JP2004164942A - 有機elパネル - Google Patents
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- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
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Abstract
【課題】絶縁層に生じたピンホールの有無を比較的簡単に検査できる有機ELパネルを提供する。
【解決手段】有機ELパネル21は、ストライプ状に形成された複数の第一電極24bと絶縁層25と有機層26と第二電極27bとを有する積層体23を基板22に形成したものである。絶縁層25に生じたピンホールの有無を検査するための、第一電極24bを横断する帯形状の検査用電極27cを設ける。検出用電極27cと第二電極27bは同じ材料からなるものである。検査用電極27cと電気的に導通された検査用端子24cを設ける。
【選択図】 図1
【解決手段】有機ELパネル21は、ストライプ状に形成された複数の第一電極24bと絶縁層25と有機層26と第二電極27bとを有する積層体23を基板22に形成したものである。絶縁層25に生じたピンホールの有無を検査するための、第一電極24bを横断する帯形状の検査用電極27cを設ける。検出用電極27cと第二電極27bは同じ材料からなるものである。検査用電極27cと電気的に導通された検査用端子24cを設ける。
【選択図】 図1
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、第一電極と第二電極の間に少なくとも発光層を有する有機層を挟持した積層体を基板に形成した有機ELパネルに関するものであり、特にマトリクス状に配置された発光部を有する有機ELパネルに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来より、有機ELパネルが種々提案されており、例えば特許文献1に開示されている。有機ELパネル1は、ガラス基板2上に積層体3を形成したものであり、この積層体3は、透明電極4,絶縁層5,有機層6,背面電極7を有する(図6参照)。有機層6は正孔注入層,正孔輸送層,発光層及び電子輸送層からなるものであり、透明電極4と背面電極7に挟持されている。積層体3は封止ガラス8に覆われており、この封止ガラス8はガラス基板2に接着剤9により接着されている。
【0003】
透明電極4は、陰極端子部4a及び陽極部4bを有している。背面電極7は、陰極端子部4aに一部重なるように形成されており、陰極端子部4aと電気的に導通している。有機ELパネル1は、陽極部4bと陰極端子部4aに電源を接続することにより発光部Pが光輝する。
【0004】
【特許文献1】
特開2001−267066号公報
【0005】
図7乃至図10は、発光部をマトリクス状に配置したドットマトリクス型の有機ELパネル11を示すものである。有機ELパネル11は、ガラス基板12上に積層体13を形成したものである。積層体13は、透明電極14,絶縁層15,リブ部18,有機層16,背面電極17を順次積層形成したものである。
【0006】
透明電極14は、陰極端子部14aと、ストライプ状に形成された陽極部14bとを有している。絶縁層15には、発光部に対応する矩形の開口15aが形成されている。リブ部18は、絶縁層15上に陽極部14bと直交する方向の平行線状に形成されている。
【0007】
背面電極17は、有機層16よりも広い領域に蒸着等の手段によって形成され、リブ部18によって周辺部17aとストライプ状の陰極部17bとに分断されている(図10参照)。周辺部17aは、陰極としての働きはなく、有機ELパネル11の発光に寄与しない。有機ELパネル11は、マトリクス状に配置された各発光部を夫々オン/オフすることにより所望の文字や図形を表示することができる。なお、図面が煩雑になることを防止するため、図7においては周辺部17aを図示しない。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、図9に示すように、非常に稀ではあるが、絶縁層15に小径の孔(以下、ピンホール15bと記す)が生じることがあり、このピンホール15bに背面電極17の材料(例えばアルミニウム)が入り込み、陽極部14bが周辺部17aと短絡する虞があった。つまり、絶縁層15にピンホール15bが生じていた場合は、陽極部14b及び陰極部17bに駆動電圧を印加したときに、陽極部14bから供給された電荷がピンホール15bを通って一時的に周辺部17bに流れ込むために、発光輝度の低下や応答遅れが発生する。また、複数のピンホール15bが生じていた場合は、発光輝度の低下や応答遅れだけでなく、背面電極17の周辺部17aを介して、陽極部14bと並設された陽極部14bとが短絡する。
【0009】
従って、陽極部14bと周辺部17bが短絡していないかどうか検査する必要があるが、各発光部を点灯させることによって有機ELパネル11を検査する方法では、発光輝度の低下や応答遅れがピンホール15bに起因するのか、他の原因に基づくものなのか判断することができなかった。
本発明は、この問題に鑑みなされたものであり、絶縁層に生じたピンホールの有無を比較的簡単に検査できる有機ELパネルを提供するものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】
本発明は、前記課題を解決するため、請求項1に記載したように、ストライプ状に形成された複数の第一電極24bと絶縁層25と有機層26と第二電極27bとを有する積層体23を基板22に形成したドットマトリクス型の有機ELパネル21であって、前記絶縁層25に生じたピンホール25bの有無を検査するための、前記第一電極24bを横断する帯形状の検査用電極27cを設けたものである。
【0011】
また、本発明は、請求項2に記載したように、前記検出用電極27cと前記第二電極27bは同じ材料からなるものである。
【0012】
また、本発明は、請求項3に記載したように、前記検査用電極27cと電気的に導通された検査用端子24cを設けたものである。
【0013】
また、本発明は、請求項4に記載したように、前記検査用端子24cと前記第一電極24bは同じ材料からなるものである。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施形態を添付の図面に基いて説明する。なお、図面が煩雑になることを防止するため、図1において周辺部27aは図示しない。
【0015】
有機ELパネル21は、ガラス基板22上に積層体23を形成したものである。積層体23は、透明電極24,絶縁層25,有機層26,背面電極27,リブ部28を有している。
【0016】
透明電極24は、酸化インジウム(In2O3)と酸化スズ(SnO2)の混合物であるITO(Indium Tin Oxide)からなるものであり、スパッタリング或いは蒸着等の手段によって形成されている。透明電極24は、背面電極27の陰極部27bに導通される陰極端子部24aと、所定間隔をあけて配置された縦方向のストライプ状の陽極部24b(第一電極)と、後述する検査用電極に導通される検査用端子24cとを有している。絶縁層25は、ポリイミド系の絶縁材料からなるものであり、フォトリソグラフィー法等の手段によって形成されている。絶縁層25は、有機層26よりも広い領域に形成されており、マトリクス状に配置された発光部に対応する矩形の開口25aを有している。
【0017】
有機層26は、正孔注入層26a,正孔輸送層26b,発光層26c及び電子輸送層26dからなるものである(図5参照)。なお、有機層26は、少なくとも発光層26cがあれば良いが、本実施形態のように正孔注入層26a,正孔輸送層26b及び電子輸送層26dを設けることにより、発光輝度を向上させることができる。背面電極27は、アルミニウム(Al)からなるものであり、周辺部27aと、陰極部27b(第二電極)と、検査用電極27cとを有している。陰極部27bは、透明電極24の陽極部24bに直交する方向、即ち横方法のストライプ状になっている。検査用電極27cは、陰極部27bに平行であって、各陽極部24bを横断する帯形状になっている。
【0018】
リブ部28aは、フェノール系の絶縁材料からなるものであり、フォトリソグラフィー法等の手段によって形成されている。リブ部28は、絶縁層25上に形成されており、逆テーパ形状になっている。リブ部28は、陽極部24bと直交する方向に平行線状に設けられており、有機層26及び背面電極27をストライプ状に分断する。
【0019】
上述した有機ELパネルにおいては、検査装置の陰極ターミナル(または陽極ターミナル)を検査用端子24cに接続し、陽極ターミナル(または陰極ターミナル)を各陽極24bに接続することによって、絶縁層25にピンホール25bが存在するか否かを簡単に検査することができるだけでなく、ピンホール25bが存在する個所も特定することができる。つまり、検査装置の各ターミナルを陽極24b及び検査用端子24cに接続したとき、ピンホール25bが存在しなければ導通が生じなく、ピンホール25bが存在する個所では、検査用電極27cと陽極24bがピンホール25bによって電気的に導通する。
【0020】
なお、検査装置の陽極ターミナルを、各陽極24bの左側または右側から順次一個ずつ接続して検査しても良いことは言うまでもない。また、検査用電極27cは、クロム(Cr)等の導電性材料からなるものであっても良いが、本実施形態のように陰極部27bと同じ材料からなるものであれば、陰極部27bと同時に形成することが可能である。
【0021】
【発明の効果】
本発明は、ストライプ状に形成された複数の第一電極と絶縁層と有機層と第二電極とを有する積層体を基板に形成したドットマトリクス型の有機ELパネルであって、前記絶縁層に生じたピンホールの有無を検査するための、前記第一電極を横断する帯形状の検査用電極を設けたものであり、絶縁層のピンホールの有無を比較的簡単に検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態を示す正面図。
【図2】同上実施形態を示す断面図。
【図3】同上実施形態を示す要部断面図。
【図4】同上実施形態を示す断面図。
【図5】同上実施形態を示す有機層の拡大断面図。
【図6】従来例を示す断面図。
【図7】他の従来例を示す正面図。
【図8】同上従来例を示す断面図。
【図9】同上従来例を示す断面図。
【図10】同上従来例を示す断面図。
【符号の説明】
21 有機ELパネル
22 ガラス基板(基板)
23 積層体
24b 陽極部(第一電極)
24c 検査用端子
25 絶縁層
26 有機層
27b 陰極部(第二電極)
27c 検査用電極
【発明の属する技術分野】
本発明は、第一電極と第二電極の間に少なくとも発光層を有する有機層を挟持した積層体を基板に形成した有機ELパネルに関するものであり、特にマトリクス状に配置された発光部を有する有機ELパネルに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来より、有機ELパネルが種々提案されており、例えば特許文献1に開示されている。有機ELパネル1は、ガラス基板2上に積層体3を形成したものであり、この積層体3は、透明電極4,絶縁層5,有機層6,背面電極7を有する(図6参照)。有機層6は正孔注入層,正孔輸送層,発光層及び電子輸送層からなるものであり、透明電極4と背面電極7に挟持されている。積層体3は封止ガラス8に覆われており、この封止ガラス8はガラス基板2に接着剤9により接着されている。
【0003】
透明電極4は、陰極端子部4a及び陽極部4bを有している。背面電極7は、陰極端子部4aに一部重なるように形成されており、陰極端子部4aと電気的に導通している。有機ELパネル1は、陽極部4bと陰極端子部4aに電源を接続することにより発光部Pが光輝する。
【0004】
【特許文献1】
特開2001−267066号公報
【0005】
図7乃至図10は、発光部をマトリクス状に配置したドットマトリクス型の有機ELパネル11を示すものである。有機ELパネル11は、ガラス基板12上に積層体13を形成したものである。積層体13は、透明電極14,絶縁層15,リブ部18,有機層16,背面電極17を順次積層形成したものである。
【0006】
透明電極14は、陰極端子部14aと、ストライプ状に形成された陽極部14bとを有している。絶縁層15には、発光部に対応する矩形の開口15aが形成されている。リブ部18は、絶縁層15上に陽極部14bと直交する方向の平行線状に形成されている。
【0007】
背面電極17は、有機層16よりも広い領域に蒸着等の手段によって形成され、リブ部18によって周辺部17aとストライプ状の陰極部17bとに分断されている(図10参照)。周辺部17aは、陰極としての働きはなく、有機ELパネル11の発光に寄与しない。有機ELパネル11は、マトリクス状に配置された各発光部を夫々オン/オフすることにより所望の文字や図形を表示することができる。なお、図面が煩雑になることを防止するため、図7においては周辺部17aを図示しない。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、図9に示すように、非常に稀ではあるが、絶縁層15に小径の孔(以下、ピンホール15bと記す)が生じることがあり、このピンホール15bに背面電極17の材料(例えばアルミニウム)が入り込み、陽極部14bが周辺部17aと短絡する虞があった。つまり、絶縁層15にピンホール15bが生じていた場合は、陽極部14b及び陰極部17bに駆動電圧を印加したときに、陽極部14bから供給された電荷がピンホール15bを通って一時的に周辺部17bに流れ込むために、発光輝度の低下や応答遅れが発生する。また、複数のピンホール15bが生じていた場合は、発光輝度の低下や応答遅れだけでなく、背面電極17の周辺部17aを介して、陽極部14bと並設された陽極部14bとが短絡する。
【0009】
従って、陽極部14bと周辺部17bが短絡していないかどうか検査する必要があるが、各発光部を点灯させることによって有機ELパネル11を検査する方法では、発光輝度の低下や応答遅れがピンホール15bに起因するのか、他の原因に基づくものなのか判断することができなかった。
本発明は、この問題に鑑みなされたものであり、絶縁層に生じたピンホールの有無を比較的簡単に検査できる有機ELパネルを提供するものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】
本発明は、前記課題を解決するため、請求項1に記載したように、ストライプ状に形成された複数の第一電極24bと絶縁層25と有機層26と第二電極27bとを有する積層体23を基板22に形成したドットマトリクス型の有機ELパネル21であって、前記絶縁層25に生じたピンホール25bの有無を検査するための、前記第一電極24bを横断する帯形状の検査用電極27cを設けたものである。
【0011】
また、本発明は、請求項2に記載したように、前記検出用電極27cと前記第二電極27bは同じ材料からなるものである。
【0012】
また、本発明は、請求項3に記載したように、前記検査用電極27cと電気的に導通された検査用端子24cを設けたものである。
【0013】
また、本発明は、請求項4に記載したように、前記検査用端子24cと前記第一電極24bは同じ材料からなるものである。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施形態を添付の図面に基いて説明する。なお、図面が煩雑になることを防止するため、図1において周辺部27aは図示しない。
【0015】
有機ELパネル21は、ガラス基板22上に積層体23を形成したものである。積層体23は、透明電極24,絶縁層25,有機層26,背面電極27,リブ部28を有している。
【0016】
透明電極24は、酸化インジウム(In2O3)と酸化スズ(SnO2)の混合物であるITO(Indium Tin Oxide)からなるものであり、スパッタリング或いは蒸着等の手段によって形成されている。透明電極24は、背面電極27の陰極部27bに導通される陰極端子部24aと、所定間隔をあけて配置された縦方向のストライプ状の陽極部24b(第一電極)と、後述する検査用電極に導通される検査用端子24cとを有している。絶縁層25は、ポリイミド系の絶縁材料からなるものであり、フォトリソグラフィー法等の手段によって形成されている。絶縁層25は、有機層26よりも広い領域に形成されており、マトリクス状に配置された発光部に対応する矩形の開口25aを有している。
【0017】
有機層26は、正孔注入層26a,正孔輸送層26b,発光層26c及び電子輸送層26dからなるものである(図5参照)。なお、有機層26は、少なくとも発光層26cがあれば良いが、本実施形態のように正孔注入層26a,正孔輸送層26b及び電子輸送層26dを設けることにより、発光輝度を向上させることができる。背面電極27は、アルミニウム(Al)からなるものであり、周辺部27aと、陰極部27b(第二電極)と、検査用電極27cとを有している。陰極部27bは、透明電極24の陽極部24bに直交する方向、即ち横方法のストライプ状になっている。検査用電極27cは、陰極部27bに平行であって、各陽極部24bを横断する帯形状になっている。
【0018】
リブ部28aは、フェノール系の絶縁材料からなるものであり、フォトリソグラフィー法等の手段によって形成されている。リブ部28は、絶縁層25上に形成されており、逆テーパ形状になっている。リブ部28は、陽極部24bと直交する方向に平行線状に設けられており、有機層26及び背面電極27をストライプ状に分断する。
【0019】
上述した有機ELパネルにおいては、検査装置の陰極ターミナル(または陽極ターミナル)を検査用端子24cに接続し、陽極ターミナル(または陰極ターミナル)を各陽極24bに接続することによって、絶縁層25にピンホール25bが存在するか否かを簡単に検査することができるだけでなく、ピンホール25bが存在する個所も特定することができる。つまり、検査装置の各ターミナルを陽極24b及び検査用端子24cに接続したとき、ピンホール25bが存在しなければ導通が生じなく、ピンホール25bが存在する個所では、検査用電極27cと陽極24bがピンホール25bによって電気的に導通する。
【0020】
なお、検査装置の陽極ターミナルを、各陽極24bの左側または右側から順次一個ずつ接続して検査しても良いことは言うまでもない。また、検査用電極27cは、クロム(Cr)等の導電性材料からなるものであっても良いが、本実施形態のように陰極部27bと同じ材料からなるものであれば、陰極部27bと同時に形成することが可能である。
【0021】
【発明の効果】
本発明は、ストライプ状に形成された複数の第一電極と絶縁層と有機層と第二電極とを有する積層体を基板に形成したドットマトリクス型の有機ELパネルであって、前記絶縁層に生じたピンホールの有無を検査するための、前記第一電極を横断する帯形状の検査用電極を設けたものであり、絶縁層のピンホールの有無を比較的簡単に検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態を示す正面図。
【図2】同上実施形態を示す断面図。
【図3】同上実施形態を示す要部断面図。
【図4】同上実施形態を示す断面図。
【図5】同上実施形態を示す有機層の拡大断面図。
【図6】従来例を示す断面図。
【図7】他の従来例を示す正面図。
【図8】同上従来例を示す断面図。
【図9】同上従来例を示す断面図。
【図10】同上従来例を示す断面図。
【符号の説明】
21 有機ELパネル
22 ガラス基板(基板)
23 積層体
24b 陽極部(第一電極)
24c 検査用端子
25 絶縁層
26 有機層
27b 陰極部(第二電極)
27c 検査用電極
Claims (4)
- ストライプ状に形成された複数の第一電極と絶縁層と有機層と第二電極とを有する積層体を基板に形成したドットマトリクス型の有機ELパネルであって、
前記絶縁層に生じたピンホールの有無を検査するための、前記第一電極を横断する帯形状の検査用電極を設けたことを特徴とする有機ELパネル。 - 前記検出用電極と前記第二電極は同じ材料からなることを特徴とする請求項1に記載の有機ELパネル。
- 前記検査用電極と電気的に導通された検査用端子を設けたことを特徴とする請求項1に記載の有機ELパネル。
- 前記検査用端子と前記第一電極は同じ材料からなることを特徴とする請求項3に記載の有機ELパネル。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002327919A JP2004164942A (ja) | 2002-11-12 | 2002-11-12 | 有機elパネル |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002327919A JP2004164942A (ja) | 2002-11-12 | 2002-11-12 | 有機elパネル |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP (1) | JP2004164942A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006066111A (ja) * | 2004-08-25 | 2006-03-09 | Optrex Corp | 有機el表示装置の製造方法、素子基板の検査方法及び有機el表示装置 |
-
2002
- 2002-11-12 JP JP2002327919A patent/JP2004164942A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2006066111A (ja) * | 2004-08-25 | 2006-03-09 | Optrex Corp | 有機el表示装置の製造方法、素子基板の検査方法及び有機el表示装置 |
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