JP2004516124A - Ｘ線検査装置 - Google Patents

Abstract

本発明は、Ｘ線源と、Ｘ線検出器と、Ｘ線源とＸ線検出器の間に配置され、制御電圧により調節可能なＸ線吸収率を有するフィルタ素子のアレイを含むフィルタと、フィルタ素子に制御電圧を印加する制御回路と、フィルタとＸ線検出器の間に配置され、Ｘ線源から発生するＸ線放射線に照射される対象を支持するよう適応される対象支持体とを含み、透過されるＸ線放射線はＸ線検出器によって検出され、制御回路は、隣接するフィルタ素子のグループに単一シーケンス方式で制御電圧を印加するよう適応されるＸ線検査装置を提供する。

Description

【０００１】
本発明は、Ｘ線検査装置に関わり、このＸ線検査装置は、
●Ｘ線源と、
●Ｘ線検出器と、
●Ｘ線源とＸ線検出器の間に配置され、制御電圧により調節可能なＸ線吸収率を有するフィルタ素子のアレイを含むフィルタと、
●フィルタ素子に制御電圧を印加する制御回路と、
●フィルタとＸ線検出器の間に配置され、Ｘ線源から発生するＸ線放射線に照射される対象を支持するよう適応される対象支持体とを含み、透過したＸ線放射線はＸ線検出器によって検出される。
【０００２】
そのような装置は、例えば、ＵＳ−Ａ−５６２５６６５から公知である。
【０００３】
この従来技術の参考文献は、ピクセル的に調節可能なＸ線フィルタであるダイナミックビーム減衰器に関連し、この減衰器により、検査されるべき患者の部分は効果的にカバーされるので、これらの部分が、Ｘ線放射線に不必要に照射されることがなくなる。これは関心領域、即ち、ＲＯＩを画成する。従って、患者に照射される放射線量は少なくされ、散乱放射線の影響も少なくされる。この従来技術の原理はいわゆるスリットスキャンにも適用される。小さなスリットがダイナミックビーム減衰器によって形成され、且つ、小さなスリットは患者の全面を効率よく動かされ、それにより、患者の全体のＸ線画像が形成される。異なる分光組成からなるスリット放射線以外が透過される。所望される場合は、より多くのスリットを同時に使用して有効走査時間を短くすることができるが、これは、当然ながら、散乱放射線の減少が犠牲にされる。
【０００４】
スリットスキャンによる散乱放射線の減少により、最終的に得られる画像のコントラストが改善される。
【０００５】
当然ながら、スリットスキャンの場合、Ｘ線源にかかる有効電力負荷は高くなる。更なる不利点は、最終画像において個々のスリットが目に付いてしまうという事実にある。
【０００６】
本発明は、約１秒間の時間フレーム内において、対象、例えば、患者のＸ線画像を形成することを可能にする装置を提供することを目的とする。
【０００７】
本発明は更に、散乱放射線の影響が減少されるように上述したような種類の装置を設計することを目的とする。
【０００８】
一般的に、Ｘ線検査装置は、隣接するフィルタ素子からなるグループに、単一シーケンス方法で制御電圧を印加するよう適応される制御回路を含む。
【０００９】
尚、本発明は、各フィルタ素子がそれぞれ、Ｘ線吸収液を有するレザーバに連通する毛管を含み、電気制御がその毛管の毛管特性を制御することにより行われる、上述した従来技術の参考文献ＵＳ−Ａ−５６２５６６５による技術に制限されるものではない。
【００１０】
本発明の装置は、隣接するフィルタ素子からなるグループが、フィルタ全体に亘って均等且つ規則的に分布されるよう有利に設計されることが可能である。
【００１１】
本願に上述した本発明の基本原理は、幾つかの技術的な方法により実行可能である。
【００１２】
実用的な機械的実施例では、各フィルタ素子は、夫々の制御電圧により制御されるアクチュエータに接続されるＸ線吸収素子を含み、それにより、フィルタ素子の有効Ｘ線吸収率を制御する。
【００１３】
この実施例は、Ｘ線吸収素子が、例えば、鉛といった重元素を含むよう設計されることが可能である。
【００１４】
機械的アクチュエータは、関連付けられるフィルタ素子が特定の線形又は曲線経路に従うよう適応され得る。
【００１５】
代替の実施例では、フィルタ素子は、夫々の制御電圧により制御される液晶素子を含み、それにより、フィルタの有効Ｘ線吸収率を制御する。
【００１６】
十分なＸ線強度減衰を保証するよう液晶素子は十分な厚さを有するべきか、又は、フィルタ素子は複数の液晶素子から構成され得る。
【００１７】
好適な実施例は、各フィルタ素子はＸ線吸収液のレザーバに接続される毛管を含み、毛管の内面は、毛管内に存在するＸ線吸収液の量を調節するための夫々の制御電圧を受信するよう制御回路に接続される導電層によって少なくとも部分的に被覆され、それにより、フィルタ素子の有効Ｘ線吸収率を制御するとして具現化される。フィルタ構造自体は、ＵＳ−Ａ−５６２５６６５から公知である。本発明の新規の特徴は、スポットスキャンが起きるような特定のモノサイクリック（ｍｏｎｏ−ｃｙｃｌｉｃ）制御にある。
【００１８】
非常に高い信号対雑音比が達成されるよう本発明に従って装置を設計する事に関し、好適な実施例は更に、Ｘ線検出器からの検出器信号を受信する信号処理組立体を含み、検出器信号は、隣接するフィルタ素子のグループへの制御電圧の供給に応じてグループ的（ｇｒｏｕｐ−ｗｉｓｅ）に配置され、検出器信号のグループは、メモリ手段に供給され、信号処理組立体は、メモリ手段に格納される検出器信号の夫々のグループをピクセル的（ｐｉｘｅｌ−ｗｉｓｅ）に比較し、他の全てのグループの対応するピクセルの信号値より大きい各ピクセル値のみを使用することにより画像を再構成するよう適応される。
【００１９】
本発明の上述及び他の面は、以下に説明する実施例を参照しながら明らかにし説明する。
【００２０】
図１及び図２は、例えば、検査されるべき患者といった対象にＸ線を照射することにより、Ｘ線検出器によって形成されるＸ線画像のダイナミックレンジを制限するハニカム状のフィルタ構造をそれぞれ示す端面図である。
【００２１】
六角形のセルは毛管から形成され、毛管の１つの端は、Ｘ線吸収液を含むレザーバに連通する。Ｘ線吸収液の毛管内面への接着は、毛管内面に設けられる夫々の導電層に印加される電圧によって調節される。
【００２２】
本発明では、隣接する毛管からなるグループは、関心領域、即ち、ＲＯＩにおいて、検査されるべき対象がフィルタ素子の連続的なグループを通り透過されるＸ線放射線に照射されるようモノサイクリック式にエネルギーが与えられ、フィルタ素子の連続的なグループは、照射時にはＸ線吸収液が関心の毛管から一時的に取り除かれてエネルギーが与えられる。
【００２３】
図１は夫々の番号１、２、３、及び、４によって、夫々の毛管にエネルギーを与える１回のサイクルを示す。この場合、サイクルは４つの段階、即ち、１、２、３、及び、４で示されるグループに連続的にエネルギーを与える段階を含む。
【００２４】
図２は代替案を示し、ここでは、サイクルの連続する段階は、図１に使用した数字ではなく７つの異なるハッチングにより示され、これは、１つの完全な照射サイクルには７つの段階を含むことを明らかに示す。
【００２５】
細いスリットを動かすことによる連続的なスリットスキャンである従来技術に類似して、本発明の別個スポットスキャン装置を使用して、１つ以上のファン状のＸ線ビームを生成することができる。この方法で達成される散乱減少という利点は、本発明の原理に基づいて動くスポットパターンを生成することにより高められる。散乱成分は更に減少され、一方、複数のフィルタ素子からなる照射スポットの表面全体は、従来技術のスリットスキャン装置のスリットパターンの表面全体と同様に大きくすることができる。スポット透過時間は、吸収された信号のダイナミックレンジが縮小されるよう個々に適応されることが可能であり、それにより、Ｘ線検出器のダイナミックレンジのよりよい配置（ｄｅｐｌｏｙｍｅｎｔ）と対象に照射されるＸ線量のかなりの減少が結果として得られる。特に、医療応用の場合において、このことは、患者に照射されるＸ線量を制限することが望ましいので重要である。
【００２６】
ダイナミックビーム減衰器のシーケンスにおける１つの段階の調節には、約２００ｍｓかかる。照射時間は、約１０−１００ｍｓかかる。図１の実施例に従って、段階の数が４である場合、照射時間全体は、最大で、（３×２００）＋４×１００）＝１０００ｍｓ、即ち、１ｓである。この結果は、照射時間が１００ｍｓであるという最悪の場合においても、約１秒間内に画像を形成するという本発明の目的は達成される。
【図面の簡単な説明】
【図１】
ＵＳ−Ａ５６２５６６５に従って電気制御可能な毛細管として具現化される六角フィルタ素子の規則的アレイを含むハニカムフィルタ構造を示す図である。
【図２】
ＵＳ−Ａ５６２５６６５に従って電気制御可能な毛細管として具現化される六角フィルタ素子の規則的アレイを含むハニカムフィルタ構造を示す図である。

Claims (7)

1. Ｘ線源と、
   Ｘ線検出器と、
   上記Ｘ線源と上記Ｘ線検出器との間に配置され、制御電圧により調節可能なＸ線吸収率を有するフィルタ素子のアレイを含むフィルタと、
   上記フィルタ素子に上記制御電圧を印加する制御回路と、
   上記フィルタと上記Ｘ線検出器との間に配置され、上記Ｘ線源から発生するＸ線放射線に照射される対象を支持するよう適応される対象支持体とを含み、
   上記透過されるＸ線放射線は上記Ｘ線検出器によって検出され、
   上記制御回路は、隣接するフィルタ素子のグループに単一シーケンス方式で上記制御電圧を印加するよう適応されるＸ線検査装置。
2. 上記グループは、上記フィルタ全体に亘って、均等且つ規則正しく分布される請求項１記載の装置。
3. 各フィルタ素子は、夫々の制御電圧により制御されるアクチュエータに接続されるＸ線吸収素子を含み、それにより、上記フィルタ素子の上記有効Ｘ線吸収率を制御する請求項１記載の装置。
4. 上記Ｘ線吸収素子は、例えば、鉛といった重元素を含む請求項３記載の装置。
5. 上記フィルタ素子は、夫々の制御電圧により制御される液晶素子を含み、それにより、上記フィルタの上記有効Ｘ線吸収率を制御する請求項１記載の装置。
6. 各フィルタ素子は、Ｘ線吸収液のレザーバに接続される毛管を含み、
   上記毛管の上記内面は、上記毛管内に存在する上記Ｘ線吸収液の量を調節するための夫々の制御電圧を受信するよう上記制御回路に接続される導電層によって少なくとも部分的に被覆され、それにより、上記フィルタ素子の上記有効Ｘ線吸収率を制御する請求項１記載の装置。
7. 上記Ｘ線検出器からの検出器信号を受信する信号処理組立体を更に含み、
   上記検出器信号は、上記隣接するフィルタ素子のグループへの上記制御電圧の供給に応じてグループ的に配置され、
   上記検出器信号のグループは、メモリ手段に供給され、
   上記信号処理組立体は、上記メモリ手段に格納される検出器信号の夫々のグループをピクセル的に比較し、他の全てのグループの対応するピクセルの信号値より大きい各ピクセル値のみを使用することにより画像を再構成するよう適応される請求項１記載の装置。