JP2004005414A - Test system - Google Patents

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JP2004005414A
JP2004005414A JP2003021626A JP2003021626A JP2004005414A JP 2004005414 A JP2004005414 A JP 2004005414A JP 2003021626 A JP2003021626 A JP 2003021626A JP 2003021626 A JP2003021626 A JP 2003021626A JP 2004005414 A JP2004005414 A JP 2004005414A
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JP
Japan
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tester
server
network
portable terminal
wireless unit
Prior art date
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Pending
Application number
JP2003021626A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuhiko Tateno
舘野 和彦
Tsutomu Yanagawa
柳川 力
Ryuta Motooka
本岡 竜太
Atsushi Kawakatsu
川勝 厚志
Masamitsu Tagawa
田川 雅充
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Publication date
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a test system monitoring a lamp showing the anomaly or outage of an IC tester and providing continuous monitoring for problems needing immediate countermeasures when there is an anomaly or outage without looking at the lamp directly. <P>SOLUTION: The IC tester 1 is for testing an object to be tested. The state of the IC tester 1 is sent to a server via a network L, the state is sent to a portable terminal carried by a maintenance person by radio, and the operation of a conveyance device in the IC tester 1 is controlled from the portable terminal. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、被試験対象を試験するテストシステムに関し、直接見ることなく、常時監視が行えるテストシステムに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
ICテスタは、被試験対象、例えば、IC,LSI等に試験信号を与え、被試験対象の出力と期待値とを比較し、良否の判定を行う(例えば、特許文献1参照)。そして、ICテスタを多数用いて、被試験対象の試験を行っている。このようなシステムを図5に示し以下に説明する。
【0003】
図5において、ICテスタ1は、ネットワークLに接続され、図示しない被試験対象(以下DUTと略す)を試験する。また、ICテスタ1は、試験部11、制御部12、ランプ13を有する。試験部11は、DUTの試験を行う。制御部12は、点灯手段121を有し、試験部11を制御する。点灯手段121は、ランプ13を点灯させる。コントロールターミナル2は、ネットワークLに接続され、ネットワークLを介して、ICテスタ1に対して、テストプログラムのロード、各種設定、ラン/ストップ制御等を行う。エンジニアリングワークステーション(以下EWS)3は、ネットワークLに接続され、ネットワークLを介して、ICテスタ1に対して、デバック、データ収集等を行い、トラブル解析等を行う。
【0004】
このような装置の動作を以下に説明する。コントロールターミナル2は、ネットワークLを介して、ICテスタ1に対して、テストプログラムのロード、各種設定等を行う。そして、ICテスタ1に対して、動作指示をする。これにより、ICテスタ1の制御部12は、テストプログラムに基づいて、試験部11に対して制御を行い、試験部11はDUTの良否の判定を行う。
【0005】
また、コントロールターミナル2が、ネットワークLを介して、ICテスタ1に対して、停止指示を行う。これにより、ICテスタ1の制御部12は、試験部11を停止させる。
【0006】
次に、ランプ13の点灯動作を、図6を用いて説明する。制御部12の点灯手段121は、ICテスタ1が停止中の場合、ランプ13を赤色に点灯させる(S11,S12)。ICテスタ1が動作中の場合、点灯手段121は、DUTがフェイルかどうか判断し、フェイルでない場合、ランプ13を青色に点灯させる(S11,S13,S14)。そして、フェイルの場合、点灯手段121は、フェイルの回数が所定回数かどうか判断し(S11,S13,S15)、所定回数でない場合、再び、フェイルかどうか判断する(S13)。所定回数フェイルになった場合、点灯手段121はランプ13に黄色を点灯させ、異常を知らせる(S16)。
【0007】
【特許文献1】
特開2000−292500号公報(段落番号0002〜0021、図3)
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
このようなシステムでは、常時、ランプ13を監視して、ICテスタ1の故障対応をしなければならなかった。一方、ICテスタ1の故障確率は小さいが、ICテスタ1の停止状態が長く続くと、テストコストの増加を招き、結果として、DUTのコスト増加の要因となってしまう。そのため、ランプ13を常時監視しなければならなかった。また、ICテスタ1はクリーンルームに設置されているため、定期的に見回るとしても、クリーンルーム内に入るために、その都度、時間を要してしまうという問題点があった。
【0009】
そこで、本発明の目的は、直接見ることなく、常時監視が行えるテストシステムを実現することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】
請求項1記載の本発明は、
被試験対象を試験するICテスタと、
このICテスタの状態を携帯端末に無線により送信する無線部と
を有することを特徴とするものである。
【0011】
請求項2記載の本発明は、請求項1記載の本発明において、
無線部は、携帯端末からの制御信号を無線により受信し、ICテスタを制御することを特徴とするものである。
【0012】
請求項3記載の本発明は、
被試験対象を試験するICテスタと、
このICテスタに前記被試験対象を搬送する搬送装置と、
この搬送装置の状態を携帯端末に無線により送信する無線部と
を有することを特徴とするものである。
【0013】
請求項4記載の本発明は、請求項3記載の本発明において、
無線部は、携帯端末からの制御信号を無線により受信し、搬送装置を制御することを特徴とするものである。
【0014】
請求項5記載の本発明は、
被試験対象を試験するICテスタと、
このICテスタとネットワークを介して接続し、ICテスタからの状態データを格納し、状態データをネットワークに公開するサーバと、
前記ネットワークに接続し、携帯端末と無線通信を行う無線部と
を有することを特徴とするものである。
【0015】
請求項6記載の本発明は、
被試験対象を試験するICテスタと、
このICテスタとネットワークを介して接続し、ICテスタからの状態データを格納するサーバと、
このサーバに接続し、携帯端末と無線通信を行う無線部と
を有することを特徴とするものである。
【0016】
請求項7記載の本発明は、請求項5または6記載の本発明において、
サーバは状態データを公開するWWWサーバ手段を設けたことを特徴とするものである。
【0017】
請求項8記載の本発明は、請求項5〜7のいずれかに記載の本発明において、
サーバは状態データを電子メールで送信する電子メールサーバ手段を設けたことを特徴とするものである。
【0018】
請求項9記載の本発明は、
ネットワークに接続し、被試験対象を試験し、状態データをネットワークに公開するICテスタと、
前記ネットワークに接続し、携帯端末と無線通信を行う無線部と
を設けたことを特徴とするものである。
【0019】
【発明の実施の形態】
以下図面を用いて本発明の実施の形態を説明する。図1は本発明の一実施例を示した構成図である。ここで、図5と同一のものは同一符号を付し説明を省略する。なお、点灯手段121、ランプ13は本発明の主要部ではないので、図示を省略する。
【0020】
図1において、無線部4は、ICテスタ1に接続し、ICテスタ1の状態を無線により送信する。携帯端末5は、無線部4の送信を無線で受信する。
【0021】
このような装置の動作を以下で説明する。図2は図1に示す装置の動作を示したフローチャートである。なお、ICテスタ1の動作は図3に示す装置と同様なので、説明を省略する。
【0022】
無線部4は、制御部12からのデータにより、DUTがフェイルかどうか判断し、フェイルでない場合、何も行わない(S21)。そして、フェイルの場合、無線部4は、フェイルの回数が所定回数かどうか判断し(S21,S22)、所定回数でない場合、再び、制御部12からのデータにより、フェイルかどうか判断する(S21)。所定回数フェイルになった場合、無線部4は異常を携帯端末5に知らせる(S23)。
【0023】
このように、無線部4が、ICテスタ1の状態に基づいて、無線により携帯端末5に通知するので、ICテスタ1の状態を知らせることができ、ICテスタ1を直接見なくとも、常時監視することができる。
【0024】
なお、本発明はこれに限定されるものではなく、ICテスタ1の異常時に無線部4が通知する構成を示したが、ICテスタ1の進捗状況に応じて通知する構成や各種データを送信する構成でもよい。例えば、すべてのDUTのテストが終了前に通知等を行う。
【0025】
また、無線部4は送信だけを行う構成を示したが、携帯端末5が無線により制御信号を出力し、この制御信号を無線部4が受信し、ICテスタ1に渡す構成にしてもよい。これにより、ICテスタ1が携帯端末5により制御される構成にしてもよい。
【0026】
そして、図3に示すように、搬送装置6、例えば、ハンドラやプローバに、無線部7を設ける構成でもよい。搬送装置6は、図示しないDUTをICテスタ1に取り付け取り外しを行う。無線部7は、搬送装置6に接続し、搬送装置6の状態を無線により、携帯端末5に送信する。また、無線部7は、携帯端末5からの制御信号を無線により受信し、搬送装置6を制御する。
【0027】
次に、第3の実施例を図4を用いて説明する。図4において、複数のICテスタ10は、クリーンルームCRに設置され、ネットワークLに接続され、DUTを試験し、ウェハ、ロットの状況データや異常等の状態データを出力する。サーバ20は、ネットワークLに接続され、データサーバ21、WWW(World WideWeb)サーバ22を有し、ICテスタ10の状態データを格納し、データを公開する。データサーバ21は、ICテスタ10からのデータを格納し、HTML(Hyper Text Markup Language)データにする。WWWサーバ22は、データサーバ21のHTMLデータを受け取り、公開する。無線LANアクセスポイント30は無線部で、ネットワークLに接続し、無線通信を行う。PDA(Personal Digtal Assistant)40は携帯端末で、ブラウザ41を有し、無線LANアクセスポイント30と通信を行い、サーバ20にアクセスする。ブラウザ41は、WWWサーバ22のHTMLデータの表示を行う。
【0028】
このような装置の動作を以下に説明する。ICテスタ10はDUTの試験を行い、状態データをネットワークLを介して、サーバ20に送る。サーバ20のデータサーバ21は状態データを格納し、この状態データをHTMLデータに変換し、WWWサーバ22に渡す。このHTMLデータには、リフレッシュタグを設定する。例えば、”<meta http−equiv=”refresh” content=”5”>”と記述し、5秒ごとにページをリフレッシュさせる。これにより常時監視が行える。
【0029】
PDA40は、無線LANアクセスポイント30、ネットワークLを介して、サーバ20のWWWサーバ22にアクセスする。そして、WWWサーバ22はHTMLデータをPDA40に送り、PDA40のブラウザ41がHTMLデータを表示させ、リフレッシュタグにより、所望時間ごとに、HTMLデータをWWWサーバ22から読み直す。
【0030】
このように、サーバ20のWWWサーバ22がネットワークL、無線LANアクセスポイント30を介してPDA40に無線でICテスタの状態を知らせることができるので、ICテスタ10を直接見なくとも、常時監視することができる。
【0031】
また、無線LANアクセスポイント30をクリーンルームCR外に設けることができるので、ICテスタ10が高速なDUTを試験時に影響を与えることを防止することができる。
【0032】
なお、サーバ20に、WWWサーバ22の代わりに電子メールサーバを設け、PDA40に、ブラウザ41の代わりに電子メーラを設ける構成にしてもよい。この場合、データサーバ21が状況データを電子メールとして電子メールサーバに格納し、PDA40の電子メーラが、無線LANアクセスポイント30、ネットワークLを介して、サーバ20の電子メールサーバにアクセスして、状態データの電子メールを取得する。また、同時に設けられている構成でもよい。
【0033】
また、ネットワークLに接続する無線LANアクセスポイント30を設けた構成を示したが、サーバ20に直接接続し、PDA40と無線で通信を行う無線部を設けた構成でもよい。
【0034】
そして、ICテスタ10と別にサーバ20を設けた構成を示したが、ICテスタ10内にデータサーバ21、WWWサーバ22を設ける構成でもよい。
【0035】
【発明の効果】
請求項1,2によれば、無線部が、ICテスタの状態に基づいて、無線により携帯端末に通知するので、ICテスタの状態を知らせることができ、ICテスタを直接見なくとも、常時監視することができる。
【0036】
請求項3,4によれば、無線部が、搬送装置の状態に基づいて、無線により携帯端末に通知するので、搬送装置の状態を知らせることができ、搬送装置を直接見なくとも、常時監視することができる。
【0037】
請求項5〜8によれば、サーバが無線部を介して携帯端末に無線でICテスタの状態を知らせることができるので、ICテスタを直接見なくとも、常時監視することができる。
【0038】
また、無線部をクリーンルーム外に設けることができるので、ICテスタが高速な被試験対象を試験時に影響を与えることを防止することができる。
【0039】
請求項9によれば、ICテスタがネットワーク、無線部を介して携帯端末に無線でICテスタの状態を知らせることができるので、ICテスタを直接見なくとも、常時監視することができる。
【0040】
また、無線部をクリーンルーム外に設けることができるので、ICテスタが高速な被試験対象を試験時に影響を与えることを防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図2】図1に示す装置の動作を示したフローチャートである。
【図3】本発明の第2の実施例を示した構成図である。
【図4】本発明の第3の実施例を示した構成図である。
【図5】従来のテストシステムの構成を示した図である。
【図6】図5に示す装置の動作を示したフローチャートである。
【符号の説明】
1,10 ICテスタ
4,7 無線部
5 携帯端末
6 搬送装置
20 サーバ
21 WWWサーバ
30 無線LANアクセスポイント
40 PDA
41 ブラウザ
L ネットワーク
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a test system for testing a device under test, and more particularly, to a test system capable of constantly monitoring without directly looking at the system.
[0002]
[Prior art]
The IC tester supplies a test signal to a device under test, for example, an IC or an LSI, compares the output of the device under test with an expected value, and determines pass / fail (for example, see Patent Document 1). Then, a test of the test object is performed using a large number of IC testers. Such a system is shown in FIG. 5 and described below.
[0003]
In FIG. 5, an IC tester 1 is connected to a network L and tests a device under test (hereinafter abbreviated as DUT), not shown. The IC tester 1 has a test unit 11, a control unit 12, and a lamp 13. The test unit 11 tests the DUT. The control unit 12 has a lighting unit 121 and controls the test unit 11. The lighting means 121 lights the lamp 13. The control terminal 2 is connected to the network L, and performs load of a test program, various settings, run / stop control, and the like on the IC tester 1 via the network L. The engineering workstation (hereinafter, EWS) 3 is connected to the network L, and performs debugging, data collection, and the like on the IC tester 1 via the network L, and performs trouble analysis and the like.
[0004]
The operation of such a device is described below. The control terminal 2 loads a test program and performs various settings to the IC tester 1 via the network L. Then, an operation instruction is issued to the IC tester 1. Thereby, the control unit 12 of the IC tester 1 controls the test unit 11 based on the test program, and the test unit 11 determines whether the DUT is good or not.
[0005]
Further, the control terminal 2 issues a stop instruction to the IC tester 1 via the network L. Thereby, the control unit 12 of the IC tester 1 stops the test unit 11.
[0006]
Next, the lighting operation of the lamp 13 will be described with reference to FIG. The lighting unit 121 of the control unit 12 lights the lamp 13 in red when the IC tester 1 is stopped (S11, S12). When the IC tester 1 is operating, the lighting unit 121 determines whether the DUT has failed, and if not, lights the lamp 13 in blue (S11, S13, S14). Then, in the case of a failure, the lighting means 121 determines whether the number of failures is a predetermined number of times (S11, S13, S15). When a predetermined number of failures have occurred, the lighting means 121 causes the lamp 13 to light yellow to notify an abnormality (S16).
[0007]
[Patent Document 1]
Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-292500 (paragraph numbers 0002 to 0021, FIG. 3)
[0008]
[Problems to be solved by the invention]
In such a system, the lamp 13 must be constantly monitored to deal with the failure of the IC tester 1. On the other hand, although the failure probability of the IC tester 1 is small, if the stop state of the IC tester 1 continues for a long time, the test cost increases, and as a result, the cost of the DUT increases. Therefore, the lamp 13 must be constantly monitored. Further, since the IC tester 1 is installed in a clean room, there is a problem that even if the IC tester 1 is regularly inspected, it takes time to enter the clean room.
[0009]
Therefore, an object of the present invention is to realize a test system that can constantly monitor without directly looking.
[0010]
[Means for Solving the Problems]
The invention according to claim 1 is
An IC tester for testing the device under test;
And a wireless unit for wirelessly transmitting the state of the IC tester to the portable terminal.
[0011]
The invention according to claim 2 is the invention according to claim 1,
The wireless unit wirelessly receives a control signal from the portable terminal and controls the IC tester.
[0012]
The present invention according to claim 3 is:
An IC tester for testing the device under test;
A transfer device for transferring the test object to the IC tester;
A wireless unit for wirelessly transmitting the state of the transport device to the portable terminal.
[0013]
The present invention described in claim 4 is the invention according to claim 3, wherein
The wireless unit receives a control signal from a mobile terminal wirelessly and controls the transport device.
[0014]
The present invention according to claim 5 provides:
An IC tester for testing the device under test;
A server connected to the IC tester via a network, stores status data from the IC tester, and publishes the status data to the network;
A wireless unit that connects to the network and performs wireless communication with the portable terminal.
[0015]
The present invention according to claim 6 is:
An IC tester for testing the device under test;
A server connected to the IC tester via a network and storing status data from the IC tester;
A wireless unit is connected to the server and performs wireless communication with the portable terminal.
[0016]
The invention according to claim 7 is the invention according to claim 5 or 6,
The server is characterized in that a WWW server means for publishing state data is provided.
[0017]
The invention according to claim 8 is the invention according to any one of claims 5 to 7,
The server is provided with an e-mail server means for transmitting the status data by e-mail.
[0018]
The present invention according to claim 9 is:
An IC tester that connects to a network, tests an object under test, and publishes status data to the network;
A wireless unit connected to the network and performing wireless communication with the portable terminal is provided.
[0019]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a configuration diagram showing one embodiment of the present invention. Here, the same components as those in FIG. 5 are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted. Since the lighting means 121 and the lamp 13 are not the main parts of the present invention, their illustration is omitted.
[0020]
In FIG. 1, the wireless unit 4 connects to the IC tester 1 and wirelessly transmits the state of the IC tester 1. The mobile terminal 5 receives the transmission of the wireless unit 4 wirelessly.
[0021]
The operation of such a device is described below. FIG. 2 is a flowchart showing the operation of the apparatus shown in FIG. The operation of the IC tester 1 is the same as that of the device shown in FIG.
[0022]
The wireless unit 4 determines whether or not the DUT has failed based on the data from the control unit 12, and if not, does nothing (S21). Then, in the case of a failure, the radio unit 4 determines whether the number of failures is a predetermined number of times (S21, S22). . When a predetermined number of failures have occurred, the wireless unit 4 notifies the portable terminal 5 of the abnormality (S23).
[0023]
As described above, since the wireless unit 4 wirelessly notifies the portable terminal 5 based on the state of the IC tester 1, it is possible to notify the state of the IC tester 1 and always monitor without directly looking at the IC tester 1. can do.
[0024]
The present invention is not limited to this, and the configuration in which the wireless unit 4 notifies when the IC tester 1 is abnormal has been described. However, the configuration in which the notification is performed according to the progress of the IC tester 1 and various data are transmitted. A configuration may be used. For example, notification is made before all DUT tests are completed.
[0025]
Although the wireless unit 4 is configured to perform only transmission, the mobile terminal 5 may output a control signal wirelessly, and the wireless unit 4 may receive the control signal and pass the control signal to the IC tester 1. Thereby, the IC tester 1 may be configured to be controlled by the portable terminal 5.
[0026]
Then, as shown in FIG. 3, a configuration may be adopted in which the transfer unit 6, for example, a handler or a prober is provided with the wireless unit 7. The transport device 6 attaches and detaches a DUT (not shown) to and from the IC tester 1. The wireless unit 7 is connected to the transport device 6 and transmits the status of the transport device 6 to the portable terminal 5 by wireless. The wireless unit 7 receives a control signal from the mobile terminal 5 by wireless and controls the transport device 6.
[0027]
Next, a third embodiment will be described with reference to FIG. 4, a plurality of IC testers 10 are installed in a clean room CR, are connected to a network L, test a DUT, and output status data such as wafer and lot status data and abnormalities. The server 20 is connected to the network L, has a data server 21, and a WWW (World Wide Web) server 22, stores status data of the IC tester 10, and publishes the data. The data server 21 stores data from the IC tester 10 and converts the data into HTML (Hyper Text Markup Language) data. The WWW server 22 receives and publishes the HTML data of the data server 21. The wireless LAN access point 30 is a wireless unit that connects to the network L and performs wireless communication. A PDA (Personal Digital Assistant) 40 is a portable terminal, has a browser 41, communicates with the wireless LAN access point 30, and accesses the server 20. The browser 41 displays the HTML data of the WWW server 22.
[0028]
The operation of such a device is described below. The IC tester 10 tests the DUT and sends status data to the server 20 via the network L. The data server 21 of the server 20 stores the status data, converts the status data into HTML data, and passes it to the WWW server 22. A refresh tag is set in this HTML data. For example, "<metahttp-equiv =" refresh "content =" 5 ">" is described, and the page is refreshed every 5 seconds. This enables constant monitoring.
[0029]
The PDA 40 accesses the WWW server 22 of the server 20 via the wireless LAN access point 30 and the network L. Then, the WWW server 22 sends the HTML data to the PDA 40, and the browser 41 of the PDA 40 displays the HTML data, and rereads the HTML data from the WWW server 22 at desired times by a refresh tag.
[0030]
As described above, since the WWW server 22 of the server 20 can wirelessly notify the PDA 40 of the state of the IC tester via the network L and the wireless LAN access point 30, it is possible to constantly monitor the IC tester 10 without directly looking at the IC tester 10. Can be.
[0031]
Further, since the wireless LAN access point 30 can be provided outside the clean room CR, it is possible to prevent the IC tester 10 from affecting a high-speed DUT at the time of testing.
[0032]
The server 20 may be provided with an electronic mail server instead of the WWW server 22, and the PDA 40 may be provided with an electronic mailer instead of the browser 41. In this case, the data server 21 stores the status data as e-mail in the e-mail server, and the e-mailer of the PDA 40 accesses the e-mail server of the server 20 via the wireless LAN access point 30 and the network L, and Get data e-mail. Moreover, the structure provided simultaneously may be sufficient.
[0033]
In addition, although the configuration in which the wireless LAN access point 30 connected to the network L is provided is shown, a configuration in which a wireless unit that directly connects to the server 20 and performs wireless communication with the PDA 40 may be provided.
[0034]
Although the configuration in which the server 20 is provided separately from the IC tester 10 is shown, a configuration in which the data server 21 and the WWW server 22 are provided in the IC tester 10 is also possible.
[0035]
【The invention's effect】
According to the first and second aspects, since the wireless unit notifies the portable terminal wirelessly based on the state of the IC tester, the state of the IC tester can be notified, and the monitoring is always performed without directly looking at the IC tester. can do.
[0036]
According to the third and fourth aspects, the wireless unit notifies the portable terminal wirelessly based on the state of the transfer device, so that the state of the transfer device can be notified, and the monitoring is always performed without directly looking at the transfer device. can do.
[0037]
According to the fifth to eighth aspects, the server can wirelessly notify the portable terminal of the state of the IC tester via the wireless unit, so that it is possible to constantly monitor the IC tester without directly looking at the IC tester.
[0038]
Further, since the wireless unit can be provided outside the clean room, it is possible to prevent the IC tester from affecting the high-speed test object at the time of the test.
[0039]
According to the ninth aspect, since the IC tester can wirelessly notify the portable terminal of the state of the IC tester via the network and the wireless section, it is possible to constantly monitor the IC tester without directly looking at the IC tester.
[0040]
Further, since the wireless unit can be provided outside the clean room, it is possible to prevent the IC tester from affecting the high-speed test object at the time of the test.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration diagram showing one embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a flowchart showing the operation of the apparatus shown in FIG.
FIG. 3 is a configuration diagram showing a second embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a configuration diagram showing a third embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a diagram showing a configuration of a conventional test system.
6 is a flowchart showing the operation of the device shown in FIG.
[Explanation of symbols]
1,10 IC tester 4,7 Wireless unit 5 Portable terminal 6 Transport device 20 Server 21 WWW server 30 Wireless LAN access point 40 PDA
41 Browser L Network

Claims (9)

被試験対象を試験するICテスタと、
このICテスタの状態を携帯端末に無線により送信する無線部と
を有することを特徴とするテストシステム。
An IC tester for testing the device under test;
A wireless unit for wirelessly transmitting the state of the IC tester to the portable terminal.
無線部は、携帯端末からの制御信号を無線により受信し、ICテスタを制御することを特徴とする請求項1記載のテストシステム。The test system according to claim 1, wherein the wireless unit wirelessly receives a control signal from the portable terminal and controls the IC tester. 被試験対象を試験するICテスタと、
このICテスタに前記被試験対象を搬送する搬送装置と、
この搬送装置の状態を携帯端末に無線により送信する無線部と
を有することを特徴とするテストシステム。
An IC tester for testing the device under test;
A transfer device for transferring the test object to the IC tester;
A wireless unit for wirelessly transmitting the state of the transport device to the portable terminal.
無線部は、携帯端末からの制御信号を無線により受信し、搬送装置を制御することを特徴とする請求項3記載のテストシステム。The test system according to claim 3, wherein the wireless unit receives a control signal from the mobile terminal wirelessly and controls the transport device. 被試験対象を試験するICテスタと、
このICテスタとネットワークを介して接続し、ICテスタからの状態データを格納し、状態データをネットワークに公開するサーバと、
前記ネットワークに接続し、携帯端末と無線通信を行う無線部と
を有することを特徴とするテストシステム。
An IC tester for testing the device under test;
A server connected to the IC tester via a network, stores status data from the IC tester, and publishes the status data to the network;
A test system, comprising: a wireless unit connected to the network and performing wireless communication with a portable terminal.
被試験対象を試験するICテスタと、
このICテスタとネットワークを介して接続し、ICテスタからの状態データを格納するサーバと、
このサーバに接続し、携帯端末と無線通信を行う無線部と
を有することを特徴とするテストシステム。
An IC tester for testing the device under test;
A server connected to the IC tester via a network and storing status data from the IC tester;
A test system, comprising: a wireless unit connected to the server and performing wireless communication with a portable terminal.
サーバは状態データを公開するWWWサーバ手段を設けたことを特徴とする請求項5または6記載のテストシステム。7. The test system according to claim 5, wherein the server includes a WWW server for publishing status data. サーバは状態データを電子メールで送信する電子メールサーバ手段を設けたことを特徴とする請求項5〜7のいずれかに記載のテストシステム。The test system according to any one of claims 5 to 7, wherein the server has an e-mail server means for transmitting the status data by e-mail. ネットワークに接続し、被試験対象を試験し、状態データをネットワークに公開するICテスタと、
前記ネットワークに接続し、携帯端末と無線通信を行う無線部と
を設けたことを特徴とするテストシステム。
An IC tester that connects to a network, tests an object under test, and publishes status data to the network;
A test system, comprising: a wireless unit connected to the network for performing wireless communication with a portable terminal.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2008224400A (en) * 2007-03-13 2008-09-25 Yokogawa Electric Corp Semiconductor testing apparatus
KR20180026264A (en) * 2016-09-02 2018-03-12 현대자동차주식회사 Pre-cooler for cooler of lp-egr and cooler assembly for lp-egr

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008224400A (en) * 2007-03-13 2008-09-25 Yokogawa Electric Corp Semiconductor testing apparatus
KR20180026264A (en) * 2016-09-02 2018-03-12 현대자동차주식회사 Pre-cooler for cooler of lp-egr and cooler assembly for lp-egr

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