JP2004214403A - Stacked semiconductor device - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は積層型半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年の電子機器の発達にともない、電子機器に使用される半導体装置には小型化、薄型化、多機能化、高機能化、高密度化が要求されている。このような要求に対処すべく、複数の回路基板を積層した積層型半導体装置が提案されている(例えば、特許文献1、2参照) 。半導体素子が載置された第1の配線基板を、半導体素子が載置された第2の配線基板の上に配置して積層してなる積層型半導体装置が提案されている。
【0003】
第1の配線基板と第2の配線基板とを積層してなる積層型半導体装置においては、複数の電極端子が第1の配線基板と第2の配線基板とを電気的に接続する。典型的には、電極端子ははんだボールからなる。はんだボールの大きさを半導体素子の厚さより大きくし、はんだボールが第1の配線基板と第2の配線基板との間の間隔を維持するスペーサの作用をするようにした提案がある(特許文献1参照)。
【0004】
積層型半導体装置はさらにマザーボード等の外部配線基板に搭載される。積層型半導体装置の配線基板の材料が外部配線基板の材料と異なっていると、両者の熱膨張の差によって積層型半導体装置の第1の配線基板と第2の配線基板とを電気的に接続する電極端子が疲労する。そこで、これらの電気的に接続する電極端子とは別に、電気的に接続しない補助電極端子を設け、電気的に接続する電極端子の疲労を緩和する提案がある(特許文献2参照) 。
【0005】
【特許文献1】
特開2001−223297号公報
【特許文献2】
特開2002−170924号公報(第2〜3頁)
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
配線基板とを積層した積層型半導体装置はその搬送(運搬)、試験等に於ける取扱い(ハンドリング)ならびに電子機器のプリント基板、マザーボード等への高密度実装のために、直方体とするのが好ましく、そこで、積層型半導体装置においては、第1の配線基板の外形と第2の配線基板の外形とを等しく形成し、両者が積層されてなる積層型半導体装置を上方から見たときに第1の配線基板の外形と第2の配線基板の外形とが全く重なって見えるような構造にする。
【0007】
しかし、積層時に第1の配線基板と第2の配線基板との間に位置ずれが生じると、第1の配線基板の外形の一部が第2の配線基板の外形から突出し(あるいは逆に第2の配線基板の外形の一部が第1の配線基板の外形から突出し)、積層型半導体装置の外形寸法公差が大きくなる。積層する配線基板の数が増加すると、積層型半導体装置の外形寸法公差がさらに大きくなる可能性がある。
【0008】
図5は従来の積層型半導体装置を上から見た略断面図である。上方の配線基板12aと中間の配線基板14aとは同じ外形形状及び外形サイズを有する。この場合、図5に示されるように、上方の配線基板12aと中間の配線基板14aとを積層する際に両者間に位置ずれがあると、中間の配線基板14aの一部が見える、すなわち、中間の配線基板14aの一部が上方の配線基板12aから突出する。このために、積層型半導体装置の側面に人の指や工具を当ててハンドリングする場合、指や工具が突出した配線基板の外形の一部に当たり、1枚の基板に応力が集中して、配線基板にクラックが生じやすい。
【0009】
このため、積層型半導体装置をハンドリングする場合に問題が生じる。
【0010】
例えば、積層型半導体装置を収容するトレー又は半導体装置を輸送する際に用いるトレーについて、半導体装置の外形寸法公差が大きくなると、それに合わせてトレーの寸法も大きくする必要がある。すると、トレー内での積層型半導体装置のガタツキが大きくなり、輸送時に積層型半導体装置に加わる振動が増大し、配線基板にクラックが生じやすくなる。
【0011】
積層型半導体装置を試験用のソケットに載せる場合には、積層型半導体装置の基準位置がソケットの基準位置に合っていないと、端子間の位置ずれが生じる。
【0012】
積層型半導体装置の側面に人の指や工具を当ててハンドリングする場合、突出した配線基板に応力が集中するため、配線基板にクラックが生じやすい。
【0013】
配線基板が樹脂ガラス−エポキシ樹脂複合材料やガラス−BT(ビスマレイミド・トリアジン)樹脂複合材料等の有機基板で作られている場合、そして特に配線基板の厚さが薄い(例えば0.1mm〜0.3mm)場合は特に外力に対して弱いため、配線基板にクラックが生じやすい。
【0014】
又、配線基板の位置ずれがあると、積層型半導体装置の外形を画像認識して取り扱う場合、画像認識のずれが大きくなり、自動化処理できない問題も発生する。
【0015】
本発明は、このような積層型半導体装置において配線基板へのクラックの発生を防止することができる積層型半導体装置を提供するものである。
【0016】
【課題を解決するための手段】
本発明による積層型半導体装置は、少なくとも1つの半導体素子を有する第1の配線基板と、該第1の配線基板の上又は下に積層され且つ少なくとも1つの半導体素子を有する第2の配線基板と、前記第1の配線基板と前記第2の配線基板とを電気的に接続する複数の電極端子とを備え、前記第1の配線基板の外形が前記第2の配線基板の外形よりも大きく、前記第2の配線基板の外形が前記第1の配線基板の外形の範囲内に収まるように形成され、前記第1の配線基板の前記第2の配線基板よりも外側の領域には電極端子が配置されていないことを特徴とするものである。
【0017】
この構成によれば、第1の配線基板の外形は基本的に第2の配線基板の外形とほぼ同じに形成されているが、第1の配線基板の外形が第2の配線基板の外形よりも両者間の位置ずれ量を吸収できる程度に少しだけ大きく形成されている。第1の配線基板の第2の配線基板よりも外側の領域は位置ずれを吸収する領域であるので、そこには電極端子が設けられない。従って、第1の配線基板と第2の配線基板とを積層したときに、両者間に位置ずれがあっても、積層型半導体装置を上から見たときに、小さい第2の配線基板は大きい第1の配線基板の外形の範囲内に収まる。従って、第1の配線基板の外形を基準にしてハンドリングを行うことができる。
【0018】
好ましくは、前記第1の配線基板の少なくとも1つの半導体素子が設けられた表面が樹脂で封止されており、前記封止樹脂の外形が前記第1の配線基板の外形と等しい。こうすれば、大きい第1の配線基板が封止樹脂により強化されており、且つハンドリングに際して人の指や工具が第1の配線基板の側面及び封止樹脂の側面に接触し、第2の配線基板の側面には接触しないため、配線基板のクラックの発生をより低減できる。
【0019】
さらに、本発明による積層型半導体装置は、少なくとも1つの半導体素子を有する第1の配線基板と、該第1の配線基板の上又は下に積層され且つ少なくとも1つの半導体素子を有する第2の配線基板と、前記第1の配線基板と前記第2の配線基板とを電気的に接続する複数の電極端子とを備え、前記第1及び第2の配線基板が有機基板からなり、前記第1の配線基板と前記第2の配線基板とを機械的に固定する支持部材が前記第1及び第2の配線基板の四隅を含む周辺領域に設けられることを特徴とする。
【0020】
この構成によれば、支持部材が配線基板の四隅を含む周辺領域に設けられ、配線基板の突出した部分がある場合にもクラックしにくいようになっている。従って、配線基板が外力に対して弱い有機基板からなるものであっても、配線基板のクラックの発生を防止することができる。
【0021】
【発明の実施の形態】
以下本発明の実施例について図面を参照して説明する。
【0022】
図1は本発明の第一実施例の積層型半導体装置を示す断面図である。図1において、積層型半導体装置10は、上方(第1)の配線基板12と、中間(第2)の配線基板14と、下方(第3)の配線基板16とを積層して構成されている。これらの配線基板12、14、16は、コアが樹脂ガラス−エポキシ樹脂複合材料あるいはガラス−BT(ビスマレイミド・トリアジン)樹脂複合材料等の有機基板から形成され、その内部及び/又は表面に銅(Cu)などからなる電極/配線層が配設されている。
【0023】
上方の配線基板12には半導体素子(半導体チップ)18が搭載されている。半導体素子18はバンプ20を有し、バンプ20で上方の配線基板12にフリップチップボンディングされている。半導体素子18と配線基板12は接着剤22によって固着されている。
【0024】
配線基板12の下面(半導体素子18が搭載されている側とは反対側の表面)には、はんだボールからなる電極端子24が配設されている。はんだボール24は前記配線層を介して半導体素子18に電気的に接続されている。
【0025】
同様に、中間の配線基板14には半導体素子26が搭載されている。当該半導体素子26はバンプ28を有し、バンプ28で中間の配線基板14にフリップチップボンディングされている。半導体素子26と中間の配線基板14は接着剤30によって固着されている。配線基板14の下面には、外部接続電極32が配設されている。外部接続電極32は前記配線層を介して半導体素子26に電気的に接続されている。
【0026】
配線基板12のはんだボール24は配線基板12と配線基板14とを電気的に接続している。はんだボール24の大きさは半導体素子26の厚さより大きく、配線基板12と配線基板14との間の間隔を維持するスペーサの作用もする。
【0027】
同様に、配線基板16には半導体素子34が搭載されている。当該半導体素子34はバンプ36を有し、バンプ36によって配線基板16にフリップチップボンディングされている。半導体素子34と下方の配線基板16は接着剤(アンダーフィル)38によって固着されている。配線基板16の下面には外部接続電極40が取りつけられている。外部接続電極40は前記配線層を介して半導体素子34に電気的に接続されている。
【0028】
前記配線基板14の外部接続電極32は当該配線基板14と配線基板16とを電気的に接続するとともに、両配線基板間の間隔を維持している。
【0029】
下方の配線基板16の外部接続電極40はマザーボード等の外部配線基板(図示せず)に電気的に接続される。
【0030】
第1の実施例にあっては、中間の配線基板14と下方の配線基板16とは同じ外形形状及び外形サイズ(寸法)を有する。
【0031】
一方、配線基板12は配線基板14及び配線基板16とは基本的に同じ外形形状を有するものの、配線基板12の外形サイズは配線基板14、16の外形サイズよりも若干大きなものとされる。従って、配線基板14、16の外形は、配線基板12の外形の範囲内に収まる。
【0032】
図4は第1実施例の積層型半導体装置10を上から見た平面図である。
【0033】
同図において、配線基板12のサイズは11.1mm×15.1mmであり、配線基板14、16のサイズは11mm×15mmである。配線基板12と、配線基板14、16との寸法差0.1mmは、配線基板相互の位置ずれを吸収するものであって配線基板12のサイズを11.2mm×15.2mmとして、位置ずれの吸収量を拡大することもできる。このような構成により配線基板14、16は配線基板12の外形の範囲内に収容され、積層型半導体装置10を上から見た時、配線基板14、16は配線基板12から突出している部分がない。
【0034】
本実施例によれば、配線基板12は配線基板14及び配線基板16とは基本的に同じ外形形状を有し、且つ配線基板12のサイズを配線基板14、16のサイズより大きくしている。こうすれば、配線基板12を基準として、積層型半導体装置10の形状を認識し、ハンドリングすることができるので、指や工具が予期せぬところに接触することを防止することができる。よって配線基板にクラックが生じることがない。
【0035】
図2は本発明の第2実施例の積層型半導体装置を示す断面図である。本実施例における積層型半導体装置10は、第1実施例の積層型半導体装置10と基本的に同様に構成されるが、最下段の配線基板16の外形寸法が大きくされている点が異なる。即ち、配線基板12と中間の配線基板14とは同じ外形形状及び外形サイズを有し、下方の配線基板16は上方の配線基板12と中間の配線基板14とは基本的に同じ外形形状を有するものの、その外形サイズは上方の配線基板12と中間の配線基板14の外形サイズよりも若干大きなものとされる。従って配線基板12と配線基板14の外形が配線基板16の外形の範囲内に収まる。本実施例では、下段の配線基板16の外形サイズを大きくしているため、試験時において、試験ソケットの位置あわせが容易となるメリットもある。
【0036】
第1、第2実施例においては、積層型半導体装置は3つの配線基板12、14、16を積層してなるものであったが、本発明は3つの配線基板12、14、16を積層してなる積層型半導体装置に限定されるものではなく、2つの配線基板を積層したもの、あるいは4つ以上の配線基板を積層したものとすることができる。
【0037】
また、各配線基板12、14、16はそれぞれ1つの半導体素子18、26、34を実装するものに限定されず、少なくとも1つの配線基板は複数の半導体素子を実装するものとすることができる。また、各配線基板12、14、16はそれぞれ上面側に半導体素子18、26、34を有するものに限定されず、下面側に半導体素子を有するものとすることができる。
【0038】
また、各半導体素子18、26、34は配線基板にフリップチップボンディングされるか、ワイヤボンディングされる。
【0039】
積層型半導体装置が3つ以上の配線基板を積層してなるものである場合に、最上方又は最下方の配線基板の外形サイズを最大にするのが好ましい。尚、各配線基板12、14、16は単層型配線基板又は多層型配線基板とすることができる。
【0040】
よって、トレー寸法を最大外形サイズの配線基板に合わせることで、トレー内でのガタツキをなくすことができる。さらに、第2の実施例において試験ソケットに半導体装置を装着する際、外部端子を備えた下方の配線基板を大きくして、その外形サイズで積層型半導体装置の位置決めをすると、試験時のソケットと積層型半導体装置の位置ずれが低減できる。
【0041】
図3は本発明の第3実施例の積層型半導体装置を示す断面図である。本実施例の積層型半導体装置10は、第1実施例の積層型半導体装置10と基本的に同様な構成を有し、大きい上方の配線基板12の表面は樹脂42により封止されており、封止樹脂42の外形は上方の配線基板12の外形と等しくされている。本実施例においては、上方の配線基板12には、3つの半導体素子18a、18b、18cが積層実装された構造となっており、半導体素子18aは上方の配線基板12にフリップチップボンディングされている。半導体素子18bは半導体素子18aに積層されて、半導体素子18bの接続端子は上方の配線基板12にワイヤボンディングされ、半導体素子18cは半導体素子18bに積層されて、半導体素子18cの接続端子は上方の配線基板12にワイヤボンディングされている。また、下方の配線基板16は2つの半導体素子34a、34bを実装する。
【0042】
本実施例においては、上方の配線基板12の外形サイズが最大であり、他の配線基板14、16の外形はその最大外形内に収まるように積層されている。上方の配線基板12の半導体素子18a、18b、18cが搭載された面はトランスファーモールドにより樹脂42で封止されている。封止樹脂42の外形は、配線基板12の外形と等しくされている。従って、上方の配線基板12の側面と封止樹脂42の側面は面一である。かかる接着剤の配設は、前記第1実施例、第2実施例、並びに後述する第4乃至第6実施例においても適用することができる。半導体素子26、34、34a、34bとその上にある配線基板14、16との間に接着剤を挿入することもできる。
【0043】
本実施例の積層型半導体装置10においては、第1の実施例の積層型半導体装置と同様、完成体である積層型半導体装置10の外形公差を最大外形サイズを有する上方の配線基板12の外形寸法で管理することができる。さらに、積層型半導体装置10を収容し、輸送する際、積層型半導体装置10がトレー内で振動しても上方の配線基板12及び封止樹脂42の側面がトレー内壁に接触し、他の配線基板の側面は接触しないため、クラックの発生を防止することができる。
【0044】
第1、第2、第3の実施例においては、複数の配線基板を互いに積層する際に配線基板間に位置ずれが生じても、他の配線基板が最大の配線基板の外形サイズの範囲内に収まるように積層されているので、完成体である積層型半導体装置の外形公差を最大外形サイズの配線基板の外形寸法で管理できる。
【0045】
図6は本発明の第4実施例の積層型半導体装置を示す断面図、図7は図6の積層型半導体装置の上方の配線基板のはんだボール及び支持部材を通る断面である。
【0046】
図6において、積層型半導体装置10は、それぞれ半導体素子が搭載された2枚の配線基板、即ち配線基板12と、配線基板14とを積層して構成される。これらの配線基板12、14は、コアが樹脂ガラス−エポキシ樹脂複合材料あるいは、ガラス−BT(ビスマレイミド・トリアジン)樹脂複合材料等で作られている有機基板からなる。
【0047】
上方の配線基板12には半導体素子(半導体チップ)18a、18b、18cが搭載されている。これらの半導体素子18a、18b、18cは、配線基板12にフリップチップボンディングされ、あるいはワイヤボンディングされる。上方の配線基板12の上面は樹脂42で封止される。
【0048】
上方の配線基板12の下面にははんだボール(電極端子)24が取りつけられている。上方の配線基板12は回路パターンを有し、はんだボール24は回路パターンを介して半導体素子18a、18b、18cに電気的に接続されている。
【0049】
下方の配線基板14は半導体素子26を実装し、半導体素子26は下方の配線基板14にフリップチップボンディングされている。下方の配線基板14の下面には外部接続電極32が取りつけられている。中間の配線基板14は回路パターンを有し、外部接続電極32は回路パターンを介して半導体素子26に電気的に接続されている。上方の配線基板12のはんだボール24は、上方の配線基板12と下方の配線基板14とを電気的に接続している。
【0050】
本実施例によれば、上方の配線基板12と下方の配線基板14とを機械的に固定する補強部44が上方及び下方の配線基板12、14の四隅を含む周辺領域に配設される。
【0051】
補強部44は、はんだボール24の最外側の列上またはそれより外側で上方及び下方の配線基板12、14の四隅を含む周辺領域に配設される。図7においては、補強部44ははんだボール24の外側で上方及び下方の配線基板12、14の四隅に設けられる。
【0052】
補強部44は例えば次の幾つかのグループの中の1つの材料から形成することができる。
【0053】
(a)液状のエポキシ、ポリイミド、アクリル等の絶縁性樹脂をディスペンス法やスタンピング法で形成した後に加熱硬化させて固着させたもの。
【0054】
(b)Bステージで半硬化状態とされた樹脂フィルム。
【0055】
(c)両面に粘着剤が形成されたPET等のフィルムを貼りつけた後に加熱硬化させて固着させたもの。
【0056】
(d)配線基板のコア材と同じ材料(ガラス−エポキシ樹脂、ガラス−BT樹脂)で両面に熱硬化性の接着剤が形成されたもの。
【0057】
(e)Cu、Al、W、Fe、Ni、42アロイ剤等の金属およびそれらの合金で、両面に熱硬化性の接着剤が形成されたもの。
【0058】
このように、上下の配線基板12、14の四隅が支持固定されていることにより、外的な機械的ストレスが一方の配線基板12、14の端部に加わった場合に、配線基板12、14のクラックの発生を防止することができる。
【0059】
図8から図14は第4実施例の変形例を示す図である。
【0060】
図8に示される例においては、配線基板12、14の一辺の長さに相当する長い補強部44が、配線基板12、14の対向する2辺に沿って配置される。これにより、補強部44は、配線基板12、14間を支持固定して、外的な機械的ストレスが配線基板12、14の端部に加わった場合に、配線基板12、14のクラックの発生を防止する。また、配線基板12、14の辺の中央部に局所的な力が加わった場合にも、クラックの発生を防止することができる。
【0061】
図9においては、長い補強部44が配線基板12、14の4辺に沿って配置される。各辺の補強部44は独立しており、隣接する2つの補強部44の端部の間に隙間46が設けられている。これにより、補強部44は、配線基板12、14の四隅を支持固定して、外的な機械的ストレスが配線基板12、14の端部に加わった場合に、配線基板12、14のクラックの発生を防止する。また、配線基板12、14の辺の中央部に局所的な力が加わった場合にもクラックの発生を防止することができる。補強部44が配線基板12、14の4辺に沿って配置されているので、よりクラックの発生を低減できる。又、熱処理時における基板の反りもおさえる効果がある。配線基板12、14の4隅に近い位置に隙間46が設けられているので、組立て工程における積層配線基板の洗浄工程において、配線基板の間の接続端子部に洗浄液を容易に流入および流出させることができる。
【0062】
図10から図12においては、閉じていない(不連続な)環状(枠状)の補強部44が配線基板12、14の4辺に沿って配設される。補強部44の配線基板12、14と接する面には接着剤48が塗布されている。接着剤48は配線基板14に予め取り付けておくこともできる。図11は、接着剤48が配線基板14に塗布された図を示す。隙間46とスリット50にあたる部分には塗布されていない。接着剤48は補強部44を配線基板12、14に固定するものである。
【0063】
補強部44の配線基板12、14の一隅に近い位置に隙間46を設ける。接着剤48は補強部44の隙間46に相当する位置及び隙間46と対角線上の位置にスリット50を有する。従って、この場合にも、配線基板12、14の四隅及び辺の中央部に外的な機械的ストレスが加わった場合に、配線基板12、14のクラックの発生を低減できる。また、補強部44が略環状になっているので、積層型半導体装置10の剛性が高まり、熱時の反りや変形をも軽減することができる。補強部44に隙間46があり且つ接着剤48にスリット50が入っているため、配線基板積層時の洗浄工程において、配線基板の間の接続端子部に洗浄液を容易に流入および流出させることができる。
【0064】
図13及び図14においては、閉じた(連続な)環状(枠状)の補強部44が配線基板12、14の4辺に沿って配置される。補強部44の配線基板12、14と接する面には接着剤48が塗布又は取り付けられている。この例では、補強部44には図10の隙間46がない。このため、補強部44の剛性はより高くなる。従って、この場合にも、配線基板12、14の四隅あるいは辺の中央部に外的な機械的ストレスが加わった場合に、配線基板12、14のクラックの発生を防止することができる。配線基板12、14の四隅に近い位置に接着剤48の塗布されていないスリット50を有する。よって、配線基板積層時の洗浄工程において、配線基板の間の接続端子部に洗浄液を容易に流入および流出させることができる。
【0065】
図8から図14の補強部44は上記したグループ(a)から(e)のいずれかの材料により形成することができる。
【0066】
図15及び図16は第5の実施例を示す図である。
【0067】
この例においては、上下の配線基板12、14を接続するはんだボール(電極端子)24と同じ材料で構成され、補強部44は上下の配線基板12、14の四隅に配置される。かかる構成によれば、補強部44が電極端子と同じ材料により構成されるので、材料コストを低減でき、組立て工程も従来と同様にできる。配線基板12、14の四隅が補強部44によって支持固定されているので、外的な機械的ストレスが配線基板12、14の端部に加わった場合に、配線基板のクラック12、14の発生を低減できる。尚、上方の配線基板12を樹脂42で封止してある。
【0068】
図17(A)〜(D)は第5の実施例の変形例を示す図である。図17(A)においては、上下の配線基板12、14の四隅に複数の補強部44が配設される。補強部44ははんだボール24と同じ材料で作られる。これによって、上下の配線基板12、14の四隅をより強化することができる。
【0069】
図17(B)においては、複数の補強部44が上下の配線基板12、14の四隅及び辺の中央部に配置される。補強部44ははんだボール24と同じ材料で作られる。これによって、上下の配線基板12、14の四隅及び辺をより強化することができる。
【0070】
図17(C)においては、補強部44が上下の配線基板12、14の四隅ではんだボール24の最外側の列の延長線上に配置される。補強部44をはんだボール24と等ピッチをなす位置に配置することで、試験ソケットの作成が容易になる。補強部44ははんだボール24と同じ材料で作られる。これによって、上下の配線基板12、14の四隅を強化することができる。
【0071】
図17(D)においては、補強部44が上下の配線基板12、14の四隅ではんだボール24の最外側の直交する2つの列の交差部に配置される。はんだボール24(電極端子)の列が配線基板12、14の側縁部近傍に配置されている場合には、最外側のはんだボール24の列の列上に配置され、はんだボール24と等ピッチで配置することで、試験ソケットの作成が容易になる。補強部44ははんだボール24と同じ材料で作られる。これによって、上下の配線基板12、14の四隅を強化することができる。
【0072】
図18及び図19は第6の実施例を示す図である。本実施例は、第1実施例と第5の実施例とを組み合わせたものに相当する。上方の配線基板12の外形は大きく、樹脂42で封止されている。上方の配線基板12の外形と封止樹脂42の外形は等しい。補強部44は上下の配線基板12、14の四隅に配置され、上下の配線基板12、14を電気的に接続するはんだボール(電極端子)24と同じ材料で形成されている。従って、複数の配線基板の積層の位置ずれが生じても、クラックの発生を低減できる。
【0073】
尚、補強部44は、はんだボールと同じ材料の他に、一般の電極に用いられる材料を用いてもよい。
【0074】
本発明の第7実施例を、図15、図16に示す。
【0075】
本実施例にあっては、前記第1の実施例にて採られた構成と、前記第5実施例にて採られた構成を含んでいる。
【0076】
即ち、一方の主面に半導体素子が搭載された配線基板12は、同じく半導体素子が搭載された配線基板14よりも、その外形サイズ(寸法)が大とされている。
【0077】
前記配線基板の一方の主面に搭載された半導体素子は、樹脂42によって封止されている。樹脂42の外形寸法は、配線基板12と同じとされ、当該配線基板12の側面は表出している。
【0078】
又、配線基板12と下方の配線基板14とは、その隅部に配設されたはんだボールからなる補強部44によって、機械的に一体化されている。
【0079】
このような構成によれば、上方の配線基板12及び封止樹脂42を基準として、当該積層型半導体装置10を認識し、ハンドリングすることができる。
【0080】
従って、ハンドリング用治具などが予期せぬ箇所に接触することを防止することができ、もって配線基板にクラックなどを生じることが無い。
【0081】
また、配線基板12と配線基板14とが機械的に一体化されることにより、配線基板としての剛性が向上し、機械的なストレスが加わった場合にも、当該配線基板へのクラックの発生を防止することができる。
【0082】
〔付記1〕 少なくとも1つの半導体素子が実装された基板を、複数積載してなる積層型半導体装置において、
該複数の基板のうち、少なくとも1つの基板の外形寸法は、他の基板の外形寸法より大きく、
該少なくとも1つの基板の外形寸法が該搭載型半導体装置の最大外形寸法と等しく、
該複数の基板のうち最下段の基板にのみ外部電極端子が設けられている
ことを特徴とする積層型半導体装置。(1)
〔付記2〕 該複数の基板のうち、最上段の基板の外形寸法が、該最上段の基板よりも下に位置する基板の外形寸法より大きい
ことを特徴とする付記1に記載の積層型半導体装置。(2)
〔付記3〕 該複数の基板のうち、最上段に位置する基板の半導体素子が実装された表面が樹脂封止されており、
該樹脂の外形寸法が該最上に位置する基板の外形寸法と等しい
ことを特徴とする付記2に記載の積層型半導体装置。
【0083】
〔付記4〕 該複数の基板のうち、最下段の基板の外形寸法が、該最下段の基板よりも上に位置する基板の外形寸法より大きい
ことを特徴とする付記1に記載の積層型半導体装置。(3)
〔付記5〕 少なくとも1つの半導体素子が実装された基板を、複数積載してなる積層型半導体装置において、
該複数の基板の少なくとも隅部において、該複数の基板間を機械的に接合する補強部が配置されている
ことを特徴とする積層型半導体装置。(4)
〔付記6〕 該支持部材は、対向する該複数の基板の4隅に複数個配置されている
ことを特徴とする付記5に記載の積層型半導体装置。(5)
〔付記7〕 該補強部は、対向する該複数の基板の外周の少なくとも対向する2辺において、辺にわたって配置されている
ことを特徴とする付記5に記載の積層型半導体装置。(6)
〔付記8〕 該補強部は、対向する該複数の基板の外周に沿って配置されている
ことを特徴とする付記5に記載の積層型半導体装置。(7)
〔付記9〕 該補強部は、該複数の基板のコア材と同じ材料あるいは、エポキシ、ポリイミド、アクリル等の樹脂あるいは、Cu、Al、W、Fe、Ni、42アロイ材等の金属およびそれらの合金からなる
ことを特徴とする付記5乃至付記8に記載の積層型半導体装置。
【0084】
〔付記10〕 該補強部は、該複数の基板に接着剤によって固定されている
ことを特徴とする付記5乃至付記9に記載の積層型半導体装置。(8)
〔付記11〕 該補強部は、該複数の基板を電気的に接続する電極端子と同じ材料からなる
ことを特徴とする付記5に記載の積層型半導体装置。(9)
〔付記12〕 該複数の基板の材質が有機樹脂を含む材料からなる
ことを特徴とする付記5乃至付記11に記載の積層型半導体装置。
【0085】
〔付記13〕 該複数の基板のうち、少なくとも1つの基板の外形寸法は、他の基板の外形寸法より大きく、
該少なくとも1つの基板の外形寸法が該搭載型半導体装置の最大外形寸法と等しい
ことを特徴とする付記5乃至付記12に記載の積層型半導体装置。(10)
【0086】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、配線基板のクラックの発生を防止することができるようにした積層型半導体装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例の積層型半導体装置を示す断面図である。
【図2】本発明の第2実施例の積層型半導体装置を示す断面図である。
【図3】本発明の第3実施例の積層型半導体装置を示す断面図である。
【図4】第1実施例の積層型半導体装置を上から見た略断面図である。
【図5】従来の積層型半導体装置を上から見た略断面図である。
【図6】本発明の第4実施例の積層型半導体装置を示す断面図である。
【図7】図6の積層型半導体装置の上方の配線基板のはんだボール及び支持部材を通る断面図である。
【図8】第4実施例の変形例を示す配線基板の断面図である。
【図9】第4実施例の変形例を示す配線基板の断面図である。
【図10】第4実施例の変形例を示す配線基板の断面図である。
【図11】図10の配線基板の底面図である。
【図12】配線基板に塗布された接着剤を示す図である。
【図13】第4実施例の変形例を示す配線基板の断面図である。
【図14】図13の配線基板の底面図である。
【図15】本発明の第5実施例の積層型半導体装置を示す断面図である。
【図16】図15の積層型半導体装置の上方の配線基板のはんだボール及び支持部材を通る断面図である。
【図17】図16の変形例を示す配線基板の断面図である。
【図18】本発明の第6実施例の積層型半導体装置を示す断面図である。
【図19】図16の積層型半導体装置の上方の配線基板のはんだボール及び支持部材を通る断面図である。
【符号の説明】
10…積層型半導体装置
12、14、16…配線基板
18…半導体素子
24…はんだボール
26…半導体素子
32…外部接続電極
34…半導体素子
40…外部接続電極
42…封止樹脂
44…補強部
46…隙間
50…スリット[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a stacked semiconductor device.
[0002]
[Prior art]
2. Description of the Related Art With the development of electronic devices in recent years, semiconductor devices used in electronic devices have been required to be smaller, thinner, multifunctional, highly functional, and dense. To cope with such a demand, a stacked semiconductor device in which a plurality of circuit boards are stacked has been proposed (for example, see Patent Documents 1 and 2). There has been proposed a stacked semiconductor device in which a first wiring board on which a semiconductor element is mounted is arranged and stacked on a second wiring board on which a semiconductor element is mounted.
[0003]
In a stacked semiconductor device in which a first wiring board and a second wiring board are stacked, a plurality of electrode terminals electrically connect the first wiring board and the second wiring board. Typically, the electrode terminals consist of solder balls. There is a proposal in which the size of the solder ball is made larger than the thickness of the semiconductor element so that the solder ball acts as a spacer for maintaining a space between the first wiring board and the second wiring board (Patent Document 1). 1).
[0004]
The stacked semiconductor device is further mounted on an external wiring board such as a motherboard. When the material of the wiring board of the stacked semiconductor device is different from the material of the external wiring board, the first wiring board and the second wiring board of the stacked semiconductor device are electrically connected due to a difference in thermal expansion between the two. Electrode terminals become fatigued. Therefore, there is a proposal to provide an auxiliary electrode terminal that is not electrically connected separately from the electrode terminal that is electrically connected to alleviate fatigue of the electrode terminal that is electrically connected (see Patent Document 2).
[0005]
[Patent Document 1]
JP 2001-223297 A
[Patent Document 2]
JP-A-2002-170924 (pages 2-3)
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
The stacked semiconductor device in which the wiring board is laminated is preferably formed in a rectangular parallelepiped for its transportation (handling), handling (handling) in a test and the like, and high-density mounting on a printed circuit board, a motherboard, etc. of an electronic device. Therefore, in the stacked semiconductor device, the outer shape of the first wiring board and the outer shape of the second wiring board are formed to be equal, and when the stacked semiconductor device formed by stacking both is viewed from above, the first The outer shape of the wiring board and the outer shape of the second wiring board appear to be completely overlapped.
[0007]
However, when the first wiring board and the second wiring board are displaced during the lamination, a part of the outer shape of the first wiring board protrudes from the outer shape of the second wiring board (or conversely, the second wiring board has a different shape). Part of the outer shape of the second wiring board protrudes from the outer shape of the first wiring board), and the outer dimension tolerance of the stacked semiconductor device increases. When the number of wiring boards to be stacked increases, the external dimension tolerance of the stacked semiconductor device may be further increased.
[0008]
FIG. 5 is a schematic sectional view of a conventional stacked semiconductor device as viewed from above. The
[0009]
Therefore, a problem arises when handling the stacked semiconductor device.
[0010]
For example, with respect to a tray that accommodates a stacked semiconductor device or a tray that is used when transporting a semiconductor device, when the external dimension tolerance of the semiconductor device increases, the size of the tray needs to be increased accordingly. Then, rattling of the stacked semiconductor device in the tray increases, vibration applied to the stacked semiconductor device during transportation increases, and cracks easily occur in the wiring substrate.
[0011]
When the stacked semiconductor device is mounted on the test socket, a positional shift between the terminals occurs if the reference position of the stacked semiconductor device does not match the reference position of the socket.
[0012]
When handling the stacked semiconductor device by placing a finger or tool on the side surface thereof, stress concentrates on the protruding wiring board, so that the wiring board is liable to crack.
[0013]
When the wiring board is made of an organic substrate such as a resin glass-epoxy resin composite material or a glass-BT (bismaleimide / triazine) resin composite material, and particularly when the thickness of the wiring substrate is thin (for example, 0.1 mm to 0 mm). 0.3 mm), the wiring board is particularly vulnerable to external force, so that the wiring board is likely to crack.
[0014]
In addition, when the wiring board is misaligned, when the external shape of the stacked semiconductor device is handled by image recognition, the image recognition misalignment becomes large, and there is a problem that the automatic processing cannot be performed.
[0015]
The present invention provides a stacked semiconductor device capable of preventing a crack in a wiring board in such a stacked semiconductor device.
[0016]
[Means for Solving the Problems]
A stacked semiconductor device according to the present invention includes a first wiring board having at least one semiconductor element, a second wiring board stacked on or below the first wiring board and having at least one semiconductor element. A plurality of electrode terminals for electrically connecting the first wiring board and the second wiring board, wherein the outer shape of the first wiring board is larger than the outer shape of the second wiring board; The outer shape of the second wiring board is formed so as to fall within the range of the outer shape of the first wiring board, and an electrode terminal is provided in a region of the first wiring board outside the second wiring board. It is characterized by not being arranged.
[0017]
According to this configuration, the outer shape of the first wiring board is basically formed substantially the same as the outer shape of the second wiring board, but the outer shape of the first wiring board is larger than the outer shape of the second wiring board. Are formed slightly larger to the extent that the amount of displacement between them can be absorbed. Since a region of the first wiring substrate outside the second wiring substrate is a region for absorbing positional displacement, no electrode terminal is provided there. Therefore, when the first wiring board and the second wiring board are stacked, even if there is a displacement between the two, the small second wiring board is large when the stacked semiconductor device is viewed from above. It falls within the range of the outer shape of the first wiring board. Therefore, handling can be performed based on the outer shape of the first wiring board.
[0018]
Preferably, a surface of the first wiring board on which at least one semiconductor element is provided is sealed with resin, and an outer shape of the sealing resin is equal to an outer shape of the first wiring board. In this case, the large first wiring board is reinforced by the sealing resin, and at the time of handling, a finger or a tool comes into contact with the side surface of the first wiring board and the side surface of the sealing resin to handle the second wiring board. Since it does not contact the side surface of the substrate, the occurrence of cracks in the wiring substrate can be further reduced.
[0019]
Further, the stacked semiconductor device according to the present invention includes a first wiring substrate having at least one semiconductor element and a second wiring stacked on or below the first wiring substrate and having at least one semiconductor element. A substrate, and a plurality of electrode terminals for electrically connecting the first wiring substrate and the second wiring substrate, wherein the first and second wiring substrates are made of an organic substrate; A support member for mechanically fixing the wiring board and the second wiring board is provided in a peripheral area including four corners of the first and second wiring boards.
[0020]
According to this configuration, the support members are provided in the peripheral region including the four corners of the wiring board, so that cracks are unlikely to occur even when there is a protruding portion of the wiring board. Therefore, even if the wiring substrate is made of an organic substrate that is weak against external force, it is possible to prevent the occurrence of cracks in the wiring substrate.
[0021]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0022]
FIG. 1 is a sectional view showing a stacked semiconductor device according to a first embodiment of the present invention. In FIG. 1, a
[0023]
A semiconductor element (semiconductor chip) 18 is mounted on the
[0024]
An
[0025]
Similarly, a
[0026]
The
[0027]
Similarly, a
[0028]
The
[0029]
The
[0030]
In the first embodiment, the
[0031]
On the other hand, although the
[0032]
FIG. 4 is a plan view of the stacked
[0033]
In the figure, the size of the
[0034]
According to this embodiment, the
[0035]
FIG. 2 is a sectional view showing a stacked semiconductor device according to a second embodiment of the present invention. The
[0036]
In the first and second embodiments, the stacked semiconductor device is formed by stacking three
[0037]
Further, each of the
[0038]
Each of the
[0039]
When the stacked semiconductor device is formed by stacking three or more wiring boards, it is preferable to maximize the outer size of the uppermost or lowermost wiring board. Each of the
[0040]
Therefore, by adjusting the tray size to the wiring board having the maximum outer size, it is possible to eliminate rattling in the tray. Further, when the semiconductor device is mounted on the test socket in the second embodiment, the size of the lower wiring board provided with the external terminals is increased, and when the stacked semiconductor device is positioned with its outer size, the socket at the time of the test becomes The displacement of the stacked semiconductor device can be reduced.
[0041]
FIG. 3 is a sectional view showing a stacked semiconductor device according to a third embodiment of the present invention. The
[0042]
In this embodiment, the outer size of the
[0043]
In the
[0044]
In the first, second, and third embodiments, even if a misalignment occurs between the wiring boards when a plurality of wiring boards are stacked on each other, the other wiring boards are within the maximum outer size of the wiring board. Therefore, the outer shape tolerance of the completed stacked semiconductor device can be managed by the outer size of the wiring board having the maximum outer size.
[0045]
FIG. 6 is a cross-sectional view showing a stacked semiconductor device according to a fourth embodiment of the present invention, and FIG. 7 is a cross-section taken through a solder ball and a support member of a wiring board above the stacked semiconductor device of FIG.
[0046]
In FIG. 6, a
[0047]
Semiconductor elements (semiconductor chips) 18a, 18b, and 18c are mounted on the
[0048]
Solder balls (electrode terminals) 24 are attached to the lower surface of the
[0049]
The
[0050]
According to this embodiment, the reinforcing
[0051]
The reinforcing
[0052]
The
[0053]
(A) An insulating resin such as a liquid epoxy, polyimide, or acrylic resin formed by a dispensing method or a stamping method, and then cured by heating and fixed.
[0054]
(B) A resin film that has been semi-cured in the B stage.
[0055]
(C) A film in which a pressure-sensitive adhesive is formed on both sides of a PET film or the like, which is then cured by heating and fixed.
[0056]
(D) The same material (glass-epoxy resin, glass-BT resin) as the core material of the wiring board, with thermosetting adhesives formed on both sides.
[0057]
(E) Metals such as Cu, Al, W, Fe, Ni, and 42 alloying agents and alloys thereof, with thermosetting adhesives formed on both surfaces.
[0058]
As described above, since the four corners of the upper and
[0059]
FIGS. 8 to 14 are views showing modified examples of the fourth embodiment.
[0060]
In the example shown in FIG. 8, long reinforcing
[0061]
In FIG. 9, long reinforcing
[0062]
In FIGS. 10 to 12, an annular (frame-shaped) reinforcing
[0063]
A
[0064]
In FIGS. 13 and 14, closed (continuous) annular (frame-shaped) reinforcing
[0065]
8 to 14 can be formed of any of the above-mentioned groups (a) to (e).
[0066]
FIGS. 15 and 16 show a fifth embodiment.
[0067]
In this example, it is made of the same material as the solder balls (electrode terminals) 24 connecting the upper and
[0068]
FIGS. 17A to 17D are views showing modified examples of the fifth embodiment. In FIG. 17A, a plurality of reinforcing
[0069]
In FIG. 17B, a plurality of reinforcing
[0070]
In FIG. 17C, the reinforcing
[0071]
In FIG. 17D, the reinforcing
[0072]
FIGS. 18 and 19 show the sixth embodiment. This embodiment corresponds to a combination of the first embodiment and the fifth embodiment. The outer shape of the
[0073]
The reinforcing
[0074]
A seventh embodiment of the present invention is shown in FIGS.
[0075]
The present embodiment includes the configuration adopted in the first embodiment and the configuration adopted in the fifth embodiment.
[0076]
That is, the
[0077]
The semiconductor element mounted on one main surface of the wiring board is sealed with a resin. The external dimensions of the
[0078]
Further, the
[0079]
According to such a configuration, the
[0080]
Therefore, it is possible to prevent the handling jig or the like from coming in contact with an unexpected portion, and thus no crack or the like is generated on the wiring board.
[0081]
In addition, since the
[0082]
[Supplementary Note 1] In a stacked semiconductor device in which a plurality of substrates on which at least one semiconductor element is mounted are stacked,
Outer dimensions of at least one of the plurality of boards are larger than outer dimensions of the other boards,
An outer dimension of the at least one substrate is equal to a maximum outer dimension of the mounted semiconductor device;
External electrode terminals are provided only on the lowermost substrate among the plurality of substrates.
A stacked semiconductor device, comprising: (1)
[Supplementary Note 2] Outer dimensions of the uppermost substrate among the plurality of substrates are larger than outer dimensions of a substrate located below the uppermost substrate.
2. The stacked semiconductor device according to claim 1, wherein: (2)
[Supplementary Note 3] Of the plurality of substrates, the surface of the substrate located at the uppermost stage on which the semiconductor element is mounted is resin-sealed,
The outer dimensions of the resin are equal to the outer dimensions of the uppermost substrate
3. The stacked semiconductor device according to supplementary note 2, wherein
[0083]
[Supplementary Note 4] Outer dimensions of the lowermost substrate among the plurality of substrates are larger than outer dimensions of a substrate located above the lowermost substrate.
2. The stacked semiconductor device according to claim 1, wherein: (3)
[Supplementary Note 5] In a stacked semiconductor device in which a plurality of substrates on which at least one semiconductor element is mounted are stacked,
At least corners of the plurality of substrates are provided with a reinforcing portion for mechanically joining the plurality of substrates.
A stacked semiconductor device, comprising: (4)
[Supplementary Note 6] A plurality of the support members are arranged at four corners of the plurality of substrates facing each other.
6. The stacked semiconductor device according to claim 5, wherein (5)
[Supplementary Note 7] The reinforcing portion is arranged over at least two opposing sides of the outer periphery of the plurality of opposing substrates.
6. The stacked semiconductor device according to claim 5, wherein (6)
[Supplementary Note 8] The reinforcing portion is arranged along the outer periphery of the plurality of substrates facing each other.
6. The stacked semiconductor device according to claim 5, wherein (7)
[Supplementary Note 9] The reinforcing portion may be made of the same material as the core material of the plurality of substrates, or a resin such as epoxy, polyimide, or acrylic, or a metal such as Cu, Al, W, Fe, Ni, or 42 alloy material, or a material thereof. Made of alloy
9. The stacked semiconductor device according to Supplementary Notes 5 to 8, wherein:
[0084]
[Supplementary Note 10] The reinforcing portion is fixed to the plurality of substrates by an adhesive.
10. The stacked semiconductor device according to any one of supplementary notes 5 to 9, wherein: (8)
[Supplementary Note 11] The reinforcing portion is made of the same material as an electrode terminal for electrically connecting the plurality of substrates.
6. The stacked semiconductor device according to claim 5, wherein (9)
[Supplementary Note 12] The material of the plurality of substrates is made of a material containing an organic resin.
12. The stacked semiconductor device according to supplementary notes 5 to 11.
[0085]
[Supplementary Note 13] Among the plurality of substrates, the outer dimensions of at least one substrate are larger than the outer dimensions of the other substrates,
The external dimensions of the at least one substrate are equal to the maximum external dimensions of the mounted semiconductor device.
13. The stacked semiconductor device according to Supplementary Notes 5 to 12, wherein: (10)
[0086]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, it is possible to obtain a stacked semiconductor device capable of preventing occurrence of cracks in a wiring board.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating a stacked semiconductor device according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a stacked semiconductor device according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a sectional view showing a stacked semiconductor device according to a third embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a schematic sectional view of the stacked semiconductor device of the first embodiment as viewed from above.
FIG. 5 is a schematic sectional view of a conventional stacked semiconductor device as viewed from above.
FIG. 6 is a sectional view showing a stacked semiconductor device according to a fourth embodiment of the present invention.
7 is a cross-sectional view passing through a solder ball and a support member of a wiring board above the stacked semiconductor device of FIG. 6;
FIG. 8 is a sectional view of a wiring board showing a modification of the fourth embodiment.
FIG. 9 is a sectional view of a wiring board showing a modification of the fourth embodiment.
FIG. 10 is a sectional view of a wiring board showing a modification of the fourth embodiment.
FIG. 11 is a bottom view of the wiring board of FIG. 10;
FIG. 12 is a diagram illustrating an adhesive applied to a wiring board;
FIG. 13 is a sectional view of a wiring board showing a modification of the fourth embodiment.
FIG. 14 is a bottom view of the wiring board of FIG. 13;
FIG. 15 is a sectional view showing a stacked semiconductor device according to a fifth embodiment of the present invention.
16 is a cross-sectional view passing through a solder ball and a support member of a wiring board above the stacked semiconductor device of FIG. 15;
FIG. 17 is a sectional view of a wiring board showing a modification of FIG. 16;
FIG. 18 is a sectional view showing a stacked semiconductor device according to a sixth embodiment of the present invention.
19 is a cross-sectional view passing through a solder ball and a support member of the wiring board above the stacked semiconductor device of FIG. 16;
[Explanation of symbols]
10. Stacked semiconductor device
12, 14, 16 ... wiring board
18 ... Semiconductor element
24 ... Solder ball
26 ... Semiconductor element
32 ... External connection electrode
34 ... Semiconductor element
40 ... External connection electrode
42 ... sealing resin
44 ... Reinforcing part
46 ... Gap
50 ... Slit
Claims (10)
該複数の基板のうち、少なくとも1つの基板の外形寸法は、他の基板の外形寸法より大きく、
該少なくとも1つの基板の外形寸法が該搭載型半導体装置の最大外形寸法と等しく、
該複数の基板のうち最下段の基板にのみ外部電極端子が設けられている
ことを特徴とする積層型半導体装置。In a stacked semiconductor device in which a plurality of substrates on which at least one semiconductor element is mounted are stacked,
Outer dimensions of at least one of the plurality of boards are larger than outer dimensions of the other boards,
An outer dimension of the at least one substrate is equal to a maximum outer dimension of the mounted semiconductor device;
A stacked semiconductor device, wherein external electrode terminals are provided only on the lowermost substrate among the plurality of substrates.
ことを特徴とする請求項1に記載の積層型半導体装置。2. The stacked semiconductor device according to claim 1, wherein an outer dimension of an uppermost substrate of the plurality of substrates is larger than an outer dimension of a substrate located below the uppermost substrate. 3.
ことを特徴とする請求項1に記載の積層型半導体装置。2. The stacked semiconductor device according to claim 1, wherein an outer dimension of a lowermost substrate of the plurality of substrates is larger than an outer dimension of a substrate located above the lowermost substrate. 3.
該複数の基板の少なくとも隅部において、該複数の基板間を機械的に接合する補強部が配置されている
ことを特徴とする積層型半導体装置。In a stacked semiconductor device in which a plurality of substrates on which at least one semiconductor element is mounted are stacked,
A stacked semiconductor device, wherein a reinforcing portion for mechanically joining the plurality of substrates is arranged at least at a corner of the plurality of substrates.
ことを特徴とする請求項4に記載の積層型半導体装置。5. The stacked semiconductor device according to claim 4, wherein a plurality of the support members are arranged at four corners of the plurality of substrates facing each other.
ことを特徴とする請求項4に記載の積層型半導体装置。5. The stacked semiconductor device according to claim 4, wherein the reinforcing portion is disposed over at least two opposing sides of the outer periphery of the plurality of opposing substrates.
ことを特徴とする請求項4に記載の積層型半導体装置。The stacked semiconductor device according to claim 4, wherein the reinforcing portion is arranged along the outer periphery of the plurality of substrates facing each other.
ことを特徴とする請求項4に記載の積層型半導体装置。5. The stacked semiconductor device according to claim 4, wherein the reinforcing portion is made of the same material as an electrode terminal for electrically connecting the plurality of substrates.
該少なくとも1つの基板の外形寸法が該搭載型半導体装置の最大外形寸法と等しい
ことを特徴とする請求項4に記載の積層型半導体装置。Outer dimensions of at least one of the plurality of boards are larger than outer dimensions of the other boards,
5. The stacked semiconductor device according to claim 4, wherein an outer dimension of the at least one substrate is equal to a maximum outer dimension of the mounted semiconductor device.
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