JP2003331428A - Recording method for rewritable optical recording medium, and optical disk recording/reproducing device - Google Patents

Recording method for rewritable optical recording medium, and optical disk recording/reproducing device

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JP2003331428A JP2003114396A JP2003114396A JP2003331428A JP 2003331428 A JP2003331428 A JP 2003331428A JP 2003114396 A JP2003114396 A JP 2003114396A JP 2003114396 A JP2003114396 A JP 2003114396A JP 2003331428 A JP2003331428 A JP 2003331428A
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a recording method for a rewritable compact disk realizing recording at high speed such as octuple speed or higher while keeping the compatibility with the conventional CD-RW specification at least in the quadruple speed. <P>SOLUTION: In recording information EFM-modulated by the CLV (constant linear velocity) method onto the rewritable optical recording disk medium by a plurality of mark lengths and inter-mark lengths, when inter-recording mark portions are irradiated with a recording light with an erasure power P<SB>e</SB>capable of crystallizing the amorphous and the recording marks are repetitively irradiated with recording light with a record power P<SB>w</SB>and recording light with a bias power the irradiation time of the light with the power P<SB>w</SB>and P<SB>b</SB>is changed depending on a recording linear velocity. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】本発明は、コンパクトディス
クと互換性のある書換え可能な相変化媒体とその記録方
法及び記録再生装置に関する。特に、4倍速以上の高倍
速でのオーバーライト性能の改善に関する。 【0002】 【従来の技術】一般にコンパクトディスク(CD)は、
凹ピットの底部及び鏡面部からの反射光の干渉により生
じる反射率変化を利用して2値信号の記録及びトラッキ
ング信号の検出が行われている。近年、CDと互換性の
ある媒体として、相変化型の書換え型コンパクトディス
ク(CD−RW、CD−Rewritable)が使用
されている(「CD−ROM professiona
l」誌(米国)、1996年9月号、29−44ペー
ジ、あるいは、相変化光記録シンポジウム予稿集、19
95年、41−45ページ)。 【0003】相変化型のCD−RWは、非晶質と結晶状
態の屈折率差によって生じる反射率差および位相差変化
を利用して記録情報信号の検出を行う。通常の相変化媒
体は、基板上に下部保護層、相変化型記録層、上部保護
層、反射層を設けた構造を有し、これら層の多重干渉を
利用して反射率差および位相差を制御しCDと互換性を
持たせることができる。なお、CD−RWにおいて記録
とは記録と消去を同時に行うオーバーライト記録を言
う。この結果、反射率70%以上という高反射率まで含
めた互換性は困難であるものの、反射率を15〜25%
に落とした範囲内では記録信号及び溝信号の互換性が確
保でき、反射率の低いことをカバーするための増幅系を
再生系に付加すれば現行CDドライブで再生が可能であ
る。 【0004】 【発明が解決しようとする課題】しかし、CD−RWを
利用する場合の問題点のひとつに記録速度と転送レート
の遅さがある。CDの記録再生時の基準速度(以下、1
倍速とも称する)は線速度1.2〜1.4m/sである
が、CD−ROMではすでに最大40倍速程度の高速再
生が実現されており、1倍速という低速で利用されるの
は音楽や画像の再生程度に限られる。一般に、16倍速
再生まではCD本来の一定線速度モード(CLV、Co
nstant Linear Velocity)であ
るが、24〜40倍速再生は一定回転速度モード(CA
V、Constant Angular Veloci
ty)を適用することで外周部データの転送レート、ア
クセス及びシーク時間が飛躍的に高速化された。 【0005】CD−RWにおいても記録の高速化は進ん
でいるがCLVモードで1〜4倍速までにとどまってい
る。通常、CD−RWは1倍速で全面に記録すると74
分(又は63分)もの時間を要し、4倍速であっても2
0分近くかかってしまう。しかし8倍速であれば10分
以内で記録ができ、音楽・映像などの大量データ記録に
CD−RWの用途を大きく広げることができる。また、
現在コンピュータの外部記憶装置には、転送レートの速
い光磁気記録媒体(MO)などが主に用いられている
が、CD−RWの転送レートを上げることでこのような
用途にも使用が広がると考えられる。 【0006】このため、より高速で記録できる相変化媒
体と記録方法が求められていた。しかし、より高線速ま
で記録可能なCD−RWは未だ実現されていない。1〜
4倍速でCD−RW記録システムとの互換性を保ったま
ま、下は1倍速乃至は2倍速、上は8倍速乃至は10倍
速に至る広い線速範囲にわたってオーバーライト可能な
媒体の実現は技術的に困難であった。その理由は媒体と
記録方法の両方にあった。第一の理由は、非晶質マーク
の高速結晶化による短時間の消去と、非晶質マークの経
時安定性を両立させるのが困難であるという問題であ
る。例えば、1〜4倍速記録可能なCD−RWの記録層
材料として用いられるAgInSbTeは、Sb含有量
を相対的に増やすことで高速結晶化でき8倍速記録が可
能である。しかし、本発明者らの検討によれば、Sb量
の増大は一方で、非晶質マークの経時安定性を著しく損
ねてしまい、室温なら1〜2年以内で、記録装置内部の
50〜80℃という高温環境であれば数日で、再生不可
能なまでに非晶質マークが再結晶化により消えてしま
う。あるいは、1mm以下のレーザー光ビームによる数
百回〜数千回程度の再生によって非晶質マークが消え始
めるという深刻な問題もあり、記録媒体としての信頼性
を維持できないことがわかった。これらの問題を解決す
る必要があるのに加え、CD−RWは広く普及している
再生専用CD−ROMドライブと再生互換性をとる制約
もある。例えば、再生互換をとるためには変調度55〜
70%という高変調度を始めとして反射率15〜25
%、その他のサーボ信号特性を満足する必要がある。 【0007】第二の理由は、CD−RW規格ではかなり
厳密な記録パルスストラテジー(パルス分割方法)が規
定されていることである。すなわち、CD−RW規格オ
レンジブックパート3のバージョン2.0規定の、図4
に示す記録パルスストラテジー、又はそれに類似してお
り現行の記録パルスストラテジー発生用IC回路を大き
く変更する必要のないパルスストラテジーをもって4倍
速から8〜10倍速までの広範囲な線速の記録を行わな
ければならない。図4(a)はEFM変調された3T〜
11Tの時間的長さを有するデータ信号であり、図4
(b)は、該データ信号に基づいて発生される実際の記
録光のレーザーパワーである。Pwは記録層を溶融させ
急冷によって非晶質マークを形成するための記録パワ
ー、Peは非晶質マークを結晶化によって消去するため
の消去パワーであり、通常、バイアスパワーPbは再生
光の再生パワーPrとほぼ同じである。 【0008】相変化媒体にマーク長変調された情報を複
数のマーク長により記録する場合、一般に、固定した記
録パルスストラテジーでは、最大使用線速と最小使用線
速の比はおよそ2倍が限度である。現行の4倍速で記録
可能なCD−RWライターの多くは上記規格に規定され
た記録パルスストラテジーに準じた固定波形しか発生で
きないため、これら既存のライターとの互換性を維持し
つつ、少なくとも8〜10倍速程度までの高速記録を行
うことは非常に困難であった。 【0009】本発明の目的は、1〜4倍速のような低線
速から8〜10倍速を越えるような高線速までの広い線
速範囲において、EFM変調による、即ちデータの基準
クロック周期Tに対して3Tから11Tまでの時間的長
さのマーク長及びマーク間長さの組み合わせによる非晶
質マークをマークとするマーク長記録を行うことによ
り、記録信号フォーマットについてはCDと再生互換を
有する書換え型媒体とその記録方法を提供することにあ
る。特に、少なくとも4倍速において従来のCD−RW
規格と可能な限り互換性を維持しつつ、8倍速以上の高
速記録をも可能とする書換え型コンパクトディスクとそ
の記録方法を提供することにある。なお、ここで「可能
な限り」の互換性とは、少なくとも4倍速においてハー
ドウエアの変更なくファームウエアの変更のみで対応で
きる程度を意味する。 【0010】 【課題を解決するための手段】本発明の第1の要旨は、
相変化型記録層を有する書換え型円盤状光記録媒体にC
LV方式にてEFM変調された情報を複数のマーク長及
びマーク間長により記録するにあたり、一つの記録マー
クの時間的長さをnTとしたとき(Tは基準クロック周
期。nは3〜11までの整数)、記録マーク間に対して
は、非晶質を結晶しうる消去パワーPeの記録光を照射
し、記録マークに対しては、そのうちの時間的長さ(n
−j)Tを、 α1 T、β1 T、α2 T、β2 T、・・・・、αm T、
βm T、 (ただし、m=n−1又はm=n−2)の順に、Σ
i (αi +βi )=n−j(jは0.0≦j≦2.0な
る実数)となるよう分割し、αi T(1≦i≦m)なる
時間内には記録層を溶融させるにたるPw>Peなる記
録パワーPwの記録光を照射し、βi T(1≦i≦m)
なる時間内には0<Pb≦0.5Peなるバイアスパワ
ーPbの記録光を照射してオーバーライトを行い、線速
1.2m/s〜1.4m/sを基準速度(1倍速)と
し、231nsをその際の基準クロック周期としたと
き、(1)4倍速においては、α1 =0.3〜1.5、
αi =0.2〜0.7(2≦i≦m)、αi +βi-1
1〜1.5(3≦i≦m)とし、(2)1又は2倍速に
おいては、α1 =0.05〜1.0、αi =0.05〜
0.5(2≦i≦m)、αi +βi-1 =1〜1.5(3
≦i≦m)とし、(3)6、8、10及び12倍速のい
ずれかの倍速においては、α1 =0.3〜2、αi
0.3〜1(2≦i≦m)、αi +βi-1 =1〜1.5
(3≦i≦m)とすることを特徴とする書換え型光記録
媒体への記録方法に存する。 【0011】本発明の第2の要旨は、所定の記録領域を
有する書換え型円盤状光記録媒体を角速度一定で回転さ
せたCAV方式にてEFM変調された情報を複数のマー
ク長により記録するに当たり、線速1.2m/s〜1.
4m/sを基準速度(1倍速)として記録領域最外周で
の線速度が少なくとも10倍速となるように該ディスク
を回転させ、一つの記録マークの時間的長さをnTとし
たとき(Tは基準クロック周期であり、その半径位置に
おける線速度Vとの積VTが一定となるように半径位置
に応じてTは変化する。nは3〜11までの整数)、記
録マーク間に対しては、非晶質を結晶化しうる消去パワ
ーPeの記録光を照射し、記録マークに対しては、その
うちの時間的長さ(n−j)Tを、 α1 T、β1 T、α2 T、β2 T、・・・・、αm T、
βm T、 (ただし、m=n−1 α1 =0.75〜1.25、 αi =0.25〜0.75 (2≦i≦m)、 αi +βi-1 =1〜1.5 (3≦i≦m))、の順に、Σi (αi +βi )=n−
j(jは0.0≦j≦2.0なる実数)となるよう分割
し、αi T(1≦i≦m)なる時間内には記録層を溶融
させるにたるPw>Peなる記録パワーPwの記録光を
照射し、βi T(1≦i≦m)なる時間内には0<Pb
≦0.5PeなるバイアスパワーPbの記録光を照射し
てオーバーライトを行い、いずれの半径位置においても
α1 及びαi +βi-1 (i=3〜m)を一定とし、内周
ほどαi (i=3〜m)を減少させる光記録媒体への記
録方法に存する。 【0012】本発明の第3の要旨は、所定の記録領域を
有する書換え型円盤状光記録媒体を角速度一定で回転さ
せたCAV方式にてEFM変調された情報を複数のマー
ク長により記録するに当たり、線速1.2m/s〜1.
4m/sを基準速度(1倍速)として記録領域最外周で
の線速度が少なくとも10倍速となるように該ディスク
を回転させ、一つの記録マークの時間的長さをnTとし
たとき(Tは基準クロック周期であり、その半径位置に
おける線速度Vとの積VTが一定となるように、半径位
置に応じてTは変化する。nは3〜11までの整数)、
記録マーク間に対しては、非晶質を結晶化しうる消去パ
ワーPeの記録光を照射し、記録マークに対しては、そ
のうちの時間的長さ(n−j)Tを、 α1 T、β1 T、α2 T、β2 T、・・・・、αm T、
βm T、 (ただし、m=n−1、αi /α1=0.3〜0.7
(ただしiは2〜mの整数)、 αi +βi-1 =約1 (3≦i≦m))、の順に、Σi (αi +βi )=n−
j(jは0.0≦j≦2.0なる実数)となるよう分割
し、αi T(1≦i≦m)なる時間内には記録層を溶融
させるにたるPw>Peなる記録パワーPwの記録光を
照射し、βi T(1≦i≦m)なる時間内には0<Pb
≦0.5PeなるバイアスパワーPbの記録光を照射し
てオーバーライトを行い、いずれの半径位置においても
αi T(i=2〜m)及びαi +βi-1 (i=3〜m)
を一定とする書換え型光記録媒体への記録方法に存す
る。 【0013】本発明の第4の要旨は、一定の搬送周波数
L0とアドレス情報によって変調された信号とに従って
蛇行された空間周波数一定の螺旋状の溝及び記録層を有
し、該螺旋状の溝の所定の位置にある記録情報の単位で
ある記録ブロックを識別するアドレス情報及び該ブロッ
クの開始位置を識別する同期情報を有するディスクを、
その中心部分を軸として等角速度回転させる手段と、記
録再生のための集束光ビームを発生する光ピックアップ
を所定のアドレスに移動させる半径方向の移動させる手
段と、該記録層に集束光ビームの焦点をあわせるフォー
カスサーボ手段と、該螺旋状の溝に沿って集束光ビーム
を走査させるための溝トラッキングサーボ手段と、該溝
蛇行から搬送周波数fA0、アドレス情報及びブロック同
期信号を検出・解読する手段と、該記録ブロックの開始
位置及び周波数fd0を有するデータの基準クロックTに
同期してマーク長変調された記録データ列を発生する手
段と、該記録データ列に対応して記録レーザーパワーを
変調する手段とを有する光ディスク記録装置であって、
集束光ビームを所定アドレスの記録ブロックに半径方向
に移動させたときに該半径に反比例して変化するデータ
の基準クロックTを発生する基準信号発生器と、所定半
径における該基準クロックを1/N(Nは整数)に分周
して得られる参照信号fR0と該アドレスにおいて検出さ
れた溝蛇行の搬送周波数fA0を位相比較することで、所
定の半径におけるデータの基準クロック周波数fd0とf
A0がいずれの半径位置においてもfd0=N・fA0なる関
係を維持するようディスクの回転数を微調整するととも
に、記録ブロックの開始位置と該ブロックに書き込まれ
るべきデータ列の同期を達成する手段と、を有する光デ
ィスク記録再生装置に存する。 【0014】また、本発明の第5の要旨は、プログラム
領域の内周もしくは外周側の連続した領域に所定のアプ
リケーションプログラムのデータが格納されたアプリケ
ーションプログラム領域と、残りの領域に少なくとも上
記アプリケーションプログラムに関連するユーザーデー
タが記録可能なユーザーデータ記録領域とが設定されて
なり、該アプリケーションプログラム及びユーザーデー
タが同一のファイル管理構造を有する固定長パケット単
位で記録されており、該アプリケーションの再生及び該
アプリケーションに関連したユーザーデータの記録がそ
れぞれ一定の回転速度のまま行われる書き換え型光記録
媒体に対して記録再生を行う記録再生装置であって、上
記書き換え型光記録媒体の上記特定の領域にアクセスし
てディスクをCAV回転させながら上記アプリケーショ
ンプログラムのデータを再生して、そのプログラム内容
を実行させるためのプログラム実行手段と、上記プログ
ラム実行手段により実行されるアプリケーションプログ
ラムに従って、所要の情報を入力することのできる情報
入力手段と、ディスクをCAV回転させたまま、上記ユ
ーザーデータ領域にアクセスして、上記情報入力手段に
より入力された情報をユーザーデータとして記録するこ
との出来る記録手段と、を備えて構成されることを特徴
とする記録再生装置に存する。 【0015】 【発明の実施の形態】1.媒体の特性について 本発明においては、記録光による光スポットの媒体に対
する速度である線速度として1.2m/s〜1.4m/
s、特には1.2m/sを基準速度、即ち1倍速とす
る。まず、本発明の第1及び第2の要旨に係るディスク
について説明する。本発明の書換え型光記録媒体は、通
常円盤状である。そして相変化型記録層の結晶状態の部
分を未記録状態・消去状態とし、非晶質状態の部分を記
録状態とする。記録される情報は、レーザー光などの記
録光を照射し非晶質マークを形成することにより、EF
M変調された信号からなる。媒体の基板には通常螺旋状
の溝が形成される。また、非晶質マークは通常溝内に形
成されるが、溝間部(ランド)に形成されていてもよ
い。該溝は通常、1倍速に換算したときに22.05k
Hzとなる搬送周波数を基準とする周波数で半径方向に
蛇行(ウォブル)しており、このような溝をウォブル溝
と呼ぶ。そして、この蛇行によって周波数は、上記搬送
周波数を±1kHzの周波数で周波数変調され、この微
妙な周波数変化により、ディスク上のアドレス情報が絶
対時間情報として組み込まれている。このような絶対時
間情報はATIP(Absolute Time In
Pre−groove)信号と呼ばれる。 【0016】このウォブル溝は、CLVモードで、CD
の1倍速の線速で記録されてスタンパー上に形成したの
ち、このスタンパーをもとに基板を射出成形することで
形成することができる。記録容量を高めるため、通常搬
送周波数が線速1.2m/s(±0.1m/sの範囲で
許容)において22.05kHzとなるようにウォブル
溝は形成される。データを記録する際には、基準クロッ
ク周期Tが基準となり、この整数倍の長さを有する様々
な時間的長さのマーク及びスペース(マーク間)を形成
することでデータを記録する。EFM変調においては通
常時間的長さ3T〜11Tのマークが形成される。ま
た、基準クロック周期Tはディスク線速に反比例して変
化させるのが通常である。基準クロック周期Tの逆数は
基準クロック周波数と呼ばれ、CDの1倍速(線速度
1.2m/s〜1.4m/s)における基準クロック周
波数はデータの1チャネルビットに相当し、通常4.3
218MHzである。この基準クロック周波数はまた、
上記ウォブルの基準周波数22.05kHzのちょうど
196倍となっている。1倍速における基準クロック周
期Tは通常1/(4.3218×106 )≒231×1
-9(秒)=231(ナノ秒)となる。以下の説明で
は、特に断わりのない限り基準クロック周期Tと線速V
との積VTは線速によらず一定とする。 【0017】図2に、CD−RWをはじめとするCDフ
ァミリーで用いられるEFM変調信号の再生波形(アイ
パターン)の模式図を示す。アイパターンには3Tから
11Tのすべての非晶質マーク及び結晶状態のスペース
の再生波形が実質的にランダムに含まれている。再生波
形は、反射光強度を電圧信号として取り出しオシロスコ
ープ上で観察した波形である。この際、再生信号は直流
成分を含んでいる。アイパターンの上端Itop を入射光
に対する反射率に換算したものがスペースに対応する反
射率の上端値Rtop であり、アイパターンの振幅(実際
上は、11Tマークの振幅)I11をItop で規格化した
ものが下記式(1)で表される記録信号の変調度m11
ある。 m11=I11/Itop ×100(%) (1) 【0018】本発明においては、変調度m11は60%以
上80%以下とする。変調度は光学的分解能に依存する
のでNAが大きな光学系では大きく見える傾向があるた
め、本発明においては波長約780nmのレーザー光
を、開口数NA=0.5又はNA=0.55の光学系を
通して照射し記録する際の変調度m11とする。ただし波
長は厳密に780nmである必要はなく、775〜79
5nm程度の範囲にあれば良い。信号振幅I11は大きい
ほうが好ましいが、大きすぎると信号再生系のアンプの
ゲインが極端に飽和してしまうためm11の上限は80
%、好ましくは78%、さらに好ましくは75%程度で
ある。一方、小さすぎると信号体雑音比(SN比)が低
下してしまうため、下限は60%、好ましくは62%、
さらに好ましくは65%程度である。また、Rtop は1
5〜25%、好ましくは15〜20%、さらに好ましく
は16〜19%の範囲とする。さらに、下記式(2) Asym =(Islice /I11−1/2)(%)
(2)で定義されるアシンメトリー値Asym は、できる
だけ0付近にあることが望ましいが、通常は±10%の
範囲である。ここで、Isliceは、図2におけるIの中
心線2001と包絡線の底辺との間の電圧差であり、I
11は包絡線(envelop)の上辺2003と底辺2
002との間の電圧値である。 【0019】EFM変調に用いられる3T〜11Tの各
マーク長及びスペース長のジッタ(jitter)、及
びデビエーション(deviation)は、図2にお
ける再生信号を高域通過フィルタを通過させてRF成分
を取り出した後に、信号振幅の実質的な中心値となるゼ
ロレベルを閾値としてDCスライスして得られる、マー
ク長あるいはスペース長の平均値の所定値(nT)から
のずれ(デビエーション)及び標準偏差(ジッター)で
ある。詳細な測定方法は、CD規格であるレッドブッ
ク、CD−RW規格であるオレンジブックや、「CDフ
ァミリー」(オーム社発行、平成8年4月25日)で規
定されている。本発明においては、ジッタについては、
1倍速(基準クロック周期231ナノ秒)で再生したと
きのジッタ値が35ナノ秒以下、好ましくは30ナノ秒
以下、さらに好ましくは25ナノ秒以下とする。なお、
通常3Tのマークもしくはマーク間のジッタが3T〜1
1Tの中で最悪の値となる。本発明においては、デビエ
ーションは通常3Tで±40ナノ秒以下、11Tで±6
0ナノ秒以下とする。なお、4T〜10Tに対しては、
通常3及び11Tに対する規定である±40ナノ秒以下
及び±60ナノ秒以上を補完して得られる値となる。な
お、記録後の信号の品質に関しては、基本的に現行の規
格と同様の特性を満たすのが好ましい。詳細には、オレ
ンジブック・パート3に記載された内容を満足するのが
好ましい。 【0020】変調度m11、反射率の上端値RTOP 及びジ
ッターを上記の値とすることにより、従来のCD−RW
規格と互換性を維持しつつ、8倍速、特に10倍速以上
のような高速記録が可能となる。好ましくは、8倍速に
おいて3Tマークと3Tスペース(マーク間)からなる
単一周期信号を記録後、11Tマークと11Tスペース
からなる単一周期信号をオーバーライトしたときの3T
マークの消去比が25dB以上、特に27dB以上であ
る。より好ましくは10倍速、特に12倍速においても
上記消去比が25dB以上とする。高線速での消去比が
高い媒体ほど非晶質マーク消去時の再結晶化速度が速
く、より高線速でEFM信号のオーバーライトが可能で
ある。例えば、12倍速における上記消去比を25dB
以上としておけば、12倍速で使用した際に良好な特性
が得られるのは勿論、10倍速で使用した際にも良好な
特性が得られる。 【0021】消去比は、オーバーライトを行う線速度範
囲の上限において十分な値であれば、通常より低線速側
で不足することはない。線速Vで移動する開口数NAの
対物レンズで集光された波長λの光ビームで記録層が照
射される時間は、λ/(NA・V)で規格化されるか
ら、低線速ほど照射時間は長くなり再結晶化に要する時
間を十分確保できるからである。また、あらかじめ記録
された記録信号のジッタが1倍速再生において35ns
ec(ナノ秒)に達するまでの時間を該記録媒体のアー
カイバル寿命とするとき、温度、80℃、相対湿度85
%におけるアーカイバル寿命が500時間以上であるこ
とが望ましい。さらに、本発明においては、変調度m11
が温度80℃、相対湿度85%の加速試験環境下で50
0時間後も初期値の90%以上、特に95%以上を維持
するのが好ましい。 【0022】本発明における、線速V(ここでVは8倍
速、10倍速又は12倍速を示す)における変調度
11、Rtop 、ジッター、デビエーション、アシンメト
リー値、消去比等の規定は、線速1.2m/sを基準速
度(1倍速)V1 としたとき、線速Vにおいて、データ
基準クロック周期TがVT=V1 1 (ただし、T1
231nsである)であるように保ちながらEFM変調
された信号を下記記録方式1の条件内のある1つの記録
方式で10回オーバーライト記録した後に、1倍速での
再生によって得られる記録信号から与えられる。 【0023】記録方式1;波長780nmの光を、開口
数NAが0.55又は0.5の光学系を介して照射す
る。この際、1つの非晶質マークの時間的長さをnT
(nは3から11までの整数)としたとき、記録マーク
間に対しては、非晶質を結晶化し得る消去パワーPeを
照射し、記録マークに対しては、そのうちの時間的長さ
(n−j)Tを、α1 T、β1 T、α2 T、β2 T、…
αm T、βm T(ただし、m=n−1、α1 =1.0、
αi =0.5(iは2〜mの整数)、βm =0.25〜
0.75、αi +βi-1 =1.0(iは2〜mの整
数))の順に、Σi(αi +βi )=n−jとなるよう
に分割し(jは0〜2.0までの実数)、 【0024】αi Tなる時間(iは1〜mの整数)内に
は、記録層を溶融するに足る記録パワーPwの記録光
(ただし、Pwは14〜25mWであり、Pe/Pw=
0.5とする)を照射し、βi Tなる時間(iは1〜m
の整数)内には、0.8mWのバイアスパワーPbの記
録光を照射する。また、本発明においては、4倍速にお
いても、変調度m11、Rtop 、ジッター、デビエーショ
ン、アシンメトリー値、消去比の値が上記数値範囲とな
るようにするのが好ましい。4倍速における変調度
11、Rtop 、ジッター、デビエーション、アシンメト
リー値、消去比等の規定は、線速1.2m/sを基準速
度(1倍速)V1 としたとき、基準速度の4倍速Vにお
いて、データ基準クロック周期TがVT=V1 1 (た
だし、T1 は231nsである)であるように保ちなが
らEFM変調された信号を下記記録方式2又は3の条件
内のある1つの記録方式で10回オーバーライト記録し
た後に、1倍速での再生によって得られる記録信号から
与えられる。 【0025】記録方式2;波長780nmの光を、開口
数NAが0.55又は0.5の光学系を介して照射す
る。この際、1つの非晶質マークの時間的長さをnT
(nは3から11までの整数)としたとき、記録マーク
間に対しては、非晶質を結晶化し得る消去パワーPeを
照射し、記録マークに対しては、そのうちの時間的長さ
(n−j)Tを、α1 T、β1 T、α2 T、β2 T、…
αm T、βm T(ただし、m=n−1、α1 =1.0、
αi =0.3〜0.6(iは2〜mの整数)、βm
0.25〜0.75、αi +βi-1 =1.0(iは2〜
mの整数))の順に、Σi(αi +βi )=n−jとな
るように分割し(jは0〜2.0までの実数)、 【0026】αi Tなる時間(iは1〜mの整数)内に
は、記録層を溶融するに足る記録パワーPwの記録光
(ただし、Pwは14〜25mWであり、Pe/Pw=
0.5とする)を照射し、βi Tなる時間(iは1〜m
の整数)内には、0.8mWのバイアスパワーPbの記
録光を照射する。 【0027】記録方式3;波長780nmの光を、開口
数NAが0.55又は0.5の光学系を介して照射す
る。この際、1つの非晶質マークの時間的長さをnT
(nは3から11までの整数)としたとき、記録マーク
間に対しては、非晶質を結晶化し得る消去パワーPeを
照射し、記録マークに対しては、そのうちの時間的長さ
(n−j)Tを、α1 T、β1 T、α2 T、β2 T、…
αm T、βm T(ただし、m=n−1、α1 =0.4、
αi =0.15〜0.25(iは2〜mの整数)、βm
=0.25〜0.75、αi +βi-1 =1.0(iは2
〜mの整数))の順に、Σi(α i +βi )=n−jと
なるように分割し(jは0〜2.0までの実数)、 【0028】αi Tなる時間(iは1〜mの整数)内に
は、記録層を溶融するに足る記録パワーPwの記録光
(ただし、Pwは14〜25mWであり、Pe/Pw=
0.5とする)を照射し、βi Tなる時間(iは1〜m
の整数)内には、0.8mWのバイアスパワーPbの記
録光を照射する。なお、「オーバーライト」とは、一般
に、一旦記録したデータを特定の処理により均一な未記
録・消去状態に戻すことなく新たなデータを上書きする
ことを示す。ただし、本発明においては、初期の均一な
未記録・消去状態に記録を行う場合もオーバーライトと
把える。例えば、上記記録方式1〜3にも記載のある
「10回オーバーライト」とは、初期の結晶状態に最初
の記録(1回オーバーライト)を行ない、次いで9回オ
ーバーライトを行なうことを意味し、以下の説明におい
ても同様の意味とする。また、記録方式1〜3における
「αi+βi-1=1.0」との規定は、(αi+βi-1)が
基準クロック周期Tと同じ時間的長さであることを意味
しており、回路設計上不可避的に生じるゆらぎ程度の誤
差は含みうるものである。さらにまた、記録方式1〜3
における記録光の波長は775〜795nm程度の範囲
でばらついていても大きな問題とはならない。 【0029】2.媒体の記録層について 本発明の書換え型光記録媒体においては、非晶質マーク
の高速結晶化による短時間の消去と、非晶質マークの経
時安定性を両立させることが肝要である。なおかつ、再
生専用CD−ROMドライブと再生互換をとるために、
基準となる光学系において、高変調度を満足すると共
に、反射率をその他のサーボ信号特性等を満足させるの
が好ましい。高速結晶化と経時安定性には基板上に設け
られる相変化型記録層の材料の選択が最も重要である。
本発明では該記録層の結晶化速度を速めることが重要で
あり、これは記録層の組成を微妙に調整することにより
達成される。記録層材料の組成としては特に、SbTe
共晶組成よりも過剰のSbを含有する合金、より具体的
にはSb70Te30共晶点組成を基本として過剰のSbを
含むSb70Te30合金を母体としたものが好ましい。S
bTe共晶組成に過剰のSbを存在させることによって
高速での結晶化が可能となる。この中でも特に、さらに
Geを含む、Mz Gey (Sbx Te1-x 1-y-z 組成
(ただし、0≦z≦0.1、0<y≦0.1、0.72
≦x≦0.8であり、MはIn、Ga、Si、Sn、P
b、Pd、Pt、Zn、Au、Ag、Zr、Hf、V、
Nb、Ta、Cr、Co、Bi、O、N、S及び希土類
金属からなる群から選ばれる少なくとも一種)なる組成
から選択するのが好ましい。 【0030】上記好ましい組成は、SbTe共晶点組成
より過剰のSbを含む2元合金に経時安定性及びジッタ
の改善のためにGeを添加した3元合金をベースとする
ものと考えることができる。この際、Geは過剰Sbに
よる高速結晶化機能を損ねることなく、非晶質マークの
経時安定性を高める機能を有していると考えられる。ま
た、結晶化温度を高めるとともに、結晶化の活性化エネ
ルギーを高めるのに最も有効な元素であると考えられ
る。Ge量は上記式におけるyの値として0.03以
上、特に、0.04以上であることが好ましい。一方G
e量が多すぎると、おそらくGeTeやGeSbTe系
の金属間化合物が析出するために、光学定数の異なる結
晶粒が混在し記録層のノイズが上昇しジッタが増加する
ことがあり、また、あまりに多く添加してもそれ以上経
時安定性は改善されないので、通常Ge量は上記式にお
けるyの値として0.1以下、好ましくは0.08以下
である。 【0031】また、過剰Sbが少なすぎると、再結晶化
速度が低すぎて8倍速以上といった高線速で良好なオー
バーライトができない場合があるので、上記式における
xは0.72以上、好ましくは0.73以上、さらに好
ましくは0.74以上とする。一方、Sb量が過剰すぎ
ると、再結晶化速度が速すぎ、4倍速においてはCD−
RW規格のパルス分割方法では良好な非晶質マークの形
成が困難となりジッタが非常に高くなってしまい、ま
た、非晶質マークの経時安定性も悪化してしまう傾向に
あるため、上記xは0.80以下、好ましくは0.79
以下、さらに好ましくは0.78以下とする。最適な組
成範囲は開口数NAによっても若干異なる。NAが大き
く集束光ビームがより絞られている場合は、ビーム照射
後の記録層冷却速度が若干高い傾向があるためである。
従って、NA=0.5に対してはxは0.73〜0.7
8の範囲が好適であり、NA=0.55に対してはxは
0.75〜0.80の範囲が好適である。この中間のN
Aに対しては、これらの中間の組成領域を用いることが
好ましい。 【0032】前記組成式において、上記Mで示される一
群の元素のうち少なくとも1種を添加することによりさ
らに特性が改善される。In、Ga、Si及びSnはさ
らなるジッタの低減に効果がある。N、O及びSは繰返
しオーバーライトにおける偏析の防止や光学特性の微調
整ができるという効果がある。Bi、Zn、Pd、P
t、Au、Ag及び希土類金属は成膜直後の非晶質膜の
全面結晶化が容易になるという効果がある。Zr、H
f、V、Nb、Ta、Cr、Co及びPbはさらなる経
時安定性の改善に効果がある。ただし、元素Mの量が多
すぎると特定の物質の経時的偏析や繰返しオーバーライ
トによる偏析が起こりやすくなるため、元素Mの添加量
は上記式におけるzのx+y+zに対する量として0.
1以下、特に0.09以下とするのが好ましい。偏析が
生じると、記録層が初期に有する非晶質の安定性や再結
晶化速度等が変化して当初のオーバーライト特性が得ら
れなくなるので好ましくない。特に、O、S及びNはそ
の合計量がこれらとSb、Te及びGeの合計量に対し
て5原子%以下であることがより好ましい。 【0033】元素Mとしては、特にInやGaがジッタ
低減、対応線速マージンを拡大するのに効果がある。特
にA1 a2 b Gec (Sbd Te1-d 1-a-b-c 組成
(ただし、0≦a≦0.1、0<b≦0.1、0.02
<c≦0.2、好ましくは0.02<c≦0.1、0.
72≦d≦0.8であり、A1はZn、Pd、Pt、
V、Nb、Ta、Cr、Co、Si、Sn、Pb、B
i、N、O及びSからなる群から選ばれる少なくとも一
種。A2は、Ga及びInからなる群から選ばれる少な
くとも一種。)のような、InGeSbTe4元合金又
はInGaSbTe4元合金をベースとする記録層組成
がより好ましい。InやGaの量は、多すぎると前述の
ように偏析を生じ易いので、通常bの値は0.1以下、
好ましくは0.06以下とする。こうすることによっ
て、10000回を超えてオーバーライトした場合でも
偏析を生じにくくすることができる。なお、上記組成式
においてdの値は、前述のxの値と同様、好ましくは
0.73以上、さらに好ましくは0.74以上、また好
ましくは0.79以下、さらに好ましくは0.78以下
とするが、開口数によってもその最適値は変化し、NA
=0.5ではx=0.73〜0.78、NA=0.55
ではx=0.75〜0.80程度がよい。ここで、上述
の記録層組成が他の組成に比して特に好ましいことを説
明する。InGeSbTe合金については特開平1−6
3195号公報、特開平1−14083号公報、特開平
5−16528号公報、特開平9−293269号公報
にも記載があるが、いずれもGeTe−Sb2 Te3
似2元合金近傍組成を好ましいとしている。 【0034】本発明の前記組成はこれらとは異なり、S
bTeを共晶組成を主成分とし過剰のSbを含む組成で
ある。1〜2倍速程度であれば上記GeTe−Sb2
3 擬似2元合金に過剰のSbを添加したものであって
も書換え型コンパクトディスクが実現可能である(特開
平4−212735号公報、特開平5−62193号公
報)。GeTe−Sb 2 Te3 を結ぶ線上ではGe1
4 Te7 、Ge1 Sb2 Te4 あるいはGe 2 Sb2
Te5 組成が最も高速の結晶化速度を示し、Sbを添加
することで結晶化速度を遅くするのである。しかし、1
〜2倍速でオーバーライトができるように過剰のSbを
添加しているため、4倍速以上の高速記録には結晶化速
度が遅すぎて消去比が低く、オーバーライトができな
い。逆に4倍速記録に合わせてSb量を少なくすれば
1,2倍速での再結晶化が著しくなるため、非晶質マー
クの形成が再凝固時の再結晶化によって損なわれる。す
なわち、Sb量だけを調整しても、CD−RW規格との
互換性を維持しつつ2〜4倍速でのオーバーライトを実
現することは困難である。4〜8倍速記録でも同様であ
る。4倍速に合わせた媒体設計を行うと、8倍速で同じ
ストラテジーで良好な記録特性を得ることが困難となる
のである。また、従来の2〜4倍速用CD−RWに広範
に用いられている、AgInSbTe及びAuInSb
Te合金(特開平10−326436号公報など)組成
に比べて、本発明における上記組成は室温における保存
安定性が優れている。 【0035】例えばAgInSbTe合金においても、
8倍速乃至10倍速でのオーバーライト自体は可能とな
る。しかし、おそらく同時に結晶化の活性化エネルギー
が低下するか結晶化温度が低下するために、非晶質マー
クの安定性が劣化しやすい。高線速オーバーライト時に
おける高速結晶化速度と室温における非晶質マークの安
定性という両方の要望が満足しにくいのである。AgI
nSbTeと本発明の上記GeSbTe系の上記特性の
差異が生じる理由は必ずしも明らかではない。しかしG
eSbTe系では、過剰のSbが単に再結晶化の結晶核
形成に関与するとともに4配位のGeが関与することで
局所的に原子のネットワーク構造が強固になり、特に室
温近傍の低温では、該結晶核を中心とする核成長(ネッ
トワークの局所構造変化)を抑制しているのではないか
と考えられる。なお、特開平1−303643号公報、
特開平4−28587号公報及び特開平10−1120
28号公報には、本発明において好ましい上記GeSb
Te系記録層が記載されているが、これらの組成がコン
パクトディスクという特定のフォーマットに適用できる
ことや、その中において8倍速以上といった高線速記録
に用いられること、さらには高線速記録と低線速記録の
両方に適用できることについての記載はない。また、記
録層組成のみで前記変調度m11、Rtop、及びジッター
の値は決まるものでもない。 【0036】本発明においては、前記記録層が、上記結
晶状態において、面心立方晶及び/又は六方晶構造から
なるのが好ましい。この場合、記録層は、単一の結晶相
からなっていてもよく、複数の結晶相からなっていても
よいが、複数の結晶相からなる場合、格子不整合を有し
ないのが好ましい。その結果、ノイズを減少させる、保
存安定性が向上する、高速での結晶化が容易である等特
性を向上させることができる。これは、Sb2Te3等の
六方晶構造を有する結晶相やSb等の立方晶ではあるが
格子定数が大きく異なる結晶相、さらにはSb7Te、
Sb2Te3等のその他の空間群に属する他の結晶相が同
時に存在する場合、格子不整合の大きな結晶粒界が形成
された結果、マークの周辺形状が乱れたり、光学的なノ
イズが発生したりすると考えられるのに対し、上記結晶
相からなる場合には、このような結晶粒界が生じないた
めと考えられる。 【0037】前記好ましい結晶相の単位格子定数は、面
心立方晶の場合、通常5.5Å以上、好ましくは5.8
Å以上であり、また通常6.8Å以下、好ましくは6.
5Å以下である。六方晶の場合、通常a軸4〜4.5
Å、c軸30〜35Åである。複数の結晶相が存在する
場合、格子不整合を生じず、実質的に単一相とみなすた
めには、同じ結晶構造を有するとともに、単位格子定数
の差異が±5%程度以下であることが好ましい。結晶相
は、熱平衡状態で安定結晶相であってもよく、また、製
造条件によって現れる準安定結晶相であってもよい。準
安定相結晶相は、熱力学的には必ずしも最低エネルギー
状態に対応するものではないが、全く不安定というもの
でもなく、光学的情報記録用媒体に使用する相変化型記
録層において実質的に安定に存在することが可能な結晶
相である。 【0038】本発明において好ましい上記結晶相は,f
m3m空間群及び/又はF43m空間群に属すると考え
られる。図32は、後述する実施例において製造された
相変化型光学的情報記録用媒体と同様の製造方法によっ
て得られた媒体から、記録層(厚さ約20nm)を剥離
して得られたIn3Ge5Sb70Te22薄膜の透過電子顕
微鏡(TEM)による電子線回折像である。図中、A,
B,C,Dの各点は、それぞれミラー指数(220)、
(002)、(222)、(111)に帰属できる。こ
の回折像で現れるA,B,C,Dの各点に対するミラー
指数を矛盾なく説明し、かつ、同様に得られる異なるパ
ターンの回折像をも矛盾なく説明しうるものは、面心立
方晶構造であり、Fm3mもしくはF43m空間群に属
する結晶構造である。また、電子線回折像には、面方位
の回転はあるものの実質的に図5しか得られておらず、
ほぼ単一の結晶相から形成されていると推定される。ま
た、X線回折法において、Sb相のような他の結晶構造
にかかわるピークは観察されないことも確認した。 【0039】図32の電子線回折像から、記録層は、格
子定数約6.4ÅのF43m空間群に属するか、又は、
格子定数約6.1ÅのF43m空間群に属するかのいず
れであることが分かる。前者は、面心立方晶であるGe
3In13Sb7Te3固溶体、又はAgInTe2のF43
m空間群に属する結晶型と同じ構造を有するものであ
り、後者は、AgInTe2のFm3m空間群に属する
結晶系、又はAgSbTe2のFm3m空間群に属する
結晶型と同じ構造を有するものである。 【0040】なお、GaSbやInSbにも同じ空間群
に属する結晶系が存在し、やはり単位格子定数もそれぞ
れ、約6.1Å、及び約6.5Åと上記図32の電子線
回折像から得られる単位格子定数の値と極めて近い。こ
のことは、本発明の記録層組成においてIn及び/又は
Gaの存在が好ましいことと考え合わせると、これらの
結晶が母体となるSb−te−Ge固溶体における準安
定構造の形成を促進していることを示唆している。 【0041】なお、Sb/Te比が大きい組成ほど、六
方晶の単一相が面心立方晶よりも優先的に得られる傾向
にある。SbTe共晶組成よりもSbが過剰の組成にお
いては、特に、上記他の結晶相が形成されやすいので、
後述するような初期化の工夫をするなどの手段を施すこ
とによって、実質的に単一の相、特に単一の面心立方晶
構造からなるようにする必要がある。記録層の結晶相の
形態は、記録層の初期化方法に大きく依存する。即ち、
本発明において好ましい上記結晶相を形成させるために
は、記録層の初期化方法を下記のように工夫するのが好
ましい。 【0042】記録層は通常スパッタ法等の真空中の物理
蒸着法で成膜されるが、成膜直後のas−deposi
ted状態では、通常非晶質であるため、通常はこれを
結晶化させて未記録消去状態とする。この操作を初期化
と称する。初期化操作としては、例えば、結晶化温度
(通常150〜300℃)以上融点以下での固相でのオ
ーブンアニールや、レーザー光やフラッシュランプ光な
どの光エネルギー照射でのアニール、溶融初期化などの
方法が挙げられるが、上記好ましい結晶状態の記録層を
得るためには、溶融初期化が好ましい。固相でのアニー
ルの場合は、熱平衡を達成するための時間的余裕がある
ために、他の結晶相が形成されやすい。 【0043】溶融初期化においては、記録層を溶融させ
て再凝固時に直接再結晶化させてもよく、また、再凝固
時にいったん非晶質状態とした後、融点近傍で固相再結
晶化させてもよい。この際、結晶化の速度が遅すぎると
熱平衡を達成するための時間的余裕があるために他の結
晶相が形成されることがあるので、ある程度冷却速度を
速めるのが好ましい。 【0044】例えば、融点以上に保持する時間は、通常
2μs以下、好ましくは1μs以下とすることが好まし
い。また、溶融初期化には、レーザ光を用いるのが好ま
しく、特に、走査方向にほぼ平行に短軸を有する楕円型
のレーザ光を用いて初期化を行う(以下この初期化方法
を「バルクイレーズ」と称することがある)のが好まし
い。この場合、長軸の長さは、通常10〜1000μm
であり、短軸の長さは、通常0.1〜10μmである。
なお、ここでいうビームの長軸及び短軸の長さは、ビー
ム内の光エネルギー強度分布を測定した場合の半値幅か
ら定義される。走査速度は、通常1〜10m/s程度で
ある。使用する相変化媒体のオーバーライト記録可能な
最高使用線速度より高い速度で走査した場合、初期化操
作で一旦溶融した領域が非晶質化してしまうことがあ
る。また、概ね最高使用線速度より約30%以上低い速
度で走査すると相分離が生じて単一相が得られにくい。
そこで、最高使用線速度の50〜80%の走査速度が好
ましい。なお、最高使用線速度そのものは、その線速度
で消去パワーPeの光を照射したときに、消去が完全に
行われるような線速度の上限として定まる。レーザ光源
としては、半導体レーザ、ガスレーザ等各種のものが使
用できる。レーザ光のパワーは通常100mWから2W
程度である。 【0045】バルクイレーズによる初期化の際、例えば
円盤状の記録媒体を使用した際、楕円ビームの短軸方向
をほぼ円周方向と一致させ、円盤を回転させて短軸方向
に走査するとともに、1周(1回転)ごとに長軸(半
径)方向に移動させて、全面の初期化を行うことができ
る。1回転あたりの半径方向の移動距離は、ビーム長軸
より短くしてオーバーラップさせ、同一半径が複数回レ
ーザー光ビームで照射されるようにするのが好ましい。
その結果、確実な初期化が可能となると共に、ビーム半
径方向のエネルギー分布(通常10〜20%)に由来す
る初期化状態の不均一を回避することができる。一方、
移動量が小さすぎると、かえって前記他の好ましくない
結晶相が形成されやすいので、通常半径方向の移動量
は、通常ビーム長軸の1/2以上とする。 【0046】溶融初期化の際、2本のレーザビームを使
用し、先行するビームで一旦記録層を溶融させ、後続す
る2番目のビームで再結晶化を行うことによって溶融初
期化を行うこともできる。ここで、各々のビーム間の距
離が長ければ、先行ビームで溶融された領域は、いった
ん固化してから、2番目のビームで再結晶化される。溶
融再結晶化を行ったかどうかは、実際の1μm程度の記
録光で非晶質マークのオーバーライトを行った後の消去
状態の反射率R1と、初期化後の未記録状態の反射率R
2が実質的に等しいかどうかで判断できる。ここでR1
の測定は、非晶質マークが断続的に記録されるような信
号パターンを用いた場合、複数回のオーバーライト、通
常は5から100回程度のオーバーライト後に行う。こ
うすることで、一回の記録だけでは未記録状態のまま残
りうるマーク間の反射率の影響を除去する。 【0047】上記消去状態は、必ずしも記録用集束レー
ザー光を実際の記録パルス発生方法に従って変調しなく
ても、記録パワーを直流的に照射して記録層を溶融せし
め、再凝固させることによっても得られる。本発明に
は、R1とR2とで定義される下記式(F1)の値が1
0(%)以下、特には5(%)以下となるようにするの
が好ましい。 【0048】 【数1】 2|R1−R2|/(R1+R2)×100(%) …(F1) 【0049】例えば、R1が17%程度の相変化媒体で
は、概ねR2が16〜18%の範囲にあればよい。かか
る初期化状態を達成するためには、概ね実際の記録条件
と等しい熱履歴を初期化によって与えるのが好ましい。 【0050】3.媒体の層構成について 次に、本発明に用いられる媒体の層構成及び記録層以外
の層について説明する。層構成及び記録層以外の層の組
成は、記録層の高速結晶化及び経時安定性を両立させつ
つ、媒体の光学特性を特定範囲としCDとの再生互換性
を保つために重要である。本発明の媒体の基板には、ポ
リカーボネート、アクリル、ポリオレフィンなどの透明
樹脂、あるいは透明ガラスを用いることができる。なか
でもポリカーボネート樹脂はCDにおいて最も広く用い
られている実績もあり安価でもあるので最も好ましい。
基板の厚さは通常0.1〜20mm、好ましくは0.3
mm〜15mmである。一般的には1.2mm程度とさ
れる。記録層は、記録時の高温による変形を防止するた
めその上下を保護層で被覆されていることが望ましい
(説明の便宜上、記録層に対して入射される光の側にあ
る保護層を下部保護層、反対側にある保護層を上部保護
層と称することがある。)。 【0051】さらに望ましくは、基板上に、下部保護
層、記録層、上部保護層及び反射層を設けてなる。この
場合、基板と反対側の表面を紫外線もしくは熱に対して
硬化性の樹脂で被覆(保護コート)することができる。
好ましくは、現行CDシステムとの互換性を維持するた
め、基板上に下部保護層、記録層、上部保護層及び反射
層をこの順に設けてなる。記録層、保護層及び反射層
は、スパッタリング法によって形成することができる。
この場合、記録膜用ターゲット、保護膜用ターゲット及
び必要な場合には反射層材料用ターゲットを同一真空チ
ャンバー内に設置したインライン装置でスパッタリング
による膜形成を行うことが各層間の酸化や汚染を防ぐ点
で望ましい。 【0052】保護層に用いられる材料としては、屈折
率、熱伝導率、化学的安定性、機械的強度、密着性等に
留意して決定される。一般的には透明性が高く高融点で
ある金属や半導体の酸化物、硫化物、窒化物やCa、M
g、Li等のフッ化物を用いることができる。これらの
酸化物、硫化物、窒化物、フッ化物は必ずしも化学量論
的組成をとる必要はなく、屈折率等の制御のために組成
を制御したり、混合して用いることも有効である。繰返
し記録特性を考慮すると誘電体の混合物が好ましい。よ
り具体的には、ZnSやZnO、希土類硫化物と酸化
物、窒化物、炭化物等の耐熱化合物との混合物が挙げら
れる。これらの保護層の膜密度はバルク状態の80%以
上であることが機械的強度の面から望ましい。本発明に
おいては、保護層、特に上部保護層の熱伝導率をできる
だけ小さくするのが好ましい。具体的には、熱伝導率が
1J/(m・k・s)以下のものを使用するのが好まし
い。このような材料としては、ZnSやこれを50mo
l%以上含む混合物を挙げることができる。 【0053】下部保護層膜厚は通常30nm以上である
が、50nm以上、特に60nm以上、さらには80n
m以上が好ましい。繰返しオーバーライト時の熱ダメー
ジによる基板変形を抑制するためには、ある程度の膜厚
が必要であり、下部保護層の膜厚が薄すぎると、繰返し
オーバーライト耐久性が急激に悪化する傾向にある。特
に、繰返し回数が数百回未満の初期に急激にジッタが増
加する傾向にある。繰返し初期のジッタの悪化は、下部
保護層膜厚に著しく依存する。本発明者等の原子間力顕
微鏡(AFM)による観察によれば、この初期劣化は基
板表面が2〜3nm程度へこむ変形によるものであるこ
とがわかった。基板変形を抑制するためには、記録層の
発熱を基板に伝えないために熱絶縁効果があり、かつ、
機械的に変形を押さえ込むような保護層膜厚が必要であ
り、そのために上記の膜厚が好ましい。 【0054】一方、反射率RTOPの下部保護層膜厚依存
性をみた場合、60〜80nmで反射率最小となり、0
及び150nm程度で最大となるのが通常である。波長
780nmに対して、通常用いられる屈折率2.0〜
2.3程度の誘電体からなる保護層では、該下部保護層
膜厚相当ごとに、反射率は最大と最小を取る周期的な変
化を示す。従って、あまり厚くすることは光学的には意
味がなく、また材料コストの増大、厚膜成膜による溝カ
バレッジの問題等が発生することがあるので、下部保護
層は通常150nm以下、好ましくは120nm以下と
する。一方、上部保護層の膜厚は30nm以上、特に3
5nm以上が好ましい。上部保護層は、主に記録層と反
射層の相互拡散を防止する。上部保護層が薄すぎると記
録層溶融時の変形等によって破壊されやすくなり、また
放熱効果が大きすぎて記録に要するパワーが不必要に大
きくなる傾向にある。特に本発明のように8倍速以上の
高倍速で記録を行おうとする場合、記録感度の低下は好
ましいことではない。 【0055】一方、上部保護層が厚すぎると、保護層内
部の温度分布が急峻になり、保護層自体の変形が大きく
なり、それがオーバーライトにより蓄積されやすくなる
ので、通常60nm以下、好ましくは55nm以下とす
る。記録層の膜厚は10nm以上、特に15nm以上が
好ましい。記録層の厚みが薄すぎると十分なコントラス
トが得られにくく、また結晶化速度が遅くなる傾向があ
る。また短時間での記録消去も困難となりやすい。 【0056】一方、記録層の膜厚は、通常40nm以下
であるが、30nm以下、特に25nm以下が好まし
い。膜厚が大きすぎるとやはり光学的なコントラストが
得にくくなり、また、熱容量が大きくなるために記録感
度が悪くなることがある。さらにまた、相変化に伴う記
録層の体積変化は記録層が厚くなるほど大きくなるた
め、記録層が厚すぎると、繰返しオーバーライト時に保
護層及び基板表面等に微視的な変形が蓄積され、ノイズ
の上昇につながることもある。 【0057】記録層及び保護層の厚みは、機械的強度や
信頼性の面(特に繰返しオーバーライト耐久性)からの
制限の他に、多層構成に伴う干渉効果も考慮して、レー
ザー光の吸収効率が良く、記録信号の振幅、すなわち記
録状態と未記録状態のコントラストが大きくなるように
選ばれる。これらすべてのバランスを取りうる層構成と
しては、上下の保護層の屈折率を2.0〜2.3とし、
下部保護層膜厚dL 、記録層膜厚dR 、上部保護層膜厚
U とするとき、15≦dR ≦20nm、30≦dU
60nmであって、dU とdR とがdU ={−5dR
130}±10nmの関係を満たし、かつ、再生時の結
晶状態に対する反射光Rtop のdL 依存性において、R
top のdL 60〜80nmの中での極小値から厚膜方向
への次の極小値迄の間で∂Rtop /∂dL >0であるよ
うに選択することが望ましい。 【0058】本発明の媒体は、反射層の放熱効果を従来
の1〜4倍速互換CD−RW媒体に比較してさらに高め
るのが重要である。この組成を微妙に調整し前記の特定
記録層と組合せることによって、より容易に高線速及び
低線速の両方での記録が可能となる。特に、上記保護層
として低い熱伝導率の材料を用いることを併用すること
によってより大きな効果を得ることができる。非晶質の
形成及び再結晶化過程と、反射層の放熱効果及び記録時
線速度の関係を図3により説明する。図3において横軸
は記録線速度であり、左の縦軸は記録層を溶融し再凝固
させたときの冷却速度を示したもので、この冷却速度γ
が記録層材料で決まる臨界冷却速度Rc より大きければ
記録層は非晶質となり、非晶質マークが形成される。図
3の左の縦軸において、Sb/Te比をSb70Te
30(Sb/Te≒2.33)の共晶点を越えて高くする
ことは、Rc が大きくなって上方に移動することを意味
する。 【0059】曲線aは通常構成のディスクに図4の固定
パルスストラテジーを印加した場合の記録層の冷却速度
の記録時線速度依存性を表している。曲線bは同じディ
スクの反射層のみ後述の放熱効果の高い組成のものに変
え、放熱効果を高めた場合である。曲線bは曲線aの上
方にあり、非晶質マークが形成されやすくなることがわ
かる。高線速度ではもともと冷却速度が記録層非晶質化
の臨界冷却速度Rc より十分大きいために、非晶質形成
に及ぼす反射層放熱効果の差は顕著ではないが、低線速
度では全体として記録層冷却速度が低下し、Rc 近傍よ
り低くなるために、非晶質形成に及ぼす反射層放熱効果
が顕著になる。 【0060】一方、これら曲線は記録層が消去パワーP
eの記録光によってマーク間で再結晶化される場合の、
記録層が結晶化温度以上に保持される時間τの逆数1/
τの線速度依存性ともみなせる(図3中右側の縦軸)。
この保持時間τが記録層材料で決まる臨界結晶化時間τ
c より大きければ、つまり1/τ<1/τc であれば非
晶質マークは十分に再結晶化されて消去されることにな
る。なお、3Tマークと3Tスペースからなる単一周期
信号を記録後、11Tマークと11Tスペースからなる
単一周期信号をオーバーライトしたときの3Tマークの
消去比を25dB以上とすれば、通常、1/τ<1/τ
c となる。本発明においては、高線速でのオーバーライ
トで十分な消去ができるよう1/τ<1/τc を満足さ
せると同時に、低線速での冷却速度γがγ>Rc を満足
させるという相反する要求を満足する曲線cのような特
性を有することが重要であり、そのため、各層の組成や
厚さを選択する必要があるのである。曲線cは、4倍速
(4X)未満において記録層冷却速度の低下が補償され
ることがわかる。 【0061】なお、曲線cは、曲線bの媒体に、後述す
る好ましいパルス分割方法を併せ用いた場合に容易に達
成できる。上記のような観点から、反射層の材料として
は、熱伝導率が高く放熱効果が大きいAlあるいはAg
を主成分とする合金を用いるのが好ましい。反射層の比
熱はAlやAgを主成分とする合金では純Al及び純A
gに準じており、微量元素添加や薄膜化でほとんど変化
しないと考えられる。従って放熱効果は反射層の熱伝導
率と厚みに依存する。 【0062】一般には薄膜の熱伝導率はバルク状態の熱
伝導率と大きく異なり、小さくなっているのが普通であ
り、成長初期の島状構造の影響で熱伝導率が1桁以上小
さくなる場合もある。さらに、成膜条件によって結晶性
や不純物量が異なり、これが同じ組成でも熱伝導率が異
なる要因になる。ここで、熱伝導の良否は電気抵抗を利
用することによって見積もることができ、良好な特性を
示す高熱伝導率の反射膜を規定することができる。金属
膜のように電子が熱もしくは電気伝導を主として司る材
料においては熱伝導率と電気伝導率は良好な比例関係が
あるためである。薄膜の電気抵抗はその膜厚や測定領域
の面積で規格化された抵抗率値で表す。体積抵抗率と面
積抵抗率(比抵抗)は通常の4探針法で測定でき、JI
S K 7194によって規定されている。これによ
り、薄膜の熱伝導率そのものを実測するよりもはるかに
簡便かつ再現性の良いデータが得られる。反射層の放熱
効果は熱伝導率と膜厚の積で示されるから、結局、放熱
効果は面積抵抗率で規定できることとなる。本発明にお
いては、反射層の面積抵抗率を0.2〜0.6Ω/□、
特に0.22〜0.55Ω/□とするのが好ましい。 【0063】また、好ましい反射層は、体積抵抗率15
0nΩ・m以下、特に100nΩ・m以下を有する。一
方、体積抵抗率の極端に小さい材料は薄膜状態では実質
的に得にくいので、通常20nΩ・cm以上である。 【0064】反射層の厚さは、通常40〜300nm、
好ましくは50〜200nmである。厚すぎると面積抵
抗率を下げることはできても十分な放熱効果は得られな
いのみならず、記録感度が悪化しやすい。厚い膜では単
位面積当たりの熱容量が増大しそれ自体の放熱に時間が
かかっててしまい、放熱効果がかえって小さくなるため
と考えられる。また、このような厚膜では成膜に時間が
かかり、材料費も増える傾向にある。また、膜厚が小さ
すぎると、一部膜成長初期の島状構造の影響が出やす
く、反射率や熱伝導率が低下することがある。 【0065】反射層の材料としてはAl合金やAg合金
を挙げることができる。本発明に適した反射層の材料を
より具体的に述べると、AlにTa、Ti、Co、C
r、Si、Sc、Hf、Pd、Pt、Mg、Zr、Mo
及びMnからなる群から選ばれた少なくとも1種の元素
を含むAl合金を挙げることができる。これらの合金
は、耐ヒロック性が改善されることが知られているの
で、耐久性、体積抵抗率、成膜速度等考慮して用いるこ
とができる。上記元素の含有量は、通常0.1〜2原子
%、好ましくは0.2〜1原子%である。Al合金に関
しては、添加不純物量が少なすぎると、成膜条件にもよ
るが、耐ヒロック性は不十分であることが多い。また、
多すぎると上記の低抵抗率が得られにくい。 【0066】Al合金として、Mnを0〜2重量%、S
iを0〜2重量%、Mgを0.5〜2重量%、Tiを0
〜0.2重量%含有するAl合金を使用することもでき
る。MnはAl合金の製造工程で不可避的に混入する有
害元素のうち、完全な除去が非常に困難なFeに対し
て、Al6MnがFeを固溶して、FeAl3の析出を防
止し、もって、Feに由来する耐食性の低下を防止する
のに効果がある。ただし、Mn自体は多量に含まれる
と、反射層中に経時的にAl6Mnが析出して熱伝導率
の経時的変化をもたらすことがあるのでその含有量は、
通常2重量%以下、より好ましくは1重量%以下とす
る。Siは微細剥離欠陥を抑制するのに効果があるが、
含有量が多すぎると経時的に熱伝導率が変化することが
あるので、通常2重量%以下、好ましくは1.5重量%
以下とする。またMgは、反射層の耐食性を向上させる
が、含有量が多すぎて経時的に熱伝導率が変化すること
があるので、通常2重量%以下、好ましくは1.5重量
%以下とする。Tiは、スパッタリングレートの変動を
防ぐという効果があるが、含有量が多すぎると、熱伝導
率を低下させるとともに、Tiがミクロレベルで均一に
固溶したバルクの鋳造が困難となり、ターゲットコスト
を上昇させるので通常0.2重量%以下とする。 【0067】また、反射層材料の他の好ましい例として
は、AgにTi、V、Ta、Nb、W、Co、Cr、S
i、Ge、Sn、Sc、Hf、Pd、Rh、Au、P
t、Mg、Zr、Mo及びMnからなる群から選ばれた
少なくとも1種の元素を含むAg合金を挙げることがで
きる。経時安定性をより重視する場合には添加成分とし
てはTi、Mg又はPdが好ましい。上記元素の含有量
は、通常0.2〜5原子%である。本発明においては、
このような高熱伝導率な反射層材料を用いることによ
り、300nm以下の比較的薄い反射層であって、面積
抵抗率が0.2〜0.6Ω/□と適切に小さい範囲の反
射層とすることができる。Alへの不純物元素の添加、
Agへの不純物元素の添加によってその添加濃度に比例
して、体積抵抗率が増加するのが通常である。不純物の
添加は一般的に結晶粒径を小さくし、粒界の電子散乱を
増加させて熱伝導率を低下させると考えられる。従っ
て、添加不純物量を調節することは、結晶粒径を大きく
することで材料本来の高熱伝導率を得るために重要であ
る。 【0068】なお、反射層は通常スパッタ法や真空蒸着
法で形成されるが、ターゲットや蒸着材料そのものの不
純物量や、成膜時に混入する水分や酸素量も含めて全不
純物量を2原子%未満とするのが好ましい。このために
反射層をスパッタリングによって形成する際、プロセス
チャンバの到達真空度は1×10-3Pa未満とすること
が望ましい。また、10-4Paより悪い到達真空度で成
膜するなら、成膜レートを1nm/秒以上、好ましくは
10nm/秒以上として不純物が取り込まれるのを防ぐ
ことが望ましい。あるいは、意図的な添加元素を1原子
%より多く含む場合は、成膜レートを10nm/秒以上
として付加的な不純物混入を極力防ぐことが望ましい。 【0069】成膜条件によって結晶粒径が変化する場合
もある。たとえば、AlにTaを2原子%程度混入した
合金膜は、通常結晶粒の間に非晶質相が混在するが、結
晶相と非晶質相の割合は成膜条件で変化する。たとえ
ば、低圧でスパッタするほど結晶部分の割合が増え、体
積抵抗率が下がる(熱伝導率は増加する)。膜中の不純
物組成あるいは結晶性は、スパッタに用いる合金ターゲ
ットの製法やスパッタガス(Ar、Ne、Xe等)にも
依存する。すなわち薄膜状態の体積抵抗率は金属材料、
組成のみによっては決まらない。高熱伝導率を得るため
には、上記のように、不純物量を少なくするのが望まし
いが、一方で、AlやAgの純金属は耐食性や耐ヒロッ
ク性に劣る傾向があるため、両者のバランスを考慮して
最適組成が決まる。 【0070】さらなる高熱伝導と高信頼性を得るために
反射層を多層化することも有効である。この場合、少な
くとも1層は全反射層膜厚の50%以上の膜厚を有する
上記低体積抵抗率の材料とするのが好ましい。この層は
実質的に放熱効果を司り、他の層が耐食性や保護層との
密着性、耐ヒロック性の改善に寄与するように構成され
る。例えば、金属中最も高熱伝導率および低体積抵抗率
であるAgは硫黄を含む上部保護層との相性が悪く、繰
返しオーバーライトした場合の劣化がやや速いという傾
向がある。また、高温高湿の加速試験環境下で腐食を生
じやすい傾向があるので、この場合Agを含む反射層と
上部保護層との間に界面層として、Agを含む反射層よ
りも薄いAlを主成分とする合金層を設けることも有効
である。Al合金としては前述と同様に例えば、Ta、
Ti、Co、Cr、Si、Sc、Hf、Pd、Pt、M
g、Zr、Mo及びMnからなる群から選ばれる少なく
とも1種を0.2原子%以上2原子%未満含むAl合金
が挙げられる。界面層の厚さは、薄すぎると保護効果が
不十分で、厚すぎると放熱効果が不十分になる傾向にあ
るので通常5〜100nm、好ましくは5〜50nmで
ある。一方、Agを含む層の膜厚は通常10〜200n
mである。薄すぎると放熱効果が不十分となることがあ
り、厚すぎると消去不足となりやすい。 【0071】さらに、Agを含む反射層とAlを含む界
面層とを用いる場合、AgとAlとは比較的相互拡散し
やすいので、AlのAgに接する表面を酸化して界面酸
化層を設けることがいっそう好ましい。界面酸化層が厚
すぎるとそれが熱抵抗となり、本来の趣旨である、極め
て放熱性の高い反射層としての機能が損なわれることが
あるので通常その厚さは10nm以下、好ましくは5n
m以下とする。一方、薄すぎると界面酸化層としての機
構が不十分となることがあるので、通常は1nm以上と
する。このような界面酸化層は、Alを含む界面層を形
成後1分〜100時間大気中に放置することによって形
成させることができる。 【0072】反射層の多層化は、高体積抵抗率材料と低
体積抵抗率材料を組み合わせて所望の膜厚で所望の面積
抵抗率を得るためにも有効である。すなわち、合金化に
よる体積抵抗率調節は、合金ターゲットの使用によりス
パッタ工程を簡素化できるが、ターゲット製造コスト、
ひいては媒体の原材料比を上昇させる要因にもなるた
め、場合によっては、純AlやAgの薄膜と上記添加元
素そのものの薄膜を多層化して所望の面積抵抗率を得る
ことが有効である。総数が3層程度までであれば、初期
の装置コストは増加するが個々の媒体コストはかえって
抑制できる場合がある。 【0073】本発明においてはさらに、CDとの互換性
を確保するよう基板に設けられた溝の構成に配慮する必
要がある。溝のトラックピッチは通常1.6μm ±0.
1μm 程度である。また溝の深さは通常30〜45nm
であるが、特に30〜40nm程度が好ましい。溝深さ
が大きすぎると、記録後のプッシュプル値が大きくなり
すぎる傾向がある。また、記録後のラジアルコントラス
ト値が記録前の値に比べて大きくなりすぎ、サーボの安
定性に問題が生じることもある。 【0074】一方、溝深さが小さすぎるとラジアルコン
トラスト値やプッシュプル値がオレンジブック・パート
3のようなCD−RW規格の下限値を下回ってしまうこ
とがある。また、溝壁による記録層閉じ込め効果が薄
れ、繰返しオーバーライトによる劣化が促進される傾向
にある。さらに、溝深さを浅くしすぎるとスタンパ製造
や基板の成形が困難にもなる。上記の範囲とすることに
よって、溝内反射率が十分に高くなり、CD−RW規格
の下限値である15%を満たしやすく、また、記録後の
プッシュプルの振幅PPaが大きくなりすぎず、既存の
凹凸ピット再生回路でもプッシュプル検出回路のゲイン
が飽和してしまうことを少なくすることができる。溝幅
は、通常0.4μm以上、好ましくは0.45μm以上
であり、また通常0.6μm以下、好ましくは0.55
μm以下である。溝幅が小さすぎると記録後のラジアル
コントラストの絶対値が0.6未満という規格値を満た
しにくくなる。また、大きすぎると、ウォブルの存在に
よって生じるオーバーライト耐久性の劣化が顕著になる
傾向にある。 【0075】なお、ウォブルの存在による耐久性劣化促
進のメカニズムは必ずしも明らかではないが、記録用光
ビームの一部が溝の側壁に照射されやすくなるためでは
ないかと考えられる。すなわち、トラッキングサーボが
かかった集束光ビームはウォブルの蛇行には追従せず溝
中心部を直進して行くため、溝壁の蛇行があれば、光ビ
ームが、わずかではあるが溝壁に照射されやすくなる。
薄膜の密着性が悪い溝壁部や溝角部で応力集中が起きや
すい等により繰返しオーバーライト時の熱ダメージによ
る劣化が起きやすいと考えられるので、ここに光ビーム
の一部でも照射されれば、劣化は促進されると考えられ
る。一般に、相変化媒体の溝内記録では深溝、細溝であ
るほど耐久性が良いという傾向があるが、ウォブルが存
在する場合には、溝幅が狭すぎるとかえって上述の溝壁
部の劣化現象が顕著になると考えられる。 【0076】なお、溝幅や溝深さは、例えば波長633
nmのHe−Neレーザー光等によるU溝近似による光
学回折法で求めることができる。また、走査型電子顕微
鏡や走査型プローブ顕微鏡で溝形状を実測することがで
きる。この場合の溝幅は通常溝深さの半分の位置におけ
る値を用いるのがよい。本発明の光記録媒体は、後述す
るようなCAV方式による記録が可能である。即ち、本
発明の媒体は、データの記録を記録の行なわれる半径位
置に関わらず回転速度一定のまま行うことができる。こ
の場合、再生も一定の回転速度で行なうことができる
が、好ましくは記録と再生とを同一の回転速度で行う。 【0077】4.一般的な記録方法について 本発明においては、上記の書換え型光記録媒体に対し
て、少なくとも8倍速、特に8倍速及び10倍速、又は
8倍速及び4倍速、さらには4倍速、8倍速及び10倍
速で記録を行なうのが好ましい。この場合、以下のよう
なパルス分割方法(I)でオーバーライトを行うことが
できる。その結果、既存のCD再生システムとの互換性
が良好な信号の記録が可能になる。すなわち、EFM変
調された情報を複数のマーク長により記録するにあた
り、一つの記録マークの時間的長さをnTとしたとき
(Tは基準クロック周期。nは3〜11までの整数)、
記録マーク間に対しては、非晶質を結晶化しうる消去パ
ワーPeの記録光を照射し、記録マークに対しては、そ
のうちの時間的長さ(n−j)Tを、 α1 T、β1 T、α2 T、β2 T、・・・・、αm T、
βm T、 ただし、m=n−1又はm=n−2の順に、Σi (αi
+βi )=n−j(jは0.0≦j≦2.0なる実数)
となるよう分割し、 【0078】αi T(1≦i≦m)なる時間内には記録
層を溶融させるにたるPw>Pe好ましくはPw=Pe
/0.3〜Pe/0.6なる記録パワーPwの記録光を
照射し、βi T(1≦i≦m)なる時間内には0<Pb
≦0.5PeなるバイアスパワーPbの記録光を照射し
てオーバーライトを行う。このパルス分割方法のうちm
=n−1の場合は、現行CD−RW規格に規定されたパ
ルス分割方法によるオーバーライトに相当するものなの
で、既存の回路と互換性をとる上で好ましい。 【0079】上記において、形成されるマークの長さを
正確に制御するために、区間jTを設定することができ
る。区間jTは通常上記分割パルスの先頭及び/または
最後尾に付加され、この間には消去パワーPeの記録光
を照射する。バイアスパワーPbは再生光の再生に要す
る再生パワーPrとほぼ同じ値であることが好ましく、
通常は1.5mW以下、特に1.0mW以下の値とす
る。フォーカスやトラッキングサーボに支障が無い限り
できるだけ0に近づけたほうが、Pb照射区間(オフパ
ルス区間)における記録層の急冷効果が促進されて好ま
しい。なお、Pw、Pe及びPbの値が必ずしも常に一
定である必要はなく、例えばクロック周期TのV10程度
の周期で高周波重畳を加えてレーザーの動作を安定させ
ることができる。この場合のPw、Pe及びPbはそれ
らの平均値となる。図1は上記パルス分割法を説明する
図であり、(a)マーク長変調データとそれを記録する
際のパルス分割方法として(b)にm=n−1の場合、
(c)にm=n−2の場合を示す。なお(b)、(c)
では図を簡略にするためにα及びβの後にかけるべきT
を省略している。 【0080】上記の記録方法において、少なくともm=
n−1においてオーバーライト可能であれば、CD−R
W規格との互換性をとりつつ良好なオーバーライトが行
える。すなわち、EFM変調信号をオーバーライトした
後の信号特性が、上述の変調度m11が60%以上、アシ
ンメトリーが0付近でCDと互換性があり、さらに再生
信号の各マーク及びマーク間(スペース)のジッタが3
5nsec以下(1倍速再生時)、かつマーク長及びマ
ーク間がほぼnT×V(Tはデータの基準クロック周
期、nは3〜11までの整数、Vは再生時の線速度)の
長さを有するような記録品質を保つことができる。これ
は、実際上は、CD−RWディスク再生可能な市販のC
D−ROMドライブで低エラーレートで再生できること
を意味する。 【0081】なお、上記において、ジッタの測定は再生
信号を高周波通過フィルタを通した後、信号振幅の中心
を閾値としてDCスライスでマーク長を検出して行う。
本発明の媒体に対して、好ましくはm=n−1及びm=
n−2の2通りのパルス分割方法のいずれでもオーバー
ライトを行なう。本発明の上記媒体は、後述のような様
々な線速で記録され得る。この際、いずれの線速におい
ても通常は長さnTのマークを複数にパルス分割し、記
録パワーPwとバイアスパワーPbとを交互に照射する
図1(b)、(c)に示すようなパルス分割方式を採用
するが、その具体例方式を決定するパラメータの最適値
は線速によって変わるのが一般的である。そこで、本発
明の媒体には、記録線速に応じた最適記録パワーP
0 、最適消去パワーPe0 、最適バイアスパワーPb
0 やαi(iは1〜mの少なくとも1つ)、βi(iは1
〜mの少なくとも1つ)、分割数m等のパルス分割情報
のうちの少なくとも1つを媒体上に記入しておくのが好
ましい。本発明の媒体は、その記録方法を定めれば、4
倍速から10倍速における任意の線速でのオーバライト
特性をほぼ一義的に決定できる。すなわち、図3におい
て、記録パルスストラテジーを加味した、曲線cを4倍
速、10倍速において定義し、媒体に求められる冷却速
度Rc及び、結晶化のための保持時間τをほぼ一義的に
決定することに他ならない。 【0082】そして、少なくとも4から10倍速の間の
任意の線速、好ましくはさらに1倍速までの任意の線速
において、書き換え型光記録媒体として従来のCD−R
W再生可能なシステムで良好な再生が可能となると同時
に、媒体及びドライブとの互換性を取りやすくすること
ができる。 【0083】5.CLV方式による記録方法について 次に、本発明の第3の要旨に係る記録方法について説明
する。前述のように、従来、CD−RWにおいて高速記
録が行えなかった理由の1つとして、CD−RW規格で
は厳密な記録パルスストラテジー(パルス分割方法)が
規定されていることを挙げた。すなわち、CD−RW規
格オレンジブックパート3のバージョン2.0規定の、
図4に示す記録パルスストラテジーをもって4倍速から
8〜10倍速あるいはそれ以上までの広範囲な線速の記
録を行わなければならない。しかしながら、相変化媒体
にマーク長変調された情報を複数のマーク長及びマーク
間長により記録する場合、一般に、固定した記録パルス
ストラテジーでは、最大使用線速と最小使用線速の比は
およそ2倍が限度である。 【0084】そこで、本発明の記録方法は、1〜10倍
速などの複数個の広い線速範囲において線速を一定とし
たCLV(constant linear velo
city)方式による記録を行うに際し、前記パルス分
割方法(I)に準じた以下の3種類のパルス分割方法を
線速度に応じて適用する。相変化型記録層を有する書換
え型光記録媒体にEFM変調された情報を複数のマーク
長及びマーク間長により記録するにあたり、一つの記録
マークの時間的長さを前記同様nTとしたとき、記録マ
ーク間に対しては、非晶質を結晶化しうる消去パワーP
eの記録光を照射し、記録マークに対しては、そのうち
の時間的長さ(n−j)Tを、 α1 T、β1 T、α2 T、β2 T、・・・・、αm T、
βm T、 (ただし、m=n−1又はm=n−2、)の順に、Σi
(αi +βi )=n−j(jは0.0≦j≦2.0なる
実数)となるよう分割し、αi T(1≦i≦m)なる時
間内には記録層を溶融させるにたるPw>Pe、好まし
くはPw=Pe/0.3〜Pe/0.6なる記録パワー
Pwの記録光を照射し、βi T(1≦i≦m)なる時間
内には0<Pb≦0.5PeなるバイアスパワーPbの
記録光を照射してオーバーライトを行い、この際線速
1.2m/s〜1.4m/sを基準速度(1倍速)と
し、231nsをその際の基準クロック周期としたと
き、 (1)4倍速においては、α1 =0.3〜1.5、αi
=0.2〜0.7(2≦i≦m)、αi +βi-1 =1〜
1.5(3≦i≦m)とする。 (2)1又は2倍速においては、α1 =0.05〜1.
0、αi =0.05〜0.5(2≦i≦m)、αi +β
i-1 =1〜1.5(3≦i≦m)とする。 (3)6、8、10及び12倍速のいずれかの倍速にお
いては、α1 =0.3〜2.0、αi =0.3〜1(2
≦i≦m)、αi +βi-1 =1〜1.5(3≦i≦m)
とする。 【0085】上記の記録方法において、各線速におい
て、αi (2≦i≦m)及び/又はα i +βi-1 (3≦
i≦m)は、iによらずそれぞれほぼ一定の値をとって
いるのが好ましく、その結果、後述のような簡便なパル
ス発生回路を利用することができる。その点において、
上記(1)〜(3)の各線速において、αi +βi-1
2≦i≦mでiによらず約1で一定とするのが好まし
い。また、先頭パルスα1を後続のパルスαi (2≦i
≦m)より長くする、特にはαi/α1=0.3〜0.
7、好ましくは0.4〜0.7とすれば、3T,4T等
の短マークと5T以上の長マークのそれそれを正確なマ
ーク長で記録し、アシンメトリーを0に近づけることが
できる。これは特に4倍速以上において有効である。上
記(1)〜(3)の各線速において、β1 及びβm は独
立したパラメータとして選択し、可変とできるが、その
値はそれぞれ0〜1.5とするのが好ましく、より好ま
しくは0.25〜1.25とする。また、Pw、Pe、
及びPbについては常に一定である必要はなく、例えば
α 1 T又はαm Tなる区間に照射する記録光のパワーP
wとαi T(i=2〜m−1)なる区間に照射する記録
光のパワーPwとを相異なる値としてもよい。 【0086】記録パルスの分割数mは、上記(1)〜
(3)の各線速において、n−1もしくはn−2のいず
れを選択しても良いが、4倍速以下では図1(b)に示
すようにn−1個に分割し4倍速以上では図1(c)に
示すようにn−2個に分割するというように、分割数m
を線速に応じて変更することもできる。本発明の上記記
録方法において、使用する各線速において、記録パルス
幅αiT(i=1〜m)及びオフパルス区間βi T(i
=1〜m−1)はそれぞれ10ナノ秒以上、特に15ナ
ノ秒以上とすることが望ましい。αi Tやβi Tが小さ
すぎると、現行の通常の記録装置における記録用レーザ
ーの立ち上がり、立下り時間は少なくとも2,3ナノ秒
は必要であることから、パルスの正確な制御は困難にな
ることがある。従って基準クロック周期Tは、12倍速
に対応できる19.3ns、特に10倍速に対応できる
23.1ns迄とするのが好ましい。なお、オフパルス
区間βi T(i=1〜m−1)が小さすぎると、記録層
の冷却速度が不十分になることがある。 【0087】現行のCD−RW媒体は4倍速では正確に
図4の記録パルス分割方法(α1 =1、αi =0.5
(i=2〜m)、αi +βi-1 =1(i=2〜m)、β
m =0.5)でCD互換の信号を記録できなけれななら
ないが、記録装置側で±0.3T程度の補正を加えてよ
り良好な特性を得ることは装置の大幅な改良なく達成可
能である。従って、4倍速においては、(1)のごとく
α1 =0.75〜1.25、αi =0.2〜0.7(2
≦i≦m)、αi +βi-1 =1〜1.5(3≦i≦
m)、とする。4倍速より低線速である1又は2倍速に
おいては、上記(2)のα1 =0.05〜1.0、αi
=0.05〜0.5(2≦i≦m)、αi +βi-1 =1
〜1.5(3≦i≦m、好ましくは2≦i≦m)、とす
るパルス分割方法をとることにより、記録パルスPwの
幅を狭め、付随するオフパルスPb照射区間(オフパル
ス区間)を長くすることで、低線速における記録層冷却
速度を低下を抑制し、低線速における溶融記録層の再凝
固時の再結晶化を抑制して、4倍速オーバーライト時と
ほぼ同じ幅、長さの非晶質マークを得ることができる。 【0088】4倍速より高線速である6、8、10及び
12倍速のいずれかの線速においては、上記(3)のα
1 =0.3〜2、αi =0.3〜1(2≦i≦m)、α
i +βi-1 =1〜1.5(3≦i≦m、好ましくは2≦
i≦m)とするパルス分割方法をとることにより、記録
パルスαi Tの幅を広くし、高線速における記録層の溶
融に十分な記録パワーが与えられるようにすることで、
4倍速オーバーライト時とほぼ同じ幅、長さの非晶質マ
ークを得ることができる。 【0089】ここで、上記(3)の方法は、10倍速以
上の線速に対しても適用できるが、高線速になると相対
的に基準クロック周期が短くなってレーザーパルスの正
確な制御が困難となることがあるので、通常は20倍速
以下、好ましくは12倍速以下、より好ましくは10倍
速以下の線速に適用する。分割数mをいずれの線速にお
いてもm−1又はn−2で一定とした際α1 =約1、α
i =0.3〜0.6(2≦i≦m)とし、さらにはαi
+βi-1 (3≦i≦m、好ましくは2≦i≦m)を一定
とした上で、低線速ほどαi を単調に減少させる(ただ
しiは2〜mの整数)のが回路の簡略化の上で好まし
い。また、使用するいずれの線速においても、α1 T及
びαi T(i=3〜m)及びαi +β i-1 (ただしiは
3〜mの整数)を一定とするとさらに好ましい。ここで
αi は約1とするのが好ましいが、0.9〜1.1程度
の範囲に入ればよい。 【0090】本発明の前記記録方法において、βm は、
いずれの線速においても一定の値としても良いが、αi
(i=1〜m)やβi (i=1〜m−1)を一定とした
ままβm のみを変化させて、それを高線速ほど単調に小
さくすることも好ましい。この場合、高線速側ではβm
=0であっても良い。なお、記録装置側のパルス発生回
路を簡略にするため、いずれの線速においてもmはn−
1かn−2のどちらかで統一されることが望ましい。4
倍速を越える高線速ではデータの基準クロック周期Tが
短くなるので、4倍速と同じパルス分割方法を適用しよ
うとすると、たとえば8倍速では通常0.5T≒15n
sec、10倍速では0.5T≒12nsecとなり、
記録レーザーパルス発生回路を極めて高速にしなければ
追従しにくくなる。 【0091】従って、4倍速を越える線速度において
は、パルス分割数をm=n−2として各パルス幅を長く
し、αi +βi-1 (3≦i≦m)を1〜1.5程度と
し、α1を1.2〜2、αi を0.5〜1.0と長めに
するのが、記録用レーザーの応答速度が好ましい。特に
8倍速以上では有効である。なお、4倍速以下では通常
は、同一線速ではPe/Pw=0.3〜0.6、好まし
くは0.4〜0.6の範囲でPe/Pw比を一定にする
ようPe及びPwを設定したほうが広い記録パワーマー
ジンが得られて良い。しかし、4倍速より高線速では、
Pe、Pwを独立に設定し、それぞれの線速で最適パワ
ーを決めるほうが良い場合がある。4倍速以上の線速に
おいてPwの最適値Pwoを決めるために、予め複数の
記録パワーPwの記録光で試し書きを行ない、図2にお
けるアシンメトリー値や変調度m11が所定の範囲となる
記録パワーPwをもって最適記録パワーPwoとするこ
とができる。この場合、得られた最適記録パワーPwo
の記録光で実際の記録を行なう。なお、上記において最
適記録パワーPwoを決めるためのアシンメトリー値や
変調度m11の範囲は、ディスク上の凹凸ピット信号やウ
ォブル溝による信号として媒体上に記入しておくことが
できる。 【0092】なお、本発明の記録方法の好ましい態様と
しては、パルス分割回路の簡略化のため4倍速から少な
くとも8倍速、場合によっては10倍速まで、同一のパ
ルス分割方法を用いる。具体的には、分割数mはn−1
又はn−2で一定とする。より好ましくはαi(iは1
〜mの整数)をいずれの線速においても同一とする。こ
の際、いずれの線速においても、αi +βi-1(i=2
〜m)を1とし、且つαi を同一の値とするのが特に好
ましい。図5は本発明の記録方法におけるパルス発生方
法の一例の説明図である。(a)はクロック信号、
(b)はマーク長変調されたデータ信号であり、
(c)、(d)及び(e)は記録パルス発生回路中の3
種のゲート発生回路から発生するゲート信号Gate
1、Gate2、Gate3である。これら3種のゲー
ト信号の優先順位を決めておくことで、本発明のパルス
分割方法が達成できる。Gate1は記録パルス発生区
間α1 Tのみを、Gate2は後続パルスαiT(2≦
i≦m)を所定個数発生させるタイミングを決める。こ
こでパルス幅α i は2≦i≦mにおいて一定値αc とす
る。Gate3はオフパルス発生区間β i Tを発生す
る。Gate3がオン(レベル高)の間はPbを発生
し、オフの間(レベル低)はPeを発生する。 【0093】α1 のみ立ち上がりのタイミングを独立し
て決めることで、β1 をβi と異なる値とすることがで
きる。Gate3とGate1の立ち上がりは同期させ
るのが良い。Gate1、Gate2はそれぞれPwを
発生させるが、Gate1、2がオンのときはGate
3に優先する。Gate1の遅延時間T1 とα1 、Ga
te2の遅延時間(T 1 +T2 )とαc を指定すれば、
本発明の記録方法におけるパルスストラテジーを指定で
きる。ここで、T1 を1T以上とすれば、図1(b)の
m=n−1の場合のパルスとなり、1T未満として後続
パルスの数を一個減らせば、図1(c)のm=n−2の
場合のパルスとなる。あるいは、βm-2 ≧1.0となる
ようにしても良い。 【0094】この場合、β1 はα1 、T1 及びT2 の組
み合わせにより、βm はGate3の終端で決まる独立
したパラメータとして扱える。図1(c)において、α
i +βi-1 =1〜1.5とするには、Gate2で発生
させるαi のパルスの周期を1〜1.5とする。α
i (i=1〜m)等は、データの基準クロックTもしく
はその1/2、1/4等のベースクロックに同期して元
の基準クロックTを所定倍した形で発生させることで、
線速に応じたTの変化に追従して実際のパルス幅を容易
に変えることができる。 【0095】以上述べた記録方法は広くCD−RW媒体
一般に適用可能であるが、本発明の第一又は第二の要旨
に係る媒体に対して用いると、いっそうアクセスパフォ
ーマンスが向上して好ましい。特に、高線速で再結晶化
速度の速い記録層と特に熱効果に留意した層構成とを組
み合わせ、1倍速でαi Tが10ナノ秒以上で良好なオ
ーバーライトが可能であることが望ましい。より好まし
くはαi Tが15ナノ秒以上で良好なオーバーライトが
可能である。その理由は、低線速の1倍速ではオフパル
ス区間βi Tを長くし記録パルス区間はαi Tを短くし
たいが、1倍速では最小で0.05T≒12ナノ秒とな
り、これ以上はαi Tを短くしにくいためである。 【0096】6.CAV方式による記録方法について 次に、本発明の第4の要旨及び第5の要旨に係る記録方
法について説明する。これは、従来CLVモードでのみ
記録が行われてきたCD−RWをCAVモードで記録可
能とするものであり、これにより、常に回転同期が必要
であったCD−RW媒体の弱点であるアクセス、シーク
パフォーマンスの悪さを大幅に改善するものである。特
に、ランダムパケット記録で飛び飛びの半径位置のパケ
ットにアクセスを行う場合に効率が良く、コンピュータ
の外部記憶装置用媒体としての利便性が大きく増す。ま
た、CLVでは回転速度変更のためにモーターの加速・
減速のために多大な電力を消費するが、その必要も無く
ドライブの消費電力を大幅に改善できる利点もある。 【0097】CD−RWは通常、直径12cmの円盤形
状をしており、半径少なくとも23mm〜58mm、好
ましくは22〜58mmに記録領域(インフォメーショ
ンエリア)を有する。これを、記録領域最内周で4倍速
相当となるように約2000rpmでディスクを回転さ
せると、記録領域の最外周58mmにおいては線速度は
ほぼ10倍速となる。即ち、通常CAV方式にて最内周
を4倍速にすると最外周は概ね10倍速となる。このと
き、データ基準クロック周期Tを各半径位置における線
速度Vとの積VTが一定となるように半径距離と反比例
して変化させればマーク長nTは回転角速度によらず一
定となり、CAVモードでの記録ながらCDと互換性の
ある一定線密度の記録ができる。ここで、記録領域には
ユーザーデータの記録領域以外に、システムが使用する
試し書き領域、リードイン、リードアウト領域等も含
む。従って、22mm及び58mmという半径位置につ
いては±1mm程度の誤差を含んでいってもよい。ま
た、この許容誤差に対応して以下で用いられる周波数値
等にも若干のずれが生じるが、それも許容される。 【0098】本発明に係る記録方法を実現する記録装置
の構成の一例を示す概念図を図6に示す。図6において
光ディスクD1は、空間周波数一定の搬送周波数fL0
有しアドレス情報によって変調された信号に従って蛇行
された螺旋状の溝を有する基板及び記録層を有し、該螺
旋状の溝の所定の位置にある記録情報の単位である記録
ブロックを識別するアドレス情報及び該ブロックの開始
位置を識別する同期信号を有する。図6では、特に具体
的に書き換え型コンパクトディスクを光ディスクとして
想定しており、fL0=22.05kHzでアドレス情報
はfL0を搬送周波数として±1kHzで周波数変調され
たATIP情報である。また、ウォブルは線速度1.2
m/s〜1.4m/sの線速度で再生したときに、その
搬送周波数f L0が22.05kHzとなるように溝蛇行
によって形成されている。 【0099】光ディスク記録再生装置1には、該ディス
クの中心部分を軸として等角速度回転させる手段である
スピンドルモーターM1と、記録再生のための集束光ビ
ームを発生する光ピックアップを所定のアドレスに移動
させる半径方向の移動機構(LM1)としてのリニアモ
ーターを有する。ピックアップPU1には、光ディスク
の記録層面にレーザーダイオードを光源とする集束光ビ
ームの焦点をあわせるフォーカスサーボ回路(FE1)
と、該螺旋状の溝に沿って集束光ビームを走査させるた
めの溝トラッキングサーボ回路(TE1)が組み込まれ
ている。フォーカスサーボ回路には、非点収差法、フー
ユー法等の公知の手法が用いられる。トラッキングサー
ボ回路には、プッシュプル法や3ビーム法の公知の手法
が用いられる(以上、「コンパクトディスク読本」第3
版、オーム社、中島平太郎、小川博共著参照) 【0100】光ディスク記録再生装置1は、さらに溝蛇
行から搬送周波数fA0、アドレス情報及びブロック同期
信号を検出・解読する回路(WAD1)と、該記録ブロ
ックの開始位置及びデータの基準クロックT(周波数f
d0)に同期してエンコーダED1及びED2によってマ
ーク長変調された記録データ列を発生する回路と、該記
録データ列に対応して記録レーザーパワーを変調する回
路(WP1)とを有する。光ディスクD1はモーターM
1によりCAV駆動されている。ディスクは、特に、半
径22mm程度の記録領域最内周で、線速度が1.2m
/s〜1.4m/sの4倍速、より好ましくは1.2m
/sの4倍速となるように、1900〜2000rpm
の間の回転速度ω0 でCAV回転されている。CAV回
転は、スピンドルモータM1の回転をタコメータでモニ
アし、所定回転数との誤差をフィードバックすること
で、回転ジッタ数%以内の精度で維持される。 【0101】アンプ/フィルター系AF1を通してプッ
シュプル信号P1を再生し、ウォブル信号を検出し、A
TIP信号をデコードしてから含まれる同期信号及びア
ドレス情報をデコードする。アドレス情報、同期信号は
アクセス/サーボ制御用CPU1にて参照され、CPU
1において所定アドレス移動を制御する。アドレス移動
はトラッキングサーボTE1をオフとした状態でのリニ
アモータLM1駆動による粗動機構による半径移動と、
所定アドレス近傍でのトラッキングサーボオン、ATI
Pアドレス参照しながらの微調整(PU1の対物レンズ
の傾きの微調整)からなるがいずれもCPU1で制御さ
れる。 【0102】所定アドレスに到達したことが確認されれ
ば、データの基準クロック発生器である回路CK1のク
ロックとATIPの同期信号を同期させ、所定のATI
Pフレームに記録を行う。CD−ROMデータであれ
ば、ROMデータのエンコードをED1にて行った後、
CDとしてのエンコードをED2にて行う。該データビ
ット列はやはりデータの基準クロックに同期しており、
該データ列はさらにWP1において記録用パルス列に変
換され、レーザードライバーLD1を駆動してオーバー
ライトを行う。 【0103】なお、再生は所定アドレス到達後、再生信
号をアンプ系AF1、RF信号2値化回路系RF1を通
して再生し、データの基準クロックとEFMフレームの
同期をとりながら、ED2でCDとしてのデータデコー
ドを行い、さらにED1にてCD−ROMとしてのデー
タデコードを行う。さて、CAVモードでの記録の際の
パルス分割による光記録方法として、前記パルス分割方
法(I)に準じた以下の2種類を用いることができる。
第一は、所定の記録領域を有する書換え型円盤状光記録
媒体を角速度一定で回転させてEFM変調された情報を
複数のマーク長により記録する方法であって、線速1.
2m/s〜1.4m/sを基準速度(1倍速)として記
録領域最外周での線速度が少なくとも10倍速となるよ
うに該ディスクを回転させ、一つの記録マークの時間的
長さをnTとしたとき(Tは基準クロック周期であり、
その半径位置における線速度Vとの積VTが一定となる
ように、半径位置に応じてTは変化する。nは3〜11
までの整数)、記録マーク間に対しては、非晶質を結晶
化しうる消去パワーPeの記録光を照射し、記録マーク
に対しては、そのうちの時間的長さ(n−j)Tを、 α1 T、β1 T、α2 T、β2 T、・・・・、αm T、
βm T、 (ただし、m=n−1、 α1 =0.75〜1.25、 αi =0.25〜0.75 (2≦i≦m、)、 αi +βi-1 =1〜1.5 (3≦i≦m、))、の順に、Σi (αi +βi )=n
−j(jは0.0≦j≦2.0なる実数)となるよう分
割し、 【0104】αi T(1≦i≦m)なる時間内には記録
層を溶融させるにたるPw>Pe、好ましくはPw=P
e/0.3〜Pe/0.6なる記録パワーPwの記録光
を照射し、βi T(1≦i≦m)なる時間内には0<P
b≦0.5PeなるバイアスパワーPbの記録光を照射
してオーバーライトを行い、いずれの半径位置において
も、α1 、及びαi +βi-1 (i=3〜m、好ましくは
i=2〜m)を一定とし、内周までαi(i=2〜m)
を単調に減少させる方法である。 【0105】すなわち、パルス分割数をm=n−1に固
定し、α1 は0.75〜1.25の間の値とし、α
i (i=2〜m)は0.25〜0.75とし、αi +β
i-1 (i=3〜m)は1.0〜1.5とし、なおかつ、
これらを半径位置によらず一定とする。これによって、
図5に示すような簡単な回路で基準クロック周期Tのみ
を変更することによって容易に記録パルスを発生でき
る。ここで、αi(i=2〜m)及び/又はαi+β
i-1(i=3〜m)はiによらず一定の値とするのが好まし
い。また、α1も一定の値、特には1で固定するのが好
ましい。α1=1とし且つαi +βi-1 =1(i=2〜
m)とすれば、すべての記録パルスαiT(i=1〜
m)は基準クロックTに同期して発生されるので、分割
パルス発生回路がより簡素化できる。 【0106】この記録方法は、4〜10倍速というよう
な広い線速範囲においてオーバーライトが可能な本発明
の書換え型コンパクトディスクに適用することで、特に
良好な記録再生が行える。CAVモードでの記録の際の
第二の光記録方法は、所定の記録領域を有する書換え型
コンパクトディスクを角速度一定で回転させてEFM変
調された情報を複数のマーク長により記録する方法であ
って、線速1.2m/s〜1.4m/sを基準速度(1
倍速)として記録領域最外周での線速度が少なくとも1
0倍速となるように該ディスクを回転させ、一つの記録
マークの時間的長さをnTとしたとき(Tは基準クロッ
ク周期であり、その半径位置における線速度Vとの積V
Tが一定となるように、半径位置に応じてTは変化す
る。nは3〜11までの整数)、記録マーク間に対して
は、非晶質と結晶化しうる消去パワーPeの記録光を照
射し、記録マークに対しては、そのうちの時間的長さ
(n−j)Tを、 α1 T、β1 T、α2 T、β2 T、・・・・、αm T、
βm T、 (ただし、m=n−1、αi /α1=0.3〜0.7、
特にはαi/α1=0.4〜0.7(ただしiは2〜mの
整数)、 αi +βi-1 =約1 (3≦i≦m))、の順に、Σi (αi +βi )=n−
j(jは0.0≦j≦2.0なる実数)となるよう分割
し、 【0107】αi T(1≦i≦m)なる時間内には記録
層を溶融させるにたるPw>Pe、好ましくはPw=P
e/0.3〜Pe/0.6なる記録パワーPw(>P
e)を照射し、βi T(1≦i≦m)なる時間内には0
<Pb≦0.5PeなるバイアスパワーPbの記録光を
照射してオーバーライトを行い、いずれの半径位置にお
いてもαi T(i=2〜m)及びαi +βi-1 (i=3
〜m、好ましくはi=2〜m)を一定とする方法であ
る。この場合、αi はiによらず一定(2≦i≦m)と
し、αi +βi-1 は1〜1.5の間でiによらず一定
(3≦i≦m)とし、なおかつ、α1 T、αi T(i=
2〜m)、αi +βi-1 (i=3〜m)を線速によらず
一定とするのがより好ましい。αi Tについては、線速
によらない一定の時間Ttopと一定のα1′を組み合わせ
て、α1T=Ttop+α1′Tとしてもよい。α1 T、α
i T(i=2〜m)を線速によらず一定にするために
は、低線速ほどTが単調増加するのに対して、Tとの積
が一定となるように、α1 、αi を低線速ほど単調に減
少させることで達成される。これにより、低線速ほど記
録層の冷却速度を増加させることができ、同時にパルス
発生回路も簡単なものですむ。なお、上記第二の記録方
法において、「α1TやαiT(i=2〜m)が一定であ
る」とは、分割パルス発生回路の設定値の分解能の許容
する範囲で一定であるということであり、±10%程度
のばらつきは許容される。 【0108】第一、第二の方法いずれにおいても、βm
は線速度によらず一定であっても変化させてもよい。変
化させる場合、内周、即ち低線速になるほどβmを増加
させるのが好ましい。より好ましくは、半径方向を仮想
的な複数のゾーンに分割し、βm を該ゾーンごとに変化
させる。特にβm を0〜1.5の範囲において内周、即
ち低線速のゾーンほど単調に大きくなるようにするのが
好ましくてそれによって、低線速における記録層の冷却
速度の低下をより有効に防止することができる。この場
合、β m が大きすぎると、比較的低線速であってもマー
ク後端に続くマーク間部分の消去が不完全になることが
ある。βm を変化させる上記パルスストラテジーを実現
するためには、図5において、クロック周期Tに同期さ
せて(一定の遅延を付加することも含む)幅α1 Tの固
定長パルス1個(Gate1)と、後続する幅αi
(i=2〜m)の固定長パルスを複数個(Gate2)
発生させる一方、最終オフパルス長を決めるGate3
のみ線速に応じて変化させれば良い。また、前述の本発
明の第2の要旨に係る発明の説明で記載したように、い
ずれの半径位置においてもαi T(i=1〜m)及びβ
i T(i=1〜m−1)を10ナノ秒以上とするのが好
ましい。 【0109】上記第一及び第二の方法において、オーバ
ーライト時の最高線速度におけるβ m をβHm、最低線速
度におけるβm をβLmとして、各オーバーライト時の線
速度におけるβm をβLmとβHmの値から補完して得るも
のとするのが好ましい。また、Pb、Pw及びPe/P
w比がオーバーライト時の線速度によらず一定とするの
が好ましい。この場合、記録パワー等に関する情報とパ
ルス分割情報を予めディスク上に凹凸ピット信号あるい
は溝変形信号として記載しておくのが好ましい。その結
果、最適なパルスストラテジーを自動的に選択すること
ができる。記載しておく情報としては、例えば、Pe/
Pw比、最適記録パワーPw0 、最適消去パワーPe
0 ,最適バイアスパワーPb0 、α1 、αi 、α1 T、
αi T、αi +βi-1 、βLm、及びβHmの全部または一
部の数値である。ここで、記録パワー情報は絶対値とし
ての最適記録パワーPw0 を記載するほか、Pw0 を決
定するための試し書きにおいて参照されるパラメータで
あっても良い。 【0110】本発明の記録方法において、半径距離に反
比例したデータの基準クロック及び基準クロック周期T
を発生させる方法は種々考えられるが、好適な例として
以下の(i)〜(vii)が考えられる。ここではCL
Vモードの1倍速でのウォブル搬送周波数fLOが約2
2.05kHz、CAVモードでの記録領域の最内周及
び最外周での線速度がそれぞれ4倍速及び10倍速、デ
ータの基準クロックが搬送周波数の196倍であるケー
スを例として説明する。ここで、搬送周波数fLOは2
2.05kHzから±0.1程度の誤差を許容できる。 【0111】[データの基準クロックを発生させる方法
(i)]媒体は、1倍速に換算して周波数fL0=約2
2.05kHzの搬送周波数を有するウォブルが付与さ
れた螺旋状の溝を有する。この媒体は通常のCLVモー
ドの高倍速記録用CD−RW媒体としても使用可能であ
る。ウォブル溝(蛇行溝)のウォブルが搬送周波数fL0
=約22.05kHzに相当する周波数で一定の場合、
CAV回転時には、半径位置に応じて、即ち半径位置に
対応した線速度に応じて再生されるウォブルの搬送周波
数fAOが見かけ上変化する。そしてCAV回転時にその
半径位置で再生されるウォブルの搬送周波数fA0を19
6倍することで、半径に比例した基準データクロック周
波数を得ることができる。 【0112】この半径に比例したデータ基準クロック周
波数に同期して記録を行えば、CAVモードでありなが
ら、一定線密度でマーク長変調記録を行うことができ
る。すなわち、ウォブル信号がCLV回転の1倍速モー
ドで基板上に記載されていれば、媒体をCAV回転させ
たときは、半径位置によらず同じ倍率を用いてデータの
基準クロック周波数を発生させれば、空間周波数を一定
とする、即ち、線密度を一定とすることができる。例え
ば、記録領域最内周での線速度が4倍速、記録領域最外
周での線速度が10倍速とすれば、CAVモードで再生
されるウォブルの搬送周波数fA0はそれぞれ、記録領域
最内周で約22.05×4=88.2KHz、記録領域
最外周で約22.05×10=220.5kHzとな
る。これを196倍した周波数、約17.287MHz
(記録領域最内周)及び約43.218MHz(記録領
域最外周)がデータの基準クロック周波数となる。この
場合、データの基準クロック周期Tは記録領域最内周で
約57.8nsec、記録領域最外周で約23.1ns
ecとなる。中間の半径位置においては、この間で半径
に反比例したデータの基準クロック周期を発生させれば
よい。 【0113】一方、ウォブル信号は通常、ATIP信号
によって±1kHzで周波数変調されるため実際の周波
数は22.05kHz±1kHzであり、ウォブル信号
の一周期は、約±4.5%の変動を伴う。このようにゆ
らいでいる信号をそのまま所定倍してデータの基準クロ
ック周期を得た場合、やはり±4.5%のマーク長のゆ
らぎ(deviation)が発生する。通常、マーク
長記録においてこのゆらぎは位相シフトと呼ばれ、この
シフト量が5%近くあると正しい復調ができない恐れが
ある。 【0114】従って、このような場合、周波数変調され
たウォブル信号から搬送周波数fA0のみを抽出してから
所定倍する必要がある。以下にその方法を述べる。まず
通常と同様に、ディスクを回転させながら、プッシュプ
ル信号を検出してウォブル信号を再生する。fA0は前述
のように最内周半径Rinから最外周半径Rout にわたっ
て88.2kHzから220.5kHzまで132.3
kHzの幅で変化し、それに応じてデータの基準クロッ
クも17.287MHzから43.218MHzまで変
化する。(11Tのマークとスペースの繰返しの周波数
としては約786kHz〜1.96MHzで変化す
る)。 【0115】そこで、次に上記fA0を含みできるだけ範
囲の狭い帯域フィルタもしくは低域通過フィルタでプッ
シュプル信号に混じったデータ成分をカットする。次
に、半径方向に移動するピックアップが位置する半径R
の情報を駆動系より得、これに同調して、近似的にfA0
を予測するための予測周波数fR0(kHz)を下記式に
従って発生させる。 fR0=88.4+132.3×(R−Rin)/(Rout −Rin) (3) そして、予測周波数fR0付近の狭い範囲で参照周波数を
掃引しながら搬送周波数fA0を抽出(同調させる)する
ことで、搬送周波数fA0が容易に検出できる。それを1
96倍することによってディスク半径に応じた基準デー
タクロックが得られる。通常は、±1kHzの変調によ
ってディスク上のアドレス情報がATIP情報として組
み込まれているので、検出した搬送周波数fA0を用いて
ウォブル再生信号を周波数検波し、ATIP情報を検出
し、サブコードに絶対時間で記録されたアドレスを確認
し、ATIP信号に含まれる同期(sync)パターン
からデータ同期の確立を行う。即ちATIP信号の同期
パターンとディスク回転とに同期したデータ基準クロッ
クを得る。 【0116】その後、該同期パターンに同期して、特定
のEFMフレームへユーザーデータのオーバーライトを
行うための記録パルス列を発生させ、記録を行う。図7
(a)に、本方法(i)に準じてCAVモードで所定の
アドレスへ移動し、ウォブルの搬送周波数を抽出して基
準データクロックを発生する流れの一例を示す。なお、
図7(a)において、点線はfA0及びfd0なる信号の流
れを示すもので作業の流れを示すものではない。まず、
通常のCAV方式で再生されるCDと同様に、ステップ
A1においてトラッキングサーボをオフとして、ステッ
プA2においてリニアモータの粗動で所定の半径に移動
するとともに、ステップA3においてトラッククロス信
号をカウントして移動トラック数を把握し、ステップA
4において狙いのトラックまでに必要なカウント数に近
づいたことを判断し、ステップA5においてトラッキン
グサーボをかける。 【0117】次に、ステップA6においてプッシュプル
信号からウォブル信号を再生しfA0を抽出する。このと
き、必要に応じて、前記式(3)によって求められる、
そのトラックがある半径位置におけるウォブルの搬送周
波数の予測値fR0を参照して同調させることでfA0を抽
出する。fA0抽出後あるいは同時に、ステップA7にお
いてATIP情報を復調し、ATIP情報に含まれる絶
対時間情報を読み取る。ステップA8において該絶対時
間を参照しながら、データを記録したい所定のアドレス
に移動する。ステップA9においてfA0を196倍して
得られたデータの基準クロック信号fd0とATIP情報
に含まれるsyncパターンの同期を取りながら、記録
すべきEFMデータに基づく記録パルス列を発生させス
テップA10においてオーバーライトを行う。 【0118】以上、アドレス情報や同期パターンがAT
IP情報として記録されている場合について述べたが、
ATIP情報のかわりにミニディスク(MD)で使われ
るようなADIP(Address In Pregr
oove)情報など(「MDのすべて」、河村正行著、
電波新聞社(1998))として記録されている場合で
あってもこの流れは全く同様に使用できる。一般に、1
00倍以上の周波数逓倍は誤差を伴うので、下記(ii)
または(iii )の方法を併用してデータの基準クロック
周波数の精度を上げることも可能である。 【0119】[データの基準クロックを発生させる方法
(ii)]媒体の記録が行われるべきアドレスにおける絶
対時間情報mm:ss:ee(mm分、ss秒、eeフ
レームの意)から、計算によりそのアドレスの半径位置
を割り出す。ATIP信号の1フレームの時間的長さは
通常周波数75Hzの逆数に相当するから、一倍速の線
速度をv0 とすると1フレームの空間的長さはv0 /7
5であり、00:00:00からmm:ss:eeフレ
ームに至る総フレーム長さは(v0 /75)×{75×
(60×mm+ss)+ee}である。ここで、絶対時
間00:00:00の半径をRinとみなし、トラックピ
ッチをTPとすると、Rinを0番目のトラックとしてN
T 番目のトラックまでの溝の総延長は下記式(4)で表
される。 【0120】 【数2】 【0121】また、NT+1番目のトラックまでの溝の
総延長は下記式(5)で表される。 【0122】 【数3】 【0123】上述の総フレーム長さが、式(4)の値と
式(5)の値の間となるようなNTがそのアドレスのト
ラック位置となる。これは、ピックアップの移動時に、
ターゲットであるアドレスまでのトラック数を導出する
のと同じ手順である。このような最内周からのトラック
数NT から、下記式(6)により半径位置Rが求められ
る。 R=Rin+NT ×TP (6) このRに対応して式(3)を用いて予測周波数fR0を発
生させる。ATIPのアドレス情報の最小単位の1フレ
ームは1/75秒であるから、少なくとも1/75秒ご
とにfR0は更新される。これは半径位置22mmの位置
でもトラックの約1/10周分にすぎないので半径位置
のずれは無視できる。 【0124】なお、試し書き領域やリードイン領域な
ど、00:00:00より内側にある記録領域において
も、NT を負の数となるようにして、適宜、Rinから減
じていくようにすることで正確なRが算出できる。ある
いは、式(6)で求めた、アドレス情報から計算された
半径位置Rは高々トラック数本分程度の誤差しかないか
なり正確な値であるため、Rから直接、 fd0=fin+25.9308(R−Rin)/(Rout
in) (7)なる式に従い、該半径における線速
度及び該線速度におけるデータの基準クロックfd0(M
Hz)=1/Tを予測することもできる。ここで、fin
はRinにおけるデータの基準クロック周期で、通常1
7.2872MHzである。 【0125】図7(b)はかかる参照信号fR0を利用し
た回転に同期した基準クロック発生方法を示す。図7
(b)において点線は、作業の流れではなく参照信号等
の流れを示す。図7(b)においてステップB1からB
5までは図7(a)のステップA1からA5と同じであ
る。図7(b)のフローの平行に進行するステップB1
1において、まず、移動先の絶対時間アドレスから計算
によりもとめた半径位置情報から(7)式に基づいて発
生した基準クロック周期fd0を得、1/196に分周す
ることで、ウォブルの搬送周波数の参照信号fR0が得ら
れ、ステップB6でfR0を直接、搬送周波数としてFM
復調し、ATIPをデコードする。デコード開始後は、
ATIPの絶対時間情報を参照してfd0は変化するもと
する。所定アドレスに到達したことをステップB7で確
認後、fd0をATIPの同期パターンと同期させること
で、ディスク回転に同期した基準クロックが得られ、ス
テップB8における記録パルス列発生を可能ならしめ
る。そして、かかる記録パルス列をもってステップB9
においてオーバーライトを行う。記録情報が多量でオー
バーライトの進行に伴ってアドレスが大幅に移動したと
しても、fd0は随時ATIPのアドレス情報により、自
動的に更新されるものとすれば、半径位置が変化したと
しても、マーク長の誤差の許容範囲内で、実質的に一定
線密度の記録が達成できる。この許容範囲とは概ね±1
%である。 【0126】[データの基準クロックを発生させる方法
(iii)]ディスク基板に、ウォブル溝のほかに、CLV
モードでfL0=22.05kHzよりも高周波の単一周
波数のクロックマークを付与しておき、ディスクを角速
度一定で回転させながら、該クロックマークを分離・検
出した上でこの繰返し周波数を所定倍してデータの基準
クロックを発生させる方法である。基準クロックが得ら
れた後は、前記方法(1)に記載したのと同様の方法
で、ATIP信号等のアドレス信号の同期パターンとデ
ィスクの回転とに同期した基準クロックとすることがで
きる。クロックマークの周波数はウォブル信号の周波数
帯域とデータの周波数帯域の中間の帯域とすると、ウォ
ブル周波数とデータの周波数のいずれからも容易に帯域
フィルタで選別できる。すなわち、好ましくは1倍速換
算でウォブル周波数の2倍以上、かつ1倍速データの基
準クロックの1/22(11Tマークとスペースの繰返
しの空間周波数に相当)程度以下とする。より具体的に
は60〜196kHz程度、すなわち22.05kHz
の2倍〜8倍の周波数の第2の周波数fL2で配置された
クロックマークを媒体上に付与する。 【0127】さらに、fL2はデータの基準クロック周波
数4.3218MHzの整数分の1としておき、データ
の基準クロックを得るにはfL2を該整数で倍してデータ
の基準クロックを得る。以上の条件を総合すると、fL2
として22.05KHzの2倍、4倍もしくは7倍を採
用すれば、ウォブル周波数及びデータ周波数領域から区
別され、かつ4.3218MHzの整数分の1となり好
適である。しかしながら、上述のように同一媒体上で線
速度を記録領域の最内周から最外周に亘って4倍速から
10倍速まで変化させる場合には、ウォブル、クロック
マーク、データの周波数帯域はそれぞれ最内周から最外
周にかけて2.5倍程度の分布を有するので、帯域の分
離が若干複雑になる。 【0128】具体的には、4倍速〜10倍速において、
ウォブルの搬送周波数は前述のように88.2kHzか
ら220.5kHzに分布し、データ成分は11Tのマ
ークとスペースの繰り返し周波数として約786kHz
〜1.96MHzに分布する。fL2をfL0=22.05
kHzの4倍、すなわちfL2=88.2kHzとした場
合、4〜10倍速のCAVモードでは該クロックマーク
の繰返し周波数は352.8kHz〜882kHzの周
波数で分布する。従って、全記録領域で一つの帯域フィ
ルタでクロックマークの周波数を区別するのは困難で、
各半径ごとに複数の仮想的ゾーンを設け、ゾーンごとに
フィルタの帯域を切り替えるのが好ましい。また、fL2
をウォブル周波数の半整数倍まで許せば、一個の帯域フ
ィルタでクロックマークの繰返し周波数を切り出すこと
ができる。例えばfL2をfL0=22.05kHzの3.
5倍(4.3218MHzの1/56にあたる)、すな
わちfL2=77.175kHzとすれば、4〜10倍速
のCAVモードでクロックマークの繰返し周波数は30
8.7kHz〜771.75kHzとなり、10kHz
ほどの幅ではあるが、データの周波数成分約786kH
z〜1.96MHzと区別できる。 【0129】クロックマークを設ける形態としては、例
えば、溝間に設けられたピットや非晶質マークであって
も良いし、溝に、特異的に大きく空間波長の短い孤立し
たウォブルを付与しても良い。後者の場合、通常のCD
−RWのウォブル振幅(peak−to−peak)は
20〜50nm程度に対し、クロックマーク用のウォブ
ルを50〜200nm程度の大きな振幅とするのがよ
い。そして、これを通常のウォブルの山、谷、またはそ
の半分の位置に重畳させて大きな振幅とするのがさらに
よい。上記クロックマークは物理的長さが3Tマーク
(約0.8μm)より短いことが好ましい。データの周
波数から帯域フィルタで選別しやすいからである。な
お、上記の説明から明らかなように、方法(iii)を採用
するに当たっては、媒体として、前記第1の要旨に係る
媒体であって、ウォブル溝が、1倍速に換算したときに
搬送周波数約22.05kHzであって、ATIP情報
により±1kHzで周波数変調されたウォブル信号を有
し、かつ22.05kHzの2〜8倍の繰り返し周波数
で溝に沿ってクロックマークが配置されているのが好ま
しい。このようなクロックマークから発生された周波数
L2=77.15kHzで図7(a)のfA0を読み替
え、fL2の56倍をデータの基準クロック周波数fd0
みなせば、図7(a)のフローチャートをそのまま使用
することができる。 【0130】[データの基準クロックを発生させる方法
(iv)]ディスク基板に、線速一定のときに周波数が一
定のウォブル信号を有する溝を設けるとともに、該ウォ
ブルが位相変調されているか又は特定位置のウォブルが
欠けている(振幅をゼロとする)ことによってアドレス
情報及び同期情報が付与されている媒体を使用する方法
である。即ち、この方法においては、媒体として上記媒
体であって本発明の第一の要旨に係る媒体を使用するの
が好ましい。この場合、ATIP信号がないため、既存
のCD−RWとの完全な互換性は失われるが、周波数変
調による溝蛇行周期の揺らぎに影響されない、角速度一
定でディスクを回転させながら該周波数を検出した後、
ウォブルの周波数を直接逓倍することで正確な基準クロ
ックが発生できる。そして、この基準クロックは、前記
方法(i)に記載したのと同様の方法で、上記アドレス
情報及び同期情報によって、アドレス情報の同期パター
ン及びディスクの回転に同期させることができる。この
場合のウォブルの周波数をデータの基準クロック周波数
d0の整数分の1で、1/22〜1/50程度とする
と、逓倍誤差を少なくし、データの周波数帯域と分離さ
れるので好ましい。このウォブルの周波数で、図7
(a)のfA0を置き換えれば図7(a)のフローチャー
トをそのままで使用できる。 【0131】以上は、未記録状態のブランクディスク、
あるいは記録部と未記録部を有するディスクにおいて基
板に溝蛇行(ウォブル)等によってあらかじめ記載され
た情報から、半径に反比例し回転に同期したデータの基
準クロックを発生させ、かつアドレス情報を読み取り、
該アドレスに同期した書き込み信号を発生させる方法の
例である。 【0132】一方、ディスク製造時に、もしくは未記録
ディスクの最初の使用時に、フォーマット処理を行って
ディスク記録領域全面にEFM変調信号でアドレス情
報、同期情報等を記録してしまい、以後はこの記録済信
号を利用することとしてもよい。フォーマット処理は、
ディスク全面に所定データを均一に記録するだけであ
り、必ずしもCAVモードで記録を行う必要はなくCL
Vモードで8倍速等の高速で行えば良い。あるいは、C
AVモードであっても、ディスク回転に同期し半径位置
に比例して高周波化していくようなデータの基準クロッ
ク発生回路を別途用意して、データの基準クロックを動
的に掃引しながら記録を行えばよい。記録済みのEFM
変調信号からは、直接にデータの基準クロックが抽出で
き、クロック周期の精度、同期の精度を高めることがで
き好適である。フォーマット処理にも以下のような複数
の方法(v)、(vi)が考えられる。 【0133】[データの基準クロックを発生させる方法
(v)]媒体にあらかじめサブコードによる絶対時間情
報をEFM変調信号として記録領域全面に記録しておく
方法である。角速度一定で回転させ記録する時に該EF
M変調信号を検出し、データの基準クロック及びアドレ
ス情報を得る。このクロックは半径に反比例し、回転及
びサブコードの同期パターンに同期している。その後、
前記同様クロック及びアドレス信号に同期した書き込み
信号を発生させる。あらかじめ、記録領域全面にサブコ
ードにより絶対時間をEFM変調信号として記録する場
合は、ユーザーデータは任意(通常は0の羅列)として
記録を行う。 【0134】このフォーマット処理されたディスクで
は、EFM変調信号及びそれに含まれるサブコード情報
はすべて、CAVモードで再生されるCD−ROMと同
じ方法によってアクセス可能となる。そして、EFM変
調信号から、データの基準クロック周期を抽出すること
ができる。この方法はいわゆるマルチセッション方式で
の追記のように、追記されるデータが比較的長く、内周
側からの記録済み領域が連続していて、その外側に追記
する場合に適している。 【0135】[データの基準クロックを発生させる方法
(vi)]媒体にあらかじめCD−ROM規格(いわゆる
イエローブック)におけるブロック構造をEFM変調信
号として記録領域全面に記録しておく方法である。角速
度一定で回転させ記録する時に該EFM変調信号を検出
し、データの基準クロック及びアドレス情報を得る。こ
のクロックは半径に反比例し、回転及びサブコードの同
期パターンに同期している。その後、前記同様クロック
及びアドレス信号に同期した書き込み信号を発生させ
る。 【0136】具体的には、まず、CD−ROMフォーマ
ットに従い、98EFMフレーム(2,352バイト)
を1単位とするブロック構造をあらかじめ記録領域全面
に記録する。ブロック構造はCD−ROM規格に規定さ
れた論理データ構造である。各ブロックにはユーザーデ
ータの一部に、ヘッダーと呼ばれる論理アドレスと同期
信号が含まれており、フォーマット時にはこのデータも
記録する。データは98フレームごとのまとまりで記録
される。まず、記録すべきデータは、2,048バイト
ごとに分割され、各々同期情報12バイトとヘッダー4
バイトが付加される。 【0137】次に、同期パターンを除くヘッダー及びデ
ータにスクランブルをかけ、ECC(データ訂正符号、
Error Correction Code)データ
が付加される。これに先の同期情報を付加したものに対
して、データの順番を入れ替えるインターリーブをかけ
た後、98個のフレームに分割する。各フレームには先
頭にEFMフレーム同期パターン及びサブコードが付加
され、更に、フレーム途中とフレーム最後に、各フレー
ムのデータから計算されたECCデータがあらためて付
加される。なお、上記サブコードには絶対時間情報など
いろいろな情報が含まれるが、特に98フレーム中の第
0フレーム及び第1フレームにのみフレーム同期信号が
含まれている。このようにして、記録すべきEFM変調
信号が作られる。 【0138】なお、UDF(Universal Di
sk Format)バージョン1.5以降に対応した
ランダムパケットライト方式でフォーマット処理を行う
と、未記録ディスクに対してフォーマット処理を行う際
にも上記ブロック構造が記録されるので好ましい。な
お、ランダムパケットライト方式はOSTA(Opti
cal Storage Technology As
sociation、米国内の業界団体)により制定さ
れている。また、パケットライト用のフォーマット処理
はCD−RWの規格であるオレンジブック・パート3に
も規定されている。 【0139】ただし、部分的上書きなどにより、パケッ
ト(1パケットは16もしくは32ブロックからなる)
間のリンク部分で若干のサブコードデータの不連続が発
生しうるので、サブコードに含まれるアドレス情報より
も、各ブロックのユーザーデータ部分に記録されたブロ
ックアドレスを参照してアクセスするほうが好ましい。
この方法は、追記されるデータが短くて固定長のパケッ
トであって、ランダムな位置にオーバーライトを行う、
いわゆるランダムパケットライト方式の場合に適してい
る。 【0140】上記方法(v)もしくは(vi)に準じてC
AVモードで所定のアドレスへ移動し、ウォブルの搬送
周波数を抽出して基準データクロックを発生するスキー
ムの一例をそれぞれ図8、図9に示した。まず、CAV
方式で再生される普通のCDと同様に、トラッキングサ
ーボをオフとしてリニアモータの粗動で所定の半径に移
動するとともに、トラッククロス信号をカウントして移
動トラック数を把握し、狙いのトラックまでに必要なカ
ウント数に近づいたところでトラッキングサーボをかけ
る。 【0141】ここで、ステップC6もしくはD6におい
てやはりCAVモードのCD−ROM再生システムと同
様に、記録済みのRF信号からEFMデータを再生し、
該EFMデータより基準データクロックを抽出する。サ
ブコードを利用する場合、ステップC6においてサブコ
ードのフレーム同期信号から基準データクロックとディ
スク回転との同期を確立し、ステップC7でサブコード
Qチャネルからアドレス情報を取得する。CD−ROM
データのブロック構造を利用する場合、ステップD6に
おいて各ブロック先頭の12バイトの同期情報を利用し
て同期を確立するとともに、ステップD7において引き
続くヘッダーからアドレス情報を取得する。そして、い
ずれの場合もステップC8もしくはD8において所定ア
ドレスに到達したことを判定した後、ステップC9もし
くはD9において記録パルス列に変換して、ステップC
10もしくはD10において、所定のデータを所定のア
ドレスにオーバーライトする。 【0142】[データの基準クロックを発生させる方法
(vii)]以上で述べた上記の方式は、基本的にCAV
回転そのものは独立して回転精度を維持されているとい
う前提である。しかし、CAV回転系と基準クロック参
照信号fR0との間で、フィードバックループを構成する
とさらに回転系とデータ基準クロックの同期が正確にな
るので好ましい。即ち、CAV回転を基準として、所望
の半径におけるウォブル再生信号やクロックマークある
いは、記録済信号のサブコードから直接あるいは参照信
号を参照して、基準クロック周波数を発生するのではな
く、所望の半径における計算上のクロック周波数(すな
わち参照信号fR0)に同期するように、CAV回転をP
LL(pahse lock loop)制御するので
ある。 【0143】図15は、所定のアドレス(半径)に到達
し、回転とデータの基準クロックの同期を達成し、オー
バーライトを行う方式の手順を示すフロー図である。図
16は、そのような制御システムの概念図である。図1
5及び図16はCAV方式でありながら、半径位置によ
らず等線密度記録を達成する光ディスク記録再生装置と
その動作フローを示している。図16は、図6の一般的
な概念図に対して、特に集束光ビームを所定(ターゲッ
ト)アドレスの記録ブロックに半径方向に移動させたと
きに該半径に反比例して変化するデータの基準クロック
T(周波数fd0)を発生する基準信号発生器(VCO
1)と、所定半径における該基準クロックTを1/N
(Nは整数)に分周して得られる参照信号fR0と該アド
レスにおいて検出された溝蛇行の搬送周波数fA0を位相
比較することで、所定の半径におけるデータの基準クロ
ック周波数f d0とfA0が半径位置にかかわらずfd0=N
・fA0なる関係を維持するようディスクの回転数を微調
整するとともに、記録ブロックの開始位置と該ブロック
に書き込まれるべきデータ列の同期を達成する手段につ
いて、詳細に記載したものである。 【0144】図15、図16では、特に書き換え型コン
パクトディスクを例としてN=196としている。この
方法では、まず、半径位置移動支持、アドレス到達判
定、データの基準クロックの計算をドライブ内の特定の
CPU1で司る。初期状態として、例えば記録領域最内
周を基準半径Rinとし、基準半径にある記録トラックに
フォーカス及びトラッキングがかかっているとする。本
発明の媒体を用いる場合には、特に、この記録領域最内
周での線速度がCD線速の4倍速(4.8m/s)程度
になるよう、基準回転数ω0 がω0 =1900〜220
0rpmの範囲となるように設定する。具体的には、基
準半径Rin=21mmなら、2180rpm、Rin=2
4mmなら1910rpm程度とする。 【0145】図16においては、図6を基本として点線
で囲まれるような回転制御のためのPLL(phase
locked loop)系を詳細に記載したもので
ある。逆に図16では回転制御系以外の要素は簡便化し
ている。例えば図6のエンコーダED1,ED2はまと
めてエンコーダEDとされ、レーザードライバーLD1
は記録パルス変換回路WP1の一部として省略されてい
る。また、フォーカスサーボ機構FE1、トラッキング
サーボ機構TE1は省略されている、アクセスサーボ制
御CPU1は、制御用CPU1の一部に含まれる機能と
みなされる。 【0146】図6の基準クロック発生回路CK1は図1
6では、制御CPU1からの信号を受け、D/A変換
器、電圧制御発信器VCO1で構成されている。ここ
で、fd0はアドレス情報に基づき、半径に比例したデー
タの基準クロック周波数であり、例えば(4)〜(7)
式を用いて、制御用CPU1で計算されたデジタルの出
力結果をA/D変換器でfd0に比例した電圧Vd0に変換
した後、該Vd0に比例した周波数をVCO1で発生する
などして生成する。この部分は一例であって、アドレス
情報から計算によって半径に比例したデータの基準クロ
ック周波数さえ生成されれば、他のデジタルシンセサイ
ザーによって置き換え可能である。前述のように、最外
周がCDの10倍速なる場合、最内周は4倍速程度であ
り、fd0は17.287MHzから43.218MHz
まで変化するので、かかるデジタルシンセサイザーは、
この周波数範囲を0.1MHz程度の分解能で掃引でき
ることが望ましい。半径に比例する基準クロック周期と
はいえ、この程度の分解能で段階的に変化するものであ
っても、各半径位置においてマーク長の誤差は許容範囲
内(通常±1%程度)に維持できる。 【0147】fd0は分周器で1/196に分周され、所
定の半径におけるウォブルの搬送周波数の参照値fR0
して用いられる。なお、図16においてBPFはウォブ
ル信号から搬送波成分fA0を抽出するための帯域フィル
ター、HPFはウォブル信号をFM復調するための高域
通過フィルタである。位相比較器PCOにおいては、f
R0を参照信号としてfA0と位相比較を行う。また、PC
Oの位相比較結果はLPFで平均された電圧Vmoに変換
されるが、V moは位相差が大きいほど大きい、フィード
バック信号である。VmoはVCO2によってスピンドル
モータM1の周波数制御用の周波数fPMに変換される。
PCO,LPF,VCO2の組み合わせは通常のPLL
制御に用いられる一般的な構成である。このPLL制御
により、fA0がfR0と同期する、つまりPCOでの位相
差がゼロになるようにディスクの回転数が調整される。 【0148】図15のフローに従って、まず、ステップ
G1でアドレス移動の指令と所望の移動先アドレス(タ
ーゲットアドレス)DA1が外部インターフェースを通
じて制御用CPU1に入力される。ステップG2でアド
レス移動のためにトラッキングサーボをoffにする。
同時に平行ステップGa1においてCPU1は該アドレ
スAD1(ここではATIPを例に取る)から、ターゲ
ットとするATIPアドレスの半径やトラック番号を式
(4)〜(6)によって計算する。また、(7)式によ
って、ターゲットアドレスの半径における基準クロック
周波数fDAを計算し、該周波数をVCO1により発生す
る。またこのfDAは1/196に分周され、ターゲット
アドレスにおけるウォブルの搬送周波数fRAを生成す
る。fDA及びfRAは予測周波数として参照される。 【0149】より一般的には、上記光ディスクD1の記
録領域の始端もしくは終端における基準半径Rref にお
けるデータの基準クロックをTref (周波数fref )、
記録領域の最内周から最外周までの半径幅をΔRとし、
データの記録を行うべき所定ATIPアドレスから計算
された半径Rと、該アドレスにおける基準クロックT
(周波数fd0)が、fd0=fref +(R−Rref )/Δ
R (100)なる関係を維持するようにfd0
半径に応じて計算する。また、計算による(R−
ref )から横断すべきトラック数等を算出し、リニア
モータM1に半径移動信号を出す。 【0150】ステップG3においてCPU1からの指令
でリニアモータLM1で駆動されたピックアップPU1
は半径方向に移動し、ステップG4でトラックカウント
による粗動機構で所定のターゲットアドレスに向かって
移動する。ステップG5でターゲットアドレスの直前に
十分近づいたことをトラックカウント数により確認した
のち、粗動機構にブレーキをかけて、ステップG6にお
いてターゲットアドレス近傍(通常は直前)のトラック
においてトラッキングサーボをonとし、以後はトラッ
キングサーボを維持したまま再生レベルにあるレーザー
光ビームを案内用溝に沿って走査する。 【0151】この状態で、ウォブルの搬送周波数fA0
抽出する。ピックアップPU1はターゲットアドレスに
近接しているので、ターゲットアドレスから計算したf
RAと抽出されたfA0は、位相比較によりPLLロックで
きる範囲である。したがって、ステップG7でfA0とf
RAを位相比較し、fA0がfR0に同期するようスピンドル
モータM1にフィードバックをかけ、CAV回転同期さ
せる。 【0152】次に、ステップG7において予測ウォブル
搬送周波数fRAにより、スピンドルモーターM1のCA
V回転をロックした後、トラッキングサーボを維持しな
がら、光ビームをトラックに沿って走査する。ステップ
G8においてはピックアップPU1においてプッシュプ
ル信号P1を再生し、BPFによりウォブルの搬送周波
数fA0を抽出するとともに、ATIPデコーダWDA1
でATIP情報のデコードを開始する。ステップG9に
おいては、該リアルタイムで再生された刻々と更新され
るアドレス情報をもとに、平行ステップGa2において
d0を計算してこれを時々刻々更新し、VCO1より所
定の基準クロック周波数fd0を発生する。また、同時に
該fd0を1/196に分周して得られる最新のfR0を参
照して、fR0とfA0の位相比較をPCOにおいて行い、
R0とfA0が同期するように、ディスクのCAV回転制
御がスピンドルモーターM1に対して行われる。ステッ
プG8,G9,Ga2はfd0を基準信号とするPLLフ
ィードバックループを構成し、スピンドルモーターM1
の回転を実質的なCAV回転に維持する。 【0153】ステップG8〜G10では、かかるフィー
ドバックの作用のもと、記録再生光ビームを走査し、刻
々と変わるATIPアドレス及びfd0に応じてCAV回
転数も微調整しながら、ターゲットアドレスに近づく。
ステップG10においてターゲットアドレスに到達した
ことが判定されれば、ステップG11において記録パル
ス列が発生される。制御用CPU1の指令のもと2値化
データがEFM変調信号にエンコードされ、VCO1で
生成されたfd0に同期して、本発明記録方式に従って記
録パルス補正され、図5のごときα1T,β1T,・・・
・・,αmT,βmTなる記録パルス列のゲートが生成さ
れ、該ゲート信号に基づいて記録パルス発生回路WP1
において、ピックアップPU1のレーザーダイオード駆
動電流が生成される。ステップG11においてピックア
ップPU1から記録パワーPw、バイアスパワーPb、
消去パワーPeがターゲットアドレスのトラックに照射
され、所定のEFM変調データがオーバーライトされ
る。ここで、ステップG11の記録パルス列発生時に
は、fd0と同時にATIP情報中の同期信号が参照さ
れ、ATIPフレームとの位置の同期が達成される。 【0154】さらに、入力データをCDフォーマットに
エンコードされたデータをさらに記録パルス列発生回路
WP1において記録パルス列を発生する。図16ではア
ドレスに対応した線速度に応じて記録パルス列の補正を
行うことも考慮している。以上の手順は、市販のCD−
R/RWドライブぶ、ウォブル周波数と基準クロック周
波数を比較してCLV回転同期を達成し、記録を行うた
めの制御系とフロー的には一見類似している。CLV回
転同期では、基準クロック周波数は半径位置によらず一
定のfd0が参照信号として用いられる。このfd0を参照
信号として、fR0を発生し、むしろ強制的にモータの回
転を大幅に変化させて回転同期を取る。この際、半径方
向移動量が大きい場合には、回転数自体をあらかじめ半
径から計算によって決まる回転数に粗調整しないと、f
A0とfR0の差が大きすぎてPLL制御のキャプチャレン
ジからはずれてしまう。 【0155】一方、図16の装置は、粗動中はCAV駆
動されているので、M1が半径移動開始前の初期のCA
V回転数をたもっており、半径移動による大幅なfR0
びf A0の変動があっても両方が半径に比例して変化する
ので、PLLのキャプチャレンジをはずれることはな
い。つまり、半径方向素動機構でターゲットアドレスの
トラックから十分近いところに移動できていれば、その
ままATIPデコードをしてアドレスを読みながら半径
位置の微調整をしつつ、CAV回転をPLL制御でき
る。つまり、所定アドレス近傍に達してATIPデコー
ドを開始して後は、厳密にはCAV回転数はATIPア
ドレスに応じてリアルタイムで変化するfd0に基づい
て、PLL制御により微調整されている。図16におい
て点線で囲まれた部分がPLL制御回路を構成してい
る。 【0156】ここで、fd0の更新の最小単位であるAT
IPフレーム(CD1倍速で1/75秒単位)ごとに、
R0=(1/196)fd0に同期させてディスク回転を
PLL制御でロックさせるから、前記CAV回転制御方
式は、換言すれば、ATIPフレームごとに仮想ゾーン
を設けたZCLVとしても機能している。しかし、各ゾ
ーンの長さであるATIPフレームはディスク1周にも
満たないために、実質的にはCAV回転とみなせるので
ある。かかる、CAV回転制御は、スピンドルモーター
M1を独立に機械的にCAV回転制御する場合よりも、
いっそう正確に、各半径におけるデータの基準クロック
とディスク回転の同期を確立でき、各半径位置における
マーク長のゆらぎを極めて小さくできるという利点を有
する。 【0157】なお、図16では省略したが、ピックアッ
プ祖動時のCAV回転は、念のため、スピンドルモータ
M1の回転数を速度センサ(通常はホールセンサ等を用
いる)でモニタして、±1〜10%程度の荒い精度の回
転維持制御機構を平行して用いることがより好ましい。
回転数ゼロからPLLのキャプチャレンジに至るまでの
回転の立ち上がり時までは、むしろ該回転数の直接制御
は必要であり、所定回転数に到達後、アドレスに応じて
発生された基準クロック信号fd0を参照するPLL制御
に移行する必要がある。また、万が一、祖動中にCAV
回転が大きくずれてもPLLのキャプチャレンジをはず
れないようにするためにも有効である。さらに、原理的
にはPLLでは最内周の4倍速記録と、中周よりやや外
側での8倍速記録のような倍周波数の区別ができないの
で、突然4倍速で同期取るべきところを、8倍速で同期
がとれたりするような暴走を防ぐためにも、スピンドル
モーターM1の回転数の直接モニタによる比較的荒い回
転数制御をあわせ用いることは有効である。 【0158】このCAV方式は、従ってATIPアドレ
スから計算された参照周波数fd0及びfR0で微調整され
たCAVである点で従来のCLVモードのPLL回転制
御系とは異なる。この微調整幅はPLL制御を維持する
ために、また、実質的に等線密度の記録を維持しCLV
モードで再生可能とするために、通常、基準回転数ω 0
の±1%以内とすることが望ましい。つまり半径方向粗
動機構は、この関係を維持できる程度にターゲットアド
レス近傍に接近できることが望ましい。 【0159】図16の装置においては、扱う周波数帯域
が最内周から最外周で約2.5倍の帯域があるので、B
PF、HPF、及びLPFの設定帯域には留意を要す
る。特にPLL制御系内のLPFについては、場合によ
っては、半径を数個のゾーンに分割して切り替える必要
がある。 【0160】本発明においては、以上の方法によって、
半径に反比例して変化する基準データクロックを発生さ
せることができる。ただし、本発明の基準データクロッ
ク発生方法がこれらに限定されるものではない。以上で
述べたようなCD互換の等線密度記録をCAVモードで
実現するためのアクセス方法、データの基準クロックの
発生及び回転同期方法は、どのような回転数であっても
広くCD−R/RW媒体に適用可能であるが、本発明の
媒体及び記録方法に用いると、いっそうアクセスパフォ
ーマンスが向上して好ましい。なお、CDには直径8c
mの小径サイズのものもあるが、その場合のCAV方式
での最内周/最外周での線速差は高々2倍なので、本発
明の媒体、記録方法及び記録再生装置をそのまま適用で
きる。この場合、転送レートを高めるため、最外周での
線速を10倍速以上とするのが好ましい。 【0161】7.CAV方式による記録を用いた応用例
について さて、以下では、CAV方式による記録が可能な本発明
書き換え型コンパクトディスク及びCAV方式で書き換
え型コンパクトディスクに記録を行う本発明記録方式に
より、異なる半径位置のアドレスへのアクセス時間が大
幅に短縮されるが、かかる利点を最大限に生かした応用
例について述べる。 【0162】より具体的には語学や音楽の反復練習のた
めの教本をCD化したものがあげられる。このようなア
プリケーションでは、まず、手本(デモンストレーショ
ン)となる外国語のセンテンスや音楽の小節がアプリケ
ーションのデータとして再生され、その反復をユーザー
に促し、ユーザーがただちに、反復復唱した内容を録音
して新たな入力情報とし、ユーザーデータ領域に記録す
る。そこで、一枚のCD−RWディスクに、アプリケー
ションプログラムを格納し、該プログラムを再生し、デ
モンストレーションデータを再生してデモンストレーシ
ョンを実行した後、反復復唱されたユーザーデータを同
じCD−RWディスクに記録できれば同じ記録再生装置
で記録再生ができ非常に便利である。 【0163】通常、デモンストレーションは、反復復唱
が容易なように、数秒から数十秒の単位に分割されてお
り、デモンストレーションとユーザーデータの記録は、
かかる時間範囲で繰り返し行われる必要があるが、アプ
リケーションプログラム領域とユーザーデータ領域との
間の光ピックアップのアクセス時間を極力短くできる、
CAV回転方式での記録が可能な記録媒体及び記録方式
が特に有効となる。また、最近はCDの再生をCAVで
行うことが多いが、記録及び再生のいずれもがCAVの
まま行われれば、記録から再生、再生から記録への切り
替えプロセスが簡単になるし、短時間で完了するという
好ましい特性が得られる。 【0164】本応用に適したCD−RW媒体は、プログ
ラム領域の連続した特定領域に所定のアプリケーション
プログラムのデータが格納されたアプリケーションプロ
グラム領域と、残りの領域に少なくとも上記アプリケー
ションプログラムに関連するユーザーデータが記録可能
なユーザーデータ記録領域とが設定されてなり、該アプ
リケーションの再生及び該アプリケーションに関連した
ユーザーデータの記録が同一回転速度のまま行われる。 【0165】上記アプリケーションプログラム領域は、
未記録の書き換え型CD−RWの一部に、製造者側で記
録を行って作成しても良いし、あらかじめ凹状のプレピ
ット(位相差ピット)によって基板上に形成されたRO
Mデータとして記録されていても良い。いずれの場合
も、アプリケーションプログラム自体は、実際上再生専
用(ROM)データとして扱われるので、本CD−RW
ディスクは、部分的にROM領域を有すると解され、従
って、パーシャルROM(Partial−ROM,P
−ROM)と称されることもある。 【0166】かかるP−ROM型のCD−RWディスク
においては、通常は、ATIPアドレスに沿ったデータ
配置に示すようにアプリケーションプログラムを格納す
る領域(アプリケーションプログラム領域)とユーザー
データ記録領域がそれぞれ連続的なアドレスを占めるひ
とかたまりの領域として、確保されるのが一般的であ
る。図25は、ATIPアドレスに沿ったデータ配置の
模式図である。 【0167】図25にはCD−RWディスクの斜視図1
00と断面図101が示してある。CD−RWディスク
100の最内周から順にPCA(Power Cali
bration Area)、PMA(Program
Memory Area)、リードイン領域、プログ
ラム領域、リードアウト領域からなるデータ構造を有す
る。このうち、PCAはパワー決定のための試し書き領
域、PMAは、CD−RやCD−RWに特有の一時的な
ファイル管理情報記録領域、リードイン領域は本来CD
−ROMフォーマットで用いられるTOC(Tabel
of Contents)と呼ばれるファイル管理情
報やディスク管理情報を記載する領域、リードアウト領
域は、EFMデータの終わりを示すための領域であり、
プログラム領域はユーザーデータを記録すべき領域であ
り、本発明においては、このプログラム領域にアプリケ
ーションプログラム領域と書き換え可能なユーザーデー
タ領域との両方を有する。従来のCD−ROMとの再生
互換を維持するためには、必ず、リードインおよびリー
ドアウト領域に所定情報を記録することが必要である。 【0168】本発明においては、少なくともPCA領域
の始端Bからリードアウト領域の終端Dまでのインフォ
メーション領域(図25の100で斜線の領域)は、同
一の相変化媒体で構成されている。プログラム領域にお
いてアプリケーションプログラムを格納するための部分
的なROM機能を実現する領域は2種類あって、一つ
は、予め基板表面に形成された凹部によるプレピット列
(予め基板上に射出成形等で形成されたピットの列)を
用いてデータを記録し、基板上に記録層を設けた領域
(マスターROM領域)である。他方は、CD−RWデ
ィスク100全面を書き換え可能な領域として記録層を
形成して、その中の一部の領域にデータを記録した後、
記録ドライブ装置がその一部の領域に再び書き込みする
ことを禁止された領域(ポストROM領域)である。 【0169】少なくとも、ポストROM領域及びRAM
領域においては、図26(a)のごとくレーザ光を誘導
すべく、螺旋状に設けられた案内溝105が設けられて
いる。案内溝105は溝壁105a及び105bにより
囲まれており、その断面はCD−RWでは通常、深さ
0.03〜0.05μm、幅約0.5μm程度の台形状
になっている。レーザー光は該溝にそって円盤状ディス
クの回転により周方向に走査される。案内溝105は、
半径方向の蛇行によりATIP情報や同期信号等の付加
データ付与のためのウォブルが形成されている。図26
では溝蛇行の振幅が誇張されており、実際上は溝幅約
0.5μmに対して、蛇行の振幅は約0.03ミクロン
程度である。一方、マスターROMデータによるマスタ
ーROM領域を有する場合には、図26(b)のごとく
複数のピットかなるピット列106を結ぶ中心線107
が案内溝105と同程度の振幅の蛇行を有するように構
成されることが望ましい。 【0170】いずれにせよ、PCA領域の始端Bからリ
ードアウト領域の終端Dにかけて、広義の案内溝にそっ
てアドレス情報を付与するために、ウォブルにより絶対
時間によるアドレス情報及び同期信号が与えられている
ことが望ましい。絶対時間アドレスは、1/75秒を最
小単位(フレーム)とし、分、秒、フレーム単位で表記
される。図25においてプログラム領域の始点Aにおい
てATIPは0分0秒0フレーム(以後00:00:0
0のように記載)から始まり、最大79:59:74フ
レームまで続く。データ容量に応じて、プログラム領域
の最大ATIPアドレス、すなわちリードアウト領域の
開始時間(図25(c)点)は変化しうる。さて、プロ
グラム領域は図25のC点において、リードアウト領域
に移行する。リードアウト領域のATIPアドレスは、
プログラム領域の最終ATIPアドレスを引き継いで連
続して増加する。通常、リードアウト領域の長さは1−
2分程度である。一方、PCA,PMA,リードイン領
域は、図25のB点からA点にかけて配置される。その
ATIPアドレスはA点で00:00:00としてリセ
ットされたのち、A点からB点(PCAの最初のアドレ
ス)に向かって、99:59:74から順次減少してい
く。PCA,PMA,リードインにおけるATIPアド
レスは80あるいは90分台しか使用できないことにな
っている。 【0171】図27はデータの配置を示した例である。
図27において、A,B,C,Dの各点は図25のA,
B,C,Dと同じATIPアドレス上にある。そして、
BAがPCA/PMA領域110とリードイン領域11
1からなり、ACはプログラム領域112であり、CD
がリードアウト領域113である。図27において、ア
プリケーションプログラム領域120は、内周部すなわ
ち、ATIP時間の初めのほうに設けられており、ユー
ザーデータ領域121は、外周部の相対的にATIP時
間の後ろのほうに設けられている。 【0172】図27において、アプリケーションプログ
ラム領域120とユーザーデータ領域121は、単純に
内外周に分離して配置されているが、どちらが内周であ
ってもかまわない。また、例えば、該プログラム領域が
マルチセッション・フォーマットの規程に従って2つの
セッションに分割されており、一方が、アプリケーショ
ンプログラムを格納したセッションであり、他方がユー
ザーデータを自由に書き込めるセッションであるような
データ構造を有していても良い。 【0173】アプリケーションプログラム領域120に
は実行可能なプログラムとして、ユーザとの対話形式で
の作業が可能な入出力を制御するメインメニュープログ
ラムやメインメニューに基づいて作業をサブルーティン
に割り振る基本ルーティンプログラム、メニューを通じ
てユーザーの選択に応じて機能する、種々の作業やデモ
ンストレーションの実行を司るサブルーティンプログラ
ムなどの実行形式プログラムを格納する実行プログラム
領域123と、アプリケーションプログラムで参照され
るデモンストレーションのデータ集を格納するデモデー
タ領域124からなる。以下では両方を総称してアプリ
ケーションプログラム領域と呼ぶ。デモンストレーショ
ンデータ集には、例えば、複数のサブデモンストレーシ
ョンである、デモ1、デモ2・・・・、デモnから構成
され、ユーザはいずれかを選択したり、複数を連続的に
再生できるものとする。ユーザーデータ領域には、例え
ば、デモ1,デモ2、・・・、デモnに対して、ユーザ
ーが復唱した内容がそれぞれ復唱データ1、復唱データ
2、・・・・、復唱データnというように格納される。 【0174】アプリケーションプログラム領域120と
ユーザーデータ領域121間の頻繁なアクセスを行うに
際し、両領域の論理データ構造が同一であり、ファイル
管理方法が同一であることが、データの再生に当たって
デコード方式を切り替える必要がないので好ましい。特
に、後述のように音声データを扱うような場合、実際の
ディスク上でのデータ再生・転送ルートと実時間での音
声再生レートとのギャップを解消するために、また、細
切れアプリケーションデータの再生とユーザーデータの
記録とを切り替えながら行うために、ディスク上のデー
タは、いわゆる固定長のパケット構造を有することが望
ましい。ここで改めてCD−RWにおける固定長パケッ
ト記録について説明する。CD−ROMフォーマットに
おいては、図28に示すように、ユーザーデータ204
8kバイトに付加データを含む2352バイトの単位を
ブロック130としてひとまとめにしてデータ処理を行
う。1ブロック130にはエラー訂正のためのECC符
号(131)等、ヘッダーと呼ばれるATIPに対応す
るアドレス情報を含む4バイトのデータ(132)、及
びECCを含むデータでコードの際に必要となる同期信
号8バイト(133)を付加してなる。 【0175】該2352バイトを24バイト×98のマ
トリックスに分割したとき、一行24バイトのデータ単
位(135)をフレームと称するが、これは、EFM変
調データに変換するときの基本多淫にであり、ユーザー
側からは操作できない。該フレーム135に属する24
バイトのデータにさらにエラー訂正用のパリティーと、
サブコードと呼ばれるアドレス情報等を付加して、EF
M変調してのちディスク上に記録される。 【0176】CD−RWの固定長パケット記録は、該C
D−ROMフォーマットの使用を前提として、米国のO
STA(Optical Storage Techn
ology Association)においてユニバ
ーサル・ディスク・フォーマット(Universal
Disk Format、UDF)のバージョン1.
5及びマルチリード(Multiread)フォーマッ
トとして制定された。上記ブロック単位で、32ブロッ
クユーザーデータをまとめて一単位とし、図29に示し
たような、ランインブロック141、ランアウトブロッ
ク142及びリンクブロック143を付加してなる単位
を、パケットと称する。すなわち一パケットには64k
バイトのユーザーデータからなる、ユーザーデータブロ
ック群140が含まれる。 【0177】このようなフローチャートは、例えば、図
30に示すように、本発明の部分的にアプリケーション
プログラム領域とユーザーデータ領域を有するCD−R
Wディスク153と、該ディスクをCAVモードで回転
させながら記録再生するための装置であるCD−RWド
ライブ150、及び、該記録再生装置に接続されたホス
トコンピュータ151を少なくとも含むシステムによっ
て実現される。CD−RWドライブ150とホストコン
ピュータ151は、相互にデ−タ転送が可能なように、
データ転送路200で接続されている。データ転送方式
としては、ATAPIあるいはSCSI方式が用いられ
る。データ転送の際のCD−RWドライブ150側のデ
ータ処理速度と、ホストコンピュータ151側のデータ
処理速度の差を解消するために、また、データ転送の同
期をはかるために、それぞれにデータ転送用のバッファ
メモリ206と207がある。バッファメモリ206と
207では、例えば、図29のパケットごとにデータが
処理される。また、ドライブ150内ではEFM変調信
号の増幅、帯域フィルタによる抽出、エンコード、デコ
ード、CDフォーマットのエンコード、デコード、記録
パルスの生成等は、データ処理系204でなされる。デ
ィスクの回転制御は回転制御系203で処理され、光ピ
ックアップ201の移動、トラッキングサーボ、フォー
カスサーボはピックアップサーボ系202で処理され
る。これらの機械的制御と、データ処理との相互の連携
は、システム制御CPU205で制御されている。CP
U205はこれら機械制御、データ処理、電気信号の記
録再生等を統括する上位のシステムの総称で、必ずしも
1個のICで実現されるとは限らない。 【0178】ホストコンピュータのCPU210によっ
て、アプリケーションプログラムは解読実行される。デ
ータ転送路200及びバッファメモリ207を介して得
られたデータは、キャッシュメモリ209を介してCP
U210で処理され、やはりキャッシュメモリを介して
作業用メモリ211に保管される。また、作業用メモリ
211はRAMメモリ212もしくはハードディスク2
12であり、プログラム実行中のワークスペースとして
利用される。CPUで処理される最小限のデータがキャ
ッシュメモリ209に一時的に保管される。バスコント
ローラは、CPU210を助けてホストコンピュータ内
のデータの流れを制御する。 【0179】ホストコンピュータ151のシステムは、
ユーザーインターフェースとして、マイク・カメラ等の
AV(audio−visual)入力機器群217と
スピーカー・ディスプレイ等のAV出力機器群219及
び、キーボードやマウス等の機器群220を有する。A
D(アナログデジタル)変換回路216もしくはDA
(デジタルアナログ)変換回路218を介して、ユーザ
ーとの入出力処理をデジタルデータとして処理できるよ
うになる。通常は、音声や画像処理をCPU210だけ
で司ることはなく、専用の処理回路215で処理するの
が普通である。音声・画像処理回路215及びその上位
のサウンド/ビデオコントローラ214では、データの
サンプリング、補間、圧縮/解凍等が行われる。また、
音声と映像の両方のデータを含む場合、音声と映像デー
タの同期を確立するためのデータ処理も行われる。これ
らの処理は、音声/画像を別々のICで処理することも
あるが、ここではひとまとめに記載する。同様にキーボ
ードやマウス等からのデータも、IO制御回路221で
代表されるシステムで処理される。 【0180】アプリケーションのデータを再生する際に
は、ドライブ装置150において、ディスク153はC
AV回転しており、光ピックアップ201から出射され
る光ビームの走査により、固定長のパケットごとにディ
スク上のデータが読み出される。該パケット単位のデー
タは、データ処理系204においてEFM復調され、C
D−ROMフォーマットのブロック単位のデータ(2K
バイト単位)に出コードされた後、バッファメモリ20
6に転送され、さらにインターフェースの転送路200
を介して、ホストコンピュータ151に転送される。デ
ータ転送は、ホストコンピュータのCPU210及びド
ライブのシステム制御CPU205の連携によって制御
されている。バッファメモリ206と207は通常、D
RAM等の固体メモリ素子が用いられ、ドライブ装置本
体150とデータ処理用のホストコンピュータシステム
151とのそれぞれに設けられるが、データ転送の同期
を達成を達成するために必要である。しかし、ドライブ
本体とホストコンピュータシステム、特にCPU210
と205の機能が一体化されたようなシステムでは、バ
ッファメモリ206,207は必ずしも別個に設ける必
要はない。実際のディスク上でのデータ再生は高速倍速
再生であるから、音声データの再生時間の数分の一で再
生が完了するし、バッファメモリ206と207間の転
送時間もインターフェースとして通常のSCSIやAT
API方式を使用すれば、問題にならないほど極めて短
時間で終了する。 【0181】ここで、書き換え型コンパクトディスク1
53では、記録再生時の速度は例えばプログラム領域の
最内周での4倍速から、最外周における10倍速の範囲
にわたる。一方、音声データの再生は通常は1倍速で行
われるので注意が必要である。かかる再生速度のギャッ
プを解消するために、再生速度の変換が必要となる。し
かし、上記データ読み出し過程を経て、読み出されたデ
モ1のデータは、すべて一旦、作業用メモリ211に保
管された後は、CD−RWの回転速度や、データ転送路
200のデータレートとは無関係にサウンド(/ビデ
オ)コントローラ214に転送され、該作業用メモリ2
11内のデータを通常の音声のサンプリングレートに同
期させてDA変換器218においてデジタルアナログ変
換した後、スピーカ219において再生する。ここで、
CDフォーマットにおけるデジタル音声データとCD−
ROMフォーマットにおけるデジタルデータの論理構造
が異なるが、音声データもデジタル化した後、CD−R
OMフォーマットで記録しておくことが望ましい。そう
すれば、デモデータ及びユーザーの復唱データともに、
同じCD−ROMフォーマットに基づく固定長パケット
記録を適用できる。かかる音声等のデータ処理に関して
は、通常のパーソナルコンピュータに内蔵されている機
能で十分であり、詳細な説明は省略する。 【0182】CAV記録可能なCD−RWを用いたCA
V方式での記録再生の手順を一般化して示したフローチ
ャートが図31である。ステップS1からS3は、CD
−RW153をドライブに挿入するとCD−RWドライ
ブ150内においてシステム制御CPU205の制御の
もとに実行される。まず、ステップS1においてCD−
RWディスク153がドライブ150に装着される。こ
こで、通常、システム制御CPU205の制御のもと、
ディスクの回転開始、フォーカス及びトラッキングサー
ボ等が確立される。ディスクは所定のCAV回転速度に
保たれる。 【0183】ピックアップ201は、まず、ステップS
2において、リードイン領域111、PMA/PCA領
域110にアクセスし、ディスクの管理情報等が読み込
まれる。ディスクの管理情報は、記録時の最適記録パワ
ーや線速度に関する情報とともに、ディスクのタイプが
CD−RWであること、さらには、CAV記録可能なC
D−RWディスクであることが判定される。また、PC
A領域において試し書きを実施し、最適記録パワーを決
定する。引き続きステップS3により、リードイン領域
111及びプログラム112領域の先頭のほうのアドレ
ス特定のアドレスからファイル管理情報が取得され、プ
ログラム領域112のファイル情報が取得される。 【0184】自動実行可能なアプリケーションがアプリ
ケーションプログラム領域120にあれば、ただちに、
ステップS4において、ディスク153のアプリケーシ
ョンプログラムのメインルーティンのデータ125がホ
ストコンピュータ151に読み込まれ、以後のステップ
はホストコンピュータ151のCPU210により、ド
ライブ150とデータ転送路200を介してデータのや
りとりをしながら実行される。自動実行可能なプログラ
ムでなければ、ユーザーが、アプリケーションプログラ
ム領域120内のCD−RWの実行可能ファイルを選択
してからステップ4が開始される。 【0185】通常は、ステップS5にあるように、ま
ず、ユーザーインターフェースであるメニュー画面が起
動され、AV機器群219にあるディスプレイ等に表示
される。ユーザーにキーボード等220を使用して、以
後の実行プログラムの動作を選択させる。ここで、ステ
ップS6において、デモンストレーションの実行と、実
行すべきデモンストレーションの内容が選択され、デモ
ンストレーションの実行開始がユーザーにより指示され
る。最初に選択されたデモンストレーションをデモ1と
称することにする。 【0186】ステップS7において、デモンストレーシ
ョンの具体的内容126が記載されたディスク153の
デモデータ領域124の所定アドレスにアクセスし、デ
モ1のデータを取得する。通常は、このデータは一旦ホ
ストコンピュータ内のRAMメモリ212もしくはハー
ドディスク213等の作業用メモリ211に一時記憶さ
れ、該作業用メモリ211より読み出されて、ステップ
S8において、サウンド/ビデオコントローラ214、
音声画像処理回路215、DA変換回路218を介し
て、AV機器群219のいずれかにおいて音声や画像に
変換されてデモンストレーションとして実行される。 【0187】ここで、上記アプリケーションプログラム
を実行する過程は、例えば、言語学習のようなアプリケ
ーションを想定すれば、所定のセンテンスの発声デモン
ストレーションの再生を行い、該デモンストレーション
に従ってユーザーからの情報入力、すなわち、復唱を促
す。ステップS9においてキーボード等220を介して
ユーザーからの割り込み1によりユーザーからのデータ
入力モードに移行しない場合には、ルートR1により繰
り返しデモンストレーションが行われる。 【0188】ユーザーからのデータ入力に移行する旨の
割り込み1が実行された場合には、ステップS10にお
いて、ピックアップ201はディスク153のユーザー
データ領域121にアクセスし待機する。この際にCD
−RWディスク153は再生時と一定のCAV回転速度
に保たれたままであるので,ピックアップ201のアク
セスは極めて短時間に完了できる。 【0189】ステップS11においてユーザーからのデ
ータ入力がなされるが、これは、言語学習を例にとる
と、ユーザーがデモ1の内容を復唱することに相当す
る。該音声データ(復唱データ1)は、ホストコンピュ
ータ151においてAV機器群217にあるマイク、A
D変換器216、音声処理回路215、サウンドコント
ローラ214を介して、ホストコンピュータ151内の
作業用メモリ211に一時記憶される。ユーザーデータ
とデモ1のデータをそれぞれ、左右のチャネルに割り当
てて合成し、ステレオ録音としてもよい。デモ1の内容
とユーザーの復唱内容の比較が容易になる。 【0190】ステップS12において、CD−RWドラ
イブ150に作業メモリ211よりデータが転送され、
ディスク153のユーザーデータ領域121に該ユーザ
ーデータが記録される。必要に応じてステップS13に
おいて、ユーザーの入力データが即時再生される。ステ
ップS14のユーザー割り込み2において、ユーザーデ
ータの再入力のルートR2もしくはデモ1の繰り返し実
行まで戻るルートR3が選択できるが、その必要がなけ
れば、ステップ15において次のデモンストレーション
(デモ2)に移るか、デモンストレーションを終了する
かの選択がなされる。次のデモンストレーションに移行
するならば、ルートR4を経由して、ステップS6に復
帰し、デモ選択操作がなされる。 【0191】終了する場合には、ステップS16におい
て、ユーザーデータ領域121に新たに記録されたユー
ザーデータに基づき、ファイル管理情報が更新され、ス
テップS17において、デモンストレーションを終了
し、ルートR5によりメニュー画面に復帰する。このよ
うにして、ピックアップ201のアプリケーションプロ
グラム領域120とユーザーデータ領域121の間のア
クセスが、CAV回転速度を一定の保ったままなされる
ので、デモンストレーションデータの再生とそのユーザ
ーによる復唱データの記録が、瞬時のうちに切り替えら
れ、ユーザーを待たせることなく、スムーズなヒアリン
グと発声復唱による言語学習が可能となる。なお、デモ
ンストレーションは音声だけでなく、音楽の小節ごとの
再生とユーザーの復唱、あるいは、デモ動画の再生と、
ユーザーの追従のカメラによる動画記録といった内容で
もかまわないことはいうまでもない。 【0192】 【実施例】〔基本例〕トラックピッチ1.6μmで1倍
速(1.2m/s)換算で基準周波数22.05kHz
で蛇行する螺旋状の溝を設けた厚さ1.2mmのポリカ
ーボネート樹脂基板を射出成形によって形成した。溝幅
は0.52μm、深さは37nmとした。これらはいず
れも波長633nmのHe−Neレーザー光を用いたU
溝近似の光学回折法で求めた。溝蛇行(ウォブル)には
さらに、ATIPによるアドレス情報が±1kHzの周
波数変調により付与した。 【0193】つづいて、基板上に、下部保護層、記録
層、上部保護層、反射層、紫外線硬化樹脂層をこの順に
形成した。各層の成膜は上記基板上に、真空を解除する
ことなく、順にスパッタリング法によって積層した。た
だし、紫外線硬化樹脂層(厚さ約4μm)はスピンコー
ト方によって塗布した。成膜直後の記録層は非晶質であ
り、長軸約70〜90μm、短軸約1.3μmに集光し
た波長810〜830nmのレーザー光により線速3.
0から6.0m/sの範囲内で適当な線速度を選んで、
初期化パワー500〜700mWを照射して全面結晶化
させ初期(未記録)状態とした。 【0194】各層の膜厚は成膜レートを正確に測定した
後、スパッタ成膜時間によって制御した。記録層組成
は、蛍光X線法による各元素の蛍光強度を、別途化学分
析(原子吸光分析)によって求めた絶対組成によって校
正した値を用いた。記録層、保護層膜の密度は基板上に
数百nm程度に厚く成膜したときの重量変化から求め
た。膜厚は蛍光X線強度を触針計で測定した膜厚で校正
して用いた。 【0195】反射層の面積抵抗率は4探針法抵抗計{L
oresta MP、(商品名)三菱油化(現ダイアイ
ンスツルメント)社製}で測定した。抵抗測定は、絶縁
物であるガラスもしくはポリカーボネート樹脂基板上に
成膜した反射層で測定するか、あるいは上記4層(下部
保護層/記録層/上部保護層/反射層)成膜後、最上層
となる反射層で測定した。上部保護層が誘電体薄膜で絶
縁物であるため、面積抵抗率測定に影響はない。また、
実質的に無限大の面積とみなせる、直径120mmのデ
ィスク基板形状のまま、半径30〜40mmの位置にプ
ローブを接触させて測定している。 【0196】得られた抵抗値Rを元に以下の式から面積
抵抗率ρS 及び体積抵抗率ρV を計算した。 ρS =F・R (8) ρV =ρS・t (9) ここで、tは膜厚である。Fは測定する薄膜領域の形状
で決まる補正係数で通常4.3〜4.5の値をとる。こ
こでは4.4とした。記録再生評価はパルステック社製
DDU1000テスタ(波長約780nm)を用いた。
NA=0.55のDDU1000テスタをテスター1
(スポット形状は1/e2 強度で約1.25μmの円
形)、NA=0.5のDDU1000テスターをテスタ
ー2(スポット形状は1/e2 強度で約1.3μmの円
形)として、いずれかのテスターを用いた。 【0197】CDの標準線速度1.2m/sを1倍速と
し、1倍速から12倍速までのオーバーライト特性を評
価した。各線速度におけるデータの基準クロック周期
は、1倍速におけるデータの基準クロック周期231n
secに対して各線速度で反比例させたものとした。再
生は特に断わらない限り2倍速で行った。DDU100
0からの出力信号を5〜20kHzにカットオフのある
高周波通過フィルタを通した後、タイムインターバルア
ナライザー(横河電機社製)でジッタを測定した。変調
度m11(=I11/Itop )はオシロスコープ上でアイパ
ターン観察により読み取った。また、Rtop は別途、C
D基準ディスクCD5B(Philips社より販売)
で校正して求めた。 【0198】EFMランダムデータを記録した後、該記
録データの3Tマークジッタ及び3Tスペースジッタを
測定し、どちらかジッタの高いほうを3Tジッタとして
採用した。特に断わらない限り、消去パワーPeと記録
パワーPwの比Pe/Pwは0.5で一定とし、Pwを
9mWから20mW又は25mW程度まで1mW刻みで
変化させた。また、特に断らない限りバイアスパワーP
bは再生光パワーPrと同じで、0.8mWで一定とし
た。3T/11Tオーバーライト消去比の測定では、3
Tマークおよび3Tスペース(マーク間)からなる繰り
返しパターン(3Tパターン)を一回記録後、11Tマ
ークおよび11Tスペース(マーク間)からなる繰り返
しパターン(11Tパターン)をオーバーライトして3
Tマークのキャリアレベルの低下量(dB単位)を測定
し、消去比(erasability)とした。キャリ
アレベルの測定は、Advantest製のスペクトラ
ムアナライザー(TR4171)もしくは、HP製85
67Aを用い、テスター1もしくはテスター2の再生信
号出力を入力として用いた。オーバーライトは各線速で
行ったが、再生はすべてCD線速(1.2m/s)で行
った。スペクトラムアナライザーのResolutio
n band widthは30kHz、Video
band widthは100Hzとし、入力インピー
ダンスは50Ωとした。さらに、オーバーライト特性の
評価は特に断りのない限り、10回オーバーライト(未
記録状態に初回記録後、同一トラックに9回のオーバー
ライト)を行った後に評価した。なお、加速試験後の記
録信号の評価は、加速試験前に10回オーバーライト記
録した信号を、加速試験後に再生のみ行って評価した。 【0199】(実施例1)上記基本例において、下記の
ようにしてディスクを製造し記録を行なった。基板上
に、(ZnS)80(SiO220からなる下部保護層を
97nm、In 8 Ge5 Sb66Te21からなる記録層を
19nm、(ZnS)80(SiO220からなる上部保
護層を40nm、Al99.5Ta0.5 からなる反射層を2
50nm、紫外線硬化樹脂層を約4μmをこの順に形成
し、書換え型コンパクトディスクを作製した。このAl
99.5Ta0.5 反射層の体積抵抗率ρv は100nΩ・
m、面積抵抗率ρs は0.4Ω/□であった。初期化
は、長径約70μm、短径約1.3μmの楕円形スポッ
ト形状を有する波長約810nmのレーザーダイオード
光を線速約3〜4m/sで走査して行なった。照射パワ
ーは600〜700mWである。このディスクに、NA
=0.55のテスター1を用いて、1、2、4、6、8
及び10倍速でEFM変調信号のオーバーライトを行な
い、その特性を評価した。消去パワーPeと記録パワー
Pwの比Pe/Pwは0.5で一定としPwを9mWか
ら20mWまで1mW刻みで変化させ、それぞれの記録
パワーでオーバーライト特性を評価した。いずれも10
回オーバーライト後の値で評価した。記録パルス分割方
法は以下のとおりである。 【0200】一つの記録マークの時間的長さをnTとし
たとき(Tは基準クロック周期。nは3〜11までの整
数)、記録マーク間には、非晶質を結晶化しうる消去パ
ワーPeの記録光を照射し、時間的長さnTのマークに
は、時間的長さ(n−j)Tを、 α1 T、β1 T、α2 T、β2 T、・・・・、αm T、
βm T、 ただし、m=n−1の順に、Σi (αi +βi )=n−
j(jは0.0≦j≦2.0なる実数)となるよう分割
し、 【0201】αi T(1≦i≦m)なる時間内には記録
層を溶融させるにたるPw>Peなる記録パワーPwの
記録光を照射し、βi T(1≦i≦m)なる時間内には
0<Pb≦0.5PeなるバイアスパワーPbの記録光
を照射してオーバーライトを行うにあたり、線速1.2
m/sを基準速度(1倍速)としたとき、(1)4倍速
においては、α1 =0.75〜1.25、αi =0.2
5〜0.75(2≦i≦m)、αi +βi-1 =1(2≦
i≦m)とし、(2)4倍速より低線速においては、α
1 =0.05〜1.0、αi =0.05〜0.5(2≦
i≦m)、αi +βi-1 =1(2≦i≦m)とし、
(3)4倍速より高線速においては、α1 =0.5〜
2、αi =0.5〜1(2≦i≦m)、αi +βi-1
1(2≦i≦m)とした。 【0202】各速度での具体的なα1 、αi 、βm を表
−1に示す。特に、4〜10倍速では、現行のRW規格
(オレンジブック・パート3・バージョン2.0)ルス
分割方法に厳密に従った。オーバーライト特性の評価結
果を図10に示す。それぞれ(a)3Tマークジッタ、
(b)3Tスペースジッタ、(c)変調度m11、(d)
top 、(e)3Tマーク長、(f)3Tスペース長、
のPw依存性を表す。表−1に示すように最適記録パワ
ーは15〜16mW付近であり、オーバーライト特性も
このパワーにおける値で評価される。図10(c)、
(d)から、いずれの線速においても、変調度m11は6
0%〜80%(0.6〜0.8)、Rtop は15〜25
%の値が得られている。 【0203】図10(e)、(f)の図中の横線は2倍
速再生時の3Tマーク長=3Tスペース長=231×3
×1/2=346.5(nsec)を示す。マーク長、
スペース長については通常±10%程度のずれは許容さ
れるから、±30〜40nsec以内であればよいが、
図から、マーク長及びスペース長のずれはほとんどなく
許容範囲内であることが分かる。同様に、Pw=15〜
16mWにおいては、4T〜11Tのマーク長及びスペ
ース長においても、±10%程度の範囲内で所望のマー
ク長及びスペース長が得られた。図10(a)、(b)
の図中の横線は2倍速再生時の3Tジッタ規格上限値=
=35×1/2=17.5(nsec)を示す。いずれ
の線速においても17.5nsec以下の良好なジッタ
ー値が得られている。 【0204】以上まとめると、いずれの線速においても
良好な記録特性が得られており、なおかつ4〜10倍速
においてはCD−RW規格の記録パルス分割法によって
良好な記録特性が得られている。次に、2〜10倍速に
おけるオーバーライト耐久性の評価結果を図11に示
す。それぞれ、Pw/Pe=15mW/7.5mWで繰
返しオーバーライトを行ったときの、(a)3Tマーク
ジッタ、(b)3Tスペースジッタ、のオーバーライト
回数依存性を表す。いずれの線速においてもCD−RW
に要求される1000回というオーバーライト耐久性は
十分満たされている。さらに、表−1に、各線速におけ
る記録パルス分割方法、記録パワー、消去パワーと3T
/11Tオーバーライト消去比をまとめた。3T/11
Tオーバーライト消去比とは、3Tマークと3Tスペー
スからなる単一周期信号を記録後、11Tマークと11
Tスペースからなる単一周期信号をオーバーライトした
ときの3T信号の消去比である。線速は、1倍速を1.
2m/sとしてその何倍速であるかで表現した。 【0205】 【表1】 【0206】表−1に示すように、1倍速〜6倍速で3
T/11Tオーバーライト消去比29〜30dBが得ら
れており、8倍速という高線速においても、Pw=16
mW、Pe=8mWのときに28dBという十分な消去
比が得られている。また、10倍速においても27dB
という高い消去比が得られている。また、上記ディスク
を、記録領域最内周(半径22mm)で4倍速、記録領
域最外周(半径58mm)で10倍速となるようにCA
Vモードで回転させ、約5mmごとに半径位置をずらし
ながらディスク全面に、各半径位置に相当する基準クロ
ックで記録を行った。このディスクを80℃/85%R
H(相対湿度)の加速試験に投入したところ、500時
間経過しても記録済み信号の劣化はほとんど見られなか
った。ジッタは2倍速再生で17.5ns以下であり、
変調度m11もほとんど低下しておらず、初期値の90%
以上を維持していた。 【0207】(実施例2)前記基本例において、下記の
ようにディスクを製造し、記録を行なった。記録層をI
8 Ge5 (Sbx Te1-x 87とし、xとして74.
4、75.4及び76.3の3種類の組成とした以外は
実施例1と同様にディスクを作製した。NA=0.55
のテスター1を用いてオーバーライト特性を評価した。
2、4、6及び8倍速において、Pe/Pw=0.5で
一定としてPwを9〜20mWの範囲で1mWずつ変化
させて3Tマーク間ジッタを測定した。記録パルス分割
方法は実施例1と同様の分割方法において、 m=n−1、 α1 =1、αi =0.5(2≦i≦m)、 βm =0.5、αi +βi-1 =1.0(2≦i≦m)と
した。 【0208】即ち、図4に示すCD−RW規格に準拠し
たパルス分割方法である。なお、xが何れの場合も、8
倍速における3T/11Tオーバーライト消去比は、P
w=15〜18mWで30dB以上あった。オーバーラ
イト特性の評価結果を図12に示す。それぞれ(a)x
=76.3,(b)x=75.4,(c)x=74.4
の場合の、2倍速再生時のジッタ値の線速度及び記録パ
ワー依存性を表す。 【0209】図12の格子点上で実際に測定を行い、各
測定点におけるジッタ値を等高線図として表記した(マ
イクロソフト社製ソフトウェアEXCEL97使用)。
使用したソフトウェアのデータ補間機能により、等高線
に若干のくびれや歪みが見られるが、全体像を把握する
のには支障がない程度である。図12の(a)〜(c)
を見比べると、xが大きいほど低ジッタ領域が高線速よ
りに存在するが、いずれの場合も、ジッタが17nse
c(1倍速換算で34nsec)以下の領域が4〜8倍
速(4.8〜9.6m/s)をカバーできている。デビ
エーションも規格範囲内である。図12(b)では、ぎ
りぎり2倍速から8倍速までCD互換品質の信号記録が
可能であった。図12(c)のディスクを市販の4倍速
ドライブ(ヤマハ製CRW4416ソニー製CRX12
0E及びリコー製7040AD)により記録したとこ
ろ、いずれも良好な記録が可能であり、記録済み信号の
ブロックエラーレートも一桁台で、少なくとも4倍速に
おける互換性が確認できた。また、80℃/85%RH
(相対湿度)の加速試験を行なったところ、500時間
経過後も記録済み信号の劣化はほとんど見られなかっ
た。変調度は初期値の90%以上を維持していた。 【0210】(実施例3)前記基本例において、下記の
ようにディスクを製造し、記録を行なった。記録層をG
5 Sb73Te22(Sb/Te≒3.32)とした以外
は実施例1と同様にディスクを作製した。8倍速におけ
る、3T/11Tオーバーライト消去比はPw/Pe=
17mW/8.5mWにおいて31dBであった。実施
例2と同様にオーバーライト特性を評価した。図13
に、図12と同様のジッタの等高線図を示した。Sb/
Te比が実施例1及び2より高いため低ジッタ領域が高
線速側に片寄っているが、4〜8倍速ではCD−RW規
格に準拠したパルス分割方法で良好なオーバーライト特
性が実現できた。 【0211】(比較例1)記録層をGe5 Sb68Te27
(Sb/Te≒2.52<2.57)とした以外は実施
例1と同様にディスクを作製した。実施例1と同様にテ
スター1で評価を行ったところ、4倍速でも消去比が不
足気味であり、8倍速では全くオーバーライト不可能で
あった。8倍速における3T/11Tオーバーライト消
去比は20dB未満であった。なお、パルス分割方法を
変化させても、1倍速再生ジッタが35ns以下とはな
らなかった。 【0212】(比較例2)記録層をGe5 Sb77Te18
(Sb/Te≒4.28>4.0)とした以外は実施例
1と同様にディスクを作製した。実施例1と同様にテス
ター1で評価を行ったところ、8倍速における3T/1
1Tオーバーライト消去比はPw/Pe=17mW/
8.5mWで32dBであった。しかし、4倍速でCD
−RW準拠のパルス分割方法で評価したところ、非晶質
マークの再結晶化が著しく、2倍速再生ジッタ17.5
nsec以下(1倍速再生ジッタ35nsec以下)と
なるような特性は得られなかった。また、結晶粒による
高ノイズのために、8倍速での記録では、2倍速再生で
17.5nsec以下のジッターは得られない。 【0213】(比較例3)記録層をGe12Sb67Te21
(Sb/Te≒3.2)とした以外は実施例1と同様に
ディスクを作製した。実施例2と同様の評価を行ったと
ころ、8倍速における3T/11Tオーバーライト消去
比はPw/Pe=17mW/8.5mWで30dBであ
った。しかし全体にジッタが高く、8倍速では、2倍速
再生ジッタ17.5nsec以下(1倍速再生ジッタ3
5nsec以下)となるような特性は得られなかった。 【0214】(実施例4〜5、比較例4〜5)記録層を
InGeSbTe系、又はCD−RW用記録層として従
来公知のInAgSbTe系とした以外は実施例1と同
様にディスクを作製した。具体的な各記録層の組成を表
−2に示す。 【0215】 【表2】 【0216】比較例4、比較例5の記録層は、CD−R
W規格(オレンジブック・パート3、バージョン2.0
規格)に準拠した1〜4倍速互換性を有する現行CD−
RW規格を満足する記録層である(2〜4倍速は実施例
2と同様のパルス分割方法を適用する)。InGeSb
Te系、InAgSbTe系とも線速依存性はSb/T
e比でほぼ一義的に決まる。そして比較例4、比較例5
の記録層にSb量を相対的に増やしてSb/Te=2.
95としたのが実施例4及び実施例5である。 【0217】実施例4及び実施例5の媒体は4〜8倍速
において実施例2と同様のパルス分割方法で良好なオー
バーライト特性が可能であった。実施例4及び実施例5
の媒体の8倍速における3T/11Tオーバーライト消
去比はともに28dBであった。いずれもPe/Pw=
0.5の場合である。これらのディスクを80℃/85
%RH環境下で100時間の加速試験に投入した前後の
特性を表−3、表−4にまとめた。表−3は4倍速記録
後、表−4は8倍速記録後(いずれも10回オーバーラ
イト)に加速試験に投入し、100時間後に該記録済み
信号の特性を再評価したものである。 【0218】 【表3】 【0219】 【表4】 【0220】表−3、表−4からわかるように、実施例
4のディスクは既存の1〜4倍速互換媒体(比較例4、
比較例5)をより高線速度対応とするためにSb/Te
比を高くしても、初期特性のみならず経時安定性にも優
れた媒体を提供できている。一方、同じくSb/Te比
を高くした実施例5のディスクでは、4倍速でも8倍速
でも100時間加速試験後の変調度低下とジッタ増加が
著しかった。非晶質マークが消えて信号振幅が低下して
おり、非晶質マークの経時安定性の点で実施例4のディ
スクの方が優れる。なお、実施例4の媒体に対して、引
き続き500時間迄加速試験を行なったが、初期に記録
した信号はほとんど劣化しておらず、変調度m11も初期
値の90%以上を維持していた。 【0221】このことから、1〜4倍速互換媒体のSb
/Te比を単に高くすれば高線速用媒体となるわけでは
ないことが分かる。本発明者らがこれら記録層材料を8
倍速対応CD−RWへ適用し比較検討したことで初め
て、GeSbTe系記録層の特異的な効果が明らかとな
ったのである。 【0222】(実施例6)前記基本例において、下記の
ようにディスクを製造し、記録を行なった。基板上に
(ZnS)80(SiO220からなる下部保護層を10
5nm、In 8 Ge5 Sb66Te21からなる記録層を1
9nm、(ZnS)80(SiO220からなる上部保護
層を45nmとしてこの順に設け、その上に反射層をA
99.5Ta0.5 (10nm)/Ag(200nm)とい
う順で2層とした以外は実施例1と同様にディスクを作
製した。この際AlTa反射層まで成膜した後、一旦大
気開放して数時間放置して、表面を自然酸化させて界面
酸化層を設けてからAg層をスパッタした。界面の酸化
層はAlとAgの相互拡散を防ぐためである。最後にこ
の2層反射膜上に紫外線硬化樹脂層約4μmを設けた。
2層構成全体としての面積抵抗率は0.23Ω/□であ
った。 【0223】テスター1を用い実施例2と同様に評価を
行った結果を図14に示す。実施例2と同様の良好なオ
ーバーライト特性が得られた。8倍速ではPw/Pe=
16mW/8mWで3T/11Tオーバーライト消去比
は31dBであった。また、Rtop =17%,m11
0.71であった。4倍速ではPw/Pe=15mW/
7.5mWでRtop =17%,m11=0.65であっ
た。 【0224】(実施例7)前記基本例において、下記の
ようにディスクを製造し、記録を行なった。同様の基板
上に、(ZnS)80(SiO220からなる下部保護層
を100nm、In5 Ge5 Sb67Te23からなる記録
層を21nm、(ZnS)80(SiO220からなる上
部保護層を40nm、Al99.5Ta0.5 からなる反射層
を250nm、紫外線硬化樹脂層を約4μmとしてこの
順に設けた。このAl99.5Ta0.5 反射層の体積抵抗率
ρv は100nΩ・m、面積抵抗率ρs は0.4Ω/□
であった。NA=0.55のテスター1を用い、1、
2、4、6、8及び10倍速で、EFM変調信号のオー
バーライトを試みた。記録パルスストラテジーは実施例
2と同様にm=n−1とし、Tは線速に反比例して変化
させて記録密度は一定とし、α1 T及びαi T(2≦i
≦m)、αi+βi-1(2≦i≦m)はそれぞれ線速によ
らず一定となるようにし、βm Tのみを線速に応じて可
変とする方式を用いた。すなわち、α1 T=23.1
n、αi T=13.9ns(2≦i≦m)とした。オー
バーライト特性は10回オーバーライト後の3Tジッ
タ、マーク長、変調度を計測して評価した。各線速にお
ける記録パルスストラテジーを表−5にまとめた。線速
は1倍速を1.2m/sとして、その何倍速であるかで
表現した。1倍速1.2m/sにおけるT=231ns
ecである。 【0225】 【表5】 【0226】なお、いずれの場合も上記Pwにおいて、
反射率Rtop17%、変調度m1165〜70%、アシン
メトリー±10%以内が得られた。また、10倍速にお
いて、αi(i=2〜m)を0.5とした場合には、3
Tジッタは25nsecであり、αi(i=2〜m)が
0.6の場合とほとんど同じオーバーライト特性が得ら
れた。表−5より、記録パルス幅そのものは固定して、
線速に応じてクロック周期を変化させ、かつ、最後端の
オフパルス区間βmを低線速ほど大きくなるようなパル
ス分割方法を用いることによって、比較的単純な記録パ
ルス発生回路で広い線速範囲に対応できることが分か
る。 【0227】(実施例8)前記基本例において、下記の
ようにディスクを製造し、記録を行なった。基板上に、
(ZnS)80(SiO220からなる下部保護層を97
nm、In 8 Ge5 Sb66Te21からなる記録層を19
nm、(ZnS)85(SiO215からなる上部保護層
を40nm、Al99.5Ta0.5 からなる反射層を250
nm、紫外線硬化樹脂層を約4μmとしてこの順に設け
た。このAl99.5Ta0.5 反射層の体積抵抗率ρv は1
00nΩ・m、面積抵抗率ρs は0.4Ω/□であっ
た。NA=0.55のテスター1及びNA=0.5のテ
スター2を用いてオーバーライト特性を評価した。2、
4、6、8及び10倍速において、Pw=9〜20mW
まで1mWおきに、Pe/Pw=0.5で一定として、
Pwを変化させて3Tマーク間ジッタを測定した。いず
れの線速でも3T/11Tオーバーライト消去比はPw
=15−20mWで25dB以上であった。パルススト
ラテジーは図1のストラテジーに固定しており、データ
の基準クロック周期のみ線速に反比例して変化させて3
Tジッタを測定した。結果を図13と同様の等高線図に
して図17に示す。図17(a)はNA=0.5の場
合、(b)はNA=0.55の場合である。いずれの場
合も4倍速から10倍速にかけて、ジッタ17.5ns
未満の領域が得られている。また、NAが大きい場合の
方が、より広い線速マージンが得られている。 【0228】(実施例9)上記基本例において、下記の
ようにディスクを製造し、記録を行なった。同様の基板
上に、(ZnS)80(SiO)20からなる下部保護層を
100nm、Ga5 Ge5 Sb68Te22からなる記録層
を20nm、(ZnS)80(SiO)20からなる上部保
護層を40nm、Al99.5Ta0.5 からなる反射層を2
50nm、紫外線硬化樹脂層を約4μmとしてこの順に
設けて書換え型コンパクトディスクを作製した。このA
99.5Ta0.5 反射層の体積抵抗率ρvは100nΩ・
m、面積抵抗率ρsは0.4Ω/□であった。NA=
0.55のテスター1を用いてオーバーライト消去比を
測定したところ、8倍速及び10倍速において、3T/
11Tのオーバーライト消去比25dB以上が得られ
た。さらに、実施例8と同様のジッタの線速及び記録パ
ワー依存性を測定を行った結果を図18に示す。用いた
記録パスストラテジーはm=n−1、α1 =1、α i
0.5、βm =0.5、αi +βi-1 =1(2≦i≦m
なるiに対して一定)、Pe/Pw=0.5で一定であ
る。 【0229】4倍速(4.8m/s)から10倍速(1
2m/s)において、良好なジッタが得られた。ジッタ
が最小となる記録パワーで変調度0.6〜0.8、R
top 約17%、アシンメトリー±10%以内が得られ
た。該記録済み媒体を80℃/85%RHの加速試験環
境に500時間放置後、再生を行ったところ、上記記録
信号の変調度、Rtop 、ジッタ、アシンメトリーはほと
んど変化していなかった。特に変調度は加速試験前の値
の90%以上の値を確保していた。 【0230】(実施例10)上記基本例において、下記
のようにディスクを製造し、記録を行なった。同様の基
板上に(ZnS)80(SiO2 20からなる下部保護層
を95nm、In3 Ge5 Sb71Te21からなる記録層
を16nm、(ZnS)80(SiO220からなる上部
保護層を38nm、Al合金(Mg1.01at.%、
Si0.85at%、Mn0.33at%、Ti0.0
02at%、その他の不可避的不純物を最大0.1at
%含む。重量比としては、Mg0.91重量%、Si
0.88重量%、Mn0.67重量%、Ti0.014
重量%)からなる反射層を250nm、紫外線硬化樹脂
層を約4μmとしてこの順に設けて書換え型コンパクト
ディスクを作製した。このAl合金反射層の体積抵抗率
ρvは90nΩ・m、面積抵抗率ρsは0.36Ω/□
であった。NA=0.55のテスター1を用いてオーバ
ーライト消去比を測定したところ、8、10倍速及び1
2倍速において、3T/11Tのオーバーライト消去比
25dB以上が得られた。さらに、実施例8と同様のジ
ッタの線速及び記録パワー依存性を測定を行った結果を
図19に示す。用いた記録パルスストラテジーはm=n
−1、α1 =1、αi =0.5、βm =0.5、αi
βi-1 =1(2≦i≦mなるiに対して一定)、Pe/
Pw=0.5で一定である。6倍速(4.8m/s)か
ら12倍速(14.4m/s)において、良好なジッタ
が得られた。ジッタが最小となる記録パワーで変調度
0.6〜0.8、Rto p 約17%、アシンメトリー±1
0%以内が得られた。 【0231】(実施例11)上記基本例において、下記
のようにディスクを製造し、記録を行なった。同様の基
板上に(ZnS)80(SiO2 20からなる下部保護層
を97nm、In3 Ge5 Sb72Te20からなる記録層
を15nm、(ZnS)80(SiO220からなる上部
保護層を38nm、Al99.5Ta0.5 からなる反射層を
250nm、紫外線硬化樹脂層を約4μmとしてこの順
に設け、書換え型コンパクトディスクを作製した。この
Al99.5Ta0.5 反射層の体積抵抗率ρvは100nΩ
・m、面積抵抗率ρsは0.4Ω/□であった。長軸約
100μm(半径方向)、短軸約1.3μm(円周方
向)に集束した波長約830nmのレーザー光を記録層
に照射し、初期結晶化を行った。該集束光ビームがディ
スクに対して2.5m/sで走査されるようディスクを
回転させ、かつ、ディスク一回転につき約50μmを半
径方向に移動させながら、700〜900mWのパワー
を連続的に照射した。同一個所に2回繰り返し照射した
ことになる。該初期結晶化操作により、未記録状態の反
射率は、後述のオーバーライト記録時の消去状態の反射
率とほとんど同じになった。本実施例の以下の評価は、
NA=0.5の光学系を有するテスター2を用いて評価
を行った。 【0232】クロック周期はCD線速の1倍速で231
ナノ秒とし、線速に反比例して変化させた。再生条件は
1.2m/sで一定として、ジッタ等の直接比較ができ
るようにした。まず、未記録領域に3Tパターンを9回
オーバーライト記録後、10回目に11Tパターンをオ
ーバーライトして消去比を測定した。Pe/Pw=0.
5で一定として、Pwを変化させてオーバーライト消去
比のPw依存性を評価した。結果を図20に示す。再生
は1倍速にて行なった。図20に示すように、特に12
倍速までオーバーライト消去比25dB以上を確保した
ことで、12倍速までの使用も可能となるが、10倍速
までの使用に対して、特に10倍速における消去パワー
マージンが広がった。 【0233】図20から、Pwとして14−18mW、
Pe/Pw=0.5とすればオーバーライト消去比25
dB以上が得られることがわかったので、次に、Pw=
15mW、Pe/Pw=0.5を暫定的な記録及び消去
パワーとして、記録パルスストラテジーの検討を以下の
ように行った。各線速における、最適な記録パルス分割
方法をm=n−1、α1 =1、αi +βi-1 =1(2≦
i≦m)で固定し、αi (2≦i≦mで一定)、βm
可変として、3Tマークもしくはマーク間(スペース)
ジッタの悪いほうの値(3Tジッタ)がほぼ最小とな
り、変調度が0.6以上、アシンメトリーが±10%以
内に入るような分割方法を見い出した。図21に4倍
速、10倍速における3Tジッタのαi 及びβm 依存性
の等高線図を示す。測定点はやはり格子点上の条件であ
り、マイクロソフト社製エクセルにより、自動的に補間
を行っている。また、測定はEFMランダムパターンを
10回オーバーライト後に行っており、消去性能も加味
した結果である。再生は1倍速で行なった。10倍速に
おいては、αi =0.5近傍、βm =0.3〜0.6で
ジッタの最小値が得られている。また、4倍速において
は、αi =0.3〜0.35、βm=0.5〜0.6で
ジッタの最小値が得られている。 【0234】次に、ここまでPe/Pw=0.5とした
のに代えて、記録パルスストラテジーを4倍速ではα1
=1、αi =0.3、βm =0.5、10倍速ではα1
=1、αi =0.5、βm =0.3で一定とし、Pe/
Pw及びPwを変化させた場合の、3Tジッタの変化を
調べた。図22に結果を示す。Pe/Pw比は4倍速、
10倍速ともに0.5より小さくするのがよく、Pe/
Pw=0.4〜0.5の範囲が広いPwマージンが得ら
れて好ましいことがわかる。なお、この図には示されて
いないが、Pe/Pwが0.6より大きいと全体にジッ
タが高く、特に高Pw側での特性が急激に劣化する。4
倍速及び10倍速ともに広く記録パワーマージンが得ら
れるように、Pe/Pw=0.43を選択した。 【0235】また、記録パワーはいずれの倍速でも17
mWを選択した。この条件で、4、8及び10倍速にお
けるαi 、βm 依存性を再度測定した結果を図23に示
す。再生は1倍速にて行なった。4及び10倍速におけ
る最適なαi 、βm の範囲はほとんど図21と同じで、
特に10倍速においてジッタが低下し、αi の変化に対
してより広いマージンが得られた。8倍速では、αi
0.4〜0.5、βm =0.2〜0.5でジッタの最小
値が得られている。6倍速でも同様の結果が得られてお
り、この実施例での媒体は、α1 =1で一定したとき
に、各倍速で、αi 、βm を0.5を基準として±0.
25の範囲で最適化して、各倍速で最適な記録パルスス
トラテジーを得られることがわかった。また、α1 一定
として、低線速ほどαi を小さくするようなパルススト
ラテジーを用いることが好ましく、βm は0.3程度で
一定とするか、低線速ほど大きくすることが好ましいこ
とがわかる。 【0236】そこで、4倍速でα1 =1、αi =0.2
5、βm =0.5、8倍速でα1 =1、αi =0.4
(2≦i≦m)、βm =0.3、10倍速でα1 =1、
αi =0.5、βm =0.3とし、すべての線速でPw
=17mW、Pe/Pw=0.43としてEFMランダ
ムパターンのオーバーライト特性を評価したところ、い
ずれの倍速でも3Tジッタ35ナノ秒以下、Rtop =1
6〜18%、変調度m11=0.7程度、アシンメトリー
0〜−10%の値が得られた。この信号品質は、既存の
CD−RW対応の再生システムで低エラーレートで再生
可能なレベルであった。このような記録パルスストラテ
ジーは、現行の規格をもとに設計された記録パルス発生
回路で容易に実現できることが確認されており、既存の
技術をもとに、CLV方式で4、6、8及び10倍速記
録を行うのに適している。 【0237】一方、10倍速でα1 =1、すなわち、α
1 T=23.1nsとし、この時間長が各倍速で一定と
なるようにα1 を変化させる場合、4倍速ではα1
0.4、8倍速ではα1 =0.8となる。このように、
10倍速でα1 =1、8倍速でα1 =0.8、4倍速で
α1 =0.4として、3Tジッタのαi (2≦i≦m)
及びβm 依存性を示したのが図24である。再生は1倍
速にて行なった。ここで、4倍速、8倍速、10倍速と
もに、Pe/Pw=0.43、Pw=17mWとした。
なお、10倍速については、図21の場合と同じ条件で
ある。すなわち、10倍速では、αi =0.45〜0.
55、βm =0.3程度でジッタ最小となるのは図21
と同じである。ここで、8倍速ではαi =0.35〜
0.45、β m =0.3〜0.5、4倍速ではαi
0.2以上(測定は0.3まで)、βm=約0.3以上
(測定は0.65まで)ジッタの最小値が得られた。 【0238】4倍速、8倍速、10倍速において、α1
T=23.1ナノ秒、αi T=11.6ナノ秒(2≦i
≦m)で一定としたまま、βm =0.3で一定とする
か、4倍速でβm =0.5、8倍速でβm =0.35、
10倍速でβm =0.3のように低線速ほどβm を大き
くすれば、4〜10倍速の範囲で良好なオーバーライト
が可能となる。すなわち、本実施例での媒体は、従来記
録パルスストラテジーを基本としたCLV方式及び、本
発明で新規に提案したCAV方式での記録パルスストラ
テジーのいずれにも対応できる幅広い応用が可能であ
る。以下では、図24の結果をもとに、α1 T=23.
1ns、αi T=11.6nsで一定とするCAV方式
に適した記録パルスストラテジーに注目する。さらに、
半径23mmの位置がちょうど4倍速となるように、デ
ィスクを約2000rpmでCAVモードで回転させ
た。記録領域最外周は半径約58mmで、半径58mm
における線速は約10倍速である。 【0239】各半径における線速度およびデータのクロ
ック周期を表−6のように変化させて、CAVモードで
のCD互換信号の記録を行った。m=n−1、Pw=1
7mW、Pe/Pw=0.43、α1 T=23.1ナノ
秒、αi T=11.6ナノ秒(2≦i≦mなるすべての
iにおいて一定)は、すべての半径において一定とし
た。βm のみを線速に応じて変化させた。すなわち、最
外周部で10倍速となるときに、0.3とし、最内周部
で4倍速となるときに、0.5とし、中間の半径(線
速)では、この中間の値を直線的に補間して用いた。各
半径で用いた記録パルスストラテジーをデータのクロッ
ク周期Tに対する割合で示した値、すなわち、α1 、α
i 、βm も同様に表−6に示した。さらに、同表に記録
済みのEFMランダム信号の1倍速再生における3Tス
ペースジッタ、変調度、アシンメトリーを示した。反射
率Rtop はいずれの場合も18%程度で一定であった。
各マークのマーク長及びマーク間長のデビエーションも
±40ナノ秒未満で良好であった。この他のプッシュプ
ル信号や、ウォブル信号は基板の溝形状で決まってお
り、やはり既存のCD−RWと同等の値が得られた。 【0240】 【表6】【0241】表−6からわかるように、極めて簡単な記
録パルスストラテジーで、広い線速範囲をカバーできて
おり、最内周を約4倍速とするCAV方式での記録が実
現できることがわかる。これにより、半径の異なるアド
レスにアクセスした場合に、回転数を変化させることな
く、また、記録パルスストラテジーでは、クロック周期
とβm のみ調整するだけで、記録パワー等は一定にした
まま、記録を行うことができ、アクセス性能が大幅に改
善できる。なお、βm =0.3で一定としても、4〜6
倍速でのジッタが高々2〜3ナノ秒悪化するのみであ
り、βm 一定でもCAV方式での記録は可能である。本
実施例の媒体に、4倍速及び10倍速で上記CAVに適
した記録方式で、EFMランダムパターンを記録後、8
0℃/85%RH(相対湿度)の環境下に500時間放
置後、再度記録済み信号の測定を行ったところ、ジッ
タ、デビエーション、Rtop 及び変調度はほとんど変化
していなかった。変調度は初期の90%以上の値を十分
維持していた。ジッタはほとんど全く変化していなかっ
た。 【0242】さらに、4倍速及び10倍速において、テ
スター2を用い、それぞれの線速で表−5に示された記
録パルスストラテジーを用い、Pw=18mW、Pe/
Pw=0.5、Pb=0.8mWとして、繰り返しオー
バーライトを行ったところ、1000回後にも、1倍速
再生時の3Tスペースジッタは35ナノ秒未満であり、
良好な繰り返しオーバーライト耐久性を示した。 【0243】上記と同じ組成、層構成で同等のオーバー
ライト特性を有するディスクを数枚用意し、それぞれ異
なる初期化条件での検討を行った。長軸約100μm
(半径方向)、短軸約1.3μm(円周方向)に集束し
た波長約830nmのレーザー光を記録層に基板側から
照射し、初期結晶化を行う際の、ディスクに対する該集
束光ビームの走査速度を2、2.5、3、7、10m/
sと変化させて、それぞれのディスクに初期化を行っ
た。ディスク一回転で約50μmずつ半径方向にビーム
を移動させた。初期化レーザーパワーは500〜150
0mWの範囲で、それぞれの走査速度において、溶融再
結晶化が行われ、前記式(F1)における値が10%以
下となるように選んだ。ただし、走査速度10m/sで
初期化したディスクでは、初期化部分の反射率R2が大
きく低下し、記録層が一部溶融後非晶質化していると考
えられた。 【0244】その他のディスクで表−6の半径56.3
mmにおける10倍速記録条件で、テスター2でEFM
ランダムパターンの初回記録、1回オーバーライト、1
0回オーバーライトを行った。2〜7m/sの範囲のい
ずれの走査速度でも、初回記録、及び10回オーバーラ
イト後の3Tスペースジッタは、それぞれ、18〜22
nsec、20−25nsecで、初期化ビームの走査
速度依存性はほとんどなかった。 【0245】しかし、1回目オーバーライト記録後の3
Tスペースジッタは、2m/sで45nsec、2.5
m/sで33nsec、3m/sで28nsec、7m
/sで23nsecとなった。1回目オーバーライト後
のジッタ上昇は、初期化状態と消去状態の結晶形、結晶
サイズ、あるいは結晶の配向方位の差によるものと考え
られ、10回オーバーライト後は、ほとんどすべて消去
状態となるため、ジッタが低下すると考えられた。この
観点から、初期化条件は概ね2.5〜7m/sの範囲に
あることが望ましいことがわかった。 【0246】(実施例12)実施例11の媒体に、α1
T=23.1ナノ秒、α1T=11.6ナノ秒(2≦i
≦m−1)を表−6の場合と同じに保ったまま、1倍速
(1.2m/s、T=231ナノ秒)、2倍速(2.4
m/s、T=116ナノ秒)におけるオーバーライトを
試みた。Pw=17mW、Pe=0.43はいずれの場
合も表−6と同じとした。さらに、α1=1を固定して
α1及びβmを各線速度で最適化した場合も検討した。こ
の場合は、記録半径位置は約40mmでディスクの回転
数を調整して、該半径位置において1倍速及び2倍速と
なるように調整した。表−7に表−6と同様に1倍速で
再生した場合の3Tスペースジッタ、βm、変調度、ア
シンメトリー値をまとめた。いずれの方式でもβmを各
線速度で調整すれば、良好なオーバーライトが可能であ
った。 【0247】 【表7】 【0248】さらに、同じ実施例11の媒体に、12倍
速(14.4m/s、T=19.3ナノ秒)でテスター
2を用いて、オーバーライト記録を行った。m=n−
1、α 1=0.5、βm=0.3、αi+βi-1=1(2≦
i≦m)、Pw=18mW、Pe/Pw=0.4という
記録パルスストラテジーを用いて10回オーバーライト
を行ったのち1倍速にて再生を行った。3Tスペースジ
ッタ29.3ナノ秒、11Tスペースジッタ31.8ナ
ノ秒、変調度0.61、アシンメトリー−0.093で
良好なオーバーライトが可能であった。 【0249】(比較例6)上記基本例において、下記の
ようにディスクを製造し、記録を行なった。基板上に、
(ZnS)80(SiO220からなる下部保護層を97
nm、In5Ge5Sb70Te20からなる記録層を20n
m、(ZnS)80(SiO220からなる上部保護層を
40nm、Al97.5Ta2.5からなる反射層250n
m、紫外線硬化樹脂層約4μmとして、この順に設けて
書き換え型コンパクトディスクを作製した。反射層の体
積抵抗率は270nΩ・m、面積抵抗率は1.1Ω/□
であった。テスター1を用い、実施例2と同様にしてオ
ーバーライト特性の評価を行なった。結果を図33に示
す。図33より、上記のコンパクトディスクにおいて
は、ジッターが17nsec以下の領域が極めて狭く、
4倍速から8倍速までの広い領域をカバーできていない
ことが分かる。 【0250】 【発明の効果】本発明によれば、少なくとも4倍速にお
いて従来のCD−RW規格と互換性を維持しつつ、8倍
速以上の高速記録が可能となる。ひいては、CD−RW
の記録速度及び転送レートを高めることができ、音楽・
映像などの大量データ記録やコンピュータの外部記憶装
置用としてCD−RWの用途を大きく広げることができ
る。また、本発明によれば、従来CLVモードでのみ記
録が行われてきたCD−RWをCAVモードで記録可能
とすることができ、ドライブの消費電力を大幅に低減す
るとともにCD−RW媒体のアクセス、シーク速度が大
きく改善される。さらに、ランダムパケット記録が効率
的に行えるためコンピュータの外部記憶装置用媒体とし
ての性能が大幅に増す。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [0001] [0001] The present invention relates to a compact disc.
Rewritable phase change media compatible with the disk and its recording method
And a recording / reproducing apparatus. In particular, high speed of 4x speed or higher
Improving overwrite performance at high speed. [0002] 2. Description of the Related Art Generally, compact discs (CDs)
Generated by interference of light reflected from the bottom and mirror surface of the concave pit
Recording and tracking of binary signals using the change in reflectivity
Signal is being detected. In recent years, compatibility with CD
One medium is a phase-change rewritable compact disc.
(CD-RW, CD-Rewritable) used
("CD-ROM professionala
l, USA, September 1996, pp. 29-44.
Proceedings of the Symposium on Optical Recording for Phase Change, 19
1995, pp. 41-45). A phase-change type CD-RW has an amorphous state and a crystalline state.
And phase difference changes caused by the refractive index difference of the state
To detect the recording information signal. Normal phase change medium
The body has a lower protective layer, a phase-change recording layer, and an upper protective layer on the substrate.
Layer and a reflective layer.
Use to control reflectivity difference and phase difference for compatibility with CD
You can have. It is recorded on CD-RW
Refers to overwrite recording, in which recording and erasing are performed simultaneously.
U. As a result, even a high reflectance of 70% or more is included.
Although the compatibility is difficult, the reflectance is 15 to 25%.
Within the range where the recording signal and groove signal are compatible.
Amplification system to cover low reflectivity
If added to the playback system, playback is possible with the current CD drive.
You. [0004] However, CD-RWs
One of the problems when using it is recording speed and transfer rate
There is a delay. The reference speed (hereinafter, 1) for recording and reproducing CDs
Double speed) is a linear velocity of 1.2 to 1.4 m / s.
However, CD-ROMs already have a high speed
And it is used at a low speed of 1x
Is limited to the reproduction of music and images. Generally, 16x speed
Until playback, the original CD constant linear velocity mode (CLV, Co
nstant Linear Velocity)
However, 24 to 40 times speed reproduction is performed in a constant rotation speed mode (CA
V, Constant Angular Veloci
ty), the transfer rate of outer peripheral data,
Access and seek times are significantly faster. [0005] In the case of CD-RW, the speed of recording has been increased.
But stays at 1 to 4 times speed in CLV mode
You. Normally, when a CD-RW is recorded on the entire surface at 1 × speed, it is 74
Minutes (or 63 minutes), and even at 4x speed
It takes almost 0 minutes. However, 10 minutes at 8x speed
Recording can be performed within a long time, and it can record a large amount of data such as music and video.
The use of the CD-RW can be greatly expanded. Also,
At present, external storage devices in computers have high transfer rates.
Magneto-optical recording media (MO) are mainly used
However, by increasing the transfer rate of CD-RW,
It is thought that the use will spread to the use. For this reason, a phase change medium capable of recording at higher speeds
Body and recording methods were required. However, higher linear speeds
CD-RW that can be recorded on a PC has not yet been realized. 1 to
Compatible with CD-RW recording system at 4x speed
The lower is 1x or 2x speed, and the upper is 8x or 10x.
Can be overwritten over a wide linear speed range up to speed
The realization of the medium was technically difficult. The reason is the medium
The recording method was both. The first reason is the amorphous mark
Short-time erasure by high-speed crystallization of amorphous
The problem is that it is difficult to balance time stability.
You. For example, a recording layer of a CD-RW capable of recording at 1 to 4 times speed
AgInSbTe used as a material has an Sb content.
High-speed crystallization can be achieved by increasing the relative density, enabling 8x speed recording
Noh. However, according to the study of the present inventors, the amount of Sb
On the other hand, the increase in
At room temperature, within 1 to 2 years,
In a high temperature environment of 50-80 ° C, it cannot be reproduced in a few days
The amorphous mark disappears due to recrystallization
U. Or number by laser light beam less than 1mm
Amorphous marks begin to disappear after about one hundred to several thousand reproductions
The reliability as a recording medium.
Was not able to be maintained. Solve these problems
CD-RWs are widely used
Restrictions on compatibility with playback-only CD-ROM drives
There is also. For example, in order to achieve reproduction compatibility, the modulation degree 55 to 55
Reflectance of 15 to 25 including high modulation of 70%
%, And other servo signal characteristics. The second reason is that in the CD-RW standard,
Strict recording pulse strategy (pulse division method)
It is specified. That is, the CD-RW standard
Figure 4 of Version 2.0 of Range Book Part 3
Recording pulse strategy as shown in
The current recording pulse strategy generation IC circuit
4x with no need to change pulse strategy
Do not record a wide range of linear velocities from high speed to 8 to 10 times speed.
I have to. FIG. 4 (a) shows the EFM modulated 3T ~
FIG. 4 is a data signal having a time length of 11T.
(B) shows an actual record generated based on the data signal.
This is the laser power for recording light. Pw melts the recording layer
Recording power for forming amorphous marks by rapid cooling
ー 、 Pe to erase the amorphous mark by crystallization
Erasing power, and the bias power Pb is usually
It is almost the same as the light reproducing power Pr. [0008] The mark length modulated information is copied to a phase change medium.
When recording with numerical mark lengths, generally a fixed
In the recording pulse strategy, the maximum used line speed and the minimum used line
The speed ratio is limited to approximately twice. Record at 4x current speed
Many of the possible CD-RW writers are specified in the above standards.
Only a fixed waveform that conforms to the recording pulse strategy
To maintain compatibility with these existing writers.
High-speed recording at least up to about 8 to 10 times speed
It was very difficult. It is an object of the present invention to provide a low line such as 1 to 4 times speed.
Wide line from high speed to high linear speed exceeding 8 to 10 times speed
In the speed range, by EFM modulation, ie data reference
Time length from 3T to 11T for clock period T
Amorphous due to combination of length mark length and length between marks
By performing mark length recording using quality marks as marks,
The recording signal format is compatible with CD playback.
To provide a rewritable medium and a recording method for the medium.
You. In particular, at least four times the speed of a conventional CD-RW
Higher than 8x speed while maintaining compatibility as much as possible with the standard
Rewritable compact discs and
The object of the present invention is to provide a recording method. Note that here
"Compatible" means at least 4x speed
It is possible to respond only by changing the firmware without changing the firmware
It means the degree to which it can be cut. [0010] A first gist of the present invention is as follows.
A rewritable disk-shaped optical recording medium having a phase-change recording layer
Information that is EFM-modulated by the LV method can be transmitted over multiple mark lengths.
When recording based on the
When the time length of the clock is nT (T is the reference clock cycle
Period. n is an integer from 3 to 11), and between recording marks
Irradiates recording light with erasing power Pe that can crystallize amorphous
However, for a recording mark, the time length (n
-J) T is α1 T, β1 T, αTwo T, βTwo T, ..., αmT,
βmT, (Where m = n-1 or m = n-2)
ii+ Βi) = N−j (j is 0.0 ≦ j ≦ 2.0
Real number), αiT (1 ≦ i ≦ m)
Pw> Pe that melts the recording layer within the time
Irradiate recording light of recording power Pw, βiT (1 ≦ i ≦ m)
Within a certain time, the bias power becomes 0 <Pb ≦ 0.5Pe.
-Overwrite by irradiating recording light of Pb, linear velocity
1.2m / s to 1.4m / s as the reference speed (1x speed)
And 231 ns is the reference clock cycle at that time.
(1) At 4 × speed, α1 = 0.3-1.5,
αi= 0.2-0.7 (2 ≦ i ≦ m), αi+ Βi-1 =
1 to 1.5 (3 ≦ i ≦ m), (2) 1 or 2 × speed
Where α1 = 0.05-1.0, αi= 0.05-
0.5 (2 ≦ i ≦ m), αi+ Βi-1 = 1 to 1.5 (3
≦ i ≦ m) (3) 6, 8, 10 and 12 times speed
At some double speed, α1 = 0.3-2, αi=
0.3-1 (2 ≦ i ≦ m), αi+ Βi-1 = 1 to 1.5
(3 ≦ i ≦ m) rewritable optical recording
It lies in the method of recording on a medium. A second gist of the present invention is that a predetermined recording area is
Rotating a rewritable disc-shaped optical recording medium with a constant angular velocity
Information that is EFM modulated by the CAV method
When recording by the length of the laser beam, the linear velocity is from 1.2 m / s to 1.m.
4m / s as the reference speed (1x speed) at the outermost periphery of the recording area
The disk so that the linear velocity of the disk is at least 10 times faster.
Is rotated, and the time length of one recording mark is set to nT.
(T is the reference clock period, and
Radial position such that the product VT with the linear velocity V at
T changes according to. n is an integer from 3 to 11),
Between recording marks, erasing power that can crystallize amorphous
-Pe is irradiated with the recording light, and the recording mark is
The time length (n-j) T of α1 T, β1 T, αTwo T, βTwo T, ..., αmT,
βmT, (However, m = n-1 α1 = 0.75-1.25, αi= 0.25-0.75 (2 ≦ i ≦ m), αi+ Βi-1 = 1 to 1.5 (3 ≦ i ≦ m)) in order.ii+ Βi) = N-
j (j is a real number satisfying 0.0 ≦ j ≦ 2.0)
Then αiMelts the recording layer within the time T (1 ≦ i ≦ m)
A recording light having a recording power Pw of Pw> Pe
Irradiate, βi0 <Pb within the time T (1 ≦ i ≦ m)
Irradiating recording light with a bias power Pb of ≦ 0.5 Pe
Overwrite at any radius position
α1 And αi+ Βi-1 (I = 3 to m) is constant and the inner circumference
About αi(I = 3 to m) on optical recording medium
It is in the recording method. A third gist of the present invention is that a predetermined recording area
Rotating a rewritable disc-shaped optical recording medium with a constant angular velocity
Information that is EFM modulated by the CAV method
When recording by the length of the laser beam, the linear velocity is from 1.2 m / s to 1.m.
4m / s as the reference speed (1x speed) at the outermost periphery of the recording area
The disk so that the linear velocity of the disk is at least 10 times faster.
Is rotated, and the time length of one recording mark is set to nT.
(T is the reference clock period, and
So that the product VT with the linear velocity V is constant.
T changes depending on the position. n is an integer from 3 to 11),
Between recording marks, an erasing pattern that can crystallize amorphous
The recording light of the power Pe is irradiated, and the recording mark is
Of the time length (n−j) T of α1 T, β1 T, αTwo T, βTwo T, ..., αmT,
βmT, (However, m = n-1, αi/ Α1= 0.3-0.7
(Where i is an integer of 2 to m), αi+ Βi-1 = About 1 (3 ≦ i ≦ m)) in order.ii+ Βi) = N-
j (j is a real number satisfying 0.0 ≦ j ≦ 2.0)
Then αiMelts the recording layer within the time T (1 ≦ i ≦ m)
A recording light having a recording power Pw of Pw> Pe
Irradiate, βi0 <Pb within the time T (1 ≦ i ≦ m)
Irradiating recording light with a bias power Pb of ≦ 0.5 Pe
Overwrite at any radius position
αiT (i = 2 to m) and αi+ Βi-1 (I = 3 to m)
Recording method on rewritable optical recording medium with constant
You. [0013] A fourth aspect of the present invention is a fixed carrier frequency.
fL0And the signal modulated by the address information
It has a meandering spiral groove with a constant spatial frequency and a recording layer.
Then, in a unit of recording information at a predetermined position of the spiral groove,
Address information for identifying a certain recording block and the block information
Disk with synchronization information identifying the start position of the
Means for rotating at a constant angular velocity about the center portion
Optical pickup that generates a focused light beam for recording and playback
To move in the radial direction to move
And a step for focusing the focused light beam on the recording layer.
Cas servo means and a focused light beam along the spiral groove
Tracking servo means for scanning the groove, and the groove
From meandering to carrier frequency fA0, Address information and blocks
Means for detecting and decoding a period signal, and the start of the recording block
Position and frequency fd0To the reference clock T of data having
Synchronize mark length modulated recording data sequence
And the recording laser power corresponding to the recording data sequence.
An optical disk recording device having a means for modulating,
Focused light beam is applied to recording block of specified address in radial direction
Data that changes in inverse proportion to the radius when moved to
A reference signal generator for generating a reference clock T of
Divide the reference clock in diameter to 1 / N (N is an integer)
Reference signal f obtained byR0And detected at the address
Carrier frequency f of the meandering groove meanderA0By comparing the phases of
Reference clock frequency f of data at constant radiusd0And f
A0Is f at any radial positiond0= N · fA0Naruseki
Tweak the disk speed to maintain the engagement
At the start of the recording block and the
Means for achieving synchronization of the data sequence to be performed.
Disc recording and reproducing device. According to a fifth aspect of the present invention, a program
A predetermined application is applied to a continuous area on the inner or outer circumference of the area.
Application program that stores application program data.
Solution program area and the rest of the area at least
User data related to the application program
The user data recording area where data can be recorded
The application program and user data
Fixed-length packet unit with the same file management structure
And the playback of the application and the
Records of user data related to the application
Rewritable optical recording performed at a constant rotation speed
A recording / reproducing apparatus for recording / reproducing to / from a medium,
Access the above specific area of the rewritable optical recording medium
While rotating the disk CAV
Plays back program data and
Program execution means for executing
Application program executed by program execution means
Information that allows you to enter required information according to the ram
While the input means and the disk are rotated by CAV,
Access the user data area and enter the information input
Record the information entered by the user as user data.
Recording means capable of
Recording and reproducing apparatus. [0015] BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION1. About media characteristics In the present invention, a medium of a light spot by recording light is used.
1.2m / s to 1.4m /
s, especially 1.2 m / s as the reference speed, that is, 1 × speed.
You. First, a disc according to the first and second aspects of the present invention
Will be described. The rewritable optical recording medium according to the present invention
It has a circular shape. And the part of the crystal state of the phase change type recording layer
The unrecorded / erased state, and write the amorphous part.
Recording status. The recorded information is recorded on a laser
By irradiating recording light to form an amorphous mark, EF
It consists of an M-modulated signal. Usually spiral on media substrate
Are formed. Amorphous marks are usually formed in grooves.
Formed, but may be formed in the land (land).
No. The groove is usually 22.05k when converted to 1 × speed.
Hz in the radial direction at a frequency based on the carrier frequency.
It is meandering (wobble), such a groove is wobble groove
Call. And, by this meander, the frequency is
The frequency is modulated at a frequency of ± 1 kHz.
Due to strange frequency changes, the address information on the disc is lost.
Included as time information. Such an absolute time
The inter-information is ATIP (Absolute Time In)
  Pre-groove) signal. This wobble groove is used in the CLV mode for the CD.
It was recorded at 1x linear speed and formed on the stamper
And, by injection molding the substrate based on this stamper
Can be formed. To increase recording capacity,
When the transmission frequency is 1.2m / s (± 0.1m / s)
Wobbles to be 22.05 kHz
A groove is formed. When recording data, use the reference clock.
The cycle T is the reference, and various
Form marks and spaces (between marks) with a long time length
To record the data. In EFM modulation,
A mark having a regular time length of 3T to 11T is formed. Ma
In addition, the reference clock period T changes in inverse proportion to the disk linear velocity.
It is usual to make The reciprocal of the reference clock cycle T is
It is called the reference clock frequency and is 1x the speed of CD (linear velocity)
1.2 m / s to 1.4 m / s)
The wave number corresponds to one channel bit of data, usually 4.3.
218 MHz. This reference clock frequency also
Just above the wobble reference frequency 22.05kHz
It is 196 times. Reference clock cycle at 1x speed
Period T is usually 1 / (4.3218 × 106 ) ≒ 231 × 1
0-9(Second) = 231 (nanosecond). In the following description
Are the reference clock cycle T and the linear velocity V unless otherwise specified.
Is constant regardless of the linear velocity. FIG. 2 shows a CD file including a CD-RW.
The reproduction waveform of the EFM modulated signal used in the
FIG. 3T for eye pattern
All amorphous mark and crystalline space of 11T
Are substantially randomly included. Play wave
The shape is obtained by taking the reflected light intensity as a voltage signal and using an oscilloscope.
It is a waveform observed on the loop. At this time, the reproduction signal is DC
Contains ingredients. Top I of the eye patterntopThe incident light
Is converted to reflectivity corresponding to the space.
Upper emissivity value RtopAnd the amplitude of the eye pattern (actual
Above is the amplitude of the 11T mark) I11To ItopStandardized by
The modulation degree m of the recording signal represented by the following equation (1)11so
is there.         m11= I11/ Itop× 100 (%) (1) In the present invention, the modulation degree m11Is less than 60%
The upper limit is 80% or less. Modulation depth depends on optical resolution
Therefore, optical systems with large NA tend to look large.
In the present invention, a laser beam having a wavelength of about 780 nm is used.
And an optical system having a numerical aperture NA = 0.5 or NA = 0.55.
Of modulation m when illuminating and recording through11And However, waves
The length need not be strictly 780 nm;
What is necessary is just to be in the range of about 5 nm. Signal amplitude I11Is big
Is preferable, but if too large, the signal
Since the gain is extremely saturated, m11Upper limit is 80
%, Preferably about 78%, more preferably about 75%
is there. On the other hand, if it is too small, the signal-to-noise ratio (SN ratio) is low.
The lower limit is 60%, preferably 62%,
More preferably, it is about 65%. Also, RtopIs 1
5 to 25%, preferably 15 to 20%, more preferably
Is in the range of 16 to 19%. Further, the following equation (2) Asym = (Islice/ I11-1/2) (%)
The asymmetry value Asym defined in (2) can be
Is preferably around 0, but usually ± 10%
Range. Where IsliceIs in I in FIG.
The voltage difference between the core 2001 and the bottom of the envelope,
11Is the top 2003 and the bottom 2 of the envelope
002. Each of 3T to 11T used for EFM modulation
Mark length and space length jitter, and
And the deviation are shown in FIG.
Signal passed through a high-pass filter
After taking out
Is obtained by DC slicing with the low level as the threshold.
From the predetermined value (nT) of the average value of the lock length or space length
Deviation (deviation) and standard deviation (jitter)
is there. For detailed measurement method, refer to Red Book
And Orange Book, which is a CD-RW standard, and “CD
Amilly ”(published by Ohmsha, April 25, 1996).
Is defined. In the present invention, for jitter,
Playback at 1x speed (reference clock cycle 231 nanoseconds)
Jitter value is 35 ns or less, preferably 30 ns
Or less, more preferably 25 nanoseconds or less. In addition,
Normally, 3T marks or jitter between marks is 3T to 1
It is the worst value in 1T. In the present invention,
The solution is usually ± 40 nanoseconds or less at 3T and ± 6 at 11T.
0 nanoseconds or less. For 4T to 10T,
Normally less than ± 40 nanoseconds specified for 3 and 11T
And ± 60 nanoseconds or more. What
Note that the quality of the recorded signal is basically
It is preferable to satisfy the same characteristics as the case. For more information,
Satisfying the contents described in Part 3 of the book
preferable. Modulation degree m11, The upper limit R of the reflectanceTOPAnd di
By setting the value to the above value, the conventional CD-RW
8x speed, especially 10x speed or higher, while maintaining compatibility with standards
High-speed recording is possible. Preferably at 8x speed
Consists of 3T mark and 3T space (between marks)
After recording a single period signal, 11T mark and 11T space
3T when a single cycle signal consisting of
The mark erase ratio is 25 dB or more, especially 27 dB or more.
You. More preferably at 10 × speed, especially at 12 × speed
The erase ratio is 25 dB or more. Erase ratio at high linear velocity
The higher the medium, the faster the recrystallization rate when erasing amorphous marks.
Overwrite of EFM signal at higher linear velocity
is there. For example, the erasing ratio at 12 × speed is 25 dB.
Above, good characteristics when used at 12x speed
Of course, and good when used at 10 times speed.
Characteristics are obtained. The erasing ratio is defined as a linear velocity range in which overwriting is performed.
If the upper limit of the box is a sufficient value, the linear velocity side is lower than normal
There is no shortage. Of the numerical aperture NA moving at the linear velocity V
The recording layer is illuminated with the light beam of wavelength λ collected by the objective lens.
Is the firing time normalized by λ / (NA · V)?
Therefore, the lower the linear velocity, the longer the irradiation time and the time required for recrystallization.
This is because sufficient time can be secured. Also, record in advance
Of the recorded signal is 35 ns at 1 × speed reproduction
ec (nanosecond) until the recording medium
The temperature, 80 ° C, and relative humidity of 85 are assumed to be the life of the kival.
% Of archival life is 500 hours or more.
Is desirable. Further, in the present invention, the modulation degree m11
Is 50 in an accelerated test environment at a temperature of 80 ° C and a relative humidity of 85%.
90% or more of the initial value, especially 95% or more, after 0 hours
Is preferred. In the present invention, the linear velocity V (where V is 8 times)
Speed, 10 times speed or 12 times speed)
m11, Rtop, Jitter, deviation, asymmet
The linear speed and the erasure ratio are based on the standard speed of 1.2 m / s.
Degree (1x speed) V1, And at linear velocity V, the data
The reference clock period T is VT = V1T1(However, T1Is
231 ns)
The recorded signal is recorded in one recording within the conditions of recording method 1 below.
After overwriting 10 times with the system,
It is given from a recording signal obtained by reproduction. Recording method 1: Light with a wavelength of 780 nm
Irradiate via an optical system with a number NA of 0.55 or 0.5
You. At this time, the time length of one amorphous mark is set to nT
(N is an integer from 3 to 11)
For the interval, the erasing power Pe that can crystallize the amorphous
Irradiate and record marks, the length of time
(N-j) T is α1T, β1T, αTwoT, βTwoT, ...
αmT, βmT (where m = n-1, α1= 1.0,
αi= 0.5 (i is an integer of 2 to m), βm= 0.25
0.75, αi+ Βi-1= 1.0 (i is 2 to m
) I (α)i+ Βi) = N−j
(J is a real number from 0 to 2.0), ΑiWithin a time T (i is an integer from 1 to m)
Is a recording light having a recording power Pw sufficient to melt the recording layer.
(However, Pw is 14 to 25 mW, and Pe / Pw =
0.5) and βiTime T (i is 1 to m
Of the bias power Pb of 0.8 mW.
Irradiate recording light. In the present invention, the speed is increased to 4 times.
Even if the modulation degree m11, Rtop, Jitter, deviation
Values, asymmetry values, and erasure ratios fall within the above numerical ranges.
It is preferred that Degree of modulation at 4x speed
m11, Rtop, Jitter, deviation, asymmet
The linear speed and the erasure ratio are based on the standard speed of 1.2 m / s.
Degree (1x speed) V1, The speed becomes 4 times the reference speed V
And the data reference clock cycle T is VT = V1T1(T
But T1Is 231 ns)
EFM modulated signal from the following recording system 2 or 3
Overwrite recording 10 times with one of the recording methods
After that, from the recording signal obtained by the reproduction at 1x speed
Given. Recording method 2: Light with a wavelength of 780 nm
Irradiate via an optical system with a number NA of 0.55 or 0.5
You. At this time, the time length of one amorphous mark is set to nT
(N is an integer from 3 to 11)
For the interval, the erasing power Pe that can crystallize the amorphous
Irradiate and record marks, the length of time
(N-j) T is α1T, β1T, αTwoT, βTwoT, ...
αmT, βmT (where m = n-1, α1= 1.0,
αi= 0.3 to 0.6 (i is an integer of 2 to m), βm=
0.25 to 0.75, αi+ Βi-1= 1.0 (i is 2
整数 i (α)i+ Βi) = N−j
(J is a real number from 0 to 2.0) ΑiWithin a time T (i is an integer from 1 to m)
Is a recording light having a recording power Pw sufficient to melt the recording layer.
(However, Pw is 14 to 25 mW, and Pe / Pw =
0.5) and βiTime T (i is 1 to m
Of the bias power Pb of 0.8 mW.
Irradiate recording light. Recording method 3: Light with a wavelength of 780 nm is
Irradiate via an optical system with a number NA of 0.55 or 0.5
You. At this time, the time length of one amorphous mark is set to nT
(N is an integer from 3 to 11)
For the interval, the erasing power Pe that can crystallize the amorphous
Irradiate and record marks, the length of time
(N-j) T is α1T, β1T, αTwoT, βTwoT, ...
αmT, βmT (where m = n-1, α1= 0.4,
αi= 0.15 to 0.25 (i is an integer of 2 to m), βm
= 0.25 to 0.75, αi+ Βi-1= 1.0 (i is 2
整数 i (α) i+ Βi) = N−j and
(J is a real number from 0 to 2.0) ΑiWithin a time T (i is an integer from 1 to m)
Is a recording light having a recording power Pw sufficient to melt the recording layer.
(However, Pw is 14 to 25 mW, and Pe / Pw =
0.5) and βiTime T (i is 1 to m
Of the bias power Pb of 0.8 mW.
Irradiate recording light. In addition, "overwrite" means general
The data once recorded is not recorded evenly by specific processing.
Overwrite new data without returning to recording / erasing state
It indicates that. However, in the present invention, the initial uniform
When recording in the unrecorded / erased state,
I can grasp. For example, it is also described in the above recording methods 1 to 3.
“10 times overwriting” means that the initial crystal state
Record (1 overwrite), then 9 times
Means to perform bar light, as described below.
The same applies to this. In addition, in recording methods 1 to 3
i+ Βi-1= 1.0 ”is (αi+ Βi-1)But
Means the same time length as the reference clock period T
Errors that are inevitable in circuit design
Differences can be included. Furthermore, recording methods 1 to 3
Wavelength of the recording light in the range of about 775 to 795 nm
Variations are not a major problem. [0029]2. About the recording layer of the medium In the rewritable optical recording medium of the present invention, the amorphous mark
Short-time erasure by high-speed crystallization of amorphous
It is important to balance the time stability. And again
In order to make playback compatible with a raw CD-ROM drive,
If the reference optical system satisfies a high degree of modulation,
In addition, the reflectivity must be satisfied with other servo signal characteristics, etc.
Is preferred. Provided on the substrate for high-speed crystallization and stability over time
The selection of the material for the phase change type recording layer to be used is most important.
In the present invention, it is important to increase the crystallization speed of the recording layer.
Yes, this is achieved by finely adjusting the composition of the recording layer.
Achieved. As the composition of the recording layer material, in particular, SbTe
Alloy containing excess Sb over eutectic composition, more specific
Has Sb70Te30Excess Sb based on eutectic point composition
Sb including70Te30It is preferable that the base material is an alloy. S
the presence of excess Sb in the bTe eutectic composition
High-speed crystallization becomes possible. Among them, especially
M including GezGey(SbxTe1-x)1-yzcomposition
(However, 0 ≦ z ≦ 0.1, 0 <y ≦ 0.1, 0.72
≦ x ≦ 0.8, and M is In, Ga, Si, Sn, P
b, Pd, Pt, Zn, Au, Ag, Zr, Hf, V,
Nb, Ta, Cr, Co, Bi, O, N, S and rare earth
At least one selected from the group consisting of metals)
It is preferred to select from The preferred composition is the SbTe eutectic point composition
Stability and jitter over time in binary alloy containing excess Sb
Based on ternary alloy with Ge added for improvement
Can be thought of. At this time, Ge becomes excessive Sb.
Without losing the high-speed crystallization function.
It is considered to have a function of improving the stability over time. Ma
In addition to raising the crystallization temperature,
Is considered to be the most effective element for enhancing energy
You. The Ge amount is 0.03 or less as the value of y in the above equation.
Above, it is particularly preferable that it is 0.04 or more. G
If the amount of e is too large, it is probably GeTe or GeSbTe type
Of different optical constants due to the precipitation of
Crystal grains are mixed, noise of the recording layer rises and jitter increases
In some cases, even if too much is added,
Since the time stability is not improved, the Ge amount is usually calculated by the above equation.
0.1 or less, preferably 0.08 or less as the value of y
It is. If the excess Sb is too small, recrystallization may occur.
Speed is too low and good auto
Since bar lighting may not be possible,
x is at least 0.72, preferably at least 0.73, more preferably
More preferably, it is 0.74 or more. On the other hand, the amount of Sb is too much
Then, the recrystallization speed is too fast, and the CD-
Good amorphous mark shape with pulse division method of RW standard
And jitter becomes very high.
In addition, the stability over time of the amorphous mark tends to deteriorate.
Therefore, the above x is 0.80 or less, preferably 0.79
Hereinafter, it is more preferably 0.78 or less. Optimal pair
The range of formation differs slightly depending on the numerical aperture NA. NA is large
If the focused light beam is more focused,
This is because the later cooling rate of the recording layer tends to be slightly higher.
Therefore, for NA = 0.5, x is 0.73-0.7.
8 is preferred and for NA = 0.55 x is
A range of 0.75 to 0.80 is preferred. This intermediate N
For A, it is necessary to use these intermediate composition regions.
preferable. In the above composition formula, one of the above-mentioned M
By adding at least one of the elements of the group
Further, the characteristics are improved. In, Ga, Si and Sn are
This is effective in reducing jitter. N, O and S are repeated
Prevention of segregation and fine adjustment of optical characteristics
There is an effect that can be adjusted. Bi, Zn, Pd, P
t, Au, Ag and the rare earth metal are
There is an effect that the entire surface is easily crystallized. Zr, H
f, V, Nb, Ta, Cr, Co and Pb
It is effective in improving the time stability. However, the amount of the element M is large.
If too long, segregation of specific substances over time and repeated overlay
The amount of the element M added
Is a value of 0.
It is preferably set to 1 or less, particularly 0.09 or less. Segregation
If this occurs, the stability and re-solidification of the amorphous layer that the recording layer initially has
The initial overwrite characteristics were not obtained due to changes in the crystallization speed, etc.
It is not preferable because it will not be able to be done. In particular, O, S and N
Is the sum of these and the sum of Sb, Te and Ge
More preferably, the content is 5 atomic% or less. As the element M, In and Ga are particularly jitters.
This is effective in reducing and expanding the corresponding linear velocity margin. Special
A1 aATwo bGec(SbdTe1-d)1-abccomposition
(However, 0 ≦ a ≦ 0.1, 0 <b ≦ 0.1, 0.02
<C ≦ 0.2, preferably 0.02 <c ≦ 0.1, 0.
72 ≦ d ≦ 0.8, and A1Is Zn, Pd, Pt,
V, Nb, Ta, Cr, Co, Si, Sn, Pb, B
at least one selected from the group consisting of i, N, O and S
seed. ATwoIs a small number selected from the group consisting of Ga and In
At least a kind. ), Such as InGeSbTe quaternary alloy or
Is the recording layer composition based on InGaSbTe quaternary alloy
Is more preferred. If the amount of In or Ga is too large,
Therefore, the value of b is usually 0.1 or less,
Preferably, it is 0.06 or less. By doing this
Even if you overwrite more than 10,000 times
Segregation can be suppressed. The above composition formula
Is preferably the same as the value of x described above,
0.73 or more, more preferably 0.74 or more,
Preferably 0.79 or less, more preferably 0.78 or less
However, the optimum value varies depending on the numerical aperture, and NA
= 0.53, x = 0.73 to 0.78, NA = 0.55
It is preferable that x = 0.75 to 0.80. Where
The composition of the recording layer is particularly preferable compared to other compositions.
I will tell. For the InGeSbTe alloy, refer to
3195, JP-A-1-14083, JP-A-Hei.
JP-A-5-16528, JP-A-9-293269
, But in any case GeTe-SbTwo TeThree Fake
The composition near the similar binary alloy is preferred. The composition of the present invention is different from these,
bTe is a composition containing eutectic composition as a main component and excess Sb.
is there. GeTe-Sb if the speed is about 1-2 timesTwo T
eThree A pseudo binary alloy with excess Sb added
Also, a rewritable compact disc can be realized (see
JP-A-4-221735, JP-A-5-62193
Information). GeTe-Sb Two TeThree Ge on the line connecting1 S
bFour Te7 , Ge1 SbTwo TeFour Or Ge Two SbTwo
TeFive The composition has the highest crystallization speed, and Sb is added.
By doing so, the crystallization speed is reduced. However, 1
Excessive Sb so that overwriting can be performed at 2x speed
Crystallization speed for high-speed recording of 4x speed or more
The degree of erasure is too slow and the overwriting cannot be performed
No. Conversely, if the amount of Sb is reduced in accordance with 4 × speed recording,
Since recrystallization at 1 and 2 times speed becomes remarkable, amorphous
The formation of cracks is impaired by recrystallization during resolidification. You
In other words, even if only the amount of Sb is adjusted, even if the amount is adjusted to the CD-RW standard,
Overwrite at 2-4x speed while maintaining compatibility
It is difficult to manifest. The same applies to 4 to 8 times speed recording.
You. When the medium is designed for 4x speed, the same at 8x speed
It is difficult to obtain good recording characteristics with strategy
It is. Also, a wide range of conventional 2- to 4-fold speed CD-RWs
AgInSbTe and AuInSb used for
Composition of Te alloy (JP-A-10-326436, etc.)
Compared with the above, the composition of the present invention is stored at room temperature.
Excellent stability. For example, in an AgInSbTe alloy,
Overwriting at 8 × to 10 × speed itself is not possible.
You. But perhaps at the same time the activation energy of crystallization
Decrease or decrease the crystallization temperature.
The stability of the work tends to deteriorate. At high linear velocity overwriting
Crystallization rate at room temperature and low amorphous mark at room temperature
It is difficult to satisfy both demands of qualification. AgI
nSbTe and the above characteristics of the GeSbTe system of the present invention
The reason for the difference is not always clear. But G
In the eSbTe system, excess Sb is simply a nucleus for recrystallization.
Involvement in formation and involvement of four-coordinate Ge
The atomic network structure becomes locally strong,
At low temperatures near the temperature, nucleus growth centered on the crystal nuclei (net
Local changes in the local structure of the network)
it is conceivable that. Incidentally, Japanese Patent Application Laid-Open No. 1-303643,
JP-A-4-28587 and JP-A-10-1120
No. 28 discloses the above GeSb preferred in the present invention.
Although a Te-based recording layer is described, these compositions are
Applicable to a specific format called Pact Disc
And high linear velocity recording, such as 8x speed or more
Used for high linear velocity recording and low linear velocity recording
There is no mention of being applicable to both. Also,
The modulation m11, RtopAnd jitter
Is not determined. In the present invention, the recording layer is formed by the above-described method.
In the crystalline state, from face-centered cubic and / or hexagonal structure
Is preferred. In this case, the recording layer has a single crystalline phase
May be composed of several crystalline phases
Good, but if there is more than one crystal phase,
Preferably not. As a result, noise is reduced,
Improved stability, easy crystallization at high speed, etc.
Performance can be improved. This is SbTwoTeThreeEtc.
Although it is a cubic crystal such as a crystal phase having a hexagonal structure or Sb
Crystal phase with a significantly different lattice constant, and furthermore Sb7Te,
SbTwoTeThreeOther crystal phases belonging to other space groups such as
When present, grain boundaries with large lattice mismatch are formed
As a result, the peripheral shape of the mark may be
Is considered to occur,
Phase, no such grain boundaries occur.
It is thought. The unit cell constant of the preferred crystal phase is preferably
In the case of a centered cubic crystal, it is usually 5.5 ° or more, and preferably 5.8 ° or more.
Å or more, and usually 6.8Å or less, preferably 6.
5 ° or less. In the case of a hexagonal crystal, the a-axis is usually 4 to 4.5.
Å, c-axis 30 to 35 °. Multiple crystal phases exist
In this case, there is no lattice mismatch, and
In order to obtain the same crystal structure,
Is preferably about ± 5% or less. Crystal phase
May be a stable crystalline phase in a state of thermal equilibrium.
It may be a metastable crystal phase that appears depending on the fabrication conditions. Associate
The stable crystalline phase is not necessarily the lowest energy thermodynamically
It does not correspond to the condition, but is completely unstable
Not the phase change type used for optical information recording media.
Crystals that can exist substantially stably in the recording layer
Phase. The preferred crystalline phase in the present invention is f
considered to belong to the m3m space group and / or the F43m space group
Can be FIG. 32 shows an example in which
By the same manufacturing method as that of the phase-change type optical information recording medium,
The recording layer (thickness: about 20 nm) from the obtained medium
In obtained byThreeGeFiveSb70Tetwenty twoTransmission electron microscopy of thin films
It is an electron beam diffraction image by a microscope (TEM). In the figure, A,
Points B, C, and D are respectively Miller indices (220),
(002), (222) and (111). This
For each point of A, B, C and D appearing in the diffraction image of
Explain the indices consistently, and obtain different
Those that can explain the diffraction image of the turn without contradiction are
It has a tetragonal structure and belongs to the Fm3m or F43m space group.
Crystal structure. In addition, the plane orientation is shown in the electron diffraction image.
Although only the rotation shown in FIG. 5 was obtained,
It is presumed that it is formed from almost a single crystal phase. Ma
Also, in X-ray diffraction, other crystal structures such as Sb phase
It was also confirmed that no related peak was observed. From the electron beam diffraction image shown in FIG.
Belongs to the F43m space group with a child constant of about 6.4Å, or
Whether it belongs to the F43m space group with a lattice constant of about 6.1Å
It turns out that it is. The former is a face-centered cubic Ge
ThreeIn13Sb7TeThreeSolid solution or AgInTeTwoF43
having the same structure as the crystal type belonging to the m space group
And the latter is AgInTeTwoBelongs to the Fm3m space group of
Crystal system or AgSbTeTwoBelongs to the Fm3m space group of
It has the same structure as the crystal type. The same space group is used for GaSb and InSb.
There are crystal systems belonging to
32, and the electron beam of FIG.
It is very close to the value of the unit cell constant obtained from the diffraction image. This
Means that in the recording layer composition of the present invention, In and / or
Considering that the presence of Ga is preferable, these
Semi-anion in Sb-te-Ge solid solution in which crystal is a parent
It suggests that it promotes the formation of a constant structure. It should be noted that a composition having a larger Sb / Te ratio
Tendency to obtain a single phase of tetragon in preference to face-centered cubic
It is in. Sb is in excess of SbTe eutectic composition.
In particular, since the other crystal phases are easily formed,
Take measures such as devising initialization as described later.
A substantially single phase, especially a single face-centered cubic
It must be made of structure. Of the crystalline phase of the recording layer
The form largely depends on the method of initializing the recording layer. That is,
In order to form the preferred crystalline phase in the present invention,
It is preferable to devise a method for initializing the recording layer as follows.
Good. The recording layer is usually made of a physical material in a vacuum such as a sputtering method.
The film is formed by a vapor deposition method, but as-deposi
In the ted state, it is usually amorphous, so
It is crystallized to be in an unrecorded and erased state. Initialize this operation
Called. As the initialization operation, for example, the crystallization temperature
(Usually 150-300 ° C.)
Laser annealing or flash lamp light.
Any light energy irradiation such as annealing, melting initialization, etc.
Method, but the recording layer in the preferred crystalline state is
To obtain, melt initialization is preferred. Annie in the solid phase
In the case of ル, there is time to achieve thermal equilibrium
Therefore, another crystal phase is easily formed. In the melting initialization, the recording layer is melted.
May be directly recrystallized during resolidification.
Sometimes once in an amorphous state, solid state reconsolidation near the melting point
It may be crystallized. At this time, if the crystallization speed is too slow
Because there is enough time to achieve thermal equilibrium,
Since a crystal phase may be formed, the cooling rate
Preferably faster. For example, the time for maintaining the temperature above the melting point is usually
2 μs or less, preferably 1 μs or less
No. In addition, it is preferable to use laser light for melting initialization.
And, in particular, an elliptical shape having a short axis substantially parallel to the scanning direction.
Initialization using a laser beam (hereinafter, this initialization method)
Is sometimes referred to as "bulk erase").
No. In this case, the length of the long axis is usually 10 to 1000 μm
And the length of the minor axis is usually 0.1 to 10 μm.
The lengths of the major axis and minor axis of the beam here are
Half-width when measuring the light energy intensity distribution in the system
Defined from The scanning speed is usually about 1 to 10 m / s
is there. Overwrite recording of phase change medium to be used
When scanning at a speed higher than the maximum linear speed,
The area once melted by the work may become amorphous.
You. In addition, the speed is about 30% lower than the maximum linear velocity.
When scanning at a degree, phase separation occurs and it is difficult to obtain a single phase.
Therefore, a scanning speed of 50 to 80% of the maximum working linear speed is preferable.
Good. The maximum operating linear velocity is the linear velocity
When the light of erasing power Pe is irradiated at
It is determined as the upper limit of the linear velocity as performed. Laser light source
Various types such as semiconductor lasers and gas lasers are used.
Can be used. The power of laser light is usually 100mW to 2W
It is about. At the time of initialization by bulk erase, for example,
When using a disk-shaped recording medium, the short axis direction of the elliptical beam
Is almost coincident with the circumferential direction.
And the long axis (half)
Dia) to initialize the entire surface.
You. The moving distance in the radial direction per rotation is the beam long axis.
Make them shorter and overlap, and record the same radius several times.
It is preferable to irradiate with a laser light beam.
As a result, reliable initialization is possible, and beam half
Derived from radial energy distribution (usually 10-20%)
It is possible to avoid non-uniform initialization states. on the other hand,
If the moving amount is too small, the other unfavorable
Normally the amount of movement in the radial direction because the crystal phase is easily formed
Is usually 1 / or more of the major axis of the beam. At the time of melt initialization, two laser beams are used.
To melt the recording layer once with the preceding beam,
Recrystallization with the second beam
Can also be done. Here, the distance between each beam
If the separation is long, the area melted by the preceding beam
After consolidation, it is recrystallized with a second beam. Dissolution
Whether or not melt recrystallization has been performed is determined by the actual
Erasing after overwriting of amorphous mark by recording light
And R in the unrecorded state after initialization
It can be determined whether or not 2 is substantially equal. Where R1
Measurement is a signal where amorphous marks are recorded intermittently.
When using a number pattern, multiple overwriting and
It is usually performed after overwriting about 5 to 100 times. This
By doing so, it is possible to leave the unrecorded state with only one recording
Eliminate the effect of reflectivity between possible marks. The above-mentioned erased state is not necessarily limited to the recording focusing layer.
No modulation of the laser beam according to the actual recording pulse generation method
Even if the recording power is applied in a DC manner, the recording layer is melted.
It can also be obtained by resolidification. In the present invention
Is that the value of the following formula (F1) defined by R1 and R2 is 1
0 (%) or less, especially 5 (%) or less
Is preferred. [0048] (Equation 1)     2 | R1−R2 | / (R1 + R2) × 100 (%) (F1) For example, in a phase change medium in which R1 is about 17%
Is sufficient if R2 is approximately in the range of 16 to 18%. Heel
In order to achieve the initialized state, the actual recording conditions
Preferably, a thermal history equal to is provided by initialization. [0050]3. About layer structure of media Next, other than the layer configuration and recording layer of the medium used in the present invention.
Layer will be described. Layer configuration and set of layers other than the recording layer
Is to achieve both high-speed crystallization of the recording layer and stability over time.
First, the optical characteristics of the medium are set to a specific range and playback compatibility with CDs
It is important to keep. The substrate of the medium of the present invention includes
Transparent such as carbonate, acrylic and polyolefin
Resin or transparent glass can be used. Inside
But polycarbonate resin is most widely used in CD
It is the most preferable because it has a proven track record and is inexpensive.
The thickness of the substrate is usually 0.1 to 20 mm, preferably 0.3
mm to 15 mm. Generally about 1.2mm
It is. The recording layer prevents deformation due to high temperature during recording.
It is desirable that the top and bottom are covered with a protective layer
(For convenience of explanation, the light incident on the recording layer is
Protective layer is the lower protective layer, and the protective layer on the opposite side is the upper protective layer.
Sometimes referred to as a layer. ). More preferably, a lower protective layer is provided on the substrate.
A layer, a recording layer, an upper protective layer and a reflective layer are provided. this
In this case, the surface opposite to the substrate
It can be coated (protective coat) with a curable resin.
Preferably, to maintain compatibility with current CD systems
The lower protective layer, recording layer, upper protective layer and reflection
The layers are provided in this order. Recording layer, protective layer and reflective layer
Can be formed by a sputtering method.
In this case, the target for the recording film, the target for the protective film,
If necessary, use the same vacuum
Sputtering with in-line equipment installed in the chamber
The point that film formation by GaN prevents oxidation and contamination between layers
Is desirable. The material used for the protective layer is
Rate, thermal conductivity, chemical stability, mechanical strength, adhesion, etc.
Determined with care. Generally high transparency and high melting point
Oxides, sulfides, nitrides, Ca, M of certain metals and semiconductors
g, a fluoride such as Li can be used. these
Oxides, sulfides, nitrides and fluorides are not necessarily stoichiometric
It is not necessary to take an appropriate composition, and it is necessary to control the refractive index etc.
It is also effective to control or mix them. Repetitive
In view of recording characteristics, a mixture of dielectrics is preferred. Yo
More specifically, ZnS, ZnO, rare earth sulfide and oxidized
And mixtures with heat-resistant compounds such as carbides, nitrides, and carbides.
It is. The film density of these protective layers is 80% or less of the bulk state.
Above is desirable from the viewpoint of mechanical strength. In the present invention
The thermal conductivity of the protective layer, especially the upper protective layer
It is preferable to reduce the size by only Specifically, the thermal conductivity
It is preferable to use the one less than 1J / (mks)
No. Examples of such a material include ZnS and 50 mo.
A mixture containing 1% or more can be mentioned. The thickness of the lower protective layer is usually at least 30 nm.
Is at least 50 nm, especially at least 60 nm, and more preferably 80 n
m or more is preferable. Heat damage during repeated overwriting
In order to suppress substrate deformation due to
Is necessary, and if the thickness of the lower protective layer is too small,
Overwrite durability tends to rapidly deteriorate. Special
Jitter increases sharply in the initial period when the number of repetitions is less than several hundred.
Tend to add. The deterioration of the jitter at the beginning of repetition is lower
It greatly depends on the thickness of the protective layer. Atomic force microscope of the present inventors
According to microscopic observation (AFM), this initial deterioration
Deformation of the plate surface by about 2 to 3 nm
I understood. In order to suppress substrate deformation, the recording layer
There is a thermal insulation effect to prevent heat from being transmitted to the board, and
It is necessary to have a protective layer thickness that mechanically suppresses deformation.
Therefore, the above film thickness is preferable. On the other hand, the reflectance RTOPDependence of lower protective layer thickness
In view of the properties, the reflectance becomes minimum at 60 to 80 nm, and 0
And about 150 nm. wavelength
With respect to 780 nm, a commonly used refractive index of 2.0 to
In the case of a protective layer made of about 2.3 dielectric, the lower protective layer
For each film thickness, the reflectance changes periodically to take maximum and minimum values.
Shows Therefore, making it too thick is optically meaningful.
No taste, increase in material cost, groove thickness due to thick film formation
Bottom protection
The layer is usually 150 nm or less, preferably 120 nm or less.
I do. On the other hand, the thickness of the upper protective layer is 30 nm or more, especially 3 nm.
5 nm or more is preferable. The upper protective layer is mainly opposite to the recording layer.
Prevent interdiffusion of the emissive layer. Note that the upper protective layer is too thin
It is easily destroyed by deformation etc. when the recording layer melts,
The heat dissipation effect is so large that the power required for recording is unnecessarily large.
It tends to be easier. In particular, as in the present invention, the speed is 8 times or more.
When trying to record at high speed, the decrease in recording sensitivity is good.
Not good. On the other hand, if the upper protective layer is too thick,
The temperature distribution of the part becomes sharp, and the deformation of the protective layer itself is large
Become more likely to accumulate due to overwriting
Therefore, it is usually 60 nm or less, preferably 55 nm or less.
You. The thickness of the recording layer is 10 nm or more, especially 15 nm or more.
preferable. Sufficient contrast if recording layer is too thin
And the crystallization rate tends to be slow.
You. In addition, recording and erasing in a short time tends to be difficult. On the other hand, the thickness of the recording layer is usually 40 nm or less.
However, it is preferably 30 nm or less, particularly 25 nm or less.
No. If the film thickness is too large, the optical contrast
It is difficult to obtain, and since the heat capacity is large,
Degree may worsen. Furthermore, the notes accompanying the phase change
The change in volume of the recording layer increases as the recording layer becomes thicker.
If the recording layer is too thick, it will be
Microscopic deformation is accumulated on the protective layer and the substrate surface, etc.
May lead to an increase in The thicknesses of the recording layer and the protective layer are determined by the mechanical strength and
From the aspect of reliability (especially durability of repeated overwriting)
Considering the interference effects associated with the multilayer configuration in addition to the limitations,
Laser light absorption efficiency and the amplitude of the recording signal,
Increased contrast between recorded and unrecorded states
To be elected. Layer composition that can balance all of these
Then, the refractive index of the upper and lower protective layers is set to 2.0 to 2.3,
Lower protective layer thickness dL, Recording layer thickness dR, Upper protective layer thickness
d UWhere 15 ≦ dR≦ 20 nm, 30 ≦ dU
60 nm and dUAnd dRAnd dU= {-5dR+
130 ° ± 10 nm, and
Light R for crystalline statetopOf dLIn dependence, R
topOf dLThick film direction from minimum value in 60-80 nm
∂R until the next minimum value totop/ ∂dL> 0
It is desirable to select In the medium of the present invention, the heat radiation effect of the reflection layer
Higher than 1x to 4x speed compatible CD-RW media
Is important. Fine-tune this composition and specify
By combining with the recording layer, higher linear velocity and
Recording at both low linear velocities becomes possible. In particular, the above protective layer
Use of low thermal conductivity material as
With this, a greater effect can be obtained. Amorphous
Formation and recrystallization process, heat dissipation effect of reflective layer and recording
The relationship between the linear velocities will be described with reference to FIG. The horizontal axis in FIG.
Is the recording linear velocity, the left vertical axis is the melting and re-solidification of the recording layer
This shows the cooling rate at the time of
Is the critical cooling rate R determined by the recording layer materialcIf larger
The recording layer becomes amorphous, and an amorphous mark is formed. Figure
3, the Sb / Te ratio is represented by Sb70Te
30Be higher than the eutectic point of (Sb / Te ≒ 2.33)
The thing is RcMeans larger and moves upward
I do. Curve “a” is fixed to a disk having a normal configuration as shown in FIG.
Cooling rate of recording layer when pulse strategy is applied
Represents the linear velocity dependence during recording. Curve b is the same
Only the reflective layer of the disk is changed to a composition with a high heat dissipation
In this case, the heat radiation effect is enhanced. Curve b is above curve a
Is more likely to form an amorphous mark.
Call At high linear velocities, the cooling rate originally becomes amorphous in the recording layer
Critical cooling rate RcAmorphous formation to be larger enough
The difference in the heat dissipation effect of the reflective layer on the
Degree, the cooling rate of the recording layer decreases as a whole, and RcNearby
Effect of the reflective layer on amorphous formation
Becomes noticeable. On the other hand, these curves show that the recording layer has the erasing power P
e when re-crystallized between marks by the recording light of e
The reciprocal of the time τ during which the recording layer is maintained at or above the crystallization temperature 1 /
It can also be regarded as the linear velocity dependence of τ (vertical axis on the right side in FIG. 3).
The critical crystallization time τ is determined by the recording layer material.
cIf larger, ie 1 / τ <1 / τcIf non
The crystalline mark will be sufficiently recrystallized and erased.
You. A single period consisting of 3T mark and 3T space
After recording the signal, it consists of 11T mark and 11T space
3T mark when overwriting a single period signal
If the erasing ratio is 25 dB or more, usually 1 / τ <1 / τ
cIt becomes. In the present invention, overlay at high linear velocity
1 / τ <1 / τ so that sufficient erasecSatisfied
At the same time, the cooling rate γ at a low linear velocity is γ> RcSatisfied
Curve c that satisfies the conflicting demands
It is important to have the property, therefore, the composition of each layer and
It is necessary to choose the thickness. Curve c is 4x speed
If less than (4X), the decrease in the cooling rate of the recording layer is compensated.
You can see that Note that the curve c is applied to the medium of the curve b as described later.
Easily achieved when using the preferred pulse division method
Can be achieved. From the above point of view, as a material for the reflective layer
Is Al or Ag which has high thermal conductivity and large heat dissipation effect
It is preferable to use an alloy mainly composed of Reflective layer ratio
Heat is pure Al and pure A for alloys containing Al or Ag as the main component.
g, almost changed by trace element addition and thinning
It is not considered. Therefore, the heat dissipation effect is the heat conduction of the reflective layer.
Depends on rate and thickness. In general, the thermal conductivity of a thin film is determined by the bulk heat
It is very different from conductivity and usually smaller.
And the thermal conductivity is reduced by more than one order of magnitude due to the island structure at the beginning of growth.
Sometimes it gets cheaper. Furthermore, depending on the film formation conditions,
And the amount of impurities are different.
Become a factor. Here, the quality of heat conduction depends on the electrical resistance.
Can be estimated by using
A reflective film having a high thermal conductivity as shown can be defined. metal
Materials in which electrons are mainly responsible for heat or electrical conduction, such as films
The thermal conductivity and the electrical conductivity have a good proportional relationship
Because there is. The electrical resistance of a thin film is determined by its thickness and measurement area.
Is expressed by a resistivity value standardized by the area of. Volume resistivity and surface
The product resistivity (resistivity) can be measured by the usual four-probe method.
Specified by SK 7194. This
Much more than actually measuring the thermal conductivity of the thin film
Data that is simple and has good reproducibility can be obtained. Heat dissipation of reflective layer
The effect is indicated by the product of the thermal conductivity and the film thickness.
The effect can be defined by the sheet resistivity. The present invention
In other words, the area resistivity of the reflective layer is 0.2 to 0.6 Ω / □,
In particular, it is preferably 0.22 to 0.55 Ω / □. A preferable reflection layer has a volume resistivity of 15%.
It has 0 nΩ · m or less, especially 100 nΩ · m or less. one
On the other hand, materials with extremely low volume resistivity are substantially
Usually, it is 20 nΩ · cm or more, because it is difficult to obtain. The thickness of the reflection layer is usually 40 to 300 nm,
Preferably it is 50 to 200 nm. Too thick
Although the drag coefficient can be lowered, sufficient heat radiation effect cannot be obtained.
Not only that, but the recording sensitivity tends to deteriorate. Simply for thick films
Heat capacity per unit area increases, and it takes time
Because the heat radiation effect is rather small
it is conceivable that. In addition, in such a thick film, the time for forming the film is long.
And the material cost tends to increase. Also, the film thickness is small
If too long, the effect of the island structure at the early stage of partial film growth is likely to occur
In addition, the reflectance and the thermal conductivity may decrease. As the material of the reflection layer, an Al alloy or an Ag alloy
Can be mentioned. The material of the reflective layer suitable for the present invention
More specifically, Al, Ta, Ti, Co, C
r, Si, Sc, Hf, Pd, Pt, Mg, Zr, Mo
And at least one element selected from the group consisting of
Al alloys containing These alloys
Is known to improve hillock resistance
In consideration of durability, volume resistivity, deposition rate, etc.
Can be. The content of the above elements is usually 0.1 to 2 atoms.
%, Preferably 0.2 to 1 atomic%. Al alloy
Therefore, if the amount of added impurities is too small, the
However, hillock resistance is often insufficient. Also,
If the amount is too large, it is difficult to obtain the above low resistivity. As an Al alloy, Mn is 0 to 2% by weight,
i is 0 to 2% by weight, Mg is 0.5 to 2% by weight, Ti is 0% by weight.
Al alloy containing up to 0.2% by weight can be used
You. Mn is inevitably mixed in the manufacturing process of Al alloy
Among the harmful elements, for Fe, which is very difficult to completely remove
And Al6Mn dissolves Fe to form FeAlThreePrevent precipitation
To prevent a decrease in corrosion resistance derived from Fe.
It is effective. However, Mn itself is contained in a large amount.
And Al in the reflective layer over time6Mn precipitates and thermal conductivity
May cause changes over time, so its content is
Usually not more than 2% by weight, more preferably not more than 1% by weight.
You. Si is effective in suppressing fine peel defects,
If the content is too large, the thermal conductivity may change over time.
Therefore, usually 2% by weight or less, preferably 1.5% by weight
The following is assumed. Mg improves the corrosion resistance of the reflective layer
However, the thermal conductivity changes over time due to too much content
2% by weight or less, preferably 1.5% by weight
% Or less. Ti causes fluctuations in sputtering rate
It has the effect of preventing, but if the content is too large, heat conduction
As well as reducing Ti
It becomes difficult to cast the solid solution bulk, and the target cost
Is usually increased to 0.2% by weight or less. Further, as another preferred example of the reflective layer material,
Represents Ti, V, Ta, Nb, W, Co, Cr, S
i, Ge, Sn, Sc, Hf, Pd, Rh, Au, P
selected from the group consisting of t, Mg, Zr, Mo and Mn
Ag alloys containing at least one element can be mentioned.
Wear. When the stability over time is more important,
Preferably, Ti, Mg or Pd is used. Content of the above elements
Is usually 0.2 to 5 atomic%. In the present invention,
By using such a high thermal conductivity reflective layer material,
A relatively thin reflective layer of 300 nm or less,
Resistivity in the range where the resistivity is appropriately small, 0.2-0.6Ω / □
It can be a radiation layer. Addition of impurity elements to Al,
Proportionate to the concentration of addition of impurity element to Ag
Then, the volume resistivity usually increases. Of impurities
Addition generally reduces the crystal grain size and reduces electron scattering at the grain boundaries.
It is thought that the thermal conductivity is decreased by increasing the thermal conductivity. Follow
Therefore, adjusting the amount of added impurities increases the crystal grain size.
Is important to obtain the original high thermal conductivity of the material.
You. The reflection layer is usually formed by sputtering or vacuum evaporation.
It is formed by the method,
Total imperfections, including the amount of pure matter and the amount of moisture and oxygen
It is preferable that the amount of the pure substance is less than 2 atomic%. For this
When forming the reflective layer by sputtering, the process
The ultimate vacuum of the chamber is 1 × 10-3Less than Pa
Is desirable. Also, 10-FourAttained vacuum lower than Pa
When forming a film, the film formation rate is 1 nm / sec or more, preferably
Prevents impurities from being taken in at 10 nm / sec or more
It is desirable. Alternatively, one intentional additional element
%, The deposition rate is 10 nm / sec or more
It is desirable to minimize the additional impurity contamination. When the crystal grain size changes depending on the film forming conditions
There is also. For example, about 2 atomic% of Ta is mixed in Al.
In an alloy film, an amorphous phase is usually mixed between crystal grains.
The ratio between the crystalline phase and the amorphous phase changes depending on the film forming conditions. for example
For example, the lower the pressure, the greater the percentage of crystal parts
The product resistivity decreases (thermal conductivity increases). Impurities in the membrane
The composition or crystallinity depends on the alloy target used for sputtering.
It is also used for the production method of sputtering and sputtering gas (Ar, Ne, Xe, etc.)
Dependent. That is, the volume resistivity in the thin film state is a metal material,
It is not determined only by the composition. To obtain high thermal conductivity
It is desirable to reduce the amount of impurities as described above.
On the other hand, pure metals such as Al and Ag are
Because they tend to be inferior to
The optimum composition is determined. In order to obtain higher heat conduction and higher reliability
It is also effective to make the reflection layer multilayer. In this case,
At least one layer has a thickness of 50% or more of the total reflection layer thickness.
It is preferable to use a material having the above low volume resistivity. This layer
Practically controls the heat radiation effect, and the other layers
It is configured to contribute to the improvement of adhesion and hillock resistance.
You. For example, the highest thermal conductivity and lowest volume resistivity among metals
Ag is incompatible with the upper protective layer containing sulfur, and
Degradation is slightly faster when overwriting
There is a direction. In addition, corrosion occurs in an accelerated test environment of high temperature and humidity.
In this case, the reflective layer containing Ag
As an interface layer between the upper protective layer and the reflective layer containing Ag,
It is also effective to provide an alloy layer mainly composed of thin aluminum
It is. As the Al alloy, for example, Ta,
Ti, Co, Cr, Si, Sc, Hf, Pd, Pt, M
g, Zr, Mo and Mn.
Al alloy containing at least 0.2% by atom and less than 2% by atom
Is mentioned. If the thickness of the interface layer is too thin, the protective effect will
Insufficiently, if too thick, the heat radiation effect tends to be insufficient.
So usually 5 to 100 nm, preferably 5 to 50 nm
is there. On the other hand, the thickness of the layer containing Ag is usually 10 to 200 n.
m. If it is too thin, the heat radiation effect may be insufficient.
If it is too thick, erasure tends to be insufficient. Further, the reflection layer containing Ag and the field containing Al
When a surface layer is used, Ag and Al relatively diffuse with each other.
It is easy to oxidize the surface in contact with Ag of Al
It is even more preferred to provide a passivation layer. Interface oxide layer is thick
If it is too much, it becomes thermal resistance, the original purpose, extreme
Function as a reflective layer with high heat dissipation
The thickness is usually 10 nm or less, preferably 5 n
m or less. On the other hand, if it is too thin,
Since the structure may be insufficient, it is usually 1 nm or more.
I do. Such an interface oxide layer forms an interface layer containing Al.
Leave in air for 1 minute to 100 hours after forming
Can be achieved. The multilayer structure of the reflection layer can be achieved by using a high volume resistivity material and a low
A desired area with a desired film thickness by combining volume resistivity materials
It is also effective for obtaining resistivity. That is, for alloying
Volume resistivity is controlled by the use of an alloy target.
The putter process can be simplified, but the target manufacturing cost,
It is also a factor that raises the raw material ratio of the medium.
In some cases, the thin film of pure Al or Ag may be
Obtain the desired sheet resistivity by multilayering the elemental thin film
It is effective. If the total number is up to about 3 layers,
Equipment costs increase, but individual media costs
In some cases, it can be suppressed. In the present invention, the compatibility with a CD is further improved.
It is necessary to consider the configuration of the groove provided on the substrate to secure
It is necessary. The track pitch of the groove is usually 1.6 μm ± 0.
It is about 1 μm. The depth of the groove is usually 30 to 45 nm.
However, it is particularly preferably about 30 to 40 nm. Groove depth
Is too large, the push-pull value after recording will increase.
Tends to be too much. Also, the radial contrast after recording
Default value becomes too large compared to the value before recording,
There may be problems with qualification. On the other hand, if the groove depth is too small,
Trust book and push-pull value are orange book part
3 below the lower limit of the CD-RW standard.
There is. Also, the effect of confining the recording layer by the groove wall is low.
Deterioration due to repeated overwriting
It is in. Furthermore, if the groove depth is too shallow, stamper manufacturing
Also, it becomes difficult to form the substrate. Within the above range
Therefore, the reflectivity in the groove becomes sufficiently high, and the CD-RW standard
15%, which is the lower limit of
The amplitude PPa of the push-pull does not become too large.
Gain of push-pull detection circuit even in uneven pit reproduction circuit
Can be reduced. Groove width
Is usually 0.4 μm or more, preferably 0.45 μm or more
And usually 0.6 μm or less, preferably 0.55
μm or less. Radial after recording if the groove width is too small
Meets the standard value of the absolute value of contrast being less than 0.6
It becomes difficult to do. Also, if it is too big, the existence of wobble
The resulting deterioration of overwrite durability becomes remarkable.
There is a tendency. It is to be noted that durability degradation is promoted by the presence of wobbles.
Although the mechanism of advance is not always clear,
In order for a part of the beam to be easily irradiated to the side wall of the groove,
It is thought that there is not. That is, the tracking servo
The focused light beam does not follow the wobble meandering
To go straight through the center, if there is a meandering groove wall,
The beam is slightly irradiated to the groove wall.
Stress concentration occurs at the groove wall and groove corner where the thin film adhesion is poor.
Due to thermal damage during repeated overwriting due to pans, etc.
Light beam
It is thought that if even part of
You. In general, deep grooves and narrow grooves are used for recording in a groove of a phase change medium.
Tend to be more durable,
If the groove width is too narrow,
It is considered that the deterioration phenomenon of the part becomes remarkable. The groove width and the groove depth are, for example, 633 wavelengths.
Light by U-groove approximation by He-Ne laser light of nm
It can be determined by chemical diffraction. In addition, scanning electron microscopy
The groove shape can be measured with a mirror or a scanning probe microscope.
Wear. In this case, the groove width is usually set at half the groove depth.
It is better to use a value. The optical recording medium of the present invention will be described later.
Such a recording by the CAV method is possible. That is, the book
The medium of the present invention is designed so that the data recording is performed at the radius of the recording area.
It can be performed with the rotation speed constant regardless of the position. This
In the case of, reproduction can also be performed at a constant rotation speed
However, preferably, recording and reproduction are performed at the same rotational speed. [0077]4. General recording method In the present invention, the rewritable optical recording medium
At least 8x speed, especially 8x and 10x speed, or
8x speed and 4x speed, and 4x speed, 8x speed and 10x speed
It is preferable to perform recording at a high speed. In this case,
Overwriting can be performed by the simple pulse division method (I).
it can. As a result, compatibility with existing CD playback systems
However, it is possible to record a good signal. That is, EFM transformation
Key information recorded with multiple mark lengths
When the time length of one recording mark is nT
(T is a reference clock cycle, n is an integer from 3 to 11),
Between recording marks, an erasing pattern that can crystallize amorphous
The recording light of the power Pe is irradiated, and the recording mark is
Of the time length (n−j) T of α1 T, β1 T, αTwo T, βTwo T, ..., αmT,
βmT, Where m = n−1 or m = n−2 in order.ii
+ Βi) = N-j (j is a real number satisfying 0.0 ≦ j ≦ 2.0)
Split so that ΑiRecording within the time T (1 ≦ i ≦ m)
Pw> Pe, preferably Pw = Pe, to melt the layer
The recording light with a recording power Pw of /0.3 to Pe / 0.6
Irradiate, βi0 <Pb within the time T (1 ≦ i ≦ m)
Irradiating recording light with a bias power Pb of ≦ 0.5 Pe
To perform overwriting. M in this pulse division method
= N-1, the power specified in the current CD-RW standard
It is equivalent to overwriting by the Rus division method
This is preferable for compatibility with existing circuits. In the above description, the length of the mark to be formed is
Section jT can be set for accurate control
You. The interval jT is usually the beginning of the divided pulse and / or
Added to the end, during which recording light of erasing power Pe
Is irradiated. Bias power Pb is required for reproduction of reproduction light
It is preferably substantially the same value as the reproducing power Pr,
Normally, the value is 1.5 mW or less, particularly 1.0 mW or less.
You. As long as there is no problem with focus or tracking servo
As close as possible to 0, the Pb irradiation section (off-path
Quenching effect of the recording layer in the
New Note that the values of Pw, Pe and Pb are not always the same.
It does not need to be constant, for example, VTendegree
To stabilize the operation of the laser
Can be Pw, Pe and Pb in this case are
These are the average values. FIG. 1 illustrates the above pulse division method.
It is a figure, (a) mark length modulation data and it is recorded
When m = n−1 in (b),
(C) shows the case where m = n−2. (B), (c)
Then, T to be applied after α and β to simplify the figure
Is omitted. In the above recording method, at least m =
If overwriting is possible at n-1, CD-R
Good overwriting while maintaining compatibility with W standard
I can. That is, the EFM modulation signal was overwritten.
The subsequent signal characteristic is the modulation degree m described above.11Is more than 60%
Compatible with CDs when the measurement is near 0, and further playback
The jitter of each mark and inter-mark (space) of the signal is 3
5nsec or less (at 1x speed playback), and mark length and
The interval between peaks is almost nT × V (T is the data reference clock cycle.
Period, n is an integer from 3 to 11, V is the linear velocity during playback)
It is possible to maintain a recording quality having a length. this
Is actually a commercially available C-RW disc
D-ROM drive can play back at low error rate
Means In the above description, the measurement of the jitter
After passing the signal through the high-pass filter, the center of the signal amplitude
The threshold value is used as a threshold value to detect and detect the mark length in the DC slice.
For the media of the present invention, preferably m = n-1 and m =
Over any of n-2 pulse division methods
Write. The medium of the present invention can be used as described below.
It can be recorded at various linear velocities. At this time,
However, usually, a mark having a length of nT is divided into a plurality of pulses and recorded.
Irradiate recording power Pw and bias power Pb alternately
The pulse division method as shown in FIGS. 1B and 1C is adopted.
The optimal value of the parameter that determines the specific method
Generally varies depending on the linear velocity. Therefore,
For a bright medium, the optimum recording power P according to the recording linear velocity
w0, Optimal erasing power Pe0, Optimal bias power Pb
0And αi(I is at least one of 1 to m), βi(I is 1
To at least one of m), pulse division information such as division number m
It is recommended that at least one of the
Good. The recording medium of the present invention is 4
Overwrite at any linear speed from double speed to 10 times speed
Characteristics can be determined almost uniquely. That is, in FIG.
4 times the curve c, taking into account the recording pulse strategy
Cooling speed required for the medium, defined at 10 times speed
Degree Rc and the retention time τ for crystallization almost
It is nothing more than a decision. Then, at least between 4 and 10 times speed
Any linear speed, preferably any linear speed up to 1x speed
A conventional CD-R as a rewritable optical recording medium.
At the same time that good playback becomes possible with a W playback system
Should be easily compatible with media and drives
Can be. [0083]5. Recording method by CLV method Next, a recording method according to a third aspect of the present invention will be described.
I do. As described above, conventionally, high-speed recording has been performed in CD-RW.
One of the reasons why recording could not be performed was that the CD-RW standard
Is a strict recording pulse strategy (pulse division method)
I mentioned what was stipulated. That is, CD-RW rules
Case Orange Book Part 3, version 2.0,
From the 4x speed with the recording pulse strategy shown in FIG.
A wide range of linear velocities from 8 to 10 times speed or higher
Must be recorded. However, phase change media
The mark length modulated information is stored in multiple mark lengths and marks.
When recording by interval length, generally a fixed recording pulse
In the strategy, the ratio of the maximum used linear velocity to the minimum used linear velocity is
The limit is about twice. Therefore, the recording method of the present invention is 1 to 10 times
Constant linear velocity over a wide range of linear velocity
CLV (constant linear velo)
(City) method, the above pulse
The following three types of pulse division methods according to the division method (I)
Apply according to the linear velocity. Rewriting with phase-change recording layer
EFM-modulated information on multiple optical recording media
One record when recording by length and mark length
Assuming that the time length of the mark is nT as described above,
Between the peaks, the erasing power P that can crystallize the amorphous phase
e, irradiate the recording light of e.
The time length (n−j) T of α1 T, β1 T, αTwo T, βTwo T, ..., αmT,
βmT, (However, m = n-1 or m = n-2)i
i+ Βi) = N−j (j is 0.0 ≦ j ≦ 2.0)
(Real number)iWhen T (1 ≦ i ≦ m)
Pw> Pe for melting the recording layer within the interval, preferably
In other words, the recording power where Pw = Pe / 0.3 to Pe / 0.6
Irradiate recording light of Pw, βiTime T (1 ≦ i ≦ m)
Within the range of the bias power Pb satisfying 0 <Pb ≦ 0.5 Pe
Overwrite by irradiating the recording light,
1.2m / s to 1.4m / s as the reference speed (1x speed)
And 231 ns is the reference clock cycle at that time.
Come (1) At 4 × speed, α1 = 0.3-1.5, αi
= 0.2-0.7 (2 ≦ i ≦ m), αi+ Βi-1 = 1
1.5 (3 ≦ i ≦ m). (2) At 1 or 2 × speed, α1 = 0.05-1.
0, αi= 0.05-0.5 (2 ≦ i ≦ m), αi+ Β
i-1 = 1 to 1.5 (3 ≦ i ≦ m). (3) At any of 6, 8, 10 and 12 times speed
And α1 = 0.3-2.0, αi= 0.3-1 (2
≦ i ≦ m), αi+ Βi-1 = 1 to 1.5 (3 ≦ i ≦ m)
And In the above recording method, each linear velocity
And αi(2 ≦ i ≦ m) and / or α i+ Βi-1 (3 ≦
i ≦ m) takes a substantially constant value regardless of i.
Is preferable, and as a result, a simple
A source generation circuit can be used. In that respect,
In each of the above linear velocities (1) to (3), αi+ Βi-1But
2 ≦ i ≦ m, preferably constant at about 1 regardless of i
No. Also, the leading pulse α1The subsequent pulse αi(2 ≦ i
≦ m), especially αi/ Α1= 0.3-0.
7, preferably 0.4-0.7, 3T, 4T, etc.
Short marks and long marks of 5T or more
Record in the peak length, and make the asymmetry close to zero.
it can. This is particularly effective at 4 times speed or higher. Up
In each of the linear velocities (1) to (3), β1 And βmIs German
It can be selected as a stand-alone parameter and can be varied.
The values are each preferably 0 to 1.5, more preferably
Or 0.25 to 1.25. Also, Pw, Pe,
And Pb need not always be constant, for example,
α 1T or αmThe power P of the recording light applied to the section T
w and αiRecording to irradiate a section T (i = 2 to m-1)
The light power Pw may be different from the power Pw. The division number m of the recording pulse is as described in the above (1) to (4).
At each linear velocity in (3), either n-1 or n-2
This may be selected, but is shown in FIG.
As shown in FIG.
As shown, the number of divisions m
Can be changed according to the linear velocity. The above description of the present invention
In the recording method, at each linear velocity used, the recording pulse
Width αiT (i = 1 to m) and off-pulse section βiT (i
= 1 to m-1) are 10 ns or more, especially 15 ns.
It is desirable to be no less than no seconds. αiT or βiT is small
Too much, the recording laser in the current ordinary recording device
-Rise and fall times are at least a few nanoseconds
Is necessary, making accurate control of the pulse difficult.
Sometimes. Therefore, the reference clock cycle T is 12 times faster.
19.3 ns, especially 10x speed
It is preferably up to 23.1 ns. In addition, off pulse
Section βiIf T (i = 1 to m-1) is too small, the recording layer
Cooling rate may be insufficient. The current CD-RW medium is accurate at 4 × speed.
The recording pulse division method (α1 = 1, αi= 0.5
(I = 2 to m), αi+ Βi-1 = 1 (i = 2 to m), β
m= 0.5) If you can't record a CD compatible signal
No, but please add a correction of about ± 0.3T on the recording device side.
Good properties can be achieved without significant equipment improvements
Noh. Therefore, at 4 × speed, as shown in (1)
α1 = 0.75-1.25, αi= 0.2-0.7 (2
≦ i ≦ m), αi+ Βi-1 = 1 to 1.5 (3 ≦ i ≦
m). 1 or 2x speed which is lower than 4x speed
In the above, α in (2) above1 = 0.05-1.0, αi
= 0.05-0.5 (2 ≦ i ≦ m), αi+ Βi-1 = 1
To 1.5 (3 ≦ i ≦ m, preferably 2 ≦ i ≦ m)
By adopting a pulse division method, the recording pulse Pw
The width is reduced and the accompanying off-pulse Pb irradiation section (off-pulse
Recording section cooling at low linear velocity
Suppress the decrease in speed and re-solidify the molten recording layer at low linear speed.
Suppresses recrystallization during solid time,
Amorphous marks having almost the same width and length can be obtained. The linear speeds 6, 8, 10 and 4 which are higher than the quadruple speed
At any linear speed of 12-times speed, α in (3) above
1 = 0.3-2, αi= 0.3-1 (2 ≦ i ≦ m), α
i+ Βi-1 = 1 to 1.5 (3 ≦ i ≦ m, preferably 2 ≦
i ≦ m), the recording is performed by using a pulse division method.
Pulse αiThe width of T is increased, and the recording layer melts at high linear velocity.
By providing sufficient recording power for fusion,
Amorphous mask with almost the same width and length as 4x speed overwrite
Work. Here, the method of (3) is not limited to 10 times speed.
Applicable to the above linear velocities, but at higher linear velocities the relative
The reference clock cycle becomes shorter,
Normal control is usually 20x speed because accurate control may be difficult.
Or less, preferably 12 times or less, more preferably 10 times
Applies to linear velocities below speed. Set the division number m to any linear velocity
Even if it is constant at m-1 or n-21 = About 1, α
i= 0.3 to 0.6 (2 ≦ i ≦ m), and αi
+ Βi-1 (3 ≦ i ≦ m, preferably 2 ≦ i ≦ m)
And lower linear velocity αiMonotonically decreases (but only
(I is an integer of 2 to m) is preferable for simplification of the circuit.
No. Also, at any linear velocity used, α1T and
And αiT (i = 3 to m) and αi+ Β i-1 (Where i is
(An integer of 3 to m) is more preferably made constant. here
αiIs preferably about 1, but about 0.9 to 1.1
It should just be in the range of. In the recording method of the present invention, βmIs
A constant value may be used at any linear velocity.i
(I = 1 to m) or βi(I = 1 to m-1) is fixed
Leaving βmOnly at the higher linear velocity.
It is also preferable to cut. In this case, on the high linear velocity side, βm
= 0. Note that the pulse generation times on the recording device side
In order to simplify the road, m is n-
It is desirable to unify with either 1 or n-2. 4
At high linear speeds exceeding double speed, the data reference clock period T
Apply the same pulse division method as 4x speed
For example, at 8 × speed, usually 0.5T ≒ 15n
sec, 10T speed is 0.5T ≒ 12nsec,
The recording laser pulse generation circuit must be extremely fast
It is difficult to follow. Therefore, at a linear velocity exceeding 4 × speed,
Sets the pulse division number to m = n-2 and increases each pulse width.
Then αi+ Βi-1 (3 ≦ i ≦ m) is about 1 to 1.5
Then α1From 1.2 to 2, αi0.5 to 1.0 longer
Preferably, the response speed of the recording laser is preferable. In particular
It is effective at 8 times speed or higher. Normally, 4x speed or less
Is preferably Pe / Pw = 0.3-0.6 at the same linear velocity.
Or keep the Pe / Pw ratio constant in the range of 0.4 to 0.6
Wider recording power mer by setting Pe and Pw
Gin can be obtained. However, at linear speeds higher than 4x speed,
Pe and Pw are set independently, and optimum power is obtained at each linear speed.
Sometimes it is better to decide. 4x speed or higher
Optimum value Pw of PwoIn order to decide
Test writing was performed with the recording light of recording power Pw, and FIG.
Asymmetry value and degree of modulation m11Is within a predetermined range
Optimal recording power Pw with recording power PwoTo do
Can be. In this case, the obtained optimum recording power Pwo
The actual recording is performed by using the recording light. Note that the above
Suitable recording power PwoThe asymmetry value to determine
Modulation degree m11The range of
To be written on the medium as a signal
it can. Note that a preferred embodiment of the recording method of the present invention is
In order to simplify the pulse division circuit,
At least 8x speed, and in some cases up to 10x speed
Use the Ruth division method. Specifically, the division number m is n-1
Alternatively, it is fixed at n−2. More preferably αi(I is 1
To an integer m) is the same at any linear velocity. This
At any linear velocity, αi+ Βi-1(I = 2
To m) is 1 and αiIt is particularly preferable that
Good. FIG. 5 shows a pulse generation method in the recording method of the present invention.
It is explanatory drawing of an example of a method. (A) is a clock signal,
(B) is a mark length modulated data signal,
(C), (d) and (e) show the values of 3 in the recording pulse generation circuit.
Gate signal generated from a kind of gate generation circuit
1, Gate2 and Gate3. These three games
By determining the priority of the
A division method can be achieved. Gate 1 is a recording pulse generation section
Interval α1 T only, Gate 2 is the subsequent pulse αiT (2 ≦
i ≦ m) is determined at a predetermined timing. This
Where the pulse width α iIs a constant value α at 2 ≦ i ≦ mcToss
You. Gate 3 is an off-pulse generation section β iGenerate T
You. Pb is generated while Gate3 is on (high level)
Then, Pe is generated during the off state (low level). Α1 Only the rising timing is independent
To decide, β1 To βiCan be different from
Wear. Synchronize the rising of Gate3 and Gate1
Is good. Gate1 and Gate2 each have Pw
However, when Gate 1 and Gate 2 are on, Gate
Take priority over 3. Gate1 delay time T1 And α1 , Ga
te2 delay time (T 1 + TTwo ) And αcIf you specify
By specifying the pulse strategy in the recording method of the present invention
Wear. Where T1 Is 1T or more, if FIG.
It becomes a pulse when m = n-1 and it is succeeded as less than 1T
If the number of pulses is reduced by one, m = n−2 in FIG.
It becomes a pulse in the case. Or βm-2≧ 1.0
You may do it. In this case, β1 Is α1 , T1 And TTwo Pair of
By combination, βmIs independent at the end of Gate3
Can be treated as a parameter. In FIG. 1 (c), α
i+ Βi-1 To generate = 1 to 1.5, generate at Gate2
Let αiIs 1 to 1.5. α
i(I = 1 to m) and the like represent the data reference clock T or
Is synchronized with the base clock of 1/2, 1/4, etc.
By generating the reference clock T at a predetermined multiple,
Easier actual pulse width by following changes in T according to linear velocity
Can be changed to The recording method described above is widely used for CD-RW media.
Although generally applicable, the first or second aspect of the present invention
When used for media related to
This is preferable because the performance is improved. In particular, recrystallization at high linear velocity
Combination of a high-speed recording layer and a layer configuration with particular attention to thermal effects
Combined, α at 1x speediGood T when T is 10 nanoseconds or more
It is desirable that bar lights can be used. More preferred
K is αiGood overwriting when T is 15 nanoseconds or more
It is possible. The reason is that at 1x speed of low linear speed,
Interval βiT is increased and the recording pulse section is αiShorten T
However, at 1x speed, the minimum is 0.05T ≒ 12nsec.
More than thisiThis is because it is difficult to shorten T. [0096]6. Recording method by CAV method Next, a recording method according to the fourth and fifth aspects of the present invention.
The method will be described. This is only in the conventional CLV mode
CD-RW that has been recorded can be recorded in CAV mode
Function, which always requires rotation synchronization
Access and seek, which are the weak points of CD-RW media
It significantly improves poor performance. Special
In the random packet recording,
Access to the computer efficiently
The convenience as a medium for an external storage device is greatly increased. Ma
In addition, in CLV, the motor acceleration and
It consumes a lot of power for deceleration, but it is not necessary
There is also an advantage that the power consumption of the drive can be greatly improved. The CD-RW is usually a disc having a diameter of 12 cm.
With a radius of at least 23 mm to 58 mm,
Preferably, the recording area (information
Area). This is quadrupled at the innermost circumference of the recording area.
Rotate the disk at about 2000rpm to be equivalent
The linear velocity is 58 mm at the outermost circumference of the recording area.
It becomes almost 10 times speed. That is, the innermost circumference in the normal CAV method
Is set to 4 × speed, the outermost circumference becomes approximately 10 × speed. This and
And the data reference clock period T is a line at each radial position.
Inversely proportional to radial distance so that product VT with velocity V is constant
The mark length nT is one regardless of the rotational angular velocity.
And compatible with CD while recording in CAV mode
A certain linear density can be recorded. Here, the recording area
Used by the system other than the user data recording area
Includes test writing area, lead-in area, lead-out area, etc.
No. Therefore, at the radial positions of 22 mm and 58 mm,
In addition, an error of about ± 1 mm may be included. Ma
The frequency value used below corresponding to this tolerance
Etc., a slight shift occurs, which is also acceptable. Recording apparatus for realizing the recording method according to the present invention
FIG. 6 is a conceptual diagram showing an example of the configuration of FIG. In FIG.
The optical disc D1 has a carrier frequency f with a constant spatial frequency.L0To
Meandering according to the signal modulated by the address information
Having a substrate having a spiral groove formed therein and a recording layer,
A record that is a unit of record information at a predetermined position of a spiral groove
Address information for identifying a block and start of the block
It has a synchronization signal for identifying the position. In FIG.
Rewritable compact disc as optical disc
Is assumed, fL0= Address information at 22.05 kHz
Is fL0Is frequency-modulated at ± 1 kHz with the carrier frequency
ATIP information. The wobble has a linear velocity of 1.2.
When reproduced at a linear velocity of m / s to 1.4 m / s,
Carrier frequency f L0Meandering so as to be 22.05 kHz
Is formed by The optical disk recording / reproducing apparatus 1
It is a means to rotate at a constant angular speed around the center of the
A spindle motor M1 and a focused light beam for recording / reproduction.
Move the optical pickup that generates the beam to the specified address
Linear motor as the radial moving mechanism (LM1)
Data. The pickup PU1 has an optical disc
Focused laser beam with a laser diode as the light source
Focus servo circuit (FE1)
Scanning the focused light beam along the spiral groove.
Groove tracking servo circuit (TE1)
ing. The focus servo circuit includes the astigmatism method,
A known method such as the Ue method is used. Tracking server
Known methods such as push-pull method and three-beam method
(The above, "Compact Disc Reader" 3rd
Edition, see Ohmsha, Heitaro Nakajima and Hiroshi Ogawa) The optical disk recording / reproducing apparatus 1 further includes a groove
Row to carrier frequency fA0, Address information and block synchronization
A circuit (WAD1) for detecting and decoding a signal;
Clock start position and data reference clock T (frequency f
d0) In synchronization with encoders ED1 and ED2.
A circuit for generating a recording data sequence modulated with a peak length,
For modulating the recording laser power according to the recording data sequence
Road (WP1). The optical disk D1 is a motor M
1 is CAV driven. Discs, especially, semi
A linear velocity of 1.2 m at the innermost circumference of the recording area with a diameter of about 22 mm
/ S to 1.4 m / s 4 times speed, more preferably 1.2 m / s
1/2000 rpm so as to be 4 times as fast as / s
Rotation speed ω during0CAV rotation. CAV times
The rotation of the spindle motor M1 is monitored by a tachometer.
And feed back the error with the specified speed.
Thus, the rotation jitter is maintained with an accuracy within several%. Push through the amplifier / filter system AF1.
Reproduce the sprue signal P1, detect the wobble signal,
The synchronization signal and the address included after decoding the TIP signal
Decode the dress information. Address information and synchronization signal
The access / servo control CPU 1 refers to the CPU
In step 1, a predetermined address is controlled. Address move
Is the linear motion with the tracking servo TE1 turned off.
Radial movement by the coarse movement mechanism driven by the motor LM1;
Tracking servo on near predetermined address, ATI
Fine adjustment while referring to P address (PU1 objective lens
The fine adjustment of the inclination of the
It is. It has been confirmed that the specified address has been reached.
For example, the clock of the circuit CK1, which is the data reference clock generator,
Synchronize the lock and ATIP synchronization signals, and
Recording is performed on the P frame. CD-ROM data
For example, after encoding the ROM data with ED1,
Encoding as a CD is performed by ED2. The database
The bit sequence is still synchronized with the data reference clock,
The data train is further transformed into a recording pulse train in WP1.
Is over-driven by driving the laser driver LD1.
Write. Note that the reproduction is started after the arrival at a predetermined address.
Signal through the amplifier system AF1 and the RF signal binarization circuit system RF1.
And reproduce the data, the reference clock of the data and the EFM frame.
Data synchronization as CD with ED2 while synchronizing
The data as CD-ROM on ED1.
Performs data decoding. By the way, when recording in CAV mode,
As an optical recording method by pulse division, the pulse division method
The following two types according to the method (I) can be used.
First, a rewritable disc-shaped optical recording having a predetermined recording area
By rotating the medium at a constant angular velocity, the EFM-modulated information is
A method of recording with a plurality of mark lengths, wherein a linear velocity is 1.
Record 2m / s to 1.4m / s as reference speed (1x speed)
The linear velocity at the outermost circumference of the recording area will be at least 10 times faster
Rotate the disk to
When the length is nT (T is a reference clock cycle,
The product VT with the linear velocity V at that radial position becomes constant
As described above, T changes according to the radial position. n is 3 to 11
Amorphous between the recording marks
Irradiating a recording light with an erasing power Pe that can be
, The time length (n−j) T of α1 T, β1 T, αTwo T, βTwo T, ..., αmT,
βmT, (However, m = n-1, α1 = 0.75-1.25, αi= 0.25-0.75 (2 ≦ i ≦ m,), αi+ Βi-1 = 1 to 1.5 (3 ≦ i ≦ m,)) in order.ii+ Βi) = N
−j (j is a real number satisfying 0.0 ≦ j ≦ 2.0)
Split ΑiRecording within the time T (1 ≦ i ≦ m)
Pw> Pe to melt the layer, preferably Pw = P
recording light with a recording power Pw of e / 0.3 to Pe / 0.6
And βi0 <P within the time T (1 ≦ i ≦ m)
Irradiation of recording light with bias power Pb where b ≦ 0.5 Pe
And perform overwriting, and at any radius position
Also α1 , And αi+ Βi-1 (I = 3 to m, preferably
i = 2 to m) is constant and αi(I = 2 to m)
This is a method of monotonously decreasing. That is, the number of pulse divisions is fixed to m = n−1.
And α1 Is a value between 0.75 and 1.25, and α
i(I = 2 to m) is set to 0.25 to 0.75, and αi+ Β
i-1 (I = 3 to m) is set to 1.0 to 1.5, and
These are fixed regardless of the radial position. by this,
Only the reference clock period T with a simple circuit as shown in FIG.
The recording pulse can be easily generated by changing
You. Where αi(I = 2-m) and / or αi+ Β
i-1(i = 3 to m) is preferably a constant value regardless of i
No. Also, α1Is also fixed at a fixed value, especially 1.
Good. α1= 1 and αi+ Βi-1 = 1 (i = 2
m), all recording pulses αiT (i = 1 to
m) is generated in synchronization with the reference clock T,
The pulse generation circuit can be further simplified. This recording method is performed at 4 to 10 times speed.
The present invention capable of overwriting in a wide linear speed range
Especially when applied to rewritable compact discs
Good recording and reproduction can be performed. When recording in CAV mode
The second optical recording method is a rewritable type having a predetermined recording area.
Rotate the compact disc at a constant angular velocity to change the EFM
This is a method for recording adjusted information with multiple mark lengths.
Therefore, the linear speed of 1.2 m / s to 1.4 m / s is set to the reference speed (1
Double speed) and the linear velocity at the outermost periphery of the recording area is at least 1
The disk is rotated so that the speed becomes 0 times, and one recording is performed.
When the time length of the mark is nT (T is the reference clock
And the product V with the linear velocity V at the radial position
T changes according to the radial position so that T is constant.
You. n is an integer from 3 to 11), and between recording marks
Illuminates recording light with an erasing power Pe that can be crystallized as amorphous.
For the recording marks, the length of time
(N-j) T is α1 T, β1 T, αTwo T, βTwo T, ..., αmT,
βmT, (However, m = n-1, αi/ Α1= 0.3-0.7,
Especially αi/ Α1= 0.4 to 0.7 (where i is 2 to m)
integer), αi+ Βi-1 = About 1 (3 ≦ i ≦ m)) in order.ii+ Βi) = N-
j (j is a real number satisfying 0.0 ≦ j ≦ 2.0)
And ΑiRecording within the time T (1 ≦ i ≦ m)
Pw> Pe to melt the layer, preferably Pw = P
e / 0.3 to Pe / 0.6 recording power Pw (> P
e) and irradiate βi0 within the time T (1 ≦ i ≦ m)
The recording light having a bias power Pb satisfying <Pb ≦ 0.5 Pe
Irradiate and overwrite, and in any radius position
ΑiT (i = 2 to m) and αi+ Βi-1 (I = 3
To m, preferably i = 2 to m).
You. In this case, αiIs constant regardless of i (2 ≦ i ≦ m)
Then αi+ Βi-1 Is constant between 1 and 1.5 regardless of i
(3 ≦ i ≦ m), and α1 T, αiT (i =
2 to m), αi+ Βi-1 (I = 3 to m) regardless of the linear velocity
More preferably, it is fixed. αiFor T, linear velocity
Constant time T independent oftopAnd constant α1
And α1T = Ttop+ Α1'T. α1 T, α
iTo make T (i = 2 to m) constant regardless of the linear velocity
Is that the product of T and T increases monotonically as the linear velocity decreases.
So that α is constant1 , ΑiMonotonically decreases at lower linear speeds
Achieved with less. As a result, the lower the linear speed
The cooling rate of the recording layer can be increased and the pulse
The generation circuit is simple. The second recording method
In the law, "α1T or αiT (i = 2 to m) is constant
Means that the resolution of the set value of the divided pulse generation circuit is
About ± 10%
Is acceptable. In both the first and second methods, βm
May be constant or changed irrespective of the linear velocity. Strange
The lower the linear velocity, the βmIncrease
It is preferred that More preferably, virtual in the radial direction
Divided into multiple zones, βmChanges for each zone
Let it. Especially βmWithin the range of 0 to 1.5, immediately
The lower the linear velocity zone, the monotonically larger
Preferably thereby cooling the recording layer at low linear velocity
A decrease in speed can be prevented more effectively. This place
If β mIs too large, even at relatively low linear velocities
Incomplete erasing of the area between marks following the trailing edge
is there. βmRealizes the above pulse strategy to change
In order to achieve this, in FIG.
(Including adding a fixed delay) width α1 T's solid
One fixed-length pulse (Gate1) and the following width αiT
Multiple (i = 2 to m) fixed-length pulses (Gate 2)
Gate3 that determines the final off-pulse length while generating
Only the linear velocity needs to be changed. In addition,
As described in the description of the second aspect of the invention,
Α even at the radial position of the deviationiT (i = 1 to m) and β
iIt is preferable to set T (i = 1 to m-1) to 10 ns or more.
Good. In the above first and second methods,
-Β at maximum linear velocity during light mTo βHm, Lowest linear velocity
Β in degreesmTo βLmAs each overwrite line
Β in speedmTo βLmAnd βHmFrom the value of
It is preferred that Also, Pb, Pw and Pe / P
The w ratio should be constant regardless of the linear velocity during overwriting
Is preferred. In this case, information and recording power
Loose division information is recorded on the disc in advance by
Is preferably described as a groove deformation signal. The result
As a result, automatically select the optimal pulse strategy
Can be. As information to be described, for example, Pe /
Pw ratio, optimum recording power Pw0 , Optimal erasing power Pe
0 , Optimal bias power Pb0 , Α1 , Αi, Α1 T,
αiT, αi+ Βi-1 , ΒLm, And βHmAll or one of
It is the numerical value of the part. Here, the recording power information is an absolute value.
Optimal recording power Pw0 And Pw0 Decide
Parameter that is referenced in the trial writing
There may be. In the recording method of the present invention, the distance
Reference clock and reference clock period T of proportional data
There are various methods for generating the
The following (i) to (vii) can be considered. Here CL
Wobble carrier frequency f at 1x speed of V modeLOIs about 2
2.05kHz, innermost circumference of recording area in CAV mode
And the linear velocity at the outermost circumference are 4x speed and 10x speed,
Data reference clock is 196 times the carrier frequency.
Will be described as an example. Here, the carrier frequency fLOIs 2
An error of about ± 0.1 from 2.05 kHz can be tolerated. [Method of Generating Data Reference Clock]
(I)] The medium has the frequency fL0= About 2
A wobble having a carrier frequency of 2.05 kHz is provided.
With a spiral groove. This medium is a normal CLV mode.
CD-RW media for high-speed recording
You. The wobble of the wobble groove (meandering groove) is the carrier frequency fL0
= Constant at a frequency equivalent to about 22.05 kHz,
At the time of CAV rotation, according to the radial position, that is,
Carrier frequency of wobble reproduced according to the corresponding linear velocity
Number fAOChanges in appearance. And at the time of CAV rotation
Carrier frequency f of wobble reproduced at radial positionA019
By multiplying by six, the reference data clock cycle proportional to the radius
The wave number can be obtained. The data reference clock cycle proportional to this radius
If recording is performed in synchronization with the wave number, CAV mode
Mark length modulation recording at a constant linear density.
You. That is, the wobble signal is in the 1 × speed mode of the CLV rotation.
If the media is written on the substrate, CAV
The same magnification regardless of the radial position.
Generate a reference clock frequency to keep the spatial frequency constant
That is, the linear density can be kept constant. example
If the linear velocity at the innermost circumference of the recording area is 4x,
If the linear velocity in the circumference is 10 times faster, playback in CAV mode
Wobble carrier frequency fA0Is the recording area
Approximately 22.05 × 4 = 88.2 KHz at the innermost circumference, recording area
About 22.05 × 10 = 220.5 kHz at the outermost circumference
You. This is 196 times the frequency, about 17.287 MHz
(The innermost circumference of the recording area) and about 43.218 MHz (the recording area
(The outermost area) is the reference clock frequency of the data. this
In this case, the data reference clock cycle T is the innermost circumference of the recording area.
About 57.8 ns, about 23.1 ns at the outermost circumference of the recording area
ec. At intermediate radius positions, the radius
Generate a reference clock cycle of data that is inversely proportional to
Good. On the other hand, the wobble signal is usually an ATIP signal
Frequency is modulated at ± 1kHz by the actual frequency
The number is 22.05 kHz ± 1 kHz and the wobble signal
Is associated with about ± 4.5% variation. Like this
Multiply the current signal by a specified value and
In addition, when the clock cycle is obtained, the mark length is also ± 4.5%.
Deviation occurs. Usually marked
In a long record, this fluctuation is called a phase shift.
If the shift amount is close to 5%, correct demodulation may not be performed.
is there. Therefore, in such a case, frequency modulation is performed.
Carrier frequency f from the wobble signalA0Extract only
It needs to be multiplied by a certain number. The method is described below. First
As usual, rotate the disc while pushing
The wobble signal is reproduced by detecting the wobble signal. fA0Is mentioned above
Innermost radius RinTo outermost radius RoutNiwatta
132.3 from 88.2 kHz to 220.5 kHz
kHz, and the reference clock of the data changes accordingly.
Also changes from 17.287 MHz to 43.218 MHz
Become (Repetition frequency of 11T mark and space
Varies from about 786 kHz to 1.96 MHz
). Then, the above fA0Including as much as possible
Use a narrow band filter or low-pass filter to
Cuts data components mixed with the sprue signal. Next
The radius R at which the pickup moving in the radial direction is located
Is obtained from the drive train, synchronized with this, and approximately fA0
Frequency f for predictingR0(KHz) into the following equation
Therefore it is generated.   fR0= 88.4 + 132.3 x (RRin) / (Rout-Rin(3) And the predicted frequency fR0The reference frequency in a small area around
Carrier frequency f while sweepingA0Extract (tune)
The carrier frequency fA0Can be easily detected. 1
By multiplying by 96, the reference data according to the disc radius
The clock is obtained. Usually, ± 1 kHz modulation is used.
Address information on the disc is grouped as ATIP information.
The carrier frequency fA0Using
Detects ATIP information by frequency-detecting the wobble reproduction signal
And confirm the address recorded in absolute time in the subcode
And a synchronization (sync) pattern included in the ATIP signal.
Establishes data synchronization from. That is, synchronization of the ATIP signal
Data reference clock synchronized with pattern and disk rotation
Get Then, in synchronization with the synchronization pattern, the specified
Overwrite user data to EFM frame
A recording pulse train to be generated is generated and recording is performed. FIG.
(A) has a predetermined value in the CAV mode according to the method (i).
Address, and extract the wobble carrier frequency
4 shows an example of a flow for generating a quasi-data clock. In addition,
In FIG. 7A, the dotted line indicates fA0And fd0Signal flow
This does not indicate the work flow. First,
Steps are the same as for a CD that is played back in the normal CAV format.
In step A1, the tracking servo is turned off,
Move to a predetermined radius by coarse movement of the linear motor in step A2
And a track cross signal is sent in step A3.
Step A
4 near the count required to reach the target track
It is determined that the
Apply the servo. Next, in step A6, push-pull
Regenerate wobble signal from signalA0Is extracted. This and
And, if necessary, determined by equation (3) above;
Wobble transport around the track at a certain radius
Predicted wave number fR0Tuning with reference toA0Extract
Put out. fA0After or simultaneously with the extraction, go to step A7
Demodulates the ATIP information, and extracts the
Reads time information. In step A8, the absolute time
The address where you want to record data while referring to
Go to In step A9, fA0196 times
The reference clock signal f of the obtained datad0And ATIP information
Recording while synchronizing the sync pattern included in
A recording pulse train based on the EFM data to be generated is generated.
At step A10, overwriting is performed. As described above, the address information and the synchronization pattern
Although the case where it is recorded as IP information has been described,
Used in minidisc (MD) instead of ATIP information
ADIP (Address In Pregr)
oove) Information ("All about MD", Masayuki Kawamura,
When it is recorded as Dempa Shimbun (1998))
This flow can be used in exactly the same way. In general, 1
Since frequency multiplication of 00 times or more involves an error, the following (ii)
Or the data reference clock using the method (iii)
It is also possible to increase the accuracy of the frequency. [Method of Generating Data Reference Clock]
(Ii)] media at the address where the recording of the medium is to be performed;
Time information mm: ss: ee (mm minutes, ss seconds, ee
From the meaning of the frame)
Find out. The time length of one frame of the ATIP signal is
Normally corresponds to the reciprocal of the frequency 75 Hz, so a 1x speed line
Speed v0 Then, the spatial length of one frame is v0 / 7
5, from 00:00:00 to mm: ss: ee frame
The total frame length leading to the0 / 75) × {75 ×
(60 × mm + ss) + ee}. Here, absolute time
The radius of the interval 00: 00: 0 is RinTrack track
Switch is TP, RinWith N as the 0th track
TThe total length of the groove up to the third track is expressed by the following equation (4).
Is done. [0120] (Equation 2) Also, NTOf the groove up to the + 1st track
The total extension is represented by the following equation (5). [0122] (Equation 3) The above-described total frame length is equal to the value of equation (4).
N such that it is between the values of equation (5)TIs the address
Rack position. This is when the pickup moves
Deriving the number of tracks to the target address
This is the same procedure. Such a track from the innermost circumference
Number NTFrom Equation (4), the radial position R is obtained by the following equation (6).
You. R = Rin+ NT× TP (6) The predicted frequency f is calculated using equation (3) corresponding to this R.R0Depart
Let it live. One frame of the minimum unit of ATIP address information
Time is 1/75 second, so at least every 1/75 second
And fR0Is updated. This is a radius position of 22 mm
But it is only about 1/10 lap of the track, so the radial position
The deviation is negligible. Note that the test writing area and the lead-in area
In the recording area inside 00: 00: 00: 00
Also NTIs a negative number, and RinReduced from
By doing so, accurate R can be calculated. is there
Or calculated from the address information obtained by equation (6)
Does the radial position R have an error of at most several tracks?
Since it is an accurate value, directly from R, fd0= Fin+25.9308 (RRin) / (Rout
RinAccording to the equation (7), the linear velocity at the radius
And the reference clock f of the data at the linear velocityd0(M
Hz) = 1 / T. Where fin
Is RinIs the reference clock cycle of the data at
7.2872 MHz. FIG. 7B shows such a reference signal f.R0Using
A method of generating a reference clock synchronized with the rotation is shown. FIG.
In (b), the dotted line is not a work flow but a reference signal, etc.
The flow of is shown. In FIG. 7 (b), steps B1 to B
5 are the same as steps A1 to A5 in FIG.
You. Step B1 that proceeds in parallel with the flow of FIG.
In step 1, first, calculate from the absolute time address of the destination
From the radial position information obtained by
The generated reference clock period fd0And divide by 1/196
Thus, the reference signal f of the wobble carrier frequencyR0Got
In step B6, fR0Directly as the carrier frequency
Demodulate and decode the ATIP. After decoding starts,
F with reference to the absolute time information of ATIPd0Is the source of change
I do. Confirm that the specified address has been reached in step B7.
After approval, fd0Synchronization with the ATIP synchronization pattern
The reference clock synchronized with the disk rotation is obtained.
Enable recording pulse train generation in step B8
You. Then, the recording pulse train is used to perform step B9.
Perform overwriting. A large amount of recorded information
The address moved significantly with the progress of the barlight
Even fd0Always uses ATIP address information to
If it were updated dynamically, the radius position would change.
Even within the tolerance of mark length error
A recording of the linear density can be achieved. This tolerance is approximately ± 1
%. [Method of Generating Data Reference Clock]
(Iii)] In addition to the wobble groove, CLV
In mode fL0= Single round of higher frequency than 22.05 kHz
Add the clock mark of the wave number,
Separate and detect the clock mark while rotating it at a constant
Output frequency and multiply this repetition frequency by a predetermined value.
This is a method for generating a clock. When the reference clock is obtained
After that, the same method as described in the above method (1) is used.
The synchronization pattern and data of the address signal such as the ATIP signal
The reference clock can be synchronized with the disk rotation.
Wear. The clock mark frequency is the frequency of the wobble signal
If the band is intermediate between the band and the data frequency band,
Easy bandwidth from both table and data frequencies
You can sort by filter. That is, preferably 1x speed change
Of the wobble frequency by more than twice
1/22 of the quasi-clock (repetition of 11T mark and space)
(Equivalent to the same spatial frequency). More specifically
Is about 60 to 196 kHz, that is, 22.05 kHz
2 to 8 times the second frequency fL2Arranged in
A clock mark is provided on the medium. Further, fL2Is the reference clock frequency of the data
Data is set as an integer fraction of the number 4.3218 MHz.
F to obtain the reference clock ofL2Multiplied by the integer
To obtain the reference clock. Combining the above conditions, fL2
2 times, 4 times or 7 times of 22.05 KHz
If used, it can be separated from the wobble frequency and data frequency domain.
And a fractional integer of 4.3218 MHz.
Suitable. However, as described above, lines on the same medium
Speed from 4x speed from innermost circumference to outermost circumference of recording area
When changing up to 10 times speed, wobbles, clock
Mark, data frequency band from innermost to outermost
Since it has a distribution of about 2.5 times over the circumference,
Separation becomes slightly complicated. Specifically, at 4 × to 10 × speed,
Is the wobble carrier frequency 88.2 kHz as described above?
And a data component of 11T.
About 786kHz as repetition frequency of peak and space
~ 1.96 MHz. fL2To fL0= 22.05
4 times kHz, ie fL2= 88.2 kHz
In the case of 4 to 10 times CAV mode, the clock mark
Has a repetition frequency of 352.8 kHz to 882 kHz.
Distributed by wave number. Therefore, one band filter is used for all recording areas.
It is difficult to distinguish the frequency of the clock mark with
Create multiple virtual zones for each radius, and for each zone
It is preferable to switch the band of the filter. Also, fL2
If the wobble frequency is allowed to be a half-integer multiple,
Filtering out the repetition frequency of the clock mark with a filter
Can be. For example, fL2To fL0= 22.05 kHz3.
5 times (1/56 of 4.3218 MHz),
Side fL2= 77.175 kHz, 4 to 10 times speed
Clock mark repetition frequency is 30 in CAV mode
8.7 kHz to 771.75 kHz, 10 kHz
The width of the data is about 786 kHz.
z to 1.96 MHz. As an example of providing a clock mark,
For example, pits or amorphous marks provided between grooves
It is also good, and the groove has a specific large and short spatial wavelength.
Wobble may be given. In the latter case, a normal CD
-RW wobble amplitude (peak-to-peak) is
Wobble for clock mark for about 20 to 50 nm
It is better to make the amplitude of the
No. And this is the normal wobble mountain, valley, or
It is further superimposed on half the position of
Good. The clock mark has a physical length of 3T mark
(About 0.8 μm). Data wrap
This is because it is easy to select a wave number from a wave number using a bandpass filter. What
Note that, as is clear from the above description, the method (iii) is adopted.
In doing so, the medium according to the first gist
When the wobble groove is a medium and converted to 1x speed
The carrier frequency is about 22.05 kHz and the ATIP information
Has a wobble signal frequency-modulated at ± 1 kHz
And 2 to 8 times the repetition frequency of 22.05 kHz
It is preferable that the clock mark is arranged along the groove
New The frequency generated from such a clock mark
fL2= 77.15 kHz and f in FIG.A0Replace
Eh, fL256 times the data reference clock frequency fd0When
If it is considered, use the flowchart of FIG.
can do. [Method of Generating Data Reference Clock]
(Iv)] When the linear velocity is constant, the frequency
A groove having a constant wobble signal is provided,
The wobbles are phase modulated
Address by missing (zero amplitude)
To use a medium with information and synchronization information
It is. That is, in this method, the medium
Using the medium according to the first aspect of the present invention
Is preferred. In this case, since there is no ATIP signal, the existing
Loss of full compatibility with existing CD-RWs
The angular velocity is not affected by the fluctuation of the groove meandering cycle
After detecting the frequency while rotating the disk at a constant,
Accurate reference clock can be obtained by directly multiplying the wobble frequency.
Lock can occur. And this reference clock is
In the same manner as described in method (i), the address
Information and synchronization information, address information synchronization pattern
Can be synchronized with the rotation of the disk and the disk. this
If the wobble frequency is the data reference clock frequency
fd01/22 to 1/50
And reduce the multiplication error and separate the data from the frequency band.
Is preferred. At the frequency of this wobble,
F of (a)A0Is replaced by the flow chart of FIG.
Can be used as is. The above is a blank disk in an unrecorded state,
Alternatively, a disc having a recorded portion and an unrecorded portion
Prescribed on the board by wobbling etc.
From the information, the data base is inversely proportional to the radius and synchronized with the rotation.
Generate a quasi-clock and read address information,
A method of generating a write signal synchronized with the address.
It is an example. On the other hand, when the disc is manufactured,
Format the disc when using it for the first time.
Address information is written over the entire disk recording area using an EFM modulation signal.
Information, synchronization information, etc.
No. may be used. The format process is
It is only necessary to record predetermined data uniformly on the entire disk.
It is not always necessary to perform recording in the CAV mode,
What is necessary is just to perform at high speed, such as 8 times speed, in V mode. Or C
Even in AV mode, radial position is synchronized with disk rotation
The reference clock for data that increases in frequency in proportion to
A clock generation circuit is provided separately to operate the data reference clock.
What is necessary is just to record while sweeping. Recorded EFM
The data reference clock can be directly extracted from the modulated signal.
Clock cycle accuracy and synchronization accuracy.
It is suitable. The following are also used in the formatting process
Methods (v) and (vi) can be considered. [Method of Generating Data Reference Clock]
(V)] Absolute time information by sub-code in advance in the medium
Information is recorded as an EFM modulation signal over the entire recording area.
Is the way. The EF when rotating and recording at a constant angular velocity
The M modulation signal is detected, and the reference clock and address of the data are detected.
Get information about This clock is inversely proportional to the radius,
And the synchronization pattern of the subcode. afterwards,
Write synchronized with clock and address signal as above
Generate a signal. In advance, sub-copies the entire recording area.
If absolute time is recorded as an EFM modulated signal by
User data is optional (usually a series of zeros)
Make a record. With this formatted disk,
Is the EFM modulated signal and the subcode information contained therein
Are all the same as CD-ROMs played in CAV mode.
Accessible by the same method. And EFM transformation
Extracting the data reference clock period from the tuning signal
Can be. This method is a so-called multi-session method
The data to be added is relatively long,
The recorded area from the side is continuous and added outside
Suitable for you. [Method of Generating Data Reference Clock]
(Vi)] A CD-ROM standard (so-called
Block structure in the Yellow Book)
This is a method of recording as a number over the entire recording area. Angular velocity
The EFM modulation signal is detected when recording at a constant rotation.
Then, a data reference clock and address information are obtained. This
Clock is inversely proportional to radius, and rotation and subcode
Period pattern. After that, clock as before
And generate a write signal synchronized with the address signal.
You. More specifically, first, the CD-ROM format
98 EFM frame (2,352 bytes)
A block structure with 1 unit as a unit
To record. The block structure is specified in the CD-ROM standard.
Logical data structure. Each block contains user data
Data is synchronized with a logical address called a header
Signal, and this data is also included during formatting.
Record. Data is recorded in units of 98 frames
Is done. First, the data to be recorded is 2,048 bytes
12 bytes each for synchronization information and 4 headers
A byte is appended. Next, the header and data except for the synchronization pattern
Data scrambled, and ECC (data correction code,
Error Correction Code) Data
Is added. To the one added with the previous synchronization information
And interleaving to change the order of the data
After that, it is divided into 98 frames. First in each frame
EFM frame synchronization pattern and subcode added at the beginning
Each frame is added to the middle of the frame and the end of the frame.
ECC data calculated from system data
Be added. The above subcode contains absolute time information etc.
Various information is included, especially the 98th frame
The frame synchronization signal is applied only to the 0th frame and the first frame.
include. Thus, the EFM modulation to be recorded
A signal is created. The UDF (Universal Di)
sk Format) version 1.5 or later
Perform format processing by random packet write method
And when formatting the unrecorded disc
This is also preferable because the above block structure is recorded. What
Note that the random packet write method is based on OSTA (Opti
cal Storage Technology As
association, a trade association in the United States)
Have been. Format processing for packet writing
Is the Orange Book Part 3 of the CD-RW standard
Is also stipulated. [0139] However, packet
(1 packet consists of 16 or 32 blocks)
Some discontinuity of subcode data occurs at the link between
Because it can be generated, from the address information included in the subcode
Is the block recorded in the user data section of each block.
It is preferable to access by referring to the lock address.
In this method, the data to be added is short and has a fixed length.
Overwrite at random positions,
Suitable for the so-called random packet write method
You. According to the above method (v) or (vi), C
Move to a predetermined address in AV mode and carry wobble
Ski that extracts frequency and generates reference data clock
Examples of the system are shown in FIGS. 8 and 9, respectively. First, CAV
Tracking support, just like a normal CD played in the
Turn off the servo motor and move to the specified radius by coarse motion of the linear motor.
While tracking the track cross signal.
The number of moving tracks, and
Apply tracking servo when approaching the und number
You. Here, in step C6 or D6,
Same as CD-ROM playback system in CAV mode
In the same way, the EFM data is reproduced from the recorded RF signal,
A reference data clock is extracted from the EFM data. Sa
Subcode in step C6.
From the frame sync signal of the
Synchronization with the disk rotation is established, and the sub-code is
The address information is obtained from the Q channel. CD-ROM
When using the data block structure, go to step D6.
Using the 12 bytes of synchronization information at the beginning of each block.
And establish synchronization at step D7.
Get address information from the following header. And yes
In the case of a deviation, a predetermined
After determining that the dress has been reached, step C9
In step D9, the data is converted into a recording pulse train,
At 10 or D10, predetermined data is
Overwrite the dress. [Method of Generating Data Reference Clock]
(Vii)] The above-described method basically employs CAV
The rotation itself is said to maintain the rotation accuracy independently
It is a premise. However, the CAV rotation system and reference clock reference
Illumination signal fR0Form a feedback loop between
And the synchronization of the rotation system and the data reference clock is accurate.
This is preferred. That is, the desired value is determined based on the CAV rotation.
Wobble reproduction signal or clock mark with radius of
Or directly from the subcode of the recorded signal or the reference signal.
Reference signal to generate the reference clock frequency.
The calculated clock frequency at the desired radius.
That is, the reference signal fR0) So that the CAV rotation is synchronized with P
Because LL (pahse lock loop) control
is there. FIG. 15 shows that a predetermined address (radius) is reached.
Achieves synchronization of rotation and data reference clock,
It is a flowchart which shows the procedure of the system which performs a bar light. Figure
FIG. 16 is a conceptual diagram of such a control system. FIG.
5 and FIG. 16 show the CAV method,
Optical disk recording and reproducing device that achieves equal linear density recording
The operation flow is shown. FIG. 16 is a general view of FIG.
In particular, a focused light beam must be
G) When you move to the recording block of the address in the radial direction
The reference clock of the data that changes in inverse proportion to the radius
T (frequency fd0Signal generator (VCO)
1) and the reference clock T at a predetermined radius is 1 / N
(N is an integer) obtained by dividing the reference signal fR0And the ad
Carrier frequency f of groove meandering detected inA0The phase
By comparing, the reference clock of the data at a given radius
Frequency f d0And fA0Is f regardless of the radial positiond0= N
・ FA0Fine-tune the disk speed to maintain the relationship
The start position of the recording block and the block
Means to achieve synchronization of the data strings to be written to
And are described in detail. FIGS. 15 and 16 show a rewritable computer in particular.
It is assumed that N = 196 for a Pact disk as an example. this
In the method, first, the radial position movement support, address reach judgment
Calculation of the data reference clock
Controlled by CPU1. As the initial state, for example,
The circumference is the reference radius RinTo the recording track at the reference radius.
Assume that focus and tracking are applied. Book
When using the medium of the present invention, in particular,
The linear velocity around the circumference is about 4 times as fast as the CD linear velocity (4.8 m / s)
So that the reference rotational speed ω0Is ω0= 1900 to 220
It is set to be in the range of 0 rpm. Specifically,
Quasi radius Rin= 21mm, 2180rpm, Rin= 2
If it is 4 mm, it is about 1910 rpm. In FIG. 16, dotted lines are based on FIG.
PLL for rotation control surrounded by
  A detailed description of the "locked loop" system
is there. Conversely, in FIG. 16, elements other than the rotation control system are simplified.
ing. For example, the encoders ED1 and ED2 in FIG.
And the laser driver LD1
Is omitted as a part of the recording pulse conversion circuit WP1.
You. In addition, focus servo mechanism FE1, tracking
Servo mechanism TE1 is omitted, access servo system
The control CPU 1 has functions included in a part of the control CPU 1 and
It is regarded. The reference clock generation circuit CK1 shown in FIG.
In step 6, a signal from the control CPU 1 is received, and D / A conversion is performed.
And a voltage control transmitter VCO1. here
And fd0Is data proportional to the radius based on the address information.
The reference clock frequency of the data, for example, (4) to (7)
The digital output calculated by the control CPU 1 using the equation
The force result is converted by the A / D converter to fd0Voltage V proportional tod0Conversion to
After that, the Vd0Generates a frequency proportional to VCO1
Generate it. This part is an example, the address
The reference color of the data proportional to the radius calculated from the information
As long as the clock frequency is generated, other digital synthesis
Can be replaced by the user. As mentioned above, the outermost
If the circumference is 10 times faster than the CD, the innermost circumference is about 4 times faster.
, Fd0Is 17.287MHz to 43.218MHz
Digital synthesizer,
This frequency range can be swept with a resolution of about 0.1 MHz.
Is desirable. A reference clock period proportional to the radius
However, the resolution changes stepwise at this level of resolution.
However, the error of mark length at each radial position is
(Usually about ± 1%). Fd0Is divided by the divider by 1/196, and
Reference value f of carrier frequency of wobble at constant radiusR0When
Used as In FIG. 16, BPF is a wobble.
From the carrier signal fA0Band fill for extracting
, HPF is a high frequency band for FM demodulation of the wobble signal.
It is a pass filter. In the phase comparator PCO, f
R0With reference to fA0And phase comparison. Also, PC
The phase comparison result of O is the voltage V averaged by the LPF.moConversion to
But V moThe larger the phase difference, the larger the feed
This is a back signal. VmoIs spindle by VCO2
Frequency f for frequency control of motor M1PMIs converted to
The combination of PCO, LPF and VCO2 is a normal PLL
This is a general configuration used for control. This PLL control
Gives fA0Is fR0Synchronous with the phase at PCO
The rotation speed of the disk is adjusted so that the difference becomes zero. According to the flow shown in FIG.
In G1, an address move command and a desired move destination address (ta
Target address) DA1 through the external interface
First, it is input to the control CPU 1. Add in step G2
The tracking servo is turned off for the less movement.
At the same time, in the parallel step Ga1, the CPU 1
From AD1 (here we take ATIP as an example)
Formula of ATIP address radius and track number to be set
It is calculated by (4) to (6). Also, according to equation (7),
The reference clock at the radius of the target address
Frequency fDAAnd the frequency is generated by VCO1
You. Also this fDAIs divided by 1/196 and the target
Carrier frequency f of wobble at addressRAGenerate
You. fDAAnd fRAIs referred to as the predicted frequency. More generally, the optical disk D1
Reference radius R at the beginning or end of the recording arearefIn
The reference clock of the dataref(Frequency fref),
Let ΔR be the radial width from the innermost circumference to the outermost circumference of the recording area,
Calculated from predetermined ATIP address where data should be recorded
Radius R and the reference clock T at the address
(Frequency fd0) Is fd0= Fref+ (R-Rref) / Δ
F so as to maintain the relationship of R (100)d0To
Calculate according to radius. In addition, (R-
Rref), Calculate the number of tracks to cross, etc.
A radius movement signal is output to the motor M1. At step G3, a command from CPU 1 is issued.
Pickup PU1 driven by the linear motor LM1
Moves in the radial direction and counts tracks in step G4
By the coarse movement mechanism toward the predetermined target address
Moving. Immediately before the target address in step G5
Confirmed that it was close enough by the track count
Then, apply a brake to the coarse adjustment mechanism and go to step G6.
And the track near (usually immediately before) the target address
Turn on the tracking servo at
Laser at playback level while maintaining King Servo
The light beam is scanned along the guide groove. In this state, the wobble carrier frequency fA0To
Extract. Pickup PU1 is at target address
Because it is close, f calculated from the target address
RAAnd the extracted fA0Is PLL locked by phase comparison
Range. Therefore, in step G7, fA0And f
RAAre compared, and fA0Is fR0Spindle to synchronize with
Apply feedback to the motor M1 to synchronize with the CAV rotation.
Let Next, in step G7, the predicted wobble
Carrier frequency fRABy the CA of the spindle motor M1
After locking V rotation, do not maintain tracking servo.
Meanwhile, the light beam is scanned along the track. Steps
G8 push-pull pickup PU1
And reproduces the wobble carrier frequency by BPF.
Number fA0And the ATIP decoder WDA1
To start decoding ATIP information. To step G9
It is updated every moment that is played in real time
In parallel step Ga2 based on address information
fd0Is calculated and updated from time to time.
Constant reference clock frequency fd0To occur. Also at the same time
The fd0Is the latest f obtained by dividing by 1/196R0See
In light of fR0And fA0Is performed in the PCO,
fR0And fA0CAV rotation control of the disk so that
The control is performed on the spindle motor M1. Step
G8, G9 and Ga2 are fd0PLL signal with
Constitute a feedback loop, and the spindle motor M1
Is maintained at a substantial CAV rotation. In steps G8 to G10, the fees
Scans the recording / reproducing light beam under the action of
ATIP address and f that changed0CAV times depending on
Approach the target address while fine-tuning the number of turns.
Reached the target address in step G10
Is determined in step G11, the recording pulse
A row is generated. Binarization under command of control CPU1
The data is encoded into an EFM modulated signal and
Generated fd0In synchronization with the recording method of the present invention.
The recording pulse is corrected and α as shown in FIG.1T, β1T, ...
.., αmT, βmA recording pulse train gate T is generated.
And a recording pulse generation circuit WP1 based on the gate signal.
The laser diode drive of the pickup PU1
A kinetic current is generated. Pick up in step G11
The recording power Pw, the bias power Pb,
Erase power Pe irradiates track at target address
Is overwritten with predetermined EFM modulation data.
You. Here, when the recording pulse train is generated in step G11,
Is fd0At the same time, the synchronization signal in the ATIP information is referenced.
This achieves position synchronization with the ATIP frame. Further, the input data is converted to a CD format.
Recording pulse train generation circuit for further encoded data
A recording pulse train is generated in WP1. In FIG.
Correct the recording pulse train according to the linear velocity corresponding to the dress
We also consider doing. The above procedure is based on commercially available CD-
R / RW drive, wobble frequency and reference clock frequency
Compare the wave numbers to achieve CLV rotation synchronization and perform recording.
It is seemingly similar in flow to the control system. CLV times
In reverse synchronization, the reference clock frequency is independent of the radial position.
Constant fd0Are used as reference signals. This fd0See
As a signal, fR0And rather forcibly turn the motor
Synchronize rotation by changing the rotation drastically. At this time,
If the amount of direction movement is large, the rotation speed
Without rough adjustment to the rotational speed determined by calculation from the diameter, f
A0And fR0Difference is too large for PLL controlled capture lens
I will be out of Ji. On the other hand, the apparatus shown in FIG.
M1 is the initial CA before the start of the radial movement.
V rotation speed, large f due to radial movementR0Passing
And f A0Change in proportion to the radius even if
Therefore, do not deviate from the capture range of the PLL.
No. In other words, the target address is
If you can get close enough to the truck,
Radius while reading address with ATIP decoding as it is
PLL control of CAV rotation while fine-tuning the position
You. In other words, when the address reaches a predetermined address,
Strictly speaking, the CAV rotation speed is
F that changes in real time depending on the dressd0Based on
Thus, it is finely adjusted by the PLL control. In Figure 16
The portion enclosed by a dotted line constitutes a PLL control circuit.
You. Here, fd0AT which is the minimum unit of updating
For each IP frame (1/75 second unit at 1x CD speed)
fR0= (1/196) fd0Synchronize with disk rotation
Because the lock is performed by PLL control, the CAV rotation control method
The expression is, in other words, the virtual zone for each ATIP frame.
Also function as a ZCLV provided with. However, each zo
ATIP frame, which is the length of the
Because it can be considered as CAV rotation because it is less than
is there. Such a CAV rotation control is performed by a spindle motor.
Rather than mechanically controlling CAV rotation of M1 independently,
More precisely, the reference clock of the data at each radius
And the rotation of the disk can be synchronized.
The advantage is that the fluctuation of the mark length can be extremely small.
I do. Although omitted in FIG. 16, the pickup
The CAV rotation at the time of motion is a spindle motor just in case.
Use the speed sensor (usually a Hall sensor, etc.)
) And monitor with a rough accuracy of about ± 1 to 10%.
It is more preferable to use the rolling maintenance control mechanism in parallel.
From zero revolutions to the capture range of the PLL
Until the start of rotation, rather direct control of the rotation speed
Is necessary, and after reaching the specified number of revolutions,
The generated reference clock signal fd0PLL control referring to
Need to move to. Also, by any chance, CAV
The capture range of the PLL must be kept even if the rotation deviates greatly
It is also effective to prevent it. Furthermore, the principle
In the PLL, the innermost track is 4x speed recording, and it is slightly
Can't distinguish double frequency like 8x speed recording
So, what should be suddenly synchronized at 4x speed, synchronized at 8x speed
Spindle to prevent runaway
Relatively rough rotation by directly monitoring the rotation speed of the motor M1
It is effective to use the turn control together. This CAV system is therefore compatible with the ATIP address.
Reference frequency f calculated from thed0And fR0Fine-tuned with
The conventional CLV mode PLL rotation control
It is different from the lord. This fine adjustment width maintains the PLL control
To maintain a substantially constant linear density record
In order to enable reproduction in the mode, usually, the reference rotational speed ω 0
Is preferably within ± 1%. In other words, radial coarse
The target mechanism is sufficient to maintain this relationship.
It is desirable to be able to approach the vicinity of the restaurant. In the apparatus shown in FIG.
Is about 2.5 times the band from the innermost circumference to the outermost circumference.
Pay attention to the setting bandwidth of PF, HPF and LPF
You. Especially for the LPF in the PLL control system,
You need to split the radius into several zones
There is. In the present invention, by the above method,
Generates a reference data clock that varies inversely with radius.
Can be made. However, the reference data clock of the present invention
The method of generating cracks is not limited to these. Above
CD-compatible isolinear density recording as described in CAV mode
Access method to realize the data reference clock
The generation and rotation synchronization method is
Although widely applicable to CD-R / RW media, the present invention
When used for media and recording methods, access
This is preferable because the performance is improved. The CD has a diameter of 8c.
CAV method in the case of small diameter size
The difference in linear velocity between the innermost circumference and the outermost circumference is at most twice, so
Media, recording method and recording / reproducing device
Wear. In this case, in order to increase the transfer rate,
Preferably, the linear velocity is 10 times or more. [0161]7. Application example using CAV recording
about Now, in the following, the present invention capable of recording by the CAV method is described.
Rewrite with rewritable compact disc and CAV method
The recording method of the present invention for recording on a compact disk
Access time to addresses at different radii
Applications that take advantage of such advantages, although reduced in width
An example will be described. More specifically, for repetitive practice of language and music
Of the textbooks on CD. Such as
In the application, first, a demonstration (demonstration
A foreign language sentence or music bar
Is played back as the data of the
Promptly, and record the content that the user repeats immediately
As new input information and record it in the user data area.
You. Therefore, one CD-RW disc is
Application program, play the program, and
Play demonstration data to demonstrate
After performing the action, the user data repeated
The same recording / reproducing device if it can record on the same CD-RW disc
It is very convenient for recording and playback. Usually, the demonstration is repeated repetition.
Is divided into units of seconds to tens of seconds to facilitate
The demonstration and the recording of user data
It needs to be repeated within this time range,
Between the application program area and the user data area
The access time of the optical pickup between can be shortened as much as possible,
Recording medium and recording method capable of recording by CAV rotation method
Is particularly effective. Recently, we have been playing back CDs with CAV
In most cases, CAV is used for both recording and playback.
If it is done as it is, switching from recording to playback and from playback to recording
The replacement process is easier and faster
Preferred properties are obtained. The CD-RW medium suitable for this application is a program
Predetermined application in a specific area continuous in the RAM area
An application program that stores program data
Gram area and at least the application
User data related to the application program can be recorded
User data recording area is set,
Playing the application and related to the application
Recording of user data is performed at the same rotation speed. The application program area is
The manufacturer records some of the unrecorded rewritable CD-RWs.
May be created by recording
RO formed on the substrate by a pit (phase difference pit)
It may be recorded as M data. In any case
However, the application program itself is actually
For this CD-RW
The disc is interpreted as having a partial ROM area,
Is a partial ROM (Partial-ROM, P
-ROM). Such a P-ROM type CD-RW disc
In, usually, data along ATIP address
Store application programs as shown in the layout
Area (application program area) and user
When the data recording area occupies consecutive addresses,
It is generally reserved as a lump area.
You. FIG. 25 shows a data arrangement along the ATIP address.
It is a schematic diagram. FIG. 25 is a perspective view of a CD-RW disc.
00 and a cross-sectional view 101 are shown. CD-RW disc
PCA (Power Cali) in order from the innermost circumference of 100
brace Area), PMA (Program
  Memory Area), Lead-in area, Program
Has a data structure consisting of a RAM area and a lead-out area
You. Of these, PCA is a trial writing area for determining power.
Area, PMA is a temporary, unique to CD-R and CD-RW.
The file management information recording area and lead-in area are originally CD
-TOC (Tabel used in ROM format)
  file management information called “of contents”
Information and disc management information, lead-out area
The area is an area for indicating the end of the EFM data,
The program area is the area where user data is to be recorded.
In the present invention, the application area is stored in this program area.
Application program area and rewritable user data
Data area. Playback with conventional CD-ROM
To maintain compatibility, make sure to
It is necessary to record predetermined information in the window area. In the present invention, at least the PCA region
From the beginning B of the lead to the end D of the lead-out area
The formation area (the shaded area at 100 in FIG. 25)
It is composed of one phase change medium. In the program area
To store application programs
There are two types of areas to realize a typical ROM function.
Is a pre-pit array of recesses formed on the substrate surface in advance.
(Rows of pits previously formed on the substrate by injection molding, etc.)
Area where data is recorded using a recording layer on the substrate
(Master ROM area). The other is CD-RW
The recording layer is used as a rewritable area on the entire surface of the disk 100.
After forming and recording data in some area in it,
The recording drive rewrites part of the area
This is an area (post-ROM area) in which this is prohibited. At least the post ROM area and the RAM
In the region, the laser light is guided as shown in FIG.
In order to achieve this, a spiral guide groove 105 is provided.
I have. The guide groove 105 is formed by groove walls 105a and 105b.
The cross section is usually depth for CD-RW
Trapezoid of 0.03-0.05μm, width about 0.5μm
It has become. Laser light is applied along the groove to a disc.
It is scanned in the circumferential direction by the rotation of the clock. The guide groove 105 is
Addition of ATIP information, synchronization signal, etc. by meandering in the radial direction
Wobble for data addition is formed. FIG.
In the figure, the amplitude of the groove meandering is exaggerated.
For 0.5 μm, the meandering amplitude is about 0.03 microns
It is about. On the other hand, the master ROM data
-If there is a ROM area, as shown in FIG.
A center line 107 connecting a plurality of pit rows 106
Have the same meandering amplitude as the guide groove 105.
It is desirable that this be done. In any case, from the beginning B of the PCA area,
Along the guide groove in a broad sense
To add address information by wobble
Time-based address information and synchronization signals are given
It is desirable. Absolute time address is 1/75 second
In small units (frames), expressed in minutes, seconds, and frames
Is done. In FIG. 25, at the start point A of the program area
ATIP is 0 minutes 0 seconds 0 frames (hereinafter 00: 00: 0)
0, etc.) up to 79:59:74
Continue until the frame. Program area according to data capacity
The maximum ATIP address of the lead-out area
The start time (point (c) in FIG. 25) can vary. Well, professional
The gram area is the lead-out area at point C in FIG.
Move to The ATIP address of the lead-out area is
Take over the last ATIP address in the program area
It continues to increase. Usually, the length of the lead-out area is 1-
It takes about 2 minutes. Meanwhile, PCA, PMA, lead-in territory
The area is arranged from point B to point A in FIG. That
ATIP address is reset at point A as 00:00:00
After being set, points A to B (the first address of PCA)
Toward 99), gradually decreasing from 99:59:74.
Good. ATIP ad for PCA, PMA, Lead-in
Less can only be used in the 80 or 90 minute range
ing. FIG. 27 is an example showing the arrangement of data.
In FIG. 27, points A, B, C, and D correspond to points A, B in FIG.
It is on the same ATIP address as B, C and D. And
BA is PCA / PMA area 110 and lead-in area 11
1, AC is a program area 112, and CD
Is the lead-out area 113. In FIG.
The application program area 120 is located at an inner peripheral portion.
The service is provided at the beginning of the ATIP time.
The data area 121 is located at the time of the ATIP relative to the outer peripheral portion.
It is located near the back. In FIG. 27, the application program
The RAM area 120 and the user data area 121 are simply
It is arranged separately on the inner and outer circumferences, but which is the inner
It doesn't matter. Also, for example, if the program area is
According to the rules of the multi-session format, two
Sessions, one of which is the application
Session that contains the
It is like a session where you can write user data freely
It may have a data structure. In the application program area 120
Is an executable program that interacts with the user
Main menu program that controls input and output that allows
Subroutine work based on rum or main menu
Through basic routine programs and menus
Tasks and demos that work according to the user's choice
Subroutine program that runs the installation
An executable program that stores executable programs such as programs
Area 123 and referenced by the application program
Demo Day to store a collection of demonstration data
Data region 124. In the following, both are collectively called apps
This is called an application program area. Demonstration
The data collection includes, for example, multiple sub demonstrations.
Demo 1, Demo 2, ..., Demo n
The user can select one or multiple
It can be reproduced. For example, in the user data area,
For example, for demo 1, demo 2,...
-The repetition contents are the repetition data 1 and the repetition data respectively
2,..., And repetition data n are stored. The application program area 120 and
To perform frequent access between user data areas 121
When the logical data structure of both areas is the same,
The same management method is essential when reproducing data.
This is preferable because there is no need to switch the decoding method. Special
In the case where audio data is handled as described later,
Data playback / transfer route on disk and sound in real time
To close the gap with the voice playback rate,
Of application data and user data
To switch between recording and
Data has a fixed-length packet structure.
Good. Here, the fixed length packet in CD-RW is
The recording will be described. CD-ROM format
In this case, as shown in FIG.
The unit of 2352 bytes including additional data in 8k bytes
Data processing is performed collectively as block 130.
U. One block 130 has an ECC code for error correction.
No. (131) etc. corresponding to ATIP called header
4-byte data (132) including address information
Synchronous signal required for code with data including ECC and ECC
No. 8 bytes (133). The 2352 bytes are divided into 24 bytes × 98
When divided into trixes, a data unit of 24 bytes per line
The position (135) is called a frame, which is an EFM conversion.
Basically when converting to key data, it is a user
It cannot be operated from the side. 24 belonging to the frame 135
Parity for error correction is added to byte data,
By adding address information called a subcode, EF
After the M modulation, it is recorded on the disk. The fixed-length packet record of the CD-RW is
Assuming the use of the D-ROM format, US O
STA (Optical Storage Techn)
union in the Association
-Sales disk format (Universal
  Disk Format (UDF) version 1.
5 and Multiread format
Was enacted. 32 blocks per block
User data is grouped into one unit and shown in FIG.
Run-in block 141, run-out block
Unit to which block 142 and link block 143 are added
Is referred to as a packet. That is, 64k for one packet
User data block consisting of bytes of user data
A group of blocks 140 is included. [0177] Such a flowchart is described in, for example, FIG.
As shown in FIG.
CD-R having program area and user data area
W disk 153 and rotate the disk in CAV mode
CD-RW drive for recording and playback
Live 150 and a host connected to the recording / reproducing device.
Depending on the system including at least the
Is realized. CD-RW drive 150 and host computer
The computer 151 can transfer data to each other.
They are connected by a data transfer path 200. Data transfer method
ATAPI or SCSI system is used
You. The data on the CD-RW drive 150 during data transfer
Data processing speed and data on the host computer 151 side
In order to eliminate the difference in processing speed,
Each has a buffer for data transfer
There are memories 206 and 207. With buffer memory 206
In 207, for example, data is
It is processed. In the drive 150, the EFM modulation signal
Signal amplification, band filter extraction, encoding, deco
Encoding, decoding and recording
The pulse generation and the like are performed by the data processing system 204. De
The rotation control of the disk is processed by the rotation control system 203 and the optical pickup is controlled.
Of the backup 201, tracking servo,
The cas servo is processed by the pickup servo system 202.
You. Interaction between these mechanical controls and data processing
Are controlled by the system control CPU 205. CP
U205 records these machine controls, data processing, and electrical signals.
Generic term for higher-level systems that control recording and playback, etc.
It is not always realized by one IC. The CPU 210 of the host computer
Thus, the application program is decrypted and executed. De
Data via the data transfer path 200 and the buffer memory 207.
The received data is transferred to the CP via the cache memory 209.
Processed in U210, also via cache memory
It is stored in the working memory 211. Also working memory
211 is a RAM memory 212 or a hard disk 2
12 as a workspace during program execution
Used. The minimum data processed by the CPU is cached.
Cache memory 209. Bus controller
Laura assists the CPU 210 in the host computer
Control the flow of data. The system of the host computer 151 is as follows.
As a user interface, microphone, camera, etc.
An AV (audio-visual) input device group 217;
AV output devices such as speakers and displays 219
And a device group 220 such as a keyboard and a mouse. A
D (analog-digital) conversion circuit 216 or DA
(Digital analog) conversion circuit 218
-Input and output processing can be processed as digital data
Swell. Normally, only CPU 210 performs audio and image processing
Processing by the dedicated processing circuit 215.
Is common. Audio / image processing circuit 215 and its higher order
The sound / video controller 214 of the
Sampling, interpolation, compression / decompression, etc. are performed. Also,
If both audio and video data are included, audio and video data
Data processing for establishing data synchronization is also performed. this
In these processes, audio / video can be processed by separate ICs.
There is, but it is described collectively here. Keybo as well
The data from the card and mouse is also input to the IO control circuit 221.
Processed by a representative system. When reproducing application data
Means that in the drive device 150, the disk 153 is C
It is AV rotating and emitted from the optical pickup 201
Scanning of fixed-length packets
The data on the disk is read. The data in the packet unit
Is subjected to EFM demodulation in the data processing system 204,
D-ROM format block unit data (2K
(Byte unit), the buffer memory 20
6 and the transfer path 200 of the interface
Is transferred to the host computer 151 via the. De
The data transfer is performed by the CPU 210 of the host computer and the data.
Control by live system control CPU 205
Have been. Buffer memories 206 and 207 typically contain D
A solid-state memory device such as RAM is used, and a drive device
Body 150 and host computer system for data processing
151, and is provided for synchronization of data transfer.
It is necessary to achieve the achievement. But drive
Main body and host computer system, especially CPU 210
In a system in which the functions of
Buffer memories 206 and 207 need to be provided separately.
No need. Data playback on the actual disk is double speed
Because it is playback, it is re-
The production is completed and the transfer between buffer memories 206 and 207 is completed.
Transmission time is also used as an interface for normal SCSI or AT
With the API method, it is extremely short so as not to cause a problem.
End in time. Here, the rewritable compact disc 1
In 53, the speed at the time of recording and reproduction is, for example,
Range from 4x speed at the innermost circumference to 10x speed at the outermost circumference
Over. On the other hand, audio data is normally played back at 1x speed.
You need to be careful. The gap of such playback speed
In order to solve the problem, it is necessary to convert the reproduction speed. And
However, the data read through the above data reading process
All of the data of model 1 is temporarily stored in the working memory 211.
After being controlled, the rotation speed of the CD-RW and the data transfer path
Sound (/ video) independent of the 200 data rate
E) is transferred to the controller 214 and the working memory 2
11 data to the normal audio sampling rate.
Digital-to-analog conversion in the DA converter 218
After the conversion, the sound is reproduced on the speaker 219. here,
Digital audio data in CD format and CD-
Logical structure of digital data in ROM format
However, after digitizing the audio data, the CD-R
It is desirable to record in OM format. so
Then, both demo data and user's repetition data,
Fixed-length packets based on the same CD-ROM format
Records can be applied. Regarding data processing such as voice
Is a device built into a normal personal computer.
Function is sufficient, and a detailed description is omitted. CA using CAV-recordable CD-RW
Float showing generalized recording / reproducing procedure in V system
FIG. 31 shows the chart. Steps S1 to S3 are CDs
-CD-RW drive when RW153 is inserted into the drive
Of the control of the system control CPU 205 in the
It is executed based on. First, in step S1, the CD-
The RW disk 153 is mounted on the drive 150. This
Here, usually, under the control of the system control CPU 205,
Start of disk rotation, focus and tracking
Bo is established. The disc is set to the specified CAV rotation speed.
Will be kept. The pickup 201 starts with step S
2, the lead-in area 111, the PMA / PCA area
Access area 110 and read disk management information etc.
I will. Disc management information is used to determine the optimal recording power for recording.
The disc type, along with information about
CD-RW, and CAV recordable C
It is determined that the disc is a D-RW disc. Also, PC
Perform test writing in area A to determine the optimum recording power.
Set. Subsequently, in step S3, the lead-in area
111 and the address at the beginning of the program 112 area
File management information is obtained from a specific address,
The file information of the program area 112 is obtained. An application that can be automatically executed is an application
Immediately in the application program area 120,
In step S4, the application of the disk 153 is
The data 125 of the main routine of the
Is read by the strike computer 151 and the subsequent steps
By the CPU 210 of the host computer 151.
Data transmission via the live 150 and the data transfer path 200
It is executed while collecting. Automatically executable programs
If it is not, the user
Select the executable file of the CD-RW in the program area 120
Then, step 4 is started. Normally, as in step S5,
Menu screen, which is the user interface,
And displayed on the display etc. in the AV equipment group 219
Is done. Using the keyboard 220 etc. for the user,
Select the operation of the subsequent execution program. Here,
In step S6, execution of the demonstration and actual
The content of the demonstration to be performed is selected and the demo
The user is instructed to start the installation
You. The first demonstration selected was Demo 1
I will call it. In step S7, the demonstration
Of the disk 153 on which the specific contents 126 of the
A predetermined address in the demo data area 124 is accessed,
Acquire the data of model 1. Normally, this data is
RAM memory 212 or hard
Temporary storage in the working memory 211 such as the disk 213.
Read from the working memory 211 and
In S8, the sound / video controller 214,
Through the audio / video processing circuit 215 and the DA conversion circuit 218
In one of the AV device groups 219,
Converted and run as a demonstration. Here, the above application program
The process of performing
Assuming that a given sentence is
Play back the demonstration,
Prompts the user to enter information according to
You. In step S9, via keyboard 220 etc.
Data from user by interrupt 1 from user
If the mode is not shifted to the input mode, it is repeated by the route R1.
A demonstration will be held back. A transition to data input from the user
If interrupt 1 has been executed, the process proceeds to step S10.
Pickup 201 is the user of disk 153
Access the data area 121 and wait. At this time CD
-RW disk 153 has a constant CAV rotation speed during playback
The pickup 201
The process can be completed in a very short time. At step S11, data from the user is received.
Data input, which takes language learning as an example.
Is equivalent to the user repeating the contents of Demo 1.
You. The audio data (repeat data 1) is stored in the host computer.
Microphone 151 in the AV equipment group 217 in the data 151
D converter 216, audio processing circuit 215, sound controller
Via the roller 214, the host computer 151
It is temporarily stored in the work memory 211. User data
And Demo 1 data are assigned to the left and right channels, respectively.
And combine them into a stereo recording. Demo 1 Contents
And the content of the user's repetition becomes easier. At step S12, the CD-RW drive
The data is transferred from the working memory 211 to the
In the user data area 121 of the disk 153, the user
-Data is recorded. Step S13 if necessary
In this case, the input data of the user is immediately reproduced. Stay
In user interrupt 2 of step S14,
Data re-entry route R2 or demonstration 1
Route R3 to return to the line can be selected, but it is not necessary
Then, the next demonstration in step 15
Move to (Demo 2) or end the demonstration
The choice is made. Move to next demonstration
If yes, return to step S6 via route R4.
And a demo selection operation is performed. When ending, the process proceeds to step S16.
User newly recorded in the user data area 121.
File management information is updated based on the
Demonstration ended at step S17
Then, the screen returns to the menu screen through the route R5. This
Then, the application professional of the pickup 201
Between the program area 120 and the user data area 121.
Access is maintained at a constant CAV rotation speed
So, the demonstration data playback and its user
Recording of repetition data by
Hyaline without waiting for the user
Language learning by voice and utterance repetition becomes possible. The demo
The installation is not only for audio, but also for each bar of music.
Playback and user repeat, or demo video playback,
Such as video recording with a camera that follows the user
Needless to say, it does not matter. [0192] [Example] [Basic example] One time at a track pitch of 1.6 μm
Reference frequency 22.05 kHz in terms of speed (1.2 m / s)
1.2mm thick polycarbonate with spiral grooves meandering
A carbonate resin substrate was formed by injection molding. Groove width
Was 0.52 μm and the depth was 37 nm. I don't need these
U using a 633 nm wavelength He-Ne laser beam.
It was determined by an optical diffraction method approximating a groove. In the groove meander (wobble)
Further, the address information based on ATIP has a frequency of ± 1 kHz.
It was given by wave number modulation. Subsequently, a lower protective layer and a recording layer were formed on the substrate.
Layer, upper protective layer, reflective layer, UV curable resin layer in this order
Formed. For the deposition of each layer, release the vacuum on the substrate
Without stacking, they were sequentially stacked by a sputtering method. Was
However, the UV curable resin layer (about 4 μm thick)
It was applied by the method. The recording layer immediately after film formation is amorphous
Focuses on the long axis of about 70-90 μm and the short axis of about 1.3 μm
2. Linear velocity by laser light having a wavelength of 810 to 830 nm.
Choose an appropriate linear velocity within the range of 0 to 6.0 m / s,
Irradiation with initializing power 500-700mW to crystallize the whole surface
It was made an initial (unrecorded) state. For the thickness of each layer, the film formation rate was accurately measured.
Thereafter, control was performed by the sputter deposition time. Recording layer composition
Indicates the fluorescence intensity of each element by X-ray fluorescence
By the absolute composition determined by analysis (atomic absorption spectrometry)
Corrected values were used. Density of recording layer and protective layer
Calculated from the weight change when forming a film as thick as several hundred nm
Was. The film thickness is calibrated with the film thickness measured by the probe X-ray intensity
It was used. The area resistivity of the reflective layer was measured by a four-probe resistance meter ΔL.
oresta MP, (trade name) Mitsubishi Yuka (currently Daiai)
Instrument). Resistance measurement is insulated
Glass or polycarbonate resin substrate
Either measure with the formed reflective layer or use the above four layers (lower
Protective layer / recording layer / upper protective layer / reflective layer)
It measured on the reflective layer which becomes. The upper protective layer is insulated with a dielectric thin film.
Since it is an edge, it does not affect the sheet resistivity measurement. Also,
A 120 mm diameter data that can be regarded as a virtually infinite area
While keeping the disk substrate shape, push it to a position with a radius of 30 to 40 mm.
The measurement is made with the lobes in contact. Based on the obtained resistance value R, the area
Resistivity ρSAnd volume resistivity ρVWas calculated. ρS= FR (8) ρV= ΡS・ T (9) Here, t is a film thickness. F is the shape of the thin film area to be measured
And usually takes a value of 4.3 to 4.5. This
Here, it is set to 4.4. Recording / playback evaluation made by Pulstec
A DDU1000 tester (wavelength: about 780 nm) was used.
Tester 1 with DDU1000 tester with NA = 0.55
(Spot shape is 1 / eTwoA circle of about 1.25μm in strength
Shape), DDU1000 tester with NA = 0.5
-2 (spot shape is 1 / eTwoA circle of about 1.3μm in strength
As the shape), any tester was used. The standard linear velocity of CD of 1.2 m / s is increased to 1 × speed.
And overwrite characteristics from 1x to 12x speed
Valued. Reference clock period of data at each linear velocity
Is the data reference clock period 231n at 1 × speed
sec was inversely proportional to each linear velocity. Again
Unless otherwise stated, students performed at double speed. DDU100
Output signal from 0 has cut-off at 5-20kHz
After passing through the high-pass filter,
Jitter was measured with a narizer (manufactured by Yokogawa Electric Corporation). modulation
Degree m11(= I11/ Itop) Is an eye on the oscilloscope
Read by turn observation. Also, RtopSeparately, C
D standard disc CD5B (sold by Philips)
Calibrated with After recording the EFM random data,
3T mark jitter and 3T space jitter of recorded data
Measure and use the higher jitter as 3T jitter
Adopted. Unless otherwise specified, erase power Pe and recording
The ratio Pe / Pw of the power Pw is constant at 0.5, and Pw is
From 9mW to 20mW or 25mW in 1mW increments
Changed. Unless otherwise specified, the bias power P
b is the same as the reproducing light power Pr, and is constant at 0.8 mW.
Was. In the measurement of the 3T / 11T overwrite erase ratio, 3
Repetition consisting of T mark and 3T space (between marks)
After recording the return pattern (3T pattern) once,
Repeat consisting of a mark and an 11T space (between marks)
And overwrite the pattern (11T pattern)
Measures the decrease (in dB) of the carrier level of the T mark
Then, an erasing ratio (erasability) was obtained. Carry
The level measurement was performed by Advantest's Spectra
Analyzer (TR4171) or HP 85
Using 67A, the reproduction signal of tester 1 or tester 2
The signal output was used as input. Overwrite at each linear speed
We performed, but all playbacks were performed at CD linear speed (1.2 m / s).
Was. Spectrum Analyzer Resolution
n band width is 30kHz, Video
The band width is set to 100 Hz, and the input impedance is set to 100 Hz.
The dance was 50Ω. In addition, overwrite characteristics
Evaluation was overwritten 10 times (unless otherwise specified).
After the first recording in the recording state, over 9 times on the same track
(Light). Note that after the accelerated test
The evaluation of the recording signal was overwritten 10 times before the acceleration test.
The recorded signal was evaluated by performing only reproduction after the acceleration test. (Example 1) In the above basic example, the following
Thus, a disk was manufactured and recorded. On board
And (ZnS)80(SiOTwo )20The lower protective layer consisting of
97 nm, In 8 GeFive Sb66Tetwenty oneRecording layer consisting of
19 nm, (ZnS)80(SiOTwo )20Upper part consisting of
Protective layer 40 nm, Al99.5Ta0.5 Reflective layer consisting of 2
50nm, UV curable resin layer about 4μm formed in this order
Then, a rewritable compact disc was manufactured. This Al
99.5Ta0.5 Volume resistivity ρ of reflective layervIs 100nΩ
m, sheet resistivity ρsWas 0.4Ω / □. Initialize
Is an elliptical spot with a major axis of about 70 μm and a minor axis of about 1.3 μm.
Laser diode with wavelength of about 810nm
The scanning was performed with light at a linear velocity of about 3 to 4 m / s. Irradiation power
Is 600 to 700 mW. This disk has NA
1, 2, 4, 6, 8 using a tester 1 of 0.55
And overwrites the EFM modulation signal at 10x speed.
And its properties were evaluated. Erasing power Pe and recording power
Pw ratio Pe / Pw is constant at 0.5 and Pw is 9 mW.
From 1 to 20 mW in 1 mW increments
The overwrite characteristics were evaluated by power. All 10
The value after overwriting was evaluated once. Recording pulse division method
The law is as follows. Let the time length of one recording mark be nT
(T is the reference clock cycle. N is an integer from 3 to 11)
Number), between the recording marks, there is an erase pattern that can crystallize the amorphous.
Irradiates the recording light of the word Pe to the mark of the time length nT.
Is the time length (n-j) T, α1 T, β1 T, αTwo T, βTwo T, ..., αmT,
βmT, Here, in the order of m = n-1, Σii+ Βi) = N-
j (j is a real number satisfying 0.0 ≦ j ≦ 2.0)
And ΑiRecording within the time T (1 ≦ i ≦ m)
Of the recording power Pw of Pw> Pe to melt the layer
Irradiate recording light, βiWithin the time T (1 ≦ i ≦ m)
Recording light with bias power Pb satisfying 0 <Pb ≦ 0.5 Pe
To perform overwriting by applying a linear velocity of 1.2
When m / s is the reference speed (1x speed), (1) 4x speed
At1 = 0.75-1.25, αi= 0.2
5 to 0.75 (2 ≦ i ≦ m), αi+ Βi-1 = 1 (2 ≦
i ≦ m). (2) At linear speeds lower than 4 × speed, α
1 = 0.05-1.0, αi= 0.05-0.5 (2 ≦
i ≦ m), αi+ Βi-1 = 1 (2 ≦ i ≦ m),
(3) For linear speeds higher than 4 × speed, α1 = 0.5-
2, αi= 0.5-1 (2 ≦ i ≦ m), αi+ Βi-1 =
1 (2 ≦ i ≦ m). Specific α at each speed1 , Αi, ΒmThe table
-1. In particular, at 4 to 10 times speed, the current RW standard
(Orange Book Part 3 Version 2.0) Ruth
The division method was strictly followed. Evaluation results of overwrite characteristics
The results are shown in FIG. (A) 3T mark jitter,
(B) 3T space jitter, (c) modulation degree m11, (D)
Rtop, (E) 3T mark length, (f) 3T space length,
Represents the Pw dependency. As shown in Table 1, the optimum recording power
Is around 15-16mW, and the overwrite characteristics
It is evaluated by the value at this power. FIG. 10 (c),
From (d), the modulation m11Is 6
0% to 80% (0.6 to 0.8), RtopIs 15-25
% Values are obtained. The horizontal lines in FIGS. 10E and 10F are doubled.
3T mark length during fast playback = 3T space length = 231 × 3
× 1/2 = 346.5 (nsec). Mark length,
A deviation of about ± 10% is usually acceptable for the space length.
Therefore, it may be within ± 30 to 40 nsec,
From the figure, there is almost no deviation of mark length and space length.
It can be seen that it is within the allowable range. Similarly, Pw = 15 to
At 16 mW, the mark length and space between 4T and 11T
The desired length is within the range of about ± 10%.
The cut length and space length were obtained. FIGS. 10A and 10B
The horizontal line in the graph of 3T indicates the 3T jitter standard upper limit value at the time of 2 × speed reproduction =
= 35 × 1/2 = 17.5 (nsec). Either
Good jitter of 17.5 nsec or less even at a linear velocity of
-Values have been obtained. In summary, at any linear velocity
Good recording characteristics are obtained, and 4 to 10 times speed
Is based on the recording pulse division method of the CD-RW standard
Good recording characteristics are obtained. Next, at 2 to 10 times speed
Fig. 11 shows the evaluation results of the overwrite durability in
You. Repetition at Pw / Pe = 15mW / 7.5mW respectively
(A) 3T mark when returning overwriting is performed
Overwrite of jitter, (b) 3T space jitter
Indicates the number dependency. CD-RW at any linear velocity
The overwrite durability of 1000 times required for
Sufficiently satisfied. In addition, Table 1 shows that
Pulse division method, recording power, erasing power and 3T
The / 11T overwrite erase ratio is summarized. 3T / 11
The T overwrite erase ratio is the 3T mark and 3T space.
11T mark and 11T
Overwritten a single period signal consisting of T space
This is the erase ratio of the 3T signal at the time. The linear velocity is 1.times.
The speed was expressed as 2 m / s. [0205] [Table 1] As shown in Table 1, at 1 × to 6 × speed,
A T / 11T overwrite erase ratio of 29 to 30 dB was obtained.
Even at a high linear velocity of 8 ×, Pw = 16
Sufficient erasure of 28 dB when mW and Pe = 8 mW
The ratio has been obtained. 27dB at 10x speed
High erasing ratio is obtained. Also, the above disk
At the innermost circumference of the recording area (22 mm radius) at 4 × speed,
CA at 10x speed at the outermost periphery of the area (radius 58mm)
Rotate in V mode and shift the radial position about every 5mm
The reference clock corresponding to each radial position is
The recording was done with a lock. This disc is heated to 80 ° C / 85% R
500 hours after entering the accelerated test of H (relative humidity)
Degradation of the recorded signal is hardly observed even after a lapse of time
Was. The jitter is 17.5 ns or less at 2 × speed reproduction,
Modulation degree m11Also hardly decreased, 90% of the initial value
The above was maintained. (Embodiment 2) In the above basic example, the following
The disc was manufactured as described above, and recording was performed. Recording layer I
n8 GeFive (SbxTe1-x)87And x as 74.
Except for the three compositions 4, 7, and 76.3
A disk was produced in the same manner as in Example 1. NA = 0.55
The overwrite characteristics were evaluated using Tester 1 of the above.
At 2, 4, 6, and 8 times speed, Pe / Pw = 0.5
Pw is changed by 1 mW in the range of 9 to 20 mW as constant
Then, the jitter between 3T marks was measured. Recording pulse division
The method is the same as in the first embodiment, m = n-1, α1 = 1, αi= 0.5 (2 ≦ i ≦ m), βm= 0.5, αi+ Βi-1 = 1.0 (2 ≦ i ≦ m)
did. That is, in accordance with the CD-RW standard shown in FIG.
Pulse division method. Note that in any case where x is 8
The 3T / 11T overwrite erase ratio at double speed is P
It was 30 dB or more at w = 15 to 18 mW. Obera
FIG. 12 shows the evaluation results of the site characteristics. Each (a) x
= 76.3, (b) x = 75.4, (c) x = 74.4
In the case of, the linear velocity and recording
This indicates the word dependency. The measurement was actually performed on the grid points shown in FIG.
The jitter value at the measurement point is shown as a contour map (ma
(Using EXCEL97 software manufactured by Icrosoft).
Contour lines are obtained by the data interpolation function of the software used.
Some constrictions and distortions are seen, but grasp the whole picture
There is no hindrance. (A) to (c) of FIG.
The lower the jitter, the higher the linear velocity
In each case, the jitter is 17 ns.
c (34 nsec in 1x speed) or less 4 to 8 times
Speed (4.8 to 9.6 m / s) can be covered. Devi
The operation is also within the standard range. In FIG. 12B,
CD-compatible quality signal recording from 2x to 8x speed
It was possible. The disc shown in FIG.
Drive (CRW4416 made by Yamaha CRX12 made by Sony)
0E and Ricoh 7040AD)
In both cases, good recording is possible and the recorded signal
Block error rate is single digit, at least 4 times faster
Compatibility was confirmed. 80 ° C / 85% RH
(Relative humidity) acceleration test, 500 hours
Almost no deterioration of the recorded signal even after the lapse
Was. The degree of modulation maintained 90% or more of the initial value. (Embodiment 3) In the above basic example, the following
The disc was manufactured as described above, and recording was performed. G for recording layer
eFive Sb73Tetwenty two(Sb / Te ≒ 3.32)
Produced a disk in the same manner as in Example 1. At 8x speed
The 3T / 11T overwrite erase ratio is Pw / Pe =
It was 31 dB at 17 mW / 8.5 mW. Implementation
The overwrite characteristics were evaluated in the same manner as in Example 2. FIG.
FIG. 12 shows a contour map of jitter similar to that shown in FIG. Sb /
Since the Te ratio is higher than Examples 1 and 2, the low jitter region is high.
Although it is biased toward the linear velocity side, the CD-RW
Good overwrite characteristics with pulse division method conforming to the case
The nature was able to be realized. (Comparative Example 1) The recording layer was made of GeFive Sb68Te27
Implemented except for (Sb / Te ≒ 2.52 <2.57)
A disk was produced in the same manner as in Example 1. As in the first embodiment,
When evaluation was performed with Star 1, the erasure ratio was not good even at 4 × speed.
It ’s a bit of a foot, and it ’s impossible to overwrite at 8x speed.
there were. 3T / 11T overwriting at 8x speed
The ratio was less than 20 dB. Note that the pulse division method
Even if it is changed, the 1 × speed reproduction jitter is not less than 35 ns.
I didn't. (Comparative Example 2) The recording layer was made of GeFive Sb77Te18
Example except that (Sb / Te ≒ 4.28> 4.0)
A disk was prepared in the same manner as in Example 1. Test in the same manner as in Example 1.
When the evaluation was carried out with the
The 1T overwrite erase ratio is Pw / Pe = 17 mW /
It was 32 dB at 8.5 mW. However, CD at 4x speed
-Evaluated by pulse division method based on RW, amorphous
Mark recrystallization is remarkable, and 2 × speed reproduction jitter is 17.5.
nsec or less (1x speed reproduction jitter 35 nsec or less)
No such characteristics were obtained. Also, depending on the crystal grain
Due to the high noise, when recording at 8x speed, playback at 2x speed
Jitter of 17.5 nsec or less cannot be obtained. (Comparative Example 3) The recording layer was made of Ge12Sb67Tetwenty one
(Sb / Te ≒ 3.2) Same as Example 1 except that
A disk was made. When the same evaluation as in Example 2 was performed
Roller, 3T / 11T overwrite erasure at 8x speed
The ratio is 30 dB at Pw / Pe = 17 mW / 8.5 mW.
Was. However, the overall jitter is high, and at 8x speed it is 2x speed
Reproduction jitter 17.5 nsec or less (1 × speed reproduction jitter 3
(5 nsec or less) could not be obtained. (Examples 4 and 5, Comparative Examples 4 and 5)
InGeSbTe-based or as a recording layer for CD-RW
Same as Example 1 except that a conventionally known InAgSbTe system was used.
A disk was prepared as described above. Specific composition of each recording layer
-2. [0215] [Table 2] The recording layers of Comparative Examples 4 and 5 were CD-R
W Standard (Orange Book Part 3, Version 2.0
Standard CD) that has 1 to 4 times speed compatibility based on
The recording layer satisfies the RW standard.
The same pulse division method as in (2) is applied). InGeSb
The linear velocity dependency is Sb / T for both Te and InAgSbTe.
It is almost uniquely determined by the e ratio. And Comparative Examples 4 and 5
In the recording layer, the amount of Sb is relatively increased, and Sb / Te = 2.
The values of 95 are Example 4 and Example 5. The media of Examples 4 and 5 are 4 to 8 times speed.
In the second embodiment, a good
Bar light properties were possible. Example 4 and Example 5
3T / 11T overwriting at 8x speed of medium
Both ratios were 28 dB. Both are Pe / Pw =
0.5. These discs were kept at 80 ° C / 85
% RH environment before and after 100 hours acceleration test
The characteristics are summarized in Tables 3 and 4. Table 3 shows 4x speed recording
After that, Table-4 shows that after 8x speed recording (in each case,
To the acceleration test and recorded after 100 hours
This is a re-evaluation of the signal characteristics. [0218] [Table 3] [0219] [Table 4] As can be seen from Tables 3 and 4, the examples
Disk No. 4 is an existing 1 to 4 × speed compatible medium (Comparative Example 4,
Sb / Te to make Comparative Example 5) compatible with higher linear velocities
Even if the ratio is high, it is excellent not only in initial characteristics but also in stability over time.
Media can be provided. On the other hand, the Sb / Te ratio
In the disk of the fifth embodiment with a higher
However, after 100 hours accelerated test, the modulation degree decreases and jitter increases.
It was remarkable. The amorphous mark disappears and the signal amplitude decreases
In view of the stability over time of the amorphous mark,
The disc is better. Note that the medium of Example 4 was
The acceleration test was continued for up to 500 hours, but was recorded at the beginning.
The signal which has been hardly degraded has a modulation degree m11Also early
More than 90% of the value was maintained. From this, it can be seen that the Sb of the 1 to 4 × speed compatible medium is
Simply increasing the / Te ratio does not result in a medium for high linear velocity.
I understand that there is no. The present inventors set these recording layer materials to 8
First by applying to double-speed compatible CD-RW and conducting comparative studies
Thus, the specific effect of the GeSbTe-based recording layer becomes apparent.
It was. (Embodiment 6) In the above basic example, the following
The disc was manufactured as described above, and recording was performed. On the board
(ZnS)80(SiOTwo )20The lower protective layer consisting of 10
5 nm, In 8 GeFive Sb66Tetwenty oneRecording layer consisting of 1
9 nm, (ZnS)80(SiOTwo )20Consisting of upper protection
The layers were provided in this order with a thickness of 45 nm.
l99.5Ta0.5 (10 nm) / Ag (200 nm)
A disc was created in the same manner as in Example 1, except that
Made. At this time, after forming the film up to the AlTa reflective layer,
Leave open for several hours and allow the surface to oxidize naturally,
After providing the oxide layer, the Ag layer was sputtered. Oxidation of interface
The layer is for preventing interdiffusion between Al and Ag. Last
A UV curable resin layer of about 4 μm was provided on the two-layer reflective film.
The sheet resistivity of the entire two-layer structure is 0.23Ω / □.
Was. Evaluation was performed in the same manner as in Example 2 using the tester 1.
The results obtained are shown in FIG. As good as Example 2
-Overlite characteristics were obtained. At 8x speed, Pw / Pe =
3T / 11T overwrite erase ratio at 16mW / 8mW
Was 31 dB. Also, Rtop= 17%, m11=
0.71. At 4 × speed, Pw / Pe = 15 mW /
R at 7.5mWtop= 17%, m11= 0.65
Was. (Embodiment 7) In the above basic example, the following
The disc was manufactured as described above, and recording was performed. Similar substrate
On top, (ZnS)80(SiOTwo )20Lower protective layer consisting of
To 100 nm, InFiveGeFive Sb67Tetwenty threeRecord consisting of
21 nm layer, (ZnS)80(SiOTwo )20Consisting of
Part protection layer 40 nm, Al99.5Ta0.5 Reflective layer consisting of
Is set to 250 nm and the ultraviolet curable resin layer is set to about 4 μm.
They were provided in order. This Al99.5Ta0.5 Volume resistivity of reflective layer
ρvIs 100 nΩ · m, area resistivity ρsIs 0.4Ω / □
Met. Using a tester 1 with NA = 0.55,
At 2, 4, 6, 8, and 10 times speed, the EFM modulation signal
Tried bar light. Example of recording pulse strategy
M = n-1 as in 2, T changes in inverse proportion to linear velocity
And the recording density is constant, α1T and αiT (2 ≦ i
≦ m), αi+ Βi-1(2 ≦ i ≦ m) depends on the linear velocity
Constant, and βmOnly T is possible according to the line speed
A strange method was used. That is, α1T = 23.1
n, αiT = 13.9 ns (2 ≦ i ≦ m). Oh
Bar light characteristics are 3T after 10 times overwriting.
The data, mark length, and modulation were measured and evaluated. For each linear speed
Table 5 summarizes the recording pulse strategies used. Linear velocity
Is 1x speed 1.2m / s, and how many times it is
Expressed. T = 231 ns at 1 × speed 1.2 m / s
ec. [0225] [Table 5] In any case, in the above Pw,
Reflectivity Rtop17%, modulation degree m1165-70%, Ashin
Metrics within ± 10% were obtained. Also, at 10x speed
And αiWhen (i = 2 to m) is 0.5, 3
T jitter is 25 nsec, αi(I = 2-m)
Almost the same overwrite characteristics as in the case of 0.6 were obtained.
Was. From Table 5, the recording pulse width itself is fixed,
Change the clock cycle according to the linear speed, and
Off pulse section βmThe pal that increases as the linear velocity decreases
By using the partitioning method, a relatively simple recording
It can be seen that the loose generation circuit can handle a wide linear velocity range
You. (Embodiment 8) In the above basic example, the following
The disc was manufactured as described above, and recording was performed. On the substrate,
(ZnS)80(SiOTwo )2097 of lower protective layer consisting of
nm, In 8GeFive Sb66Tetwenty oneRecording layer consisting of 19
nm, (ZnS)85(SiOTwo )FifteenUpper protective layer consisting of
To 40 nm, Al99.5Ta0.5 250 reflective layers
nm, the UV curable resin layer is about 4 μm and provided in this order.
Was. This Al99.5Ta0.5 Volume resistivity ρ of reflective layervIs 1
00nΩ · m, area resistivity ρsIs 0.4Ω / □
Was. Tester 1 with NA = 0.55 and tester with NA = 0.5
Star 2 was used to evaluate the overwrite characteristics. 2,
Pw = 9-20 mW at 4, 6, 8 and 10 times speed
Up to 1 mW, and Pe / Pw = 0.5,
The jitter between 3T marks was measured by changing Pw. Izu
At these linear velocities, the 3T / 11T overwrite erase ratio is Pw
= 15-20 mW and more than 25 dB. Pulse strike
The strategy is fixed to the strategy in Fig. 1, and the data
Only the reference clock cycle of 3 is changed in inverse proportion to the linear velocity.
T jitter was measured. The results are plotted in a contour map similar to FIG.
FIG. FIG. 17A shows the case where NA = 0.5.
(B) shows the case where NA = 0.55. Any place
In both cases, the jitter is 17.5 ns from 4 times speed to 10 times speed.
Are obtained. Also, when NA is large
In this case, a wider linear velocity margin is obtained. (Embodiment 9) In the above basic example, the following
The disc was manufactured as described above, and recording was performed. Similar substrate
On top, (ZnS)80(SiO)20The lower protective layer consisting of
100 nm, GaFiveGeFiveSb68Tetwenty twoRecording layer consisting of
20 nm, (ZnS)80(SiO)20Upper part consisting of
Protective layer 40 nm, Al99.5Ta0.5Reflective layer consisting of 2
50 nm, the ultraviolet curable resin layer is about 4 μm, and in this order
To make a rewritable compact disc. This A
l99.5Ta0.5The volume resistivity ρv of the reflection layer is 100 nΩ ·
m and the sheet resistivity ρs were 0.4Ω / □. NA =
Using a tester 1 of 0.55,
As a result of measurement, at 8 × speed and 10 × speed, 3T /
11T overwrite erase ratio of 25 dB or more is obtained.
Was. Furthermore, the linear velocity of jitter and the recording
FIG. 18 shows the result of measuring the power dependence. Using
The recording path strategy is m = n-1, α1= 1, α i=
0.5, βm= 0.5, αi+ Βi-1= 1 (2 ≦ i ≦ m
Constant with respect to i), and constant at Pe / Pw = 0.5.
You. [0229] From the 4x speed (4.8 m / s) to the 10x speed (1
At 2 m / s), good jitter was obtained. Jitter
At the recording power at which the modulation is 0.6 to 0.8, R
topAbout 17%, within ± 10% of asymmetry
Was. The recorded medium is subjected to an acceleration test cycle of 80 ° C./85% RH.
After playing for 500 hours,
Signal modulation depth, Rtop, Jitter and asymmetry are almost
Almost unchanged. Especially the modulation depth is the value before the acceleration test
Of 90% or more. (Embodiment 10) In the above basic example, the following
A disk was manufactured and recorded as described above. Similar group
(ZnS) on the plate80(SiOTwo)20Lower protective layer consisting of
95 nm, InThreeGeFiveSb71Tetwenty oneRecording layer consisting of
Is 16 nm, (ZnS)80(SiOTwo)20Upper part consisting of
The protective layer is made of 38 nm, an Al alloy (Mg 1.01 at.%,
Si 0.85 at%, Mn 0.33 at%, Ti 0.0
02at%, other inevitable impurities up to 0.1at
% Included. As a weight ratio, Mg 0.91% by weight, Si
0.88% by weight, Mn 0.67% by weight, Ti 0.014
% By weight), a UV curable resin
A rewritable compact with layers of about 4 μm provided in this order
A disk was made. Volume resistivity of this Al alloy reflective layer
ρv is 90 nΩ · m, and sheet resistivity ρs is 0.36 Ω / □
Met. Over using tester 1 with NA = 0.55
-When the write erase ratio was measured,
Overwrite erase ratio of 3T / 11T at 2x speed
25 dB or more was obtained. Further, the same jig as in Example 8
The results of measuring the linear velocity and recording power dependence of the
As shown in FIG. The recording pulse strategy used is m = n
-1, α1= 1, αi= 0.5, βm= 0.5, αi+
βi-1= 1 (constant for i where 2 ≦ i ≦ m), Pe /
It is constant at Pw = 0.5. 6 times speed (4.8m / s)
Good jitter at 12x speed (14.4 m / s)
was gotten. Modulation depth at recording power that minimizes jitter
0.6-0.8, Rto pAbout 17%, asymmetry ± 1
Within 0% was obtained. (Embodiment 11) In the above basic example, the following
A disk was manufactured and recorded as described above. Similar group
(ZnS) on the plate80(SiOTwo)20Lower protective layer consisting of
97 nm, InThreeGeFiveSb72Te20Recording layer consisting of
15 nm, (ZnS)80(SiOTwo)20Upper part consisting of
38 nm protective layer, Al99.5Ta0.5Reflective layer consisting of
250 nm, UV curable resin layer about 4 μm,
To make a rewritable compact disc. this
Al99.5Ta0.5The volume resistivity ρv of the reflective layer is 100 nΩ
M, the sheet resistivity ρs was 0.4Ω / □. Long axis approx.
100 μm (radial direction), short axis about 1.3 μm (circumferential direction)
Laser beam with a wavelength of about 830 nm focused on the recording layer
To perform initial crystallization. The focused light beam is
The disk so that it is scanned at 2.5 m / s
Rotate and rotate about 50 μm half a disc
700-900mW power while moving in radial direction
Was continuously irradiated. Irradiated twice in the same place
Will be. By the initial crystallization operation, the unrecorded state
The emissivity is the reflection of the erased state during overwrite recording described later.
It was almost the same as the rate. The following evaluation of this example is
Evaluation using a tester 2 having an optical system of NA = 0.5
Was done. The clock cycle is 231 times as fast as the CD linear velocity.
It was set to nanoseconds and changed in inverse proportion to the linear velocity. The playback conditions are
Assuming a constant value of 1.2 m / s, direct comparison of jitter etc. is possible.
It was to so. First, 3T patterns are applied 9 times to the unrecorded area.
After the overwrite recording, turn on the 11T pattern 10 times.
And the erase ratio was measured. Pe / Pw = 0.
Overwrite erase by changing Pw, keeping it constant at 5
The Pw dependence of the ratio was evaluated. The results are shown in FIG. Playback
Was performed at 1 × speed. As shown in FIG.
Secured overwrite erase ratio of 25dB or more up to double speed
This allows use up to 12x speed, but 10x speed
Power, especially at 10x speed
The margin has widened. FIG. 20 shows that Pw is 14-18 mW,
If Pe / Pw = 0.5, overwrite erase ratio 25
Since it was found that dB or more was obtained, Pw =
Provisional recording and erasing of 15 mW, Pe / Pw = 0.5
Consider the recording pulse strategy as the power below.
Went like so. Optimal recording pulse division at each linear velocity
Let m = n-1, α1= 1, αi+ Βi-1= 1 (2 ≦
i ≦ m) and αi(Constant with 2 ≦ i ≦ m), βmTo
Variable as 3T mark or between marks (space)
The worse value of jitter (3T jitter) is almost the minimum.
And the degree of modulation is 0.6 or more, and the asymmetry is ± 10% or less.
I found a division method that would fit inside. 4 times in Fig. 21
Of 3T jitter at high speed and 10 times speediAnd βmDependence
FIG. The measurement points are also on the grid points.
Automatically interpolated by Microsoft Excel
It is carried out. In addition, the measurement uses the EFM random pattern.
Performed after 10 times overwriting, taking into account erasing performance
This is the result. Reproduction was performed at 1 × speed. 10 times faster
Where αi= Around 0.5, βm= 0.3-0.6
The minimum value of the jitter is obtained. Also at 4x speed
Is αi= 0.3-0.35, βm= 0.5-0.6
The minimum value of the jitter is obtained. Next, Pe / Pw was set to 0.5.
Instead of the above, when the recording pulse strategy is 4 × speed, α1
= 1, αi= 0.3, βm= 0.5, α at 10x speed1
= 1, αi= 0.5, βm= 0.3 and Pe /
Changes in 3T jitter when Pw and Pw are changed
Examined. FIG. 22 shows the results. Pe / Pw ratio is 4x speed,
It is preferable that both 10 × speed be smaller than 0.5.
Pw = 0.4-0.5 Wide Pw margin
It is understood that it is preferable. Note that this figure shows
However, if Pe / Pw is greater than 0.6, the overall
Characteristic, especially on the high Pw side, the characteristics are rapidly deteriorated. 4
Wide recording power margin at both double speed and 10x speed
Was selected so that Pe / Pw = 0.43. The recording power is 17 at any double speed.
mW was selected. Under these conditions, at 4, 8 and 10 times speed
Αi, ΒmFIG. 23 shows the result of the dependency measurement again.
You. Reproduction was performed at 1 × speed. At 4 and 10 times speed
Optimal αi, ΒmIs almost the same as in FIG.
Especially at 10 × speed, the jitter is reduced and αiAgainst changes in
And a wider margin was obtained. At 8x speed, αi=
0.4-0.5, βm= 0.2 to 0.5, minimum jitter
Values have been obtained. Similar results were obtained at 6x speed.
Therefore, the medium in this embodiment is α1When constant at = 1
At each double speed, αi, Βm± 0.5 with respect to 0.5.
25 for optimum recording pulse width at each double speed.
I found that I could get a strategy. Also, α1Constant
As the linear velocity becomes lower, αiPulse strike that reduces
It is preferable to use a strategy, βmIs about 0.3
It is preferable to keep it constant or to increase the value as the linear velocity decreases.
I understand. Therefore, at 4 × speed α1= 1, αi= 0.2
5, βm= 0.5, α at 8x speed1= 1, αi= 0.4
(2 ≦ i ≦ m), βm= 0.3, α at 10x speed1= 1,
αi= 0.5, βm= 0.3 and Pw at all linear velocities
= 17mW, Pe / Pw = 0.43 and EFM Lander
Evaluation of the overwrite characteristics of the
Even at double speed of deviation, 3T jitter is 35 ns or less, Rtop= 1
6-18%, modulation degree m11= About 0.7, asymmetry
Values of 0-10% were obtained. This signal quality is
Playback at low error rate with CD-RW compatible playback system
It was at a possible level. Such a recording pulse strategy
Gee generates a recording pulse designed based on the current standard
It has been confirmed that it can be easily realized with a circuit.
Based on technology, CLV format, 4, 6, 8 and 10 times faster
Suitable for recording. On the other hand, at 10 times speed α1= 1, that is, α
1T = 23.1 ns, and this time length is constant at each double speed.
Α1Is changed at 4 × speed, α1=
Α at 0.4 and 8x speed1= 0.8. in this way,
Α at 10x speed1= 1, α at 8x speed1= 0.8 at 4x speed
α1= 0.4, α of 3T jitteri(2 ≦ i ≦ m)
And βmFIG. 24 shows the dependency. 1x playback
Performed at speed. Here, 4x speed, 8x speed, 10x speed
In particular, Pe / Pw = 0.43 and Pw = 17 mW.
In addition, about 10 times speed, on the same conditions as the case of FIG.
is there. That is, at 10 × speed, αi= 0.45-0.
55, βmFIG. 21 shows that the jitter is minimized at about = 0.3.
Is the same as Here, at 8 × speed, αi= 0.35
0.45, β m= 0.3-0.5, α at 4x speedi=
0.2 or more (measurement is up to 0.3), βm= About 0.3 or more
The minimum value of the jitter was obtained (measurement was up to 0.65). At 4 ×, 8 ×, and 10 × speeds, α1
T = 23.1 nanoseconds, αiT = 11.6 ns (2 ≦ i
≤ m) and βm= 0.3 constant
Or β at 4x speedm= 0.5, β at 8x speedm= 0.35,
Β at 10x speedm= 0.3 as the linear velocity becomes lowermThe size
Good overwriting in the range of 4 to 10 times speed
Becomes possible. That is, the medium in this embodiment is a conventional medium.
CLV system based on recording pulse strategy and book
Recording pulse stratification in CAV system newly proposed in the invention
A wide range of applications that can be used for any of the technologies
You. In the following, based on the result of FIG.1T = 23.
1 ns, αiCAV method to keep constant at T = 11.6 ns
Attention is paid to the recording pulse strategy suitable for. further,
In order for the position at a radius of 23 mm to be exactly 4 times faster,
Rotate the disk in CAV mode at about 2000 rpm
Was. The outermost circumference of the recording area has a radius of about 58 mm and a radius of 58 mm
Is about 10 times speed. The linear velocity and the data
The clock cycle is changed as shown in Table-6, and in CAV mode
Was recorded. m = n-1, Pw = 1
7 mW, Pe / Pw = 0.43, α1T = 23.1 nano
Seconds, αiT = 11.6 nanoseconds (all 2 ≦ i ≦ m
is constant at all radii.
Was. βmOnly the speed was changed according to the linear velocity. That is,
When the speed is 10 times at the outer circumference, it is set to 0.3 and the innermost circumference
When the speed becomes 4 times as high as 0.5, the intermediate radius (line
In (speed), this intermediate value was used by linearly interpolating. each
The recording pulse strategy used for the radius is
The value indicated by the ratio to the cycle T, that is, α1, Α
i, ΒmAre also shown in Table-6. In addition, recorded in the same table
3T playback at 1x speed playback of already used EFM random signal
Pace jitter, modulation, and asymmetry were shown. Reflection
Rate RtopWas constant at about 18% in each case.
The deviation of the mark length and mark length of each mark
It was good in less than ± 40 nanoseconds. Other push
Signal and wobble signal are determined by the groove shape of the board.
As a result, a value equivalent to that of the existing CD-RW was obtained. [0240] [Table 6]As can be seen from Table 6, a very simple description
Recording pulse strategy to cover a wide linear velocity range
Recording by the CAV method with the innermost circumference being about 4 times faster
You can see that it can be realized. This allows ads with different radii
Do not change the rotation speed when accessing the
Also, in the recording pulse strategy, the clock cycle
And βmOnly adjusting the recording power, etc.
Recording can be performed as is, and access performance is greatly improved.
I can do better. Note that βm= 4 to 6 even if constant at 0.3
The jitter at double speed only deteriorates by at most 2-3 nanoseconds.
, ΒmRecording can be performed by the CAV method even if the recording is constant. Book
The medium of the example is suitable for the above CAV at 4 × speed and 10 × speed.
After recording the EFM random pattern with the
Released for 500 hours in an environment of 0 ° C / 85% RH (relative humidity)
After the measurement, the recorded signal was measured again.
Data, deviation, RtopAnd the modulation depth almost change
I didn't. Modulation degree should be more than 90% of initial value
Had been maintained. Jitter is almost unchanged
Was. At 4 × speed and 10 × speed, the text
Using Star 2 at each linear velocity,
Recording pulse strategy, Pw = 18 mW, Pe /
Assuming that Pw = 0.5 and Pb = 0.8 mW,
After performing bar light, even after 1000 times, 1x speed
The 3T space jitter during playback is less than 35 nanoseconds,
Excellent repetitive overwrite durability was exhibited. With the same composition and layer configuration as above,
Prepare several disks with write characteristics, and
The study was carried out under different initialization conditions. Long axis about 100μm
(Radial direction), converges on short axis about 1.3μm (circumferential direction)
Laser light with a wavelength of about 830 nm was applied to the recording layer from the substrate side.
Irradiating and performing the initial crystallization
The scanning speed of the bundled light beam is 2, 2.5, 3, 7, 10 m /
Initialize each disk by changing s
Was. Radial beam about 50μm per disk rotation
Was moved. Initialization laser power is 500-150
At each scanning speed in the range of 0 mW,
Crystallization is performed, and the value in the formula (F1) is 10% or less.
I chose to be below. However, at a scanning speed of 10 m / s
In the initialized disk, the reflectance R2 of the initialized portion is large.
It is considered that the recording layer has become amorphous after being partially melted.
I got it. The radius of the other disks was 56.3 in Table-6.
EFM with tester 2 under 10 × speed recording conditions in mm
Initial recording of random pattern, overwriting once, 1
Overwriting was performed 0 times. 2-7m / s range
Even at the scanning speed of the deviation, the initial recording and 10 times overlap
The 3T space jitter after the site was 18 to 22
Scanning of initialization beam in nsec, 20-25 nsec
There was almost no speed dependence. However, after the first overwrite recording,
T space jitter is 45 nsec at 2.5 m / s, 2.5
33nsec at m / s, 28nsec at 7m / s, 7m
/ S was 23 nsec. After the first overwrite
The rise of the jitter of the crystal
It is thought to be due to the difference in size or crystal orientation.
And almost all are erased after 10 times overwriting
It is considered that the jitter is reduced because of the state. this
From the viewpoint, the initialization condition is generally in the range of 2.5 to 7 m / s.
It turned out to be desirable. (Embodiment 12) In the medium of the embodiment 11, α1
T = 23.1 nanoseconds, α1T = 11.6 ns (2 ≦ i
.Ltoreq.m-1) while maintaining the same as in Table-6.
(1.2 m / s, T = 231 ns), 2 × speed (2.4
m / s, T = 116 ns)
Tried. Pw = 17mW, Pe = 0.43 is any field
In this case, it was the same as Table-6. Furthermore, α1= 1 fixed
α1And βmWas also optimized for each linear velocity. This
In the case of, the recording radius position is about 40mm and the disc rotation
By adjusting the number, 1 × speed and 2 × speed at the radius position
It was adjusted to become. As shown in Table 7, the same as Table 6 at 1x speed
3T space jitter when reproduced, βm, Modulation depth,
The symmetry values were summarized. ΒmEach
Good overwriting is possible by adjusting the linear velocity.
Was. [0247] [Table 7] Further, the medium of Example 11 was increased by a factor of 12
Tester at high speed (14.4m / s, T = 19.3nsec)
Using No. 2, overwrite recording was performed. m = n-
1, α 1= 0.5, βm= 0.3, αi+ Βi-1= 1 (2 ≦
i ≦ m), Pw = 18 mW, Pe / Pw = 0.4
Overwrite 10 times using recording pulse strategy
After that, reproduction was performed at 1 × speed. 3T space space
29.3 nanoseconds, 11T space jitter 31.8 na
Nosec, modulation degree 0.61, asymmetry -0.093
Good overwriting was possible. (Comparative Example 6) In the above basic example, the following
The disc was manufactured as described above, and recording was performed. On the substrate,
(ZnS)80(SiOTwo)2097 of lower protective layer consisting of
nm, InFiveGeFiveSb70Te2020n recording layer
m, (ZnS)80(SiOTwo)20Upper protective layer consisting of
40 nm, Al97.5Ta2.5Reflective layer 250n
m, about 4 μm of an ultraviolet curable resin layer,
A rewritable compact disc was manufactured. Reflective body
The product resistivity is 270 nΩ · m, and the area resistivity is 1.1 Ω / □.
Met. Using a tester 1 in the same manner as in Example 2
-Overlite characteristics were evaluated. The results are shown in FIG.
You. From FIG. 33, in the above compact disc,
Is very narrow in the region where the jitter is 17 nsec or less,
Can not cover a wide area from 4x to 8x speed
You can see that. [0250] According to the present invention, at least four times speed is achieved.
8 times while maintaining compatibility with the conventional CD-RW standard
High-speed recording at a high speed can be performed. Finally, CD-RW
Can increase the recording speed and transfer rate of music,
Record large amounts of data such as images and external storage
The use of CD-RW can be greatly expanded
You. Also, according to the present invention, only the conventional CLV mode is used.
CD-RW that has been recorded can be recorded in CAV mode
Can greatly reduce the power consumption of the drive.
Access speed and seek speed of CD-RW media
It will be improved. In addition, random packet recording is more efficient
Media for external storage devices of computers
Performance greatly increases.

【図面の簡単な説明】 【図1】本発明のパルス分割方法の一例の説明図 【図2】EFM変調信号の再生波形(アイパターン)の
模式図 【図3】非晶質形成及び再結晶化過程と、反射層の放熱
効果及び記録時線速度の関係の説明図 【図4】パルス分割方法の説明図 【図5】本発明の記録方法によるパルス発生方法の一例
の説明図 【図6】本発明に係る記録方法を実現する記録装置の構
成の一例を示す概念図 【図7】本発明において基準データクロックを発生し記
録を行う流れの一例を示す図 【図8】本発明において基準データクロックを発生し記
録を行う流れの他の一例を示す図 【図9】本発明において基準データクロックを発生し記
録を行う流れの他の一例を示す図 【図10】実施例1におけるオーバーライト特性を示す
グラフ 【図11】実施例1におけるオーバーライト耐久性を示
すグラフ 【図12】実施例1におけるオーバーライト特性を示す
グラフ 【図13】実施例3におけるオーバーライト特性を示す
グラフ 【図14】実施例6におけるオーバーライト特性を示す
グラフ 【図15】本発明の記録方法を達成するための一例を示
すフロー図 【図16】本発明の記録再生装置の一例を示す概念図 【図17】実施例8におけるオーバーライト特性を示す
グラフ 【図18】実施例9におけるオーバーライト特性を示す
グラフ 【図19】実施例10におけるオーバーライト特性を示
すグラフ 【図20】実施例11におけるオーバーライト消去比の
Pw依存性を示すグラフ 【図21】実施例11におけるオーバーライト特性を示
すグラフ 【図22】実施例11における他のオーバーライト特性
を示すグラフ 【図23】実施例11におけるさらに他のオーバーライ
ト特性を示す図 【図24】実施例11におけるさらに他のオーバーライ
ト特性を示す図 【図25】ATIPアドレスに沿ったデータ配置の模式
図 【図26】媒体の案内溝の蛇行の様子又はピット列n蛇
行の様子を示す模式図 【図27】本発明の媒体のデータの配置の一例を示す模
式図 【図28】CD−ROMフォーマットにおけるブロック
の構造を示す模式図 【図29】CD−ROMにおけるパケットの構造を示す
模式図 【図30】P−ROMを用いた際の、CD−RWドライ
ブとホストコンピュータとを示した模式図 【図31】P−ROMを用いたCAV方式による記録再
生の手順を示すフローチャート 【図32】In3Ge5Sb70Te22薄膜の透過電子顕微
鏡による電子線回折像 【図33】比較例6におけるオーバーライト特性を示す
グラフ
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is an explanatory diagram of an example of a pulse dividing method according to the present invention. FIG. 2 is a schematic diagram of a reproduced waveform (eye pattern) of an EFM modulation signal. FIG. FIG. 4 is an explanatory diagram of the relationship between the conversion process, the heat radiation effect of the reflective layer, and the linear velocity during recording. FIG. 4 is an explanatory diagram of a pulse division method. FIG. FIG. 7 is a conceptual diagram showing an example of a configuration of a recording apparatus for realizing a recording method according to the present invention. FIG. 7 is a diagram showing an example of a flow for generating a reference data clock and recording in the present invention. FIG. 9 is a diagram showing another example of a flow for generating and recording a data clock. FIG. 9 is a diagram showing another example of a flow for generating and recording a reference data clock in the present invention. FIG. 10 is an overwrite in the first embodiment. Graph showing characteristics [Figure 11] FIG. 12 is a graph showing overwrite durability in Example 1. FIG. 12 is a graph showing overwrite characteristics in Example 1. FIG. 13 is a graph showing overwrite characteristics in Example 3. FIG. 14 is an overwrite characteristic in Example 6. FIG. 15 is a flowchart showing an example for achieving the recording method of the present invention. FIG. 16 is a conceptual diagram showing an example of a recording / reproducing apparatus of the present invention. FIG. FIG. 18 is a graph showing overwrite characteristics in Example 9. FIG. 19 is a graph showing overwrite characteristics in Example 10. FIG. 20 is a graph showing Pw dependency of an overwrite erase ratio in Example 11. FIG. 21 is a graph showing overwrite characteristics in Example 11. FIG. 22 is another graph in Example 11; FIG. 23 is a graph showing characteristics. FIG. 23 is a graph showing still another overwrite characteristic in the eleventh embodiment. FIG. 24 is a graph showing still another overwrite characteristic in the eleventh embodiment. FIG. 25 is a data arrangement along an ATIP address. FIG. 26 is a schematic view showing a meandering state of a guide groove of a medium or a meandering state of a pit row n. FIG. 27 is a schematic view showing an example of data arrangement of a medium of the present invention. FIG. 28 is a CD-ROM. FIG. 29 is a schematic diagram showing the structure of a block in a format. FIG. 29 is a schematic diagram showing the structure of a packet in a CD-ROM. FIG. 30 is a schematic diagram showing a CD-RW drive and a host computer when a P-ROM is used. Figure 31 is a flowchart showing a procedure of recording-reproducing by CAV method using the P-ROM [32] in 3 Ge 5 Sb 70 Te 22 film transmission electron microscopy Graph showing the overwrite characteristics in the electron beam diffraction image [33] Comparative Example 6 with

フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G11B 7/125 G11B 7/125 C 20/10 301 20/10 301Z 20/14 311 20/14 311 351 351A (72)発明者 久保 正枝 神奈川県横浜市青葉区鴨志田町1000番地 三菱化学 株式会社横浜総合研究所内 (72)発明者 堀江 通和 神奈川県横浜市青葉区鴨志田町1000番地 三菱化学 株式会社横浜総合研究所内 Fターム(参考) 5D044 BC06 CC06 DE38 DE45 DE57 EF05 FG19 FG25 GL38 GM02 GM11 GM32 5D090 AA01 BB04 CC02 CC05 CC12 CC14 DD05 EE02 FF07 FF08 FF33 GG03 GG09 GG10 GG28 HH01 HH03 JJ12 KK03 KK05 5D789 AA23 AA24 BA01 BB03 DA02 DA05 DA06 HA19 HA27 HA45 HA49 HA50 HA52 HA57 HA60Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat II (reference) G11B 7/125 G11B 7/125 C 20/10 301 20/10 301Z 20/14 311 20/14 311 351 351A (72) Inventor Masae Kubo 1000 Kamoshita-cho, Aoba-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Prefecture Mitsubishi Chemical Co., Ltd., Yokohama Research Laboratory (72) (Reference) 5D044 BC06 CC06 DE38 DE45 DE57 EF05 FG19 FG25 GL38 GM02 GM11 GM32 5D090 AA01 BB04 CC02 CC05 CC12 CC14 DD05 EE02 FF07 FF08 FF33 GG03 GG09 GG10 GG28 HH01 HH03 JJ12 HA03 DA03 HA05 DA035 HA52 HA57 HA60

Claims (1)

【特許請求の範囲】 【請求項1】 相変化型記録層を有する書換え型円盤状
光記録媒体にCLV方式にてEFM変調された情報を複
数のマーク長及びマーク間長により記録するにあたり、
一つの記録マークの時間的長さをnTとしたとき(Tは
基準クロック周期。nは3〜11までの整数)、 記録マーク間に対しては、非晶質を結晶しうる消去パワ
ーPeの記録光を照射し、 記録マークに対しては、そのうちの時間的長さ(n−
j)Tを、 α1 T、β1 T、α2 T、β2 T、・・・・、αm T、
βm T、 (ただし、m=n−1又はm=n−2)の順に、Σ
i (αi +βi )=n−j(jは0.0≦j≦2.0な
る実数)となるよう分割し、 αi T(1≦i≦m)なる時間内には記録層を溶融させ
るにたるPw>Peなる記録パワーPwの記録光を照射
し、βi T(1≦i≦m)なる時間内には0<Pb≦
0.5PeなるバイアスパワーPbの記録光を照射して
オーバーライトを行い、 線速1.2m/s〜1.4m/sを基準速度(1倍速)
とし、231nsをその際の基準クロック周期としたと
き、 (1)4倍速においては、α1 =0.3〜1.5、αi
=0.2〜0.7(2≦i≦m)、αi +βi-1 =1〜
1.5(3≦i≦m)とし、 (2)1又は2倍速においては、α1 =0.05〜1.
0、αi =0.05〜0.5(2≦i≦m)、αi +β
i-1 =1〜1.5(3≦i≦m)とし、 (3)6、8、10及び12倍速のいずれかの倍速にお
いては、α1 =0.3〜2、αi =0.3〜1(2≦i
≦m)、αi +βi-1 =1〜1.5(3≦i≦m)とす
ることを特徴とする書換え型光記録媒体への記録方法。 【請求項2】 使用するいずれの線速においても、 mを一定とし、 α1 =約1、αi =0.3〜0.6(ただしiは2〜m
の整数)として、αi+βi-1(但しiは3〜mの整数)
を一定の値とし、且つ低線速ほどαi (ただしiは2〜
mの整数)を単調に減少させる請求項に記載の書き換
え型光記録媒体への記録方法。 【請求項3】 使用するいずれの線速においても、 mを一定とし、且つα1 T、αi T(ただしiは3〜m
の整数)、及びαi+βi-1(但しiは3〜mの整数)を
一定の値とする請求項に記載の書き換え型光記録媒体
への記録方法。 【請求項4】 使用するいずれの線速においてもmを一
定とし、且つ全てのi(ただしiは2〜mの整数)に対
してαi+βi-1=約1とする請求項2又は3に記載の書
き換え型光記録媒体への記録方法。 【請求項5】 αi/α1=0.3〜0.7(ただし、i
は2〜mの整数)である請求項に記載の書き換え型光
記録媒体への記録方法。 【請求項6】 使用するいずれの線速においてもβm
0〜1.5とし、かつ、βm をいずれの線速においても
一定とするか又は線速が低いほど大きくする請求項1乃
至5のいずれか1つに記載の書換え型光記録媒体への記
録方法。 【請求項7】 使用するいずれの線速においても、αi
T(1≦i≦m)及びβi T(1≦i≦m−1)を10
ナノ秒以上とする請求項1乃至6のいずれかに記載の書
換え型光記録媒体への記録方法。 【請求項8】 所定の記録領域を有する書換え型円盤状
光記録媒体を角速度一定で回転させたCAV方式にてE
FM変調された情報を複数のマーク長により記録するに
当たり、 線速1.2m/s〜1.4m/sを基準速度(1倍速)
として記録領域最外周での線速度が少なくとも10倍速
となるように該ディスクを回転させ、 一つの記録マークの時間的長さをnTとしたとき(Tは
基準クロック周期であり、その半径位置における線速度
Vとの積VTが一定となるように半径位置に応じてTは
変化する。nは3〜11までの整数)、 記録マーク間に対しては、非晶質を結晶化しうる消去パ
ワーPeの記録光を照射し、 記録マークに対しては、そのうちの時間的長さ(n−
j)Tを、 α1 T、β1 T、α2 T、β2 T、・・・・、αm T、
βm T、 (ただし、m=n−1 α1 =0.75〜1.25、 αi =0.25〜0.75 (2≦i≦m)、 αi +βi-1 =1〜1.5 (3≦i≦m))、の順に、Σi (αi +βi )=n−
j(jは0.0≦j≦2.0なる実数)となるよう分割
し、 αi T(1≦i≦m)なる時間内には記録層を溶融させ
るにたるPw>Peなる記録パワーPwの記録光を照射
し、βi T(1≦i≦m)なる時間内には0<Pb≦
0.5PeなるバイアスパワーPbの記録光を照射して
オーバーライトを行い、 いずれの半径位置においてもα1 及びαi +βi-1 (i
=3〜m)を一定とし、内周ほどαi (i=3〜m)を
減少させる光記録媒体への記録方法。 【請求項9】 所定の記録領域を有する書換え型円盤状
光記録媒体を角速度一定で回転させたCAV方式にてE
FM変調された情報を複数のマーク長により記録するに
当たり、 線速1.2m/s〜1.4m/sを基準速度(1倍速)
として記録領域最外周での線速度が少なくとも10倍速
となるように該ディスクを回転させ、 一つの記録マークの時間的長さをnTとしたとき(Tは
基準クロック周期であり、その半径位置における線速度
Vとの積VTが一定となるように、半径位置に応じてT
は変化する。nは3〜11までの整数)、 記録マーク間に対しては、非晶質を結晶化しうる消去パ
ワーPeの記録光を照射し、 記録マークに対しては、そのうちの時間的長さ(n−
j)Tを、 α1 T、β1 T、α2 T、β2 T、・・・・、αm T、
βm T、 (ただし、m=n−1、αi /α1=0.3〜0.7
(ただしiは2〜mの整数)、 αi +βi-1 =約1 (3≦i≦m))、の順に、Σi (αi +βi )=n−
j(jは0.0≦j≦2.0なる実数)となるよう分割
し、 αi T(1≦i≦m)なる時間内には記録層を溶融させ
るにたるPw>Peなる記録パワーPwの記録光を照射
し、βi T(1≦i≦m)なる時間内には0<Pb≦
0.5PeなるバイアスパワーPbの記録光を照射して
オーバーライトを行い、 いずれの半径位置においてもαi T(i=2〜m)及び
αi +βi-1 (i=3〜m)を一定とする書換え型光記
録媒体への記録方法。 【請求項10】 記録領域のいずれの半径においても、
βm =0〜1.5とし、かつ、βm を内周ほど単調に大
きくする請求項8又は9のいずれかに記載の書換え型光
記録媒体への記録方法。 【請求項11】 少なくとも半径23mm〜58mmの
領域を記録領域とする書換え型コンパクトディスクを用
いる請求項8乃至10のいずれか1つに記載の書換え型
光記録媒体への記録方法。 【請求項12】 いずれの半径位置においても、αi
(1≦i≦m)及びβi T(1≦i≦m)を10ナノ秒
以上とする請求項8乃至11のいずれかに記載の書換え
型光記録媒体への記録方法。 【請求項13】 使用するいずれの線速においても、P
b、Pw、及びPe/Pwの値が実質的に一定である
求項8乃至12のいずれか1つに記載の書き換え型光記
録媒体への記録方法。 【請求項14】 書換え型円盤状光記録媒体は、基板上
に、1倍速に換算して搬送周波数約22.05kHzで
ATIP情報により±1kHzで周波数変調されたウォ
ブル信号を有するウォブル溝を有しており、 角速度一定で該ディスクを回転させながら該搬送周波数
を検出し、検出された周波数を196倍してディスク半
径に応じたデータ基準クロックを得、 さらに該ATIP信号を検出し、検出されたATIP信
号の同期パターンとディスク回転とに同期したデータ基
準クロックを得る請求項8乃至13のいずれかに記載の
書換え型光記録媒体への記録方法。 【請求項15】 書換え型円盤状光記録媒体は、基板上
に、1倍速に換算して搬送周波数22.05kHzでA
TIP情報により約22.05kHz±1kHzに周波
数変調されたウォブル信号を有するウォブル溝と、2
2.05kHzの2倍から8倍の繰返し周波数で溝に沿
って配置されたクロックマークが設けられてなり、 角速度一定で該ディスクを回転させながら該クロックマ
ークを検出し、クロックマークの繰返し周波数を所定倍
してデータの基準クロックを得る請求項8乃至13のい
ずれかに記載の書換え型光記録媒体への記録方法。 【請求項16】 書換え型円盤状光記録媒体は、基板上
に、線速一定のときに搬送周波数が一定のウォブル信号
を有するウォブル溝が設けられ、該ウォブルが位相変調
されているか又は特定位置のウォブルが欠けていること
によってアドレス情報及び同期情報が付与されてなり、 角速度一定で該ディスクを回転させながら該周波数を検
出し、検出された周波数を所定倍してデータの基準クロ
ックを得る請求項8乃至13のいずれかに記載の書換え
型光記録媒体の記録方法。 【請求項17】 書換え型円盤状光記録媒体は、あらか
じめサブコードのQチャネルによる絶対時間情報がEF
M変調された信号として記録領域全面に記録されてな
り、 角速度一定で該ディスクを回転させながら該EFM変調
信号を検出し、データの基準クロック及びアドレス情報
を得る請求項8乃至13のいずれかに記載の書換え型光
記録媒体の記録方法。 【請求項18】 書換え型光記録媒体は、あらかじめC
D−ROM規格におけるブロック構造がEFM変調され
た信号として記録領域全面に記録されてなり、 角速度一定で該ディスクを回転させながら該EFM変調
信号を検出し、データの基準クロック及びアドレス情報
を得る請求項8乃至13のいずれかに記載の書換え型光
記録媒体の記録方法。 【請求項19】 一定の搬送周波数fL0とアドレス情報
によって変調された信号とに従って蛇行された空間周波
数一定の螺旋状の溝及び記録層を有し、該螺旋状の溝の
所定の位置にある記録情報の単位である記録ブロックを
識別するアドレス情報及び該ブロックの開始位置を識別
する同期情報を有するディスクを、その中心部分を軸と
して等角速度回転させる手段と、 記録再生のための集束光ビームを発生する光ピックアッ
プを所定のアドレスに移動させる半径方向の移動させる
手段と、 該記録層に集束光ビームの焦点をあわせるフォーカスサ
ーボ手段と、 該螺旋状の溝に沿って集束光ビームを走査させるための
溝トラッキングサーボ手段と、 該溝蛇行から搬送周波数fA0、アドレス情報及びブロッ
ク同期信号を検出・解読する手段と、 該記録ブロックの開始位置及び周波数fd0を有するデー
タの基準クロックTに同期してマーク長変調された記録
データ列を発生する手段と、 該記録データ列に対応して記録レーザーパワーを変調す
る手段とを有する光ディスク記録装置であって、 集束光ビームを所定アドレスの記録ブロックに半径方向
に移動させたときに該半径に反比例して変化するデータ
の基準クロックTを発生する基準信号発生器と、 所定半径における該基準クロックを1/N(Nは整数)
に分周して得られる参照信号fR0と該アドレスにおいて
検出された溝蛇行の搬送周波数fA0を位相比較すること
で、所定の半径におけるデータの基準クロック周波数f
d0とfA0がいずれの半径位置においてもfd0=N・fA0
なる関係を維持するようディスクの回転数を微調整する
とともに、記録ブロックの開始位置と該ブロックに書き
込まれるべきデータ列の同期を達成する手段と、を有す
る光ディスク記録再生装置。 【請求項20】 光ディスクの記録領域の始端もしくは
終端における基準半径Rref におけるデータの基準クロ
ックをTref (周波数fref )、記録領域の最内周から
最外周までの半径幅をΔRとし、データの記録を行うべ
き所定アドレスから計算された半径Rと、該アドレスに
おける基準クロックT(周波数fd0)が、 fd0=fref +(R−Rref )/ΔRなる関係を維持す
るようにfd0を半径に応じて変化させる請求項19に記
載の光ディスク記録再生装置。 【請求項21】 ディスクの回転数の制御範囲が基準回
転数ω0 に対して±0.01ω0 以内である請求項19
又は20に記載の光ディスク記録再生装置。 【請求項22】 溝蛇行の搬送周波数fL0が22.05
kHzであり、アドレス情報はfL0を搬送周波数として
±1kHzで周波数変調されたATIP信号であり、ω
0 が1900〜2200rpmである請求項19乃至2
のいずれかに1つに記載の光ディスク記録再生装置。 【請求項23】 情報領域に対するデータの記録及び再
生が記録と再生が同一の回転速度を保ったまま行われる
請求項8又は9に記載の書き換え型光記録媒体の記録再
生方法。 【請求項24】 プログラム領域の内周もしくは外周側
の連続した領域に所定のアプリケーションプログラムの
データが格納されたアプリケーションプログラム領域
と、残りの領域に少なくとも上記アプリケーションプロ
グラムに関連するユーザーデータが記録可能なユーザー
データ記録領域とが設定されてなり、該アプリケーショ
ンプログラム及びユーザーデータが同一のファイル管理
構造を有する固定長パケット単位で記録されており、該
アプリケーションの再生及び該アプリケーションに関連
したユーザーデータの記録がそれぞれ一定の回転速度の
まま行われる書き換え型光記録媒体に対して記録再生を
行う記録再生装置であって、 上記書き換え型光記録媒体の上記特定の領域にアクセス
してディスクをCAV回転させながら上記アプリケーシ
ョンプログラムのデータを再生して、そのプログラム内
容を実行させるためのプログラム実行手段と、 上記プログラム実行手段により実行されるアプリケーシ
ョンプログラムに従って、所要の情報を入力することの
できる情報入力手段と、 ディスクをCAV回転させたまま、上記ユーザーデータ
領域にアクセスして、上記情報入力手段により入力され
た情報をユーザーデータとして記録することの出来る記
録手段と、を備えて構成されることを特徴とする記録再
生装置。 【請求項25】 上記アプリケーションプログラムを実
行する過程において、所定のデモンストレーションの再
生を行い、該デモンストレーションに従って上記ユーザ
ーからの情報入力を促す手段と、上記ユーザーデータ領
域にアクセスして、上記入力情報をユーザーデータとし
て記録することのできる記録手段と、を有して成る請求
24に記載の記録再生装置。
Upon recording the Patent Claims 1. A phase-change rewritable disc-shaped optical recording medium to an EFM-modulated plurality of mark lengths information and inter-mark lengths in the CLV system having a recording layer,
Assuming that the time length of one recording mark is nT (T is a reference clock cycle, n is an integer from 3 to 11), the erasing power Pe capable of crystallizing an amorphous phase between recording marks. The recording light is irradiated, and the time length (n-
j) Let T be α 1 T, β 1 T, α 2 T, β 2 T,..., α m T,
β m T, where m = n−1 or m = n−2,
ii + β i ) = n−j (j is a real number satisfying 0.0 ≦ j ≦ 2.0), and the recording layer is divided within the time α i T (1 ≦ i ≦ m). A recording light having a recording power Pw satisfying Pw> Pe is applied for melting, and 0 <Pb ≦ within a time β i T (1 ≦ i ≦ m).
Overwriting is performed by irradiating recording light with a bias power Pb of 0.5 Pe, and a linear velocity of 1.2 m / s to 1.4 m / s is set as a reference velocity (1x velocity).
When 231 ns is set as the reference clock cycle at that time, (1) At 4 × speed, α 1 = 0.3 to 1.5, α i
= 0.2 to 0.7 (2 ≦ i ≦ m), α i + β i-1 = 1 to
1.5 (3 ≦ i ≦ m) (2) At 1 or 2 × speed, α 1 = 0.05 to 1.
0, α i = 0.05 to 0.5 (2 ≦ i ≦ m), α i + β
i-1 = 1 to 1.5 and (3 ≦ i ≦ m), (3) 6,8,10 and in any of the speed of 12 × speed, α 1 = 0.3~2, α i = 0 .3 to 1 (2 ≦ i
≦ m), α i + β i−1 = 1 to 1.5 (3 ≦ i ≦ m). A method for recording on a rewritable optical recording medium. 2. At any linear velocity used, m is fixed, α 1 = about 1, α i = 0.3 to 0.6 (where i is 2 to m
Α i + β i-1 (where i is an integer of 3 to m)
Is a constant value, and α i (where i is 2 to
2. The method for recording on a rewritable optical recording medium according to claim 1 , wherein (an integer of m) is monotonously decreased. 3. At any linear velocity used, m is constant and α 1 T, α i T (where i is 3 to m).
Integer), and alpha i + beta i-1 (where i is a recording method for the rewritable optical recording medium according to claim 1, constant value an integer) of 3~M. 4. The method according to claim 2, wherein m is constant at any linear velocity used, and α i + β i-1 = about 1 for all i (where i is an integer of 2 to m ). 4. The method for recording on a rewritable optical recording medium according to 3 . (5 ) α i / α 1 = 0.3 to 0.7 (where i
The method for recording on a rewritable optical recording medium according to claim 4 , wherein is an integer of 2 to m. 6. At any linear velocity used, β m =
And 0 to 1.5, and claim 1乃 to increase the beta m The lower or linear velocity to be constant at any linear velocity
6. The method for recording on a rewritable optical recording medium according to any one of Nos. 5 to 5 . 7. At any linear velocity used, α i
T (1 ≦ i ≦ m) and β i T (1 ≦ i ≦ m−1) are set to 10
7. The recording method for a rewritable optical recording medium according to claim 1 , wherein the recording time is at least nanosecond. 8. A CAV method in which a rewritable disc-shaped optical recording medium having a predetermined recording area is rotated at a constant angular velocity.
In recording FM-modulated information with a plurality of mark lengths, the linear velocity is 1.2 m / s to 1.4 m / s at the reference speed (1x speed).
When the disk is rotated so that the linear velocity at the outermost periphery of the recording area is at least 10 times faster, and the time length of one recording mark is nT (T is a reference clock cycle, and T changes in accordance with the radial position so that the product VT with the linear velocity V is constant.n is an integer from 3 to 11). The recording mark of Pe is irradiated, and the time length (n-
j) Let T be α 1 T, β 1 T, α 2 T, β 2 T,..., α m T,
β m T, (where m = n−1 α 1 = 0.75 to 1.25, α i = 0.25 to 0.75 (2 ≦ i ≦ m), α i + β i−1 = 1 to 1) 1.5 (3 ≦ i ≦ m)), Σ ii + β i ) = n−
j (j is a real number satisfying 0.0 ≦ j ≦ 2.0), and the recording power satisfying Pw> Pe to melt the recording layer within the time α i T (1 ≦ i ≦ m) The recording light of Pw is irradiated, and within the time of β i T (1 ≦ i ≦ m), 0 <Pb ≦
Overwriting is performed by irradiating recording light with a bias power Pb of 0.5 Pe, and α 1 and α i + β i-1 (i
= 3 to m) is constant, and α i (i = 3 to m) decreases toward the inner circumference. 9. E at CAV method the rewritable disc-shaped optical recording medium is rotated at a constant angular velocity with a predetermined recording area
In recording FM-modulated information with a plurality of mark lengths, the linear velocity is 1.2 m / s to 1.4 m / s at the reference speed (1x speed).
When the disk is rotated so that the linear velocity at the outermost periphery of the recording area is at least 10 times faster, and the time length of one recording mark is nT (T is a reference clock cycle, and In accordance with the radial position, T is set so that the product VT with the linear velocity V is constant.
Changes. n is an integer from 3 to 11), between the recording marks, a recording light of an erasing power Pe capable of crystallizing the amorphous is irradiated, and for the recording marks, the time length (n −
j) Let T be α 1 T, β 1 T, α 2 T, β 2 T,..., α m T,
β m T, (where m = n−1, α i / α 1 = 0.3 to 0.7
(Where i is an integer of 2 to m), α i + β i-1 = about 1 (3 ≦ i ≦ m)), and) ii + β i ) = n−
j (j is a real number satisfying 0.0 ≦ j ≦ 2.0), and the recording power satisfying Pw> Pe to melt the recording layer within the time α i T (1 ≦ i ≦ m) The recording light of Pw is irradiated, and within the time of β i T (1 ≦ i ≦ m), 0 <Pb ≦
Overwriting is performed by irradiating recording light with a bias power Pb of 0.5 Pe, and α i T (i = 2 to m) and α i + β i-1 (i = 3 to m) are obtained at any radial position. A method for recording on a rewritable optical recording medium that is constant. 10. In any radius of a recording area,
10. The recording method for a rewritable optical recording medium according to claim 8 , wherein β m = 0 to 1.5, and β m is monotonically increased toward an inner circumference. 11. The at least a recording method for rewritable optical recording medium according to any one of claims 8 to 10 using a rewritable compact disc space radius 23mm~58mm the recording area. 12. At any radial position, α i T
12. The method for recording on a rewritable optical recording medium according to claim 8, wherein (1 ≦ i ≦ m) and β i T (1 ≦ i ≦ m) are set to 10 nanoseconds or more. Also 13. A Any used linear velocity, P
b, Pw, and the value of Pe / Pw is substantially constant
13. The recording method for a rewritable optical recording medium according to any one of claims 8 to 12 . 14. A rewritable disk-shaped optical recording medium has a wobble groove having a wobble signal, which is frequency-modulated at ± 1 kHz with ATIP information at a carrier frequency of about 22.05 kHz in 1 × speed on a substrate. The carrier frequency is detected while rotating the disk at a constant angular velocity, the detected frequency is multiplied by 196 to obtain a data reference clock corresponding to the disk radius, and the ATIP signal is detected and detected. 14. The recording method for a rewritable optical recording medium according to claim 8, wherein a data reference clock synchronized with a synchronization pattern of the ATIP signal and rotation of the disk is obtained. 15. The rewritable disc-shaped optical recording medium has, on a substrate, A carrier frequency 22.05kHz in terms of 1x
A wobble groove having a wobble signal frequency-modulated to about 22.05 kHz ± 1 kHz by TIP information;
A clock mark is provided along the groove at a repetition frequency of 2 to 8 times 2.05 kHz. The clock mark is detected while rotating the disk at a constant angular velocity, and the repetition frequency of the clock mark is set. 14. The method for recording on a rewritable optical recording medium according to claim 8, wherein a reference clock of data is obtained by multiplying by a predetermined value. 16. The rewritable disc-shaped optical recording medium is provided with a wobble groove having a wobble signal having a constant carrier frequency when the linear velocity is constant, on the substrate, and the wobble is phase-modulated or at a specific position. claims wobble is granted the address information and the synchronization information by the lack, while rotating the disk at a constant angular velocity by detecting the frequency, obtaining a reference clock data by a predetermined factor the detected frequency Item 14. The recording method for a rewritable optical recording medium according to any one of Items 8 to 13 . 17. The rewritable disc-shaped optical recording medium has a structure in which absolute time information based on the Q channel of a subcode is previously EF.
M is recorded in the entire recording area becomes in a modulated signal, while rotating the disk at a constant angular velocity by detecting the EFM modulation signal, to any one of claims 8 to 13 to obtain the reference clock and address information of the data The recording method of the rewritable optical recording medium described in the above. 18. rewritable optical recording medium in advance C
Claims block structure in D-ROM standard is to be recorded in the entire recording area as EFM-modulated signal, while rotating the disk at a constant angular velocity by detecting the EFM modulated signal to obtain a reference clock and address information of the data Item 14. The recording method for a rewritable optical recording medium according to any one of Items 8 to 13 . 19. has a groove and a recording layer of the meandering spatial frequency fixed spiral accordance with signal modulated by a constant carrier frequency f L0 and the address information, in place of the helical groove Means for rotating a disk having address information for identifying a recording block, which is a unit of recording information, and synchronization information for identifying the start position of the block, at a constant angular velocity about a central portion thereof, and a focused light beam for recording and reproduction Means for radially moving an optical pickup for generating a laser beam to a predetermined address; focus servo means for focusing a focused light beam on the recording layer; and scanning the focused light beam along the spiral groove. a groove tracking servo means for, conveying the groove meander frequency f A0, means for detecting and decoding the address information and the block synchronization signal, Means for generating a recording data string mark length modulation in synchronization with the reference clock T of data having a start position and the frequency f d0 of the recording block, and means for modulating the recording laser power corresponding to the recording data sequence An optical disk recording apparatus having a reference signal generator for generating a reference clock T of data that changes in inverse proportion to the radius when a focused light beam is moved in a radial direction to a recording block at a predetermined address; The reference clock at the radius is 1 / N (N is an integer)
By comparing the phase of the reference signal f R0 obtained by dividing the frequency with the carrier frequency f A0 of the meandering groove detected at the address, the reference clock frequency f of the data at a predetermined radius is obtained.
d0 and f A0 even f at any radial position d0 = N · f A0
An optical disk recording / reproducing apparatus, comprising: means for finely adjusting the number of revolutions of a disk so as to maintain the following relationship, and for achieving synchronization between the start position of a recording block and a data string to be written in the block. 20. Tref (frequency f ref ) is a reference clock of data at a reference radius R ref at the start or end of the recording area of the optical disk, and ΔR is the radius width from the innermost circumference to the outermost circumference of the recording area. And the reference clock T (frequency f d0 ) at the address calculated from a predetermined address where the recording of the data is to be performed is maintained such that the relation f d0 = f ref + (R−R ref ) / ΔR is maintained. 20. The optical disk recording / reproducing apparatus according to claim 19 , wherein d0 is changed according to a radius. 21. The method of claim 19 the control range of the rotational speed of the disk is ± 0.01ω 0 within the reference rotational speed omega 0
Or the optical disk recording / reproducing apparatus according to 20 . 22. carrier frequency f L0 of the groove meandering 22.05
and the address information is an ATIP signal frequency-modulated at ± 1 kHz using f L0 as a carrier frequency.
0 is 1900~2200rpm claims 19 to 2
2. The optical disk recording / reproducing apparatus according to any one of 1. 23. Recording and reproduction of data with respect to an information area are performed while recording and reproduction are maintained at the same rotational speed.
A recording / reproducing method for a rewritable optical recording medium according to claim 8 . 24. an application program area in which data of the inner circumference or the outer circumference side continuous predetermined application program in the area of stored program area, the user data associated with at least said application program the remaining area is recordable A user data recording area is set, and the application program and user data are recorded in fixed-length packet units having the same file management structure, and reproduction of the application and recording of user data related to the application are performed. What is claimed is: 1. A recording / reproducing apparatus for performing recording / reproducing on / from a rewritable optical recording medium which is performed at a constant rotational speed, wherein said disk is CAV-rotated while accessing said specific area of said rewritable optical recording medium. App Program execution means for reproducing data of an application program and executing the program contents; information input means capable of inputting required information in accordance with the application program executed by the program execution means; Recording and reproducing means for accessing the user data area while rotating the CAV and recording information input by the information input means as user data. apparatus. 25. In the process of executing the application program, a predetermined demonstration is reproduced, and means for prompting the user to input information according to the demonstration, and accessing the user data area, and transmitting the input information to the user 25. The recording / reproducing apparatus according to claim 24 , further comprising: recording means capable of recording as data.
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