JP2004071930A - Electric component and manufacturing method therefor - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electric component which can adequately be mounted and is reducible in probability of cracking while suppressing a rise in manufacturing cost. <P>SOLUTION: The electric component has a plurality of glass layers 4 to 6 which are stacked on a conductor 3 provided on a substrate 1 to cover the conductor 3 and also has a glass-made mark 7 formed on the top surface of the top glass layer 6; and a recessed part 51 is formed on the top surface of the glass layer 5 which is at least the 2nd layer from the top in the area right below the mark 7 and the top glass layer 6 sinks in the recessed part 51. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本願発明は、導電体を複数のガラス層で覆った構造を有する、たとえばチップ型抵抗器のような電気部品およびその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
図9は、従来の電気部品の一例であるチップ型抵抗器を示したものである。回路基板への実装密度の向上や電気特性の向上を目的として、多くの電気部品がこのようなチップ型のものに置き換えられている。
【0003】
図示されたチップ型抵抗器100は、基板101上に一対の電極102と導通した抵抗被膜103が設けられた構成を有している。この抵抗被膜103上には、アンダコートガラス層104、ミドルコートガラス層105、およびオーバコートガラス層106が積み重ねて形成されており、オーバコートガラス層106の表面にはガラス製の標印107が形成されている。
【0004】
上記した3つのガラス層104〜106および標印107は、ガラスのペーストの印刷、焼成により形成されるものであり、最後に形成される標印107は、オーバコートガラス層106の表面から突出している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
上記従来の電気部品においては、次のような問題があった。
【0006】
すなわち、従来においては、上述したように、標印107がオーバコートガラス層106の表面から突出しているため、たとえば吸着コレットを使用して回路基板にチップ型抵抗器100を実装する場合に、標印107が吸着の邪魔となり、チップ型抵抗器100を吸着することが困難となったり、あるいはチップ型抵抗器100が傾いた姿勢で吸着される場合があった。また、チップ型抵抗器100の上面に吸着コレットを吸着させる際に、この吸着コレットが標印107に接触し易く、この接触に起因して、標印107やオーバコートガラス層106等にクラックが入る場合もあった。
【0007】
このように、従来においては、吸着コレットによる吸着が困難となって実装作業に支障を生じたり、クラックが発生し易くなるといった問題があった。このような問題を解消するための手段としては、標印107およびオーバコートガラス層106上にクリアガラス層を形成することが考えられる。ところが、このような手段では、作業工程数が増えるため、製造コストが高価となる不具合が生じる。
【0008】
本願発明は、このような事情のもとで考え出されたものであって、製造コストの上昇を抑制しつつ、実装作業を適切に行なうことができ、クラックが発生する虞も小さくすることが可能な電気部品を提供することをその課題としている。また、本願発明は、そのような電気部品を好適に製造することができる電気部品の製造方法を提供することを他の課題としている。
【0009】
【発明の開示】
上記の課題を解決するために、本願発明では、次の技術的手段を講じている。
【0010】
本願発明の第1の側面によって提供される電気部品は、基板上に設けられた導電体を覆うように、この導電体上に積み重ねて形成された複数のガラス層を有しており、かつ最上のガラス層の表面にはガラス製の標印が形成されている電気部品であって、上記標印の直下領域において、少なくとも上から2層目のガラス層の表面には凹部が形成されており、この凹部に上記最上のガラス層が沈み込んでいることを特徴としている。
【0011】
このような構成によれば、上記標印の直下領域において、上記最上のガラス層が上記凹部に沈み込んでいるため、上記最上のガラス層の表面からの上記標印の突出量は、従来技術よりも小さくなり、上記電気部品の上面は、従来技術よりも平滑化される。そのため、たとえば吸着コレットを使用して回路基板に実装作業を行なう場合には、吸着コレットによって上記電気部品を適切に吸着保持することができ、的確な実装作業を行なうことが可能となる。また、上記標印の突出量が小さいため、吸着コレットと上記標印とが接触し難くなり、上記標印や上記最上のガラス層等にクラックが入る虞も小さくすることが可能となる。
【0012】
本願発明の好ましい実施の形態においては、上記複数のガラス層のうち、上記最上のガラス層を除くガラス層において、少なくとも1つのガラス層の軟化点が、上記最上のガラス層の軟化点よりも低くされている。
【0013】
このような構成によれば、この電気部品の製造過程において、上記最上のガラス層および上記標印を焼成しようとして加熱した場合に、その焼成固化がなされる前には、上記最上のガラス層および上記標印は軟化するが、上記軟化点が低くされているガラス層は、それらよりもさらに軟化し、流動性をもつようになる。上記標印の直下領域においては、上記標印の重さによる力が下向きにかかっているため、流動性をもつように軟化したガラス層は、このような力によって陥没し、その表面に凹部を形成する。すると、この凹部よりも上方にあるガラス層が順次沈み込んでいくこととなる。このことにより、上記標印は、上記最上のガラス層の表面に形成された凹部に沈み込んだような状態となり、本願発明が意図する電気部品の構造が得られる。
【0014】
本願発明の第2の側面によって提供される電気部品の製造方法は、基板上に設けられた導電体を覆うように、この導電体上に複数のガラス層を積み重ねて形成する工程と、最上のガラス層の表面にガラス製の標印を形成する工程と、上記複数のガラス層および上記標印を焼成する工程と、を有する電気部品の製造方法であって、上記複数のガラス層を積み重ねる工程においては、上記最上のガラス層よりも下層の少なくとも1つのガラス層を、上記最上のガラス層よりも軟化点の低いガラスを用いて形成する工程を有することを特徴としている。
【0015】
このような製造方法によれば、従来技術よりも工程数を増加させることなく、つまり、製造コストの上昇を抑制しつつ、本願発明の第1の側面によって提供される電気部品を適切に、かつ簡易に製造することができる。
【0016】
本願発明のその他の特徴および利点については、以下に行う発明の実施の形態の説明から、より明らかになるであろう。
【0017】
【発明の実施の形態】
以下、本願発明の好ましい実施の形態について、図面を参照しつつ具体的に説明する。
【0018】
図1は、本願発明に係る電気部品の一例を示している。本実施形態は、本発明をチップ型抵抗器Xに適用したものである。図示されているように、セラミック製の基板1上には、互いに導通している電極被膜2および抵抗被膜3が形成されており、抵抗被膜3を覆うようにして、アンダコートガラス層4、ミドルコートガラス層5、およびオーバコートガラス層6が順次積層されている。オーバコートガラス層6の表面には、ガラス製の標印7が埋め込まれるようにして形成されている。また、基板1の側縁面ないし側縁面近傍の裏面には、電極被膜2と導通している電極部8が形成されている。
【0019】
アンダコートガラス層4は、抵抗被膜3を保護するとともに、チップ型抵抗器Xの製造過程において、レーザトリミングを適切に行なうのに役立っている。つまり、抵抗被膜3に対してレーザトリミングを行なう場合、レーザ光による熱で飛散する抵抗被膜材料がすでになされたトリミング部分に再付着することをアンダコートガラス層4によって抑制し、目標抵抗値を容易に得ることができるようになる。本実施形態においては、アンダコートガラス層4の裏面の大部分は、抵抗被膜3の表面と当接しており、アンダコートガラス層4の表面は、標印7の直下領域において凹部41を有しており、それ以外の部分は略平滑状となっている。
【0020】
ミドルコートガラス層5およびオーバコートガラス層6は、抵抗被膜3を適正に保護するために設けられたものである。標印7の直下領域において、ミドルコートガラス層5の裏面部分は、凹部41内に入り込んでおり、ミドルコートガラス層5の表面には、凹部51が形成されている。この凹部51を除くミドルコートガラス層5の表面は、略平滑状となっている。オーバコートガラス層6についてもミドルコートガラス層5と同様であり、オーバコートガラス層6の裏面部分は凹部51内に入り込んでいる。オーバコートガラス層6の表面は、凹部61と平面部62とを有している。標印7は、チップ型抵抗器Xの製造番号などを示すものであって、凹部61に埋め込まれたような状態となっており、その表面は、平面部62と略同一の高さとなっている。なお、凹部41,51,61が形成される作用については後述する。
【0021】
次に、上記したチップ型抵抗器Xの製造方法の一例について説明する。
【0022】
チップ型抵抗器Xを製造するにあたり、図2に示されているようなセラミック製の集合基板10を用いる。集合基板10の表面には、適当な幅および深さを有する複数ずつの横スリット10aおよび縦スリット10bが一定間隔で形成されている。横スリット10aおよび縦スリット10bによって囲まれた長矩形状の領域が、1つのチップ型抵抗器Xの基板1となる単位領域Aである。
【0023】
まず、このような集合基板10に対して、図3に示されているように、複数の電極被膜2を形成する。各電極被膜2は、ペースト状の電極材料を各単位領域Aの両端部に印刷し、その後焼成することにより形成される。続いて、複数の抵抗被膜3を各電極被膜2間に形成する。各抵抗被膜3も、各電極被膜2と同様に、ペースト状の抵抗材料を印刷し、その後焼成することにより形成される。
【0024】
次に、図4に示されているように、各抵抗被膜3を覆うようにして、複数のアンダコートガラス層4を形成する。アンダコートガラス層4は、ミドルコートガラス層5、オーバコートガラス層6、および標印7よりも、たとえば鉛の配合量を多くするなどして、軟化点が低くされている。本実施形態において、アンダコートガラス層4の軟化点は、約400℃である。各アンダコートガラス層4は、このようなガラスのペーストを、その表面が略平滑状となるように各抵抗被膜3上に印刷し、その後焼成することにより形成される。
【0025】
次に、各抵抗被膜3に対して、たとえばレーザトリミングを行なう。各電極被膜2に測定プローブをあてて抵抗値を測定しつつ、レーザ光を各アンダコートガラス層4の上から各抵抗被膜3に照射し、各抵抗被膜3に溝(図示略)を入れていくことにより、目標抵抗値を得ることができる。
【0026】
次に、図5および図6に示されているように、各アンダコートガラス層4上に、未焼成である複数のミドルコートガラス層5およびオーバコートガラス層6を形成する。これらの材質は、上述したように、アンダコートガラス層4よりも軟化点が高いものであり、たとえばいずれもその軟化点が約480℃のものである。これらのガラス層5,6の形成は、ガラスのペーストを印刷し、その後乾燥させることにより行われる。上記した乾燥は、たとえば150〜200℃程度で行われる。
【0027】
このように、アンダコートガラス層4上にミドルコートガラス層5およびオーバコートガラス層6を積層すると、次に述べるように、アンダコートガラス層4上にオーバコートガラス層6のみを積層した場合と比較して、オーバコートガラス層6の表面を平滑状に形成することが可能となる。つまり、チップ型抵抗器Xにおいては、ガラスコートによる十分な保護が必要である。そのため、抵抗被膜3上には必要かつ十分な厚さを有するガラス層を形成しなければならない。しかし、一度に多量のガラスのペーストを印刷すると、表面張力によりガラスの表面は凸曲面状になり易い。これに対し、本実施形態のように、アンダコートガラス層4上にミドルコートガラス層5およびオーバコートガラス層6の2層を積層する構造とすれば、それぞれのガラス層を薄状に印刷し、その表面を平滑状にすることができるとともに、全体として十分な厚みを確保することができる。
【0028】
次に、図7に示されているように、各オーバコートガラス層6の表面に、未焼成である複数の標印7を形成する。各標印7は、顔料を含むガラス製であり、その軟化点は、各ミドルコートガラス層5および各オーバコートガラス層6と同様に、たとえば約480℃である。
【0029】
次に、各縦スリット10bに沿って集合基板10を分割し、図8に示されているように、未焼成である複数の電極部8を形成する。各電極部8は、分割によって得られた各基板棒状片10′に、ペースト状の電極材料を印刷し、その後乾燥させることによって形成される。
【0030】
次に、各ミドルコートガラス層5、各オーバコートガラス層6、および各標印7を焼成する。この際、各電極部8も同時に焼成する。焼成は、たとえば約600℃で行われる。このことにより、軟化点が約400℃に設定されている各アンダコートガラス層4は、軟化して流動性をもち、軟化点が約480℃に設定されている各ミドルコートガラス層5、各オーバコートガラス層6、および各標印7は、大きく型くずれをしない程度に軟化する。すると、各標印7の直下領域においては、各標印7の重さによる力が下向きにかかっているため、この力によって、各アンダコートガラス層4は陥没する。この陥没により、図1に示されているチップ型抵抗器Xのように、各アンダコートガラス層4の表面には凹部41が形成され、各凹部41に、各ミドルコートガラス層5が沈み込む。その後逐次的に、各オーバコートガラス層6と、各標印7とが沈み込んでいくこととなる。
【0031】
より詳しくは、各ミドルコートガラス層5が各凹部41に沈み込むことによって、各ミドルコートガラス層5の表面にも凹部51が形成される。各凹部51が形成されるのと同時に、各オーバコートガラス層6が各凹部51に沈み込んでいき、その表面には凹部61が形成される。このことにより、各標印7は各凹部61に埋め込まれたような状態となる。つまり、各標印7の表面が、各オーバコートガラス層6の表面と略同一の高さとなる。このような状態において、各ミドルコートガラス層5、各オーバコートガラス層6、および各標印7は固化される。
【0032】
最後に、各基板棒状片10′を各横スリット10aに沿って分割する。このような一連の作業により、図1に示されているようなチップ型抵抗器Xの製造を完了することができる。
【0033】
上述した製造方法によれば、標印7をその直下領域のガラス層とともに下方に沈み込ませることができる。そのため、この製造方法によって製造されたチップ型抵抗器Xにおいて、標印7は、オーバコートガラス層6の平面部62からの突出量が、従来技術と比較して、小さくなっている。つまり、チップ型抵抗器Xの上面は、従来技術よりも平滑状となっている。したがって、たとえば吸着コレットを使用してチップ型抵抗器Xを回路基板に実装する際に、吸着コレットが標印7に接触し、標印7やオーバコートガラス層6等が破損することを防止することができ、不具合品の発生率を低減させることが可能となる。また、チップ型抵抗器Xの上面に対する吸着コレットの吸着性が向上されるため、上記した実装作業を適切に行なうことができる。このようなチップ型抵抗器Xは、従来技術と略同一の工程を経て製造されるため、製造コストを従来技術と同程度に抑えつつ、上記した効果を得ることができる。
【0034】
本願発明は、上述した実施形態の内容に限定されるものではない。たとえば、抵抗被膜を保護するガラス層は、アンダコートガラス層、ミドルコートガラス層、およびオーバコートガラス層の3層から構成されることに限定されず、アンダコートガラス層上にオーバコートガラス層を積層した2層構造であってもよい。また、軟化点をオーバコートガラス層よりも低くするガラス層は、アンダコートガラス層だけに限定されず、アンダコートガラス層およびミドルコートガラス層の両層であってもよい。アンダコートガラス層に代えて、ミドルコートガラス層の軟化点のみをオーバコートガラス層の軟化点よりも低くしてもよい。これらの構成であっても、標印の突出量を従来技術よりも小さくし、上述した実施形態と同様の効果を期待することができる。
【0035】
ガラス層および標印の軟化点や焼成温度等も上記した数値に限定されず、標印が最上のガラス層の凹部内に沈み込む状態となるように設定されていればよい。
【0036】
電極部の焼成は、ガラス層および標印と同時に行われることに限定されない。ガラス層および標印の焼成後において、基板に対してペースト状の電極材料を印刷し、その後焼成してもよい。このような製造方法であっても、上述した実施形態と同様なチップ型抵抗器を製造することができる。また、本願発明は、チップ型抵抗器に限定されず、表面に標印を有するガラス層をもつ種々の電気部品に適用することができる。その他、本願発明に係る電気部品の各部の具体的な構成は、種々に設計変更自在である。同様に、本願発明に係る電気部品の製造方法における各作業工程の具体的な構成も、種々に変更自在である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本願発明に係る電気部品の一例を示す断面図である。
【図2】図1に示す電気部品を製造するのに用いる集合基板の平面図である。
【図3】図1に示す電気部品の製造方法の工程を示す平面図である。
【図4】図1に示す電気部品の製造方法の工程を示す断面図である。
【図5】図1に示す電気部品の製造方法の工程を示す断面図である。
【図6】図1に示す電気部品の製造方法の工程を示す断面図である。
【図7】図1に示す電気部品の製造方法の工程を示す断面図である。
【図8】図1に示す電気部品の製造方法の工程を示す断面図である。
【図9】従来の電気部品の一例を示す断面図である。
【符号の説明】
1 基板
3 抵抗被膜(導電体)
4 アンダコートガラス層
5 ミドルコートガラス層(上から2層目のガラス層)
6 オーバコートガラス層(最上のガラス層)
7 標印
41,51,61 凹部
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to an electric component having a structure in which a conductor is covered with a plurality of glass layers, such as a chip resistor, and a method for manufacturing the same.
[0002]
[Prior art]
FIG. 9 shows a chip resistor which is an example of a conventional electric component. Many electric components have been replaced with such chip-type devices for the purpose of improving the mounting density on a circuit board and improving the electrical characteristics.
[0003]
The illustrated chip type resistor 100 has a configuration in which a resistive film 103 that is electrically connected to a pair of electrodes 102 is provided on a substrate 101. An undercoat glass layer 104, a middle coat glass layer 105, and an overcoat glass layer 106 are stacked on the resistance coating 103, and a glass mark 107 is formed on the surface of the overcoat glass layer 106. Is formed.
[0004]
The above-described three glass layers 104 to 106 and the mark 107 are formed by printing and baking a glass paste, and the mark 107 formed last protrudes from the surface of the overcoat glass layer 106. I have.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
The above-mentioned conventional electric components have the following problems.
[0006]
That is, conventionally, as described above, since the mark 107 protrudes from the surface of the overcoat glass layer 106, when the chip type resistor 100 is mounted on a circuit board using, for example, a suction collet, the mark In some cases, the mark 107 hinders the suction, making it difficult to suck the chip-type resistor 100, or the chip-type resistor 100 may be sucked in an inclined posture. Further, when the suction collet is adsorbed on the upper surface of the chip type resistor 100, the suction collet easily comes into contact with the mark 107, and cracks occur in the mark 107, the overcoat glass layer 106, and the like due to this contact. In some cases, they entered.
[0007]
As described above, in the related art, there has been a problem in that the suction by the suction collet becomes difficult, which hinders the mounting operation and that cracks are easily generated. As a means for solving such a problem, it is conceivable to form a clear glass layer on the mark 107 and the overcoat glass layer 106. However, such a means causes a problem that the manufacturing cost is high because the number of working steps is increased.
[0008]
The present invention has been conceived under such circumstances, and it is possible to appropriately perform a mounting operation while suppressing an increase in manufacturing cost, and to reduce the risk of occurrence of cracks. The task is to provide possible electrical components. Another object of the present invention is to provide a method for manufacturing an electric component capable of suitably manufacturing such an electric component.
[0009]
DISCLOSURE OF THE INVENTION
In order to solve the above problems, the present invention takes the following technical measures.
[0010]
The electric component provided by the first aspect of the present invention has a plurality of glass layers formed on the conductor so as to cover the conductor provided on the substrate, and An electrical component having a glass mark formed on the surface of the glass layer of (1), and a concave portion is formed on at least the surface of the second glass layer from above in a region directly below the mark. The feature is that the uppermost glass layer sinks into the recess.
[0011]
According to such a configuration, in the region immediately below the mark, the uppermost glass layer sinks into the recess, so that the amount of protrusion of the mark from the surface of the uppermost glass layer is smaller than that of the related art. And the top surface of the electrical component is smoother than in the prior art. Therefore, for example, when a mounting operation is performed on a circuit board using a suction collet, the electric component can be appropriately suction-held by the suction collet, and an accurate mounting operation can be performed. In addition, since the amount of protrusion of the mark is small, it is difficult for the suction collet and the mark to come into contact with each other, and it is possible to reduce the possibility that the mark or the uppermost glass layer is cracked.
[0012]
In a preferred embodiment of the present invention, among the plurality of glass layers, in the glass layers other than the uppermost glass layer, the softening point of at least one glass layer is lower than the softening point of the uppermost glass layer. Have been.
[0013]
According to such a configuration, in the process of manufacturing the electric component, when the uppermost glass layer and the mark are heated to be fired, and before the firing and solidification is performed, the uppermost glass layer and the mark are heated. Although the mark softens, the glass layer having a lower softening point softens further than those, and becomes fluid. In the area immediately below the mark, the force due to the weight of the mark is applied downward, so that the glass layer softened so as to have fluidity is depressed by such a force, and a concave portion is formed on the surface thereof. Form. Then, the glass layer above the concave portion gradually sinks. As a result, the mark is sunk into the concave portion formed on the surface of the uppermost glass layer, and the structure of the electric component intended by the present invention is obtained.
[0014]
The method for manufacturing an electric component provided by the second aspect of the present invention includes a step of stacking and forming a plurality of glass layers on a conductor so as to cover the conductor provided on the substrate; A method for manufacturing an electric component, comprising: forming a glass mark on the surface of a glass layer; and firing the plurality of glass layers and the mark, wherein the plurality of glass layers are stacked. Is characterized by having a step of forming at least one glass layer below the uppermost glass layer using glass having a softening point lower than that of the uppermost glass layer.
[0015]
According to such a manufacturing method, the electric component provided by the first aspect of the present invention is appropriately and without increasing the number of steps as compared with the related art, that is, while suppressing an increase in manufacturing cost. It can be easily manufactured.
[0016]
Other features and advantages of the present invention will become more apparent from the following description of embodiments of the present invention.
[0017]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be specifically described with reference to the drawings.
[0018]
FIG. 1 shows an example of an electric component according to the present invention. In the present embodiment, the present invention is applied to a chip-type resistor X. As shown in the drawing, an electrode coating 2 and a resistance coating 3 which are electrically connected to each other are formed on a ceramic substrate 1, and an undercoat glass layer 4 and a middle coating 4 are formed so as to cover the resistance coating 3. The coat glass layer 5 and the overcoat glass layer 6 are sequentially laminated. A mark 7 made of glass is formed on the surface of the overcoat glass layer 6 so as to be embedded. On the side edge surface of the substrate 1 or on the back surface near the side edge surface, an electrode portion 8 that is electrically connected to the electrode coating 2 is formed.
[0019]
The undercoat glass layer 4 protects the resistive film 3 and helps to properly perform laser trimming in the process of manufacturing the chip resistor X. In other words, when laser trimming is performed on the resistive coating 3, the undercoat glass layer 4 suppresses the re-adhesion of the resistive coating material scattered by the heat of the laser light to the trimmed portion, and the target resistance value can be easily reduced. You can get to. In the present embodiment, most of the back surface of the undercoat glass layer 4 is in contact with the surface of the resistance coating 3, and the surface of the undercoat glass layer 4 has a concave portion 41 in a region directly below the mark 7. The other parts are substantially smooth.
[0020]
The middle coat glass layer 5 and the overcoat glass layer 6 are provided for appropriately protecting the resistance coating 3. In a region directly below the mark 7, the back surface portion of the middle coat glass layer 5 enters the recess 41, and a recess 51 is formed on the surface of the middle coat glass layer 5. The surface of the middle coat glass layer 5 excluding the concave portion 51 is substantially smooth. The same applies to the overcoat glass layer 6 as to the middle coat glass layer 5, and the back surface portion of the overcoat glass layer 6 enters the recess 51. The surface of the overcoat glass layer 6 has a concave portion 61 and a flat portion 62. The mark 7 indicates the serial number of the chip-type resistor X and the like, and is in a state of being embedded in the concave portion 61, and the surface thereof has substantially the same height as the flat portion 62. I have. The operation of forming the concave portions 41, 51, 61 will be described later.
[0021]
Next, an example of a method of manufacturing the above-described chip resistor X will be described.
[0022]
In manufacturing the chip-type resistor X, a ceramic collective substrate 10 as shown in FIG. 2 is used. A plurality of horizontal slits 10a and vertical slits 10b each having an appropriate width and depth are formed at regular intervals on the surface of the collective substrate 10. A rectangular area surrounded by the horizontal slits 10a and the vertical slits 10b is a unit area A serving as the substrate 1 of one chip-type resistor X.
[0023]
First, a plurality of electrode coatings 2 are formed on such a collective substrate 10 as shown in FIG. Each electrode coating 2 is formed by printing a paste-like electrode material on both end portions of each unit area A, and then firing the same. Subsequently, a plurality of resistance coatings 3 are formed between each electrode coating 2. Each of the resistance coatings 3 is formed by printing a paste-like resistance material and then firing the same, like the electrode coatings 2.
[0024]
Next, as shown in FIG. 4, a plurality of undercoat glass layers 4 are formed so as to cover the respective resistive films 3. The softening point of the undercoat glass layer 4 is lower than that of the middle coat glass layer 5, the overcoat glass layer 6, and the mark 7, for example, by increasing the blending amount of lead. In the present embodiment, the softening point of the undercoat glass layer 4 is about 400 ° C. Each undercoat glass layer 4 is formed by printing such a glass paste on each of the resistance coatings 3 so that the surface thereof is substantially smooth, and thereafter firing the glass paste.
[0025]
Next, for example, laser trimming is performed on each resistance film 3. A laser beam is applied to each resistance coating 3 from above each undercoat glass layer 4 while a resistance value is measured by applying a measuring probe to each electrode coating 2, and a groove (not shown) is formed in each resistance coating 3. As a result, a target resistance value can be obtained.
[0026]
Next, as shown in FIGS. 5 and 6, a plurality of unfired middle coat glass layers 5 and overcoat glass layers 6 are formed on each undercoat glass layer 4. As described above, these materials have a softening point higher than that of the undercoat glass layer 4, and for example, each of them has a softening point of about 480 ° C. The formation of the glass layers 5 and 6 is performed by printing a glass paste and then drying the paste. The above-mentioned drying is performed, for example, at about 150 to 200 ° C.
[0027]
As described above, when the middle coat glass layer 5 and the overcoat glass layer 6 are laminated on the undercoat glass layer 4, the case where only the overcoat glass layer 6 is laminated on the undercoat glass layer 4 will be described below. In comparison, the surface of the overcoat glass layer 6 can be formed to be smooth. That is, the chip-type resistor X needs to be sufficiently protected by a glass coat. Therefore, a glass layer having a necessary and sufficient thickness must be formed on the resistance film 3. However, if a large amount of glass paste is printed at once, the surface of the glass tends to be convex due to surface tension. On the other hand, if the two layers of the middle coat glass layer 5 and the overcoat glass layer 6 are laminated on the undercoat glass layer 4 as in this embodiment, each glass layer is printed in a thin shape. The surface can be made smooth and a sufficient thickness can be secured as a whole.
[0028]
Next, as shown in FIG. 7, a plurality of unfired marks 7 are formed on the surface of each overcoat glass layer 6. Each mark 7 is made of glass containing a pigment, and has a softening point of, for example, about 480 ° C., similar to each middle coat glass layer 5 and each overcoat glass layer 6.
[0029]
Next, the collective substrate 10 is divided along each vertical slit 10b, and a plurality of unfired electrode portions 8 are formed as shown in FIG. Each electrode portion 8 is formed by printing a paste-like electrode material on each substrate bar-shaped piece 10 ′ obtained by division and then drying the paste.
[0030]
Next, each middle coat glass layer 5, each overcoat glass layer 6, and each mark 7 are fired. At this time, each electrode section 8 is also fired at the same time. The firing is performed, for example, at about 600 ° C. Thereby, each undercoat glass layer 4 whose softening point is set to about 400 ° C. is softened and has fluidity, and each middle coat glass layer 5 whose softening point is set to about 480 ° C. The overcoat glass layer 6 and each mark 7 are softened to the extent that they do not lose their shape. Then, in the region immediately below each mark 7, since the force due to the weight of each mark 7 is applied downward, each undercoat glass layer 4 is depressed by this force. Due to this depression, concave portions 41 are formed on the surface of each undercoat glass layer 4 like the chip type resistor X shown in FIG. 1, and each middle coat glass layer 5 sinks in each concave portion 41. . Thereafter, each overcoat glass layer 6 and each mark 7 gradually sink down.
[0031]
More specifically, when each middle coat glass layer 5 sinks into each recess 41, a recess 51 is also formed on the surface of each middle coat glass layer 5. At the same time as each recess 51 is formed, each overcoat glass layer 6 sinks into each recess 51, and a recess 61 is formed on the surface thereof. As a result, each mark 7 is embedded in each recess 61. That is, the surface of each mark 7 has substantially the same height as the surface of each overcoat glass layer 6. In such a state, each middle coat glass layer 5, each overcoat glass layer 6, and each mark 7 are solidified.
[0032]
Finally, each substrate bar 10 'is divided along each horizontal slit 10a. Through such a series of operations, the manufacture of the chip resistor X as shown in FIG. 1 can be completed.
[0033]
According to the above-described manufacturing method, the mark 7 can be sunk downward together with the glass layer in the region immediately below the mark. Therefore, in the chip type resistor X manufactured by this manufacturing method, the mark 7 has a smaller amount of protrusion of the overcoat glass layer 6 from the plane portion 62 than in the conventional technology. That is, the upper surface of the chip resistor X is smoother than in the related art. Therefore, for example, when the chip type resistor X is mounted on the circuit board using the suction collet, the suction collet is prevented from contacting the mark 7 to prevent the mark 7 and the overcoat glass layer 6 from being damaged. It is possible to reduce the incidence of defective products. Further, since the suction property of the suction collet with respect to the upper surface of the chip-type resistor X is improved, the above-described mounting operation can be appropriately performed. Since such a chip-type resistor X is manufactured through substantially the same process as the conventional technology, the above-described effects can be obtained while suppressing the manufacturing cost to the same level as that of the conventional technology.
[0034]
The present invention is not limited to the contents of the above-described embodiment. For example, the glass layer that protects the resistive film is not limited to being composed of three layers of an undercoat glass layer, a middle coat glass layer, and an overcoat glass layer, and the overcoat glass layer is formed on the undercoat glass layer. A stacked two-layer structure may be used. Further, the glass layer whose softening point is lower than that of the overcoat glass layer is not limited to the undercoat glass layer, and may be both an undercoat glass layer and a middle coat glass layer. Instead of the undercoat glass layer, only the softening point of the middle coat glass layer may be lower than the softening point of the overcoat glass layer. Even with these configurations, the projecting amount of the mark can be made smaller than in the related art, and the same effect as in the above-described embodiment can be expected.
[0035]
The softening point, firing temperature, and the like of the glass layer and the mark are not limited to the above values, and may be set so that the mark sinks into the concave portion of the uppermost glass layer.
[0036]
The firing of the electrode portion is not limited to being performed simultaneously with the glass layer and the mark. After firing the glass layer and the mark, a paste-like electrode material may be printed on the substrate and then fired. Even with such a manufacturing method, a chip-type resistor similar to the above-described embodiment can be manufactured. Further, the present invention is not limited to the chip type resistor, but can be applied to various electric components having a glass layer having a mark on the surface. In addition, the specific configuration of each part of the electric component according to the present invention can be variously changed in design. Similarly, the specific configuration of each operation step in the method for manufacturing an electric component according to the present invention can be variously changed.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a sectional view showing an example of an electric component according to the present invention.
FIG. 2 is a plan view of a collective board used for manufacturing the electric component shown in FIG.
FIG. 3 is a plan view showing steps of a method for manufacturing the electric component shown in FIG.
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a step of the method for manufacturing the electric component shown in FIG.
FIG. 5 is a cross-sectional view showing a step of the method for manufacturing the electric component shown in FIG.
FIG. 6 is a cross-sectional view showing a step of the method for manufacturing the electric component shown in FIG.
FIG. 7 is a cross-sectional view showing a step of the method for manufacturing the electric component shown in FIG.
FIG. 8 is a cross-sectional view showing a step of the method for manufacturing the electric component shown in FIG.
FIG. 9 is a cross-sectional view illustrating an example of a conventional electric component.
[Explanation of symbols]
1 substrate 3 resistive film (conductor)
4 Undercoat glass layer 5 Middle coat glass layer (second glass layer from the top)
6 Overcoat glass layer (top glass layer)
7 Marks 41, 51, 61 recess

Claims (3)

基板上に設けられた導電体を覆うように、この導電体上に積み重ねて形成された複数のガラス層を有しており、かつ最上のガラス層の表面にはガラス製の標印が形成されている電気部品であって、
上記標印の直下領域において、少なくとも上から2層目のガラス層の表面には凹部が形成されており、この凹部に上記最上のガラス層が沈み込んでいることを特徴とする、電気部品。
It has a plurality of glass layers formed by stacking on the conductor so as to cover the conductor provided on the substrate, and a glass mark is formed on the surface of the uppermost glass layer. Electrical components,
An electric component, characterized in that a recess is formed at least in the surface of the second glass layer from above in a region immediately below the mark, and the uppermost glass layer sinks into the recess.
上記複数のガラス層のうち、上記最上のガラス層を除くガラス層において、少なくとも1つのガラス層の軟化点が、上記最上のガラス層の軟化点よりも低くされている、請求項1に記載の電気部品。2. The glass layer according to claim 1, wherein, in the glass layers other than the uppermost glass layer, the softening point of at least one glass layer is lower than the softening point of the uppermost glass layer. Electrical component. 基板上に設けられた導電体を覆うように、この導電体上に複数のガラス層を積み重ねて形成する工程と、
最上のガラス層の表面にガラス製の標印を形成する工程と、
上記複数のガラス層および上記標印を焼成する工程と、
を有する電気部品の製造方法であって、
上記複数のガラス層を積み重ねる工程においては、上記最上のガラス層よりも下層の少なくとも1つのガラス層を、上記最上のガラス層よりも軟化点の低いガラスを用いて形成することを特徴とする、電気部品の製造方法。
A step of stacking and forming a plurality of glass layers on the conductor so as to cover the conductor provided on the substrate,
Forming a glass mark on the surface of the uppermost glass layer;
Firing the plurality of glass layers and the mark;
A method for manufacturing an electric component having
In the step of stacking the plurality of glass layers, at least one glass layer below the uppermost glass layer is formed using a glass having a softening point lower than the uppermost glass layer, Manufacturing method of electrical parts.
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