JP2004132710A - 評価シーケンスの生成方法および生成プログラム並びに評価システム - Google Patents
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Abstract
【課題】被検レンズなどの評価対象物を制御しながら各種の測定と評価とを短時間で実施すること。また、評価対象物を評価する評価シーケンスを効率よく正確に生成すること。
【解決手段】評価対象物を制御する制御ビット列が予め対応付けられ且つ制御コマンドが入力される制御コマンド入力セル１１４ａを表示する。測定結果を評価する評価項目と規格名とが入力される評価規格入力セル１８２ａを表示する。評価シーケンスのシーケンスステップ毎に、制御コマンド入力セル１１４ａに入力されている制御コマンドおよび評価規格入力セル１８２ａに入力されている規格名を選択させる。各シーケンスステップにおいて、選択された制御コマンドに対応する制御ビット列で評価対象物を制御して測定を行うとともに、その測定結果を選択された規格名に対応する評価項目で評価する評価シーケンスを実行あるいは生成する。
【選択図】 図７
【解決手段】評価対象物を制御する制御ビット列が予め対応付けられ且つ制御コマンドが入力される制御コマンド入力セル１１４ａを表示する。測定結果を評価する評価項目と規格名とが入力される評価規格入力セル１８２ａを表示する。評価シーケンスのシーケンスステップ毎に、制御コマンド入力セル１１４ａに入力されている制御コマンドおよび評価規格入力セル１８２ａに入力されている規格名を選択させる。各シーケンスステップにおいて、選択された制御コマンドに対応する制御ビット列で評価対象物を制御して測定を行うとともに、その測定結果を選択された規格名に対応する評価項目で評価する評価シーケンスを実行あるいは生成する。
【選択図】 図７
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、レンズなどの評価対象物を評価する評価シーケンスの生成方法および生成プログラム並びに評価システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来から、たとえば、ビデオカメラ、デジタルカメラ、一眼レフカメラなどの民生品で使用されるレンズは、カメラなどに組み込まれる前に、レンズ単体としてその性能が評価される。ビデオカメラなどに使用されるために量産されるこれらのレンズは、近年、より一層の高分解能が要求されている。レンズの分解能を示す指標としては、たとえば変調伝達関数（ＭＴＦ：Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ Ｔｒａｎｓｆｅｒ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ）や、位相伝達関数（ＰＴＦ：Ｐｈａｓｅ Ｔｒａｎｓｆｅｒ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ）がある。
【０００３】
レンズのＭＴＦを測定する装置としては、たとえば特許文献１や特許文献２に開示されるように、スリット光あるいはスポット光を、評価対象物であるレンズ（以下、被検レンズと記載する。）に入射し、この被検レンズによるスリット光あるいはスポット光の像の光強度分布をラインセンサやＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）カメラで受光する装置が知られている。この種のＭＴＦ測定装置では、そのラインセンサやＣＣＤカメラの測定結果に基づいて、被検レンズを評価することになる。
【０００４】
また、特許文献３では、縞チャートを被検レンズを介して撮像素子で撮像し、そのＭＴＦ値を演算している。
【０００５】
【特許文献１】
特開平１０−６８６７４号公報（図１）
【特許文献２】
特開平１１−９４７００号公報（図１）
【特許文献３】
特開平１１−１４２２９２号公報（図４，９）
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような特許文献１および２に示される従来のＭＴＦ測定装置では、被検レンズに対する光源やＣＣＤカメラの位置を手動にて調整して、光強度分布を測定する必要がある。また、測定した光強度分布に基づいて評価をする場合、その測定した光強度分布をデータ化して、ＭＴＦを演算しているため、ＭＴＦ値を１つ求めるだけでも、非常に多くの時間がかかってしまう。
【０００７】
一方、特許文献３に示される従来のＭＴＦ測定装置では、光強度分布の測定からＭＴＦ値の演算までの処理が連続的に実行できるので、１回の測定であれば、特許文献１および２に示される従来のＭＴＦ測定装置に比べて短い時間で、ＭＴＦ値を求めることができる。
【０００８】
しかしながら、特許文献３に示される従来のＭＴＦ測定装置であったとしても、被検レンズに対して、たとえば広角と望遠とに切り替える制御をしながら、各種のＭＴＦ値を連続的に測定することができない。
【０００９】
その結果、従来のＭＴＦ測定装置を用いていたのでは、レンズの状態を制御しながら、各種のＭＴＦ値の測定と評価とを連続的に実施することができない。
【００１０】
なお、レンズ以外の光透過製品や樹脂成形品などであっても、その評価対象物（光透過製品など）を制御をしながら各種の測定と評価とを短時間で実施したい場合がある。
【００１１】
そこで、本発明は、以上のような課題を解決するためになされたものであり、評価対象物を制御しながら各種の測定と評価とを短時間で実施することができる評価シーケンスの生成方法および生成プログラム並びに評価システムを提供することを目的とする。
【００１２】
また、本発明は、評価対象物を評価する評価シーケンスを効率よく正確に生成することができる評価シーケンスの生成方法および生成プログラム並びに評価システムを提供することを目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る評価シーケンスの生成方法は、評価対象物を制御して測定を行って、その測定結果に基づいて評価対象物を評価するための評価シーケンスを生成する方法であって、評価対象物を制御する制御ビット列が予め対応付けられ且つ制御コマンドとしての文字列が入力される制御コマンド入力セルを表示するステップと、測定結果を評価する評価項目と規格名とが入力される評価規格入力セルを表示するステップと、評価シーケンスのシーケンスステップ毎に、制御コマンド入力セルに入力されている制御コマンドおよび評価規格入力セルに入力されている規格名を選択させるステップと、各シーケンスステップにおいて、選択された制御コマンドに対応する制御ビット列で評価対象物を制御して測定を行うとともに、その測定結果を選択された規格名に対応する評価項目で評価する評価シーケンスを実行あるいは生成するステップと、を有するものである。
【００１４】
この方法を採用すれば、制御コマンド入力セルにおいて、制御ビット列に対応する各制御コマンドを定義し、且つ、評価規格入力セルにおいて、評価項目とともに規格名を入力した後に、評価シーケンスを作成することになる。これにより、評価対象物を制御しながら各種の測定と評価とを短時間で実施することができる評価シーケンスを生成することができる。
【００１５】
しかも、評価シーケンスのシーケンスステップ毎に、制御コマンドや評価項目を、１から記述する必要がなくなる。また、制御コマンドや規格名を予め定義させ、各シーケンスステップでは、その定義された制御コマンドや規格名の中から選択するだけである。その結果、制御コマンドや規格名を各シーケンスステップ毎に繰り返して記述する場合に起こりやすい入力ミスなどを抑制し、評価対象物を制御しながら測定し、評価する評価シーケンスを効率よく正確に生成することができる。
【００１６】
本発明に係る評価シーケンスの生成プログラムは、入力デバイスおよび表示デバイスを備えるコンピュータに、評価対象物を制御して測定を行って、その測定結果に基づいて評価対象物を評価するための評価シーケンスを生成する手段を実現するプログラムであって、評価対象物を制御する制御ビット列が予め対応付けられ且つ入力デバイスによって制御コマンドとしての文字列が入力される制御コマンド入力セルを表示デバイスに表示する制御コマンド入力セル表示手段と、入力デバイスによって測定結果を評価する評価項目と規格名とが入力される評価規格入力セルを表示デバイスに表示する評価規格入力セル表示手段と、入力デバイスによって、評価シーケンスのシーケンスステップ毎に、制御コマンド入力セルに入力されている制御コマンドおよび評価規格入力セルに入力されている規格名を選択させる選択手段と、各シーケンスステップにおいて、選択された制御コマンドに対応する制御ビット列で評価対象物を制御して測定を行うとともに、その測定結果を選択された規格名に対応する評価項目で評価する評価シーケンスを実行あるいは生成する生成手段と、をコンピュータに実現させるものである。
【００１７】
このプログラムを実行するコンピュータでは、制御コマンド入力セルにおいて、制御ビット列に対応する各制御コマンドを定義し、且つ、評価規格入力セルにおいて、評価項目とともに規格名を入力した後に、評価シーケンスを作成することになる。これにより、評価対象物を制御しながら各種の測定と評価とを短時間で実施することができる評価シーケンスを生成することができる。
【００１８】
しかも、評価シーケンスのシーケンスステップ毎に、制御コマンドや評価項目を、１から記述する必要がなくなる。また、制御コマンドや規格名を予め定義させ、各シーケンスステップでは、その定義された制御コマンドや規格名の中から選択するだけである。その結果、制御コマンドや規格名をシーケンスステップ毎に繰り返して記述する場合に起こりやすい入力ミスなどを抑制し、評価対象物を制御しながら測定し、評価する評価シーケンスを効率よく正確に生成することができる。
【００１９】
本発明に係る他の評価シーケンスの生成プログラムは、入力デバイスおよび表示デバイスを備えるコンピュータに、評価対象物を制御して測定を行って、その測定結果に基づいて評価対象物を評価するための評価シーケンスを生成する手段を実現するプログラムであって、評価対象物を制御する制御ビット列が予め対応付けられ且つ入力デバイスによって制御コマンドとしての文字列が入力される制御コマンド入力セルを表示デバイスに表示する制御コマンド入力セル表示手段と、入力デバイスによって測定結果を評価する評価項目と規格名とが入力される評価規格入力セルを表示デバイスに表示する評価規格入力セル表示手段と、表示デバイスに、評価シーケンスを構成するシーケンスステップのリストおよびエディットボタンを表示するシーケンスリスト表示手段と、シーケンスステップのリストにおいていずれかのシーケンスステップが選択された状態で入力デバイスによってエディットボタンが操作された場合に、制御コマンド選択ボックスおよび評価規格選択ボックスを、表示デバイスに表示する選択ボックス表示手段と、入力デバイスによって制御コマンド選択ボックスが操作された場合に、制御コマンド入力セルに入力されている制御コマンドを表示し、１つの制御コマンドを選択させる制御コマンド選択手段と、規格選択ボックスが操作された場合に、評価規格入力セルに入力されている規格名を表示し、１つの規格名を選択させる規格選択手段と、各シーケンスステップにおいて、選択された制御コマンドに対応する制御ビット列で評価対象物を制御して測定を行うとともに、その測定結果を選択された規格名に対応する評価項目で評価する評価シーケンスを実行あるいは生成する生成手段と、をコンピュータに実現させるものである。
【００２０】
このプログラムを実行するコンピュータでは、制御コマンド入力セルにおいて、制御ビット列に対応する各制御コマンドを定義し、且つ、評価規格入力セルにおいて、評価項目とともに規格名を入力した後に、評価シーケンスを作成することになる。これにより、評価対象物を制御しながら各種の測定と評価とを短時間で実施することができる評価シーケンスを生成することができる。
【００２１】
しかも、評価シーケンスのシーケンスステップ毎に、制御コマンドや評価項目を、１から記述する必要がなくなる。また、制御コマンドや規格名を予め定義させ、各シーケンスステップでは、その定義された制御コマンドや規格名の中から選択するだけである。さらに、各シーケンスステップでは、制御コマンドや規格名を１つずつしか選択できないので、シーケンスステップのリストには、評価対象物の制御の流れと、評価のタイミングや順番が確実に表現されることになる。その結果、制御コマンドや規格名をシーケンスステップ毎に繰り返して記述する場合に起こりやすい入力ミスなどを抑制し、評価対象物を制御しながら測定し、評価する評価シーケンスを効率よく正確に生成することができる。
【００２２】
本発明に係る他の評価シーケンスの生成プログラムは、さらに、制御コマンド入力セル、評価規格入力セルおよびシーケンスステップのリストの入力情報と、シーケンスステップ毎に制御コマンド選択ボックスおよび評価規格選択ボックスにおいて選択された制御コマンドおよび規格名とを、コンピュータの記憶部材に記憶させる記憶制御手段を備え、記憶制御手段は、少なくとも評価規格入力セルの入力情報と、その他の情報とを別々のファイルとして記憶させ、生成手段は、制御コマンド入力セル、評価規格入力セル、シーケンスステップのリスト、並びに、シーケンスステップ毎の制御コマンド選択ボックスおよび評価規格選択ボックスの情報に基づいて、評価シーケンスを実行するものである。
【００２３】
このプログラムを実行するコンピュータでは、評価規格入力セルおよびシーケンスステップのリストの入力情報と、シーケンスステップ毎に制御コマンド選択ボックスおよび評価規格選択ボックスにおいて選択された制御コマンドおよび規格名とを、コンピュータの記憶部材に記憶させ、その後にこれを読み込んで再利用することができる。
【００２４】
また、生成手段は、制御コマンド入力セル、評価規格入力セル、シーケンスステップのリスト、並びに、シーケンスステップ毎の制御コマンド選択ボックスおよび評価規格選択ボックスの情報に基づいて、評価シーケンスを実行するので、これらに記憶部材に記憶されている情報を読み込むだけで、評価シーケンスを生成して実行することができる。
【００２５】
しかも、記憶制御手段は、少なくとも評価規格入力セルの入力情報と、その他の情報とを別々のファイルとして記憶させるので、少なくとも、評価規格入力セルの入力情報は、他の評価対象物においても汎用的に利用することができる。その結果、入力ミスを抑制して、効率よく正確な評価シーケンスを生成することができる。
【００２６】
本発明に係る他の評価シーケンスの生成プログラムは、さらに、評価対象物毎に設けられて評価対象物を制御する駆動工具から、少なくとも評価対象物毎に異なる識別情報を読み込む識別情報読込手段と、記憶制御手段は、識別情報とともに、制御コマンド入力セル、評価規格入力セルおよびシーケンスステップのリストの入力情報と、シーケンスステップ毎に制御コマンド選択ボックスおよび評価規格選択ボックスにおいて選択された制御コマンドおよび規格名とを、記憶部材に記憶させ、さらに、記憶制御手段は、識別情報読込手段が読み込んだ識別情報が記憶部材に記憶されている場合には、その識別情報に対応する情報を、制御コマンド入力セル、評価規格入力セル、シーケンスステップのリスト、シーケンスステップ毎の制御コマンド選択ボックスおよび評価規格選択ボックスに自動的に読み込むものである。
【００２７】
このプログラムを実行するコンピュータでは、識別情報読込手段が駆動工具から識別情報を読み込むと、記憶制御手段が、自動的に、記憶部材に記憶されている適切な情報を、制御コマンド入力セル、評価規格入力セル、シーケンスステップのリスト、シーケンスステップ毎の制御コマンド選択ボックスおよび評価規格選択ボックスに読み込む。したがって、記憶部材に複数組の情報が記憶されている場合であっても、駆動工具を接続するだけで、適切な組の情報を読み込んで効率よく評価対象物を評価することができる。
【００２８】
本発明に係る評価シーケンスの生成プログラムおよび他の評価シーケンスの生成プログラムは、さらに、評価対象物に固有の番号などの文字列を入力するシリアルナンバー入力ボックスを表示するシリアルナンバー入力ボックス表示手段を備え、記憶制御手段は、シリアルナンバー入力ボックスに入力された文字列と判定結果とを対応付けて記憶部材に記憶させるものである。
【００２９】
このプログラムを実行するコンピュータでは、評価対象物毎に、判定結果を保存することができる。したがって、後から、シリアルナンバーに基づいて１つ１つの評価対象物の評価内容を確認することができる。
【００３０】
本発明に係る評価システムは、上述するいずれか１つの評価シーケンスの生成プログラムを記憶する記憶部材と、Ｉ／Ｏポートと、Ｉ／Ｏポートに接続される駆動工具と、入力デバイスと、表示デバイスと、評価シーケンスの生成プログラムを実行する中央処理装置と、を備え、評価シーケンスの生成プログラムによって実現される生成手段は、Ｉ／Ｏポートを介して駆動工具へ制御コマンドに対応するビット列を出力するものである。
【００３１】
この評価システムを採用すれば、制御コマンド入力セルにおいて、制御ビット列に対応する各制御コマンドを定義し、且つ、評価規格入力セルにおいて、評価項目とともに規格名を入力した後に、評価シーケンスを作成することになる。これにより、評価対象物を制御しながら各種の測定と評価とを短時間で実施することができる評価シーケンスを生成することができる。
【００３２】
しかも、評価シーケンスのシーケンスステップ毎に、制御コマンドや評価項目を、記述する必要がなくなる。また、制御コマンドや規格名を予め定義させ、各シーケンスステップでは、その定義された制御コマンドや規格名の中から選択するだけである。その結果、制御コマンドや規格名を各シーケンスステップ毎に繰り返して記述する場合に起こりやすい入力ミスなどを抑制し、評価対象物を制御しながら測定し、評価する評価シーケンスを効率よく正確に生成することができる。
【００３３】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る評価シーケンスの生成方法および生成プログラム並びに評価システムを、図面に基づいて説明する。
【００３４】
なお、評価システムは、被検レンズ（評価対象物）の評価を実行するレンズ評価システムの一部として説明する。評価シーケンスの生成プログラムは、被検レンズ評価プログラムの一部として説明する。評価シーケンスの生成方法は、レンズ評価システムの動作の一部として説明する。
【００３５】
図１は、本発明の実施の形態に係るレンズ評価システムを示すシステム構成図である。
【００３６】
レンズ評価システムは、被検レンズ１の特性を測定するためのチャートを生成するチャート装置２と、このチャート装置２と対向して配置され、被検レンズ１が固定される測定装置本体３と、被検レンズ１を制御する駆動工具４と、コンピュータ５と、を備える。なお、測定装置本体３、駆動工具４およびコンピュータ５は、テーブル６に載せて使用する。
【００３７】
測定装置本体３と駆動工具４とはそれぞれ、制御信号ケーブル７でコンピュータ５に接続され、この制御信号ケーブル７を介してコンピュータ５から入力される制御信号に基づいて動作する。このような制御信号ケーブル７としては、たとえば、フラットケーブル、セントロニクスケーブルなどのパラレルケーブル、ＵＳＢ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ Ｓｅｒｉａｌ Ｂｕｓ）ケーブルやＳＣＳＩ（Ｓｍａｌｌ Ｃｏｍｐｕｔｅｒ Ｓｙｓｔｅｍ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）ケーブルなどのシリアルケーブルなどを利用することができる。
【００３８】
測定装置本体３とコンピュータ５とは、ビデオ信号ケーブル８で接続されている。ビデオ信号ケーブル８は、たとえば、画像信号用の信号線と、垂直同期信号用の信号線と、水平同期信号用の信号線と、を備えるものであればよい。
【００３９】
測定装置本体３とチャート装置２とは、チャート点灯制御信号線９で接続されている。
【００４０】
なお、測定装置本体３とチャート装置２とは、測定装置本体３の前面に取り付けられた被検レンズ１の光軸１１上に、チャート装置２の後述するセンターチャートユニット３０（図２参照）の中心、すなわちアーム交差部２８が位置するように、互いの位置が位置決めされる。このとき、たとえば、センターチャートユニット３０の位置にレーザ光源を替わりに配設するとともに、被検レンズ１の替わりにミラーを配設し、レーザ光のミラーによる反射光が、レーザ光源の位置に戻ってくるように調整した後、ミラーの位置に被検レンズ１を配置することで、被検レンズ１とチャート装置２とを平行にすることができる。なお、測定装置本体３とチャート装置２との距離は、１ｍ〜２ｍ程度でよい。
【００４１】
図２（Ａ）は、図１中のチャート装置２を示す装置正面図である。図２（Ｂ）は、図１中のチャート装置２を示す装置背面図である。
【００４２】
チャート装置２は、高さ調整が可能なメインフレーム２１と、メインフレーム２１の下端部に四方へ十字形に突出するように固定される４本の脚部２２と、メインフレーム２１の上端部において互いに交差して取り付けられる２本のアーム２３と、を備える。そして、メインフレーム２１は、各脚部２２の下面に配設されたレベラー２４の、メインフレーム２１の下面からの突出量が調整されることで、床面に垂直に立つことが可能となる。また、メインフレーム２１の高さを調整することで、２本のアーム２３の床面からの高さが調整できる。
【００４３】
また、２本のアーム２３は、メインフレーム２１が鉛直に立った状態で、１つの鉛直面内で回転可能に、メインフレーム２１の上端部に取り付けられている。また、メインフレーム２１の上端部には、この２本のアーム２３の交差部と同心に円板形状の目盛り板２５が取り付けられている。そして、目盛り板２５の目盛りを参考にしつつ、この目盛り板２５に形成された２つのスリット２６に、各アーム２３のアームロックレバー２７を固定することで、各アーム２３は所定の角度に固定される。
【００４４】
各アーム２３の正面側には、チャートユニット２９，３０が取り付けられる。この実施の形態では、アーム交差部２８を中心として四方に突出する各部分に、チャートユニット２９を２つずつ取り付けている。また、アーム交差部２８にも、チャートユニット３０が取り付けられている。なお、アーム交差部２８を中心として四方に突出する各部分には、チャートユニット２９を１つあるいは３つ以上取り付けてもよい。これは、被検レンズ１の検査項目の数による。以下、各アーム２３に取り付けられているチャートユニット２９と、アーム交差部２８に取り付けられているチャートユニット３０とを特に区別する場合には、前者を像高チャートユニット２９と記載し、後者をセンターチャートユニット３０と記載する。
【００４５】
各像高チャートユニット２９は、チャートロックレバー２９ａを緩めることで、アーム２３の長さ方向に沿って移動する。また、各像高チャートユニット２９は、チャートロックレバー２９ａを締めることで、その締めた位置に固定することができる。各像高チャートユニット２９の固定位置は、アーム２３の長さ方向に沿って付けられている図示外の目盛りを参考に決めればよい。
【００４６】
図３（Ａ）は、図２中のチャートユニット２９，３０の斜視図である。図３（Ｂ）は、図２中のチャートユニット２９，３０の分解断面図である。
【００４７】
チャートユニット２９，３０は、つや消しの黒色に塗装された略長方体形状のハウジング３１と、そのハウジング３１内部に配設される電球やハロゲンランプなどの光源３２と、ハウジング３１の一側面に形成される正方形の貫通孔３３と、この貫通孔３３と重ねて配設される白色のアクリル板などの拡散板３４と、を備える。また、光源３２と貫通孔３３との間には、更に別の拡散板３５が配設され、さらにこれらの拡散板３４同士の間には、内面が鏡面仕上げをされた導光路３６が形成されている。これら２つの拡散板３４と、導光路３６とによって、貫通孔３３から放射される白色の光は、貫通孔３３の各部分で略均一の明るさになる。
【００４８】
各チャートユニット２９，３０の光源３２には、チャート点灯制御信号線９が接続される。チャート点灯制御信号線９から点灯信号が入力されると光源３２は点灯する。これにより、貫通孔３３に近接配置される白色の拡散板３４による輝度が高い正方形の白色部分と、その白色部分の周囲全周に渡って形成される、黒色のハウジング３１による輝度が低い黒色の部分と、からなるチャートが形成される。２つの拡散板３４の背面側に光源３２を設けてチャートの白色部分を背面照明で明るくすることで、チャートの黒色部分となるハウジング３１との輝度差を大きくすることができる。その結果、チャートの周囲が明るくても、チャートの白色部分と、黒色部分との輝度差は十分に確保される。
【００４９】
貫通孔３３と、それと重ねて配設される拡散板３４との間には、隙間が設けられている。この隙間に、たとえば貫通孔３３よりも小さい開口面積を有する正方形の貫通孔を形成した黒色の画用紙などをチャートマスクとして挿入することで、チャートの白色部分のサイズを小さくすることができる。このとき、貫通孔３３は、そのチャートマスクの貫通孔によって代替えされる。なお、貫通孔３３は、一辺が３０ｍｍ程度に形成している。
【００５０】
この正方形の貫通孔３３の各辺は、ハウジング３１の各辺と平行に形成されている。ハウジング３１は、その対向する二辺がアーム２３の長さ方向に沿って配設されている。そのため、像高チャートユニット２９の貫通孔３３は、その対向する二辺がアーム２３の長さ方向と平行になり、且つ、残りの対向する二辺がアーム２３の長さ方向と垂直になる。図２に示すように、アーム２３を水平以外の角度に設定した場合、像高チャートユニット２９によるチャートの正方形の白色部分は、斜めに傾くことになる。それゆえ、図１に示すように、アーム交差部２８が被検レンズ１の光軸１１上となるように、チャート装置２と被検レンズ１との相対位置を位置決めするだけで、アーム２３をどのような角度に設定したとしても、各像高チャートユニット２９によるチャートの白色部分の一対の二辺は、常に、その像高位置でのメリジオナル方向となり、他の一対の二辺は常にサジッタル方向となる。
【００５１】
図４は、図１中の測定装置本体３の分解図である。
【００５２】
測定装置本体３は、ベースプレート４１と、顕微鏡４２と、顕微鏡４２に固定されるＣＣＤカメラ４３と、顕微鏡４２をベースプレート４１上でＸＹＺの３軸方向で移動させる駆動ユニット４４と、を備える。ベースプレート４１の下面の四隅近傍には、各々１つで計４つのレベラー４５が配設されている。なお、測定装置本体３の上部には、ＤＩＮ（Ｄｅｕｔｓｃｈ Ｉｎｄｕｓｔｒｉｅ Ｎｏｒｍ：ドイツ工業規格）レール４６が設けられている。このＤＩＮレール４６に駆動工具４をはめ込むことで、駆動工具４を測定装置本体３の内部に格納することができる。また、測定装置本体３の背面には、２４Ｖ電源端子４７が設けられている。この２４Ｖ電源端子４７に、駆動工具４の後述する電源ユニット６３を接続することができる。
【００５３】
なお、図４において、Ｘ軸方向は、紙面と垂直な方向であり、Ｙ軸方向は、紙面の上下方向であり、Ｚ軸方向は、紙面の左右方向である。顕微鏡４２は、その光軸がＺ軸方向となるように取り付けられている。
【００５４】
また、ベースプレート４１には、ＸＹ平面と平行となるように、フランジ受部４８が立設されている。フランジ受部４８には、フランジ取付孔４９が形成されている。フランジ受部４８に当接することになるとともにフランジ取付孔４９に嵌り込むこととなるフランジ５０には、被検レンズ１が固定される。被検レンズ１は、フランジ５０の中央に設けられる貫通孔に挿入されることで、ＸＹ軸方向の位置決めがなされる。フランジ５０の被検レンズ１の取付面５１と、その裏面５２とは、平行に加工されている。そして、駆動ユニット４４には、顕微鏡４２とともに渦電流式距離センサ５３が配設される。渦電流式距離センサ５３の検出信号はコントローラ５４へ入力される。コントローラ５４は、この渦電流式距離センサ５３の検出信号に基づいて、渦電流式距離センサ５３とフランジ取付孔４９に嵌り込んだフランジ５０の裏面５２との距離が所定の値になるように駆動ユニット４４を駆動する。なお、この渦電流式距離センサ５３を使用して距離を制御することで、Ｚ軸方向の位置精度は０．５マイクロメートル程度の精度に調整することができる。
【００５５】
顕微鏡４２をＸ軸方向あるいはＹ軸方向に移動させたときに、その駆動方向と、Ｘ軸あるいはＹ軸との間に若干の角度誤差がある場合、顕微鏡４２はＺ軸方向にも若干だけ移動してしまう。コントローラ５４は、このように顕微鏡４２がＺ軸方向にも若干だけ移動してしまうと、渦電流式距離センサ５３の検出信号に基づいて、渦電流式距離センサ５３とフランジ５０の裏面との距離が所定の値になるように制御する。これにより、顕微鏡４２とフランジ５０との距離、ひいては、被検レンズ１と顕微鏡４２との距離を一定の距離に維持することができる。その結果、被検レンズ１と顕微鏡４２とのＺ軸方向の距離が変化してしまうことによって生じてしまう撮像画像のぼけを防止することができる。
【００５６】
なお、この実施の形態では、顕微鏡４２とフランジ５０との距離を測定する距離センサとして渦電流式のものを使用したが、レーザなどを用いる他の距離センサを用いてもよい。但し、渦電流式距離センサ５３は、比較的に安価で、且つ、数ミクロンオーダでの距離変化を検出することができるので、好適に利用することができる。
【００５７】
コントローラ５４には、チャート点灯制御信号線９と、制御信号ケーブル７とが接続される。コントローラ５４は、制御信号ケーブル７から位置制御信号が入力されると、駆動ユニット４４を制御して、顕微鏡４２を所定の位置に設定する。また、コントローラ５４は、制御信号ケーブル７から撮影信号が入力されると、チャート点灯制御信号線９へ点灯制御信号を出力する。チャート装置２では、指定されたチャートユニットが点灯する。これにより、黒枠の内側に四角い白色部分を有するチャートが形成される。被検レンズ１は、チャートの像を結像する。チャートの像は、顕微鏡４２によって拡大され、ＣＣＤカメラ４３の図示外の受光面に結像させられる。
【００５８】
ＣＣＤカメラ４３には、ビデオ信号ケーブル８が接続される。ＣＣＤカメラ４３は、その受光面に多数の受光素子がマトリックス状に配列されている。この多数の受光素子で撮像した輝度分布画像が撮像画像としてビデオ信号ケーブル８の画像信号用の信号線から出力される。ＣＣＤカメラ４３は、画像信号用の信号線へ撮像画像を出力するのと同期して、垂直同期信号と水平同期信号用とをそれぞれの信号線へ出力する。
【００５９】
図５は、図１中の駆動工具４を示すブロック図である。
【００６０】
駆動工具４は、Ｉ／Ｏ（Ｉｎｐｕｔ／Ｏｕｔｐｕｔ）ポート６１を備えるマイクロコントローラ６２と、このマイクロコントローラ６２へ電力を供給する電源ユニット６３と、を備える。電源ユニット６３は、測定装置本体３の２４Ｖ電源端子４７に接続される。
【００６１】
マイクロコントローラ６２は、Ｉ／Ｏポート６１と、プログラムを実行する中央処理装置（ＣＰＵ：Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）６４と、中央処理装置６４がプログラム実行の際に使用するＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）６５と、プログラムやデータを記憶する記憶部材６６と、これらを接続するシステムバス６７と、を備える。Ｉ／Ｏポート６１には、制御信号ケーブル７と、被検レンズ１への制御信号線６８とが接続される。
【００６２】
制御信号ケーブル７から駆動工具４のＩ／Ｏポート６１へ入力される制御信号は、図６に示す信号フォーマットで入力される。この信号フォーマットでは、２４本の信号線を使用する。したがって、２４本の信号線の中の最初の８本の信号線は、コンピュータ５から駆動工具４へ制御コマンド用の制御ビット列を送信するために利用される。次の８本の信号線は、駆動工具４からコンピュータ５へステータス用のビット列を送信するために利用される。最後の８本の信号線は、駆動工具４からコンピュータ５へ駆動工具４の識別番号７０用のビット列（識別情報）を送信するために利用される。
【００６３】
コンピュータ５から駆動工具４へ送信される制御コマンドは、駆動工具４が行う制御を指定するものであり、被検レンズ１の状態を所定の状態に設定するためのものである。このような制御コマンドとしては、たとえば、被検レンズ１をワイド（広角）に設定するワイド設定制御コマンド、テレ（望遠）に設定するテレ設定制御コマンド、ワイドとテレとの中間位置に設定するミドル設定制御コマンド、フォーカスの制御をするフォーカス設定制御コマンド、絞りを設定する絞り設定制御コマンド、テストを行わせるテスト制御コマンド、各種のセットをリセットするためのリセット制御コマンドなどがある。これらの各制御コマンドは、駆動工具４を作成するに当たって、駆動工具４を作成する者が自由に、８ビットで表現される０〜２５５（２５６（＝２８）通り）のいずれかの値の制御ビット列に対応付ける。なお、５ビット（３２（＝２５）通り）のビット列で、一般的な被検レンズ１の全ての制御が可能である。
【００６４】
駆動工具４からコンピュータ５へ送信されるステータスは、駆動工具４の動作状態を通知するためのものである。このようなステータスとしては、たとえば、駆動工具４が制御中であることを示すビジー（Ｂｕｓｙ）ステータス、コマンド制御の失敗によるエラー（Ｅｒｒｏｒ）ステータス、駆動工具４が初期化されたことを示すクリア（ＣＬＲ）などがある。各ステータスには、８ビットで表現される０〜２５５（２５６（＝２８）通り）のいずれかの値のビット列に対応付けられる。
【００６５】
駆動工具４の識別番号７０は、基本的には駆動工具４毎に割り当てられる。但し、１種類の被検レンズ１に対して複数の駆動工具４を作成した場合には、この複数の駆動工具４に共通する識別番号７０を割り当てるとよい。このように被検レンズ１の種類毎に異なる識別番号７０を利用することで、コンピュータ５では、駆動工具４を接続するだけで、どの被検レンズ１を検査しようとしているのかを把握することができる。各識別番号７０には、８ビットで表現される０〜２５５（２５６（＝２８）通り）のいずれかの値のビット列に対応付けられる。
【００６６】
マイクロコントローラ６２の記憶部材６６には、駆動工具制御プログラム６９と、駆動工具４の識別番号７０と、が記憶されている。マイクロコントローラ６２の中央処理装置６４は、電源ユニット６３からの電力が供給されると、駆動工具制御プログラム６９を実行する。これにより、駆動工具制御手段が実現される。
【００６７】
駆動工具制御手段は、まず、記憶部材６６に記憶されている識別番号７０を読出して、Ｉ／Ｏポート６１にセットする。また、Ｉ／Ｏポート６１に入力される制御コマンド用のビット列を読み込み、その制御コマンド用のビット列に対応する制御信号を制御信号線６８へ出力する。被検レンズ１は、この制御信号に応じてその設定状態を変更する。これにより、たとえば、Ｉ／Ｏポート６１にワイド設定制御コマンド用のビット列が入力されると、被検レンズ１は、ワイド（広角）に設定される。他にもたとえば、Ｉ／Ｏポート６１にテレ設定制御コマンド用のビット列が入力されると、被検レンズ１は、テレ（望遠）に設定される。
【００６８】
また、駆動工具制御手段は、Ｉ／Ｏポート６１に入力される制御コマンド用のビット列を読み込むとビジーステータスをＩ／Ｏポート６１に設定する。そして、駆動工具制御手段は、たとえば、被検レンズ１が正しく設定されると、ビジーステータスを解除する。また、駆動工具制御手段は、被検レンズ１が正しく設定できないと、エラーステータスをＩ／Ｏポート６１に設定する。
【００６９】
図７は、図１中のコンピュータ５の内部構造を示すブロック図である。
【００７０】
コンピュータ５は、Ｉ／Ｏポート８１と、プログラムを実行する中央処理装置（ＣＰＵ）８２と、中央処理装置８２がプログラム実行の際に使用するＲＡＭ８３と、プログラムやデータを記憶する記憶部材８４と、これらを接続するシステムバス８５と、を備える。Ｉ／Ｏポート８１には、表示デバイスとしてのモニタ８６と、キーボード８７と、ポインティングデバイス８８と、が接続されている。なお、キーボード８７やポインティングデバイス８８は、入力デバイスである。
【００７１】
Ｉ／Ｏポート８１には、制御信号ケーブル７と、ビデオ信号ケーブル８とが接続される。制御信号ケーブル７は、測定装置本体３と、駆動工具４とに接続される。ビデオ信号ケーブル８は、測定装置本体３のＣＣＤカメラ４３に接続される。
【００７２】
記憶部材８４には、被検レンズ評価プログラムとして、初期表示プログラム８９と、評価シーケンス生成プログラム９０と、評価シーケンス実行プログラム９１と、測定プログラム９２と、ＭＴＦ演算プログラム９３と、ＰＴＦ演算プログラム９４と、判定プログラム９５と、チャート装置設定演算プログラム９６と、が記憶されている。
【００７３】
入力デバイスによってあるいは自動的に、被検レンズ評価プログラムの実行が指示されると、中央処理装置８２は、初期表示プログラム８９を実行する。これにより、シリアルナンバー入力ボックス表示手段として機能する初期表示手段が実現される。なお、中央処理装置８２は、駆動工具４がＩ／Ｏポート８１に接続されたことを検出して、初期表示プログラム８９を実行してもよい。
【００７４】
初期表示手段は、図８に示すようなメインウィンドウ画面１０１をコンピュータ５のモニタ８６に表示させる。図８は、コンピュータ５のモニタ８６に表示されるメインウィンドウ画面１０１の一例を示す。
【００７５】
メインウィンドウ画面１０１は、その上半分が測定結果や評価結果などを表示するための表示エリアとなっている。また、メインウィンドウ画面１０１の下半分は、設定を入力したり、入力されている設定を表示する入力エリアとなっている。
【００７６】
表示エリア内の左上には、テストモードボタン１０２と、アジャストボタン１０３と、クローズボタン１０４と、が表示されている。表示エリア内には、さらに、グラフ表示部１０５と、シリアルナンバー入力ボックス１０６と、判定結果表示部１０７と、進捗状況表示部１０８と、カウンタ１０９と、が設けられている。
【００７７】
テストモードボタン１０２が入力デバイスで操作されると、中央処理装置８２は、評価シーケンス実行プログラム９１を実行する。これにより、評価シーケンス実行手段が実現される。アジャストボタン１０３が入力デバイスで操作されると、中央処理装置８２は、評価シーケンス生成プログラム９０を実行する。これにより、評価シーケンス生成手段が実現される。クローズボタン１０４が操作されると、中央処理装置８２は、メインウィンドウ画面１０１を閉じて、被検レンズ評価プログラムの実行を終了する。
【００７８】
以下、評価シーケンス実行手段が実現されている状態をテストモードと記載し、評価シーケンス生成手段が実現されている状態を設定モードと記載する。
【００７９】
グラフ表示部１０５には、後述するＭＴＦの測定結果と、ＰＴＦの測定結果とが表示される。グラフの横軸は、空間周波数（ｃｙｃｌｅ／ｍｍ）が表示される。グラフの縦軸は、空間周波数が０のときを１００％として正規化した変調率（％）が表示される。なお、ＰＴＦ用の縦軸は、表示されない。ＰＴＦの測定結果は、変調率５０％が位相差０で、変調率１００％が＋１８０度の位相差で、変調率０％が−１８０度の位相差となるように、表示される。
【００８０】
シリアルナンバー入力ボックス１０６には、入力デバイスを用いて被検レンズ１のシリアルナンバーが入力される。このシリアルナンバーは、後述する被検レンズ１の判定項目や判定結果などとともに、被検レンズ１の評価ログとして、記憶部材６６に記憶される。なお、被検レンズ１のシリアルナンバーが不明である場合には、たとえば評価する日の年月日などを入力してもよい。
【００８１】
判定結果表示部１０７には、後述する判定手段による被検レンズ１の評価結果が表示される。評価結果が適合である場合には「適合」あるいは「Ｇｏｏｄ」と表示され、規格外である場合には「不適合」、「規格外」あるいは「ＮＧ」と表示される。
【００８２】
進捗状況表示部１０８には、テストモードでの進捗段階が０−１００％のインジケータとして表示される。テストモードを開始した直後は０％であり、テストモードが終了するときは１００％である。
【００８３】
カウンタ１０９には、被検レンズ１の評価個数が表示される。テストモードボタン１０２が操作される度に、１つずつカウントアップする。なお、被検レンズ評価プログラムを起動したときのカウンタ１０９の値は、０であっても、あるいは、これまでの全ての評価個数の累積値であってもよい。
【００８４】
メインウィンドウ画面１０１の下半分に設けられる入力エリアには、ベーシックセットアップタグボタン１１１、コントロールタグボタン１１２、スペシフィケーションタグボタン１１３、テストシーケンスタグボタン１１４、リザルトタグボタン１１５などのボタンと、入力デバイスで選択されたタグボタンに対応する入力画面を表示する入力部と、が設けられている。
【００８５】
ベーシックセットアップタグボタン１１１が入力デバイスにて選択されると、評価シーケンス生成手段は、図８に示すように、入力部に基本設定画面１２１を表示する。
【００８６】
基本設定画面１２１内には、一般的な項目に関する初期設定欄と、ＭＴＦの初期設定欄と、オートフォーカスの初期設定欄と、ＣＣＤカメラ４３および顕微鏡４２の初期設定欄と、駆動ユニット４４の初期設定欄と、が設けられている。
【００８７】
一般的な項目に関する初期設定欄には、ショーカメラビューチェックボックス１２２と、テストモードオンスタートアップチェックボックス１２３と、ディスコンティニュオンＮＧチェックボックス１２４と、オートセンタリングチェックボックス１２５と、制御信号ケーブル７のコモンポート番号を選択する選択ボックス１２６と、ビデオ信号ケーブル８のコモンポート番号を選択する選択ボックス１２７と、が表示されている。
【００８８】
入力デバイスによって、ショーカメラビューチェックボックス１２２にチェックが入ると、評価シーケンス実行手段は、ビデオ信号ケーブル８から入力されるＣＣＤカメラ４３の撮像画像を、判定結果表示部１０７に表示する。
【００８９】
テストモードオンスタートアップチェックボックス１２３にチェックが入ると、初期表示手段は、被検レンズ評価プログラムをテストモードで起動する。これにより、生産ラインなどにおいてこのレンズ評価システムを使用する場合に、コンピュータ５の電源を入れて被検レンズ評価プログラムを起動すれば、そのまま測定を開始することが可能となり、毎日の作業を効率化させることができる。なお、コンピュータ５において被検レンズ評価プログラムを自動起動に設定することで、電源を入れるだけで検査作業を開始することができ、さらに毎日の作業を効率化させることができる。
【００９０】
ディスコンティニュオンＮＧチェックボックス１２４にチェックが入ると、評価シーケンス実行手段は、規格外（ＮＧ）の判定結果が生じた時点で評価シーケンスの実行を中断する。
【００９１】
オートセンタリングチェックボックス１２５にチェックが入ると、評価シーケンス実行手段はセンターチャートユニット３０での後述するオートフォーカス処理時に、ＣＣＤカメラ４３の撮像画像の中心にチャートの白色正方形の中心が位置するように、測定装置本体３のコントローラ５４へ、位置を補正する制御信号を出力する。これにより、ＣＣＤカメラ４３の受光面の中心に対して垂直の方向に、センターチャートユニット３０の中心を位置させることができ、光軸１１のずれや傾きに起因する誤差を無くすことができる。
【００９２】
ＭＴＦの初期設定欄には、ＭＴＦメソッド選択ボックス１２８と、マキシムレンジ入力ボックス１２９と、が表示されている。
【００９３】
ＭＴＦメソッド選択ボックス１２８では、記憶部材６６に複数のＭＴＦ演算プログラム９３が記憶されている場合に、その内の１つを選択することができる。そして、ＭＴＦメソッド選択ボックス１２８には、入力デバイスで選択されたＭＴＦ演算プログラム９３が表示される。これにより、たとえば、演算速度が速いＭＴＦ演算プログラム９３と、演算精度が高いＭＴＦ演算プログラム９３とを記憶部材６６に記憶させるるとともに、ＭＴＦメソッド選択ボックス１２８において、被検レンズ１のグレードなどに応じてこれらの中の一方を選択することで、１つのレンズ評価システムを用いて、汎用的にグレードの異なる複数の被検レンズ１を評価することができる。
【００９４】
マキシムレンジ入力ボックス１２９には、入力デバイスを用いてグラフ表示部１０５に表示される最大の空間周波数が入力される。後述するＭＴＦ演算手段は、０から設定された最大の空間周波数までのＭＴＦ値を、グラフ表示部１０５に表示する。後述するＰＴＦ演算手段は、０から設定された最大の空間周波数までのＰＴＦ値を、グラフ表示部１０５に表示する。
【００９５】
オートフォーカスの初期設定欄には、ディテクトメソッド選択ボックス１３０と、オプション入力ボックス１３１と、バックステップ入力ボックス１３２と、が表示されている。
【００９６】
ディテクトメソッド選択ボックス１３０では、エッジディテクト、ＭＴＦディテクト、グレイディテクト、アキュタンス（Ａｃｕｔａｎｃｅ）ディテクトが選択可能である。そして、入力デバイスで選択されたものが、ディテクトメソッド選択ボックス１３０に表示される。
【００９７】
エッジディテクトが選択されると、評価シーケンス実行手段は、オートフォーカス処理時に、顕微鏡４２を移動させながら、その顕微鏡４２の位置毎にＣＣＤカメラ４３から出力される各撮像画像からエッジ画像を生成する。また、評価シーケンス実行手段は、エッジ画像のピーク値が最も大きくなる撮像画像の撮像位置に、顕微鏡４２およびＣＣＤカメラ４３を設定する。なお、評価シーケンス実行手段は、オプション入力ボックス１３１に入力された値と対応付けられた、たとえばディファレンシャルやグラディエントなどのオペレータを用いてエッジ画像を生成する。
【００９８】
ＭＴＦディテクトが選択されると、評価シーケンス実行手段は、オートフォーカス処理時に、顕微鏡４２を移動させながら、その顕微鏡４２の位置毎にＣＣＤカメラ４３から出力される各撮像画像のＭＴＦ値を簡易的に演算する。また、評価シーケンス実行手段は、ＭＴＦ値のグラフ表示での面積が最も大きくなる撮像画像の撮像位置に、顕微鏡４２およびＣＣＤカメラ４３を設定する。なお、ＭＴＦ値は、メリジオナル方向とサジッタル方向との両方で演算し、その平均値での面積で評価する。また、評価シーケンス実行手段は、オプション入力ボックス１３１に入力された値に対応付けられた値までの空間周波数についてＭＴＦ値を演算する。
【００９９】
グレイディテクトが選択されると、評価シーケンス実行手段は、オートフォーカス処理時に、顕微鏡４２を移動させながら、その顕微鏡４２の位置毎にＣＣＤカメラ４３から出力される各撮像画像の中間調の合計輝度値を演算する。また、評価シーケンス実行手段は、中間調の合計輝度値が最も小さくなる撮像画像の撮像位置に、顕微鏡４２およびＣＣＤカメラ４３を設定する。
【０１００】
アキュタンスディテクトが選択されると、評価シーケンス実行手段は、オートフォーカス処理時に、顕微鏡４２を移動させながら、その顕微鏡４２の位置毎にＣＣＤカメラ４３から出力される各撮像画像のＬＳＦ（Ｌｉｎｅ Ｓｅｐａｒａｔｅ Ｆａｃｉｌｉｔｙ）のＲＭＳ（Ｒｏｏｔ Ｍｅａｍ Ｓｑｕａｒｅ）値を演算する。また、評価シーケンス実行手段は、ＲＭＳ値が最も大きくなる撮像画像の撮像位置に、顕微鏡４２およびＣＣＤカメラ４３を設定する。なお、ＬＳＦは、メリジオナル方向とサジッタル方向との両方で演算する。
【０１０１】
ＣＣＤカメラ４３および顕微鏡４２の初期設定欄には、ホリゾンタルピッチ入力ボックス１３３と、バーチカルピッチ入力ボックス１３４と、マグニフィケーション入力ボックス１３５と、が表示されている。
【０１０２】
入力デバイスによって、ホリゾンタルピッチ入力ボックス１３３には、ＣＣＤカメラ４３の受光素子の水平方向のピッチが入力される。バーチカルピッチ入力ボックス１３４には、ＣＣＤカメラ４３の受光素子の垂直方向のピッチが入力される。マグニフィケーション入力ボックス１３５には、顕微鏡４２の倍率が入力される。後述する測定手段は、これらの値を利用して、ＣＣＤカメラ４３の受光素子同士の間隔が、被検レンズ１の像において、どのくらいの幅に相当するのかを判断する。
【０１０３】
駆動ユニット４４の初期設定欄には、クロック入力ボックス１３６と、オフセット入力ボックス１３７と、プレシジョン入力ボックス１３８と、ロースピードレンジ入力ボックス１３９と、が表示されている。
【０１０４】
クロック入力ボックス１３６には、駆動ユニット４４が顕微鏡４２をＺ軸方向に駆動するための駆動クロックパルスの周波数が入力される。オフセット入力ボックス１３７には、駆動ユニット４４のＺ軸原点に対するオフセット値が入力される。プレシジョン入力ボックス１３８には、駆動ユニット４４による顕微鏡４２の位置設定精度が入力される。ロースピードレンジ入力ボックス１３９には、駆動ユニット４４が顕微鏡４２を通常よりも低速に駆動する範囲が入力される。
【０１０５】
これらの値は、検査時に、後述する評価シーケンス実行手段が、Ｉ／Ｏポート６１から測定装置本体３のコントローラ５４へ出力する。コントローラ５４は、駆動ユニット４４による顕微鏡４２の初期設定位置（原点）をオフセット値だけずらす。コントローラ５４は、このパルス周波数でパルスを出力する。駆動ユニット４４は、このパルスに同期して顕微鏡４２をＺ軸方向に移動する。駆動ユニット４４は、顕微鏡４２の位置精度が設定値から位置設定精度の範囲となるように位置の微調整を行う。駆動ユニット４４は、原点からロースピードレンジ入力ボックス１３９に入力された範囲では、顕微鏡４２を通常よりも低速で移動する。
【０１０６】
コントロールタグボタン１１２が入力デバイスにて選択されると、評価シーケンス生成手段は、制御コマンド入力セル表示手段として機能して、図９に示すように、入力部に被検レンズ１の機種別設定画面１４１を表示する。
【０１０７】
機種別設定画面１４１内の左側には、モデルＩＤ表示ボックス１４２と、モデルネーム入力ボックス１４３と、コントローラ制御コマンドテーブル１４４と、が表示されている。機種別設定画面１４１内の右側には、駆動工具４のイニシャライズ欄と、駆動工具４のアフターポジション欄と、被検レンズ１のイメージフォーマット欄と、チャートウィザードボタン１５５と、が設けられている。
【０１０８】
モデルＩＤ表示ボックス１４２には、識別情報読込手段として機能する評価シーケンス生成手段がＩ／Ｏポート６１を介して駆動工具４から読み出した、駆動工具４の識別番号７０が表示される。また、この駆動工具４の識別番号７０を含むファィルが記憶部材に記憶されている場合には、記憶制御手段として機能する評価シーケンス生成手段は、自動的に、そのファイルの内容を読み込んで、後述する各入力ボックスなどに割り当てる。
【０１０９】
モデルネーム入力ボックス１４３には、駆動工具４の識別番号７０に対応する被検レンズ１の機種名が記憶部材６６に記憶されている場合には、被検レンズ１の機種名が表示される。なお、駆動工具４の識別番号７０に対応する被検レンズ１の機種名が予め入力されていない場合には、入力デバイスを用いて、モデルネーム入力ボックス１４３に被検レンズ１の機種名を入力する。
【０１１０】
コントローラ制御コマンドテーブル１４４は、コンピュータ５のＩ／Ｏポート６１から駆動工具４へ送信する各制御コマンド用の制御ビット列と、その制御ビット列に対応する文字列（以下、制御コマンドと記載する）とを対応付けるためのものである。このコントローラ制御コマンドテーブル１４４は、ズーム列、フォーカス列、アイリス列およびテスト列の４列を備え、各列には０〜７までの８個の制御コマンド入力セル１４４ａが割り当てられている。各制御コマンド入力セル１４４ａには、内部的に、制御コマンド用の制御ビット列が１対１に対応して割り当てられている。具体的には行番号を二進数化したものが、制御ビット列の上位３ビットとなる。また、ズーム列には制御ビット列の下位２ビットとして「００」が割り当てられ、フォーカス列には制御ビット列の下位２ビットとして「０１」が割り当てられ、アイリス列には制御ビット列の下位２ビットとして「１０」が割り当てられ、テスト列には制御ビット列の下位２ビットとして「１１」が割り当てられている。
【０１１１】
したがって、たとえば、制御コマンド用の制御ビット列として「００１００」が入力された場合に駆動工具４が被検レンズ１をワイドに設定する場合には、ズーム列の行番号１の制御コマンド入力セル１４４ａに、「Ｗｉｄｅ」との制御コマンドを書き込む。他にもたとえば、制御コマンド用の制御ビット列として「０１０１０」が入力された場合に駆動工具４が被検レンズ１のシャッタをオープンする場合には、アイリス列の行番号２の制御コマンド入力セル１４４ａに、「Ｓｈｕｔ．ｏｐｅｎ」との制御コマンドを書き込む。これにより、各制御ビット列に対応する制御コマンドが定義される。
【０１１２】
なお、各セルに書き込んだ制御コマンドは、各制御コマンド入力セル１４４ａに予め対応付けられているそれぞれの制御コマンドの制御ビット列と対応付けて、列毎に分類されて、記憶部材８４に記憶される。この制御コマンドは、その後のシーケンスの設定時などにおいて、選択ボックスに、選択項目の一つとして表示される。したがって、後からシーケンスを作成する人が駆動工具４による制御の内容が把握できるものであれば、上記例とは異なる他の文字列を制御コマンド入力セル１４４ａに書き込み、この他の文字列を制御コマンドとして利用しても良い。制御コマンドには、日本語の文字列を使用してもよい。
【０１１３】
駆動工具４のイニシャライズ欄には、リセットチェックボックス１４５と、アイリスシャッタチェックボックス１４６と、アイリスシャッタ選択ボックス１４７と、テストチェックボックス１４８と、テスト選択ボックス１４９と、が表示されている。
【０１１４】
リセットチェックボックス１４５がチェックされると、評価シーケンス実行手段は、初期設定時に、駆動工具４へリセット制御コマンドを出力する。
【０１１５】
アイリスシャッタチェックボックス１４６がチェックされると、評価シーケンス実行手段は、初期設定時に、駆動工具４へ、アイリスシャッタ選択ボックス１４７にて選択された制御コマンドを出力する。なお、アイリスシャッタ選択ボックス１４７には、その右側のリスト表示ボタンが操作されると、アイリス列の制御コマンド入力セル１４４ａに記述されている全ての制御コマンドが候補リストとして表示される。また、候補リストが表示されている状態でいずれか１つの制御コマンドを選択すると、候補リストが消えて、アイリスシャッタ選択ボックス１４７には選択された制御コマンドが表示される。
【０１１６】
テストチェックボックス１４８がチェックされると、評価シーケンス実行手段は、初期設定時に、駆動工具４へ、テスト選択ボックス１４９にて選択された制御コマンドを出力する。なお、テスト選択ボックス１４９には、その右側のリスト表示ボタンが操作されると、テスト列の制御コマンド入力セル１４４ａに記述されている全ての制御コマンドが候補リストとして表示される。また、候補リストが表示されている状態でいずれか１つの制御コマンドを選択すると、候補リストが消えて、テスト選択ボックス１４９には選択された制御コマンドが表示される。
【０１１７】
駆動工具４のアフターポジション欄には、ズームチェックボックス１５０と、インケースＯＫ選択ボックス１５１と、インケースＮＧ選択ボックス１５２と、が表示されている。
【０１１８】
ズームチェックボックス１５０がチェックされると、評価シーケンス実行手段は、検査終了時（検査中断時を含む）に、駆動工具４へ制御コマンドを出力する。検査が正常に終了した場合には、インケースＯＫ選択ボックス１５１で選択された制御コマンドを出力する。検査が中断した場合には、インケースＮＧ選択ボックス１５２で選択された制御コマンドを出力する。
【０１１９】
なお、インケースＯＫ選択ボックス１５１およびインケースＮＧ選択ボックス１５２には、それらの右側のリスト表示ボタンが操作されると、ズーム列の制御コマンド入力セル１４４ａに記述されている全ての制御コマンドが候補リストとして表示される。また、候補リストが表示されている状態でいずれか１つの制御コマンドを選択すると、候補リストが消えて、インケースＯＫ選択ボックス１５１およびインケースＮＧ選択ボックス１５２には選択された制御コマンドが表示される。
【０１２０】
被検レンズ１のイメージフォーマット欄には、ホリゾンタル入力ボックス１５３と、バーチカル入力ボックス１５４と、が表示されている。
【０１２１】
ホリゾンタル入力ボックス１５３には、被検レンズ１の水平画面サイズが入力される。バーチカル入力ボックス１５４には、被検レンズ１の垂直画面サイズが入力される。
【０１２２】
チャートウィザードボタン１５５が入力デバイスで操作されると、中央処理装置６４は、チャート装置設定演算プログラム９６を実行する。これにより、チャート装置設定演算手段が実現される。
【０１２３】
チャート装置設定演算手段は、図１０に示すように、チャートウィザード画面１６１をモニタ８６に表示する。チャートウィザード画面１６１内には、オブジェクトディスタンス入力ボックス１６２と、焦点入力ボックス１６３と、ハイト入力ボックス１６４と、ディストーション入力ボックス１６５と、オフセット入力ボックス１６６と、ホリゾンタル入力ボックス１６７と、バーチカル入力ボックス１６８と、が表示されている。
【０１２４】
チャートウィザード画面１６１内の右側には、アングル表示ボックス１６９と、半径表示ボックス１７０と、半径プラスオフセット表示ボックス１７１と、半径マイナスオフセット表示ボックス１７２と、が表示されている。
【０１２５】
オブジェクトディスタンス入力ボックス１６２には、測定装置本体３に取り付けられた被検レンズ１と、センターチャートユニット３０の前面との間の距離が入力される。焦点入力ボックス１６３には、被検レンズ１の焦点距離が入力される。ハイト入力ボックス１６４には、像高チャートユニット２９の被検レンズ１での像高が、パーセントで入力される。ディストーション入力ボックス１６５には、被検レンズ１の収差（ひずみ）がパーセントで入力される。オフセット入力ボックス１６６には、像高チャートユニット２９の固定位置のオフセット値が入力される。ホリゾンタル入力ボックス１６７には、被検レンズ１の水平画面サイズが入力される。バーチカル入力ボックス１６８には、被検レンズ１の垂直画面サイズが入力される。
【０１２６】
そして、これらの入力ボックスに値が入力されると、チャート装置設定演算手段は、その入力されている条件の下での、水平方向を基準としたアーム２３の固定角度を演算し、アングル表示ボックス１６９にその角度を表示する。また、チャート装置設定演算手段は、像高チャートユニット２９の固定位置と、それにオフセット値を加減算した値とを演算し、それぞれを半径表示ボックス１７０、半径プラスオフセット表示ボックス１７１および半径マイナスオフセット表示ボックス１７２に表示する。
【０１２７】
スペシフィケーションタグボタン１１３が入力デバイスにて選択されると、評価シーケンス生成手段は、評価規格入力セル表示手段として機能して、図１１に示すように、モニタ８６に表示されている入力部に規格設定画面１８１を表示する。
【０１２８】
規格設定画面１８１内には、スペシフィケーションテーブル１８２と、ロードテーブルボタン１８３と、セーブテーブルボタン１８４と、が表示されている。
【０１２９】
スペシフィケーションテーブル１８２は、一般的な表計算二次元テーブルと同様のセル構造を備える。各セルは、評価規格入力セル１８２ａである。そして、その第一行に、判定に使用する判定コマンドが記入される。第一列に、規格名が記入される。また、その他の各セルには、所定の行に記載された規格名が判定基準として選択されたときに、後述する判定手段が各列に記載された判定コマンドの判定に使用する判定基準値（評価項目）が入力される。
【０１３０】
判定コマンドとしては、たとえば、アベレージ（ＡＶＥ）判定コマンド、フォーカス（ＦＯＣＵＳ）判定コマンド、レゾリューション（ＲＥＳ：変調度）判定コマンド、二乗平均値（ＲＭＳ）判定コマンドなどがある。
【０１３１】
アベレージ判定コマンドが、スペシフィケーションテーブル１８２の第一行に記述されると、後述する判定手段は、０から、「ＡＶＥ」の後のセミコロン（：）に続けて入力される数値の周波数（ｃｙｃｌｅ／ｍｍ）までのＭＴＦ値の平均値を演算し、その平均値がセルに記述された値よりも大きい場合には、適合と判定する。小さい場合には、規格外と判定する。図１１の例では、「ＡＶＥ：１００」と記載されているので、０〜１００ｃｙｃｌｅ／ｍｍまでのＭＴＦ値の平均値を演算することとなる。そして、「Ｗｉｄｅ Ｃｅｎｔｅｒ」の規格の場合には「６０」と入力されているので、その平均値が６０よりも大きいときに「適合」と判断することとなる。
【０１３２】
フォーカス判定コマンドが、スペシフィケーションテーブル１８２の第一行に記述されると、後述する判定手段は、オートフォーカスによって設定された位置の設定値に対するずれ量が、セルに記述された上限値と下限値との間の範囲内である場合には、適合と判定する。上限値を超えるあるいは下限値未満である場合には、規格外と判定する。
【０１３３】
レゾリューション判定コマンドが、スペシフィケーションテーブル１８２の第一行に記述されると、後述する判定手段は、「ＲＥＳ」の後のセミコロン（：）に続けて入力されるＭＴＦ値以下となってしまう空間周波数が、セルに記述された値よりも大きい場合には、適合と判定する。小さい場合には、規格外と判定する。
【０１３４】
二乗平均値判定コマンドが、スペシフィケーションテーブル１８２の第一行に記述されると、後述する判定手段は、０から、「ＲＭＳ」の後のセミコロン（：）に続けて入力される数値の周波数（ｃｙｃｌｅ／ｍｍ）までのＭＴＦ値の二乗和平均値を演算し、その二乗和平均値がセルに記述された値よりも大きい場合には、適合と判定する。小さい場合には、規格外と判定する。
【０１３５】
なお、これらの規格コマンドがないまま、数値のみが第一行に入力された場合には、後述する判定手段は、記入された数値の周波数でのＭＴＦ値がセルに記述された値よりも大きい場合には、適合と判定する。小さい場合には、規格外と判定する。図１１の例では、第一行の第四列に「４０」が記載されているが、これは４０ｃｙｃｌｅ／ｍｍでのＭＴＦ値がその下に続く各セルに記載された値、たとえば「５０」の場合には５０以上であるときには適合と判断することとなる。
【０１３６】
そして、各行がそれぞれ、スペシフィケーションテーブル１８２の第一列に記載されている規格名の規格となる。評価シーケンス実行手段は、指定された規格名（行）の全ての項目を判定し、全ての項目が適合である場合に、その総合判定として「適合」と判定する。それ以外の場合は、「不適合」と判定する。なお、セルの中に何も記入されていない空欄セルとなっている規格コマンドは判定しない。
【０１３７】
たとえば、図１１に示すように、ワイドセンター（Ｗｉｄｅ ｃｅｎｔｅｒ）の規格を判定手段が実行した場合には、フォーカス位置のずれ量が−０．３ｍｍ〜＋０．１ｍｍの範囲内であって、ＭＴＦ値が２０％となってしまう空間周波数が１２０ｃｙｃｌｅ／ｍｍ以上であって、４０ｃｙｃｌｅ／ｍｍの空間周波数のＭＴＦ値（解像度）が５０％以上であって、さらに、０から１００ｃｙｃｌｅ／ｍｍまでの空間周波数でのＭＴＦ値の平均値が６０％以上である場合にのみ、「適合」と判定する。それ以外の場合には、「不適合」と判定する。
【０１３８】
セーブテーブルボタン１８４が入力デバイスにて選択されると、記憶制御手段として機能する評価シーケンス生成手段は、スペシフィケーションテーブル１８２に表示している全ての規格を、モデルＩＤ表示ボックス１４２の駆動工具４の識別番号７０とともに、１つの規格ファイルとして記憶部材６６に記憶させる。ロードテーブルボタン１８３が入力デバイスにて選択されると、記憶制御手段として機能する評価シーケンス生成手段は、記憶部材６６に記憶されている規格ファイルをスペシフィケーションテーブル１８２に表示する。なお、記憶部材６６には、複数の規格ファイルを記憶させてもよい。この場合には、たとえば被検レンズ１のグレード毎に、別々の規格の判定が可能となる。このように、規格については、他のデータとは別のファイルとして保存することで、規格の使いまわしをすることができる。
【０１３９】
テストシーケンスタグボタン１１４が入力デバイスにて選択されると、評価シーケンス生成手段は、シーケンスリスト表示手段として機能して、図１２に示すように、入力部に検査シーケンス設定画面１９１を表示する。
【０１４０】
検査シーケンス設定画面１９１には、シーケンスステップのリストとしてのシーケンスリスト１９２と、エディットボタン１９３と、アップボタン１９４と、ダウンボタン１９５と、コピーボタン１９６と、デリートボタン１９７と、ロードボタン１９８と、セーブボタン１９９と、が表示されている。
【０１４１】
シーケンスリスト１９２は、評価シーケンス実行手段が実行する評価シーケンスの全てのシーケンスステップを表示するためのものである。シーケンスリスト１９２は、その左端列にシーケンスナンバーが表示され、各行が１つのシーケンスステップに対応している。なお、シーケンスナンバーは、自動的に生成される。
【０１４２】
各シーケンスステップには、被検レンズ１のズームやアイリスの設定と、検査象限の設定、すなわち、どの方向のチャートユニット２９，３０を使用するかの設定と、像高の設定と、露光回数の設定と、発光させるチャートユニット２９，３０の番号と、オートフォーカスの有無と、プレスキャンの有無と、フォーカスの固定の有無と、使用する規格の規格名と、が表示される。
【０１４３】
そして、いずれかのシーケンスステップを入力デバイスで選択した状態で、アップボタン１９４が操作されると、そのシーケンスステップは、１つ上に移動する。同様の状態で、ダウンボタン１９５が操作されると、そのシーケンスステップは、１つ下に移動する。コピーボタン１９６が操作されると、そのシーケンスステップの次に、同一の設定の新たなシーケンスステップが追加される。デリートボタン１９７が操作されると、そのシーケンスステップが削除される。これにより、後からシーケンスステップを追加したり、一部を削除したりすることができ、過去に作成したシーケンスを用いて効率よく新たなシーケンスを作成することができる。
【０１４４】
また、セーブボタン１９９が入力デバイスで操作されると、記憶制御手段として機能する評価シーケンス生成手段は、シーケンスリスト１９２に表示されている全てのシーケンスステップを、モデルＩＤ表示ボックス１４２の駆動工具４の識別番号７０とともに、シーケンスファイルとして記憶部材６６に保存する。なお、このシーケンスファイルには、他の画面において設定される設定内容も一緒に保存される。ロードボタン１９８が入力デバイスで操作されると、記憶制御手段として機能する評価シーケンス生成手段は、記憶部材６６に記憶されているシーケンスステップをシーケンスファイルから読み込んで、シーケンスリスト１９２に表示する。
【０１４５】
いずれかのシーケンスステップを入力デバイスで選択した状態で、エディットボタン１９３が操作されると、評価シーケンス生成手段は、選択手段および選択ボックス表示手段として機能して、図１３に示すように、シーケンスエディット画面２０１をモニタ８６に表示する。
【０１４６】
シーケンスエディット画面２０１内の中央には、イネーブルチェックボックス２０２と、評価規格選択ボックス２０３と、露光回数入力ボックス２０４と、チャートコントロールバー２０５と、象限選択ボックス２０６と、像高選択ボックス２０７と、リセットチェックボックス２０８と、制御コマンド選択ボックスとしてのズームポジション選択ボックス２０９と、制御コマンド選択ボックスとしてのアイリス選択ボックス２１０と、が表示されている。
【０１４７】
イネーブルチェックボックス２０２は、デフォルトでチェックが入っている。このイネーブルチェックボックス２０２にチェックが入っていない場合、評価シーケンス実行手段は、このシーケンスステップを飛ばして評価シーケンスを実行する。
【０１４８】
評価規格選択ボックス２０３には、スペシフィケーションテーブル１８２に表示される全ての規格名の中から選択された規格名が表示される。後述する判定手段は、選択された規格名の規格に基づいて、このシーケンスステップの判定をする。なお、評価規格選択ボックス２０３には、その右側のリスト表示ボタンが操作されると、規格選択手段として機能する評価シーケンス生成手段によって、スペシフィケーションテーブル１８２に表示される全ての規格名が候補リストとして表示される。また、候補リストが表示されている状態でいずれか１つの規格名を選択すると、候補リストが消えて、評価規格選択ボックス２０３には選択された規格名が表示される。
【０１４９】
露光回数入力ボックス２０４には、露光回数が入力される。後述する測定手段は、指定された回数だけＣＣＤカメラ４３の撮像画像を取得し、この露光回数分の撮像画像に基づいて測定結果を出力する。
【０１５０】
チャートコントロールバー２０５には、０から１２までの１３個の数値がある。したがって、１３個のチャートユニット２９，３０を点灯制御することができる。評価シーケンス実行手段は、スライダが合わされた数値に対応するチャートユニットへ点灯信号を出力する。これにより、設定されたチャートユニットが点灯する。なお、この実施の形態では、図２において、センターチャートユニット３０が０番、右上の内側の像高チャートユニット２９が１番、左上の内側の像高チャートユニット２９が２番、左下の内側の像高チャートユニット２９が３番、右下の内側の像高チャートユニット２９が４番、右上の外側の像高チャートユニット２９が５番、左上の外側の像高チャートユニット２９が６番、左下の外側の像高チャートユニット２９が７番、右下の外側の像高チャートユニット２９が８番に割り当てられている。
【０１５１】
象限選択ボックス２０６は、このシーケンスステップで測定する象限を選択する。センターは、中心である原点を意味し、１番が右上の第一象限を意味し、２番が左上の第二象限を意味し、３番が左下の第三象限を意味し、４番が右下の第四象限を意味する。像高選択ボックス２０７は、このシーケンスステップで発光させるチャートユニット２９，３０の像高が、被検レンズ１のイメージフォーマットでのパーセンテージとして入力される。これらの入力に基づいて、評価シーケンス実行手段は、駆動ユニット４４へ制御信号を出力する。これにより、顕微鏡４２およびＣＣＤカメラ４３は、ＣＣＤカメラ４３の受光面に、点灯したチャートユニットの像が形成される。
【０１５２】
リセットチェックボックス２０８にチェックが入ると、評価シーケンス実行手段は、駆動工具４へリセット制御コマンド用の制御ビット列を出力する。
【０１５３】
ズームポジション選択ボックス２０９にて、ズーム系の制御コマンドが選択されると、評価シーケンス実行手段は、駆動工具４へズームを制御する制御コマンド用の制御ビット列を出力する。なお、ズームポジション選択ボックス２０９には、その右側のリスト表示ボタンが操作されると、制御コマンド選択手段として機能する評価シーケンス生成手段によって、ズーム列の制御コマンド入力セル１４４ａに記述されている全ての制御コマンドが候補リストとして表示される。また、候補リストが表示されている状態でいずれか１つの制御コマンドを選択すると、候補リストが消えて、ズームポジション選択ボックス２０９には選択された制御コマンドが表示される。
【０１５４】
アイリス選択ボックス２１０にて、アイリス系の制御コマンドが選択されると、評価シーケンス実行手段は、駆動工具４へアイリスを制御する制御コマンド用の制御ビット列を出力する。なお、アイリス選択ボックス２１０には、その右側のリスト表示ボタンが操作されると、制御コマンド選択手段として機能する評価シーケンス生成手段によって、アイリス列の制御コマンド入力セル１４４ａに記述されている全ての制御コマンドが候補リストとして表示される。また、候補リストが表示されている状態でいずれか１つの制御コマンドを選択すると、候補リストが消えて、アイリス選択ボックス２１０には選択された制御コマンドが表示される。
【０１５５】
シーケンスエディット画面２０１内の右側には、オートフォーカスチェックボックス２１１と、プレスキャンチェックボックス２１２と、プレスキャンスピード入力ボックス２１３と、フォーカスポジション選択ボックス２１４と、レンズ／ＣＣＤ切替スイッチ２１５と、レンズスタート入力ボックス２１６と、レンズレンジ入力ボックス２１７と、レンズステップ入力ボックス２１８と、が表示されている。
【０１５６】
オートフォーカスチェックボックス２１１にチェックが入っていると、評価シーケンス実行手段は、オートフォーカス処理を行う。プレスキャンチェックボックス２１２にチェックが入っている場合には、プレスキャンスピード入力ボックス２１３に入力されているスピードで、オートフォーカス処理のプレスキャンを行う。これにより、オートフォーカスのレンジが大きい場合であっても、高速にオートフォーカス処理を行うことができる。
【０１５７】
フォーカスポジション選択ボックス２１４には、オートフォーカス処理の開始位置が入力される。評価シーケンス実行手段は、オートフォーカス処理開始時に、この指定された位置へ顕微鏡４２を移動させる。レンズ／ＣＣＤ切替スイッチ２１５においてレンズが選択されると、評価シーケンス実行手段は、駆動工具４へオートフォーカスのための制御コマンドを出力する。レンズ／ＣＣＤ切替スイッチ２１５においてＣＣＤが選択されると、評価シーケンス実行手段は、測定装置本体３へオートフォーカスのための制御コマンドを出力する。なお、レンズスタート入力ボックス２１６には、被検レンズ１でオートフォーカス処理を行う場合のスタート位置が入力され、レンズレンジ入力ボックス２１７には、被検レンズ１でオートフォーカス処理を行う場合の移動幅が入力され、レンズステップ入力ボックス２１８には、被検レンズ１でオートフォーカス処理を行う場合のスキャン間隔が入力される。
【０１５８】
シーケンスエディット画面２０１内の左側には、シーケンスナンバー表示ボックス２１９と、アップボタン２２０と、ダウンボタン２２１と、コピーボタン２２２と、デリートボタン２２３と、ＯＫボタン２２４と、キャンセルボタン２２５と、が表示されている。アップボタン２２０、ダウンボタン２２１、コピーボタン２２２、デリートボタン２２３は、シーケンスエディット画面２０１に表示するシーケンスステップを切り替えるためのボタンである。
【０１５９】
ＯＫボタン２２４が操作されると、評価シーケンス生成手段は、シーケンスエディット画面２０１を閉じるとともに、そのときにシーケンスエディット画面２０１に入力されている設定情報に基づいて、そのシーケンスステップの情報を更新する。キャンセルボタン２２５が操作されると、評価シーケンス生成手段は、シーケンスエディット画面２０１を閉じる。
【０１６０】
リザルトタグボタン１１５が入力デバイスにて選択されると、評価シーケンス生成手段は、図１４に示すように、入力部にリザルト画面２３１を表示する。
【０１６１】
リザルト画面２３１には、ヒストリテーブル２３２と、テストリザルトテーブル２３３と、セーブデータボタン２３４と、が表示されている。
【０１６２】
ヒストリテーブル２３２には、これまでに測定した複数の被検レンズ１のシリアルナンバー（シリアルナンバー入力ボックス１０６に入力された番号）と、判定結果とが表示される。
【０１６３】
テストリザルトテーブル２３３には、ヒストリテーブル２３２にて選択された被検レンズ１のシーケンスステップ毎の詳しい判定結果が表示される。具体的には、シーケンス番号と、ズームなどの被検レンズ１の設定、判定結果、などが、シーケンスステップ毎に表示される。
【０１６４】
セーブデータボタン２３４が入力デバイスで操作されると、記憶制御手段として機能する評価シーケンス生成手段は、ヒストリテーブル２３２に表示されている全ての被検レンズ１の判定結果を、判定結果ファイルとして記憶部材６６に記憶させる。
【０１６５】
このように、評価シーケンス生成手段は、初期表示手段がモニタ８６に表示させたメインウィンドウ画面１０１に対する操作に基づいて、評価シーケンスの各種設定を行う。そして、評価シーケンス生成手段は、記憶部材６６に、シーケンスファイルと、規格ファイルと、を記憶させる。このようにシーケンスファイルと、規格ファイルとを別々に記憶することで、過去に作成した規格やシーケンスを組み合わせて再利用することができるので、新たな被検レンズ１のシーケンスや規格を簡単に設定することができる。つまり、この実施の形態に係るレンズ評価システムは、拡張性や汎用性に優れている。
【０１６６】
次に、評価シーケンス実行手段について説明する。
【０１６７】
評価シーケンス実行手段は、シーケンスリスト１９２に表示される各シーケンスステップを、そのシーケンスナンバーの小さい順に順番に実行する。
【０１６８】
各シーケンスステップでは、評価シーケンス実行手段は、まず、初期設定処理を行う。初期設定処理では、コントローラ５４や駆動工具４に対して、選択された制御コマンドに対応する制御ビット列を出力する。これにより、被検レンズ１や顕微鏡４２が所望の位置に制御される。また、初期設定処理では、設定に応じて、オートフォーカス処理などを行う。たとえば、センターチャートユニット３０を用いて評価をするシーケンスステップにおいて、オートフォーカス処理を行う場合には、センターチャートユニット３０を点灯させた状態で駆動ユニット４４を所定の範囲で駆動し、その中で最適な画像が得られた位置に顕微鏡４２およびＣＣＤカメラ４３を設定する。これにより、被検レンズ１と、顕微鏡４２との相対位置が制御される。
【０１６９】
初期設定処理が終了すると、評価シーケンス実行手段は、中央処理装置８２に、測定プログラム９２を実行させる。これにより、測定手段が実現される。測定手段は、チャートコントロールバー２０５で選択されたチャートユニットを点灯させ、その点灯しているときのＣＣＤカメラ４３の撮像画像を取得する。そして、その撮像画像に基づいて、チャートの白黒のエッジを含む一次元の輝度分布データを生成する。
【０１７０】
一次元の輝度分布データが生成されると、評価シーケンス実行手段は、中央処理装置８２に、ＭＴＦ演算プログラム９３およびＰＴＦ演算プログラム９４を実行させる。これにより、ＭＴＦ演算手段と、ＰＴＦ演算手段とが実現される。
【０１７１】
ＭＴＦ演算手段は、一次元の輝度分布データを微分する。チャートの白黒のエッジはステップ関数とみなすことができる。したがって、チャートの白黒のエッジを含む一次元の輝度分布データを微分することで、インパルス応答データを得ることができる。ステップ関数と、インパルス関数とは、図１５に示すように、互いに微分積分の関係にある。また、ステップ関数に基づくステップ応答を微分すると、インパルス関数に基づくインパルス応答を得ることができる。
【０１７２】
続けて、ＭＴＦ演算手段は、インパルス応答データをフーリエ変化して、このインパルス応答に含まれる各空間周波数の波形成分の振幅を演算する。ＭＴＦ演算手段は、各波形成分の振幅を、周波数０の波形成分の振幅で正規化し、それぞれの空間周波数でのＭＴＦ値を演算する。
【０１７３】
ＰＴＦ演算手段は、同様に一次元の輝度分布データからインパルス応答データを生成し、そのインパルス応答データに基づいて、各空間周波数の波形成分のピーク位置を特定する。そして、その各空間周波数の波形成分のピーク位置が、周波数０の波形成分のピーク位置から、どの程度離れているかに基づいて、ピーク間距離を演算する。さらに、そのピーク間距離が、その空間周波数においてどの程度の位相差となるのかを演算する。なお、ピーク間距離ではなく、ゼロクロス間距離であってもよい。
【０１７４】
なお、これらＭＴＦ演算手段およびＰＴＦ演算手段は、少なくともグラフ表示部１０５に表示される、最大の空間周波数まで演算すればよい。ただし、この実施の形態では、システムにおいて予め定められた空間周波数まで一律に演算する。他にもたとえば、ＭＴＦ値が、予め定めたパーセント値以下になったら演算を終了するようにしてもよい。
【０１７５】
ＭＴＦ値およびＰＴＦ値が生成されると、評価シーケンス実行手段は、これらをグラフ表示部１０５に表示する。また、評価シーケンス実行手段は、中央処理装置８２に、判定プログラム９５を実行させる。これにより、判定手段が実現される。
【０１７６】
判定手段は、測定されたＭＴＦ値やＰＴＦ値を、評価規格選択ボックス２０３で選択されている規格名に基づいて、判定する。判定結果は、判定結果表示部１０７に表示される。
【０１７７】
評価シーケンス実行手段は、以上の処理を各シーケンスステップ毎に実行し、全てのシーケンスステップが終了した場合には、終了処理を実行する。そして、指定された規格の全ての項目をクリアしている場合には、評価シーケンス実行手段は、適合と判定して判定結果表示部１０７に「適合」と表示するとともに、この判定結果をヒストリテーブル２３２およびテストリザルトテーブル２３３へ追加する。逆に、１つでもクリアしていない項目がある場合には、評価シーケンス実行手段は、不適合と判定して判定結果表示部１０７に「不適合」と表示するとともに、この判定結果をヒストリテーブル２３２およびテストリザルトテーブル２３３へ追加する。
【０１７８】
ここで、測定手段が、ＣＣＤカメラ４３の撮像画像に基づいて、一次元の輝度分布データを生成するまでの処理について詳しく説明する。
【０１７９】
図１６（Ａ）は、ＣＣＤカメラ４３の撮像画像２４１の一例を示す図である。このＣＣＤカメラ４３の撮像画像２４１では、チャートの正方形の白色部分２４２は、撮像画像２４１の水平方向と垂直方向とに対して斜めに傾いている。
【０１８０】
測定手段は、まず、このカメラの撮像画像２４１に撮像されている正方形の白色部分２４２の一辺の長さを演算する。この長さに含まれる受光素子の個数をａとする。そして、測定手段は、図１６（Ｂ）に示すように、白色部分２４２の中心２４３から長辺ａ、短辺ａ／３の長方形の切出領域２４４を特定し、その切出領域２４４に含まれる全ての受光素子の輝度データを抽出する。以下、この受光素子の個数は、便宜上ａ×ａ／３個とする。なお、実際には、一定の面積の長方形の切出領域２４４に含まれる受光素子の個数は、その切り出しアルゴリズムにもよるが、受光素子の配列方向に対する切出領域２４４の角度が変わると、少しだけ増減する。また、この長方形の切出領域２４４は、白色部分２４２と同じ傾きとする。これにより、抽出する長方形の切出領域２４４には、必ず白色部２４２分と黒色部分２４５との境であるエッジ２４６が含まれ、且つ、このエッジ２４６は、長方形の切出領域２４４の長辺と垂直な関係となる。
【０１８１】
なお、チャートの白色部分は、ＣＣＤカメラ４３の撮像画像において、切出領域２４４が長方形に確保できる小ささに形成するとよい。
【０１８２】
次に、測定手段は、図１６（Ｃ）に示すように、抽出した全ての輝度データを一次元に配列し、その輝度値の大きさ順に降順あるいは昇順に並べ替える。
【０１８３】
最後に、測定手段は、並べ替えられた「ａ×ａ／３」個の輝度データを、ａ／３個毎に１つ抽出し、図１６（Ｄ）に示すように、ａ個の輝度データからなる一次元の輝度分布データを生成する。なお、ａ／３個の輝度データから１つの輝度データを生成する間引き処理は、ａ／３個毎に１つ抽出する方法以外に、ａ／３個の輝度データの平均値を求めても、中間値を選択してもよい。
【０１８４】
このように、ＣＣＤカメラ４３の撮像画像２４１から、正方形の白色部分２４２と同様の傾きで長方形の切出領域２４４の輝度データを抽出し、それをａ／３個に１つ抽出することで間引いているので、一次元の輝度分布データの各輝度データはそれぞれ、基本的に、撮像画像２４１においてエッジ２４６の方向に沿って並んでいる複数の受光素子、上述した例ではａ／３個の受光素子の輝度データの平均値（中間値）となる。したがって、受光素子に若干の特性ばらつきがあったとしても、あるいは、いずれかの受光素子の輝度データにノイズ成分が含まれていたとしても、その影響を効果的に抑制して、正確な一次元の輝度分布データを得ることができる。この一次元の輝度分布データが先に示したステップ応答の出力に相当するものである。
【０１８５】
以上のように、この実施の形態に係るレンズ評価システムを使用することで、ＣＣＤカメラ４３で、被検レンズ１によるチャートの像を撮像し、その撮像画像に基づいてＭＴＦ値あるいはＰＴＦ値を演算することができる。これにより、評価対象物を制御しながら各種の測定と評価とを短時間で実施することができる評価シーケンスを生成することができる。
【０１８６】
しかも、この構成では、チャートのエッジに基づいてＭＴＦ値あるいはＰＴＦ値を演算しているので、スリットを用いた場合に比べて、チャートの明るい部分と暗い部分との輝度差を確保することができる。その結果、周囲が明るくとも、チャートを撮像し、ＭＴＦ値あるいはＰＴＦ値を演算することができる。加えて、光源３２を用いてチャートの白い部分を明るくしているため、チャートの明暗の輝度差をさらに向上させることができ、周囲が通常の室内のように明るい場合であっても、暗い場合と同等のＭＴＦ値やＰＴＦ値を確実に演算することができる。
【０１８７】
それゆえ、被検レンズ１を評価する作業者は、この実施の形態に係るレンズ評価システムを使用することで、被検レンズ１を制御しながら測定し、評価する評価シーケンスを効率よく正確に生成することができる。
【０１８８】
この実施の形態では、制御コマンド入力セル１４４ａにおいて、制御ビット列に対応する各制御コマンドを定義し、且つ、評価規格入力セル１８２ａにおいて、評価項目とともに規格名を入力した後に、評価シーケンスを作成することになる。
【０１８９】
したがって、評価シーケンスのシーケンスステップ毎に、制御コマンドや評価項目を、１から記述する必要がなくなる。また、制御コマンドや規格名を予め定義させ、各シーケンスステップでは、その定義された制御コマンドや規格名の中から選択するだけである。さらに、各シーケンスステップでは、制御コマンドや規格名を１つずつしか選択できないので、シーケンスステップのリストには、評価対象物の制御の流れと、評価のタイミングや順番が確実に表現されることになる。その結果、制御コマンドや規格名を各シーケンスステップ毎に繰り返して記述する場合に起こりやすい入力ミスなどを抑制して、効率よく正確な評価シーケンスを生成することができる。
【０１９０】
この実施の形態では、評価規格入力セル１８２ａおよびシーケンスリスト１９２の入力情報と、シーケンスステップ毎にズームポジション選択ボックス２０９、アイリス選択ボックス２１０および評価規格選択ボックス２０３において選択された制御コマンドおよび規格名とを、コンピュータ５の記憶部材８４に記憶させ、その後にこれを読み込んで再利用することができる。
【０１９１】
また、評価シーケンス実行手段などは、制御コマンド入力セル１４４ａ、評価規格入力セル１８２ａ、シーケンスリスト１９２、ズームポジション選択ボックス２０９、アイリス選択ボックス２１０および評価規格選択ボックス２０３の情報に基づいて、評価シーケンスを実行するので、これらに記憶部材８４に記憶されている情報を読み込むだけで、評価シーケンスを生成して実行することができる。
【０１９２】
しかも、評価シーケンス生成手段は、評価規格入力セル２０３の入力情報と、その他の情報とを規格ファイルとシーケンスファイルとに分けて記憶させるので、評価規格入力セル２０３の入力情報は、他の被検レンズ１においても汎用的に利用することができる。その結果、入力ミスを抑制して、効率よく正確な評価シーケンスを生成することができる。
【０１９３】
この実施の形態では、評価シーケンス生成手段が駆動工具４から識別番号７０を読み込んで、自動的に、記憶部材８４に記憶されている適切な情報を、制御コマンド入力セル１４４ａ、評価規格入力セル１８２ａ、シーケンスリスト１９２、ズームポジション選択ボックス２０９、アイリス選択ボックス２１０および評価規格選択ボックス２０３に読み込む。したがって、記憶部材８４に複数のシーケンスファイルが記憶されている場合であっても、駆動工具４を接続するだけで、適切なシーケンスファイルを読み込んで効率よく被検レンズ１を評価することができる。
【０１９４】
この実施の形態では、被検レンズ１毎に、判定結果を保存することができる。したがって、後から、シリアルナンバーに基づいて１つ１つの被検レンズ１の評価内容を確認することができる。
【０１９５】
なお、上述の実施の形態は、本発明の好適な実施の形態の例であるが、本発明は、これに限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、種々の変形、変更が可能である。
【０１９６】
上記実施の形態では、評価シーケンス実行手段、測定手段、ＭＴＦ演算手段、ＰＴＦ演算手段および判定手段で構成される生成手段は、テストモードボタン１０２が操作されたときに、評価シーケンスを逐次実行している。この他にもたとえば、生成手段は、評価シーケンスを生成し、他の実行手段においてこの評価シーケンスを実行させるようにしてもよい。
【０１９７】
また、上述の実施の形態では、評価対象物をデジタルカメラ、ビデオカメラ等の各種カメラに組み込まれるレンズとしたが、双眼鏡、顕微鏡、その他の光学機器に用いられるレンズとしたり、プリズムとしたり、反射鏡などとしてもよい。さらには、光学製品以外の製品、たとえば、樹脂成形品を評価対象物としてよい。
【０１９８】
評価対象物をレンズ以外とする場合は、測定対象としては、ＭＴＦ値やＰＴＦ値ではなく、透過率、反射率、屈折率、さらには重量、形状歪などの測定値であってもよい。
【０１９９】
【発明の効果】
本発明では、評価対象物を制御しながら各種の測定と評価とを短時間で実施することができる。しかも、評価対象物を制御しながら測定し、評価する評価シーケンスを効率よく正確に生成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は、本発明の実施の形態に係るレンズ評価システムを示すシステム構成図である。
【図２】図１のレンズ評価システム中のチャート装置を示す図で、（Ａ）は、チャート装置の正面図で、（Ｂ）は、チャート装置の背面図である。
【図３】図２のチャート装置に組み込まれているチャートユニットを示す図で、（Ａ）は、チャートユニットの斜視図で、（Ｂ）は、チャートユニットの断面図である。
【図４】図１中の測定装置本体の分解図である。
【図５】図１中の駆動工具の内部構成を示すブロック図である。
【図６】図１中の駆動工具とコンピュータとの間で送受信される制御信号の信号フォーマットである。
【図７】図１中のコンピュータの内部構造を示すブロック図である。
【図８】図７に示すコンピュータのモニタに表示されるメインウィンドウ画面の一例を示す図である。
【図９】図７に示すコンピュータのメインウィンドウ画面内に表示される被検レンズの機種別設定画面の一例を示す図である。
【図１０】図７に示すコンピュータのモニタに表示されるチャートウィザード画面の一例を示す図である。
【図１１】図７に示すコンピュータのメインウィンドウ画面内に表示される規格設定画面の一例を示す図である。
【図１２】図７に示すコンピュータのメインウィンドウ画面内に表示される検査シーケンス設定画面の一例を示す図である。
【図１３】図７に示すコンピュータのメインウィンドウ画面内に表示されるシーケンスエディット画面の一例を示す図である。
【図１４】図７に示すコンピュータのメインウィンドウ画面内に表示されるリザルト画面の一例を示す図である。
【図１５】ステップ関数と、インパルス関数との関係を説明するための説明図である。
【図１６】図１のレンズ評価システムにおいて輝度分布データ（ステップ応答）を得るための処理方法を説明するための図で、（Ａ）は、ＣＣＤカメラの撮像画像（チャート）と切出領域との関係を示す説明図で、（Ｂ）は、切出領域の一例を示す説明図で、（Ｃ）は、輝度値の大きさ順に並べ替え処理がされたデータで、（Ｄ）は、間引きされた後の一次元の輝度分布データを示す説明図である。
【符号の説明】
１ 被検レンズ（評価対象物）
４ 駆動工具
５ コンピュータ
８１ Ｉ／Ｏポート
８２ 中央処理装置（制御コマンド入力セル表示手段の一部、評価規格入力セル表示手段の一部、選択手段の一部、生成手段の一部、シーケンスリスト表示手段の一部、選択ボックス表示手段の一部、制御コマンド選択手段の一部、規格選択手段の一部、記憶制御手段の一部、識別情報読込手段の一部、シリアルナンバー入力ボックス表示手段の一部）
８４ 記憶部材
８６ モニタ（表示デバイス）
８７ キーボード（入力デバイス）
８８ ポインティングデバイス（入力デバイス）
８９ 初期表示プログラム（シリアルナンバー入力ボックス表示手段の一部）
９０ 評価シーケンス生成プログラム（制御コマンド入力セル表示手段の一部、評価規格入力セル表示手段の一部、選択手段の一部、シーケンスリスト表示手段の一部、選択ボックス表示手段の一部、制御コマンド選択手段の一部、規格選択手段の一部、記憶制御手段の一部、識別情報読込手段の一部）
９１ 評価シーケンス実行プログラム（生成手段の一部）
９２ 測定プログラム（生成手段の一部）
９３ ＭＴＦ測定プログラム（生成手段の一部）
９４ ＰＴＦ測定プログラム（生成手段の一部）
９５ 判定プログラム（生成手段の一部）
１０６ シリアルナンバー入力ボックス
１４４ａ 制御コマンド入力セル
１８２ａ 評価規格入力セル
１９２ シーケンスリスト（シーケンスステップのリスト）
１９３ エディットボタン
２０３ 評価規格選択ボックス
２０９ ズームポジション選択ボックス（制御コマンド選択ボックス）
２１０ アイリス選択ボックス（制御コマンド選択ボックス）
【発明の属する技術分野】
本発明は、レンズなどの評価対象物を評価する評価シーケンスの生成方法および生成プログラム並びに評価システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来から、たとえば、ビデオカメラ、デジタルカメラ、一眼レフカメラなどの民生品で使用されるレンズは、カメラなどに組み込まれる前に、レンズ単体としてその性能が評価される。ビデオカメラなどに使用されるために量産されるこれらのレンズは、近年、より一層の高分解能が要求されている。レンズの分解能を示す指標としては、たとえば変調伝達関数（ＭＴＦ：Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ Ｔｒａｎｓｆｅｒ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ）や、位相伝達関数（ＰＴＦ：Ｐｈａｓｅ Ｔｒａｎｓｆｅｒ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ）がある。
【０００３】
レンズのＭＴＦを測定する装置としては、たとえば特許文献１や特許文献２に開示されるように、スリット光あるいはスポット光を、評価対象物であるレンズ（以下、被検レンズと記載する。）に入射し、この被検レンズによるスリット光あるいはスポット光の像の光強度分布をラインセンサやＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）カメラで受光する装置が知られている。この種のＭＴＦ測定装置では、そのラインセンサやＣＣＤカメラの測定結果に基づいて、被検レンズを評価することになる。
【０００４】
また、特許文献３では、縞チャートを被検レンズを介して撮像素子で撮像し、そのＭＴＦ値を演算している。
【０００５】
【特許文献１】
特開平１０−６８６７４号公報（図１）
【特許文献２】
特開平１１−９４７００号公報（図１）
【特許文献３】
特開平１１−１４２２９２号公報（図４，９）
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような特許文献１および２に示される従来のＭＴＦ測定装置では、被検レンズに対する光源やＣＣＤカメラの位置を手動にて調整して、光強度分布を測定する必要がある。また、測定した光強度分布に基づいて評価をする場合、その測定した光強度分布をデータ化して、ＭＴＦを演算しているため、ＭＴＦ値を１つ求めるだけでも、非常に多くの時間がかかってしまう。
【０００７】
一方、特許文献３に示される従来のＭＴＦ測定装置では、光強度分布の測定からＭＴＦ値の演算までの処理が連続的に実行できるので、１回の測定であれば、特許文献１および２に示される従来のＭＴＦ測定装置に比べて短い時間で、ＭＴＦ値を求めることができる。
【０００８】
しかしながら、特許文献３に示される従来のＭＴＦ測定装置であったとしても、被検レンズに対して、たとえば広角と望遠とに切り替える制御をしながら、各種のＭＴＦ値を連続的に測定することができない。
【０００９】
その結果、従来のＭＴＦ測定装置を用いていたのでは、レンズの状態を制御しながら、各種のＭＴＦ値の測定と評価とを連続的に実施することができない。
【００１０】
なお、レンズ以外の光透過製品や樹脂成形品などであっても、その評価対象物（光透過製品など）を制御をしながら各種の測定と評価とを短時間で実施したい場合がある。
【００１１】
そこで、本発明は、以上のような課題を解決するためになされたものであり、評価対象物を制御しながら各種の測定と評価とを短時間で実施することができる評価シーケンスの生成方法および生成プログラム並びに評価システムを提供することを目的とする。
【００１２】
また、本発明は、評価対象物を評価する評価シーケンスを効率よく正確に生成することができる評価シーケンスの生成方法および生成プログラム並びに評価システムを提供することを目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る評価シーケンスの生成方法は、評価対象物を制御して測定を行って、その測定結果に基づいて評価対象物を評価するための評価シーケンスを生成する方法であって、評価対象物を制御する制御ビット列が予め対応付けられ且つ制御コマンドとしての文字列が入力される制御コマンド入力セルを表示するステップと、測定結果を評価する評価項目と規格名とが入力される評価規格入力セルを表示するステップと、評価シーケンスのシーケンスステップ毎に、制御コマンド入力セルに入力されている制御コマンドおよび評価規格入力セルに入力されている規格名を選択させるステップと、各シーケンスステップにおいて、選択された制御コマンドに対応する制御ビット列で評価対象物を制御して測定を行うとともに、その測定結果を選択された規格名に対応する評価項目で評価する評価シーケンスを実行あるいは生成するステップと、を有するものである。
【００１４】
この方法を採用すれば、制御コマンド入力セルにおいて、制御ビット列に対応する各制御コマンドを定義し、且つ、評価規格入力セルにおいて、評価項目とともに規格名を入力した後に、評価シーケンスを作成することになる。これにより、評価対象物を制御しながら各種の測定と評価とを短時間で実施することができる評価シーケンスを生成することができる。
【００１５】
しかも、評価シーケンスのシーケンスステップ毎に、制御コマンドや評価項目を、１から記述する必要がなくなる。また、制御コマンドや規格名を予め定義させ、各シーケンスステップでは、その定義された制御コマンドや規格名の中から選択するだけである。その結果、制御コマンドや規格名を各シーケンスステップ毎に繰り返して記述する場合に起こりやすい入力ミスなどを抑制し、評価対象物を制御しながら測定し、評価する評価シーケンスを効率よく正確に生成することができる。
【００１６】
本発明に係る評価シーケンスの生成プログラムは、入力デバイスおよび表示デバイスを備えるコンピュータに、評価対象物を制御して測定を行って、その測定結果に基づいて評価対象物を評価するための評価シーケンスを生成する手段を実現するプログラムであって、評価対象物を制御する制御ビット列が予め対応付けられ且つ入力デバイスによって制御コマンドとしての文字列が入力される制御コマンド入力セルを表示デバイスに表示する制御コマンド入力セル表示手段と、入力デバイスによって測定結果を評価する評価項目と規格名とが入力される評価規格入力セルを表示デバイスに表示する評価規格入力セル表示手段と、入力デバイスによって、評価シーケンスのシーケンスステップ毎に、制御コマンド入力セルに入力されている制御コマンドおよび評価規格入力セルに入力されている規格名を選択させる選択手段と、各シーケンスステップにおいて、選択された制御コマンドに対応する制御ビット列で評価対象物を制御して測定を行うとともに、その測定結果を選択された規格名に対応する評価項目で評価する評価シーケンスを実行あるいは生成する生成手段と、をコンピュータに実現させるものである。
【００１７】
このプログラムを実行するコンピュータでは、制御コマンド入力セルにおいて、制御ビット列に対応する各制御コマンドを定義し、且つ、評価規格入力セルにおいて、評価項目とともに規格名を入力した後に、評価シーケンスを作成することになる。これにより、評価対象物を制御しながら各種の測定と評価とを短時間で実施することができる評価シーケンスを生成することができる。
【００１８】
しかも、評価シーケンスのシーケンスステップ毎に、制御コマンドや評価項目を、１から記述する必要がなくなる。また、制御コマンドや規格名を予め定義させ、各シーケンスステップでは、その定義された制御コマンドや規格名の中から選択するだけである。その結果、制御コマンドや規格名をシーケンスステップ毎に繰り返して記述する場合に起こりやすい入力ミスなどを抑制し、評価対象物を制御しながら測定し、評価する評価シーケンスを効率よく正確に生成することができる。
【００１９】
本発明に係る他の評価シーケンスの生成プログラムは、入力デバイスおよび表示デバイスを備えるコンピュータに、評価対象物を制御して測定を行って、その測定結果に基づいて評価対象物を評価するための評価シーケンスを生成する手段を実現するプログラムであって、評価対象物を制御する制御ビット列が予め対応付けられ且つ入力デバイスによって制御コマンドとしての文字列が入力される制御コマンド入力セルを表示デバイスに表示する制御コマンド入力セル表示手段と、入力デバイスによって測定結果を評価する評価項目と規格名とが入力される評価規格入力セルを表示デバイスに表示する評価規格入力セル表示手段と、表示デバイスに、評価シーケンスを構成するシーケンスステップのリストおよびエディットボタンを表示するシーケンスリスト表示手段と、シーケンスステップのリストにおいていずれかのシーケンスステップが選択された状態で入力デバイスによってエディットボタンが操作された場合に、制御コマンド選択ボックスおよび評価規格選択ボックスを、表示デバイスに表示する選択ボックス表示手段と、入力デバイスによって制御コマンド選択ボックスが操作された場合に、制御コマンド入力セルに入力されている制御コマンドを表示し、１つの制御コマンドを選択させる制御コマンド選択手段と、規格選択ボックスが操作された場合に、評価規格入力セルに入力されている規格名を表示し、１つの規格名を選択させる規格選択手段と、各シーケンスステップにおいて、選択された制御コマンドに対応する制御ビット列で評価対象物を制御して測定を行うとともに、その測定結果を選択された規格名に対応する評価項目で評価する評価シーケンスを実行あるいは生成する生成手段と、をコンピュータに実現させるものである。
【００２０】
このプログラムを実行するコンピュータでは、制御コマンド入力セルにおいて、制御ビット列に対応する各制御コマンドを定義し、且つ、評価規格入力セルにおいて、評価項目とともに規格名を入力した後に、評価シーケンスを作成することになる。これにより、評価対象物を制御しながら各種の測定と評価とを短時間で実施することができる評価シーケンスを生成することができる。
【００２１】
しかも、評価シーケンスのシーケンスステップ毎に、制御コマンドや評価項目を、１から記述する必要がなくなる。また、制御コマンドや規格名を予め定義させ、各シーケンスステップでは、その定義された制御コマンドや規格名の中から選択するだけである。さらに、各シーケンスステップでは、制御コマンドや規格名を１つずつしか選択できないので、シーケンスステップのリストには、評価対象物の制御の流れと、評価のタイミングや順番が確実に表現されることになる。その結果、制御コマンドや規格名をシーケンスステップ毎に繰り返して記述する場合に起こりやすい入力ミスなどを抑制し、評価対象物を制御しながら測定し、評価する評価シーケンスを効率よく正確に生成することができる。
【００２２】
本発明に係る他の評価シーケンスの生成プログラムは、さらに、制御コマンド入力セル、評価規格入力セルおよびシーケンスステップのリストの入力情報と、シーケンスステップ毎に制御コマンド選択ボックスおよび評価規格選択ボックスにおいて選択された制御コマンドおよび規格名とを、コンピュータの記憶部材に記憶させる記憶制御手段を備え、記憶制御手段は、少なくとも評価規格入力セルの入力情報と、その他の情報とを別々のファイルとして記憶させ、生成手段は、制御コマンド入力セル、評価規格入力セル、シーケンスステップのリスト、並びに、シーケンスステップ毎の制御コマンド選択ボックスおよび評価規格選択ボックスの情報に基づいて、評価シーケンスを実行するものである。
【００２３】
このプログラムを実行するコンピュータでは、評価規格入力セルおよびシーケンスステップのリストの入力情報と、シーケンスステップ毎に制御コマンド選択ボックスおよび評価規格選択ボックスにおいて選択された制御コマンドおよび規格名とを、コンピュータの記憶部材に記憶させ、その後にこれを読み込んで再利用することができる。
【００２４】
また、生成手段は、制御コマンド入力セル、評価規格入力セル、シーケンスステップのリスト、並びに、シーケンスステップ毎の制御コマンド選択ボックスおよび評価規格選択ボックスの情報に基づいて、評価シーケンスを実行するので、これらに記憶部材に記憶されている情報を読み込むだけで、評価シーケンスを生成して実行することができる。
【００２５】
しかも、記憶制御手段は、少なくとも評価規格入力セルの入力情報と、その他の情報とを別々のファイルとして記憶させるので、少なくとも、評価規格入力セルの入力情報は、他の評価対象物においても汎用的に利用することができる。その結果、入力ミスを抑制して、効率よく正確な評価シーケンスを生成することができる。
【００２６】
本発明に係る他の評価シーケンスの生成プログラムは、さらに、評価対象物毎に設けられて評価対象物を制御する駆動工具から、少なくとも評価対象物毎に異なる識別情報を読み込む識別情報読込手段と、記憶制御手段は、識別情報とともに、制御コマンド入力セル、評価規格入力セルおよびシーケンスステップのリストの入力情報と、シーケンスステップ毎に制御コマンド選択ボックスおよび評価規格選択ボックスにおいて選択された制御コマンドおよび規格名とを、記憶部材に記憶させ、さらに、記憶制御手段は、識別情報読込手段が読み込んだ識別情報が記憶部材に記憶されている場合には、その識別情報に対応する情報を、制御コマンド入力セル、評価規格入力セル、シーケンスステップのリスト、シーケンスステップ毎の制御コマンド選択ボックスおよび評価規格選択ボックスに自動的に読み込むものである。
【００２７】
このプログラムを実行するコンピュータでは、識別情報読込手段が駆動工具から識別情報を読み込むと、記憶制御手段が、自動的に、記憶部材に記憶されている適切な情報を、制御コマンド入力セル、評価規格入力セル、シーケンスステップのリスト、シーケンスステップ毎の制御コマンド選択ボックスおよび評価規格選択ボックスに読み込む。したがって、記憶部材に複数組の情報が記憶されている場合であっても、駆動工具を接続するだけで、適切な組の情報を読み込んで効率よく評価対象物を評価することができる。
【００２８】
本発明に係る評価シーケンスの生成プログラムおよび他の評価シーケンスの生成プログラムは、さらに、評価対象物に固有の番号などの文字列を入力するシリアルナンバー入力ボックスを表示するシリアルナンバー入力ボックス表示手段を備え、記憶制御手段は、シリアルナンバー入力ボックスに入力された文字列と判定結果とを対応付けて記憶部材に記憶させるものである。
【００２９】
このプログラムを実行するコンピュータでは、評価対象物毎に、判定結果を保存することができる。したがって、後から、シリアルナンバーに基づいて１つ１つの評価対象物の評価内容を確認することができる。
【００３０】
本発明に係る評価システムは、上述するいずれか１つの評価シーケンスの生成プログラムを記憶する記憶部材と、Ｉ／Ｏポートと、Ｉ／Ｏポートに接続される駆動工具と、入力デバイスと、表示デバイスと、評価シーケンスの生成プログラムを実行する中央処理装置と、を備え、評価シーケンスの生成プログラムによって実現される生成手段は、Ｉ／Ｏポートを介して駆動工具へ制御コマンドに対応するビット列を出力するものである。
【００３１】
この評価システムを採用すれば、制御コマンド入力セルにおいて、制御ビット列に対応する各制御コマンドを定義し、且つ、評価規格入力セルにおいて、評価項目とともに規格名を入力した後に、評価シーケンスを作成することになる。これにより、評価対象物を制御しながら各種の測定と評価とを短時間で実施することができる評価シーケンスを生成することができる。
【００３２】
しかも、評価シーケンスのシーケンスステップ毎に、制御コマンドや評価項目を、記述する必要がなくなる。また、制御コマンドや規格名を予め定義させ、各シーケンスステップでは、その定義された制御コマンドや規格名の中から選択するだけである。その結果、制御コマンドや規格名を各シーケンスステップ毎に繰り返して記述する場合に起こりやすい入力ミスなどを抑制し、評価対象物を制御しながら測定し、評価する評価シーケンスを効率よく正確に生成することができる。
【００３３】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る評価シーケンスの生成方法および生成プログラム並びに評価システムを、図面に基づいて説明する。
【００３４】
なお、評価システムは、被検レンズ（評価対象物）の評価を実行するレンズ評価システムの一部として説明する。評価シーケンスの生成プログラムは、被検レンズ評価プログラムの一部として説明する。評価シーケンスの生成方法は、レンズ評価システムの動作の一部として説明する。
【００３５】
図１は、本発明の実施の形態に係るレンズ評価システムを示すシステム構成図である。
【００３６】
レンズ評価システムは、被検レンズ１の特性を測定するためのチャートを生成するチャート装置２と、このチャート装置２と対向して配置され、被検レンズ１が固定される測定装置本体３と、被検レンズ１を制御する駆動工具４と、コンピュータ５と、を備える。なお、測定装置本体３、駆動工具４およびコンピュータ５は、テーブル６に載せて使用する。
【００３７】
測定装置本体３と駆動工具４とはそれぞれ、制御信号ケーブル７でコンピュータ５に接続され、この制御信号ケーブル７を介してコンピュータ５から入力される制御信号に基づいて動作する。このような制御信号ケーブル７としては、たとえば、フラットケーブル、セントロニクスケーブルなどのパラレルケーブル、ＵＳＢ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ Ｓｅｒｉａｌ Ｂｕｓ）ケーブルやＳＣＳＩ（Ｓｍａｌｌ Ｃｏｍｐｕｔｅｒ Ｓｙｓｔｅｍ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）ケーブルなどのシリアルケーブルなどを利用することができる。
【００３８】
測定装置本体３とコンピュータ５とは、ビデオ信号ケーブル８で接続されている。ビデオ信号ケーブル８は、たとえば、画像信号用の信号線と、垂直同期信号用の信号線と、水平同期信号用の信号線と、を備えるものであればよい。
【００３９】
測定装置本体３とチャート装置２とは、チャート点灯制御信号線９で接続されている。
【００４０】
なお、測定装置本体３とチャート装置２とは、測定装置本体３の前面に取り付けられた被検レンズ１の光軸１１上に、チャート装置２の後述するセンターチャートユニット３０（図２参照）の中心、すなわちアーム交差部２８が位置するように、互いの位置が位置決めされる。このとき、たとえば、センターチャートユニット３０の位置にレーザ光源を替わりに配設するとともに、被検レンズ１の替わりにミラーを配設し、レーザ光のミラーによる反射光が、レーザ光源の位置に戻ってくるように調整した後、ミラーの位置に被検レンズ１を配置することで、被検レンズ１とチャート装置２とを平行にすることができる。なお、測定装置本体３とチャート装置２との距離は、１ｍ〜２ｍ程度でよい。
【００４１】
図２（Ａ）は、図１中のチャート装置２を示す装置正面図である。図２（Ｂ）は、図１中のチャート装置２を示す装置背面図である。
【００４２】
チャート装置２は、高さ調整が可能なメインフレーム２１と、メインフレーム２１の下端部に四方へ十字形に突出するように固定される４本の脚部２２と、メインフレーム２１の上端部において互いに交差して取り付けられる２本のアーム２３と、を備える。そして、メインフレーム２１は、各脚部２２の下面に配設されたレベラー２４の、メインフレーム２１の下面からの突出量が調整されることで、床面に垂直に立つことが可能となる。また、メインフレーム２１の高さを調整することで、２本のアーム２３の床面からの高さが調整できる。
【００４３】
また、２本のアーム２３は、メインフレーム２１が鉛直に立った状態で、１つの鉛直面内で回転可能に、メインフレーム２１の上端部に取り付けられている。また、メインフレーム２１の上端部には、この２本のアーム２３の交差部と同心に円板形状の目盛り板２５が取り付けられている。そして、目盛り板２５の目盛りを参考にしつつ、この目盛り板２５に形成された２つのスリット２６に、各アーム２３のアームロックレバー２７を固定することで、各アーム２３は所定の角度に固定される。
【００４４】
各アーム２３の正面側には、チャートユニット２９，３０が取り付けられる。この実施の形態では、アーム交差部２８を中心として四方に突出する各部分に、チャートユニット２９を２つずつ取り付けている。また、アーム交差部２８にも、チャートユニット３０が取り付けられている。なお、アーム交差部２８を中心として四方に突出する各部分には、チャートユニット２９を１つあるいは３つ以上取り付けてもよい。これは、被検レンズ１の検査項目の数による。以下、各アーム２３に取り付けられているチャートユニット２９と、アーム交差部２８に取り付けられているチャートユニット３０とを特に区別する場合には、前者を像高チャートユニット２９と記載し、後者をセンターチャートユニット３０と記載する。
【００４５】
各像高チャートユニット２９は、チャートロックレバー２９ａを緩めることで、アーム２３の長さ方向に沿って移動する。また、各像高チャートユニット２９は、チャートロックレバー２９ａを締めることで、その締めた位置に固定することができる。各像高チャートユニット２９の固定位置は、アーム２３の長さ方向に沿って付けられている図示外の目盛りを参考に決めればよい。
【００４６】
図３（Ａ）は、図２中のチャートユニット２９，３０の斜視図である。図３（Ｂ）は、図２中のチャートユニット２９，３０の分解断面図である。
【００４７】
チャートユニット２９，３０は、つや消しの黒色に塗装された略長方体形状のハウジング３１と、そのハウジング３１内部に配設される電球やハロゲンランプなどの光源３２と、ハウジング３１の一側面に形成される正方形の貫通孔３３と、この貫通孔３３と重ねて配設される白色のアクリル板などの拡散板３４と、を備える。また、光源３２と貫通孔３３との間には、更に別の拡散板３５が配設され、さらにこれらの拡散板３４同士の間には、内面が鏡面仕上げをされた導光路３６が形成されている。これら２つの拡散板３４と、導光路３６とによって、貫通孔３３から放射される白色の光は、貫通孔３３の各部分で略均一の明るさになる。
【００４８】
各チャートユニット２９，３０の光源３２には、チャート点灯制御信号線９が接続される。チャート点灯制御信号線９から点灯信号が入力されると光源３２は点灯する。これにより、貫通孔３３に近接配置される白色の拡散板３４による輝度が高い正方形の白色部分と、その白色部分の周囲全周に渡って形成される、黒色のハウジング３１による輝度が低い黒色の部分と、からなるチャートが形成される。２つの拡散板３４の背面側に光源３２を設けてチャートの白色部分を背面照明で明るくすることで、チャートの黒色部分となるハウジング３１との輝度差を大きくすることができる。その結果、チャートの周囲が明るくても、チャートの白色部分と、黒色部分との輝度差は十分に確保される。
【００４９】
貫通孔３３と、それと重ねて配設される拡散板３４との間には、隙間が設けられている。この隙間に、たとえば貫通孔３３よりも小さい開口面積を有する正方形の貫通孔を形成した黒色の画用紙などをチャートマスクとして挿入することで、チャートの白色部分のサイズを小さくすることができる。このとき、貫通孔３３は、そのチャートマスクの貫通孔によって代替えされる。なお、貫通孔３３は、一辺が３０ｍｍ程度に形成している。
【００５０】
この正方形の貫通孔３３の各辺は、ハウジング３１の各辺と平行に形成されている。ハウジング３１は、その対向する二辺がアーム２３の長さ方向に沿って配設されている。そのため、像高チャートユニット２９の貫通孔３３は、その対向する二辺がアーム２３の長さ方向と平行になり、且つ、残りの対向する二辺がアーム２３の長さ方向と垂直になる。図２に示すように、アーム２３を水平以外の角度に設定した場合、像高チャートユニット２９によるチャートの正方形の白色部分は、斜めに傾くことになる。それゆえ、図１に示すように、アーム交差部２８が被検レンズ１の光軸１１上となるように、チャート装置２と被検レンズ１との相対位置を位置決めするだけで、アーム２３をどのような角度に設定したとしても、各像高チャートユニット２９によるチャートの白色部分の一対の二辺は、常に、その像高位置でのメリジオナル方向となり、他の一対の二辺は常にサジッタル方向となる。
【００５１】
図４は、図１中の測定装置本体３の分解図である。
【００５２】
測定装置本体３は、ベースプレート４１と、顕微鏡４２と、顕微鏡４２に固定されるＣＣＤカメラ４３と、顕微鏡４２をベースプレート４１上でＸＹＺの３軸方向で移動させる駆動ユニット４４と、を備える。ベースプレート４１の下面の四隅近傍には、各々１つで計４つのレベラー４５が配設されている。なお、測定装置本体３の上部には、ＤＩＮ（Ｄｅｕｔｓｃｈ Ｉｎｄｕｓｔｒｉｅ Ｎｏｒｍ：ドイツ工業規格）レール４６が設けられている。このＤＩＮレール４６に駆動工具４をはめ込むことで、駆動工具４を測定装置本体３の内部に格納することができる。また、測定装置本体３の背面には、２４Ｖ電源端子４７が設けられている。この２４Ｖ電源端子４７に、駆動工具４の後述する電源ユニット６３を接続することができる。
【００５３】
なお、図４において、Ｘ軸方向は、紙面と垂直な方向であり、Ｙ軸方向は、紙面の上下方向であり、Ｚ軸方向は、紙面の左右方向である。顕微鏡４２は、その光軸がＺ軸方向となるように取り付けられている。
【００５４】
また、ベースプレート４１には、ＸＹ平面と平行となるように、フランジ受部４８が立設されている。フランジ受部４８には、フランジ取付孔４９が形成されている。フランジ受部４８に当接することになるとともにフランジ取付孔４９に嵌り込むこととなるフランジ５０には、被検レンズ１が固定される。被検レンズ１は、フランジ５０の中央に設けられる貫通孔に挿入されることで、ＸＹ軸方向の位置決めがなされる。フランジ５０の被検レンズ１の取付面５１と、その裏面５２とは、平行に加工されている。そして、駆動ユニット４４には、顕微鏡４２とともに渦電流式距離センサ５３が配設される。渦電流式距離センサ５３の検出信号はコントローラ５４へ入力される。コントローラ５４は、この渦電流式距離センサ５３の検出信号に基づいて、渦電流式距離センサ５３とフランジ取付孔４９に嵌り込んだフランジ５０の裏面５２との距離が所定の値になるように駆動ユニット４４を駆動する。なお、この渦電流式距離センサ５３を使用して距離を制御することで、Ｚ軸方向の位置精度は０．５マイクロメートル程度の精度に調整することができる。
【００５５】
顕微鏡４２をＸ軸方向あるいはＹ軸方向に移動させたときに、その駆動方向と、Ｘ軸あるいはＹ軸との間に若干の角度誤差がある場合、顕微鏡４２はＺ軸方向にも若干だけ移動してしまう。コントローラ５４は、このように顕微鏡４２がＺ軸方向にも若干だけ移動してしまうと、渦電流式距離センサ５３の検出信号に基づいて、渦電流式距離センサ５３とフランジ５０の裏面との距離が所定の値になるように制御する。これにより、顕微鏡４２とフランジ５０との距離、ひいては、被検レンズ１と顕微鏡４２との距離を一定の距離に維持することができる。その結果、被検レンズ１と顕微鏡４２とのＺ軸方向の距離が変化してしまうことによって生じてしまう撮像画像のぼけを防止することができる。
【００５６】
なお、この実施の形態では、顕微鏡４２とフランジ５０との距離を測定する距離センサとして渦電流式のものを使用したが、レーザなどを用いる他の距離センサを用いてもよい。但し、渦電流式距離センサ５３は、比較的に安価で、且つ、数ミクロンオーダでの距離変化を検出することができるので、好適に利用することができる。
【００５７】
コントローラ５４には、チャート点灯制御信号線９と、制御信号ケーブル７とが接続される。コントローラ５４は、制御信号ケーブル７から位置制御信号が入力されると、駆動ユニット４４を制御して、顕微鏡４２を所定の位置に設定する。また、コントローラ５４は、制御信号ケーブル７から撮影信号が入力されると、チャート点灯制御信号線９へ点灯制御信号を出力する。チャート装置２では、指定されたチャートユニットが点灯する。これにより、黒枠の内側に四角い白色部分を有するチャートが形成される。被検レンズ１は、チャートの像を結像する。チャートの像は、顕微鏡４２によって拡大され、ＣＣＤカメラ４３の図示外の受光面に結像させられる。
【００５８】
ＣＣＤカメラ４３には、ビデオ信号ケーブル８が接続される。ＣＣＤカメラ４３は、その受光面に多数の受光素子がマトリックス状に配列されている。この多数の受光素子で撮像した輝度分布画像が撮像画像としてビデオ信号ケーブル８の画像信号用の信号線から出力される。ＣＣＤカメラ４３は、画像信号用の信号線へ撮像画像を出力するのと同期して、垂直同期信号と水平同期信号用とをそれぞれの信号線へ出力する。
【００５９】
図５は、図１中の駆動工具４を示すブロック図である。
【００６０】
駆動工具４は、Ｉ／Ｏ（Ｉｎｐｕｔ／Ｏｕｔｐｕｔ）ポート６１を備えるマイクロコントローラ６２と、このマイクロコントローラ６２へ電力を供給する電源ユニット６３と、を備える。電源ユニット６３は、測定装置本体３の２４Ｖ電源端子４７に接続される。
【００６１】
マイクロコントローラ６２は、Ｉ／Ｏポート６１と、プログラムを実行する中央処理装置（ＣＰＵ：Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）６４と、中央処理装置６４がプログラム実行の際に使用するＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）６５と、プログラムやデータを記憶する記憶部材６６と、これらを接続するシステムバス６７と、を備える。Ｉ／Ｏポート６１には、制御信号ケーブル７と、被検レンズ１への制御信号線６８とが接続される。
【００６２】
制御信号ケーブル７から駆動工具４のＩ／Ｏポート６１へ入力される制御信号は、図６に示す信号フォーマットで入力される。この信号フォーマットでは、２４本の信号線を使用する。したがって、２４本の信号線の中の最初の８本の信号線は、コンピュータ５から駆動工具４へ制御コマンド用の制御ビット列を送信するために利用される。次の８本の信号線は、駆動工具４からコンピュータ５へステータス用のビット列を送信するために利用される。最後の８本の信号線は、駆動工具４からコンピュータ５へ駆動工具４の識別番号７０用のビット列（識別情報）を送信するために利用される。
【００６３】
コンピュータ５から駆動工具４へ送信される制御コマンドは、駆動工具４が行う制御を指定するものであり、被検レンズ１の状態を所定の状態に設定するためのものである。このような制御コマンドとしては、たとえば、被検レンズ１をワイド（広角）に設定するワイド設定制御コマンド、テレ（望遠）に設定するテレ設定制御コマンド、ワイドとテレとの中間位置に設定するミドル設定制御コマンド、フォーカスの制御をするフォーカス設定制御コマンド、絞りを設定する絞り設定制御コマンド、テストを行わせるテスト制御コマンド、各種のセットをリセットするためのリセット制御コマンドなどがある。これらの各制御コマンドは、駆動工具４を作成するに当たって、駆動工具４を作成する者が自由に、８ビットで表現される０〜２５５（２５６（＝２８）通り）のいずれかの値の制御ビット列に対応付ける。なお、５ビット（３２（＝２５）通り）のビット列で、一般的な被検レンズ１の全ての制御が可能である。
【００６４】
駆動工具４からコンピュータ５へ送信されるステータスは、駆動工具４の動作状態を通知するためのものである。このようなステータスとしては、たとえば、駆動工具４が制御中であることを示すビジー（Ｂｕｓｙ）ステータス、コマンド制御の失敗によるエラー（Ｅｒｒｏｒ）ステータス、駆動工具４が初期化されたことを示すクリア（ＣＬＲ）などがある。各ステータスには、８ビットで表現される０〜２５５（２５６（＝２８）通り）のいずれかの値のビット列に対応付けられる。
【００６５】
駆動工具４の識別番号７０は、基本的には駆動工具４毎に割り当てられる。但し、１種類の被検レンズ１に対して複数の駆動工具４を作成した場合には、この複数の駆動工具４に共通する識別番号７０を割り当てるとよい。このように被検レンズ１の種類毎に異なる識別番号７０を利用することで、コンピュータ５では、駆動工具４を接続するだけで、どの被検レンズ１を検査しようとしているのかを把握することができる。各識別番号７０には、８ビットで表現される０〜２５５（２５６（＝２８）通り）のいずれかの値のビット列に対応付けられる。
【００６６】
マイクロコントローラ６２の記憶部材６６には、駆動工具制御プログラム６９と、駆動工具４の識別番号７０と、が記憶されている。マイクロコントローラ６２の中央処理装置６４は、電源ユニット６３からの電力が供給されると、駆動工具制御プログラム６９を実行する。これにより、駆動工具制御手段が実現される。
【００６７】
駆動工具制御手段は、まず、記憶部材６６に記憶されている識別番号７０を読出して、Ｉ／Ｏポート６１にセットする。また、Ｉ／Ｏポート６１に入力される制御コマンド用のビット列を読み込み、その制御コマンド用のビット列に対応する制御信号を制御信号線６８へ出力する。被検レンズ１は、この制御信号に応じてその設定状態を変更する。これにより、たとえば、Ｉ／Ｏポート６１にワイド設定制御コマンド用のビット列が入力されると、被検レンズ１は、ワイド（広角）に設定される。他にもたとえば、Ｉ／Ｏポート６１にテレ設定制御コマンド用のビット列が入力されると、被検レンズ１は、テレ（望遠）に設定される。
【００６８】
また、駆動工具制御手段は、Ｉ／Ｏポート６１に入力される制御コマンド用のビット列を読み込むとビジーステータスをＩ／Ｏポート６１に設定する。そして、駆動工具制御手段は、たとえば、被検レンズ１が正しく設定されると、ビジーステータスを解除する。また、駆動工具制御手段は、被検レンズ１が正しく設定できないと、エラーステータスをＩ／Ｏポート６１に設定する。
【００６９】
図７は、図１中のコンピュータ５の内部構造を示すブロック図である。
【００７０】
コンピュータ５は、Ｉ／Ｏポート８１と、プログラムを実行する中央処理装置（ＣＰＵ）８２と、中央処理装置８２がプログラム実行の際に使用するＲＡＭ８３と、プログラムやデータを記憶する記憶部材８４と、これらを接続するシステムバス８５と、を備える。Ｉ／Ｏポート８１には、表示デバイスとしてのモニタ８６と、キーボード８７と、ポインティングデバイス８８と、が接続されている。なお、キーボード８７やポインティングデバイス８８は、入力デバイスである。
【００７１】
Ｉ／Ｏポート８１には、制御信号ケーブル７と、ビデオ信号ケーブル８とが接続される。制御信号ケーブル７は、測定装置本体３と、駆動工具４とに接続される。ビデオ信号ケーブル８は、測定装置本体３のＣＣＤカメラ４３に接続される。
【００７２】
記憶部材８４には、被検レンズ評価プログラムとして、初期表示プログラム８９と、評価シーケンス生成プログラム９０と、評価シーケンス実行プログラム９１と、測定プログラム９２と、ＭＴＦ演算プログラム９３と、ＰＴＦ演算プログラム９４と、判定プログラム９５と、チャート装置設定演算プログラム９６と、が記憶されている。
【００７３】
入力デバイスによってあるいは自動的に、被検レンズ評価プログラムの実行が指示されると、中央処理装置８２は、初期表示プログラム８９を実行する。これにより、シリアルナンバー入力ボックス表示手段として機能する初期表示手段が実現される。なお、中央処理装置８２は、駆動工具４がＩ／Ｏポート８１に接続されたことを検出して、初期表示プログラム８９を実行してもよい。
【００７４】
初期表示手段は、図８に示すようなメインウィンドウ画面１０１をコンピュータ５のモニタ８６に表示させる。図８は、コンピュータ５のモニタ８６に表示されるメインウィンドウ画面１０１の一例を示す。
【００７５】
メインウィンドウ画面１０１は、その上半分が測定結果や評価結果などを表示するための表示エリアとなっている。また、メインウィンドウ画面１０１の下半分は、設定を入力したり、入力されている設定を表示する入力エリアとなっている。
【００７６】
表示エリア内の左上には、テストモードボタン１０２と、アジャストボタン１０３と、クローズボタン１０４と、が表示されている。表示エリア内には、さらに、グラフ表示部１０５と、シリアルナンバー入力ボックス１０６と、判定結果表示部１０７と、進捗状況表示部１０８と、カウンタ１０９と、が設けられている。
【００７７】
テストモードボタン１０２が入力デバイスで操作されると、中央処理装置８２は、評価シーケンス実行プログラム９１を実行する。これにより、評価シーケンス実行手段が実現される。アジャストボタン１０３が入力デバイスで操作されると、中央処理装置８２は、評価シーケンス生成プログラム９０を実行する。これにより、評価シーケンス生成手段が実現される。クローズボタン１０４が操作されると、中央処理装置８２は、メインウィンドウ画面１０１を閉じて、被検レンズ評価プログラムの実行を終了する。
【００７８】
以下、評価シーケンス実行手段が実現されている状態をテストモードと記載し、評価シーケンス生成手段が実現されている状態を設定モードと記載する。
【００７９】
グラフ表示部１０５には、後述するＭＴＦの測定結果と、ＰＴＦの測定結果とが表示される。グラフの横軸は、空間周波数（ｃｙｃｌｅ／ｍｍ）が表示される。グラフの縦軸は、空間周波数が０のときを１００％として正規化した変調率（％）が表示される。なお、ＰＴＦ用の縦軸は、表示されない。ＰＴＦの測定結果は、変調率５０％が位相差０で、変調率１００％が＋１８０度の位相差で、変調率０％が−１８０度の位相差となるように、表示される。
【００８０】
シリアルナンバー入力ボックス１０６には、入力デバイスを用いて被検レンズ１のシリアルナンバーが入力される。このシリアルナンバーは、後述する被検レンズ１の判定項目や判定結果などとともに、被検レンズ１の評価ログとして、記憶部材６６に記憶される。なお、被検レンズ１のシリアルナンバーが不明である場合には、たとえば評価する日の年月日などを入力してもよい。
【００８１】
判定結果表示部１０７には、後述する判定手段による被検レンズ１の評価結果が表示される。評価結果が適合である場合には「適合」あるいは「Ｇｏｏｄ」と表示され、規格外である場合には「不適合」、「規格外」あるいは「ＮＧ」と表示される。
【００８２】
進捗状況表示部１０８には、テストモードでの進捗段階が０−１００％のインジケータとして表示される。テストモードを開始した直後は０％であり、テストモードが終了するときは１００％である。
【００８３】
カウンタ１０９には、被検レンズ１の評価個数が表示される。テストモードボタン１０２が操作される度に、１つずつカウントアップする。なお、被検レンズ評価プログラムを起動したときのカウンタ１０９の値は、０であっても、あるいは、これまでの全ての評価個数の累積値であってもよい。
【００８４】
メインウィンドウ画面１０１の下半分に設けられる入力エリアには、ベーシックセットアップタグボタン１１１、コントロールタグボタン１１２、スペシフィケーションタグボタン１１３、テストシーケンスタグボタン１１４、リザルトタグボタン１１５などのボタンと、入力デバイスで選択されたタグボタンに対応する入力画面を表示する入力部と、が設けられている。
【００８５】
ベーシックセットアップタグボタン１１１が入力デバイスにて選択されると、評価シーケンス生成手段は、図８に示すように、入力部に基本設定画面１２１を表示する。
【００８６】
基本設定画面１２１内には、一般的な項目に関する初期設定欄と、ＭＴＦの初期設定欄と、オートフォーカスの初期設定欄と、ＣＣＤカメラ４３および顕微鏡４２の初期設定欄と、駆動ユニット４４の初期設定欄と、が設けられている。
【００８７】
一般的な項目に関する初期設定欄には、ショーカメラビューチェックボックス１２２と、テストモードオンスタートアップチェックボックス１２３と、ディスコンティニュオンＮＧチェックボックス１２４と、オートセンタリングチェックボックス１２５と、制御信号ケーブル７のコモンポート番号を選択する選択ボックス１２６と、ビデオ信号ケーブル８のコモンポート番号を選択する選択ボックス１２７と、が表示されている。
【００８８】
入力デバイスによって、ショーカメラビューチェックボックス１２２にチェックが入ると、評価シーケンス実行手段は、ビデオ信号ケーブル８から入力されるＣＣＤカメラ４３の撮像画像を、判定結果表示部１０７に表示する。
【００８９】
テストモードオンスタートアップチェックボックス１２３にチェックが入ると、初期表示手段は、被検レンズ評価プログラムをテストモードで起動する。これにより、生産ラインなどにおいてこのレンズ評価システムを使用する場合に、コンピュータ５の電源を入れて被検レンズ評価プログラムを起動すれば、そのまま測定を開始することが可能となり、毎日の作業を効率化させることができる。なお、コンピュータ５において被検レンズ評価プログラムを自動起動に設定することで、電源を入れるだけで検査作業を開始することができ、さらに毎日の作業を効率化させることができる。
【００９０】
ディスコンティニュオンＮＧチェックボックス１２４にチェックが入ると、評価シーケンス実行手段は、規格外（ＮＧ）の判定結果が生じた時点で評価シーケンスの実行を中断する。
【００９１】
オートセンタリングチェックボックス１２５にチェックが入ると、評価シーケンス実行手段はセンターチャートユニット３０での後述するオートフォーカス処理時に、ＣＣＤカメラ４３の撮像画像の中心にチャートの白色正方形の中心が位置するように、測定装置本体３のコントローラ５４へ、位置を補正する制御信号を出力する。これにより、ＣＣＤカメラ４３の受光面の中心に対して垂直の方向に、センターチャートユニット３０の中心を位置させることができ、光軸１１のずれや傾きに起因する誤差を無くすことができる。
【００９２】
ＭＴＦの初期設定欄には、ＭＴＦメソッド選択ボックス１２８と、マキシムレンジ入力ボックス１２９と、が表示されている。
【００９３】
ＭＴＦメソッド選択ボックス１２８では、記憶部材６６に複数のＭＴＦ演算プログラム９３が記憶されている場合に、その内の１つを選択することができる。そして、ＭＴＦメソッド選択ボックス１２８には、入力デバイスで選択されたＭＴＦ演算プログラム９３が表示される。これにより、たとえば、演算速度が速いＭＴＦ演算プログラム９３と、演算精度が高いＭＴＦ演算プログラム９３とを記憶部材６６に記憶させるるとともに、ＭＴＦメソッド選択ボックス１２８において、被検レンズ１のグレードなどに応じてこれらの中の一方を選択することで、１つのレンズ評価システムを用いて、汎用的にグレードの異なる複数の被検レンズ１を評価することができる。
【００９４】
マキシムレンジ入力ボックス１２９には、入力デバイスを用いてグラフ表示部１０５に表示される最大の空間周波数が入力される。後述するＭＴＦ演算手段は、０から設定された最大の空間周波数までのＭＴＦ値を、グラフ表示部１０５に表示する。後述するＰＴＦ演算手段は、０から設定された最大の空間周波数までのＰＴＦ値を、グラフ表示部１０５に表示する。
【００９５】
オートフォーカスの初期設定欄には、ディテクトメソッド選択ボックス１３０と、オプション入力ボックス１３１と、バックステップ入力ボックス１３２と、が表示されている。
【００９６】
ディテクトメソッド選択ボックス１３０では、エッジディテクト、ＭＴＦディテクト、グレイディテクト、アキュタンス（Ａｃｕｔａｎｃｅ）ディテクトが選択可能である。そして、入力デバイスで選択されたものが、ディテクトメソッド選択ボックス１３０に表示される。
【００９７】
エッジディテクトが選択されると、評価シーケンス実行手段は、オートフォーカス処理時に、顕微鏡４２を移動させながら、その顕微鏡４２の位置毎にＣＣＤカメラ４３から出力される各撮像画像からエッジ画像を生成する。また、評価シーケンス実行手段は、エッジ画像のピーク値が最も大きくなる撮像画像の撮像位置に、顕微鏡４２およびＣＣＤカメラ４３を設定する。なお、評価シーケンス実行手段は、オプション入力ボックス１３１に入力された値と対応付けられた、たとえばディファレンシャルやグラディエントなどのオペレータを用いてエッジ画像を生成する。
【００９８】
ＭＴＦディテクトが選択されると、評価シーケンス実行手段は、オートフォーカス処理時に、顕微鏡４２を移動させながら、その顕微鏡４２の位置毎にＣＣＤカメラ４３から出力される各撮像画像のＭＴＦ値を簡易的に演算する。また、評価シーケンス実行手段は、ＭＴＦ値のグラフ表示での面積が最も大きくなる撮像画像の撮像位置に、顕微鏡４２およびＣＣＤカメラ４３を設定する。なお、ＭＴＦ値は、メリジオナル方向とサジッタル方向との両方で演算し、その平均値での面積で評価する。また、評価シーケンス実行手段は、オプション入力ボックス１３１に入力された値に対応付けられた値までの空間周波数についてＭＴＦ値を演算する。
【００９９】
グレイディテクトが選択されると、評価シーケンス実行手段は、オートフォーカス処理時に、顕微鏡４２を移動させながら、その顕微鏡４２の位置毎にＣＣＤカメラ４３から出力される各撮像画像の中間調の合計輝度値を演算する。また、評価シーケンス実行手段は、中間調の合計輝度値が最も小さくなる撮像画像の撮像位置に、顕微鏡４２およびＣＣＤカメラ４３を設定する。
【０１００】
アキュタンスディテクトが選択されると、評価シーケンス実行手段は、オートフォーカス処理時に、顕微鏡４２を移動させながら、その顕微鏡４２の位置毎にＣＣＤカメラ４３から出力される各撮像画像のＬＳＦ（Ｌｉｎｅ Ｓｅｐａｒａｔｅ Ｆａｃｉｌｉｔｙ）のＲＭＳ（Ｒｏｏｔ Ｍｅａｍ Ｓｑｕａｒｅ）値を演算する。また、評価シーケンス実行手段は、ＲＭＳ値が最も大きくなる撮像画像の撮像位置に、顕微鏡４２およびＣＣＤカメラ４３を設定する。なお、ＬＳＦは、メリジオナル方向とサジッタル方向との両方で演算する。
【０１０１】
ＣＣＤカメラ４３および顕微鏡４２の初期設定欄には、ホリゾンタルピッチ入力ボックス１３３と、バーチカルピッチ入力ボックス１３４と、マグニフィケーション入力ボックス１３５と、が表示されている。
【０１０２】
入力デバイスによって、ホリゾンタルピッチ入力ボックス１３３には、ＣＣＤカメラ４３の受光素子の水平方向のピッチが入力される。バーチカルピッチ入力ボックス１３４には、ＣＣＤカメラ４３の受光素子の垂直方向のピッチが入力される。マグニフィケーション入力ボックス１３５には、顕微鏡４２の倍率が入力される。後述する測定手段は、これらの値を利用して、ＣＣＤカメラ４３の受光素子同士の間隔が、被検レンズ１の像において、どのくらいの幅に相当するのかを判断する。
【０１０３】
駆動ユニット４４の初期設定欄には、クロック入力ボックス１３６と、オフセット入力ボックス１３７と、プレシジョン入力ボックス１３８と、ロースピードレンジ入力ボックス１３９と、が表示されている。
【０１０４】
クロック入力ボックス１３６には、駆動ユニット４４が顕微鏡４２をＺ軸方向に駆動するための駆動クロックパルスの周波数が入力される。オフセット入力ボックス１３７には、駆動ユニット４４のＺ軸原点に対するオフセット値が入力される。プレシジョン入力ボックス１３８には、駆動ユニット４４による顕微鏡４２の位置設定精度が入力される。ロースピードレンジ入力ボックス１３９には、駆動ユニット４４が顕微鏡４２を通常よりも低速に駆動する範囲が入力される。
【０１０５】
これらの値は、検査時に、後述する評価シーケンス実行手段が、Ｉ／Ｏポート６１から測定装置本体３のコントローラ５４へ出力する。コントローラ５４は、駆動ユニット４４による顕微鏡４２の初期設定位置（原点）をオフセット値だけずらす。コントローラ５４は、このパルス周波数でパルスを出力する。駆動ユニット４４は、このパルスに同期して顕微鏡４２をＺ軸方向に移動する。駆動ユニット４４は、顕微鏡４２の位置精度が設定値から位置設定精度の範囲となるように位置の微調整を行う。駆動ユニット４４は、原点からロースピードレンジ入力ボックス１３９に入力された範囲では、顕微鏡４２を通常よりも低速で移動する。
【０１０６】
コントロールタグボタン１１２が入力デバイスにて選択されると、評価シーケンス生成手段は、制御コマンド入力セル表示手段として機能して、図９に示すように、入力部に被検レンズ１の機種別設定画面１４１を表示する。
【０１０７】
機種別設定画面１４１内の左側には、モデルＩＤ表示ボックス１４２と、モデルネーム入力ボックス１４３と、コントローラ制御コマンドテーブル１４４と、が表示されている。機種別設定画面１４１内の右側には、駆動工具４のイニシャライズ欄と、駆動工具４のアフターポジション欄と、被検レンズ１のイメージフォーマット欄と、チャートウィザードボタン１５５と、が設けられている。
【０１０８】
モデルＩＤ表示ボックス１４２には、識別情報読込手段として機能する評価シーケンス生成手段がＩ／Ｏポート６１を介して駆動工具４から読み出した、駆動工具４の識別番号７０が表示される。また、この駆動工具４の識別番号７０を含むファィルが記憶部材に記憶されている場合には、記憶制御手段として機能する評価シーケンス生成手段は、自動的に、そのファイルの内容を読み込んで、後述する各入力ボックスなどに割り当てる。
【０１０９】
モデルネーム入力ボックス１４３には、駆動工具４の識別番号７０に対応する被検レンズ１の機種名が記憶部材６６に記憶されている場合には、被検レンズ１の機種名が表示される。なお、駆動工具４の識別番号７０に対応する被検レンズ１の機種名が予め入力されていない場合には、入力デバイスを用いて、モデルネーム入力ボックス１４３に被検レンズ１の機種名を入力する。
【０１１０】
コントローラ制御コマンドテーブル１４４は、コンピュータ５のＩ／Ｏポート６１から駆動工具４へ送信する各制御コマンド用の制御ビット列と、その制御ビット列に対応する文字列（以下、制御コマンドと記載する）とを対応付けるためのものである。このコントローラ制御コマンドテーブル１４４は、ズーム列、フォーカス列、アイリス列およびテスト列の４列を備え、各列には０〜７までの８個の制御コマンド入力セル１４４ａが割り当てられている。各制御コマンド入力セル１４４ａには、内部的に、制御コマンド用の制御ビット列が１対１に対応して割り当てられている。具体的には行番号を二進数化したものが、制御ビット列の上位３ビットとなる。また、ズーム列には制御ビット列の下位２ビットとして「００」が割り当てられ、フォーカス列には制御ビット列の下位２ビットとして「０１」が割り当てられ、アイリス列には制御ビット列の下位２ビットとして「１０」が割り当てられ、テスト列には制御ビット列の下位２ビットとして「１１」が割り当てられている。
【０１１１】
したがって、たとえば、制御コマンド用の制御ビット列として「００１００」が入力された場合に駆動工具４が被検レンズ１をワイドに設定する場合には、ズーム列の行番号１の制御コマンド入力セル１４４ａに、「Ｗｉｄｅ」との制御コマンドを書き込む。他にもたとえば、制御コマンド用の制御ビット列として「０１０１０」が入力された場合に駆動工具４が被検レンズ１のシャッタをオープンする場合には、アイリス列の行番号２の制御コマンド入力セル１４４ａに、「Ｓｈｕｔ．ｏｐｅｎ」との制御コマンドを書き込む。これにより、各制御ビット列に対応する制御コマンドが定義される。
【０１１２】
なお、各セルに書き込んだ制御コマンドは、各制御コマンド入力セル１４４ａに予め対応付けられているそれぞれの制御コマンドの制御ビット列と対応付けて、列毎に分類されて、記憶部材８４に記憶される。この制御コマンドは、その後のシーケンスの設定時などにおいて、選択ボックスに、選択項目の一つとして表示される。したがって、後からシーケンスを作成する人が駆動工具４による制御の内容が把握できるものであれば、上記例とは異なる他の文字列を制御コマンド入力セル１４４ａに書き込み、この他の文字列を制御コマンドとして利用しても良い。制御コマンドには、日本語の文字列を使用してもよい。
【０１１３】
駆動工具４のイニシャライズ欄には、リセットチェックボックス１４５と、アイリスシャッタチェックボックス１４６と、アイリスシャッタ選択ボックス１４７と、テストチェックボックス１４８と、テスト選択ボックス１４９と、が表示されている。
【０１１４】
リセットチェックボックス１４５がチェックされると、評価シーケンス実行手段は、初期設定時に、駆動工具４へリセット制御コマンドを出力する。
【０１１５】
アイリスシャッタチェックボックス１４６がチェックされると、評価シーケンス実行手段は、初期設定時に、駆動工具４へ、アイリスシャッタ選択ボックス１４７にて選択された制御コマンドを出力する。なお、アイリスシャッタ選択ボックス１４７には、その右側のリスト表示ボタンが操作されると、アイリス列の制御コマンド入力セル１４４ａに記述されている全ての制御コマンドが候補リストとして表示される。また、候補リストが表示されている状態でいずれか１つの制御コマンドを選択すると、候補リストが消えて、アイリスシャッタ選択ボックス１４７には選択された制御コマンドが表示される。
【０１１６】
テストチェックボックス１４８がチェックされると、評価シーケンス実行手段は、初期設定時に、駆動工具４へ、テスト選択ボックス１４９にて選択された制御コマンドを出力する。なお、テスト選択ボックス１４９には、その右側のリスト表示ボタンが操作されると、テスト列の制御コマンド入力セル１４４ａに記述されている全ての制御コマンドが候補リストとして表示される。また、候補リストが表示されている状態でいずれか１つの制御コマンドを選択すると、候補リストが消えて、テスト選択ボックス１４９には選択された制御コマンドが表示される。
【０１１７】
駆動工具４のアフターポジション欄には、ズームチェックボックス１５０と、インケースＯＫ選択ボックス１５１と、インケースＮＧ選択ボックス１５２と、が表示されている。
【０１１８】
ズームチェックボックス１５０がチェックされると、評価シーケンス実行手段は、検査終了時（検査中断時を含む）に、駆動工具４へ制御コマンドを出力する。検査が正常に終了した場合には、インケースＯＫ選択ボックス１５１で選択された制御コマンドを出力する。検査が中断した場合には、インケースＮＧ選択ボックス１５２で選択された制御コマンドを出力する。
【０１１９】
なお、インケースＯＫ選択ボックス１５１およびインケースＮＧ選択ボックス１５２には、それらの右側のリスト表示ボタンが操作されると、ズーム列の制御コマンド入力セル１４４ａに記述されている全ての制御コマンドが候補リストとして表示される。また、候補リストが表示されている状態でいずれか１つの制御コマンドを選択すると、候補リストが消えて、インケースＯＫ選択ボックス１５１およびインケースＮＧ選択ボックス１５２には選択された制御コマンドが表示される。
【０１２０】
被検レンズ１のイメージフォーマット欄には、ホリゾンタル入力ボックス１５３と、バーチカル入力ボックス１５４と、が表示されている。
【０１２１】
ホリゾンタル入力ボックス１５３には、被検レンズ１の水平画面サイズが入力される。バーチカル入力ボックス１５４には、被検レンズ１の垂直画面サイズが入力される。
【０１２２】
チャートウィザードボタン１５５が入力デバイスで操作されると、中央処理装置６４は、チャート装置設定演算プログラム９６を実行する。これにより、チャート装置設定演算手段が実現される。
【０１２３】
チャート装置設定演算手段は、図１０に示すように、チャートウィザード画面１６１をモニタ８６に表示する。チャートウィザード画面１６１内には、オブジェクトディスタンス入力ボックス１６２と、焦点入力ボックス１６３と、ハイト入力ボックス１６４と、ディストーション入力ボックス１６５と、オフセット入力ボックス１６６と、ホリゾンタル入力ボックス１６７と、バーチカル入力ボックス１６８と、が表示されている。
【０１２４】
チャートウィザード画面１６１内の右側には、アングル表示ボックス１６９と、半径表示ボックス１７０と、半径プラスオフセット表示ボックス１７１と、半径マイナスオフセット表示ボックス１７２と、が表示されている。
【０１２５】
オブジェクトディスタンス入力ボックス１６２には、測定装置本体３に取り付けられた被検レンズ１と、センターチャートユニット３０の前面との間の距離が入力される。焦点入力ボックス１６３には、被検レンズ１の焦点距離が入力される。ハイト入力ボックス１６４には、像高チャートユニット２９の被検レンズ１での像高が、パーセントで入力される。ディストーション入力ボックス１６５には、被検レンズ１の収差（ひずみ）がパーセントで入力される。オフセット入力ボックス１６６には、像高チャートユニット２９の固定位置のオフセット値が入力される。ホリゾンタル入力ボックス１６７には、被検レンズ１の水平画面サイズが入力される。バーチカル入力ボックス１６８には、被検レンズ１の垂直画面サイズが入力される。
【０１２６】
そして、これらの入力ボックスに値が入力されると、チャート装置設定演算手段は、その入力されている条件の下での、水平方向を基準としたアーム２３の固定角度を演算し、アングル表示ボックス１６９にその角度を表示する。また、チャート装置設定演算手段は、像高チャートユニット２９の固定位置と、それにオフセット値を加減算した値とを演算し、それぞれを半径表示ボックス１７０、半径プラスオフセット表示ボックス１７１および半径マイナスオフセット表示ボックス１７２に表示する。
【０１２７】
スペシフィケーションタグボタン１１３が入力デバイスにて選択されると、評価シーケンス生成手段は、評価規格入力セル表示手段として機能して、図１１に示すように、モニタ８６に表示されている入力部に規格設定画面１８１を表示する。
【０１２８】
規格設定画面１８１内には、スペシフィケーションテーブル１８２と、ロードテーブルボタン１８３と、セーブテーブルボタン１８４と、が表示されている。
【０１２９】
スペシフィケーションテーブル１８２は、一般的な表計算二次元テーブルと同様のセル構造を備える。各セルは、評価規格入力セル１８２ａである。そして、その第一行に、判定に使用する判定コマンドが記入される。第一列に、規格名が記入される。また、その他の各セルには、所定の行に記載された規格名が判定基準として選択されたときに、後述する判定手段が各列に記載された判定コマンドの判定に使用する判定基準値（評価項目）が入力される。
【０１３０】
判定コマンドとしては、たとえば、アベレージ（ＡＶＥ）判定コマンド、フォーカス（ＦＯＣＵＳ）判定コマンド、レゾリューション（ＲＥＳ：変調度）判定コマンド、二乗平均値（ＲＭＳ）判定コマンドなどがある。
【０１３１】
アベレージ判定コマンドが、スペシフィケーションテーブル１８２の第一行に記述されると、後述する判定手段は、０から、「ＡＶＥ」の後のセミコロン（：）に続けて入力される数値の周波数（ｃｙｃｌｅ／ｍｍ）までのＭＴＦ値の平均値を演算し、その平均値がセルに記述された値よりも大きい場合には、適合と判定する。小さい場合には、規格外と判定する。図１１の例では、「ＡＶＥ：１００」と記載されているので、０〜１００ｃｙｃｌｅ／ｍｍまでのＭＴＦ値の平均値を演算することとなる。そして、「Ｗｉｄｅ Ｃｅｎｔｅｒ」の規格の場合には「６０」と入力されているので、その平均値が６０よりも大きいときに「適合」と判断することとなる。
【０１３２】
フォーカス判定コマンドが、スペシフィケーションテーブル１８２の第一行に記述されると、後述する判定手段は、オートフォーカスによって設定された位置の設定値に対するずれ量が、セルに記述された上限値と下限値との間の範囲内である場合には、適合と判定する。上限値を超えるあるいは下限値未満である場合には、規格外と判定する。
【０１３３】
レゾリューション判定コマンドが、スペシフィケーションテーブル１８２の第一行に記述されると、後述する判定手段は、「ＲＥＳ」の後のセミコロン（：）に続けて入力されるＭＴＦ値以下となってしまう空間周波数が、セルに記述された値よりも大きい場合には、適合と判定する。小さい場合には、規格外と判定する。
【０１３４】
二乗平均値判定コマンドが、スペシフィケーションテーブル１８２の第一行に記述されると、後述する判定手段は、０から、「ＲＭＳ」の後のセミコロン（：）に続けて入力される数値の周波数（ｃｙｃｌｅ／ｍｍ）までのＭＴＦ値の二乗和平均値を演算し、その二乗和平均値がセルに記述された値よりも大きい場合には、適合と判定する。小さい場合には、規格外と判定する。
【０１３５】
なお、これらの規格コマンドがないまま、数値のみが第一行に入力された場合には、後述する判定手段は、記入された数値の周波数でのＭＴＦ値がセルに記述された値よりも大きい場合には、適合と判定する。小さい場合には、規格外と判定する。図１１の例では、第一行の第四列に「４０」が記載されているが、これは４０ｃｙｃｌｅ／ｍｍでのＭＴＦ値がその下に続く各セルに記載された値、たとえば「５０」の場合には５０以上であるときには適合と判断することとなる。
【０１３６】
そして、各行がそれぞれ、スペシフィケーションテーブル１８２の第一列に記載されている規格名の規格となる。評価シーケンス実行手段は、指定された規格名（行）の全ての項目を判定し、全ての項目が適合である場合に、その総合判定として「適合」と判定する。それ以外の場合は、「不適合」と判定する。なお、セルの中に何も記入されていない空欄セルとなっている規格コマンドは判定しない。
【０１３７】
たとえば、図１１に示すように、ワイドセンター（Ｗｉｄｅ ｃｅｎｔｅｒ）の規格を判定手段が実行した場合には、フォーカス位置のずれ量が−０．３ｍｍ〜＋０．１ｍｍの範囲内であって、ＭＴＦ値が２０％となってしまう空間周波数が１２０ｃｙｃｌｅ／ｍｍ以上であって、４０ｃｙｃｌｅ／ｍｍの空間周波数のＭＴＦ値（解像度）が５０％以上であって、さらに、０から１００ｃｙｃｌｅ／ｍｍまでの空間周波数でのＭＴＦ値の平均値が６０％以上である場合にのみ、「適合」と判定する。それ以外の場合には、「不適合」と判定する。
【０１３８】
セーブテーブルボタン１８４が入力デバイスにて選択されると、記憶制御手段として機能する評価シーケンス生成手段は、スペシフィケーションテーブル１８２に表示している全ての規格を、モデルＩＤ表示ボックス１４２の駆動工具４の識別番号７０とともに、１つの規格ファイルとして記憶部材６６に記憶させる。ロードテーブルボタン１８３が入力デバイスにて選択されると、記憶制御手段として機能する評価シーケンス生成手段は、記憶部材６６に記憶されている規格ファイルをスペシフィケーションテーブル１８２に表示する。なお、記憶部材６６には、複数の規格ファイルを記憶させてもよい。この場合には、たとえば被検レンズ１のグレード毎に、別々の規格の判定が可能となる。このように、規格については、他のデータとは別のファイルとして保存することで、規格の使いまわしをすることができる。
【０１３９】
テストシーケンスタグボタン１１４が入力デバイスにて選択されると、評価シーケンス生成手段は、シーケンスリスト表示手段として機能して、図１２に示すように、入力部に検査シーケンス設定画面１９１を表示する。
【０１４０】
検査シーケンス設定画面１９１には、シーケンスステップのリストとしてのシーケンスリスト１９２と、エディットボタン１９３と、アップボタン１９４と、ダウンボタン１９５と、コピーボタン１９６と、デリートボタン１９７と、ロードボタン１９８と、セーブボタン１９９と、が表示されている。
【０１４１】
シーケンスリスト１９２は、評価シーケンス実行手段が実行する評価シーケンスの全てのシーケンスステップを表示するためのものである。シーケンスリスト１９２は、その左端列にシーケンスナンバーが表示され、各行が１つのシーケンスステップに対応している。なお、シーケンスナンバーは、自動的に生成される。
【０１４２】
各シーケンスステップには、被検レンズ１のズームやアイリスの設定と、検査象限の設定、すなわち、どの方向のチャートユニット２９，３０を使用するかの設定と、像高の設定と、露光回数の設定と、発光させるチャートユニット２９，３０の番号と、オートフォーカスの有無と、プレスキャンの有無と、フォーカスの固定の有無と、使用する規格の規格名と、が表示される。
【０１４３】
そして、いずれかのシーケンスステップを入力デバイスで選択した状態で、アップボタン１９４が操作されると、そのシーケンスステップは、１つ上に移動する。同様の状態で、ダウンボタン１９５が操作されると、そのシーケンスステップは、１つ下に移動する。コピーボタン１９６が操作されると、そのシーケンスステップの次に、同一の設定の新たなシーケンスステップが追加される。デリートボタン１９７が操作されると、そのシーケンスステップが削除される。これにより、後からシーケンスステップを追加したり、一部を削除したりすることができ、過去に作成したシーケンスを用いて効率よく新たなシーケンスを作成することができる。
【０１４４】
また、セーブボタン１９９が入力デバイスで操作されると、記憶制御手段として機能する評価シーケンス生成手段は、シーケンスリスト１９２に表示されている全てのシーケンスステップを、モデルＩＤ表示ボックス１４２の駆動工具４の識別番号７０とともに、シーケンスファイルとして記憶部材６６に保存する。なお、このシーケンスファイルには、他の画面において設定される設定内容も一緒に保存される。ロードボタン１９８が入力デバイスで操作されると、記憶制御手段として機能する評価シーケンス生成手段は、記憶部材６６に記憶されているシーケンスステップをシーケンスファイルから読み込んで、シーケンスリスト１９２に表示する。
【０１４５】
いずれかのシーケンスステップを入力デバイスで選択した状態で、エディットボタン１９３が操作されると、評価シーケンス生成手段は、選択手段および選択ボックス表示手段として機能して、図１３に示すように、シーケンスエディット画面２０１をモニタ８６に表示する。
【０１４６】
シーケンスエディット画面２０１内の中央には、イネーブルチェックボックス２０２と、評価規格選択ボックス２０３と、露光回数入力ボックス２０４と、チャートコントロールバー２０５と、象限選択ボックス２０６と、像高選択ボックス２０７と、リセットチェックボックス２０８と、制御コマンド選択ボックスとしてのズームポジション選択ボックス２０９と、制御コマンド選択ボックスとしてのアイリス選択ボックス２１０と、が表示されている。
【０１４７】
イネーブルチェックボックス２０２は、デフォルトでチェックが入っている。このイネーブルチェックボックス２０２にチェックが入っていない場合、評価シーケンス実行手段は、このシーケンスステップを飛ばして評価シーケンスを実行する。
【０１４８】
評価規格選択ボックス２０３には、スペシフィケーションテーブル１８２に表示される全ての規格名の中から選択された規格名が表示される。後述する判定手段は、選択された規格名の規格に基づいて、このシーケンスステップの判定をする。なお、評価規格選択ボックス２０３には、その右側のリスト表示ボタンが操作されると、規格選択手段として機能する評価シーケンス生成手段によって、スペシフィケーションテーブル１８２に表示される全ての規格名が候補リストとして表示される。また、候補リストが表示されている状態でいずれか１つの規格名を選択すると、候補リストが消えて、評価規格選択ボックス２０３には選択された規格名が表示される。
【０１４９】
露光回数入力ボックス２０４には、露光回数が入力される。後述する測定手段は、指定された回数だけＣＣＤカメラ４３の撮像画像を取得し、この露光回数分の撮像画像に基づいて測定結果を出力する。
【０１５０】
チャートコントロールバー２０５には、０から１２までの１３個の数値がある。したがって、１３個のチャートユニット２９，３０を点灯制御することができる。評価シーケンス実行手段は、スライダが合わされた数値に対応するチャートユニットへ点灯信号を出力する。これにより、設定されたチャートユニットが点灯する。なお、この実施の形態では、図２において、センターチャートユニット３０が０番、右上の内側の像高チャートユニット２９が１番、左上の内側の像高チャートユニット２９が２番、左下の内側の像高チャートユニット２９が３番、右下の内側の像高チャートユニット２９が４番、右上の外側の像高チャートユニット２９が５番、左上の外側の像高チャートユニット２９が６番、左下の外側の像高チャートユニット２９が７番、右下の外側の像高チャートユニット２９が８番に割り当てられている。
【０１５１】
象限選択ボックス２０６は、このシーケンスステップで測定する象限を選択する。センターは、中心である原点を意味し、１番が右上の第一象限を意味し、２番が左上の第二象限を意味し、３番が左下の第三象限を意味し、４番が右下の第四象限を意味する。像高選択ボックス２０７は、このシーケンスステップで発光させるチャートユニット２９，３０の像高が、被検レンズ１のイメージフォーマットでのパーセンテージとして入力される。これらの入力に基づいて、評価シーケンス実行手段は、駆動ユニット４４へ制御信号を出力する。これにより、顕微鏡４２およびＣＣＤカメラ４３は、ＣＣＤカメラ４３の受光面に、点灯したチャートユニットの像が形成される。
【０１５２】
リセットチェックボックス２０８にチェックが入ると、評価シーケンス実行手段は、駆動工具４へリセット制御コマンド用の制御ビット列を出力する。
【０１５３】
ズームポジション選択ボックス２０９にて、ズーム系の制御コマンドが選択されると、評価シーケンス実行手段は、駆動工具４へズームを制御する制御コマンド用の制御ビット列を出力する。なお、ズームポジション選択ボックス２０９には、その右側のリスト表示ボタンが操作されると、制御コマンド選択手段として機能する評価シーケンス生成手段によって、ズーム列の制御コマンド入力セル１４４ａに記述されている全ての制御コマンドが候補リストとして表示される。また、候補リストが表示されている状態でいずれか１つの制御コマンドを選択すると、候補リストが消えて、ズームポジション選択ボックス２０９には選択された制御コマンドが表示される。
【０１５４】
アイリス選択ボックス２１０にて、アイリス系の制御コマンドが選択されると、評価シーケンス実行手段は、駆動工具４へアイリスを制御する制御コマンド用の制御ビット列を出力する。なお、アイリス選択ボックス２１０には、その右側のリスト表示ボタンが操作されると、制御コマンド選択手段として機能する評価シーケンス生成手段によって、アイリス列の制御コマンド入力セル１４４ａに記述されている全ての制御コマンドが候補リストとして表示される。また、候補リストが表示されている状態でいずれか１つの制御コマンドを選択すると、候補リストが消えて、アイリス選択ボックス２１０には選択された制御コマンドが表示される。
【０１５５】
シーケンスエディット画面２０１内の右側には、オートフォーカスチェックボックス２１１と、プレスキャンチェックボックス２１２と、プレスキャンスピード入力ボックス２１３と、フォーカスポジション選択ボックス２１４と、レンズ／ＣＣＤ切替スイッチ２１５と、レンズスタート入力ボックス２１６と、レンズレンジ入力ボックス２１７と、レンズステップ入力ボックス２１８と、が表示されている。
【０１５６】
オートフォーカスチェックボックス２１１にチェックが入っていると、評価シーケンス実行手段は、オートフォーカス処理を行う。プレスキャンチェックボックス２１２にチェックが入っている場合には、プレスキャンスピード入力ボックス２１３に入力されているスピードで、オートフォーカス処理のプレスキャンを行う。これにより、オートフォーカスのレンジが大きい場合であっても、高速にオートフォーカス処理を行うことができる。
【０１５７】
フォーカスポジション選択ボックス２１４には、オートフォーカス処理の開始位置が入力される。評価シーケンス実行手段は、オートフォーカス処理開始時に、この指定された位置へ顕微鏡４２を移動させる。レンズ／ＣＣＤ切替スイッチ２１５においてレンズが選択されると、評価シーケンス実行手段は、駆動工具４へオートフォーカスのための制御コマンドを出力する。レンズ／ＣＣＤ切替スイッチ２１５においてＣＣＤが選択されると、評価シーケンス実行手段は、測定装置本体３へオートフォーカスのための制御コマンドを出力する。なお、レンズスタート入力ボックス２１６には、被検レンズ１でオートフォーカス処理を行う場合のスタート位置が入力され、レンズレンジ入力ボックス２１７には、被検レンズ１でオートフォーカス処理を行う場合の移動幅が入力され、レンズステップ入力ボックス２１８には、被検レンズ１でオートフォーカス処理を行う場合のスキャン間隔が入力される。
【０１５８】
シーケンスエディット画面２０１内の左側には、シーケンスナンバー表示ボックス２１９と、アップボタン２２０と、ダウンボタン２２１と、コピーボタン２２２と、デリートボタン２２３と、ＯＫボタン２２４と、キャンセルボタン２２５と、が表示されている。アップボタン２２０、ダウンボタン２２１、コピーボタン２２２、デリートボタン２２３は、シーケンスエディット画面２０１に表示するシーケンスステップを切り替えるためのボタンである。
【０１５９】
ＯＫボタン２２４が操作されると、評価シーケンス生成手段は、シーケンスエディット画面２０１を閉じるとともに、そのときにシーケンスエディット画面２０１に入力されている設定情報に基づいて、そのシーケンスステップの情報を更新する。キャンセルボタン２２５が操作されると、評価シーケンス生成手段は、シーケンスエディット画面２０１を閉じる。
【０１６０】
リザルトタグボタン１１５が入力デバイスにて選択されると、評価シーケンス生成手段は、図１４に示すように、入力部にリザルト画面２３１を表示する。
【０１６１】
リザルト画面２３１には、ヒストリテーブル２３２と、テストリザルトテーブル２３３と、セーブデータボタン２３４と、が表示されている。
【０１６２】
ヒストリテーブル２３２には、これまでに測定した複数の被検レンズ１のシリアルナンバー（シリアルナンバー入力ボックス１０６に入力された番号）と、判定結果とが表示される。
【０１６３】
テストリザルトテーブル２３３には、ヒストリテーブル２３２にて選択された被検レンズ１のシーケンスステップ毎の詳しい判定結果が表示される。具体的には、シーケンス番号と、ズームなどの被検レンズ１の設定、判定結果、などが、シーケンスステップ毎に表示される。
【０１６４】
セーブデータボタン２３４が入力デバイスで操作されると、記憶制御手段として機能する評価シーケンス生成手段は、ヒストリテーブル２３２に表示されている全ての被検レンズ１の判定結果を、判定結果ファイルとして記憶部材６６に記憶させる。
【０１６５】
このように、評価シーケンス生成手段は、初期表示手段がモニタ８６に表示させたメインウィンドウ画面１０１に対する操作に基づいて、評価シーケンスの各種設定を行う。そして、評価シーケンス生成手段は、記憶部材６６に、シーケンスファイルと、規格ファイルと、を記憶させる。このようにシーケンスファイルと、規格ファイルとを別々に記憶することで、過去に作成した規格やシーケンスを組み合わせて再利用することができるので、新たな被検レンズ１のシーケンスや規格を簡単に設定することができる。つまり、この実施の形態に係るレンズ評価システムは、拡張性や汎用性に優れている。
【０１６６】
次に、評価シーケンス実行手段について説明する。
【０１６７】
評価シーケンス実行手段は、シーケンスリスト１９２に表示される各シーケンスステップを、そのシーケンスナンバーの小さい順に順番に実行する。
【０１６８】
各シーケンスステップでは、評価シーケンス実行手段は、まず、初期設定処理を行う。初期設定処理では、コントローラ５４や駆動工具４に対して、選択された制御コマンドに対応する制御ビット列を出力する。これにより、被検レンズ１や顕微鏡４２が所望の位置に制御される。また、初期設定処理では、設定に応じて、オートフォーカス処理などを行う。たとえば、センターチャートユニット３０を用いて評価をするシーケンスステップにおいて、オートフォーカス処理を行う場合には、センターチャートユニット３０を点灯させた状態で駆動ユニット４４を所定の範囲で駆動し、その中で最適な画像が得られた位置に顕微鏡４２およびＣＣＤカメラ４３を設定する。これにより、被検レンズ１と、顕微鏡４２との相対位置が制御される。
【０１６９】
初期設定処理が終了すると、評価シーケンス実行手段は、中央処理装置８２に、測定プログラム９２を実行させる。これにより、測定手段が実現される。測定手段は、チャートコントロールバー２０５で選択されたチャートユニットを点灯させ、その点灯しているときのＣＣＤカメラ４３の撮像画像を取得する。そして、その撮像画像に基づいて、チャートの白黒のエッジを含む一次元の輝度分布データを生成する。
【０１７０】
一次元の輝度分布データが生成されると、評価シーケンス実行手段は、中央処理装置８２に、ＭＴＦ演算プログラム９３およびＰＴＦ演算プログラム９４を実行させる。これにより、ＭＴＦ演算手段と、ＰＴＦ演算手段とが実現される。
【０１７１】
ＭＴＦ演算手段は、一次元の輝度分布データを微分する。チャートの白黒のエッジはステップ関数とみなすことができる。したがって、チャートの白黒のエッジを含む一次元の輝度分布データを微分することで、インパルス応答データを得ることができる。ステップ関数と、インパルス関数とは、図１５に示すように、互いに微分積分の関係にある。また、ステップ関数に基づくステップ応答を微分すると、インパルス関数に基づくインパルス応答を得ることができる。
【０１７２】
続けて、ＭＴＦ演算手段は、インパルス応答データをフーリエ変化して、このインパルス応答に含まれる各空間周波数の波形成分の振幅を演算する。ＭＴＦ演算手段は、各波形成分の振幅を、周波数０の波形成分の振幅で正規化し、それぞれの空間周波数でのＭＴＦ値を演算する。
【０１７３】
ＰＴＦ演算手段は、同様に一次元の輝度分布データからインパルス応答データを生成し、そのインパルス応答データに基づいて、各空間周波数の波形成分のピーク位置を特定する。そして、その各空間周波数の波形成分のピーク位置が、周波数０の波形成分のピーク位置から、どの程度離れているかに基づいて、ピーク間距離を演算する。さらに、そのピーク間距離が、その空間周波数においてどの程度の位相差となるのかを演算する。なお、ピーク間距離ではなく、ゼロクロス間距離であってもよい。
【０１７４】
なお、これらＭＴＦ演算手段およびＰＴＦ演算手段は、少なくともグラフ表示部１０５に表示される、最大の空間周波数まで演算すればよい。ただし、この実施の形態では、システムにおいて予め定められた空間周波数まで一律に演算する。他にもたとえば、ＭＴＦ値が、予め定めたパーセント値以下になったら演算を終了するようにしてもよい。
【０１７５】
ＭＴＦ値およびＰＴＦ値が生成されると、評価シーケンス実行手段は、これらをグラフ表示部１０５に表示する。また、評価シーケンス実行手段は、中央処理装置８２に、判定プログラム９５を実行させる。これにより、判定手段が実現される。
【０１７６】
判定手段は、測定されたＭＴＦ値やＰＴＦ値を、評価規格選択ボックス２０３で選択されている規格名に基づいて、判定する。判定結果は、判定結果表示部１０７に表示される。
【０１７７】
評価シーケンス実行手段は、以上の処理を各シーケンスステップ毎に実行し、全てのシーケンスステップが終了した場合には、終了処理を実行する。そして、指定された規格の全ての項目をクリアしている場合には、評価シーケンス実行手段は、適合と判定して判定結果表示部１０７に「適合」と表示するとともに、この判定結果をヒストリテーブル２３２およびテストリザルトテーブル２３３へ追加する。逆に、１つでもクリアしていない項目がある場合には、評価シーケンス実行手段は、不適合と判定して判定結果表示部１０７に「不適合」と表示するとともに、この判定結果をヒストリテーブル２３２およびテストリザルトテーブル２３３へ追加する。
【０１７８】
ここで、測定手段が、ＣＣＤカメラ４３の撮像画像に基づいて、一次元の輝度分布データを生成するまでの処理について詳しく説明する。
【０１７９】
図１６（Ａ）は、ＣＣＤカメラ４３の撮像画像２４１の一例を示す図である。このＣＣＤカメラ４３の撮像画像２４１では、チャートの正方形の白色部分２４２は、撮像画像２４１の水平方向と垂直方向とに対して斜めに傾いている。
【０１８０】
測定手段は、まず、このカメラの撮像画像２４１に撮像されている正方形の白色部分２４２の一辺の長さを演算する。この長さに含まれる受光素子の個数をａとする。そして、測定手段は、図１６（Ｂ）に示すように、白色部分２４２の中心２４３から長辺ａ、短辺ａ／３の長方形の切出領域２４４を特定し、その切出領域２４４に含まれる全ての受光素子の輝度データを抽出する。以下、この受光素子の個数は、便宜上ａ×ａ／３個とする。なお、実際には、一定の面積の長方形の切出領域２４４に含まれる受光素子の個数は、その切り出しアルゴリズムにもよるが、受光素子の配列方向に対する切出領域２４４の角度が変わると、少しだけ増減する。また、この長方形の切出領域２４４は、白色部分２４２と同じ傾きとする。これにより、抽出する長方形の切出領域２４４には、必ず白色部２４２分と黒色部分２４５との境であるエッジ２４６が含まれ、且つ、このエッジ２４６は、長方形の切出領域２４４の長辺と垂直な関係となる。
【０１８１】
なお、チャートの白色部分は、ＣＣＤカメラ４３の撮像画像において、切出領域２４４が長方形に確保できる小ささに形成するとよい。
【０１８２】
次に、測定手段は、図１６（Ｃ）に示すように、抽出した全ての輝度データを一次元に配列し、その輝度値の大きさ順に降順あるいは昇順に並べ替える。
【０１８３】
最後に、測定手段は、並べ替えられた「ａ×ａ／３」個の輝度データを、ａ／３個毎に１つ抽出し、図１６（Ｄ）に示すように、ａ個の輝度データからなる一次元の輝度分布データを生成する。なお、ａ／３個の輝度データから１つの輝度データを生成する間引き処理は、ａ／３個毎に１つ抽出する方法以外に、ａ／３個の輝度データの平均値を求めても、中間値を選択してもよい。
【０１８４】
このように、ＣＣＤカメラ４３の撮像画像２４１から、正方形の白色部分２４２と同様の傾きで長方形の切出領域２４４の輝度データを抽出し、それをａ／３個に１つ抽出することで間引いているので、一次元の輝度分布データの各輝度データはそれぞれ、基本的に、撮像画像２４１においてエッジ２４６の方向に沿って並んでいる複数の受光素子、上述した例ではａ／３個の受光素子の輝度データの平均値（中間値）となる。したがって、受光素子に若干の特性ばらつきがあったとしても、あるいは、いずれかの受光素子の輝度データにノイズ成分が含まれていたとしても、その影響を効果的に抑制して、正確な一次元の輝度分布データを得ることができる。この一次元の輝度分布データが先に示したステップ応答の出力に相当するものである。
【０１８５】
以上のように、この実施の形態に係るレンズ評価システムを使用することで、ＣＣＤカメラ４３で、被検レンズ１によるチャートの像を撮像し、その撮像画像に基づいてＭＴＦ値あるいはＰＴＦ値を演算することができる。これにより、評価対象物を制御しながら各種の測定と評価とを短時間で実施することができる評価シーケンスを生成することができる。
【０１８６】
しかも、この構成では、チャートのエッジに基づいてＭＴＦ値あるいはＰＴＦ値を演算しているので、スリットを用いた場合に比べて、チャートの明るい部分と暗い部分との輝度差を確保することができる。その結果、周囲が明るくとも、チャートを撮像し、ＭＴＦ値あるいはＰＴＦ値を演算することができる。加えて、光源３２を用いてチャートの白い部分を明るくしているため、チャートの明暗の輝度差をさらに向上させることができ、周囲が通常の室内のように明るい場合であっても、暗い場合と同等のＭＴＦ値やＰＴＦ値を確実に演算することができる。
【０１８７】
それゆえ、被検レンズ１を評価する作業者は、この実施の形態に係るレンズ評価システムを使用することで、被検レンズ１を制御しながら測定し、評価する評価シーケンスを効率よく正確に生成することができる。
【０１８８】
この実施の形態では、制御コマンド入力セル１４４ａにおいて、制御ビット列に対応する各制御コマンドを定義し、且つ、評価規格入力セル１８２ａにおいて、評価項目とともに規格名を入力した後に、評価シーケンスを作成することになる。
【０１８９】
したがって、評価シーケンスのシーケンスステップ毎に、制御コマンドや評価項目を、１から記述する必要がなくなる。また、制御コマンドや規格名を予め定義させ、各シーケンスステップでは、その定義された制御コマンドや規格名の中から選択するだけである。さらに、各シーケンスステップでは、制御コマンドや規格名を１つずつしか選択できないので、シーケンスステップのリストには、評価対象物の制御の流れと、評価のタイミングや順番が確実に表現されることになる。その結果、制御コマンドや規格名を各シーケンスステップ毎に繰り返して記述する場合に起こりやすい入力ミスなどを抑制して、効率よく正確な評価シーケンスを生成することができる。
【０１９０】
この実施の形態では、評価規格入力セル１８２ａおよびシーケンスリスト１９２の入力情報と、シーケンスステップ毎にズームポジション選択ボックス２０９、アイリス選択ボックス２１０および評価規格選択ボックス２０３において選択された制御コマンドおよび規格名とを、コンピュータ５の記憶部材８４に記憶させ、その後にこれを読み込んで再利用することができる。
【０１９１】
また、評価シーケンス実行手段などは、制御コマンド入力セル１４４ａ、評価規格入力セル１８２ａ、シーケンスリスト１９２、ズームポジション選択ボックス２０９、アイリス選択ボックス２１０および評価規格選択ボックス２０３の情報に基づいて、評価シーケンスを実行するので、これらに記憶部材８４に記憶されている情報を読み込むだけで、評価シーケンスを生成して実行することができる。
【０１９２】
しかも、評価シーケンス生成手段は、評価規格入力セル２０３の入力情報と、その他の情報とを規格ファイルとシーケンスファイルとに分けて記憶させるので、評価規格入力セル２０３の入力情報は、他の被検レンズ１においても汎用的に利用することができる。その結果、入力ミスを抑制して、効率よく正確な評価シーケンスを生成することができる。
【０１９３】
この実施の形態では、評価シーケンス生成手段が駆動工具４から識別番号７０を読み込んで、自動的に、記憶部材８４に記憶されている適切な情報を、制御コマンド入力セル１４４ａ、評価規格入力セル１８２ａ、シーケンスリスト１９２、ズームポジション選択ボックス２０９、アイリス選択ボックス２１０および評価規格選択ボックス２０３に読み込む。したがって、記憶部材８４に複数のシーケンスファイルが記憶されている場合であっても、駆動工具４を接続するだけで、適切なシーケンスファイルを読み込んで効率よく被検レンズ１を評価することができる。
【０１９４】
この実施の形態では、被検レンズ１毎に、判定結果を保存することができる。したがって、後から、シリアルナンバーに基づいて１つ１つの被検レンズ１の評価内容を確認することができる。
【０１９５】
なお、上述の実施の形態は、本発明の好適な実施の形態の例であるが、本発明は、これに限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、種々の変形、変更が可能である。
【０１９６】
上記実施の形態では、評価シーケンス実行手段、測定手段、ＭＴＦ演算手段、ＰＴＦ演算手段および判定手段で構成される生成手段は、テストモードボタン１０２が操作されたときに、評価シーケンスを逐次実行している。この他にもたとえば、生成手段は、評価シーケンスを生成し、他の実行手段においてこの評価シーケンスを実行させるようにしてもよい。
【０１９７】
また、上述の実施の形態では、評価対象物をデジタルカメラ、ビデオカメラ等の各種カメラに組み込まれるレンズとしたが、双眼鏡、顕微鏡、その他の光学機器に用いられるレンズとしたり、プリズムとしたり、反射鏡などとしてもよい。さらには、光学製品以外の製品、たとえば、樹脂成形品を評価対象物としてよい。
【０１９８】
評価対象物をレンズ以外とする場合は、測定対象としては、ＭＴＦ値やＰＴＦ値ではなく、透過率、反射率、屈折率、さらには重量、形状歪などの測定値であってもよい。
【０１９９】
【発明の効果】
本発明では、評価対象物を制御しながら各種の測定と評価とを短時間で実施することができる。しかも、評価対象物を制御しながら測定し、評価する評価シーケンスを効率よく正確に生成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は、本発明の実施の形態に係るレンズ評価システムを示すシステム構成図である。
【図２】図１のレンズ評価システム中のチャート装置を示す図で、（Ａ）は、チャート装置の正面図で、（Ｂ）は、チャート装置の背面図である。
【図３】図２のチャート装置に組み込まれているチャートユニットを示す図で、（Ａ）は、チャートユニットの斜視図で、（Ｂ）は、チャートユニットの断面図である。
【図４】図１中の測定装置本体の分解図である。
【図５】図１中の駆動工具の内部構成を示すブロック図である。
【図６】図１中の駆動工具とコンピュータとの間で送受信される制御信号の信号フォーマットである。
【図７】図１中のコンピュータの内部構造を示すブロック図である。
【図８】図７に示すコンピュータのモニタに表示されるメインウィンドウ画面の一例を示す図である。
【図９】図７に示すコンピュータのメインウィンドウ画面内に表示される被検レンズの機種別設定画面の一例を示す図である。
【図１０】図７に示すコンピュータのモニタに表示されるチャートウィザード画面の一例を示す図である。
【図１１】図７に示すコンピュータのメインウィンドウ画面内に表示される規格設定画面の一例を示す図である。
【図１２】図７に示すコンピュータのメインウィンドウ画面内に表示される検査シーケンス設定画面の一例を示す図である。
【図１３】図７に示すコンピュータのメインウィンドウ画面内に表示されるシーケンスエディット画面の一例を示す図である。
【図１４】図７に示すコンピュータのメインウィンドウ画面内に表示されるリザルト画面の一例を示す図である。
【図１５】ステップ関数と、インパルス関数との関係を説明するための説明図である。
【図１６】図１のレンズ評価システムにおいて輝度分布データ（ステップ応答）を得るための処理方法を説明するための図で、（Ａ）は、ＣＣＤカメラの撮像画像（チャート）と切出領域との関係を示す説明図で、（Ｂ）は、切出領域の一例を示す説明図で、（Ｃ）は、輝度値の大きさ順に並べ替え処理がされたデータで、（Ｄ）は、間引きされた後の一次元の輝度分布データを示す説明図である。
【符号の説明】
１ 被検レンズ（評価対象物）
４ 駆動工具
５ コンピュータ
８１ Ｉ／Ｏポート
８２ 中央処理装置（制御コマンド入力セル表示手段の一部、評価規格入力セル表示手段の一部、選択手段の一部、生成手段の一部、シーケンスリスト表示手段の一部、選択ボックス表示手段の一部、制御コマンド選択手段の一部、規格選択手段の一部、記憶制御手段の一部、識別情報読込手段の一部、シリアルナンバー入力ボックス表示手段の一部）
８４ 記憶部材
８６ モニタ（表示デバイス）
８７ キーボード（入力デバイス）
８８ ポインティングデバイス（入力デバイス）
８９ 初期表示プログラム（シリアルナンバー入力ボックス表示手段の一部）
９０ 評価シーケンス生成プログラム（制御コマンド入力セル表示手段の一部、評価規格入力セル表示手段の一部、選択手段の一部、シーケンスリスト表示手段の一部、選択ボックス表示手段の一部、制御コマンド選択手段の一部、規格選択手段の一部、記憶制御手段の一部、識別情報読込手段の一部）
９１ 評価シーケンス実行プログラム（生成手段の一部）
９２ 測定プログラム（生成手段の一部）
９３ ＭＴＦ測定プログラム（生成手段の一部）
９４ ＰＴＦ測定プログラム（生成手段の一部）
９５ 判定プログラム（生成手段の一部）
１０６ シリアルナンバー入力ボックス
１４４ａ 制御コマンド入力セル
１８２ａ 評価規格入力セル
１９２ シーケンスリスト（シーケンスステップのリスト）
１９３ エディットボタン
２０３ 評価規格選択ボックス
２０９ ズームポジション選択ボックス（制御コマンド選択ボックス）
２１０ アイリス選択ボックス（制御コマンド選択ボックス）
Claims (7)
- 評価対象物を制御して測定を行って、その測定結果に基づいて上記評価対象物を評価するための評価シーケンスを生成する方法であって、
上記評価対象物を制御する制御ビット列が予め対応付けられ且つ制御コマンドとしての文字列が入力される制御コマンド入力セルを表示するステップと、
上記測定結果を評価する評価項目と規格名とが入力される評価規格入力セルを表示するステップと、
上記評価シーケンスのシーケンスステップ毎に、上記制御コマンド入力セルに入力されている制御コマンドおよび上記評価規格入力セルに入力されている規格名を選択させるステップと、
上記各シーケンスステップにおいて、上記選択された制御コマンドに対応する制御ビット列で上記評価対象物を制御して測定を行うとともに、その測定結果を上記選択された規格名に対応する評価項目で評価する上記評価シーケンスを実行あるいは生成するステップと、を備えることを特徴とする評価シーケンスの生成方法。 - 入力デバイスおよび表示デバイスを備えるコンピュータに、評価対象物を制御して測定を行って、その測定結果に基づいて上記評価対象物を評価するための評価シーケンスを生成する手段を実現するプログラムであって、
上記評価対象物を制御する制御ビット列が予め対応付けられ且つ上記入力デバイスによって制御コマンドとしての文字列が入力される制御コマンド入力セルを上記表示デバイスに表示する制御コマンド入力セル表示手段と、
上記入力デバイスによって上記測定結果を評価する評価項目と規格名とが入力される評価規格入力セルを上記表示デバイスに表示する評価規格入力セル表示手段と、
上記入力デバイスによって、上記評価シーケンスのシーケンスステップ毎に、上記制御コマンド入力セルに入力されている制御コマンドおよび上記評価規格入力セルに入力されている規格名を選択させる選択手段と、
上記各シーケンスステップにおいて、上記選択された制御コマンドに対応する制御ビット列で上記評価対象物を制御して測定を行うとともに、その測定結果を上記選択された規格名に対応する評価項目で評価する上記評価シーケンスを実行あるいは生成する生成手段と、
をコンピュータに実現させることを特徴とする評価シーケンスの生成プログラム。 - 入力デバイスおよび表示デバイスを備えるコンピュータに、評価対象物を制御して測定を行って、その測定結果に基づいて上記評価対象物を評価するための評価シーケンスを生成する手段を実現するプログラムであって、
上記評価対象物を制御する制御ビット列が予め対応付けられ且つ上記入力デバイスによって制御コマンドとしての文字列が入力される制御コマンド入力セルを上記表示デバイスに表示する制御コマンド入力セル表示手段と、
上記入力デバイスによって上記測定結果を評価する評価項目と規格名とが入力される評価規格入力セルを上記表示デバイスに表示する評価規格入力セル表示手段と、
上記表示デバイスに、上記評価シーケンスを構成するシーケンスステップのリストおよびエディットボタンを表示するシーケンスリスト表示手段と、
上記シーケンスステップのリストにおいていずれかのシーケンスステップが選択された状態で上記入力デバイスによって上記エディットボタンが操作された場合に、制御コマンド選択ボックスおよび評価規格選択ボックスを、上記表示デバイスに表示する選択ボックス表示手段と、
上記入力デバイスによって上記制御コマンド選択ボックスが操作された場合に、上記制御コマンド入力セルに入力されている前記制御コマンドを表示し、１つの制御コマンドを選択させる制御コマンド選択手段と、
上記規格選択ボックスが操作された場合に、上記評価規格入力セルに入力されている前記規格名を表示し、１つの規格名を選択させる規格選択手段と、
上記各シーケンスステップにおいて、上記選択された制御コマンドに対応する制御ビット列で上記評価対象物を制御して測定を行うとともに、その測定結果を上記選択された規格名に対応する評価項目で評価する上記評価シーケンスを実行あるいは生成する生成手段と、
をコンピュータに実現させることを特徴とする評価シーケンスの生成プログラム。 - 前記制御コマンド入力セル、前記評価規格入力セルおよび前記シーケンスステップのリストの入力情報と、前記シーケンスステップ毎に制御コマンド選択ボックスおよび評価規格選択ボックスにおいて選択された制御コマンドおよび規格名とを、前記コンピュータの記憶部材に記憶させる記憶制御手段を前記コンピュータに実現させるとともに、
上記記憶制御手段は、少なくとも前記評価規格入力セルの入力情報と、その他の情報とを別々のファイルとして記憶させ、
前記生成手段は、前記制御コマンド入力セル、前記評価規格入力セル、前記シーケンスステップのリスト、並びに、前記シーケンスステップ毎の制御コマンド選択ボックスおよび評価規格選択ボックスの情報に基づいて、前記評価シーケンスを実行することを特徴とする請求項３記載の評価シーケンスの生成プログラム。 - 前記評価対象物毎に設けられて前記評価対象物を制御する駆動工具から、少なくとも前記評価対象物毎に異なる識別情報を読み込む識別情報読込手段を前記コンピュータに実現させるとともに、
前記記憶制御手段は、上記識別情報とともに、前記制御コマンド入力セル、前記評価規格入力セルおよび前記シーケンスステップのリストの入力情報と、前記シーケンスステップ毎に制御コマンド選択ボックスおよび評価規格選択ボックスにおいて選択された制御コマンドおよび規格名とを、前記記憶部材に記憶させ、さらに、
前記記憶制御手段は、上記識別情報読込手段が読み込んだ上記識別情報が記憶部材に記憶されている場合には、その識別情報に対応する情報を、前記制御コマンド入力セル、前記評価規格入力セル、前記シーケンスステップのリスト、前記シーケンスステップ毎の制御コマンド選択ボックスおよび評価規格選択ボックスに自動的に読み込むことを特徴とする請求項４記載の評価シーケンスの生成プログラム。 - 評価対象物に固有の番号などの文字列を入力するシリアルナンバー入力ボックスを表示するシリアルナンバー入力ボックス表示手段を前記コンピュータに実現させるとともに、
前記記憶制御手段は、上記シリアルナンバー入力ボックスに入力された文字列と判定結果とを対応付けて記憶部材に記憶させることを特徴とする請求項３から５の中のいずれか１項記載の評価シーケンスの生成プログラム。 - 請求項２から６の中のいずれか１項記載の評価シーケンスの生成プログラムを記憶する記憶部材と、
Ｉ／Ｏポートと、
Ｉ／Ｏポートに接続される駆動工具と、
入力デバイスと、
表示デバイスと、
上記評価シーケンスの生成プログラムを実行する中央処理装置と、を備え、
上記評価シーケンスの生成プログラムによって実現される生成手段は、Ｉ／Ｏポートを介して駆動工具へ制御コマンドに対応するビット列を出力することを特徴とする評価システム。
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| JP2007322328A (ja) * | 2006-06-02 | 2007-12-13 | Fujinon Corp | レンズ測定装置 |
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