JP2003282505A - ウエーハの研磨装置 - Google Patents
ウエーハの研磨装置Info
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- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Abstract
条件の変更を作業性よく行えるウエーハの研磨装置を提
供する。 【解決手段】 ヘッド本体12と保持プレート18との
間に形成された第1の加圧室34と、ヘッド本体12と
リテーナリング20との間に形成された第2の加圧室3
5と、第1の加圧室34に接続され、かつ圧力源44に
接続された第1のレギュレータ40と、第2の加圧室3
5に接続され、かつ圧力源44に接続された第2のレギ
ュレータ41と、リテーナリング18が研磨パッド2を
押圧する圧力であるリテーナ圧と、保持プレート18が
ウエーハを介して研磨パッド2を押圧する圧力であるプ
レート圧との比が、あらかじめ設定された複数段の設定
圧力比の間で切り替えられるように第1のレギュレータ
40および第2のレギュレータ41を制御する制御部4
6とを具備することを特徴とする。
Description
に関する。
ーハを研磨する研磨装置としては、例えば特開平8−2
29808号公報に示されるものがある。この装置は、
表面に研磨パッドが貼付されたプラテン(定盤)と、研
磨すべきウエーハの一面を保持して研磨パッドにウエー
ハの他面を当接させるウエーハ保持ヘッドと、これらウ
エーハ保持ヘッドをプラテンに対し相対運動させること
により研磨パッドでウエーハ他面を研磨するヘッド駆動
機構とを具備する。またウエーハ保持ヘッドは、ヘッド
本体と、ヘッド本体内に設けられ、研磨すべきウエーハ
の前記一面を保持するための円盤状のキャリア(保持プ
レート)と、このキャリアの外周に同心状に配置され、
研磨時に研磨パッドに当接すると共にウエーハの外周を
保持するためのリテーナリングと、キャリアをプラテン
側へ向けて圧力調整可能に押圧するためのキャリア圧調
整機構と、このキャリア圧調整機構とは独立して設けら
れリテーナリングをプラテン側へ向けて圧力調整可能に
押圧するためのリング圧調整機構とを有する。
調整機構とは別個に設けられたリング圧調整機構を操作
することによって、研磨パッドに対するリテーナリング
の当接圧力を調整することができ、研磨パッドの波打ち
変形を防いで、ウエーハ外周部の過研磨を防止すること
が可能となる。すなわち、キャリア(ウエーハ)からの
押圧力による研磨パッドの変形量と、リテーナリングか
らの押圧力による研磨パッドの変形量とを調整でき、こ
れら両領域の境界部での研磨パッドの波打ち変形を防止
して平坦に調整できるから、ウエーハ外周部の過研磨を
極力防止できるようになる。
ャリア圧およびリング圧をそれぞれ別個にきめ細かく調
整できるので、理想的なウエーハの研磨加工が行える。
しかしながら、逆に、現場での圧力調整作業が厄介で困
難なものとなっている。すなわち、キャリア圧およびリ
ング圧は相対的なものであり、キャリア圧を変更する際
にはリング圧も相対的にバランスをとって変更する必要
が多く、これらの変更を現場作業者の経験と勘に頼って
行わざるを得ず、作業性を低減させてしまうという課題
が生じた。そこで、本発明は、上記課題を解決すべきな
され、その目的とするところは、リング圧、プレート圧
(キャリア圧)の調整が容易で、研磨条件の変更を作業
性よく行えるウエーハの研磨装置を提供するにある。
研磨装置は、ヘッド本体内に、ウエーハの保持プレー
ト、および該保持プレートの外側に保持プレートを同心
状に囲むリテーナリングが配置されたウエーハ保持ヘッ
ドと、研磨パッドが貼付された定盤とを具備し、前記ウ
エーハ保持ヘッドに保持されたウエーハが研磨パッドに
押圧され、前記ウエーハ保持ヘッドと定盤とを相対回転
することによって、研磨パッド面に押圧されたウエーハ
面を研磨するウエーハの研磨装置において、前記ヘッド
本体と保持プレートとの間に形成された第1の加圧室
と、前記ヘッド本体とリテーナリングとの間に形成され
た第2の加圧室と、前記第1の加圧室に接続され、かつ
圧力源に接続された第1のレギュレータと、前記第2の
加圧室に接続され、かつ前記圧力源に接続された第2の
レギュレータと、前記リテーナリングが研磨パッドを押
圧する圧力であるリテーナ圧と、前記保持プレートがウ
エーハを介して研磨パッドを押圧する圧力であるプレー
ト圧との比が、あらかじめ設定された複数段の設定圧力
比の間で切り替えられるように前記第1のレギュレータ
および第2のレギュレータを制御する制御部とを具備す
ることを特徴とする。
圧の比が、1:1を中心とする所要レンジ内で複数段の
圧力比に設定すると好適である。
下面側に固定されたリング状の周壁部とを有して下方に
開放する凹部を具備し、前記リテーナリングおよび保持
プレートは、前記ヘッド本体の凹部内に収容され、前記
リテーナリングおよび前記保持ヘッドは、ダイヤフラム
を介して前記ヘッド本体に支持され、該ダイヤフラム
は、前記周壁部に外周側が固定され、中途部がリテーナ
リング上面に固定され、該リテーナリングに固定される
部位よりもさらに内周側において前記天板部下底面に固
定され、最内周部において前記保持プレートの上面に固
定されており、該ダイヤフラムの前記天板部下底面に固
定されている部位よりも外方のダイヤフラムの部位と前
記ヘッド本体との間に前記第1の加圧室が形成され、前
記ダイヤフラムの前記天板部下底面に固定されている部
位よりも内方のダイヤフラムの部位と前記ヘッド本体と
の間に前記第2の加圧室が形成されていることを特徴と
する。
添付図面に基づいて詳細に説明する。図1は研磨装置全
体を示す概略図である。1は定盤で、上面に研磨パッド
2が貼付されている。定盤1は回転軸3を中心に水平面
内で回転される。10はウエーハ保持ヘッドであり、回
転軸17により水平面内で回転される。ウエーハ保持ヘ
ッド10に保持されたウエーハが研磨パッド2に押圧さ
れ、ウエーハ保持ヘッド10と定盤1とを相対回転する
ことによって、研磨パッド2面に押圧されたウエーハ面
を研磨するものである。なお、5は研磨パッド2上に研
磨液を供給する研磨液供給ノズルである。
12はそのヘッド本体であり、円板状の天板部13と、
天板部13の下面に取り付けボルト(図示せず)によっ
て固定された筒状の周壁部14とからなり、したがっ
て、下方に開口する凹部16を有する。ヘッド本体10
の上面中央部には回転軸17が取り付けられ、保持ヘッ
ド10を軸線を中心に回転させる。周壁部14の内壁面
側は2段の段差部14a、14bを有する階段状に形成
されている。
の保持プレート18、および該保持プレート18の外側
に保持プレート18を同心状に囲むリテーナリング20
が配置されている。保持プレート18は、プレート本体
21と取付板22とからなり、プレート本体21と取付
板22とは図示しないボルトによって連結され、一体化
されている。プレート本体21の上面には凹部23が形
成され、プレート本体21下面には凹部23に連通する
多数の吸引孔24が設けられている。凹部23には図示
しない真空発生源に接続される吸引管25が接続されて
いる。
ぼされることによって、ウエーハは保持プレート18下
面に保持され、ウエーハ保持ヘッド10と共に移動が可
能となる。すなわち、定盤1から外れた位置でウエーハ
保持ヘッド10にウエーハが保持され、ウエーハ保持ヘ
ッド10と共に定盤1上に移動し、研磨パッド2上に押
圧されるのである。研磨中は、吸引孔24からの吸引は
解除される。
ート18からウエーハが外れないように保持プレート1
8の周囲を囲む。またリテーナリング20は保持プレー
ト18の周囲の研磨パッド2を押圧して、保持プレート
18によって押圧されている部位の研磨パッド2との間
に段差が生じないようにして(研磨パッドの波打ち現象
を防止して)、ウエーハ外周部の過研磨を防止する。な
お、ウエーハを吸引力によって保持プレート18下面に
保持するのでなく、保持プレート18下面にバッキング
材(図示せず)を設け、バッキング材にウエーハを水貼
りして(水の表面張力で)保持するようにしてもよい。
ある。ダイヤフラム27の外周部は、取付リング28に
よって段差部14a上に締め付けボルト(図示せず)に
よって固定されている。外周部より内側のダイヤフラム
27部分は取付リング29によって、天板部13下底面
に締め付けボルト(図示せず)によって固定されてい
る。取付リング29によって固定される部位よりも内側
の部位のダイヤフラム27は、取付リング30によって
リテーナリング20の上面に締め付けボルト(図示せ
ず)によって固定されている。
りも内側の部位のダイヤフラム27は、取付リング31
によって天板部13の下底面に締め付けボルト(図示せ
ず)によって固定されている。ダイヤフラム27の最内
周部は、取付リング32によって取付板22の上面に締
め付けボルト(図示せず)によって固定されている。し
たがってリテーナリング20および保持プレート18は
ダイヤフラム27を介してヘッド本体12に支持(吊
持)され、ダイヤフラム27の伸縮の範囲内で軸方向に
移動可能となっている。
7と取付リング31によって区画される第1の加圧室3
4と、ダイヤフラム27、取付リング29および31と
によって区画される第2の加圧室とに仕切られる。な
お、取付リング28と取り付けリング30との間のダイ
ヤフラム27は、取付リング29によって必ずしも天板
部13に固定しなくともよい。また、保持ヘッド10が
研磨パッド2の上方に移動する際、リテーナリング20
および保持プレート18が下方に垂れ下がらないよう
に、リテーナリング20および保持プレート18が当接
するストッパ(図示せず)をヘッド本体12の適宜位置
に設けるとよい。
軸17に設けた通路36によって、後記する第1のレギ
ュレータに接続されている。また、第2の加圧室35は
天板部13および回転軸17に設けた通路37によっ
て、後記する第2のレギュレータに接続されている。第
1の加圧室34に所要圧のエアが供給されることで、保
持プレート18の保持面18aに保持されたウエーハを
所要圧力で定盤1の研磨パッド2に押圧する。また、第
2の加圧室35に所要圧のエアが供給されることで、リ
テーナリング20を所要圧力で定盤1の研磨パッド2に
押圧する。
およびリテーナリング20の外周面に当接する多数の球
体38が収納されている。また、リテーナリング20の
内壁面側にも段差面が形成され、この段差面上にも、リ
テーナリング20の内周面および保持プレート18の外
周面に当接する多数の球体39が収納されている。これ
ら球体38、39はリテーナリング20および保持プレ
ート18の径方向への振れを防止し、軸方向への移動を
スムーズにさせる。
1の加圧室34は第1のレギュレータ40に通路36を
介して接続される。第2の加圧室35は第2のレギュレ
ータ41に通路37を介して接続される。第1のレギュ
レータ40および第2のレギュレータ41はそれぞれ配
管42、配管43を介して共通の圧力源(エアー圧)4
4に接続されている。第1のレギュレータ40および第
2のレギュレータ41は共に同一の公知の電磁弁構造を
なし、電磁コイルに通電される電流値に比例して、それ
ぞれ第1の加圧室34、第2の加圧室35へのエアーの
供給圧力を制御しうるようになっている。
ータ40および第2のレギュレータ41の電磁コイル
に、制御部(CPU)46からの指令に基づく量の電流
を供給する。制御部46では、リテーナリング20が研
磨パッドを押圧する圧力(リテーナ圧)と、保持プレー
ト18がウエーハを介して研磨パッドを押圧する圧力
(プレート圧)との比が、あらかじめ設定された複数段
の設定圧力比の間で切り替えられるように、電流供給部
45を通じて所要値の電流を第1のレギュレータ40お
よび第2のレギュレータ41に供給するようになってい
る。
テーナ圧とプレート圧との比が、 Aモードは、0.8:1.2 Bモードは、0.9:1.1 Cモードは、1.0:1.0 Dモードは、1.1:0.9 Eモードは、1.2:0.8 などとなるようにあらかじめ設定された圧力比をいう。
この圧力比は、研磨装置ごとに、あらかじめ、試験研磨
により、研磨条件の変更やバラツキを考慮して、所要レ
ンジで、圧力の可変モードを設定しておくのである。
積当りの圧力)は、通常は1.0:1.0が、研磨パッド
に対する押圧力が等しく、研磨パッドの変形量が等しく
なって、ウエーハ周辺部の過研磨が防止できるといいう
る。しかし、研磨液の種類等の研磨条件の変動によって
は、別の圧力比を選択した方がベターな場合が当然生じ
る。 そこで、1.0:1.0を中心値として、その
前後に所要レンジで複数段の圧力比を設定しておくので
ある。この圧力比は図示しない記憶部にあらかじめ入力
される。
の圧力比(例えば上記Cモード)で研磨してみて、変更
を要すると判断した場合には、変更の方向を研磨状況か
ら見出し、例えばリテーナ圧が高い方がよいとなった場
合には、Dモード、あるいはEモードを選択する。制御
部46は、この選択された圧力比となるように電流値を
演算し、電流供給部45を制御して第1のレギュレータ
40、第2のレギュレータ41に所要の電流を供給する
のである。作業者は、所要の圧力比となるように容易に
調整しうるから、試験研磨の結果を通じて、容易に最適
の圧力条件を設定できる。
ドに限定されないことはもちろんである。上記のよう
に、1.0:1.0を挟む複数段の圧力比に設定するの
が好適であるが、リテーナ圧:プレート圧を、例えば、
1:0.5、1:0.4、1:0.3など、あるいは、
プレート圧:リテーナ圧を、例えば、1:0.5、1:
0.4、1:0.3などと設定するようにしてもよい。
ナ圧とプレート圧を、あらかじめ設定した複数の圧力比
の間で選択しうるから、研磨条件の変動等により、リテ
ーナ圧とプレート圧を変更する必要がある場合にも、リ
テーナ圧、プレート圧の調整が容易で、研磨条件の変更
を作業性よく行えるウエーハの研磨装置を提供できる。
る。
Claims (3)
- 【請求項1】 ヘッド本体内に、ウエーハの保持プレー
ト、および該保持プレートの外側に保持プレートを同心
状に囲むリテーナリングが配置されたウエーハ保持ヘッ
ドと、研磨パッドが貼付された定盤とを具備し、前記ウ
エーハ保持ヘッドに保持されたウエーハが研磨パッドに
押圧され、前記ウエーハ保持ヘッドと定盤とを相対回転
することによって、研磨パッド面に押圧されたウエーハ
面を研磨するウエーハの研磨装置において、 前記ヘッド本体と保持プレートとの間に形成された第1
の加圧室と、 前記ヘッド本体とリテーナリングとの間に形成された第
2の加圧室と、 前記第1の加圧室に接続され、かつ圧力源に接続された
第1のレギュレータと、 前記第2の加圧室に接続され、かつ前記圧力源に接続さ
れた第2のレギュレータと、 前記リテーナリングが研磨パッドを押圧する圧力である
リテーナ圧と、前記保持プレートがウエーハを介して研
磨パッドを押圧する圧力であるプレート圧との比が、あ
らかじめ設定された複数段の設定圧力比の間で切り替え
られるように前記第1のレギュレータおよび第2のレギ
ュレータを制御する制御部とを具備することを特徴とす
るウエーハの研磨装置。 - 【請求項2】 前記設定圧力比は、リテーナ圧とプレー
ト圧の比が、1:1を中心とする所要レンジ内で複数段
の圧力比に設定されていることを特徴とする請求項1記
載のウエーハの研磨装置。 - 【請求項3】 前記ヘッド本体は天板部と該天板部下面
側に固定されたリング状の周壁部とを有して下方に開放
する凹部を具備し、 前記リテーナリングおよび保持プレートは、前記ヘッド
本体の凹部内に収容され、 前記リテーナリングおよび前記保持ヘッドは、ダイヤフ
ラムを介して前記ヘッド本体に支持され、 該ダイヤフラムは、前記周壁部に外周側が固定され、中
途部がリテーナリング上面に固定され、該リテーナリン
グに固定される部位よりもさらに内周側において前記天
板部下底面に固定され、最内周部において前記保持プレ
ートの上面に固定されており、 該ダイヤフラムの前記天板部下底面に固定されている部
位よりも外方のダイヤフラムの部位と前記ヘッド本体と
の間に前記第1の加圧室が形成され、 前記ダイヤフラムの前記天板部下底面に固定されている
部位よりも内方のダイヤフラムの部位と前記ヘッド本体
との間に前記第2の加圧室が形成されていることを特徴
とする請求項1または2記載のウエーハの研磨装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002086559A JP2003282505A (ja) | 2002-03-26 | 2002-03-26 | ウエーハの研磨装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002086559A JP2003282505A (ja) | 2002-03-26 | 2002-03-26 | ウエーハの研磨装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003282505A true JP2003282505A (ja) | 2003-10-03 |
Family
ID=29233123
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002086559A Pending JP2003282505A (ja) | 2002-03-26 | 2002-03-26 | ウエーハの研磨装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003282505A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100814068B1 (ko) | 2007-03-30 | 2008-03-17 | 티아이씨덕흥 주식회사 | Cmp 장비의 웨이퍼 연마 헤드 |
JP2013157541A (ja) * | 2012-01-31 | 2013-08-15 | Ebara Corp | 基板保持装置、研磨装置、および研磨方法 |
JP2013202755A (ja) * | 2012-03-29 | 2013-10-07 | Ebara Corp | 基板保持装置、研磨装置、および研磨方法 |
JP2017109281A (ja) * | 2015-12-18 | 2017-06-22 | 株式会社荏原製作所 | 研磨装置、制御方法及びプログラム |
-
2002
- 2002-03-26 JP JP2002086559A patent/JP2003282505A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100814068B1 (ko) | 2007-03-30 | 2008-03-17 | 티아이씨덕흥 주식회사 | Cmp 장비의 웨이퍼 연마 헤드 |
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CN106891241A (zh) * | 2015-12-18 | 2017-06-27 | 株式会社荏原制作所 | 研磨装置、该研磨装置的控制方法以及控制程序 |
US10391603B2 (en) | 2015-12-18 | 2019-08-27 | Ebara Corporation | Polishing apparatus, control method and recording medium |
TWI706828B (zh) * | 2015-12-18 | 2020-10-11 | 日商荏原製作所股份有限公司 | 研磨裝置、控制方法及記憶媒體 |
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