JP2004193401A - Substrate processing apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体基板、液晶表示装置用ガラス基板、フォトマスク用ガラス基板、光ディスク用基板等(以下、「基板」と称する。)の処理を行う基板処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体や液晶ディスプレイなどの製造においては、基板に対して洗浄、レジスト塗布、露光、現像、エッチング、層間絶縁膜の形成、熱処理およびダイシングなどの一連の諸処理を施すために、各種の基板処理装置が使用される。このような基板処理装置では、雰囲気の温度や湿度が処理結果に影響を与えて歩留りが悪化することがあるため、従来より、温度や湿度が影響する処理を行う処理ユニット内の空気の温度や湿度を、空調ユニットを用いて調整するようにしている。
【0003】
例えば、レジスト塗布処理および現像処理等を行う基板処理装置である塗布現像装置(コータ・デベロッパ)においては、基板にレジストを塗布する塗布処理ユニット内の空気の温度および湿度がレジスト膜の膜厚に影響を与えるため、塗布処理ユニット内の空気の温度および湿度を空調ユニットにより調整するようにしている(例えば、特許文献1参照。)。
【0004】
【特許文献1】
特開平10−154644号公報
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、基板処理装置の処理ユニットは、処理対象となる基板が搬送されていないときには、処理を待機する状態となる。このような待機状態においては、雰囲気の温度や湿度は処理結果に影響がないため、処理ユニット内の空気の温度や湿度の調整は必要ないといえる。
【0006】
しかしながら、従来の基板処理装置においては、処理ユニットの状態にかかわらず、空調ユニットを常時最大能力で動作させていた。このことから、基板処理装置のランニングコストが多大になるという問題が生じていた。また、近年の省エネルギー化の要請を受け、省エネルギー化を図ることができる基板処理装置が要望されていた。
【0007】
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、ランニングコストの低減および省エネルギー化を図ることができる基板処理装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、請求項1の発明は、搬送された基板を受け取って該基板の処理を行う処理部を備えた基板処理装置であって、前記処理部内の空気の温度または湿度を調整する空気調整手段と、前記処理部への前記基板の搬送状態に応じて、前記空気調整手段の出力に関する調整動作を、消費電力が異なる複数の動作状態の間で制御する制御手段と、を備えている。
【0009】
また、請求項2の発明は、請求項1に記載の基板処理装置において、前記空気調整手段は、前記処理部内の空気の温度または湿度を、特定の調整範囲内の値に調整するものであり、前記制御手段は、前記調整範囲を変更することを特徴とする。
【0010】
また、請求項3の発明は、請求項2に記載の基板処理装置において、前記制御手段は、前記調整範囲を第1の範囲と前記第1の範囲より大の第2の範囲との間で変更するものであって、前記処理部に前記基板が搬送される第1のタイミングを取得する第1タイミング取得手段と、前記第1のタイミングと、前記空気調整手段が前記処理部の内部の空気の温度または湿度を前記第2の範囲内の値から前記第1の範囲内の値に調整するために必要な調整時間とに基づいて、前記制御手段が前記調整範囲を前記第2の範囲から前記第1の範囲に変更すべき第2のタイミングを取得する第2タイミング取得手段と、をさらに備えている。
【0011】
また、請求項4の発明は、請求項3に記載の基板処理装置において、前記第2の範囲は、前記第1の範囲を含むことを特徴とする。
【0012】
また、請求項5の発明は、請求項3または4に記載の基板処理装置において、前記基板は、前記基板処理装置の外部から搬送されるものであって、前記基板処理装置の外部における前記基板の搬送状態を示す信号を所定の外部装置から受信する受信手段、をさらに備え、前記第1タイミング取得手段は、前記信号に基づいて、前記第1タイミングを取得することを特徴とする。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しつつ本発明の実施の形態について説明する。なお、以下においては、基板処理装置の一例として、レジスト塗布処理および現像処理等を行う塗布現像装置(コータ・デベロッパ)について説明する。
【0014】
<1.第1の実施の形態>
<1−1.構成>
図1は、本発明の実施の形態に係る基板処理装置である塗布現像装置1の概略構成を示す図である。図に示すように、塗布現像装置1は主として、インデクサID、ユニット配置部MPおよびインターフェイスIFから構成される。なお、図1には、方向を明確にするために、Z方向を鉛直方向とし、XY平面を水平面とするXYZ直交座標系を付している。
【0015】
インデクサIDは、移載ロボットTFおよび載置ステージ15を備えている。載置ステージ15には、4つのキャリアCをY軸方向に沿って配列して載置することができる。それぞれのキャリアCには、多段の収納溝が刻設されており、それぞれの溝には1枚の基板を水平姿勢にて収容することができる。
【0016】
移載ロボットTFは、Y軸方向に沿って移動可能である。これとともに、移載ロボットTFは、Z軸方向の昇降動作、XY平面内の回転動作およびX軸方向の進退移動が可能な1本の移載アームを備えている。これにより、移載ロボットTFは、移載アームを3次元的に移動させることができる。インデクサIDは、このような移載ロボットTFの動作により、キャリアCから未処理の基板を取り出してユニット配置部MPに受け渡すとともに、ユニット配置部MPから処理済の基板を受け取ってキャリアCに収納することができる。
【0017】
ユニット配置部MPは、基板に所定の処理を施す各種の処理ユニットを備えている。ユニット配置部MPの前面側(Y軸−側)には2つの塗布処理ユニットSCが配置され、また、背面側(Y軸+側)には、2つの現像処理ユニットSDが配置されている。塗布処理ユニットSCは、いわゆるスピンコータであり、基板を回転させつつレジストを塗布して基板主面にレジスト膜を形成するレジスト塗布処理を行う。また、現像処理ユニットSDは、いわゆるスピンデベロッパであり、露光後の基板上に現像液を供給することによって現像処理を行う。塗布処理ユニットSCと現像処理ユニットSDとは搬送路16を挟んで対向配置されている。
【0018】
また、現像処理ユニットSDの上部には3つの熱処理ユニット群13が配置されている。この熱処理ユニット群13には、レジスト塗布処理前の基板に密着強化処理を行う密着強化ユニットAH、基板を加熱して所定の温度にまで昇温する加熱ユニットHP、および、基板を冷却して所定の温度にまで降温する冷却ユニットCP等が組み込まれている(図2参照。)。
【0019】
塗布処理ユニットSCと現像処理ユニットSDとの間に挟まれた搬送路16には搬送ロボットTRが配置されている。搬送ロボットTRは、X軸方向に沿って移動可能である。これとともに、搬送ロボットTRは、Z軸方向の昇降動作、XY平面内の回転動作およびY軸方向の進退移動が可能な2本の搬送アームを備えている。この搬送ロボットTRの搬送アームにより、ユニット配置部MPに配置された各処理ユニットの間で所定の処理手順に従って処理対象となる基板が循環搬送される。
【0020】
すなわち、ユニット配置部MPに配置される各処理ユニットは、搬送ロボットTRにより搬送された基板を受け取って、該基板に対して所定の処理を行うこととなる。一の処理ユニットにおいて処理がなされた基板は、再度、搬送ロボットTRに受け渡され、処理手順上、次の処理を行う処理ユニットに搬送される。また、搬送ロボットTRは、インデクサIDの移載ロボットTFおよびインターフェイスIFとの間でも基板の受け渡しを行うことができる。
【0021】
インターフェイスIFは、レジスト塗布処理済の基板をユニット配置部MPから受け取って、隣接配置される露光装置(図示省略)に受け渡すとともに、露光後の基板を露光装置から受け取ってユニット配置部MPに戻す機能を有する。この機能を実現するためにインターフェイスIFには基板の受け渡しを行うための受渡ロボット(図示省略)が配置されている。なお、本明細書では、上述した基板の搬送を担う移載ロボットTF、搬送ロボットTRおよび受渡ロボット等を総称して、基板搬送部14(図3参照)という。
【0022】
また、2つの塗布処理ユニットSCのそれぞれの上部には、空調ユニットACが配置されている。塗布処理ユニットSCにおいては、その内部の空気(雰囲気)の温度および湿度に応じて、形成されるレジスト膜の膜厚が変化する。このような膜厚の変化は歩留りの悪化に繋がる可能性があるため、塗布処理ユニットSCに対しては、その内部の空気の温度および湿度を管理する必要がある。このため、2つの塗布処理ユニットSCは、それぞれの直上に配置される空調ユニットACによって、その内部の空気の温度および湿度が調整されるようになっている。
【0023】
図2は、塗布現像装置1のユニット配置部MPの一断面の概要を示す図である。上述したように、塗布処理ユニットSCは、密着強化ユニットAH、加熱ユニットHPおよび冷却ユニットCP等が組み込まれた熱処理ユニット群13ならびに現像処理ユニットSDに対して、搬送ロボットTRが配置される搬送路16を挟んで対向配置されている。そして、塗布処理ユニットSCの直上には、空調ユニットACが配置される。
【0024】
空調ユニットACは、上部の空気取入口から装置外部の空気を取り込み、温度および湿度を調整した空気を下部の塗布処理ユニットSCに供給可能に構成され、上部から下部に向けて、第1ファン21、一次化学吸着フィルタ22、二次化学吸着フィルタ23、加湿器24、冷却器25、加熱器26、第2ファン27およびエアフィルタ28を、この順に並べて内蔵している。
【0025】
第1ファン21は、装置外部の空気(通常はクリーンルーム内の空気)を空調ユニットAC内に取り込み、第2ファン27は、温度および湿度を調整した空気を塗布処理ユニットSCに向けて送出する。一次化学吸着フィルタ22および二次化学吸着フィルタ23は、第1ファン21が取り込んだ空気からアルカリ性物質(主としてアンモニアガス)を吸着して除去する。加湿器24、冷却器25および加熱器26はそれぞれ、空調ユニットAC内を通過する空気を加湿、冷却(除湿)、加熱する。加湿器24としては例えば蒸発式の加湿器等を採用することができ、冷却器25および加熱器26としてはペルチェ素子等を採用することができる。また、エアフィルタ28は、ULPAフィルタなどの高性能フィルタで構成され、空気中に含まれる微粒子を除去する。このような構成によって、空調ユニットACは、温度および湿度を調整した清浄化空気を塗布処理ユニットSCに供給することができる。
【0026】
塗布処理ユニットSC内の適位置には、塗布処理ユニットSC内の空気の温度および湿度を検出する温湿度センサ29が設けられている。空調ユニットACは、この温湿度センサ29にて得られる検出結果に基づいて調整動作し、塗布処理ユニットSC内の空気の温度および湿度を、特定の調整範囲内の値に調整することとなる。
【0027】
また、空調ユニットACは、通常動作とともに、電力消費が比較的少ない省電力動作が可能となっている。この通常動作と省電力動作とでは、空調ユニットACが目標とする温度の調整範囲および湿度の調整範囲(一般的に言えば、空気調整能力の調整範囲)が相違して設定される。
【0028】
例えば、レジスト塗布処理において理想とされる空気の温度(以下、「理想温度」という。)をTe(℃)とし、理想とされる空気の湿度をHu(%RH)とすると、通常動作においては、温度の調整範囲はTe±1(℃)の範囲、湿度の調整範囲はHu±1(%RH)の範囲にそれぞれ設定される。レジスト塗布処理を行う際には、雰囲気の温度および湿度がこれらの範囲内の値であることが要求され、以下、この範囲を「通常範囲」という。
【0029】
一方、省電力動作においては、温度の調整範囲はTe±5(℃)の範囲、湿度の調整範囲はHu±5(%RH)の範囲にそれぞれ設定される。つまり、省電力動作における温度および湿度の調整範囲(以下、「省電力範囲」という。)は、通常範囲より大となり、かつ、通常範囲を含む範囲に設定される。
【0030】
空調ユニットACは、温湿度センサ29にて得られる空調ユニットAC内の温度あるいは湿度が、調整範囲外の値である場合、および、調整範囲の限界近傍の値となり調整範囲から外れる可能性がある場合以外は、空気の調整動作を停止する。したがって、調整範囲が比較的小となる通常動作においては、空調ユニットACの調整動作がほぼ常時なされるが、調整範囲が比較的大となる省電力動作においては、空調ユニットACの調整動作を行う時間は通常動作に比べて減少する。このため、省電力動作においては、通常動作に比べて、空調ユニットACの消費電力が抑制されることとなる。
【0031】
空調ユニットACの動作を通常動作と省電力動作との間で切り替える制御、すなわち、空調ユニットACの調整範囲を通常範囲と省電力範囲との間で変更する制御は、塗布現像装置1の内部に備えられたコントローラによって行われる。
【0032】
図3は、このコントローラ11を含めた塗布現像装置1の機能構成を機能ブロックを用いて示す図である。コントローラ11は、演算処理を行うCPU、演算の作業領域となるRAMおよび制御プログラムを記憶するROM等を備えるコンピュータで構成される。コントローラ11の各種の機能は、ROMに記憶された制御プログラムに従って、CPUが演算処理を行うことにより実現される。また、コントローラ11は、ハードディスクなどの不揮発性の記憶装置12と接続される。この記憶装置12には、基板の処理手順を示すレシピデータなど、コントローラ11の処理において必要なデータが記憶される。
【0033】
また、図に示すように、上述した塗布処理ユニットSC、現像処理ユニットSD、熱処理ユニット群13、基板搬送部14および空調ユニットACはそれぞれ、コントローラ11に電気的に接続される。このような構成により、塗布現像装置1の各部は、コントローラ11によって統括的に制御され、コントローラ11の制御下にて所定の動作を行うこととなる。
【0034】
<1−2.動作>
次に、塗布現像装置1の動作について説明する。図4は、塗布現像装置1の動作を説明するためのタイミングチャートであり、図中の符号T1〜T14はそれぞれ時点を示している。図4の上部は、処理対象となる一の基板に注目し、該一の基板(以下、「注目基板」という。)がインデクサIDからインターフェイスIFまで搬送されつつ、ユニット配置部MPの複数の処理ユニットにおいて処理される様子をダイヤグラム的に示している。一方、図4の下部は、上部と同一時点における空調ユニットACの動作を示している。なお、時点T1において注目基板は、キャリアCに収納された状態でインデクサIDの載置ステージ15に載置されているものとする。
【0035】
図4の上部に示すように、注目基板は、まず、キャリアCからインデクサIDの移載ロボットTFに取り出され(時点T1)、ユニット配置部MPの搬送ロボットTRに受け渡される(時点T2)。
【0036】
次に、注目基板は、搬送ロボットTRにより密着強化ユニットAHに搬送されて(時点T3)、密着強化処理がなされる(時点T3〜T4)。
【0037】
次に、注目基板は、搬送ロボットTRに受け渡され(時点T4)、冷却ユニットCPに搬送されて(時点T5)、常温程度にまで降温される(時点T5〜T7)。
【0038】
次に、注目基板は、搬送ロボットTRに受け渡され(時点T7)、塗布処理ユニットSCに搬送され(時点T8)、レジスト塗布処理がなされる。すなわち、注目基板は、回転されつつレジストが塗布され、その主面上にレジスト膜が形成される(時点T8〜T9)。
【0039】
次に、注目基板は、搬送ロボットTRに受け渡され(時点T9)、加熱ユニットHPに搬送され(時点T10)、プリベークと呼ばれる加熱処理(露光前の焼きしめ処理)がなされる(時点T10〜T11)。
【0040】
次に、注目基板は、搬送ロボットTRに受け渡され(時点T11)、冷却ユニットCPに搬送されて(時点T12)、常温程度にまで降温される(時点T12〜T13)。
【0041】
次に、注目基板は、搬送ロボットTRに受け渡され(時点T13)、さらに、インターフェイスIFの受渡ロボットに受け渡される(時点T14)。その後、注目基板は露光装置に受け渡され、露光装置において露光処理がなされた後、再度、インターフェイスIFの受渡ロボットに受け渡される。そして、注目基板は、現像処理ユニットSDで現像処理などがなされた後、再び、インデクサIDのキャリアCに収納されることとなる。
【0042】
上記のような注目基板に対して処理を行った時間のうち、塗布処理ユニットSCにおいてレジスト塗布処理がなされている時間(以下、「塗布処理時間」という。)は、時点T8〜T9の時間Ttである。したがって、この塗布処理時間Ttにおいては、塗布処理ユニットSC内の空気の温度および湿度を管理する必要がある。その一方で、他の時間に関しては、塗布処理ユニットSCは処理を待機する待機状態(アイドリング状態)となるため、塗布処理ユニットSC内の空気の温度および湿度の管理は必要でない。すなわち、塗布処理時間Ttに関しては、塗布処理ユニットSC内の空気の温度および湿度を通常範囲内の値に調整する必要があるが、他の時間に関しては省電力範囲内の値に調整すればよいこととなる。
【0043】
このため、塗布処理時間Ttには、塗布処理ユニットSC内の空気の温度および湿度が通常範囲内の値となるように、コントローラ11により、空調ユニットACの動作が省電力動作と通常動作との間で切替制御される。ただし、空調ユニットACの動作を省電力動作から通常動作に切り替えたとき、即座に、塗布処理ユニットSC内の空気の温度および湿度が通常範囲内の値になるわけではなく、その調整にはある程度の時間が必要となる。
【0044】
図5は、空調ユニットACの動作を省電力動作から通常動作に切り替えたときにおける塗布処理ユニットSC内の空気の温度の変化を示す図である。図において横軸は時間、縦軸は塗布処理ユニットSC内の空気の温度を示している。また、空調ユニットACの動作は、時点Taにおいて省電力動作から通常動作に切り替えられたものとする。
【0045】
時点Taまでの省電力動作においては、塗布処理ユニットSC内の空気の温度は、省電力範囲(Te±5℃の範囲)Ra2内のいずれかの値となっている。そして、時点Taとなり空調ユニットACの動作が通常動作に切り替えられると、塗布処理ユニットSC内の空気の温度が、理想温度Teとなるように漸次的に変化する。
【0046】
塗布処理ユニットSC内の空気の温度が、省電力範囲Ra2内の値から、レジスト塗布処理で要求される通常範囲(Te±1℃の範囲)Ra1内の値に変化するまでにかかる時間(以下、「変化時間」という。)は、省電力動作中における空気の温度が理想温度Teから離れているほど大となる。例えば、図5の例において、省電力動作中の温度は、符号L2で示す場合は理想温度Teに比較的近く、符号L1および符号L3で示す場合は理想温度Teから比較的離れている。そして、図に示すように、符号L1および符号L3で示す場合における変化時間Pe1は、符号L2の場合における変化時間Pe2よりも大となる。
【0047】
したがって、このような変化時間は、省電力動作中の温度が、省電力範囲の限界値(Te+5℃あるいはTe−5℃)であるときに最大となる。この最大となる変化時間(以下、「最大変化時間」という。)は、計測等により予め求めることができる。また、湿度に関しても、温度と同様に、省電力範囲内の値から通常範囲内の値に変化するまでにかかる時間のうち、最大となる時間(最大変化時間)を求めることができる。
【0048】
このような温度の最大変化時間と湿度の最大変化時間とのうち大きい方は、塗布処理ユニットSC内の空気の温度および湿度の双方を、省電力範囲内の値から通常範囲内の値に確実に調整するために必要な時間(以下、「調整時間」といい、記号Ti0を用いる。)となる。すなわち、空調ユニットACの動作を省電力動作から通常動作に切り替えてから、塗布処理ユニットSC内の空気の温度および湿度の双方を確実に通常範囲内の値とするためには、調整時間Ti0の経過が必要となるわけである。
【0049】
このことから、塗布処理時間Ttの開始時点T8において(図4参照。)、塗布処理ユニットSC内の空気の温度および湿度の双方が通常範囲内の値となるためには、時点T8よりも調整時間Ti0だけ早い時点である時点T6において、空調ユニットACの動作を省電力動作から通常動作に切り替える必要があるわけである。
【0050】
このような空調ユニットACの動作を切り替えるべきタイミング(以下、「切替タイミング」という。)は、コントローラ11によって求められる。切替タイミングを求めるためには、まず、注目基板がインデクサIDの移載ロボットTFに取り出されてから、塗布処理ユニットSCに搬送されるまでの時間(以下、「装置内搬送時間」という。)Ti1が求められる。この装置内搬送時間Ti1は、注目基板の処理手順から求められる。具体的には、各処理ユニットの処理時間や、処理ユニット間の搬送時間が予め記憶装置12に記憶されており、塗布処理ユニットSCに注目基板が搬送されるまでに注目基板への処理手順上必要となる時間が加算され、この演算により装置内搬送時間Ti1が求められる。
【0051】
そして、移載ロボットTFにより注目基板が取り出されると、取り出されたタイミング(時点T1)に装置内搬送時間Ti1が加算され、注目基板が塗布処理ユニットSCに搬送されるタイミング(以下、「搬送タイミング」という。:時点T8)が求められる。そして、この搬送タイミングから、調整時間Ti0が減算されて、切替タイミング(時点T6)が求められることとなる。調整時間Ti0は、予め記憶装置12に記憶されている。
【0052】
このような切替タイミングを求める演算は、移載ロボットTFにより注目基板が取り出されたタイミング(時点T1)において瞬時になされる。そして、切替タイミング(時点T6)となると、その時点でコントローラ11により空調ユニットACの動作が省電力動作から通常動作に切り替えられる。これにより、塗布処理ユニットSC内の空気の温度および湿度がそれぞれ漸次的に変化し、搬送タイミング(時点T8)においては、それぞれが調整範囲内の値に確実に調整されることとなる。
【0053】
注目基板が塗布処理ユニットSCから取り出されると、以降は塗布処理ユニットSC内の空気の温度および湿度の管理は必要でないため、注目基板が取り出されたタイミング(時点T9)にて、空調ユニットACの動作が通常動作から省電力動作に切り替えられる。このような制御により、塗布処理ユニットSCに基板が搬送されておらず処理がなされてないアイドリング状態において、空調ユニットACを最大能力で動作させることがなくなる。その結果、塗布現像装置1のランニングコストの低減および省エネルギー化を図ることができる。
【0054】
なお、上記では塗布現像装置1が一の基板(注目基板)のみを処理するものとして説明しているが、塗布現像装置1は複数の基板を時間的に連続して処理することも可能である。このように複数の基板を時間的に連続して処理するときは、複数の基板のうち最初の基板に対して処理を行うときに、切替タイミングが導出され、切替タイミングにおいて空調ユニットACの動作が省電力動作から通常動作に切り替えられる。そして、連続して処理される複数の基板のうち最後の基板に対してのレジスト塗布処理が完了すると、空調ユニットACの動作が通常動作から省電力動作に切り替えられる。これにより、複数の基板を時間的に連続して処理するときにおいても、必要に応じて空調ユニットACの動作が通常動作と省電力動作との間で切り替えられ、塗布現像装置1のランニングコストの低減および省エネルギー化を図ることができることとなる。
【0055】
また、本実施の形態においては省電力範囲は通常範囲を含むため、塗布処理ユニットSC内の空気の温度および湿度を省電力範囲内の値から通常範囲内の値に調整するために必要な調整時間を短縮することができる。その結果、調整範囲が省電力範囲に設定される時間、すなわち、空調ユニットACが省電力動作を行う時間をより長くすることができ、ランニングコストの低減および省エネルギー化を図ることができる。
【0056】
以上、本発明の第1の実施の形態について説明を行ったが、塗布現像装置1においては、塗布処理ユニットSCへの基板の搬送状態に応じて空調ユニットACの動作が通常動作と省電力動作との間で切り替えられるため、塗布処理ユニットSCに基板が搬送されておらず温度および湿度の調整の必要性が少ないときに、空調ユニットACを最大能力で動作させることがなくなる。その結果、塗布現像装置1のランニングコストの低減および省エネルギー化を図ることができる。
【0057】
また、塗布処理ユニットSCに基板が搬送される搬送タイミングから、空調ユニットACが温度および湿度を調整するために必要な調整時間を減算して、調整範囲を変更すべき切替タイミングを求める。このため、搬送タイミングにおいて、塗布処理ユニットSC内の空気の温度および湿度を通常範囲内の値に確実に調整することができる。これとともに、調整範囲が省電力範囲に設定されている時間を極力長くすることができるため、効果的にランニングコストの低減および省エネルギー化を図ることができることとなる。
【0058】
<2.第2の実施の形態>
次に、本発明の第2の実施の形態について説明する。第1の実施の形態の塗布現像装置1においては、調整時間Ti0が装置内搬送時間Ti1より小であったが、本実施の形態の塗布現像装置1においては調整時間Ti0が装置内搬送時間Ti1より大となっている。このように調整時間Ti0が装置内搬送時間Ti1より大となるときには、装置内で搬送を開始するタイミングより前に、空調ユニットACの動作を切り替えるべき切替タイミングが存在することとなるため、装置外部における基板の搬送状態を示す情報が必要となる。このため、本実施の形態の塗布現像装置1は、装置外部における基板の搬送状態を示す信号を受信するようにしている。
【0059】
図6は、本実施の形態の塗布現像装置1が適用される基板処理システム100の構成概要を示す図である。図に示すように、基板処理システム100は、基板製品の製造工程において必要となる各種の基板処理装置6を複数台備えている。これら複数の基板処理装置6には、本実施の形態の塗布現像装置1の他、基板に対して洗浄処理を行う洗浄装置3や露光装置2が含まれている。
【0060】
また、基板処理システム100は、AGV(Automatic Guided Vehicle)、RGV(Rail Guided Vehicle)、OHT(Over-head Hoist Transport)などで構成される搬送装置4を備えている。基板処理装置6の処理対象となる基板Wは、キャリアCに収納された状態で、搬送装置4により複数の基板処理装置6の間を所定の工程順に従って循環搬送される。本実施の形態の工程においては、塗布現像装置1には、洗浄装置3で洗浄処理がなされた基板Wが搬送装置4により搬送されるものとする。
【0061】
これら複数の基板処理装置6および搬送装置4は基板処理システム100が備えるネットワークに接続されている。図7は、基板処理システム100のネットワーク101を含めた構成を示す図である。図に示すように、塗布現像装置1、露光装置2および洗浄装置3を含む複数の基板処理装置6ならびに搬送装置4はそれぞれ、ネットワーク101に接続されている。また、ネットワーク101には、基板処理システム100の全体を統括するホストコンピュータ5が接続されている。ホストコンピュータ5と、各基板処理装置6および搬送装置4とは、ネットワーク101を介して、装置相互間で信号やデータなどの通信を行うことが可能となっている。また、複数の基板処理装置6および搬送装置4は、ホストコンピュータ5の制御下にて、所定の動作を行うこととなる。
【0062】
図8は、本実施の形態の塗布現像装置1の動作を説明するためのタイミングチャートであり、図中の符号T21〜T27はそれぞれ時点を示している。図8の上部は、処理対象となる一の基板(注目基板)が、洗浄装置3、搬送装置4および塗布現像装置1により、装置間および処理ユニット間を搬送されつつ処理される様子をダイヤグラム的に示している。一方、図8の下部は、上部と同一時点における空調ユニットACの動作を示している。なお、時点T21において、注目基板は、洗浄装置3において洗浄処理がなされているものとする。
【0063】
図8の上部に示すように、注目基板は、洗浄装置3による洗浄処理が完了すると、キャリアCに収納されて搬送装置4に受け渡される(時点T22)。そして、搬送装置4により、塗布現像装置1のインデクサIDまで搬送される(時点T24)。
【0064】
インデクサIDに搬送された注目基板は、キャリアCからインデクサIDの移載ロボットTFに取り出される(時点T24)。そして、第1の実施の形態と同様に、搬送ロボットTRにより密着強化ユニットAHおよび冷却ユニットCPに搬送されて所定の処理がなされる。そして、注目基板は、塗布処理ユニットSCに搬送され(時点T25)、レジスト塗布処理がなされる(時点T25〜T26)。続いて、注目基板は、搬送ロボットTRに受け渡され(時点T26)、以降は第1の実施の形態と同様に、所定の処理がなされつつインターフェイスIFまで搬送されることとなる(時点T27)。
【0065】
図8においては、時点T25〜T26が塗布処理時間Ttであり、この塗布処理時間Ttにおいては、塗布処理ユニットSC内の空気の温度および湿度を通常範囲内の値とする必要がある。しかしながら、本実施の形態の空調ユニットACの調整時間Ti0は、装置内搬送時間Ti1(時点T24〜T25)より大であることから、装置内搬送時間Ti1の開始時点T24より以前に、空調ユニットACの動作を切り替えるべき切替タイミングを求める必要がある。
【0066】
この切替タイミングを求めるため、本実施の形態の塗布現像装置1には、注目基板に関して塗布現像装置1が行う工程の前工程である洗浄装置3の洗浄処理が完了し、塗布現像装置1に向けて注目基板の搬送が開始されたとき(時点T22)、ホストコンピュータ5からその旨を示す信号が送信されるようになっている。
【0067】
具体的には、洗浄装置3において注目基板の洗浄処理が完了され、注目基板が搬送装置4に受け渡されると、洗浄装置3から完了信号がホストコンピュータ5に送信される。この完了信号を受信したホストコンピュータ5は、受信した完了信号をさらに塗布現像装置1に転送する。そして、転送された完了信号が、塗布現像装置1のコントローラ11により受信される。この完了信号を受信することによって、塗布現像装置1のコントローラ11は、前工程を行う洗浄装置3から注目基板の搬送が開始されたタイミング(以下、「搬送開始タイミング」という。:時点T22)を把握することができることとなる。
【0068】
コントローラ11が搬送開始タイミングを把握すると、この搬送開始タイミング(時点T22)に、搬送装置4が洗浄装置3から塗布現像装置1まで注目基板を搬送するために必要な時間(以下、「装置外搬送時間」という。)Ti2が加算され、注目基板がインデクサIDに到着するタイミング(以下、「到着タイミング」という。:時点T24)が導出される。装置外搬送時間Ti2は予め記憶装置12に記憶されている。
【0069】
続いて、導出された到着タイミングT24に、装置内搬送時間Ti1が加算され、搬送タイミング(時点T25)が求められる。さらに、この搬送タイミングから、調整時間Ti0が減算されて、切替タイミング(時点T23)が求められることとなる。
【0070】
このような切替タイミングを求める演算は、ホストコンピュータ5から完了信号を受信すると同時(時点T22)に瞬時になされる。そして、切替タイミング(時点T23)となると、その時点でコントローラ11により空調ユニットACの動作が省電力動作から通常動作に切り替えられる。これにより、塗布処理ユニットSC内の空気の温度および湿度がそれぞれ漸次的に変化し、搬送タイミング(時点T25)においては、それぞれが調整範囲内の値に確実に調整されることとなる。
【0071】
注目基板が塗布処理ユニットSCから取り出されると、以降は塗布処理ユニットSC内の空気の温度および湿度の管理は必要でないため、第1の実施の形態と同様に、注目基板が取り出されたタイミング(時点T26)に、空調ユニットACの動作が通常動作から省電力動作に切り替えられることとなる。
【0072】
なお、本実施の形態においても塗布現像装置1は、複数の基板を時間的に連続して処理することが可能である。このように複数の基板を時間的に連続して処理するときは、第1の実施の形態と同様に、複数の基板のうち最初の基板に対して処理を行うときに、切替タイミングが導出され、切替タイミングにおいて空調ユニットACの動作が省電力動作から通常動作に切り替えられる。そして、連続して処理される複数の基板のうち最後の基板に対してのレジスト塗布処理が完了すると、空調ユニットACの動作が通常動作から省電力動作に切り替えられることとなる。
【0073】
以上、第2の実施の形態について説明を行ったが、本実施の形態の塗布現像装置1においては、塗布現像装置1の外部における基板の搬送状態を示す信号を受信し、この信号に基づいて、塗布処理ユニットSCに基板が搬送される搬送タイミングを取得し、さらにこの搬送タイミングから切替タイミングが求められる。このため、調整時間が装置内搬送時間より大となる場合であっても、搬送タイミングにおいて、塗布処理ユニットSCの空気の温度または湿度を通常範囲内の値に確実に調整することができることとなる。
【0074】
<3.変形例>
以上、本発明の実施の形態について説明してきたが、この発明は上記実施の形態に限定されるものではなく様々な変形が可能である。
【0075】
例えば、上記実施の形態の空調ユニットACは、塗布処理ユニットSC内の空気の温度および湿度を調整するものであったが、現像処理ユニットSDなど他の処理ユニット内の空気の温度または湿度を調整するものであってもよい。
【0076】
また、上記実施の形態において説明した基板処理装置(塗布現像装置1)は、処理部(塗布処理ユニットSC)の内部の空気の温度および湿度の双方を調整するものであったが、温度および湿度のいずれかのみを調整するものであってもよい。
【0077】
また、上記第2の実施の形態においては、ホストコンピュータ5から送信される信号は、前工程を担う基板処理装置(洗浄装置3)において処理対象となる基板の搬送が開始されたタイミング(搬送開始タイミング)を示すものであったが、処理対象となる基板が、本発明に係る基板処理装置(塗布現像装置1)に到着するタイミング(到着タイミング)を示すものであってもよい。この場合は、例えば、ホストコンピュータ5において到着タイミングを導出すればよい。
【0078】
また、上記においては塗布現像装置1について説明を行ったがこれに限定されるものではなく、半導体基板、液晶表示装置用ガラス基板、フォトマスク用ガラス基板、光ディスク用基板等の基板を処理する処理部を有し、該処理部内の空気の温度または湿度を調整する空気調整手段を備えた基板処理装置であれば、いかなる基板処理装置であっても本発明に係る技術を適用することが可能である。
【0079】
【発明の効果】
以上、説明したように、請求項1ないし5の発明によれば、処理部への基板の搬送状態に応じて空気調整手段の調整動作を制御するため、温度または湿度の調整の必要性が少ないときに、空気調整手段を最大能力で動作させることがなくなり、ランニングコストの低減および省エネルギー化を図ることができる。
【0080】
また特に、請求項2の発明によれば、調整範囲を大とすることで、空気調整手段の調整動作の時間が減少するため、ランニングコストの低減および省エネルギー化を図ることができる。
【0081】
また特に、請求項3の発明によれば、空気調整手段が温度または湿度を調整するために必要な調整時間と、処理部に基板が搬送される第1のタイミングとに基づいて、制御手段が調整範囲を変更すべき第2のタイミングを求める。このため、第1のタイミングにおいて、処理部内の空気の温度または湿度を第1の範囲内の値に確実に調整することができる。これとともに、調整範囲が第2の範囲に設定されている時間を極力長くすることができ、ランニングコストの低減および省エネルギー化を図ることができる。
【0082】
また特に、請求項4の発明によれば、空気調整手段が処理部の内部の空気の温度または湿度を第2の範囲内の値から第1の範囲内の値に調整するために必要な調整時間を短縮することができる。その結果、調整範囲が第2の範囲に設定される時間を、より長くすることができ、ランニングコストの低減および省エネルギー化を図ることができる。
【0083】
また特に、請求項5の発明によれば、基板処理装置の外部における基板の搬送状態を示す信号を受信し、この信号に基づいて処理部に基板が搬送される第1のタイミングを取得するため、基板が基板処理装置の外部から搬送される場合であっても第2のタイミングを求めることができる。このため、第1のタイミングにおいて、処理部内の空気の温度または湿度を第1の範囲内の値に確実に調整することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係る基板処理装置である塗布現像装置の概略構成を示す図である。
【図2】塗布現像装置のユニット配置部の一断面を示す図である。
【図3】塗布現像装置の機能構成を機能ブロックを用いて示す図である。
【図4】第1の実施の形態の塗布現像装置の動作を説明するための図である。
【図5】塗布処理ユニット内の空気の温度の変化を示す図である。
【図6】基板処理システムの構成概要を示す図である。
【図7】基板処理システムのネットワークを含めた構成を示す図である。
【図8】第2の実施の形態の塗布現像装置の動作を説明するための図である。
【符号の説明】
1 塗布現像装置
4 搬送装置
14 基板搬送部
13 熱処理ユニット群
29 温湿度センサ
AC 空調ユニット
ID インデクサ
IF インターフェイス
SC 塗布処理ユニット
SD 現像処理ユニット[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a substrate processing apparatus for processing a semiconductor substrate, a glass substrate for a liquid crystal display device, a glass substrate for a photomask, a substrate for an optical disk, and the like (hereinafter, referred to as a “substrate”).
[0002]
[Prior art]
In the manufacture of semiconductors and liquid crystal displays, various types of substrate processing equipment are used to perform a series of processes such as cleaning, resist coating, exposure, development, etching, formation of interlayer insulating films, heat treatment, and dicing on substrates. Is used. In such a substrate processing apparatus, since the temperature and humidity of the atmosphere may affect the processing result and the yield may be deteriorated, the temperature and the temperature of the air in the processing unit that performs the processing affected by the temperature and humidity may be reduced. Humidity is adjusted using an air conditioning unit.
[0003]
For example, in a coating / developing apparatus (coater / developer) which is a substrate processing apparatus for performing resist coating processing and developing processing, the temperature and humidity of air in a coating processing unit for coating a resist on a substrate are affected by the thickness of the resist film. In order to exert an influence, the temperature and humidity of the air in the coating processing unit are adjusted by an air conditioning unit (for example, see Patent Document 1).
[0004]
[Patent Document 1]
JP-A-10-154644
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, the processing unit of the substrate processing apparatus is in a state of waiting for processing when a substrate to be processed is not being transported. In such a standby state, since the temperature and humidity of the atmosphere do not affect the processing result, it can be said that it is not necessary to adjust the temperature and humidity of the air in the processing unit.
[0006]
However, in the conventional substrate processing apparatus, the air conditioning unit is always operated at the maximum capacity regardless of the state of the processing unit. For this reason, there has been a problem that the running cost of the substrate processing apparatus becomes large. Further, in response to recent demand for energy saving, a substrate processing apparatus capable of achieving energy saving has been demanded.
[0007]
The present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to provide a substrate processing apparatus capable of reducing running costs and saving energy.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above-mentioned problems, an invention according to
[0009]
According to a second aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus according to the first aspect, the air adjusting unit adjusts the temperature or humidity of the air in the processing unit to a value within a specific adjustment range. The control means changes the adjustment range.
[0010]
According to a third aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus according to the second aspect, the control means adjusts the adjustment range between a first range and a second range larger than the first range. A first timing acquisition unit that acquires a first timing at which the substrate is transported to the processing unit, the first timing, and the air adjustment unit is configured to change air inside the processing unit. The control unit changes the adjustment range from the second range based on an adjustment time required to adjust the temperature or humidity of the second range from a value in the second range to a value in the first range. A second timing acquisition unit for acquiring a second timing to be changed to the first range.
[0011]
According to a fourth aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus according to the third aspect, the second range includes the first range.
[0012]
According to a fifth aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus according to the third or fourth aspect, the substrate is transported from outside the substrate processing apparatus, and the substrate is provided outside the substrate processing apparatus. Receiving means for receiving a signal indicating the transport state from a predetermined external device, wherein the first timing obtaining means obtains the first timing based on the signal.
[0013]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. Hereinafter, as an example of the substrate processing apparatus, a coating and developing apparatus (coater / developer) that performs a resist coating process, a developing process, and the like will be described.
[0014]
<1. First Embodiment>
<1-1. Configuration>
FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a coating and developing
[0015]
The indexer ID includes a transfer robot TF and a
[0016]
The transfer robot TF is movable along the Y-axis direction. At the same time, the transfer robot TF has one transfer arm that can move up and down in the Z-axis direction, rotate in the XY plane, and move forward and backward in the X-axis direction. Thereby, the transfer robot TF can move the transfer arm three-dimensionally. By such an operation of the transfer robot TF, the indexer ID takes out an unprocessed substrate from the carrier C and transfers it to the unit placement unit MP, and receives a processed substrate from the unit placement unit MP and stores it in the carrier C. can do.
[0017]
The unit arrangement unit MP includes various processing units that perform predetermined processing on the substrate. Two coating processing units SC are arranged on the front side (Y axis minus side) of the unit arrangement part MP, and two development processing units SD are arranged on the back side (Y axis plus side). The coating processing unit SC is a so-called spin coater, and performs a resist coating process of applying a resist while rotating the substrate to form a resist film on the main surface of the substrate. The developing unit SD is a so-called spin developer, and performs a developing process by supplying a developing solution onto the exposed substrate. The coating unit SC and the developing unit SD are opposed to each other with the
[0018]
Further, three heat
[0019]
A transfer robot TR is disposed on a
[0020]
That is, each processing unit arranged in the unit arrangement part MP receives the substrate transported by the transport robot TR and performs a predetermined process on the substrate. The substrate processed in one processing unit is transferred again to the transport robot TR, and transported to a processing unit that performs the next processing in the processing procedure. Further, the transfer robot TR can transfer the substrate between the transfer robot TF of the indexer ID and the interface IF.
[0021]
The interface IF receives the resist-coated substrate from the unit arrangement unit MP and transfers it to an adjacently arranged exposure apparatus (not shown), and receives the exposed substrate from the exposure apparatus and returns it to the unit arrangement unit MP. Has functions. In order to realize this function, a transfer robot (not shown) for transferring a substrate is arranged at the interface IF. In this specification, the transfer robot TF, the transfer robot TR, the delivery robot, and the like that transfer a substrate are collectively referred to as a substrate transfer unit 14 (see FIG. 3).
[0022]
An air conditioning unit AC is arranged above each of the two coating processing units SC. In the coating processing unit SC, the thickness of the formed resist film changes according to the temperature and humidity of the air (atmosphere) inside the coating processing unit SC. Since such a change in film thickness may lead to a deterioration in yield, it is necessary to control the temperature and humidity of the air inside the coating processing unit SC. Therefore, the temperature and humidity of the air inside the two coating processing units SC are adjusted by the air conditioning unit AC disposed immediately above each of the two coating processing units SC.
[0023]
FIG. 2 is a diagram illustrating an outline of a cross section of the unit arrangement section MP of the coating and developing
[0024]
The air conditioning unit AC is configured to take in air outside the apparatus from the upper air intake and supply air having adjusted temperature and humidity to the lower coating processing unit SC. , A
[0025]
The
[0026]
At an appropriate position in the coating unit SC, a temperature and
[0027]
The air-conditioning unit AC can perform a power-saving operation that consumes relatively little power as well as a normal operation. In the normal operation and the power saving operation, the temperature adjustment range and the humidity adjustment range (generally speaking, the adjustment range of the air adjustment ability) targeted by the air conditioning unit AC are set differently.
[0028]
For example, assuming that the temperature of the air that is ideal in the resist coating process (hereinafter referred to as “ideal temperature”) is Te (° C.) and the humidity of the ideal air is Hu (% RH), in normal operation, The temperature adjustment range is set to Te ± 1 (° C.), and the humidity adjustment range is set to Hu ± 1 (% RH). When performing the resist coating process, the temperature and the humidity of the atmosphere are required to be values within these ranges, and this range is hereinafter referred to as a “normal range”.
[0029]
On the other hand, in the power saving operation, the temperature adjustment range is set to a range of Te ± 5 (° C.), and the humidity adjustment range is set to a range of Hu ± 5 (% RH). That is, the adjustment range of the temperature and the humidity in the power saving operation (hereinafter referred to as “power saving range”) is set to a range larger than the normal range and including the normal range.
[0030]
In the air conditioning unit AC, when the temperature or humidity in the air conditioning unit AC obtained by the temperature /
[0031]
Control for switching the operation of the air conditioning unit AC between normal operation and power saving operation, that is, control for changing the adjustment range of the air conditioning unit AC between the normal range and the power saving range, is performed inside the coating and developing
[0032]
FIG. 3 is a diagram showing a functional configuration of the coating and developing
[0033]
Further, as shown in the figure, the above-described coating processing unit SC, developing processing unit SD, heat
[0034]
<1-2. Operation>
Next, the operation of the coating and developing
[0035]
As shown in the upper part of FIG. 4, the board of interest is first taken out of the carrier C by the transfer robot TF of the indexer ID (time T1), and is transferred to the transfer robot TR of the unit placement unit MP (time T2).
[0036]
Next, the target substrate is transported by the transport robot TR to the adhesion strengthening unit AH (time T3), and the adhesion enhancement processing is performed (time T3 to T4).
[0037]
Next, the substrate of interest is transferred to the transfer robot TR (time T4), transferred to the cooling unit CP (time T5), and cooled down to about room temperature (time T5 to T7).
[0038]
Next, the target substrate is transferred to the transfer robot TR (time T7), transferred to the coating processing unit SC (time T8), and subjected to a resist coating process. That is, the resist is applied to the target substrate while being rotated, and a resist film is formed on the main surface (time T8 to T9).
[0039]
Next, the target substrate is transferred to the transport robot TR (time T9), transported to the heating unit HP (time T10), and subjected to a heating process called pre-baking (a baking process before exposure) (time T10). T11).
[0040]
Next, the substrate of interest is transferred to the transfer robot TR (time T11), transferred to the cooling unit CP (time T12), and cooled to about room temperature (time T12 to T13).
[0041]
Next, the target board is transferred to the transfer robot TR (time T13), and further transferred to the transfer robot of the interface IF (time T14). Thereafter, the target substrate is transferred to the exposure apparatus, subjected to exposure processing in the exposure apparatus, and then transferred again to the transfer robot of the interface IF. Then, after the development processing and the like are performed in the development processing unit SD, the target substrate is again stored in the carrier C of the indexer ID.
[0042]
The time during which the resist processing is performed in the coating processing unit SC (hereinafter, referred to as “coating processing time”) of the processing time for the target substrate as described above is the time Tt from time T8 to T9. It is. Therefore, in the coating processing time Tt, it is necessary to manage the temperature and humidity of the air in the coating processing unit SC. On the other hand, the coating processing unit SC is in a standby state (idling state) in which the coating processing unit SC waits for processing for other times, so that it is not necessary to manage the temperature and humidity of the air in the coating processing unit SC. That is, with regard to the coating processing time Tt, it is necessary to adjust the temperature and humidity of the air in the coating processing unit SC to values within a normal range, but to adjust the other times to values within the power saving range. It will be.
[0043]
Therefore, during the coating processing time Tt, the
[0044]
FIG. 5 is a diagram illustrating a change in the temperature of the air in the coating processing unit SC when the operation of the air conditioning unit AC is switched from the power saving operation to the normal operation. In the figure, the horizontal axis represents time, and the vertical axis represents the temperature of air in the coating unit SC. It is also assumed that the operation of the air conditioning unit AC has been switched from the power saving operation to the normal operation at the time Ta.
[0045]
In the power saving operation up to the time point Ta, the temperature of the air in the coating processing unit SC is any value within the power saving range (range of Te ± 5 ° C.) Ra2. Then, when the operation of the air conditioning unit AC is switched to the normal operation at the time Ta, the temperature of the air in the coating processing unit SC gradually changes to the ideal temperature Te.
[0046]
The time required for the temperature of the air in the coating processing unit SC to change from a value in the power saving range Ra2 to a value in the normal range (range of Te ± 1 ° C.) Ra1 required in the resist coating processing (hereinafter, referred to as “Ra1”). , "Change time") becomes larger as the temperature of the air during the power saving operation becomes farther from the ideal temperature Te. For example, in the example of FIG. 5, the temperature during the power saving operation is relatively close to the ideal temperature Te when indicated by a reference symbol L2, and relatively far from the ideal temperature Te when indicated by a reference symbol L1 and L3. Then, as shown in the figure, the change time Pe1 in the case indicated by the code L1 and the code L3 is longer than the change time Pe2 in the case of the code L2.
[0047]
Therefore, such a change time becomes maximum when the temperature during the power saving operation is at the limit value of the power saving range (Te + 5 ° C. or Te−5 ° C.). The maximum change time (hereinafter, referred to as “maximum change time”) can be obtained in advance by measurement or the like. As for the humidity, similarly to the temperature, the maximum time (maximum change time) of the time required to change from a value within the power saving range to a value within the normal range can be obtained.
[0048]
The larger one of the maximum change time of the temperature and the maximum change time of the humidity ensures that both the temperature and the humidity of the air in the coating processing unit SC are changed from the value in the power saving range to the value in the normal range. (Hereinafter referred to as "adjustment time" and using the symbol Ti0). That is, after switching the operation of the air conditioning unit AC from the power saving operation to the normal operation, in order to ensure that both the temperature and humidity of the air in the coating processing unit SC are within the normal range, the adjustment time Ti0 It takes time.
[0049]
From this, at the start time T8 of the coating processing time Tt (see FIG. 4), both the temperature and the humidity of the air in the coating processing unit SC are adjusted to be within the normal range from the time T8. At the time T6, which is earlier by the time Ti0, it is necessary to switch the operation of the air conditioning unit AC from the power saving operation to the normal operation.
[0050]
The timing for switching the operation of the air conditioning unit AC (hereinafter, referred to as “switching timing”) is obtained by the
[0051]
Then, when the target substrate is taken out by the transfer robot TF, the in-apparatus transfer time Ti1 is added to the taken-out timing (time T1), and the timing at which the target substrate is transferred to the coating processing unit SC (hereinafter, “transfer timing The time T8) is determined. Then, the switching time (time T6) is obtained by subtracting the adjustment time Ti0 from the transport timing. The adjustment time Ti0 is stored in the
[0052]
Such calculation for determining the switching timing is instantaneously performed at the timing (time T1) when the target substrate is taken out by the transfer robot TF. Then, at the switch timing (time T6), the operation of the air conditioning unit AC is switched from the power saving operation to the normal operation by the
[0053]
When the substrate of interest is removed from the coating processing unit SC, the temperature and humidity of the air in the coating processing unit SC are no longer required. Therefore, at the timing when the substrate of interest is removed (time T9), the air conditioning unit AC is turned off. The operation is switched from the normal operation to the power saving operation. By such control, the air conditioning unit AC does not operate at the maximum capacity in an idling state in which the substrate is not transferred to the coating processing unit SC and the processing is not performed. As a result, the running cost of the coating and developing
[0054]
In the above description, the coating and developing
[0055]
Further, in the present embodiment, since the power saving range includes the normal range, the adjustment necessary for adjusting the temperature and humidity of the air in the coating processing unit SC from the value in the power saving range to the value in the normal range. Time can be reduced. As a result, the time during which the adjustment range is set to the power saving range, that is, the time during which the air conditioning unit AC performs the power saving operation can be made longer, so that the running cost can be reduced and energy can be saved.
[0056]
As described above, the first embodiment of the present invention has been described. However, in the coating and developing
[0057]
In addition, a switching timing for changing the adjustment range is obtained by subtracting an adjustment time required for the air conditioning unit AC to adjust the temperature and the humidity from the transfer timing at which the substrate is transferred to the coating processing unit SC. Therefore, at the transport timing, the temperature and humidity of the air in the coating processing unit SC can be surely adjusted to values within the normal range. At the same time, the time during which the adjustment range is set in the power saving range can be made as long as possible, so that it is possible to effectively reduce running costs and save energy.
[0058]
<2. Second Embodiment>
Next, a second embodiment of the present invention will be described. In the coating and developing
[0059]
FIG. 6 is a diagram illustrating a schematic configuration of a
[0060]
Further, the
[0061]
The plurality of
[0062]
FIG. 8 is a timing chart for explaining the operation of the coating and developing
[0063]
As shown in the upper part of FIG. 8, when the cleaning process by the
[0064]
The board of interest transported to the indexer ID is taken out of the carrier C to the transfer robot TF of the indexer ID (time T24). Then, similarly to the first embodiment, the transport robot TR transports the wafer to the adhesion strengthening unit AH and the cooling unit CP, and performs a predetermined process. Then, the target substrate is transported to the coating processing unit SC (time T25), and a resist coating process is performed (time T25 to T26). Subsequently, the target board is transferred to the transport robot TR (time T26), and thereafter, is transported to the interface IF while performing predetermined processing as in the first embodiment (time T27). .
[0065]
In FIG. 8, the time T25 to T26 is the coating processing time Tt. In the coating processing time Tt, the temperature and humidity of the air in the coating processing unit SC need to be within the normal range. However, the adjustment time Ti0 of the air conditioning unit AC of the present embodiment is longer than the intra-apparatus transfer time Ti1 (time T24 to T25), and therefore, before the start time T24 of the intra-apparatus transfer time Ti1, the air-conditioning unit AC is adjusted. It is necessary to determine a switching timing at which the operation of the switch should be switched.
[0066]
In order to determine the switching timing, the coating and developing
[0067]
Specifically, when the cleaning process of the target substrate is completed in the
[0068]
When the
[0069]
Subsequently, the intra-device transport time Ti1 is added to the derived arrival timing T24, and a transport timing (time T25) is obtained. Further, the switching time (time T23) is obtained by subtracting the adjustment time Ti0 from the transport timing.
[0070]
Such calculation for determining the switching timing is performed instantaneously at the same time (time T22) when the completion signal is received from the
[0071]
When the substrate of interest is taken out of the coating processing unit SC, thereafter, the management of the temperature and humidity of the air in the coating processing unit SC is not necessary. Therefore, similarly to the first embodiment, the timing (at which the substrate of interest is taken out) At time T26), the operation of the air conditioning unit AC is switched from the normal operation to the power saving operation.
[0072]
In this embodiment, the coating and developing
[0073]
As described above, the second embodiment has been described. In the coating and developing
[0074]
<3. Modification>
Although the embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications are possible.
[0075]
For example, the air conditioning unit AC of the above embodiment adjusts the temperature and humidity of the air in the coating processing unit SC, but adjusts the temperature and humidity of the air in another processing unit such as the development processing unit SD. May be used.
[0076]
The substrate processing apparatus (coating and developing apparatus 1) described in the above embodiment adjusts both the temperature and humidity of the air inside the processing unit (coating processing unit SC). Only one of these may be adjusted.
[0077]
In the second embodiment, the signal transmitted from the
[0078]
In the above description, the coating and developing
[0079]
【The invention's effect】
As described above, according to the first to fifth aspects of the present invention, the adjusting operation of the air adjusting means is controlled in accordance with the state of transport of the substrate to the processing unit, so that it is not necessary to adjust the temperature or humidity. Sometimes, the air adjusting means does not operate at the maximum capacity, so that the running cost can be reduced and the energy can be saved.
[0080]
In particular, according to the second aspect of the present invention, since the adjustment operation time of the air adjustment means is reduced by increasing the adjustment range, it is possible to reduce running costs and save energy.
[0081]
In particular, according to the third aspect of the present invention, the control means can be controlled based on an adjustment time required for the air adjustment means to adjust the temperature or humidity and the first timing at which the substrate is transferred to the processing section. A second timing at which the adjustment range should be changed is determined. Therefore, at the first timing, the temperature or the humidity of the air in the processing unit can be surely adjusted to a value within the first range. At the same time, the time during which the adjustment range is set to the second range can be made as long as possible, thereby reducing running costs and saving energy.
[0082]
In particular, according to the invention of
[0083]
In particular, according to the fifth aspect of the present invention, a signal indicating a substrate transfer state outside the substrate processing apparatus is received, and the first timing at which the substrate is transferred to the processing unit based on the signal is acquired. The second timing can be obtained even when the substrate is transported from outside the substrate processing apparatus. Therefore, at the first timing, the temperature or the humidity of the air in the processing unit can be surely adjusted to a value within the first range.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a coating and developing apparatus which is a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a diagram illustrating a cross section of a unit arrangement portion of the coating and developing apparatus.
FIG. 3 is a diagram illustrating a functional configuration of a coating and developing apparatus using functional blocks.
FIG. 4 is a diagram for explaining the operation of the coating and developing apparatus according to the first embodiment.
FIG. 5 is a diagram showing a change in temperature of air in a coating processing unit.
FIG. 6 is a diagram illustrating a schematic configuration of a substrate processing system.
FIG. 7 is a diagram showing a configuration including a network of the substrate processing system.
FIG. 8 is a diagram for explaining the operation of the coating and developing apparatus according to the second embodiment.
[Explanation of symbols]
1 Coating and developing equipment
4 Transport device
14 Substrate transport section
13 Heat treatment unit group
29 Temperature and humidity sensor
AC air conditioning unit
ID indexer
IF interface
SC coating unit
SD processing unit
Claims (5)
前記処理部内の空気の温度または湿度を調整する空気調整手段と、
前記処理部への前記基板の搬送状態に応じて、前記空気調整手段の出力に関する調整動作を、消費電力が異なる複数の動作状態の間で制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする基板処理装置。A substrate processing apparatus including a processing unit that receives the transported substrate and performs processing on the substrate,
Air adjusting means for adjusting the temperature or humidity of the air in the processing unit,
A control unit that controls an adjustment operation regarding an output of the air adjustment unit between a plurality of operation states having different power consumptions, according to a transfer state of the substrate to the processing unit;
A substrate processing apparatus comprising:
前記空気調整手段は、前記処理部内の空気の温度または湿度を、特定の調整範囲内の値に調整するものであり、
前記制御手段は、前記調整範囲を変更することを特徴とする基板処理装置。The substrate processing apparatus according to claim 1,
The air adjustment means is for adjusting the temperature or humidity of the air in the processing unit to a value within a specific adjustment range,
The substrate processing apparatus, wherein the control unit changes the adjustment range.
前記制御手段は、前記調整範囲を第1の範囲と前記第1の範囲より大の第2の範囲との間で変更するものであって、
前記処理部に前記基板が搬送される第1のタイミングを取得する第1タイミング取得手段と、
前記第1のタイミングと、前記空気調整手段が前記処理部の内部の空気の温度または湿度を前記第2の範囲内の値から前記第1の範囲内の値に調整するために必要な調整時間とに基づいて、前記制御手段が前記調整範囲を前記第2の範囲から前記第1の範囲に変更すべき第2のタイミングを取得する第2タイミング取得手段と、
をさらに備えることを特徴とする基板処理装置。The substrate processing apparatus according to claim 2,
The control means changes the adjustment range between a first range and a second range larger than the first range,
First timing acquisition means for acquiring a first timing at which the substrate is transported to the processing unit;
The first timing and an adjustment time required for the air adjustment unit to adjust the temperature or humidity of the air inside the processing unit from a value in the second range to a value in the first range. A second timing obtaining unit configured to obtain a second timing at which the control unit changes the adjustment range from the second range to the first range based on
A substrate processing apparatus, further comprising:
前記第2の範囲は、前記第1の範囲を含むことを特徴とする基板処理装置。The substrate processing apparatus according to claim 3,
The substrate processing apparatus according to claim 2, wherein the second range includes the first range.
前記基板は、前記基板処理装置の外部から搬送されるものであって、
前記基板処理装置の外部における前記基板の搬送状態を示す信号を所定の外部装置から受信する受信手段、
をさらに備え、
前記第1タイミング取得手段は、前記信号に基づいて、前記第1タイミングを取得することを特徴とする基板処理装置。The substrate processing apparatus according to claim 3, wherein
The substrate is transported from outside the substrate processing apparatus,
Receiving means for receiving a signal indicating the transfer state of the substrate outside the substrate processing apparatus from a predetermined external device,
Further comprising
The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the first timing obtaining unit obtains the first timing based on the signal.
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