JP2003321702A - Alloy fine powder, electrically conductive paste obtained by using the same and electroluminescence element - Google Patents

Alloy fine powder, electrically conductive paste obtained by using the same and electroluminescence element

Info

Publication number
JP2003321702A
JP2003321702A JP2002128706A JP2002128706A JP2003321702A JP 2003321702 A JP2003321702 A JP 2003321702A JP 2002128706 A JP2002128706 A JP 2002128706A JP 2002128706 A JP2002128706 A JP 2002128706A JP 2003321702 A JP2003321702 A JP 2003321702A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
alloy
fine powder
temperature
conductive paste
melting point
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2002128706A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3956765B2 (en
Inventor
Keiji Koyama
惠司 小山
Masatoshi Mashima
正利 眞嶋
Yoshie Tani
佳枝 谷
Shinji Inasawa
信二 稲澤
Toshihiro Sakamoto
敏宏 坂本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Electric Industries Ltd filed Critical Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority to JP2002128706A priority Critical patent/JP3956765B2/en
Publication of JP2003321702A publication Critical patent/JP2003321702A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3956765B2 publication Critical patent/JP3956765B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide alloy fine powder with which the backing temperature of electrically conductive paste is reduced since it can be melted and integrated at a low temperature, thus damage to an organic electroluminescence layer can be reduced, and a back electrode having sufficient heat resistance and durability can be formed after backing, to provide electrically conductive paste obtained by using the same, and to provide an EL element obtained by using the electrically conductive paste. <P>SOLUTION: The alloy fine powder is formed of an alloy having a melting point of ≤250°C, and the particle diameter thereof is controlled to ≤300 nm. The electrically conductive paste contains the alloy fine powder in a ratio of 50 to 98 wt.% to the total content of the solid components. The EL element is obtained by applying the electrically conductive paste so as to be a film shape, thereafter backing the same at a temperature higher than the melting temperature of the alloy fine powder and also lower than the heat resisting temperature of a light emitting layer, and forming a back electrode. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、導電ペーストに
用いる合金微粉末と、それを用いた導電ペーストと、こ
の導電ペーストを用いて背後電極を形成したエレクトロ
ルミネッセンス素子(以下「EL素子」とする)とに関
するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an alloy fine powder used for a conductive paste, a conductive paste using the same, and an electroluminescent element (hereinafter referred to as "EL element") having a back electrode formed using this conductive paste. ) And is related to.

【0002】[0002]

【従来の技術】EL素子は、一般に、ガラス板等の透明
基板の上に薄膜状の透明電極(陽極)を形成し、その上
に電界発光機能を有する発光層を積層した後、その上に
さらに背後電極(陰極)を積層して形成する場合が多
い。このうち発光層としては、近時、結着樹脂中に発光
材料や蛍光色素、電子輸送性材料、ホール輸送性材料な
どを分散したり、あるいは結着樹脂としてホール輸送性
を有する高分子を使用したりした、いわゆる有機の、単
層または複層の発光層が普及しつつある。
2. Description of the Related Art In general, an EL element is formed by forming a thin film transparent electrode (anode) on a transparent substrate such as a glass plate, laminating a light emitting layer having an electroluminescence function on the transparent electrode, and then forming the light emitting layer on the transparent electrode. Further, the back electrode (cathode) is often formed by stacking. Of these, as the light emitting layer, recently, a light emitting material, a fluorescent dye, an electron transporting material, a hole transporting material or the like is dispersed in a binder resin, or a polymer having a hole transporting property is used as the binder resin. So-called organic, single-layer or multi-layer light emitting layers are becoming popular.

【0003】また背後電極は、金属や合金の真空蒸着膜
などによって形成するのが一般的である。しかし、真空
蒸着法などのいわゆる真空プロセスによって背後電極を
形成する工程は通常、バッチ式で行われるため、生産性
が低い上、コストが高くつくという問題がある。
The back electrode is generally formed of a vacuum deposited film of metal or alloy. However, since the step of forming the back electrode by a so-called vacuum process such as a vacuum deposition method is usually performed in a batch method, there is a problem that productivity is low and cost is high.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】そこで発明者は、背後
電極を形成する金属や合金の微粉末と、結着剤とを含む
導電ペーストを、発光層上に膜状に塗布したのち焼き付
けることで、結着剤を焼成除去するとともに多数の微粉
末を溶融、一体化させて背後電極を形成することを検討
した。しかし、有機の発光層を形成する結着樹脂のガラ
ス転移温度、溶融温度、熱分解温度や、あるいは結着樹
脂中に分散させる発光材料その他の成分の熱分解温度な
どから求められる発光層の耐熱温度は、一般に200℃
未満である。このため有機の発光層は熱に弱い。
Therefore, the inventor has applied a conductive paste containing fine particles of a metal or an alloy forming a back electrode and a binder in a film form on the light emitting layer and then baking it. It was studied to form the back electrode by burning and removing the binder and melting and integrating a large number of fine powders. However, the heat resistance of the light emitting layer, which is required from the glass transition temperature, melting temperature, and thermal decomposition temperature of the binder resin forming the organic light emitting layer, or the thermal decomposition temperature of the light emitting material and other components dispersed in the binder resin. The temperature is generally 200 ° C
Is less than. Therefore, the organic light emitting layer is weak against heat.

【0005】これに対し、陰極として、有機の発光層に
スムースに電子を注入することを考慮すると、背後電極
は、仕事関数ができるだけ小さい金属や合金にて形成す
る必要があるが、これらの金属や合金の融点は通常、上
述した有機の発光層の耐熱温度よりも高温である。しか
も多数の微粉末を十分に溶融、一体化させて、均一でか
つ発光層の表面形状に十分に追従した、良好な導電性を
有する背後電極を形成することを考慮すると、導電ペー
ストの焼き付け温度は、上記金属や合金の融点よりさら
に高温に設定する必要がある。
On the other hand, considering that electrons are smoothly injected into the organic light emitting layer as the cathode, the back electrode needs to be formed of a metal or an alloy having a work function as small as possible. The melting point of the or alloy is usually higher than the heat resistant temperature of the organic light emitting layer described above. In addition, considering that a large number of fine powders are sufficiently melted and integrated to form a back electrode having good conductivity that is uniform and sufficiently follows the surface shape of the light emitting layer, the baking temperature of the conductive paste is considered. Needs to be set to a temperature higher than the melting point of the above metal or alloy.

【0006】このため、有機の発光層上に導電ペースト
を焼き付けて背後電極を形成しようとすると、焼き付け
時の高温によって発光層が劣化してしまうという問題が
あり、この両者を組み合わせることは事実上、困難であ
る。そこで発明者は、融点が156.6℃と低い上、仕
事関数も小さいIn単体で形成した微粉末や、あるいは
In、Snなどの低融点の金属を含み、かつ合金として
の融点が200℃以下となるように組成を調整した低融
点の合金の微粉末などを用いることで、導電ペーストの
焼き付け温度を引き下げて、有機の発光層へのダメージ
を軽減することを検討した。
Therefore, when the back electrode is formed by baking the conductive paste on the organic light emitting layer, there is a problem that the light emitting layer is deteriorated due to the high temperature during the baking. ,Have difficulty. Therefore, the inventor has found that the melting point of the alloy is 200 ° C. or less, including fine powder formed of In simple substance having a low work function of 156.6 ° C. and a low work function, or a low melting point metal such as In or Sn. It was examined to reduce the baking temperature of the conductive paste and reduce the damage to the organic light emitting layer by using a fine powder of a low melting point alloy whose composition was adjusted so that

【0007】しかし低融点の金属や合金を焼き付けて形
成した背後電極は、当然ながら、耐熱性が十分でないと
いう問題があった。とくにIn単体で形成した背後電極
や、あるいはIn、Snなどを含む低融点の合金にて形
成した背後電極は、いずれも前記各層を積層、形成後、
素子の全体を発光層の耐熱温度以下の温度でパッシベー
ション処理する際などの、素子形成後の熱履歴によって
溶融しやすい上、溶融後、再凝固する際にInやSnが
ウィスカー状に析出して、発光層にダメージを与えた
り、透明電極との間で短絡したりしやすいという問題が
あった。
However, the back electrode formed by baking a metal or alloy having a low melting point naturally has a problem that the heat resistance is not sufficient. In particular, the back electrode formed of In alone or the back electrode formed of a low melting point alloy containing In, Sn, etc., after the above layers are laminated and formed,
In addition to being easily melted due to the thermal history after element formation, such as when the entire element is passivated at a temperature lower than the heat-resistant temperature of the light emitting layer, In and Sn are precipitated in whiskers when resolidifying after melting. However, there is a problem that the light emitting layer is easily damaged or a short circuit is easily generated between the light emitting layer and the transparent electrode.

【0008】また、単体のInは比較的短期間で酸化し
やすい上、Inの酸化物は導電性を有するものの、その
仕事関数が、陰極として適した数値範囲にはなく、酸化
によって背後電極として機能しなくなってしまうことか
ら、背後電極の耐久性が不十分になるという問題もあっ
た。この発明の主たる目的は、上記In単体からなるも
のなどの、低融点の微粉末と同様に低温で溶融、一体化
させることができるため、導電ペーストの焼き付け温度
をこれまでよりも引き下げることができて、有機の発光
層へのダメージを軽減できる上、焼き付け後は、上記低
融点のものに比べて十分な耐熱性、耐久性を有する背後
電極を形成することが可能な、新規な合金微粉末を提供
することにある。
[0008] Further, although In alone is easily oxidized in a relatively short period of time, and the oxide of In has conductivity, its work function is not within the numerical range suitable for the cathode, and it is used as a back electrode by oxidation. There is also a problem that the durability of the back electrode becomes insufficient because it does not function. A main object of the present invention is to melt and integrate at a low temperature like fine powders having a low melting point such as those made of the above simple substance of In, so that it is possible to lower the baking temperature of the conductive paste. A new alloy fine powder that can reduce the damage to the organic light-emitting layer and, after baking, can form a back electrode having sufficient heat resistance and durability as compared with the above low melting point one. To provide.

【0009】またこの発明の他の目的は、上記の合金微
粉末を用いた導電ペースト、およびこの導電ペーストを
用いて背後電極を形成したEL素子を提供することにあ
る。
Another object of the present invention is to provide an electroconductive paste using the above alloy fine powder, and an EL element in which a back electrode is formed using this electroconductive paste.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段および発明の効果】金属の
微粉末の粒径を数百nm以下の範囲まで微細化すると、
通常のマクロな大きさの金属とは、微粉末の、集団とし
ての比熱や磁化率などの熱力学的性質が著しく異なると
いう、いわゆる久保効果が知られている。発明者はこの
久保効果に着目し、合金にて形成した微粉末の粒径を微
細化することで、その集団としての溶融温度を合金自体
の融点よりも引き下げることを検討した。
MEANS FOR SOLVING THE PROBLEMS AND EFFECTS OF THE INVENTION When the particle size of fine metal powder is reduced to a range of several hundreds nm or less,
It is known that the so-called Kubo effect is that the thermodynamic properties such as specific heat and magnetic susceptibility of the fine powder as a group are remarkably different from those of ordinary macro-sized metals. Focusing on this Kubo effect, the inventor studied that the melting temperature as a group of the fine particles formed by the alloy is made finer to lower the melting temperature than the melting point of the alloy itself.

【0011】その結果、融点が300℃以下の合金にて
形成する合金微粉末の粒径を300nm以下に微細化す
ると、(1) 当該合金微粉末の、集団としての溶融温度
を、久保効果によって、前述した有機の発光層の耐熱温
度以下に引き下げ、それに伴って導電ペーストの焼き付
け温度を、上記耐熱温度と同程度もしくはそれ以下に引
き下げて、焼き付け時の、有機の発光層へのダメージを
軽減できること、(2) 焼き付けにより溶融、一体化し
た後の背後電極は、本来のマクロの大きさの金属に戻
り、微粉末を形成していた合金自体の融点を示すため、
当該合金の種類を選択することによって、素子形成後の
熱履歴によって溶融したりしない耐熱性に優れた背後電
極を形成できる上、基本的に合金は、In単体のように
簡単に酸化して、背後電極としての機能を喪失したりし
ないため、背後電極の耐久性をも向上できること、を見
出し、この発明を完成するに至った。
As a result, when the grain size of the alloy fine powder formed of the alloy having a melting point of 300 ° C. or lower is reduced to 300 nm or less, (1) the melting temperature of the alloy fine powder as a group is changed by the Kubo effect. , The above-mentioned heat-resistant temperature of the organic light-emitting layer is lowered, and accordingly, the baking temperature of the conductive paste is lowered to the same or lower than the above heat-resistant temperature to reduce damage to the organic light-emitting layer during baking. What you can do (2) Since the back electrode after melting and integrating by baking returns to the metal of the original macro size and shows the melting point of the alloy itself that formed fine powder,
By selecting the type of the alloy, it is possible to form a back electrode having excellent heat resistance that does not melt due to the thermal history after the element is formed, and basically, the alloy is easily oxidized like In simple substance, The inventors have found that the durability of the back electrode can be improved because the function as the back electrode is not lost, and the present invention has been completed.

【0012】したがって請求項1記載の発明は、融点が
300℃以下の合金にて形成し、かつ粒径を300nm
以下としたことを特徴とする合金微粉末である。なお耐
熱性、耐久性に優れた背後電極を形成するためには、微
粉末を形成する合金の融点は、有機の発光層の耐熱温度
よりも高温であればよく、とくに200℃以上であるの
好ましい。先に述べたように有機の発光層の耐熱温度
は、多くの場合、200℃未満であり、EL素子をそれ
以上の高温で処理したり使用したりすることはないた
め、合金の融点を200℃以上としておけば、焼き付け
によって形成した背後電極が、素子形成後の熱履歴によ
って溶融したり、あるいは溶融後、再凝固する際に合金
中に含まれる金属がウィスカー状に析出したりするおそ
れがない。
Therefore, the invention according to claim 1 is made of an alloy having a melting point of 300 ° C. or less and a grain size of 300 nm.
It is an alloy fine powder characterized by the following. In order to form the back electrode having excellent heat resistance and durability, the melting point of the alloy forming the fine powder may be higher than the heat resistant temperature of the organic light emitting layer, and particularly 200 ° C. or higher. preferable. As described above, the heat-resistant temperature of the organic light-emitting layer is often less than 200 ° C., and the EL element is not treated or used at a higher temperature than that. If the temperature is higher than or equal to ℃, the back electrode formed by baking may melt due to the thermal history after element formation, or the metal contained in the alloy may precipitate as whiskers when resolidifying after melting. Absent.

【0013】したがって請求項2記載の発明は、融点が
200℃以上の合金にて形成したことを特徴とする請求
項1記載の合金微粉末である。また前述した久保効果に
よる、合金微粉末の、溶融温度の低下の度合いは、その
粒径を小さくすればするほど大きくなる。つまり溶融温
度が低下する傾向を示す。しかし、粒径が10μm未満
である微小な粉末は製造が容易でない。また、もし製造
できたとしても溶融温度が低くなりすぎる上、凝集しや
すくなるため、取り扱いが容易でなく、実用的でない。
合金微粉末を、通常の作業環境下で溶融させたり凝集さ
せたりすることなしに、導電ペースト中に均一に分散し
て、良好な特性を有する背後電極を形成することを考慮
すると、その粒径は10nm以上とするのが好ましい。
Therefore, the invention according to claim 2 is the fine alloy powder according to claim 1, characterized in that it is formed of an alloy having a melting point of 200 ° C. or higher. The degree of decrease in melting temperature of the alloy fine powder due to the Kubo effect described above increases as the particle size decreases. That is, the melting temperature tends to decrease. However, it is not easy to manufacture a fine powder having a particle size of less than 10 μm. Further, even if it can be produced, the melting temperature becomes too low and it easily aggregates, so that it is not easy to handle and is not practical.
Considering that the fine alloy powder is uniformly dispersed in the conductive paste without melting or agglomerating in a normal working environment to form a back electrode having good characteristics, its particle size is Is preferably 10 nm or more.

【0014】したがって請求項3記載の発明は、粒径を
10nm以上としたことを特徴とする請求項1記載の合
金微粉末である。合金微粉末は、種々の方法によって製
造することが考えられるが、合金を構成する2種以上の
金属元素のイオンを含む溶液中で、当該2種以上のイオ
ンを、還元剤によって還元することで同時に析出させる
還元析出法によって形成した合金微粉末は、個々の粒径
が揃っており、粒度分布がシャープである。これは、還
元反応が溶液中で均一に進行するためである。
Therefore, the invention according to claim 3 is the alloy fine powder according to claim 1, characterized in that the grain size is 10 nm or more. The alloy fine powder may be produced by various methods. However, by reducing the two or more kinds of ions with a reducing agent in a solution containing ions of two or more kinds of metal elements constituting the alloy, The alloy fine powders formed by the reduction precipitation method in which they are simultaneously precipitated have uniform individual particle sizes and a sharp particle size distribution. This is because the reduction reaction proceeds uniformly in the solution.

【0015】それゆえ上記の合金微粉末は、焼き付け時
に、より一層、均一に溶融させることが可能であり、多
数の合金微粉末を十分に溶融、一体化させて、均一でか
つ発光層の表面形状に十分に追従した、良好な導電性を
有する背後電極を形成することができる。したがって請
求項4記載の発明は、合金を構成する2種以上の金属元
素のイオンを含む溶液中で、当該2種以上のイオンを、
還元剤によって還元することで同時に析出させて形成し
たことを特徴とする請求項1記載の合金微粉末である。
Therefore, the above alloy fine powder can be more uniformly melted during baking, and a large number of alloy fine powders can be sufficiently melted and integrated to form a uniform and light emitting layer surface. It is possible to form a back electrode having good conductivity that sufficiently follows the shape. Therefore, in the invention according to claim 4, in a solution containing ions of two or more kinds of metal elements constituting the alloy, the two or more kinds of ions are
The fine alloy powder according to claim 1, wherein the fine alloy powder is formed by reducing with a reducing agent to simultaneously precipitate.

【0016】上記還元析出法に用いる還元剤としては、
3価のチタン化合物が好ましい。還元剤として、三塩化
チタンなどの3価のチタン化合物を用いた場合には、合
金を構成する金属元素のイオンの還元、析出時にチタン
イオンが殆ど消費されない(合金を構成する金属元素の
イオンとともに多量に析出しない)ため、合金微粉末を
析出、形成した後の溶液を、電解再生によって繰り返
し、合金微粉末の製造に利用可能な状態に再生できると
いう利点がある。
As the reducing agent used in the above-mentioned reduction precipitation method,
Trivalent titanium compounds are preferred. When a trivalent titanium compound such as titanium trichloride is used as the reducing agent, titanium ions are hardly consumed during the reduction and precipitation of the metal elements that compose the alloy (along with the ions of the metal elements that compose the alloy). Since it does not precipitate a large amount), there is an advantage that the solution after the alloy fine powder is deposited and formed can be regenerated by electrolytic regeneration to be regenerated into a state that can be used for producing the alloy fine powder.

【0017】したがって請求項5記載の発明は、還元剤
として、3価のチタン化合物を用いたことを特徴とする
請求項4記載の合金微粉末である。上記の合金微粉末を
用いた導電ペーストは、従来同様に固形分として、当該
合金微粉末と、樹脂などの結着剤とを含んでいる。かか
る導電ペーストにおいては、より低温、短時間の焼き付
けで、良好な導電性を有する均一な背後電極を形成する
ために、結着剤の割合を少なく、合金微粉末の割合を多
くすることが好ましい。つまり固形分の総量に占める合
金微粉末の割合を50重量%以上とするのが好ましい。
Therefore, the invention according to claim 5 is the alloy fine powder according to claim 4, characterized in that a trivalent titanium compound is used as a reducing agent. A conductive paste using the above alloy fine powder contains the alloy fine powder and a binder such as a resin as a solid content as in the conventional case. In such a conductive paste, it is preferable to increase the ratio of the binder fine powder and the ratio of the alloy fine powder in order to form a uniform back electrode having good conductivity by baking at a lower temperature for a shorter time. . That is, it is preferable that the proportion of the fine alloy powder in the total solid content is 50% by weight or more.

【0018】ただし、あまりに結着剤の割合が少なすぎ
ると、導電ペーストの製膜性が低下する結果、かえって
均一な背後電極を形成できないおそれがあり、これを防
止するには、固形分の総量に占める合金微粉末の割合を
98重量%以下とするのが好ましい。したがって請求項
6記載の発明は、請求項1記載の合金微粉末と、結着剤
とを固形分として含み、かつ固形分の総量に占める合金
微粉末の割合を50〜98重量%としたことを特徴する
導電ペーストである。
However, if the proportion of the binder is too small, the film forming property of the conductive paste may be deteriorated, which may rather make it impossible to form a uniform back electrode. It is preferable that the ratio of the alloy fine powder to 98% by weight or less. Therefore, the invention according to claim 6 includes the alloy fine powder according to claim 1 as a solid content and a proportion of the alloy fine powder in the total solid content of 50 to 98% by weight. Is a conductive paste.

【0019】上記の導電ペーストを用いて、有機の発光
層上に背後電極を積層してEL素子を形成する際には、
当該導電ペーストを発光層上に塗布したのち、久保効果
によって発光層の耐熱温度以下に引き下げた合金微粉末
の溶融温度以上で、かつ発光層の耐熱温度以下の温度で
焼き付ける。そうすると、有機の発光層へのダメージを
軽減しつつ、合金微粉末を良好に溶融させて、多数の微
粉末を十分に溶融、一体化させることによって、均一で
かつ発光層の表面形状に十分に追従した、良好な導電性
を有する背後電極を形成することができる。
When a back electrode is laminated on the organic light emitting layer using the above conductive paste to form an EL device,
After applying the conductive paste onto the light emitting layer, baking is performed at a temperature not lower than the melting temperature of the fine alloy powder reduced to the heat resistant temperature of the light emitting layer or lower by the Kubo effect and lower than the heat resistant temperature of the light emitting layer. Then, while reducing the damage to the organic light-emitting layer, the fine alloy powder is melted well, and a large number of fine powders are sufficiently melted and integrated, so that the surface shape of the light-emitting layer is uniform. It is possible to form a back electrode that follows and has good conductivity.

【0020】したがって請求項7記載の発明は、請求項
6記載の導電ペーストを、有機の発光層上に膜状に塗布
し、合金微粉末の溶融温度以上で、かつ発光層の耐熱温
度以下の温度で焼き付けて背後電極を形成したことを特
徴とするEL素子である。なお特開2001−2003
05号公報の請求項1には、2種以上の金属からなる、
粒径が1〜100nmの合金微粉末について開示してい
る。しかし、ここで製造している合金微粉末とは、同公
報の請求項2以降の記載から明らかなように、電磁波シ
ールドに用いる、軟磁気特性を有する合金、具体的には
パーマロイなどのFe−Ni合金の微粉末であって、そ
の他の用途に用いる、その他の合金の微粉末については
一切、記載していない。
Therefore, in the invention according to claim 7, the conductive paste according to claim 6 is applied in a film form on the organic light emitting layer, and the temperature is not less than the melting temperature of the fine alloy powder and not more than the heat resistant temperature of the light emitting layer. The EL element is characterized in that the back electrode is formed by baking at a temperature. Incidentally, JP-A-2001-2003
Claim 1 of Japanese Patent Publication No. 05 comprises two or more kinds of metals,
It discloses an alloy fine powder having a particle size of 1 to 100 nm. However, the alloy fine powder produced here is, as is clear from the description of claim 2 and thereafter of the publication, an alloy having a soft magnetic property to be used for an electromagnetic wave shield, specifically Fe-such as permalloy. Fine powders of Ni alloys that are used for other purposes and are not described at all.

【0021】そもそもFe−Ni合金は、その溶融温度
が、例えばパーマロイ(20Fe−80Ni)の場合で
1445℃というように著しく高い上、Fe、Niとも
に仕事関数が高いため、EL素子の、有機の発光層上に
形成する背後電極用として用いることは不可能である。
しかも上記公報には、融点が300℃以下の合金にて形
成する合金微粉末の粒径を300nm以下とした際に、
久保効果によって溶融温度を引き下げられることや、焼
き付け後の背後電極は元の合金の融点に戻るため耐熱性
が向上することなどの、この発明に特有の構成および作
用効果についても一切、開示も示唆もしていない。
In the first place, the melting temperature of the Fe-Ni alloy is extremely high, for example, 1445 ° C. in the case of permalloy (20Fe-80Ni), and both Fe and Ni have a high work function. It cannot be used as a back electrode formed on the light emitting layer.
Moreover, in the above-mentioned publication, when the grain size of the alloy fine powder formed of an alloy having a melting point of 300 ° C. or less is 300 nm or less,
The Kubo effect can lower the melting temperature, and the back electrode after baking returns to the melting point of the original alloy to improve the heat resistance. I haven't.

【0022】よって上記公報記載の発明は、この発明を
開示も示唆もするものではない。
Therefore, the invention described in the above publication does not disclose or suggest the present invention.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】以下に、この発明を詳細に説明す
る。 〔合金微粉末〕この発明の合金微粉末は、前記のように
融点が300℃以下の合金にて形成し、かつ粒径を30
0nm以下としたことを特徴とする。合金の融点を30
0℃以下に限定するのは、融点が300℃を超える高融
点の合金は、その粒径を300nm以下の適当な範囲に
調整しても、合金微粉末の溶融温度を、有機の発光層の
耐熱温度以下まで引き下げることができないためであ
る。合金微粉末の溶融温度を、久保効果によって、有機
の発光層の耐熱温度以下まで引き下げるためには、出発
点である合金の融点を、300℃以下とする必要があ
る。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The present invention will be described in detail below. [Alloy Fine Powder] As described above, the alloy fine powder of the present invention is formed of an alloy having a melting point of 300 ° C. or less, and has a particle size of 30.
It is characterized in that the thickness is 0 nm or less. The melting point of the alloy is 30
Limiting the temperature to 0 ° C. or lower is that for a high melting point alloy having a melting point higher than 300 ° C., the melting temperature of the alloy fine powder can be adjusted to that of the organic light emitting layer even if the particle size is adjusted to an appropriate range of 300 nm or less. This is because it cannot be lowered below the heat resistant temperature. In order to lower the melting temperature of the alloy fine powder to the heat resistant temperature of the organic light emitting layer or lower by the Kubo effect, it is necessary to set the melting point of the alloy, which is the starting point, to 300 ° C. or lower.

【0024】なお合金の融点は、先に述べたように、耐
久性に優れた背後電極を形成するためには、有機の発光
層の耐熱温度よりも高温であればよく、とくに200℃
以上であるの好ましい。合金を構成する金属元素として
は、これに限定されないが、例えばAg(融点961.
93℃、仕事関数4.26eV)、Au(融点106
4.4℃、仕事関数5.1eV)、Al(融点660.
4℃、仕事関数4.28eV)、Bi(融点271.3
℃、仕事関数4.34eV)、Ca(融点839℃、仕
事関数2.9eV)、Cu(融点1083.4℃、仕事
関数4.65eV)、Ga(融点29.78℃、仕事関
数4.3eV)、In(融点156.6℃、仕事関数
4.09eV)、K(融点63.65℃、仕事関数2.
28eV)、Li(融点180.5℃、仕事関数2.9
3eV)、Mg(融点648.8℃、仕事関数3.66
eV)、Na(融点97.81℃、仕事関数2.36e
V)、Pb(融点327.5℃、仕事関数4.25e
V)、Sn(融点231.97℃、仕事関数4.42e
V)、Zn(融点419.6℃、仕事関数3.63e
V)、などを挙げることができる。
As described above, the melting point of the alloy may be higher than the heat-resistant temperature of the organic light emitting layer, particularly 200 ° C., in order to form a back electrode having excellent durability.
The above is preferable. The metal element forming the alloy is not limited to this, but for example, Ag (melting point 961.
93 ° C., work function 4.26 eV, Au (melting point 106
4.4 ° C., work function 5.1 eV), Al (melting point 660.
4 ° C., work function 4.28 eV), Bi (melting point 271.3
C, work function 4.34 eV), Ca (melting point 839 C, work function 2.9 eV), Cu (melting point 1083.4 C, work function 4.65 eV), Ga (melting point 29.78 C, work function 4.3 eV). ), In (melting point 156.6 ° C., work function 4.09 eV), K (melting point 63.65 ° C., work function 2.
28 eV), Li (melting point 180.5 ° C., work function 2.9)
3 eV), Mg (melting point 648.8 ° C., work function 3.66)
eV), Na (melting point 97.81 ° C, work function 2.36e)
V), Pb (melting point 327.5 ° C., work function 4.25e
V), Sn (melting point 231.97 ° C., work function 4.42e)
V), Zn (melting point 419.6 ° C., work function 3.63e
V), and the like.

【0025】合金は、上記の中から少なくとも2種の金
属元素を選択して構成する。選択の基準は下記のとおり
である。 ・ 合金の仕事関数は、当該合金を構成する各金属元素
の仕事関数のうち最も小さい値に近い値となるため、金
属元素の少なくとも1種は、目的とする合金の仕事関数
の値に近い、仕事関数の小さい金属元素を選ぶ。 ・ 合金の融点が、前述したように素子の耐熱温度以上
で、かつ300℃以下となる金属元素の組み合わせを選
ぶ。 ・ 上記2つの基準を満たしうる金属元素の組み合わせ
において、目的とする合金の仕事関数と融点とを達成す
るために、個々の金属元素の含有割合を設定する。
The alloy is formed by selecting at least two kinds of metal elements from the above. The criteria for selection are as follows. Since the work function of the alloy is a value close to the smallest value among the work functions of the metal elements forming the alloy, at least one of the metal elements is close to the value of the work function of the target alloy. Select a metal element with a low work function. Select a combination of metal elements whose melting point is not lower than the heat resistant temperature of the element and not higher than 300 ° C. as described above. In the combination of metal elements that can satisfy the above two criteria, the content ratio of each metal element is set in order to achieve the work function and melting point of the target alloy.

【0026】合金を構成する金属元素の組み合わせの具
体例としては、これに限定されないが、例えば92In
−8Ag合金(融点210℃、仕事関数4.1eV)、
96.5Sn−3.5Ag合金(融点221℃、仕事関
数4.2eV)、96.5Sn−3Ag−0.5Cu合
金(融点217℃、仕事関数4.2eV)、99.3S
n−0.7Cu合金(融点227℃、仕事関数4.2e
V)などを挙げることができる。
A specific example of the combination of the metal elements forming the alloy is not limited to this, but is, for example, 92In.
-8Ag alloy (melting point 210 ° C, work function 4.1 eV),
96.5Sn-3.5Ag alloy (melting point 221 ° C, work function 4.2eV), 96.5Sn-3Ag-0.5Cu alloy (melting point 217 ° C, work function 4.2eV), 99.3S
n-0.7Cu alloy (melting point 227 ° C, work function 4.2e
V) etc. can be mentioned.

【0027】合金微粉末の粒径は、先に述べたように3
00nm以下とする。そうすると久保効果によって、合
金微粉末の集団としての溶融温度を、EL素子の、有機
の発光層の耐熱温度以下に引き下げ、それに伴って導電
ペーストの焼き付け温度を、上記耐熱温度と同程度もし
くはそれ以下に引き下げて、焼き付け時の、有機の発光
層へのダメージを軽減することができる。なお、これも
先に述べたように合金微粉末の粒径を小さくするほど、
その溶融温度を低下させることができるが、粒径が10
nm未満のものは製造が困難である。これは、例えば後
述する還元析出法によって合金微粉末を製造する工程の
初期段階で、10nm未満のごく微細な微粉末が発生し
ても、それが複数個、直ちに凝集し、一体化して微粉末
の成長の核となって、そこからさらに粒径の大きい合金
微粉末が生成されるためである。
The particle size of the fine alloy powder is 3 as described above.
It is set to 00 nm or less. Then, due to the Kubo effect, the melting temperature of the alloy fine powder as a group is lowered below the heat-resistant temperature of the organic light-emitting layer of the EL element, and the baking temperature of the conductive paste is accordingly reduced to the same or lower than the heat-resistant temperature. Can reduce the damage to the organic light emitting layer during baking. As described above, the smaller the particle size of the alloy fine powder, the more
The melting temperature can be lowered, but the particle size is 10
If it is less than nm, it is difficult to manufacture. This is because even if a very fine powder of less than 10 nm is generated in the initial stage of the process of producing an alloy fine powder by a reduction precipitation method described later, a plurality of fine powders are immediately aggregated and integrated to form a fine powder. This is because the alloy fine powder having a larger particle size is generated from the core of the growth of Al.

【0028】また、たとえ粒径が10nm未満の合金微
粉末を製造できたとしても、かかる粒径の小さい合金微
粉末は、溶融温度が数十℃以下といった著しく低いもの
となる上、凝集しやすい。このため、導電ペーストを製
造する際には、合金微粉末の溶融による融着等を防止し
つつ、均一に分散させる必要があるなど、取り扱いが容
易でなく、実用的でない。したがって合金微粉末の粒径
は10nm以上とするのが好ましい。
Even if an alloy fine powder having a particle size of less than 10 nm can be produced, the alloy fine powder having such a small particle size has a remarkably low melting temperature of several tens of degrees Celsius or less and is easily aggregated. . Therefore, when the conductive paste is produced, it is necessary to prevent the alloy fine powder from being fused and the like even while being melted, and thus it is not easy to handle and not practical. Therefore, the particle size of the alloy fine powder is preferably 10 nm or more.

【0029】なお導電ペーストの焼き付け温度を引き下
げて、有機の発光層へのダメージを軽減する効果をさら
に向上させるとともに、合金微粉末の取り扱いを容易に
することを考慮すると、当該合金微粉末の粒径は、上記
の範囲内でもとくに70〜120nm程度とするのが好
ましい。この発明では、走査型電子顕微鏡を用いて測定
した値でもって、合金微粉末の粒径を規定することとす
る。具体的には、合金微粉末の走査型電子顕微鏡写真を
撮影し、そのうち実際の寸法が1.8μm×2.4μm
の矩形状の範囲に入るすべての合金微粉末の粒径を実測
して、その平均値でもって合金微粉末の粒径とする。
Considering that the baking temperature of the conductive paste is lowered to further improve the effect of reducing the damage to the organic light emitting layer and the handling of the alloy fine powder is facilitated, the grain size of the alloy fine powder is considered. Even within the above range, the diameter is preferably about 70 to 120 nm. In the present invention, the particle size of the alloy fine powder is defined by the value measured using the scanning electron microscope. Specifically, a scanning electron micrograph of the alloy fine powder was taken, and the actual size was 1.8 μm × 2.4 μm.
The particle diameters of all the alloy fine powders falling within the rectangular range are measured, and the average value is used as the particle diameter of the alloy fine powders.

【0030】合金微粉末は、前述したように還元析出法
によって製造することができる。還元析出法において
は、まず還元剤、例えば三塩化チタンなどの3価のチタ
ン化合物と、錯化剤、例えばクエン酸三ナトリウム等と
を溶解させた溶液(以下「還元剤溶液」とする)に、ア
ンモニア水等を加えてpHを9〜10に調整する。これ
により、3価のチタンイオンが錯化剤と結合して配位化
合物を形成して、Ti(III)からTi(IV)に酸化する際
の活性化エネルギーが低くなり、還元電位が高くなる。
具体的には、Ti(III)とTi(IV)との電位差が1Vを
超える。この値は、先に例示した金属元素のうちAg、
Au、Bi、Cu、In、Pb、Sn、およびZnの、
所定の価数のイオンから金属状態(0価)への還元電位
に比べて著しく高い値である。よって、これら金属元素
のイオンを効率よく還元、析出させることができる。
The fine alloy powder can be produced by the reduction precipitation method as described above. In the reduction precipitation method, first, a reducing agent, for example, a trivalent titanium compound such as titanium trichloride, and a complexing agent, for example, trisodium citrate, are dissolved in a solution (hereinafter referred to as a “reducing agent solution”). PH is adjusted to 9 to 10 by adding ammonia water or the like. As a result, the trivalent titanium ion forms a coordination compound by combining with the complexing agent, and the activation energy when oxidizing Ti (III) to Ti (IV) becomes low and the reduction potential becomes high. .
Specifically, the potential difference between Ti (III) and Ti (IV) exceeds 1V. This value is Ag among the metallic elements exemplified above,
Of Au, Bi, Cu, In, Pb, Sn, and Zn,
The value is remarkably higher than the reduction potential from a predetermined valence ion to a metal state (zero valence). Therefore, the ions of these metal elements can be efficiently reduced and precipitated.

【0031】次に、上記の還元剤溶液に、例えば前記例
示のIn−Ag合金などを構成する、2種以上の金属元
素のイオンを含む溶液を加える。そうするとTi(III)
が還元剤として機能して、自身がTi(IV)に酸化する際
に、上記2種以上の金属元素のイオンを還元して液中に
同時に析出させることで、合金微粉末を製造することが
できる。還元析出法にて製造した合金微粉末は個々の粒
径が揃っており、粒度分布がシャープである。これは、
還元反応が系中で均一に進行するためである。
Next, to the above reducing agent solution, a solution containing ions of two or more kinds of metal elements constituting, for example, the above-mentioned In-Ag alloy is added. Then Ti (III)
Acts as a reducing agent, and when it itself oxidizes to Ti (IV), it is possible to produce fine alloy powder by reducing ions of the above-mentioned two or more metal elements and precipitating them in the liquid at the same time. it can. The fine alloy powder produced by the reduction precipitation method has a uniform grain size and a sharp grain size distribution. this is,
This is because the reduction reaction proceeds uniformly in the system.

【0032】還元析出法において合金微粉末の粒径を調
整するには、反応時間、反応温度およびかく拌速度等の
反応条件を規定すればよい。また還元析出法において、
合金微粉末を形成する合金の組成を制御するためには、
溶液中に含ませる、合金を構成する金属元素のイオンの
濃度を調整したり、錯化剤の種類や添加量を変化させる
ことによって、還元剤溶液の還元電位を調整したりすれ
ばよい。錯化剤としては、前記クエン酸三ナトリウムの
他、酒石酸ナトリウム、酒石酸、グルコン酸ナトリウ
ム、酢酸ナトリウム、エチレンジアミン四酢酸、チオ硫
酸ナトリウムなどを挙げることができる。
In order to adjust the grain size of the fine alloy powder in the reduction precipitation method, reaction conditions such as reaction time, reaction temperature and stirring speed may be specified. In the reduction precipitation method,
In order to control the composition of the alloy forming the alloy fine powder,
The reduction potential of the reducing agent solution may be adjusted by adjusting the concentration of the ions of the metal elements constituting the alloy contained in the solution, or by changing the type and addition amount of the complexing agent. As the complexing agent, in addition to trisodium citrate, sodium tartrate, tartaric acid, sodium gluconate, sodium acetate, ethylenediaminetetraacetic acid, sodium thiosulfate and the like can be mentioned.

【0033】合金微粉末を析出させた後の還元剤溶液
は、電解再生を行うことで、何度でも繰り返し、還元析
出法による合金微粉末の製造に利用することができる。
すなわち、合金微粉末を析出させた後の還元剤溶液を電
解槽に入れるなどして電圧を印加することで、Ti(IV)
をTi(III)に還元してやれば、再び電解析出用の還元
剤溶液として使用することができる。これは、電解析出
時にチタンイオンが殆ど消費されない、つまり析出させ
る金属元素とともに多量に析出されないためである。
The reducing agent solution after depositing the alloy fine powder can be repeatedly used for production of the alloy fine powder by the reduction precipitation method by performing electrolytic regeneration.
That is, by applying a voltage such as by putting the reducing agent solution after the alloy fine powder is deposited in the electrolytic cell, Ti (IV)
If it is reduced to Ti (III), it can be used again as a reducing agent solution for electrolytic deposition. This is because titanium ions are hardly consumed during electrolytic deposition, that is, a large amount of titanium ions are not deposited together with the metal element to be deposited.

【0034】なお前記例示の金属元素のうち、Ag、A
u、Bi、Cu、In、Pb、Sn、およびZn以外の
他の金属元素、すなわちAl、Ca、Ga、K、Li、
Mg、およびNaなどは、還元剤として3価のチタン化
合物を用いた還元析出法によって析出させることができ
ない。したがってこれらの金属元素を含む合金にて合金
微粉末を形成する場合は、他の方法で製造する必要があ
る。その方法としては、例えば還元析出法で析出可能な
金属であらかじめ形成しておいた、粒径が300nm未
満の微粉末の表面に、気相コーティング法などによっ
て、還元析出法で析出不可能な金属をコーティングする
方法などを挙げることができる。かかる方法では、もと
の微粉末の粒径が小さいため、例えば熱処理などをする
ことで、表面にコーティングした金属を微粉末の内部に
拡散させて、合金化することができる。
Of the above-exemplified metallic elements, Ag and A
Metal elements other than u, Bi, Cu, In, Pb, Sn, and Zn, that is, Al, Ca, Ga, K, Li,
Mg, Na and the like cannot be deposited by a reduction deposition method using a trivalent titanium compound as a reducing agent. Therefore, when forming alloy fine powder from an alloy containing these metal elements, it is necessary to manufacture it by another method. As the method, for example, a metal that cannot be deposited by the reduction precipitation method by a vapor phase coating method or the like on the surface of a fine powder having a particle size of less than 300 nm that is previously formed of a metal that can be deposited by the reduction precipitation method. And the like. In such a method, since the original fine powder has a small particle diameter, the metal coated on the surface can be diffused inside the fine powder to be alloyed by, for example, heat treatment.

【0035】〔導電ペースト〕この発明の導電ペースト
は、上記の合金微粉末と、樹脂等の結着剤とを固形分と
して含み、かつ固形分の総量に占める合金微粉末の割合
を50〜98重量%としたものである。合金微粉末の割
合を上記の範囲に限定する理由は先に述べたとおりであ
る。なお導電ペーストの製膜性を向上するとともに、よ
り低温、短時間の焼き付けで、良好な導電性を有する均
一な背後電極を形成することを考慮すると、合金微粉末
の、固形分の総量に占める割合は、上記の範囲内でもと
くに80〜95重量%とするのが好ましい。
[Conductive paste] The conductive paste of the present invention contains the above alloy fine powder and a binder such as resin as a solid content, and the ratio of the alloy fine powder to the total solid content is 50 to 98. It is defined as% by weight. The reason why the ratio of the fine alloy powder is limited to the above range is as described above. In addition to improving the film forming property of the conductive paste, in consideration of forming a uniform back electrode having good conductivity by baking at a lower temperature for a shorter time, the alloy fine powder accounts for the total solid content. Even within the above range, the proportion is preferably 80 to 95% by weight.

【0036】結着剤としては、従来公知の、成膜性およ
び接着性を有する種々の化合物がいずれも使用可能であ
る。かかる結着剤としては、例えば熱可塑性樹脂や硬化
性樹脂、液状硬化性樹脂などがあり、特に好ましくはア
クリル系樹脂、エポキシ系樹脂、フッ素系樹脂、フェノ
ール系樹脂などをあげることができる。導電ペースト
は、合金微粉末と結着剤とを、適当な溶媒中に分散させ
て製造する。また、液状硬化性樹脂等の液状の結着剤を
用いて溶媒を省略してもよい。
As the binder, any of various conventionally known compounds having film-forming properties and adhesive properties can be used. Examples of such a binder include a thermoplastic resin, a curable resin, a liquid curable resin, and the like, and particularly preferably, an acrylic resin, an epoxy resin, a fluorine resin, a phenol resin, or the like can be given. The conductive paste is produced by dispersing alloy fine powder and a binder in a suitable solvent. Further, the solvent may be omitted by using a liquid binder such as a liquid curable resin.

【0037】〔EL素子〕この発明のEL素子は、上記
の導電ペーストを、有機の発光層上に膜状に塗布し、合
金微粉末の溶融温度以上で、かつ発光層の耐熱温度以下
の温度で焼き付けて背後電極を形成したものである。有
機の発光層上に、導電ペーストを膜状に塗布する方法と
しては、バーコート法、スプレーコート法、ロールコー
ト法などの、種々のコート法を採用できる他、スクリー
ン印刷法、凹版オフセット印刷法などの、種々の印刷法
を採用することもできる。印刷法によれば、背後電極を
パターン形成することが可能である。
[EL Element] In the EL element of the present invention, the above-mentioned conductive paste is applied in a film form on the organic light emitting layer, and the temperature is not lower than the melting temperature of the alloy fine powder and not higher than the heat resistant temperature of the light emitting layer. The back electrode is formed by baking. Various coating methods such as a bar coating method, a spray coating method and a roll coating method can be adopted as a method for applying the conductive paste in a film form on the organic light emitting layer, as well as a screen printing method and an intaglio offset printing method. It is also possible to employ various printing methods such as. According to the printing method, the back electrode can be patterned.

【0038】導電ペーストの焼き付け温度は、上記のよ
うに合金微粉末の溶融温度以上で、かつ発光層の耐熱温
度以下である必要がある。この範囲内の焼き付け温度
で、有機の発光層上に膜状に塗布した導電ペーストを焼
き付けると、当該発光層へのダメージを軽減しつつ、多
数の微粉末を十分に溶融、一体化させて、均一でかつ発
光層の表面形状に十分に追従した、良好な導電性を有す
る背後電極を形成することができる。
The baking temperature of the conductive paste must be above the melting temperature of the alloy fine powder and below the heat resistant temperature of the light emitting layer as described above. At a baking temperature within this range, when the conductive paste applied in a film form on the organic light emitting layer is baked, a large number of fine powders are sufficiently melted and integrated while reducing damage to the light emitting layer. It is possible to form a back electrode that is uniform and sufficiently follows the surface shape of the light emitting layer and has good conductivity.

【0039】しかも形成した背後電極は、合金微粒子の
溶融温度より高い、合金本来の融点を有するため、素子
形成後の熱履歴によって溶融したりしない耐熱性に優れ
る上、基本的に合金は、In単体のように簡単に酸化し
て、背後電極としての機能を喪失したりしないため、耐
久性にも優れている。背後電極を形成した後のEL素子
は、従来同様にパッシベーション処理をした後、使用に
供する。
Moreover, since the formed back electrode has the melting point of the alloy, which is higher than the melting temperature of the alloy fine particles, it is excellent in heat resistance so that it will not be melted due to the heat history after the element is formed. Since it does not easily oxidize like a simple substance and loses its function as a back electrode, it has excellent durability. The EL element after the formation of the back electrode is subjected to passivation treatment as in the conventional case and then used.

【0040】EL素子を形成する、背後電極以外の他の
層については、従来と同様に構成できる。例えば透明基
板の上に薄膜状の透明電極(陽極)を形成し、その上に
電界発光機能を有する有機の発光層と、背後電極とをこ
の順に積層した構造のEL素子において、透明基板とし
ては、ガラス板や透明プラスチック板などを使用するこ
とができる。
The layers other than the back electrode, which form the EL element, can be constructed in the same manner as in the prior art. For example, in an EL device having a structure in which a thin film transparent electrode (anode) is formed on a transparent substrate, and an organic light emitting layer having an electroluminescence function and a back electrode are laminated in this order on the transparent substrate, the transparent substrate is Alternatively, a glass plate or a transparent plastic plate can be used.

【0041】また薄膜状の透明電極としては、例えば酸
化インジウム、酸化スズ、ITO(インジウムスズ複合
酸化物)、IXO〔In23(ZnO)m六方晶層状化
合物〕などを挙げることができる。これらの透明電極
は、反応性イオンプレーティング法、反応性スパッタリ
ング法、プラズマCVD法などによって形成することが
できる。有機の発光層としては、先に述べたように、結
着樹脂中に発光材料や蛍光色素、電子輸送性材料、ホー
ル輸送性材料などを分散したり、あるいは結着樹脂とし
てホール輸送性を有する高分子を使用したりした、単層
または複層の発光層を挙げることができる。
Examples of the thin film transparent electrode include indium oxide, tin oxide, ITO (indium tin composite oxide), IXO [In 2 O 3 (ZnO) m hexagonal layered compound] and the like. These transparent electrodes can be formed by a reactive ion plating method, a reactive sputtering method, a plasma CVD method, or the like. As described above, as the organic light emitting layer, a light emitting material, a fluorescent dye, an electron transporting material, a hole transporting material, or the like is dispersed in the binder resin, or the binder resin has a hole transporting property. There may be mentioned a single-layer or multi-layer light emitting layer using a polymer.

【0042】なおこの発明の合金微粉末、および導電ペ
ーストは、上記EL素子の、背後電極の形成用には限定
されず、低い焼き付け温度と、焼き付け後の高い耐熱
性、耐久性とが要求される種々の用途に利用することが
可能である。
The alloy fine powder and the conductive paste of the present invention are not limited to the formation of the back electrode of the above EL element, and are required to have a low baking temperature and high heat resistance and durability after baking. It can be used for various purposes.

【0043】[0043]

【実施例】(合金微粉末の作製) 実施例1 三塩化チタン80gとクエン酸ナトリウム二水和物9
1.5gとをイオン交換水に溶解した後、その液温を3
5℃に維持しつつアンモニア水を加えてpHを9に調整
して、およそ900mlの還元剤溶液を得た。
Example (Preparation of fine alloy powder) Example 1 80 g of titanium trichloride and sodium citrate dihydrate 9
After dissolving 1.5g in deionized water, the liquid temperature is adjusted to 3
The pH was adjusted to 9 by adding aqueous ammonia while maintaining the temperature at 5 ° C to obtain about 900 ml of the reducing agent solution.

【0044】また、塩化インジウム(III)4水和物〔I
nCl3・4H2O〕10.8gと、塩化銀(AgCl)
0.46gと、10mlの塩酸とをイオン交換水に加え
て溶解させることで、InとAgのイオンを含む溶液5
0mlを調製した。そしてこの溶液を上の還元剤溶液に
加えるとともに、さらにイオン交換水を加えて全量を1
リットルに調整してかく拌下、液温を35℃に維持しつ
つ反応を行った。また反応開始後は、アンモニア水でp
Hを9に調整しながら反応を行い、反応開始から5分が
経過した時点で、液中に析出した固形分を直ちにろ別
し、水洗したのち乾燥させて微粉末を得た。
Indium (III) chloride tetrahydrate [I
and nCl 3 · 4H 2 O] 10.8 g, silver chloride (AgCl), or the
A solution containing In and Ag ions was obtained by adding 0.46 g and 10 ml of hydrochloric acid to ion-exchanged water and dissolving them.
0 ml was prepared. Then, this solution is added to the above reducing agent solution, and ion-exchanged water is further added to make the total amount 1
It was adjusted to 1 liter and the reaction was carried out with stirring while maintaining the liquid temperature at 35 ° C. Also, after starting the reaction, p
The reaction was carried out while adjusting H to 9, and when 5 minutes had elapsed from the start of the reaction, the solid content precipitated in the liquid was immediately filtered off, washed with water and dried to obtain a fine powder.

【0045】得られた微粉末の組成を、ICP発光分析
法によって測定したところ、92In−8Ag合金(融
点210℃、仕事関数4.1eV)であることが確認さ
れた。また上記の合金微粉末を走査型電子顕微鏡で観察
したところ、その粒径がほぼ揃っていることが確認され
た。また走査型電子顕微鏡によって撮影した写真に写さ
れた、実際の寸法が1.8μm×2.4μmの矩形状の
範囲に入るすべての合金微粉末の粒径を実測して、その
平均値を求めたところ100nmであった。
When the composition of the obtained fine powder was measured by ICP emission spectrometry, it was confirmed to be a 92In-8Ag alloy (melting point 210 ° C, work function 4.1eV). Further, when the above alloy fine powder was observed by a scanning electron microscope, it was confirmed that the particle diameters thereof were almost uniform. In addition, the particle size of all alloy fine powders whose actual dimensions are in the rectangular range of 1.8 μm × 2.4 μm, which are photographed by the scanning electron microscope, are measured, and the average value is obtained. It was 100 nm.

【0046】さらに、合金微粉末の溶融温度をTMA法
によって測定したところ185℃であった。 比較例1 塩化銀(AgCl)14.3gと、10mlの塩酸とを
イオン交換水に加えて溶解させることで、Agのイオン
を含む溶液50mlを調製した。そしてこの溶液を、実
施例1で使用したのと同じ還元剤溶液に加えるととも
に、さらにイオン交換水を加えて全量を1リットルに調
整してかく拌下、液温を35℃に維持しつつ反応を行っ
た。また反応開始後は、アンモニア水でpHを9に調整
しながら反応を行い、反応開始から5分が経過した時点
で、液中に析出した固形分を直ちにろ別し、水洗したの
ち乾燥させてAgの微粉末を得た。
Further, the melting temperature of the fine alloy powder was measured by the TMA method and found to be 185 ° C. Comparative Example 1 14.3 g of silver chloride (AgCl) and 10 ml of hydrochloric acid were added to ion-exchanged water and dissolved to prepare 50 ml of a solution containing Ag ions. Then, this solution was added to the same reducing agent solution used in Example 1, and ion-exchanged water was further added to adjust the total amount to 1 liter, and the reaction was performed while stirring and maintaining the liquid temperature at 35 ° C. I went. After the start of the reaction, the reaction was performed while adjusting the pH to 9 with aqueous ammonia, and when 5 minutes had elapsed from the start of the reaction, the solid content precipitated in the liquid was immediately filtered off, washed with water and dried. A fine powder of Ag was obtained.

【0047】得られた微粉末を走査型電子顕微鏡で観察
したところ、その粒径がほぼ揃っていることが確認され
た。また走査型電子顕微鏡によって撮影した写真に写さ
れた、実際の寸法が1.8μ×2.4μmの矩形状の範
囲に入るすべての微粉末の粒径を実測して、その平均値
を求めたところ100nmであった。さらに、微粉末の
溶融温度をTMA法によって測定したところ475℃で
あった。
When the obtained fine powder was observed with a scanning electron microscope, it was confirmed that the particle diameters thereof were almost uniform. Also, the particle diameters of all the fine powders whose actual dimensions are in the rectangular range of 1.8 μm × 2.4 μm, which were photographed by the scanning electron microscope, were measured, and the average value was calculated. It was 100 nm. Further, the melting temperature of the fine powder was measured by the TMA method and found to be 475 ° C.

【0048】比較例2 塩化インジウム(III)4水和物〔InCl3・4H2O〕
9.4gと、塩化銀(AgCl)1.2gと、10ml
の塩酸とをイオン交換水に加えて溶解させることで、I
nとAgのイオンを含む溶液50mlを調製した。そし
てこの溶液を、実施例1で使用したのと同じ還元剤溶液
に加えるとともに、さらにイオン交換水を加えて全量を
1リットルに調整してかく拌下、液温を35℃に維持し
つつ反応を行った。また反応開始後は、アンモニア水で
pHを9に調整しながら反応を行い、反応開始から5分
が経過した時点で、液中に析出した固形分を直ちにろ別
し、水洗したのち乾燥させて微粉末を得た。
Comparative Example 2 Indium (III) chloride tetrahydrate [InCl 3 .4H 2 O]
9.4g, silver chloride (AgCl) 1.2g, 10ml
By adding the hydrochloric acid and the ion-exchanged water to dissolve,
50 ml of a solution containing n and Ag ions was prepared. Then, this solution was added to the same reducing agent solution used in Example 1, and ion-exchanged water was further added to adjust the total amount to 1 liter, and the reaction was performed while stirring and maintaining the liquid temperature at 35 ° C. I went. After the start of the reaction, the reaction is performed while adjusting the pH to 9 with aqueous ammonia, and when 5 minutes have elapsed from the start of the reaction, the solid content precipitated in the solution is immediately filtered off, washed with water and dried. A fine powder was obtained.

【0049】得られた微粉末の組成を、ICP発光分析
法によって測定したところ、80In−20Ag合金
(融点350℃、仕事関数4.1eV)であることが確
認された。また上記の合金微粉末を走査型電子顕微鏡で
観察したところ、その粒径がほぼ揃っていることが確認
された。また走査型電子顕微鏡によって撮影した写真に
写された、実際の寸法が1.8μ×2.4μmの矩形状
の範囲に入るすべての合金微粉末の粒径を実測して、そ
の平均値を求めたところ100nmであった。
When the composition of the obtained fine powder was measured by ICP emission spectrometry, it was confirmed to be an 80In-20Ag alloy (melting point: 350 ° C., work function: 4.1 eV). Further, when the above alloy fine powder was observed by a scanning electron microscope, it was confirmed that the particle diameters thereof were almost uniform. In addition, the grain size of all alloy fine powders whose actual dimensions fall within the rectangular range of 1.8 μm × 2.4 μm, which were photographed by the scanning electron microscope, were measured, and the average value was calculated. It was 100 nm.

【0050】さらに、合金微粉末の溶融温度をTMA法
によって測定したところ320℃であった。 比較例3 塩化インジウム(III)4水和物〔InCl3・4H2O〕
11.7gと、10mlの塩酸とをイオン交換水に加え
て溶解させることで、Inのイオンを含む溶液50ml
を調製した。
Further, the melting temperature of the fine alloy powder was measured by the TMA method and found to be 320 ° C. Comparative Example 3 Indium (III) chloride tetrahydrate [InCl 3 .4H 2 O]
50 ml of a solution containing In ions by adding 11.7 g and 10 ml of hydrochloric acid to ion-exchanged water and dissolving
Was prepared.

【0051】そしてこの溶液を、実施例1で使用したの
と同じ還元剤溶液に加えるとともに、さらにイオン交換
水を加えて全量を1リットルに調整してかく拌下、液温
を35℃に維持しつつ反応を行った。また反応開始後
は、アンモニア水でpHを9に調整しながら反応を行
い、反応開始から5分が経過した時点で、液中に析出し
た固形分を直ちにろ別し、水洗したのち乾燥させてIn
の微粉末を得た。得られた微粉末を走査型電子顕微鏡で
観察したところ、その粒径がほぼ揃っていることが確認
された。また走査型電子顕微鏡によって撮影した写真に
写された、実際の寸法が1.8μm×2.4μmの矩形
状の範囲に入るすべての合金微粉末の粒径を実測して、
その平均値を求めたところ100nmであった。
Then, this solution was added to the same reducing agent solution used in Example 1, and ion-exchanged water was further added to adjust the total amount to 1 liter, and the liquid temperature was maintained at 35 ° C. with stirring. The reaction was carried out. After the start of the reaction, the reaction was performed while adjusting the pH to 9 with aqueous ammonia, and when 5 minutes had elapsed from the start of the reaction, the solid content precipitated in the liquid was immediately filtered off, washed with water and dried. In
Of fine powder was obtained. When the obtained fine powder was observed with a scanning electron microscope, it was confirmed that the particle diameters were almost uniform. In addition, by actually measuring the particle diameters of all the alloy fine powders, which are photographed by a scanning electron microscope and have actual dimensions within a rectangular range of 1.8 μm × 2.4 μm,
The average value was 100 nm.

【0052】さらに、微粉末の溶融温度をTMA法によ
って測定したところ130℃であった。以上の結果を表
1にまとめた。
Further, the melting temperature of the fine powder was measured by the TMA method and found to be 130 ° C. The above results are summarized in Table 1.

【0053】[0053]

【表1】 [Table 1]

【0054】表より、融点が210℃である92In−
8Ag合金にて形成するとともに、その粒径を100n
mとした実施例1の合金微粉末は、久保効果によって、
その溶融温度を185℃まで引き下げることができた。
しかし、融点が962℃であるAg単体で形成した比較
例1の微粉末、および融点が350℃である80In−
20Ag合金にて形成した比較例2の合金微粉末は、い
ずれも粒径を100nmとしても、溶融温度を200℃
以下まで引き下げることはできなかった。また、融点が
156.6℃であるIn単体で形成した比較例3の微粉
末は、粒径を100nmとすることによって、溶融温度
が低くなりすぎてしまった。
From the table, 92In- having a melting point of 210 ° C.
It is made of 8Ag alloy and its grain size is 100n.
The fine alloy powder of Example 1 having m is due to the Kubo effect,
The melting temperature could be lowered to 185 ° C.
However, the fine powder of Comparative Example 1 formed of Ag alone having a melting point of 962 ° C. and 80In− having a melting point of 350 ° C.
The fine alloy powder of Comparative Example 2 formed of a 20Ag alloy has a melting temperature of 200 ° C. even if the particle size is 100 nm.
It was not possible to reduce to below. Further, the fine powder of Comparative Example 3 formed of In alone having a melting point of 156.6 ° C. had a melting temperature too low by setting the particle size to 100 nm.

【0055】実施例2 塩化スズ(II)2水和物〔SnCl2・2H2O〕8.7g
と、塩化銀(AgCl)0.2gと、10mlの塩酸と
をイオン交換水に加えて溶解させることで、SnとAg
のイオンを含む溶液50mlを調製した。そしてこの溶
液を、実施例1で使用したのと同じ還元剤溶液に加える
とともに、さらにイオン交換水を加えて全量を1リット
ルに調整してかく拌下、液温を35℃に維持しつつ反応
を行った。また反応開始後は、アンモニア水でpHを9
に調整しながら反応を行い、反応開始から5分が経過し
た時点で、液中に析出した固形分を直ちにろ別し、水洗
したのち乾燥させて微粉末を得た。
Example 2 8.7 g of tin (II) chloride dihydrate [SnCl 2 .2H 2 O]
By adding 0.2 g of silver chloride (AgCl) and 10 ml of hydrochloric acid to ion-exchanged water and dissolving them, Sn and Ag
50 ml of a solution containing the ions of was prepared. Then, this solution was added to the same reducing agent solution used in Example 1, and ion-exchanged water was further added to adjust the total amount to 1 liter, and the reaction was performed while stirring and maintaining the liquid temperature at 35 ° C. I went. After starting the reaction, adjust the pH to 9 with aqueous ammonia.
The reaction was carried out while adjusting the above, and when 5 minutes had passed from the start of the reaction, the solid content precipitated in the liquid was immediately filtered off, washed with water and dried to obtain a fine powder.

【0056】得られた微粉末の組成を、ICP発光分析
法によって測定したところ、96.5Sn−3.5Ag
合金(融点221℃、仕事関数4.2eV)であること
が確認された。また上記の合金微粉末を走査型電子顕微
鏡で観察したところ、その粒径がほぼ揃っていることが
確認された。また走査型電子顕微鏡によって撮影した写
真に写された、実際の寸法が1.8μm×2.4μmの
矩形状の範囲に入るすべての合金微粉末の粒径を実測し
て、その平均値を求めたところ100nmであった。
The composition of the resulting fine powder was measured by ICP emission spectrometry, which was 96.5Sn-3.5Ag.
It was confirmed to be an alloy (melting point 221 ° C., work function 4.2 eV). Further, when the above alloy fine powder was observed by a scanning electron microscope, it was confirmed that the particle diameters thereof were almost uniform. In addition, the particle size of all alloy fine powders whose actual dimensions are in the rectangular range of 1.8 μm × 2.4 μm, which are photographed by the scanning electron microscope, are measured, and the average value is obtained. It was 100 nm.

【0057】さらに、合金微粉末の溶融温度をTMA法
によって測定したところ190℃であった。 比較例4 塩化スズ(II)2水和物〔SnCl2・2H2O〕7.2g
と、塩化銀(AgCl)1.1gと、10mlの塩酸と
をイオン交換水に加えて溶解させることで、SnとAg
のイオンを含む溶液50mlを調製した。
Further, the melting temperature of the fine alloy powder was measured by the TMA method and found to be 190 ° C. Comparative Example 4 Tin (II) chloride dihydrate [SnCl 2 .2H 2 O] 7.2 g
By adding 1.1 g of silver chloride (AgCl) and 10 ml of hydrochloric acid to ion-exchanged water to dissolve Sn and Ag.
50 ml of a solution containing the ions of was prepared.

【0058】そしてこの溶液を、実施例1で使用したの
と同じ還元剤溶液に加えるとともに、さらにイオン交換
水を加えて全量を1リットルに調整してかく拌下、液温
を35℃に維持しつつ反応を行った。また反応開始後
は、アンモニア水でpHを9に調整しながら反応を行
い、反応開始から5分が経過した時点で、液中に析出し
た固形分を直ちにろ別し、水洗したのち乾燥させて微粉
末を得た。得られた微粉末の組成を、ICP発光分析法
によって測定したところ、80Sn−20Ag合金(融
点390℃、仕事関数4.1eV)であることが確認さ
れた。
Then, this solution was added to the same reducing agent solution used in Example 1, and ion-exchanged water was further added to adjust the total amount to 1 liter, and the liquid temperature was maintained at 35 ° C. with stirring. The reaction was carried out. After the start of the reaction, the reaction was performed while adjusting the pH to 9 with aqueous ammonia, and when 5 minutes had elapsed from the start of the reaction, the solid content precipitated in the liquid was immediately filtered off, washed with water and dried. A fine powder was obtained. When the composition of the obtained fine powder was measured by ICP emission spectrometry, it was confirmed to be an 80Sn-20Ag alloy (melting point 390 ° C, work function 4.1eV).

【0059】また上記の合金微粉末を走査型電子顕微鏡
で観察したところ、その粒径がほぼ揃っていることが確
認された。また走査型電子顕微鏡によって撮影した写真
に写された、実際の寸法が1.8μm×2.4μmの矩
形状の範囲に入るすべての合金微粉末の粒径を実測し
て、その平均値を求めたところ100nmであった。さ
らに、合金微粉末の溶融温度をTMA法によって測定し
たところ360℃であった。
When the above alloy fine powder was observed with a scanning electron microscope, it was confirmed that the particle diameters thereof were almost uniform. In addition, the particle size of all alloy fine powders whose actual dimensions are in the rectangular range of 1.8 μm × 2.4 μm, which are photographed by the scanning electron microscope, are measured, and the average value is obtained. It was 100 nm. Furthermore, the melting temperature of the alloy fine powder was measured by the TMA method and found to be 360 ° C.

【0060】比較例5 塩化スズ(II)2水和物〔SnCl2・2H2O〕9.0g
と、10mlの塩酸とをイオン交換水に加えて溶解させ
ることで、Snのイオンを含む溶液50mlを調製し
た。そしてこの溶液を、実施例1で使用したのと同じ還
元剤溶液に加えるとともに、さらにイオン交換水を加え
て全量を1リットルに調整してかく拌下、液温を35℃
に維持しつつ反応を行った。また反応開始後は、アンモ
ニア水でpHを9に調整しながら反応を行い、反応開始
から5分が経過した時点で、液中に析出した固形分を直
ちにろ別し、水洗したのち乾燥させてSnの微粉末を得
た。
Comparative Example 5 Tin (II) chloride dihydrate [SnCl 2 .2H 2 O] 9.0 g
Then, 10 ml of hydrochloric acid and 10 ml of hydrochloric acid were added to and dissolved in ion-exchanged water to prepare 50 ml of a solution containing Sn ions. Then, this solution was added to the same reducing agent solution used in Example 1, ion-exchanged water was further added to adjust the total amount to 1 liter, and the liquid temperature was adjusted to 35 ° C. under stirring.
The reaction was carried out while maintaining After the start of the reaction, the reaction was performed while adjusting the pH to 9 with aqueous ammonia, and when 5 minutes had elapsed from the start of the reaction, the solid content precipitated in the liquid was immediately filtered off, washed with water and dried. Fine powder of Sn was obtained.

【0061】得られた微粉末を走査型電子顕微鏡で観察
したところ、その粒径がほぼ揃っていることが確認され
た。また走査型電子顕微鏡によって撮影した写真に写さ
れた、実際の寸法が1.8μm×2.4μmの矩形状の
範囲に入るすべての合金微粉末の粒径を実測して、その
平均値を求めたところ100nmであった。さらに、微
粉末の溶融温度をTMA法によって測定したところ21
0℃であった。
When the obtained fine powder was observed with a scanning electron microscope, it was confirmed that the particle diameters were almost uniform. In addition, the particle size of all alloy fine powders whose actual dimensions are in the rectangular range of 1.8 μm × 2.4 μm, which are photographed by the scanning electron microscope, are measured, and the average value is obtained. It was 100 nm. Furthermore, when the melting temperature of the fine powder was measured by the TMA method, it was 21
It was 0 ° C.

【0062】以上の結果を、比較例1の結果とともに表
2にまとめた。
The above results are summarized in Table 2 together with the results of Comparative Example 1.

【0063】[0063]

【表2】 [Table 2]

【0064】表より、融点が221℃である96.5S
n−3.5Ag合金にて形成するとともに、その粒径を
100nmとした実施例2の合金微粉末は、久保効果に
よって、その溶融温度を190℃まで引き下げることが
できた。しかし、融点が962℃であるAg単体で形成
した比較例1の微粉末、および融点が390℃である8
0Sn−20Ag合金にて形成した比較例4の合金微粉
末は、いずれも粒径を100nmとしても、溶融温度を
200℃以下まで引き下げることはできなかった。ま
た、Sn単独で形成した比較例5の微粉末は、Snの融
点が232℃であるにもかかわらず、溶融温度を200
℃以下まで引き下げることができなかった。また、比較
例5の微粉末は、Sn単独で形成したものゆえ仕事関数
の値が大きかった。
From the table, 96.5S having a melting point of 221 ° C.
The alloy fine powder of Example 2, which was formed of an n-3.5Ag alloy and had a particle size of 100 nm, could have its melting temperature lowered to 190 ° C. due to the Kubo effect. However, the fine powder of Comparative Example 1 formed of Ag alone having a melting point of 962 ° C. and the melting point of 390 ° C. 8
In all of the fine alloy powders of Comparative Example 4 formed of 0Sn-20Ag alloy, the melting temperature could not be lowered to 200 ° C. or lower even if the particle size was 100 nm. Further, the fine powder of Comparative Example 5 formed of Sn alone had a melting temperature of 200 even though the melting point of Sn was 232 ° C.
It could not be lowered to below ℃. Further, the fine powder of Comparative Example 5 had a large work function value because it was formed of Sn alone.

【0065】実施例3 塩化スズ(II)2水和物〔SnCl2・2H2O〕8.7g
と、塩化銀(AgCl)0.17gと、塩化銅(II)2水
和物〔CuCl2・2H2O〕0.034gと、10ml
の塩酸とをイオン交換水に加えて溶解させることで、S
nとAgとCuのイオンを含む溶液50mlを調製し
た。そしてこの溶液を、実施例1で使用したのと同じ還
元剤溶液に加えるとともに、さらにイオン交換水を加え
て全量を1リットルに調整してかく拌下、液温を35℃
に維持しつつ反応を行った。また反応開始後は、アンモ
ニア水でpHを9に調整しながら反応を行い、反応開始
から5分が経過した時点で、液中に析出した固形分を直
ちにろ別し、水洗したのち乾燥させて微粉末を得た。
Example 3 8.7 g of tin (II) chloride dihydrate [SnCl 2 .2H 2 O]
And 0.17 g of silver chloride (AgCl), 0.034 g of copper (II) chloride dihydrate [CuCl 2 .2H 2 O], and 10 ml of
By adding the hydrochloric acid and the ion-exchanged water to dissolve,
50 ml of a solution containing n, Ag, and Cu ions was prepared. Then, this solution was added to the same reducing agent solution used in Example 1, ion-exchanged water was further added to adjust the total amount to 1 liter, and the liquid temperature was adjusted to 35 ° C. under stirring.
The reaction was carried out while maintaining After the start of the reaction, the reaction was performed while adjusting the pH to 9 with aqueous ammonia, and when 5 minutes had elapsed from the start of the reaction, the solid content precipitated in the liquid was immediately filtered off, washed with water and dried. A fine powder was obtained.

【0066】得られた微粉末の組成を、ICP発光分析
法によって測定したところ、96.5Sn−3Ag−
0.5Cu合金(融点217℃、仕事関数4.2eV)
であることが確認された。また上記の合金微粉末を走査
型電子顕微鏡で観察したところ、その粒径がほぼ揃って
いることが確認された。また走査型電子顕微鏡によって
撮影した写真に写された、実際の寸法が1.8μm×
2.4μmの矩形状の範囲に入るすべての合金微粉末の
粒径を実測して、その平均値を求めたところ100nm
であった。
The composition of the resulting fine powder was measured by ICP emission spectrometry, which was 96.5Sn-3Ag-.
0.5Cu alloy (melting point 217 ° C, work function 4.2eV)
Was confirmed. Further, when the above alloy fine powder was observed by a scanning electron microscope, it was confirmed that the particle diameters thereof were almost uniform. In addition, the actual size of the image taken by the scanning electron microscope is 1.8 μm ×
The particle diameters of all the alloy fine powders falling within the 2.4 μm rectangular range were measured, and the average value was calculated to be 100 nm.
Met.

【0067】さらに、合金微粉末の溶融温度をTMA法
によって測定したところ185℃であった。 実施例4 塩化スズ(II)2水和物〔SnCl2・2H2O〕9.0g
と、塩化銅(II)2水和物〔CuCl2・2H2O〕0.0
48gと、10mlの塩酸とをイオン交換水に加えて溶
解させることで、SnとCuのイオンを含む溶液50m
lを調製した。
Further, the melting temperature of the fine alloy powder was measured by the TMA method and found to be 185 ° C. Example 4 9.0 g of tin (II) chloride dihydrate [SnCl 2 .2H 2 O]
And copper (II) chloride dihydrate [CuCl 2 .2H 2 O] 0.0
A solution containing Sn and Cu ions 50m by adding 48g and 10ml hydrochloric acid to ion-exchanged water and dissolving
1 was prepared.

【0068】そしてこの溶液を、実施例1で使用したの
と同じ還元剤溶液に加えるとともに、さらにイオン交換
水を加えて全量を1リットルに調整してかく拌下、液温
を35℃に維持しつつ反応を行った。また反応開始後
は、アンモニア水でpHを9に調整しながら反応を行
い、反応開始から5分が経過した時点で、液中に析出し
た固形分を直ちにろ別し、水洗したのち乾燥させて微粉
末を得た。得られた微粉末の組成を、ICP発光分析法
によって測定したところ、99.3Sn−0.7Cu合
金(融点227℃、仕事関数4.2eV)であることが
確認された。
Then, this solution was added to the same reducing agent solution used in Example 1, ion-exchanged water was further added to adjust the total amount to 1 liter, and the liquid temperature was maintained at 35 ° C. with stirring. The reaction was carried out. After the start of the reaction, the reaction was performed while adjusting the pH to 9 with aqueous ammonia, and when 5 minutes had elapsed from the start of the reaction, the solid content precipitated in the liquid was immediately filtered off, washed with water and dried. A fine powder was obtained. When the composition of the obtained fine powder was measured by ICP emission spectrometry, it was confirmed to be a 99.3Sn-0.7Cu alloy (melting point 227 ° C, work function 4.2eV).

【0069】また上記の合金微粉末を走査型電子顕微鏡
で観察したところ、その粒径がほぼ揃っていることが確
認された。また走査型電子顕微鏡によって撮影した写真
に写された、実際の寸法が1.8μm×2.4μmの矩
形状の範囲に入るすべての合金微粉末の粒径を実測し
て、その平均値を求めたところ100nmであった。さ
らに、合金微粉末の溶融温度をTMA法によって測定し
たところ195℃であった。
When the above alloy fine powder was observed with a scanning electron microscope, it was confirmed that the particle diameters thereof were almost uniform. In addition, the particle size of all alloy fine powders whose actual dimensions are in the rectangular range of 1.8 μm × 2.4 μm, which are photographed by the scanning electron microscope, are measured, and the average value is obtained. It was 100 nm. Further, the melting temperature of the alloy fine powder was measured by the TMA method and found to be 195 ° C.

【0070】以上の結果を表3にまとめた。The above results are summarized in Table 3.

【0071】[0071]

【表3】 [Table 3]

【0072】表より、Sn−Ag−Cu合金やSn−C
u合金においても、その融点と粒径とを調整することに
よって、合金微粉末の溶融温度を200℃以下に引き下
げ得ることが確認された。 (導電ペーストの調製)上記各実施例、比較例で製造し
た微粉末95重量部と、結着剤としてのエチルセルロー
ス5重量部とを、溶媒としてのα−テルピネオール中に
分散させて、固形分濃度が55重量%で、かつ固形分中
に占める微粉末の割合が95重量%の導電ペーストを調
整した。
From the table, Sn-Ag-Cu alloy and Sn-C
It was confirmed that the melting temperature of the fine alloy powder can be lowered to 200 ° C. or lower by adjusting the melting point and the particle size of the u alloy as well. (Preparation of Conductive Paste) 95 parts by weight of the fine powder produced in each of the above Examples and Comparative Examples and 5 parts by weight of ethyl cellulose as a binder were dispersed in α-terpineol as a solvent to obtain a solid content concentration. Of 55% by weight and the proportion of fine powder in the solid content was 95% by weight.

【0073】(背後電極の形成)EL素子のモデルとし
て、片面にITO透明導電膜を形成したガラス基板の、
上記透明導電膜上に、有機の発光層を構成する、ホール
輸送性を有する高分子としてのポリフェニレンビニリデ
ン(PPV)からなる厚み1μmの層を形成したものを
用いた。次にこのPPVの層の上に、上記で製造した導
電ペーストを塗布し、200℃で焼き付けて、厚み5μ
mの背後電極を形成したのち、全体を170℃に加熱し
てパッシベーション処理をした。
(Formation of Back Electrode) As a model of an EL element, a glass substrate having an ITO transparent conductive film formed on one surface was prepared.
A 1 μm-thick layer made of polyphenylene vinylidene (PPV) as a polymer having a hole-transporting property and forming an organic light-emitting layer was formed on the transparent conductive film. Next, the conductive paste prepared above is applied onto the PPV layer and baked at 200 ° C. to a thickness of 5 μm.
After forming the back electrode of m, the whole was heated to 170 ° C. for passivation treatment.

【0074】そして厚み方向にカットして、その断面
を、走査型電子顕微鏡で観察したところ、実施例1〜4
の合金微粉末を用いて形成した背後電極は、いずれも合
金微粉末が十分に溶融、一体化して均一化しているとと
もに、PPVの層の表面形状に十分に追従していること
が確認された。またPPVの層にも、熱履歴などによる
ダメージは見られなかった。これに対し、微粉末の溶融
温度が焼き付け温度より高かった比較例1、2、4およ
び5の微粉末を用いて形成した背後電極は、微粉末の溶
融、一体化が不十分で、ポーラスな構造を有していた
り、あるいはPPVの層の表面形状に十分に追従してい
なかったりすることがわかった。
Then, the film was cut in the thickness direction and its cross section was observed with a scanning electron microscope.
It was confirmed that in the back electrode formed by using the alloy fine powder, the alloy fine powder was sufficiently melted, integrated and uniformed, and sufficiently followed the surface shape of the PPV layer. . Further, the PPV layer was not damaged by thermal history. On the other hand, the back electrode formed using the fine powders of Comparative Examples 1, 2, 4 and 5 in which the melting temperature of the fine powders was higher than the baking temperature, the melting and integration of the fine powders was insufficient and the back electrode was porous. It was found that they had a structure or did not sufficiently follow the surface shape of the PPV layer.

【0075】また、In単体からなる比較例3の微粉末
を用いて形成した背後電極は、パッシベーション時に、
Inが溶融したのち再凝固したことを示すInのウィス
カー状の析出が見られた。そしてこの析出したウィスカ
ーがPPVの層に突き刺さるなどのダメージが見られ
た。
Further, the back electrode formed by using the fine powder of Comparative Example 3 made of In simple substance, during passivation,
Whisker-like precipitation of In was observed, which indicates that In melted and then resolidified. Then, damage such as the deposited whiskers piercing the PPV layer was observed.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05B 33/26 H05B 33/26 Z // C22C 13/00 C22C 13/00 (72)発明者 谷 佳枝 大阪市此花区島屋一丁目1番3号 住友電 気工業株式会社大阪製作所内 (72)発明者 稲澤 信二 大阪市此花区島屋一丁目1番3号 住友電 気工業株式会社大阪製作所内 (72)発明者 坂本 敏宏 大阪市此花区島屋一丁目1番3号 住友電 気工業株式会社大阪製作所内 Fターム(参考) 3K007 AB14 AB18 CA01 CA05 CB01 CC00 DB03 FA01 FA03 4K017 BA01 BA10 BB02 BB05 DA01 EJ01 FB07 4K018 AA40 BA20 BD04 KA33 5G301 DA02 DD01 DE10 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) H05B 33/26 H05B 33/26 Z // C22C 13/00 C22C 13/00 (72) Inventor Yoshie Tani Osaka 1-3-3 Shimaya, Konohana-ku, Osaka (72) Inventor Shinji Inazawa 1-3-1 Shimaya, Konohana-ku, Osaka (72) Invented by Sumitomo Electric Industries, Ltd. Toshihiro Sakamoto 1-3 Shimaya 1-chome, Konohana-ku, Osaka City F-term inside Sumitomo Electric Industries, Ltd. (reference) 3K007 AB14 AB18 CA01 CA05 CB01 CC00 DB03 FA01 FA03 4K017 BA01 BA10 BB02 BB05 DA01 EJ01 FB07 4K018 AA40 BA20 BD04 KA33 5G301 DA02 DD01 DE10

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】融点が300℃以下の合金にて形成し、か
つ粒径を300nm以下としたことを特徴とする合金微
粉末。
1. A fine alloy powder characterized by being formed of an alloy having a melting point of 300 ° C. or less and having a particle size of 300 nm or less.
【請求項2】融点が200℃以上の合金にて形成したこ
とを特徴とする請求項1記載の合金微粉末。
2. The fine alloy powder according to claim 1, which is formed of an alloy having a melting point of 200 ° C. or higher.
【請求項3】粒径を10nm以上としたことを特徴とす
る請求項1記載の合金微粉末。
3. The fine alloy powder according to claim 1, which has a particle size of 10 nm or more.
【請求項4】合金を構成する2種以上の金属元素のイオ
ンを含む溶液中で、当該2種以上のイオンを、還元剤に
よって還元することで同時に析出させて形成したことを
特徴とする請求項1記載の合金微粉末。
4. A solution formed by simultaneously precipitating two or more kinds of ions in a solution containing ions of two or more kinds of metal elements constituting an alloy by reducing the two or more kinds of ions with a reducing agent. The alloy fine powder according to Item 1.
【請求項5】還元剤として、3価のチタン化合物を用い
たことを特徴とする請求項4記載の合金微粉末。
5. The fine alloy powder according to claim 4, wherein a trivalent titanium compound is used as the reducing agent.
【請求項6】請求項1記載の合金微粉末と、結着剤とを
固形分として含み、かつ固形分の総量に占める合金微粉
末の割合を50〜98重量%としたことを特徴する導電
ペースト。
6. A conductive material comprising the alloy fine powder according to claim 1 as a solid content and a proportion of the alloy fine powder in the total solid content of 50 to 98% by weight. paste.
【請求項7】請求項6記載の導電ペーストを、有機の発
光層上に膜状に塗布し、合金微粉末の溶融温度以上で、
かつ発光層の耐熱温度以下の温度で焼き付けて背後電極
を形成したことを特徴とするエレクトロルミネッセンス
素子。
7. The conductive paste according to claim 6 is applied in a film form on an organic light emitting layer, and at a melting temperature of alloy fine powder or higher,
An electroluminescent element characterized in that the back electrode is formed by baking at a temperature not higher than the heat resistant temperature of the light emitting layer.
JP2002128706A 2002-04-30 2002-04-30 Alloy fine powder, conductive paste using the same, and electroluminescence device Expired - Fee Related JP3956765B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002128706A JP3956765B2 (en) 2002-04-30 2002-04-30 Alloy fine powder, conductive paste using the same, and electroluminescence device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002128706A JP3956765B2 (en) 2002-04-30 2002-04-30 Alloy fine powder, conductive paste using the same, and electroluminescence device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003321702A true JP2003321702A (en) 2003-11-14
JP3956765B2 JP3956765B2 (en) 2007-08-08

Family

ID=29542370

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002128706A Expired - Fee Related JP3956765B2 (en) 2002-04-30 2002-04-30 Alloy fine powder, conductive paste using the same, and electroluminescence device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3956765B2 (en)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006286542A (en) * 2005-04-04 2006-10-19 Ehc:Kk Material for cathode of organic electroluminescent element, organic electroluminescent element and its manufacturing method
JP2010043350A (en) * 2008-08-11 2010-02-25 Samsung Electro Mechanics Co Ltd Alloy nanoparticle, method for production thereof, and ink and paste using the alloy nanoparticle
JP2014167156A (en) * 2013-01-31 2014-09-11 Nippon Handa Kk Method of producing solder alloy fine particle, solder alloy particle, solder paste, and electronic apparatus
JP2015197984A (en) * 2014-03-31 2015-11-09 大日本印刷株式会社 Method for manufacturing organic device
JP2015220415A (en) * 2014-05-21 2015-12-07 コニカミノルタ株式会社 Organic electroluminescent element and method of manufacturing organic electroluminescent element
JP2016500758A (en) * 2013-01-29 2016-01-14 エルジー・ケム・リミテッド Method for producing metal nanoparticles for solar cell, ink composition containing the metal nanoparticles, and method for producing a thin film using the same
US10243208B2 (en) 2012-11-26 2019-03-26 Lg Chem, Ltd. Precursor of electrode active material coated with metal and method of preparing the same

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006286542A (en) * 2005-04-04 2006-10-19 Ehc:Kk Material for cathode of organic electroluminescent element, organic electroluminescent element and its manufacturing method
JP2010043350A (en) * 2008-08-11 2010-02-25 Samsung Electro Mechanics Co Ltd Alloy nanoparticle, method for production thereof, and ink and paste using the alloy nanoparticle
US8496873B2 (en) 2008-08-11 2013-07-30 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Alloy nanoparticles of SN-CU-AG, preparation method thereof and ink or paste using the alloy nanoparticles
US10243208B2 (en) 2012-11-26 2019-03-26 Lg Chem, Ltd. Precursor of electrode active material coated with metal and method of preparing the same
JP2016500758A (en) * 2013-01-29 2016-01-14 エルジー・ケム・リミテッド Method for producing metal nanoparticles for solar cell, ink composition containing the metal nanoparticles, and method for producing a thin film using the same
JP2017150087A (en) * 2013-01-29 2017-08-31 エルジー・ケム・リミテッド Manufacturing method of metal nanoparticle for solar battery, ink composition containing the metal nanoparticle and manufacturing method of thin film using the same
JP2014167156A (en) * 2013-01-31 2014-09-11 Nippon Handa Kk Method of producing solder alloy fine particle, solder alloy particle, solder paste, and electronic apparatus
JP2015197984A (en) * 2014-03-31 2015-11-09 大日本印刷株式会社 Method for manufacturing organic device
JP2015220415A (en) * 2014-05-21 2015-12-07 コニカミノルタ株式会社 Organic electroluminescent element and method of manufacturing organic electroluminescent element

Also Published As

Publication number Publication date
JP3956765B2 (en) 2007-08-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2006164961A (en) Forming method of laminated transparent electrode layer and laminate for forming laminated transparent electrode used in this method
US20190172603A1 (en) Method for manufacturing silver-coated copper nanowire having core-shell structure by using chemical reduction method
KR20150132043A (en) Solder powder manufacture method and solder paste manufacture method and solder paste using low temperature bonding method
JP4821014B2 (en) Copper powder manufacturing method
CN107210092B (en) Substrate, touch panel with the conductive layer substrate with transparent electrode and their manufacturing method
JP5407495B2 (en) Metal powder, metal powder manufacturing method, conductive paste, and multilayer ceramic capacitor
JP5706045B2 (en) Electrolytic copper foil and manufacturing method thereof
JP2003321702A (en) Alloy fine powder, electrically conductive paste obtained by using the same and electroluminescence element
US20110143054A1 (en) Use of a target for spark evaporation, and method for producing a target suitable for said use
CN111318689A (en) Silver-coated copper powder with shell-core structure and preparation method and application thereof
JP6001578B2 (en) Method for producing core / shell type nanoparticles and method for producing sintered body using the method
JP5065948B2 (en) Alloy powder manufacturing method using molten salt reaction bath
JPH01139710A (en) Manufacture of fine granular alloy powder
KR101227059B1 (en) Plating solution and method for zirconium alloy plating and titanium alloy plating
JP3879121B2 (en) Method for plating ceramic electronic component and ceramic electronic component
WO2007142352A1 (en) Method and material for plating film formation
JP5566794B2 (en) Method for producing metal fine particles
JP5724323B2 (en) Sputtering target
JP2003249131A (en) Manufacturing method for transparent conductive film
WO2021193736A1 (en) Silver powder, production method for same, and conductive paste
WO2024073866A1 (en) Electrode, and use and preparation method thereof
JP6004643B2 (en) Method and apparatus for producing metal fine particles
JP7099867B2 (en) Photosintered composition and method for forming a conductive film using the same
CN110224070B (en) QLED device, preparation method and display device
DE102010051259B4 (en) Method for applying an electrically conductive and optically transparent metal layer, a substrate with this metal layer and its use

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040924

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050609

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050913

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20051110

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070417

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070430

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110518

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110518

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120518

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130518

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees