JP2003283330A - ライブラリ、半導体集積回路装置、および半導体集積回路装置の論理作成方法 - Google Patents

ライブラリ、半導体集積回路装置、および半導体集積回路装置の論理作成方法

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JP2003283330A
JP2003283330A JP2002086794A JP2002086794A JP2003283330A JP 2003283330 A JP2003283330 A JP 2003283330A JP 2002086794 A JP2002086794 A JP 2002086794A JP 2002086794 A JP2002086794 A JP 2002086794A JP 2003283330 A JP2003283330 A JP 2003283330A
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potential
logic
input terminal
semiconductor integrated
integrated circuit
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Junichi Yano
純一 矢野
Genichiro Inoue
源一郎 井上
Kazuyoshi Nakamura
一喜 中村
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ノイズによる誤動作を解消しかつ消費電力を
低減した半導体集積回路装置の論理作成方法を提供す
る。 【解決手段】 ライブラリから、シリアルタイプAND
ゲート等の第一の回路構成を選択し(201)、その回
路に対して回路動作のシミュレーションを実行し(20
2)、中間ノード(プリチャージノード)のノイズレベ
ルが閾値未満であれば、第一の回路構成をそのまま使用
し(204)、プリチャージノードのノイズレベルが閾
値以上であれば、パラレルタイプANDゲート等の第二
の構成要素を選択する(205)ことで、使用する論理
回路を決定する(207)。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、主として半導体集
積回路で実現されるANDゲート、ORゲート等のダイ
ナミック回路、かかるダイナミック回路の論理作成方
法、および論理作成に用いるライブラリに関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体産業の技術革新にはめざま
しいものがあり、半導体プロセスの微細化、LSIの高
速動作化・低消費電力化がどんどん進んできている。L
SIの動作の高速化を実現するためにダイナミック回路
が用いられる場合がある。しかしながら、一般にダイナ
ミック回路は、スタティック回路に比べてノイズに弱い
という欠点があり、時にはLSIの誤動作を引き起こす
原因となる場合があることが知られている。また、ダイ
ナミック回路には、高速動作と同時に、低消費電力化も
求められている。従って、ノイズの発生と消費電力を抑
えたダイナミック回路が強く求められている。
【0003】以下、かかる従来のダイナミック回路の具
体例について、図面を参照しながら説明する。
【0004】まず、第一の従来例として、図6は、AN
Dゲート(シリアルタイプANDゲート)を構成するダ
イナミック回路の内部構成を示す回路図であって、この
例では、ドライブ回路としてインバータを用い、プリチ
ャージ用にPchトランジスタを用いている。
【0005】図6において、610はインバータ、61
1、615はPchトランジスタ、612、613、6
14はNchトランジスタ、600、601は入力端
子、602はクロック入力端子、603は出力端子、6
04、605、606は中間ノードである。
【0006】インバータ610の入力端子は中間ノード
604、その出力端子は出力端子603にそれぞれ接続
されている。Nchトランジスタ612、613、61
4は直列に接続されている。Nchトランジスタ612
は、ゲートが入力端子600に接続され、ドレインおよ
びソースがそれぞれ中間ノード604および605に接
続されている。Nchトランジスタ613は、ゲートが
入力端子601に接続され、ドレインおよびソースがそ
れぞれ中間ノード605および606に接続されてい
る。Nchトランジスタ614は、ゲートがクロック入
力端子602に、ソースが接地電位VSSに、ドレイン
が中間ノード606に接続されている。Pchトランジ
スタ611は、ゲートがクロック入力端子602に、ソ
ースが電源電位VDDに、ドレインが中間ノード604
に接続されている。Pchトランジスタ615は、ゲー
トが出力端子603に、ソースが電源電位VDDに、ド
レインが中間ノード604に接続されている。
【0007】このように構成された第一の従来例のダイ
ナミック回路は、クロック入力端子602が論理「L」
レベルにある期間には、プリチャージ期間としての動作
を行い、クロック入力端子602が論理「H」レベルに
ある期間には、入力端子601、602の論理レベルに
応じた論理を出力端子603から出力し、評価期間とし
ての動作を行う。
【0008】また、Pchトランジスタ615は、プリ
チャージ期間中に中間ノード604に充電された電荷
を、弱く保持する。このPchトランジスタ615は、
評価期間中に中間ノード604の電位を保持するための
キーパー回路であって、評価期間中に発生する、電荷再
分配の影響で、中間ノード604の電位が論理「L」レ
ベルまで低下する場合や、フローティングになる場合
に、誤った論理出力や、グリッジ出力が発生することを
回避する役目を果たす。
【0009】クロック入力端子602が論理「L」レベ
ルであるプリチャージ期間には、Pchトランジスタ6
11はONし、Nchトランジスタ614はOFFし、
中間ノード604は、電源電位VDDからPchトラン
ジスタ611を介して、論理「H」レベルに充電され
る。
【0010】また、クロック入力端子602が論理
「H」レベルである評価期間には、Pchトランジスタ
611はOFFし、Nchトランジスタ614はONす
る。プリチャージ期間に中間ノード604に充電された
論理「H」レベルの電荷が、評価期間に放電が行われ中
間ノード604が論理「L」レベルに変化するか否か
は、入力端子600、601の状態により決定される。
【0011】第一の従来例の場合、評価期間中に入力端
子600、601がすべて論理「H」レベルにあると
き、Nchトランジスタ612、613、614はすべ
てON状態になり、中間ノード604は論理「H」レベ
ルから「L」レベルに変化し、インバータ610を介し
て出力端子603に出力される信号は、論理「H」レベ
ルとなる。
【0012】同じく評価期間中、入力端子600、60
1がすべて論理「L」レベルにあるときは、Nchトラ
ンジスタ612、613、614はすべてOFF状態に
なり、プリチャージ期間中に中間ノード604に蓄積さ
れた論理「H」レベルの電荷はそのまま保持されるた
め、インバータ610を介して出力端子603に出力さ
れる信号は、論理「L」レベルとなる。
【0013】同じく評価期間中、入力端子600が論理
「L」レベルで、入力端子601が「H」レベルにある
ときは、Nchトランジスタ612はONするが、Nc
hトランジスタ613、614はどちらもOFF状態な
るため、プリチャージ期間中に中間ノード604に蓄積
された論理「H」レベルの電荷の、直列接続されたNc
hトランジスタ612、613、614を介しての接地
電位VSSへの放電は行われず、中間ノード604は論
理「H」レベルに保持され、インバータ610を介して
出力端子603に出力される信号は、論理「L」レベル
となる。
【0014】同じく評価期間中、入力端子600が論理
「H」レベルで、入力端子601が論理「L」レベルに
あるときは、Nchトランジスタ613はONするが、
Nchトランジスタ612、614はどちらもOFF状
態になるため、プリチャージ期間中に中間ノード604
に蓄積された論理「H」レベルの電荷の、直列接続され
たNchトランジスタ612、613、614を介して
の接地電位VSSへの放電は行われず、中間ノード60
4は論理「H」レベルに保持され、インバータ610を
介して出力端子603に出力される信号は、論理「L」
レベルとなる。
【0015】上記のように、図6のダイナミック回路
は、プリチャージ期間に中間ノード604に論理「H」
レベルの電荷を充電し、評価期間に入力端子600、6
01に対して論理積をとった論理レベルを出力端子60
3から出力する。よって、第一の従来例はANDゲート
(シリアルタイプANDゲート)を構成している。
【0016】次に、第二の従来例として、図7は、OR
ゲート(パラレルタイプORゲート)を構成するダイナ
ミック回路の内部構成を示す回路図であって、この例で
も、ドライブ回路としてインバータを用い、プリチャー
ジ用にPchトランジスタを用いている。
【0017】図7において、715はインバータであっ
て、710、714はPchトランジスタ、711、7
12、713はNchトランジスタ、701、702は
入力端子、700はクロック入力端子、704、705
は中間ノードである。インバータ715の入力端子は中
間ノード704に、その出力端子は出力端子703に接
続されている。Pchトランジスタ710は、ゲートが
クロック入力端子700に、ソースが電源電位VDD
に、ドレインが中間ノード704に接続されている。ま
た、Pchトランジスタ714は、ゲートが出力端子7
03に、ソースが電源電位VDDに、ドレインが中間ノ
ード704に接続されている。
【0018】Nchトランジスタ713は、ゲートがク
ロック入力端子700に、ソースが接地電位VSSに、
ドレインが中間ノード705に接続されている。Nch
トランジスタ711のゲートは入力端子701に接続さ
れている。Nchトランジスタ712のゲートは入力端
子702に接続されている。また、Nchトランジスタ
711、712は並列に接続されており、それらのソー
スおよびドレインは、それぞれ、中間ノード704およ
び705に接続されている。
【0019】また、Pchトランジスタ714は、プリ
チャージ期間中に中間ノード704に充電された電荷
を、弱く保持する。Pchトランジスタ714は、評価
期間中に中間ノード704の電位を保持するためのキー
パー回路を構成し、評価期間中に、中間ノード704の
電位が、フローティングになることによって、論理
「H」レベルより低くなった場合、誤った論理出力や、
グリッジ出力が発生することを回避する役目を果たす。
【0020】このように構成された第二の従来例のダイ
ナミック回路は、クロック入力端子700が論理「L」
レベルにあるとき(プリチャージ期間)、中間ノード7
04は論理「H」レベルに充電され、出力端子703は
論理「L」レベルになる。また、クロック入力端子70
0、入力端子701、702がすべて論理「H」レベル
にあるとき、または、クロック入力端子700が論理
「H」レベルで、かつ入力端子701、702のどちら
か一方が論理「H」レベルにあるとき、中間ノード70
4にプリチャージされた電位は、Nchトランジスタ7
11、712、713を介して接地電位VSSに放電さ
れ、中間ノード704は論理「L」レベルになり、出力
端子703は論理「H」レベルとなる。よって、第二の
従来例はORゲート(パラレルタイプORゲート)を構
成している。
【0021】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、第一の
問題点として、図6に示す第一の従来例ような構成のダ
イナミック回路では、評価期間でかつ入力端子601が
論理「L」レベルで入力端子600が論理「L」レベル
から論理「H」レベルに変化し、Nchトランジスタ6
12がONしたときに、Nchトランジスタ612と6
13を接続している中間ノード605に、プリチャージ
された電荷の再分配が発生する。このため、中間ノード
604のレベルとしては、論理「H」レベルを期待して
いるにもかかわらず、論理「L」レベルと判定されるま
でに低下してしまい、かかる現象がノイズとなってLS
Iが誤動作するという問題を有していた。
【0022】また、第二の問題点として、図7に示す第
二の従来例のような構成のダイナミック回路では、プリ
チャージ期間に中間ノード704に蓄積された電荷が、
入力端子701、702のいずれか一つでも論理「H」
レベルになると、接地電位VSSに放電されるため、消
費電力が大きくなるという問題を有していた。
【0023】また、第三の問題点として、第一の従来例
のような構成のダイナミック回路では、評価期間でかつ
入力端子601が論理「L」レベルで入力端子600が
論理「L」レベルから論理「H」レベルに変化し、Nc
hトランジスタ612がONしたときに、Nchトラン
ジスタ612と613を接続している中間ノード605
に、プリチャージされた電荷の再分配が発生する。この
ため、キーパー回路用Pchトランジスタ615を介し
て中間ノード604に、電荷再分配によって消費された
電荷分を、再度充電する必要が生じるため、プリチャー
ジによって電力を消費するという問題を有していた。
【0024】本発明は、上記の問題点に鑑みてなされた
ものであり、その目的は、ノイズによる誤動作を解消し
かつ消費電力を低減した半導体集積回路装置、かかる半
導体集積回路装置の論理作成方法、およびそれに用いる
ライブラリを提供することにある。
【0025】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
め、本発明に係るライブラリは、第一の構成要素と第二
の構成要素とを含むライブラリであって、第一の構成要
素は、第一のクロック入力端子が第一の電位(例えば、
論理「L」レベル)にある場合にプリチャージノードの
電位を第二の電位(例えば、論理「H」レベル)に設定
し、前記第一のクロック入力端子が第三の電位(例え
ば、論理「H」レベル)にあり且つ複数の第一の入力端
子の論理状態がある特定の論理状態にある場合に前記プ
リチャージノードの電位を第四の電位(例えば、論理
「L」レベル)に設定する第一の半導体集積回路(例え
ば、シリアルタイプANDゲート)群からなり、第二の
構成要素は、第一の半導体集積回路群とは異なる構成を
有し且つ同一の論理演算を実行する第二の半導体集積回
路(例えば、パラレルタイプANDゲート)群からな
り、第二の半導体集積回路群は、第二のクロック入力端
子が第三の電位にある場合にディスチャージノードの電
位を第四の電位に設定し、第二のクロック入力端子が第
一の電位にあり且つ複数の第二の入力端子の論理状態が
前記ある特定の論理状態にある場合にディスチャージノ
ードの電位を第二の電位に設定することを特徴とする。
【0026】前記の目的を達成するため、本発明に係る
半導体集積回路装置は、第一の構成要素と第二の構成要
素とを含むライブラリを用いて設計された半導体集積回
路装置であって、第一の構成要素は、第一のクロック入
力端子が第一の電位にある場合にプリチャージノードの
電位を第二の電位に設定し、第一のクロック入力端子が
第三の電位にあり且つ複数の第一の入力端子の論理状態
がある特定の論理状態にある場合に前記プリチャージノ
ードの電位を第四の電位に設定する第一の半導体集積回
路群からなり、第二の構成要素は、第一の半導体集積回
路群とは異なる構成を有し且つ同一の論理演算を実行す
る第二の半導体集積回路群からなり、第二の半導体集積
回路群は、第二のクロック入力端子が第三の電位にある
場合にディスチャージノードの電位を第四の電位に設定
し、第二のクロック入力端子が第一の電位にあり且つ複
数の第二の入力端子の論理状態が前記ある特定の論理状
態にある場合にディスチャージノードの電位を第二の電
位に設定することを特徴とする。
【0027】前記の目的を達成するため、本発明に係る
第一の半導体集積回路装置の論理作成方法は、第一のク
ロック入力端子が第一の電位にある場合にプリチャージ
ノードの電位を第二の電位に設定し、前記第一のクロッ
ク入力端子が第三の電位にあり且つ複数の第一の入力端
子の論理状態がある特定の論理状態にある場合に前記プ
リチャージノードの電位を第四の電位に設定する第一の
半導体集積回路群からなる第一の構成要素と、第二のク
ロック入力端子が第三の電位にある場合にディスチャー
ジノードの電位を第四の電位に設定し、第二のクロック
入力端子が第一の電位にあり且つ複数の第二の入力端子
の論理状態が前記ある特定の論理状態にある場合にディ
スチャージノードの電位を第二の電位に設定し、第一の
半導体集積回路群とは異なる構成を有し且つ同一の論理
演算を実行する第二の半導体集積回路群からなる第二の
構成要素とを含むライブラリを用いて半導体集積回路装
置の論理を作成する方法であって、対をなす第一の構成
要素と第二の構成要素のうち、プリチャージノードおよ
びディスチャージノードのうち意図しない電位レベルの
変動が少ない方を選択し、論理を作成することを特徴と
する。
【0028】この構成によれば、複数の入力信号の組み
合わせにより決定される出力信号が、ノイズの影響によ
って確定論理とは異なって、出力端子に伝播されないの
で、ノイズに強い論理回路を作成することが可能にな
る。
【0029】前記の目的を達成するため、本発明に係る
第二の半導体集積回路装置の論理作成方法は、第一のク
ロック入力端子が第一の電位にある場合にプリチャージ
ノードの電位を第二の電位に設定し、前記第一のクロッ
ク入力端子が第三の電位にあり且つ複数の第一の入力端
子の論理状態がある特定の論理状態にある場合に前記プ
リチャージノードの電位を第四の電位に設定する第一の
半導体集積回路群からなる第一の構成要素と、第二のク
ロック入力端子が第三の電位にある場合にディスチャー
ジノードの電位を第四の電位に設定し、第二のクロック
入力端子が第一の電位にあり且つ複数の第二の入力端子
の論理状態が前記ある特定の論理状態にある場合にディ
スチャージノードの電位を第二の電位に設定し、第一の
半導体集積回路群とは異なる構成を有し且つ同一の論理
演算を実行する第二の半導体集積回路群からなる第二の
構成要素とを含むライブラリを用いて半導体集積回路装
置の論理を作成する方法であって、ライブラリを用いて
作成された半導体集積回路の消費電力を判定し、対をな
す前記第一の構成要素と前記第二の構成要素のうち、消
費電力の小さい方を選択し、論理を作成することを特徴
とする。
【0030】この構成によれば、消費電力のシミュレー
ションを実行することにより、第一、第二の回路から消
費電力が小さい方を選択することで、第一の回路の構成
のみのライブラリを用いて論理を作成する場合に比べ
て、より消費電力を削減した論理回路を作成することが
可能になる。
【0031】前記の目的を達成するため、本発明に係る
第三の半導体集積回路装置の論理作成方法は、第一のク
ロック入力端子が第一の電位にある場合にプリチャージ
ノードの電位を第二の電位に設定し、前記第一のクロッ
ク入力端子が第三の電位にあり且つ複数の第一の入力端
子の論理状態がある特定の論理状態にある場合にプリチ
ャージノードの電位を第四の電位に設定する第一の半導
体集積回路群からなる第一の構成要素と、第二のクロッ
ク入力端子が第三の電位にある場合にディスチャージノ
ードの電位を第四の電位に設定し、第二のクロック入力
端子が第一の電位にあり且つ複数の第二の入力端子の論
理状態が前記ある特定の論理状態にある場合にディスチ
ャージノードの電位を第二の電位に設定し、第一の半導
体集積回路群とは異なる構成を有し且つ同一の論理演算
を実行する第二の半導体集積回路群からなる第二の構成
要素とを含むライブラリを用いて半導体集積回路装置の
論理を作成する方法であって、対をなす第一の構成要素
と第二の構成要素のうち、プリチャージノードとディス
チャージノードの遷移確率が低い方を選択し、ライブラ
リの半導体集積回路を組み合わせて論理を作成すること
を特徴とする。
【0032】この構成によれば、入力論理に応じてライ
ブラリの第一、第二の回路から、中間ノードにプリチャ
ージ・ディスチャージの発生が起こりにくい方を選択し
使用することによって、第一の構成の回路のみのライブ
ラリを用いて論理を作成する場合に比べて、より消費電
力を削減した論理を作成することが可能になる。
【0033】前記の目的を達成するため、本発明に係る
第四の半導体集積回路装置の論理作成方法は、クロック
入力端子が第一の電位にある場合にプリチャージノード
の電位を第二の電位に設定し、クロック入力端子が第三
の電位にあり且つ複数の入力端子の電位がある特定の電
位にある場合にプリチャージノードの電位を第四の電位
に設定する半導体集積回路を構成要素として有する半導
体集積回路装置の論理を作成する方法であって、複数の
入力端子に接続される半導体集積回路が、第四の電位と
プリチャージノードとの間に直列接続されている場合、
複数の入力端子のうち遷移確率がより高いものをプリチ
ャージノードから遠い側に配置し、論理を作成すること
を特徴とする。
【0034】この構成によれば、入力信号の遷移確率を
調べ、接続されたトランジスタがONする確率がより低
い入力信号線を、プリチャージラインまたはディスチャ
ージラインに近い側のトランジスタの入力端子に接続す
ることによって、入力端子に接続されたトランジスタ同
士を接続する中間ノードへの充放電の回数を減らすこと
ができ、消費電力を低減することが可能になる。
【0035】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施の形態
について、2入力ANDゲートを構成するダイナミック
回路を例に挙げて、図面を参照しながら説明する。
【0036】(第一の実施形態)まず、本実施形態にお
いて、半導体装置の論理作成に使用されるライブラリと
して、第一の従来例として図6に示したシリアルタイプ
ANDゲートを構成する第一の構成の回路を用意する。
【0037】図6のシリアルタイプANDゲートにおい
て、キーパー回路用Pchトランジスタ615の電流能
力は、回路中に存在する他のトランジスタ611、61
2、613、614の電流能力よりも、十分小さく作成
する必要がある。このPchトランジスタ215の電流
能力を、より大きくすることによって、中間ノード60
4にプリチャージされた論理「H」レベルの電位を保持
する働きは強くなるが、面積が増大し、また、回路全体
の動作速度は低下するため、使用できる面積が制限され
る場合や、高速に動作させる必要がある回路の場合には
不利になる為、高速動作、省面積を優先する回路に使用
することが困難になってしまう。
【0038】また、上記シリアルタイプANDゲートを
使用する場合、評価期間でかつ入力端子601が論理
「L」レベルで、入力端子600が論理「L」レベルか
ら論理「H」レベルに変化し、Nchトランジスタ61
2がONしたときに、Nchトランジスタ612とNc
hトランジスタ613を接続している中間ノード605
に、プリチャージ期間中に中間ノード604に充電され
た論理「H」レベルの電荷の再分配が発生する。この電
荷再分配によって、中間ノード604の電位は、前述し
たキーパー回路用Pchトランジスタ615の電流能力
では、回避できないまでに落ち込み、中間ノード604
の電位は論理「L」レベルとみなされ、出力端子603
から、誤った論理出力やグリッジ出力を発生してしまう
場合がある。
【0039】次に、本実施形態において、半導体装置の
論理作成に使用されるライブラリとして、図1に示すパ
ラレルタイプのANDゲートを構成する第二の構成の回
路を用意する。
【0040】図1において、110、111、112は
Pchトランジスタである。Pchトランジスタ110
は、ゲートがクロック入力端子100に、ソースが電源
電位VDDに、ドレインが中間ノード116に接続され
ている。Pchトランジスタ111のゲートは入力端子
101に接続されている。Pchトランジスタ112の
ゲートは入力端子102に接続されている。また、Pc
hトランジスタ111、112は並列に接続されてお
り、それらのソースおよびドレインはそれぞれ中間ノー
ド120および121に接続されている。
【0041】113、114はNchトランジスタであ
る。Nchトランジスタ113は、ゲートがクロック入
力端子100に、ソースが接地電位VSSに、ドレイン
が中間ノード121に接続されている。また、Nchト
ランジスタ314は、ゲートが出力端子103に、ソー
スが接地電位VSSに、ドレインが中間ノード121に
接続されている。
【0042】115はインバータであって、その入力端
子は中間ノード121に、その出力端子は出力端子10
3に接続されている。
【0043】図1のダイナミック回路は、クロック入力
端子100が論理「H」にある期間には、ディスチャー
ジ期間としての動作を行い、クロック入力端子100が
論理「L」にある期間には、入力端子101、102の
論理レベルに応じた論理を、出力端子103から出力す
る、評価期間としての動作を行う。
【0044】また、Nchトランジスタ114は、評価
期間中に中間ノード121の電位を保持するためのキー
パー回路を構成し、評価期間中に、中間ノード121の
電位が、フローティングになることによって、論理
「L」レベルより高くなった場合、誤った論理出力や、
グリッジ出力が発生することを回避する役目を果たす。
【0045】このキーパー回路用のNchトランジスタ
114の電流能力は、回路中に存在する他のトランジス
タ110、111、112の電流能力よりも、十分小さ
く作成する必要がある。キーパー回路用のNchトラン
ジスタ114の電流能力を、より大きくすることによっ
て、中間ノード121にディスチャージされた論理
「L」レベルの電位を保持する働きは強くなるが、面積
が増大し、回路全体の動作速度は低下するため、面積制
約が厳しい場合や、高速に動作させる必要がある回路の
場合には、不利になる為、高速動作、省面積優先である
回路に使用することが困難になってしまう。
【0046】クロック入力端子100が論理「H」レベ
ルであるディスチャージ期間には、Pchトランジスタ
110はOFFし、Nchトランジスタ113はON
し、中間ノード121は、Nchトランジスタ113を
介して接地電位VSSへと放電され、論理「L」レベル
になる。
【0047】また、クロック入力端子100が論理
「L」レベルである評価期間には、Pchトランジスタ
110はONし、Nchトランジスタ113はOFFす
る。ディスチャージ期間に論理「L」レベルに放電され
た中間ノード121の電荷が、評価期間に充電が行われ
中間ノード121が論理「H」レベルに変化するか否か
は、入力端子101、102の論理状態により決定され
る。
【0048】図1のダイナミック回路の場合、評価期間
中に入力端子101、102がすべて論理「H」レベル
であるとき、Pchトランジスタ110はON状態とな
るが、Pchトランジスタ111、112はともにOF
F状態になり、ディスチャージ期間中に中間ノード12
1に放電された論理「L」レベルの電位は、そのまま保
持されるため、インバータ115を介して出力端子10
3に出力される信号は、論理「H」レベルとなる。
【0049】同じく評価期間中、入力端子101、10
2がすべて論理「L」レベルであるときは、Pchトラ
ンジスタ110、111、112はすべてON状態にな
り、ディスチャージ期間中に論理「L」レベルであった
中間ノード121の電位は、電源電位VDDからPch
トランジスタ110、111、112を介して、論理
「H」レベルに充電される。そのため、インバータ11
5を介して出力端子103に出力される信号は、論理
「L」レベルとなる。
【0050】同じく評価期間中、入力端子101が論理
「L」レベルで、入力端子102が論理「H」レベルで
あるときは、Pchトランジスタ112はOFF状態に
なるが、Pchトランジスタ110、111はどちらも
ON状態になるため、ディスチャージ期間中に論理
「L」レベルであった中間ノード121の電位は、電源
電位VDDからPchトランジスタ110、111介し
て、論理「H」レベルに充電される。そのため、インバ
ータ115を介して出力端子103に出力される信号
は、論理「L」レベルとなる。
【0051】同じく評価期間中、入力端子101が論理
「H」レベルで、入力端子102が論理「L」レベルで
あるときは、Pchトランジスタ111はOFF状態に
なるが、Pchトランジスタ110、112はどちらも
ON状態になるため、ディスチャージ期間中に論理
「L」レベルであった中間ノード121の電位は、電源
電位VDDからPchトランジスタ110、112を介
して、論理「H」レベルに充電される。そのため、イン
バータ115を介して出力端子103に出力される信号
は、論理「L」レベルとなる。
【0052】上記のように、図1のダイナミック回路
は、ディスチャージ期間に中間ノード121に論理
「L」レベルの電荷を充電し、評価期間に入力端子10
1、102に対して論理積をとった論理を、出力端子1
03から出力する構成をとっているよって、図1のダイ
ナミック回路は、パラレルタイプのANDゲートを構成
する。
【0053】図1のようなパラレルタイプのANDゲー
トを使用した場合には、図6のシリアルタイプのAND
ゲートを使用した場合に発生する、入力端子の信号の組
み合わせに応じて、中間ノードへの電荷再分配による誤
った論理出力やグリッジ出力は、出力端子103から出
力されることはない。そのため、中間ノード121の電
位を保持するための、キーパー回路用のNchトランジ
スタ114の電流能力を大きくする必要が無く、動作速
度の低下や、面積の増大を招くことは無い。
【0054】本実施形態では、このようなANDゲート
以外の論理ゲートも、第一の構成のようなシリアルタイ
プと、第二の構成のようなパラレルタイプの、同一論理
を実現する2種類の対となる回路をライブラリとして用
意する。
【0055】以下、本実施形態において、かかるライブ
ラリを用いた半導体装置の論理作成方法について、図2
を用いて説明する。図2は、本実施形態による半導体装
置の論理作成方法における処理手順を示すフローチャー
トである。
【0056】図2において、まず、回路規模が小さく動
作速度が速い、図6に示すようなシリアルタイプの第一
の構成の回路を選択する(201)。次に、その選択し
た回路を用いて作成した回路群に対して、SPICEな
どで代表されるシミュレータによる回路動作のシミュレ
ーションを実行し(202)、中間ノード604に生じ
るノイズレベルが閾値未満であるか否かを判定する(2
03)。そのノイズレベルが、閾値未満であり、ノイズ
無しと判定された場合は、そのまま第一の構成の回路を
使用する(204)。
【0057】ここでは、例えば、出力端子603の信号
が、中間ノード604のノイズの影響により、100m
V以上変化してしまった場合をノイズ有りとして判定す
ることにする。
【0058】一方、中間ノード604に生じるノイズレ
ベルが閾値以上であり、ノイズ有りとして判定され、回
路動作に影響を及ぼす場合には、第一の回路に比べて中
間ノードへの電荷再分配によるノイズが発生しにくい第
二の構成の回路を選択し、使用する(205)。また、
第二の構成の回路を使用する場合には、トランジスタの
極性が第一の構成の回路と反転していることから、使用
するクロックは、第一の構成の回路を使用した場合と反
転のクロックを使用する(206)。このようにして使
用する回路を決定する(207)ことで、出力端子から
誤った論理出力やグリッジ出力が発生することが回避さ
れる。
【0059】以上のように、本実施形態によれば、ライ
ブラリとして第一、第二の構成の回路を用意し、上記し
たような、中間ノードへの電荷再分配による、出力デー
タに生じるノイズによる誤動作の問題が起こる場合に
は、第二の回路構成を持った回路を適用することで、ラ
イブラリが第一の回路のみで構成されていた場合では回
避することが困難であった、高速動作、省面積優先であ
る回路を使用しつつ、中間ノードへの電荷再分配によ
る、出力データに生じるノイズによる誤動作の問題を回
避することができる。
【0060】(第二の実施形態)第一の実施形態では、
ANDゲートを構成するダイナミック回路の論理作成方
法について説明したが、本発明の第二の実施形態では、
ORゲートを構成するダイナミック回路の論理作成方法
について説明する。
【0061】まず、本実施形態において、半導体装置の
論理作成に使用されるライブラリとして、第二の従来例
として図7に示したパラレルタイプORゲートを構成す
る第一の構成の回路を用意する。
【0062】図7のパラレルタイプORゲートにおい
て、キーパー回路用Pchトランジスタ714の電流能
力は、回路中に存在する他のトランジスタ710、71
1、712、713の電流能力よりも、十分小さく作成
する必要がある。このキーパー回路用Pchトランジス
タ714の能力を、より大きくすることによって、中間
ノード704にプリチャージされた論理「H」レベルの
電位を保持する働きは強くなるが、面積が増大し、回路
全体の動作速度は低下するため、面積制約が厳しい場合
や、高速に動作させる必要がある回路の場合には、不利
になる為、高速動作、省面積優先である回路に使用する
ことが困難になってしまう。
【0063】図7のようなパラレルタイプORゲートを
使用した場合、評価期間中、入力端子701、702の
うち、どちらか一方、もしくは両方が論理「H」レベル
になると、プリチャージ期間に論理「H」レベルに充電
された中間ノード704の電位は、論理「L」レベルに
放電されるため、次回のプリチャージ期間に、再度中間
ノード704が論理「H」レベルの電位に放電される。
つまり入力端子701が論理「L」レベルかつ入力端子
702が論理「H」レベルであるとき、また、入力端子
701が論理「H」レベルかつ入力端子702が論理
「L」レベルであるとき、また、入力端子701、70
2がともに論理「H」レベルであるときに、中間ノード
704に充電された電荷が消費され、入力端子701、
702がともに論理「L」レベルのときは、中間ノード
704に充電された電荷は消費されない。
【0064】次に、本実施形態において、半導体装置の
論理作成に使用されるライブラリとして、図3に示すシ
リアルタイプのORゲートを構成する第二の構成の回路
を用意する。
【0065】図3において、315はインバータであっ
て、310、311、312はPchトランジスタ、3
13、314はNchトランジスタ、300、301は
入力端子、302はクロック入力端子、303は出力端
子、304、305、306は中間ノードである。
【0066】インバータ315の入力端子は中間ノード
304に、その出力端子は出力端子303に接続されて
いる。Pchトランジスタ310、311、312は直
列に接続されている。Pchトランジスタ310は、ゲ
ートがクロック入力端子302に、ソースが電源電位V
DDに、ドレインが中間ノード305に接続されてい
る。Pchトランジスタ311は、ゲートが入力端子3
00に、ソースおよびドレインがそれぞれ中間ノード3
05および306に接続されている。Pchトランジス
タ312は、ゲートが入力端子301に、ソースおよび
ドレインがそれぞれ中間ノード304および306に接
続されている。
【0067】Nchトランジスタ313は、ゲートがク
ロック入力端子302に、ソースが接地電位VSSに、
ドレインが中間ノード304に接続されている。Nch
トランジスタ314は、ゲートが出力端子303に、ソ
ースが接地電位VSSに、ドレインが中間ノード304
に接続されている。
【0068】図3のダイナミック回路は、クロック入力
端子302が論理「L」レベルにある期間には、ディス
チャージ期間としての動作を行い、クロック入力端子3
02が論理「H」レベルにある期間には、入力端子30
0、301の論理レベルに応じた論理を、出力端子30
3から出力する、評価期間としての動作を行う。
【0069】また、Nchトランジスタ314は、評価
期間中に中間ノード304の電位を保持するためのキー
パー回路を構成し、評価期間中に発生する、電荷再分配
の影響で、中間ノード304の電位が論理「H」レベル
に変化してしまうことによる、誤った論理出力や、グリ
ッジ出力が発生することを回避する役目を果たす。
【0070】キーパー回路用Nchトランジスタ314
の電流能力は、回路中に存在する他のトランジスタ31
0、311、312、313の電流能力よりも、十分小
さく作成する必要がある。このキーパー回路用Nchト
ランジスタ314の電流能力を、より大きくすることに
よって、中間ノード304にディスチャージされた論理
「L」レベルの電位を保持する働きは強くなるが、面積
が増大し、また、回路全体の動作速度は低下するため、
使用できる面積が制限される場合や、高速に動作させる
必要がある回路の場合には不利になる為、高速動作、省
面積優先である回路に使用することが困難になってしま
う。
【0071】クロック入力端子302が論理「H」レベ
ルであるディスチャージ期間には、Nchトランジスタ
313はONし、Pchトランジスタ310はOFF
し、中間ノード304は、Nchトランジスタ313を
介して接地電位VSSに放電され、論理「L」レベルに
なる。
【0072】また、クロック入力端子302が論理
「L」レベルである評価期間には、Nchトランジスタ
313はOFFし、Pchトランジスタ310はONす
る。ディスチャージ期間に論理「L」レベルとなった中
間ノード304が、評価期間に充電が行われ、中間ノー
ド304が論理「H」レベルに変化するか否かは、入力
端子300、301の論理状態により決定される。
【0073】図3のダイナミック回路の場合、評価期間
中に入力端子300、301がすべて論理「L」レベル
であるとき、Pchトランジスタ310、311、31
2はすべてON状態になり、ディスチャージ期間中に論
理「L」レベルとなった中間ノード304は、電源電位
VDDからPchトランジスタ310、311、312
を介して充電され、論理「H」レベルに変化する。その
ため、インバータ315を介して出力端子303に出力
される信号は、論理「L」レベルとなる。
【0074】同じく評価期間中、入力端子300、30
1がすべて論理「H」レベルであるときは、Pchトラ
ンジスタ310はON状態になるが、Pchトランジス
タ311、312はともにOFF状態になり、ディスチ
ャージ期間中に論理「L」レベルとなった中間ノード3
04の電位の、Pchトランジスタ310、311、3
12を介しての論理「H」レベルへの充電は行われず、
そのまま保持される。そのため、インバータ315を介
して出力端子303に出力される信号は、論理「H」レ
ベルとなる。
【0075】同じく評価期間中、入力端子300が論理
「L」レベルで、入力端子301が論理「H」レベルで
あるときは、Pchトランジスタ310、311はとも
にON状態になるが、Pchトランジスタ312はOF
F状態になるため、ディスチャージ期間中に論理「L」
レベルとなった中間ノード304の電位の、Pchトラ
ンジスタ310、311、312を介しての論理「H」
レベルへの充電は行われず、そのまま保持される。その
ため、インバータ315を介して出力端子303に出力
される信号は、論理「H」レベルとなる。
【0076】同じく評価期間中、入力端子300が論理
「H」レベルで、入力端子301が論理「L」レベルで
あるときは、Pchトランジスタ310、312はとも
にON状態になるが、Pchトランジスタ311はOF
F状態になるため、ディスチャージ期間中に論理「L」
レベルとなった中間ノード304の電位の、Pchトラ
ンジスタ310、311、312を介しての論理「H」
レベルへの充電は行われず、そのまま保持される。その
ため、インバータ315を介して出力端子303に出力
される信号は、論理「H」レベルとなる。
【0077】上記のように、図3のダイナミック回路
は、ディスチャージ期間に中間ノード304を論理
「L」レベルの電位に放電し、評価期間に入力端子30
0、301に対して論理和をとった論理を、出力端子3
03から出力する構成をとっている。
【0078】図3のようなシリアルタイプORゲートを
使用した場合、評価期間中、入力端子300、301が
両方とも論理「L」レベルになると、ディスチャージ期
間中に論理「L」レベルに放電された中間ノード304
は、論理「H」レベルに充電される。つまり、評価期間
中、入力端子300が論理「L」レベルかつ入力端子3
01が論理「H」レベルであるとき、また、入力端子3
00が論理「H」レベルかつ入力端子301が論理
「L」レベルであるとき、さらに入力端子300、30
1がともに論理「H」レベルであるときに、中間ノード
304の放電された論理「L」レベルの電位は変化せ
ず、入力端子300、301がともに論理「L」レベル
であるときにのみ、中間ノード304に充電された電荷
は論理「H」レベルになる。
【0079】本実施形態では、このようなORゲート以
外の論理ゲートも、第一の構成のようなパラレルタイプ
と、第二の構成のようなシリアルタイプの、同一論理を
実現する2種類の対となる回路をライブラリとして用意
する。
【0080】以下、本実施形態において、かかるライブ
ラリを用いた半導体装置の論理作成方法について、図4
を用いて説明する。図4は、本実施形態による半導体装
置の論理作成方法における処理手順を示すフローチャー
トである。
【0081】図4において、まず、選択した対となる2
つの回路を用いて作成した回路群に対して、例えばSP
ICEによる消費電力のシミュレーションを実行し(4
01)、回路の消費電力が閾値未満か否かを判定する
(402)。シミュレーションの結果で、作成した回路
群の消費電力が閾値未満であれば、第一の構成の回路を
使用する(403)。また、消費電力が閾値以上であれ
ば、第一の構成の回路より消費電力の少ない第二の構成
の回路を選択し、使用する(404)。また、第二の構
成の回路を使用する場合には、トランジスタの極性が第
一の構成の回路と反転していることから、クロックは、
第一の構成の回路を使用した場合と極性を反転させたク
ロックを使用する(405)。このようにして使用する
回路を決定する(406)ことで、回路群の消費電力を
低減することが可能となる。
【0082】以上のように、本実施形態によれば、ライ
ブラリとして第一、第二の構成の回路を用意し、例えば
SPICE等に代表される消費電力のシミュレーション
によって消費電力を調べ、対になっている第一の回路構
成と第二の回路構成のうち、消費電力が小さいほうを選
択し、使用することによって、第一の回路構成のみのラ
イブラリを用いて論理を作成する場合に比べて、消費電
力をより低減した論理を作成することができる。
【0083】なお、論理シミュレーションによる入力論
理を用いて、中間ノード704、304の遷移確率を調
べ、プリチャージ・ディスチャージによる中間ノード7
04、304の遷移確率のより小さい構成の回路を選択
することで代用しても、消費電力の低減を図ることが可
能である。
【0084】(第三の実施形態)第一の実施形態で、図
6のシリアルタイプANDゲートを使用する際に、評価
期間でかつ入力端子601が論理「L」レベルであり、
入力端子600が論理「L」レベルから論理「H」レベ
ルに変化し、Nchトランジスタ612がONしたとき
に、Nchトランジスタ612とNchトランジスタ6
13を接続している中間ノード605に、プリチャージ
期間中に中間ノード604に充電された論理「H」レベ
ルの電荷の再分配が発生することを説明した。
【0085】本発明の第三の実施形態では、かかるシリ
アルタイプのダイナミック回路において消費電力を低減
する方法について、図6に加えて、図5を参照しながら
説明する。図5は、本実施形態による半導体装置の論理
作成方法における処理手順を示すフローチャートであ
る。
【0086】図5において、まず、2つの入力端子60
0、601に入力される信号レベルの遷移確率を調べ
(501)、論理「H」レベルが入力される(Nchト
ランジスタがONする)確率がより低い信号線を、中間
ノード604から近いNchトランジスタ612のゲー
トに接続された入力端子600に接続し(502)、回
路を決定する(503)。これにより、中間ノード60
5への、中間ノード604の電荷再分配の回数を減らす
ことができる。その結果、キーパー回路用Pchトラン
ジスタ615を介して、中間ノード604へ充電される
電荷量を削減することができ、回路の消費電力を抑える
ことができる。
【0087】以上のように、本実施形態によれば、シリ
アルタイプのダイナミック回路を使用する場合におい
て、入力端子の信号レベルの遷移確率を調べ、接続され
たトランジスタがONする確率がより低い信号線を、プ
リチャージライン、またはディスチャージラインに近い
側の入力トランジスタに接続することによって、入力端
子に接続されたトランジスタ同士を接続する中間ノード
へのプリチャージ回数を減らすことができ、消費電力の
低減が可能となる。
【0088】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
中間ノードへの電荷再分配による、出力データに生じる
ノイズによって誤動作の問題が起こる場合に、第一、第
二の回路の構成から使用する回路を使い分けることによ
って、ライブラリが第一の回路のみで構成されていた場
合では回避することが困難であった、高速動作、省面積
優先である回路を使用しつつ、中間ノードへの電荷再分
配による、出力データに生じるノイズによる誤動作の問
題を回避することが可能になる。
【0089】また、消費電力のシミュレーションを実行
することにより、第一、第二の回路から消費電力が小さ
い方を選択することで、第一の回路の構成のみのライブ
ラリを用いて論理を作成する場合に比べて、より消費電
力を削減した論理を作成することが可能になる。
【0090】また、入力論理に応じてライブラリの第
一、第二の回路から、中間ノードにプリチャージ・ディ
スチャージの発生が起こりにくい方を選択し使用するこ
とによって、第一の構成の回路のみのライブラリを用い
て論理を作成する場合に比べて、より消費電力を削減し
た論理を作成することが可能になる。
【0091】さらに、入力信号の遷移確率を調べ、接続
されたトランジスタがONする確率がより低い入力信号
線を、プリチャージラインまたはディスチャージライン
に近い側のトランジスタの入力端子に接続することによ
って、入力端子に接続されたトランジスタ同士を接続す
る中間ノードへの充放電の回数を減らすことができ、消
費電力を低減することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第一の実施形態に係る半導体装置の
論理作成方法に使用されるライブラリに含まれる第二の
回路構成のパラレルタイプANDゲートの内部構成を示
す回路図
【図2】 本発明の第一の実施形態に係る半導体装置の
論理作成方法における処理手順を示すフローチャート
【図3】 本発明の第二の実施形態に係る半導体装置の
論理作成方法に使用されるライブラリに含まれる第二の
回路構成のシリアルタイプORゲートの内部構成を示す
回路図
【図4】 本発明の第二の実施形態に係る半導体装置の
論理作成方法における処理手順を示すフローチャート
【図5】 本発明の第三の実施形態に係る半導体装置の
論理作成方法における処理手順を示すフローチャート
【図6】 従来および本発明の第一の実施形態に係る半
導体装置の論理作成方法に使用されるライブラリに含ま
れる第一の回路構成のシリアルタイプANDゲートの内
部構成を示す回路図
【図7】 従来および本発明の第二の実施形態に係る半
導体装置の論理作成方法に使用されるライブラリに含ま
れる第一の回路構成のパラレルタイプORゲートの内部
構成を示す回路図
【符号の説明】
101、102、300、301、600、601、7
01、702 入力端子 100、302、602、700 クロック入力端子 103、303、603、703 出力端子 120、121、304、305、306、604、6
05、606、704、705 中間ノード 115、315、610、715 インバータ 110、111、112、310、311、312、6
11、615、710、714 Pchトランジスタ 113、114、313、314、612、613、6
14、711、712、713 Nchトランジスタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中村 一喜 大阪府門真市大字門真1006番地 松下シス テムテクノ株式会社内 Fターム(参考) 5F038 BH07 BH19 DF01 EZ10 EZ20 5F064 BB05 BB07 CC12 HH06 HH09 5J042 BA01 CA08 CA22 CA23 CA27 DA02

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第一の構成要素と第二の構成要素とを含
    むライブラリであって、 前記第一の構成要素は、第一のクロック入力端子が第一
    の電位にある場合にプリチャージノードの電位を第二の
    電位に設定し、前記第一のクロック入力端子が第三の電
    位にあり且つ複数の第一の入力端子の論理状態がある特
    定の論理状態にある場合に前記プリチャージノードの電
    位を第四の電位に設定する第一の半導体集積回路群から
    なり、 前記第二の構成要素は、前記第一の半導体集積回路群と
    は異なる構成を有し且つ同一の論理演算を実行する第二
    の半導体集積回路群からなり、 前記第二の半導体集積回路群は、第二のクロック入力端
    子が前記第三の電位にある場合にディスチャージノード
    の電位を前記第四の電位に設定し、前記第二のクロック
    入力端子が前記第一の電位にあり且つ複数の第二の入力
    端子の論理状態が前記ある特定の論理状態にある場合に
    前記ディスチャージノードの電位を前記第二の電位に設
    定することを特徴とするライブラリ。
  2. 【請求項2】 第一の構成要素と第二の構成要素とを含
    むライブラリを用いて設計された半導体集積回路装置で
    あって、 前記第一の構成要素は、第一のクロック入力端子が第一
    の電位にある場合にプリチャージノードの電位を第二の
    電位に設定し、前記第一のクロック入力端子が第三の電
    位にあり且つ複数の第一の入力端子の論理状態がある特
    定の論理状態にある場合に前記プリチャージノードの電
    位を第四の電位に設定する第一の半導体集積回路群から
    なり、 前記第二の構成要素は、前記第一の半導体集積回路群と
    は異なる構成を有し且つ同一の論理演算を実行する第二
    の半導体集積回路群からなり、 前記第二の半導体集積回路群は、第二のクロック入力端
    子が前記第三の電位にある場合にディスチャージノード
    の電位を前記第四の電位に設定し、前記第二のクロック
    入力端子が前記第一の電位にあり且つ複数の第二の入力
    端子の論理状態が前記ある特定の論理状態にある場合に
    前記ディスチャージノードの電位を前記第二の電位に設
    定することを特徴とする半導体集積回路装置。
  3. 【請求項3】 第一のクロック入力端子が第一の電位に
    ある場合にプリチャージノードの電位を第二の電位に設
    定し、前記第一のクロック入力端子が第三の電位にあり
    且つ複数の第一の入力端子の論理状態がある特定の論理
    状態にある場合に前記プリチャージノードの電位を第四
    の電位に設定する第一の半導体集積回路群からなる第一
    の構成要素と、 第二のクロック入力端子が前記第三の電位にある場合に
    ディスチャージノードの電位を前記第四の電位に設定
    し、前記第二のクロック入力端子が前記第一の電位にあ
    り且つ複数の第二の入力端子の論理状態が前記ある特定
    の論理状態にある場合に前記ディスチャージノードの電
    位を前記第二の電位に設定し、前記第一の半導体集積回
    路群とは異なる構成を有し且つ同一の論理演算を実行す
    る第二の半導体集積回路群からなる第二の構成要素とを
    含むライブラリを用いて半導体集積回路装置の論理を作
    成する方法であって、 対をなす前記第一の構成要素と前記第二の構成要素のう
    ち、前記プリチャージノードおよびディスチャージノー
    ドのうち意図しない電位レベルの変動が少ない方を選択
    し、論理を作成することを特徴とする半導体集積回路装
    置の論理作成方法。
  4. 【請求項4】 第一のクロック入力端子が第一の電位に
    ある場合にプリチャージノードの電位を第二の電位に設
    定し、前記第一のクロック入力端子が第三の電位にあり
    且つ複数の第一の入力端子の論理状態がある特定の論理
    状態にある場合に前記プリチャージノードの電位を第四
    の電位に設定する第一の半導体集積回路群からなる第一
    の構成要素と、 第二のクロック入力端子が前記第三の電位にある場合に
    ディスチャージノードの電位を前記第四の電位に設定
    し、前記第二のクロック入力端子が前記第一の電位にあ
    り且つ複数の第二の入力端子の論理状態が前記ある特定
    の論理状態にある場合に前記ディスチャージノードの電
    位を前記第二の電位に設定し、前記第一の半導体集積回
    路群とは異なる構成を有し且つ同一の論理演算を実行す
    る第二の半導体集積回路群からなる第二の構成要素とを
    含むライブラリを用いて半導体集積回路装置の論理を作
    成する方法であって、 前記ライブラリを用いて作成された半導体集積回路の消
    費電力を判定し、 対をなす前記第一の構成要素と前記第二の構成要素のう
    ち、消費電力の小さい方を選択し、論理を作成すること
    を特徴とする半導体集積回路装置の論理作成方法。
  5. 【請求項5】 第一のクロック入力端子が第一の電位に
    ある場合にプリチャージノードの電位を第二の電位に設
    定し、前記第一のクロック入力端子が第三の電位にあり
    且つ複数の第一の入力端子の論理状態がある特定の論理
    状態にある場合に前記プリチャージノードの電位を第四
    の電位に設定する第一の半導体集積回路群からなる第一
    の構成要素と、 第二のクロック入力端子が前記第三の電位にある場合に
    ディスチャージノードの電位を前記第四の電位に設定
    し、前記第二のクロック入力端子が前記第一の電位にあ
    り且つ複数の第二の入力端子の論理状態が前記ある特定
    の論理状態にある場合に前記ディスチャージノードの電
    位を前記第二の電位に設定し、前記第一の半導体集積回
    路群とは異なる構成を有し且つ同一の論理演算を実行す
    る第二の半導体集積回路群からなる第二の構成要素とを
    含むライブラリを用いて半導体集積回路装置の論理を作
    成する方法であって、 対をなす前記第一の構成要素と第二の構成要素のうち、
    前記プリチャージノードと前記ディスチャージノードの
    遷移確率が低い方を選択し、前記ライブラリの半導体集
    積回路を組み合わせて論理を作成することを特徴とする
    半導体集積回路装置の論理作成方法。
  6. 【請求項6】 クロック入力端子が第一の電位にある場
    合にプリチャージノードの電位を第二の電位に設定し、
    前記クロック入力端子が第三の電位にあり且つ複数の入
    力端子の電位がある特定の電位にある場合に前記プリチ
    ャージノードの電位を第四の電位に設定する半導体集積
    回路を構成要素として有する半導体集積回路装置の論理
    を作成する方法であって、 前記複数の入力端子に接続される半導体集積回路が、前
    記第四の電位と前記プリチャージノードとの間に直列接
    続されている場合、前記複数の入力端子のうち遷移確率
    がより高いものを前記プリチャージノードから遠い側に
    配置し、論理を作成することを特徴とする半導体集積回
    路装置の論理作成方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2022523942A (ja) * 2019-05-05 2022-04-27 長江存儲科技有限責任公司 正確なデューティサイクル制御を実装するダブルデータレート回路およびデータ生成方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2022523942A (ja) * 2019-05-05 2022-04-27 長江存儲科技有限責任公司 正確なデューティサイクル制御を実装するダブルデータレート回路およびデータ生成方法
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