US20080190557A1 (en) | Apparatus for real-time dynamic chemical analysis | |
TWI266769B (en) | On-line control of a chemical process plant | |
JP4262098B2 (ja) | 有機金属化合物の制御希釈のための方法と装置 | |
US6244118B1 (en) | Sampling apparatus | |
Gurden et al. | Monitoring of batch processes using spectroscopy | |
EP0531067A1 (en) | Monitoring film fouling in a process stream | |
CN109781171A (zh) | 用于分析测量介质的测量设备 | |
WO2005111581A1 (en) | Probe holder | |
JP2004530908A (ja) | プロセス測定用ポイント | |
TW201616120A (zh) | 用於監測及控制一清洗程序之方法及裝置 | |
KR101187973B1 (ko) | 중합체의 제조 방법 | |
US20220170850A1 (en) | Methods and systems for monitoring fluids | |
CN218524715U (zh) | 一种总磷水质全自动在线分析仪 | |
DeJesus et al. | FT-NIR spectroscopy for process control: recent case studies | |
CN209014529U (zh) | 微反评价装置 | |
Crandall | How to specify, design and maintain online process analyzers | |
CN117377384A (zh) | 挤奶装置的监控 | |
Kemeny | Process analysis | |
MANOHARAN et al. | 8.51 Raman Analyzers | |
CH711093A2 (de) | Optische Detektion von verschiedenen Stoffen und deren Konzentrationen in einem flüssigen oder gasförmigen Medium. |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060509 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060712 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20061017 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20061222 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070313 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070326 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 3936935 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110330 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130330 Year of fee payment: 6 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140330 Year of fee payment: 7 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |