JP2003282561A - Manufacturing method of device and manufacturing apparatus of device - Google Patents

Manufacturing method of device and manufacturing apparatus of device

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JP2003282561A
JP2003282561A JP2002087106A JP2002087106A JP2003282561A JP 2003282561 A JP2003282561 A JP 2003282561A JP 2002087106 A JP2002087106 A JP 2002087106A JP 2002087106 A JP2002087106 A JP 2002087106A JP 2003282561 A JP2003282561 A JP 2003282561A
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JP
Japan
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layer
insulating layer
ink
material layer
droplet discharge
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Application number
JP2002087106A
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Japanese (ja)
Inventor
Hironobu Hasei
宏宣 長谷井
Toshimitsu Hirai
利充 平井
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Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method of device and a manufacturing apparatus of the device for enabling the simplification of a manufacturing steps and the symplification of the constitution of the apparatus and for manufacturing the device at a low cost when forming a contact hole in a multi-layered wiring device. <P>SOLUTION: When laminating a plurality of material layers by discharging ink from a droplet discharge head to a substrate P, a non-discharging region H is preset on a drain electrode 544, ink is discharged on a part other than non-discharging region of the drain electrode 544, and a second interlayer insulating layer 584 is formed on the drain electrode 544 and a first interlayer insulating layer 583. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、基板上に積層され
る材料層を有するデバイスの製造方法及びデバイス製造
装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a device manufacturing method and device manufacturing apparatus having a material layer laminated on a substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、半導体集積回路など微細な配
線パターンを有するデバイスの製造方法としてフォトリ
ソグラフィー法が多用されているが、特開平11−27
4671号公報、特開2000−216330号公報な
どに開示されているように、液滴吐出方式を用いたデバ
イスの製造方法が注目されている。上記公報に開示され
ている技術は、パターン形成面にパターン形成用材料を
含んだ流動体を液滴吐出ヘッドから吐出することによっ
て基板上に材料層を積層し、多層配線デバイスを形成す
るものであり、少量多種生産に対応可能である点などに
おいて大変有効である。
2. Description of the Related Art Conventionally, a photolithography method has been widely used as a method for manufacturing a device having a fine wiring pattern such as a semiconductor integrated circuit.
As disclosed in Japanese Patent No. 4671, Japanese Patent Laid-Open No. 2000-216330, and the like, attention is focused on a device manufacturing method using a droplet discharge method. The technique disclosed in the above publication forms a multilayer wiring device by stacking material layers on a substrate by discharging a fluid containing a pattern forming material from a droplet discharge head onto a pattern forming surface. Yes, it is very effective in that it can be used for small-lot production.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところで、多層配線デ
バイスは配線パターン(導電層)と絶縁層とを積層した
ものであるが、異なる導電層どうしを電気的に接続する
ために、絶縁層にはいわゆるコンタクトホールが形成さ
れる。そして、このコンタクトホールに導電性材料を充
填することにより、異なる導電層どうしが電気的に接続
される。
By the way, a multilayer wiring device is a stack of a wiring pattern (conductive layer) and an insulating layer. However, in order to electrically connect different conductive layers, the insulating layer is not provided. A so-called contact hole is formed. By filling the contact hole with a conductive material, different conductive layers are electrically connected to each other.

【0004】ここで、従来においてコンタクトホールを
形成するには、フォトリソグラフィー法に基づき、形成
された絶縁層に対してパターニングすることによりコン
タクトホールを形成していた。この場合、コンタクトホ
ールを形成するための工程を設けなければならないため
スループットが低下するとともに、装置構成も大掛かり
となり、コスト上昇を招く。
Here, conventionally, in order to form a contact hole, the contact hole was formed by patterning the formed insulating layer based on a photolithography method. In this case, since the process for forming the contact hole has to be provided, the throughput is lowered, and the device configuration becomes large-scaled, resulting in an increase in cost.

【0005】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
もので、多層配線デバイスにおいてコンタクトホールを
形成する際、製造工程の簡略化や装置構成の簡易化を実
現し、低コストでデバイスを製造できるデバイスの製造
方法及びデバイス製造装置を提供することを目的とす
る。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and when a contact hole is formed in a multilayer wiring device, the manufacturing process and the device configuration are simplified, and the device is manufactured at low cost. An object of the present invention is to provide a device manufacturing method and a device manufacturing apparatus capable of manufacturing the device.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、本発明のデバイスの製造方法は、基板に対して流動
体を定量的に滴下可能な滴下装置から流動体を滴下して
前記基板上に複数の材料層を積層する工程を有するデバ
イスの製造方法において、前記基板上に形成された第1
の材料層上面に非滴下領域を予め設定しておき、前記第
1の材料層のうち前記非滴下領域以外の部分に流動体を
滴下し、前記第1の材料層上層に第2の材料層を形成す
ることを特徴とする。
In order to solve the above-mentioned problems, a method of manufacturing a device according to the present invention is characterized in that the fluid is dropped onto a substrate from a dropping device capable of quantitatively dropping the fluid onto the substrate. In a method for manufacturing a device, which has a step of stacking a plurality of material layers on top, a first device formed on the substrate
A non-dripping region is set in advance on the upper surface of the material layer, and the fluid is dripped on a portion of the first material layer other than the non-dripping region, and the second material layer is formed on the upper layer of the first material layer. Is formed.

【0007】本発明によれば、第1の材料層の上層に第
2の材料層を積層する際、コンタクトホールを形成すべ
き位置を非滴下領域とし、この部分に流動体を滴下しな
いようにするだけで、製造工程を増やすことなくコンタ
クトホールを容易に形成できる。
According to the present invention, when the second material layer is laminated on the first material layer, the position where the contact hole is to be formed is the non-dripping area, and the fluid is not dropped on this portion. Only by doing so, the contact hole can be easily formed without increasing the manufacturing process.

【0008】この場合において、前記滴下装置は液滴吐
出ヘッド(液滴吐出装置)であることを含む。液滴吐出
ヘッドは、液滴吐出法により流動体を定量的に吐出可能
であり、例えば1〜300ナノグラムの流動体(液体材
料)を定量的に断続して滴下可能な装置である。
In this case, the dropping device includes a droplet discharging head (droplet discharging device). The droplet discharge head is a device capable of quantitatively discharging a fluid by a droplet discharge method, and for example, capable of quantitatively intermittently dropping a fluid (liquid material) of 1 to 300 nanograms.

【0009】材料層の積層方法として液滴吐出方式を採
用することにより、安価な設備で第1の材料層の上面の
任意の位置に任意の厚さで流動体を付着させることがで
きる。
By adopting the droplet discharge method as the method of stacking the material layers, it is possible to attach the fluid at an arbitrary position on the upper surface of the first material layer with an arbitrary thickness using inexpensive equipment.

【0010】液滴吐出方式としては、圧電体素子の体積
変化により流動体を吐出させるピエゾジェット方式であ
っても、熱の印加により急激に蒸気が発生することによ
り流動体を吐出させる方式であってもよい。
As the droplet discharging method, even a piezo jet method in which a fluid is discharged by a change in volume of a piezoelectric element is a method in which a fluid is discharged by rapidly generating steam due to application of heat. May be.

【0011】流動体とは、液滴吐出ヘッドのノズルから
吐出可能(滴下可能)な粘度を備えた媒体をいう。水性
であると油性であるとを問わない。ノズル等から吐出可
能な流動性(粘度)を備えていれば十分で、固体物質が
混入していても全体として流動体であればよい。また、
流動体に含まれる材料は融点以上に加熱されて溶解され
たものでも、溶媒中に微粒子として攪拌されたものでも
よく、溶媒の他に染料や顔料その他の機能性材料を添加
したものであってもよい。また、配線パターン(電気回
路)とは回路素子間の電気的な協働関係により成り立つ
部材であって、特定の電気的特徴や一定の電気的特性を
有するものである。また基板はフラット基板を指す他、
曲面状の基板であってもよい。さらにパターン形成面の
硬度が硬い必要はなく、ガラスやプラスチック、金属以
外に、フィルム、紙、ゴム等可撓性を有するものの表面
であってもよい。
The fluid is a medium having a viscosity capable of being discharged (dripping) from the nozzle of the droplet discharging head. It does not matter whether it is aqueous or oily. It is sufficient if it has fluidity (viscosity) capable of being ejected from a nozzle or the like, and even if a solid substance is mixed, it may be a fluid as a whole. Also,
The material contained in the fluid may be one that is heated to a temperature equal to or higher than the melting point and dissolved, or one that is stirred as fine particles in a solvent, in which a dye, a pigment or other functional material is added in addition to the solvent. Good. Further, the wiring pattern (electrical circuit) is a member that is formed by an electrical cooperative relationship between circuit elements, and has specific electrical characteristics and constant electrical characteristics. Also, the substrate refers to a flat substrate,
It may be a curved substrate. Furthermore, the hardness of the pattern forming surface does not need to be hard, and may be the surface of a flexible material such as film, paper, or rubber in addition to glass, plastic, and metal.

【0012】この場合において、前記第1の材料層は導
電性材料層であり、前記第2の材料層は絶縁性材料層で
あり、前記第2の材料層を形成後、前記非滴下領域に導
電性材料を充填することにより、第2の材料層は、多層
配線パターンの層間絶縁層としての機能を有し、非滴下
領域に相当するコンタクトホールに導電性材料を充填す
ることにより、異なる導電性材料層どうしを電気的に接
続でき、所望の性能を有する多層配線デバイスを製造で
きる。
In this case, the first material layer is a conductive material layer, the second material layer is an insulating material layer, and after the second material layer is formed, the non-dripping area is formed. By filling the conductive material, the second material layer has a function as an interlayer insulating layer of the multilayer wiring pattern, and by filling the contact hole corresponding to the non-dripping region with the conductive material, different conductivity can be obtained. The conductive material layers can be electrically connected to each other, and a multilayer wiring device having desired performance can be manufactured.

【0013】この場合において、前記第2の材料層を形
成するための滴下動作をする前に、前記非滴下領域を含
む前記第1の材料層に対して、該第1の材料層及び該非
滴下領域に対する前記流動体の親和性を制御する表面処
理を行うことにより、例えば非滴下領域に相当するコン
タクトホールに対して導電性材料を密着させることがで
きるようになったり、あるいは第1の材料層全面に対し
て表面処理することによって第2の材料層を平滑に形成
できるようになる。
In this case, before the dropping operation for forming the second material layer, the first material layer and the non-dripping layer are applied to the first material layer including the non-dripping region. By performing a surface treatment for controlling the affinity of the fluid for the region, for example, the conductive material can be brought into close contact with the contact hole corresponding to the non-dripping region, or the first material layer By surface-treating the entire surface, the second material layer can be formed smoothly.

【0014】ここで、表面処理とは、第1の材料層及び
非滴下領域に対する撥液処理(撥インク処理)あるいは
親液処理(親インク処理)であって、プラズマ、UV処
理、カップリング等の表面処理を指す。親インク処理と
は処理面に対するインクの密着性を高める処理であり、
一方、撥インク処理とは処理面に対するインクの密着性
を低める処理である。また、親和性とは、流動体に対す
る接触角が相対的に小さいことをいう。一方、非親和性
とは、流動体に対する接触角が相対的に大きいことをい
う。
Here, the surface treatment is a liquid repellent treatment (ink repellent treatment) or a lyophilic treatment (ink repellent treatment) for the first material layer and the non-dripping region, and is plasma, UV treatment, coupling or the like. Of surface treatment. The lyophilic process is a process that increases the adhesion of the ink to the treated surface.
On the other hand, the ink repellent treatment is a treatment for reducing the adhesion of the ink to the treated surface. Further, the affinity means that the contact angle with respect to the fluid is relatively small. On the other hand, the non-affinity means that the contact angle with respect to the fluid is relatively large.

【0015】本発明のデバイス製造装置は、基板に対し
て流動体を定量的に滴下可能な滴下装置を備えるデバイ
ス製造装置において、前記基板上に予め形成されている
第1の材料層上面に非滴下領域を設定し、前記第1の材
料層のうち前記非滴下領域以外の部分に前記流動体を滴
下するように前記滴下装置の滴下動作を制御する制御装
置を備えることを特徴とする。
The device manufacturing apparatus of the present invention is a device manufacturing apparatus equipped with a dropping device capable of quantitatively dropping a fluid onto a substrate, wherein the first material layer formed on the substrate in advance has a non-coated surface. It is characterized by comprising a control device that sets a dropping region and controls the dropping operation of the dropping device so as to drop the fluid on a portion of the first material layer other than the non-dripping region.

【0016】本発明によれば、第1の材料層の上面に流
動体を滴下する際、コンタクトホールを形成すべき位置
を非滴下領域とし、この部分に流動体を滴下しないよう
にするだけで、製造工程を増やすことなくコンタクトホ
ールを容易に形成できる。
According to the present invention, when the fluid is dropped on the upper surface of the first material layer, the position where the contact hole is to be formed is a non-dripping region, and the fluid is not dropped on this portion. The contact hole can be easily formed without increasing the manufacturing process.

【0017】この場合において、滴下装置は液滴吐出ヘ
ッドを含み、材料層の積層方法として液滴吐出方式を採
用することにより、安価な設備で第1の材料層上面の任
意の位置に任意の厚さで流動体を付着させることができ
る。
In this case, the dropping device includes a droplet discharging head, and by adopting the droplet discharging method as a method for laminating the material layers, it is possible to use an inexpensive facility and to place it at an arbitrary position on the upper surface of the first material layer. The thickness of the fluid can be applied.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】以下、本発明のデバイス製造装置
及びデバイス製造方法について説明する。図1は本発明
のデバイス製造装置の一実施形態を示す概略斜視図であ
る。本発明のデバイス製造装置は、液滴吐出ヘッドから
基板に対して液滴を吐出(滴下)することによりデバイ
スを製造する液滴吐出装置である。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The device manufacturing apparatus and device manufacturing method of the present invention will be described below. FIG. 1 is a schematic perspective view showing an embodiment of the device manufacturing apparatus of the present invention. The device manufacturing apparatus of the present invention is a droplet discharging apparatus that manufactures a device by discharging (dropping) droplets from a droplet discharging head onto a substrate.

【0019】図1において、デバイス製造装置(液滴吐
出装置)IJは、ベース12と、ベース12上に設けら
れ、基板Pを支持するステージSTと、ベース12とス
テージSTとの間に介在し、ステージSTを移動可能に
支持する第1移動装置(移動装置)14と、ステージS
Tに支持されている基板Pに対して所定の材料を含むイ
ンク(流動体)を吐出(滴下)可能な液滴吐出ヘッド2
0と、液滴吐出ヘッド20を移動可能に支持する第2移
動装置16と、液滴吐出ヘッド20のインクの吐出動作
を制御する制御装置CONTとを備えている。更に、デ
バイス製造装置IJは、ベース12上に設けられている
重量測定装置としての電子天秤(不図示)と、キャッピ
ングユニット22と、クリーニングユニット24とを有
している。また、第1移動装置14及び第2移動装置1
6を含むデバイス製造装置IJの動作は、制御装置CO
NTによって制御される。
In FIG. 1, a device manufacturing apparatus (droplet discharging apparatus) IJ is provided between a base 12, a stage ST provided on the base 12 and supporting a substrate P, and interposed between the base 12 and the stage ST. , A first moving device (moving device) 14 that movably supports the stage ST, and a stage S.
A droplet discharge head 2 capable of discharging (dripping) ink (fluid) containing a predetermined material onto a substrate P supported by T.
0, a second moving device 16 that movably supports the droplet discharge head 20, and a control device CONT that controls the ink discharge operation of the droplet discharge head 20. Further, the device manufacturing apparatus IJ has an electronic balance (not shown) as a weight measuring device provided on the base 12, a capping unit 22, and a cleaning unit 24. In addition, the first moving device 14 and the second moving device 1
The operation of the device manufacturing apparatus IJ including
Controlled by NT.

【0020】ここで、デバイス製造装置全体(デバイス
製造システム)としては、図1に示すような液滴吐出装
置IJを複数基備えており、各液滴吐出装置からはそれ
ぞれ異なる材料を含むインク(流動体)が吐出されるよ
うになっている。そして、基板Pに対してこれら複数基
の液滴吐出装置のうち、第1の液滴吐出装置から第1の
材料を含むインクを吐出した後これを焼成又は乾燥し、
次いで第2の液滴吐出装置から第2の材料を含むインク
を第1の材料層に対して吐出した後これを焼成又は乾燥
し、以下、複数の液滴吐出装置を用いて同様の処理を行
うことにより、基板P上に複数の材料層が積層され、多
層配線パターンが形成されるようになっている。なお、
上述した構成では、1つの液滴吐出装置から1つの材料
が吐出されるが、1つの液滴吐出装置に液滴吐出ヘッド
を複数設け、それぞれの液滴吐出ヘッドから異種又は同
種の流動体を吐出する構成とすることももちろん可能で
ある。
Here, the entire device manufacturing apparatus (device manufacturing system) is provided with a plurality of droplet discharge devices IJ as shown in FIG. 1, and inks containing different materials from each droplet discharge device ( Fluid) is discharged. Then, of the plurality of droplet discharge devices of the plurality of groups, the first droplet discharge device discharges the ink containing the first material and then bake or dry the ink.
Next, the ink containing the second material is ejected from the second droplet ejecting device to the first material layer, and then the ink is baked or dried, and the same process is performed using a plurality of droplet ejecting devices. By doing so, a plurality of material layers are laminated on the substrate P to form a multilayer wiring pattern. In addition,
In the above-described configuration, one material is ejected from one droplet ejecting device, but one droplet ejecting device is provided with a plurality of droplet ejecting heads, and different or the same kind of fluid is supplied from each droplet ejecting head. Of course, it is also possible to adopt a structure for discharging.

【0021】第1移動装置14はベース12の上に設置
されており、Y方向に沿って位置決めされている。第2
移動装置16は、支柱16A,16Aを用いてベース1
2に対して立てて取り付けられており、ベース12の後
部12Aにおいて取り付けられている。第2移動装置1
6のX方向(第2の方向)は、第1移動装置14のY方
向(第1の方向)と直交する方向である。ここで、Y方
向はベース12の前部12Bと後部12A方向に沿った
方向である。これに対してX方向はベース12の左右方
向に沿った方向であり、各々水平である。また、Z方向
はX方向及びY方向に垂直な方向である。
The first moving device 14 is installed on the base 12 and is positioned along the Y direction. Second
The moving device 16 uses the columns 16A and 16A to form the base 1
It is attached upright with respect to 2, and is attached at the rear portion 12A of the base 12. Second moving device 1
The X direction (second direction) 6 is a direction orthogonal to the Y direction (first direction) of the first moving device 14. Here, the Y direction is a direction along the front portion 12B and the rear portion 12A of the base 12. On the other hand, the X direction is a direction along the left-right direction of the base 12 and is horizontal. Further, the Z direction is a direction perpendicular to the X direction and the Y direction.

【0022】第1移動装置14は、例えばリニアモータ
によって構成され、ガイドレール40、40と、このガ
イドレール40に沿って移動可能に設けられているスラ
イダー42とを備えている。このリニアモータ形式の第
1移動装置14のスライダー42は、ガイドレール40
に沿ってY方向に移動して位置決め可能である。
The first moving device 14 is composed of, for example, a linear motor, and is provided with guide rails 40, 40, and a slider 42 movably provided along the guide rail 40. The slider 42 of the first moving device 14 of the linear motor type is the guide rail 40.
Can be positioned by moving in the Y direction.

【0023】また、スライダー42はZ軸回り(θZ)
用のモータ44を備えている。このモータ44は、例え
ばダイレクトドライブモータであり、モータ44のロー
タはステージSTに固定されている。これにより、モー
タ44に通電することでロータとステージSTとは、θ
Z方向に沿って回転してステージSTをインデックス
(回転割り出し)することができる。すなわち、第1移
動装置14は、ステージSTをY方向(第1の方向)及
びθZ方向に移動可能である。
Further, the slider 42 rotates around the Z axis (θZ).
The motor 44 is provided. The motor 44 is, for example, a direct drive motor, and the rotor of the motor 44 is fixed to the stage ST. As a result, by energizing the motor 44, the rotor and the stage ST are separated by θ.
The stage ST can be indexed (rotational index) by rotating along the Z direction. That is, the first moving device 14 can move the stage ST in the Y direction (first direction) and the θZ direction.

【0024】ステージSTは基板Pを保持し、所定の位
置に位置決めするものである。また、ステージSTは吸
着保持装置50を有しており、吸着保持装置50が作動
することにより、ステージSTの穴46Aを通して基板
PをステージSTの上に吸着して保持する。
The stage ST holds the substrate P and positions it at a predetermined position. Further, the stage ST has a suction holding device 50, and when the suction holding device 50 operates, the substrate P is sucked and held on the stage ST through the hole 46A of the stage ST.

【0025】第2移動装置16はリニアモータによって
構成され、支柱16A,16Aに固定されたコラム16
Bと、このコラム16Bに支持されているガイドレール
62Aと、ガイドレール62Aに沿ってX方向に移動可
能に支持されているスライダー60とを備えている。ス
ライダー60はガイドレール62Aに沿ってX方向に移
動して位置決め可能であり、液滴吐出ヘッド20はスラ
イダー60に取り付けられている。
The second moving device 16 is composed of a linear motor, and is a column 16 fixed to the columns 16A and 16A.
B, a guide rail 62A supported by the column 16B, and a slider 60 movably supported in the X direction along the guide rail 62A. The slider 60 can be positioned along the guide rail 62A by moving in the X direction, and the droplet discharge head 20 is attached to the slider 60.

【0026】液滴吐出ヘッド20は、揺動位置決め装置
としてのモータ62,64,66,68を有している。
モータ62を作動すれば、液滴吐出ヘッド20は、Z軸
に沿って上下動して位置決め可能である。このZ軸はX
軸とY軸に対して各々直交する方向(上下方向)であ
る。モータ64を作動すると、液滴吐出ヘッド20は、
Y軸回りのβ方向に沿って揺動して位置決め可能であ
る。モータ66を作動すると、液滴吐出ヘッド20は、
X軸回りのγ方向に揺動して位置決め可能である。モー
タ68を作動すると、液滴吐出ヘッド20は、Z軸回り
のα方向に揺動して位置決め可能である。すなわち、第
2移動装置16は、液滴吐出ヘッド20をX方向(第1
の方向)及びZ方向に移動可能に支持するとともに、こ
の液滴吐出ヘッド20をθX方向、θY方向、θZ方向
に移動可能に支持する。
The droplet discharge head 20 has motors 62, 64, 66 and 68 as swing positioning devices.
When the motor 62 is operated, the droplet discharge head 20 can be vertically moved and positioned along the Z axis. This Z axis is X
It is a direction (vertical direction) orthogonal to each of the axis and the Y axis. When the motor 64 is operated, the droplet discharge head 20
Positioning is possible by swinging along the β direction around the Y axis. When the motor 66 is operated, the droplet discharge head 20
Positioning is possible by swinging in the γ direction around the X axis. When the motor 68 is operated, the droplet discharge head 20 can be positioned by swinging in the α direction around the Z axis. That is, the second moving device 16 moves the droplet discharge head 20 in the X direction (first
Direction) and the Z direction, and the droplet discharge head 20 is supported so as to be movable in the θX direction, the θY direction, and the θZ direction.

【0027】このように、図1の液滴吐出ヘッド20
は、スライダー60において、Z軸方向に直線移動して
位置決め可能で、α、β、γに沿って揺動して位置決め
可能であり、液滴吐出ヘッド20のインク吐出面20P
は、ステージST側の基板Pに対して正確に位置あるい
は姿勢をコントロールすることができる。なお、液滴吐
出ヘッド20のインク吐出面20Pにはインクを吐出す
る複数のノズルが設けられている。
As described above, the droplet discharge head 20 of FIG.
Can be linearly moved in the Z-axis direction to be positioned on the slider 60, and can be positioned by being swung along α, β and γ, and the ink ejection surface 20P of the droplet ejection head 20 can be positioned.
Can accurately control the position or orientation of the substrate P on the stage ST side. A plurality of nozzles for ejecting ink are provided on the ink ejection surface 20P of the droplet ejection head 20.

【0028】図2は液滴吐出ヘッド20を示す分解斜視
図である。図2に示すように、液滴吐出ヘッド20は、
ノズル211が設けられたノズルプレート210及び振
動板230が設けられた圧力室基板220を、筐体25
0に嵌め込んで構成されている。この液滴吐出ヘッド2
0の主要部構造は、図3の斜視図一部断面図に示すよう
に、圧力室基板220をノズルプレート210と振動板
230で挟み込んだ構造を備える。ノズルプレート21
0は、圧力室基板220と貼り合わせられたときにキャ
ビティ(圧力室)221に対応することとなる位置にノ
ズル211が形成されている。圧力室基板220には、
シリコン単結晶基板等をエッチングすることにより、各
々が圧力室として機能可能にキャビティ221が複数設
けられている。キャビティ221間は側壁(隔壁)22
2で分離されている。各キャビティ221は供給口22
4を介して共通の流路であるリザーバ223に繋がって
いる。振動板230は、例えば熱酸化膜等により構成さ
れる。振動板230にはインクタンク口231が設けら
れ、不図示のタンク(流動体収容部)からパイプ(流
路)を通して任意の流動体を供給可能に構成されてい
る。振動板230上のキャビティ221に相当する位置
には、圧電体素子240が形成されている。圧電体素子
240は、PZT素子等の圧電性セラミックスの結晶を
上部電極および下部電極(図示せず)で挟んだ構造を備
える。圧電体素子240は、制御装置CONTから供給
される吐出信号に対応して体積変化を生ずることが可能
に構成されている。
FIG. 2 is an exploded perspective view showing the droplet discharge head 20. As shown in FIG. 2, the droplet discharge head 20 is
The nozzle plate 210 provided with the nozzles 211 and the pressure chamber substrate 220 provided with the vibration plate 230 are attached to the housing 25.
It is configured to fit in 0. This droplet discharge head 2
The main part structure of No. 0 has a structure in which the pressure chamber substrate 220 is sandwiched between the nozzle plate 210 and the vibration plate 230, as shown in the partial perspective view of the perspective view of FIG. Nozzle plate 21
No. 0 has a nozzle 211 formed at a position corresponding to the cavity (pressure chamber) 221 when bonded to the pressure chamber substrate 220. The pressure chamber substrate 220 includes
A plurality of cavities 221 are provided so that each can function as a pressure chamber by etching a silicon single crystal substrate or the like. Side walls (partition walls) 22 between the cavities 221
Separated by 2. Each cavity 221 has a supply port 22
It is connected to the reservoir 223, which is a common flow path, via No. 4. The diaphragm 230 is made of, for example, a thermal oxide film. The vibrating plate 230 is provided with an ink tank port 231 so that an arbitrary fluid can be supplied from a tank (fluid storage portion) (not shown) through a pipe (flow path). A piezoelectric element 240 is formed on the vibrating plate 230 at a position corresponding to the cavity 221. The piezoelectric element 240 has a structure in which a crystal of piezoelectric ceramics such as a PZT element is sandwiched between an upper electrode and a lower electrode (not shown). The piezoelectric element 240 is configured to be capable of causing a volume change in response to an ejection signal supplied from the control device CONT.

【0029】液滴吐出ヘッド20からインク(流動体)
を吐出するには、まず、制御装置CONTが流動体を吐
出させるための吐出信号を液滴吐出ヘッド20に供給す
る。流動体は液滴吐出ヘッド20のキャビティ221に
流入しており、吐出信号が供給された液滴吐出ヘッド2
0では、その圧電体素子240がその上部電極と下部電
極との間に加えられた電圧により体積変化を生ずる。こ
の体積変化は振動板230を変形させ、キャビティ22
1の体積を変化させる。この結果、そのキャビティ22
1のノズル穴211から流動体の液滴が吐出される。流
動体が吐出されたキャビティ221には吐出によって減
った流動体が新たにタンクから供給される。
Ink (fluid) from the droplet discharge head 20
In order to eject, the control device CONT first supplies an ejection signal for ejecting the fluid to the droplet ejection head 20. The fluid has flown into the cavity 221 of the droplet discharge head 20 and is supplied with the discharge signal.
At 0, the piezoelectric element 240 causes a volume change due to the voltage applied between the upper electrode and the lower electrode. This volume change deforms the vibration plate 230 and causes the cavity 22
Change the volume of 1. As a result, the cavity 22
A droplet of the fluid is ejected from the first nozzle hole 211. The fluid discharged from the tank is newly supplied to the cavity 221 from which the fluid has been discharged.

【0030】なお、上記液滴吐出ヘッドは圧電体素子に
体積変化を生じさせて流動体を吐出させる構成であった
が、発熱体により流動体に熱を加えその膨張によって液
滴を吐出させるようなヘッド構成であってもよい。
Although the droplet discharge head has a structure in which the piezoelectric element is caused to change its volume to discharge the fluid, heat is applied to the fluid by the heating element so that the droplet is discharged by its expansion. It may have a different head configuration.

【0031】電子天秤(不図示)は、液滴吐出ヘッド2
0のノズルから吐出された液滴の一滴の重量を測定して
管理するために、例えば、液滴吐出ヘッド20のノズル
から、5000滴分の液滴を受ける。電子天秤は、この
5000滴の液滴の重量を5000の数字で割ることに
より、一滴の液滴の重量を正確に測定することができ
る。この液滴の測定量に基づいて、液滴吐出ヘッド20
から吐出する液滴の量を最適にコントロールすることが
できる。
The electronic balance (not shown) includes a droplet discharge head 2
In order to measure and manage the weight of one droplet discharged from the 0 nozzle, for example, 5000 droplets are received from the nozzle of the droplet discharge head 20. The electronic balance can accurately measure the weight of one drop by dividing the weight of the 5000 drops by the number 5000. Based on the measured amount of this droplet, the droplet discharge head 20
It is possible to optimally control the amount of droplets discharged from the.

【0032】クリーニングユニット24は、液滴吐出ヘ
ッド20のノズル等のクリーニングをデバイス製造工程
中や待機時に定期的にあるいは随時に行うことができ
る。キャッピングユニット22は、液滴吐出ヘッド20
のインク吐出面20Pが乾燥しないようにするために、
デバイスを製造しない待機時にこのインク吐出面20P
にキャップをかぶせるものである。
The cleaning unit 24 can clean the nozzles of the droplet discharge head 20 or the like periodically or at any time during the device manufacturing process or during standby. The capping unit 22 is used for the droplet discharge head 20.
In order to prevent the ink ejection surface 20P of
This ink ejection surface 20P during standby without manufacturing a device
It is a thing to put a cap on.

【0033】液滴吐出ヘッド20が第2移動装置16に
よりX方向に移動することで、液滴吐出ヘッド20を電
子天秤、クリーニングユニット24あるいはキャッピン
グユニット22の上部に選択的に位置決めさせることが
できる。つまり、デバイス製造作業の途中であっても、
液滴吐出ヘッド20をたとえば電子天秤側に移動すれ
ば、液滴の重量を測定できる。また液滴吐出ヘッド20
をクリーニングユニット24上に移動すれば、液滴吐出
ヘッド20のクリーニングを行うことができる。液滴吐
出ヘッド20をキャッピングユニット22の上に移動す
れば、液滴吐出ヘッド20のインク吐出面20Pにキャ
ップを取り付けて乾燥を防止する。
By moving the droplet discharge head 20 in the X direction by the second moving device 16, the droplet discharge head 20 can be selectively positioned above the electronic balance, cleaning unit 24 or capping unit 22. . In other words, even during the device manufacturing work,
By moving the droplet discharge head 20 to the electronic balance side, for example, the weight of the droplet can be measured. In addition, the droplet discharge head 20
Can be moved onto the cleaning unit 24 to clean the droplet discharge head 20. When the droplet discharge head 20 is moved onto the capping unit 22, a cap is attached to the ink discharge surface 20P of the droplet discharge head 20 to prevent drying.

【0034】つまり、これら電子天秤、クリーニングユ
ニット24、およびキャッピングユニット22は、ベー
ス12上の後端側で、液滴吐出ヘッド20の移動経路直
下に、ステージSTと離間して配置されている。ステー
ジSTに対する基板Pの給材作業及び排材作業はベース
12の前端側で行われるため、これら電子天秤、クリー
ニングユニット24あるいはキャッピングユニット22
により作業に支障を来すことはない。
That is, the electronic balance, the cleaning unit 24, and the capping unit 22 are arranged on the rear end side of the base 12 and directly below the moving path of the droplet discharge head 20 and apart from the stage ST. Since the work of supplying the substrate P to the stage ST and the work of discharging the substrate P are performed on the front end side of the base 12, these electronic balance, cleaning unit 24 or capping unit 22 are used.
Will not hinder the work.

【0035】基板Pは、上面に配線パターン(電気回
路)が形成されるパターン形成領域を有している。そし
て、配線パターンを形成するために、基板Pのパターン
形成領域に対して液滴吐出ヘッド20からインク(流動
体)が吐出される。
The substrate P has a pattern forming region on the upper surface of which a wiring pattern (electrical circuit) is formed. Then, in order to form a wiring pattern, ink (fluid) is ejected from the droplet ejection head 20 onto the pattern formation region of the substrate P.

【0036】次に、上述した構成を有するデバイス製造
装置IJを用いて、基板Pに対して液滴吐出ヘッド20
からインクを吐出して基板P上に複数の材料層を積層す
ることにより、基板Pに積層配線パターンを形成する方
法について説明する。以下の説明では、一例として、有
機EL(エレクトロルミネッセンス)表示デバイス及び
これを駆動するTFT(薄膜トランジスタ)を製造する
手順を示す。
Next, by using the device manufacturing apparatus IJ having the above-mentioned configuration, the droplet discharge head 20 is applied to the substrate P.
A method of forming a laminated wiring pattern on the substrate P by ejecting ink from the above to laminate a plurality of material layers on the substrate P will be described. In the following description, as an example, a procedure for manufacturing an organic EL (electroluminescence) display device and a TFT (thin film transistor) that drives the organic EL (electroluminescence) display device will be described.

【0037】EL表示デバイスは、蛍光性の無機および
有機化合物を含む薄膜を、陰極と陽極とで挟んだ構成を
有し、前記薄膜に電子および正孔(ホール)を注入して
再結合させることにより励起子(エキシトン)を生成さ
せ、このエキシトンが失活する際の光の放出(蛍光・燐
光)を利用して発光させる素子である。
The EL display device has a structure in which a thin film containing a fluorescent inorganic and organic compound is sandwiched between a cathode and an anode, and electrons and holes are injected into the thin film to recombine. Is an element that emits light by utilizing the emission of light (fluorescence / phosphorescence) when the excitons are generated by the generation of excitons.

【0038】ここで、上述したように、デバイス製造シ
ステムとしては、図1に示すような液滴吐出装置IJを
複数基備えており、各液滴吐出装置からはそれぞれ異な
る材料を含むインク(流動体)が吐出されるようになっ
ている。インクは、材料を微粒子状にし溶媒及びバイン
ダーを用いてペースト化したものであって、液滴吐出ヘ
ッド20が吐出可能な粘度(例えば50cps以下)に
設定されている。そして、基板Pに対してこれら複数基
の液滴吐出装置のうち、第1の液滴吐出装置から第1の
材料を含むインクを吐出した後これを焼成又は乾燥し、
次いで第2の液滴吐出装置から第2の材料を含むインク
を第1の材料層に対して吐出した後これを焼成又は乾燥
し、以下、複数の液滴吐出装置を用いて同様の処理を行
うことにより、基板P上に複数の材料層が積層され、多
層配線パターンが形成されるようになっている。
Here, as described above, the device manufacturing system is provided with a plurality of droplet discharge devices IJ as shown in FIG. 1, and each of the droplet discharge devices includes an ink (fluid) containing a different material. Body) is to be ejected. The ink is a material made into fine particles and made into a paste using a solvent and a binder, and is set to have a viscosity (for example, 50 cps or less) that can be discharged by the droplet discharge head 20. Then, of the plurality of droplet discharge devices of the plurality of groups, the first droplet discharge device discharges the ink containing the first material and then bake or dry the ink.
Next, the ink containing the second material is ejected from the second droplet ejecting device to the first material layer, and then the ink is baked or dried, and the same process is performed using a plurality of droplet ejecting devices. By doing so, a plurality of material layers are laminated on the substrate P to form a multilayer wiring pattern.

【0039】図4,図5,図6は、有機エレクトロルミ
ネッセンス素子を用いたアクティブマトリクス型の表示
装置の一例を示す図であって、図4は有機EL表示装置
の回路図、図5は対向電極や有機エレクトロルミネッセ
ンス素子を取り除いた状態での画素部の拡大平面図であ
る。
FIGS. 4, 5 and 6 are views showing an example of an active matrix type display device using an organic electroluminescence element. FIG. 4 is a circuit diagram of the organic EL display device and FIG. FIG. 3 is an enlarged plan view of a pixel portion with electrodes and organic electroluminescence elements removed.

【0040】図4に示す回路図のように、この有機EL
表示装置S1は、基板上に、複数の走査線131と、こ
れら走査線131に対して交差する方向に延びる複数の
信号線132と、これら信号線132に並列に延びる複
数の共通給電線133とがそれぞれ配線されたもので、
走査線131及び信号線132の各交点毎に、画素AR
が設けられて構成されたものである。
As shown in the circuit diagram of FIG. 4, this organic EL
The display device S1 includes a plurality of scanning lines 131, a plurality of signal lines 132 extending in a direction intersecting the scanning lines 131, and a plurality of common power supply lines 133 extending in parallel with the signal lines 132 on the substrate. Are wired respectively,
For each intersection of the scanning line 131 and the signal line 132, the pixel AR
Is provided and configured.

【0041】信号線132に対しては、シフトレジス
タ、レベルシフタ、ビデオライン、アナログスイッチを
備えるデータ線駆動回路90が設けられている。一方、
走査線131に対しては、シフトレジスタ及びレベルシ
フタを備える走査線駆動回路80が設けられている。ま
た、画素領域ARの各々には、走査線131を介して走
査信号がゲート電極に供給される第1の薄膜トランジス
タ322と、この第1の薄膜トランジスタ322を介し
て信号線132から供給される画像信号を保持する保持
容量capと、保持容量capによって保持された画像
信号がゲート電極に供給される第2の薄膜トランジスタ
324と、この第2の薄膜トランジスタ324を介して
共通給電線133に電気的に接続したときに共通給電線
133から駆動電流が流れ込む画素電極323と、この
画素電極(陽極)323と対向電極(陰極)522との
間に挟み込まれる発光部(発光層)360とが設けられ
ている。
A data line drive circuit 90 including a shift register, a level shifter, a video line, and an analog switch is provided for the signal line 132. on the other hand,
For the scanning line 131, a scanning line driving circuit 80 including a shift register and a level shifter is provided. Further, in each of the pixel regions AR, a first thin film transistor 322 whose scan signal is supplied to a gate electrode through a scan line 131 and an image signal which is supplied from a signal line 132 through this first thin film transistor 322. And a second thin film transistor 324 to which an image signal held by the storage capacitor cap is supplied to the gate electrode, and a common power supply line 133 is electrically connected through the second thin film transistor 324. A pixel electrode 323 into which a drive current sometimes flows from the common power supply line 133 and a light emitting portion (light emitting layer) 360 sandwiched between the pixel electrode (anode) 323 and the counter electrode (cathode) 522 are provided.

【0042】このような構成のもとに、走査線131が
駆動されて第1の薄膜トランジスタ322がオンとなる
と、そのときの信号線132の電位が保持容量capに
保持され、該保持容量capの状態に応じて、第2の薄
膜トランジスタ324の導通状態が決まる。そして、第
2の薄膜トランジスタ324のチャネルを介して共通給
電線133から画素電極323に電流が流れ、さらに発
光層360を通じて対向電極522に電流が流れること
により、発光層360は、これを流れる電流量に応じて
発光するようになる。
With this structure, when the scanning line 131 is driven and the first thin film transistor 322 is turned on, the potential of the signal line 132 at that time is held in the holding capacitor cap and the holding capacitor cap is held. The conductive state of the second thin film transistor 324 is determined depending on the state. Then, a current flows from the common power supply line 133 to the pixel electrode 323 through the channel of the second thin film transistor 324, and further, a current flows to the counter electrode 522 through the light emitting layer 360, so that the light emitting layer 360 has a current amount flowing therethrough. It emits light according to.

【0043】ここで、各画素ARの平面構造は、図5に
示すように、平面形状が長方形の画素電極323の四辺
が、信号線132、共通給電線133、走査線131及
び図示しない他の画素電極用の走査線によって囲まれた
配置となっている。
Here, in the planar structure of each pixel AR, as shown in FIG. 5, the four sides of the pixel electrode 323 having a rectangular planar shape have a signal line 132, a common power supply line 133, a scanning line 131 and other not shown. The arrangement is surrounded by scanning lines for pixel electrodes.

【0044】図6は図5のA−A矢視断面図である。こ
こで、図6に示す有機EL表示装置は、薄膜トランジス
タ(TFT:Thin Film Transistor)が配置された基板
P側とは反対側から光を取り出す形態、いわゆるトップ
エミッション型である。
FIG. 6 is a sectional view taken along the line AA of FIG. Here, the organic EL display device shown in FIG. 6 is a so-called top emission type in which light is extracted from the side opposite to the substrate P side on which a thin film transistor (TFT: Thin Film Transistor) is arranged.

【0045】基板Pの形成材料としては、ガラス、石
英、サファイア、あるいはポリエステル、ポリアクリレ
ート、ポリカーボネート、ポリエーテルケトンなどの合
成樹脂などが挙げられる。ここで、有機EL表示装置が
トップエミッション型である場合、基板Pは不透明であ
ってもよく、その場合、アルミナ等のセラミック、ステ
ンレス等の金属シートに表面酸化などの絶縁処理を施し
たもの、熱硬化性樹脂、熱可塑性樹脂などを用いること
ができる。
Examples of the material for forming the substrate P include glass, quartz, sapphire, and synthetic resins such as polyester, polyacrylate, polycarbonate, and polyetherketone. Here, when the organic EL display device is a top emission type, the substrate P may be opaque, and in that case, a ceramic sheet such as alumina or a metal sheet such as stainless steel that has been subjected to an insulation treatment such as surface oxidation, A thermosetting resin, a thermoplastic resin or the like can be used.

【0046】一方、TFTが配置された基板側から光を
取り出す形態、いわゆるバックエミッション型において
は、基板としては透明なものが用いられ、光を透過可能
な透明あるいは半透明材料、例えば、透明なガラス、石
英、サファイア、あるいはポリエステル、ポリアクリレ
ート、ポリカーボネート、ポリエーテルケトンなどの透
明な合成樹脂などが挙げられる。特に、基板の形成材料
としては、安価なソーダガラスが好適に用いられる。
On the other hand, in the so-called back emission type in which light is taken out from the substrate side on which the TFTs are arranged, a transparent substrate is used, and a transparent or semitransparent material capable of transmitting light, for example, a transparent material. Examples include glass, quartz, sapphire, and transparent synthetic resins such as polyester, polyacrylate, polycarbonate, and polyetherketone. In particular, inexpensive soda glass is preferably used as the material for forming the substrate.

【0047】図6に示すように、トップエミッション型
の有機EL表示装置S1は、基板Pと、インジウム錫酸
化物(ITO:Indium Tin Oxide)等の透明電極材料か
らなる陽極(画素電極)323と、陽極323から正孔
を輸送可能な正孔輸送層370と、電気光学物質の1つ
である有機EL物質を含む発光層(有機EL層、電気光
学素子)360と、発光層360の上面に設けられてい
る電子輸送層350と、電子輸送層350の上面に設け
られているアルミニウム(Al)やマグネシウム(M
g)、金(Au)、銀(Ag)、カルシウム(Ca)等
からなる陰極(対向電極)522と、基板P上に形成さ
れ、画素電極323にデータ信号を書き込むか否かを制
御する通電制御部としての薄膜トランジスタ(以下、
「TFT」と称する)324とを有している。TFT3
24は、走査線駆動回路80及びデータ線駆動回路90
からの作動指令信号に基づいて作動し、画素電極323
への通電制御を行う。
As shown in FIG. 6, the top emission type organic EL display device S1 includes a substrate P and an anode (pixel electrode) 323 made of a transparent electrode material such as indium tin oxide (ITO). , A hole transport layer 370 capable of transporting holes from the anode 323, a light emitting layer (organic EL layer, electro-optical element) 360 containing an organic EL substance which is one of electro-optical substances, and an upper surface of the light-emitting layer 360. The electron transport layer 350 provided and aluminum (Al) or magnesium (M) provided on the upper surface of the electron transport layer 350.
g), gold (Au), silver (Ag), calcium (Ca), and the like (cathode (counter electrode)) 522, and the energization that is formed on the substrate P and controls whether or not to write a data signal to the pixel electrode 323. A thin film transistor as a control unit (hereinafter,
(Referred to as “TFT”) 324. TFT3
24 is a scanning line drive circuit 80 and a data line drive circuit 90.
The pixel electrode 323 operates based on the operation command signal from the pixel electrode 323.
Energization control is performed.

【0048】TFT324は、SiO2を主体とする下
地保護層581を介して基板Pの表面に設けられてい
る。このTFT324は、下地保護層581の上層に形
成されたシリコン層541と、シリコン層541を覆う
ように下地保護層581の上層に設けられたゲート絶縁
層582と、ゲート絶縁層582の上面のうちシリコン
層541に対向する部分に設けられたゲート電極542
と、ゲート電極542を覆うようにゲート絶縁層582
の上層に設けられた第1層間絶縁層583と、ゲート絶
縁層582及び第1層間絶縁層583にわたって開孔す
るコンタクトホールを介してシリコン層541と接続す
るソース電極543と、ゲート電極542を挟んでソー
ス電極543と対向する位置に設けられ、ゲート絶縁層
582及び第1層間絶縁層583にわたって開孔するコ
ンタクトホールを介してシリコン層541と接続するド
レイン電極(第1の材料層)544と、ソース電極54
3及びドレイン電極544を覆うように第1層間絶縁層
583の上層に設けられた第2層間絶縁層(第2の材料
層)584とを備えている。
The TFT 324 is provided on the surface of the substrate P via a base protective layer 581 composed mainly of SiO 2 . This TFT 324 includes a silicon layer 541 formed on the upper layer of the base protection layer 581, a gate insulating layer 582 provided on the upper layer of the base protection layer 581 so as to cover the silicon layer 541, and an upper surface of the gate insulating layer 582. Gate electrode 542 provided in a portion facing the silicon layer 541
And a gate insulating layer 582 so as to cover the gate electrode 542.
The first interlayer insulating layer 583 provided on the upper layer, the source electrode 543 connected to the silicon layer 541 through a contact hole opened over the gate insulating layer 582 and the first interlayer insulating layer 583, and the gate electrode 542. A drain electrode (first material layer) 544 which is provided at a position facing the source electrode 543 and is connected to the silicon layer 541 through a contact hole which is opened over the gate insulating layer 582 and the first interlayer insulating layer 583. Source electrode 54
3 and the drain electrode 544, a second interlayer insulating layer (second material layer) 584 provided on the first interlayer insulating layer 583 is provided.

【0049】そして、第2層間絶縁層584の上面に画
素電極323が配置され、画素電極323とドレイン電
極(第1の材料層)544とは、第2層間絶縁層(第2
の材料層)584に設けられたコンタクトホール323
aを介して接続されている。また、第2層間絶縁層58
4の表面のうち有機EL素子が設けられている以外の部
分と陰極522との間には、合成樹脂などからなる第3
絶縁層(バンク層)521が設けられている。
Then, the pixel electrode 323 is disposed on the upper surface of the second interlayer insulating layer 584, and the pixel electrode 323 and the drain electrode (first material layer) 544 are separated from each other by the second interlayer insulating layer (second
Material layer) 584 provided in the contact hole 323
It is connected via a. In addition, the second interlayer insulating layer 58
Between the portion of the surface of No. 4 other than the portion where the organic EL element is provided and the cathode 522, a third resin made of synthetic resin or the like is provided.
An insulating layer (bank layer) 521 is provided.

【0050】なお、シリコン層541のうち、ゲート絶
縁層582を挟んでゲート電極542と重なる領域がチ
ャネル領域とされている。また、シリコン層541のう
ち、チャネル領域のソース側にはソース領域が設けられ
ている一方、チャネル領域のドレイン側にはドレイン領
域が設けられている。このうち、ソース領域が、ゲート
絶縁層582と第1層間絶縁層583とにわたって開孔
するコンタクトホールを介して、ソース電極543に接
続されている。一方、ドレイン領域が、ゲート絶縁層5
82と第1層間絶縁層583とにわたって開孔するコン
タクトホールを介して、ソース電極543と同一層から
なるドレイン電極544に接続されている。画素電極3
23は、ドレイン電極544を介して、シリコン層54
1のドレイン領域に接続されている。
Note that a region of the silicon layer 541 which overlaps with the gate electrode 542 with the gate insulating layer 582 provided therebetween serves as a channel region. Further, in the silicon layer 541, the source region is provided on the source side of the channel region, while the drain region is provided on the drain side of the channel region. Of these, the source region is connected to the source electrode 543 through a contact hole that is opened across the gate insulating layer 582 and the first interlayer insulating layer 583. On the other hand, the drain region is the gate insulating layer 5
The drain electrode 544 formed of the same layer as the source electrode 543 is connected through a contact hole that is opened between the first electrode 82 and the first interlayer insulating layer 583. Pixel electrode 3
23 is a silicon layer 54 via the drain electrode 544.
1 drain region.

【0051】次に、図7及び図8を参照しながら図6に
示した有機EL表示装置の製造プロセスについて説明す
る。はじめに、基板P上にシリコン層541を形成す
る。シリコン層541を形成する際には、まず、図7
(a)に示すように、基板Pの表面にTEOS(テトラ
エトキシシラン)や酸素ガスなどを原料としてプラズマ
CVD法により厚さ約200〜500nmのシリコン酸
化膜からなる下地保護層581を形成する。
Next, the manufacturing process of the organic EL display device shown in FIG. 6 will be described with reference to FIGS. 7 and 8. First, the silicon layer 541 is formed on the substrate P. When forming the silicon layer 541, first, as shown in FIG.
As shown in (a), a base protective layer 581 made of a silicon oxide film having a thickness of about 200 to 500 nm is formed on the surface of the substrate P by plasma CVD using TEOS (tetraethoxysilane) or oxygen gas as a raw material.

【0052】次に、図7(b)に示すように、基板Pの
温度を約350℃に設定して、下地保護膜581の表面
にプラズマCVD法あるいはICVD法により厚さ約3
0〜70nmのアモルファスシリコン膜からなる半導体
層541Aを形成する。次いで、この半導体層541A
に対してレーザアニール法、急速加熱法、または固相成
長法などによって結晶化工程を行い、半導体層541A
をポリシリコン層に結晶化する。レーザアニール法で
は、例えばエキシマレーザでビームの長寸が400mm
のラインビームを用い、その出力強度は例えば200m
J/cm2 とする。ラインビームについては、その短寸
方向におけるレーザ強度のピーク値の90%に相当する
部分が各領域毎に重なるようにラインビームを走査す
る。
Next, as shown in FIG. 7B, the temperature of the substrate P is set to about 350 ° C., and the thickness of about 3 is formed on the surface of the base protection film 581 by the plasma CVD method or the ICVD method.
A semiconductor layer 541A made of an amorphous silicon film having a thickness of 0 to 70 nm is formed. Then, this semiconductor layer 541A
A crystallization process is performed on the semiconductor layer 541A by a laser annealing method, a rapid heating method, a solid phase growth method, or the like.
Is crystallized into a polysilicon layer. In the laser annealing method, for example, an excimer laser beam having a length of 400 mm is used.
Output power of 200m
J / cm 2 . As for the line beam, the line beam is scanned so that the portion corresponding to 90% of the peak value of the laser intensity in the short direction overlaps each region.

【0053】次いで、図7(c)に示すように、半導体
層(ポリシリコン層)541Aをパターニングして島状
のシリコン層541とした後、その表面に対して、TE
OSや酸化ガスなどを原料としてプラズマCVD法によ
り厚さ約60〜150nmのシリコン酸化膜又は窒化膜
からなるゲート絶縁層582を形成する。なお、シリコ
ン層541は、図4に示した第2の薄膜トランジスタ3
24のチャネル領域及びソース・ドレイン領域となるも
のであるが、異なる断面位置においては第1の薄膜トラ
ンジスタ322のチャネル領域及びソース・ドレイン領
域となる半導体膜も形成されている。つまり、二種類の
トランジスタ322、324は同時に形成されるが、同
じ手順で作られるため、以下の説明において、トランジ
スタに関しては、第2の薄膜トランジスタ324につい
てのみ説明し、第1の薄膜トランジスタ322について
はその説明を省略する。
Next, as shown in FIG. 7C, the semiconductor layer (polysilicon layer) 541A is patterned into an island-shaped silicon layer 541, and TE is then applied to the surface thereof.
A gate insulating layer 582 made of a silicon oxide film or a nitride film having a thickness of about 60 to 150 nm is formed by a plasma CVD method using OS or an oxidizing gas as a raw material. Note that the silicon layer 541 is the second thin film transistor 3 shown in FIG.
Although it will be the channel region and the source / drain region of 24, the semiconductor film which becomes the channel region and the source / drain region of the first thin film transistor 322 is also formed at different cross-sectional positions. That is, the two types of transistors 322 and 324 are formed at the same time, but since they are formed by the same procedure, in the following description, regarding the transistor, only the second thin film transistor 324 will be described, and the first thin film transistor 322 will be described. The description is omitted.

【0054】なお、ゲート絶縁層582を多孔性を有す
るシリコン酸化膜(SiO2膜)としてもよい。多孔性
を有するSiO2膜からなるゲート絶縁層582は、反
応ガスとしてSi26とO3とを用いて、CVD法(化
学的気相成長法)により形成される。これらの反応ガス
を用いると、気相中に粒子の大きいSiO2が形成さ
れ、この粒子の大きいSiO2がシリコン層541や下
地保護層581の上に堆積する。そのため、ゲート絶縁
層582は、層中に多くの空隙を有し、多孔質体とな
る。そして、ゲート絶縁層582は多孔質体となること
によって低誘電率を有するようになる。
The gate insulating layer 582 may be a porous silicon oxide film (SiO 2 film). The gate insulating layer 582 made of a porous SiO 2 film is formed by a CVD method (chemical vapor deposition method) using Si 2 H 6 and O 3 as reaction gases. Using these reaction gases, high SiO 2 particles in the gas phase is formed, a large SiO 2 of the particles are deposited on the silicon layer 541 and protective underlayer 581. Therefore, the gate insulating layer 582 has many voids in the layer and is a porous body. The gate insulating layer 582 has a low dielectric constant by being a porous body.

【0055】なお、ゲート絶縁層582の表面にH(水
素)プラズマ処理をしてもよい。これにより、空隙の表
面のSi−O結合中のダングリングボンドがSi−H結
合に置き換えられ、膜の耐吸湿性が良くなる。そして、
このプラズマ処理されたゲート絶縁層582の表面に別
のSiO2層を設けてもよい。こうすることにより、低
誘電率な絶縁層が形成できる。また、ゲート絶縁層58
2をCVD法で形成する際の反応ガスは、Si26+O
3の他に、Si26+O2、Si38+O3、Si38
2としてもよい。更に、上記の反応ガスに加えて、B
(ホウ素)含有の反応ガス、F(フッ素)含有の反応ガ
スを用いてもよい。
The surface of the gate insulating layer 582 may be subjected to H (hydrogen) plasma treatment. As a result, dangling bonds in Si—O bond on the surface of the void are replaced with Si—H bond, and the moisture absorption resistance of the film is improved. And
Another SiO 2 layer may be provided on the surface of the plasma-treated gate insulating layer 582. By doing so, an insulating layer having a low dielectric constant can be formed. In addition, the gate insulating layer 58
2 is formed by CVD, the reaction gas is Si 2 H 6 + O.
In addition to 3 , Si 2 H 6 + O 2 , Si 3 H 8 + O 3 , Si 3 H 8 +
It may be O 2 . Further, in addition to the above reaction gas, B
A reaction gas containing (boron) or a reaction gas containing F (fluorine) may be used.

【0056】更に、ゲート絶縁層582を液滴吐出法を
用いて形成してもよい。ゲート絶縁層582を形成する
ための液滴吐出ヘッド20から吐出させるインクとして
は、上述したSiO2等の材料を適当な溶媒に分散して
ペースト化したものや、絶縁性材料含有ゾルなどが挙げ
られる。絶縁性材料含有ゾルとしては、テトラエトキシ
シラン等のシラン化合物をエタノール等の適当な溶媒に
溶かしたものや、アルミニウムのキレート塩、有機アル
カリ金属塩または有機アルカリ土類金属塩等を含有する
組成物で、焼成すると無機酸化物のみになるように調合
したものでもよい。液滴吐出法によって形成されたゲー
ト絶縁層582は、この後、焼成される。
Further, the gate insulating layer 582 may be formed by a droplet discharge method. Examples of the ink ejected from the droplet ejection head 20 for forming the gate insulating layer 582 include the above-described material such as SiO 2 dispersed in a suitable solvent to form a paste, an insulating material-containing sol, and the like. To be As the insulating material-containing sol, a composition containing a silane compound such as tetraethoxysilane dissolved in a suitable solvent such as ethanol, a chelate salt of aluminum, an organic alkali metal salt or an organic alkaline earth metal salt, and the like. Then, it may be one prepared by firing so that only the inorganic oxide is formed. After that, the gate insulating layer 582 formed by a droplet discharge method is fired.

【0057】液滴吐出法によってゲート絶縁層582を
形成する際には、ゲート絶縁層582を形成するための
吐出動作をする前に、下地保護層581やシリコン層5
41に対してインクの親和性を制御する表面処理をして
おいてもよい。この場合の表面処理は、UV、プラスマ
処理等の親インク処理である。こうすることにより、ゲ
ート絶縁層582を形成するためのインクは下地保護層
581などに密着するとともに、平坦化される。
When the gate insulating layer 582 is formed by the droplet discharging method, the base protective layer 581 and the silicon layer 5 are formed before the discharging operation for forming the gate insulating layer 582.
41 may be surface-treated to control the affinity of the ink. The surface treatment in this case is a hydrophilic ink treatment such as UV or plasma treatment. By doing so, the ink for forming the gate insulating layer 582 is brought into close contact with the base protective layer 581 and the like and is planarized.

【0058】次いで、図7(d)に示すように、ゲート
絶縁層582上にアルミニウム、タンタル、モリブデ
ン、チタン、タングステンなどの金属を含む導電膜をス
パッタ法により形成した後、これをパターニングし、ゲ
ート電極542を形成する。次いで、この状態で高濃度
のリンイオンを打ち込み、シリコン層541に、ゲート
電極542に対して自己整合的にソース領域541s及
びドレイン領域541dを形成する。この場合、ゲート
電極542はパターニング用マスクとして用いられる。
なお、不純物が導入されなかった部分がチャネル領域5
41cとなる。
Next, as shown in FIG. 7D, a conductive film containing a metal such as aluminum, tantalum, molybdenum, titanium, or tungsten is formed on the gate insulating layer 582 by a sputtering method and then patterned. The gate electrode 542 is formed. Next, in this state, high-concentration phosphorus ions are implanted to form the source region 541s and the drain region 541d in the silicon layer 541 in a self-aligned manner with respect to the gate electrode 542. In this case, the gate electrode 542 is used as a patterning mask.
The channel region 5 is a portion where impurities are not introduced.
41c.

【0059】次いで、図7(e)に示すように、第1層
間絶縁層583を形成する。第1層間絶縁層583は、
ゲート絶縁層582同様、シリコン酸化膜または窒化
膜、多孔性を有するシリコン酸化膜などによって構成さ
れ、ゲート絶縁層582の形成方法と同様の手順でゲー
ト絶縁層582の上層に形成される。更に、第1層間絶
縁層583の形成工程を、ゲート絶縁層582の形成工
程と同様、液滴吐出法によって行ってもよい。第1層間
絶縁層583を形成するための液滴吐出ヘッド20から
吐出させるインクとしては、ゲート絶縁層582同様、
SiO2等の材料を適当な溶媒に分散してペースト化し
たものや、絶縁性材料含有ゾルなどが挙げられる。絶縁
性材料含有ゾルとしては、テトラエトキシシラン等のシ
ラン化合物をエタノール等の適当な溶媒に溶かしたもの
や、アルミニウムのキレート塩、有機アルカリ金属塩ま
たは有機アルカリ土類金属塩等を含有する組成物で、焼
成すると無機酸化物のみになるように調合したものでも
よい。液滴吐出法によって形成された第1層間絶縁層5
83は、この後、焼成される。
Next, as shown in FIG. 7E, a first interlayer insulating layer 583 is formed. The first interlayer insulating layer 583 is
Like the gate insulating layer 582, the gate insulating layer 582 is formed of a silicon oxide film or a nitride film, a porous silicon oxide film, or the like, and is formed over the gate insulating layer 582 by a procedure similar to that of the gate insulating layer 582. Further, the step of forming the first interlayer insulating layer 583 may be performed by a droplet discharge method similarly to the step of forming the gate insulating layer 582. The ink ejected from the droplet ejection head 20 for forming the first interlayer insulating layer 583 is the same as the gate insulating layer 582.
Examples include pastes obtained by dispersing a material such as SiO 2 in a suitable solvent, and sol containing an insulating material. As the insulating material-containing sol, a composition containing a silane compound such as tetraethoxysilane dissolved in a suitable solvent such as ethanol, a chelate salt of aluminum, an organic alkali metal salt or an organic alkaline earth metal salt, and the like. Then, it may be one prepared by firing so that only the inorganic oxide is formed. First interlayer insulating layer 5 formed by a droplet discharge method
83 is then fired.

【0060】液滴吐出法によって第1層間絶縁層583
を形成する際には、第1層間絶縁層583を形成するた
めの吐出動作をする前に、ゲート絶縁層582上面に対
してインクの親和性を制御する表面処理をしておいても
よい。この場合の表面処理は、UV、プラスマ処理等の
親インク処理である。こうすることにより、第1層間絶
縁層583を形成するためのインクはゲート絶縁層58
2に密着するとともに、平坦化される。
The first interlayer insulating layer 583 is formed by the droplet discharge method.
At the time of forming, the surface treatment for controlling the affinity of the ink with respect to the upper surface of the gate insulating layer 582 may be performed before the discharging operation for forming the first interlayer insulating layer 583. The surface treatment in this case is a hydrophilic ink treatment such as UV or plasma treatment. By doing so, the ink for forming the first interlayer insulating layer 583 is formed in the gate insulating layer 58.
It comes into close contact with 2 and is flattened.

【0061】そして、この第1層間絶縁層583及びゲ
ート絶縁層582にフォトリソグラフィ法を用いてパタ
ーニングすることにより、ソース電極及びドレイン電極
に対応するコンタクトホールを形成する。次いで、第1
層間絶縁層583を覆うように、アルミニウムやクロ
ム、タンタル等の金属からなる導電層を形成した後、こ
の導電層のうち、ソース電極及びドレイン電極が形成さ
れるべき領域を覆うようにパターニング用マスクを設け
るとともに、導電層をパターニングすることにより、ソ
ース電極543及びドレイン電極544を形成する。
Then, by patterning the first interlayer insulating layer 583 and the gate insulating layer 582 by using a photolithography method, contact holes corresponding to the source electrode and the drain electrode are formed. Then the first
After forming a conductive layer made of a metal such as aluminum, chromium, or tantalum so as to cover the interlayer insulating layer 583, a patterning mask is formed so as to cover a region of the conductive layer where the source electrode and the drain electrode are to be formed. And the conductive layer is patterned to form the source electrode 543 and the drain electrode 544.

【0062】次に、図示はしないが、第1層間絶縁層5
83上に、信号線、共通給電線、走査線を形成する。こ
のとき、これらに囲まれる箇所は後述するように発光層
等を形成する画素となることから、例えばバックエミッ
ション型とする場合には、TFT324が前記各配線に
囲まれた箇所の直下に位置しないよう、各配線を形成す
る。
Next, although not shown, the first interlayer insulating layer 5
A signal line, a common power supply line, and a scanning line are formed on 83. At this time, since the portion surrounded by these becomes a pixel for forming a light emitting layer and the like as described later, in the case of a back emission type, for example, the TFT 324 is not located immediately below the portion surrounded by the respective wirings. So that each wiring is formed.

【0063】次いで、図8(a)に示すように、第2層
間絶縁層584を、第1層間絶縁層583、各電極54
3、544、前記不図示の各配線を覆うように形成す
る。第1層間絶縁層583は液滴吐出法によって形成さ
れる。ここで、デバイス製造装置IJの制御装置CON
Tは、図8(a)に示すように、ドレイン電極(第1の
材料層)544の上面に非吐出領域(非滴下領域)Hを
設定し、ドレイン電極544のうち非吐出領域H以外の
部分、ソース電極543及び第1層間絶縁層583を覆
うように、第2層間絶縁層584を形成するためのイン
クを吐出し、第2層間絶縁層584を形成する。こうす
ることによって、コンタクトホール323aが形成され
る。
Then, as shown in FIG. 8A, the second interlayer insulating layer 584, the first interlayer insulating layer 583, and the electrodes 54 are formed.
3, 544 and the wirings (not shown) are formed so as to cover them. The first interlayer insulating layer 583 is formed by a droplet discharge method. Here, the control unit CON of the device manufacturing apparatus IJ
As shown in FIG. 8A, T sets a non-ejection region (non-dripping region) H on the upper surface of the drain electrode (first material layer) 544, and the non-ejection region H of the drain electrode 544 other than the non-ejection region H is set. Ink for forming the second interlayer insulating layer 584 is discharged to cover the portion, the source electrode 543, and the first interlayer insulating layer 583, and the second interlayer insulating layer 584 is formed. By doing so, the contact hole 323a is formed.

【0064】ここで、第2層間絶縁層584を形成する
ための液滴吐出ヘッド20から吐出させるインクとして
は、第1層間絶縁層583同様、SiO2等の材料を適
当な溶媒に分散してペースト化したものや、絶縁性材料
含有ゾルなどが挙げられる。絶縁性材料含有ゾルとして
は、テトラエトキシシラン等のシラン化合物をエタノー
ル等の適当な溶媒に溶かしたものや、アルミニウムのキ
レート塩、有機アルカリ金属塩または有機アルカリ土類
金属塩等を含有する組成物で、焼成すると無機酸化物の
みになるように調合したものでもよい。液滴吐出法によ
って形成された第2層間絶縁層584は、この後、焼成
される。
Here, as the ink to be ejected from the droplet ejection head 20 for forming the second interlayer insulating layer 584, a material such as SiO 2 is dispersed in an appropriate solvent as in the case of the first interlayer insulating layer 583. Examples thereof include pasted ones and insulating material-containing sols. As the insulating material-containing sol, a composition containing a silane compound such as tetraethoxysilane dissolved in a suitable solvent such as ethanol, a chelate salt of aluminum, an organic alkali metal salt or an organic alkaline earth metal salt, and the like. Then, it may be one prepared by firing so that only the inorganic oxide is formed. The second interlayer insulating layer 584 formed by the droplet discharge method is then fired.

【0065】液滴吐出法によって第2層間絶縁層584
を形成する際には、第2層間絶縁層584を形成するた
めの吐出動作をする前に、ドレイン電極544の非吐出
領域Hに対してインクの親和性を制御する表面処理をし
ておいてもよい。この場合の表面処理は、撥インク処理
である。こうすることにより、非吐出領域Hにはインク
が配置されず、コンタクトホール323aを安定して形
成できる。また、非吐出領域H以外のドレイン電極54
4上面、ソース電極543上面、第1層間絶縁層583
上面には、予め親インク処理を施しておくことにより、
第2層間絶縁層584を形成するためのインクは第1層
間絶縁層583やソース電極543、ドレイン電極54
4のうち非吐出領域H以外に部分に密着するとともに、
平坦化される。
The second interlayer insulating layer 584 is formed by the droplet discharge method.
At the time of forming, the surface treatment for controlling the affinity of the ink to the non-ejection region H of the drain electrode 544 is performed before the ejection operation for forming the second interlayer insulating layer 584. Good. The surface treatment in this case is an ink repellent treatment. By doing so, ink is not arranged in the non-ejection region H, and the contact hole 323a can be stably formed. In addition, the drain electrode 54 other than the non-ejection region H
4 upper surface, source electrode 543 upper surface, first interlayer insulating layer 583
By subjecting the upper surface to the ink-philic process in advance,
The ink for forming the second interlayer insulating layer 584 includes the first interlayer insulating layer 583, the source electrode 543, and the drain electrode 54.
While closely adhering to a portion other than the non-ejection region H of 4,
Flattened.

【0066】こうして、第2層間絶縁層584のうちド
レイン電極544に対応する部分にコンタクトホール3
23aを形成しつつ、ドレイン電極(第1の材料層、導
電性材料層)544の上層に第2層間絶縁層(第2の材
料層、絶縁性材料層)584を形成したら、図8(b)
に示すように、コンタクトホール323aにITO等の
導電性材料を充填するように、すなわち、コンタクトホ
ール323aを介してドレイン電極544に連続するよ
うに導電性材料をパターニングし、画素電極(陽極)3
23を形成する。
Thus, the contact hole 3 is formed in the portion of the second interlayer insulating layer 584 corresponding to the drain electrode 544.
When the second interlayer insulating layer (second material layer, insulating material layer) 584 is formed on the drain electrode (first material layer, conductive material layer) 544 while forming 23a, as shown in FIG. )
As shown in FIG. 3, the conductive material is patterned so that the contact hole 323a is filled with a conductive material such as ITO, that is, so as to be continuous with the drain electrode 544 through the contact hole 323a, and the pixel electrode (anode) 3 is formed.
23 is formed.

【0067】有機EL素子に接続する陽極323は、I
TOやフッ素をドープしてなるSnO2、更にZnOや
ポリアミン等の透明電極材料からなり、コンタクトホー
ル323aを介してTFT324のドレイン電極544
に接続されている。陽極323を形成するには、前記透
明電極材料からなる膜を第2層間絶縁層584上面に形
成し、この膜をパターニングすることにより形成され
る。
The anode 323 connected to the organic EL element is I
The drain electrode 544 of the TFT 324 is made of a transparent electrode material such as SnO 2 doped with TO or fluorine, ZnO, polyamine, etc. through the contact hole 323a.
It is connected to the. To form the anode 323, a film made of the transparent electrode material is formed on the upper surface of the second interlayer insulating layer 584, and this film is patterned.

【0068】陽極523を形成したら、図8(c)に示
すように、第2層間絶縁層584の所定位置及び陽極3
23の一部を覆うように、有機バンク層521を形成す
る。第3絶縁層521はアクリル樹脂、ポリイミド樹脂
などの合成樹脂によって構成されている。具体的な第3
絶縁層521の形成方法としては、例えば、アクリル樹
脂、ポリイミド樹脂などのレジストを溶媒に融かしたも
のを、スピンコート、ディップコート等により塗布して
絶縁層を形成する。なお、絶縁層の構成材料は、後述す
るインクの溶媒に溶解せず、しかもエッチング等によっ
てパターニングしやすいものであればどのようなもので
もよい。更に、絶縁層をフォトリソグラフィ技術等によ
り同時にエッチングして、開口部521aを形成するこ
とにより、開口部521aを備えた第3絶縁層521が
形成される。
After forming the anode 523, as shown in FIG. 8C, the anode 3 and the predetermined position of the second interlayer insulating layer 584 are formed.
The organic bank layer 521 is formed so as to cover a part of 23. The third insulating layer 521 is made of synthetic resin such as acrylic resin or polyimide resin. Concrete third
As a method for forming the insulating layer 521, for example, a resist such as acrylic resin or polyimide resin melted in a solvent is applied by spin coating, dip coating, or the like to form the insulating layer. The constituent material of the insulating layer may be any material as long as it does not dissolve in the solvent of the ink described later and is easily patterned by etching or the like. Further, the insulating layer is simultaneously etched by a photolithography technique or the like to form the opening 521a, whereby the third insulating layer 521 including the opening 521a is formed.

【0069】ここで、第3絶縁層521の表面には、親
インク性を示す領域と、撥インク性を示す領域とが形成
される。本実施形態においてはプラズマ処理工程によ
り、各領域を形成するものとしている。具体的にプラズ
マ処理工程は、予備加熱工程と、開口部521aの壁面
並びに画素電極323の電極面を親インク性にする親イ
ンク化工程と、第3絶縁層521の上面を撥インク性に
する撥インク化工程と、冷却工程とを有している。すな
わち、基材(第3絶縁層等を含む基板P)を所定温度
(例えば70〜80度程度)に加熱し、次いで親インク
化工程として大気雰囲気中で酸素を反応ガスとするプラ
ズマ処理(O2プラスマ処理)を行う。続いて、撥イン
ク化工程として大気雰囲気中で4フッ化メタンを反応ガ
スとするプラスマ処理(CF4プラスマ処理)を行い、
プラズマ処理のために加熱された基材を室温まで冷却す
ることで、親インク性及び撥インク性が所定箇所に付与
されることとなる。なお、画素電極323の電極面につ
いても、このCF4プラスマ処理の影響を多少受ける
が、画素電極323の材料であるITO等はフッ素に対
する親和性に乏しいため、親インク化工程で付与された
水酸基がフッ素基で置換されることがなく、親インク性
が保たれる。
Here, on the surface of the third insulating layer 521, a region exhibiting ink affinity and a region exhibiting ink repellency are formed. In this embodiment, each region is formed by a plasma treatment process. Specifically, the plasma treatment step includes a preheating step, an ink-philic step for making the wall surface of the opening 521a and the electrode surface of the pixel electrode 323 ink-philic, and an upper surface of the third insulating layer 521 is ink-repellent. It has an ink repellent process and a cooling process. That is, the base material (the substrate P including the third insulating layer and the like) is heated to a predetermined temperature (for example, about 70 to 80 ° C.), and then a plasma treatment (O) in which oxygen is used as a reaction gas in the atmosphere as an ink-philic step. 2 Plasma treatment). Then, as an ink-repellent process, plasma treatment (CF 4 plasma treatment) using tetrafluoromethane as a reaction gas is performed in the atmosphere,
By cooling the substrate heated for the plasma treatment to room temperature, the ink affinity and the ink repellency are imparted to the predetermined places. Note that the electrode surface of the pixel electrode 323 is somewhat affected by this CF 4 plasma treatment, but since ITO or the like, which is the material of the pixel electrode 323, has a poor affinity for fluorine, the hydroxyl group added in the ink-affinity imparting step. Is not replaced by a fluorine group, and the ink affinity is maintained.

【0070】次いで、図8(d)に示すように、陽極3
23の上面に正孔輸送層370を形成する。ここで、正
孔輸送層370の形成材料としては、特に限定されるこ
となく公知のものが使用可能であり、例えば、トリフェ
ニルアミン誘導体(TPD)、ピラゾリン誘導体、アリ
ールアミン誘導体、スチルベン誘導体、トリフェニルジ
アミン誘導体等からなる。具体的には、特開昭63−7
0257号、同63−175860号公報、特開平2−
135359号、同2−135361号、同2−209
988号、同3−37992号、同3−152184号
公報に記載されているもの等が例示されるが、トリフェ
ニルジアミン誘導体が好ましく、中でも4,4’−ビス
(N(3−メチルフェニル)−N−フェニルアミノ)ビ
フェニルが好適とされる。
Then, as shown in FIG.
A hole transport layer 370 is formed on the upper surface of 23. Here, as a material for forming the hole transport layer 370, known materials can be used without particular limitation, and examples thereof include a triphenylamine derivative (TPD), a pyrazoline derivative, an arylamine derivative, a stilbene derivative, and a triphenylamine derivative. A phenyldiamine derivative or the like. Specifically, JP-A-63-7
No. 0257, No. 63-175860, JP-A-2-
135359, 2-135361, 2-209
Examples thereof include those described in JP-A No. 988, JP-A No. 3-37992, and JP-A No. 3-152184, but triphenyldiamine derivatives are preferable, and among them, 4,4′-bis (N (3-methylphenyl)). -N-phenylamino) biphenyl is preferred.

【0071】なお、正孔輸送層に代えて正孔注入層を形
成するようにしてもよく、さらに正孔注入層と正孔輸送
層を両方形成するようにしてもよい。その場合、正孔注
入層の形成材料としては、例えば銅フタロシアニン(C
uPc)や、ポリテトラヒドロチオフェニルフェニレン
であるポリフェニレンビニレン、1,1−ビス−(4−
N,N−ジトリルアミノフェニル)シクロヘキサン、ト
リス(8−ヒドロキシキノリノール)アルミニウム等が
挙げられるが、特に銅フタロシアニン(CuPc)を用
いるのが好ましい。
The hole injection layer may be formed instead of the hole transport layer, or both the hole injection layer and the hole transport layer may be formed. In that case, as the material for forming the hole injection layer, for example, copper phthalocyanine (C
uPc), polytetrahydrothiophenylphenylene, polyphenylene vinylene, 1,1-bis- (4-
Examples thereof include N, N-ditolylaminophenyl) cyclohexane and tris (8-hydroxyquinolinol) aluminum, but it is particularly preferable to use copper phthalocyanine (CuPc).

【0072】正孔注入/輸送層370を形成する際に
は、液滴吐出法が用いられる。すなわち、上述した正孔
注入/輸送層材料を含む組成物インクを陽極323の電
極面上に吐出した後に、乾燥処理及び熱処理を行うこと
により、陽極323上に正孔注入/輸送層370が形成
される。なお、この正孔注入/輸送層形成工程以降は、
正孔注入/輸送層370及び発光層(有機EL層)36
0の酸化を防止すべく、窒素雰囲気、アルゴン雰囲気等
の不活性ガス雰囲気で行うことが好ましい。例えば、液
滴吐出ヘッド(不図示)に正孔注入/輸送層材料を含む
組成物インクを充填し、液滴吐出ヘッドの吐出ノズルを
陽極323の電極面に対向させ、液滴吐出ヘッドと基材
(基板P)とを相対移動させながら、吐出ノズルから1
滴当たりの液量が制御されたインキ滴を電極面に吐出す
る。次に、吐出後の液滴を乾燥処理して組成物インクに
含まれる極性溶媒を蒸発させることにより、正孔注入/
輸送層370が形成される。
When forming the hole injection / transport layer 370, a droplet discharge method is used. That is, after the composition ink containing the hole injection / transport layer material described above is discharged onto the electrode surface of the anode 323, the hole injection / transport layer 370 is formed on the anode 323 by performing drying treatment and heat treatment. To be done. In addition, after this hole injection / transport layer forming step,
Hole injection / transport layer 370 and light emitting layer (organic EL layer) 36
In order to prevent 0 oxidation, it is preferable to carry out in an inert gas atmosphere such as a nitrogen atmosphere or an argon atmosphere. For example, a droplet discharge head (not shown) is filled with a composition ink containing a hole injection / transport layer material, the discharge nozzle of the droplet discharge head is opposed to the electrode surface of the anode 323, and While relatively moving the material (substrate P), 1 from the discharge nozzle
Ink droplets with a controlled amount of liquid per droplet are ejected onto the electrode surface. Next, the discharged droplets are dried to evaporate the polar solvent contained in the composition ink, thereby injecting holes /
The transport layer 370 is formed.

【0073】なお、組成物インクとしては、例えば、ポ
リエチレンジオキシチオフェン等のポリチオフェン誘導
体と、ポリスチレンスルホン酸等との混合物を、イソプ
ロピルアルコール等の極性溶媒に溶解させたものを用い
ることができる。ここで、吐出された液滴は、親インク
処理された陽極323の電極面上に広がり、開口部52
1aの底部近傍に満たされる。その一方で、撥インク処
理された第3絶縁層521の上面には液滴がはじかれて
付着しない。したがって、液滴が所定の吐出位置からは
ずれて第3絶縁層521の上面に吐出されたとしても、
該上面が液滴で濡れることがなく、はじかれた液滴が第
3絶縁層521の開口部521a内に転がり込むものと
されている。
As the composition ink, it is possible to use, for example, a mixture of a polythiophene derivative such as polyethylenedioxythiophene and polystyrene sulfonic acid dissolved in a polar solvent such as isopropyl alcohol. Here, the ejected liquid droplets spread on the electrode surface of the anode 323 that has been subjected to the ink-philic treatment, and the opening 52 is formed.
It is filled near the bottom of 1a. On the other hand, droplets are repelled and do not adhere to the upper surface of the third insulating layer 521 that has been subjected to the ink repellent treatment. Therefore, even if the droplet is ejected from the predetermined ejection position onto the upper surface of the third insulating layer 521,
The upper surface is not wetted by the droplets, and the repelled droplets are supposed to roll into the openings 521a of the third insulating layer 521.

【0074】次いで、正孔注入/輸送層370上面に発
光層360を形成する。発光層360の形成材料として
は、特に限定されることなく、低分子の有機発光色素や
高分子発光体、すなわち各種の蛍光物質や燐光物質から
なる発光物質が使用可能である。発光物質となる共役系
高分子の中ではアリーレンビニレン構造を含むものが特
に好ましい。低分子蛍光体では、例えばナフタレン誘導
体、アントラセン誘導体、ペリレン誘導体、ポリメチン
系、キサテン系、クマリン系、シアニン系などの色素
類、8−ヒドロキノリンおよびその誘導体の金属錯体、
芳香族アミン、テトラフェニルシクロペンタジエン誘導
体等、または特開昭57−51781、同59−194
393号公報等に記載されている公知のものが使用可能
である。
Next, the light emitting layer 360 is formed on the upper surface of the hole injecting / transporting layer 370. The material for forming the light emitting layer 360 is not particularly limited, and low molecular weight organic light emitting dyes and polymer light emitting materials, that is, light emitting materials including various fluorescent materials and phosphorescent materials can be used. Among the conjugated polymers as the light emitting substance, those containing an arylene vinylene structure are particularly preferable. Examples of the low molecular weight fluorescent substance include dyes such as naphthalene derivative, anthracene derivative, perylene derivative, polymethine type, xathene type, coumarin type and cyanine type, metal complexes of 8-hydroquinoline and its derivatives,
Aromatic amines, tetraphenylcyclopentadiene derivatives and the like, or JP-A-57-51781 and 59-194.
Known materials described in Japanese Patent No. 393 can be used.

【0075】発光層360は、正孔注入/輸送層370
の形成方法と同様の手順で形成される。すなわち、液滴
吐出法によって発光層材料を含む組成物インクを正孔注
入/輸送層370の上面に吐出した後に、乾燥処理及び
熱処理を行うことにより、第3絶縁層521に形成され
た開口部521a内部の正孔注入/輸送層370上に発
光層360が形成される。この発光層形成工程も上述し
たように不活性ガス雰囲気下で行われる。吐出された組
成物インクは撥インク処理された領域ではじかれるの
で、液滴が所定の吐出位置からはずれたとしても、はじ
かれた液滴が第3絶縁層521の開口部521a内に転
がり込む。
The light emitting layer 360 is a hole injecting / transporting layer 370.
It is formed by the same procedure as the forming method. That is, the composition ink containing the light emitting layer material is ejected onto the upper surface of the hole injecting / transporting layer 370 by a droplet ejecting method, and then a drying process and a heat treatment are performed to form an opening formed in the third insulating layer 521. The light emitting layer 360 is formed on the hole injecting / transporting layer 370 inside the 521a. This light emitting layer forming step is also performed in the inert gas atmosphere as described above. Since the ejected composition ink is repelled in the ink-repellent treated area, the repelled droplets roll into the openings 521a of the third insulating layer 521 even if the droplets deviate from a predetermined ejection position.

【0076】次いで、発光層360の上面に電子輸送層
350を形成する。電子輸送層350も発光層360の
形成方法と同様、液滴吐出法により形成される。電子輸
送層350の形成材料としては、特に限定されることな
く、オキサジアゾール誘導体、アントラキノジメタンお
よびその誘導体、ベンゾキノンおよびその誘導体、ナフ
トキノンおよびその誘導体、アントラキノンおよびその
誘導体、テトラシアノアンスラキノジメタンおよびその
誘導体、フルオレノン誘導体、ジフェニルジシアノエチ
レンおよびその誘導体、ジフェノキノン誘導体、8−ヒ
ドロキシキノリンおよびその誘導体の金属錯体等が例示
される。具体的には、先の正孔輸送層の形成材料と同様
に、特開昭63−70257号、同63−175860
号公報、特開平2−135359号、同2−13536
1号、同2−209988号、同3−37992号、同
3−152184号公報に記載されているもの等が例示
され、特に2−(4−ビフェニリル)−5−(4−t−
ブチルフェニル)−1,3,4−オキサジアゾール、ベ
ンゾキノン、アントラキノン、トリス(8−キノリノー
ル)アルミニウムが好適とされる。
Next, the electron transport layer 350 is formed on the upper surface of the light emitting layer 360. The electron transport layer 350 is also formed by a droplet discharge method, similarly to the method of forming the light emitting layer 360. The material for forming the electron transport layer 350 is not particularly limited, and includes oxadiazole derivatives, anthraquinodimethane and its derivatives, benzoquinone and its derivatives, naphthoquinone and its derivatives, anthraquinone and its derivatives, and tetracyanoanthraquinodines. Examples thereof include methane and its derivatives, fluorenone derivatives, diphenyldicyanoethylene and its derivatives, diphenoquinone derivatives, 8-hydroxyquinoline and its derivative metal complexes, and the like. Specifically, similar to the above-mentioned material for forming the hole transport layer, JP-A-63-70257 and 63-175860.
JP-A-2-135359 and JP-A-2-135536.
No. 1, No. 2-209988, No. 3-37992, No. 3-152184, etc. are illustrated, and especially 2- (4-biphenylyl) -5- (4-t-
Butylphenyl) -1,3,4-oxadiazole, benzoquinone, anthraquinone, tris (8-quinolinol) aluminum are preferred.

【0077】なお、前述した正孔注入/輸送層370の
形成材料や電子輸送層350の形成材料を発光層360
の形成材料に混合し、発光層形成材料として使用しても
よく、その場合に、正孔注入/輸送層形成材料や電子輸
送層形成材料の使用量については、使用する化合物の種
類等によっても異なるものの、十分な成膜性と発光特性
を阻害しない量範囲でそれらを考慮して適宜決定され
る。通常は、発光層形成材料に対して1〜40重量%と
され、さらに好ましくは2〜30重量%とされる。
The material for forming the hole injecting / transporting layer 370 and the material for forming the electron transporting layer 350 described above are used as the light emitting layer 360.
It may be mixed with the above-mentioned forming material and used as a light emitting layer forming material. In that case, the amount of the hole injecting / transporting layer forming material or the electron transporting layer forming material used may depend on the kind of the compound used and the like. Although different, it is appropriately determined in consideration of them within a range that does not impair sufficient film-forming properties and light emission characteristics. Usually, it is 1 to 40% by weight, more preferably 2 to 30% by weight, based on the light emitting layer forming material.

【0078】次いで、図8(e)に示すように、電子輸
送層350及び第3絶縁層521の上面に陰極522を
形成する。陰極522は、電子輸送層350及び第3絶
縁層521の表面全体、あるいはストライプ状に形成さ
れている。陰極522については、もちろんAl、M
g、Li、Caなどの単体材料やMg:Ag(10:1
合金)の合金材料からなる1層で形成してもよいが、2
層あるいは3層からなる金属(合金を含む。)層として
形成してもよい。具体的には、Li2 O(0.5nm程
度)/AlやLiF(0.5nm程度)/Al、MgF
2 /Alといった積層構造のものも使用可能である。陰
極222は上述した金属からなる薄膜であり、光を透過
可能である。
Next, as shown in FIG. 8E, a cathode 522 is formed on the upper surfaces of the electron transport layer 350 and the third insulating layer 521. The cathode 522 is formed over the entire surface of the electron transport layer 350 and the third insulating layer 521, or in the shape of a stripe. Regarding the cathode 522, of course, Al, M
Simple materials such as g, Li, Ca, and Mg: Ag (10: 1
Although it may be formed of one layer made of an alloy material of
It may be formed as a metal layer (including an alloy) consisting of three layers or three layers. Specifically, Li 2 O (about 0.5 nm) / Al, LiF (about 0.5 nm) / Al, MgF
A laminated structure such as 2 / Al can also be used. The cathode 222 is a thin film made of the above-mentioned metal and can transmit light.

【0079】以上説明したように、ドレイン電極544
の上層に第2層間絶縁層584を積層する際、コンタク
トホール323aを形成すべき位置を非吐出領域Hと
し、この部分にインクを吐出しないようにするだけで、
製造工程を増やすことなくコンタクトホール323aを
容易に形成できる。また、各層の積層方法として液滴吐
出方式を採用したことにより、安価な設備でドレイン電
極544の上面の任意の位置に任意の厚さでインクを付
着させることができる。また、不要な部分にはインクを
吐出しない構成であるので、無駄なインク使用量を抑え
ることができ、製造コストを低減できる。
As described above, the drain electrode 544
When the second interlayer insulating layer 584 is laminated on the upper layer, the position where the contact hole 323a is to be formed is the non-ejection region H, and ink is not ejected to this portion,
The contact hole 323a can be easily formed without increasing the number of manufacturing steps. Further, by adopting the droplet discharge method as a method of laminating each layer, it is possible to attach the ink with an arbitrary thickness to an arbitrary position on the upper surface of the drain electrode 544 with inexpensive equipment. Further, since the ink is not ejected to the unnecessary portion, it is possible to suppress the wasteful ink consumption and reduce the manufacturing cost.

【0080】そして、絶縁性材料層である第2層間絶縁
層584を形成後、非吐出領域Hに相当するコンタクト
ホール323aに導電性材料を充填することにより、異
なる導電性材料層どうし、すなわち、ドレイン電極54
4と陽極323とを電気的に接続でき、所望の性能を有
する多層配線デバイスを製造できる。
Then, after forming the second interlayer insulating layer 584 which is an insulating material layer, by filling the contact hole 323a corresponding to the non-ejection region H with the conductive material, different conductive material layers, that is, Drain electrode 54
4 and the anode 323 can be electrically connected, and a multilayer wiring device having desired performance can be manufactured.

【0081】また、インクが吐出される面に対してイン
クの親和性を制御する表面処理を予め行うことにより、
例えば非吐出領域Hに相当するコンタクトホール323
aに対して導電性材料を密着させることができるように
なったり、あるいは第1の材料層全面に対して表面処理
することによって第2の材料層を平滑に形成できるよう
になるなど、インクを所望の状態に塗布できる。
Further, by previously performing a surface treatment for controlling the affinity of the ink with respect to the surface on which the ink is ejected,
For example, the contact hole 323 corresponding to the non-ejection region H
The conductive material can be brought into close contact with a, or the second material layer can be formed smoothly by surface-treating the entire surface of the first material layer. It can be applied in a desired state.

【0082】なお、上記実施形態では、各絶縁層を形成
する際に液滴吐出法を用いているが、ソース電極543
やドレイン電極544、あるいは陽極323や陰極52
2を形成する際に液滴吐出法を用いてもよい。
In the above embodiment, the droplet discharge method is used when forming each insulating layer, but the source electrode 543 is used.
Or drain electrode 544, or anode 323 or cathode 52
A droplet discharge method may be used when forming 2.

【0083】なお、上記実施形態では、第2層間絶縁層
584の下層であるドレイン電極544に非吐出領域H
を設定し、第2層間絶縁層584にコンタクトホール3
23aを形成する構成であるが、本発明のデバイスの製
造方法に基づいて、ゲート絶縁層582や第1層間絶縁
層583のコンタクトホールを形成するようにしてもよ
い。この場合の非吐出領域はシリコン層541の上面に
設定される。そして、ゲート絶縁層582及び第1層間
絶縁層583に液滴吐出法でコンタクトホールを形成し
てから、このコンタクトホールにソース電極543及び
ドレイン電極544を形成するための導電性材料を充填
すればよい。
In the above embodiment, the non-ejection region H is formed in the drain electrode 544 which is the lower layer of the second interlayer insulating layer 584.
And the contact hole 3 is formed in the second interlayer insulating layer 584.
23a is formed, the contact holes of the gate insulating layer 582 and the first interlayer insulating layer 583 may be formed based on the device manufacturing method of the present invention. In this case, the non-ejection area is set on the upper surface of the silicon layer 541. Then, a contact hole is formed in the gate insulating layer 582 and the first interlayer insulating layer 583 by a droplet discharge method, and then the contact hole is filled with a conductive material for forming the source electrode 543 and the drain electrode 544. Good.

【0084】上記実施形態は、本発明のデバイスの製造
方法を、有機EL表示デバイスの駆動用TFTの配線パ
ターン形成に適用したものであるが、有機EL表示デバ
イスに限らず、PDP(プラズマディスプレイパネル)
デバイスの配線パターンの製造、液晶表示デバイスの配
線パターンの製造など、各種多層配線デバイスの製造に
適用可能である。そして、各種多層配線デバイスを製造
するに際し、導電性材料層及び絶縁性材料層のうちいず
れの材料層を形成する際にも液滴吐出法を適用できる。
In the above-described embodiment, the device manufacturing method of the present invention is applied to the formation of the wiring pattern of the driving TFT of the organic EL display device, but the present invention is not limited to the organic EL display device, but a PDP (plasma display panel). )
It can be applied to the manufacture of various multilayer wiring devices such as the manufacture of device wiring patterns and the manufacture of liquid crystal display device wiring patterns. Then, when manufacturing various multilayer wiring devices, the droplet discharge method can be applied when forming either material layer of the conductive material layer and the insulating material layer.

【0085】なお、導電性材料層を構成する導電性材料
としては、所定の金属、あるいは導電性ポリマーが挙げ
られる。金属としては、金属ペーストの用途によって
銀、金、ニッケル、インジウム、錫、鉛、亜鉛、チタ
ン、銅、クロム、タンタル、タングステン、パラジウ
ム、白金、鉄、コバルト、ホウ素、ケイ素、アルミニウ
ム、マグネシウム、スカンジウム、ロジウム、イリジウ
ム、バナジウム、ルテニウム、オスミウム、ニオブ、ビ
スマス、バリウムなどのうち少なくとも1種の金属又は
これらの合金が挙げられる。また、酸化銀(AgO又は
Ag2O)や酸化銅なども挙げられる。
The conductive material forming the conductive material layer may be a predetermined metal or a conductive polymer. As the metal, silver, gold, nickel, indium, tin, lead, zinc, titanium, copper, chromium, tantalum, tungsten, palladium, platinum, iron, cobalt, boron, silicon, aluminum, magnesium, scandium, depending on the use of the metal paste. , At least one metal selected from rhodium, iridium, vanadium, ruthenium, osmium, niobium, bismuth, barium and the like, or alloys thereof. Further, silver oxide (AgO or Ag 2 O), copper oxide, etc. may also be mentioned.

【0086】また、上記導電性材料を液滴吐出ヘッドか
ら吐出可能にペースト化する際の有機溶媒としては、炭
素数5以上のアルコール類(例えばテルピネオール、シ
トロネロール、ゲラニオール、ネロール、フェネチルア
ルコール)の1種以上を含有する溶媒、又は有機エステ
ル類(例えば酢酸エチル、オレイン酸メチル、酢酸ブチ
ル、グリセリド)の1種以上を含有する溶媒であればよ
く、使用する金属又は金属ペーストの用途によって適宜
選択できる。更には、ミネラルスピリット、トリデカ
ン、ドデシルベンゼンもしくはそれらの混合物、又はそ
れらにα−テルピネオールを混合したもの、炭素数5以
上の炭化水素(例えば、ピネン等)、アルコール(例え
ば、n−ヘプタノール等)、エーテル(例えば、エチル
ベンジルエーテル等)、エステル(例えば、n−ブチル
ステアレート等)、ケトン(例えば、ジイソブチルケト
ン等)、有機窒素化合物(例えば、トリイソプロパノー
ルアミン等)、有機ケイ素化合物(シリコーン油等)、
有機硫黄化合物もしくはそれらの混合物を用いることも
できる。なお、有機溶媒中に必要に応じて適当な有機物
を添加してもよい。
Further, as an organic solvent for forming the above conductive material into a paste capable of being ejected from a droplet ejection head, one of alcohols having 5 or more carbon atoms (for example, terpineol, citronellol, geraniol, nerol, phenethyl alcohol) is used. A solvent containing one or more kinds, or a solvent containing one or more kinds of organic esters (eg, ethyl acetate, methyl oleate, butyl acetate, glyceride) may be used, and can be appropriately selected depending on the use of the metal or metal paste to be used. . Furthermore, mineral spirits, tridecane, dodecylbenzene or a mixture thereof, or a mixture thereof with α-terpineol, a hydrocarbon having 5 or more carbon atoms (for example, pinene, etc.), alcohol (for example, n-heptanol, etc.), Ethers (eg ethylbenzyl ether etc.), esters (eg n-butyl stearate etc.), ketones (eg diisobutyl ketone etc.), organic nitrogen compounds (eg triisopropanolamine etc.), organosilicon compounds (silicone oil etc.) ),
It is also possible to use an organic sulfur compound or a mixture thereof. In addition, you may add a suitable organic substance in an organic solvent as needed.

【0087】なお、上記実施形態では、液滴吐出ヘッド
20は1つの液滴吐出装置IJに対して1つ設けられた
構成であって、この液滴吐出装置IJを複数基用いるこ
とによって多層配線パターンを形成しているが、1つの
液滴吐出装置に対して複数の液滴吐出ヘッドを取り付け
た構成とすることももちろん可能である。この場合、複
数の液滴吐出ヘッドのそれぞれには、異なる材料を含む
インクを収容するタンク(インク収容装置)がパイプ
(流路)を介してそれぞれ独立して接続される。
In the above embodiment, one droplet discharge head 20 is provided for each droplet discharge device IJ, and a plurality of droplet discharge devices IJ are used to form a multilayer wiring. Although the pattern is formed, it is of course possible to adopt a configuration in which a plurality of droplet discharge heads are attached to one droplet discharge device. In this case, a tank (ink containing device) containing ink containing different materials is independently connected to each of the plurality of droplet discharge heads via a pipe (flow path).

【0088】なお、本発明の技術範囲は上記実施の形態
に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない
範囲において種々の変更を加えることが可能であり、実
施の形態で挙げた具体的な材料や層構成などはほんの一
例に過ぎず、適宜変更が可能である。
The technical scope of the present invention is not limited to the above-mentioned embodiment, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention. The material and layer structure are merely examples, and can be appropriately changed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明のデバイス製造装置の一例を示す概略斜
視図である。
FIG. 1 is a schematic perspective view showing an example of a device manufacturing apparatus of the present invention.

【図2】液滴吐出ヘッドの分解斜視図である。FIG. 2 is an exploded perspective view of a droplet discharge head.

【図3】液滴吐出ヘッドの主要部の斜視図一部断面図で
ある。
FIG. 3 is a partial cross-sectional view of a perspective view of a main part of the droplet discharge head.

【図4】アクティブマトリクス型有機EL表示装置を示
す回路図である。
FIG. 4 is a circuit diagram showing an active matrix type organic EL display device.

【図5】図7の表示装置における画素部の平面構造を示
す拡大図である。
5 is an enlarged view showing a planar structure of a pixel portion in the display device of FIG.

【図6】本発明の電気光学装置の製造方法によって製造
された有機EL表示装置の層構成の一例を示す図であ
る。
FIG. 6 is a diagram showing an example of a layer structure of an organic EL display device manufactured by a method for manufacturing an electro-optical device of the present invention.

【図7】本発明の電気光学装置の製造方法の一例を示す
説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing an example of a method for manufacturing an electro-optical device of the present invention.

【図8】本発明の電気光学装置の製造方法の一例を示す
説明図である。
FIG. 8 is an explanatory diagram showing an example of a method for manufacturing an electro-optical device of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

20 液滴吐出ヘッド 323a コンタクトホール 544 ドレイン電極(第1の材料層、導電性材料
層) 584 第2層間絶縁層(第2の材料層、絶縁性材料
層) CONT 制御装置 H 非吐出領域(非滴下領域) IJ デバイス製造装置(液滴吐出装置) P 基板
20 Droplet Ejection Head 323a Contact Hole 544 Drain Electrode (First Material Layer, Conductive Material Layer) 584 Second Interlayer Insulating Layer (Second Material Layer, Insulating Material Layer) CONT Control Device H Non-Ejection Area (Non Dropping area) IJ device manufacturing device (droplet discharging device) P substrate

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 3K007 AB18 DB03 FA01 5F033 GG04 HH08 HH17 HH21 HH38 JJ08 JJ17 JJ21 JJ38 KK04 KK08 KK17 KK21 QQ00 RR04 RR09 RR25 SS22 VV15 XX33 XX34 5F058 BA20 BC02 BC03 BF46 BH01 BJ02 5F110 AA16 BB01 CC01 DD01 DD02 DD03 DD04 DD13 EE03 EE04 EE44 FF02 FF03 FF21 FF30 FF35 GG02 GG13 GG25 GG45 HJ01 HJ13 HL03 HL04 NN03 NN23 NN24 NN32 NN39 PP03 PP06 QQ11 QQ19 QQ24    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    F-term (reference) 3K007 AB18 DB03 FA01                 5F033 GG04 HH08 HH17 HH21 HH38                       JJ08 JJ17 JJ21 JJ38 KK04                       KK08 KK17 KK21 QQ00 RR04                       RR09 RR25 SS22 VV15 XX33                       XX34                 5F058 BA20 BC02 BC03 BF46 BH01                       BJ02                 5F110 AA16 BB01 CC01 DD01 DD02                       DD03 DD04 DD13 EE03 EE04                       EE44 FF02 FF03 FF21 FF30                       FF35 GG02 GG13 GG25 GG45                       HJ01 HJ13 HL03 HL04 NN03                       NN23 NN24 NN32 NN39 PP03                       PP06 QQ11 QQ19 QQ24

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板に対して流動体を定量的に滴下可能
な滴下装置から流動体を滴下して前記基板上に複数の材
料層を積層する工程を有するデバイスの製造方法におい
て、 前記基板上に形成された第1の材料層上面に非滴下領域
を予め設定しておき、前記第1の材料層のうち前記非滴
下領域以外の部分に流動体を滴下し、前記第1の材料層
上層に第2の材料層を形成することを特徴とするデバイ
スの製造方法。
1. A method of manufacturing a device, comprising: dropping a fluid from a dropping device capable of quantitatively dropping the fluid onto a substrate to stack a plurality of material layers on the substrate. A non-dripping region is set in advance on the upper surface of the first material layer formed on the first material layer, and the fluid is dripped on a portion of the first material layer other than the non-dripping region to form the first material layer upper layer. A method for manufacturing a device, comprising forming a second material layer on the substrate.
【請求項2】 前記滴下装置は液滴吐出ヘッドであるこ
とを特徴とする請求項1記載のデバイスの製造方法。
2. The device manufacturing method according to claim 1, wherein the dropping device is a droplet discharge head.
【請求項3】 前記第1の材料層は導電性材料層であ
り、前記第2の材料層は絶縁性材料層であり、前記第2
の材料層を形成後、前記非滴下領域に導電性材料を充填
することを特徴とする請求項1又は2記載のデバイスの
製造方法。
3. The first material layer is a conductive material layer, the second material layer is an insulating material layer, and the second material layer is an insulating material layer.
3. The method for manufacturing a device according to claim 1, wherein the non-dripping region is filled with a conductive material after forming the material layer.
【請求項4】 前記第2の材料層を形成するための滴下
動作をする前に、前記非滴下領域を含む前記第1の材料
層に対して、該第1の材料層及び該非滴下領域に対する
前記流動体の親和性を制御する表面処理を行うことを特
徴とする請求項1〜3のいずれか一項記載のデバイスの
製造方法。
4. Before the dropping operation for forming the second material layer, with respect to the first material layer including the non-dripping region, with respect to the first material layer and the non-dripping region The device manufacturing method according to claim 1, wherein a surface treatment for controlling the affinity of the fluid is performed.
【請求項5】 基板に対して流動体を定量的に滴下可能
な滴下装置を備えるデバイス製造装置において、 前記基板上に予め形成されている第1の材料層上面に非
滴下領域を設定し、前記第1の材料層のうち前記非滴下
領域以外の部分に前記流動体を滴下するように前記滴下
装置の滴下動作を制御する制御装置を備えることを特徴
とするデバイス製造装置。
5. A device manufacturing apparatus including a dropping device capable of quantitatively dropping a fluid onto a substrate, wherein a non-dripping region is set on an upper surface of a first material layer formed in advance on the substrate, A device manufacturing apparatus comprising: a control device that controls a dropping operation of the dropping device so that the fluid is dropped onto a portion of the first material layer other than the non-dripping region.
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