JP2003274086A

JP2003274086A - 画像読み取り装置の検査方法

Info

Publication number: JP2003274086A
Application number: JP2002068512A
Authority: JP
Inventors: Kazuhiko Ichikawa; 一彦市川
Original assignee: Seiko Epson Corp
Current assignee: Seiko Epson Corp
Priority date: 2002-03-13
Filing date: 2002-03-13
Publication date: 2003-09-26

Abstract

(57)【要約】【課題】検査時間を短縮する画像読み取り装置の検査
方法を提供する。【解決手段】検査プログラムは検査開始指示を受け付
けるとイメージスキャナに読み取り開始を指示し、イメ
ージスキャナに検査板のテストチャートの全面を１パス
で走査させる。テストチャートには、読み取り原点の位
置を検出するための点形状のマークが形成されている原
点テストパターンと、自然画からなる主観テストパター
ンと、走査線と平行な方向に明度が一様な明度テストパ
ターンと、ＭＴＦを検査するための細線からなるＭＴＦ
テストパターンと、明度がステップ変化している色ずれ
テストパターンとが形成されている。検査板を走査した
結果として得られる画像データは検査装置に入力され
る。ステップＳ１２０では、検査装置に入力された画像
データを検査プログラムで解析する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、画像読み取り装置
の検査方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、原稿の光学像をイメージセンサに
入力し、イメージセンサで光学情報を電気信号に変換す
ることで原稿を読み取る画像読み取り装置として、イメ
ージスキャナ、ファクシミリ、複写機等が知られてい
る。一般に画像読み取り装置の製造時には、読み取り原
点の位置を検出する原点検査、出力画像のコントラスト
を評価するＭＴＦ（Modulation transfer function）検
査、明度が一様な画像に対応する出力画像の濃淡の一様
性検査、オペレータによる出力画像の主観的な検査等を
全数について実施している。

【０００３】特開２００１−２７４９４１号公報及び特
開２００１−２７４９５５号公報には、画像読み取り装
置の検査工程を簡素化するための技術として、検査項目
に応じた種々のパターンが形成された１つのテストチャ
ートを原稿台に載置して走査させることで画像読み取り
装置を検査する方法が開示されている。これらの公報に
よると、各検査項目に対応したパターン毎に走査線を往
復させてテストチャートを読み取らせ、その結果を画像
読み取り装置に接続したコンピュータで解析し、検査項
目毎に次の検査項目に進むか否かを判定している。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかし、検査項目毎に
テストチャートを繰り返し読み取らせていたのでは全て
の検査項目に対応するパターンの入力を完了するまでに
要する時間が長くなる。一方、コンピュータ及びその周
辺装置のスループットやメモリの容量は年々増大してい
るので、各検査項目に対応したパターン毎に走査線を往
復させてテストチャートを繰り返し読み取らせ、画像読
み取り装置に接続したコンピュータを用いて各パターン
を表す画像データを個別に解析することが非効率になり
つつある。

【０００５】本発明は、このような事情に鑑みて創作さ
れたものであって、検査時間を短縮する画像読み取り装
置の検査方法を提供することを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】請求項１に記載の画像読
み取り装置の検査方法は、読み取り原点の位置を検出す
るための点形状のマークが形成されている原点テストパ
ターンと、自然画からなる主観テストパターンと、走査
線と平行な方向に明度が一様な明度テストパターンと、
ＭＴＦを検査するための細線からなるＭＴＦテストパタ
ーンと、明度が反復的に変化している色ずれテストパタ
ーンとが形成されているテストチャートを読み取らせて
画像読み取り装置を検査する方法であって、前記原点テ
ストパターンと、前記主観テストパターンと、前記明度
テストパターンと、前記ＭＴＦテストパターンと、前記
色ずれテストパターンとを画像読み取り装置に１パスで
読み取らせる入力工程と、前記原点テストパターンと、
前記明度テストパターンと、前記ＭＴＦテストパターン
と、前記色ずれテストパターンと、前記主観テストパタ
ーンとについて画像読み取り装置の出力を解析する解析
工程と、を含むことを特徴とする。

【０００７】請求項１に記載の画像読み取り装置の検査
方法によると、複数のテストパターンを画像読み取り装
置に１パスで読み取らせることにより、テストパターン
毎に走査線を往復させ複数パスでテストチャート全体を
読み取らせる場合に比べて走査線を移動させる時間を短
縮することができるため検査時間を短縮することができ
る。

【０００８】請求項２に記載の画像読み取り装置は、点
形状のマークが形成されている原点テストパターンと、
自然画からなる主観テストパターンと、走査線と平行な
方向に明度が一様な明度テストパターンと、ＭＴＦを検
査するための細線からなるＭＴＦテストパターンと、明
度が反復的に変化している色ずれテストパターンとが形
成されているテストチャートを読み取らせて画像読み取
り装置を検査する方法であって、前記原点テストパター
ンと前記主観テストパターンとを含むテストチャート上
の第一の連続領域を基本解像度より低い解像度の１パス
で画像読み取り装置に読み取らせる低解像度入力工程
と、前記明度テストパターンと、前記ＭＴＦテストパタ
ーンと、前記色ずれテストパターンとを含み前記第一の
連続領域と重複しないテストチャート上の第二の連続領
域を基本解像度の１パスで画像読み取り装置に読み取ら
せる高解像度入力工程と、前記原点テストパターンと、
前記主観テストパターンと、前記ＭＴＦテストパターン
と、前記色ずれテストパターンと、前記明度テストパタ
ーンとについて画像読み取り装置の出力を解析する解析
工程と、を含むことを特徴とする。

【０００９】請求項２に記載の画像読み取り装置の検査
方法によると、互いに同一の解像度で読み取って解析で
きる複数のテストパターンを画像読み取り装置にまとめ
て１パスで読み取らせることにより、テストパターン毎
に走査線を往復させる場合に比べて走査線を移動させる
時間を短縮することができるため検査時間を短縮するこ
とができる。また、原点テストパターンと主観テストパ
ターンについては基本解像度より低い解像度で読み取ら
せ、明度テストパターンと、ＭＴＦテストパターンと、
色ずれテストパターンについては基本解像度で読み取ら
せることにより検査結果の信頼性を低下させることなし
に検査時間をさらに短縮することができる。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下、実施例に基づいて本発明の
実施の形態を説明する。（第１実施例）図２は、本発明の第一実施例に係るイメ
ージスキャナの検査方法に用いるハードウェアの構成を
示す模式図である。第一実施例に係る検査方法は、フラ
ットベッド型のイメージスキャナ４０について、読み取
り原点の位置、出力画像の濃淡のレベルと一様性、ＭＴ
Ｆ、色ずれ、出力画像の主観評価等をイメージスキャナ
４０に接続した検査装置４２を用いて検査するものであ
る。

【００１１】図３は、イメージスキャナ４０の機械的構
成を示す模式的な断面図である。図４は、イメージスキ
ャナ４０を示すブロック図である。以下、図３及び図４
に基づいて検査対象となるイメージスキャナ４０の構成
を説明する。

【００１２】原稿台６２は、概ね矩形のガラス板等の透
明板で形成され、その盤面６０に写真フィルム、写真、
印刷文書等の原稿が載置される。原稿台６２はＬ字形の
原稿ガイド５２によって図示しないケースに固定されて
いる。原稿ガイド５２は原稿台６２の盤面６０の周囲に
互いに垂直に交わる段差面５４、６４を形成している。
段差面５４はリニアイメージセンサ５８の走査線に対し
て平行である。段差面５４、６４に原稿を当接させるこ
とにより、原稿台６２の盤面６０上で原稿を位置決めす
ることができる。

【００１３】光源５６は、蛍光管ランプ等の管照明装置
から構成され、キャリッジ７４に搭載されている。光源
５６は原稿の走査線近傍を照射する。縮小光学系８０
は、ミラー７２及びレンズ５７で構成され、キャリッジ
７４に搭載されている。縮小光学系８０は、光源５６に
照射された原稿の走査線上の反射光像をリニアイメージ
センサ５８に縮小して結像させる。また、光源５６の位
置を変えて原稿の透過光像をリニアイメージセンサ５８
に結像させるようにしてもよい。

【００１４】リニアイメージセンサ５８は、ＲＧＢ各色
の受光素子がそれぞれキャリッジ７４の移動方向軸Ａに
垂直な平面上で原稿台６２の盤面６０と平行に並ぶ姿勢
でキャリッジ７４に搭載されている。ＲＧＢ各色に対応
する各受光素子列は互いに離間している。リニアイメー
ジセンサ５８はＲＧＢ各色について各１列の受光素子が
配列されているものでもよいし、２列以上の受光素子が
配列されているものでもよい。リニアイメージセンサ５
８は、縮小光学系８０により結像される走査線上の光学
像を走査し、その光学像の濃淡に相関する電気信号を出
力する。リニアイメージセンサ５８は、可視光、赤外
光、紫外光等、所定の波長領域の光を光電変換して得ら
れる電荷をフォトダイオード等の受光素子に一定時間蓄
積し、受光素子ごとの受光量に応じた電気信号をＣＣＤ
（Charge Coupled Device）、ＭＯＳトランジスタスイ
ッチ等を用いて出力する。

【００１５】主走査駆動部９８は、リニアイメージセン
サ５８を駆動するために必要な駆動パルスをリニアイメ
ージセンサ５８に出力する駆動回路である。主走査駆動
部９８は、例えば同期信号発生器、駆動用タイミングジ
ェネレータ等から構成される。

【００１６】副走査駆動部９６は、プーリ６８に掛け渡
されてキャリッジ７４に係止されたベルト７０、ベルト
７０を回転させるモータ６６及び図示しない歯車列、駆
動回路等で構成されている。副走査駆動部９６がキャリ
ッジ７４をベルト７０で牽引することで走査線がそれに
垂直な方向（副走査方向）に移動するため、二次元画像
の走査が可能となる。

【００１７】ＡＦＥ（Analog Front End）部８２は、ア
ナログ信号処理部、Ａ／Ｄ変換器等から構成される。ア
ナログ信号処理部は、リニアイメージセンサ５８から出
力された電気信号に対して増幅、雑音低減処理等のアナ
ログ信号処理を施して出力する。Ａ／Ｄ変換器は、アナ
ログ信号処理部から出力された電気信号を所定ビット長
のディジタル表現の出力信号に量子化して出力する。

【００１８】ディジタル画像処理部８４は、ＡＦＥ部８
２から出力された出力信号に対し、ガンマ補正、画素補
間法による欠陥画素の補間、シェーディング補正、画像
信号の鮮鋭化等の処理を行って画像データを作成する。
尚、ディジタル画像処理部８４で施す上記各種の処理
は、制御部８６で実行するコンピュータプログラムによ
る処理に置き換えてもよい。ディジタル画像処理部８４
で作成された画像データはインタフェース４８（図２参
照）を介して検査装置４２に転送される。

【００１９】制御部８６は、ＣＰＵ８８、ＲＯＭ９０及
びＲＡＭ９２を備えている。ＣＰＵ８８はＲＯＭ９０に
記憶されたコンピュータプログラムを実行し、イメージ
スキャナの各部を制御する。ＲＯＭ９０はＣＰＵ８８が
実行するコンピュータプログラムや各種のデータを記憶
しているメモリであり、ＲＡＭ９２はプログラムや各種
のデータを一時的に記憶するメモリである。以上、イメ
ージスキャナ４０の構成を説明した。

【００２０】検査板１０は原稿台６２の全面を覆う矩形
平板状の金属板である。図５は検査板１０の表面に表さ
れたテストチャートを示す平面図である。検査板１０の
表面には明度テストパターン３８、第一色ずれテストパ
ターン３６、第二色ずれテストパターン３４、ＭＴＦテ
ストパターン２６、及び主観テストパターン３０が印刷
されたフィルムが貼付されている。

【００２１】原点テストパターン１６は、読み取り原点
の位置、走査線の傾き及び縮小光学系８０の倍率を検査
するためのものである。原点テストパターン１６には第
一白点１１及び第二白点１４が形成されている。第一白
点１１及び第二白点１４は、位置精度を向上させるた
め、黒色の金属素地１２に形成された凹部に白色塗料を
充填して形成したものである。請求項に記載のマークに
相当する第一白点１１は検査板１０の左上角部近傍にお
いて検査板１０の短辺及び長辺からそれぞれ所定距離離
れた位置に形成されている。原稿ガイド５２を用いて検
査板１０を原稿台６２上に位置決めすると第一白点１１
が原稿台６２上で位置決めされるため、その状態で第一
白点１１を読み取った画像上で第一白点１１に対応する
位置を検出することで読み取り原点の位置を検査するこ
とができる。第一白点１１及び第二白点１４は検査板１
０の短辺と平行な方向に互いに所定距離だけ離間して並
んでいる。したがって検査板１０の短辺を段差面５４に
当接させた状態で第一白点１１及び第二白点１４を読み
取った画像上において第一白点１１及び第二白点１４を
結ぶ線分の傾きを検出することで原稿ガイド５２の段差
面５４に対する走査線の傾きを検査することができる。
また検査板１０上で第一白点１１と第二白点１４の距離
は予め決まっているため、第一白点１１及び第二白点１
４を読み取った画像上で第一白点１１と第二白点１４に
対応する２点間の距離を検出することで縮小光学系８０
の倍率を検査することができる。

【００２２】明度テストパターン３８は、明度の再現性
及び一様性を検査するためのものである。明度テストパ
ターン３８は検査板１０の短辺に平行な白色、黒色、濃
い灰色、淡い灰色の４つの帯３７で構成され、各帯３７
の長手方向で明度が一様である。各帯３７を読み取った
画像の濃淡を検出することで明度の再現性及び一様性を
検査することができる。

【００２３】第一色ずれテストパターン３６は、リニア
イメージセンサ５８の受光素子の位置決め精度等に起因
するカラー画像の主走査方向の色ずれを検査するための
ものである。第一色ずれテストパターン３６は検査板１
０の長辺と平行な黒色の太線が検査板１０の短辺と平行
な方向に等間隔に白色の背景上に配列された図形であ
る。検査板１０が原稿台６２上で位置決めされると第一
色ずれテストパターン３６は主走査方向で明度が反復的
に変化する。このとき、走査方向の明度は黒色の太線の
輪郭でステップ状に変化する。第一色ずれテストパター
ン３６を読み取った画像について第一色ずれテストパタ
ーン３６の輪郭線に対応する部分で彩度や色相の変化を
検出することでカラー画像の主走査方向の色ずれを検査
することができる。

【００２４】第二色ずれテストパターン３４は、走査線
を移動させるモータ６６の制御等に起因するカラー画像
の副走査方向の色ずれを検査するためのものである。第
二色ずれテストパターン３４は検査板１０の短辺と平行
な黒色の太線が検査板１０の長辺と平行な方向に等間隔
に白色の背景上に配列された図形である。検査板１０が
原稿台６２上で位置決めされると第二色ずれテストパタ
ーン３４は副走査方向で明度が反復的に変化する。この
とき、副走査方向の明度は黒色の太線の輪郭でステップ
状に変化する。このため、第二色ずれテストパターン３
４を読み取った画像について第二色ずれテストパターン
３４の輪郭線に対応する部分で彩度や色相の変化を検出
することでカラー画像の副走査方向の色ずれを検査する
ことができる。

【００２５】ＭＴＦテストパターン２６は、イメージス
キャナ４０の解像度に応じて使い分けられる３つのＭＴ
Ｆチャート２０、２２、２４から構成されている。ＭＴ
Ｆチャート２０、２２、２４は、細線の線幅及び間隔が
異なる点を除いて実質的に同一の構成である。ＭＴＦチ
ャート２０は、検査板１０の短辺と平行に等間隔で配列
された多数の細線からなる第一テストパターン１８と、
検査板１０の長辺と平行に等間隔で配列された多数の細
線からなる第二テストパターン２８とで構成された帯状
の図形である。ＭＴＦチャート２０の長手方向軸、すな
わち第一テストパターン１８及び第二テストパターン２
８の配列方向軸は検査板１０の短辺に対して平行であ
る。したがって、検査板１０の短辺を段差面５４に当接
させると、第一テストパターン１８の細線は走査線と平
行になり、第二テストパターン２８の細線は走査線と垂
直になり、第一テストパターン１８と第二テストパター
ン２８とは走査線と平行な方向に並ぶ。第一テストパタ
ーン１８を読み取った画像のコントラストを検出するこ
とにより副走査方向のＭＴＦを検査することができ、第
二テストパターン２８を読み取った画像のコントラスト
を検出することにより主走査方向のＭＴＦを検査するこ
とができる。

【００２６】ＭＴＦチャート２０上での第一テストパタ
ーン１８及び第二テストパターン２８の配置は、縮小光
学系８０の特性に応じて決める。具体的には、縮小光学
系８０の特性に関連して主走査方向のＭＴＦが低くなる
傾向を持つ領域には、第二テストパターン２８を配置
し、副走査方向のＭＴＦが低くなる傾向を持つ領域には
第一テストパターン１８を配置する。また、主走査方向
のＭＴＦ及び副走査方向のＭＴＦの両方が低くなる傾向
を持つ領域については、その領域の中央に第一テストパ
ターン１８と第二テストパターン２８の境界が位置する
ように、第一テストパターン１８及び第二テストパター
ン２８の両方を配置することが望ましい。

【００２７】主観テストパターン３０は、検査装置４２
のディスプレイにありのままの画像として出力し、イメ
ージスキャナ４０の出力画像をオペレータの主観で検査
するためのものである。主観テストパターン３０は人物
写真、風景写真等の自然画等で構成されている。

【００２８】副走査テストパターン３２は、原点から最
も離れた読み取り領域の近傍まで走査線を移動させたと
きの走査線の位置決め精度を検査するためのものであ
る。副走査テストパターン３２は、検査板１０の左下角
部に位置している。副走査テストパターン３２は、第三
白点３３及び第四白点３１が形成されている。第三白点
３３及び第四白点３１は黒色の金属素地１２に形成され
た凹部に白色塗料を充填して形成したものである。原点
テストパターン１６と同様に、第三白点３３及び第四白
点３１は検査板１０上の位置が予め決められているた
め、第三白点３３及び第四白点３１を読み取った画像上
で第三白点３３及び第四白点３１に対応する位置を検出
することで、原点から最も離れた読み取り領域の近傍ま
で走査線を移動させたときの走査線の位置決め精度を検
査することができる。

【００２９】図２に示す検査装置４２は、キーボード４
６等の入力装置、ディスプレイ４４等の出力装置、小型
コンピュータを備えている。小型コンピュータは、図示
しないＣＰＵ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスク等を備
え、ＲＯＭ及びハードディスクに記録された検査プログ
ラムをＣＰＵで実行することにより、イメージスキャナ
４０のＭＴＦ検査を実施する。小型コンピュータのＲＡ
Ｍは、検査装置４２の全面をイメージスキャナ４０の基
本解像度で読み取って得られる画像データの全体を記憶
できる容量とすることが望ましい。

【００３０】図１は本発明の第一実施例に係るイメージ
スキャナの検査方法を示すフローチャートである。ステ
ップＳ１００では、図３に示すように原稿台６２に検査
板１０を載置し、検査板１０の端面を原稿ガイド５２の
段差面５４、６４に当接させて検査板１０を原稿台６２
上に位置決めする。

【００３１】ステップＳ１１０では、検査装置４２のキ
ーボード４６等を操作して検査プログラムに検査開始指
示を入力する。検査プログラムは検査開始指示を受け付
けるとイメージスキャナ４０に読み取り開始を指示し、
イメージスキャナ４０に検査板１０のテストチャートの
全面を１パスで走査させる。このとき、検査プログラム
はイメージスキャナ４０の解像度を基本解像度に設定す
る。検査板１０を走査した結果として得られる画像デー
タは、インタフェース４８を通じて検査装置４２に入力
される。

【００３２】ステップＳ１２０では、検査装置４２に入
力された画像データを検査プログラムで解析する。具体
的には、以下のようにして各テストパターンに対応する
領域を個別に解析する。

【００３３】原点テストパターン１６に対応する領域に
ついて濃淡を解析することで第一白点１１及び第二白点
１４の位置を検出し、読み取り原点の位置、縮小光学系
８０の倍率、走査線の傾きを数値化する。明度テストパ
ターン３８に対応する領域について濃淡を解析すること
で明度テストパターン３８を構成する帯毎に主走査方向
の濃淡の変化、濃淡値の平均、分散等を検出する。第一
色ずれテストパターン３６、第二色ずれテストパターン
３４及び主観テストパターン３０に対応する領域につい
ては、これらの領域に対応する画像をディスプレイ４４
に表示するために必要なデータフォーマットの変換等の
処理をする。ＭＴＦを検査するには、イメージスキャナ
４０の基本解像度に応じたＭＴＦチャート２０、２２、
２４のいずれか１つについて、それに対応する領域を解
析すればよい。またＭＴＦチャート２０、２２、２４に
はそれぞれ第一テストパターン１８及び第二テストパタ
ーン２８が含まれているため、縮小光学系８０の倍率に
基づいて第一テストパターン１８及び第二テストパター
ン２８に対応付ける領域を補正してもよい。副走査テス
トパターン３２に対応する領域について濃淡を解析する
ことで第三白点３３及び第四白点３１の位置を検出し、
原点から最も離れた読み取り領域の近傍まで走査線を移
動させたときの走査線の位置決め精度を数値化する。

【００３４】ステップＳ１３０では、ステップＳ１２０
で各テストパターンに対応する領域を個別に解析した結
果を検査装置４２のディスプレイ４４に表示する。読み
取り原点の位置、縮小光学系８０の倍率、走査線の傾
き、濃淡値の平均及び分散、ＭＴＦ、原点から最も離れ
た読み取り領域の近傍まで走査線を移動させたときの走
査線の位置決め精度については、例えばそれらを表すパ
ラメータを数値表示する。明度テストパターン３８を解
析して得る主走査方向の濃淡値の変化については、例え
ばグラフ表示する。第一色ずれテストパターン３６、第
二色ずれテストパターン３４及び主観テストパターン３
０はそれぞれ画像としてディスプレイ４４に表示する。

【００３５】以上説明した第一実施例に係るイメージス
キャナの検査方法では、ステップＳ１１０で検査板１０
のテストチャートを走査するとき、１パスでテストチャ
ートの全面を走査するため、１つのテストパターンを走
査するたびにキャリッジ７４をホームポジションまで往
復させる場合に比べてキャリッジ７４の移動距離が小さ
くなる。したがって、第一実施例に係るイメージスキャ
ナの検査方法によると、検査時間を短縮することができ
る。

【００３６】（第二実施例）図６は、本発明の第二実施
例に係るイメージスキャナの検査方法に用いる検査板１
３を示す平面図である。

【００３７】第二実施例に係る検査板１３は、各パター
ンの配列と、ＭＴＦテストパターン２６が１つのＭＴＦ
チャート２０で構成されている点とが第一実施例と異な
る。主観テストパターン３０は原点テストパターン１６
に隣接する位置に配列されている。この配置の理由は、
各テストパターンを読み取るときに互いに同一の読み取
り条件で読み取るテストパターンを検査板１３上でまと
めるためである。テストパターンのそれぞれの構成は第
一実施例と同一であるため、第一実施例と同一の符号を
付して説明を省略する。

【００３８】図７は、本発明の第二実施例に係るイメー
ジスキャナの検査方法を示すフローチャートである。ス
テップＳ２００では、原稿台６２に検査板１３を載置
し、検査板１３の端面を原稿ガイド５２の段差面５４、
６４に当接させて検査板１３を原稿台６２上に位置決め
する。

【００３９】ステップＳ２１０では、検査装置４２のキ
ーボード４６等を操作して検査プログラムに検査開始指
示を入力する。検査プログラムは検査開始指示を受け付
けると原点テストパターン１６及び主観テストパターン
３０を含む読み取り領域と、基本解像度より低い解像度
とを設定してイメージスキャナ４０に読み取り開始を指
示する。基本解像度より低い解像度を設定するのは、イ
ンタフェース４８を通じた画像転送に要する時間と、イ
メージスキャナ４０及び検査装置４２における画像デー
タの処理時間とを短縮するためである。また、原点テス
トパターン１６及び主観テストパターン３０については
低い解像度で読み取ったとしても検査結果の信頼性が実
質的に低下しないからである。読み取り開始指示を受け
付けたイメージスキャナ４０は、原点テストパターン１
６及び主観テストパターン３０上で走査線を移動させ、
原点テストパターン１６及び主観テストパターン３０を
基本解像度より低い解像度の１パスで読み取り、その結
果得られる画像データをインタフェース４８を通じて検
査装置４２に転送する。

【００４０】ステップＳ２２０では、原点テストパター
ン１６及び主観テストパターン３０の画像データを検査
プログラムで個別に解析する。具体的な解析手法につい
ては第一実施例と同様である。

【００４１】ステップＳ２３０では、検査プログラムは
明度テストパターン３８、色ずれテストパターン３６、
３４、ＭＴＦテストパターン２６及び副走査テストパタ
ーン３２を含む読み取り領域と、基本解像度とを設定し
てイメージスキャナ４０に読み取り開始を指示する。

【００４２】ステップＳ２４０では、明度テストパター
ン３８、色ずれテストパターン３６、３４、ＭＴＦテス
トパターン２６及び副走査テストパターン３２の画像デ
ータを検査プログラムで個別に解析する。具体的な解析
手法については第一実施例と同様である。

【００４３】ステップＳ２５０では、ステップＳ２２０
及びステップＳ２４０で解析した結果を検査装置４２の
ディスプレイ４４に表示する。具体的な表示手法につい
ては第一実施例と同様である。

【００４４】以上説明した第二実施例に係るイメージス
キャナの検査方法では、検査板１３のテストチャートを
走査するとき、原点テストパターン１６及び主観テスト
パターン３０を第一回目のパスで読み取り、それ以外の
テストパターンを第二回目のパスで読み取り、テストチ
ャートの全面を合計２回のパスで読み取る。したがっ
て、各テストパターンを全て別々のパスで読み取る場合
に比べてキャリッジ７４の移動距離が小さくなる。した
がって、第二実施例に係るイメージスキャナの検査方法
によると、検査時間を短縮することができる。また、原
点テストパターン１６及び主観テストパターン３０を読
み取る第一回目のパスでは解像度を低く設定し、それ以
外のテストパターンを読み取る第二回目のパスでは解像
度を高く設定することで、検査のためにイメージスキャ
ナ４０及び検査装置４２で処理するデータ量を低減しつ
つ、検査結果の信頼性を維持することができる。

【００４５】尚、本発明による検査方法では、イメージ
スキャナに限らず、ファクシミリ、複写機等の他の画像
読み取り装置についてＭＴＦを検査することができる。
また、フラットベッド型に限らず、シートフィード型の
画像読み取り装置の検査に本発明を適用してもよい。そ
の場合、検査板に代えて、テストチャートが印刷された
シート等を用いればよい。また、検査装置４２は、ＡＦ
Ｅ部８２、ディジタル画像処理部８４及びインタフェー
ス４８を介して入力される画像データを解析している
が、ＡＦＥ部８２の出力を検査装置４２に入力してもよ
いし、検査装置４２に専用の入力回路を設けてリニアイ
メージセンサ５８の出力を検査装置４２に直接入力して
もよい。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第一実施例に係るイメージスキャナの
検査方法を示すフローチャートである。

【図２】本発明の第一実施例に係るイメージスキャナの
検査方法に用いるハードウェアの構成を示す模式図であ
る。

【図３】本発明の第一実施例の検査対象となるイメージ
スキャナの機械的構成を示す模式的な断面図である。

【図４】本発明の第一実施例の検査対象となるイメージ
スキャナを示すブロック図である。

【図５】本発明の第一実施例に係る検査板を示す平面図
である。

【図６】本発明の第二実施例に係る検査板を示す平面図
である。

【図７】本発明の第二実施例に係るイメージスキャナの
検査方法を示すフローチャートである。

【符号の説明】

１０、１３検査板１１第一白点（マーク）１６原点テストパターン２６ＭＴＦテストパターン３０主観テストパターン３２副走査テストパターン３４第二色ずれテストパターン３６第一色ずれテストパターン３８明度テストパターン４０イメージスキャナ（画像読み取り装置）４２検査装置

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】読み取り原点の位置を検出するための点
形状のマークが形成されている原点テストパターンと、
自然画からなる主観テストパターンと、走査線と平行な
方向に明度が一様な明度テストパターンと、ＭＴＦを検
査するための細線からなるＭＴＦテストパターンと、明
度が反復的に変化している色ずれテストパターンとが形
成されているテストチャートを読み取らせて画像読み取
り装置を検査する方法であって、前記原点テストパターンと、前記主観テストパターン
と、前記明度テストパターンと、前記ＭＴＦテストパタ
ーンと、前記色ずれテストパターンとを画像読み取り装
置に１パスで読み取らせる入力工程と、前記原点テストパターンと、前記明度テストパターン
と、前記ＭＴＦテストパターンと、前記色ずれテストパ
ターンと、前記主観テストパターンとについて画像読み
取り装置の出力を解析する解析工程と、を含むことを特
徴とする画像読み取り装置の検査方法。
【請求項２】点形状のマークが形成されている原点テ
ストパターンと、自然画からなる主観テストパターン
と、走査線と平行な方向に明度が一様な明度テストパタ
ーンと、ＭＴＦを検査するための細線からなるＭＴＦテ
ストパターンと、明度が反復的に変化している色ずれテ
ストパターンとが形成されているテストチャートを読み
取らせて画像読み取り装置を検査する方法であって、前記原点テストパターンと前記主観テストパターンとを
含むテストチャート上の第一の連続領域を基本解像度よ
り低い解像度の１パスで画像読み取り装置に読み取らせ
る低解像度入力工程と、前記明度テストパターンと、前記ＭＴＦテストパターン
と、前記色ずれテストパターンとを含み前記第一の連続
領域と重複しないテストチャート上の第二の連続領域を
基本解像度の１パスで画像読み取り装置に読み取らせる
高解像度入力工程と、前記原点テストパターンと、前記主観テストパターン
と、前記ＭＴＦテストパターンと、前記色ずれテストパ
ターンと、前記明度テストパターンとについて画像読み
取り装置の出力を解析する解析工程と、を含むことを特
徴とする画像読み取り装置の検査方法。