JP2004179751A - Surface acoustic wave apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、圧電基板の一方主面および他方主面のそれぞれにIDTを有する弾性表面波装置であって、携帯電話等の通信分野やテレビジョン等の電子回路に用いられる弾性表面波装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、電子機器の小型化・薄型化および信号処理速度の高速化が急速に進むなか、更に電子機器を小型化しようとする動きも活発に進められている。このような中で、携帯電話等の通信分野やテレビジョン等の電子回路に用いられる弾性表面波装置も、端末の小型化のために小実装面積および低背であることが求められる。小実装面積および低背を実現させる手法として、最近ではパッケージを用いないで、配線基板に直接チップ部品を実装するベアチップ実装方式の展開が進められている。その中でも、実装面積をチップサイズに限定することが出来るフリップチップ実装方式が注目されている。
【0003】
一方、携帯電話等の端末の増加に伴い、一台で複数のシステムに対応可能な端末機へのシフトを進めるに至っている。すなわち、従来とほぼ同じ大きさの携帯電話等の端末機に、異なる二つの回路を凝縮し搭載することが要求されている。このため、弾性表面波装置においても、二つ以上のシステムに対応する装置が望まれる。そのため、一つのパッケージに二つ以上の素子を内臓したデュアルタイプの装置が必要となる。デュアルタイプとして装置を構成すると、各種の部品の共有ができるので、異なる周波数毎に機器を用意するのに比較し、全体的なコストおよびサイズにおいて非常に有効である。しかし、各種周波数に対応させて圧電基板の同一面上に、複数のIDTを設けると弾性表面波装置自体が大型化するという課題を有する。また、各種周波数に対応するために、異なる膜厚のIDTが求められるが、同一面上に異なる膜厚のIDTを形成することは、製造プロセス上困難でコストの上昇につながる。
【0004】
そこで、上記のような携帯電話機等をデュアルタイプとする場合、その小型化に対応するべく、また、上記構造を有効に活用して性能を向上できる弾性表面波装置として、圧電基板の一方主面および他方主面に形成された第一および第二のIDTを有する弾性表面波素子と、この弾性表面波素子を囲み、それぞれのIDTと電気的に接続される接続部を有するベース配線基板と、封止キャップとを備え、第一および第二のIDTは金属バンプを介して、ベース配線基板および封止キャップに電気的に接続されるものが提案されている。また、第一のIDTは金属バンプを介して、ベース配線基板に電気的に接続され、第二のIDTは、ワイヤー接続により、ベース配線基板に電気的に接続されるものも提案されている(例えば、特許文献1参照。)。
【0005】
【特許文献1】
特開2001−244784号公報
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記に説明した従来技術による圧電基板の一方主面および他方主面のそれぞれにIDTを有する弾性表面波装置には、以下の問題が存在する。
【0007】
特許文献1においては、ベース配線基板に一方主面および他方主面のそれぞれにIDTを有する弾性表面波素子がフリップチップ実装されいる。弾性表面波素子とベース配線基板と所定の電気的な接続後、封止キャップが取り付けされる。封止キャップは、弾性表面波素子をベース配線基板とで封止する構造を有しており、接着剤を介してベース配線基板に取り付けされる。この構造において、弾性表面波装置を低背化するためには、封止キャップの厚みを低下させることが必要である。しかし、封止キャップの厚みの低下は、封止キャップの機械的な強度の低下につながることから、製造プロセスにおいても封止キャップが破損する等の課題を有することになる。
【0008】
また、弾性表面波素子は、一方主面および他方主面にIDTが形成されており、任意に選択されて使用されることもある。これを考慮し、それぞれの入出力部を独立させて電気回路に接続する必要がある。この電気的な接続のためにベース配線基板および封止キャップには、弾性表面波素子に設けられた接続部に対向する位置に、それぞれに対応する接続部および配線パターンが設けられる。しかし、封止キャップは、その構造から、これらの配線パターン等を形成するには、複雑なプロセスが必要であり、高いコストを有することは明らかである。
【0009】
更に、弾性表面波素子の一方主面および他方主面のそれぞれに設けられたIDTは、その有する機能を引き出すために、互いに電気的に接続されることもある。
その場合、例えば、弾性表面波素子内に形成したスルーホールを介して行われる。
【0010】
一般に弾性表面波素子として用いられる圧電基板は、その材料特性から、加工性が悪く、また割れ易いことからも、穴加工等することは困難である。一方主面および他方主面に設けられらIDTを弾性表面波素子に形成したスルーホールを介して電気的に接続することは現実的ではないと考えられる。また、封止キャップの内側に配線パターンを形成することで、電気的な接続を形成することもあるが、上記したようにその封止キャップの構造上、微細な配線が困難である。
【0011】
一方、ベース配線基板は、封止キャップの接着時の衝撃によるベース配線基板におけるエッジ部のワレ、カケ等を考慮する必要がある。このことことから、ベース配線基板のサイズが大きくなる傾向にある。また、ワイヤーにより圧電基板とベース配線基板との電気的な接続を取る場合には、その空間を封止キャップ内に形成する必要が生じるため、小型化、低背化には限界がある。
【0012】
【課題を解決するための手段】
上記問題を解決すべく本発明は、上面に接続部を有する実装基板と、一方主面および他方主面のそれぞれに少なくとも一つのIDTおよび接続部を設けた圧電基板と、一方主面で実装基板に実装された圧電基板と、圧電基板と実装基板の接続部を覆う樹脂フィルムとを備えた弾性表面波装置である。
【0013】
また、樹脂フィルムは、圧電基板を封止し、実装基板の上面に設けた接続部と圧電基板の他方主面に設けた接続部とを電気的に接続する配線パターンを備える弾性表面波装置である。
【0014】
更に、樹脂フィルムは、ポリイミドまたは液晶ポリマーである弾性表面波装置である。
【0015】
以上のような本発明の樹脂フィルムを用いた弾性表面波装置によれば、一方主面および他方主面に形成されたIDTの電気的な接合を取るための形成プロセスが容易である。また、低背化および小型化に対応した弾性表面波装置の形成が可能となる。更に、配線パターン形成を樹脂フィルムに行うことで、高精度の配線が可能となり、低コストでの形成ができる。また、樹脂フィルムは、加工性が良好であるため、高速加工も容易となる。
【0016】
一方主面および他方主面にIDTを設けた圧電基板に、圧電基板を封止し、配線機能を有する樹脂フィルムを用いることにより、小型化および低背化に対応した低コストな弾性表面波装置の供給が可能となる。
【0017】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施例について添付図に基いて詳細に説明する。
【0018】
図1は、本発明の弾性表面波装置における一実施例の概略断面図を示す。
【0019】
図1において、弾性表面波装置20は、実装基板1と圧電基板4と樹脂フィルム9を有する。
【0020】
実装基板1には、圧電基板4が実装される接続部2と、それとは別に接続部12が形成されている。圧電基板4には、一方主面および他方主面にそれぞれIDT5、6を有する。一方主面には、実装基板1に実装し接続部2と電気的な接続を形成するために、上面にバンプ11が形成された接続部7が形成されている。また、他方主面には接続部8が形成されている。樹脂フィルム9には、実装基板1の接続部12と圧電基板4の他方主面の接続部8とを電気的に接続する配線パターン10が形成されている。また、配線パターン10の一端および他端には、圧電基板4の接続部8および実装基板1の接続部12にそれぞれ接合するはんだバンプ3が形成されている。
【0021】
圧電基板4は、実装基板1に一方主面を下にして搭載されている。樹脂フィルム9は、圧電基板4と実装基板1上の接続部12を覆い、その際に配線パターン10の一端と接続部8を接続し、配線パターン10の他端と接続部12を接続する。これによって接続部8と接続部12が接続される。
【0022】
圧電基板4のIDT5と実装基板1と間には、少なくともバンプ11の厚み分だけ空間が存在する。また、圧電基板4のIDT6と樹脂フィルム9との間にも、少なくともバンプ3の厚み分だけ空間が存在する。
【0023】
また、実装基板1の上面に形成された接続部2は、所望する機能を引き出すために、実装基板1の上面に形成された接続部12と電気的に接続されていることもある。また、一方主面および他方主面に形成されたIDT5、6は求められる機能に対応するパターン形状および膜厚の電極がそれぞれに形成されている。
【0024】
以上のように、圧電基板4の封止および圧電基板4と実装基板1との電気的な接続機能を有する樹脂フィルム9を備えることで、封止および電気的な接続による弾性表面波装置の体積増加を最小限に抑えることができる。また、樹脂フィルム9の厚みは、0.05mm程度とすることが可能であることからも低背化に対応した弾性表面波装置を提供することが可能となる。また、樹脂フィルム9に形成された配線パターン10は、高精度の配線パターンを容易に形成することができる。また、微細な配線パターンへの対応が可能で、小型化に対応した弾性表面波装置を提供することが可能となる。更に、樹脂フィルム9は、フレキシブル性を有することから、圧電基板4の形状に対応した封止および電気的な接続が可能である。また、優れた加工性を有することから低コストでの形成ができる。
【0025】
上記した内容に対する製造方法の詳細を図2〜4に示す、圧電基板の形成〜実装基板への実装、樹脂フィルムを備える仮接着基板の形成、樹脂フィルム接着〜弾性表面波装置の形成における概略プロセスフローを用いて説明する。
【0026】
先ず、図2に圧電基板の形成〜実装基板への実装における概略プロセスフローを説明する。
【0027】
図2(a)に示すように、一方主面および他方主面が研磨加工された、LiTaO3からなる圧電基板4の一方主面に、フォトリソグラフィー技術を用いて、IDT5および接続部7を形成する。
【0028】
フォトリソグラフィー技術は、先ず、スピンコーター等を用いて所定の膜厚のレジストを塗布する。次に、所定のパターンが形成されたフォトリソマスクを介して、レジストを露光する。次に、現像処理することにより、金属膜を形成したい部分が開口したリフトオフ用レジストパターンを形成する。この時、レジストパターンは、リフトオフを考慮して逆テーパー形状に形成されることが望ましい。また、他方主面にIDT等のパターンを形成することを考慮して、位置合せのアライメントマークを設けておくと良い。
【0029】
次に、電極材料としてAlを主成分とした金属膜300nmを真空蒸着法により成膜した後、剥離液に浸漬、揺動させることにより、リフトオフ用レジスト膜が剥離(リフトオフ)され、IDT5および接続部7が形成される。
【0030】
次に図2(b)に示すように、圧電基板4の他方主面に、フォトリソグラフィー技術を用いて、IDT6および接続部8を形成する。
【0031】
フォトリソグラフィー技術は、上記した内容と同様であることから記載を省く。この時、先に形成したアライメントマークにより位置合わせすることで、所望の位置精度が得られる。次に、Alを主成分とした金属膜120nmを真空蒸着法により成膜形成した後、剥離液に浸漬、揺動させることにより、リフトオフ用レジストが剥離され、IDT6および接続部8が形成される。
【0032】
尚、所望する特性に応じて圧電基板4は、LiNbO3、水晶およびLiB4O7を用いることもある。また、金属膜もAlに限定するものではなく、Au、TaおよびW等の金属膜を用いても構わない。また、IDTとして形成した金属膜は、求められる特性に応じて最適な膜厚が各面毎にそれぞれ設定される。
【0033】
次に、図2(c)に示すように、一方主面に形成した接続部7の上面にAuバンプ11を形成する。Auバンプ11は、例えば、キャピラリー先端から導出されたAuの金属ワイヤーの先端に膨頭部を形成し、接続部に押し当てて先端部の膨頭部を押し潰して圧着し、その後で膨張部からワイヤーを切断したり、また、引き千切り方式等により形成される。
【0034】
次に図2(d)に示すように、ダイシングカットソーを用い、圧電基板4から所望する機能を発生する所望のサイズに個片化された圧電基板40を形成する。カット工法は、ダイシングカットソーに限るものではなく、所望する精度および品質が得られるのであれば、特に限定するものではない。
【0035】
次に図2(e)に示すように、上面に接続部2および12が形成された実装基板1に個片化された圧電基板40を実装し、個片化された圧電基板40が実装基板1に実装された状態50が形成される。ここで、圧電基板40の接続部7は、バンプ11を介して、実装基板1の接続部2に接合される。接合は、超音波熱併用式を用いると良い。
【0036】
次に、図3に樹脂フィルムの形成における概略プロセスフローを示す。
【0037】
先ず、図3(a)に示すように、ワックスを塗布したガラス基板からなる仮接着基板13に、加熱しながら圧力を加えて樹脂フィルム9を接着させる。この樹脂フィルム9は、ポリイミドフィルムまたは液晶ポリマーフィルム等、高耐熱性およびフレキシブルな状態のフィルムを用いると良い。次に樹脂フィルム9の上面に配線パターン材料Cuを真空蒸着法を用いて成膜する。
【0038】
次に、図3(b)に示すように、フォトリソグラフィー技術を用いて、配線パターン10を形成する。
【0039】
フォトリソグラフィー技術は、配線パターン材料として成膜したCuの上面に、所定の膜厚のレジストを塗布する。次に、不要な部分が開口するように、所定のパターンが形成されたフォトリソマスクを介して、レジストを露光する。次に、現像処理することで、レジストパターンを形成する。その後、エッチング液に浸漬、揺動等することにより、不要な配線材料を除去する。その後レジストを除去することにより、配線パターン10が形成される。このように、樹脂フィルム9に対する配線パターン10の形成を仮接着基板13上にて行うため、高精度の配線が可能となり、また、低コストでのパターン形成ができる。
【0040】
尚、配線材料はCuに限定するものではなく、AlおよびAu等十分に導電率の良好な材料であれば良い。また、配線パターン10の形成方法においても、上記したウェットエッチング法に限らず、ドライエッチング法、リフトオフ法、めっき法およびスクリーン印刷法を用いて形成しても良い。
【0041】
次に、図3(c)に示すように、配線パターン10の両端の上面にバンプ3として、電解めっき等によりSn/Au/Ni膜とはんだを形成する。バンプ3のはんだの形成法としては、印刷法、電子ビーム真空蒸着法およびスパッタ法、あるいは、シートはんだ打ち抜き法等、特に形成工法を限定するものではない。
【0042】
次に、図3(d)に示すように、樹脂フィルム9を所定のチップサイズに合わせてカット加工する。図3(d)において、レーザー光でカット加工された部分をイ部で示す。このようにして、カット加工された樹脂フィルム9を有する仮接着基板60が形成される。樹脂フィルム9に対するレーザー光でのカット工法は、低コスト、高スループットおよび高精度な非常に良好な加工性を示す。レーザー光の波長は、樹脂フィルム9への吸収性が良く、熱的影響の小さい532nm以下のものを用いると良い。
【0043】
次に図4に樹脂フィルム接着〜弾性表面波装置の形成における概略プロセスフローを示す。
【0044】
図4(a)に示すように、圧電基板40が実装基板1に実装された50上に樹脂フィルム9を備えた仮接着基板60を搭載する。その際、配線パターン10の上面に設けたバンプ3を介して、配線パターン10の一端を接続部8に接続する。
【0045】
次に、図4(b)に示すように仮接着基板13を樹脂フィルム9より剥離させる。仮接着基板13と樹脂フィルム9の界面には、ワックスを事前に塗布してあることから、容易に剥離が可能である。
【0046】
次に、図4(c)に示すように、樹脂フィルム9の周辺部を実装基板1側に曲げることによって、圧電基板4の他方主面に設けた接続部8に、一端が接合された配線パターン10の他端と、実装基板1に設けた接続部12とをバンプ3を介して接続する。また、同時に樹脂フィルム9の周辺部は、実装基板1の上面と熱圧着させることで、圧電基板4を封止する。
【0047】
このようにして形成された圧電基板4が実装、封止された実装基板1をダイシングカットソー等により個片化し、図1に示すデュアルバンド対応の弾性表面波装置20が形成される。カット工法は、ダイシングカットソーに限るものではなく。所望する精度および品質が得られるのであれば、特に限定するものではない。
【0048】
また、封止に関しては、図5に示す弾性表面波装置30のように、樹脂フィルム9で封止後に、樹脂フイルム9の外周部に封止樹脂14を塗布することで、更に圧電基板4の封止性を向上させることも可能である。
【0049】
【発明の効果】
以上のような本発明の樹脂フィルムを用いた弾性表面波装置によれば、一方主面および他方主面のぞれぞれに形成されたIDTの電気的な接合を取るための形成が容易になる。また、低背化および小型化が可能となる。更に、個片化に対する高速加工も容易となる。また、配線パターン形成を樹脂フィルムに行うことで、高精度の配線が可能となる。
【0050】
一方主面および他方主面にIDTを設けた圧電基板に、圧電基板を封止し、配線機能を有する樹脂フィルムを用いることにより、小型化および低背化に対応した低コストな弾性表面波装置の供給が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による弾性表面波装置の一実施例の断面図である。
【図2】本発明の圧電基板の形成〜実装基板への実装における弾性表面波装置の概略プロセスフローである。
【図3】本発明の樹脂フィルムを形成する弾性表面波装置の概略プロセスフローである。
【図4】本発明の樹樹脂フィルム接着〜弾性表面波装置の形成における概略プロセスフローである。
【図5】本発明による弾性表面波装置の別の封止法を用いた一実施例の断面図である。
【符号の説明】
1…実装基板
2、7、8、12…接続部
3…バンプ
4、40…圧電基板
5、6…IDT
9…樹脂フィルム
10…配線パターン
13…仮接着基板
14…封止樹脂
20、30…弾性表面波装置
50…実装状態の圧電基板
60…樹脂フィルムを備えた仮接着基板[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a surface acoustic wave device having an IDT on each of one main surface and the other main surface of a piezoelectric substrate, and is used for a communication field such as a mobile phone and an electronic circuit such as a television.
[0002]
[Prior art]
In recent years, as electronic devices have been rapidly becoming smaller and thinner and signal processing speed has been increasing rapidly, there has been a vigorous effort to further downsize electronic devices. Under such circumstances, a surface acoustic wave device used in a communication field such as a mobile phone or an electronic circuit such as a television is required to have a small mounting area and a low profile in order to reduce the size of a terminal. As a method of realizing a small mounting area and a low profile, a bare chip mounting method of mounting chip components directly on a wiring board without using a package has recently been developed. Among them, a flip-chip mounting method capable of limiting a mounting area to a chip size has attracted attention.
[0003]
On the other hand, with the increase in terminals such as mobile phones, the shift to terminals capable of supporting a plurality of systems by one unit has been advanced. That is, it is required that two different circuits be condensed and mounted on a terminal such as a mobile phone having substantially the same size as the conventional one. For this reason, also in a surface acoustic wave device, a device corresponding to two or more systems is desired. Therefore, a dual type device in which two or more elements are incorporated in one package is required. When the device is configured as a dual type, various components can be shared, which is very effective in overall cost and size as compared with preparing devices for different frequencies. However, if a plurality of IDTs are provided on the same surface of the piezoelectric substrate corresponding to various frequencies, there is a problem that the surface acoustic wave device itself becomes large. Further, in order to cope with various frequencies, IDTs having different film thicknesses are required. However, forming IDTs having different film thicknesses on the same surface is difficult in a manufacturing process and leads to an increase in cost.
[0004]
Therefore, when the above-mentioned mobile phone or the like is of a dual type, one of the main surfaces of the piezoelectric substrate is used as a surface acoustic wave device capable of improving the performance by effectively utilizing the above structure in order to cope with the miniaturization. And a surface acoustic wave element having first and second IDTs formed on the other main surface, a base wiring board surrounding the surface acoustic wave element and having a connection portion electrically connected to each IDT, There has been proposed a device including a sealing cap, wherein the first and second IDTs are electrically connected to the base wiring substrate and the sealing cap via metal bumps. Further, it has been proposed that the first IDT is electrically connected to the base wiring board via metal bumps, and the second IDT is electrically connected to the base wiring board by wire connection ( For example, see
[0005]
[Patent Document 1]
JP 2001-244784 A
[Problems to be solved by the invention]
However, the following problems exist in the surface acoustic wave device having the IDT on each of the one main surface and the other main surface of the piezoelectric substrate according to the conventional technique described above.
[0007]
In
[0008]
Also, the surface acoustic wave element has IDTs formed on one main surface and the other main surface, and may be arbitrarily selected and used. In consideration of this, it is necessary to connect each input / output unit to an electric circuit independently. For this electrical connection, the base wiring board and the sealing cap are provided with corresponding connection portions and wiring patterns at positions facing the connection portions provided on the surface acoustic wave element. However, it is clear that the sealing cap requires a complicated process to form these wiring patterns and the like due to its structure, and has a high cost.
[0009]
Further, the IDTs provided on each of the one main surface and the other main surface of the surface acoustic wave element may be electrically connected to each other in order to bring out the functions of the IDT.
In that case, for example, it is performed via a through hole formed in the surface acoustic wave element.
[0010]
In general, a piezoelectric substrate used as a surface acoustic wave element has poor workability due to its material properties and is easily broken, so that it is difficult to form a hole or the like. It is considered that it is not practical to electrically connect the IDTs provided on the one main surface and the other main surface via through holes formed in the surface acoustic wave element. Further, an electrical connection may be formed by forming a wiring pattern inside the sealing cap. However, fine wiring is difficult due to the structure of the sealing cap as described above.
[0011]
On the other hand, in the base wiring board, it is necessary to take into account cracks, chips, and the like at the edge of the base wiring board due to the impact when the sealing cap is bonded. For this reason, the size of the base wiring board tends to increase. Further, when an electrical connection is made between the piezoelectric substrate and the base wiring substrate by a wire, it is necessary to form the space in the sealing cap, and thus there is a limit to the reduction in size and height.
[0012]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a mounting substrate having a connection portion on an upper surface, a piezoelectric substrate having at least one IDT and a connection portion on one main surface and the other main surface, and a mounting substrate on one main surface. The surface acoustic wave device includes a piezoelectric substrate mounted on the substrate, and a resin film covering a connection portion between the piezoelectric substrate and the mounting substrate.
[0013]
The resin film is a surface acoustic wave device that seals the piezoelectric substrate and has a wiring pattern that electrically connects a connection portion provided on the upper surface of the mounting substrate and a connection portion provided on the other main surface of the piezoelectric substrate. is there.
[0014]
Further, the resin film is a surface acoustic wave device that is a polyimide or a liquid crystal polymer.
[0015]
According to the surface acoustic wave device using the resin film of the present invention as described above, the formation process for electrically connecting the IDTs formed on the one main surface and the other main surface is easy. In addition, it is possible to form a surface acoustic wave device corresponding to reduction in height and size. Further, by forming the wiring pattern on the resin film, high-precision wiring becomes possible and the formation can be performed at low cost. In addition, since the resin film has good workability, high-speed processing is also facilitated.
[0016]
A low-cost surface acoustic wave device corresponding to miniaturization and height reduction by sealing a piezoelectric substrate and using a resin film having a wiring function on a piezoelectric substrate provided with an IDT on one main surface and the other main surface. Can be supplied.
[0017]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
[0018]
FIG. 1 is a schematic sectional view of one embodiment of the surface acoustic wave device according to the present invention.
[0019]
In FIG. 1, the surface
[0020]
The
[0021]
The
[0022]
A space exists between the
[0023]
In addition, the
[0024]
As described above, by providing the resin film 9 having the function of sealing the
[0025]
FIGS. 2 to 4 show details of a manufacturing method for the above-described contents. Schematic processes in forming a piezoelectric substrate, mounting on a mounting substrate, forming a temporary adhesive substrate having a resin film, bonding a resin film to forming a surface acoustic wave device. This will be described using a flow.
[0026]
First, FIG. 2 illustrates a schematic process flow from formation of a piezoelectric substrate to mounting on a mounting substrate.
[0027]
As shown in FIG. 2A, an
[0028]
In the photolithography technique, first, a resist having a predetermined thickness is applied using a spin coater or the like. Next, the resist is exposed through a photolithographic mask on which a predetermined pattern is formed. Next, by performing development processing, a lift-off resist pattern in which a portion where a metal film is to be formed is opened is formed. At this time, it is desirable that the resist pattern is formed in an inverse tapered shape in consideration of lift-off. Further, in consideration of forming a pattern such as an IDT on the other main surface, an alignment mark for positioning may be provided.
[0029]
Next, a 300 nm-thick metal film mainly composed of Al is formed as an electrode material by a vacuum evaporation method, and then immersed in a stripping solution and rocked, whereby the lift-off resist film is stripped (lift-off), and the
[0030]
Next, as shown in FIG. 2B, the
[0031]
The description of the photolithography technique is omitted because it is the same as that described above. At this time, a desired positional accuracy can be obtained by performing alignment using the previously formed alignment marks. Next, after forming a metal film having a thickness of 120 nm as a main component of Al by vacuum evaporation, the resist for lift-off is stripped by immersing in a stripping solution and oscillating to form an
[0032]
Note that LiNbO 3 , quartz and LiB 4 O 7 may be used for the
[0033]
Next, as shown in FIG. 2C, an
[0034]
Next, as shown in FIG. 2D, a
[0035]
Next, as shown in FIG. 2E, the singulated
[0036]
Next, FIG. 3 shows a schematic process flow in forming a resin film.
[0037]
First, as shown in FIG. 3A, a resin film 9 is adhered to a temporary
[0038]
Next, as shown in FIG. 3B, a
[0039]
In the photolithography technique, a resist having a predetermined thickness is applied to the upper surface of Cu formed as a wiring pattern material. Next, the resist is exposed through a photolithographic mask on which a predetermined pattern is formed so that an unnecessary portion is opened. Next, a resist pattern is formed by performing development processing. Thereafter, unnecessary wiring material is removed by dipping or rocking in an etching solution. After that, the
[0040]
The wiring material is not limited to Cu, but may be any material having a sufficiently high conductivity such as Al and Au. Also, the method for forming the
[0041]
Next, as shown in FIG. 3C, Sn / Au / Ni films and solder are formed as
[0042]
Next, as shown in FIG. 3D, the resin film 9 is cut into a predetermined chip size. In FIG. 3D, a portion cut by a laser beam is indicated by an a portion. In this way, a temporary
[0043]
Next, FIG. 4 shows a schematic process flow in resin film adhesion to formation of a surface acoustic wave device.
[0044]
As shown in FIG. 4A, a temporary
[0045]
Next, as shown in FIG. 4B, the temporary
[0046]
Next, as shown in FIG. 4C, the peripheral portion of the resin film 9 is bent toward the mounting
[0047]
The mounting
[0048]
Regarding the sealing, as in the case of the surface
[0049]
【The invention's effect】
According to the surface acoustic wave device using the resin film of the present invention as described above, it is easy to form the IDT formed on each of the one main surface and the other main surface for electrical connection. Become. In addition, the height and the size can be reduced. Further, high-speed processing for singulation is also facilitated. In addition, by forming a wiring pattern on a resin film, high-precision wiring becomes possible.
[0050]
A low-cost surface acoustic wave device corresponding to miniaturization and height reduction by sealing a piezoelectric substrate and using a resin film having a wiring function on a piezoelectric substrate provided with an IDT on one main surface and the other main surface. Can be supplied.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a sectional view of one embodiment of a surface acoustic wave device according to the present invention.
FIG. 2 is a schematic process flow of a surface acoustic wave device in the formation of a piezoelectric substrate to mounting on a mounting substrate according to the present invention.
FIG. 3 is a schematic process flow of a surface acoustic wave device for forming a resin film of the present invention.
FIG. 4 is a schematic process flow in bonding a resin film to a surface acoustic wave device according to the present invention.
FIG. 5 is a sectional view of an embodiment of the surface acoustic wave device according to the present invention using another sealing method.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
9
Claims (3)
前記樹脂フィルムは、前記実装基板の接続部と前記圧電基板の他方主面の接続部とを電気的に接続する配線パターンを備えることを特徴とする弾性表面波装置。A mounting substrate having a connection portion on the top surface, at least one IDT and a connection portion provided on each of one main surface and the other main surface, and a piezoelectric substrate mounted on the mounting substrate on one main surface; and A surface acoustic wave device comprising a resin film that covers a connection portion of the mounting board,
The surface acoustic wave device, wherein the resin film includes a wiring pattern for electrically connecting a connection portion of the mounting substrate and a connection portion of the other main surface of the piezoelectric substrate.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002340916A JP2004179751A (en) | 2002-11-25 | 2002-11-25 | Surface acoustic wave apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2002340916A JP2004179751A (en) | 2002-11-25 | 2002-11-25 | Surface acoustic wave apparatus |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004179751A true JP2004179751A (en) | 2004-06-24 |
Family
ID=32703421
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2002340916A Pending JP2004179751A (en) | 2002-11-25 | 2002-11-25 | Surface acoustic wave apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2004179751A (en) |
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---|---|---|---|---|
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- 2002-11-25 JP JP2002340916A patent/JP2004179751A/en active Pending
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