JP2004245752A - Method and apparatus for sealing test - Google Patents

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JP2004245752A
JP2004245752A JP2003037532A JP2003037532A JP2004245752A JP 2004245752 A JP2004245752 A JP 2004245752A JP 2003037532 A JP2003037532 A JP 2003037532A JP 2003037532 A JP2003037532 A JP 2003037532A JP 2004245752 A JP2004245752 A JP 2004245752A
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sample
pressure
air phase
pressure vessel
test
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Koichi Orita
浩一 折田
Etsuo Nishikawa
悦生 西川
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Murata Manufacturing Co Ltd
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Murata Manufacturing Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method and apparatus for sealing test, with high detection capability for air bubbles, by accurately evaluating sealing performance over a wide range, for dimension of a sample and sizes of leakage holes. <P>SOLUTION: A sample W is placed in air phase 3 within a pressure vessel 1 in which a test liquid F is stared, and a piston 2 is actuated to pressurize the air phase 3 inside the pressure vessel 1 up to a prescribed positive pressure. The sample W is immersed in the test liquid F, while the air phase 3 is pressurized, and then a purge port 22 is opened for and is returned to normal pressure. Then the piston 2 is actuated to depressurize the air phase 3 to a prescribed negative pressure. Sealing performance of the sample W is evaluated, based on the presence of air bubbles generated from the sample W in the test liquid F under depressurized conditions. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO&NCIPI

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は微小容積の電子部品などの試料の封止性をバブル式グロスリーク試験によって評価する封止試験方法および封止試験装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
【特許文献1】特開平10−281916号公報
電子部品のパッケージ構造は、図1の(a)に示すように、凹形のケースCの底部に素子Eを収容するとともに、ケースCの開口部を蓋Lで閉鎖したものや、(b)のように基板Bの上に素子Eを搭載し、その上からカバーRを被せたもの等がある。
【0003】
このような電子部品のパッケージの封止性を評価するため、バブル式グロスリーク試験が広く行われている。一般的なグロスリーク試験は、電子部品を高温に保たれたフロロカーボン(フッ素系不活性液体)のような試験液に浸漬し、電子部品内部の空気を膨張させ、電子部品から発生する気泡を目視観察することにより、封止性の良否を判定するものである。この方法は、電子部品を加熱することになるので、電子部品の性能や品質を低下させる恐れがあり、また蒸発による試験液のロスが大きい上、試験液の昇温に時間がかかるという問題がある。
【0004】
特許文献1には、電解コンデンサを圧力容器内の液中に入れ、圧力容器内を空気引きして負圧とし、負圧状態で気泡を観察する方法が開示されている。この場合には、電解コンデンサの封止性能を負圧下で検査することで、良品と不良品とを明確に判別でき、検査精度を向上させることができる。しかも、高温の試験液に浸漬しておく必要がなく、上記の問題を解消できる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、近年、電子部品のパッケージの小型化が進み、1辺が1〜2ミリ程度の小型の電子部品も実用化されている。このような小型の電子部品では、パッケージの内容積が非常に小さいため、特許文献1のように圧力容器内を負圧状態としただけでは、電子部品から気泡が発生しにくく、封止性の検査が困難になっていた。
また、電子部品の大小だけでなく、リーク穴の大きさにも影響され、小リーク穴および大リーク穴では共にリーク部から気泡が離脱せず、評価が困難であった。
【0006】
図2は気泡の大小と試料のリーク穴の大小との関係を示す。
図2の(a)はリーク穴が小さい場合であり、毛細管現象で試験液がリーク穴内に浸透する圧力の方が、試料内部からの気体膨張圧力より強いため、リーク穴の外に気泡が出ることができず、気泡を検出できない。
図2の(b)はリーク穴が適当な大きさを有する場合であり、気体膨張によってリーク穴の外に膨張した気泡がある大きさになると、付着力よりも浮力の方が強く働くため、気泡が離脱する。つまり、気泡を検出できる。
図2の(c)はリーク穴が大きくなり、リーク穴周辺に働く付着力が強くなる一方、離脱する程の浮力を得るまで気泡が膨張していない例である。この場合には、気泡がリーク穴から離脱できず、気泡を検出できない。
上記のように気泡が十分な膨張圧力を有しないと、リーク穴が小さ過ぎても、また大き過ぎても離脱できず、気泡を検出できない。
【0007】
そこで、本発明の目的は、試料の大きさやリーク穴の大小に対して、広範囲で封止性を正確に評価でき、気泡の検出度が高い封止試験方法およびその装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明は、試験液を貯留した圧力容器内の空気相に試料を配置する工程と、上記圧力容器内の空気相を所定の正圧まで加圧する工程と、上記空気相を加圧した状態のまま試料を試験液中に浸漬する工程と、上記空気相を所定の負圧まで減圧する工程と、減圧状態で試験液中の試料から発生する気泡の有無により、試料の封止性能を評価する工程と、を備えたことを特徴とする封止試験方法を提供する。
【0009】
請求項4に記載の発明は、試験液を貯留し、試験液の上部に空気相を持つ圧力容器と、試料を上記圧力容器内の空気相に配置した状態で、空気相を所定の正圧まで加圧する加圧手段と、上記空気相を加圧した状態のまま試料を試験液中に浸漬させる移動機構と、上記試料を試験液中に浸漬した状態で空気相を所定の負圧まで減圧する減圧手段とを備え、減圧状態での試験液中の試料から発生する気泡を観察可能としたことを特徴とする封止試験装置を提供する。
【0010】
請求項1に係る発明において、圧力容器内の空気相に試料を配置し、この空気相の気圧を所定の正圧まで加圧する。そのため、試料にリーク部が存在すれば、このリーク部を介して試料のパッケージの中に気体が侵入し、内圧が上昇する。次に、空気相を加圧した状態のまま試料を試験液中に浸漬する。つまり、試料は内圧が上昇した状態のまま液中に浸漬される。ここで、空気相を所定の負圧まで減圧すると、試験液の表面に加わる気圧が低下するため、試料の表面に加わる液圧も低くなる。そのため、試料にリーク部が存在すれば、上昇した内圧と低下した液圧との差によって、リーク部から気泡が発生し、この気泡を観察することで封止性を評価することができる。
このように、本発明では、試料の内圧を上昇させた後、液浸状態で減圧するので、小型の試料や小リークであっても、リーク部から発生した気泡を膨張、離脱させることができ、封止性を正確に評価できる。
【0011】
例えば、加圧装置によって試料を加圧し、その内圧を高めた後、この試料を加圧装置から圧力容器へ移し替え、圧力容器内の試験液に浸漬した上、圧力容器を負圧状態とすることで、試料からの気泡の検出度を高める方法も考えられる。しかし、この方法では、試料を加圧装置から取り出して圧力容器に移し替える作業が必要であり、その間に試料が常圧にさらされて内圧が低下してしまうため、気泡の検出度が低下してしまう。
これに対し、本発明では、同一の圧力容器内で加圧と減圧とが連続的に実施されるとともに、加圧状態で試験液に浸漬するので、試料が常圧にさらされて内圧が低下することがない。そのため、気泡の検出度を高めることができる。
本発明では、従来のグロスリーク試験のように高温の試験液に試料を浸漬する必要がないので、試料の性能や品質を低下させたり、蒸発による試験液のロスや試験液の昇温に時間がかかるといった問題も解消できる。
【0012】
請求項2のように、空気相を加圧する工程は、圧力容器内の容積を圧縮することで行ってもよい。
一般に、圧力容器の空気相を加圧する場合には、加圧ポンプなどの高圧源から圧縮空気を送り込んで加圧するのが一般的であるが、加圧ポンプを駆動するための駆動装置が必要であり、装置が大型化するとともに、短時間で加圧することが難しい。
これに対し、圧力容器内の容積を圧縮することで空気相を加圧するようにすれば、加圧工程を短時間でかつ所望の圧力まで簡単に加圧できる。
圧力容器内の容積を圧縮する具体的方法としては、例えば圧力容器内を摺動するピストンを設け、ピストンを圧縮方向に移動させることで加圧することができる。
【0013】
請求項3のように、空気相を減圧する工程は、圧力容器内の容積を膨張させることで行ってもよい。
圧力容器の空気相を減圧するには、真空ポンプなどの真空源から真空引きして減圧するするのが一般的であるが、真空ポンプを駆動するための駆動装置が必要であり、装置が大型化するとともに、短時間で減圧することが難しい。これに対し、圧力容器内の容積を膨張させることで減圧すれば、短時間でかつ所望の圧力まで簡単に減圧できる。
この場合も、圧力容器内を摺動するピストンを設け、ピストンを膨張方向に移動させることで減圧することができる。
【0014】
請求項4にかかる封止試験装置を用いれば、請求項1の封止試験方法を簡単に実施できる。
移動機構としては、試料を載せるステージを有し、このステージを空気相内と試験液中との間で昇降させるものがよい。
また、圧力容器の側壁、特に試験液を貯留した部分に、外部から観察できるように透明窓を設けるのがよい。
【0015】
請求項7に記載の発明は、内容積が10−10 以下の電子部品を組み立てる工程と、上記電子部品を試料として請求項1ないし3のいずれかに記載の封止試験方法を実施する工程と、を含む電子部品の製造方法を提供する。
内容積が10−10 以下のような小型電子部品の場合、特許文献1のように圧力容器内を負圧状態としただけでは、電子部品から気泡が発生しにくく、封止性の検査が困難であるが、本発明に係る封止試験方法を用いれば、このような小型電子部品でも封止性を正確に判定でき、封止性の良好な電子部品を製造することができる。
【0016】
請求項8に記載の発明は、内容積が10−10 以下の電子部品であって、上記電子部品を試料として請求項1ないし3のいずれかに記載の封止試験方法を実施してなることを特徴とする電子部品を提供する。
この場合も、請求項7と同様に、本発明に係る封止試験方法を用いることで、封止性の良好な小型電子部品を得ることができる。
【0017】
【発明の実施の形態】
図3は本発明にかかる封止試験装置の第1実施例であり、試料Wとしては図1に示すような電子部品を用いる。
この封止試験装置は、バブル式グロスリーク試験を実施するためのものであり、耐圧性と気密性とを有する圧力容器1を備える。圧力容器1内には上下方向に移動可能なピストン2が配置されており、ピストン2の下部空間に所定量の試験液Fが貯留されている。試験液Fとしては、例えば、フロロカーボンやアルコール液のような表面張力の小さな液体が使用される。試験液Fの上部には空気相3が設けられている。圧力容器1の側壁には、試験液F中に浸漬された試料Wから発生する気泡Bを観察するための透明なモニタ窓4が設けられている。
【0018】
圧力容器1の上部には開口部5が形成されており、開口部5は圧力容器蓋6によって閉鎖される。また、ピストン2には上下に貫通した試料投入穴7が形成されており、この投入穴7はピストン蓋8によって閉鎖される。
圧力容器1の上壁には第1ネジ穴9が形成されており、このネジ穴9に第1ボールネジ10が螺合している。ボールネジ10の上端部は支持板11の上面に固定された第1モータ12に連結されている。支持板11には下方に延びる複数本の支柱13が固定されており、これら支柱13は圧力容器蓋6、ピストン蓋8およびピストン2を摺動自在に貫通して空気相3まで延びている。ここでは、図4に示すように、4本の支柱13が試料投入穴7の周囲に配置されており、支柱13とピストン2との間は気密的にシールされている。支柱13の下端部にはステージ14が固定されており、このステージ14上に試料Wが載置される。
ピストン2の上面とピストン蓋8のフランジ部とには、それぞれねじ穴2aとねじ挿通穴8aとが形成され、ねじ挿通穴8aを介してねじ穴2aにネジ15を螺着することにより、ピストン蓋8はピストン2に固定され、試料投入穴7が閉じられる。なお、ピストン2とピストン蓋8との固定方法はネジ15を用いる方法に限らない。
【0019】
圧力容器1の上面には、ガイド軸16が立設され、このガイド軸16と平行な第2ボールネジ17が圧力容器1の上壁に設けられた第2ネジ穴18に螺合・貫通してピストン2に回転自在に連結されている。第2ボールネジ17の上端には第2モータ19が連結されており、このモータ19はガイド軸16に対して摺動自在な支持板20上に固定されている。
圧力容器1の上部側壁、特に空気相3に相当する部位の側壁には、圧力計21が接続されるとともに、パージポート22が設けられている。パージポート22には開閉弁23が設けられている。
上記圧力計21のデータはコントローラ24に送られ、コントローラ24は第1モータ12、第2モータ19および開閉弁23を制御している。
【0020】
次に、上記構成よりなる封止試験装置の作動を、図5,図6にしたがって説明する。
まず、グロスリーク試験を開始する前に、圧力容器1内の圧力を減圧し、試験液F中に溶存している気体を脱ガスする。試験液Fがフロロカーボンの場合、気泡発生がなくなるまで実施するが、条件としては500Pa以下で20分以上実施するのが望ましい。
次に、図5の(a)のようにステージ14上に試料Wを載置した後、ピストン蓋8で試料投入穴7を閉じるとともに、圧力容器蓋6で開口部5を閉鎖する。そして、第1モータ12を駆動してステージ14を試験液Fの直上で停止させる。この段階では、空気相3の気圧は常圧であり、パージポート22の開閉弁23は閉じられている。
次に、図5の(b)のように第2モータ19を駆動してピストン2を降下させ、空気相3を圧縮する。この段階では、試料Wを載せたステージ14は空気相3内にあり、試料Wの内圧が上昇する。なお、空気相3の気圧は圧力計21によって計測される。
次に、図5の(c)のように空気相3を圧縮した状態のまま第1モータ12を駆動してステージ14を降下させ、試料Wを試験液F中に浸漬する。つまり、試料Wは内圧が上昇した状態のまま試験液Fに浸漬される。このとき、モニタ窓4から試料Wより気泡が発生するかどうかを観察する。
次に、図6の(a)のようにパージポート22の開閉弁23を開き、空気相3を常圧に戻す。しかし、内圧が上昇した試料Wは試験液Fに浸漬されているので、試料Wの内圧に変化はない。この時も、試料Wからの気泡の発生を観察する。
最後に、図6の(b)のように、パージポート22を閉じ、第2モータ19を駆動してピストン2を上昇させ、空気相3を膨張させる。そのため、空気相3の気圧は減圧される。この段階で、試料Wの内圧は依然として高い状態にあり、かつ試験液Fにかかる気圧が減圧されているので、試料Wにリークがある場合には、気泡Bが膨張しかつ試料Wから容易に離脱する。そのため、モニタ窓4からこの気泡Bを観察することで、試料Wの封止性を容易に評価することができる。
【0021】
上記試験装置を用い、次のような条件で実験を行った。
試料加圧圧力:2×10 Pa(2気圧)以上
試料加圧時間:10sec以上
パージ時間:約1sec
グロスリーク試験圧力:10 Pa(0.01気圧)以下
グロスリーク試験温度:50℃以下
試料Wとして図1の(a)または(b)に示す構造で、外径寸法が2.0×1.6×0.7mm、内容積が2.52×10−11 の小型電子部品を用いたところ、標準等価リーク率で7.3×10−8Pa・m /s〜2.9×10−1Pa・m /sの範囲のリークを検出できた。
すなわち、本発明により試験方法では、特許文献1の方法では気泡を検出できなかった小型部品や、小さいリークあるいは大きなリークでも検出することが可能となった。
なお、検知したい標準等価リーク率の大きさや試料の内容積の大きさによって、試験条件が変わることは勿論である。
【0022】
図7は、内容積が小さい電子部品(内容積:2.52×10−11 )と内容積が大きい電子部品(内容積:4.62×10−10 )とを用い、従来方法(特許文献1)と本発明方法とにおけるグロスリーク試験圧力とリーク率との関係を示したものである。
ここで、標準等価リーク率とは、高圧側が1気圧(760mmHgもしくは1.013×10 Pa)で低圧側が1mmHg(133Pa)以下の場合に周囲温度が25℃でリーク箇所から1秒間に漏れる乾燥空気の量(Pa・m )で定義される。なお、従来方法および本発明とも、上記と同一条件(但し、加圧圧力を4気圧とした)で実施した。
図7から明らかなように、従来方法の場合、内容積が大きい電子部品であれば、常圧付近でも気泡を確認できるが、内容積が小さい電子部品の場合には、70kPa(0.7気圧)以下に減圧しないと気泡を確認できない。
また、リークの大きさにも影響され、内容積が小さい部品では、1.11×10−7Pa・m /s〜6.26×10−2Pa・m /sの範囲内しか気泡を発生させることができず、これより小さいリークや大きなリークでは評価が困難である。
これに対し、本発明方法では、内容積の大小に関係なく、常圧でも気泡を確認できる。また、内容積が小さい部品では、9.58×10−10 Pa・m /s〜7.34×10−2Pa・m /sの範囲内で気泡を発生させることができる。つまり、従来例より広い範囲のリークサイズで気泡を発生させることができた。
【0023】
図8は本発明にかかる封止試験装置の第2実施例を示す。第1実施例と同一部分には同一符号を付して重複説明を省略する。
この実施例では、ピストンに代えて空圧源30および真空源32を圧力容器1に接続するとともに、その間に開閉弁31,33を設けたものである。空圧源30としては加圧ポンプや圧縮ボンベを使用でき、真空源32としては真空ポンプを用いることができる。この試験装置の作動は、図5,図6と同様であるから、作動説明を省略する。
この場合には、圧力容器1内を摺動するピストンを有しないので、圧力容器1を小型化できるとともに、ピストンを駆動するための第2モータを省略できるため、構造を簡素化できる。
【0024】
上記実施例では、ステージ14やピストン2の作動機構としてモータ12,19とボールネジ10,17とを用いたが、流体圧シリンダ、ボイスコイルモータなどの他の作動機構を用いてもよいことは勿論である。
試料からの気泡を観察する方法として、目視観察に限らず、撮像カメラと画像処理装置とを用いて気泡を自動的に観察・評価するものでもよい。
また、第1実施例では、ピストン2の作動、ステージ14の昇降、パージポート22の開閉などをコントローラ24によって自動的に制御したが、手動操作によってこれら作動を行ってもよいことは勿論である。
【0025】
図2に示すように、リークサイズが一定の大きさ以上になると、リーク部から気泡が離脱するだけの浮力が得られず、気泡はリーク部に付着したままの状態になる。そこで、気泡の離脱を促すために、試験液Fに浸漬した試料Wに対して微振動を与える手段を設けてもよい。例えば、試料Wを支持しているステージ14に振動子を振動伝達手段を介して連結すればよい。
振動印加の具体的条件としては、例えば次のように設定すればよい。
周波数:100〜700Hz、パワー:ピーク出力80mW、波形:正弦波、保持時間:10sec
この場合には、試料に振動を加えることで強制的に気泡を離脱させることができ、本発明における加圧・減圧による気泡発生技術と組み合わせることで、極小から極大のリークサイズまで測定可能となり、封止性の検出精度を高めることができる。
【0026】
加圧手段および減圧手段として、第1実施例(図3参照)ではピストン2およびその作動機構を用い、第2実施例(図8)では空圧源30および真空源32を用いたが、第1実施例に第2実施例の手段を組み合わせることもできる。例えば、第1実施例の加圧手段として、ピストン2と空圧源30とを併用してもよいし、減圧手段として、ピストン2と真空源32とを併用してもよい。
【0027】
本発明にかかる封止試験方法を適用できる試料としては、一般的な電子部品のほかに、BAW(Bulk Acoustic Wave) フィルターや、MEMS(Micro Electro Mechanical System)モジュール、具体的にはシリコンジャイロ、光スイッチ、ミリ波レーダースイッチなどがある。
上記製品は、いずれも内容積が10−10 以下と極小であることと、いずれもパイレックス(登録商標)ガラスを使用しているため、Heガスが透過し、バックグランドノイズが増大し、微小なリークが選別できないからである。
【0028】
【発明の効果】
以上の説明で明らかなように、本発明によれば、試料の内圧を上昇させた後、内圧が上昇した状態のまま試料を液中に浸漬し、液浸状態で減圧して気泡の発生を観察するようにしたので、試料から発生した気泡を膨張させることができ、気泡の発生を促進させることができる。そのため、試料の大小やリークの大小に対して、広い範囲で正確に封止性を評価することができる。
また、加圧と減圧とを同一の圧力容器内で実施できるので、試料の加圧後、減圧までの間に試料の内圧が低下することがない。そのため、気泡の膨張度を高めることができ、検出精度を向上させることができる。
さらに、常温で十分な検出能力が得られるので、試験液の蒸発の抑制、作業効率の向上を達成できる。
【0029】
請求項7,8のように内容積が10−10 以下の電子部品に対して本発明方法を適用すれば、従来では判別が難しかった小型の電子部品に対しても、封止性を正確に判定でき、封止性の良好な電子部品を製造することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】2種類の一般的な電子部品のパッケージ構造の断面図である。
【図2】試料からの気泡の発生メカニズムを示す図である。
【図3】本発明にかかる封止試験装置の第1実施例の構造図である。
【図4】図3のA−A線拡大断面図である。
【図5】本発明における封止試験方法の前半を示す工程図である。
【図6】本発明における封止試験方法の後半を示す工程図である。
【図7】内容積の大小における減圧圧力と標準等価リーク率との関係を示す図である。
【図8】本発明にかかる封止試験装置の第2実施例の構造図である。
【符号の説明】
1 圧力容器
2 ピストン
3 空気相
10 ボールネジ
12 モータ
14 ステージ
17 ボールネジ
19 モータ
21 圧力計
22 パージポート
W 試料(電子部品)
F 試験液
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a sealing test method and a sealing test apparatus for evaluating the sealing performance of a sample such as a small-volume electronic component by a bubble-type gross leak test.
[0002]
[Prior art]
As shown in FIG. 1A, a package structure of an electronic component accommodates an element E at the bottom of a concave case C and an opening of the case C. Is closed with a lid L, or as shown in (b), an element E is mounted on a substrate B, and a cover R is placed on the element E.
[0003]
In order to evaluate the sealing performance of such electronic component packages, a bubble-type gross leak test is widely performed. In a general gross leak test, an electronic component is immersed in a test liquid such as fluorocarbon (fluorinated inert liquid) kept at a high temperature, the air inside the electronic component is expanded, and bubbles generated from the electronic component are visually observed. By observing, the quality of the sealing property is determined. In this method, since the electronic components are heated, there is a possibility that the performance and quality of the electronic components may be deteriorated.In addition, the loss of the test solution due to evaporation is large, and it takes time to raise the temperature of the test solution. is there.
[0004]
Patent Document 1 discloses a method in which an electrolytic capacitor is immersed in a liquid in a pressure vessel, the inside of the pressure vessel is evacuated to a negative pressure, and bubbles are observed in a negative pressure state. In this case, by inspecting the sealing performance of the electrolytic capacitor under a negative pressure, a good product and a defective product can be clearly distinguished, and the inspection accuracy can be improved. In addition, there is no need to immerse the sample in a high-temperature test solution, and the above problem can be solved.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
In recent years, the size of electronic component packages has been reduced, and small electronic components having a side of about 1 to 2 mm have been put to practical use. In such a small electronic component, since the inner volume of the package is very small, air bubbles are not easily generated from the electronic component by merely setting the inside of the pressure vessel to a negative pressure state as in Patent Document 1, and the sealing property is reduced. The inspection was difficult.
In addition, not only the size of the electronic component but also the size of the leak hole, the bubble was not separated from the leak portion in both the small leak hole and the large leak hole, and the evaluation was difficult.
[0006]
FIG. 2 shows the relationship between the size of bubbles and the size of leak holes in a sample.
FIG. 2A shows a case where the leak hole is small. Since the pressure at which the test liquid penetrates into the leak hole due to the capillary phenomenon is stronger than the gas expansion pressure from the inside of the sample, air bubbles come out of the leak hole. Can not detect bubbles.
FIG. 2B shows a case in which the leak hole has an appropriate size. When bubbles expand outside the leak hole due to gas expansion, the buoyancy acts more strongly than the adhesive force. Bubbles are released. That is, bubbles can be detected.
FIG. 2 (c) shows an example in which the leak hole becomes large and the adhesive force acting around the leak hole becomes strong, but the bubbles do not expand until the buoyancy enough to separate is obtained. In this case, the air bubbles cannot be separated from the leak hole, and the air bubbles cannot be detected.
If the bubble does not have a sufficient inflation pressure as described above, the leak hole cannot be removed even if the leak hole is too small or too large, and the bubble cannot be detected.
[0007]
Therefore, an object of the present invention is to provide a sealing test method and a device capable of accurately evaluating the sealing property over a wide range with respect to the size of the sample and the size of the leak hole and having a high degree of detection of bubbles. .
[0008]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the invention according to claim 1 includes a step of arranging a sample in an air phase in a pressure vessel storing a test liquid, and pressurizing the air phase in the pressure vessel to a predetermined positive pressure. A step of immersing the sample in a test liquid while the air phase is pressurized, a step of reducing the air phase to a predetermined negative pressure, and bubbles generated from the sample in the test liquid in a reduced pressure state And a step of evaluating the sealing performance of the sample depending on the presence or absence of the sealing test method.
[0009]
According to a fourth aspect of the present invention, in a state in which a test solution is stored and a pressure vessel having an air phase above the test solution, and the sample is arranged in the air phase in the pressure vessel, the air phase is subjected to a predetermined positive pressure. Pressurizing means for pressurizing the air phase, a moving mechanism for immersing the sample in the test liquid while the air phase is pressurized, and depressurizing the air phase to a predetermined negative pressure while the sample is immersed in the test liquid. A sealing test apparatus, comprising: a decompression means for performing pressure reduction; and capable of observing bubbles generated from a sample in a test solution in a decompressed state.
[0010]
In the invention according to claim 1, a sample is placed in an air phase in a pressure vessel, and the air pressure of the air phase is increased to a predetermined positive pressure. Therefore, if a leak portion exists in the sample, gas enters the sample package through the leak portion, and the internal pressure increases. Next, the sample is immersed in the test solution while the air phase is pressurized. That is, the sample is immersed in the liquid with the internal pressure increased. Here, when the pressure of the air phase is reduced to a predetermined negative pressure, the pressure applied to the surface of the test liquid decreases, so that the pressure applied to the surface of the sample also decreases. Therefore, if a leak portion exists in the sample, air bubbles are generated from the leak portion due to a difference between the increased internal pressure and the reduced liquid pressure, and the sealing property can be evaluated by observing the air bubbles.
As described above, according to the present invention, after the internal pressure of the sample is increased, the pressure is reduced in the liquid immersion state, so that even in the case of a small sample or a small leak, bubbles generated from the leak portion can be expanded and released. In addition, the sealing property can be accurately evaluated.
[0011]
For example, after a sample is pressurized by a pressurizing device and its internal pressure is increased, the sample is transferred from the pressurizing device to a pressure vessel, immersed in a test solution in the pressure vessel, and the pressure vessel is brought into a negative pressure state. Thus, a method of increasing the degree of detection of bubbles from the sample can be considered. However, in this method, it is necessary to remove the sample from the pressurizing device and transfer it to a pressure vessel.During this time, the sample is exposed to normal pressure and the internal pressure decreases, and the degree of detection of bubbles decreases. Would.
On the other hand, in the present invention, pressurization and depressurization are continuously performed in the same pressure vessel, and the sample is exposed to normal pressure to reduce the internal pressure because the sample is immersed in the test solution in a pressurized state. I can't. Therefore, the degree of detection of bubbles can be increased.
In the present invention, it is not necessary to immerse the sample in a high-temperature test solution as in the conventional gross leak test. Can be solved.
[0012]
As in the second aspect, the step of pressurizing the air phase may be performed by compressing the volume in the pressure vessel.
In general, when pressurizing the air phase of a pressure vessel, it is common to feed compressed air from a high-pressure source such as a pressurizing pump and pressurize it. However, a driving device for driving the pressurizing pump is required. In addition, it is difficult to pressurize the device in a short time as the size of the device increases.
On the other hand, if the air phase is pressurized by compressing the volume in the pressure vessel, the pressurization step can be easily performed to a desired pressure in a short time.
As a specific method of compressing the volume in the pressure vessel, for example, a piston that slides in the pressure vessel is provided, and pressurization can be performed by moving the piston in the compression direction.
[0013]
The step of depressurizing the air phase may be performed by expanding the volume in the pressure vessel.
In order to depressurize the air phase of the pressure vessel, it is common to evacuate and depressurize from a vacuum source such as a vacuum pump.However, a driving device for driving the vacuum pump is required, and the device is large. And it is difficult to reduce the pressure in a short time. On the other hand, if the pressure is reduced by expanding the volume in the pressure vessel, the pressure can be easily reduced to a desired pressure in a short time.
Also in this case, the pressure can be reduced by providing a piston that slides in the pressure vessel and moving the piston in the expansion direction.
[0014]
If the sealing test apparatus according to claim 4 is used, the sealing test method according to claim 1 can be easily implemented.
The moving mechanism preferably has a stage on which the sample is placed, and moves the stage up and down between the air phase and the test solution.
Further, it is preferable to provide a transparent window on the side wall of the pressure vessel, particularly on a portion where the test solution is stored, so that the window can be observed from the outside.
[0015]
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a step of assembling an electronic component having an internal volume of 10 −10 m 3 or less, and performing the sealing test method according to any one of the first to third aspects using the electronic component as a sample. And a method for manufacturing an electronic component.
In the case of a small electronic component having an inner volume of 10 −10 m 3 or less, air bubbles are hardly generated from the electronic component simply by setting the inside of the pressure vessel to a negative pressure state as in Patent Document 1, and the sealing property is inspected. However, if the sealing test method according to the present invention is used, the sealing property can be accurately determined even for such a small electronic component, and an electronic component having a good sealing property can be manufactured.
[0016]
The invention according to claim 8 is an electronic component having an internal volume of 10 −10 m 3 or less, wherein the sealing test method according to any one of claims 1 to 3 is performed using the electronic component as a sample. An electronic component is provided.
Also in this case, similarly to the seventh aspect, by using the sealing test method according to the present invention, it is possible to obtain a small electronic component having good sealing properties.
[0017]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
FIG. 3 shows a first embodiment of the sealing test apparatus according to the present invention, and an electronic component as shown in FIG.
This sealing test device is for performing a bubble-type gross leak test, and includes a pressure vessel 1 having pressure resistance and airtightness. A vertically movable piston 2 is arranged in the pressure vessel 1, and a predetermined amount of test liquid F is stored in a space below the piston 2. As the test liquid F, for example, a liquid having a small surface tension such as a fluorocarbon or an alcohol liquid is used. An air phase 3 is provided above the test liquid F. On the side wall of the pressure vessel 1, a transparent monitor window 4 for observing bubbles B generated from the sample W immersed in the test liquid F is provided.
[0018]
An opening 5 is formed in the upper part of the pressure vessel 1, and the opening 5 is closed by a pressure vessel lid 6. The piston 2 is provided with a sample insertion hole 7 penetrating vertically, and the injection hole 7 is closed by a piston lid 8.
A first screw hole 9 is formed in the upper wall of the pressure vessel 1, and a first ball screw 10 is screwed into the screw hole 9. The upper end of the ball screw 10 is connected to a first motor 12 fixed on the upper surface of the support plate 11. A plurality of columns 13 extending downward are fixed to the support plate 11, and the columns 13 slidably penetrate the pressure vessel lid 6, the piston lid 8, and the piston 2 and extend to the air phase 3. Here, as shown in FIG. 4, four columns 13 are arranged around the sample introduction hole 7, and the space between the column 13 and the piston 2 is hermetically sealed. A stage 14 is fixed to the lower end of the column 13, and the sample W is mounted on the stage 14.
A screw hole 2a and a screw insertion hole 8a are formed on the upper surface of the piston 2 and the flange portion of the piston lid 8, respectively, and a screw 15 is screwed into the screw hole 2a via the screw insertion hole 8a, thereby making the piston The lid 8 is fixed to the piston 2 and the sample insertion hole 7 is closed. The method of fixing the piston 2 and the piston lid 8 is not limited to the method using the screw 15.
[0019]
A guide shaft 16 is provided upright on the upper surface of the pressure vessel 1, and a second ball screw 17 parallel to the guide shaft 16 is screwed through a second screw hole 18 provided in the upper wall of the pressure vessel 1. It is rotatably connected to the piston 2. A second motor 19 is connected to an upper end of the second ball screw 17, and the motor 19 is fixed on a support plate 20 slidable with respect to the guide shaft 16.
A pressure gauge 21 is connected to an upper side wall of the pressure vessel 1, particularly, a side wall corresponding to the air phase 3, and a purge port 22 is provided. The purge port 22 is provided with an on-off valve 23.
The data of the pressure gauge 21 is sent to a controller 24, which controls the first motor 12, the second motor 19, and the on-off valve 23.
[0020]
Next, the operation of the sealing test apparatus having the above configuration will be described with reference to FIGS.
First, before starting the gross leak test, the pressure in the pressure vessel 1 is reduced, and the gas dissolved in the test liquid F is degassed. When the test liquid F is fluorocarbon, the test is performed until the generation of air bubbles disappears. However, the test is preferably performed at 500 Pa or less for 20 minutes or more.
Next, after the sample W is placed on the stage 14 as shown in FIG. 5A, the sample insertion hole 7 is closed by the piston lid 8 and the opening 5 is closed by the pressure vessel lid 6. Then, the first motor 12 is driven to stop the stage 14 immediately above the test solution F. At this stage, the pressure of the air phase 3 is normal pressure, and the on-off valve 23 of the purge port 22 is closed.
Next, as shown in FIG. 5B, the second motor 19 is driven to lower the piston 2 and compress the air phase 3. At this stage, the stage 14 on which the sample W is placed is in the air phase 3, and the internal pressure of the sample W increases. The air pressure of the air phase 3 is measured by the pressure gauge 21.
Next, while the air phase 3 is compressed as shown in FIG. 5C, the first motor 12 is driven to lower the stage 14, and the sample W is immersed in the test liquid F. That is, the sample W is immersed in the test liquid F with the internal pressure increased. At this time, whether or not bubbles are generated from the sample W through the monitor window 4 is observed.
Next, as shown in FIG. 6A, the on-off valve 23 of the purge port 22 is opened to return the air phase 3 to normal pressure. However, since the sample W whose internal pressure has increased is immersed in the test solution F, there is no change in the internal pressure of the sample W. Also at this time, the generation of bubbles from the sample W is observed.
Finally, as shown in FIG. 6B, the purge port 22 is closed, the second motor 19 is driven to raise the piston 2, and the air phase 3 is expanded. Therefore, the pressure of the air phase 3 is reduced. At this stage, since the internal pressure of the sample W is still high and the pressure applied to the test solution F is reduced, if there is a leak in the sample W, the bubbles B expand and easily escape from the sample W. break away. Therefore, by observing the bubble B from the monitor window 4, the sealing property of the sample W can be easily evaluated.
[0021]
An experiment was performed using the test apparatus under the following conditions.
Sample pressurization pressure: 2 × 10 5 Pa (2 atm) or more Sample pressurization time: 10 sec or more Purge time: about 1 sec
Gross leak test pressure: 10 3 Pa (0.01 atm) or less Gross leak test temperature: 50 ° C. or less Sample W has a structure shown in FIG. 1A or FIG. When a small electronic component having a size of 0.6 × 0.7 mm and an internal volume of 2.52 × 10 −11 m 3 was used, the standard equivalent leak rate was 7.3 × 10 −8 Pa · m 3 / s to 2.9. A leak in the range of × 10 −1 Pa · m 3 / s was detected.
That is, according to the present invention, it is possible to detect a small component, a small leak or a large leak that could not detect bubbles by the method of Patent Document 1 according to the present invention.
Of course, the test conditions vary depending on the size of the standard equivalent leak rate to be detected and the size of the internal volume of the sample.
[0022]
FIG. 7 shows a conventional example using an electronic component having a small internal volume (internal volume: 2.52 × 10 −11 m 3 ) and an electronic component having a large internal volume (internal volume: 4.62 × 10 −10 m 3 ). FIG. 4 shows the relationship between the gross leak test pressure and the leak rate in the method (Patent Document 1) and the method of the present invention.
Here, the standard equivalent leak rate means that when the high pressure side is 1 atm (760 mmHg or 1.013 × 10 5 Pa) and the low pressure side is 1 mmHg (133 Pa) or less, the ambient temperature is 25 ° C. It is defined by the amount of air (Pa · m 3 ). Note that both the conventional method and the present invention were carried out under the same conditions as described above (provided that the pressure was 4 atm).
As is clear from FIG. 7, in the case of the conventional method, air bubbles can be confirmed at around normal pressure if the electronic component has a large internal volume, but if the electronic component has a small internal volume, 70 kPa (0.7 atm.) ) Bubbles cannot be confirmed unless the pressure is reduced below.
Further, also affected by the magnitude of the leak, the internal volume is small parts, only the range of 1.11 × 10 -7 Pa · m 3 /s~6.26×10 -2 Pa · m 3 / s bubble Cannot be generated, and it is difficult to evaluate a leak smaller or larger than this.
On the other hand, in the method of the present invention, bubbles can be confirmed even at normal pressure regardless of the size of the internal volume. Moreover, in the part internal volume is small, it is possible to generate bubbles within the 9.58 × 10 -10 Pa · m 3 /s~7.34×10 -2 Pa · m 3 / s. That is, bubbles could be generated in a wider range of leak sizes than in the conventional example.
[0023]
FIG. 8 shows a second embodiment of the sealing test apparatus according to the present invention. The same parts as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and redundant description will be omitted.
In this embodiment, an air pressure source 30 and a vacuum source 32 are connected to the pressure vessel 1 instead of the piston, and on-off valves 31 and 33 are provided therebetween. A pressure pump or a compression cylinder can be used as the air pressure source 30, and a vacuum pump can be used as the vacuum source 32. The operation of this test apparatus is the same as in FIGS. 5 and 6, and the description of the operation will be omitted.
In this case, since there is no piston that slides inside the pressure vessel 1, the pressure vessel 1 can be downsized, and the second motor for driving the piston can be omitted, so that the structure can be simplified.
[0024]
In the above embodiment, the motors 12 and 19 and the ball screws 10 and 17 are used as the operation mechanism of the stage 14 and the piston 2, but other operation mechanisms such as a fluid pressure cylinder and a voice coil motor may be used. It is.
The method of observing bubbles from the sample is not limited to visual observation, but may be a method of automatically observing and evaluating bubbles using an imaging camera and an image processing device.
Further, in the first embodiment, the operation of the piston 2, the elevation of the stage 14, the opening and closing of the purge port 22, and the like are automatically controlled by the controller 24. However, these operations may be performed manually. .
[0025]
As shown in FIG. 2, when the leak size is equal to or larger than a certain size, buoyancy is not obtained enough for bubbles to separate from the leak portion, and the bubbles remain in the leak portion. Therefore, a means for applying a slight vibration to the sample W immersed in the test liquid F may be provided in order to promote the separation of the bubbles. For example, the vibrator may be connected to the stage 14 supporting the sample W via vibration transmitting means.
The specific conditions for applying the vibration may be set as follows, for example.
Frequency: 100 to 700 Hz, Power: Peak output 80 mW, Waveform: Sine wave, Holding time: 10 sec
In this case, bubbles can be forcibly released by applying vibration to the sample, and in combination with the bubble generation technology by pressurization and decompression in the present invention, it is possible to measure from a minimum leak size to a maximum leak size, The detection accuracy of the sealing property can be improved.
[0026]
As the pressurizing means and the depressurizing means, the piston 2 and its operating mechanism are used in the first embodiment (see FIG. 3), and the pneumatic source 30 and the vacuum source 32 are used in the second embodiment (FIG. 8). One embodiment may be combined with the means of the second embodiment. For example, the piston 2 and the pneumatic source 30 may be used together as the pressurizing means of the first embodiment, and the piston 2 and the vacuum source 32 may be used together as the depressurizing means.
[0027]
Examples of the sample to which the sealing test method according to the present invention can be applied include, in addition to general electronic components, a BAW (Bulk Acoustic Wave) filter and a MEMS (Micro Electro Mechanical System) module, specifically, a silicon gyro, an optical Switch, millimeter wave radar switch, etc.
All of the above products have an extremely small internal volume of 10 −10 m 3 or less, and all use Pyrex (registered trademark) glass, so that He gas permeates and background noise increases, This is because minute leaks cannot be sorted out.
[0028]
【The invention's effect】
As is clear from the above description, according to the present invention, after increasing the internal pressure of the sample, the sample is immersed in the liquid while the internal pressure is increased, and the pressure is reduced in the liquid immersion state to generate bubbles. Since the observation is performed, bubbles generated from the sample can be expanded, and the generation of bubbles can be promoted. Therefore, the sealing property can be accurately evaluated over a wide range with respect to the size of the sample and the size of the leak.
In addition, since the pressurization and the decompression can be performed in the same pressure vessel, the internal pressure of the sample does not decrease between the pressurization of the sample and the depressurization. Therefore, the degree of expansion of the bubble can be increased, and the detection accuracy can be improved.
Further, since sufficient detection ability can be obtained at room temperature, it is possible to suppress the evaporation of the test liquid and improve the working efficiency.
[0029]
If the method of the present invention is applied to an electronic component having an internal volume of 10 −10 m 3 or less as in claims 7 and 8, the sealing performance can be improved even for a small electronic component that has been difficult to determine in the past. An electronic component that can be accurately determined and has good sealing properties can be manufactured.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a cross-sectional view of a package structure of two types of general electronic components.
FIG. 2 is a diagram illustrating a mechanism of generation of bubbles from a sample.
FIG. 3 is a structural diagram of a first embodiment of a sealing test apparatus according to the present invention.
FIG. 4 is an enlarged sectional view taken along line AA of FIG. 3;
FIG. 5 is a process chart showing the first half of the sealing test method in the present invention.
FIG. 6 is a process chart showing the latter half of the sealing test method in the present invention.
FIG. 7 is a diagram showing the relationship between the reduced pressure and the standard equivalent leak rate depending on the size of the internal volume.
FIG. 8 is a structural diagram of a second embodiment of the sealing test apparatus according to the present invention.
[Explanation of symbols]
Reference Signs List 1 pressure vessel 2 piston 3 air phase 10 ball screw 12 motor 14 stage 17 ball screw 19 motor 21 pressure gauge 22 purge port W sample (electronic component)
F test liquid

Claims (8)

試験液を貯留した圧力容器内の空気相に試料を配置する工程と、
上記圧力容器内の空気相を所定の正圧まで加圧する工程と、
上記空気相を加圧した状態のまま試料を試験液中に浸漬する工程と、
上記空気相を所定の負圧まで減圧する工程と、
減圧状態で試験液中の試料から発生する気泡の有無により、試料の封止性能を評価する工程と、を備えたことを特徴とする封止試験方法。
Arranging the sample in the air phase in the pressure vessel storing the test solution,
Pressurizing the air phase in the pressure vessel to a predetermined positive pressure,
A step of immersing the sample in a test solution while the air phase is pressurized,
Depressurizing the air phase to a predetermined negative pressure,
A step of evaluating the sealing performance of the sample based on the presence or absence of bubbles generated from the sample in the test solution under reduced pressure.
上記空気相を加圧する工程は、上記圧力容器内の容積を圧縮することで行うことを特徴とする請求項1に記載の封止試験方法。The sealing test method according to claim 1, wherein the step of pressurizing the air phase is performed by compressing a volume in the pressure vessel. 上記空気相を減圧する工程は、上記圧力容器内の容積を膨張させることで行うことを特徴とする請求項1または2に記載の封止試験方法。The sealing test method according to claim 1, wherein the step of reducing the pressure of the air phase is performed by expanding a volume in the pressure vessel. 試験液を貯留し、試験液の上部に空気相を持つ圧力容器と、
試料を上記圧力容器内の空気相に配置した状態で、空気相を所定の正圧まで加圧する加圧手段と、
上記空気相を加圧した状態のまま試料を試験液中に浸漬させる移動機構と、
上記試料を試験液中に浸漬した状態で空気相を所定の負圧まで減圧する減圧手段とを備え、
減圧状態での試験液中の試料から発生する気泡を観察可能としたことを特徴とする封止試験装置。
A pressure vessel that stores the test solution and has an air phase above the test solution;
Pressurizing means for pressurizing the air phase to a predetermined positive pressure while the sample is arranged in the air phase in the pressure vessel,
A moving mechanism for immersing the sample in the test solution while the air phase is pressurized,
Decompression means for reducing the air phase to a predetermined negative pressure while the sample is immersed in the test solution,
A sealing test apparatus characterized in that bubbles generated from a sample in a test solution under reduced pressure can be observed.
上記加圧手段は、上記圧力容器内の容積を可変するシリンダであることを特徴とする請求項4に記載の封止試験装置。The sealing test apparatus according to claim 4, wherein the pressurizing means is a cylinder that changes a volume in the pressure vessel. 上記減圧手段は、上記圧力容器内の容積を可変するシリンダであることを特徴とする請求項4または5に記載の封止試験装置。The sealing test apparatus according to claim 4, wherein the pressure reducing unit is a cylinder that changes a volume in the pressure vessel. 内容積が10−10 以下の電子部品を組み立てる工程と、
上記電子部品を試料として請求項1ないし3のいずれかに記載の封止試験方法を実施する工程と、を含む電子部品の製造方法。
Assembling an electronic component having an internal volume of 10 −10 m 3 or less;
4. A method of manufacturing an electronic component, comprising: performing the sealing test method according to claim 1 using the electronic component as a sample.
内容積が10−10 以下の電子部品であって、
上記電子部品を試料として請求項1ないし3のいずれかに記載の封止試験方法を実施してなることを特徴とする電子部品。
An electronic component having an internal volume of 10 −10 m 3 or less,
4. An electronic component obtained by performing the sealing test method according to claim 1 using the electronic component as a sample.
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