JP2004186014A - Manufacturing method for field electron emission type display - Google Patents

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JP2004186014A
JP2004186014A JP2002352323A JP2002352323A JP2004186014A JP 2004186014 A JP2004186014 A JP 2004186014A JP 2002352323 A JP2002352323 A JP 2002352323A JP 2002352323 A JP2002352323 A JP 2002352323A JP 2004186014 A JP2004186014 A JP 2004186014A
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layer
electrode
carbon
manufacturing
insulating layer
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Kazunao Ono
一修 小野
Hirohiko Murakami
村上  裕彦
Osamu Miura
治 三浦
Masaaki Hirakawa
正明 平川
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method for a carbon-based material electron emission type display using a cathode base substrate structure capable of withstanding a growth process of a carbon-based electron emission material with a heat cycle from room temperature to 700 °C when directly manufacturing a carbon-based electron emission element in a cathode base substrate. <P>SOLUTION: In this manufacturing method for a field electron emission type display of a 3 pole structure type, a catalyst metal layer 27 is formed only within a gate hole 26 of a gate electrode layer 24 and an insulating layer 23 is formed at a temperature of 300 °C or higher. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO&NCIPI

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、炭素系材料を電子放出源として利用した表示装置に関するものである。特に、グラファイト・ナノファイバやカーボン・ナノチューブなどの炭素系材料を利用した、カソード電極、ゲート電極およびアノード電極からなる3極構造型の電界電子放出型表示装置(Field Emission Display, FED)の作製方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
最近、グラファイト・ナノファイバやカーボン・ナノチューブなどの炭素系材料を電子放出源に利用したFEDのような表示装置の作製法について、いくつかの報告がなされている。
【0003】
電子放出源を利用した表示装置には、カソード電極およびアノード電極のみで構成される2極構造型の素子とカソード電極、ゲート電極およびアノード電極から構成される3極構造型の素子を用いる場合がある。3極構造型の素子としては、例えば、図1に模式的に示すように、ガラス基板1、カソード電極層2、絶縁層3、ゲート電極層4から構成され、ゲート電極層4と絶縁層3とに開口されたゲート孔内の底部に炭素系電子放出材料5を有するものが提案されている(例えば、特許文献1参照)。この場合、ゲート電極層に形成した開口部の絶縁層に、ゲート電極層をマスクとしてエッチングによりマイクロキャビティを形成し、その後に犠牲層(分離層)を形成している。
【0004】
3極構造型の素子では、カソード−ゲート電極間距離を小さくすることにより、電子放出源に印加される実効的な電場を大きくすることが可能であり、2極構造型の素子よりも駆動電圧を低くできる。実際に、FEDを作製し、駆動させることを考慮すると、駆動電圧は低いほうが望ましく、現在、FEDの構造は3極構造型の素子を使用するのが主流である。
【0005】
3極構造型を有する表示素子において、炭素系電子放出素子を作製する方法には大別して2種類の方法がある。1つはスピン・コーティング法、スプレー法もしくは印刷法などによる塗布法であり、もう1つはCVD技術等を利用してカソードベース基板に直接形成する方法である。後者の方法では、炭素系電子放出材料をカソードベース基板上で成長させる際に、基板が400〜700℃程度のプロセス温度にさらされてしまうため、室温〜700℃の熱サイクルに耐えうるカソードベース基板の構造が要求される。
【0006】
【特許文献1】
特開2001−236879号公報(特許請求の範囲、図9など)
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
FEDを作製する際の従来技術の問題点には以下の2つがある。
(1)炭素系電子放出材料を基板上に成長させる場合、この基板が、触媒金属層が連続的に存するカソードベース基板であると、ゲート電極層に開口されたゲート孔の底部の端の部分から炭素系電子放出材料が絶縁層の下の部分にもぐり込んでで成長し、その成長過程でゲート孔の構造を破壊してしまう。
(2)カソードベース基板の絶縁層が、室温〜700℃の熱サイクルで破壊されてしまう。
【0008】
本発明の課題は、カソードベース基板の中に直接炭素系電子放出素子を作製する際の上記従来技術の問題点を解決するFEDの作製方法、特に、上述したような室温〜700℃の熱サイクルをもつ炭素系電子放出材料成長プロセスに耐えうるカソードベース基板構造を作製し、この基板構造を使用した電界電子放出型表示装置の作製方法を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明の電界電子放出型表示装置の作製方法は、カソード電極、ゲート電極およびアノード電極からなる3極構造型の電極層と、絶縁層と、触媒金属層と、炭素系材料からなる電子放出源とを具備した電界電子放出型表示装置の作製方法において、該触媒金属層を該ゲート電極のゲート孔内にのみ形成すると共に、絶縁層を300℃以上の温度で形成することを特徴とする。
【0010】
このように絶縁層形成プロセスを300℃以上の高温で行うことにより、室温〜700℃の熱サイクルをもつ炭素系電子放出材料の成長プロセスに耐えうるカソードベース基板を提供できるので、ゲート−カソード間の絶縁層の破壊の問題が解決でき、炭素系材料を電子放出源とした3極構造型FEDの作製が可能となる。
この触媒金属層として、Fe、Coまたはこれらの金属の少なくとも1種類を含む合金で形成する。
【0011】
本発明の電界電子放出型表示装置の作製方法はまた、カソード電極、ゲート電極およびアノード電極からなる3極構造型の電極層と、絶縁層と、触媒金属層と、炭素系材料からなる電子放出源とを具備した電界電子放出型表示装置の作製方法において、ガラス基板上にカソード電極層、絶縁層およびゲート電極層を順次形成し、該ゲート電極層に対してパターニングとエッチングを行ってゲート孔の開口部を形成した後、このパターニングされたゲート電極層上に犠牲層を形成し、次いでエッチングによりゲート孔を形成し、このゲート孔内の底部にのみ該触媒金属層を形成することを特徴とする。
この場合の絶縁層の形成温度は300℃以上であり、触媒金属層は、Fe、Coまたはこれらの金属の少なくとも1種類を含む合金層である。
【0012】
【実施例】
以下、本発明の実施例および比較例として、炭素系材料を利用した3極構造型FEDの作製方法について図面を参照して説明する。
(実施例1)
本実施例では、(1)カソードベース基板上のゲート孔内触媒金属層は、リフト・オフ法を使用して形成し、また、(2)ゲート−カソード電極間の絶縁層は、スパッタリング法、蒸着法、CVD法などを使用して形成し、この絶縁層形成プロセスでは、基板を300℃以上に加熱して行った。
図2(a)〜(f)は、リフト・オフ法を用いたカソードベース基板の作製方法における各プロセスを説明するための基板の模式的断面図である。
【0013】
図2(a)に示すように、ガラス基板21上にカソード電極層22、絶縁層23、ゲート電極層24を順次形成した。以下にその作製条件を示す。ここで、物質Aを膜厚Xnmで積層した場合、A(Xnm)と表記することにする。カソード電極層22として、200℃の基板加熱を行いながらDCスパッタリングを使用してCr(100nm)を成膜した。フォトリソグラフィでCrカソード電極層22のパターニングを施した後、その上に絶縁層23を形成した。絶縁層23は、300℃の基板加熱を行いながらRFスパッタリングを使用してSiO(3μm)を成膜した。これは、成膜後の絶縁層の応力による破損を防ぐためである。この絶縁層形成の際、このRFスパッタリング時に基板に付着するダストによるピンホールを防ぐため、SiO膜は1.5μmずつ2回にわけて形成し、SiO(1.5μm)を成膜した後、純水でこすり洗浄を行った。最後に、ゲート電極層24としてCr(300nm)を成膜した。このCrの成膜条件は、カソード電極層22の場合と同様に、200℃の基板加熱をしながらDCスパッタリングで行った。
【0014】
図2(b)に示すように、Crゲート電極層24のパターニングとゲート孔開口部形成のためのエッチングを行った。本実施例では、ゲート孔開口部の孔径が10μmになるようにエッチングした。
図2(c)に示すように、フォトリソグラフィ法を使用して、ゲート孔以外の部分を保護するための犠牲層(フォトレジスト層)25をパターニングされたCrゲート電極層24の上に形成した。
図2(d)に示すように、エッチャントとしてフッ酸を使用して、SiO絶縁層23のエッチングを行い、ゲート孔26を形成した。犠牲層25を形成した後にエッチングを行うので、ゲート電極層が保護される。
【0015】
図2(e)に示すように、触媒金属層27としてFe合金であるFe52Ni42Cr層をRFスパッタリングで形成した。スパッタリング以外に蒸着などの他の成膜方法でも形成できる。
図2(f)に示すように、犠牲層25および犠牲層上の触媒金属層27を除去した。
【0016】
以上のようなプロセスで形成したカソードベース基板に対して、熱CVD法を用いて、400〜700℃で炭素系電子放出材料をゲート孔26内の触媒金属層27上に成長させ、3極構造型の電界電子放出型表示装置を作製した。このようにして作製した電界電子放出型表示装置に対し、ゲート電圧およびアノード電圧を印加すると、安定した3極電流電圧特性が得られた。作製した電界電子放出型表示装置のカソードベース基板の断面に対する走査電子顕微鏡による観察写真を図3に示す。この図から明らかなように、炭素系電子放出材料の形成プロセスにおける熱サイクルでも絶縁層は破壊されていなかった。
また、絶縁層の形成を、基板温度を変えて(350℃)、上記と同様に行ったところ、得られた電界電子放出型表示装置のカソードベース基板においても、炭素系電子放出材料の形成プロセスにおける熱サイクルで絶縁層は破壊されていなかった。
【0017】
(比較例1)
実施例1のプロセス条件に準じて、図4に示すように、ガラス基板41上に形成されたカソード電極層42と絶縁層44との間に触媒金属層43が連続的に存在するカソードベース基板を作製した。図4において、45はパターニングされたゲート電極層であり、46は炭素系電子放出材料である。このカソードベース基板を用いて電界電子放出型表示装置を作製した。得られた表示装置の断面を走査型電子顕微鏡により観察したところ、炭素系電子放出材料46をこの基板上に成長させる際に、ゲート孔の端の部分Aから炭素系電子放出材料46が絶縁層44の下にもぐり込んで成長しており、その成長過程でゲート孔の構造が破壊されていたことが分かった。
【0018】
(比較例2)
実施例1のプロセス条件に準じてカソードベース基板を作製した。但し、絶縁層形成時の基板温度を300℃より低い温度(200〜250℃)で行った。作製されたカソードベース基板上に炭素系電子放出材料を成長させ、このカソードベース基板の断面を走査型電子顕微鏡により観察したところ、炭素系電子放出材料をカソードベース基板上に成長させる際に、室温〜700℃の熱サイクルによってカソードベース基板の絶縁層が破壊されていたことが分かった(図5)。
【0019】
【発明の効果】
炭素系電子材料を基板上に成長させる場合、触媒金属層が連続的に存在するカソードベース基板であると、ゲート孔の端の部分から炭素系電子放出材料が絶縁層の下の部分にもぐり込んで成長し、その成長過程でゲート孔の構造を破壊してしまう。
これに対して、本発明によれば、触媒金属層をゲート電極層のゲート孔内にのみ形成すると共に、絶縁層を300℃以上の温度で形成することにより、ゲート孔の構造を破壊することなく、室温〜700℃の熱サイクルをもつ炭素系電子放出材料成長プロセスに耐えうるカソードベース基板を作製でき、この基板を用いて、炭素系電子放出材料を電子放出源とした有用な3極構造型の電界電子放出型表示装置を作製できるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の3極構造型FED用カソードベース基板の模式的断面図。
【図2】本発明の作製方法に従って、リフト・オフ法によるカソードベース基板の作製手順を示す図であり、(a)〜(f)は各プロセスでの基板の模式的断面図。
【図3】実施例1に従って、リフト・オフ法により作製した3極構造型FED用カソードベース基板の断面の走査型電子顕微鏡写真。
【図4】比較例1で作製した3極構造型FED用カソードベース基板の模式的断面図。
【図5】比較例2で作製した3極構造型FED用カソードベース基板の断面の走査型電子顕微鏡写真。
【符号の説明】
2 カソード電極層 3 絶縁層層
4 ゲート電極層 5 炭素系電子放出材料
22 カソード電極層 23 絶縁層
24 ゲート電極層 25 犠牲層
26 ゲート孔 27 触媒金属層
42 カソード電極層 43 触媒金属層
44 絶縁層 45 ゲート電極層
46 炭素系電子放出材料
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a display device using a carbon-based material as an electron emission source. In particular, a method of manufacturing a three-electrode field emission display (FED) comprising a cathode electrode, a gate electrode, and an anode electrode using a carbon-based material such as graphite nanofiber or carbon nanotube. It is about.
[0002]
[Prior art]
Recently, several reports have been made on a method of manufacturing a display device such as an FED using a carbon-based material such as graphite nanofiber or carbon nanotube as an electron emission source.
[0003]
In a display device using an electron emission source, there are cases in which a two-electrode structure element including only a cathode electrode and an anode electrode and a three-electrode structure element including a cathode electrode, a gate electrode, and an anode electrode are used. is there. For example, as shown schematically in FIG. 1, the three-electrode structure type element includes a glass substrate 1, a cathode electrode layer 2, an insulating layer 3, and a gate electrode layer 4, and the gate electrode layer 4 and the insulating layer 3 There is a proposal in which a carbon-based electron-emitting material 5 is provided at the bottom of a gate hole opened at the same time (for example, see Patent Document 1). In this case, a microcavity is formed in the insulating layer at the opening formed in the gate electrode layer by etching using the gate electrode layer as a mask, and then a sacrifice layer (separation layer) is formed.
[0004]
In a three-pole element, the effective electric field applied to the electron emission source can be increased by reducing the distance between the cathode and the gate electrode. Can be lowered. Considering the fact that the FED is actually manufactured and driven, it is desirable that the driving voltage is low. At present, the structure of the FED mainly uses a three-pole element.
[0005]
In a display device having a three-electrode structure type, there are roughly two types of methods for manufacturing a carbon-based electron-emitting device. One is a coating method by a spin coating method, a spray method, a printing method, or the like, and the other is a method of directly forming on a cathode base substrate using a CVD technique or the like. In the latter method, when the carbon-based electron-emitting material is grown on the cathode base substrate, the substrate is exposed to a process temperature of about 400 to 700 ° C., so that the cathode base can withstand a thermal cycle of room temperature to 700 ° C. A substrate structure is required.
[0006]
[Patent Document 1]
JP 2001-236879 A (Claims, FIG. 9, etc.)
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
There are the following two problems in the related art when manufacturing an FED.
(1) When a carbon-based electron-emitting material is grown on a substrate, if the substrate is a cathode base substrate on which a catalytic metal layer is continuously present, a portion at the bottom end of a gate hole opened in the gate electrode layer As a result, the carbon-based electron-emitting material penetrates into the portion below the insulating layer and grows, and destroys the structure of the gate hole during the growth process.
(2) The insulating layer of the cathode base substrate is broken by a thermal cycle from room temperature to 700 ° C.
[0008]
An object of the present invention is to provide a method of fabricating an FED that solves the above-mentioned problems of the related art when fabricating a carbon-based electron-emitting device directly in a cathode base substrate. It is an object of the present invention to produce a cathode base substrate structure that can withstand a carbon-based electron-emitting material growth process having the above structure, and to provide a method for manufacturing a field emission display device using this substrate structure.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
The method of manufacturing a field emission display according to the present invention is directed to a three-electrode structure electrode layer including a cathode electrode, a gate electrode, and an anode electrode, an insulating layer, a catalyst metal layer, and an electron emission source including a carbon-based material. Wherein the catalyst metal layer is formed only in the gate hole of the gate electrode, and the insulating layer is formed at a temperature of 300 ° C. or higher.
[0010]
By performing the insulating layer forming process at a high temperature of 300 ° C. or more, a cathode base substrate that can withstand the growth process of a carbon-based electron-emitting material having a thermal cycle of room temperature to 700 ° C. can be provided. The problem of destruction of the insulating layer can be solved, and a three-electrode FED using a carbon-based material as an electron emission source can be manufactured.
This catalytic metal layer is formed of Fe, Co, or an alloy containing at least one of these metals.
[0011]
The method for manufacturing a field emission display according to the present invention also includes a three-electrode structure electrode layer including a cathode electrode, a gate electrode, and an anode electrode, an insulating layer, a catalyst metal layer, and an electron emission layer including a carbon-based material. A cathode electrode layer, an insulating layer, and a gate electrode layer are sequentially formed on a glass substrate, and patterning and etching are performed on the gate electrode layer to form a gate hole. After forming an opening, a sacrificial layer is formed on the patterned gate electrode layer, and then a gate hole is formed by etching, and the catalytic metal layer is formed only at the bottom in the gate hole. And
In this case, the formation temperature of the insulating layer is 300 ° C. or higher, and the catalytic metal layer is Fe, Co, or an alloy layer containing at least one of these metals.
[0012]
【Example】
Hereinafter, as an example of the present invention and a comparative example, a method of manufacturing a three-electrode FED using a carbon-based material will be described with reference to the drawings.
(Example 1)
In this embodiment, (1) the catalyst metal layer in the gate hole on the cathode base substrate is formed by using a lift-off method, and (2) the insulating layer between the gate and the cathode electrode is formed by a sputtering method. The insulating layer was formed using an evaporation method, a CVD method, or the like. In this insulating layer forming process, the substrate was heated to 300 ° C. or higher.
FIGS. 2A to 2F are schematic cross-sectional views of a substrate for describing each process in a method of manufacturing a cathode base substrate using a lift-off method.
[0013]
As shown in FIG. 2A, a cathode electrode layer 22, an insulating layer 23, and a gate electrode layer 24 were sequentially formed on a glass substrate 21. The manufacturing conditions are described below. Here, when the substance A is laminated with a film thickness of X nm, it is referred to as A (X nm). As the cathode electrode layer 22, Cr (100 nm) was formed using DC sputtering while heating the substrate at 200 ° C. After patterning of the Cr cathode electrode layer 22 by photolithography, an insulating layer 23 was formed thereon. The insulating layer 23 was formed of SiO 2 (3 μm) using RF sputtering while heating the substrate at 300 ° C. This is to prevent the insulating layer after film formation from being damaged by stress. At the time of forming the insulating layer, in order to prevent pinholes due to dust adhering to the substrate at the time of the RF sputtering, the SiO 2 film was formed in two steps of 1.5 μm, and SiO 2 (1.5 μm) was formed. Thereafter, rubbing was performed with pure water. Finally, Cr (300 nm) was formed as the gate electrode layer 24. The Cr film was formed by DC sputtering while heating the substrate at 200 ° C. in the same manner as in the case of the cathode electrode layer 22.
[0014]
As shown in FIG. 2B, patterning of the Cr gate electrode layer 24 and etching for forming a gate hole opening were performed. In this embodiment, etching was performed so that the hole diameter of the gate hole opening became 10 μm.
As shown in FIG. 2C, a sacrifice layer (photoresist layer) 25 for protecting portions other than the gate hole was formed on the patterned Cr gate electrode layer 24 by using a photolithography method. .
As shown in FIG. 2D, the SiO 2 insulating layer 23 was etched using hydrofluoric acid as an etchant to form a gate hole 26. Since the etching is performed after the sacrifice layer 25 is formed, the gate electrode layer is protected.
[0015]
As shown in FIG. 2E, an Fe 52 Ni 42 Cr 6 layer, which is an Fe alloy, was formed as the catalyst metal layer 27 by RF sputtering. It can also be formed by other film formation methods such as vapor deposition other than sputtering.
As shown in FIG. 2F, the sacrifice layer 25 and the catalyst metal layer 27 on the sacrifice layer were removed.
[0016]
On the cathode base substrate formed by the above process, a carbon-based electron-emitting material is grown on the catalytic metal layer 27 in the gate hole 26 at 400 to 700 ° C. using a thermal CVD method to form a three-electrode structure. Type field emission display device was manufactured. When a gate voltage and an anode voltage were applied to the thus-produced field emission display, stable three-pole current-voltage characteristics were obtained. FIG. 3 shows a photograph of a cross section of the cathode base substrate of the manufactured field emission display device observed by a scanning electron microscope. As is apparent from this figure, the insulating layer was not destroyed even in the thermal cycle in the process of forming the carbon-based electron-emitting material.
Further, the formation of the insulating layer was carried out in the same manner as described above while changing the substrate temperature (350 ° C.), and the formation process of the carbon-based electron emitting material was also performed on the cathode base substrate of the obtained field emission display. The insulating layer was not destroyed by the heat cycle in.
[0017]
(Comparative Example 1)
According to the process conditions of the first embodiment, as shown in FIG. 4, a cathode base substrate in which a catalytic metal layer 43 continuously exists between a cathode electrode layer 42 and an insulating layer 44 formed on a glass substrate 41 Was prepared. In FIG. 4, reference numeral 45 denotes a patterned gate electrode layer, and reference numeral 46 denotes a carbon-based electron-emitting material. Using this cathode base substrate, a field emission display was manufactured. Observation of the cross section of the obtained display device with a scanning electron microscope revealed that when the carbon-based electron-emitting material 46 was grown on this substrate, the carbon-based electron-emitting material 46 was insulated from the portion A at the end of the gate hole. 44, it was found that the structure of the gate hole was destroyed during the growth process.
[0018]
(Comparative Example 2)
A cathode base substrate was manufactured according to the process conditions of Example 1. However, the temperature of the substrate at the time of forming the insulating layer was lower than 300 ° C. (200 to 250 ° C.). A carbon-based electron-emitting material was grown on the prepared cathode base substrate, and a cross section of the cathode-based substrate was observed with a scanning electron microscope. It was found that the insulating layer of the cathode base substrate had been destroyed by the heat cycle of about 700 ° C. (FIG. 5).
[0019]
【The invention's effect】
When growing a carbon-based electronic material on a substrate, if the catalyst base layer is a continuous cathode base substrate, the carbon-based electron-emitting material penetrates from the edge of the gate hole to the portion below the insulating layer. It grows and destroys the gate hole structure during the growth process.
On the other hand, according to the present invention, the catalyst metal layer is formed only in the gate hole of the gate electrode layer, and the insulating layer is formed at a temperature of 300 ° C. or more, thereby destroying the structure of the gate hole. And a cathode base substrate capable of withstanding a process of growing a carbon-based electron-emitting material having a thermal cycle from room temperature to 700 ° C., and using this substrate, a useful three-electrode structure using a carbon-based electron-emitting material as an electron-emitting source The field-emission display device of this type can be manufactured.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of a conventional cathode base substrate for a three-electrode FED.
FIGS. 2A to 2F are views showing a procedure for manufacturing a cathode base substrate by a lift-off method according to the manufacturing method of the present invention, and FIGS. 2A to 2F are schematic cross-sectional views of the substrate in each process.
FIG. 3 is a scanning electron micrograph of a cross section of a cathode base substrate for a three-electrode FED manufactured by a lift-off method according to Example 1.
FIG. 4 is a schematic cross-sectional view of a cathode base substrate for a three-electrode FED manufactured in Comparative Example 1.
FIG. 5 is a scanning electron micrograph of a cross section of a cathode base substrate for a three-electrode FED manufactured in Comparative Example 2.
[Explanation of symbols]
Reference Signs List 2 cathode electrode layer 3 insulating layer layer 4 gate electrode layer 5 carbon-based electron emitting material 22 cathode electrode layer 23 insulating layer 24 gate electrode layer 25 sacrificial layer 26 gate hole 27 catalytic metal layer 42 cathode electrode layer 43 catalytic metal layer 44 insulating layer 45 gate electrode layer 46 carbon-based electron emitting material

Claims (5)

カソード電極、ゲート電極およびアノード電極からなる3極構造型の電極層と、絶縁層と、触媒金属層と、炭素系材料からなる電子放出源とを具備した電界電子放出型表示装置の作製方法において、該触媒金属層を該ゲート電極のゲート孔内にのみ形成すると共に、該絶縁層を300℃以上の温度で形成することを特徴とする電界電子放出型表示装置の作製方法。In a method of manufacturing a field emission display device including a three-electrode structure electrode layer including a cathode electrode, a gate electrode, and an anode electrode, an insulating layer, a catalyst metal layer, and an electron emission source made of a carbon-based material. Forming the catalytic metal layer only in the gate hole of the gate electrode, and forming the insulating layer at a temperature of 300 ° C. or higher. 請求項1において、該触媒金属層としてFe、Coまたはこれらの金属の少なくとも1種類を含む合金で形成することを特徴とする電界電子放出型表示装置の作製方法。2. The method according to claim 1, wherein the catalytic metal layer is formed of Fe, Co, or an alloy containing at least one of these metals. カソード電極、ゲート電極およびアノード電極からなる3極構造型の電極層と、絶縁層と、触媒金属層と、炭素系材料からなる電子放出源とを具備した電界電子放出型表示装置の作製方法において、ガラス基板上にカソード電極層、絶縁層およびゲート電極層を順次形成し、該ゲート電極層に対してパターニングとエッチングを行ってゲート孔の開口部を形成した後、このパターニングされたゲート電極層上に犠牲層を形成し、次いでエッチングによりゲート孔を形成し、このゲート孔内の底部にのみ該触媒金属層を形成することを特徴とする電界電子放出型表示装置の作製方法。In a method of manufacturing a field emission display device including a three-electrode structure electrode layer including a cathode electrode, a gate electrode, and an anode electrode, an insulating layer, a catalyst metal layer, and an electron emission source made of a carbon-based material. A cathode electrode layer, an insulating layer, and a gate electrode layer are sequentially formed on a glass substrate, and the gate electrode layer is patterned and etched to form an opening of a gate hole, and then the patterned gate electrode layer is formed. A method for manufacturing a field-emission display device, comprising: forming a sacrificial layer thereon, forming a gate hole by etching, and forming the catalyst metal layer only on the bottom of the gate hole. 請求項3において、該絶縁層を300℃以上の温度で形成することを特徴とする電界電子放出型表示装置の作製方法。4. The method for manufacturing a field-emission display device according to claim 3, wherein the insulating layer is formed at a temperature of 300 ° C. or higher. 請求項3または4において、該触媒金属層としてFe、Coまたはこれらの金属の少なくとも1種類を含む合金で形成することを特徴とする電界電子放出型表示装置の作製方法。5. The method according to claim 3, wherein the catalyst metal layer is formed of Fe, Co, or an alloy containing at least one of these metals.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN102097272A (en) * 2011-01-10 2011-06-15 福州大学 Triode structured field emission display (FED) with anode and grid on same substrate

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