JP2004239736A - 電磁界特性解析方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】複雑な構造の高周波機器をより精度高く、且つ、少ないメモリ容量、短い計算時間で解析することができる電磁界特性解析方法を提供する。
【解決手段】FDTD法により電磁界特性をシミュレーションする電磁界特性解析方法において、不等間隔メッシュを用いて解析空間を構成し、解析空間の吸収境界条件としてUPMLを用い、吸収境界におけるメッシュ間隔を異にする一方のメッシュ領域の磁界と他方のメッシュ領域の磁界を用いてこれら両磁界の間に補間して仮想磁界成分を得、この仮想磁界成分を用いて解析を進める電磁界特性解析方法。
【選択図】 図1

Description

【0001】
【産業上の利用分野】
この発明は、電磁界特性解析方法に関し、特に、複雑な構造の電磁波エネルギの授受を行う高周波機器の電磁界特性をより精度高く、且つ、少ないメモリ容量、短い計算時間で解析することができる電磁界特性解析方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
電磁波エネルギの授受を行う高周波機器の内のアンテナの電磁界特性をシミュレーション解析するFDTD(Finite Difference Time Domain)法の従来例を図14および図15を参照して説明する。
FDTD法は波源である解析対象物1を囲む解析空間10をとり、この解析空間10とその内部との間に灰色で示される吸収境界20をとる。吸収境界20を除いた解析空間をFDTD領域30とする。なお、図14および図15は3次元空間を説明する図であるが、都合上、これを2次元平面で表示している。そして、吸収境界20を含めて解析空間10全体を微小な直方体であるセルに分割する。次いで、全セルに対してマクスウェルの微分方程式(1)、(2)を適用して定式化するが、その基本はK.S. Yeeのアルゴリズムにある(非特許文献1、2 参照)。
【0003】
ここで、電界E(V/m)、磁界H(A/m)、電束密度D(C/m)、磁束密度B(T)とし、その源である電荷密度、電流密度をそれぞれρ(C/m)、J(A/m)とすると、
▽×E(r、t)=−dB(r、t)/dt・・・・・・・・・(1)
▽×H(r、t)=dD(r、t)/dt÷J(r、t)・・・(2)
FDTD領域30とその外部との間の境界は、到達した電磁波を吸収して反射しないという要件を満足する必要がある。この要件を満足する境界を上述した通りの吸収境界20と呼んでいる。空間の解析は、この吸収境界20の吸収条件を設定してから実行する。この条件を吸収境界条件と称している。吸収境界条件としては、特に、Murの吸収境界条件、BerengerのPML吸収境界条件、Uniaxial PML(UPML)吸収境界条件がよく適用される(非特許文献3 参照)。
【0004】
Murの吸収境界条件は、アルゴリズムが簡単で、代表的な吸収境界条件ということができる。一次近似の場合は境界面に垂直な電磁波しか吸収することができないが、二次近似の場合は傾斜して入射する電磁波も吸収することができる。Murの吸収境界条件を採用する場合、計算機に必要とされるメモリ量は少ないが、精度の高い計算をするには解析空間に吸収境界を含めた領域を大きくする必要がある。
BerengerのPML吸収境界条件は、境界面に傾斜して入射する電磁波に対してもインピーダンスマッチング条件を満足する非物理的な媒質をモデル化したものである。Murの吸収境界条件とは逆に、計算機に必要とされるメモリ量は多いが、電磁波吸収性能が良好であり、現在のところ最も有効な吸収境界条件であるとされている。
【0005】
UPML吸収境界条件は、誘電率テンソルが対角成分のみを有する一軸異方性媒質(誘電体)をモデル化したものである。BerengerのPML吸収境界条件と数学的に等価の吸収境界条件であるが、計算機に必要とされるメモリ量が少ない点を特徴としている。
ここで、FDTD解析メッシュとしては、格子間隔が等しい等間隔メッシュ或いは格子間隔が等しくない不等間隔メッシュが使用されている。図14の従来例は格子間隔が等しい等間隔メッシュを示し、図15の従来例は格子間隔が等しくない不等間隔メッシュを示す。図15の不等間隔メッシュ場合、比較的複雑な或いは微細な形状構造を有するアンテナについても、形状構造の複雑さ或いは微細さに対応してメッシュの一部を細かく不均一にすることにより対応することができる。しかし、この場合、吸収境界条件は、先に説明したMurの吸収境界条件、BerengerのPML吸収境界条件を適用することはできるが、計算機に必要とされるメモリ容量が少なくて済むUPML吸収境界条件を適用することはできなかった。
【0006】
一方、図14の等間隔メッシュの場合は、計算機に必要とされるメモリ容量が少なくて済むUPML吸収境界条件を吸収境界条件として使うことができるが、等間隔メッシュであるところから、複雑な或いは微細な形状構造を有するアンテナの解析には不適当であり、これに対処するには吸収境界を含む解析空間全体を細かいメッシュで構成することになる。メッシュを細かくするということはセルの数を増大することであり、これは計算機に必要とされるメモリ量を増大することにつながる。即ち、セル1個当り、磁界および電界のそれぞれについて、xyz3成分のメモリ量を必要とし、合計6成分のメモリ量を必要とすることになり、非常に多くのメモリ容量を必要とするに到ると共に、当然に計算時間も膨大なものとなる。そして、不等間隔メッシュにメモリ容量が少なくて済むUPML吸収境界条件をそのまま適用すると、吸収境界の不等間隔メッシュ部分で磁界の位置にずれが生じ、解析することができなくなる。また、図8を参照するに、タイムステップを横軸にとった給電電流の時間応答を計算してみると、計算は途中で発散するという問題も生起する。
なお、この出願の発明に関連のある技術内容を掲載した特許公報も発行されている(特許文献1 参照)。
【0007】
【特許文献1】
特開2001−183404公報
【非特許文献1】
K. S. Yee,”Nuinberical solution of initial boundary value problems involving Maxwell’s equations in isotropic media”,IEEE Trans. Antennas andPropagation, Vol. 14, pp. 302 − 307, 1966.
【非特許文献2】
宇野、「FDTD法による電磁界およびアンテナ解析」第1〜11頁、コロナ社、1998年3月
【非特許文献3】
Z. S. Sacks, D. M. Kingsland, R. Lee and J. F. Lee,”A perfectly matched anisotropic absorber for use as an absorbing boundary condition”,IEEE Trans. Antennas and Propagation, Vol. 48, pp. 1460 − 1463, 1995.
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
上述した通り、従来のFDTD法においては、複雑なアンテナを解析するには多大なメモリ容量を必要としていた。FDTD法において計算機に必要とされるメモリ容量を削減しようとして、メモリ容量が少なくて済むUPML吸収境界条件を不等間隔メッシュの解析空間にそのまま適用しようとしても、吸収境界の不等間隔メッシュ部分で磁界の位置にずれが生じ、解析することができなくなる。また、タイムステップを横軸にとった給電電流の時間応答を計算してみると、計算は途中で発散するという問題も生起する。
この発明は、不等間隔メッシュを用いて解析空間を構成し、解析空間の吸収境界条件としてUPMLを用いることにより、上述の問題を解消した電磁界特性解析方法を提供するものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】
FDTD法により電磁界特性をシミュレーションする電磁界特性解析方法において、不等間隔メッシュを用いて解析空間を構成し、解析空間の吸収境界条件としてUPMLを用いる電磁界特性解析方法を構成した。
先の電磁界特性解析方法において、吸収境界におけるメッシュ間隔を異にする一方のメッシュ領域の磁界と他方のメッシュ領域の磁界を用いてこれら両磁界の間に補間して仮想磁界成分を得、この仮想磁界成分を用いて解析を進めることを電磁界特性解析方法を構成した。
直前の電磁界特性解析方法において、一方のメッシュ領域の磁界に直交する幅をLa、その磁界をHy(I、J、K)とし、他方のメッシュ領域の磁界に直交する幅をLb、その磁界をHy(I+1、J、K)とした時、補間磁界として
Figure 2004239736
を算出し、この補間磁界H’y(I、J、K)を次の半タイムステップ後、電界Ez(I+1、J、K)を更新時に用いる磁界とする電磁界特性解析方法を構成した。
【0010】
【発明の実施の形態】
この発明の実施の形態を図1の実施例を参照して説明する。
図1において、1は解析対象物、2は不等間隔メッシュ、3は吸収境界、4は磁界の補間メッシュ部分である。解析対象物1は電磁波エネルギの授受を行う高周波機器より成る。以下、これを、特に、アンテナであるものとして説明する。
図2は磁界の補間メッシュ領域を拡大して説明する図である。Hy(I、J、K)はメッシュの粗い部分Aの領域の磁界であり、Hy(I+1、J、K)はメッシュの細かい部分Bの領域の磁界である。即ち、図2は図1の補間メッシュ部分4を反時計回りに90°回転した場合の拡大図を示している。ここで、FDTD法の従来例においては各メッシュの中央に磁界Hyを設定する。これにより、2つの磁界を用いて次の半タイムステップで電界Ez(I+1、J、K)を導出しようとすると、所望のメッシュの縁に位置する電界とはならない。本来必要な電界Ez(I+1、J、K)を導出するには、磁界H’y(I、J、K)をこの発明により図3に示される位置に置く必要がある。即ち、この磁界H’y(I、J、K)の位置とは、Ez(I+1、J、K)に関してHy(I+1、J、K)とは反対側に対称な位置である。この磁界H’y(I、J、K)は以下の式により求めることができる。
Figure 2004239736
但し、a=La/Lb(La:メッシュの粗い領域のメッシュの長さ、
Lb:メッシュの細かい領域のメッシュの長さ)
従って、H’y(I、J、K)を計算するステップを導入することにより、問題なく解析を実行することができる。この解析計算を実行するフローチャートを図4ないし図6に示す。図4はフローチャート全体を示す図である。図5は図4によるこの発明の計算の主要な部分を構成する「PML層内磁界の計算」に関するフローチャートであり、図6も図4によるこの発明の計算の主要な部分を構成する「PML層内電界の計算」に関するフローチャートである。
【0011】
以下、図7に示される具体的な解析モデルに対して実行した解析結果について説明する。
図7はバッチアンテナの解析モデルを示す。図示される通りの0.04λという非常に薄いアンテナの場合に、z方向についてアンテナ部分と解析部分でメッシュの大きさを変える必要があり、不等間隔メッシュを用いることが適切である。
図8は、この発明に依らない解析方法を適用して得られたタイムステップを横軸とする給電電流の時間応答であり、計算は途中で発散していることがわかる。
図9は、この発明に依る解析方法を適用して得られたタイムステップを横軸とする給電電流の時間応答であり、明らかに収束して計算が正確に行われたことがわかる。図10はこの場合に得られたリターンロス特性を示し、図11は放射パターンを示す。以上の通り、ほぼ正確な特性が得られている。
【0012】
計算機において必要とされるメモリ容量の差異を図12および図13を参照して説明する。
図12は解析空間全体10の解析に必要とするメモリ量に吸収境界20に必要とされるメモリ量が占める割合をPMLの層数を横軸にとって示す図である。FDTD領域30のセル数を100×100×100としている。図12の結果はBerengerのPMLを採用した従来例とUPMLを採用した実施例と比較した図である。PMLの層数が6層の時、従来例は吸収境界20のためのメモリ量が全体の45%を占めている。層数が増加するにつれて、吸収境界20のためのメモリ量が更に増加して行く。UPMLを採用した実施例は吸収境界20に必要とされるメモリ量を全体として約15〜20%削減することができることを示している。
【0013】
図13は吸収境界20を含めた解析空間全体10に必要とするメモリ量をFDTD領域30の一辺のセル数を横軸にとって示す図である。PMLの層数を6層としている。図13の結果は、BerengerのPMLを採用した従来例と、UPMLを採用した実施例と、FDTD領域30のみの時のメモリ量を比較した図である。FDTD領域30の一辺のセル数が増加するにつれて、解析空間全体10に必要とされるメモリ量が大幅に増加して行く。FDTD領域30の一辺のセル数が300の時、従来例は吸収境界20のためのメモリ量、即ち、点線から一点鎖線を引いた値が約150Mbyteであるのに対して、実施例は吸収境界20のためのメモリ量、即ち、実線から一点鎖線を引いた値が約75Mbyteに下げることができた。吸収境界20に必要なメモリ容量を約50%削減することができる。
ところで、以上の図示説明においては、アンテナを例にとってアンテナから放射される電磁界の特性をシミュレーションする説明をしてきたが、この発明はアンテナに限らずに電磁波エネルギの授受を行う高周波機器一般に適用して実施することができる。
【0014】
【発明の効果】
上述した通りであって、この発明に依れば、不等間隔メッシュを用いて解析空間を構成し、解析空間の吸収境界条件としてUPMLを用いて電磁波エネルギの授受を行う高周波機器の電磁界特性を解析することにより、複雑な形状構造の高周波機器の電磁界特性を精度よく、且つ、計算機に必要とされるメモリ容量を少なく特性解析を実行することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例を説明する図。
【図2】磁界の補間メッシュ領域を拡大して示した図。
【図3】補間を説明する図。
【図4】解析計算を実行するフローチャート。
【図5】図4のフローチャートの一部を示す図。
【図6】図4のフローチャートの他の一部を示す図。
【図7】解析の対象とするアンテナのモデル。
【図8】給電電流の時間応答を示す図。
【図9】実施例の給電電流の時間応答を示す図。
【図10】リターンロス特性を示す図。
【図11】放射パターンを示す図。
【図12】解析空間全体に必要とされるメモリ量に占める吸収境界に必要とされるメモリ量の割合をPMLの層数を横軸にとって示す図。
【図13】計算機において解析に必要とされるメモリ容量を示す図。
【図14】等間隔メッシュの解析空間を説明する図。
【図15】不等間隔メッシュの解析空間を説明する図。
【符号の説明】
1 解析対象物 2 不等間隔メッシュ
3 吸収境界 4 磁界の補間メッシュ部分

Claims (3)

  1. FDTD法により電磁界特性をシミュレーションする電磁界特性解析方法において、
    不等間隔メッシュを用いて解析空間を構成し、解析空間の吸収境界条件としてUPMLを用いることを特徴とする電磁界特性解析方法。
  2. 請求項1に記載される電磁界特性解析方法において、
    吸収境界におけるメッシュ間隔を異にする一方のメッシュ領域の磁界と他方のメッシュ領域の磁界を用いてこれら両磁界の間に補間して仮想磁界成分を得、この仮想磁界成分を用いて解析を進めることを特徴とする電磁界特性解析方法。
  3. 請求項2に記載される電磁界特性解析方法において、
    一方のメッシュ領域の磁界に直交する幅をLa、その磁界をHy(I、J、K)とし、他方のメッシュ領域の磁界に直交する幅をLb、その磁界をHy(I+1、J、K)とした時、補間磁界として
    Figure 2004239736
    を算出し、この補間磁界H’y(I、J、K)を次の半タイムステップ後、電界Ez(I+1、J、K)を更新時に用いる磁界とすることを特徴とする電磁界特性解析方法。
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