JP2003328157A - Plated material, production method thereof and electrical and electronic parts obtained by using the same - Google Patents

Plated material, production method thereof and electrical and electronic parts obtained by using the same

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JP2003328157A
JP2003328157A JP2002130690A JP2002130690A JP2003328157A JP 2003328157 A JP2003328157 A JP 2003328157A JP 2002130690 A JP2002130690 A JP 2002130690A JP 2002130690 A JP2002130690 A JP 2002130690A JP 2003328157 A JP2003328157 A JP 2003328157A
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a plated material which combines satisfactory heat resistance and inserting/extracting properties. <P>SOLUTION: An undercoat layer 2 consisting of any one kind selected from Fe or an Fe alloy, Ni or an Ni alloy, and Co or a Co alloy, the first intermediate plating layer 3 consisting of Sn or an Sn alloy, the second intermediate plating layer 4 consisting of Cu or a Cu alloy and a surface plating layer 5 consisting of Sn or an Sn alloy are formed on the surface of an electrically conductive substrate 1 in this order. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はめっき材料とその製
造方法、そのめっき材料を用いた電気・電子部品に関す
る。更に詳しくは、耐熱性が良好で、例えば自動車のエ
ンジンルームのような高温環境下で使用するコネクタの
材料として好適なめっき材料に関する。また、良好な耐
熱性と挿抜性を兼ね備えているので、高温環境下で使用
する嵌合型コネクタや接触子の材料として好適なめっき
材料に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a plating material, a method for producing the same, and electric / electronic parts using the plating material. More specifically, the present invention relates to a plating material which has good heat resistance and is suitable as a material for a connector used in a high temperature environment such as an automobile engine room. Further, the present invention relates to a plating material suitable as a material for a fitting type connector or a contactor used in a high temperature environment because it has both good heat resistance and insertability / extractability.

【0002】[0002]

【従来の技術】CuやCu合金から成る導電性基材の上
に、SnやSn合金から成るめっき層を設けた材料は、
基材の優れた導電性や強度と、SnやSn合金の良好な
電気接触特性、耐食性、はんだ付け性とを兼ね備えた高
性能導体として知られている。そして、この材料は各種
の端子やコネクタなどに広く用いられている。
2. Description of the Related Art A material in which a plating layer made of Sn or Sn alloy is provided on a conductive base material made of Cu or Cu alloy is
It is known as a high-performance conductor having excellent conductivity and strength of a base material and good electrical contact characteristics, corrosion resistance, and solderability of Sn or Sn alloy. This material is widely used for various terminals and connectors.

【0003】このような材料としては、通常、基材の上
にCuまたはNiの下地めっきを施したのち、その上
に、直接、SnまたはSn合金のめっきを施して製造し
たものが用いられている。この下地めっき層は、基材成
分(CuやZnなどの合金成分)が表面のSnまたはS
n合金へ熱拡散することを抑制するために設けられるも
のである。とくに、下地めっき層がNiやNi合金から
成るめっき層である場合には、高温環境下にあっても表
面のSnまたはSn合金への上記した熱拡散を遅延させ
る効果が大きい。そのため、長時間に亘って表面におけ
るSnやSn合金の特性が確保されることになる。
As such a material, there is usually used a material produced by subjecting a base material to an undercoat of Cu or Ni and then directly plating an Sn or Sn alloy thereon. There is. This base plating layer has a base material component (alloy component such as Cu or Zn) of Sn or S on the surface.
It is provided in order to suppress thermal diffusion to the n alloy. In particular, when the base plating layer is a plating layer made of Ni or a Ni alloy, the effect of delaying the above-mentioned thermal diffusion to Sn or the Sn alloy on the surface is great even in a high temperature environment. Therefore, the characteristics of Sn or Sn alloy on the surface can be secured for a long time.

【0004】しかしながら、NiやNi合金の下地めっ
き層を有する上記した材料の場合であっても、次のよう
な問題が生じている。例えば自動車のエンジンルームの
エンジン付近のようなとくに高温となる箇所で用いられ
ると、やはり、基材のCuや、下地のNi、Ni合金が
経時的に表面めっき層側へ熱拡散していく。そしてある
時間の経過後にあっては、表面めっき層は当初のSnや
Sn合金でなくなり、事実上、SnやSn合金から成る
表面めっき層が消失してしまう。その結果、そのめっき
材料は本来の性能を発揮しなくなってしまう。
However, even in the case of the above-mentioned material having the undercoat layer of Ni or Ni alloy, the following problems occur. For example, when it is used in a particularly high temperature place such as in the vicinity of an engine in an engine room of an automobile, Cu of the base material, Ni of the base material, and Ni alloy of the base material also thermally diffuse to the surface plating layer side with time. After a certain period of time, the surface plating layer is not the original Sn or Sn alloy, and the surface plating layer made of Sn or Sn alloy disappears in effect. As a result, the plating material will not exhibit its original performance.

【0005】このような問題は、SnやSn合金から成
る表面めっき層の厚みを厚くして、当該表面めっき層の
消失時間を長くすることにより解消することができる。
しかしながら、そのような対応策は資源の浪費を招く。
しかも、それだけではなく、そのめっき材料が例えば多
極の嵌合型コネクタに用いられる場合、SnやSn合金
の厚みが厚いので嵌合時における摩擦力は大きくなり、
組み付け作業が困難になるという問題を新たに引き起こ
すことがある。
Such a problem can be solved by increasing the thickness of the surface plating layer made of Sn or Sn alloy to prolong the disappearance time of the surface plating layer.
However, such countermeasures waste resources.
Moreover, not only that, but when the plating material is used in, for example, a multi-pole fitting type connector, since the thickness of Sn or Sn alloy is large, the frictional force at the time of fitting becomes large,
This may cause a new problem that the assembling work becomes difficult.

【0006】ところで、嵌合型コネクタでは、オス端子
とメス端子を嵌合して電気的接続をとっている。そして
近年、自動車に搭載するコネクタ端子に関しては、伝送
情報の多量化、電子制御化の進展が進んでいる。そのこ
とに伴なって、コネクタの多極化が進んでいる。その場
合、コネクタの多極化に伴い、嵌合する接点の数が増加
するので、多極化したコネクタに対しては、嵌合時にお
ける挿入力を低減させることが強く要望されている。
By the way, in the fitting type connector, the male terminal and the female terminal are fitted to each other for electrical connection. In recent years, with regard to connector terminals mounted on automobiles, the amount of transmission information is increasing and electronic control is progressing. Along with that, the number of poles of connectors is increasing. In that case, since the number of contacts to be fitted increases as the number of poles of the connector increases, it is strongly demanded that the insertion force at the time of fitting be reduced for the connector having a lot of poles.

【0007】このような要望に応える端子としては、例
えば端子表面にAuめっき層を形成したものがある。A
uめっき層を表面に設けることにより、その端子の挿入
力は低減する。しかしながら、Auは非常に高価である
ため、製造されたコネクタ端子は高コストになるという
問題がある。そのため、ごく一部の高信頼性が要求され
るコネクタ端子にしか適用されていない。
As a terminal which meets such a demand, there is, for example, one in which an Au plating layer is formed on the surface of the terminal. A
By providing the u-plated layer on the surface, the insertion force of the terminal is reduced. However, since Au is very expensive, there is a problem in that the manufactured connector terminals are expensive. Therefore, it is applied only to a part of the connector terminals that require high reliability.

【0008】なお、一般のコネクタ端子としては、Cu
のような導電性基材の表面にSnめっきが施されている
ものが使用されている。この端子の場合、Snは易酸化
性材料であるため、大気中では、その表面に、常に、硬
質なSn酸化皮膜が形成された状態になっている。そし
て、この端子を挿入すると、上記した硬質のSn酸化皮
膜が相手材との嵌合時に破れる。そして、その下に位置
する未酸化のSnめっき層と相手材とが接触して、両者
間では良好な電気的接続が実現する。しかしながら、形
成されているSnめっき層が薄い場合には、そのめっき
層全体が酸化皮膜化するため、嵌合時に当該酸化皮膜が
破れにくくなる。しかも、基材がCuまたはCu合金か
ら成る場合は、高温環境下での実使用時に、表面の薄い
Snめっき層のSn成分と基材成分とが反応してCu成
分が表面に露出し、表面にはCuの酸化皮膜が形成され
る。その結果、相手材との接触信頼性を喪失してしま
う。
As a general connector terminal, Cu is used.
Such a conductive base material having Sn plating on its surface is used. In the case of this terminal, since Sn is an easily oxidizable material, a hard Sn oxide film is always formed on the surface in the atmosphere. Then, when this terminal is inserted, the above-mentioned hard Sn oxide film is broken at the time of fitting with the mating material. Then, the unoxidized Sn plating layer located therebelow and the mating material come into contact with each other, and good electrical connection is realized between them. However, when the formed Sn plating layer is thin, the entire plating layer forms an oxide film, which makes it difficult for the oxide film to break during fitting. Moreover, when the base material is made of Cu or a Cu alloy, when actually used in a high temperature environment, the Sn component of the thin Sn plating layer on the surface reacts with the base component to expose the Cu component to the surface, An oxide film of Cu is formed on. As a result, contact reliability with the mating material is lost.

【0009】このような問題は、表面のSnめっき層を
厚くすることにより発生しにくくすることができる。し
かしながら、その場合には、嵌合時に相手材との挿入力
が大きくなるという新たな問題が生ずる。このようなこ
とから、とくに高温環境下で使用するコネクタ端子の場
合には、高価なAuめっき端子か、または、表面のSn
めっき層の厚みを厚くした極数の少ないSnめっき端子
かのいずれかを使用せざるを得ないという問題があっ
た。
Such a problem can be suppressed by increasing the thickness of the Sn plating layer on the surface. However, in that case, a new problem arises that the insertion force with the mating material becomes large at the time of fitting. Therefore, especially in the case of a connector terminal used in a high temperature environment, an expensive Au-plated terminal or Sn on the surface is used.
There is a problem that any one of Sn-plated terminals having a large thickness of the plating layer and having a small number of poles must be used.

【0010】ところで、端子の表面にSnまたはSn合
金から成るめっき層を形成する場合、一般に、光沢Sn
めっきとリフローSnめっきが適用されている。これら
のうち、光沢Snめっきによって形成されためっき層の
場合、そのめっき層にはめっき処理時に用いた添加剤成
分が多く含有されている。また、めっきSnの結晶粒は
微細になる。そのため、めっき層表面の潤滑性が優れ、
かつ、嵌合・摺動時の削れ量も少なくなる。その結果、
嵌合時の挿抜性は優れている。しかしながら、結晶粒が
微細であるため粒界の数は多く、高温環境下で用いられ
ると、基材成分がめっき層の上記粒界を通って表面まで
拡散して、めっき層の表面を汚染することがある。その
ため、光沢Snめっきの材料は耐熱性に劣り、また接続
信頼性を損ねやすい。
By the way, when a plating layer made of Sn or a Sn alloy is formed on the surface of a terminal, in general, a gloss Sn is used.
Plating and reflow Sn plating are applied. Among these, in the case of a plating layer formed by bright Sn plating, the plating layer contains a large amount of additive components used during the plating process. Also, the crystal grains of the plating Sn become fine. Therefore, the lubricity of the plating layer surface is excellent,
In addition, the amount of abrasion during fitting / sliding is reduced. as a result,
Excellent mating / unmating properties when mated. However, since the crystal grains are fine, the number of grain boundaries is large, and when used in a high temperature environment, the base material component diffuses through the grain boundaries of the plating layer to the surface and contaminates the surface of the plating layer. Sometimes. Therefore, the material of the bright Sn plating is inferior in heat resistance and is likely to impair the connection reliability.

【0011】一方、リフローSnめっきの場合は、全体
のめっき処理終了後に、その表面めっき層を加熱溶融す
る。そのため、形成されたリフローめっき層では、結晶
粒径は大きくなり、かつ、めっき処理時に混入した添加
剤成分も除去されている。そのため、粒界は少なく、高
温環境下においても、基材成分の拡散に基づく接続信頼
性の低下は起こりにくく、耐熱性が向上しためっき材料
になる。しかしながら、表面のSnの結晶粒径が大きい
ので、嵌合・摺動時の削れ量は大きくなり、かつ、添加
剤成分も少ないので潤滑性に劣り、その挿抜性は低下す
る。
On the other hand, in the case of reflow Sn plating, the surface plating layer is heated and melted after the entire plating process is completed. Therefore, in the formed reflow plating layer, the crystal grain size is large, and the additive component mixed during the plating process is also removed. Therefore, the number of grain boundaries is small, and even in a high temperature environment, deterioration of connection reliability due to diffusion of base material components does not easily occur, and a plating material with improved heat resistance is obtained. However, since the crystal grain size of Sn on the surface is large, the amount of abrasion at the time of fitting / sliding becomes large, and since the additive component is also small, the lubricity is poor and the insertability thereof is deteriorated.

【0012】このようなことから、Snめっき層の耐熱
性と挿抜性を高めるために、様々な方法が提案されてい
る。例えば、特開平8−7940号公報や特開平4−3
29891号公報には、耐熱性の向上を目的として、S
nめっき層の下地として、高融点金属、とくにNiのめ
っき層を形成する方法が開示されている。この方法によ
れば、使用温度域が100〜120℃程度である場合に
は、下地Niめっき層が基材成分(CuやZnなどの合
金成分)とSnめっき層のSn成分との反応を抑制し、
しかもNiとSnとの反応速度が小さいので耐熱効果が
得られるとされている。しかしながら、140℃以上の
高温環境下においては、NiとSnとの反応速度が大き
くなり、表面Snめっき層の変質が起こり、耐熱効果が
得られなくなる。
Under these circumstances, various methods have been proposed in order to enhance the heat resistance and insertability of the Sn plating layer. For example, JP-A-8-7940 and JP-A-4-3
Japanese Patent No. 29891 discloses S for the purpose of improving heat resistance.
A method of forming a plating layer of a refractory metal, especially Ni, as a base of the n plating layer is disclosed. According to this method, when the operating temperature range is about 100 to 120 ° C., the underlying Ni plating layer suppresses the reaction between the base material component (alloy component such as Cu and Zn) and the Sn component of the Sn plating layer. Then
Moreover, since the reaction rate between Ni and Sn is small, it is said that a heat resistance effect can be obtained. However, in a high temperature environment of 140 ° C. or higher, the reaction rate between Ni and Sn becomes large, the surface Sn plating layer is deteriorated, and the heat resistance effect cannot be obtained.

【0013】また、特開平11−121075号公報や
特開平10−302864号公報には、挿抜性を向上さ
せるために、表面のSnめっき層の厚みを薄くする方法
が開示されている。この方法で形成された表面Snめっ
き層の場合、嵌合・摺動時における削れ量は低減して挿
抜性が良好になるとされている。しかしながら、Snめ
っき層の厚みが薄いので、高温環境下で使用されると、
表面のSnめっき層は基材成分の拡散によって早期の段
階で変質してしまい、電気的な接続信頼性を確保するこ
とが困難となる。
Further, Japanese Patent Laid-Open No. 11-121075 and Japanese Patent Laid-Open No. 10-302864 disclose a method of reducing the thickness of the Sn plating layer on the surface in order to improve the inserting / removing property. In the case of the surface Sn plating layer formed by this method, it is said that the amount of abrasion during fitting / sliding is reduced and the insertability is improved. However, since the Sn plating layer is thin, when used in a high temperature environment,
The Sn plating layer on the surface is deteriorated at an early stage due to diffusion of the base material component, and it becomes difficult to secure electrical connection reliability.

【0014】このように、表面にSnめっき層を形成し
た従来のめっき材料の場合、その耐熱性と挿抜性の両立
は非常に困難であるという問題があった。
As described above, in the case of the conventional plating material having the Sn plating layer formed on the surface thereof, there is a problem that it is very difficult to achieve both heat resistance and insertability / extractability.

【0015】[0015]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、表面にSn
またはSn合金のめっき層が形成されているめっき材料
において、高温環境下にあっても、当該めっき層と基材
や下地めっき層との間で拡散反応が遅くなるように設計
されているので、耐熱性が良好であるめっき材料、ま
た、上記した良好な耐熱性とともに挿抜性も良好であ
り、高温環境下で使用される嵌合型コネクタや接触子な
どの材料として好適なめっき材料の提供を目的とする。
DISCLOSURE OF THE INVENTION Problems to be Solved by the Invention
Alternatively, in a plating material on which a Sn alloy plating layer is formed, the diffusion reaction between the plating layer and the base material or underlying plating layer is slowed even under a high temperature environment. To provide a plating material with good heat resistance, and also with good heat resistance as described above, as well as easy insertion / removal, that is suitable as a material for a mating connector or contactor used in a high temperature environment. To aim.

【0016】更に、本発明は、上記しためっき材料の製
造方法、およびそのめっき材料を用いた電気・電子部
品、例えば嵌合型コネクタ、接触子の提供を目的とす
る。
A further object of the present invention is to provide a method for producing the above-mentioned plating material, and an electric / electronic component using the plating material, such as a fitting type connector and a contact.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ために、本発明においては、導電性基体の表面に、Fe
もしくはFe合金、NiもしくはNi合金、またはCo
もしくはCo合金のいずれか1種から成る下地めっき層
と、SnまたはSn合金から成る第1中間めっき層と、
CuまたはCu合金から成る第2中間めっき層と、Sn
またはSn合金から成る表面めっき層とが、この順序で
形成されていることを特徴とするめっき材料が提供され
る。
In order to achieve the above-mentioned object, in the present invention, Fe is formed on the surface of the conductive substrate.
Or Fe alloy, Ni or Ni alloy, or Co
Alternatively, a base plating layer made of any one of Co alloys, and a first intermediate plating layer made of Sn or Sn alloys,
A second intermediate plating layer made of Cu or a Cu alloy, and Sn
Alternatively, there is provided a plating material characterized in that the surface plating layer made of Sn alloy is formed in this order.

【0018】また、本発明においては、導電性基材の表
面に、FeもしくはFe合金、NiもしくはNi合金、
またはCoもしくはCo合金のいずれか1種から成る下
地めっき層と、SnまたはSn合金から成る第1中間め
っき層と、CuまたはCu合金から成る第2中間めっき
層と、SnまたはSn合金から成る表面めっき層とをこ
の順序でめっき形成することを特徴とするめっき材料の
製造方法が提供される。
Further, in the present invention, Fe or Fe alloy, Ni or Ni alloy,
Alternatively, a base plating layer made of any one of Co or Co alloy, a first intermediate plating layer made of Sn or Sn alloy, a second intermediate plating layer made of Cu or Cu alloy, and a surface made of Sn or Sn alloy. Provided is a method for producing a plating material, which comprises forming a plating layer and a plating layer in this order.

【0019】また、本発明においては、上記しためっき
材料を用いた耐熱性に優れる電気・電子部品、具体的に
は、嵌合型コネクタや接触子が提供される。
Further, the present invention provides an electric / electronic component excellent in heat resistance using the above-mentioned plating material, specifically, a fitting type connector or a contactor.

【0020】[0020]

【発明の実施の形態】本発明のめっき材料は、後述する
ような5層構造になっている。そして、各層の構成材料
や厚みは、前記した耐熱性の向上や、耐熱性と挿抜性を
同時に安定化して向上させることとの関係で後述するよ
うに設計される。まず、本発明のめっき材料は、図1で
示したように、全体として、導電性基材1の上に、後述
する下地めっき層2、第1中間めっき層3、第2中間め
っき層4、および表面めっき層5がこの順序で形成され
ている。このめっき材料は、下地めっき層2と表面めっ
き層5の間に、第1中間めっき層3と第2中間めっき層
4が介在し、これら第1中間めっき3と第2中間めっき
層4が後述する機能を発揮することにより、高温環境下
における表面めっき層5の消失が抑制されるところに最
大の特徴を有している。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The plating material of the present invention has a five-layer structure as described later. The constituent materials and thicknesses of the respective layers are designed as described later in relation to the above-mentioned improvement in heat resistance and the simultaneous stabilization and improvement of heat resistance and insertability / extractability. First, the plating material of the present invention, as shown in FIG. 1, as a whole, on a conductive base material 1, a base plating layer 2, a first intermediate plating layer 3, a second intermediate plating layer 4, which will be described later, And the surface plating layer 5 is formed in this order. In this plating material, a first intermediate plating layer 3 and a second intermediate plating layer 4 are interposed between a base plating layer 2 and a surface plating layer 5, and these first intermediate plating layer 3 and second intermediate plating layer 4 will be described later. The most significant feature is that the disappearance of the surface plating layer 5 in a high temperature environment is suppressed by exhibiting the function of.

【0021】まず、導電性基材1の材料は格別限定され
るものではなく、例えば接続コネクタとしての用途を考
慮し、要求される機械的強度、耐熱性、導電性に応じて
適宜選択すればよい。一般に使用される材料としては、
例えば、純銅;リン青銅、黄銅、洋白、ベリリウム銅、
コルソン合金のような銅合金;純鉄、ステンレス鋼のよ
うな鉄合金;各種のニッケル合金;Cu被覆Fe材やN
i被覆Fe材のような複合材料などから適宜に選定すれ
ばよい。
First, the material of the conductive base material 1 is not particularly limited, and may be appropriately selected according to the required mechanical strength, heat resistance, and conductivity, for example, in consideration of its use as a connector. Good. Commonly used materials include
For example, pure copper; phosphor bronze, brass, nickel silver, beryllium copper,
Copper alloy such as Corson alloy; pure iron, iron alloy such as stainless steel; various nickel alloys; Cu coated Fe material and N
It may be appropriately selected from composite materials such as i-coated Fe material.

【0022】これらの材料のうち、CuまたはCu合金
が好適である。なお、導電性基材1がCu系材料でない
場合は、その表面にCuまたはCu合金のめっきを施し
てから実使用に供すると、めっき膜の密着性や耐食性が
更に向上する。この導電性基材1の上に形成されている
下地めっき層2は、基材1と表面めっき層5との密着強
度を確保するために設けられるとともに、基材の成分が
表層側に熱拡散することを防止するバリア層としても機
能する。
Of these materials, Cu or Cu alloy is preferable. If the conductive base material 1 is not a Cu-based material, the surface of the conductive base material 1 may be plated with Cu or a Cu alloy before being used for practical use, so that the adhesion and corrosion resistance of the plated film are further improved. The base plating layer 2 formed on the conductive base material 1 is provided in order to secure the adhesion strength between the base material 1 and the surface plating layer 5, and the components of the base material are thermally diffused to the surface layer side. It also functions as a barrier layer that prevents this.

【0023】具体的には、FeまたはFe合金、Niま
たはNi合金、CoまたはCo合金などで下地めっき層
2が形成される。これらのFe,Ni,Coはいずれも
融点が1000℃以上の高融点金属である。そして、例
えば接続コネクタの使用環境温度は一般に200℃以下
であるため、このような使用環境下では、この下地めっ
き層2は熱拡散を起こしにくいことはもち論のこと、基
材成分の表層側への熱拡散を有効に防止する。
Specifically, the base plating layer 2 is formed of Fe or Fe alloy, Ni or Ni alloy, Co or Co alloy, or the like. All of these Fe, Ni and Co are high melting point metals having a melting point of 1000 ° C. or higher. And, for example, since the operating environment temperature of the connector is generally 200 ° C. or lower, it is a matter of course that the undercoat plating layer 2 is unlikely to cause thermal diffusion under such an operating environment. Effectively prevent heat diffusion to the.

【0024】そして、それらを主成分とする合金として
は、例えば、Ni−P,Ni−Sn,Co−P,Ni−
Co,Ni−Co−P,Ni−Cu,Ni−Cr,Ni
−Zn,Ni−Feなどをあげることができる。ここ
で、めっき材料における下地めっき層2の厚みは0.0
5〜2μmの範囲内に設定されていることが好ましい。
The alloys containing them as main components include, for example, Ni-P, Ni-Sn, Co-P, and Ni-.
Co, Ni-Co-P, Ni-Cu, Ni-Cr, Ni
-Zn, Ni-Fe, etc. can be mentioned. Here, the thickness of the base plating layer 2 in the plating material is 0.0
It is preferably set within the range of 5 to 2 μm.

【0025】この下地めっき層2の厚みが薄すぎると上
記した効果は充分に発揮されなくなり、また厚すぎると
基材1との密着強度が低くなって基材1から剥離しやく
すくなるからである。次に、この下地めっき層2の上に
形成される第1中間めっき層3は、SnまたはSn合金
から成る。
If the thickness of the base plating layer 2 is too thin, the above-mentioned effects cannot be sufficiently exhibited, and if it is too thick, the adhesion strength with the base material 1 becomes low and peeling from the base material 1 becomes easy. is there. Next, the first intermediate plating layer 3 formed on the base plating layer 2 is made of Sn or Sn alloy.

【0026】この第1中間めっき層3は、表面めっき層
5までのめっき形成が終了しためっき材料が高温処理を
施されたり、または高温環境下に曝されたときに、後述
する第2中間めっき層4の成分(Cu成分)と前記した
下地めっき層2の成分(Ni,Fe,Co成分など)と
反応する。そして、第2中間めっき層4との間ではSn
−Cu系金属化合物を形成し、また下地めっき層2との
間ではSn−(Ni,Fe,Co)系金属化合物を形成
する。そのため、SnまたはSn合金から成る第1中間
めっき層3の厚みは薄くなっていく。そして、第1めっ
き層3のSn成分が全て消費され、Sn−Cu系金属間
化合物やSn−(Ni,Fe,Co)系金属間化合物に
なった時点で、この第1中間めっき層3は、全体として
は、図2で示したように、第1の金属間化合物層3’に
転化する。
The first intermediate plating layer 3 is a second intermediate plating layer which will be described later when the plating material for which the plating up to the surface plating layer 5 is completed is subjected to high temperature treatment or is exposed to a high temperature environment. The component of the layer 4 (Cu component) reacts with the component of the base plating layer 2 (Ni, Fe, Co component, etc.) described above. And, Sn is formed between the second intermediate plating layer 4 and
A Cu-based metal compound is formed, and an Sn- (Ni, Fe, Co) -based metal compound is formed between the Cu-based metal compound and the underlying plating layer 2. Therefore, the thickness of the first intermediate plating layer 3 made of Sn or Sn alloy becomes smaller. Then, when all the Sn components of the first plating layer 3 are consumed and become Sn-Cu-based intermetallic compound or Sn- (Ni, Fe, Co) -based intermetallic compound, the first intermediate plating layer 3 is , As a whole, is converted into the first intermetallic compound layer 3 '.

【0027】この第1の金属間化合物層3’は、基材1
の成分や下地めっき層2の成分が表面めっき層5の方に
熱拡散していくことを遅延させて、当該表面めっき層5
の変質を防止する働きをする。しかし、その反面、脆性
である。加熱処理や高温環境下で上記したように変化し
ていく第1中間めっき層3の厚みは、0.05〜0.5μ
mに設定されることが好ましい。この厚みを薄くしすぎ
ると、上記した第1の金属間化合物層3’が充分に形成
されないため、表面めっき層5の変質を招くようにな
り、また厚くしすぎると、下地めっき層2や第2中間め
っき層4の間で剥離が起きやすくなるからである。
This first intermetallic compound layer 3'is formed on the substrate 1
The thermal diffusion of the component of the above and the component of the base plating layer 2 to the surface plating layer 5 is delayed, and the surface plating layer 5 concerned is delayed.
Acts to prevent the deterioration of. However, on the other hand, it is brittle. The thickness of the first intermediate plating layer 3 that changes as described above under heat treatment or high temperature environment is 0.05 to 0.5 μ.
It is preferably set to m. If the thickness is too thin, the above-mentioned first intermetallic compound layer 3'is not sufficiently formed, which causes deterioration of the surface plating layer 5, and if it is too thick, the base plating layer 2 and the first plating layer 2 are not formed. This is because peeling easily occurs between the two intermediate plating layers 4.

【0028】次に、第1中間めっき層3の上に形成され
る第2中間めっき層4は、CuまたはCu合金から成
る。この第2中間めっき層4は、加熱処理時や高温環境
下に曝されると、第2中間めっき層4のCu成分と第1
中間めっき層3のSn成分との間でCu−Sn系金属間
化合物を形成し、また、表面めっき層5のSn成分との
間でもCu−Sn系金属間化合物を形成する。その結
果、第2中間めっき層4は、図2で示したように、第2
のSn−Cu系金属間化合物から成る層4’に転化して
いく。
Next, the second intermediate plating layer 4 formed on the first intermediate plating layer 3 is made of Cu or Cu alloy. When the second intermediate plating layer 4 is subjected to heat treatment or exposed to a high temperature environment, the Cu component of the second intermediate plating layer 4 and the first intermediate plating layer 4 become
A Cu—Sn based intermetallic compound is formed with the Sn component of the intermediate plating layer 3, and a Cu—Sn based intermetallic compound is also formed with the Sn component of the surface plating layer 5. As a result, the second intermediate plating layer 4 has the second intermediate plating layer 4 as shown in FIG.
Of the Sn-Cu intermetallic compound is converted into a layer 4 '.

【0029】この第2の金属間化合物層4’も、前記し
た第1の金属間化合物層3’と同様に、基材成分や下地
めっき層の成分が表面めっき層4の方に熱拡散すること
を防止するバリヤとして機能する。加熱処理や高温環境
下で上記したように変化していく第2中間めっき層4の
厚みは0.05〜0.29μmに設定されることが好まし
い。この厚みを薄くしすぎると、第2の金属間化合物層
4’が充分に形成されないため表面めっき層5の変質を
招くようになり、また厚くしすぎると、例えば製造した
めっき材料からコネクタ端子を加工するときに、めっき
材料はこの第2中間めっき層4で剥離が起きやすくなる
からである。
Also in this second intermetallic compound layer 4 ', like the above-mentioned first intermetallic compound layer 3', the base material component and the component of the base plating layer are thermally diffused toward the surface plating layer 4. It functions as a barrier to prevent this. The thickness of the second intermediate plating layer 4 which changes as described above under heat treatment or high temperature environment is preferably set to 0.05 to 0.29 μm. If the thickness is made too thin, the second intermetallic compound layer 4'is not sufficiently formed, which causes alteration of the surface plating layer 5, and if it is made too thick, for example, a connector terminal is made from the manufactured plating material. This is because the plating material is likely to peel off at the second intermediate plating layer 4 during processing.

【0030】なお、上記した第1の金属間化合物層
3’、第2の金属間化合物層4’は、高温環境下で自動
的に形成されていくが、めっき材料の製造時における熱
処理や、製造しためっき材料に更にリフロー処理を施し
て形成させることもできる。その場合には、初期状態で
安定なめっき材料になる。例えば、めっき材料の製造工
程で形成させる場合には、100〜600℃で数時間以
上のバッチ式熱処理、180〜230℃で数秒程度の走
間熱処理(表面は未溶融)、実体温度230〜300℃
でのリフロー処理(表面は溶融・再凝固)などを適用す
ることができる。
Although the first intermetallic compound layer 3'and the second intermetallic compound layer 4'described above are automatically formed in a high temperature environment, heat treatment during the production of the plating material, It is also possible to form the produced plating material by further subjecting it to reflow treatment. In that case, the plating material is stable in the initial state. For example, when it is formed in the manufacturing process of the plating material, batch heat treatment at 100 to 600 ° C. for several hours or more, running heat treatment at 180 to 230 ° C. for about several seconds (surface is not melted), actual temperature 230 to 300. ℃
Reflow treatment (melting and re-solidifying the surface) can be applied.

【0031】上記した金属間化合物から成る層3’,
4’が形成されていくと、最表層の表面めっき層4は、
その厚みが薄くなっていく。そして、第1中間めっき層
3、第2中間めっき層4のいずれもが、それぞれ、第1
の金属間化合物層3’、第2の金属間化合物層4’に転
化し終わった時点で熱拡散に基づく金属間反応は終了す
る。したがって、図2で示したように、最表層にはSn
またはSn合金から成る表面めっき層5を消失させるこ
となく、ある厚みの表面めっき層を残存させることが可
能である。
A layer 3'comprising the above-mentioned intermetallic compound,
When 4'is formed, the surface plating layer 4 of the outermost layer becomes
The thickness becomes thinner. Then, each of the first intermediate plating layer 3 and the second intermediate plating layer 4 has the first
When the conversion to the intermetallic compound layer 3'and the second intermetallic compound layer 4'is completed, the intermetallic reaction based on thermal diffusion ends. Therefore, as shown in FIG.
Alternatively, it is possible to leave a surface plating layer of a certain thickness without losing the surface plating layer 5 made of Sn alloy.

【0032】下地めっき層2、第1中間めっき層3、第
2中間めっき層4の厚みをそれぞれ上記したように設定
した場合、めっき形成時における表面めっき層5の厚み
を0.1μm以上に設定しておけば、そのめっき材料
は、高温加熱時や高温環境下に曝されても、表面めっき
層5が消失してしまうという事態は防止可能である。本
発明のめっき材料は、基材の表面に、各めっき層に関す
る所定の合金めっき浴を用いて、下地めっき層、第1中
間めっき層、第2中間めっき層、および表面めっき層を
順次めっき形成して製造することができる。その場合、
第1中間めっき層と表面めっき層の形成に関しては、次
のような方法を適用すると、製造コストを大幅に低減す
ることができて好適である。
When the thicknesses of the base plating layer 2, the first intermediate plating layer 3 and the second intermediate plating layer 4 are set as described above, the thickness of the surface plating layer 5 during plating is set to 0.1 μm or more. If so, it is possible to prevent the plating material from disappearing even when the plating material is heated at high temperature or exposed to a high temperature environment. The plating material of the present invention sequentially forms a base plating layer, a first intermediate plating layer, a second intermediate plating layer, and a surface plating layer on the surface of a base material using a predetermined alloy plating bath for each plating layer. Can be manufactured. In that case,
Regarding the formation of the first intermediate plating layer and the surface plating layer, it is preferable to apply the following method because the manufacturing cost can be significantly reduced.

【0033】すなわち、まず、下層(第1中間めっき層
の場合は下地めっき層、表面めっき層の場合は第2中間
めっき層)の表面にSnめっき層を形成し、更にその上
に、Ag,Bi,Cu,In,Pb,Snの1種または
2種以上の金属のめっき層を形成する。なお、上記した
Snめっき層はSn合金めっき層であってもよい。つい
で、この積層体全体に対し、リフロー処理または加熱処
理を施して、上記した金属めっき層の金属とSn層(ま
たはSn合金めっき層)のSnとの間で選択的な熱拡散
を行わせ、両者を合金化する。このようにして、Sn合
金から成る第1中間層3や表面めっき層5が形成され
る。例えば、リフロー処理の場合、実体温度230〜3
00℃で5秒以下のリフロー処理を行い、また加熱処理
の場合は、温度100〜120℃で数時間行えばよい。
この程度の温度であれば、他の層間での熱拡散はほとん
ど起こらないからである。
That is, first, an Sn plating layer is formed on the surface of the lower layer (the base plating layer in the case of the first intermediate plating layer, the second intermediate plating layer in the case of the surface plating layer), and Ag, Ag, A plating layer of one or more metals of Bi, Cu, In, Pb and Sn is formed. The Sn plating layer described above may be a Sn alloy plating layer. Then, the entire laminate is subjected to a reflow treatment or a heat treatment to cause selective thermal diffusion between the metal of the metal plating layer and Sn of the Sn layer (or Sn alloy plating layer), Both are alloyed. In this way, the first intermediate layer 3 and the surface plating layer 5 made of Sn alloy are formed. For example, in the case of reflow processing, the actual temperature 230 to 3
Reflow treatment is performed at 00 ° C. for 5 seconds or less, and in the case of heat treatment, the temperature may be 100 to 120 ° C. for several hours.
This is because at this temperature, thermal diffusion between other layers hardly occurs.

【0034】[0034]

【実施例】実施例1〜9,比較例1〜5 黄銅条に、電解脱脂、酸洗を順次行ったのち、下地めっ
き層、第1中間めっき層、第2中間めっき層、表面めっ
き層を順次形成して、表2で示した各種のめっき材料を
製造した。なお、各層形成時のめっき条件は表1に示し
たとおりである。
[Examples] Examples 1 to 9 and Comparative Examples 1 to 5 Brass strips were sequentially subjected to electrolytic degreasing and pickling, and were then provided with a base plating layer, a first intermediate plating layer, a second intermediate plating layer, and a surface plating layer. By sequentially forming, various plating materials shown in Table 2 were manufactured. The plating conditions for forming each layer are as shown in Table 1.

【0035】[0035]

【表1】 [Table 1]

【0036】製造した各めっき材料を表2で示した温度
に加熱し、そのときの表面めっき層の残存厚み、接触抵
抗を下記の仕様で測定した。また、初期時における動摩
擦係数を下記の仕様で測定した。 残存厚み:めっき材料を温度100〜160℃のエアバ
スの中に120時間放置したのち、定電流溶解法で測
定。
Each produced plating material was heated to the temperature shown in Table 2, and the remaining thickness of the surface plating layer and the contact resistance at that time were measured according to the following specifications. Moreover, the dynamic friction coefficient at the initial stage was measured according to the following specifications. Remaining thickness: The plating material was left in an air bath at a temperature of 100 to 160 ° C. for 120 hours and then measured by a constant current melting method.

【0037】接触抵抗:めっき材料を温度160℃で1
20時間加熱したのちに測定。 動摩擦係数:バウデン型摩擦試験器を用い、荷重294
mN、摺動距離10mm、摺動速度100M/min、摺動回
数1回の条件下で測定。なお、相手材としては、板厚
0.25mmの黄銅条にリフローSnめっきを1μm施し
たのち、0.5mmRに張り出し加工を行ったものを用い
た。 以下の結果を一括して表2に示す。
Contact resistance: 1 at a plating material temperature of 160 ° C.
Measured after heating for 20 hours. Dynamic friction coefficient: Load 294 using Bowden type friction tester
Measured under conditions of mN, sliding distance of 10 mm, sliding speed of 100 M / min, and number of sliding times of 1. The mating material used was a brass strip having a plate thickness of 0.25 mm, plated with 1 μm of reflow Sn, and then overhanged to 0.5 mmR. The following results are collectively shown in Table 2.

【0038】[0038]

【表2】 [Table 2]

【0039】表2から次のことが明らかである。実施例
と比較例を対比すると、実施例は、全体として、環境温
度が高温になっても、表面めっき層(Sn)が残存して
おり、しかも動摩擦係数が小さくなっている。そして、
形成した表面めっき層の厚みが厚い実施例のものほど加
熱後における表面めっき層(Sn)の残存厚みは厚くな
っていて耐熱性を保持している。しかし、他方では、動
摩擦係数は、表面めっき層の厚みが薄い実施例の方が小
さくなっている。このようなことから、表面めっき層の
厚みが薄いものの方が挿抜性の点で有利である。
The following is clear from Table 2. Comparing the example and the comparative example, the example shows that the surface plating layer (Sn) remains and the coefficient of dynamic friction is small even if the environmental temperature becomes high. And
The thicker the surface plating layer formed is, the thicker the surface plating layer (Sn) remains after heating and the more heat resistant it is. On the other hand, however, the coefficient of dynamic friction is smaller in the embodiment in which the thickness of the surface plating layer is thinner. For this reason, the thinner surface plating layer is more advantageous in terms of insertability and removal.

【0040】[0040]

【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明の
めっき材料は、下地めっき層と表面めっき層の間に第1
中間めっき層と第2中間めっき層を介在させており、そ
して表面めっき層とこれら中間めっき層の厚みを、高温
環境下にあっても表面めっき層のSnまたはSn合金が
残存するように設計されている。
As is apparent from the above description, the plating material of the present invention has a first plating layer between the undercoating layer and the surface plating layer.
The intermediate plating layer and the second intermediate plating layer are interposed, and the thicknesses of the surface plating layer and these intermediate plating layers are designed so that Sn or Sn alloy of the surface plating layer remains even in a high temperature environment. ing.

【0041】したがって、このめっき材料は、耐熱性が
良好であり、また良好な耐熱性と挿抜性を兼ね備えてい
て、例えば自動車エンジンルーム内のような高温環境下
に配置されるコネクタ、また嵌合型コネクタ、接触子な
どの各種電気・電子部品用の材料として有用である。
Therefore, this plating material has good heat resistance, and also has good heat resistance and insertability / extractability. For example, a connector arranged in a high temperature environment such as an automobile engine room, or a fitting. It is useful as a material for various electrical and electronic parts such as mold connectors and contacts.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明のめっき材料の1例を示す断面図であ
る。
FIG. 1 is a cross-sectional view showing an example of a plating material of the present invention.

【図2】図1のめっき材料を高温環境下に曝したときの
層構造を示す断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view showing a layer structure when the plating material of FIG. 1 is exposed to a high temperature environment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 導電性基材 2 下地めっき層 3 第1中間めっき層 3’ 第1の金属間化合物層 4 第2中間めっき層 4’ 第2の金属間化合物層 5 表面めっき層 1 Conductive substrate 2 Undercoat layer 3 First intermediate plating layer 3'first intermetallic compound layer 4 Second intermediate plating layer 4'second intermetallic compound layer 5 Surface plating layer

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鈴木 智 東京都千代田区丸の内2丁目6番1号 古 河電気工業株式会社内 (72)発明者 谷本 守正 東京都千代田区丸の内2丁目6番1号 古 河電気工業株式会社内 Fターム(参考) 4K024 AA03 AA04 AA07 AA09 AA14 AA21 AB04 BA01 BA02 BA04 BA09 BB10 DB02 GA16 4K044 BA06 BA10 BB05 BC06 BC11 CA18 CA61    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Satoshi Suzuki             2-6-1, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo             Kawa Electric Industry Co., Ltd. (72) Inventor Morimasa Tanimoto             2-6-1, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo             Kawa Electric Industry Co., Ltd. F-term (reference) 4K024 AA03 AA04 AA07 AA09 AA14                       AA21 AB04 BA01 BA02 BA04                       BA09 BB10 DB02 GA16                 4K044 BA06 BA10 BB05 BC06 BC11                       CA18 CA61

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 導電性基体の表面に、FeもしくはFe
合金、NiもしくはNi合金、またはCoもしくはCo
合金のいずれか1種から成る下地めっき層と、Snまた
はSn合金から成る第1中間めっき層と、CuまたはC
u合金から成る第2中間めっき層と、SnまたはSn合
金から成る表面めっき層とが、この順序で形成されてい
ることを特徴とするめっき材料。
1. Fe or Fe on the surface of a conductive substrate
Alloy, Ni or Ni alloy, or Co or Co
A base plating layer made of any one of alloys, a first intermediate plating layer made of Sn or Sn alloy, and Cu or C
A plating material characterized in that a second intermediate plating layer made of a u alloy and a surface plating layer made of Sn or a Sn alloy are formed in this order.
【請求項2】 前記下地めっき層の厚みが0.05〜2
μmであり、前記第1中間めっき層の厚みが0.05〜
0.5μmであり、かつ、前記第2中間めっき層の厚み
が0.05〜0.29μmである請求項1のめっき材料。
2. The thickness of the base plating layer is 0.05 to 2
μm, and the thickness of the first intermediate plating layer is 0.05 to
The plating material according to claim 1, which has a thickness of 0.5 μm and a thickness of the second intermediate plating layer of 0.05 to 0.29 μm.
【請求項3】 前記表面めっき層は、加熱処理またはリ
フロー処理を受けた層である請求項1または2のめっき
材料。
3. The plating material according to claim 1, wherein the surface plating layer is a layer that has been subjected to heat treatment or reflow treatment.
【請求項4】 前記第1中間めっき層と前記表面めっき
層のSn合金が、Ag,Bi,Cu,In,Pb,Sb
の群から選ばれる少なくとも1種を含有する請求項1〜
3のいずれかのめっき材料。
4. The Sn alloy of the first intermediate plating layer and the surface plating layer is Ag, Bi, Cu, In, Pb, Sb.
1. At least one selected from the group
Any of the plating materials of 3.
【請求項5】 導電性基材の表面に、FeもしくはFe
合金、NiもしくはNi合金、またはCoもしくはCo
合金のいずれか1種から成る下地めっき層と、Snまた
はSn合金から成る第1中間めっき層と、CuまたはC
u合金から成る第2中間めっき層と、SnまたはSn合
金から成る表面めっき層とをこの順序でめっき形成する
ことを特徴とするめっき材料の製造方法。
5. Fe or Fe on the surface of the conductive substrate
Alloy, Ni or Ni alloy, or Co or Co
A base plating layer made of any one of alloys, a first intermediate plating layer made of Sn or Sn alloy, and Cu or C
A method for producing a plating material, characterized in that a second intermediate plating layer made of a u alloy and a surface plating layer made of Sn or a Sn alloy are formed by plating in this order.
【請求項6】 前記下地めっき層の厚みを0.05〜2
μm、前記第1中間めっき層の厚みを0.05〜0.5μ
m、かつ、前記第2中間めっき層の厚みを0.05〜0.
29μmにする請求項5のめっき材料の製造方法。
6. The thickness of the base plating layer is 0.05 to 2
μm, the thickness of the first intermediate plating layer is 0.05 to 0.5 μm
m, and the thickness of the second intermediate plating layer is 0.05 to 0.5.
The method for producing a plating material according to claim 5, wherein the plating material has a thickness of 29 μm.
【請求項7】 前記表面めっき層を形成したのち、リフ
ロー処理を行う請求項5または6のめっき材料の製造方
法。
7. The method for producing a plating material according to claim 5, wherein a reflow treatment is performed after forming the surface plating layer.
【請求項8】 請求項1〜4のいずれかのめっき材料を
用いたことを特徴とする、耐熱性に優れた電気・電子部
品。
8. An electric / electronic component excellent in heat resistance, characterized by using the plating material according to any one of claims 1 to 4.
【請求項9】 電気・電子部品が、嵌合型コネクタまた
は接触子である請求項8の電気・電子部品。
9. The electric / electronic component according to claim 8, wherein the electric / electronic component is a fitting type connector or a contact.
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005199699A (en) * 2003-11-28 2005-07-28 Wieland Werke Ag Continuous layer for manufacture of composite for electronic mechanic component, its composite material, manufacturing method and use method
JP2007177311A (en) * 2005-12-28 2007-07-12 Fujitsu Ltd Plated coating, method for forming the same, and electronic component
KR100819800B1 (en) * 2005-04-15 2008-04-07 삼성테크윈 주식회사 Lead frame for semiconductor package
US7391116B2 (en) 2003-10-14 2008-06-24 Gbc Metals, Llc Fretting and whisker resistant coating system and method
JP2012046827A (en) * 2011-11-18 2012-03-08 Fujitsu Ltd Plating coating, method of forming the same, and electronic part
WO2017104682A1 (en) * 2015-12-15 2017-06-22 三菱マテリアル株式会社 Method for manufacturing tin-plated copper terminal material
JP2017110290A (en) * 2015-12-15 2017-06-22 三菱マテリアル株式会社 Manufacturing method of copper terminal material with tin plating

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7391116B2 (en) 2003-10-14 2008-06-24 Gbc Metals, Llc Fretting and whisker resistant coating system and method
US7808109B2 (en) 2003-10-14 2010-10-05 Gbc Metals, L.L.C. Fretting and whisker resistant coating system and method
JP2005199699A (en) * 2003-11-28 2005-07-28 Wieland Werke Ag Continuous layer for manufacture of composite for electronic mechanic component, its composite material, manufacturing method and use method
KR100819800B1 (en) * 2005-04-15 2008-04-07 삼성테크윈 주식회사 Lead frame for semiconductor package
JP2007177311A (en) * 2005-12-28 2007-07-12 Fujitsu Ltd Plated coating, method for forming the same, and electronic component
JP2012046827A (en) * 2011-11-18 2012-03-08 Fujitsu Ltd Plating coating, method of forming the same, and electronic part
WO2017104682A1 (en) * 2015-12-15 2017-06-22 三菱マテリアル株式会社 Method for manufacturing tin-plated copper terminal material
JP2017110290A (en) * 2015-12-15 2017-06-22 三菱マテリアル株式会社 Manufacturing method of copper terminal material with tin plating
CN108368627A (en) * 2015-12-15 2018-08-03 三菱综合材料株式会社 The manufacturing method of tin plating copper tip material
US10301737B2 (en) 2015-12-15 2019-05-28 Mitsubishi Materials Corporation Method of manufacturing tin-plated copper terminal material

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