JP2003289177A - Method of manufacturing wiring board for cof - Google Patents

Method of manufacturing wiring board for cof

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JP2003289177A
JP2003289177A JP2002091605A JP2002091605A JP2003289177A JP 2003289177 A JP2003289177 A JP 2003289177A JP 2002091605 A JP2002091605 A JP 2002091605A JP 2002091605 A JP2002091605 A JP 2002091605A JP 2003289177 A JP2003289177 A JP 2003289177A
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cof
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method by which a wiring board for COF on which pattern abnormality hardly occurs can be manufactured by suppressing the intrusion of air between a flexible substrate and a photosensitive resin layer when the resin layer is laminated upon the substrate. <P>SOLUTION: The wiring board for COF is manufactured by laminating a photosensitive resin laminate upon the flexible substrate upon which copper foil chemically or mechanically polished to have average surface roughness (Ra-1) or an average center-line height (Ra-2) of 10-200 nm is laminated. In addition, a cured resist is obtained by exposing the photosensitive resin laminate to light correspondingly to a desired wiring pattern and the unexposed photosensitive resin is removed through development. Thereafter, the cured resist is removed by peeling after the portion of the copper foil not covered with the cured resist is removed from the substrate by etching or the portion is plated with a metal. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、COF用配線板の
製造方法に関する。さらに詳しくは、導体幅が30μm
以下の微細なパターンを有するCOF用配線板の製造方
法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a COF wiring board. More specifically, the conductor width is 30 μm
The present invention relates to a method for manufacturing a COF wiring board having a fine pattern.

【0002】[0002]

【従来の技術】本発明でいうCOF(Chip On
Filmの略称)とは、半導体IC(Chip)をフィ
ルム状の微細配線板(Film)の上に搭載した複合部
品のことである。多くの場合、このようなCOFはさら
に大きなリジッド配線板やディスプレイ板に接続して使
用されており、電子機器の微細化をさらに進める上で、
近年特に注目されている実装形態である。ここで用いら
れるフィルム状の微細配線板(即ち、COF用配線板)
は、ポリイミド、ポリエステル等の有機ポリマーフィル
ムと銅箔を積層したフレキシブル基板を材料として作ら
れることから、フレキシブルプリント配線板の一種と言
うことができ、特に、回路が微細な点が特徴とされる。
2. Description of the Related Art In the present invention, COF (Chip On) is used.
The abbreviation of “Film” is a composite component in which a semiconductor IC (Chip) is mounted on a film-shaped fine wiring board (Film). In many cases, such COFs are used by connecting them to larger rigid wiring boards and display boards, and in further miniaturizing electronic devices,
This is a mounting form that has been particularly noticed in recent years. Film-shaped fine wiring board used here (that is, COF wiring board)
Can be said to be a kind of flexible printed wiring board because it is made of a flexible substrate obtained by laminating an organic polymer film such as polyimide or polyester and a copper foil, and is particularly characterized by a fine circuit. .

【0003】歴史的には、TAB(Tape Auto
mated Bonding)という名称の実装形態が
あるが、フィルム状の微細配線板に半導体ICを搭載し
ているという点や、その配線板がさらに別の配線板やデ
ィスプレイ等に接続される等の共通点から、COFの一
種あるいは別の呼び方と言えるので、本発明では、TA
Bも含めた意味で、一括してCOFという表現を採用す
る。COF用配線板は、一般的なプリント配線板の場合
と同様の製造方法により製造される。
Historically, TAB (Tape Auto)
Although there is a mounting form called "Mated Bonding", a semiconductor IC is mounted on a film-shaped fine wiring board, and the wiring board is connected to another wiring board or display. From the above, it can be said that it is a kind of COF or a different name, so in the present invention, TA
In the sense including B, the expression COF is collectively adopted. The COF wiring board is manufactured by the same manufacturing method as that of a general printed wiring board.

【0004】即ち、フレキシブル基板の銅面上に感光性
樹脂層を積層し、所望の配線パターンに対応した露光を
行い、必要な部分の感光性樹脂を光硬化させる。次に現
像により、未露光部分の感光性樹脂を除去した後、エッ
チングにより硬化レジストに覆われていない基板の被覆
銅層を除去したり、またはめっきにより硬化レジストに
覆われていない部分にめっき金属を析出させる。最後
に、剥離により、硬化レジストを除去して、所望の導体
パターンを有する配線板を得る。フレキシブル基板の銅
面上に感光性樹脂を積層する方法としては、液状レジス
トを塗布、乾燥する方法が多く用いられてきたが、最近
生産性や品質の点で、感光性樹脂積層体をラミネートす
る方法が使われ始めた。
That is, a photosensitive resin layer is laminated on the copper surface of a flexible substrate, exposure is performed in accordance with a desired wiring pattern, and the required portion of the photosensitive resin is photo-cured. Next, the photosensitive resin in the unexposed area is removed by development, and then the coated copper layer of the substrate that is not covered by the cured resist is removed by etching, or plating metal is applied to the area not covered by the cured resist by plating. To precipitate. Finally, the cured resist is removed by peeling to obtain a wiring board having a desired conductor pattern. As a method for laminating a photosensitive resin on a copper surface of a flexible substrate, a method of applying and drying a liquid resist has been widely used, but recently, in terms of productivity and quality, laminating a photosensitive resin laminate. The method has begun to be used.

【0005】感光性樹脂積層体は、支持体フィルムと保
護フィルムの間に1〜100μmの厚みの感光性樹脂層
を挟み込んだ積層フィルムである。これをフレキシブル
基板にラミネートする際には、保護フィルムを剥離した
上で、感光性樹脂層とフレキシブル基板の銅面とが接着
する重ね方で、上下1 対のホットロールの間を通すこと
により圧着させる。フレキシブル基板の両面に銅が積層
されている両面板の場合、1 枚のフレキシブル基板に対
して、2 枚の感光性樹脂積層体を用いて、両面ラミネー
トされる。
The photosensitive resin laminate is a laminated film in which a photosensitive resin layer having a thickness of 1 to 100 μm is sandwiched between a support film and a protective film. When laminating this on a flexible substrate, peel off the protective film, and then stack the photosensitive resin layer and the copper surface of the flexible substrate in a stacking manner by pressing between a pair of upper and lower hot rolls for crimping. Let In the case of a double-sided plate in which copper is laminated on both sides of a flexible substrate, two flexible resin laminates are laminated on both sides of one flexible substrate.

【0006】ラミネートにより積層された感光性樹脂
は、フレキシブル基板銅面のすべてに密着していること
が望ましい。もし、一部に密着しない部分が発生する
と、そこにはエッチング液あるいはめっき液が入りこ
み、配線パターンの断線、欠け、ショート、変形等が起
こる。特に、導体ライン幅が30μm以下の配線を含む
COF用配線板の製造の場合には、密着しない部分がた
とえ小さな面積で発生しても正常な配線板を得ることが
困難となる。しかしながら、従来の方法では、ラミネー
ト工程においてフレキシブル基板と感光性樹脂層の間に
ところどころに微小なエアーが入り、そのために正常な
配線板を歩留まり良く作ることができなかった。
It is desirable that the photosensitive resin laminated by lamination is in close contact with the entire copper surface of the flexible substrate. If a portion that does not adhere to a part is generated, the etching solution or the plating solution may enter there, causing disconnection, chipping, short circuit, deformation, etc. of the wiring pattern. In particular, in the case of manufacturing a COF wiring board including wiring having a conductor line width of 30 μm or less, it is difficult to obtain a normal wiring board even if a non-adhering portion occurs in a small area. However, in the conventional method, in the laminating step, minute air is introduced in some places between the flexible substrate and the photosensitive resin layer, so that a normal wiring board cannot be produced with high yield.

【0007】さらに上記エアーの混入は、感光性樹脂層
の厚みが25μm以下の薄い感光性樹脂積層体をラミネ
ートする場合に発生し、25μmを越える厚みの感光性
樹脂積層体では、ほとんど発生しなかった。一方、導体
ライン幅が30μm以下の微細配線には、解像性とエッ
チング性の点から25μm以下の薄い感光性樹脂積層体
が適しており、この二律背反のため、COF用配線板の
製造において、生産性および品質の点で有利なはずの感
光性樹脂積層体を用いる方法が、広く利用されることを
阻害する原因にもなっていた。
Further, the mixing of air occurs when laminating a thin photosensitive resin laminate having a photosensitive resin layer thickness of 25 μm or less, and hardly occurs in a photosensitive resin laminate having a thickness exceeding 25 μm. It was On the other hand, for fine wiring having a conductor line width of 30 μm or less, a thin photosensitive resin laminated body of 25 μm or less is suitable from the viewpoint of resolution and etching property. Due to this trade-off, in manufacturing a COF wiring board, The method of using the photosensitive resin laminate, which should be advantageous in terms of productivity and quality, has been a cause of hindering widespread use.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、ラミネート
におけるフレキシブル基板と感光性樹脂層の間にエアー
が混入することを抑制し、パターン異常の発生が少ない
COF用配線板の製造方法を提供することを目的とす
る。
DISCLOSURE OF THE INVENTION The present invention provides a method for manufacturing a COF wiring board in which air is prevented from being mixed between a flexible substrate and a photosensitive resin layer in a laminate and pattern abnormalities are less likely to occur. The purpose is to

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
検討した結果、フレキシブル基板の表面状態を化学研磨
又は機械研磨で制御することにより、ラミネート時のエ
アーの混入を著しく抑制することを発見し本発明に至っ
た。即ち、本願は、(1)厚みが10〜100μmのフ
ィルムに、化学研磨又は機械研磨で平均面粗さ(Ra−
1)あるいは中心線平均粗さ(Ra−2)が10〜20
0nmとした銅箔を積層したフレキシブル基板に、
(a)感光性樹脂積層体をラミネートし、(b)所望の
配線パターンに対応した露光を行い、露光された部分の
感光性樹脂を光硬化させて硬化レジストを得、(c)現
像により、未露光部分の感光性樹脂を除去し、(d)エ
ッチングにより硬化レジストに覆われていない基板の銅
箔層を除去するか、または、めっきにより硬化レジスト
に覆われていない部分にめっき金属を析出させた後、
(e)剥離により、硬化レジストを除去することを含む
COF用配線板の製造方法の発明を提供する。
As a result of studies to solve the above problems, it was discovered that controlling the surface condition of a flexible substrate by chemical polishing or mechanical polishing significantly suppresses air mixing during lamination. The present invention has been completed. That is, in the present application, (1) a film having a thickness of 10 to 100 μm is subjected to chemical polishing or mechanical polishing to have an average surface roughness (Ra−
1) or center line average roughness (Ra-2) is 10 to 20
On a flexible substrate laminated with 0 nm copper foil,
(A) Laminating the photosensitive resin laminate, (b) performing exposure corresponding to a desired wiring pattern, photocuring the photosensitive resin in the exposed portion to obtain a cured resist, and (c) developing, The photosensitive resin in the unexposed portion is removed, and (d) the copper foil layer of the substrate not covered with the cured resist is removed by etching, or plating metal is deposited on the portion not covered with the cured resist by plating. After letting
(E) The invention provides a method of manufacturing a wiring board for COF, which comprises removing the cured resist by peeling.

【0010】また、本願は、以下の発明も提供する。 (2)ラミネート工程の前に、フレキシブル基板に積層
された銅箔を、硫酸、過硫酸塩、硝酸および有機酸から
なる群から選ばれる少なくとも1種を含む液で化学研磨
処理することにより、その平均面粗さ(Ra−1)ある
いは中心線平均粗さ(Ra−2)を10〜200nmに
することを特徴とする上記(1)記載のCOF用配線板
の製造方法。 (3)フレキシブル基板に感光性樹脂積層体をラミネー
トする方法として、常圧、減圧あるいは真空の環境下、
1 対以上のホットロールにより、フレキシブル基板と感
光性樹脂積層体をロール圧着させる方法を用いることを
特徴とする上記(1)又は(2)記載のCOF用配線板
の製造方法。 (4)上記(1)〜(3)のいずれかに記載の製造方法
で作製されたCOF用配線板。 (5)支持体フィルムの厚みが5〜20μm、感光性樹
脂層の厚みが1〜25μm、保護フィルムの厚みが25
〜60μmであり、感光性樹脂層中にイミダゾール二量
体化合物を0.1〜6質量%含有することを特徴とする
上記(1)〜(3)のいずれかに記載のCOF用配線板
の製造方法に用いられる感光性樹脂積層体。
The present application also provides the following inventions. (2) Before the laminating step, the copper foil laminated on the flexible substrate is chemically polished with a liquid containing at least one selected from the group consisting of sulfuric acid, persulfates, nitric acid and organic acids. The method for producing a COF wiring board according to (1) above, wherein the average surface roughness (Ra-1) or the center line average roughness (Ra-2) is set to 10 to 200 nm. (3) As a method for laminating the photosensitive resin laminate on the flexible substrate, under normal pressure, reduced pressure or vacuum environment,
The method for producing a COF wiring board according to (1) or (2) above, wherein a method of roll-pressing the flexible substrate and the photosensitive resin laminate with one or more pairs of hot rolls is used. (4) A wiring board for COF manufactured by the manufacturing method according to any one of (1) to (3) above. (5) The thickness of the support film is 5 to 20 μm, the thickness of the photosensitive resin layer is 1 to 25 μm, and the thickness of the protective film is 25.
Is 60 μm, and the imidazole dimer compound is contained in the photosensitive resin layer in an amount of 0.1 to 6% by mass, the wiring board for COF according to any one of (1) to (3) above. A photosensitive resin laminate used in the manufacturing method.

【0011】本願発明で用いられるフレキシブル基板
は、ポリイミド、ポリエステル等の有機ポリマーフィル
ムに銅箔を積層した基板であり、有機ポリマーフィルム
の具体例としては、カプトン(登録商標、東レ・デュポ
ン社製)、ユーピレックス(登録商標、宇部興産製)な
どのポリイミド、ポリエチレンテレフタレート、ポリブ
チレンテレフタレート、及びポリエチレンナフタレート
等が挙げられる。銅箔の積層方法には、めっき法、キャ
ステイング法、ラミネート法等が挙げられる。キャステ
ィング法は、銅箔上にポリマー液を塗布、場合によって
乾燥、熱反応させることでフレキシブル基板を作製し、
ラミネート法は、銅箔と有機ポリマーフィルムを接着層
を介して貼り合わせて作製する。2つの方法は、あらか
じめ製造された銅箔を用いることで共通しており、この
銅箔の種類により、フレキシブル基板のもともとの銅表
面形状が決定される。
The flexible substrate used in the present invention is a substrate obtained by laminating a copper foil on an organic polymer film such as polyimide or polyester. A specific example of the organic polymer film is Kapton (registered trademark, manufactured by Toray DuPont). , Polyimide such as Upilex (registered trademark, manufactured by Ube Industries), polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, and polyethylene naphthalate. Examples of the method for laminating the copper foil include a plating method, a casting method, a laminating method and the like. The casting method is to prepare a flexible substrate by applying a polymer solution on a copper foil, drying it in some cases, and reacting it with heat.
In the laminating method, a copper foil and an organic polymer film are attached to each other with an adhesive layer interposed therebetween. The two methods are common in that a pre-manufactured copper foil is used, and the original copper surface shape of the flexible substrate is determined by the type of the copper foil.

【0012】COF用配線板のためのフレキシブル基板
は、有機ポリマーフィルム層の厚みが10〜100μm
であり、銅箔の厚みは、1〜35μmであることが好ま
しく、特に好ましくは3〜18μmである。本願発明で
用いられる感光性樹脂積層体は、支持体フィルムと保護
フィルムの間に感光性樹脂層を挟み込んだ積層フィルム
であり、感光性エレメント、感光性フィルムあるいはド
ライフィルム(レジスト)と呼ばれることもある。支持
体フィルムは、平滑性が高く、露光に用いられる活性光
線に対して透過性が高い有機ポリマーフィルムが用いら
れる。支持体フィルムの厚みは、5〜20μmが好まし
く、特に好ましくは、9〜16μmである。支持体とし
ての強度を保つ上で5μm以上が好ましく、微細な配線
を作るために感光性樹脂の解像性を良好に保つ上で20
μm以下が好ましい。
A flexible substrate for a COF wiring board has an organic polymer film layer with a thickness of 10 to 100 μm.
The thickness of the copper foil is preferably 1 to 35 μm, and particularly preferably 3 to 18 μm. The photosensitive resin laminate used in the present invention is a laminated film in which a photosensitive resin layer is sandwiched between a support film and a protective film, and is also called a photosensitive element, a photosensitive film or a dry film (resist). is there. As the support film, an organic polymer film having high smoothness and high transparency to the actinic ray used for exposure is used. The thickness of the support film is preferably from 5 to 20 μm, particularly preferably from 9 to 16 μm. It is preferably 5 μm or more in order to keep the strength as a support, and 20 in order to keep good resolution of the photosensitive resin for making fine wiring.
μm or less is preferable.

【0013】このような支持体フィルムの例としては、
ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレ
ート、ポリエチレンナフタレート、ポリビニルアルコー
ル、ポリ塩化ビニル、塩化ビニル共重合体、ポリ塩化ビ
ニリデン、塩化ビニリデン共重合体、ポリメタクリル酸
メチル共重合体、ポリスチレン、ポリアクリロニトリ
ル、スチレン共重合体、ポリアミド、セルロース誘導体
等が挙げられる。好ましくは、ポリエチレンテレフタレ
ートが用いられる。ここで用いられる感光性樹脂層とし
ては、(a)(メタ)アクリル酸等のカルボン酸を含有
するポリマー、(b)分子内に少なくとも1つの重合可
能なエチレン性不飽和基を有する光重合モノマーおよび
(c)光開始剤から構成されるものが用いられる。
Examples of such a support film include:
Polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, polyethylene naphthalate, polyvinyl alcohol, polyvinyl chloride, vinyl chloride copolymer, polyvinylidene chloride, vinylidene chloride copolymer, polymethylmethacrylate copolymer, polystyrene, polyacrylonitrile, styrene copolymer Examples include coalesce, polyamide, and cellulose derivatives. Polyethylene terephthalate is preferably used. As the photosensitive resin layer used here, (a) a polymer containing a carboxylic acid such as (meth) acrylic acid, (b) a photopolymerizable monomer having at least one polymerizable ethylenically unsaturated group in the molecule And (c) a photoinitiator is used.

【0014】ここで、(c)成分の光開始剤は、活性光
線によりラジカルを発生する化合物である。このような
光開始剤としては、COF用配線板の製造の点で、イミ
ダゾール二量体化合物を含むことが好ましい。このイミ
ダゾール二量体化合物は、解像性と銅面との密着性を高
くする効果があるからである。この量としては、感度の
点から、0.1〜6質量%含むことが好ましく、0.5
〜4質量%含むことが特に好ましい。0.1質量%未満
では、感度の効果が期待できず、6質量%を超えると光
開始能力が飽和する。
Here, the photoinitiator as the component (c) is a compound which generates radicals by actinic rays. Such a photoinitiator preferably contains an imidazole dimer compound from the viewpoint of manufacturing a COF wiring board. This is because this imidazole dimer compound has the effect of enhancing the resolution and the adhesion to the copper surface. From the viewpoint of sensitivity, the amount is preferably 0.1 to 6% by mass, and 0.5
It is particularly preferable that the content is ˜4% by mass. If it is less than 0.1% by mass, the effect of sensitivity cannot be expected, and if it exceeds 6% by mass, the photoinitiating ability is saturated.

【0015】上記イミダゾール二量体化合物としては、
具体的には、2−(o−クロロフェニル)−4,5−ジ
フェニルイミダゾリル二量体(例えば黒金化成製、ビイ
ミダゾール、商品名)、2−(o−クロロフェニル)−
4,5−ビス−(m−メトキシフェニル)イミダゾリル
二量体、2−(p−メトキシフェニル)−4,5−ジフ
ェニルイミダゾリル二量体、2、2’、5−トリス−
(o−クロロフェニル)−4−(3、4−ジメトキシフ
ェニル)−4’、5’−ジフェニル−1,1’−イミダ
ゾリル二量体、2,2’,4,4’−テトラ−(o−ク
ロロフェニル)−5,5’−ビス−(3,4−ジメトキ
シフェニル)−1,1’−イミダゾリル二量体、2,
2’−ビス−(o−クロロフェニル)−4,4’、5,
5’−テトラ−(m−メトキシフェニル)−1,1’−
イミダゾリル二量体等が挙げられる。
The above-mentioned imidazole dimer compound includes
Specifically, 2- (o-chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazolyl dimer (for example, black imidazole, biimidazole, trade name), 2- (o-chlorophenyl)-
4,5-bis- (m-methoxyphenyl) imidazolyl dimer, 2- (p-methoxyphenyl) -4,5-diphenylimidazolyl dimer, 2,2 ', 5-tris-
(O-Chlorophenyl) -4- (3,4-dimethoxyphenyl) -4 ', 5'-diphenyl-1,1'-imidazolyl dimer, 2,2', 4,4'-tetra- (o- Chlorophenyl) -5,5'-bis- (3,4-dimethoxyphenyl) -1,1'-imidazolyl dimer, 2,
2'-bis- (o-chlorophenyl) -4,4 ', 5
5'-tetra- (m-methoxyphenyl) -1,1'-
Examples include imidazolyl dimer and the like.

【0016】感光性樹脂には、必要に応じて、染料、ラ
ジカル重合禁止剤、可塑剤等を加えても良い。この感光
性樹脂混合物をコーティングに適する粘度にするために
適量の溶剤を加えて、支持体フィルムにコーティング
後、乾燥し、保護フィルムを積層することにより感光性
樹脂積層体を得る。感光性樹脂層の厚みは、1〜25μ
mが好ましく、特に好ましくは4〜15μmである。感
光性樹脂のコーティングを容易にするために1μm以上
が好ましく、30μm以下の導体ライン幅の回路を得る
上で25μm以下が好ましい。
If necessary, a dye, a radical polymerization inhibitor, a plasticizer, etc. may be added to the photosensitive resin. An appropriate amount of a solvent is added to make the photosensitive resin mixture have a viscosity suitable for coating, the support film is coated, then dried, and a protective film is laminated to obtain a photosensitive resin laminate. The thickness of the photosensitive resin layer is 1 to 25 μm.
m is preferable, and particularly preferably 4 to 15 μm. The thickness is preferably 1 μm or more in order to facilitate the coating with the photosensitive resin, and is preferably 25 μm or less in order to obtain a circuit having a conductor line width of 30 μm or less.

【0017】感光性樹脂積層体に用いられる保護フィル
ムは、平滑性が高く支持体フィルムより感光性樹脂層と
の粘着性が低い有機ポリマーフィルムが用いられる。厚
みは25〜60μmが好ましく、特に好ましくは30〜
50μmである。保護フィルム自体の平滑性を保つ上で
25μm以上が好ましく、感光性樹脂積層体のフィルム
としての操作性を保つ上で60μm以下が好ましい。保
護フィルムの例としては、ポリエチレンやポリプロピレ
ン等のポリオレフィンやポリエステルあるいはシリコー
ン処理又はアルキッド処理により剥離性を向上させたポ
リエステル等が挙げられる。好ましくはポリエチレンが
用いられる。
As the protective film used for the photosensitive resin laminate, an organic polymer film having high smoothness and lower adhesiveness to the photosensitive resin layer than the support film is used. The thickness is preferably 25 to 60 μm, particularly preferably 30 to
It is 50 μm. It is preferably 25 μm or more in order to maintain the smoothness of the protective film itself, and 60 μm or less in order to maintain the operability of the photosensitive resin laminate as a film. Examples of protective films include polyolefins such as polyethylene and polypropylene, polyesters, and polyesters whose release properties have been improved by silicone treatment or alkyd treatment. Preferably polyethylene is used.

【0018】次に、COF用配線板の製造の具体的な例
を説明する。 (1)ラミネート工程:感光性樹脂積層体の保護フィル
ムを剥がしながら感光性樹脂層とフレキシブル基板の銅
面とが接着する重ね方で、上下1対のホットロールの間
を通すことにより圧着させる。ロール温度は50〜12
0℃、ラミネート速度は0.1〜6m/分であることが
好ましい。上下1対のロールは、エアーシリンダー、あ
るいはばねによりピンチされており、圧力はラミネート
ロールの単位長さ当たりの圧力として、0.1〜1MP
a/cmが好ましく、0.2〜0.5MPa/cmがよ
り好ましい。ラミネーターとしては、1対のラミネート
ロールを用いる1段式ラミネーター、2対以上のラミネ
ートロールを用いる多段式ラミネーター、ラミネートす
る部分を容器で覆った上で真空ポンプで減圧あるいは真
空にする真空ラミネーター等が使用される。ラミネート
時のエアーの混入を抑制する上で、真空ラミネーターが
好ましい。
Next, a specific example of manufacturing a COF wiring board will be described. (1) Laminating step: The photosensitive resin layer and the copper surface of the flexible substrate are laminated while peeling off the protective film of the photosensitive resin laminate, and the layers are pressed by passing between a pair of upper and lower hot rolls. Roll temperature is 50-12
It is preferable that the temperature is 0 ° C. and the laminating speed is 0.1 to 6 m / min. The pair of upper and lower rolls are pinched by an air cylinder or a spring, and the pressure is 0.1 to 1MP as the pressure per unit length of the laminating roll.
a / cm is preferable, and 0.2 to 0.5 MPa / cm is more preferable. As the laminator, there are a one-stage laminator using a pair of laminating rolls, a multi-stage laminator using two or more pairs of laminating rolls, a vacuum laminator for covering a portion to be laminated with a container and depressurizing or vacuuming with a vacuum pump, and the like. used. A vacuum laminator is preferable in terms of suppressing air mixing during lamination.

【0019】(2)露光工程:所望の配線パターンを紫
外線光源を用いて露光する。配線パターンが描画された
フォトマスクを支持体フィルム上に微小なギャップを介
して乗せたり、あるいは密着させたりして露光する。ま
た、投影レンズを用いてフォトマスク像を感光性樹脂層
に結像させて露光する。フォトマスク像を投影して露光
する場合、支持体フィルムを剥離して露光しても良い
し、支持体フィルムがついたまま露光しても良い。 紫
外線光源としては、高圧水銀灯、超高圧水銀灯、紫外線
蛍光灯、カーボンアーク灯、キセノンランプなどが挙げ
られる。より微細なレジストパターンを得るためには平
行光光源を用いるのが好ましい。
(2) Exposure step: A desired wiring pattern is exposed using an ultraviolet light source. A photomask on which a wiring pattern is drawn is placed on a support film through a minute gap or is brought into close contact with the film for exposure. In addition, a photomask image is formed on the photosensitive resin layer using a projection lens and exposed. When a photomask image is projected and exposed, the support film may be peeled off for exposure, or the support film may be left exposed. Examples of the ultraviolet light source include a high pressure mercury lamp, an ultrahigh pressure mercury lamp, an ultraviolet fluorescent lamp, a carbon arc lamp and a xenon lamp. In order to obtain a finer resist pattern, it is preferable to use a parallel light source.

【0020】(3)現像工程:支持体フィルムが残って
いる場合は、支持体フィルムを剥離した後、アルカリ現
像液を用いて感光性樹脂層の未露光部分を溶解または分
散除去して、硬化レジストパターンを基板上に形成す
る。現像工程で用いられるアルカリ水溶液としては、炭
酸ナトリウム、炭酸カリウム、水酸化ナトリウム、水酸
化カリウム等の水溶液が挙げられる。最も一般的には、
0.2〜2質量%の炭酸ナトリウム水溶液が用いられ
る。
(3) Development step: When the support film remains, the support film is peeled off, and then the unexposed portion of the photosensitive resin layer is dissolved or dispersed by using an alkali developing solution to cure. A resist pattern is formed on the substrate. Examples of the alkaline aqueous solution used in the developing step include aqueous solutions of sodium carbonate, potassium carbonate, sodium hydroxide, potassium hydroxide and the like. Most commonly,
A 0.2 to 2 mass% sodium carbonate aqueous solution is used.

【0021】(4)回路形成工程:形成された硬化レジ
ストパターン上からエッチング液を用いてレジストパタ
ーンに覆われていない銅面をエッチングする、またはレ
ジストパターンによって覆われていない銅面に銅、はん
だ、ニッケルおよび錫等のめっき処理を行う。 (5)剥離工程:レジストパターンをアルカリ剥離液を
用いて基板から除去する。剥離工程で用いられるアルカ
リ水溶液としては、現像で用いたアルカリ水溶液よりも
さらに強いアルカリ性であり、水酸化ナトリウム、水酸
化カリウム、有機アミン化合物等が挙げられる。最も一
般的には1〜5質量%の水酸化ナトリウムまたは水酸化
カリウムの水溶液が用いられる。
(4) Circuit forming step: A copper surface not covered with the resist pattern is etched from the formed hardened resist pattern with an etching solution, or copper or solder is applied to the copper surface not covered with the resist pattern. , Nickel, tin, etc. are plated. (5) Stripping step: The resist pattern is removed from the substrate using an alkaline stripping solution. The alkaline aqueous solution used in the peeling step is more alkaline than the alkaline aqueous solution used in the development, and examples thereof include sodium hydroxide, potassium hydroxide and organic amine compounds. Most commonly, an aqueous solution of 1 to 5 wt% sodium hydroxide or potassium hydroxide is used.

【0022】フレキシブル基板の表面粗さは、JIS
B 0601で規定された方法によりAFM(原子間力
顕微鏡)によって測定する。この測定から、中心線平均
粗さ(Ra−2)、最大高さ(Rmax)、十点平均粗
さ(Rz)等が求められる。さらに、設定された面全体
の粗さも測定できる。この面測定からは、平均面粗さ
(Ra−1、その面より高い部分の面積と低い部分の面
積とが等しくなるような面からの高さの絶対値の平
均)、最大高低差(P−V、面内の最も高い山頂と最も
低い谷底との差)、自乗平均面粗さ(RMS、その面よ
り高い部分の面積と低い部分の面積とが等しくなるよう
な面からの高さの自乗の平均)等が求められる。
The surface roughness of the flexible substrate is JIS
It is measured by AFM (atomic force microscope) according to the method specified in B 0601. From this measurement, the center line average roughness (Ra-2), the maximum height (Rmax), the ten-point average roughness (Rz), and the like are obtained. Furthermore, the roughness of the entire set surface can be measured. From this surface measurement, the average surface roughness (Ra-1, the average of the absolute values of the height from the surface where the area of the higher part and the area of the lower part are equal), the maximum height difference (P -V, the difference between the highest peak in the plane and the lowest valley bottom, and the root mean square surface roughness (RMS, the height from the surface where the area of the higher part and the area of the lower part are equal) Squared average) etc. are required.

【0023】AFMでは、正方形状の面について測定す
るが、1辺の長さは200〜800μmが好ましい。粗
さ値がフレキシブル基板の面状態を正確に反映する点で
200μm以上が好ましい。COF用配線板に用いるフ
レキシブル基板の銅面の表面粗さとしては、Ra−1あ
るいはRa−2が、10〜200nmであり、好ましく
は20〜100nmである。工業生産的に製造が難しい
点で10nm以上が良く、ラミネート後のエアーの混入
を抑制する点で200nm以下が良い。
The AFM measures on a square surface, but the length of one side is preferably 200 to 800 μm. The roughness value is preferably 200 μm or more from the viewpoint of accurately reflecting the surface condition of the flexible substrate. As the surface roughness of the copper surface of the flexible substrate used for the wiring board for COF, Ra-1 or Ra-2 is 10 to 200 nm, and preferably 20 to 100 nm. The thickness is preferably 10 nm or more in terms of difficulty in industrial production, and 200 nm or less in terms of suppressing air mixing after lamination.

【0024】従来使用されてきたフレキシブル基板の銅
面の表面粗さは、平均面粗さ(Ra−1)あるいは中心
線平均粗さ(Ra−2)として、200nmを越える基
板だったが、これに対して硫酸、過硫酸塩、硝酸および
有機酸から選ばれる少なくとも1種を含む液で化学研磨
処理することにより、平均面粗さ(Ra−1)あるいは
中心線平均粗さ(Ra−2)を10〜200nmにする
ことによりラミネート後のエアー混入を著しく抑制する
ことができる。また、上記化学研磨に代えて機械研磨を
採用してもよい。機械研磨の例としては、バフロール研
磨、スクラブ研磨、ベルトサンダー研磨等が挙げられ
る。ラミネートする前にフレキシブル基板に施す前処理
液としては、銅を腐食させる能力を持つ酸性の液であ
る。必要に応じ、25〜50℃に加温して、浸漬法やス
プレー法で基板を処理する。
The surface roughness of the copper surface of the conventionally used flexible substrate exceeds 200 nm in terms of average surface roughness (Ra-1) or center line average roughness (Ra-2). On the other hand, the average surface roughness (Ra-1) or the center line average roughness (Ra-2) is obtained by chemical polishing with a liquid containing at least one selected from sulfuric acid, persulfate, nitric acid and organic acid. By setting 10 to 200 nm, it is possible to remarkably suppress air mixing after lamination. Further, mechanical polishing may be adopted instead of the chemical polishing. Examples of mechanical polishing include buff roll polishing, scrub polishing, belt sander polishing and the like. The pretreatment liquid to be applied to the flexible substrate before laminating is an acidic liquid capable of corroding copper. If necessary, the substrate is heated by heating at 25 to 50 ° C. by a dipping method or a spray method.

【0025】前処理液としては、硫酸と過酸化水素水の
混合液、過硫酸アンモニウムや過硫酸ナトリウムの水溶
液、過硫酸アンモニウムや過硫酸ナトリウムの水溶液と
硫酸の混合液、硝酸と硝酸金属塩と有機酸の混合物水溶
液、酢酸金属塩と有機酸の混合物水溶液等が挙げられ、
有機酸としては、ギ酸、酢酸、リンゴ酸、アクリル酸、
グリコール酸、マレイン酸、イタコン酸、無水マレイン
酸等が挙げられる。化学研磨剤、ソフトエッチング剤あ
るいは表面粗化剤として市販されている薬液も上記成分
を含むものであれば使用できる。例としては、CPE−
900、CPE−500(いずれも三菱ガス化学製、商
品名)、CZ−8100、CB−801(いずれもメッ
ク製、商品名)が挙げられる。以下、実施例により本発
明の実施の形態の例をさらに詳しく説明する。
As the pretreatment liquid, a mixed liquid of sulfuric acid and hydrogen peroxide water, an aqueous solution of ammonium persulfate or sodium persulfate, a mixed liquid of aqueous solution of ammonium persulfate or sodium persulfate and sulfuric acid, nitric acid, a metal nitrate and an organic acid. A mixed aqueous solution of, a mixed aqueous solution of a metal acetate and an organic acid, and the like,
Organic acids include formic acid, acetic acid, malic acid, acrylic acid,
Glycolic acid, maleic acid, itaconic acid, maleic anhydride and the like can be mentioned. A chemical liquid commercially available as a chemical polishing agent, a soft etching agent or a surface roughening agent can be used as long as it contains the above components. As an example, CPE-
900, CPE-500 (all manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Inc., trade name), CZ-8100, CB-801 (all manufactured by MEC, trade name). Hereinafter, examples of embodiments of the present invention will be described in more detail with reference to examples.

【0026】[0026]

【実施例】1)フレキシブル基板の表面粗さ測定 原子間力顕微鏡ナノピックス1000(セイコーインス
ツルメンツ社製)を使用し、観察モードとしてDFM
(共振モード;Dynamic Force Mod
e)を用いた。Ra−1を求める面測定の場合、200
μm×200μmのエリアを測定した。Ra−2を求め
る線測定の場合、測定長が200μm、カットオフ値が
65μmで測定した。 2)感光性樹脂積層体の調製 以下に述べる実施例および比較例に示す化合物の混合溶
液を支持体フィルム上に均一に塗布し、90℃の乾燥機
中で1分間乾燥して、7μm厚みの感光性樹脂層を形成
した。さらに感光性樹脂層の上に保護フィルムを張り合
わせて感光性樹脂積層体を得た。
[Examples] 1) Surface roughness measurement of a flexible substrate An atomic force microscope Nanopix 1000 (manufactured by Seiko Instruments Inc.) was used, and DFM was used as an observation mode.
(Resonance mode; Dynamic Force Mod
e) was used. 200 in the case of surface measurement for obtaining Ra-1
An area of μm × 200 μm was measured. In the line measurement for obtaining Ra-2, the measurement length was 200 μm and the cutoff value was 65 μm. 2) Preparation of Photosensitive Resin Laminate A mixed solution of the compounds shown in Examples and Comparative Examples described below was uniformly applied on a support film and dried in a dryer at 90 ° C. for 1 minute to obtain a film having a thickness of 7 μm. A photosensitive resin layer was formed. Further, a protective film was laminated on the photosensitive resin layer to obtain a photosensitive resin laminate.

【0027】3)配線板作製 (ラミネート)ラミネーターAL−70(旭化成製、商
品名)を用いて、フレキシブル基板に感光性樹脂積層体
をラミネートした。その条件は、ラミネート速度:2m
/分、ラミネートロール温度:105℃、ラミネート圧
力:0.22MPa/cmとした。 (露光)クロムガラスフォトマスクを支持体フィルム上
に置き、超高圧水銀ランプを有する露光機(HMW−8
01:オーク製作所製)を用いて、100mJ/cm2
の露光量で感光性樹脂層を露光した。ここで露光された
部分は、硬化レジストとなる。
3) Wiring board preparation (lamination) A photosensitive resin laminate was laminated on a flexible substrate using a laminator AL-70 (manufactured by Asahi Kasei). The conditions are laminating speed: 2m
/ Min, laminating roll temperature: 105 ° C., laminating pressure: 0.22 MPa / cm. (Exposure) A chrome glass photomask is placed on a support film, and an exposure machine (HMW-8) having an ultrahigh pressure mercury lamp is used.
01: manufactured by Oak Manufacturing Co., Ltd.), 100 mJ / cm 2
The photosensitive resin layer was exposed with the exposure amount of. The exposed portion becomes a cured resist.

【0028】(現像)支持体フィルムを除去し、0.4
wt%炭酸ソーダ水溶液を30℃で、スプレー圧が0.
15MPaで20秒間スプレーすることにより、感光性
樹脂層の未露光部を除去した。 (エッチング)塩化第二銅エッチング液を50℃で、ス
プレー圧が0.12MPaで20秒間スプレーすること
により、硬化レジストで覆われていない部分の銅をエッ
チングした。(剥離)3%水酸化ナトリウム水溶液を5
0℃、スプレー圧が0.2MPaで30秒間スプレーす
ることにより、硬化レジストを剥離した。
(Development) The support film was removed and 0.4
A wt% sodium carbonate aqueous solution at 30 ° C. and a spray pressure of 0.
The unexposed portion of the photosensitive resin layer was removed by spraying at 15 MPa for 20 seconds. (Etching) The cupric chloride etchant was sprayed at 50 ° C. at a spray pressure of 0.12 MPa for 20 seconds to etch the copper in the portion not covered with the cured resist. (Peeling off) 5% of 3% sodium hydroxide aqueous solution
The cured resist was peeled off by spraying at 0 ° C. and a spray pressure of 0.2 MPa for 30 seconds.

【0029】[ラミエアー個数評価]上記3)の配線板
作製の(ラミネート)工程後のフレキシブル基板を光学
顕微鏡で調べ、1×6cmのエリアのエアー(ラミエア
ー)個数を記録し、次の基準でランク分けした。 ◎:エアー個数が0個の場合 ○:エアー個数が1〜5個の場合 △:エアー個数が6〜20個の場合 ×:エアー個数が21個以上の場合
[Evaluation of the number of lame air] The flexible substrate after the (laminating) step of the wiring board preparation in 3) above is examined by an optical microscope, and the number of air (laminate air) in an area of 1 × 6 cm is recorded and ranked according to the following criteria. Divided. ◎: When the number of air is 0 ○: When the number of air is 1 to 5 Δ: When the number of air is 6 to 20 ×: When the number of air is 21 or more

【0030】[導体パターン形成評価]3)の配線板作
製で、露光、現像により、1cm長、18μm幅の硬化
レジストラインが12μmのスペースを介して5本並ん
だ硬化レジストパターンを作製した。その後、3)の配
線板作製に示した方法で、エッチング、剥離を行い、光
学顕微鏡で導体パターンの形状を観察し、導体ラインが
欠け、断線の個数から、次の基準でランク分けした。 ◎:導体ラインに欠け、断線が認められない。 ○:導体ラインに5μm以上の欠けが5ヶ所以下で、断
線は認められない。 △:導体ラインに5μm以上の欠けが6ヶ所以上あり、
断線が認められない。 ×:導体ラインに断線が1ヶ所以上ある。
[Evaluation of Conductor Pattern Formation] In the wiring board preparation of 3), by exposure and development, a cured resist pattern was prepared in which five cured resist lines each having a length of 1 cm and a width of 18 μm were arranged side by side with a space of 12 μm. After that, etching and peeling were performed by the method shown in 3) for producing a wiring board, and the shape of the conductor pattern was observed with an optical microscope. ⊚: The conductor line was chipped and no break was observed. ◯: No break was observed in the conductor line with 5 μm or more chips at 5 or less places. Δ: There are 6 or more defects of 5 μm or more in the conductor line,
No disconnection is recognized. X: The conductor line has one or more breaks.

【0031】(実施例1)フレキシブル基板として、エ
スパネックス(登録商標、新日鉄化学製)を用いた。こ
のフレキシブル基板は、40μm厚みのポリイミドフィ
ルムに12μm厚みの銅箔を積層したものであった。フ
レキシブル基板の表面粗さは、Ra−1が340nm、
Ra−2が290nm、P−Vが2400nm、RMS
が400nmだった。ラミネート前にこのフレキシブル
基板をCPE−900(三菱ガス化学製、商品名)の3
0体積%の水溶液(過酸化水素/硫酸系)に室温で1分
間浸漬した。
Example 1 Espanex (registered trademark, manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd.) was used as the flexible substrate. This flexible substrate was formed by laminating a 12 μm thick copper foil on a 40 μm thick polyimide film. The surface roughness of the flexible substrate is Ra-1 of 340 nm,
Ra-2 is 290 nm, PV is 2400 nm, RMS
Was 400 nm. Before laminating, this flexible substrate is CPE-900 (Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd., trade name) 3
It was immersed in a 0% by volume aqueous solution (hydrogen peroxide / sulfuric acid system) at room temperature for 1 minute.

【0032】感光性樹脂積層体の感光性樹脂層として
は、次の化合物を含有するものを用いた。 i)メタクリル酸メチル/アクリル酸ブチル/スチレン/
メタクリル酸=30/25/20/25重量比組成を有
し、重量平均分子量が7万のカルボン酸含有ポリマー
(35%固形分濃度のメチルエチルケトン溶液):14
2部(乾燥後の感光性樹脂中の含有量として53.8質
量%) ii) 2,2−ビス{4−(メタクリロキシポリエトキ
シ)フェニル}プロパンであって、エチレングリコール
反復単位数の平均が5であるもの(新中村化学社製、B
PE−500)40部(乾燥後の感光性樹脂中の含有量
として43質量%)
As the photosensitive resin layer of the photosensitive resin laminate, one containing the following compounds was used. i) Methyl methacrylate / butyl acrylate / styrene /
Methacrylic acid = 30/25/20/25 weight ratio composition, weight average molecular weight 70,000 carboxylic acid containing polymer (methyl ethyl ketone solution of 35% solid content concentration): 14
2 parts (53.8 mass% as the content in the photosensitive resin after drying) ii) 2,2-bis {4- (methacryloxypolyethoxy) phenyl} propane, the average number of repeating ethylene glycol units 5 (Shin Nakamura Chemical Co., B
PE-500) 40 parts (43% by mass as the content in the photosensitive resin after drying)

【0033】iii)トリエチレングリコールービス[ 3−
(3−t-ブチル−5−メチルー4−ヒドロキシフェニ
ル)プロピオネート}[日本チバガイギー株製 IRG
ANOX(登録商標)245]0.1部(乾燥後の感光
性樹脂中の含有量として0.11質量%) iv) 2−(o−クロロフェニル)−4・5−ジフェニル
イミダゾリル二量体(黒金化成製、ビイミダゾール、商
品名)2部(乾燥後の感光性樹脂中の含有量として、
2.2質量%) v)N、N−テトラエチル−4,4−ジアミノベンゾフェ
ノン(保土ヶ谷化学製)0.4部(乾燥後の感光性樹脂
中の含有量として、0.43質量%) vi) ロイコクリスタルバイオレット(保土ヶ谷化学製)
0.4部(乾燥後の感光性樹脂中の含有量として、0.
43質量%)
Iii) Triethylene glycol-bis [3-
(3-t-butyl-5-methyl-4-hydroxyphenyl) propionate} [manufactured by Nippon Ciba-Geigy Strain IRG
ANOX (registered trademark) 245] 0.1 part (0.11 mass% as the content in the photosensitive resin after drying) iv) 2- (o-chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazolyl dimer (black Made by Kinkasei, biimidazole, trade name) 2 parts (as content in the photosensitive resin after drying,
2.2 mass%) v) N, N-tetraethyl-4,4-diaminobenzophenone (manufactured by Hodogaya Chemical Co., Ltd.) 0.4 part (0.43 mass% as the content in the photosensitive resin after drying) vi) Leuco Crystal Violet (Hodogaya Chemical)
0.4 parts (as a content in the photosensitive resin after drying, 0.
43 mass%)

【0034】vii)マラカイトグリーン(保土ヶ谷化学
製)0.08部(乾燥後の感光性樹脂中の含有量として
0.086質量%) 支持体フィルムは、AT301(帝人・デュポンフィル
ム社製、ポリエチレンテレフタレート、16μm厚
み)、保護フィルムはT1−A742A(タマポリ社
製、ポリエチレン、35μm厚み)を用いた。フレキシ
ブル基板の銅箔表面粗さは、Ra−1が70nm、Ra
−2が50nm、P−Vが790nm、RMSが90n
mだった。ラミエアー個数は2個であり、ランクは○だ
った。導体パターン形成性は、欠け、断線が認められ
ず、ランクは◎だった。
Vii) Malachite Green (manufactured by Hodogaya Chemical Co., Ltd.) 0.08 part (0.086 mass% as the content in the photosensitive resin after drying) The support film is AT301 (manufactured by Teijin DuPont Films, polyethylene terephthalate). , 16 μm), and the protective film was T1-A742A (manufactured by Tama Poly, polyethylene, 35 μm thick). The surface roughness of the copper foil of the flexible substrate is Ra-1 of 70 nm and Ra.
-2 is 50 nm, P-V is 790 nm, RMS is 90 n
It was m. The number of Lamiair was 2, and the rank was ○. Regarding the conductor pattern formability, no chipping or disconnection was observed, and the rank was ⊚.

【0035】(実施例2〜3)ラミネート前の薬液処理
を表1のように変えた以外は、実施例1と同様に評価し
た。結果を表1に示した。 (実施例4)実施例1のフレキシブル基板を、実施例1
と同様な基板処理を行い、真空ラミネーター(日立イン
ダストリィズ製)でラミネートした。真空度は1Tor
rで、ラミネート速度は2m/分で、ラミネートロール
温度は105℃で、ラミネート圧力は0.22MPa/
cmで行った。フレキシブル基板の表面粗さは、Ra−
1が70nm、Ra−2が50nm、P−Vが790n
m、RMSが90nmだった。ラミエアー個数は0個で
あり、ランクは◎だった。導体パターン形成性は、欠
け、断線が認められず、ランクは◎だった。
(Examples 2 to 3) Evaluations were made in the same manner as in Example 1 except that the chemical treatment before lamination was changed as shown in Table 1. The results are shown in Table 1. (Embodiment 4) The flexible substrate of Embodiment 1 is replaced with that of Embodiment 1.
The same substrate treatment was performed and laminated with a vacuum laminator (manufactured by Hitachi Industries). Vacuum degree is 1 Tor
r, the laminating speed is 2 m / min, the laminating roll temperature is 105 ° C., and the laminating pressure is 0.22 MPa /
I went in cm. The surface roughness of the flexible substrate is Ra-
1 is 70 nm, Ra-2 is 50 nm, and PV is 790 n.
m, RMS was 90 nm. The number of Lamiair was 0, and the rank was ◎. Regarding the conductor pattern formability, no chipping or disconnection was observed, and the rank was ⊚.

【0036】(比較例1)フレキシブル基板として、エ
スパネックス(登録商標、新日鉄化学製)を用いた以外
は、実施例1と同様に評価した。ラミエアー個数は58
個であり、ランクは×だった。導体パターン形成性は、
断線が6ヶ所であり、ランクは×だった。 (比較例2)フレキシブル基板として、マイクロラック
ス(登録商標、デュポン社製)を用いた以外は、実施例
1と同様に評価した。このフレキシブル基板は、50μ
m厚みのポリイミドフィルムに12μm厚みの銅箔を積
層したものであった。
Comparative Example 1 Evaluation was made in the same manner as in Example 1 except that Espanex (registered trademark, manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd.) was used as the flexible substrate. The number of Lamiair is 58
It was an individual and the rank was x. Conductor pattern formability is
There were 6 breaks and the rank was x. (Comparative Example 2) Evaluation was made in the same manner as in Example 1 except that Microlux (registered trademark, manufactured by DuPont) was used as the flexible substrate. This flexible substrate is 50μ
It was a copper foil having a thickness of 12 μm laminated on a polyimide film having a thickness of m.

【0037】フレキシブル基板の表面粗さは、Ra−1
が270nm、Ra−2が420nm、P−Vが360
0nm、RMSが340nmだった。ラミエアー個数は
16個であり、ランクは△だった。導体パターン形成性
は、欠けが8ヶ所であり、ランクは△だった。以上の実
施例1〜4、比較例1〜2の結果を表1にまとめた。上
記の結果によれば、本発明のCOF用配線板製造方法を
用いることにより、ラミネートによるエアーの混入が抑
制できるため、微細な導体パターンを良好な品質で、歩
留まり良く製造することが可能となる。
The surface roughness of the flexible substrate is Ra-1.
Is 270 nm, Ra-2 is 420 nm, and PV is 360.
0 nm and RMS were 340 nm. The number of Lamiair was 16, and the rank was △. Regarding the conductor pattern formability, there were 8 defects and the rank was Δ. The results of Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 and 2 described above are summarized in Table 1. According to the above results, by using the method for manufacturing a COF wiring board of the present invention, it is possible to suppress air from being mixed by laminating, so that it is possible to manufacture a fine conductor pattern with good quality and high yield. .

【0038】[0038]

【表1】 [Table 1]

【0039】[0039]

【発明の効果】本発明のCOF用配線板製造方法は、フ
レキシブル基板に感光性樹脂積層体をラミネートする際
にエアーの混入が少なく、その結果30μm以下の導体
幅の回路をパターン異常無く、良好な収率で得られるた
め、COF用配線板の製造に極めて有用である。
According to the method for manufacturing a wiring board for COF of the present invention, air is less mixed when laminating a photosensitive resin laminate on a flexible substrate, and as a result, a circuit having a conductor width of 30 μm or less can be formed without pattern abnormality. Since it can be obtained with a high yield, it is extremely useful for manufacturing a COF wiring board.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 赤尾 伝 静岡県富士市鮫島2番地の1 旭化成株式 会社内 (72)発明者 足立 輝彦 静岡県富士市鮫島2番地の1 旭化成株式 会社内 Fターム(参考) 4E351 AA16 AA17 BB01 DD04 DD54 DD55 GG11 GG20 5E339 AA02 AB02 BC02 BD11 BE13 CC01 CC02 CD01 CE11 CE14 CE16 CF16 CF17 CG04 DD04 GG01 GG10    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Akao Den             Asahi Kasei Co., Ltd. 1 No. 2 Samejima, Fuji City, Shizuoka Prefecture             In the company (72) Inventor Teruhiko Adachi             Asahi Kasei Co., Ltd. 1 No. 2 Samejima, Fuji City, Shizuoka Prefecture             In the company F-term (reference) 4E351 AA16 AA17 BB01 DD04 DD54                       DD55 GG11 GG20                 5E339 AA02 AB02 BC02 BD11 BE13                       CC01 CC02 CD01 CE11 CE14                       CE16 CF16 CF17 CG04 DD04                       GG01 GG10

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 厚みが10〜100μmのフィルムに、
化学研磨又は機械研磨で平均面粗さ(Ra−1)あるい
は中心線平均粗さ(Ra−2)が10〜200nmとし
た銅箔を積層したフレキシブル基板に、(a)感光性樹
脂積層体をラミネートし、(b)所望の配線パターンに
対応した露光を行い、露光された部分の感光性樹脂を光
硬化させて硬化レジストを得、(c)現像により、未露
光部分の感光性樹脂を除去し、(d)エッチングにより
硬化レジストに覆われていない基板の銅箔層を除去する
か、または、めっきにより硬化レジストに覆われていな
い部分にめっき金属を析出させた後、(e)剥離によ
り、硬化レジストを除去することを含むCOF用配線板
の製造方法。
1. A film having a thickness of 10 to 100 μm,
(A) a photosensitive resin laminate on a flexible substrate on which a copper foil having an average surface roughness (Ra-1) or a center line average roughness (Ra-2) of 10 to 200 nm laminated by chemical polishing or mechanical polishing is laminated. Laminating, (b) performing exposure corresponding to a desired wiring pattern, photocuring the exposed portion of the photosensitive resin to obtain a cured resist, and (c) developing to remove the unexposed portion of the photosensitive resin. Then, (d) the copper foil layer of the substrate which is not covered with the cured resist is removed by etching, or plating metal is deposited on the portion not covered with the cured resist by plating, and then (e) peeling is performed. A method for manufacturing a COF wiring board, which comprises removing a cured resist.
【請求項2】 ラミネート工程の前に、フレキシブル基
板に積層された銅箔を、硫酸、過硫酸塩、硝酸および有
機酸からなる群から選ばれる少なくとも1種を含む液で
化学研磨処理することにより、その平均面粗さ(Ra−
1)あるいは中心線平均粗さ(Ra−2)を10〜20
0nmにすることを特徴とする請求項1記載のCOF用
配線板の製造方法。
2. Before the laminating step, the copper foil laminated on the flexible substrate is chemically polished with a liquid containing at least one selected from the group consisting of sulfuric acid, persulfate, nitric acid and organic acids. , Its average surface roughness (Ra-
1) or center line average roughness (Ra-2) of 10 to 20
The method for manufacturing a COF wiring board according to claim 1, wherein the thickness is set to 0 nm.
【請求項3】 フレキシブル基板に感光性樹脂積層体を
ラミネートする方法として、常圧、減圧あるいは真空の
環境下、1対以上のホットロールにより、フレキシブル
基板と感光性樹脂積層体をロール圧着させる方法を用い
ることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のCO
F用配線板の製造方法。
3. A method of laminating a photosensitive resin laminate on a flexible substrate by pressure-bonding the flexible substrate and the photosensitive resin laminate with one or more pairs of hot rolls under an environment of normal pressure, reduced pressure or vacuum. The CO according to claim 1 or 2, characterized in that
Manufacturing method of wiring board for F.
【請求項4】 請求項1〜3のいずれか1項に記載の製
造方法で作製されたCOF用配線板。
4. A wiring board for COF manufactured by the manufacturing method according to claim 1.
【請求項5】 支持体フィルムの厚みが5〜20μm、
感光性樹脂層の厚みが1〜25μm、保護フィルムの厚
みが25〜60μmであり、感光性樹脂層中にイミダゾ
ール二量体化合物を0.1〜6質量%含有することを特
徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載のCOF用
配線板の製造方法に用いられる感光性樹脂積層体。
5. The support film has a thickness of 5 to 20 μm,
The photosensitive resin layer has a thickness of 1 to 25 μm, the protective film has a thickness of 25 to 60 μm, and the photosensitive resin layer contains an imidazole dimer compound in an amount of 0.1 to 6% by mass. The photosensitive resin laminated body used for the manufacturing method of the COF wiring board of any one of 1 to 3.
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