JP2004363143A - Die bonding method of electronic component and optical pickup device - Google Patents

Die bonding method of electronic component and optical pickup device Download PDF

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laser light
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a die bonder capable of mounting two electronic components while keeping the relative position thereof through a simple arrangement. <P>SOLUTION: An optical pickup device comprises an optical system consisting of an objective lens, a mirror and a lens for condensing laser light at an object, and a base 3 for mounting a semiconductor laser chip 1 irradiating laser light, and a photodetector chip 2 for receiving the laser light. Surfaces 10a and 10b for mounting the semiconductor laser chip 1 and the photodetector chip 2, respectively, are provided on the base 3 of the optical pickup device, and protrusions 11 and 12 are provided in the vicinity of respective chip mounting surfaces 10a and 10b by previously setting the relative position of the semiconductor laser chip 1 and the photodetector chip 2. These semiconductor laser chip 1 and the photodetector chip 2 are abutted against the protrusions 11 and 12, respectively. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば電子部品のダイボンディング方法及び光学ピックアップ装置に関する。詳しくは、画像処理等を用いた高度な調整をすることなく、二つの電子部品の位置関係を高精度に保って簡単な方法で実装可能とする実装技術に関する。
【0002】
【従来の技術】
例えば、光学ピックアップ装置を製造するに際しては、半導体レーザチップとフォトディテクタチップの相対位置関係が非常に重要であり、これらの相対位置を高精度に位置決めしてベースにダイボンディングする高度な実装技術が要求される。
【0003】
図5は従来のダイボンディング方法の一例を示すフローチャートであり、図6はそのダイボンディング方法で使用されるダイボンディング装置の一例を示す装置構成図である。
【0004】
ダイボンディング装置は、図6に示すように、ベースに実装する前に半導体チップの位置調整を行うアライメント側の第1実装機101と、位置調整された半導体チップをベースに実装するマウント側の第2実装機102と、アライメント側とマウント側との間を移動し且つ上下方向に移動自在なバキュームヘッド103とから構成される。
【0005】
第1実装機101は、X方向及びY方向に移動自在で且つ面内方向(水平方向)に回転自在なXYθステージ104と、このXYθステージ104上に配置されたチップセット部105と、このチップセット部105上に載置された半導体レーザチップ又はフォトディテクタチップである半導体チップ106の載置状態を撮影する第1CCDカメラ107とから構成される。
【0006】
第2実装機102もほぼ同様の構成であり、X方向及びY方向に移動自在で且つ面内方向に回転自在なXYθステージ108と、このXYθステージ108上に配置されたベース109と、このベース109のチップ実装面に塗布された銀ペースト110上に置かれた半導体チップ106の載置状態を撮影する第2CCDカメラ111とから構成される。
【0007】
バキュームヘッド103は、アライメント側の第1実装機101とマウント側の第2実装機102との間を移動し且つ上下方向に昇降動自在とされている。かかるバキュームヘッド103は、真空吸着によって半導体チップ106をその先端面に吸引保持し、該半導体チップ106をチップセット部105の載置面に置くと共に、位置決めされた半導体チップ106を再び吸着させてマウント側に移送(移載)させ、該半導体チップ106をベース109のチップ実装面に載置させる。そして、このバキュームヘッド103は、半導体チップ106の位置合わせが終了したら、ベース109毎吸引してキュア工程に移送させるように動作する。
【0008】
前記したダイボンディング装置を用いて半導体レーザチップとフォトディテクタチップを同一のベース109上に所定の相対位置として実装するには、図5のフローチャートに示すように、先ずステップS1の工程で、第2実装機102のXYθステージ108上にベース109をセットする。次に、ステップS2の工程で、ベース109をXYθステージ108によって所定状態となるように位置出しを行う。
【0009】
次に、ステップS3の工程で、半導体チップ106を実装させるベース109のチップ実装面上に銀ペースト110を塗布する。続いて、ステップS4の工程で、第1実装機101のチップセット部105上に例えば半導体レーザチップ(図5ではチップ1と表記してある)である半導体チップ106を載せる。そして、次のステップS5の工程では、第1CCDカメラ107によって半導体チップ106の前記チップセット部105に対する実装位置を撮影し、その実装位置をモニターで確認しながら当該半導体チップ106が所定の状態となるようにXYθステージ104を使用して位置出しを行う。
【0010】
次に、ステップS6の工程では、位置出しが終了した半導体チップ106をバキュームヘッド103で吸引保持させる。そして、次のステップS7の工程では、バキュームヘッド103に吸引保持した半導体チップ106をマウント側まで移送させた後、第2CCDカメラ111により半導体チップ106のチップ実装面に対する実装位置を撮影してその実装位置をモニターで確認しながら当該半導体チップ106が所定の状態となるようにXYθステージ108を使用して位置出を行う。
【0011】
次に、ステップS8の工程では、バキュームヘッド103によってXYθステージ108からベース109毎吸引させて、このベース109をキュア工程へと移送させる。そして、ステップS9の工程で、取り出したベース109の銀ペースト110を熱処理して半導体チップ106をベース109のチップ実装面に固定させる。
【0012】
次に、ステップS10の工程において、半導体レーザチップを実装させたベー109を再び第2実装機102のXYθステージ108上にセットする。そして、次のステップS11の工程では、前記ベース109に実装させた半導体チップ106を基準として、当該ベース109をXYθステージ108により所定状態となるように位置出しを行う。
【0013】
次に、ステップS12の工程で、半導体チップ106を実装させるベース109のチップ実装面上に銀ペースト110を塗布する。続いて、ステップS13の工程で、チップセット部105上にフォトディテクタチップ(図5ではチップ2と表記してある)である半導体チップ106を載せる。そして、次のステップS14の工程では、第1CCDカメラ107によって半導体チップ106の前記チップセット部105に対する実装位置を撮影し、その実装位置をモニターで確認しながら当該半導体チップ106が所定の状態となるようにXYθステージ104を使用して位置出しを行う。
【0014】
次に、ステップS15の工程では、位置出しが終了した半導体チップ106をバキュームヘッド103で吸引保持させる。そして、次のステップS16の工程では、バキュームヘッド103に吸引保持した半導体チップ106をマウント側まで移送させた後、第2CCDカメラ111により半導体チップ106のチップ実装面に対する実装位置を撮影してその実装位置をモニターで確認しながら先に実装した半導体チップ106に対して所定の相対的位置となるように前記半導体チップ106をXYθステージ108によって位置出しする。
【0015】
次に、ステップS17の工程では、バキュームヘッド103によってXYθステージ108からベース109毎吸引させて、このベース109をキュア工程へ移送させる。そして、ステップS18の工程で、取り出したベース109上の銀ペースト110を熱処理して半導体チップ106をベース109のチップ実装面に固定させる。これで、半導体レーザチップとフォトディテクタチップの二つの半導体チップ106のベース109に対するダイボンディングが終了する。
【0016】
この他、光学ピックアップ装置を構成する半導体チップ部品を実装する技術ではないが、レーザダイオードを銅マウント材(ヒートシンク)に実装するに際して、2台のCCDカメラによりレーザダイオードと銅マウント材のエッジをそれぞれ撮影しながら、これらレーザダイオードと銅マウント材の相対的な位置ずれを検出し、これらを載置する回転テーブルを回転させることによって、その検出した位置ずれを補正する実装技術も知られている(例えば、特許文献1など参照)。
【0017】
しかしながら、半導体チップ106をチップ実装面に実装するに際してCCDカメラを使用して画像表示させながら行う手法では、高価な画像処理システムや高精度位置決め機構や高精度移送機構を必要とする複雑で高価なダイボンディング装置となってしまう。また、そのダイボンディング装置の運営、維持、管理も面倒である。
【0018】
特に、図5のフローチャートで示す各工程にて半導体チップ106を実装する場合は、半導体レーザチップとフォトディテクタチップのダイボンディング工程が分かれているため、それぞれのダイボンディング工程の後に銀ペースト110などの接着剤を恒温槽にて硬化させる必要があり、リードタイムが長くなり、また、それぞれの工程が増えるので作業時間が長くなるという課題がある。
【0019】
そこで、さらに従来の実装技術として、例えばウエハチップをリードフレームに実装するに際して、ウエハチップをリードフレームに実装する前工程で、ウエハチップが移送されるステージ上に、四角形状の開口部を形成した位置ずれ補正爪を前後左右に移動自在に設け、前記ステージに形成した吸引孔よりバキュームしてウエハチップをこのステージに保持させた後、位置ずれ補正爪を動かして前記ウエハチップの角部に前記開口部の角部を突き合わせ、ステージ上に載置されたウエハチップのセンターと目標位置のウエハチップのセンターが一致するまで前記位置ずれ補正爪を動かして位置合わせを行う技術が知られている。
【0020】
この方法によれば、高価な画像処理システムや高精度位置決め機構や高精度移送機構も不要であり、比較的簡単な装置構成でウエハチップの位置決めを行うことが可能となる。
【0021】
【特許文献1】
特開2001−24007号公報(第4頁及び第5頁、図1及び図3)
【特許文献2】
特開平11−330796号公報(第3頁及び第4頁、図1、図3及び図6)
【0022】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、前記した位置ずれ補正爪を利用した実装技術では、位置決めしたウエハチップを次工程に運んで、リードフレーム上に再び実装させる必要があることから移送時にウエハチップの位置が多少ずれる虞れがある。また、この実装技術では、ウエハチップを直接リードフレーム上に実装するものではないので、実装工程が多くなり、リードタイムも長くなってしまう。
【0023】
そこで、本発明は、このような課題に鑑みてなされたものであり、高価な画像処理システムを使用することなく簡単な装置構成で二つの電子部品の相対位置を高精度に保持した状態で実装可能とし、さらには、電子部品実装後のキュア工程を1回で行うことができ、リードタイムの短縮を図ることのできる電子部品のダイボンディング方法及び、その方法により製造される光学ピックアップ装置を提供することを目的とする。
【0024】
【課題を解決するための手段】
本発明の電子部品のダイボンディング方法は、少なくとも二つの電子部品をそれぞれの位置に実装させる実装面と、各実装面の近傍部に予め二つの電子部品の相対位置を出した突き当て突起部とを有した被取付部に対し、前記各実装面に前記電子部品を固定させるボンディング用ペーストを塗布する工程と、前記実装面に載置された各電子部品をそれぞれの突き当て突起部に突き当てて、これら二つの電子部品の相対位置の位置出しを行う工程とを有する。
【0025】
本発明の電子部品のダイボンディング方法によれば、被取付部に形成された電子部品を実装させる各実装面の近傍部に、予め二つの電子部品の相対位置を出した突き当て突起部をそれぞれ設け、その突き当て突起部に電子部品を突き当てて位置出しを行うので、単に、この突き当て突起部に電子部品を突き当てるだけで、自ずと二つの電子部品の相対位置が決まる。
【0026】
また、本発明の光学ピックアップ装置は、レーザ発光素子と受光素子を実装させるベースに、レーザ発光素子及び受光素子をそれぞれ実装させる実装面と、各実装面の近傍部に予め前記レーザ発光素子及び受光素子の相対位置を出した突き当て突起部とを設け、これらレーザ発光素子と受光素子をそれぞれの突き当て突起部に突き当ててなることを特徴としている。
【0027】
本発明の光学ピックアップ装置によれば、ベース自体に予めレーザ発光素子及び受光素子の相対位置を出した突き当て突起部を設け、これらレーザ発光素子及び受光素子をそれぞれの突き当て突起部に突き当てて実装させているので、直接ベースにこれらレーザ発光素子と受光素子とが所定の相対位置で実装されることになる。このため、予めこれらレーザ発光素子及び受光素子の相対位置を位置決めした後に、この二つのレーザ発光素子と受光素子をベースに実装するような面倒な工程を減らせる。
【0028】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を適用した具体的な実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。本実施の形態は、光学ピックアップ装置を構成する、二つの電子部品である半導体レーザチップとフォトディテクタチップの相対位置を高精度なものとしてベースに簡単な方法及び構造で実装可能とするダイボンディング方法と、その方法を用いて製造した光学ピックアップ装置に、本発明を適用したものである。
【0029】
「光学ピックアップ装置の構成」
先ず、光学ピックアップ装置の構成を図面を参照して説明する。図1は光学ピックアップ装置の概略的な平面図であり、図2は光学ピックアップ装置の概略的な側面図である。
【0030】
光学ピックアップ装置は、図2に示すように、レーザ光Hvを照射するレーザ発光素子である半導体レーザチップ1及びレーザ光Hvを受光する受光素子であるフォトディテクタチップ2を実装させるチップ実装基台であるベース3と、半導体レーザチップ1から照射されたレーザ光Hvを被対象部である光ディスク4に照射し、その光ディスク4からの反射光をフォトディテクタチップ2に入光させる光学系5とを備えている。
【0031】
光学系5は、図2に示すように、半導体レーザチップ1から照射されたレーザ光Hvを被対象物である光ディスク4に集光させる対物レンズ6と、レーザ光Hvを折り曲げるミラー7と、光ディスク4からの反射光をフォトディテクタチップ2へ折り曲げる光学素子(レンズ)8から構成される。
【0032】
この光学系5では、半導体レーザチップ1から照射されたレーザ光Hvは、光学素子8を透してミラー7にて対物レンズ6へとその向きを変えた後、光ディスク4の信号記録層に照射される。そして、この信号記録層からのレーザ光Hvの反射光は、再び対物レンズ6を介してミラー7でその向きが変えられ、光学素子8にてフォトディテクタチップ2に入光される。
【0033】
ベース3には、図1に示すように、半導体レーザチップ1と、フォトディテクタチップ2と、これらを直接このベース3上に実装させるためのリードフレーム9とが設けられている。半導体レーザチップ1とフォトディテクタチップ2は、それらの相対位置が非常に重要で信号読み取り出力に大きく影響することから、高精度にベース3に対して実装されている必要がある。
【0034】
半導体レーザチップ1とフォトディテクタチップ2は、図1及び図2に示すように、ベース3の各チップ実装面10a,10bにボンディング用ペーストである銀ペーストを塗布しキュアすることによって固定されている。そして、この各チップ実装面10a,10bの近傍部には、半導体レーザチップ1及びフォトディテクタチップ2を突き当ててこれらを所定の相対位置として位置決め配置させる突き当て突起部11、12が形成されている。
【0035】
これら突き当て突起部11、12は、半導体レーザチップ1からミラー7に向けて照射されるレーザ光Hvの進行方向と同じX方向と、このX方向に直交するY方向にそれぞれ延びる突き当て部11A,11B、12A,12Bを有した平面略逆L字形状のブロックとして形成されている。そして、この各突き当て部11A,11B、12A,12Bには、半導体レーザチップ1とフォトディテクタチップ2の一つの角部1a、2aを挟む2つの側面とそれぞれ面接触する突き当て面11a,11b、12a,12bが形成されている。
【0036】
また、この突き当て突起部11、12には、X方向に延びる突き当て部11A、12Aと、Y方向に延びる突き当て部11B、12Bとの交点である内側の角部には、半導体レーザチップ1とフォトディテクタチップ2の角部に非接触となって確実に半導体レーザチップ1及びフォトディテクタチップ2をそれぞれの突き当て部11A,11B、12A,12Bに接触させるための逃げ部13、14が形成されている。
【0037】
また、これら突き当て突起部11、12は、半導体レーザチップ1とフォトディテクタチップ2をそれぞれの突き当て部11A,11B、12A,12Bに突き当てたときに、これら半導体レーザチップ1とフォトディテクタチップ2のセンターがX方向、Y方向及びθ方向(面内方向において水平回動する方向)の各位置と高さ位置とが、予め設定された位置関係となるように、前記ベース3上に配置されている。
【0038】
なお、半導体レーザチップ1が突き当てられる突き当て突起部11と、フォトディテクタチップ2が突き当てられる突き当て突起部12とは、X方向及びY方向において±20μmという非常に高い寸法精度で配置されている。
【0039】
したがって、これら突き当て突起部11、12に半導体レーザチップ1とフォトディテクタチップ2とがそれぞれ突き当てられた状態で各チップ実装面10a,10bに半導体レーザチップ1及びフォトディテクタチップ2が固定されているので、半導体レーザチップ1及びフォトディテクタチップ2の相対位置が高精度な位置関係にあり、精度の高い出力信号をフォトディテクタチップ2にて得ることが可能となる。また、これら半導体レーザチップ1及びフォトディテクタチップ2は、それぞれ突き当て突起部11、12に突き当てられた状態で直接ベース3に固定されていることから、位置ずれも生じ難く機械的強度も高いものとなる。
【0040】
「ダイボンディング方法」
次に、本実施の形態のダイボンディング方法を図面を参照して説明する。図3は半導体レーザチップ1及びフォトディテクタチップ2をベース3に実装する工程を示すフローチャートであり、図4は半導体レーザチップ1及びフォトディテクタチップ2をベース3に設けた突き当て突起部11、12に突き当てる工程を示す図である。
【0041】
図3のフローチャートに示すように、先ず、ステップ51の工程で、ベース3をベース取付部15の上にセットする。次に、ステップ52の工程では、ベース3上の各チップ実装面10a,10bに、半導体レーザチップ1及びフォトディテクタチップ2を固定させるための銀ペースト16をそれぞれ適用塗布する。
【0042】
次に、ステップS53の工程では、図4(b)に示すように、ピンセット17にて半導体レーザチップ1(図3ではチップ1と表記してある)をチップ実装面10aに実装した後、このピンセット17を使用してチップ実装面10a近傍に突出するX方向及びY方向にそれぞれ延在する突き当て部11A,11Bに、半導体レーザチップ1の1つの角部を挟む2つの側面をそれぞれ面接触するように突き当てる。例えば、図4(a)に示すように、ピンセット17にて半導体レーザチップ1を、所定の付勢力Fを持ってそれぞれの突き当て部11A,11Bに押し付ける。
【0043】
次に、半導体レーザチップ1のセット及び位置出しが終了したら、次のステップS54の工程で、フォトディテクタチップ2(図3ではチップ2と表記してある)を同様にピンセット17で摘んでチップ実装面10bに実装させる。そして、ピンセット17を使用してチップ実装面10b近傍に突出するX方向及びY方向にそれぞれ延在する突き当て部12A,12Bに、フォトディテクタチップ2の1つの角部を挟む2つの側面をそれぞれ突き当てる。
【0044】
この結果、それぞれの突き当て突起部11、12に突き当てられた半導体レーザチップ1とフォトディテクタチップ2は、自ずと所定の相対位置にてベース3上に実装されることになる。
【0045】
次に、ステップS55の工程では、半導体レーザチップ1及びフォトディテクタチップ2が実装されたベース3をベース取付部15から取り出し、このベース3をキュア工程へ移送させる。そして、ステップS56の工程で、取り出したベース3の銀ペースト16を恒温槽にて熱処理することにより半導体レーザチップ1とフォトディテクタチップ2をそれぞれのチップ実装面10a,10bに固定させる。
【0046】
このように、本実施の形態のダイボンディング方法によれば、相対位置が非常に厳しく管理される半導体レーザチップ1とフォトディテクタチップ2の二つの半導体チップを、予めそれらの半導体チップの相対位置を出した突き当て突起部11、12を有したベース3に実装することのみで、自ずとこれら二つの半導体チップの相対位置を高精度なものとすることができることから、高価な画像処理システムや高精度位置決め機構或いは高精度移送機構が不要となる。
【0047】
また、本実施の形態のダイボンディング方法では、半導体レーザチップ1とフォトディテクタチップ2を同時にキュアしているため、リードタイムを大幅に短縮することができると共に、製造プロセスも大幅に簡略化することができる。
【0048】
以上、本発明を適用した具体的な実施の形態について説明したが、本発明は、上述の実施の形態に制限されることなく種々の変更が可能である。
【0049】
上述の実施の形態では、半導体レーザチップ1とフォトディテクタチップ2をピンセット17を使用してそれぞれ別々に各チップ実装面10a,10bに実装させたが、これを自動機などを使用して半導体レーザチップ1とフォトディテクタチップ2を同時に各チップ実装面10a,10bに実装して位置出しを行うようにしてもよい。そうすることで、半導体チップのベース3への実装工程をより一層簡略化することができると共に、製造時間を大幅に短縮することができる。
【0050】
【発明の効果】
本発明の電子部品のダイボンディング方法によれば、予め二つの電子部品の相対位置を出した突き当て突起部を各実装面の近傍部に設け、この突き当て突起部に電子部品を単に突き当てるだけで、高価な画像処理システムや高精度位置決め機構或いは高精度移送機構を使用することなく、簡単にこれら電子部品の相対位置を高精度なものとして位置出しすることができる。
【0051】
また、本発明のダイボンディング方法によれば、二つの電子部品の実装後に行うキュア工程が1回で済むことから、リードタイムを大幅に短縮させることができると共に製造工程数も減らすことができる。また、半導体レーザチップなどのような熱サイクルを何度もかけたくないチップも1度のキュアで済むため、電子部品の性能を損なうようなことはない。
【0052】
本発明の光学ピックアップ装置によれば、ベース自体に予めレーザ発光素子及び受光素子の相対位置を出した突き当て突起部を設け、これらレーザ発光素子及び受光素子をそれぞれの突き当て突起部に突き当てて実装させているので、高価な画像処理システムなどの特別な装置を必要とすることなく、その相対位置を精度良く保った状態とすることができる。これにより、設備投資、加工コスト、メンテナンスコスト、設備設置スペースを低減させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】
図1は、本発明を適用した光学ピックアップ装置の概略的な平面図である。
【図2】図2は、本発明を適用した光学ピックアップ装置の概略的な側面図である。
【図3】図3は、半導体レーザチップ及びフォトディテクタチップをベースに実装する工程を示すフローチャートである。
【図4】図4は、半導体レーザチップ及びフォトディテクタチップをベースに設けた突き当て突起部に突き当てる工程を示し、(a)はチップ実装部の平面図、(b)はチップ実装部の側面図である。
【図5】図5は、従来のダイボンディング方法の一例を示すフローチャートである。
【図6】図6は、従来のダイボンディング方法で使用されるダイボンディング装置の一例を示す装置構成図である。
【符号の説明】
1…半導体レーザチップ(レーザ発光素子)
2…フォトディテクタチップ(受光素子)
3…ベース
5…光学系
6…対物レンズ
8…光学素子
9…リードフレーム
10a,10b…チップ実装面
11,12…突き当て突起部
11A,11B,12A,12B…突き当て部
16…銀ペースト
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to, for example, a die bonding method for an electronic component and an optical pickup device. More specifically, the present invention relates to a mounting technique that enables mounting with a simple method while maintaining a high positional relationship between two electronic components without performing advanced adjustment using image processing or the like.
[0002]
[Prior art]
For example, when manufacturing an optical pickup device, the relative positional relationship between the semiconductor laser chip and the photodetector chip is very important, and advanced mounting technology for positioning these relative positions with high precision and die bonding to the base is required. Is done.
[0003]
FIG. 5 is a flowchart showing an example of a conventional die bonding method, and FIG. 6 is an apparatus configuration diagram showing an example of a die bonding apparatus used in the die bonding method.
[0004]
As shown in FIG. 6, the die bonding apparatus includes a first mounting machine 101 on the alignment side that adjusts the position of the semiconductor chip before mounting it on the base, and a second mounting machine 101 on the mount side that mounts the semiconductor chip whose position has been adjusted on the base. It comprises a two-mounting machine 102 and a vacuum head 103 that moves between the alignment side and the mount side and that can move up and down.
[0005]
The first mounting machine 101 includes an XYθ stage 104 movable in the X and Y directions and rotatable in an in-plane direction (horizontal direction), a chip set unit 105 disposed on the XYθ stage 104, and a chip The first CCD camera 107 captures an image of the mounting state of the semiconductor laser chip or the semiconductor chip 106 that is a photodetector chip mounted on the setting unit 105.
[0006]
The second mounting machine 102 has substantially the same configuration, and includes an XYθ stage 108 movable in the X and Y directions and rotatable in the in-plane direction, a base 109 disposed on the XYθ stage 108, And a second CCD camera 111 for photographing the mounting state of the semiconductor chip 106 placed on the silver paste 110 applied to the chip mounting surface 109.
[0007]
The vacuum head 103 moves between the first mounter 101 on the alignment side and the second mounter 102 on the mount side, and is vertically movable. The vacuum head 103 sucks and holds the semiconductor chip 106 on the tip end surface thereof by vacuum suction, places the semiconductor chip 106 on the mounting surface of the chip set portion 105, and sucks the positioned semiconductor chip 106 again to mount it. And the semiconductor chip 106 is placed on the chip mounting surface of the base 109. When the positioning of the semiconductor chip 106 is completed, the vacuum head 103 operates so as to suck the base 109 and transfer it to the curing step.
[0008]
In order to mount a semiconductor laser chip and a photodetector chip at a predetermined relative position on the same base 109 using the above-described die bonding apparatus, as shown in the flowchart of FIG. The base 109 is set on the XYθ stage 108 of the machine 102. Next, in the step S2, the base 109 is positioned by the XYθ stage 108 so as to be in a predetermined state.
[0009]
Next, in step S3, a silver paste 110 is applied on the chip mounting surface of the base 109 on which the semiconductor chip 106 is mounted. Subsequently, in the process of step S4, a semiconductor chip 106, for example, a semiconductor laser chip (indicated as chip 1 in FIG. 5) is mounted on the chip setting section 105 of the first mounting machine 101. In the next step S5, the mounting position of the semiconductor chip 106 with respect to the chip set portion 105 is photographed by the first CCD camera 107, and the semiconductor chip 106 is brought into a predetermined state while checking the mounting position on a monitor. Is performed using the XYθ stage 104 as described above.
[0010]
Next, in the step S6, the semiconductor chip 106 whose positioning has been completed is sucked and held by the vacuum head 103. In the next step S7, after the semiconductor chip 106 sucked and held by the vacuum head 103 is transferred to the mount side, the mounting position of the semiconductor chip 106 with respect to the chip mounting surface is photographed by the second CCD camera 111, and the mounting is performed. The position is determined using the XYθ stage 108 so that the semiconductor chip 106 is in a predetermined state while checking the position on a monitor.
[0011]
Next, in the step S8, the vacuum head 103 sucks the base 109 from the XYθ stage 108, and transfers the base 109 to the curing step. Then, in step S9, the silver paste 110 of the base 109 taken out is heat-treated to fix the semiconductor chip 106 to the chip mounting surface of the base 109.
[0012]
Next, in step S10, the bay 109 on which the semiconductor laser chip is mounted is set again on the XYθ stage 108 of the second mounting machine 102. In the next step S11, the base 109 is positioned by the XYθ stage 108 with the semiconductor chip 106 mounted on the base 109 as a reference so as to be in a predetermined state.
[0013]
Next, in step S12, a silver paste 110 is applied on the chip mounting surface of the base 109 on which the semiconductor chip 106 is mounted. Subsequently, in step S13, the semiconductor chip 106, which is a photodetector chip (denoted as chip 2 in FIG. 5), is mounted on the chip set section 105. In the next step S14, the mounting position of the semiconductor chip 106 with respect to the chip setting section 105 is photographed by the first CCD camera 107, and the semiconductor chip 106 is brought into a predetermined state while checking the mounting position on a monitor. Is performed using the XYθ stage 104 as described above.
[0014]
Next, in the step S15, the semiconductor chip 106 whose positioning has been completed is sucked and held by the vacuum head 103. Then, in the next step S16, after the semiconductor chip 106 sucked and held by the vacuum head 103 is transferred to the mount side, the mounting position of the semiconductor chip 106 with respect to the chip mounting surface is photographed by the second CCD camera 111, and the mounting is performed. While confirming the position on the monitor, the XYθ stage 108 positions the semiconductor chip 106 so as to be at a predetermined relative position with respect to the previously mounted semiconductor chip 106.
[0015]
Next, in the process of step S17, the base 109 is sucked from the XYθ stage 108 by the vacuum head 103, and the base 109 is transferred to the curing process. Then, in step S18, the silver paste 110 on the base 109 taken out is heat-treated to fix the semiconductor chip 106 to the chip mounting surface of the base 109. This completes the die bonding to the base 109 of the two semiconductor chips 106, the semiconductor laser chip and the photodetector chip.
[0016]
In addition, although it is not a technology for mounting a semiconductor chip component constituting an optical pickup device, when mounting a laser diode on a copper mount material (heat sink), the edges of the laser diode and the copper mount material are respectively separated by two CCD cameras. There is also known a mounting technique for detecting a relative displacement between the laser diode and the copper mount material while photographing, and correcting the detected displacement by rotating a rotary table on which the laser diode and the copper mount material are mounted ( For example, see Patent Document 1).
[0017]
However, when the semiconductor chip 106 is mounted on the chip mounting surface while displaying images using a CCD camera, a complicated and expensive image processing system, a high-precision positioning mechanism, and a high-precision transfer mechanism are required. It becomes a die bonding device. In addition, operation, maintenance, and management of the die bonding apparatus are troublesome.
[0018]
In particular, when the semiconductor chip 106 is mounted in each step shown in the flowchart of FIG. 5, since the die bonding steps of the semiconductor laser chip and the photodetector chip are separated, the bonding of the silver paste 110 or the like is performed after each die bonding step. It is necessary to cure the agent in a constant temperature bath, leading to a longer lead time and a longer working time due to an increase in each step.
[0019]
Therefore, as a conventional mounting technique, for example, when mounting a wafer chip on a lead frame, in a process before mounting the wafer chip on the lead frame, a square opening was formed on a stage on which the wafer chip was transferred. A position shift correction claw is provided movably back and forth, left and right, and after vacuuming from a suction hole formed in the stage to hold the wafer chip on this stage, the position shift correction claw is moved to the corner of the wafer chip to move the position. There is known a technique in which corners of openings are brought into contact with each other and the position shift correction claw is moved until the center of a wafer chip placed on a stage and the center of a wafer chip at a target position coincide with each other.
[0020]
According to this method, an expensive image processing system, a high-precision positioning mechanism, and a high-precision transfer mechanism are not required, and the wafer chips can be positioned with a relatively simple apparatus configuration.
[0021]
[Patent Document 1]
JP 2001-24007 A (pages 4 and 5, FIGS. 1 and 3)
[Patent Document 2]
JP-A-11-330796 (pages 3 and 4, FIGS. 1, 3 and 6)
[0022]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the mounting technique using the above-described position shift correction claw, since the positioned wafer chip needs to be carried to the next process and mounted again on the lead frame, there is a possibility that the position of the wafer chip is slightly shifted during transfer. is there. Further, in this mounting technique, since a wafer chip is not mounted directly on a lead frame, the number of mounting steps increases and the lead time becomes longer.
[0023]
Therefore, the present invention has been made in view of such a problem, and is implemented in a state in which the relative positions of two electronic components are held with high accuracy with a simple device configuration without using an expensive image processing system. Provided is a die bonding method for an electronic component, which can perform the curing step after mounting the electronic component in one time, and can reduce the lead time, and an optical pickup device manufactured by the method. The purpose is to do.
[0024]
[Means for Solving the Problems]
The electronic component die bonding method according to the present invention includes a mounting surface on which at least two electronic components are mounted at respective positions, and an abutting projection that preliminarily shows the relative positions of the two electronic components in the vicinity of each mounting surface. Applying a bonding paste for fixing the electronic component to each of the mounting surfaces on the mounting portion having: and abutting each of the electronic components mounted on the mounting surface against a respective abutting projection. Positioning the relative positions of these two electronic components.
[0025]
According to the electronic component die bonding method of the present invention, the abutting projections, which previously show the relative positions of the two electronic components, are provided in the vicinity of each mounting surface on which the electronic component formed on the mounting portion is mounted. Since the positioning is performed by abutting the electronic component against the abutting projection, the relative position of the two electronic components is naturally determined simply by abutting the electronic component against the abutting projection.
[0026]
Further, the optical pickup device of the present invention has a mounting surface on which the laser light emitting element and the light receiving element are mounted on a base on which the laser light emitting element and the light receiving element are mounted, and the laser light emitting element and the light receiving It is characterized in that the laser light emitting element and the light receiving element are abutted against the respective abutting projections.
[0027]
According to the optical pickup device of the present invention, the base itself is provided with the abutting projections that indicate the relative positions of the laser light emitting element and the light receiving element in advance, and the laser emitting element and the light receiving element abut against the respective abutting projections. The laser light emitting element and the light receiving element are directly mounted on the base at predetermined relative positions. Therefore, it is possible to reduce the troublesome process of mounting the two laser light emitting elements and the light receiving element on the base after positioning the relative positions of the laser light emitting element and the light receiving element in advance.
[0028]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, specific embodiments to which the present invention is applied will be described in detail with reference to the drawings. This embodiment is a die bonding method that constitutes an optical pickup device, and enables a relative position between a semiconductor laser chip and a photodetector chip, which are two electronic components, to be mounted on a base with a high accuracy and a simple method and structure. The present invention is applied to an optical pickup device manufactured by using the method.
[0029]
"Configuration of optical pickup device"
First, the configuration of the optical pickup device will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic plan view of the optical pickup device, and FIG. 2 is a schematic side view of the optical pickup device.
[0030]
As shown in FIG. 2, the optical pickup device is a chip mounting base on which a semiconductor laser chip 1 which is a laser light emitting element for irradiating laser light Hv and a photodetector chip 2 which is a light receiving element for receiving laser light Hv are mounted. The optical system includes a base 3 and an optical system 5 for irradiating a laser beam Hv emitted from the semiconductor laser chip 1 to an optical disc 4 as a target portion, and causing reflected light from the optical disc 4 to enter the photodetector chip 2. .
[0031]
As shown in FIG. 2, the optical system 5 includes an objective lens 6 for condensing the laser beam Hv emitted from the semiconductor laser chip 1 on the optical disc 4 as an object, a mirror 7 for bending the laser beam Hv, and an optical disc. An optical element (lens) 8 that bends the reflected light from the photodetector 4 to the photodetector chip 2.
[0032]
In the optical system 5, the laser beam Hv emitted from the semiconductor laser chip 1 passes through the optical element 8, changes its direction to the objective lens 6 by the mirror 7, and then irradiates the signal recording layer of the optical disc 4. Is done. Then, the reflected light of the laser light Hv from the signal recording layer is redirected by the mirror 7 via the objective lens 6 again, and is incident on the photodetector chip 2 by the optical element 8.
[0033]
As shown in FIG. 1, the base 3 is provided with a semiconductor laser chip 1, a photodetector chip 2, and a lead frame 9 for mounting these directly on the base 3. Since the relative positions of the semiconductor laser chip 1 and the photodetector chip 2 are very important and greatly affect the signal reading output, the semiconductor laser chip 1 and the photodetector chip 2 need to be mounted on the base 3 with high accuracy.
[0034]
As shown in FIGS. 1 and 2, the semiconductor laser chip 1 and the photodetector chip 2 are fixed by applying and curing a silver paste as a bonding paste on each of the chip mounting surfaces 10a and 10b of the base 3. In the vicinity of each of the chip mounting surfaces 10a and 10b, abutting projections 11 and 12 are formed to abut the semiconductor laser chip 1 and the photodetector chip 2 and to position them as predetermined relative positions. .
[0035]
These abutting protrusions 11 and 12 are abutting portions 11A extending in the same X direction as the traveling direction of the laser beam Hv irradiated from the semiconductor laser chip 1 toward the mirror 7 and in the Y direction orthogonal to the X direction. , 11B, 12A, and 12B are formed as planar substantially inverted L-shaped blocks. Each of the abutting portions 11A, 11B, 12A, and 12B has an abutting surface 11a, 11b that comes into surface contact with two side surfaces sandwiching one corner 1a, 2a of the semiconductor laser chip 1 and the photodetector chip 2, respectively. 12a and 12b are formed.
[0036]
The inner corners, which are the intersections of the abutting portions 11A and 12A extending in the X direction and the abutting portions 11B and 12B extending in the Y direction, are provided on the abutting projections 11 and 12, respectively. Relief portions 13 and 14 are formed so that the semiconductor laser chip 1 and the photodetector chip 2 are brought into non-contact with the corner portions of the photodetector chip 2 and the semiconductor laser chip 1 to surely contact the abutting portions 11A, 11B, 12A and 12B. ing.
[0037]
When the semiconductor laser chip 1 and the photodetector chip 2 abut against the respective abutting portions 11A, 11B, 12A, and 12B, the abutting projections 11 and 12 form the semiconductor laser chip 1 and the photodetector chip 2, respectively. The center is arranged on the base 3 so that the respective positions in the X direction, the Y direction, and the θ direction (the direction of horizontal rotation in the in-plane direction) and the height position have a predetermined positional relationship. I have.
[0038]
The abutting projection 11 against which the semiconductor laser chip 1 abuts and the abutting projection 12 against which the photodetector chip 2 abuts are arranged with extremely high dimensional accuracy of ± 20 μm in the X and Y directions. I have.
[0039]
Therefore, the semiconductor laser chip 1 and the photodetector chip 2 are fixed to each of the chip mounting surfaces 10a and 10b in a state where the semiconductor laser chip 1 and the photodetector chip 2 abut against these butting protrusions 11 and 12, respectively. Since the relative positions of the semiconductor laser chip 1 and the photodetector chip 2 are in a highly accurate positional relationship, a highly accurate output signal can be obtained by the photodetector chip 2. In addition, since the semiconductor laser chip 1 and the photodetector chip 2 are directly fixed to the base 3 in a state where the semiconductor laser chip 1 and the photodetector chip 2 are abutted against the abutting projections 11 and 12, respectively, the semiconductor laser chip 1 and the photodetector chip 2 have high mechanical strength. It becomes.
[0040]
"Die bonding method"
Next, the die bonding method of the present embodiment will be described with reference to the drawings. FIG. 3 is a flowchart showing a process of mounting the semiconductor laser chip 1 and the photodetector chip 2 on the base 3. FIG. 4 is a flowchart showing the process of mounting the semiconductor laser chip 1 and the photodetector chip 2 on the abutting projections 11 and 12 provided on the base 3. It is a figure which shows a process of hitting.
[0041]
As shown in the flowchart of FIG. 3, first, in step 51, the base 3 is set on the base mounting portion 15. Next, in step 52, a silver paste 16 for fixing the semiconductor laser chip 1 and the photodetector chip 2 is applied and applied to each of the chip mounting surfaces 10a and 10b on the base 3.
[0042]
Next, in the process of step S53, as shown in FIG. 4B, the semiconductor laser chip 1 (denoted as chip 1 in FIG. 3) is mounted on the chip mounting surface 10a with tweezers 17, and then, The two side surfaces sandwiching one corner of the semiconductor laser chip 1 are brought into surface contact with the abutting portions 11A and 11B extending in the X and Y directions, respectively, protruding near the chip mounting surface 10a using tweezers 17. I will hit you. For example, as shown in FIG. 4A, the semiconductor laser chip 1 is pressed by the tweezers 17 with a predetermined urging force F against the respective abutting portions 11A and 11B.
[0043]
Next, when the setting and positioning of the semiconductor laser chip 1 are completed, in the next step S54, the photodetector chip 2 (indicated as chip 2 in FIG. 3) is similarly pinched by the tweezers 17 and the chip mounting surface is set. 10b. Then, using tweezers 17, two side surfaces sandwiching one corner of the photodetector chip 2 are respectively abutted against abutting portions 12 </ b> A and 12 </ b> B extending in the X direction and the Y direction protruding near the chip mounting surface 10 b. Hit it.
[0044]
As a result, the semiconductor laser chip 1 and the photodetector chip 2 abutted on the respective abutting projections 11 and 12 are naturally mounted on the base 3 at predetermined relative positions.
[0045]
Next, in the step S55, the base 3 on which the semiconductor laser chip 1 and the photodetector chip 2 are mounted is taken out from the base mounting portion 15, and the base 3 is transferred to a curing step. Then, in step S56, the semiconductor laser chip 1 and the photodetector chip 2 are fixed to the chip mounting surfaces 10a and 10b by heat-treating the silver paste 16 of the base 3 taken out in a thermostat.
[0046]
As described above, according to the die bonding method of the present embodiment, the relative positions of the two semiconductor chips, the semiconductor laser chip 1 and the photodetector chip 2, whose relative positions are controlled very strictly, are determined in advance. By simply mounting the semiconductor chip on the base 3 having the abutting projections 11 and 12, the relative position of these two semiconductor chips can be made highly accurate by itself. No mechanism or high-precision transfer mechanism is required.
[0047]
Further, in the die bonding method of the present embodiment, since the semiconductor laser chip 1 and the photodetector chip 2 are cured at the same time, the lead time can be greatly reduced and the manufacturing process can be greatly simplified. it can.
[0048]
As described above, the specific embodiments to which the present invention is applied have been described. However, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and can be variously modified.
[0049]
In the above embodiment, the semiconductor laser chip 1 and the photodetector chip 2 are separately mounted on the chip mounting surfaces 10a and 10b using tweezers 17, respectively. 1 and the photodetector chip 2 may be simultaneously mounted on each of the chip mounting surfaces 10a and 10b to perform positioning. By doing so, the process of mounting the semiconductor chip on the base 3 can be further simplified, and the manufacturing time can be greatly reduced.
[0050]
【The invention's effect】
According to the electronic component die bonding method of the present invention, an abutting projection that preliminarily indicates the relative position of the two electronic components is provided in the vicinity of each mounting surface, and the electronic component is simply abutted against the abutting projection. Thus, the relative positions of these electronic components can be easily determined as high precision without using an expensive image processing system, high-precision positioning mechanism, or high-precision transfer mechanism.
[0051]
Further, according to the die bonding method of the present invention, only one curing step is required after mounting two electronic components, so that the lead time can be greatly reduced and the number of manufacturing steps can be reduced. In addition, a chip such as a semiconductor laser chip that does not need to be subjected to thermal cycles many times can be cured only once, so that the performance of the electronic component is not impaired.
[0052]
According to the optical pickup device of the present invention, the base itself is provided with the abutting projections that indicate the relative positions of the laser light emitting element and the light receiving element in advance, and the laser emitting element and the light receiving element abut against the respective abutting projections. Since it is mounted by mounting, a special device such as an expensive image processing system is not required, and the relative position can be maintained with high accuracy. This can reduce capital investment, processing cost, maintenance cost, and equipment installation space.
[Brief description of the drawings]
FIG.
FIG. 1 is a schematic plan view of an optical pickup device to which the present invention is applied.
FIG. 2 is a schematic side view of an optical pickup device to which the present invention is applied.
FIG. 3 is a flowchart showing a process of mounting the semiconductor laser chip and the photodetector chip on a base;
FIGS. 4A and 4B show a process of abutting a semiconductor laser chip and a photodetector chip on an abutting projection provided on a base, wherein FIG. 4A is a plan view of a chip mounting portion, and FIG. FIG.
FIG. 5 is a flowchart showing an example of a conventional die bonding method.
FIG. 6 is an apparatus configuration diagram showing an example of a die bonding apparatus used in a conventional die bonding method.
[Explanation of symbols]
1. Semiconductor laser chip (laser light emitting element)
2. Photodetector chip (light receiving element)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 3 ... Base 5 ... Optical system 6 ... Objective lens 8 ... Optical element 9 ... Lead frames 10a, 10b ... Chip mounting surfaces 11, 12 ... Butt projections 11A, 11B, 12A, 12B ... Butt 16 ... Silver paste

Claims (4)

少なくとも二つの電子部品をそれぞれの位置に実装させる実装面と、各実装面の近傍部に予め二つの電子部品の相対位置を出した突き当て突起部とを有した被取付部に対し、前記各実装面に前記電子部品を固定させるボンディング用ペーストを塗布する工程と、
前記各電子部品をそれぞれの実装面に載置する工程と、
前記各電子部品をそれぞれの前記突き当て突起部に突き当てて、これら二つの電子部品の相対位置の位置出しを行う工程と、
前記ボンディング用ペーストをキュアする工程とを備えた
ことを特徴とする電子部品のダイボンディング方法。
The mounting surface having at least two electronic components mounted at their respective positions, and a mounting portion having an abutting projection that previously shows the relative position of the two electronic components in the vicinity of each mounting surface, Applying a bonding paste for fixing the electronic component to a mounting surface,
Placing the electronic components on their respective mounting surfaces,
A step of abutting the respective electronic components against the respective abutting projections to determine the relative positions of the two electronic components;
A step of curing the bonding paste.
請求項1記載の電子部品のダイボンディング方法であって、
前記二つの電子部品がレーザ光を照射するレーザ発光素子及びレーザ光を受光する受光素子であり、前記被取付部をリードフレームが設けられた光学ピックアップのベースとした
ことを特徴とする電子部品のダイボンディング方法。
A method of die bonding an electronic component according to claim 1,
The two electronic parts are a laser light emitting element that irradiates laser light and a light receiving element that receives laser light, and the attached part is a base of an optical pickup provided with a lead frame. Die bonding method.
レーザ光を被対象物に集光させる対物レンズ、ミラー及びレンズからなる光学系と、レーザ光を照射するレーザ発光素子及びレーザ光を受光する受光素子を実装させるベースとを備えた光学ピックアップ装置において、
前記ベースに、前記レーザ発光素子及び受光素子をそれぞれ実装させる実装面と、各実装面の近傍部に予め前記レーザ発光素子及び受光素子の相対位置を出した突き当て突起部とを設け、これらレーザ発光素子と受光素子をそれぞれの突き当て突起部に突き当ててなる
ことを特徴とする光学ピックアップ装置。
An optical pickup device including an objective lens that focuses laser light on an object, an optical system including a mirror and a lens, and a laser light emitting element that emits laser light and a base on which a light receiving element that receives laser light is mounted. ,
The base is provided with a mounting surface on which the laser light-emitting element and the light-receiving element are mounted, and an abutting protruding portion in which the relative positions of the laser light-emitting element and the light-receiving element are set in advance in the vicinity of each mounting surface. An optical pickup device comprising a light emitting element and a light receiving element abutting against respective abutting projections.
請求項3記載の光学ピックアップ装置であって、
前記突き当て突起部は、少なくとレーザ発光素子及び受光素子の一つの角部を挟む2つの側面とそれぞれ面接触する突き当て面を有した
ことを特徴とする光学ピックアップ装置。
The optical pickup device according to claim 3, wherein
The optical pickup device, wherein the abutting projection has an abutting surface that comes into surface contact with at least two side surfaces sandwiching one corner of the laser light emitting element and the light receiving element.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9627845B2 (en) 2011-12-20 2017-04-18 Ricoh Company, Ltd. Method for manufacturing an optical unit
CN116313859A (en) * 2023-05-26 2023-06-23 青岛泰睿思微电子有限公司 Wire bonding method for cantilever product
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