JP2003332204A - 露光装置、及び電子銃 - Google Patents

露光装置、及び電子銃

Info

Publication number
JP2003332204A
JP2003332204A JP2002135720A JP2002135720A JP2003332204A JP 2003332204 A JP2003332204 A JP 2003332204A JP 2002135720 A JP2002135720 A JP 2002135720A JP 2002135720 A JP2002135720 A JP 2002135720A JP 2003332204 A JP2003332204 A JP 2003332204A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electron
electron beam
sub
exposure apparatus
aperture
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2002135720A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Yasuda
洋 安田
Shinichi Hamaguchi
新一 浜口
Takeshi Haraguchi
岳士 原口
Tomohiro Sakazaki
知博 坂崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Priority to JP2002135720A priority Critical patent/JP2003332204A/ja
Publication of JP2003332204A publication Critical patent/JP2003332204A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electron Beam Exposure (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ウェハを効率よく且つ精度よく露光できる露
光装置を提供する。 【解決手段】 電子ビームにより、ウェハに所望のパタ
ーンを露光する露光装置であって、電子ビームを生成す
る電子銃と、電子ビームから、複数のサブ電子ビームを
生成するビームスプリッタと、複数のサブ電子ビームの
それぞれを所望の形状に成形する第1アパーチャと、ビ
ームスプリッタの表面における、電子ビームの電流分布
のピークが、開口部内に位置するように、電子ビームを
偏向する第1偏向部とを備え、電子銃は、電子ビームを
照射するべき方向に突出した突出部を複数のサブ電子ビ
ームと同数含む、カソードを有する。また、

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ウェハを露光する
露光装置、及び電子ビームを生成する電子銃に関する。
特に本発明は、複数の電子ビームによりウェハを露光す
る露光装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、ウェハを露光する露光装置は、1
つの電子銃から1つの電子ビームを生成し、ウェハを露
光していた。このため、複数の電子ビームによってウェ
ハを露光する場合、電子ビームと同数の電子銃が必要で
あった。また、1つの電子ビームを複数の電子ビームに
分割して露光する露光装置があるが、それぞれの電子ビ
ームの形状及び偏向量を制御することが困難であった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、1つ
の電子銃から1つの電子ビームを生成する露光装置の場
合、電子ビームと同数の電子銃が必要となるため、電子
ビームの本数を増やし、ウェハ露光のスループットを向
上させることが困難であった。また、1つの電子ビーム
を複数の電子ビームに分割して露光する露光装置の場
合、それぞれの電子ビームを制御することが困難である
ため、ウェハを精度よく露光することが困難であった。
【0004】そこで本発明は、上記の課題を解決するこ
とのできる露光装置及び電子銃を提供することを目的と
する。この目的は特許請求の範囲における独立項に記載
の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本
発明の更なる有利な具体例を規定する。
【0005】
【課題を解決するための手段】即ち、本発明の第1の形
態によると、電子ビームにより、ウェハに所望のパター
ンを露光する露光装置であって、電子ビームを生成する
電子銃と、電子ビームから、複数のサブ電子ビームを生
成するビームスプリッタと、複数のサブ電子ビームのそ
れぞれを所望の形状に成形する第1アパーチャとを備え
ることを特徴とする露光装置を提供する。
【0006】電子銃は、電子ビームを照射するべき方向
に突出した突出部を複数のサブ電子ビームと同数含む、
カソードを有することが好ましい。また、ビームスプリ
ッタは、電子ビームから、複数のサブ電子ビームを生成
するための複数の開口部を有し、露光装置は、ビームス
プリッタの表面における、電子ビームの電流分布のピー
クが、開口部内に位置するように、電子ビームを偏向す
る第1偏向部を更に備えることが好ましい。
【0007】複数の突出部はそれぞれ電子ビームを生成
し、ビームスプリッタは、それぞれが複数の突出部のい
ずれかに対応する複数の開口部を有し、第1偏向部は、
ビームスプリッタにおける、複数の突出部がそれぞれ生
成した電子ビームの電流分布のピークが、対応する開口
部内に位置するように、それぞれの電子ビームを偏向し
てよい。
【0008】露光装置は、複数の突出部が生成する電子
ビームの強度に基づいて、サブ電子ビームがウェハに照
射される照射時間を制御するブランキングアレイを更に
備えてよい。ブランキングアレイは、それぞれのサブ電
子ビームによる露光量が略一定になるように、照射時間
を制御することが好ましい。
【0009】第1偏向部は、電子銃が生成した電子ビー
ムの照射範囲が拡大するように、電子ビームを偏向する
第1レンズと、第1レンズが偏向した電子ビームの照射
方向が、サブ電子ビームの照射方向と平行になるよう
に、電子ビームを偏向する第2レンズとを有してよい。
1偏向部は、複数の突出部が生成した電子ビームを、対
応する開口部に偏向する第1レンズと、第1レンズが偏
向した複数の電子ビームの照射方向が、サブ電子ビーム
の照射方向と平行になるように、複数の電子ビームを偏
向して、開口部に照射する第2レンズとを有してよい。
【0010】複数の突出部は、共通の電極に電気的に接
続され、露光装置は、共通の電極に電気的に接続される
電源を更に備えてよい。第1アパーチャは、それぞれが
複数のサブ電子ビームのいずれかに対応し、対応するサ
ブ電子ビームを所望の形状に成形する複数のマスクを有
し、複数のマスクは、複数のマスクが配列された方向に
対して、それぞれ異なる角度で設けられてよい。マスク
は、対応するサブ電子ビームがウェハに照射されるべき
パターンを有するブロックマスクであって、ウェハにお
いて、パターンに対して第1の方向で隣接して照射され
るサブ電子ビームに対応するブロックマスクは、パター
ンに対して第1の方向と異なる第2の方向で隣接して設
けられてよい。
【0011】第1アパーチャは矩形の開口部を複数有
し、露光装置は、複数のサブ電子ビームのそれぞれを矩
形に成形し、矩形の開口部を複数有する第2アパーチャ
と、第1アパーチャによって矩形に成形された複数のサ
ブ電子ビームのそれぞれを、第2アパーチャの開口部に
対して所望の位置に偏向することにより、サブ電子ビー
ムを所望の矩形に成形する第2偏向部とを更に備えてよ
い。
【0012】第2偏向部は、第1アパーチャから、第2
アパーチャの方向に、焦点距離fだけ離れて設けられた
第1微少レンズと、第2アパーチャから、第1アパーチ
ャの方向に、焦点距離fだけ離れ、第1微少レンズか
ら、第2アパーチャの方向に、距離2fだけ離れて設け
られた第2微少レンズとを有してよい。
【0013】第2偏向部は、偏向中心が第1微少レンズ
の焦点位置となる複数の偏向器を更に有してよい。露光
装置は、所望の矩形に成形された複数のサブ電子ビーム
のそれぞれを、独立に偏向する第3偏向部と、第3偏向
部が偏向した複数のサブ電子ビームのそれぞれを、共通
に偏向する第4偏向部とを更に備えてよい。
【0014】本発明の第2の形態においては、複数の電
子ビームにより、ウェハに所望のパターンを露光する露
光装置であって、電子ビームを照射するべき方向に突出
した突出部を複数の電子ビームと同数含むカソードを有
する、電子銃を備えることを特徴とする露光装置を提供
する。
【0015】本発明の第3の形態においては、電子ビー
ムにより、ウェハに所望のパターンを露光する露光装置
であって、電子ビームを生成する電子銃と、電子銃が生
成した電子ビームの照射範囲が拡大するように、電子ビ
ームを偏向する第1レンズと、第1レンズが偏向した電
子ビームの照射方向が、電子ビームを照射するべき照射
方向と平行になるように、電子ビームを偏向する第2レ
ンズと、第2レンズが偏向した電子ビームから、複数の
サブ電子ビームを生成するビームスプリッタとを有する
ことを特徴とする露光装置を提供する。
【0016】本発明の第4の形態においては、電子ビー
ムを生成する電子銃であって、電子ビームを照射するべ
き方向に突出した複数の突出部を有するカソードと、複
数の突出部のそれぞれと共通に接続される電極とを備
え、電極は、電子銃に電力を供給する電源と電気的に接
続されることを特徴とする電子銃を提供する。
【0017】本発明の第5の形態においては、複数の電
子ビームにより、ウェハに所望のパターンを露光する露
光装置であって、それぞれが複数の電子ビームのいずれ
かを生成する複数の電子銃と、それぞれが複数の電子ビ
ームのいずれかに対応し、対応する電子ビームから、複
数のサブ電子ビームをそれぞれ生成する複数のビームス
プリッタと、それぞれが複数のビームスプリッタのいず
れかに対応し、対応するビームスプリッタが生成した複
数のサブ電子ビームのそれぞれを所望の形状に成形する
複数の第1アパーチャとを備えることを特徴とする露光
装置を提供する。
【0018】なお上記の発明の概要は、本発明の必要な
特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群の
サブコンビネーションも又発明となりうる。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、発明の実施の形態を通じて
本発明を説明するが、以下の実施形態はクレームにかか
る発明を限定するものではなく、又実施形態の中で説明
されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に
必須であるとは限らない。
【0020】図1は、本発明の実施形態に係る露光装置
100の構成の一例を示す。露光装置100は、電子ビ
ームによりウェハ200を露光する。露光装置100
は、電子銃10、第1偏向部20、ビームスプリッタ3
0、第1アパーチャ40、第2偏向部50、第2アパー
チャ60、第3偏向部70、ブランキングアレイ80、
及び第4偏向部90を備える。
【0021】電子銃10は電子ビームを生成し、ビーム
スプリッタ30に照射する。第1偏向部20は、電子銃
10が生成した電子ビームを所望の偏向量だけ偏向さ
せ、ビームスプリッタ30の所望の位置に照射させる。
ビームスプリッタ30は、電子ビームから複数のサブ電
子ビームを生成する。
【0022】第1アパーチャ40、第2偏向部50、及
び第2アパーチャ60は、複数のサブ電子ビームのそれ
ぞれを所望の形状に成形する。例えば、複数のサブ電子
ビームを所望の矩形に成形してよく、また所望のブロッ
クパターンに成形してもよい。
【0023】ブランキングアレイ80は、所望の形状に
成形された複数のサブ電子ビームのそれぞれを、ウェハ
200に露光するか否かを切り替える。第3偏向部70
は、複数のサブ電子ビームのそれぞれを独立に偏向す
る。第4偏向部90は、複数のサブ電子ビームを偏向さ
せ、ウェハ200の所望の位置に照射させる。本例にお
ける露光装置100によれば、複数のサブ電子ビームの
それぞれを独立に偏向する手段と共通に偏向する手段と
を有するため、ウェハ200における電子ビームの照射
位置を精度よく制御することができる。
【0024】図2は、露光装置100の詳細な構成の一
例を示す。図2において図1と同一の符号を附した構成
要素は、図1において説明した構成要素と同一又は同様
の機能及び構成を有する。露光装置100は、図1にお
いて説明した露光装置100の構成に加え、電源12を
更に備える。電源12は、電子銃10にフィラメント電
流を供給し、電子ビーム110を発生させる。
【0025】電子銃10は、カソード14、抑制グリッ
ド19、及び引出グリッド17を有する。カソード14
は、電子ビーム110となる熱電子を発生する。抑制グ
リッド19は、カソード14からの熱電子の放出を抑制
し、引出グリッド17は、カソード14から熱電子を引
き出す。
【0026】また、カソード14は、電子ビーム110
を照射するべき方向に突出した突出部18を、図1にお
いて説明した複数のサブ電子ビームと同数含む。熱電子
は、突出部18のそれぞれから放出される。複数の突出
部18は、共通の電極16に電気的に接続され、電極1
6は電源12に電気的に接続される。
【0027】第1偏向部20は、第1レンズ22と第2
レンズ24とを有する。第1レンズ22は、電子銃10
が生成した電子ビーム110の照射範囲が拡大するよう
に、電子ビームを偏向する。第2レンズ24は、第1レ
ンズ22が偏向した電子ビーム110の照射方向が、サ
ブ電子ビームの照射方向と平行となるように、電子ビー
ム110を偏向する。
【0028】ビームスプリッタ30は、電子ビーム11
0から複数のサブ電子ビームを生成するための複数の開
口部32を有する。つまり、ビームスプリッタ30は、
生成するべきサブ電子ビームの本数と同数の開口部32
を有する。第1偏向部20は、ビームスプリッタ30の
表面における、電子ビーム110の電流分布のピーク
が、開口部内に位置するように、電子ビーム110を偏
向することが好ましい。この場合、第1レンズ22は、
複数の突出部18がそれぞれ生成した電子ビーム110
を、対応する開口部32に偏向する。また、第1偏向部
20は、複数の突出部18がそれぞれ生成した電子ビー
ム110を、それぞれ対応する開口部32に偏向する複
数の偏向器を有してよい。当該偏向器は、磁場を生成す
ることにより電子ビーム110を偏向してよい。電子ビ
ーム110の電流分布のピークが、開口部内に位置する
ように、電子ビーム110を偏向することにより、ビー
ムスプリッタ30において開口部以外に照射される電子
ビームを低減し、ビームスプリッタ30の温度上昇を抑
制することができる。
【0029】第1アパーチャ40、第2偏向部50、及
び第2アパーチャ60は、複数のサブ電子ビームのそれ
ぞれを所望の形状に成形する。サブ電子ビームを所望の
矩形に成形する場合、第1アパーチャ40及び第2アパ
ーチャ60は、それぞれ矩形の開口部を複数有する。第
1アパーチャ40は、複数のサブ電子ビームのそれぞれ
を矩形に成形し、第2偏向部50は、第1アパーチャに
よって矩形に成形された複数のサブ電子ビームのそれぞ
れを、第2アパーチャ60の開口部に対して所望の位置
に偏向することにより、サブ電子ビームのそれぞれを所
望の矩形に成形する。
【0030】また、サブ電子ビームを所望のブロックパ
ターンに成形する場合、第1アパーチャ40は、サブ電
子ビームを成形するべきパターンを有するブロックマス
クを複数有する。この場合、露光装置100は、第2偏
向部50及び第2アパーチャ60を備えなくてもよい。
【0031】ブランキングアレイ80は、複数の突出部
18が生成する電子ビーム110の強度に基づいて、サ
ブ電子ビームがウェハ200に照射される照射時間を制
御する。例えば、ブランキングアレイ80は、ウェハに
おけるサブ電子ビームの露光量が略一定になるように、
照射時間を制御する。
【0032】第3偏向部70は、所望の形状に成形され
た複数のサブ電子ビームのそれぞれを、独立に偏向す
る。第3偏向部70は、磁場を生成する複数の偏向器7
2を、複数のサブ電子ビームのそれぞれに対応して有し
てよい。第4偏向部90は、第3偏向部70が偏向した
複数のサブ電子ビームのそれぞれを、共通に偏向する。
例えば、第4偏向部90は、複数の電子ビームのそれぞ
れを所定の位置に変更する第3レンズ92と、開口部を
有し、電子ビームを通過させるラウンドアパーチャ96
と、第3レンズ92が偏向した複数のサブ電子ビーム
を、ウェハ200上に結像する第4レンズ94を有す
る。
【0033】図3は、第2偏向部50の構成の一例を示
す。第2偏向部50は、それぞれが複数の電子ビームの
いずれかに対応する、複数の第1微少レンズ56、複数
の第2微少レンズ58、複数の偏向器52、及び複数の
偏向器54を有する。第1微少レンズ56は、対応する
第1アパーチャ40を通過したサブ電子ビームを平行光
となるように収束させる。
【0034】偏向器52及び偏向器54は、第1微少レ
ンズ56が収束させたサブ電子ビームを所望に偏向す
る。第2微少レンズ58は、偏向器52及び偏向器54
が偏向させたサブ電子ビームを、第2アパーチャ60上
に結像させる。第2アパーチャ60は、それぞれのサブ
電子ビームを所望の矩形に成形する。
【0035】複数の第1微少レンズ56及び複数の第2
微少レンズ58は、例えば蓮根型の磁界レンズアレイで
あってよい。第1微少レンズ56、及び第2微少レンズ
58は、それぞれ第1アパーチャ40、及び第2アパー
チャ60に対して、第1微少レンズ56の焦点距離fだ
け離れて設けられることが好ましい。また、第1微少レ
ンズ56と第2微少レンズ58は、2fだけ離れて設け
られることが好ましい。
【0036】また、偏向器52及び偏向器54は、偏向
器52及び偏向器54による偏向中心が、第1微少レン
ズ56と第2微少レンズ58との中点と略同一となるよ
うに、配置されることが好ましい。つまり、偏向器52
及び偏向器54は、第1微少レンズ56と第2微少レン
ズ58との中点を挟み、当該中点からlだけ離れて対向
して設けられることが好ましい。
【0037】偏向器52及び偏向器54により、サブ電
子ビームは2回偏向されるが、偏向器52及び偏向器5
4の偏向中心と、第1微少レンズ56と第2微少レンズ
58との中点とを略同一とすることにより、サブ電子ビ
ームを、第1微少レンズ56と第2微少レンズ58との
中点において仮想的に偏向することができる。このた
め、ラウンドアパーチャ96における、サブ電子ビーム
の陰影の発生を防ぐことができる。
【0038】また、複数の偏向器52及び複数の偏向器
54の偏向量は、供給される電圧によって制御され、そ
れぞれ独立に電圧が供給される。偏向器52及び偏向器
54の供給電圧比を変化させることにより、偏向器52
及び偏向器54の偏向中心の位置を制御することができ
る。また、それぞれの偏向量を独立に制御することによ
り、それぞれのサブ電子ビームの偏向量を制御し、第2
アパーチャ60において生成される矩形サブ電子ビーム
のサイズを、サブ電子ビーム毎に制御することができ
る。
【0039】図4は、第1微少レンズ56の構成の一例
を示す。また、第2微少レンズ58は、第1微少レンズ
56と同一の構成を有してよい。本例において、複数の
第1微少レンズ56は、蓮根型の磁界レンズアレイであ
る。図4(a)に示すように、第1微少レンズ56は、
コイル62、ポールピース64、及びポールピース66
を有する。また、第1微少レンズ56には、サブ電子ビ
ームが通過するべき開口部74が複数設けられ、複数の
開口部74において磁界レンズアレイを形成する。
【0040】ポールピース64及びポールピース66
は、例えばパーマロイ等のような、高透磁率を有する強
磁性体材料で形成されることが好ましい。また、複数の
開口部74は、それぞれ第1アパーチャ40の開口部の
いずれかに対応する。つまり、それぞれの開口部74
が、図3において説明した第1微少レンズ56のそれぞ
れに対応する。
【0041】図4(b)は、開口部74における磁界の
一例を示す。図4(b)において、矢印は磁力線の向き
を示す。第1微少レンズ56は、それぞれの開口部74
において発生する磁界を個別に制御する手段を更に有す
ることが好ましい。
【0042】図4(c)は、第1微少レンズ56の上面
図を示す。図4(c)に示すように、第1微少レンズ5
6は、2次元的に配置された複数の開口部74を有す
る。
【0043】図5は、カソード14の形状の一例を示
す。図5(a)は、カソード14の側面図を示し、図5
(b)は、カソード14の上面図を示す。カソード14
は、上述したように複数の突出部18を有する。図5
(a)に示すように、突出部18の先端28は、平面形
状であることが好ましい。カソード14は、LaB
の単結晶材料により形成され、突出部18の先端28に
おける平面は、当該単結晶材料の〈100〉面であるこ
とが好ましい。カソード14が放出する熱電子は、主に
当該平面から放出される。また、カソード14は、図5
(b)に示すように、2次元的に配列された複数の突出
部18を有してよい。複数の突出部18のそれぞれの先
端28の平面は、略同一の平面上に設けられてよい。
【0044】また、ビームスプリッタ32(図2参照)
は、複数の突出部18の配列と類似した配列で設けられ
た複数の開口部32を有してよい。例えば、複数の突出
部18の先端28のピッチがそれぞれ等しい場合、ビー
ムスプリッタ32は、それぞれ等しいピッチで設けられ
た複数の開口部32を有してよい。また、複数の突出部
18の先端28のピッチと、複数の開口部32のピッチ
とは異なってよい。また、図5においては、先端28は
四角形状であったが、他の例においては、円形状であっ
てもよく、また他の形状であってもよい。
【0045】図6は、第1アパーチャ40におけるマス
クパターンの配列について説明する。本例において、第
1アパーチャ40は、複数のブロックマスクを有する。
それぞれのブロックマスクは、対応するサブ電子ビーム
がウェハ200に照射されるべきパターンを有する。ウ
ェハ200において、露光パターンに対して第1の方向
で隣接して照射されるサブ電子ビームに対応するブロッ
クマスクは、当該露光パターンに対応するブロックマス
クのマスクパターンに対して、第1の方向と異なる第2
の方向で隣接して、第1アパーチャ40に設けられる。
以下、例をあげて説明する。
【0046】図6(a)は、ウェハ200における露光
パターンの一例を示す。図6(a)における領域(20
2、204、206)のそれぞれは、サブ電子ビームの
いずれかが露光する領域を示す。ウェハ200におい
て、領域202は、領域204の露光パターンに対して
第1の方向に隣接して露光される。
【0047】図6(b)は、第1アパーチャ40におけ
るブロックマスク(208、210、212)の配列の
一例を示す。ブロックマスク208は、領域204を照
射するべきサブ電子ビームを成形し、ブロックマスク2
10は、領域202を照射するべきサブ電子ビームを成
形する。ブロックマスク210は、ブロックマスク20
8のマスクパターンに対して第2の方向で隣接して設け
られる。
【0048】また、第1アパーチャ40におけるブロッ
クマスクは、複数のブロックマスクが配列された方向に
対して、それぞれ異なる角度で設けられてよい。例え
ば、図6(c)に示すように、ブロックマスク212
は、複数のブロックマスクが配列された方向に対してブ
ロックマスク208と角度αだけ異なる角度で設けられ
てよい。本例における第1アパーチャ40によれば、電
子ビームの回転により、ウェハ上にパターンが回転して
露光される場合であっても、精度よくパターンを露光す
ることができる。
【0049】図7は、露光装置100の構成の他の例を
示す。本例において、露光装置100は、図2に関連し
て説明した露光装置100の構成を複数備える。つま
り、露光装置100は、複数の電子銃10、複数の電源
12、複数の第1偏向部20、複数のビームスプリッタ
30、複数の第1アパーチャ40、複数の第2偏向部5
0、複数の第2アパーチャ60、複数のブランキングア
レイ80、複数の第3偏向部70、及び複数の第4偏向
部90を備える。
【0050】露光装置100は、複数のウェハ200を
露光してよく、また1つのウェハ200を露光してもよ
い。また、図7では、それぞれの構成要素を2ずつ備え
る露光装置100を示したが、露光装置100は、それ
ぞれの構成要素を更に多く備えてもよい。本例における
露光装置100によれば、更に効率よくウェハを露光す
ることができる。
【0051】図8は、第1微少レンズ56の構成の一例
を示す。露光装置100が、複数の電子銃10を有する
場合であっても、複数の第1微少レンズ56及び複数の
第2微少レンズ58は、複数の電子銃10に共通する蓮
根型磁界レンズアレイであってよい。
【0052】図8においては、蓮根型磁界レンズアレイ
である第1微少レンズ56を示す。本例における第1微
少レンズ56は、図4に関連して説明した第1微少レン
ズ56と同様の機能及び構成を有する。
【0053】第1微少レンズ56は、それぞれの電子銃
10に対応する開口部群76を有する。また、開口部群
76は、サブ電子ビームに対応する複数の開口部74を
有する。
【0054】以上、本発明を実施の形態を用いて説明し
たが、本発明の技術的範囲は上記実施形態に記載の範囲
には限定されない。上記実施形態に、多様な変更または
改良を加えることができる。そのような変更または改良
を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ること
が、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【0055】
【発明の効果】上記説明から明らかなように、本発明に
よればウェハを効率よく、且つ精度よく露光することが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施形態に係る露光装置100の構
成の一例を示す。
【図2】 露光装置100の詳細な構成の一例を示す。
【図3】 第2偏向部50の構成の一例を示す。
【図4】 第1微少レンズ56の構成の一例を示す。
【図5】 カソード14の形状の一例を示す。
【図6】 第1アパーチャ40におけるマスクパターン
の配列について説明する。
【図7】 露光装置100の構成の他の例を示す。
【図8】 第1微少レンズ56の構成の一例を示す。
【符号の説明】
10・・・電子銃、12・・・電源、14・・・カソー
ド、16・・・電極、17・・・引出グリッド、18・
・・突出部、19・・・抑制グリッド、20・・・第1
偏向部、22・・・第1レンズ、24・・・第2レン
ズ、28・・・突出部先端、30・・・ビームスプリッ
タ、32、34・・・開口部、40・・・第1アパーチ
ャ、50・・・第2偏向部、52・・・偏向器、54・
・・偏向器、56・・・第1微少レンズ、58・・・第
2微少レンズ、60・・・第2アパーチャ、62・・・
コイル、64・・・ポールピース、66・・・ポールピ
ース、70・・・第3偏向部、72・・・偏向器、74
・・・開口部、76・・・開口部群、80・・・ブラン
キングアレイ、82・・・偏向器、90・・・第4偏向
部、92・・・第3レンズ、94・・・第4レンズ、1
00・・・露光装置、110・・・電子ビーム、200
・・・ウェハ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01J 37/147 H01J 37/305 B 37/305 H01L 21/30 541W (72)発明者 原口 岳士 東京都練馬区旭町1丁目32番1号 株式会 社アドバンテスト内 (72)発明者 坂崎 知博 東京都練馬区旭町1丁目32番1号 株式会 社アドバンテスト内 Fターム(参考) 2H097 CA16 GB00 LA10 5C030 BB02 5C033 BB02 GG03 5C034 BB01 BB02 BB04 5F056 AA33 CB07 EA02 EA06 EA08

Claims (19)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電子ビームにより、ウェハに所望のパタ
    ーンを露光する露光装置であって、 前記電子ビームを生成する電子銃と、 前記電子ビームから、複数のサブ電子ビームを生成する
    ビームスプリッタと、 前記複数のサブ電子ビームのそれぞれを所望の形状に成
    形する第1アパーチャとを備えることを特徴とする露光
    装置。
  2. 【請求項2】 前記電子銃は、前記電子ビームを照射す
    るべき方向に突出した突出部を前記複数のサブ電子ビー
    ムと同数含む、カソードを有することを特徴とする請求
    項1に記載の露光装置。
  3. 【請求項3】 前記ビームスプリッタは、前記電子ビー
    ムから、前記複数のサブ電子ビームを生成するための複
    数の開口部を有し、 前記ビームスプリッタの表面における、前記電子ビーム
    の電流分布のピークが、前記開口部内に位置するよう
    に、前記電子ビームを偏向する第1偏向部を更に備える
    ことを特徴とする請求項2に記載の露光装置。
  4. 【請求項4】 前記複数の突出部はそれぞれ電子ビーム
    を生成し、 前記ビームスプリッタは、それぞれが前記複数の突出部
    のいずれかに対応する複数の開口部を有し、 前記第1偏向部は、前記ビームスプリッタにおける、前
    記複数の突出部がそれぞれ生成した電子ビームの電流分
    布のピークが、対応する前記開口部内に位置するよう
    に、それぞれの前記電子ビームを偏向することを特徴と
    する請求項3に記載の露光装置。
  5. 【請求項5】 前記複数の突出部が生成する前記電子ビ
    ームの強度に基づいて、前記サブ電子ビームが前記ウェ
    ハに照射される照射時間を制御するブランキングアレイ
    を更に備えることを特徴とする請求項4に記載の露光装
    置。
  6. 【請求項6】 前記ブランキングアレイは、それぞれの
    前記サブ電子ビームによる露光量が略一定になるよう
    に、前記照射時間を制御することを特徴とする請求項5
    に記載の露光装置。
  7. 【請求項7】 前記第1偏向部は、 前記電子銃が生成した前記電子ビームの照射範囲が拡大
    するように、前記電子ビームを偏向する第1レンズと、 前記第1レンズが偏向した前記電子ビームの照射方向
    が、前記サブ電子ビームの照射方向と平行になるよう
    に、前記電子ビームを偏向する第2レンズとを有するこ
    とを特徴とする請求項3に記載の露光装置。
  8. 【請求項8】 前記第1偏向部は、 前記複数の突出部が生成した前記電子ビームを、対応す
    る前記開口部に偏向する第1レンズと、 前記第1レンズが偏向した複数の前記電子ビームの照射
    方向が、前記サブ電子ビームの照射方向と平行になるよ
    うに、複数の前記電子ビームを偏向して、前記開口部に
    照射する第2レンズとを有することを特徴とする請求項
    4に記載の露光装置。
  9. 【請求項9】 前記複数の突出部は、共通の電極に電気
    的に接続され、 前記共通の電極に電気的に接続される電源を更に備える
    ことを特徴とする請求項4に記載の露光装置。
  10. 【請求項10】 前記第1アパーチャは、それぞれが前
    記複数のサブ電子ビームのいずれかに対応し、対応する
    前記サブ電子ビームを所望の形状に成形する複数のマス
    クを有し、 前記複数のマスクは、前記複数のマスクが配列された方
    向に対して、それぞれ異なる角度で設けられることを特
    徴とする請求項4に記載の露光装置。
  11. 【請求項11】 前記マスクは、対応する前記サブ電子
    ビームが前記ウェハに照射されるべきパターンを有する
    ブロックマスクであって、 前記ウェハにおいて、前記パターンに対して第1の方向
    で隣接して照射される前記サブ電子ビームに対応する前
    記ブロックマスクは、前記パターンに対して前記第1の
    方向と異なる第2の方向で隣接して設けられることを特
    徴とする請求項10に記載の露光装置。
  12. 【請求項12】 前記第1アパーチャは矩形の開口部を
    複数有し、前記複数のサブ電子ビームのそれぞれを矩形
    に成形し、 矩形の開口部を複数有する第2アパーチャと、 前記第1アパーチャによって矩形に成形された前記複数
    のサブ電子ビームのそれぞれを、前記第2アパーチャの
    開口部に対して所望の位置に偏向することにより、前記
    サブ電子ビームを所望の矩形に成形する第2偏向部とを
    更に備えることを特徴とする請求項1に記載の露光装
    置。
  13. 【請求項13】 前記第2偏向部は、 前記第1アパーチャから、前記第2アパーチャの方向
    に、焦点距離fだけ離れて設けられた第1微少レンズ
    と、 前記第2アパーチャから、前記第1アパーチャの方向
    に、焦点距離fだけ離れ、前記第1微少レンズから、前
    記第2アパーチャの方向に、距離2fだけ離れて設けら
    れた第2微少レンズとを有することを特徴とする請求項
    12に記載の露光装置。
  14. 【請求項14】 前記第2偏向部は、偏向中心が前記第
    1微少レンズの焦点位置となる複数の偏向器を更に有す
    ることを特徴とする請求項13に記載の露光装置。
  15. 【請求項15】 所望の矩形に成形された前記複数のサ
    ブ電子ビームのそれぞれを、独立に偏向する第3偏向部
    と、 前記第3偏向部が偏向した前記複数のサブ電子ビームの
    それぞれを、共通に偏向する第4偏向部とを更に備える
    ことを特徴とする請求項12に記載の露光装置。
  16. 【請求項16】 複数の電子ビームにより、ウェハに所
    望のパターンを露光する露光装置であって、 前記電子ビームを照射するべき方向に突出した突出部を
    前記複数の電子ビームと同数含むカソードを有する、電
    子銃を備えることを特徴とする露光装置。
  17. 【請求項17】 電子ビームにより、ウェハに所望のパ
    ターンを露光する露光装置であって、 前記電子ビームを生成する電子銃と、 前記電子銃が生成した前記電子ビームの照射範囲が拡大
    するように、前記電子ビームを偏向する第1レンズと、 前記第1レンズが偏向した前記電子ビームの照射方向
    が、前記電子ビームを照射するべき照射方向と平行にな
    るように、前記電子ビームを偏向する第2レンズと、 前記第2レンズが偏向した前記電子ビームから、複数の
    サブ電子ビームを生成するビームスプリッタとを有する
    ことを特徴とする露光装置。
  18. 【請求項18】 電子ビームを生成する電子銃であっ
    て、 前記電子ビームを照射するべき方向に突出した複数の突
    出部を有するカソードと、前記複数の突出部のそれぞれ
    と共通に接続される電極とを備え、 前記電極は、前記電子銃に電力を供給する電源と電気的
    に接続されることを特徴とする電子銃。
  19. 【請求項19】 複数の電子ビームにより、ウェハに所
    望のパターンを露光する露光装置であって、 それぞれが前記複数の電子ビームのいずれかを生成する
    複数の電子銃と、 それぞれが前記複数の電子ビームのいずれかに対応し、
    対応する前記電子ビームから、複数のサブ電子ビームを
    それぞれ生成する複数のビームスプリッタと、 それぞれが複数の前記ビームスプリッタのいずれかに対
    応し、対応する前記ビームスプリッタが生成した前記複
    数のサブ電子ビームのそれぞれを所望の形状に成形する
    複数の第1アパーチャとを備えることを特徴とする露光
    装置。
JP2002135720A 2002-05-10 2002-05-10 露光装置、及び電子銃 Withdrawn JP2003332204A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002135720A JP2003332204A (ja) 2002-05-10 2002-05-10 露光装置、及び電子銃

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002135720A JP2003332204A (ja) 2002-05-10 2002-05-10 露光装置、及び電子銃

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003332204A true JP2003332204A (ja) 2003-11-21

Family

ID=29697976

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002135720A Withdrawn JP2003332204A (ja) 2002-05-10 2002-05-10 露光装置、及び電子銃

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003332204A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1753010A1 (en) * 2005-08-09 2007-02-14 Carl Zeiss SMS GmbH Particle-optical system
US11139146B2 (en) 2019-02-27 2021-10-05 Nuflare Technology, Inc. Set of aperture substrates for multiple beams and multi charged particle beam apparatus

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1753010A1 (en) * 2005-08-09 2007-02-14 Carl Zeiss SMS GmbH Particle-optical system
WO2007017255A1 (en) * 2005-08-09 2007-02-15 Carl Zeiss Sms Gmbh Particle-optical system
US8368015B2 (en) 2005-08-09 2013-02-05 Carl Zeiss Sms Gmbh Particle-optical system
US11139146B2 (en) 2019-02-27 2021-10-05 Nuflare Technology, Inc. Set of aperture substrates for multiple beams and multi charged particle beam apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6333508B1 (en) Illumination system for electron beam lithography tool
US5892231A (en) Virtual mask digital electron beam lithography
JP3113820B2 (ja) 低輝度を有する電子ビーム・リソグラフィ・システム
JP4856073B2 (ja) 荷電粒子ビーム露光システム
US8502176B2 (en) Imaging system
JP2002500817A (ja) 制御された単一及び多重電子ビーム放出のためのゲート形光電陰極
JP3658235B2 (ja) 電子銃および電子銃を用いた描画装置および電子線応用装置
KR100634727B1 (ko) 리소그래피 도구용 전자 에미터
CN108255022B (zh) 多波束用孔组及多带电粒子束描绘装置
US6465797B2 (en) Electron beam illumination apparatus, electron beam exposure apparatus, and device manufacturing method
JPH0789530B2 (ja) 荷電ビ−ム露光装置
US7345290B2 (en) Lens array for electron beam lithography tool
JP2003332204A (ja) 露光装置、及び電子銃
JP2002289517A (ja) 電子ビーム近接露光装置及び方法
US6670620B1 (en) Electron gun, illumination apparatus using the electron gun, and electron beam exposure apparatus using the illumination apparatus
US4980558A (en) Electron beam generator
JP3492978B2 (ja) 半導体集積回路の製造方法
JP3658149B2 (ja) 電子線露光装置
JP2003324050A (ja) 露光装置及びカソード製造方法
JP4535602B2 (ja) 電子ビーム露光装置及び電子レンズ
JPH0451438A (ja) 電子ビーム露光装置及び露光方法
JP2004288577A (ja) 電子銃、電子銃の制御方法及び電子線露光装置
JP2001283758A (ja) 荷電粒子銃及び荷電粒子線装置
JP2002231610A (ja) 電子ビーム露光装置及び露光方法
JP2002299217A (ja) 荷電粒子線露光装置及び露光方法

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20050802