【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、測温抵抗体入力装置において、多線式の測温抵抗体接続用各導線の断線あるいは測温抵抗体の破損検出に要する時間を短縮すると共に、断線時等の測定結果を、バーンアップ、バーンダウン処理に適した波形にすることを可能にするものである。
【０００２】
【従来の技術】
多線式の測温抵抗体入力装置として、測温抵抗体自身の破損（バーンアウト）あるいは導線の断線を検出して故障箇所を判定するものが特許文献１に開示されている。
【０００３】
【特許文献１】
特開平８−２４７８５７号公報
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
測温抵抗体入力装置では、測温抵抗体自身のバーンアウト、あるいは入力部導線の断線が発生した場合、その異常を速やかに検出することが必要である。異常の検出が遅れると、バーンアップ（異常時に測定値を上限に振り切らせる）処理時あるいはバーンダウン（異常時に測定値を下限に振り切らせる）処理時に、測定結果が断線等検出までの間に、バーンアップ、または、バーンダウンの処理とは逆の方向に振れるという問題があった。
【０００５】
この発明は上記のような問題を解決するためになされたものであり、測温抵抗体入力装置において、多線式の測温抵抗体に対する各導線の断線等の異常検出の時間を短縮すると共に、断線時等の測定結果を、バーンアップあるいはバーンダウン処理に適した波形にすることを目的にするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る測温抵抗体入力装置は、測温対象に取り付けられ、測温対象の温度に従って電気的特性が変化する測温抵抗体と、上記測温抵抗体接続の導線間に生じる電圧降下量を求めるブリッジ回路と、上記ブリッジ回路の出力信号からノイズを除去する第１のハードウェアフィルタと、上記ブリッジ回路出力から上記測温抵抗体の破損あるいは導線の断線による異常発生時に異常電圧を検出する比較回路と、上記比較回路の出力からノイズを除去する第２のハードウェアフィルタと、上記第１及び第２のハードウェアフィルタの出力をデジタルデータに変換するＡＤＣ回路と、上記ＡＤＣ回路の出力を受けて、上記測温対象の測温値を算出し、また上記異常発生時にはバーンアップあるいはバーンダウン処理用の信号を出力するマイコンとを備えたことを特徴とするものである。
【０００７】
【発明の実施の形態】
実施の形態１．
図１は、この発明に係る測温抵抗体入力装置を示す構成図である。図１において、測温対象１の測温位置に取り付けられた測温抵抗体２（抵抗値をＲ２１とする）は、導線Ａ、導線Ｂ、導線ｂを介して入力部３の端子３Ａ、３Ｂ、３ｂに接続されている。ここで、温度に従って電気的特性が変化することにより温度測定を可能とする測温抵抗体２に対して測温抵抗体入力装置のブリッジ回路５から一定電流が供給されている。そして、測温抵抗体２の接続導線間に生じる電圧降下量をブリッジ回路５により求め、第１のハードウェアフィルタ６でノイズ除去したのち、変換回路７によりアナログ／デジタルコンバータ（ＡＤＣ回路）８の入力電圧レンジに変換する。なお、抵抗４は接地用の抵抗である。
【０００８】
ブリッジ回路５の一部を図２に示す。ブリッジをなす３辺の抵抗値をそれぞれＲ５１、Ｒ５２、Ｒ５３とすれば、変換回路７に入力される電圧Ｖ５４は、次式で求められる。
Ｖ５４＝｛Ｒ２１／（Ｒ５１＋Ｒ２１）−Ｒ５３／（Ｒ５２＋Ｒ５３）｝×Ｖ５０ＡＤＣ回路８は、受信した電圧信号をデジタルデータに変換して、各種信号処理を行うマイクロプロセッサの一種を用いたマイコン９に送出する。マイコン９は、ＡＤＣ回路８からの出力値そのもの、もしくは測温抵抗体２の温度特性に基づいて算出された測定対象の測温値を出力し、当該測温対象１の測温が行われている。
【０００９】
２０は比較回路であり、図２におけるＶ５４とＶ５５の電位差がある一定値を超えた場合に出力を出す。第２のハードウェアフィルタ２１は、ノイズなどの影響を受けて比較回路２０が誤出力した出力をキャンセルする機能を有している。ハードウェアフィルタ２１の出力は多チャンネル入力を有する上記ＡＤＣ回路８に入力され、ＡＤＣ回路８は、電圧信号をデジタルデータに変換して、各種信号処理を行うマイクロプロセッサの一種を用いたマイコン９に送出する。
【００１０】
次に動作を説明する。この発明の測温抵抗体入力装置は、導線Ａ、Ｂの何れかが断線したり、高温の測定対象により、測温抵抗体２自体がバーンアウトした場合、測温結果が異常値となることを利用して、マイコン９が測温抵抗体２のバーンアウト／入力部導線Ａ、Ｂの断線を検出し、測温結果をバーンアップあるいはバーンダウンさせる処理をする。
【００１１】
導線Ａ、あるいは、導線Ｂが断線した際、Ｖ５４とＶ５５との間にはＶ５０に近い基準値以上の電位差が発生し、比較回路２０が電圧を出力する。この断線時の比較回路２０の出力電圧がハードウェアフィルタ２１及びＡＤＣ回路８を通してマイコン９に入力されることにより、マイコン９は断線時のバーンアップ、あるいは、バーンダウン処理をする。比較回路２０の出力は、例えば、０Ｖと５Ｖといった明確な変化であるため、第２のハードウェアフィルタ２１の時定数は、第１のハードウェアフィルタ６の時定数より小さくすることが可能である。その結果、断線認識を速くし、断線時のバーンアップ、あるいは、バーンダウン処理をいち早くすることが可能になる。
【００１２】
図３に上記構成におけるマイコン９での測温結果の波形を示す。バーンアップ処理の設定時では導線Ｂが断線した場合、バーンダウン処理の設定時では導線Ａが断線した場合に、測定結果が断線検出までの間にバーンアップ、または、バーンダウンの処理とは逆の方向に振れるが、速やかな断線認識によりこの波形を比較的小さく抑えることができる。
【００１３】
これと比較するために、比較回路２０、ハードウェアフィルタ２１を有しない回路構成におけるマイコン９での測温結果の波形を図４に示す。この構成では、断線、あるいは、バーンアウトした場合、変換回路７、ＡＤＣ回路８、マイコン９への電圧信号変化が、第１のハードウェアフィルタ６が持っている時定数分遅れるため、断線・バーンアウトの検出が遅れ、図６に示すように、バーンアップ処理の設定時では導線Ｂが断線した場合、バーンダウン処理の設定時では導線Ａが断線した場合に、測定結果が断線検出までの間にバーンアップ、または、バーンダウンの処理とは逆の方向に大きく振れるという問題がある。
【００１４】
実施の形態２．
この発明の実施の形態２を図５、図６に基づいて説明する。図５において、９ａはマイコン９に実装されたソフトウェアフィルタであり、ブリッジ回路５の出力のノイズをキャンセルする機能と、比較回路２０の出力のノイズをキャンセルする機能を持っている。ブリッジ回路５の出力に対するソフトウェアフィルタ９ａの機能は、図１の第１のハードウェアフィルタ６と同じ機能である。比較回路２０の出力に対するソフトウェアフィルタ９ａの機能は、図１の第２のハードウェアフィルタ２１と同じとするが、その時定数の間は、ブリッジ回路５の測定結果を保持する。
【００１５】
実施の形態２におけるマイコン９での測温結果の波形を図６に示す。バーンアップ設定、バーンダウン設定いずれの場合も、断線してからマイコンが断線を検出するまでの間は元の測温結果を保持している。従って、バーンアップ処理の設定時では導線Ｂが断線した場合、またバーンダウン処理の設定時では導線Ａが断線した場合、測定結果をマイコン９が断線として検出するまでの間に、バーンアップまたはバーンダウンの処理とは逆の方向に振れる波形を無くすことが可能となる。このため、異常の検出を速やかに行い、しかもバーンアップ処理、バーンダウン処理に適して波形を出力として得ることができる。
【００１６】
実施の形態３．
この発明の実施の形態３を図７に基づいて説明する。図７において、同上回路２Ｚ〜同上回路ｎＺは、それぞれが、測温対象１、測温抵抗体２、導線Ａ、導線Ｂ、導線ｂ、接続部３、端子３Ａ、３Ｂ、３ｂ、ブリッジ回路５、変換回路７、比較回路２０と同じ構成を有する。その他の構成は図５と同じである。そして、それぞれの出力は、多チャンネル入力を有するＡＤＣ回路８に入力され、ここで元の回路と同上回路２Ｚ〜ｎＺが順次切替えられ、マイコン９にて同じ処理が行われる。これにより、測温抵抗体入力数を増やし、切替えてマイコン９に入力することで、測定点を増やすことが可能になる。
【００１７】
なお、図７では、図５を元にして同上回路２Ｚ〜ｎＺを構成したが、図１を元にして同上回路を構成してもよい。図１を元にした場合、各同上回路は測温対象１、測温抵抗体２、導線Ａ、導線Ｂ、導線ｂ、接続部３、端子３Ａ、３Ｂ、３ｂ、ブリッジ回路５、ハードウェアフィルタ６、変換回路７、比較回路２０、ハードウェアフィルタ２１からなる構成と同じである。
【００１８】
実施の形態４．
この発明の実施の形態４を図８に基づいて説明する。図８において、同上回路２Ｙ〜同上回路ｎＹは、それぞれが、測温対象１、測温抵抗体２、導線Ａ、導線Ｂ、導線ｂ、接続部３、端子３Ａ、３Ｂ、３ｂと同じ構成を有する。それぞれの出力は、切替回路３０により順次切替えを行い、同じブリッジ回路５にて、各測温抵抗体接続の導線間に生じる電圧降下量を求める。これにより、測温抵抗体入力点数分のブリッジ回路を装備する必要がなく、安価に測定点を増やすことが可能になる。
【００１９】
なお、図８は図５を元にしてブリッジ回路５以降を構成しているが、ブリッジ回路５以降を図１の構成と同じにしてもよい。
【００２０】
実施の形態５．
この発明の実施の形態５を図９に基づいて説明する。図９において、導線Ａ２、導線Ｂ２、導線ｂ２、入力部３１、端子３Ａ２、３Ｂ２、３ｂ２は、測温抵抗体２からの入力を２重化するものである。同上回路２Ｘ〜同上回路ｎＸは、それぞれが、測温対象１、測温抵抗体２、導線Ａ、導線Ｂ、導線ｂ、入力部３、端子３Ａ、３Ｂ、３ｂ、２重化用の導線Ａ２、導線Ｂ２、導線ｂ２、入力部３１、端子３Ａ２、３Ｂ２、３ｂ２と同じ構成を有する。切替回路３０は上記２重化構成の切替えと同時に、同上回路の切替えを行うものである。
【００２１】
測温時には、切替回路３０により元の回路と同上回路を順次切替え、同じブリッジ回路５にて、複数の測温対象の測温抵抗体接続の導線間に生じる電圧降下量を求め、複数箇所の測温が可能である。また同時に、一つの測温抵抗系統に断線が発生し、それを検出した場合には、切替回路３０により２重化構成を異常側から正常側に切替え、測定を継続することができる。
【００２２】
なお、図９は図５を元にしてブリッジ回路５以降を構成しているが、ブリッジ回路５以降を図１の構成と同じにしてもよい。
【００２３】
【発明の効果】
以上詳細に説明したように、この発明によれば、測温抵抗体入力装置において、多線式の測温抵抗体の破損または各導線の断線検出の時間を短縮すると共に、断線時の測定結果を、バーンアップ、バーンダウン処理に適した波形にすることができ、柔軟にシステム構築を実施することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の実施の形態１に係る測温抵抗体入力装置の構成を示す回路図である。
【図２】図１のブリッジ回路の一部を示す回路図である。
【図３】実施の形態１の測温結果を説明する図である。
【図４】実施の形態１の効果を説明するための比較図である。
【図５】この発明の実施の形態２に係る測温抵抗体入力装置の構成を示す回路図である。
【図６】実施の形態２の測温結果を説明する図である。
【図７】この発明の実施の形態３に係る測温抵抗体入力装置の構成を示す回路図である。
【図８】この発明の実施の形態４に係る測温抵抗体入力装置の構成を示す回路図である。
【図９】この発明の実施の形態５に係る測温抵抗体入力装置の構成を示す回路図である。
【符号の説明】
１ 測温対象、 ２ 測温抵抗体、
３ 入力部、 ４ 抵抗、
５ ブリッジ回路、 ６ 第１のハードウェアフィルタ、
７ 変換回路、 ８ ＡＤＣ回路、
９ マイコン、 ９ａ ソフトウェアフィルタ、
２０ 比較回路、 ２１ 第２のハードウェアフィルタ、
３０ 切替回路、 ３１ ２重化用入力部、
２Ｘ〜ｎＸ、２Ｙ〜ｎＹ、２Ｚ〜ｎＺ 同上回路、
Ａ、Ｂ、ｂ 導線、
Ａ２、Ｂ２、ｂ２ ２重化用導線。[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention provides, in a resistance temperature detector input device, a time required for detecting breakage of each lead wire for connection of a multi-wire type resistance temperature detector or breakage of the resistance temperature detector, and a measurement result at the time of disconnection, This enables a waveform suitable for burn-up and burn-down processing.
[0002]
[Prior art]
Patent Document 1 discloses a multi-wire type resistance temperature detector input device that detects breakage (burnout) of the resistance temperature detector itself or disconnection of a conductive wire to determine a failure location.
[0003]
[Patent Document 1]
JP-A-8-247857
[Problems to be solved by the invention]
In the resistance temperature detector input device, when burnout of the resistance temperature detector itself or disconnection of the input portion lead wire occurs, it is necessary to detect the abnormality promptly. If the detection of an abnormality is delayed, the measurement results may be lost during the burn-up (turning the measured value to the upper limit in the event of an abnormality) or burn-down (turning the measured value to the lower limit in the event of an error) processing until the disconnection is detected. There is a problem that the swing-up operation is performed in a direction opposite to the burn-up or burn-down processing.
[0005]
The present invention has been made in order to solve the above-described problems, and in a resistance temperature detector input device, while reducing the time for detecting an abnormality such as disconnection of each lead wire with respect to a multi-wire type resistance temperature detector, The purpose of the present invention is to make a measurement result at the time of disconnection or the like into a waveform suitable for burn-up or burn-down processing.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
A temperature-measuring resistor input device according to the present invention includes a temperature-measuring resistor attached to a temperature-measuring object, the electric characteristics of which change according to the temperature of the temperature-measuring object, and a voltage drop generated between the lead wires connected to the temperature-measuring resistor. A bridge circuit for determining the amount, a first hardware filter for removing noise from the output signal of the bridge circuit, and detecting an abnormal voltage from the output of the bridge circuit when an abnormality occurs due to breakage of the resistance temperature detector or disconnection of a conductive wire. A comparison circuit, a second hardware filter for removing noise from an output of the comparison circuit, an ADC circuit for converting outputs of the first and second hardware filters into digital data, and an output of the ADC circuit. Microcomputer that calculates the temperature measurement value of the temperature measurement target and outputs a signal for burn-up or burn-down processing when the abnormality occurs The is characterized in that it comprises.
[0007]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Embodiment 1 FIG.
FIG. 1 is a configuration diagram showing a resistance bulb input device according to the present invention. In FIG. 1, a temperature measuring resistor 2 (resistance is R21) attached to a temperature measuring position of a temperature measuring object 1 is connected to terminals 3A and 3B of an input unit 3 through a conducting wire A, a conducting wire B and a conducting wire b. , 3b. Here, a constant current is supplied from the bridge circuit 5 of the temperature measuring resistor input device to the temperature measuring resistor 2 that enables temperature measurement by changing the electrical characteristics according to the temperature. Then, the amount of voltage drop generated between the connecting wires of the resistance temperature detector 2 is determined by the bridge circuit 5, noise is removed by the first hardware filter 6, and then the analog / digital converter (ADC circuit) 8 is converted by the conversion circuit 7. Convert to input voltage range. Note that the resistor 4 is a grounding resistor.
[0008]
FIG. 2 shows a part of the bridge circuit 5. Assuming that the resistance values of the three sides forming the bridge are R51, R52, and R53, the voltage V54 input to the conversion circuit 7 is obtained by the following equation.
V54 = {R21 / (R51 + R21) -R53 / (R52 + R53)} × V50 The ADC circuit 8 converts the received voltage signal into digital data and sends it to the microcomputer 9 using a type of microprocessor that performs various signal processing. . The microcomputer 9 outputs the output value itself from the ADC circuit 8 or the temperature measurement value of the measurement target calculated based on the temperature characteristics of the resistance temperature detector 2, and the temperature measurement of the temperature measurement target 1 is performed. I have.
[0009]
Reference numeral 20 denotes a comparison circuit, which outputs an output when the potential difference between V54 and V55 in FIG. 2 exceeds a certain value. The second hardware filter 21 has a function of canceling an erroneous output of the comparison circuit 20 under the influence of noise or the like. The output of the hardware filter 21 is input to the ADC circuit 8 having a multi-channel input. The ADC circuit 8 converts a voltage signal into digital data and sends the digital signal to a microcomputer 9 using a type of microprocessor that performs various kinds of signal processing. Send out.
[0010]
Next, the operation will be described. According to the resistance thermometer input device of the present invention, if any one of the conductors A and B is disconnected or the resistance bulb 2 itself burns out due to a high-temperature measurement target, the temperature measurement result becomes an abnormal value. The microcomputer 9 detects the burnout / disconnection of the input wires A and B of the resistance temperature detector 2 and performs a process of burning up or burning down the temperature measurement result.
[0011]
When the conductive wire A or the conductive wire B is broken, a potential difference between V54 and V55 that is equal to or greater than a reference value close to V50 is generated, and the comparison circuit 20 outputs a voltage. When the output voltage of the comparison circuit 20 at the time of disconnection is input to the microcomputer 9 through the hardware filter 21 and the ADC circuit 8, the microcomputer 9 performs burn-up or burn-down processing at the time of disconnection. Since the output of the comparison circuit 20 is a clear change such as 0 V and 5 V, the time constant of the second hardware filter 21 can be smaller than the time constant of the first hardware filter 6. . As a result, it is possible to speed up the disconnection recognition and to speed up the burn-up or burn-down processing at the time of the disconnection.
[0012]
FIG. 3 shows a waveform of a temperature measurement result by the microcomputer 9 in the above configuration. When the conductor B is broken when the burn-up processing is set, and when the conductor A is broken when the burn-down processing is set, the burn-up or burn-down processing is performed in the reverse of the measurement result until the disconnection is detected. The waveform can be suppressed to a relatively small value by prompt disconnection recognition.
[0013]
For comparison, FIG. 4 shows a waveform of a temperature measurement result by the microcomputer 9 in a circuit configuration without the comparison circuit 20 and the hardware filter 21. In this configuration, when a disconnection or burnout occurs, a change in the voltage signal to the conversion circuit 7, the ADC circuit 8, and the microcomputer 9 is delayed by the time constant of the first hardware filter 6, so that the disconnection / burnout occurs. As shown in FIG. 6, when the burn-up process is set, the lead B is disconnected, and when the burn-down process is set, the lead A is disconnected. However, there is a problem that the swing-up or swing-down process largely swings in the opposite direction.
[0014]
Embodiment 2 FIG.
Second Embodiment A second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In FIG. 5, reference numeral 9a denotes a software filter mounted on the microcomputer 9, which has a function of canceling output noise of the bridge circuit 5 and a function of canceling output noise of the comparison circuit 20. The function of the software filter 9a for the output of the bridge circuit 5 is the same as the function of the first hardware filter 6 in FIG. The function of the software filter 9a with respect to the output of the comparison circuit 20 is the same as that of the second hardware filter 21 in FIG. 1, but the measurement result of the bridge circuit 5 is held during the time constant.
[0015]
FIG. 6 shows a waveform of a temperature measurement result by the microcomputer 9 in the second embodiment. In both the burn-up setting and the burn-down setting, the original temperature measurement result is retained from when the disconnection occurs until the microcomputer detects the disconnection. Therefore, when the conductor B is disconnected when the burn-up process is set, or when the conductor A is disconnected when the burn-down process is set, the burn-up or the burn-up is performed until the microcomputer 9 detects the measurement result as a disconnection. It is possible to eliminate a waveform swinging in the direction opposite to the down processing. For this reason, abnormality can be quickly detected, and a waveform can be obtained as an output suitable for burn-up processing and burn-down processing.
[0016]
Embodiment 3 FIG.
Third Embodiment A third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In FIG. 7, the above-described circuits 2 </ b> Z to nZ respectively include a temperature measurement target 1, a resistance temperature detector 2, a conductor A, a conductor B, a conductor b, a connection portion 3, terminals 3 A, 3 B, 3 b, and a bridge circuit 5. , Conversion circuit 7, and comparison circuit 20. Other configurations are the same as those in FIG. Each output is input to the ADC circuit 8 having a multi-channel input. Here, the original circuit and the circuits 2Z to nZ are sequentially switched, and the microcomputer 9 performs the same processing. As a result, the number of measurement points can be increased by increasing the number of inputs of the resistance temperature detector and switching the input to the microcomputer 9.
[0017]
In FIG. 7, the circuits 2Z to nZ are configured based on FIG. 5, but the circuits may be configured based on FIG. When based on FIG. 1, each of the above-described circuits includes a temperature measuring object 1, a temperature measuring resistor 2, a conductor A, a conductor B, a conductor b, a connection portion 3, terminals 3 A, 3 B, 3 b, a bridge circuit 5, and a hardware filter. 6, the conversion circuit 7, the comparison circuit 20, and the hardware filter 21 have the same configuration.
[0018]
Embodiment 4 FIG.
Embodiment 4 of the present invention will be described with reference to FIG. In FIG. 8, the same circuits 2Y to nY have the same configuration as the temperature measurement target 1, the resistance temperature detector 2, the conductor A, the conductor B, the conductor b, the connection part 3, and the terminals 3A, 3B, 3b. Have. The respective outputs are sequentially switched by the switching circuit 30, and the same bridge circuit 5 determines the amount of voltage drop that occurs between the lead wires of the respective RTD connections. Thus, it is not necessary to equip the number of bridge circuits for the number of resistance temperature detector input points, and it is possible to increase the number of measurement points at low cost.
[0019]
Although FIG. 8 shows the configuration of the bridge circuit 5 and the subsequent units based on FIG. 5, the configuration of the bridge circuit 5 and the subsequent units may be the same as the configuration of FIG.
[0020]
Embodiment 5 FIG.
Embodiment 5 of the present invention will be described with reference to FIG. In FIG. 9, a conductor A2, a conductor B2, a conductor b2, an input unit 31, and terminals 3A2, 3B2, and 3b2 double the input from the resistance temperature detector 2. Each of the above-described circuits 2X to nX includes a temperature measurement target 1, a resistance temperature detector 2, a conductor A, a conductor B, a conductor b, an input unit 3, terminals 3A, 3B, 3b, and a duplex conductor A2. , The conductor B2, the conductor b2, the input unit 31, and the terminals 3A2, 3B2, 3b2. The switching circuit 30 switches the circuit at the same time as the switching of the duplex configuration.
[0021]
At the time of temperature measurement, the original circuit and the same circuit are sequentially switched by the switching circuit 30, and the same bridge circuit 5 determines the amount of voltage drop that occurs between the lead wires of the plurality of temperature measurement resistors to be measured. Temperature measurement is possible. At the same time, if a disconnection occurs in one of the resistance temperature measuring systems and is detected, the switching circuit 30 switches the duplex configuration from the abnormal side to the normal side, and the measurement can be continued.
[0022]
Although FIG. 9 shows the configuration of the bridge circuit 5 and the subsequent components based on FIG. 5, the configuration of the bridge circuit 5 and the subsequent components may be the same as that of FIG.
[0023]
【The invention's effect】
As described above in detail, according to the present invention, in the RTD input device, the time for detecting the breakage of the multi-wire type RTD or the disconnection of each lead wire is reduced, and the measurement result at the time of the disconnection is obtained. Can be made into a waveform suitable for burn-up and burn-down processing, and a system can be flexibly constructed.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of a resistance bulb input device according to Embodiment 1 of the present invention.
FIG. 2 is a circuit diagram showing a part of the bridge circuit of FIG. 1;
FIG. 3 is a diagram illustrating a temperature measurement result according to the first embodiment.
FIG. 4 is a comparative diagram for explaining the effect of the first embodiment.
FIG. 5 is a circuit diagram showing a configuration of a resistance bulb input device according to Embodiment 2 of the present invention.
FIG. 6 is a diagram illustrating a temperature measurement result according to the second embodiment.
FIG. 7 is a circuit diagram showing a configuration of a resistance bulb input device according to Embodiment 3 of the present invention.
FIG. 8 is a circuit diagram showing a configuration of a resistance bulb input device according to Embodiment 4 of the present invention.
FIG. 9 is a circuit diagram showing a configuration of a resistance bulb input device according to Embodiment 5 of the present invention.
[Explanation of symbols]
1 temperature measuring object, 2 temperature measuring resistor,
3 input section, 4 resistance,
5 bridge circuit, 6 first hardware filter,
7 conversion circuit, 8 ADC circuit,
9 microcomputer, 9a software filter,
20 comparison circuit, 21 second hardware filter,
30 switching circuit, 31 input unit for duplication,
2X to nX, 2Y to nY, 2Z to nZ
A, B, b conductors,
A2, B2, b2 Duplexing wire.
