JP2003264373A - Printed wiring board laminate - Google Patents

Printed wiring board laminate

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JP2003264373A
JP2003264373A JP2002064288A JP2002064288A JP2003264373A JP 2003264373 A JP2003264373 A JP 2003264373A JP 2002064288 A JP2002064288 A JP 2002064288A JP 2002064288 A JP2002064288 A JP 2002064288A JP 2003264373 A JP2003264373 A JP 2003264373A
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JP
Japan
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film
printed wiring
wiring board
resin
laminate
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Application number
JP2002064288A
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Japanese (ja)
Inventor
Taku Ito
伊藤卓
Masaru Nishinaka
西中賢
Mutsuaki Murakami
村上睦明
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Kanegafuchi Chemical Industry Co Ltd
Original Assignee
Kanegafuchi Chemical Industry Co Ltd
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Publication date
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  • Coating Of Shaped Articles Made Of Macromolecular Substances (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a printed wiring board laminate which has excellent, adhesion, a wiring circuit profile and an excellent interline insulating characteristic even in a polymer substrate having a smooth surface when a high-density circuit is formed on the polymer substrate by using a semi-additive method, and also has an excellent dielectric characteristic, a low linear expansion property and a high glass transfer temperature. <P>SOLUTION: A laminate is provided with a metal layer on one surface of a polymer film and an adhesive layer on the other surface. In a printed wiring board laminate, in the whole structure body composed of the polymer film and an adhesion layer formed on one surface thereof, a relative dielectric constant is 3.5 or less, a dielectric tangent 0.02 or less, a thermal expansion coefficient 40 ppm or less and a glass transfer temperature 150°C or more. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、平滑な平面を有す
る高分子フィルム上に金属層を形成し、他方の面に接着
層を設けたプリント配線板用積層体に関係しており、特
に電気・電子機器等に広く使用される、プリント配線板
製造に好適なプリント配線板用積層体およびそれを用い
たプリント配線板に関係している。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a laminate for a printed wiring board, in which a metal layer is formed on a polymer film having a smooth flat surface and an adhesive layer is provided on the other surface thereof, and particularly to electrical laminates. The present invention relates to a laminate for a printed wiring board, which is widely used for electronic devices and is suitable for manufacturing a printed wiring board, and a printed wiring board using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】絶縁基板表面に回路を形成したプリント
配線板が、電子部品や半導体素子等を実装するために広
く用いられている。近年の電子機器の小型化、高機能化
の要求に伴い、プリント配線板には、回路の高密度化や
薄型化が強く望まれている。特にライン/スペースの間
隔が25μm/25μm以下であるような微細回路形成
方法の確立はプリント配線板分野の重要な課題である。
2. Description of the Related Art A printed wiring board having a circuit formed on the surface of an insulating substrate is widely used for mounting electronic parts, semiconductor elements and the like. With the recent demand for miniaturization and high functionality of electronic devices, there is a strong demand for higher density and thinner circuits in printed wiring boards. In particular, establishment of a fine circuit forming method in which the distance between lines / spaces is 25 μm / 25 μm or less is an important issue in the field of printed wiring boards.

【0003】この高密度なプリント配線板を製造する方
法として、セミアディティブ法と呼ばれる方法が検討さ
れており、代表例としては以下のような工程でプリント
配線板が製造されている。
As a method for manufacturing this high-density printed wiring board, a method called a semi-additive method has been studied. As a typical example, a printed wiring board is manufactured by the following steps.

【0004】絶縁基板の表面を粗化し、パラジウム化合
物等のめっき触媒を付与した後、そのめっき触媒を核と
して無電解銅めっきを行い、高分子フィルムの表面全体
に、厚みの薄い金属皮膜を形成する。
After roughening the surface of the insulating substrate and applying a plating catalyst such as a palladium compound, electroless copper plating is performed using the plating catalyst as a nucleus to form a thin metal film on the entire surface of the polymer film. To do.

【0005】次に、無電解銅皮膜の表面にレジスト膜を
塗布またはラミネートし、フォトリソグラフィー等の方
法で回路の形成を予定する部分のレジスト被膜を取り除
く。その後、無電解めっき膜が露出する部分を給電電極
として電気銅めっきを行い、回路を形成する部分に第二
金属皮膜を形成する。次いで、レジスト被膜を除去した
後、露出した不要な無電解銅めっき皮膜をエッチング除
去する。なおこの際に、電気銅めっき皮膜の表面も、わ
ずかにエッチングされて、回路パターンの厚みや幅が減
少する。
Next, a resist film is applied or laminated on the surface of the electroless copper film, and the resist film on the portion where the circuit is to be formed is removed by a method such as photolithography. After that, electrolytic copper plating is performed using the exposed portion of the electroless plated film as a power supply electrode to form a second metal film on the portion where the circuit is formed. Next, after removing the resist coating, the exposed unnecessary electroless copper plating coating is removed by etching. At this time, the surface of the electrolytic copper plating film is also slightly etched to reduce the thickness and width of the circuit pattern.

【0006】さらに、必要に応じて、形成された回路パ
ターンの表面にニッケルめっき金めっきを行って、プリ
ント配線板を製造する。
Furthermore, if necessary, the surface of the formed circuit pattern is nickel-plated and gold-plated to manufacture a printed wiring board.

【0007】このようにセミアディティブ法は、厚みの
薄い無電解銅皮膜(第一金属皮膜)をエッチングして製
造するため、厚みの厚い金属箔をエッチングして回路を
形成するサブトラクティブ法と呼ばれる方法と比較し
て、微細な回路を精度良く形成することが可能となる。
Since the semi-additive method is manufactured by etching a thin electroless copper film (first metal film), it is called a subtractive method in which a thick metal foil is etched to form a circuit. As compared with the method, it becomes possible to form a fine circuit with high accuracy.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このセ
ミアディティブ法は以下のような問題点を有している事
が明らかになっている。
However, it has been clarified that this semi-additive method has the following problems.

【0009】その第一は形成される回路パターンと基板
間の接着性の問題である。先に述べたように基板と回路
パターンの間は無電解銅めっき層になっている。無電解
めっき層は触媒を活性点としてそこから形成されるの
で、本質的には基板との接着性はないと考えるべきであ
る。基板表面の凹凸が大きい場合にはこの間の接着はア
ンカー効果によって良好に保たれるが、基板表面が平滑
になるに従い当然その接着性は弱くなる傾向にある。こ
のためセミアディテイブ法では絶縁基板の表面を粗化す
る工程が必要となり、通常、10点平均粗さ(Rz)で
3〜5μm程度の凹凸がつけられる。この様な基板表面
の凹凸は形成される回路のライン/スペースの値が30
μm/30μm以上である場合には実用上問題とならな
いが、30μm/30μm以下、特に25μm/25μ
m以下の線幅の回路形成には重大な問題となる。この様
な高密度の回路線幅が基盤表面の凹凸の影響をうけるた
めである。
The first is the problem of adhesion between the circuit pattern to be formed and the substrate. As described above, the electroless copper plating layer is provided between the substrate and the circuit pattern. Since the electroless plating layer is formed from the catalyst as an active site, it should be considered that the electroless plating layer has essentially no adhesion to the substrate. When the unevenness of the substrate surface is large, the adhesion during this period is kept good by the anchor effect, but naturally the adhesiveness tends to weaken as the substrate surface becomes smoother. Therefore, in the semi-additive method, a step of roughening the surface of the insulating substrate is required, and usually 10-point average roughness (Rz) has irregularities of about 3 to 5 μm. Such unevenness on the substrate surface has a line / space value of 30 to be formed.
If it is more than μm / 30 μm, there is no practical problem, but it is less than 30 μm / 30 μm, especially 25 μm / 25 μm.
There is a serious problem in forming a circuit having a line width of m or less. This is because such a high-density circuit line width is affected by the unevenness of the substrate surface.

【0010】従って、ライン/スペースの値が25μm
/25μm以下の回路の形成には表面の平滑な絶縁基板
への回路形成技術が必要となり、その平面性はRz値換
算で1μm以下、さらに望ましくは0.5μm以下であ
ることが好ましい。当然この場合にはアンカー効果によ
る接着力は弱くなるので、別の接着方法を開発する必要
がある。
Therefore, the line / space value is 25 μm.
In order to form a circuit of / 25 μm or less, a circuit forming technique on an insulating substrate having a smooth surface is required, and its planarity is preferably 1 μm or less, more preferably 0.5 μm or less in terms of Rz value. Of course, in this case, the adhesive strength due to the anchor effect becomes weaker, so it is necessary to develop another bonding method.

【0011】セミアディテイブ工法の第二の問題はその
エッチング工程である。電気めっきの給電層として用い
られる無電解めっき層は回路には不要な層であるから、
電気めっき層形成後はエッチングによって取り除く必要
がある。しかし、無電解めっき銅層(第一金属皮膜)を
エッチング除去する際に電気めっき層(第二金属皮膜)
もエッチングされ、回路パターンも幅、厚みが減少し、
精密な回路パターンを再現性良く製造することが難しく
なるのである。特に絶縁基板表面の凹凸が大きい場合、
凹凸の凹部に無電解めっき等の金属が残留するためこれ
を完全に取り除くためにはエッチング時間を十分とる必
要が有り、このことはエッチングすべきでない回路を形
成する金属(第2金属層)を必要以上にエッチングをす
ることになり、回路パターン幅の減少や回路の断面形状
の変形、ひどい場合は回路パターンの断線が発生する。
The second problem of the semi-additive method is its etching process. Since the electroless plating layer used as a power feeding layer for electroplating is an unnecessary layer in the circuit,
After the electroplating layer is formed, it needs to be removed by etching. However, when the electroless plated copper layer (first metal film) is removed by etching, the electroplated layer (second metal film) is removed.
Is also etched, the width and thickness of the circuit pattern are reduced,
It becomes difficult to manufacture a precise circuit pattern with good reproducibility. Especially when the surface roughness of the insulating substrate is large,
Since metal such as electroless plating remains in the concave and convex portions, it is necessary to take sufficient etching time to completely remove it. This means that the metal (second metal layer) that forms the circuit that should not be etched should be removed. Etching is performed more than necessary, resulting in a reduction in the width of the circuit pattern, deformation of the cross-sectional shape of the circuit, and in severe cases, disconnection of the circuit pattern.

【0012】また、第三の問題として、高分子フィルム
の表面にめっき触媒が残留しやすいため、得られるプリ
ント配線板の絶縁性が低下しやすく、さらに最終工程で
回路にニッケルめっきや金めっきを行う際、これらの残
留しているめっき触媒の作用で高分子フィルムの表面に
ニッケル、金がめっきされ、回路が形成できないという
点も挙げられる。
A third problem is that since the plating catalyst is likely to remain on the surface of the polymer film, the insulation of the obtained printed wiring board is likely to deteriorate, and further nickel plating or gold plating is applied to the circuit in the final step. It is also possible that the surface of the polymer film is plated with nickel and gold due to the action of these remaining plating catalysts, and a circuit cannot be formed.

【0013】そのため、エッチング能力の高いエッチン
グ液を用いて第一金属皮膜をエッチング除去することに
より、高分子フィルムの表面のめっき触媒をも同時に除
去することが行われている。しかし、このエッチング能
力の高いエッチング液を用いて無電解めっき層をエッチ
ング除去した場合、回路を過剰にエッチングすることに
なり、上記と同様の問題が生じる。
For this reason, the plating catalyst on the surface of the polymer film is also removed at the same time by removing the first metal film by etching using an etching solution having a high etching ability. However, when the electroless plating layer is removed by etching using this etching solution having a high etching ability, the circuit is excessively etched, and the same problem as described above occurs.

【0014】また、第四の問題として、樹脂材料の誘電
特性の問題がある。半導体のクロック周波数の増大に伴
い、配線板材料にはGHz帯での信号遅延が小さいこ
と、伝送損失が小さいこと、即ち、低誘電率、低誘電正
接を有していることが求められている。しかしながら従
来材料の例えばエポキシ樹脂などは比誘電率が3.5〜
4.0、誘電正接は0.03〜0.05程度であり、低
誘電率、低誘電正接を有する新たな樹脂の出現が望まれ
ている。また、第五の問題として、樹脂材料の熱膨張性
の問題がある。半導体実装、特にフリップチップ実装の
様に200μm程度以下の非常に微細なパッドピッチを
有する半導体を実装する場合、それを実装するプリント
配線板には寸法精度が良好である、即ち、熱膨張係数が
小さいこと、およびガラス転移温度が高いことが求めら
れている。
The fourth problem is the dielectric property of the resin material. With the increase of the semiconductor clock frequency, the wiring board material is required to have a small signal delay in the GHz band and a small transmission loss, that is, to have a low dielectric constant and a low dielectric loss tangent. . However, conventional materials such as epoxy resin have a relative dielectric constant of 3.5 to
The dielectric loss tangent is 4.0 and the dielectric loss tangent is about 0.03 to 0.05, and the advent of a new resin having a low dielectric constant and a low dielectric loss tangent is desired. A fifth problem is the thermal expansion property of the resin material. When a semiconductor having a very fine pad pitch of about 200 μm or less, such as flip-chip mounting, is mounted, the printed wiring board on which the semiconductor is mounted has good dimensional accuracy, that is, the coefficient of thermal expansion is It is required to be small and have a high glass transition temperature.

【0015】本発明は、上記問題点を改善するために成
されたもので、その目的とするところは、高密度のプリ
ント配線板を実現できる絶縁基板材料を提供することで
あり、具体的には特にセミアディティブ法での回路形成
においてライン/スペース=25μm/25μm以下の
高密度回路を回路の断面形状良く、形成可能でかつ、誘
電特性、寸法精度に優れるプリント配線板用材料を提供
することにある。
The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide an insulating substrate material capable of realizing a high-density printed wiring board. Is to provide a material for a printed wiring board which is capable of forming a high-density circuit having a line / space = 25 μm / 25 μm or less particularly in a circuit formation by a semi-additive method with a good cross-sectional shape of the circuit, and which has excellent dielectric characteristics and dimensional accuracy. It is in.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】本発明は、高分子フィル
ムの一方の面に金属層、他方の面に接着層を設けた積層
体において、高分子フィルムとその一方の面に形成され
た接着層からなる構成体全体の特性に着目することによ
って、上記の課題を解決しうることを見出した。
DISCLOSURE OF THE INVENTION The present invention provides a polymer film having a metal layer on one surface and an adhesive layer on the other surface, and a polymer film and an adhesive formed on one surface thereof. It has been found that the above problems can be solved by paying attention to the characteristics of the entire layered structure.

【0017】すなわち、本発明の第一は、高分子フィル
ムの一方の面に金属層、他方の面に接着層を設けた積層
体において、該積層体から金属層のみを取り除いた高分
子フィルムとその一方の面に形成された接着層からなる
構成体全体の比誘電率が3.5以下、誘電正接0.02
以下、熱膨張係数40ppm以下、ガラス転移温度15
0℃以上であることを特徴とするプリント配線板用積層
体である。
That is, the first aspect of the present invention is to provide a polymer film in which a metal layer is provided on one surface of the polymer film and an adhesive layer is provided on the other surface of the polymer film, and the polymer film is obtained by removing only the metal layer from the laminate. The relative permittivity of the entire structure including the adhesive layer formed on one surface thereof is 3.5 or less, and the dielectric loss tangent is 0.02.
Below, thermal expansion coefficient 40ppm or less, glass transition temperature 15
It is a laminate for a printed wiring board, which has a temperature of 0 ° C or higher.

【0018】本発明の第二は、高分子フィルムがポリイ
ミドフィルムであることを特徴とする第一の発明のプリ
ント配線板用積層体である。本発明の第三は、高分子フ
ィルムの一方の面に設けられた金属層が物理的な手法に
よって形成されたものであることを特徴とする本発明の
第一および第二のプリント配線板用積層体である。
A second aspect of the present invention is the printed wiring board laminate of the first aspect, wherein the polymer film is a polyimide film. A third aspect of the present invention is a printed wiring board according to the first and second aspects of the present invention, in which the metal layer provided on one surface of the polymer film is formed by a physical method. It is a laminated body.

【0019】本発明の第四は、接着層がポリイミド樹脂
を含むことを特徴とする本発明の第一から第三のプリン
ト配線板用積層体。
A fourth aspect of the present invention is the laminate for a printed wiring board according to the first to third aspects of the present invention, wherein the adhesive layer contains a polyimide resin.

【0020】本発明の第五は、本発明の第一から第四の
プリント配線板用積層体を用いたプリント配線板であ
る。
A fifth aspect of the present invention is a printed wiring board using the first to fourth printed wiring board laminates of the present invention.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】本発明にかかるプリント配線板用
積層体について説明する。まず、金属層の形成方法とし
ては真空蒸着法、イオンプレーティング法、スパッタリ
ング法等の物理的手法や無電解めっきに代表される化学
的手法が適用し得る。本発明において金属層の厚みは2
5nm以上200nm以下である。この範囲の厚みの導
体層を均一に形成するには真空蒸着、スパッタリング、
イオンプレーティング等の物理的手法を用いることが好
ましい。特に、設備の簡便さ、生産性、得られる導体層
と高分子フィルムの接着性などを総合的に判断するとス
パッタリングが好ましい。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION A laminate for a printed wiring board according to the present invention will be described. First, as a method for forming the metal layer, a physical method such as a vacuum deposition method, an ion plating method, a sputtering method or a chemical method typified by electroless plating can be applied. In the present invention, the metal layer has a thickness of 2
It is 5 nm or more and 200 nm or less. To form a conductor layer with a thickness within this range uniformly, vacuum deposition, sputtering,
It is preferable to use a physical method such as ion plating. In particular, sputtering is preferred when comprehensively judging the facility, the productivity, and the adhesiveness between the obtained conductor layer and the polymer film.

【0022】特にスパッタリングを用いる場合について
詳しく説明する。スパッタリングは公知の方法を適用で
きる。すなわちDCマグネトロンスパッタやRFスパッ
タあるいはそれらの方法に種々改善を加えたものがそれ
ぞれの要求に応じて適宜適用し得る。たとえばニッケル
や銅などの導体を効率よくスパッタするためにはDCマ
グネトロンスパッタが好ましい。一方、薄膜中のスパッ
タガスの混入を防ぐなどの目的で高真空でスパッタする
場合にはRFスパッタが適している。 DCマグネトロ
ンスパッタについて詳しく説明すると、まず、高分子フ
ィルムを基板として真空チャンバー内にセットし、真空
引きをする。通常回転ポンプによる粗引きと拡散ポンプ
またはクライオポンプあるいはターボポンプを組み合わ
せて通常6×10-4Pa以下まで真空引きする。次いで
スパッタガスを導入しチャンバー内を0.1Pa〜10
Pa好ましくは0.1Pa〜1Paの圧力とし、金属タ
ーゲットにDC電圧を印可してプラズマ放電を起こさせ
る。この際、ターゲット上に磁場を形成し、生成したプ
ラズマを磁場内に閉じこめることでプラズマ粒子のター
ゲットへのスパッタ効率を高める。高分子フィルムにプ
ラズマやスパッタの影響が無いようにしながら、プラズ
マが生成した状態で数分間から数時間保持して金属ター
ゲットの表面酸化層を除去する(プレスパッターとい
う)。プレスパッター終了後、シャッターを開けるなど
して高分子フィルムにスパッタを行う。スパッタ時の放
電パワーは好ましくは100W〜1000Wの範囲であ
る。また、スパッタするサンプルの形状に従ってバッチ
方式のスパッタやロールスパッタが適用される。導入ス
パッタガスは通常アルゴンなどの不活性ガスを用いる
が、少量の酸素を含んだ混合ガスやその他のガスを用い
ることもできる。
Particularly, the case of using sputtering will be described in detail. A known method can be applied to the sputtering. That is, DC magnetron sputtering, RF sputtering, or those obtained by making various improvements to these methods can be appropriately applied according to the respective requirements. For example, DC magnetron sputtering is preferable in order to efficiently sputter conductors such as nickel and copper. On the other hand, RF sputtering is suitable for sputtering in a high vacuum for the purpose of preventing sputter gas from entering the thin film. The DC magnetron sputtering will be described in detail. First, a polymer film as a substrate is set in a vacuum chamber and a vacuum is drawn. Usually, roughing by a rotary pump is combined with a diffusion pump, a cryopump, or a turbo pump, and a vacuum is usually pulled up to 6 × 10 −4 Pa or less. Next, sputter gas is introduced to make the inside of the chamber 0.1 Pa to 10 Pa.
Pa is preferably 0.1 Pa to 1 Pa, and a DC voltage is applied to the metal target to cause plasma discharge. At this time, by forming a magnetic field on the target and confining the generated plasma in the magnetic field, the sputtering efficiency of plasma particles to the target is increased. While avoiding the influence of plasma or sputtering on the polymer film, the surface oxide layer of the metal target is removed by maintaining the plasma for several minutes to several hours (referred to as pre-sputtering). After the pre-sputtering is completed, the polymer film is sputtered by opening the shutter. The discharge power during sputtering is preferably in the range of 100W to 1000W. In addition, batch-type sputtering or roll sputtering is applied according to the shape of the sample to be sputtered. An inert gas such as argon is usually used as the introduced sputtering gas, but a mixed gas containing a small amount of oxygen or another gas can also be used.

【0023】また、高分子フィルムとスパッタ膜との密
着性を向上するために前処理としてプラズマ放電処理、
コロナ放電処理、加熱処理、イオンボンバード処理、等
を適用することができる。通常、これらの処理の後高分
子フィルムを大気などに触れさせると改質した表面が失
活して処理効果が大幅に減少することがあるため、これ
らの処理を真空中で行い、そのまま真空中で連続してス
パッタすることが好ましい。
Further, in order to improve the adhesion between the polymer film and the sputtered film, plasma discharge treatment as pretreatment,
Corona discharge treatment, heat treatment, ion bombardment treatment, etc. can be applied. Usually, if the polymer film is exposed to the atmosphere after these treatments, the modified surface may be inactivated and the treatment effect may be greatly reduced. It is preferable to continuously sputter.

【0024】また、2種類の金属からなる金属層とする
ことで、エッチング特性、高分子フィルムとの接着性、
無電解めっきや電気めっき膜との引き剥がし強さ等を向
上することができる。高分子フィルムとの引き剥がし強
さの高い金属としては、ニッケル、クロム、スズ、チタ
ン、アルミニウムなどが用いられる。また、通常、回路
パターンは電気伝導度の大きい銅を用いることが一般的
である。したがって、まず高分子フィルムにニッケルな
どの金属層を形成し、さらに銅をすることがその後の無
電解銅めっきや電気銅めっきとニッケルの引き剥がし強
さを向上する効果を発現する。
Further, by using a metal layer composed of two kinds of metals, etching characteristics, adhesiveness with a polymer film,
The peel strength from the electroless plating or electroplating film can be improved. As the metal having a high peeling strength from the polymer film, nickel, chromium, tin, titanium, aluminum or the like is used. In addition, it is common to use copper, which has a high electric conductivity, for the circuit pattern. Therefore, first forming a metal layer of nickel or the like on the polymer film and then copper is effective to improve the peeling strength of nickel with the subsequent electroless copper plating or electrolytic copper plating.

【0025】この場合、ニッケルの厚みは2nm以上5
0nm以下、好ましくは10nm以上、50nm以下が
好ましい。これよりも薄いと高分子フィルム上に均一に
成膜することが困難となる。また、これよりも厚いと第
2金属層との銅との間で膜中の応力や、温度による寸法
変化の違いから膜が剥がれる、カールする等の問題が生
じる。第2金属層の銅の厚みは10nm以上200nm
以下、好ましくは50nm以上100nm以下が好まし
い。これよりも薄いと引き剥がし強さを向上する効果が
不十分である。一方この範囲より厚いとセミアディティ
ブでのエッチング特性に好ましくない。一方、これらの
金属の厚みの合計が200nmよりも厚いとエッチング
性が悪くなり、高密度回路パターンを形成するのに不適
当である。2種類以上の金属層を積層、形成する場合
も、それぞれのスパッタ膜表面に酸化層ができるとそれ
ぞれの金属間の密着性が低下するため、スパッタリング
は真空中で連続して行うことが好ましい。
In this case, the thickness of nickel is 2 nm or more and 5
It is preferably 0 nm or less, more preferably 10 nm or more and 50 nm or less. If it is thinner than this, it becomes difficult to form a uniform film on the polymer film. If it is thicker than this, there is a problem that the film peels off or curls due to the stress in the film between the second metal layer and copper and the difference in dimensional change due to temperature. The thickness of copper of the second metal layer is 10 nm or more and 200 nm
Hereafter, it is preferably 50 nm or more and 100 nm or less. If it is thinner than this, the effect of improving the peeling strength is insufficient. On the other hand, if it is thicker than this range, it is not preferable for the etching characteristics in semi-additive. On the other hand, if the total thickness of these metals is thicker than 200 nm, the etching property deteriorates and it is unsuitable for forming a high-density circuit pattern. Even when two or more kinds of metal layers are laminated and formed, if an oxide layer is formed on the surface of each sputtered film, the adhesion between the respective metals will be deteriorated. Therefore, it is preferable to carry out the sputtering continuously in a vacuum.

【0026】次に高分子フィルムについて説明する。本
発明に用いる高分子フィルムは、表面の10点平均粗さ
(Rzと言う)で1μm以下好ましくは0.5μm以下
であることが好ましい。表面が平滑であることはライン
/スペース25μm/25μm以下の高密度回路を形成
するのに好適であり、エッチング工程において樹脂表面
の凹凸にエッチング残りが生じない点からも好適であ
る。RzはJIS B0601等の表面形状に関する規
格に規定されており、その測定には、JIS B065
1の触針式表面粗さ計やB0652の光波干渉式表面粗
さ計を用いることができる。本発明では、光波干渉式表
面粗さ計ZYGO社製NewView5030システム
を用いて高分子フィルムの10点平均粗さを測定した。
Next, the polymer film will be described. The polymer film used in the present invention has a surface 10-point average roughness (referred to as Rz) of 1 μm or less, preferably 0.5 μm or less. The smooth surface is suitable for forming a high-density circuit having a line / space of 25 μm / 25 μm or less, and is also preferable in that unevenness on the resin surface does not cause an etching residue in the etching step. Rz is stipulated in a standard relating to the surface shape such as JIS B0601, and its measurement is performed according to JIS B065.
The stylus type surface roughness meter of No. 1 and the light wave interference type surface roughness meter of B0652 can be used. In the present invention, the 10-point average roughness of the polymer film was measured using a light wave interference type surface roughness meter NewView 5030 system manufactured by ZYGO.

【0027】また、高分子フィルムの誘電率は3.5以
下、好ましくは3.2以下、より好ましくは3.0以下
であることが好ましく、誘電正接は0.02以下、好ま
しくは0.015以下、より好ましくは0.01以下で
あることが好ましい。このことは伝送信号の高周波化、
高速化、伝送損失の低減などの観点から要請される。誘
電特性は周波数依存性があり、本発明ではMHz帯から
GHz帯の高周波帯での誘電率、誘電正接を問題とす
る。測定方法としては種々の方式が提案されているが空
洞共振器法が測定の安定性、再現性から優れている。本
発明においては空洞共振器方式によるMOA2012
(KSシステムス社製)を用い測定周波数12.5GH
zで測定した。
The dielectric constant of the polymer film is preferably 3.5 or less, preferably 3.2 or less, more preferably 3.0 or less, and the dielectric loss tangent is 0.02 or less, preferably 0.015. It is preferably below 0.01, more preferably below 0.01. This means that the transmission signal becomes higher in frequency,
It is required from the viewpoint of speeding up and reduction of transmission loss. The dielectric characteristics have frequency dependence, and the present invention has a problem of dielectric constant and dielectric loss tangent in a high frequency band from MHz band to GHz band. Various methods have been proposed as measurement methods, but the cavity resonator method is superior in terms of measurement stability and reproducibility. In the present invention, a cavity resonator type MOA 2012 is used.
Measurement frequency 12.5GH using (made by KS Systems)
It was measured by z.

【0028】また、高分子フィルムの熱膨張係数は、2
0ppm以下、好ましくは15ppm以下、より好まし
くは13ppm以下であることが好ましい。高分子フィ
ルムの厚みは、好ましくは5μm以上、125μm以
下、より好ましくは10μm以上、50μm以下、もっ
とも好ましくは10μm以上、25μm以下であること
が好ましい。この範囲より厚みが薄いと積層体の剛性が
不足し取り扱い性が悪くなり、また層間の電気絶縁性が
悪くなる等の問題が生じる。一方、フィルムが厚すぎる
とプリント配線板の薄型化の傾向に逆行するばかりでな
く、回路の特性インピーダンスをコントロールする際、
絶縁層厚みが厚くなると回路幅を広くする必要があり、
このことはプリント配線板の小型化、高密度化の要請か
ら受け入れられない。
The coefficient of thermal expansion of the polymer film is 2
It is preferably 0 ppm or less, preferably 15 ppm or less, more preferably 13 ppm or less. The thickness of the polymer film is preferably 5 μm or more and 125 μm or less, more preferably 10 μm or more and 50 μm or less, and most preferably 10 μm or more and 25 μm or less. When the thickness is smaller than this range, the rigidity of the laminate is insufficient, the handleability is deteriorated, and the electric insulation between the layers is deteriorated. On the other hand, if the film is too thick, it not only goes against the trend of thinner printed wiring boards, but also when controlling the characteristic impedance of the circuit.
If the insulating layer becomes thicker, it is necessary to widen the circuit width,
This is unacceptable due to the demand for miniaturization and high density of printed wiring boards.

【0029】本発明に用いられる高分子フィルムとして
は上記特性を有するものであれば特に限定するものでは
なく、例えば、エポキシ樹脂系、フェノール樹脂系、ポ
リアミド樹脂系、ポリイミド樹脂系、不飽和ポリエステ
ル樹脂系、ポリフェニレンエーテル樹脂系、ポリフェニ
レンサルファイド等の熱硬化性樹脂が用いられ得る。耐
熱性、耐薬品性、電気特性、加工性等の点からポリイミ
ド樹脂系、エポキシ樹脂系、等が好ましく、ポリイミド
フィルムがもっとも好ましい。この高分子フィルムの内
部には、導体回路や、スルーホール等を有していても良
い。また、第一金属被膜との引き剥がし強さを向上する
ために高分子フィルムの表面に粗化処理や、コロナ放電
処理、プラズマ処理、火炎処理、加熱処理、プライマー
処理等の公知の種々の表面処理を施しても良い。また、
高分子フィルムを構成する樹脂に公知の接着性付与剤を
添加あるいは表面処理をすることも有効であり、好まし
い。これらの中でも、耐熱性、柔軟性、寸法安定性、誘
電率、価格、等の観点からポリイミド樹脂系やエポキシ
樹脂系あるいはこれらをブレンドしたものが好ましい。
The polymer film used in the present invention is not particularly limited as long as it has the above-mentioned characteristics, and examples thereof include epoxy resin type, phenol resin type, polyamide resin type, polyimide resin type and unsaturated polyester resin. A thermosetting resin such as a resin, a polyphenylene ether resin system, or polyphenylene sulfide can be used. From the viewpoint of heat resistance, chemical resistance, electrical characteristics, processability, etc., polyimide resin type, epoxy resin type, etc. are preferable, and polyimide film is most preferable. The inside of this polymer film may have a conductor circuit, a through hole, or the like. Roughening treatment on the surface of the polymer film in order to improve the peel strength from the first metal coating, corona discharge treatment, plasma treatment, flame treatment, heat treatment, various known surfaces such as primer treatment. You may give a process. Also,
It is also effective and preferable to add a known adhesiveness-imparting agent or surface-treat it to the resin constituting the polymer film. Among these, from the viewpoints of heat resistance, flexibility, dimensional stability, dielectric constant, price, etc., a polyimide resin type, an epoxy resin type, or a blend of these is preferable.

【0030】以下に高分子フィルムにポリイミドフィル
ムを用いる場合について詳しく説明する。ポリイミドフ
ィルムは公知の製造方法が適用可能である。すなわち、
1種または2種以上のテトラカルボン酸二無水物成分と
1種または2種以上のジアミン成分を実質的に等モル使
用し、有機極性溶媒中で重合して得られたポリアミド酸
重合体溶液をガラス板やステンレスベルトなどの支持体
上に流延塗布し、自己支持性を持つ程度に部分的にイミ
ド化または部分的に乾燥したポリアミド酸フィルム(以
下ゲルフィルムという)を支持体より引き剥がし、端部
をピン、クリップなどの方法で固定してさらに加熱して
ポリアミド酸を完全にイミド化することで得られる。
The case where a polyimide film is used as the polymer film will be described in detail below. A known manufacturing method can be applied to the polyimide film. That is,
A polyamic acid polymer solution obtained by polymerizing in an organic polar solvent, using one or more tetracarboxylic dianhydride components and one or more diamine components in substantially equimolar amounts Casting coating on a support such as a glass plate or a stainless belt, and peeling a partially imidized or partially dried polyamic acid film (hereinafter referred to as gel film) to the extent that it has self-supporting properties is peeled off from the support, It can be obtained by fixing the end portion with a method such as a pin or a clip and further heating to completely imidize the polyamic acid.

【0031】ポリアミド酸重合体の製造に用いられるテ
トラカルボン酸二無水物成分としては公知のテトラカル
ボン酸二無水物類を使用することができる。具体的に
は、ピロメリット酸二無水物、3,3’,4,4’−ベ
ンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、3,3’,
4,4’−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水
物、1,4,5,8−ナフタレンテトラカルボン酸二無
水物、2,3,6,7−ナフタレンテトラカルボン酸二
無水物、4,4’−オキシジフタル酸無水物、3,
3’,4,4’−ジメチルジフェニルシランテトラカル
ボン酸二無水物、3,3’,4,4’−テトラフェニル
シランテトラカルボン酸二無水物、1,2,3,4−フ
ランテトラカルボン酸二無水物、4,4’−ビス(3,
4−ジカルボキシフェノキシ)ジフェニルプロパン二無
水物、4,4’−ヘキサフルオロイソプロピリデンジフ
タル酸無水物、3,3’,4,4’−ビフェニルテトラ
カルボン酸二無水物、2,3,3’,4’−ビフェニル
テトラカルボン酸二無水物、p−フェニレンジフタル酸
無水物等の芳香族テトラカルボン酸二無水物等が例示さ
れる。
Known tetracarboxylic dianhydrides can be used as the tetracarboxylic dianhydride component used in the production of the polyamic acid polymer. Specifically, pyromellitic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-benzophenonetetracarboxylic dianhydride, 3,3 ′,
4,4'-diphenylsulfone tetracarboxylic acid dianhydride, 1,4,5,8-naphthalene tetracarboxylic acid dianhydride, 2,3,6,7-naphthalene tetracarboxylic acid dianhydride, 4,4 ' -Oxydiphthalic anhydride, 3,
3 ', 4,4'-dimethyldiphenylsilanetetracarboxylic dianhydride, 3,3', 4,4'-tetraphenylsilanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4-furantetracarboxylic acid Dianhydride, 4,4'-bis (3,3
4-dicarboxyphenoxy) diphenylpropane dianhydride, 4,4'-hexafluoroisopropylidene diphthalic anhydride, 3,3 ', 4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,3,3 Examples include aromatic tetracarboxylic dianhydrides such as', 4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride and p-phenylenediphthalic anhydride.

【0032】本発明の用途に適したポリイミドフィルム
を得るためには、p−フェニレンビス(トリメリット酸
モノエステル無水物)(以下、TMHQという)とピロ
メリット酸二無水物(以下,PMDAという)を任意の
割合で混合したものが好ましい。
In order to obtain a polyimide film suitable for use in the present invention, p-phenylene bis (trimellitic acid monoester anhydride) (hereinafter referred to as TMHQ) and pyromellitic dianhydride (hereinafter referred to as PMDA) are used. It is preferable to mix them in an arbitrary ratio.

【0033】一方、ポリアミド酸重合体の製造に用いら
れる代表的なジアミン成分としては公知のジアミン類を
使用することができる。具体的には、4,4’−ジアミ
ノジフェニルエーテル、3,4’−ジアミノジフェニル
エーテル、2,2−ビス(4−アミノフェノキシフェニ
ル)プロパン、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)
ベンゼン、1,3−ビス(4−アミノフェノキシ)ベン
ゼン、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼ
ン、ビス(4−(4−アミノフェノキシ)フェニル)ス
ルフォン、ビス(4−(3−アミノフェノキシ)フェニ
ル)スルフォン、4,4’−ビス(4−アミノフェノキ
シ)ビフェニル、2,2−ビス(4−アミノフェノキシ
フェニル)ヘキサフルオロプロパン、4、4’−ジアミ
ノジフェニルスルフォン、3、3’−ジアミノジフェニ
ルスルフォン、9、9−ビス(4−アミノフェニル)フ
ルオレン、ビスアミノフェノキシケトン、4、4’−
(1,4−フェニレンビス(1−メチルエチリデン))
ビスアニリン、4、4’−(1,3−フェニレンビス
(1−メチルエチリデン))ビスアニリン、m−フェニ
レンジアミン、p−フェニレンジアミン、4,4’−ジ
アミノベンズアニリド、3、3’−ジメチル−4、4’
−ジアミノビフェニル、3、3’−ジメトキシ−4、
4’−ジアミノビフェニル、3,3’−ジメチルベンジ
ジン、3,3’−ジヒドロキシベンジジン等の芳香族ジ
アミン、あるいはその他の脂肪族ジアミンが例示され
る。
On the other hand, known diamines can be used as typical diamine components used for producing the polyamic acid polymer. Specifically, 4,4'-diaminodiphenyl ether, 3,4'-diaminodiphenyl ether, 2,2-bis (4-aminophenoxyphenyl) propane, 1,4-bis (4-aminophenoxy)
Benzene, 1,3-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,3-bis (3-aminophenoxy) benzene, bis (4- (4-aminophenoxy) phenyl) sulfone, bis (4- (3-amino) Phenoxy) phenyl) sulfone, 4,4'-bis (4-aminophenoxy) biphenyl, 2,2-bis (4-aminophenoxyphenyl) hexafluoropropane, 4,4'-diaminodiphenyl sulfone, 3,3'- Diaminodiphenylsulfone, 9,9-bis (4-aminophenyl) fluorene, bisaminophenoxyketone, 4,4'-
(1,4-phenylenebis (1-methylethylidene))
Bisaniline, 4,4 '-(1,3-phenylenebis (1-methylethylidene)) bisaniline, m-phenylenediamine, p-phenylenediamine, 4,4'-diaminobenzanilide, 3,3'-dimethyl-4 4 '
-Diaminobiphenyl, 3,3'-dimethoxy-4,
Examples include aromatic diamines such as 4'-diaminobiphenyl, 3,3'-dimethylbenzidine, and 3,3'-dihydroxybenzidine, and other aliphatic diamines.

【0034】本発明の用途に適したポリイミドフィルム
を得るためには、パラフェニレンジアミン(以下、PD
Aという)4,4’−ジアミノベンズアニリド(以下,
DABAという)と4,4’−ジアミノジフェニルエー
テル(以下、ODAという)を任意の割合で混合したも
のが好ましい。
In order to obtain a polyimide film suitable for the use of the present invention, paraphenylenediamine (hereinafter referred to as PD
A) 4,4'-diaminobenzanilide (hereinafter,
A mixture of DABA) and 4,4′-diaminodiphenyl ether (hereinafter referred to as ODA) in an arbitrary ratio is preferable.

【0035】ここに記載したテトラカルボン酸二無水物
成分とジアミン成分の組み合わせは、本発明のポリイミ
ドフィルムを得るための一具体例を示すものであり、こ
れらの組み合わせに限らず、用いるテトラカルボン酸二
無水物成分及びジアミン成分の組み合わせおよび使用比
率を変えて、ポリイミドフィルムの特性を調整すること
が可能である。
The combination of the tetracarboxylic dianhydride component and the diamine component described here is one specific example for obtaining the polyimide film of the present invention, and not limited to these combinations, the tetracarboxylic acid used It is possible to adjust the characteristics of the polyimide film by changing the combination and the use ratio of the dianhydride component and the diamine component.

【0036】ポリアミド酸共重合体の生成反応に使用さ
れる有機極性溶媒としては、例えば、ジメチルスルホキ
シド、ジエチルスルホキシドなどのスルホキシド系溶
媒、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジエチル
ホルムアミドなどのホルムアミド系溶媒、N,N−ジメ
チルアセトアミド、N,N−ジエチルアセトアミドなど
のアセトアミド系溶媒、N−メチル−2−ピロリドン、
N−ビニル−2−ピロリドンなどのピロリドン系溶媒、
フェノール、o−、m−、またはp−クレゾール、キシ
レノール、ハロゲン化フェノール、カテコールなどのフ
ェノール系溶媒、あるいはヘキサメチルホスホルアミ
ド、γ−ブチロラクトンなどをあげることができ、これ
らを単独または混合物として用いるのが望ましいが、更
にはキシレン、トルエンのような芳香族炭化水素の一部
使用も可能である。
Examples of the organic polar solvent used in the reaction for producing the polyamic acid copolymer include sulfoxide solvents such as dimethyl sulfoxide and diethyl sulfoxide, and formamide such as N, N-dimethylformamide and N, N-diethylformamide. System solvents, acetamide-based solvents such as N, N-dimethylacetamide, N, N-diethylacetamide, N-methyl-2-pyrrolidone,
A pyrrolidone-based solvent such as N-vinyl-2-pyrrolidone,
Phenol-based solvents such as phenol, o-, m- or p-cresol, xylenol, halogenated phenol and catechol, hexamethylphosphoramide and γ-butyrolactone can be used, and these are used alone or as a mixture. However, it is also possible to partially use an aromatic hydrocarbon such as xylene or toluene.

【0037】これらの原料を用いてポリアミド酸重合体
溶液を作製するには公知の方法を適用できる。具体的に
は、溶媒にジアミン成分を溶解した後テトラカルボン酸
二無水物成分を徐々に添加する方法、ジアミン成分とテ
トラカルボン酸二無水物成分を同時に溶媒に溶解する方
法、ジアミン成分とテトラカルボン酸二無水物成分とを
交互に溶解していく方法等が例示される。
Known methods can be applied to prepare a polyamic acid polymer solution using these raw materials. Specifically, a method of gradually adding a tetracarboxylic dianhydride component after dissolving a diamine component in a solvent, a method of simultaneously dissolving a diamine component and a tetracarboxylic dianhydride component in a solvent, a diamine component and a tetracarboxylic acid Examples include a method of alternately dissolving the acid dianhydride component and the like.

【0038】3種類以上のモノマー原料を用いてポリア
ミド酸重合体溶液を共重合する場合には、各原料の添加
順序をコントロールして高分子内の分子の配列を制御す
ることが可能であり、ランダム共重合、ブロック共重
合、パーシャルブロック共重合、シーケンシャル共重合
などの方法が提案されている。本発明のポリイミドフィ
ルムの前駆体であるポリアミド酸の平均分子量は、1
0,000〜1,000,000であることが望まし
い。平均分子量が10,000未満ではできあがったフ
ィルムが脆くなる場合がある。一方、1,000,00
0を越えるとポリイミド前駆体であるポリアミド酸ワニ
スの粘度が高くなりすぎ、取扱いが難しくなるおそれが
ある。
When a polyamic acid polymer solution is copolymerized using three or more kinds of monomer raw materials, it is possible to control the order of addition of each raw material to control the arrangement of molecules in the polymer. Methods such as random copolymerization, block copolymerization, partial block copolymerization and sequential copolymerization have been proposed. The average molecular weight of the polyamic acid that is the precursor of the polyimide film of the present invention is 1
It is desirable that it is from 10,000 to 1,000,000. If the average molecular weight is less than 10,000, the resulting film may become brittle. On the other hand, 1,000,00
If it exceeds 0, the viscosity of the polyamic acid varnish, which is a polyimide precursor, becomes too high, which may make the handling difficult.

【0039】また、ポリアミド酸重合体溶液の重合にお
いては重合前、重合中、重合後の任意の段階でポリアミ
ド酸重合体溶液内の異物や高分子量物などを除去する目
的でろ過等の工程を加えることも可能である。
In the polymerization of the polyamic acid polymer solution, a step such as filtration may be performed at any stage before, during or after the polymerization for the purpose of removing foreign matters and high molecular weight substances in the polyamic acid polymer solution. It is also possible to add.

【0040】さらに、重合工程に要する時間を短縮する
為に重合度の低いいわゆるプレポリマーを得る第1の重
合工程と、より重合度を上げて高分子量のポリアミド酸
重合体溶液を得る第2の重合工程を分けることも可能で
ある。特に第1の重合工程後のプレポリマー段階でろ過
等の工程を経た後に第2の重合工程を行うことは、重合
効率やろ過効率の点から好ましい。
Further, in order to shorten the time required for the polymerization step, a first polymerization step for obtaining a so-called prepolymer having a low polymerization degree and a second polymerization step for further increasing the polymerization degree to obtain a high molecular weight polyamic acid polymer solution It is also possible to separate the polymerization steps. In particular, it is preferable from the viewpoint of polymerization efficiency and filtration efficiency to perform the second polymerization step after passing through the steps such as filtration in the prepolymer stage after the first polymerization step.

【0041】また、このポリアミド酸共重合体は、前記
の有機極性溶媒中に5〜40重量%、好ましくは10〜
30重量%溶解されていると、取扱いの面から望まし
い。
The polyamic acid copolymer is contained in the above organic polar solvent in an amount of 5 to 40% by weight, preferably 10 to 40% by weight.
It is desirable that it is dissolved in 30% by weight from the viewpoint of handling.

【0042】上記の方法で得られたポリアミド酸重合体
溶液をポリイミドフィルムに成形する方法については公
知の方法が適用可能である。即ち、ポリアミド酸重合体
溶液をガラス、ステンレス等の支持体上に流延、塗布
し、自己支持性を持つ程度に部分的にイミド化または部
分的に乾燥したポリアミド酸フィルム(以下ゲルフィル
ムという)を支持体より引き剥がし、端部をピン、クリ
ップなどの方法で固定してさらに加熱してポリアミド酸
を完全にイミド化することで得られる。この際、ポリア
ミド酸を流延塗布する前にポリアミド酸のイミド化反応
を促進する脱水剤及び触媒と溶媒を混合した硬化剤(以
下ケミカルキュア剤という)を、ポリアミド酸溶液に添
加し、混合、攪拌するいわゆるケミカルキュア法、熱的
にイミド化する熱キュア法、両者を併用する方法等が適
用できる。
As a method for molding the polyamic acid polymer solution obtained by the above method into a polyimide film, a known method can be applied. That is, a polyamic acid film obtained by casting and coating a polyamic acid polymer solution on a support such as glass or stainless steel and partially imidizing or partially drying it to the extent that it has self-supporting property (hereinafter referred to as gel film) Is peeled off from the support, the end is fixed by a method such as a pin or clip, and further heated to completely imidize the polyamic acid. At this time, a curing agent (hereinafter referred to as a chemical curing agent) in which a dehydrating agent and a catalyst which accelerate the imidization reaction of the polyamic acid and a solvent are mixed before the polyamic acid is applied by casting, is added to the polyamic acid solution, and mixed, A so-called chemical curing method of stirring, a thermal curing method of thermally imidizing, a method of using both in combination, and the like can be applied.

【0043】フィルムの生産性や得られるフィルムの物
性などの観点からケミカルキュア法、あるいはケミカル
キュア法と熱キュア法の併用が好ましい。また、上記方
法で得られるポリイミドフィルムは公知の表面処理や後
処理を適用することができる。具体的には、コロナ放電
処理、プラズマ放電処理、電子線照射処理、UV処理、
加熱処理、火炎処理、溶剤洗浄処理、プライマー処理、
ケミカルエッチング処理などが適用できる。また、ゲル
フィルムに対してこれらを単独であるいは複数の処理を
組み合わせて処理を施した後にポリイミドフィルムを得
ることも可能である。特に、部分的にイミド化または部
分的に乾燥したポリアミド酸フィルム(ゲルフィルム)
をAl、Si、Ti、Mn、Fe、Co、Cu、Zn、
Sn、Sb、Pb、Bi、Pdからなる群から選ばれる
少なくとも1種類の元素を含む化合物の溶液に浸漬ある
いは該ゲルフィルムに該溶液を塗布した後にポリアミド
酸を完全に乾燥しかつイミド化する方法が接着性の向上
に有効である。
From the viewpoint of the productivity of the film and the physical properties of the obtained film, the chemical cure method or the combined use of the chemical cure method and the heat cure method is preferable. Further, the polyimide film obtained by the above method may be subjected to known surface treatment or post-treatment. Specifically, corona discharge treatment, plasma discharge treatment, electron beam irradiation treatment, UV treatment,
Heat treatment, flame treatment, solvent cleaning treatment, primer treatment,
Chemical etching treatment or the like can be applied. Further, it is also possible to obtain a polyimide film after treating the gel film alone or in combination of a plurality of treatments. In particular, a partially imidized or partially dried polyamic acid film (gel film)
Are Al, Si, Ti, Mn, Fe, Co, Cu, Zn,
Method of completely drying and imidizing polyamic acid after dipping in a solution of a compound containing at least one element selected from the group consisting of Sn, Sb, Pb, Bi and Pd or applying the solution to the gel film Is effective in improving the adhesiveness.

【0044】ゲルフィルムは乾燥の途中段階にあり、溶
剤含んでいる。この溶剤含有量(揮発成分含量)は、式
1から算出される。
The gel film is in the middle of drying and contains a solvent. This solvent content (volatile component content) is calculated from Equation 1.

【0045】(A−B)×100/B・・・・式1 式1中、A、Bは、以下のものを表す。 Aは、ゲルフィルムの重量 Bは、ゲルフィルムを450℃で20分間加熱した後の
重量 揮発成分含量は、5〜300重量%の範囲、好ましく
は、5〜100重量%の範囲、より好ましくは5〜50
重量%の範囲が好適である。また、ゲルフィルムはポリ
アミド酸からポリイミドへの反応の途中段階にありその
反応の進行度合を示すイミド化率は、赤外線吸光分析法
を用いて、式2から算出される。
(A−B) × 100 / B ... Formula 1 In Formula 1, A and B represent the following. A is the weight B of the gel film, and the weight volatile component content after heating the gel film at 450 ° C. for 20 minutes is in the range of 5 to 300% by weight, preferably 5 to 100% by weight, more preferably 5-50
A weight% range is preferred. The gel film is in the middle of the reaction from the polyamic acid to the polyimide, and the imidization ratio showing the progress of the reaction is calculated from the formula 2 by using the infrared absorption spectrometry.

【0046】 (C/D)×100/(E/F)・・・・式2 式2中、C、D、E、Fは以下のものを表す。 C:ゲルフィルムの1370cm-1の吸収ピーク高さ D:ゲルフィルムの1500cm-1の吸収ピーク高さ E:ポリイミドフィルムの1370cm-1の吸収ピーク高さ F:ポリイミドフィルムの1500cm-1の吸収ピーク高さ イミド化率は50%以上の範囲、好ましくは70%以
上、より好ましくは80%以上、最も好ましくは85%
以上の範囲が好適である。Al、Si、Ti、Mn、F
e、Co、Cu、Zn、Sn、Sb、Pb、Bi、Pd
からなる群から選ばれる少なくとも1種類の元素を含む
化合物としては、上記元素を含む有機または無機化合物
の形のものが好ましく用いられる。
(C / D) × 100 / (E / F) ... Equation 2 In Equation 2, C, D, E, and F represent the following. C: absorption peak height of gel film at 1370 cm -1 D: absorption peak height of gel film at 1500 cm -1 E: absorption peak height of polyimide film at 1370 cm -1 F: absorption peak of polyimide film at 1500 cm -1 High imidization ratio is in the range of 50% or more, preferably 70% or more, more preferably 80% or more, and most preferably 85%.
The above range is preferable. Al, Si, Ti, Mn, F
e, Co, Cu, Zn, Sn, Sb, Pb, Bi, Pd
As the compound containing at least one element selected from the group consisting of, those in the form of organic or inorganic compounds containing the above elements are preferably used.

【0047】具体的には、無機化合物としては、例えば
塩化物、臭化物等のハロゲン化物、酸化物、水酸化物、
炭酸塩、硝酸塩、亜硝酸塩、リン酸塩、硫酸塩、珪酸
塩、ホウ酸塩、縮合リン酸塩等が挙げられる。
Specifically, examples of the inorganic compound include halides such as chlorides and bromides, oxides, hydroxides,
Examples thereof include carbonates, nitrates, nitrites, phosphates, sulfates, silicates, borates and condensed phosphates.

【0048】また、有機化合物としては、たとえば、ア
ルコキシド、アシレート、キレートやジアミン、ジホス
フィン等の中性分子やアセチルアセトナートイオン、カ
ルボン酸イオン、ジチオカルバミン酸イオン等を有する
有機化合物、またポリフィリン等の環状配位子等が挙げ
られる。この中で、好ましい元素はSi、Tiである。
これらの元素を含む化合物はアルコキシド、アシレー
ト、キレート、あるいは金属塩の形で与えられる。
Examples of the organic compound include neutral compounds such as alkoxides, acylates, chelates, diamines and diphosphines, organic compounds having acetylacetonate ion, carboxylate ion, dithiocarbamate ion and the like, and cyclic compounds such as porphyrin. Examples include ligands. Among these, preferable elements are Si and Ti.
The compound containing these elements is provided in the form of alkoxide, acylate, chelate, or metal salt.

【0049】珪素化合物では、N−β(アミノエチル)
γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−β(アミ
ノエチル)γ−アミノプロピルメチルジメトキシシラ
ン、N−フェニル−γ−アミノプロピルトリメトキシシ
ラン、γ−アミノプロピルトリエトキシシラン等のアミ
ノシラン系の化合物や、β−(3,4エポキシシクロヘ
キシル)エチルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシ
プロピルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピ
ルメチルジメトキシシラン等のエポキシシラン系の化合
物が挙げられる。
For silicon compounds, N-β (aminoethyl)
Aminosilane compounds such as γ-aminopropyltrimethoxysilane, N-β (aminoethyl) γ-aminopropylmethyldimethoxysilane, N-phenyl-γ-aminopropyltrimethoxysilane and γ-aminopropyltriethoxysilane, Examples thereof include epoxysilane compounds such as β- (3,4 epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, and γ-glycidoxypropylmethyldimethoxysilane.

【0050】チタン化合物は一般式(化1)で示される
ものが好ましく、具体的にはトリ−n−ブトキシチタン
モノステアレート、ジイソプロポキシチタンビス(トリ
エタノールアミネート)、ブチルチタネートダイマー、
テトラノルマルブチルチタネート、テトラ(2ーエチル
ヘキシル)チタネート、チタンオクチレングリコレート
などが例示される他、ジヒドロキシビス(アンモニウム
ラクテート)チタニウム、ジヒドロキシチタンビスラク
テート等も使用可能である。最も好ましいのはトリ−n
−ブトキシチタンモノステアレートあるいはジヒドロキ
シチタンビスラクテートである。
The titanium compound is preferably represented by the general formula (Formula 1), and specifically, tri-n-butoxytitanium monostearate, diisopropoxytitanium bis (triethanolaminate), butyl titanate dimer,
Examples include tetra-normal butyl titanate, tetra (2-ethylhexyl) titanate, titanium octylene glycolate, and the like, as well as dihydroxybis (ammonium lactate) titanium, dihydroxytitanium bislactate, and the like. Most preferred is tri-n
-Butoxy titanium monostearate or dihydroxy titanium bis-lactate.

【0051】[0051]

【化1】 該溶液に使用される溶媒は、上記化合物を溶解するもの
であれば良い。例示すると、水、トルエン、キシレン、
テトラヒドロフラン、2−プロパノール、1−ブタノー
ル、酢酸エチル、N,N−ジメチルフォルムアミド、ア
セチルアセトンなどが使用可能である。これらの溶剤を
2種類以上混合して使用しても良く、ポリアミド酸のケ
ミカルキュア剤成分を混合することも可能である。本発
明において、N,N−ジメチルフォルムアミド、1−ブ
タノール、2−プロパノールおよび水が特に好ましく用
いられ得る。
[Chemical 1] The solvent used in the solution may be one that dissolves the above compound. For example, water, toluene, xylene,
Tetrahydrofuran, 2-propanol, 1-butanol, ethyl acetate, N, N-dimethylformamide, acetylacetone and the like can be used. Two or more kinds of these solvents may be mixed and used, and it is also possible to mix a chemical curing agent component of polyamic acid. In the present invention, N, N-dimethylformamide, 1-butanol, 2-propanol and water can be particularly preferably used.

【0052】溶液の濃度は、好ましくは0.01%〜1
0%、さらに好ましくは0.1%〜5%が好適である。
即ち溶液中の前記元素の濃度は1ppmから100,0
00ppmが好ましく、10ppm〜50,000pp
mがより好ましい。ゲルフィルムに該溶液を塗布または
浸漬の後、表面の余分な液滴を除去する工程を加えるこ
とにより、フィルム表面にムラのない外観の優れたポリ
イミドフィルムを得ることができるので好ましい。液滴
の除去は、ニップロール、エアナイフ、ドクターブレー
ドなどの公知の方法が利用可能であり、フィルムの外
観、液切り性、作業性等の観点より、ニップロールが好
ましく用いられ得る。また、ポリイミドフィルムを製造
する任意の段階で各種の有機添加剤、無機のフィラー
類、あるいは各種の強化材を添加し、複合化されたポリ
イミドフィルムとすることも可能である。
The concentration of the solution is preferably 0.01% to 1
0% is preferable, and 0.1% to 5% is more preferable.
That is, the concentration of the element in the solution is 1 ppm to 100,0
00 ppm is preferable and 10 ppm to 50,000 pp
m is more preferred. It is preferable to apply a step of removing the extra droplets on the surface after applying or immersing the solution on the gel film, because a polyimide film having an excellent appearance without unevenness on the film surface can be obtained. A known method such as a nip roll, an air knife, or a doctor blade can be used to remove the droplets, and the nip roll can be preferably used from the viewpoint of the appearance of the film, the drainage property, the workability, and the like. It is also possible to add various organic additives, inorganic fillers, or various reinforcing materials at any stage of producing the polyimide film to obtain a composite polyimide film.

【0053】本発明におけるポリイミドフィルムの厚み
の制限は無いが5μm〜125μmが好ましい。特に多
層プリント配線板用途としてはポリイミドフィルムの厚
みは10〜75μm、好ましくは10〜50μm、引張
り弾性率は4GPa以上、好ましくは6GPa以上、よ
り好ましくは10GPa以上、線膨張係数は17ppm
以下、好ましくは12ppm以下、より好ましくは10
ppm以下、吸水率は2%以下、好ましくは1.5%以
下、より好ましくは1%以下のものが好適である。
The thickness of the polyimide film in the present invention is not limited, but is preferably 5 μm to 125 μm. In particular, for use as a multilayer printed wiring board, the thickness of the polyimide film is 10 to 75 μm, preferably 10 to 50 μm, the tensile elastic modulus is 4 GPa or more, preferably 6 GPa or more, more preferably 10 GPa or more, and the linear expansion coefficient is 17 ppm.
Or less, preferably 12 ppm or less, more preferably 10 ppm or less.
It is preferably ppm or less and water absorption of 2% or less, preferably 1.5% or less, more preferably 1% or less.

【0054】本発明にかかるプリント配線板用積層体は
プリント配線板に使用する。そのため該プリント配線板
用積層体には無電解めっき、電気めっき処理が施され
る。しかし、これらの工程は強酸、強アルカリなど、絶
縁樹脂に対して少なからずダメージを与える性質の薬液
処理を種々用いるためこれらの回路パターンの引き剥が
し強度を確保することは実用上重要である。無電解銅め
っき工程としては公知の無電解めっき処理を適用可能で
ある。通常、基板表面の粗化、基板表面の洗浄、プレデ
ィップ、めっき触媒付与、めっき触媒の活性化、無電解
めっき膜の形成の工程を経る。通常0.2〜0.3μ
m、条件によっては0.8〜1μmのめっき被膜を形成
できる。
The laminate for a printed wiring board according to the present invention is used for a printed wiring board. Therefore, the laminate for a printed wiring board is subjected to electroless plating and electroplating. However, since these processes use various chemical treatments such as strong acids and strong alkalis that cause a considerable damage to the insulating resin, it is practically important to secure the peeling strength of these circuit patterns. A known electroless plating treatment can be applied as the electroless copper plating step. Usually, the steps of roughening the substrate surface, cleaning the substrate surface, pre-dip, applying a plating catalyst, activating the plating catalyst, and forming an electroless plating film are performed. Normally 0.2-0.3μ
Depending on the m and the conditions, a plating film of 0.8 to 1 μm can be formed.

【0055】電気めっきは公知の方法が適用できる。具
体的には硫酸銅めっき、青化銅めっき、ピロリン酸銅め
っきなどが知られているが、めっき液の取り扱い性、生
産性、皮膜の特性などから硫酸銅めっきが好ましい。硫
酸銅めっきについてのめっき液組成とめっき条件として
は表1に例示される。
A known method can be applied to the electroplating. Specifically, copper sulfate plating, copper bromide plating, copper pyrophosphate plating and the like are known, but copper sulfate plating is preferable from the viewpoint of handling of the plating solution, productivity, film characteristics and the like. The plating solution composition and plating conditions for copper sulfate plating are exemplified in Table 1.

【0056】[0056]

【表1】 導体層の引き剥がし強度は金属層上に無電解めっき後レ
ジストパターンを形成せず硫酸銅めっきによって全面に
2A/dm2の条件で40分間電気めっきを施し、厚み
20μmの銅めっき層を形成し、JIS C6471
(引き剥がし強さ:B法)に準拠し、測定パターンの幅
は3mm、クロスヘッドスピード50mm/min、剥
離角度180度で高分子フィルムと導体層の引き剥がし
強さを測定した。
[Table 1] For the peeling strength of the conductor layer, after electroless plating on the metal layer, electroplating is performed on the entire surface by copper sulfate plating without forming a resist pattern under the condition of 2 A / dm2 for 40 minutes to form a copper plating layer having a thickness of 20 μm. JIS C6471
Based on (Peeling strength: Method B), the peeling strength between the polymer film and the conductor layer was measured at a measurement pattern width of 3 mm, a crosshead speed of 50 mm / min, and a peeling angle of 180 degrees.

【0057】本発明にかかる積層体に用いられる接着剤
層としては、厚みは5μm以上、125μm以下、好ま
しくは5μm以上、50μm以下が好適である。接着剤
層は、積層する際の内層回路パターンを埋め込むために
充分な量、厚みが必要である。内層回路のパターン率に
もよるが、通常内層回路厚みの1/2〜1倍程度の厚み
が必要である。すなわち実用上有効な最小回路厚みとし
て9μm程度を想定した場合、パターン率を50%と仮
定すると、接着剤層の厚みは最小5μm程度が必要とな
る。一方接着剤層が厚すぎると、高分子フィルムの場合
と同様に、プリント配線板の薄型化、小型化の要請に逆
行するばかりでなく、積層工程中に接着剤が基板から流
れ出て基板製品や加工設備を汚染する、接着剤中に溶媒
などの揮発成分が残留し発泡その他の原因となる等の問
題が生じる。
The thickness of the adhesive layer used in the laminate according to the present invention is 5 μm or more and 125 μm or less, preferably 5 μm or more and 50 μm or less. The adhesive layer needs to have a sufficient amount and thickness to embed the inner layer circuit pattern at the time of stacking. Although it depends on the pattern ratio of the inner layer circuit, the thickness is usually required to be about 1/2 to 1 times the inner layer circuit thickness. That is, assuming that the practically effective minimum circuit thickness is about 9 μm, assuming that the pattern ratio is 50%, the minimum thickness of the adhesive layer is about 5 μm. On the other hand, if the adhesive layer is too thick, not only goes against the demand for thinner and smaller printed wiring boards, as in the case of polymer films, but also the adhesive flows out from the substrate during the laminating process, and This causes problems such as contaminating the processing equipment and remaining volatile components such as a solvent in the adhesive, causing foaming and other causes.

【0058】接着剤層に関しては、特に種類を制限され
るものでなく、接着剤に適用できる公知の樹脂が適用可
能である。大きくは(A)熱可塑性樹脂を用いた熱融着
性の接着剤、(B)熱硬化樹脂の硬化反応を利用した硬
化型の接着剤に分けることができる。これらについて以
下に説明する。
The adhesive layer is not particularly limited in type, and a known resin applicable to the adhesive can be applied. It can be roughly classified into (A) a heat-fusible adhesive that uses a thermoplastic resin, and (B) a curable adhesive that uses the curing reaction of a thermosetting resin. These will be described below.

【0059】(A)接着剤に熱融着性を与える熱可塑性
樹脂としては、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹
脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリエ
ステル樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリケトン系樹
脂、ポリスルホン系樹脂、ポリフェニレンエーテル樹
脂、ポリオレフィン樹脂、ポリフェニレンスルフィド樹
脂、フッ素樹脂、ポリアリレート樹脂、液晶ポリマー樹
脂等が挙げられ、これらの1種または2種以上を適宜組
合わせて本発明の積層体の接着層として用いることがで
きる。中でも優れた耐熱性、電気信頼性等の観点より熱
可塑性ポリイミド樹脂を用いることが好ましい。
Examples of the thermoplastic resin (A) which gives the adhesive a heat-sealing property include polyimide resin, polyamideimide resin, polyetherimide resin, polyamide resin, polyester resin, polycarbonate resin, polyketone resin, polysulfone resin, Examples thereof include polyphenylene ether resin, polyolefin resin, polyphenylene sulfide resin, fluororesin, polyarylate resin, liquid crystal polymer resin, etc., and one or more of these may be used in combination as an adhesive layer of the laminate of the present invention. You can Above all, it is preferable to use a thermoplastic polyimide resin from the viewpoint of excellent heat resistance, electrical reliability, and the like.

【0060】ここで熱可塑性ポリイミド樹脂の製造方法
について説明する。ポリイミド樹脂はその前駆体である
ポリアミド酸重合体溶液から得られるが、このポリアミ
ド酸重合体溶液は、前述のごとき公知の方法で製造する
ことができる。すなわち、テトラカルボン酸二無水物成
分とジアミン成分を実質等モル使用し、有機極性溶媒中
で重合して得られる。この熱可塑性ポリイミド樹脂に用
いられる酸二無水物は、酸二無水物であれば特に限定さ
れない。酸二無水物成分の例としては、ブタンテトラカ
ルボン酸二無水物、1,2,3,4−シクロブタンテト
ラカルボン酸二無水物、1,3−ジメチル−1,2,
3,4−シクロブタンテトラカルボン酸、1,2,3,
4−シクロペンタンテトラカルボン酸二無水物、2,
3,5−トリカルボキシシクロペンチル酢酸二無水物、
3,5,6−トリカルボキシノルボナン−2−酢酸二無
水物、2,3,4,5−テトラヒドロフランテトラカル
ボン酸二無水物、5−(2,5−ジオキソテトラヒドロ
フラル)−3−メチル−3−シクロヘキセン−1,2−
ジカルボン酸二無水物、ビシクロ[2,2,2]−オク
ト−7−エン−2,3,5,6−テトラカルボン酸二無
水物等の脂肪族または脂環式テトラカルボン酸二無水
物;ピロメリット酸二無水物、3,3’,4,4’−ベ
ンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、3,3’,
4,4’−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水
物、1,4,5,8−ナフタレンテトラカルボン酸二無
水物、2,3,6,7−ナフタレンテトラカルボン酸二
無水物、4,4’−オキシフタル酸無水物、3,3’,
4,4’−ジメチルジフェニルシランテトラカルボン酸
二無水物、3,3‘,4,4’−テトラフェニルシラン
テトラカルボン酸二無水物、1,2,3,4−フランテ
トラカルボン酸二無水物、4,4‘−ビス(3,4−ジ
カルボキシフェノキシ)ジフェニルスルフィド二無水
物、4,4‘−ビス(3,4−ジカルボキシフェノキ
シ)ジフェニルスルホン二無水物、4,4‘−ビス
(3,4−ジカルボキシフェノキシ)ジフェニルプロパ
ン二無水物、4,4‘−ヘキサフルオロイソプロピリデ
ンジフタル酸無水物、3,3’,4,4‘−ビフェニル
テトラカルボン酸二無水物、2,3,3’,4‘−ビフ
ェニルテトラカルボン酸二無水物、ビス(フタル酸)フ
ェニルホスフィンオキサイド二無水物、p−フェニレン
−ビス(トリフェニルフタル酸)二無水物、m−フェニ
レン−ビス(トリフェニルフタル酸)二無水物、ビス
(トリフェニルフタル酸)−4,4’−ジフェニルエー
テル二無水物、ビス(トリフェニルフタル酸)−4,
4’−ジフェニルメタン二無水物等の芳香族テトラカル
ボン酸二無水物、2,2−ビス(4−ヒドロキシフェニ
ル)プロパンジベンゾエート−3,3’,4,4’−テ
トラカルボン酸二無水物、p−フェニレンビス(トリメ
リット酸モノエステル無水物)、4,4’−ビフェニレ
ンビス(トリメリット酸モノエステル無水物)、1,4
−ナフタレンビス(トリメリット酸モノエステル無水
物)、1,2−エチレンビス(トリメリット酸モノエス
テル無水物)、1,3−トリメチレンビス(トリメリッ
ト酸モノエステル無水物)、1,4−テトラメチレンビ
ス(トリメリット酸モノエステル無水物)、1,5−ペ
ンタメチレンビス(トリメリット酸モノエステル無水
物)、1,6−ヘキサメチレンビス(トリメリット酸モ
ノエステル無水物)、4,4’−(4,4’−イソプロ
ピリデンジフェノキシ)ビス(無水フタル酸)などが好
ましく、これらの1種を、または2種以上を組み合わせ
て酸二無水物成分の一部または全部として用いることが
できる。優れた熱融着性の発現のためには、2,2−ビ
ス(4−ヒドロキシフェニル)プロパンジベンゾエート
−3,3’,4,4’−テトラカルボン酸二無水物、
1,2−エチレンビス(トリメリット酸モノエステル無
水物)、4,4’−ヘキサフルオロイソプロピリデンジ
フタル酸無水物、2,3,3’,4‘−ビフェニルテト
ラカルボン酸二無水物、4,4’−オキシジフタル酸無
水物、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカル
ボン酸二無水物、4,4’−(4,4’−イソプロピリ
デンジフェノキシ)ビス(無水フタル酸)を用いるのが
好ましい。また、ジアミン成分としては4,4’−ジア
ミノジフェニルエーテル、3,4’−ジアミノジフェニ
ルエーテル、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキ
シ)フェニル]プロパン、2,2,−ビス[3−(3−
アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、1,4−ビス
(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(4
−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(3−ア
ミノフェノキシ)ベンゼン、ビス(4−(4−アミノフ
ェノキシ)フェニル)スルフォン、ビス(4−(3−ア
ミノフェノキシ)フェニル)スルフォン、4,4’−ビ
ス(4−アミノフェノキシ)ビフェニル、2,2−ビス
(4−アミノフェノキシフェニル)ヘキサフルオロプロ
パン、4、4’−ジアミノジフェニルスルフォン、3、
3’−ジアミノジフェニルスルフォン、9、9−ビス
(4−アミノフェニル)フルオレン、ビスアミノフェノ
キシケトン、4、4’−(1,4−フェニレンビス(1
−メチルエチリデン))ビスアニリン、4、4’−
(1,3−フェニレンビス(1−メチルエチリデン))
ビスアニリン、3,3’−ジメチルベンジジン、3,
3’−ジヒドロキシベンジジン等を挙げることができ、
これらを単独で、または2種以上を組合わせて用いるこ
とができる。
Here, a method for producing the thermoplastic polyimide resin will be described. The polyimide resin is obtained from a polyamic acid polymer solution which is a precursor thereof, and the polyamic acid polymer solution can be produced by a known method as described above. That is, it is obtained by using tetracarboxylic dianhydride component and diamine component in substantially equimolar amounts and polymerizing in an organic polar solvent. The acid dianhydride used in this thermoplastic polyimide resin is not particularly limited as long as it is an acid dianhydride. Examples of the acid dianhydride component include butanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic dianhydride, 1,3-dimethyl-1,2,
3,4-cyclobutanetetracarboxylic acid, 1,2,3
4-cyclopentanetetracarboxylic dianhydride, 2,
3,5-tricarboxycyclopentyl acetic acid dianhydride,
3,5,6-Tricarboxynorbonane-2-acetic acid dianhydride, 2,3,4,5-tetrahydrofuran tetracarboxylic acid dianhydride, 5- (2,5-dioxotetrahydrofural) -3-methyl -3-Cyclohexene-1,2-
Aliphatic or alicyclic tetracarboxylic dianhydrides such as dicarboxylic dianhydrides, bicyclo [2,2,2] -oct-7-ene-2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydrides; Pyromellitic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-benzophenone tetracarboxylic dianhydride, 3,3 ′,
4,4'-diphenylsulfone tetracarboxylic acid dianhydride, 1,4,5,8-naphthalene tetracarboxylic acid dianhydride, 2,3,6,7-naphthalene tetracarboxylic acid dianhydride, 4,4 ' -Oxyphthalic anhydride, 3,3 ',
4,4'-dimethyldiphenylsilanetetracarboxylic dianhydride, 3,3 ', 4,4'-tetraphenylsilanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4-furantetracarboxylic dianhydride 4,4'-bis (3,4-dicarboxyphenoxy) diphenyl sulfide dianhydride, 4,4'-bis (3,4-dicarboxyphenoxy) diphenyl sulfone dianhydride, 4,4'-bis ( 3,4-dicarboxyphenoxy) diphenylpropane dianhydride, 4,4'-hexafluoroisopropylidene diphthalic anhydride, 3,3 ', 4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,3 , 3 ', 4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, bis (phthalic acid) phenylphosphine oxide dianhydride, p-phenylene-bis (triphenylphthalic acid) dianhydride m- phenylene - bis (triphenyl phthalic acid) dianhydride, bis (triphenyl phthalic acid) -4,4'-diphenyl ether dianhydride, bis (triphenyl phthalic acid) -4,
Aromatic tetracarboxylic dianhydrides such as 4'-diphenylmethane dianhydride, 2,2-bis (4-hydroxyphenyl) propanedibenzoate-3,3 ', 4,4'-tetracarboxylic dianhydride, p-phenylene bis (trimellitic acid monoester anhydride), 4,4'-biphenylene bis (trimellitic acid monoester anhydride), 1,4
-Naphthalene bis (trimellitic acid monoester anhydride), 1,2-ethylene bis (trimellitic acid monoester anhydride), 1,3-trimethylene bis (trimellitic acid monoester anhydride), 1,4- Tetramethylene bis (trimellitic acid monoester anhydride), 1,5-pentamethylene bis (trimellitic acid monoester anhydride), 1,6-hexamethylene bis (trimellitic acid monoester anhydride), 4,4 '-(4,4'-isopropylidenediphenoxy) bis (phthalic anhydride) and the like are preferable, and it is possible to use one of these or a combination of two or more thereof as a part or all of the acid dianhydride component. it can. 2,2-bis (4-hydroxyphenyl) propanedibenzoate-3,3 ′, 4,4′-tetracarboxylic dianhydride, for exhibiting excellent heat-sealing property,
1,2-ethylenebis (trimellitic acid monoester anhydride), 4,4'-hexafluoroisopropylidene diphthalic anhydride, 2,3,3 ', 4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 4 , 4'-oxydiphthalic anhydride, 3,3 ', 4,4'-benzophenonetetracarboxylic dianhydride, 4,4'-(4,4'-isopropylidenediphenoxy) bis (phthalic anhydride) It is preferably used. As the diamine component, 4,4'-diaminodiphenyl ether, 3,4'-diaminodiphenyl ether, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane, 2,2, -bis [3- ( 3-
Aminophenoxy) phenyl] propane, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,3-bis (4
-Aminophenoxy) benzene, 1,3-bis (3-aminophenoxy) benzene, bis (4- (4-aminophenoxy) phenyl) sulfone, bis (4- (3-aminophenoxy) phenyl) sulfone, 4,4 '-Bis (4-aminophenoxy) biphenyl, 2,2-bis (4-aminophenoxyphenyl) hexafluoropropane, 4,4'-diaminodiphenylsulfone, 3,
3'-diaminodiphenylsulfone, 9,9-bis (4-aminophenyl) fluorene, bisaminophenoxyketone, 4,4 '-(1,4-phenylenebis (1
-Methylethylidene)) bisaniline, 4,4'-
(1,3-phenylenebis (1-methylethylidene))
Bisaniline, 3,3'-dimethylbenzidine, 3,
3′-dihydroxybenzidine and the like,
These may be used alone or in combination of two or more.

【0061】本発明の積層体に用いる熱可塑性ポリイミ
ド樹脂の材料としては、1,3−ビス(3−アミノフェ
ノキシ)ベンゼン、3,3’−ジヒドロキシベンジジ
ン、ビス(4−(3−アミノフェノキシ)フェニル)ス
ルフォンをそれぞれ単独または任意の割合で混合して用
いることが好ましい。
Materials for the thermoplastic polyimide resin used in the laminate of the present invention include 1,3-bis (3-aminophenoxy) benzene, 3,3'-dihydroxybenzidine and bis (4- (3-aminophenoxy)). It is preferable to use each of the phenyl) sulfones alone or in a mixture at an arbitrary ratio.

【0062】ポリアミド酸重合体溶液を得る反応の代表
的な手順として、1種以上のジアミン成分を有機極性溶
剤に溶解または拡散させ、その後1種以上の酸二無水物
成分を添加しポリアミド酸溶液を得る方法が挙げられ
る。各モノマーの添加順序は特に限定されず、酸二無水
物成分を有機極性溶媒に先に加えておき、ジアミン成分
を添加し、ポリアミド酸重合体の溶液としても良いし、
ジアミン成分を有機極性溶媒中に先に適量加えて、次に
過剰の酸二無水物成分を加え、過剰量に相当するジアミ
ン成分を加えて、ポリアミド酸重合体の溶液としても良
い。この他にも、当業者に公知の様々な添加方法があ
る。なお、ここでいう「溶解」とは、溶媒が溶質を完全
に溶解する場合の他に、溶質が溶媒中に均一に分散また
は拡散されて実質的に溶解しているのと同様の状態にな
る場合を含む。
As a typical procedure for the reaction to obtain a polyamic acid polymer solution, one or more diamine components are dissolved or diffused in an organic polar solvent, and then one or more acid dianhydride components are added to the polyamic acid solution. The method of obtaining. The order of addition of each monomer is not particularly limited, and the acid dianhydride component may be added in advance to the organic polar solvent, the diamine component may be added, and the solution of the polyamic acid polymer may be used,
The diamine component may be first added to the organic polar solvent in an appropriate amount, then the excess acid dianhydride component may be added, and the diamine component corresponding to the excess amount may be added to obtain a solution of the polyamic acid polymer. Besides this, there are various addition methods known to those skilled in the art. The term "dissolved" as used herein refers to a state in which the solute is substantially dissolved by being uniformly dispersed or dispersed in the solvent, in addition to the case where the solvent completely dissolves the solute. Including cases.

【0063】ポリアミド酸溶液の生成反応に用いられる
有機極性溶媒としては、例えば、ジメチルスルホキシ
ド、ジエチルスルホキシド等のスルホキシド系溶媒、
N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジエチルホル
ムアミド等のホルムアミド系溶媒、N,N−ジメチルア
セトアミド、N,N−ジエチルアセトアミド等のアセト
アミド系溶媒、N−メチル−2−ピロリドン、N−ビニ
ル−2−ピロリドン等のピロリドン系溶媒、フェノー
ル、o−、m−、またはp−クレゾール、キシレノー
ル、ハロゲン化フェノール、カテコールなどのフェノー
ル系溶媒、あるいはヘキサメチルホスホルアミド、γ−
ブチロラクトンなどを挙げることができる。更に必要に
応じて、これらの有機極性溶媒とはキシレン、トルエン
のような芳香族炭化水素とを組み合わせて用いることも
できる。次に、ポリアミド酸をイミド化する方法につい
て説明する。
Examples of the organic polar solvent used in the reaction for producing the polyamic acid solution include sulfoxide solvents such as dimethyl sulfoxide and diethyl sulfoxide,
Formamide solvents such as N, N-dimethylformamide and N, N-diethylformamide, acetamide solvents such as N, N-dimethylacetamide and N, N-diethylacetamide, N-methyl-2-pyrrolidone and N-vinyl- Pyrrolidone-based solvent such as 2-pyrrolidone, phenol-based solvent such as phenol, o-, m- or p-cresol, xylenol, halogenated phenol and catechol, or hexamethylphosphoramide, γ-
Butyrolactone and the like can be mentioned. Furthermore, if necessary, these organic polar solvents may be used in combination with an aromatic hydrocarbon such as xylene or toluene. Next, a method of imidizing a polyamic acid will be described.

【0064】ポリアミド酸のイミド化反応はポリアミド
酸の脱水閉環反応であり、反応によって水を生成する。
この生成した水は、ポリアミド酸を容易に加水分解し分
子量の低下を引き起こす。この水を除去しながらイミド
化する方法として、通常1)トルエン・キシレン等の共
沸溶媒を加え共沸により除去する方法、2)無水酢酸等
の脂肪族酸二無水物とトリエチルアミン・ピリジン・ピ
コリン・イソキノリン等の3級アミンを加える化学的イ
ミド化法、3)減圧下で加熱してイミド化する方法があ
る。
The imidization reaction of polyamic acid is a dehydration ring closure reaction of polyamic acid, and water is produced by the reaction.
The generated water easily hydrolyzes the polyamic acid and causes a decrease in the molecular weight. As a method for imidizing while removing this water, usually 1) a method in which an azeotropic solvent such as toluene / xylene is added to remove it azeotropically, 2) an aliphatic acid dianhydride such as acetic anhydride and triethylamine / pyridine / picoline -Chemical imidization method in which a tertiary amine such as isoquinoline is added, and 3) there is a method of heating under reduced pressure for imidization.

【0065】本発明の熱可塑性ポリイミド樹脂のイミド
化の方法は、減圧下で加熱してイミド化する方法が好ま
しい。このイミド化の方法によれば、イミド化によって
生成する水を積極的に系外に除去できるので、ポリアミ
ド酸の加水分解を抑えることが可能で高分子量のポリイ
ミドが得られる。またこの方法によれば、原料の酸二無
水物中に不純物として存在する片側または両側開環物が
再閉環するので、より一層の分子量の向上効果が期待で
きる。
The method of imidizing the thermoplastic polyimide resin of the present invention is preferably a method of heating under a reduced pressure to imidize. According to this imidization method, water generated by imidization can be positively removed to the outside of the system, so that hydrolysis of polyamic acid can be suppressed and a high molecular weight polyimide can be obtained. Further, according to this method, the ring-opened product on one side or both sides present as an impurity in the acid dianhydride as the raw material is re-closed, so that a further improvement effect of the molecular weight can be expected.

【0066】減圧下で加熱イミド化する方法の加熱条件
は80〜400℃が好ましいが、イミド化が効率よく行
われ、しかも水が効率よく除かれる100℃以上がより
好ましく、更に好ましくは120℃以上である。最高温
度は目的とするポリイミドの熱分解温度以下が好まし
く、通常のイミド化の完結温度すなわち250〜350
℃程度が通常適用される。
The heating condition of the method of heating and imidizing under reduced pressure is preferably 80 to 400 ° C., more preferably 100 ° C. or higher, and more preferably 120 ° C., which enables efficient imidization and efficient removal of water. That is all. The maximum temperature is preferably equal to or lower than the thermal decomposition temperature of the intended polyimide, and the normal imidization completion temperature, that is, 250 to 350.
℃ degree is usually applied.

【0067】減圧する圧力の条件は、小さいほうが好ま
しいが、具体的には900hPa以下、好ましくは80
0hPa以下、より好ましくは700hPa以下であ
る。また、熱可塑性ポリイミド樹脂を得るための別の方
法として、上記の熱的または化学的に脱水閉環する方法
において溶媒の蒸発を行わない方法もある。具体的に
は、熱的イミド化処理または脱水剤による化学的イミド
化処理を行って得られるポリイミド樹脂溶液を貧溶媒中
に投入して、ポリイミド樹脂を析出させ、未反応モノマ
ーを取り除いて精製、乾燥させ固形のポリイミド樹脂を
得る方法である。貧溶媒としては、溶媒とは良好に混合
するがポリイミドは溶解しにくい性質を有するものを選
択し、例示すると、アセトン、メタノール、エタノー
ル、イソプロパノール、ベンゼン、メチルセロソルブ、
メチルエチルケトン等が挙げられるがこれに限定されな
い。これらの方法により熱可塑性ポリイミド樹脂を得る
ことができ、本発明の積層体の接着層として用いること
ができる。
The condition of the pressure for reducing the pressure is preferably as small as possible, but specifically, it is 900 hPa or less, preferably 80 hPa.
It is 0 hPa or less, more preferably 700 hPa or less. Further, as another method for obtaining the thermoplastic polyimide resin, there is a method in which the solvent is not evaporated in the above-mentioned method of thermally or chemically dehydrating and ring-closing. Specifically, a polyimide resin solution obtained by performing a chemical imidization treatment with a thermal imidization treatment or a dehydrating agent is put into a poor solvent, the polyimide resin is precipitated, and unreacted monomers are removed and purified, It is a method of obtaining a solid polyimide resin by drying. As the poor solvent, polyimide that is mixed well with a solvent but has a property that the polyimide is difficult to dissolve is selected, and, for example, acetone, methanol, ethanol, isopropanol, benzene, methyl cellosolve,
Examples thereof include, but are not limited to, methyl ethyl ketone. A thermoplastic polyimide resin can be obtained by these methods and can be used as an adhesive layer of the laminate of the present invention.

【0068】次に(B)熱硬化樹脂の硬化反応を利用し
た硬化型の接着剤に関して説明する。熱硬化型樹脂とし
てはビスマレイミド樹脂、ビスアリルナジイミド樹脂、
フェノール樹脂、シアナート樹脂、エポキシ樹脂、アク
リル樹脂、メタクリル樹脂、トリアジン樹脂、ヒドロシ
リル硬化樹脂、アリル硬化樹脂、不飽和ポリエステル樹
脂等を挙げることができ、これらを単独または適宜組み
合わせて用いることができる。また、上記熱硬化性樹脂
以外に高分子鎖の側鎖または末端にエポキシ基、アリル
基、ビニル基、アルコキシシリル基、ヒドロシリル基,
水酸基等の反応性基を有する側鎖反応性基型熱硬化性高
分子を熱硬化成分として使用することも可能である。
Next, (B) a curable adhesive utilizing the curing reaction of the thermosetting resin will be described. As the thermosetting resin, bismaleimide resin, bisallylnadiimide resin,
Phenol resin, cyanate resin, epoxy resin, acrylic resin, methacrylic resin, triazine resin, hydrosilyl cured resin, allyl cured resin, unsaturated polyester resin and the like can be mentioned, and these can be used alone or in an appropriate combination. In addition to the thermosetting resin, an epoxy group, an allyl group, a vinyl group, an alkoxysilyl group, a hydrosilyl group at the side chain or terminal of the polymer chain,
It is also possible to use a side chain reactive group type thermosetting polymer having a reactive group such as a hydroxyl group as a thermosetting component.

【0069】以下に側鎖反応性基型熱硬化性ポリイミド
樹脂について説明する。具体的製法例としては、(1)
既に述べた熱可塑性ポリイミド樹脂に準じた方法で製造
され、この際にエポキシ基、ビニル基、アリル基、メタ
クリル基、アクリル基、アルコキシシリル基、ヒドロシ
リル基、カルボキシ基、水酸基、シアノ基等の官能基有
するジアミン成分、酸二無水物成分をモノマー成分とし
て用い熱硬化型ポリイミドを得る方法、また、(2)水
酸基、カルボキシ基、芳香族ハロゲン基等を有する溶媒
可溶性ポリイミドを既に述べた熱可塑性ポリイミド樹脂
の製法に準じて製造した後、エポキシ基、ビニル基、ア
リル基、メタクリル基、アクリル基、アルコキシシリル
基、ヒドロシリル基、カルボキシ基、水酸基、シアノ基
等の官能基を化学反応により付与する方法等により、熱
硬化性ポリイミド樹脂を得ることも可能である。
The side chain reactive group type thermosetting polyimide resin will be described below. As an example of a specific manufacturing method, (1)
Manufactured by a method similar to that of the thermoplastic polyimide resin already described, in which case epoxy group, vinyl group, allyl group, methacryl group, acryl group, alkoxysilyl group, hydrosilyl group, carboxy group, hydroxyl group, cyano group, etc. A method for obtaining a thermosetting polyimide by using a diamine component having a group and an acid dianhydride component as a monomer component, and (2) a thermoplastic polyimide having already described a solvent-soluble polyimide having a hydroxyl group, a carboxy group, an aromatic halogen group, etc. A method in which functional groups such as an epoxy group, a vinyl group, an allyl group, a methacrylic group, an acryl group, an alkoxysilyl group, a hydrosilyl group, a carboxy group, a hydroxyl group, and a cyano group are chemically reacted after being produced according to the resin production method. It is also possible to obtain a thermosetting polyimide resin, etc.

【0070】熱硬化性樹脂に対し、さらに有機過酸化物
等のラジカル反応開始剤、反応促進剤、トリアリルシア
ヌレート、トリアリルイソシアヌレート等の架橋助剤、
耐熱性、接着性等の向上のため、必要に応じて、酸二無
水物系、アミン系、イミダゾール系等の一般に用いられ
るエポキシ硬化剤、種々のカップリング剤等を適宜添加
することも可能である。
In addition to the thermosetting resin, a radical reaction initiator such as an organic peroxide, a reaction accelerator, a cross-linking aid such as triallyl cyanurate and triallyl isocyanurate,
In order to improve heat resistance, adhesiveness, etc., if necessary, it is possible to appropriately add acid dianhydride-based, amine-based, imidazole-based generally used epoxy curing agents, various coupling agents, etc. is there.

【0071】加熱接着時の接着剤の流れ性を制御する目
的で、前記熱可塑性樹脂に熱硬化性樹脂を混合すること
も可能である。このためには、熱可塑性樹脂100重量
部に対して、熱硬化性樹脂を1〜10000重量部、好
ましくは5〜2000重量部加えるのが望ましい。熱硬
化性樹脂が多すぎると接着層が脆くなるおそれがあり、
逆に少なすぎると接着剤のはみ出しが生じたり、接着性
が低下するおそれがある。
It is also possible to mix a thermosetting resin with the thermoplastic resin for the purpose of controlling the flowability of the adhesive during heat-bonding. For this purpose, it is desirable to add 1 to 10000 parts by weight, preferably 5 to 2000 parts by weight, of the thermosetting resin to 100 parts by weight of the thermoplastic resin. If there is too much thermosetting resin, the adhesive layer may become brittle,
On the other hand, if the amount is too small, the adhesive may squeeze out or the adhesiveness may deteriorate.

【0072】本発明の積層体に用いる接着剤として、熱
可塑性ポリイミド樹脂とエポキシ樹脂および/またはシ
アナート樹脂を混合したものが接着性、加工性、耐熱性
などのバランスがよく好適である。エポキシ樹脂を用い
る場合、エポキシ樹脂は元来誘電率が大きく、また誘電
正接も大きい為、熱可塑性樹脂と混合する際、エポキシ
樹脂を100重量部以下用いると、接着層の誘電率、誘
電正接が小さくなり好ましい。また、シアナート樹脂を
用いる場合はシアナート樹脂が元来優れた低誘電特性を
有する為、混合比に特に制限せずとも低誘電特性を有す
る接着層を得ることができる。
As the adhesive used in the laminate of the present invention, a mixture of a thermoplastic polyimide resin and an epoxy resin and / or a cyanate resin is preferable because of good balance of adhesiveness, processability and heat resistance. When the epoxy resin is used, since the epoxy resin originally has a large dielectric constant and a large dielectric loss tangent, when 100 parts by weight or less of the epoxy resin is used when mixing with the thermoplastic resin, the dielectric constant and the dielectric loss tangent of the adhesive layer are increased. It is small and preferable. When a cyanate resin is used, since the cyanate resin originally has excellent low dielectric properties, an adhesive layer having low dielectric properties can be obtained without particularly limiting the mixing ratio.

【0073】本発明のプリント配線板用積層体において
は、高分子フィルムの一方の面に金属層、他方の面に接
着層を設けた積層体において、該積層体から金属層のみ
を取り除いた高分子フィルムとその一方の面に形成され
た接着層からなる構成体全体の比誘電率が3.5以下、
誘電正接0.02以下、熱膨張係数40ppm以下、ガ
ラス転移温度150℃以上であることを特徴とする。上
記の高分子フィルムとその一方の面に形成された接着層
からなる構成体の特性は、高分子フィルムおよび接着層
の各々の特性、厚み構成により決まってくる。その為、
上記特性を満足するように高分子フィルムおよび接着層
の化学構造、厚み構成を適宜選択することが必要であ
る。
In the laminate for a printed wiring board of the present invention, in a laminate having a metal layer on one surface of a polymer film and an adhesive layer on the other surface, a high-strength film obtained by removing only the metal layer from the laminate. The relative permittivity of the entire structure including the molecular film and the adhesive layer formed on one surface thereof is 3.5 or less,
The dielectric loss tangent is 0.02 or less, the thermal expansion coefficient is 40 ppm or less, and the glass transition temperature is 150 ° C. or more. The characteristics of the structural body composed of the above-mentioned polymer film and the adhesive layer formed on one surface thereof are determined by the characteristics and thickness configuration of the polymer film and the adhesive layer. For that reason,
It is necessary to appropriately select the chemical structure and thickness constitution of the polymer film and the adhesive layer so as to satisfy the above characteristics.

【0074】経験的には、高分子フィルムおよび接着層
の各々の特性と体積比率を考慮した加性則が概ね成り立
つことが知られている。
It is empirically known that the additivity rule in which the respective characteristics and volume ratios of the polymer film and the adhesive layer are taken into consideration generally holds.

【0075】また、本発明のプリント配線板用積層体を
用いてビルドアップ多層プリント配線板を製造する方法
としては以下の工程を例示することができる。 (1)内層基板に本発明のプリント配線板用積層体を内
層回路面と接着剤面を合わせ、プレス積層する。プレス
積層加工は単板プレスの他、真空プレスも適用でき、積
層時の泡の咬み込み、内層回路の埋め込み性から真空プ
レスが好ましい。加熱温度は160℃〜220℃で1〜
3時間程度である。 (2)必要な位置にビアホールを形成する。ビアホール
の穴開けは、レーザードリリングが小径のブラインドビ
ア形成に有効であり、金属層ごと穴開けするためにはU
V−YAGレーザーが好適である。 (3)必要に応じて公知の方法によるデスミア処理によ
りビアホールのクリーニングを行い、全面に前記条件で
無電解銅めっきを行う。 (4)フォトレジスト塗布またはラミネートする。必要
に応じてフィルム状のもの、液状のものが使用可能であ
る。 (5)フォトリソグラフィーにより、回路の形成を予定
する部分を除く部分にレジスト被膜を形成する。高密度
回路の形成には、感光材料のレジストに対して平行光源
で露光、現像する方法が好ましい。 (6)公知の方法で電気めっきにより回路部、ビアホー
ルに回路形成する。めっきの方法としてはめっき液添加
剤の調整やパルス状の電流を印加するなどの方法が適用
できる。これらの方法を組み合わせることによって用途
に応じためっき皮膜を付けることができる。 (7)レジストを剥離する。通常アルカリ性溶液や有機
溶剤などを用いる。 (9)回路に不要な部分の金属層をエッチングにより取
り除き回路を形成する。 (9)さらに積層を続ける場合は(1)〜(8)を繰り
返す。
The following steps can be exemplified as a method for producing a build-up multilayer printed wiring board using the laminate for a printed wiring board of the present invention. (1) The printed wiring board laminate of the present invention is press-laminated with the inner circuit surface and the adhesive surface aligned with the inner substrate. For the press lamination process, a vacuum press can be applied in addition to the single plate press, and the vacuum press is preferable from the viewpoint of biting bubbles during lamination and embedding the inner layer circuit. The heating temperature is 160 ° C to 220 ° C and is 1 to
It takes about 3 hours. (2) A via hole is formed at a required position. For drilling via holes, laser drilling is effective for forming blind vias with a small diameter.
A V-YAG laser is suitable. (3) If necessary, the via hole is cleaned by desmearing by a known method, and electroless copper plating is performed on the entire surface under the above conditions. (4) Apply photoresist or laminate. If necessary, a film-shaped one or a liquid one can be used. (5) By photolithography, a resist film is formed on a portion except a portion where a circuit is to be formed. For forming a high-density circuit, a method of exposing and developing a resist of a photosensitive material with a parallel light source is preferable. (6) A circuit is formed in the circuit portion and the via hole by electroplating by a known method. As a plating method, a method of adjusting a plating solution additive or applying a pulsed current can be applied. By combining these methods, a plating film can be attached according to the application. (7) The resist is peeled off. Usually, an alkaline solution or an organic solvent is used. (9) A circuit is formed by removing the metal layer of a portion unnecessary for the circuit by etching. (9) To continue stacking, repeat (1) to (8).

【0076】[0076]

【実施例1】(ポリイミドフィルムの合成)セパラブル
フラスコ中でパラフェニレンジアミン(以下PDA)と
4,4’−ジアミノジフェニルエーテル(以下ODA)
各1当量をN,N−ジメチルホルムアミド(以下DM
F)に溶解する。その後p−フェニレンビス(トリメリ
ット酸モノエステル無水物)(以下TMHQ)1当量を
加え30分間攪拌した。その後、ピロメリット酸二無水
物(以下PMDA)0.9当量を加え30分間攪拌す
る。次いで粘度上昇に注意しながらPMDAのDMF溶
液(濃度7%)を加え23℃での粘度が2000〜30
00ポイズになるように調整し、ポリアミド酸重合体の
DMF溶液を得た。なおDMFの使用量はジアミン成分
およびテトラカルボン酸二無水物成分のモノマー仕込濃
度が、18重量%となるようにした。また、重合は40
℃で行った。
Example 1 (Synthesis of Polyimide Film) Paraphenylenediamine (hereinafter PDA) and 4,4′-diaminodiphenyl ether (hereinafter ODA) in a separable flask.
1 equivalent of N, N-dimethylformamide (hereinafter DM
Dissolve in F). Then, 1 equivalent of p-phenylene bis (trimellitic acid monoester anhydride) (hereinafter TMHQ) was added and stirred for 30 minutes. Then, 0.9 equivalent of pyromellitic dianhydride (hereinafter PMDA) is added and stirred for 30 minutes. Then, paying attention to the increase in viscosity, a DMF solution of PMDA (concentration 7%) was added, and the viscosity at 23 ° C. was 2000 to 30.
The porosity was adjusted to 00 poise to obtain a DMF solution of a polyamic acid polymer. The amount of DMF used was such that the concentration of the diamine component and the tetracarboxylic dianhydride component charged with the monomer was 18% by weight. Also, the polymerization is 40
Performed at ° C.

【0077】上記ポリアミド酸溶液100gに対して、
無水酢酸10gとイソキノリン10gを添加し均一に攪
拌した後、脱泡を行い、ガラス板上に流延塗布し、約1
10℃に約5分間乾燥後、ポリアミド酸塗膜をガラス板
より剥し、自己支持性を持つゲルフィルムを得た。この
ゲルフィルムをチタン濃度100ppmに調整したTB
STAの1−ブタノール溶液に1分間浸漬し、フィルム
表面の液滴を除去した後フレームに固定して、その後約
200℃で約1分間、約300℃で約1分間、約400
℃で約1分間、約500℃で約1分間加熱し、脱水閉環
乾燥し、厚み約12.5μmのポリイミドフィルムを得
た。このポリイミドフィルムは引張り弾性率6GPa、
引張り伸び率50%、線膨張係数13ppm、吸水率
1.2%、誘電率3.4、誘電正接0.01、10点平
均粗さRzは0.2μmであった。
With respect to 100 g of the above polyamic acid solution,
After 10 g of acetic anhydride and 10 g of isoquinoline were added and uniformly stirred, defoaming was performed, and the mixture was cast on a glass plate to give about 1
After drying at 10 ° C. for about 5 minutes, the polyamic acid coating film was peeled off from the glass plate to obtain a gel film having self-supporting property. TB with this gel film adjusted to a titanium concentration of 100 ppm
Immerse the film in 1-butanol solution of STA for 1 minute, remove the droplets on the film surface, and then fix the film on the frame.
The polyimide film having a thickness of about 12.5 μm was obtained by heating at about 1 ° C. for about 1 minute and at about 500 ° C. for about 1 minute and dehydration ring-closing drying. This polyimide film has a tensile elastic modulus of 6 GPa,
The tensile elongation was 50%, the linear expansion coefficient was 13 ppm, the water absorption rate was 1.2%, the dielectric constant was 3.4, the dielectric loss tangent was 0.01, and the 10-point average roughness Rz was 0.2 μm.

【0078】(金属層の形成)上記方法で製造したポリ
イミドフィルムへの金属層の形成は、昭和真空社製スパ
ッタリング装置NSP−6を用い、以下の方法で行っ
た。高分子フィルムを冶具にセットして真空チャンバー
を閉じる。基板(高分子フィルム)を自公転させながら
ランプヒーターで加熱しながら6×10-4Pa以下まで
真空引きする。その後、アルゴンガスを導入し0.35
PaにしてDCスパッタリングによりニッケル20n
m、次いで銅を100nmスパッタリングする。DCパ
ワーはどちらも200Wでスパッタリングした。製膜速
度は、ニッケルが7nm/min、銅が11nm/mi
nであり、成膜時間を調整して成膜厚みを制御した。 (接着剤層の形成)窒素雰囲気下で容量2000mlの
ガラス製フラスコに、N,N−ジメチルホルムアミド
(以下、DMFという)に1当量のビス{4−(3−ア
ミノフェノキシ)フェニル}スルホン(以下BAPS−
Mという)を溶解した。溶液を氷水で冷却しつつ撹拌
し、1当量の4、4´―(4、4´―イソプロピリデン
ジフェノキシ)ビス(無水フタル酸)(以下、BPAD
Aという)を溶解、重合し固形分濃度30重量%のポリ
アミド酸重合体溶液を得た。
(Formation of Metal Layer) The metal layer was formed on the polyimide film produced by the above method using a sputtering apparatus NSP-6 manufactured by Showa Vacuum Co., Ltd. according to the following method. Set the polymer film in the jig and close the vacuum chamber. The substrate (polymer film) is evacuated to 6 × 10 −4 Pa or less while rotating it on its own axis while being heated by a lamp heater. After that, introduce argon gas to 0.35
Nickel 20n by DC sputtering with Pa
m, then copper is sputtered to 100 nm. Both DC powers were sputtered at 200W. The film formation rate was 7 nm / min for nickel and 11 nm / mi for copper.
n, and the film-forming thickness was controlled by adjusting the film-forming time. (Formation of Adhesive Layer) In a glass flask having a volume of 2000 ml under a nitrogen atmosphere, 1 equivalent of bis {4- (3-aminophenoxy) phenyl} sulfone (hereinafter referred to as N, N-dimethylformamide (hereinafter referred to as DMF)) BAPS-
M). The solution was stirred while being cooled with ice water, and 1 equivalent of 4,4 ′-(4,4′-isopropylidenediphenoxy) bis (phthalic anhydride) (hereinafter, referred to as BPAD
A) was dissolved and polymerized to obtain a polyamic acid polymer solution having a solid content concentration of 30% by weight.

【0079】このポリアミド酸溶液を200℃180
分、665Paの減圧下で200℃3時間で減圧加熱
し、固形の熱可塑性ポリイミド樹脂を得た。上記で得た
ポリイミド樹脂とノボラック型のエポキシ樹脂(エピコ
ート1032H60:油化シェル社製)、および4,
4’−ジアミノジフェニルスルフォン(以下、4,4’
−DDSとする)を重量比が70/30/9になるよう
に混合し、ジオキソランに固形分濃度が20重量%にな
るように溶解して接着剤溶液を得た。得られた接着剤溶
液をコンマコーターを用いて高分子フィルムの金属層を
形成した面と反対の面に、乾燥後の厚みが9μmになる
ように塗布し、170℃で2分間乾燥して接着剤層を形
成して、プリント配線板用積層体を作製した。得られた
プリント配線板用積層体の接着剤層を銅箔と対向させ、
温度200℃、圧力3MPa、真空度10Pa、1時間
の条件で真空プレスにより接着層を硬化させた後、金属
層および銅箔をエッチングにより除去して得られたポリ
イミドフィルムと接着層からなる構成体の特性を評価し
た。比誘電率3.5、誘電正接0.018、線膨張係数
32ppm、ガラス転移温度は接着層に由来する160
℃とポリイミドフィルムに由来する310℃が観察され
た。 (多層プリント配線板の製造)得られたプリント配線板
用積層体を、下記方法で多層プリント配線板を作製し
た。 (1)内層回路厚み9μmのFR4基板に温度200
℃、圧力3MPa、真空度10Paの条件で1時間プレ
スして積層。 (3)必要な位置にUV−YAGレーザーで直径30μ
mのビアホールを穴開け。 (4)アトテック製無電解銅めっきのプロセスに従い、 クリーナーコンディショナー(商品名クリーナーセキュ
リガント902)5分、 プレディップ(商品名プリディップネオガントB)1
分、 アクチーベーター(商品名、アクチベーターネオガント
834コンク)5分、 還元(商品名リデュサーネオガント)2分 無電解銅めっき(ノビガントMSK−DK)15分 の条件でめっきした。 (6)無電解銅めっき被膜をアセトンで洗浄した後、J
SR社製の液状ホトレジスト(商品名THB−320
P)をスピンコート法で1000RPM10秒間塗布
し、110℃10分間乾燥して10μm厚みのレジスト
層を形成した。 (7)レジスト層にライン/スペースが10/10μm
のガラスマスクを密着して超高圧水銀灯の紫外線露光機
で1分間露光したのち、JSR社製現像液(PD523
AD)に3分間浸漬して感光した部分を除去し、ライン
/スペース=10/10μmのパターンを形成した。 (8)得られた積層基板を硫酸銅めっき液によって電流
密度2A/dm2で20分間電気めっきを施し、レジス
トを除去した部分に厚み10μmのパターンを形成し
た。 (9)得られた回路基板をアセトンで洗浄して基板上に
残ったレジスト層を剥離した。 (12)得られた回路基板を、メック社製のエッチング
液(商品名、メックリムーバーNH−1862)に5分
間浸漬した。このエッチング液は銅と比較してニッケル
のエッチングレートが大きく、回路以外の部分のニッケ
ルを除去する際に回路部分の銅のダメージを最小限に抑
えることができた。
This polyamic acid solution was heated at 200 ° C. 180
Min., Under reduced pressure of 665 Pa, 200 ° C. was heated under reduced pressure for 3 hours to obtain a solid thermoplastic polyimide resin. The polyimide resin obtained above and a novolac type epoxy resin (Epicoat 1032H60: manufactured by Yuka Shell Co., Ltd.), and 4,
4'-diaminodiphenyl sulfone (hereinafter, 4,4 '
-DDS) was mixed at a weight ratio of 70/30/9 and dissolved in dioxolane so that the solid content concentration was 20% by weight to obtain an adhesive solution. The obtained adhesive solution was applied to the surface of the polymer film opposite to the surface on which the metal layer was formed using a comma coater so that the thickness after drying was 9 μm, and dried at 170 ° C. for 2 minutes to adhere. An agent layer was formed to produce a printed wiring board laminate. The adhesive layer of the obtained laminate for a printed wiring board is opposed to a copper foil,
A structure composed of a polyimide film and an adhesive layer obtained by curing the adhesive layer by vacuum pressing under the conditions of a temperature of 200 ° C., a pressure of 3 MPa, a vacuum degree of 10 Pa, and an hour, and then removing the metal layer and the copper foil by etching. Was evaluated. The relative dielectric constant is 3.5, the dielectric loss tangent is 0.018, the linear expansion coefficient is 32 ppm, and the glass transition temperature is 160 derived from the adhesive layer.
C. and 310.degree. C. due to the polyimide film were observed. (Production of Multilayer Printed Wiring Board) The obtained laminated body for printed wiring board was used to produce a multilayer printed wiring board. (1) Temperature of 200 on FR4 board with inner layer circuit thickness of 9μm
Laminated by pressing for 1 hour under the conditions of ° C, pressure 3 MPa, and vacuum degree 10 Pa. (3) UV-YAG laser with a diameter of 30μ at the required position
Drill a via hole of m. (4) Cleaner conditioner (product name Cleaner Securigant 902) 5 minutes, predip (product name Predip Neogantt B) 1 according to the process of Atotech electroless copper plating
Min, activator (trade name, activator neogant 834 conc) 5 minutes, reduction (trade name reducer neogant) 2 minutes electroless copper plating (novigant MSK-DK) 15 minutes. (6) After washing the electroless copper plating film with acetone, J
Liquid photoresist made by SR company (trade name THB-320
P) was applied by spin coating at 1000 RPM for 10 seconds and dried at 110 ° C. for 10 minutes to form a resist layer having a thickness of 10 μm. (7) Line / space in the resist layer is 10/10 μm
After closely adhering the glass mask of No. 1 to the UV exposure device of the ultra-high pressure mercury lamp for 1 minute, the developer (PD523 manufactured by JSR) was used.
The exposed portion was removed by immersing in AD) for 3 minutes to form a pattern of line / space = 10/10 μm. (8) The obtained laminated substrate was electroplated with a copper sulfate plating solution at a current density of 2 A / dm 2 for 20 minutes, and a pattern having a thickness of 10 μm was formed on the portion where the resist was removed. (9) The obtained circuit board was washed with acetone to remove the resist layer remaining on the board. (12) The obtained circuit board was immersed for 5 minutes in an etching solution (trade name, Meck Remover NH-1862) manufactured by Mec. This etching solution has a higher nickel etching rate than copper, and it was possible to minimize damage to copper in the circuit portion when nickel in the portion other than the circuit was removed.

【0080】得られた多層プリント配線板の回路を走査
型電子線顕微鏡で観察し、設計通りライン/スペース=
10/10μmの回路を形成していることを確認した。
また、スペース部分は平滑でニッケルあるいは銅のエッ
チング残りは観察されなかった。さらに、本来長方形と
なるべき銅の導体回路の断面形状はエッチング工程での
回路細りが見られず、設計通りの長方形の形状を維持し
ていた。また、金属導体層の厚みが20μmの時の高分
子フィルムとの引き剥がし強さは6.8N/cmであ
り、高密度配線を形成する上で充分な引き剥がし強さを
示した。
The circuit of the obtained multilayer printed wiring board was observed with a scanning electron microscope, and line / space = as designed.
It was confirmed that a circuit of 10/10 μm was formed.
Further, the space portion was smooth and no nickel or copper etching residue was observed. Furthermore, the cross-sectional shape of the copper conductor circuit, which should originally be rectangular, did not show circuit thinning during the etching process, and maintained the rectangular shape as designed. Further, the peel strength from the polymer film when the thickness of the metal conductor layer was 20 μm was 6.8 N / cm, which was a sufficient peel strength for forming high-density wiring.

【0081】(実施例2)実施例1のポリイミドフィル
ムの合成において、PDA1当量を4,4‘−ジアミノ
ベンズアニリド(以下DABA)とし、またTMHQ1
当量とPMDA0.9当量をTMHQ1.9当量とし、
PMDAのDMF溶液をTMHQのDMF溶液とした以
外は同様の操作を行い、厚み12.5μmのポリイミド
フィルムを得た。このポリイミドフィルムは引張り弾性
率9GPa、引張り伸び率15%、線膨張係数は6pp
m、吸水率1.2%、誘電率3.4、誘電正接0.0
1、10点平均粗さRzは0.2μmであった。得られ
たポリイミドフィルムを実施例1と同様の操作でプリン
ト配線板用積層体を作製した。得られたプリント配線板
用積層体の接着剤層を銅箔と対向させ、温度200℃、
圧力3MPa、真空度10Pa、1時間の条件で真空プ
レスにより接着層を硬化させた後、金属層および銅箔を
エッチングにより除去して得られたポリイミドフィルム
と接着層からなる構成体の特性を評価した。比誘電率
3.5、誘電正接0.019、線膨張係数24ppm、
ガラス転移温度は接着層に由来する160℃とポリイミ
ドフィルムに由来する300℃が観察された。実施例1
と同様の操作で多層プリント配線板を得た。
Example 2 In the synthesis of the polyimide film of Example 1, 1 equivalent of PDA was 4,4'-diaminobenzanilide (hereinafter referred to as DABA), and TMHQ1 was used.
Equivalent to PMH 0.9 equivalent to TMHQ 1.9 equivalent,
The same operation was performed except that the DMF solution of PMDA was changed to the DMF solution of TMHQ to obtain a polyimide film having a thickness of 12.5 μm. This polyimide film has a tensile elastic modulus of 9 GPa, a tensile elongation of 15% and a linear expansion coefficient of 6 pp.
m, water absorption 1.2%, dielectric constant 3.4, dielectric loss tangent 0.0
The 1 and 10 point average roughness Rz was 0.2 μm. The obtained polyimide film was processed in the same manner as in Example 1 to prepare a laminate for a printed wiring board. The adhesive layer of the obtained laminate for a printed wiring board is opposed to a copper foil, and the temperature is 200 ° C.
The adhesive layer is cured by a vacuum press under the conditions of a pressure of 3 MPa, a degree of vacuum of 10 Pa, and an hour, and then the characteristics of a structure composed of a polyimide film and an adhesive layer obtained by removing the metal layer and the copper foil by etching are evaluated. did. Dielectric constant 3.5, dielectric loss tangent 0.019, linear expansion coefficient 24ppm,
As the glass transition temperature, 160 ° C. derived from the adhesive layer and 300 ° C. derived from the polyimide film were observed. Example 1
A multilayer printed wiring board was obtained by the same operation as.

【0082】得られた多層プリント配線板の回路を走査
型電子線顕微鏡で観察し、設計通りライン/スペース=
10/10μmの回路を形成していることを確認した。
また、スペース部分は平滑でニッケルあるいは銅のエッ
チング残りは観察されなかった。さらに、本来長方形と
なるべき銅の導体回路の断面形状はエッチング工程での
回路細りが見られず、設計通りの長方形の形状を維持し
ていた。また、金属導体層の厚みが20μmの時の高分
子フィルムとの引き剥がし強さは6.8N/cmであ
り、高密度配線を形成する上で充分な引き剥がし強さを
示した。
The circuit of the obtained multilayer printed wiring board was observed with a scanning electron microscope, and line / space =
It was confirmed that a circuit of 10/10 μm was formed.
Further, the space portion was smooth and no nickel or copper etching residue was observed. Furthermore, the cross-sectional shape of the copper conductor circuit, which should originally be rectangular, did not show circuit thinning during the etching process, and maintained the rectangular shape as designed. Further, the peel strength from the polymer film when the thickness of the metal conductor layer was 20 μm was 6.8 N / cm, which was a sufficient peel strength for forming high-density wiring.

【0083】(比較例1)エポキシ樹脂製の層間絶縁材
料(味の素ファインテクノ社製ABF―SH−9K)を
回路厚み9μmのFR4基板に温度90℃ラミネート
し、170℃30分間硬化した。
Comparative Example 1 An interlayer insulating material made of epoxy resin (ABF-SH-9K manufactured by Ajinomoto Fine-Techno Co., Inc.) was laminated on a FR4 substrate having a circuit thickness of 9 μm at a temperature of 90 ° C. and cured at 170 ° C. for 30 minutes.

【0084】得られた積層体を過マンガン酸法でデスミ
アによる表面粗化を行った後、上記多層プリント配線板
製造方法の(3)以降の工程を経て多層プリント配線板
を製造し、評価した。表面粗化後の樹脂表面の10点平
均粗さは3.0μmであった。得られた多層プリント配
線板は樹脂表面の凹凸が大きいために安定した回路幅が
安定しなかった。また、スペース部分をSEM観察した
ところ凹凸にニッケルのエッチングのこりが見られた。
樹脂層と金属導体層の密着強度は7.4N/cmであっ
た。また、エポキシ樹脂を上記条件で硬化させたもの
の、比誘電率3.5、誘電正接0.030、線膨張係数
70ppm、ガラス転移温度186℃となった。
The obtained laminated body was subjected to surface roughening by desmear by the permanganate method, and then the multilayer printed wiring board was manufactured and evaluated through the steps (3) and after of the above method for manufacturing a multilayer printed wiring board. . The 10-point average roughness of the resin surface after the surface roughening was 3.0 μm. Since the obtained multilayer printed wiring board had large irregularities on the resin surface, the stable circuit width was not stable. In addition, when the space portion was observed by SEM, nickel etching lumps were found on the irregularities.
The adhesion strength between the resin layer and the metal conductor layer was 7.4 N / cm. Although the epoxy resin was cured under the above conditions, the relative dielectric constant was 3.5, the dielectric loss tangent was 0.030, the linear expansion coefficient was 70 ppm, and the glass transition temperature was 186 ° C.

【0085】[0085]

【0086】[0086]

【発明の効果】本発明にかかるプリント配線板用積層体
は、極めて薄い金属層を表面に有しておりこの金属層が
高分子フィルムと無電解めっき被膜との引き剥がし強度
を向上する。従って表面の平滑な高分子フィルムにおい
ても無電解めっきが強固に接着するためにライン/スペ
ース=25μm/25μm以下の高密度回路を形成する
のに好適である。また、低誘電特性、線膨張性が小さ
く、ガラス転移温度が高く、プリント配線板、特にビル
ドアップ配線板製造に好適である。
The laminate for a printed wiring board according to the present invention has an extremely thin metal layer on its surface, and this metal layer improves the peeling strength between the polymer film and the electroless plating film. Therefore, even in the case of a polymer film having a smooth surface, the electroless plating firmly adheres to the film, which is suitable for forming a high-density circuit of line / space = 25 μm / 25 μm or less. Further, it has a low dielectric property, a small linear expansion property, a high glass transition temperature, and is suitable for manufacturing a printed wiring board, particularly a build-up wiring board.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) // C08L 79:08 C08L 79:08 Z Fターム(参考) 4F006 AA39 AB34 AB38 BA01 CA08 DA01 DA04 4F100 AB01B AB16 AB17 AB33 AK01A AK45A AK45C AK45G AR00C BA03 BA07 BA10B BA10C CC01 EH66 GB43 JA05 JA05A JG05 JG05A JL11 5E346 AA12 AA15 CC10 CC32 CC55 CC57 CC58 DD02 DD17 DD32 DD44 EE33 FF04 FF07 FF15 GG15 GG17 GG18 GG22 GG23 GG28 HH11 HH26 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) // C08L 79:08 C08L 79:08 ZF term (reference) 4F006 AA39 AB34 AB38 BA01 CA08 DA01 DA04 4F100 AB01B AB16 AB17 AB33 AK01A AK45A AK45C AK45G AR00C BA03 BA07 BA10B BA10C CC01 EH66 GB43 JA05 JA05A JG05 JG05A JL11 5E346 AA12 AA15 CC10 CC32.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 高分子フィルムの一方の面に金属層、他
方の面に接着層を設けた積層体において、該積層体から
金属層のみを取り除いた高分子フィルムとその一方の面
に形成された接着層からなる構成体全体の比誘電率が
3.5以下、誘電正接0.02以下、熱膨張係数40p
pm以下、ガラス転移温度150℃以上であることを特
徴とするプリント配線板用積層体。
1. A laminate in which a metal layer is provided on one surface of a polymer film and an adhesive layer is provided on the other surface, and the polymer film is obtained by removing only the metal layer from the laminate and the polymer film is formed on one surface thereof. The relative permittivity of the entire structure including the adhesive layer is 3.5 or less, the dielectric loss tangent is 0.02 or less, and the thermal expansion coefficient is 40p.
A laminated body for a printed wiring board, having a pm or lower and a glass transition temperature of 150 ° C. or higher.
【請求項2】 高分子フィルムがポリイミドフィルムで
あることを特徴とする請求項1記載のプリント配線板用
積層体。
2. The laminate for a printed wiring board according to claim 1, wherein the polymer film is a polyimide film.
【請求項3】 高分子フィルムの一方の面に設けられた
金属層が物理的な手法によって形成されたものであるこ
とを特徴とする請求項1、2記載のプリント配線板用積
層体。
3. The laminate for a printed wiring board according to claim 1, wherein the metal layer provided on one surface of the polymer film is formed by a physical method.
【請求項4】 接着層がポリイミド樹脂を含むことを特
徴とする請求項1〜3記載のプリント配線板用積層体。 【請求子5】 請求項1〜4記載のプリント配線板用積
層体を用いたプリント配線板。
4. The printed wiring board laminate according to claim 1, wherein the adhesive layer contains a polyimide resin. 5. A printed wiring board using the laminate for a printed wiring board according to claim 1.
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