JP2003344030A - 形状寸法検査装置 - Google Patents
形状寸法検査装置Info
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Abstract
た輪郭形状画像を得て寸法を精度良く簡単に測定できる
形状検査装置を提供することにある。 【解決手段】イメージスキャナ11のコンタクトガラス
面14に非検査品12を載置する。非検査品12の上部
から非検査品14が照射範囲内になるように外部照明1
6で照射して被検査品12の形状ラスタ画像を得て2値
化処理した後にラスタベクタ変換処理部23でベクトル
画像に変換し、被検査品12の寸法を測定する。
Description
等の成型品、金型、加工品の製造時あるいは保守時に製
品あるいは部品などの被検査品の形状寸法を検査する形
状寸法検査装置に関する。
るには、例えば、特公平6−29712号公報に開示さ
れるような投影機を用いた形状検査装置が知られてい
る。投影機を使用する場合、スクリーンに投影された被
検査品像の上から寸法目盛の記入された投影機と同じ倍
率の基準となる検査図面(検査画像)を重ね合わせるこ
とによって、検査図面に示された公差内であるか否かを
目視で判断している。
一部を拡大して検査しようとした場合には倍率に応じた
レンズに交換すると同時に図面を交換しなければならな
い。さらに、検査結果は紙の図面で残されるため過去の
検査結果と比較するのが困難であると同時に、人手によ
る輪郭トレースのため個人差によって精度が一定しない
という欠点がある。
2001−41725号公報に開示されるようなコンピ
ュータを使用した形状検査装置が提案されている。
一般的にCCDカメラによる被検査品のラスタ画像と検
査図面となるグラフィック画像(ラスタ画像の検査画
像)を重ね合わせて形状を比較している。
れるのはCCDカメラ等から入力された被検査品のラス
タ画像と検査図面に対応するグラフィック図形である。
画面上に被検査品のラスタ画像と公差範囲を示すグラフ
ィック画像が表示されていても、グラフィック画像は点
の集合であるドット情報であり寸法値を読み取ることは
できない。そのため、合否判定は現物を測定して公差範
囲内であるか否かを判定しなければならず、検査が面倒
になる。
図形の倍率を合わせる方法(寸法校正)としては、2つ
のラスタ画像を1つの画面に重ねて表示させる機能(キ
ャプチャ表示)によって、グラフィック表示画面にあら
かじめ表示されている基準形状にCCDカメラで撮像し
た被検査品の画像を合わせ込むことで行われている。寸
法校正が正しいことを保証するためには形状判定する被
検査品について、検査前と検査後の2回校正しなければ
正しい精度であることを保証できない。これは、検査中
にCCDカメラの倍率が変化していないことを証明する
ための方法が他にないためである。
め、被検査品の全体画像から一部を切り出し任意の倍率
に拡大して検査しようとした場合には、検査対象範囲の
表示画素数が少なくなってしまい検査対象部分の解像度
が低くなる。従って、レンズ交換等により光学的に倍率
を上げなければならないが、倍率変更に伴う寸法校正が
必要となる。
人は先に特願2001―370091号として、解像度
を調整できるイメージスキャナによって被検査品の形状
ラスタ画像を得て2値化処理したラスタ画像をベクトル
画像に変換し、被検査品の形状画像と形状設計データで
あるベクトル画像の検査画像を重ね合わせ画面に表示し
て被検査品の形状画像と検査画像を比較して形状検査を
行うことを提案している。
画像と検査画像を比較して形状検査を行うのではなく、
被検査品の輪郭形状の寸法を測定して形状検査を行い、
輪郭形状画像に記載して検査報告書に貼付けることが要
求されている。検査報告書には当該被検査品の標準設計
データが記載されている。被検査品の形状検査は検査報
告書に記載されている標準設計データと照合することに
よって確認することが行われる。
ラスタ画像を得るには、被検査品の実物あるいはレプリ
カを平板状に切出し加工した平板状被検査品をイメージ
スキャナのコンタクトガラス面に載置している。平板状
被検査品は厚みを持っている。
サは明暗を認識するが、被検査品に対して内部照明から
照射された厚み方向についても画像として認識する。そ
の結果、被検査品の輪郭形状画像には被検査品の厚み情
報が含まれることになり、精度の良い寸法検査ができな
いという実用上の問題点を有している。
去した輪郭形状画像を得て寸法を精度良く簡単に測定で
きる形状検査装置を提供することにある。
ろは、イメージスキャナのコンタクトガラス面に載置さ
れている被検査品の上部から被検査品が照射範囲内にな
るように外部照明で照射して被検査品の形状ラスタ画像
を得て2値化処理したラスタ画像をベクトル画像に変換
し、被検査品の寸法を測定するようにしたことにある。
キャナのコンタクトガラス面に対してほぼ垂直方向から
照明を照射するようにする。
から照明を照射して被検査品の厚み方向(垂直面)にお
ける明度低下を防止しているので、被検査品の厚み情報
を除去した輪郭形状画像を得て寸法を精度良く簡単に測
定することができる。
状は外側輪郭形状だけでなく、被検査品の内側に設けら
れている空洞(穴や凹部など)の輪郭形状も含まれる。
を参照して説明する。図1に本発明の一実施例を示す。
図1において、形状検査装置は、被検査品の画像入力部
1、画像入力部1から得られる被検査品のラスタ画像を
ベクトル画像(CADデータ)に変換し寸法測定を行う
演算処理部2、画像データ表示や寸法測定、検査記録作
成をするための表示部3と、文字入力、画像の操作をす
るための例えばマウス、キーボードのような操作部4
と、検査結果を出力するための例えばプリンタ等の出力
部5から構成される。
被検査品(検査品)12および寸法校正用の標準スケー
ル13をセットするためのコンタクトガラス面14があ
り、さらに画像入力に不要な外光を遮蔽するためのカバ
ー15とイメージスキャナ11の内部照明11c(図2
に図示)による不要な影(回析光)を消去するために被
検査品12の上部から照明する外部照明16を備えてい
る。
ス面14に載置されている。また、外部照明16は被検
査品12の上部のほぼ垂直方向から被検査品12が照射
範囲内になるように照明を照射している。換言すると、
外部照明16はイメージスキャナ11のコンタクトガラ
ス面14に対してほぼ垂直方向から照明を照射する。
る被検査品12のラスタ画像の明るさ、コントラスト、
回転、2値化処理等をするためのラスタ画像処理部22
と、ラスタ画像をベクトル画像に変換するためのラスタ
ベクタ変換処理部23と、ベクトル化された被検査品1
2のCAD図データのスケール値を校正するための寸法
校正処理部24と、ベクトル変換された被検査品12の
輪郭形状画像から寸法を測定するための寸法測定処理部
25と、検査報告書等の検査記録を作成するための検査
記録作成部26とを備えている。演算処理部2は通常、
上述の表示部3、操作部4および出力部5と一体に構成
されている。
明する図で、図1と合わせて説明する。図2(a)にお
いて画像情報を入力するためイメージスキャナ11に内
蔵されたCCDセンサ11aが被検査品12の垂直面1
2aに近づいたとする。このとき、イメージスキャナ1
1の内部照明11cはイメージセンサの近傍から被検査
品12の垂直面12aに対し所定の照射範囲11dで被
検査品12の垂直面(厚み方向)12aに照射される。
る認識範囲11bを有するが、被検査品12に対して照
射範囲11dにある厚み方向に照射された範囲を画像と
して認識してしまう。その結果、被検査品12の垂直面
12aおよび何もない空白部分を平均した明度情報を得
ることになる。従って、被検査品12の輪郭部から外側
の画像輪郭部には検査品の垂直面12aの情報が含ま
れ、これが画像における影となって現れる。
て図2(b)に示すように被検査品12の上部からイメ
ージスキャナ11のコンタクトガラス面14を介してC
CDセンサ11aに適度な照度の外部照明16を当てる
ことによって、被検査品12の垂直面12aにおける明
度低下を防止することができる。
品12のラスタ画像であるTIFFフォーマットファイ
ル(Tagged-Image File Format)をラスタベクタ変換に
よりベクトルデータに変換する場合において、イメージ
スキャナ11に設定した解像度情報をラスタ画像内から
抽出し、実寸表示のCADデータに自動変換することに
ついて説明した図である。
FFファイルの構造について説明する。TIFFファイ
ル形式はイメージスキャナ11で読み込まれたデータを
処理するために作られたタグ付画像ファイル形式の画像
フォーマット仕様である。
って、情報の記録領域であるヘッダ(A)とイメージフ
ァイルディレクトリ(B)およびデータ領域(C)に分
かれている。解像度等の画像情報はイメージファイルデ
ィレクトリ(B)に記録される。
イメージファイルディレクトリ(IFD)の内容を読み
取ることによって、画像入力装置1で読み込まれた解像
度を判定することができる。画像ファイルの解像度は1
インチ当たりのドット数を示しているので、ドット数を
カウントすることで寸法に変換することが可能となる。
いて、12bは被検査品12のラスタ画像を示し、12
cは被検査品12のラスタ画像12bについて輪郭を抽
出しベクトル(CAD)データとしたものを示す。
た被検査品12と標準スケール13のラスタ画像12b
であって、外部照明16により影を消去したものであ
る。図4(b)はラスタ画像処理部22でラスタ画像1
2bに画像処理を施し2値化画像12cに変換したもの
である。
2cをラスタベクタ変換処理部23によりベクトルデー
タ(ベクトル画像)12dに変換した輪郭形状CAD図
であって、同時に変換された標準スケール13によって
寸法校正されている。図4(d)は被検査品12の輪郭
形状画像12dについて指定された位置の寸法を測定し
記載した輪郭形状画像12eである。
去したラスタ画像12bをベクトル画像12dに変換し
てCADデータとして扱うことで輪郭形状を目視で確認
できると共にCAD図上に寸法を数値で示すことが可能
となる。なお、図4は被検査品12が星形状の単純なも
のであるが、さらに複雑な形状であっても正確な形状・
寸法測定が可能となる。
チャートを示す。図1、図2に示す本発明の実施例の動
作を図5を参照して説明する。
寸法校正用の標準スケール13をイメージスキャナ11
のコンタクトガラス面14にセットし、周囲から光が入
らないようにカバー15をする。ステップS102では
被検査品12と標準スケール13に外部照明16を当て
る。
移行して、イメージスキャナ11内の内部照明11cと
外部照明16に合わせて被検査品12の画像取り込み範
囲、明るさ、コントラスト、解像度、カラー条件等の画
像入力条件をイメージスキャナ11に設定する。イメー
ジスキャナ11への画像入力条件の設定は演算処理部2
の操作部4から入力される。この場合、被検査品12の
形状と厚さによって外部照明16の照度を調節し形状輪
郭部に発生する影が消えるように設定する。
で設定されたイメージスキャナ11の画像入力条件に従
って被検査品12と標準スケール13の形状画像を取り
込み、原画像として一時記憶部27に保存後にラスタ画
像処理部22に加えられる。ステップS105では画像
のノイズ(画像以外の不要な点や線)を取り除き、ステ
ップS106に移りで2値化処理をした上で画像ファイ
ルとして一時記憶部27に保存後にラスタベクタ変換処
理部23に送られる。一時記憶部27に保存するファイ
ル形式は画像の解像度情報を含む形式、例えばTIFF
フォーマットとする。
で一時記憶部27に保存された2値化画像ファイルに対
してラスタベクタ変換処理部23においてラスタベクタ
処理を施しCADデータに変換する。ラスタベクタ変換
処理部23は、画像ファイルに含まれる解像度情報を読
み取り実寸法に変換したCAD図(ベクトル画像)を作
成する。ラスタベクタ変換処理部23で変換されたCA
Dデータは市販されている一般的なCADソフトで読み
書きができるようにDXFファイルフォーマット等で一
時記憶部27に保存され、寸法校正処理部24に与えら
れる。
時にCAD変換された標準スケール13の長さを検査員
が表示部3を見ながら操作部4の例えばマウス操作によ
って測定し、自動変換された寸法値と比較することによ
って校正する。
設定されていた場合において、標準スケールの100m
mを測定したときにCAD上で101mmであった場合
には100/101=0.99倍の寸法補正を行うこと
によって表示寸法の校正とする。寸法校正され、CAD
図に変換された被検査品12の輪郭図は、市販されてい
る一般的なCADソフトで読み書きができるようにDX
Fファイルフォーマット等で一時記憶部27に保存さ
れ、寸法測定処理部25に送られる。
ADデータ12dを表示部3の画面上に表示させ、操作
部4の例えばマウス操作により予め指定された位置の寸
法を測定し、ステップS110で被検査品12の寸法測
定結果12eとして一時記憶部27に保存され、検査記
録作成部26に送られる。
記憶されている記録フォーマット28bに被検査品12
の寸法測定結果12eを貼り付け、必要であれば被検査
品12の履歴等を記載する。最後にステップS112に
おいて記憶部28に検査結果28bとして保存する。
あるが、外部照明によって被検査品の上部から照明を照
射して被検査品の厚み方向(垂直面)における明度低下
を防止しているので、被検査品の厚み情報を除去した輪
郭形状画像を得て寸法を精度良く簡単に測定することが
できる。
をベクトル画像(CADデータ)にしているので、画面
に表示された被検査品の輪郭形状画像から寸法を測定で
き製作図面の公差範囲内であるかどうかを簡単に判定す
ることができる。
データ(CADデータ)として扱うことによって、ラス
タ画像の欠点である拡大縮小による解像度の変化を受け
なくなり、複雑な形状であっても正確な寸法測定が可能
となる。
部から照明を照射して被検査品の厚み方向(垂直面)に
おける明度低下を防止しているので、被検査品の厚み情
報を除去した輪郭形状画像を得て寸法を精度良く簡単に
測定することができる。
影を消去する説明図である。
る。
Claims (3)
- 【請求項1】解像度を調整でき、被検査品を平板状に形
成した前記被検査品の形状のラスタ画像を出力するイメ
ージスキャナと、前記イメージスキャナのコンタクトガ
ラス面の上部から前記被検査品が照射範囲に入るように
照明を照射する外部照明手段と、前期イメージスキャナ
から得られたラスタ画像を2値化処理するラスタ画像処
理手段と、前記ラスタ画像処理手段が出力する前記被検
査品のラスタ画像をベクトル画像に変換し輪郭形状画像
を抽出するラスタベクタ変換処理手段と、ベクトル画像
に変換された前記被検査品の輪郭形状画像の寸法を測定
する寸法測定手段とを具備することを特徴とする形状寸
法検査装置。 - 【請求項2】解像度を調整でき、被検査品を厚みのある
平板状に形成した前記被検査品の形状のラスタ画像を出
力するイメージスキャナと、前記イメージスキャナのコ
ンタクトガラス面の上部から前記被検査品が照射範囲に
入るように照明を照射する外部照明手段と、前期イメー
ジスキャナから得られたラスタ画像を2値化処理するラ
スタ画像処理手段と、前記ラスタ画像処理手段が出力す
る前記被検査品のラスタ画像をベクトル画像に変換し輪
郭形状画像を抽出するラスタベクタ変換処理手段と、ベ
クトル画像に変換された前記被検査品の輪郭形状画像の
寸法を測定する寸法測定手段と、前記被検査品の輪郭形
状画像と共に前記寸法測定手段によって得られた寸法値
を検査記録様式に貼りつけ格納する記憶手段とを具備す
ることを特徴とする形状寸法検査装置。 - 【請求項3】解像度を調整でき、被検査品を厚みのある
平板状に形成した前記被検査品の形状のラスタ画像を出
力するイメージスキャナと、前記イメージスキャナのコ
ンタクトガラス面の上部から前記被検査品が照射範囲に
入るようにほぼ垂直方向に照明を照射する外部照明手段
と、前記イメージスキャナから得られたラスタ画像を2
値化処理するラスタ画像処理手段と、前記ラスタ画像処
理手段が出力する前記被検査品のラスタ画像をベクトル
画像に変換し輪郭形状画像を抽出するラスタベクタ変換
処理手段と、ベクトル画像に変換された前記被検査品の
輪郭形状画像の寸法を測定する寸法測定手段と、前記被
検査品の輪郭形状画像と共に前記寸法測定手段によって
得られた寸法値を検査記録様式に貼りつけ格納する記憶
手段と、前記記憶手段から外部へ出力できるようにする
出力手段とを具備することを特徴とする形状寸法検査装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002159846A JP3861751B2 (ja) | 2002-05-31 | 2002-05-31 | 形状寸法検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002159846A JP3861751B2 (ja) | 2002-05-31 | 2002-05-31 | 形状寸法検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003344030A true JP2003344030A (ja) | 2003-12-03 |
JP3861751B2 JP3861751B2 (ja) | 2006-12-20 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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Country | Link |
---|---|
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013174617A (ja) * | 2006-04-28 | 2013-09-05 | Global Sensor Systems Inc | 物体の1次元のサイズを決定する方法 |
-
2002
- 2002-05-31 JP JP2002159846A patent/JP3861751B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2013174617A (ja) * | 2006-04-28 | 2013-09-05 | Global Sensor Systems Inc | 物体の1次元のサイズを決定する方法 |
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