JP2003238203A - 石英光ファイバおよび石英光ファイバ母材の製造方法 - Google Patents

石英光ファイバおよび石英光ファイバ母材の製造方法

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JP2003238203A JP2002038998A JP2002038998A JP2003238203A JP 2003238203 A JP2003238203 A JP 2003238203A JP 2002038998 A JP2002038998 A JP 2002038998A JP 2002038998 A JP2002038998 A JP 2002038998A JP 2003238203 A JP2003238203 A JP 2003238203A
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layer
dopant
quartz optical
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Hisashi Koaizawa
久 小相澤
Atsushi Terada
淳 寺田
Katsunori Inoue
克徳 井上
Tadahiro Nakamura
肇宏 中村
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Furukawa Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 屈折率分布の局所的変動が小さな石英光ファ
イバ母材および石英光ファイバを製造する。 【解決手段】 たとえば、センタ・コア11、ディプレ
スト層部分13、セグメント層部分15、クラッド層部
分17からなる石英光ファイバ母材の製造に際して、セ
グメント層部分15にアルミニウムを含むドーパントを
ドープする。センタ・コアにはアルミニウムを含むドー
パントはドープせず、たとえば、GeO 2 をドープす
る。なお、その他の光ファイバにおいても同様であり、
クラッド層部分の屈折率に対して比屈折率差が大きい部
分にはAl23 とGeO2 との混合物をドープし、比
屈折率差が小さい部分にはAl23 のみをドープす
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ファイバ母材を
製造(合成)する方法に関するものであり、特に、屈折
率を変化させるドーパントを高濃度でドープしても屈折
率の局所的な変動(脈理)を少なくできる石英光ファイ
バ母材の製造方法(合成方法)に関する。本発明はさら
に、そのような石英光ファイバ母材の製造方法によって
製造された石英光ファイバ母材から製造した石英光ファ
イバに関する。
【0002】
【従来の技術】近年、光ファイバを用いた信号伝送にお
いて、伝送容量の拡大を図るために波長分割多重(WD
M:Wave Division Multiplexing) 伝送方式が盛んに行
われている。WDM伝送では分散の制御が重要であり、
分散が小さく波長に対する分散の傾きが小さい石英光フ
ァイバ(以下、「低分散スロープ型光ファイバ」と略
す)が鋭意開発されている。また、高出力の信号を伝送
するために有効断面積の大きな石英光ファイバが開発さ
れている。さらに、石英光ファイバを用いた伝送系統に
おける中継局での分散の制御として、分散補償光ファイ
バ(DCF:Dispersion Compensation optical Fiber)
を用いた分散補償モジュールが使われている。
【0003】このような石英光ファイバの断面構成と屈
折率分布を図1(A)、(B)〜図3(A)、(B)に
例示する。
【0004】図1(A)に図解した石英光ファイバ(以
下、光ファイバ)1は、センタ・コア11と、センタ・
コア11の外周に設けられたディプレスト層13と、デ
ィプレスト層13の外周に設けられたセグメント層15
と、セグメント層15の外周に設けられたクラッド層1
7とを有する。なお、センタ・コア11、ディプレスト
層13およびセグメント層15を総称してコア部10と
呼ぶ。
【0005】図1(B)は図1(A)に図解した光ファ
イバ1の各部の屈折率プロファイルを示すグラフであ
る。屈折率を変化させるドーパントがドープされていな
い石英ガラス(シリカ)で形成されたクラッド層17の
屈折率n17を基準とすると、センタ・コア11の屈折率
11は屈折率n17よりΔ11だけ比屈折率差が高く、ディ
プレスト層13の屈折率n13はΔ13だけ比屈折率差が低
く、セグメント層15の屈折率n15はΔ15だけ比屈折率
差が高い。センタ・コア11およびセグメント層15に
は屈折率を高めるドーパントがドープされており、ディ
プレスト層13には屈折率を低くするドーパントがドー
プされている。なお、比屈折率差Δは、たとえば、Δ11
は{(n11 2 −n17 2 )/(n11 2 +n17 2 )}1/2 ×
100%として定義される。図1(A)、(B)に図解
したセグメント層15を有する光ファイバ1を、セグメ
ント型の屈折率プロファイルを持つ光ファイバ1と言
う。
【0006】図2(A)に図解した光ファイバ2は、セ
ンタ・コア21と、センタ・コア21の外周に設けられ
たサイドコア23と、サイドコア23の外周に設けられ
たクラッド層25とを有する。なお、センタ・コア21
とサイドコア23とを総称してコア部20と呼ぶ。
【0007】図2(B)は図2(A)に図解した光ファ
イバ2の各部の屈折率プロファイルを示すグラフであ
る。屈折率を変化させるドーパントがドープされていな
い石英ガラス(シリカ)で形成されたクラッド層25の
屈折率n25を基準とすると、センタ・コア21の屈折率
21は屈折率n25よりΔ21だけ比屈折率差が高く、サイ
ドコア23の屈折率n23はΔ23だけ比屈折率差が高い。
センタ・コア21およびサイドコア23には屈折率を高
めるドーパントがドープされている。図2(A)、
(B)に図解したコア部20の屈折率が階段状の光ファ
イバを階段型の屈折率プロファイルを持つ光ファイバ2
と言う。
【0008】図3(A)に図解した光ファイバ3は、セ
ンタディプレスト層31と、センタディプレスト層31
の外周に設けられたセグメント層33と、セグメント層
33の外周に設けられたディプレスト層35と、ディプ
レスト層35の外周に設けられたクラッド層37とを有
する。なお、センタディプレスト層31、セグメント層
33およびディプレスト層35を総称してコア部30と
呼ぶ。
【0009】図3(B)は図3(A)に図解した光ファ
イバ3の各部の屈折率プロファイルを示すグラフであ
る。屈折率を変化させるドーパントがドープされていな
い石英ガラス(シリカ)で形成されたクラッド層37の
屈折率n37を基準とすると、センタディプレスト層31
とディプレスト層35との屈折率n31、n35とはそれぞ
れ屈折率n37よりΔ31、Δ35だけ比屈折率差が低く、セ
グメント層33の屈折率n33はΔ33だけ比屈折率差が高
い。センタディプレスト層31およびディプレスト層3
5には屈折率を低くするドーパントがドープされてお
り、セグメント層33には屈折率を高くするドーパント
がドープされている。図3(A)、(B)に図解した屈
折率のプロファイルが凹型の光ファイバをM型の屈折率
プロファイルを持つ光ファイバ3と言う。
【0010】図2(A)、(B)に図解した階段型の屈
折率プロファイルを持つ光ファイバ2の製造に用いる光
ファイバ母材を合成する場合について述べる。まず、コ
ア部20に対応する部分およびサイドコア23に対応す
る部分を、たとえば、VAD法で合成する。その詳細を
述べると、ガラス原料ガス(SiCl4) と、屈折率を高める
ドーパント、たとえば、四塩化ゲルマニウム(GeCl4)
と、たとえば、水素および酸素、必要に応じてシールガ
スも含む燃焼ガスをコア用バーナに供給し、コア用バー
ナの火炎内で加水分解させて酸化ゲルマニウム(GeO
2)とシリカ粒子(またはガラス微粒子、SiO2 )を
含む火炎を反応容器内で回転する出発母材に吹きつけて
ガラス微粒子を堆積させてセンタ・コア21に対応する
スート(soot、煤体)部分を合成する。このセンタ・コ
ア21の合成と同時に、SiCl4 と、屈折率を高めるドー
パント、たとえば、GeCl4 と、水素および酸素、必要に
応じてシールガスも含む燃焼ガスをサイドコアバーナに
供給し、サイドコアバーナの火炎内が加水分解させてG
eO2 とSiO2 との微粒子を含む火炎をセンタ・コア
21に対応するスートの上に堆積してセンタ・コア21
の上にサイドコア23に対応するスート部分を合成す
る。このようにセンタ・コアに対応する部分とその上に
形成されたサイドコアに対応する部分からなるスートを
脱水し、さらに焼結して透明ガラス母材とし、さらに加
熱延伸してロッドとする。このように製造されたコア部
20に対応する部分のロッドにOVD法でガラス原料ガ
ス(SiCl4) および燃焼ガスをバーナに供給してクラッド
層25に対応する部分のスートを堆積させる。出来たス
ート母材を脱水・焼結して光ファイバ母材(プリフォー
ム)を製造する。このようにした製造した光ファイバ母
材を線引きして、図2(B)に図解した階段型の屈折率
プロファイルを持つ光ファイバ2を製造する。
【0011】図1(A)、(B)に図解したセグメント
型の屈折率プロファイルを持つ光ファイバ1のための光
ファイバ母材1Aを合成する場合について述べる。ま
ず、センタ・コア部分11Aを、ガラス原料ガス(SiC
l4) と、屈折率を高めるドーパント、たとえば、四塩化
ゲルマニウム(GeCl4) と、燃焼ガスをバーナに供給し、
たとえば、VAD法で合成する。このように合成したス
ートをガラス化炉にて脱水し、焼結して透明ガラス母材
とし、さらに加熱延伸してロッドとする。ついで、この
ロッドに対して、ガラス原料ガス(SiCl4) と、燃焼ガス
をバーナに供給して、たとえば、OVD法でディプレス
ト層部分13Aのスートを合成しガラス化炉にて脱水
し、屈折率を低下させるドーパント、たとえば、フッ素
をドープし、焼結して透明ガラス母材とし、さらに加熱
延伸してロッドとする。さらに上記ロッドに対して、ガ
ラス原料ガス(SiCl4) と、燃焼ガスと、屈折率を高める
ドーパント、たとえば、四塩化ゲルマニウム(GeCl4) を
バーナに供給し、たとえば、OVD法でセグメント層部
分15Aのスートを合成し、できたスートをガラス化炉
にて脱水・焼結して透明ガラス母材とし、さらに加熱延
伸してロッドとする。最後に、OVD法でクラッド層部
分17Aのスートを合成し、脱水・焼結して透明ガラス
母材とし、さらに加熱延伸して、セグメント型の屈折率
プロファイルを持つ光ファイバ母材1Aを製造する。
【0012】このようにした製造した光ファイバ母材1
Aを線引きして図1(A)、(B)に図解した光ファイ
バ1を製造する。
【0013】図3(A)、(B)に図解したM型の屈折
率プロファイルを持つ光ファイバ3のための光ファイバ
母材3Aを合成する場合について述べる。まず、ガラス
原料ガス(SiCl4) と、燃焼ガスをバーナに供給して、た
とえば、VAD法でセンタディプレスト層31Aのスー
トを合成する。合成したスートをガラス化炉にて脱水
し、ガラス化炉内に、屈折率を低下させるドーパント、
たとえば、SiF4、Si2F6 、CF4 、C2F6などのガスを供給
して前記スートにフッ素をドープし、焼結して透明ガラ
ス母材とし、さらに加熱延伸してロッドとする。このロ
ッドに対して、ガラス原料ガス(SiCl4) と、燃焼ガス
と、屈折率を高めるドーパント、たとえば、四酸化ゲル
マニウム(GeCl4) とをバーナに供給し、OVD法でセグ
メント層部分33Aのスートを合成する。さらに合成し
たスートをガラス化炉にて脱水・焼結して透明ガラス母
材とし、さらに加熱延伸してロッドとする。さらにこの
ロッドに対して、ガラス原料ガス(SiCl4) と、燃焼ガス
をバーナに供給し、OVD法でディプレスト層部分35
Aのスートを合成する。合成したスートをガラス化炉に
て脱水し、屈折率を低下させるドーパント、たとえば、
フッ素をドープし、焼結して透明ガラス母材とし、さら
に加熱延伸してロッドとする。このロッドに対してさら
にガラス原料ガス(SiCl4) と燃焼ガスをバーナに供給
し、OVD法でクラッド層37に対応する部分のスート
を合成し、脱水・焼結して透明ガラス母材とする。この
透明ガラス母材をさらに加熱延伸して光ファイバ母材3
Aを製造する。このようにした製造した光ファイバ母材
を線引きして、図3(A)、(B)に図解したM型の屈
折率プロファイルを持つ光ファイバ3を製造する。
【0014】ガラス化工程では必要に応じて脱水処理、
石英ガラス(SiO2 )の屈折率より屈折率を低下させ
る処理、たとえば、SiF4、Si2F6 、CF4 、C2F6などのガ
スを供給してフッ素ドープ処理を行い、さらに焼結処理
を行い透明ガラス母材とする。ドープ処理と焼結処理を
一緒に行うこともある。以上のように、光ファイバ1、
2、3の各部分に対応する光ファイバ母材の各部分の製
造(合成)ごとに工程を分けることで、各層の厚さの制
御が容易に出来る。また、各層の厚さが特性に敏感に影
響する工程に関しては、多めに堆積し、前記ロッドをH
Fや機械的、熱的に削り、厚さの調整を行うことが好ま
しい。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】光ファイバ1、2、3
を構成する各層の屈折率分布の比屈折率差Δが大きくな
ると、屈折率分布の局所的な変動(脈理)が大きくな
る。そして、そのような屈折率の脈理が大きくなると光
ファイバの屈折率分布を正確に測定できないという問題
に遭遇している。
【0016】屈折率分布の脈理の発生を考察する。屈折
率分布をシリカ(石英ガラス、SiO2 )レベルより高
めるドーパントとして通常、四塩化ゲルマニウム(GeC
l4) をバーナに供給する。バーナに供給されたドーパン
ト原料GeCl4 およびガラス原料ガス(SiCl4) は、水
素、酸素などの燃焼ガスとバーナの火炎内で加水分解し
て、酸化ゲルマニウム(GeO2 )とシリカ(SiO
2 )微粒子となり、ロッド(出発母材)に堆積される。
ところで、VAD法やOVD法でGeO2 をシリカスー
トにドープする場合、比屈折率差Δが大きくなるに従い
GeO2 のシリカへのドープ量が均一にならず、屈折率
の変動(脈理)が起こると考えられている。現在の技術
水準では、屈折率を高めるドーパントとしてゲルマニウ
ムを用いると、屈折率の変動(脈理)無しで大きな比屈
折率差を有する光ファイバ用母材(プリフォーム)を作
るのは難しい。
【0017】その一方で、OVD法はスート合成の生産
性が高いという利点があるので、上述したように、「低
分散スロープ型光ファイバ」、または、DCFなどに使
用する光ファイバ母材の製造過程においてOVD法が採
用されている。
【0018】特に、図1(B)、図3(B)に図解した
ような屈折率分布を持つ光ファイバをOVD法で合成す
る際、屈折率を高くするためにGeO2 を多量にドープ
する場合、ドーピング効率が下がる。OVD法では、大
量の原料を供給し反応できるために生産性は高いが、バ
ーナ火炎の温度が高くなり、GeCl4 がGeO2 とな
らずにGeO(気体)状態となった状態でスート面に到
達する。粒子化していないために堆積効率が下がること
が考えられる。また、火炎が高温のため、スート表面で
の温度分布の温度差も大きくなり、低温部で堆積したG
eO2 は非晶質とならず、ガラス化の脱水工程で輝散し
てしまい、ドーピング効率が低下することも考えられ
る。そのため、必要な屈折率を確保するためには、必要
以上に四塩化ゲルマニウム(GeCl4 )を多量にバー
ナに供給しなければならず、このことが屈折率の脈理を
増加させる要因になっている。また、GeCl4 は高価
であるから、多量のゲルマニウムを用いて製造された光
ファイバ母材、ひいては、最終製品としての光ファイバ
の価格が高くなるという問題に遭遇している。
【0019】また、図2(A)、(B)に例示したよう
に、比較的比屈折率差が小さくても、たとえば、波長分
割多重(WDM)伝送方式に使用する分散が小さく波長
に対する分散の傾きが小さい「低分散スロープ型光ファ
イバ」などにおいては、要求される屈折率分布形状の許
容精度が厳しいので、屈折率の変動(脈理)を低減しな
いと正確な屈折率分布の測定ができなくなり、歩留りの
低下になるという問題に遭遇する。
【0020】このように、VAD法およびOVD法のい
ずれの方法についても、GeO2 を高濃度にドープする
場合、屈折率の変動(脈理)が大きくなり、非破壊方式
で光学的に光ファイバの屈折率分布の測定が正確にでき
ないために、光ファイバの光学設計が正確に、場合によ
っては全くできないという問題に遭遇している。
【0021】光ファイバの屈折率の測定は、歩留りの向
上、高い生産性の維持、製造条件を迅速に次の製造に反
映することを可能にするためなどの理由で、非破壊で行
うことが望ましい。しかしながら、屈折率の変動(脈
理)があるレベルより強くなると、非破壊方式では屈折
率が測れなくなる。この非破壊方式による屈折率の測定
の困難性は、VAD法で製造された光ファイバ母材(プ
リフォーム)についてよりOVD法で製造されたプリフ
ォームの方が顕著である。その理由は、屈折率の脈理が
プリフォームの軸方向に対して出来る方向が異なるため
と推察されている。すなわち、VAD法ではドーパント
のスートへのドープがプリフォームの長手方向の軸と角
度を持つが、OVD法ではドーパントのスートへのドー
プがプリフォームの軸と平行になるためと考えられる。
なお、VAD法でも、中心のセンタ・コア以外は、屈折
率の脈理が平行に近づくので、センタ・コア以外の部分
でドーパントの濃度が高い場合は、屈折率の脈理が大き
くなり、屈折率の測定が困難になる場合がある。
【0022】本発明の目的は、効率よくドーパントをド
ーピングができ、屈折率の脈理が少なく、低価格の石英
光ファイバ母材および石英光ファイバを製造する方法、
および、石英光ファイバを提供することにある。
【0023】
【課題を解決するための手段】本発明の発明者によれ
ば、図1(B)、図2(B)、図3(B)に例示したよ
うな屈折率分布を持つ石英光ファイバの場合、中心部の
信号伝送部以外の比屈折率差の大きな部分にアルミニウ
ムを含むドーパントをドープすることにより、屈折率分
布の局所的変動(脈理)を小さくできることを見いだし
た。そのようなドーパントとしては、塩化アルミニウム
(AlCl3)が有効であり、塩化アルミニウム(AlCl3)を使
うことで四塩化ゲルマニウム(GeCl4) の量を低減するこ
とが有効であることが判った。AlCl3 はSiCl4 と同様に
GeCl4 とは異なり、GeO という中間生成物がほとんどで
きずに粒子化する。したがって、SiO2とAl2O3 はバーナ
燃焼条件を適正化すると火炎内で均一にドープできる。
また、GeO2もある一定量以下ならば、脈理が発生しても
屈折率の測定に影響しないことがわかった。
【0024】本発明の第1の観点によれば、第1の屈折
率のセンタ・コアと、該センタ・コアの外周に形成され
た第2の屈折率の第2層と、該第2層の外周に形成され
た第3の屈折率の第3層と、クラッドとを少なくとも含
み、3層以上の屈折率分布を持つ石英光ファイバにおい
て、前記クラッドの屈折率より屈折率が高い前記センタ
・コア以外の前記第2層および/または前記3層にAl
22 を含むドーパントがドープされていることを特徴
とする、石英光ファイバが提供される。
【0025】好ましくは、前記クラッドの屈折率に対す
る前記第2層および/または前記第3層の比屈折率差が
0.4%以上の場合はAl22 およびGeO2 を前記
スートにドープし、前記クラッドの屈折率に対する前記
第2層および/または前記第3層の比屈折率差が0以上
0.4%未満の場合はAl22 だけを前記スートにド
ープする。
【0026】さらに好ましくは、前記第2層および/ま
たは前記第3層にドープされた前記Al22 とGeO
2 により形成されるシリカの比屈折率差の比率ΔAl/Δ
Geを、0.5〜2.0にする。
【0027】好ましくは、前記第2層および/または前
記第3層をOVD法で合成する。
【0028】本発明の第2の観点によれば、クラッドの
屈折率より屈折率が高い第1屈折率のセンタ・コアと、
該センタ・コアの外周に形成されたシリカの屈折率より
屈折率が低い第2屈折率のディプレスト層と、該ディプ
レスト層の外周に形成され前記センタ・コアの屈折率よ
り屈折率が低く前記クラッドの屈折率より高い第3屈折
率のセグメント層と、前記クラッドとを少なくとも有す
る石英光ファイバにおいて、前記セグメント層にAl2
2 を含むドーパントがドープされていることを特徴と
する石英光ファイバが提供される。
【0029】本発明の第3の観点によれば、クラッドの
屈折率より屈折率が高い第1屈折率のセンタ・コアと、
該センタ・コアの外周に形成され、前記クラッドの屈折
率より屈折率が高く前記第1屈折率より屈折率が低いサ
イドコアと、前記クラッドとを少なくとも有する石英光
ファイバにおいて、前記サイドコアにAl22 を含む
ドーパントがドープされていることを特徴とする石英光
ファイバが提供される。
【0030】本発明の第4の観点によれば、クラッドの
屈折率より屈折率が低い第1屈折率のセンタディプレス
トと、該センタディプレストの外周に形成された前記ク
ラッドの屈折率より屈折率が高い第2屈折率のセグメン
ト層と、該セグメント層の外周に形成された、前記クラ
ッドの屈折率より屈折率が低い第3の屈折率の第2ディ
プレスト層と、前記クラッドとを少なくとも有する石英
光ファイバにおいて、前記セグメント層にAl22
含むドーパントがドープされていることを特徴とする石
英光ファイバが提供される。
【0031】本発明の第5の観点によれば、第1の屈折
率のセンタ・コアと、該センタ・コアの外周に形成され
た第2の屈折率の第2層と、該第2層の外周に形成され
た第3の屈折率の第3層と、クラッドを少なくとも含
み、3層以上の屈折率分布を持つ石英光ファイバを形成
するための光ファイバ母材の製造方法において、前記ク
ラッドの屈折率より屈折率が高い前記センタ・コア以外
の前記第2層および/または前記3層の合成の際、塩化
アルミニウム(AlCl3)を含むドーパントを、ガラス原料
ガス(SiCl4) および燃焼ガスとともにバーナに供給し
て、Al22 を含むドーパントをスートにドープする
ことを特徴とする石英光ファイバ母材の製造方法が提供
される。
【0032】本発明の第6の観点によれば、光ファイバ
のクラッド部分の屈折率より屈折率が高い第1屈折率の
センタ・コア部分と、該センタ・コア部分の外周に形成
されたシリカの屈折率より屈折率が低い第2屈折率のデ
ィプレスト層部分と、該ディプレスト層部分の外周に形
成され前記センタ・コア部分の屈折率より屈折率が低く
前記クラッド部分の屈折率より高い第3屈折率のセグメ
ント層部分と、前記クラッド部分とを少なくとも有する
石英光ファイバ母材の製造方法において、前記セグメン
ト層部分の合成の際、塩化アルミニウム(AlCl3)を含む
ドーパントを、ガラス原料ガス(SiCl4) および燃焼ガス
とともにバーナに供給して、Al22を含むドーパン
トを前記セグメント層部分のスートにドープすることを
特徴とする石英光ファイバ母材の製造方法が提供され
る。
【0033】本発明の第7の観点によれば、光ファイバ
のクラッド部分の屈折率より屈折率が高い第1屈折率の
センタ・コア部分と、該センタ・コア部分の外周に形成
され、前記クラッド部分の屈折率より屈折率が高く前記
第1屈折率より屈折率が低いサイドコア部分と、該サイ
ドコアの外周に形成された前記クラッド部分とを少なく
とも有する石英光ファイバ母材の製造方法において、前
記サイドコア部分の合成の際、塩化アルミニウム(AlCl
3)を含むドーパントを、ガラス原料ガス(SiCl4) および
燃焼ガスとともにバーナに供給して、Al22 を含む
ドーパントを前記セグメント層部分のスートにドープす
ることを特徴とする石英光ファイバ母材の製造方法が提
供される。
【0034】本発明の第8の観点によれば、光ファイバ
のクラッド部分の屈折率より屈折率が低い第1屈折率の
センタディプレスト部分と、該センタディプレスト部分
の外周に形成された前記クラッド部分の屈折率より屈折
率が高い第2屈折率のセグメント層部分と、該セグメン
ト層部分の外周に形成された、前記クラッドの屈折率よ
り屈折率が低い第3の屈折率の第2ディプレスト層部分
と、前記クラッド部分とを少なくとも有する石英光ファ
イバ母材の製造方法において、前記セグメント層部分の
合成の際、塩化アルミニウム(AlCl3)を含むドーパント
を、ガラス原料ガス(SiCl4) および燃焼ガスとともにバ
ーナに供給して、Al22 を含むドーパントを前記セ
グメント層部分のスートにドープすることを特徴とする
石英光ファイバ母材の製造方法が提供される。
【0035】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明
の石英光ファイバ母材の製造方法、石英光ファイバ母材
および石英光ファイバの実施の形態について述べる。
【0036】第1実施の形態 本発明の第1実施の形態として、図1(A)、(B)に
図解したセグメント型の屈折率プロファイルを持つ光フ
ァイバのための光ファイバ母材(プリフォーム)を製造
する方法と装置、および、製造された光ファイバ母材か
ら光ファイバを製造する場合について述べる。
【0037】セグメント型の屈折率プロファイルを持つ
光ファイバ1とそのための光ファイバ母材とは構造的に
ほぼ相似形であり、それらの屈折率分布も線引条件によ
り多少の変化を受けるがほぼ同じである。したがって、
図1(A)に図解したセグメント型の屈折率プロファイ
ルを持つ光ファイバ1のセンタ・コア11、ディプレス
ト層13、セグメント層15、クラッド層17と、光フ
ァイバ母材のセンタ・コア11に対応する部分、ディプ
レスト層13に対応する部分、セグメント層15に対応
する部分、クラッド層17に対応する部分とは1対1に
対応している。そこで、光ファイバ母材について、光フ
ァイバ母材1A、センタ・コア部分11A、ディプレス
ト層部分13A、セグメント層部分15A、クラッド層
部分17Aと呼ぶ。
【0038】工程1:センタ・コア部分の製造 (a1)センタ・コア部分11Aを、たとえば、VAD
法で、ガラス原料ガスと、屈折率を高めるドーパント
と、燃焼ガスとをバーナに供給し、合成する。さらに具
体的に述べると、VAD装置のバーナに、たとえば、水
素(H2)および酸素(O2)、必要に応じてシールガス、たと
えば、ヘリウムガス(He)やアルゴンガス(Ar)も含む燃焼
ガスと、ガラス原料ガス(SiCl4) と、屈折率を高めるド
ーパントとして、たとえば、四塩化ゲルマニウム(GeC
l4) とを供給し、バーナの火炎内でこれらのガスを加水
分解させてシリカ微粒子(SiO2)と酸化ゲルマニウム
(GeO2)を合成して出発母材にこれらを吹きつけてドー
パントをドープさせながら、スートとして堆積させる。 (a2)このように合成したスートを図示しないガラス
化装置において脱水・焼結して透明ガラス母材とする。 (a3)さらに透明ガラス母材を図示しない延伸装置に
おいて加熱延伸してセンタ・コア部分11Aのロッドと
する。 (a4)その後、火炎延伸した石英ガラスロッドを加工
した場合は、たとえば、フッ化水素酸(フッ酸)を用い
てウェットエッチングし、さらに、純水でフッ酸を置換
して乾燥させる。ウェットエッチングを行うのは、火炎
延伸により石英ガラスロッドに伝送損失の原因となる水
分が混入する可能性があるので、その水分を排除するた
めである。なお、この工程の処理は公知の処理であるの
で、以下、記述を省略する。もちろん、延伸工程におい
て水分が石英ガラスロッドに入らない場合は、この処理
は不要である。
【0039】図4は上述したディプレスト層部分13
A、セグメント層部分15Aおよびクラッド層部分17
AをOVD法で合成するOVD装置100の構成図であ
る。OVD装置100は、反応容器102と、この反応
容器102に連結して反応容器102から部分的に突出
しているバーナ収容部103と、バーナ収容部103内
に収容されたバーナ101と、バーナ収容部103と対
向した反応容器102の壁面に設けられた排気部104
とを有する。排気部104はスートとして堆積されなか
ったガラス微粒子などの反応容器102内の不要なガス
を図示しないスクラバに排出する。
【0040】OVD装置100はさらに、スピンドル機
構105を有する。スピンドル機構105は、VAD法
で合成したセンタ・コア部分11Aを出発母材120と
して、この出発母材120の両端に接続されている支持
部材121を把持している1対のチャック106に結合
され、出発母材120をバーナ101に対して相対的に
長手方向Lに往復移動させ(トラバース)、かつ、出発
母材120の長手方向を回転軸として出発母材120を
回転させる。すなわち、スピンドル機構105は、出発
母材120の外周に第1堆積スート(ディプレスト層部
分)130、第2堆積スート(セグメント層部分)13
2および第3堆積スート(クラッド層)134を堆積さ
せるため、バーナ101に対して出発母材120を相対
的に往復運動させる手段である。ODV法によるスート
の合成は、ディプレスト層130,セグメント層13
2,クラッド層134を別々にスート合成とガラス化を
繰り返して各層を独立に形成する。また、セグメント層
132とクラッドの一部または全てを同時にスート合成
することも可能である。
【0041】なお、スピンドル機構105は出発母材1
20を回転のみさせ、バーナ101が出発母材120の
長手方向に沿って往復移動させるようにすることもでき
る。しかしながら、本実施の形態においては、スピンド
ル機構105が出発母材120を往復移動させ、かつ、
出発母材120をその軸を中心として回転させる場合に
ついて述べる。
【0042】バーナ101は、チャック106に把持さ
れて、反応容器102の内部を往復移動しながら回転さ
れる出発母材120の外周に火炎110を形成する。
【0043】バーナ101には、第1ガス供給ライン1
61を介して燃焼ガス供給装置141から燃焼ガス、た
とえば、水素(H2) 、酸素(O2)が別々に供給される。
好ましくは燃焼ガス供給装置141はさらに、シールガ
スとして不活性ガス、たとえば、アルゴン(Ar)または
ヘリウムガス(He)をも別々に供給する(図中では、第1
ガス供給ライン161と略して書いてある)。バーナ1
01には第2エアーバルブ152が設けられた第2ガス
供給ライン162を介して原料ガス供給装置142から
ガラス原料ガス(SiCl4) が供給される。
【0044】セグメント層部分15Aを合成するとき、
第3ガス供給ライン163を介してドーパント供給装置
143からクラッド部分の屈折率より屈折率を高めるド
ーパントが供給される。そのようなドーパントとして
は、たとえば、塩化アルミニウム(AlCl3)のみ、また
は、塩化アルミニウム(AlCl3)と四塩化ゲルマニウム(G
eCl4) との混合物を用いる。これらドーパントにキャリ
アガスや希釈ガスとしてヘリウムガス(He)やアルゴ
ン(Ar)を用いることができる。
【0045】第2ガス供給ライン162と第3ガス供給
ライン163とは一体化されて第4ガス供給ライン16
4としてバーナ101に連結されている。あるいは、別
々にバーナに供給してもよい。
【0046】各ガス供給装置には、おのおのにマスフロ
ーコントローラー(MFC)が設けてあり、質量流量の
調整ができる。ガス供給ライン161〜163を通過し
てバーナ101に供給される上記各種ガスの流量は制御
装置により調整されている。
【0047】OVD装置100にはさらに制御装置17
0が設けられている。制御装置170は、各ガス供給装
置に設けてあるエアーバルブの開閉制御、スピンドル機
構105,105の制御、その他、OVD装置100の
動作制御を行うものであり、これらの制御を行うため、
制御プログラムが内蔵されているコンピュータを用いた
制御装置である。以下に述べる各種の制御は制御装置1
70によって制御される。
【0048】以下、上述した工程のうち、図6のOVD
装置100を用いて、ディプレスト層部分13A、セグ
メント層部分15Aの合成する方法について詳述する。
【0049】工程2:ディプレスト層部分の製造 (b1)ディプレスト層部分の合成 上記延伸したロッド状のセンタ・コア部分11Aを出発
母材120として、OVD装置100でOVD法でシリ
カ粒子を堆積させスート母材を合成する。この合成に際
して、図4のOVD装置100における制御装置170
は、燃焼ガス供給装置141および原料ガス供給装置1
42からバーナ101へのH2およびO2にArまたはHeなど
のキャリアガスからなる燃焼ガスと、ガラス原料ガス(S
iCl4) の供給を行う。これらのガスがバーナの火炎内で
加水分解させてシリカ微粒子(SiO2) を合成して出発母
材120にこれらを吹きつけてディプレスト層部分のシ
リカスートとして堆積させる。
【0050】(b2)ディプレスト層部分の脱水・ドー
プ・焼結処理 このディプレスト層部分のスートを図示しないガラス化
装置において脱水する。ついでガラス化装置において、
屈折率を低めるドーパント、たとえば、SiF4、Si2F6
CF4 、C2F6等のガスを供給し、フッ素を用いたドープ処
理を行う。さらにガラス化装置において焼結処理を行っ
てディプレスト層部分13Aをガラス化する。これにて
クラッド層17の屈折率より屈折率が低いディプレスト
層部分13Aが、センタ・コア部分11の上に形成され
る。
【0051】(b3)ディプレスト層部分の延伸処理 さらに図示しない延伸装置において透明ガラス化したデ
ィプレスト層部分13Aを加熱延伸して、センタ・コア
部分11Aおよびディプレスト層部分13Aからなるロ
ッドとする。この延伸は省略してもよい。
【0052】工程3:セグメント層部分の製造 (c1):セグメント層部分の合成 上記センタ・コア部分11Aおよびディプレスト層部分
13Aからなるロッド状の透明ガラス母材を出発母材1
30として、OVD装置100でOVD法で、屈折率を
高めるドーパントとして(1)塩化アルミニウム(AlCl
3)のみ、または、(2)塩化アルミニウム(AlCl3)と四
塩化ゲルマニウム(GeCl4) を、HeまたはArをキャリ
アガスとして、燃焼ガスとともにバーナ101に供給す
る。AlCl 3 は固体原料でありHeをキャリアガスとした方
が好ましい。GeCl4 はバブリングする場合、Ar、He、場
合によってはO2が考えられる。バーナ101に供給され
たこれらのガスは、バーナ101の火炎内で加水分解さ
れて、シリカ微粒子(SiO2)と、酸化アルミニウム(Al2
O3) または(Al2O3 とGeO2との混合物)に合成されて出
発母材130の上にスートとなって堆積する。この時、
制御装置170は、燃焼ガス供給装置141、原料ガス
供給装置142およびドーパント供給装置143からバ
ーナ101へ、燃焼ガス、原料ガスおよびドーパントの
供給を行う。
【0053】(c2)セグメント層部分の脱水・焼結処
理 上記合成されたスートをガラス化装置で脱水し、焼結処
理を行ってセグメント層部分15Aを透明ガラス化す
る。
【0054】(c3)セグメント層部分の延伸処理 さらに延伸装置において透明ガラス化したセグメント層
部分15Aを加熱延伸して、センタ・コア部分11A、
ディプレスト層部分13Aおよびセグメント層部分15
Aからなるロッドとする。このようにして製造されたセ
グメント層部分15Aの屈折率は、クラッド層部分17
Aの屈折率より高い。
【0055】工程4:クラッド層の製造 (d1)クラッド層部分の合成 センタ・コア部分11A、ディプレスト層部分13Aお
よびセグメント層部分15Aからなるロッドを出発母材
132として、OVD装置100でOVD法でシリカ粒
子を堆積させクラッド層部分17Aのスート母材を合成
する。この合成に際して、ディプレスト層部分13Aの
合成と同様、制御装置170は、燃焼ガス供給装置14
1および原料ガス供給装置142からバーナ101への
燃焼ガスおよび原料ガスの供給は行うが、ドーパント供
給装置143からバーナ101へのドーパントの供給を
行わない。
【0056】(d2)クラッド層部分の脱水・焼結処理 このように合成されたクラッド層分のスートをガラス化
装置で脱水し、焼結処理を行ってクラッド層部分17A
を透明ガラス化する。
【0057】(d3)クラッド層部分の延伸処理 さらに延伸装置においてガラス化したクラッド層部分1
7Aを延伸して、センタ・コア部分11A、ディプレス
ト層部分13A、セグメント層部分15Aおよびクラッ
ド層部分17Aからなる、光ファイバ母材1Aを製造す
る。この延伸は省略可能である。
【0058】工程5:光ファイバへの線引き 光ファイバ母材1Aを図示しない線引装置に導入して加
熱して外径制御しながら線引きし、セグメント型の屈折
率プロファイルを持つ光ファイバ1に紡糸し、図示しな
い樹脂被覆装置に導入して光ファイバ1の外周に樹脂を
被覆し、ボビンに巻き取る。以上により、セグメント型
の屈折率プロファイルを持つ光ファイバ1が完成する。
【0059】工程3におけるセグメント層部分15Aの
製造方法について詳述する。従来、セグメント層部分1
5Aの製造の際、屈折率を高めるドーパントとして四酸
化ゲルマニウム(GeCl4) を用いてスートに酸化ゲルマニ
ウム(GeO2)をドープしていたが、本実施の形態において
は、OVD装置100において、屈折率を高めるドーパ
ントとして、塩化アルミニウム(AlCl3)のみ、または、
塩化アルミニウム(AlCl3)と四酸化ゲルマニウム(GeC
l4) との混合物を用いてスートに酸化アルミニウム(Al
2O2)、または、(Al2O2 とGeO2との混合物)をドープし
た。
【0060】その理由を述べる。本願発明者の研究によ
れば、ドーパントとしてGeO2のみを用いた場合に比べ
て、アルミニウム(Al)を用いると屈折率の局所的変動
(脈理)が改善できることが判った。その理由は、AlCl
3 はSiCl4 と同様に火炎中で粒子化がほぼ完全に行え
る。すなわち、火炎内でAl2O3 をSiO2内に均一にドープ
できるためだと考えている。すなわち、Al2O3 による屈
折率の局所的変動がGeO2に比べて大幅に改善できる。ま
た、GeO2が少ない場合には、脈理があっても脈理が比較
的小さい(屈折率の局所的な変動がGeO2のドープ量を少
なくすることにより、相対的に小さくできる)ために、
屈折率が測定できるためである。そのようなドーパント
の具体例としては、たとえば、Al2O3 、または、(Al2O3
とGeO2との混合物) である。すなわち、本願発明者は、
Al2O3 、または、(Al2O3とGeO2との混合物) をドーパン
トとして用いると、脈理が抑制でき、屈折率の測定が可
能とできることを見いだした。実際にこのようなドーパ
ントを用いて製造した光ファイバ母材から光ファイバを
製造すると、屈折率分布の局所的な変動(脈理)が小さ
く、実用上は問題ないレベルで非破壊方式で屈折率測定
ができた。センタ・コア部は通常屈折率が高いので(Δ
=0.5〜2.5%)、GeO2を用いた方が良い。その理
由は、脈理があってもVAD法で作る場合屈折率測定が
可能であることと、AlCl3 を用いると原料が常温で固体
なため高温にしないと蒸気圧が高くならないため、原料
に含まれる不純物が入り易いためである。しかし、セン
タ・コアに不純物が問題にならない量のAl2O3 をドープ
することは好ましい。
【0061】そのようなドーパントをドープして光ファ
イバ母材1Aにおいて屈折率を高める部分としては、可
能性としては、VAD法で合成したセンタ・コア部分1
1Aと、OVD法で合成するセグメント層部分15Aと
があるが、本願発明者の研究によれば、セグメント層部
分15Aに、Al2O3 のみ、または、(Al2O3とGeO2との混
合物) 、すなわち、アルミニウム含有物をドーパントと
してドープすることが好ましいことが判った。セグメン
ト部をODV法で作る場合、脈理は光ファイバ母材の軸
に平行となり、VAD法に比べて小さな脈理でも敏感に
屈折率の非破壊測定ができなくなる。また、VAD法で
セグメントを作る場合は、延伸するとOVD法と同じよ
うに屈折率の脈理が光ファイバ母材の軸に平行な屈折率
の脈理に近づくために、プリフォームの最終段階で屈折
率分布が非破壊方式では測定できなくなるためである。
【0062】屈折率が最も高く、VAD法で合成したセ
ンタ・コア部分11Aには原則として、Al2O3 含有物を
ドープしないことが好ましいことも判った。そこで、上
述したように、VAD法で合成したセンタ・コア部分1
1Aには、上述したように、ドーパントとしてGeO2のみ
を用いた。
【0063】センタ・コア部分11Aにドーパントとし
てAlO2含有物をドープしない理由を考察する。Al2O3
原料である塩化アルミニウム(AlCl3)には不純物が混じ
っていることが多いので、光ファイバ母材、特に、セン
タ・コア部分にに不純物が混入して、伝送ロスの発生の
原因となる可能性がある。つまり、ドーパントとしてAl
Cl3 を原料とする場合、常温で固体であり蒸気圧が少な
い為、高濃度ドープすると原料そのものや配管や原料タ
ンクからの不純物の汚染が起こるためである。このよう
に伝送ロスの原因となる不純物がセンタ・コア部分11
Aに入ることは好ましくない。この面からも、Al2O3
有物のドープをセンタ・コア部分11Aには行わない。
あるいは、使ったとしても屈折率を上げるメインのドー
パントにはしないことが好ましい。
【0064】しかしAl2O3 含有物の使用量が少ない場合
には、ガラス化装置における脱水工程でそのような不純
物が十分に除去できるので、Al2O3 含有物をドーパント
として用いても問題は少ない。
【0065】ドーパントとして、Al2O3 、または、(Al2
O3とGeO2との混合物) をいかに用いるかについて述べ
る。アルミニウム(Al)またはAl2O3 を生成する原料とし
て塩化アルミニウム(AlCl 3)が知られている。AlCl3
常温で個体であり、AlCl3 をドーパントとして使用する
場合、不活性ガス、たとえば、アルゴン(Ar)やヘリウム
(He)をキャリアとして供給するが、原料供給量が多く出
せないという事情がある。そこで、基準となるクラッド
層部分17Aとの屈折率との比屈折率差が小さいときは
Al2O3 のみスートにドープし、基準となるクラッド層部
分17Aとの屈折率との比屈折率差Δが大きいときは(A
l2O3とGeO2との混合物) を用いる。
【0066】実験によれば、セグメント層部分15Aと
クラッド層17との比屈折率差が、たとえば、0.3〜
0.4%程度ならAl2O3 のみをドープすることが良いこ
とが判った。他方、セグメント層部分15Aとクラッド
層17との比屈折率差が、たとえば、0.5%を超える
(0.4%以上の)場合は、(Al2O3とGeO2との混合物)
をドープすることが好ましいことが判った。
【0067】このように、比屈折率差に応じてAl2O3
みをドープするか、(Al2O3とGeO2との混合物) をドープ
するかを選択的に行うことが望ましい。
【0068】なお、塩化アルミニウム(AlCl3)は配管
やタンク部材を腐食しやすい。そのため、上述したよう
に、Al2O3 の原料としてAlCl3 を用いる場合、第1ガス
供給ライン161(第4ガス供給ライン164)および
第4ガス供給ライン164などの金属配管や、ドーパン
ト供給装置143の金属タンク部材を腐食しやすいの
で、これらを耐腐食性の高い材料、たとえば、テフロン
TM、ガラスやセラミックスなどの耐腐食性材料を使うか
それらを被覆して防護することが望ましい。
【0069】実験結果 以下、本実施の形態に基づく実験結果の評価を述べる。
第1実施の形態で製造した光ファイバについて非破壊方
式で屈折率分布を測定する試みを行い、それに加えて脈
理による回折光の測定を行い回折光の広がりで脈理を評
価した。
【0070】実験に用いた本発明の実施の形態の実験用
光ファイバは、光ファイバの製造とその評価の簡単化の
ため、図1(A)、(B)の光ファイバ母材1Aとは異
なり、図5(A)に図解したように、第1実施の形態の
実験用光ファイバ母材1aとして、シリカロッド11a
と、シリカロッド11aの上に上述した第1実施の形態
に基づいてOVD法で直接、Al2O3 をドープして合成し
たセグメント層部分15aを形成した母材を用いた。
【0071】図5(B)は図5(A)に図解した光ファ
イバ母材1aについて、正しい屈折率分布を示す曲線C
V1と、脈理のため正しく屈折率が測定されない場合の
屈折率分布を示す曲線CV2との関係を示すグラフであ
る。センタシリカ11aの曲線CV1と曲線CV2との
比屈折率差をDと表す。
【0072】比較例として用いた従来技術による光ファ
イバは、図5(A)と同様の構造をしているが、セグメ
ント層部分15aに対応する部分に、Al2O3 を用いずGe
O2のみドープしたものである。
【0073】図6は本実施の形態の評価装置300の系
統図である。評価装置300は、He−Neレーザ30
1から射出したビーム302を収束レンズ303で絞
り、マッチングオイル305の入ったセル306に上記
のごとく製造した光ファイバ母材1aのサンプルを置
き、ステージ307を動かして収束レンズ303からの
収束レーザビームを光ファイバ母材1aの径方向にスキ
ャンさせてスクリーン308に投影し、その像をデジタ
ルカメラ309で撮像した。このようにして、光ファイ
バ母材1aの全域の回折光を測定した。
【0074】評価装置300による測定結果では、図7
に図解したように、スクリーン308における回折光の
広がりが150mm以下では本発明と比較例でも中央の
シリカ部分11aの屈折率は、比較例と実験用光ファイ
バ母材とがほぼ一致した。しかし、GeO2をドーパントと
する比較例では比屈折率差が0.1%以下では可能であ
ったが、GeO2のドーパント量を多くすると、比較例のス
クリーン308における回折光の広がりが300mm以
上であったのに対して、本実施の形態の実験用光ファイ
バの回折光の広がりは150mm以下であった。回折光
の広がりの小ささは脈理が小さいことを意味している。
すなわち、本実施の形態の実験用光ファイバ母材は脈理
が小さく、Al2O3 をドーパントとして用いることが好ま
しいことが証明できた。
【0075】図7は図5(B)に図解した、真の屈折率
と非破壊測定した屈折率との差D(以下、「真と測定屈
折率の差D」と略す)と評価装置300で測定した回折
光の広がりの関係を示すグラフである。
【0076】上述したように、比較例と実験用光ファイ
バ母材との真と測定屈折率の差Dが0.01%以下と殆
ど相違がない回折光の広がりが150mm以下または1
50mm近傍の領域Z1では非破壊方式で屈折率分布を
測定できる。
【0077】比較例と実験用光ファイバとの真と測定屈
折率の差Dが0.01〜0.02%の範囲で、回折光の
広がりが約150〜250mmの領域Z2ではロッドを
延伸し外径を細くすると前記屈折率がほぼ一致した。
【0078】比較例と実験用光ファイバとの真と測定屈
折率の差Dが0.02%以上で、回折光の広がりが約2
50mmを越える領域Z3では、ロッドを延伸しても正
しく屈折率分布を測定できなかった。
【0079】以上の結果から、図1(A)、(B)また
は図5(A)、(B)に図解した光ファイバ母材1a、
1Aの製造に際しては、図7の領域Z2の範囲にあるよ
うに、セグメント層部分15Aへ、ドーパントとしてAl
2O3 、または、(Al23とGeO2 との混合物)の
ドーピングを行えばよい。
【0080】本実施の形態においては、光ファイバ母材
1Aのセグメント層部分15Aの屈折率を高めるドーパ
ントとして、Al23 、または、(Al2O3とGeO2との混
合物) などアルミニウムを含むドーパントを用いること
が好ましいことが証明できた。
【0081】上述したドーパントは、信号伝送に直接影
響を及ぼす光ファイバ母材1Aの中心部のセンタ・コア
部分11Aより外周部のセグメント層部分15Aにドー
プすることが望ましいことが判った。これは脈理が母材
軸に平行な平行脈理となるためである。ただし、上述し
たように、ドープ量が少ない場合は、信号伝送に直接影
響を及ぼす部分(センタ・コア部)にそのようなドーパ
ントをドープすることもできる。
【0082】本発明の第1実施の形態の光ファイバ母材
1Aの製造に際して、センタ・コア部分を合成するVA
D装置は既存のものを使用できる。また、センタ・コア
部分、ディプレスト層部分、セグメント層部分およびク
ラッド層部分を、透明ガラス化および焼結するガラス化
装置、ロッドに延伸する延伸装置も既存のものを使用で
きる。図4に図解したOVD装置100は、ドーパント
供給装置143に、四酸化ゲルマニウム(GeCl4) の他
に、塩化アルミニウム(AlCl3)の系統を追加させればよ
い。したがって、本実施の形態の光ファイバ母材1A、
および、セグメント型の屈折率プロファイルを持つ光フ
ァイバ1の製造は高価格にならない。
【0083】本実施の形態によるセグメント型の屈折率
プロファイルを持つ光ファイバ1は、非破壊方式で屈折
率分布を測定できるので、光学設計も可能となる。
【0084】上述した実施の形態においては、光ファイ
バ母材1Aのセンタ・コア部分11AをVAD装置で製
造した場合について述べたが、OVD装置で製造するこ
ともできる。
【0085】上述した第1実施の形態として記述し、考
察した事項は、図1(A)、(B)に図解した構造の光
ファイバ母材1Aの製造に限定されるだけでなく、その
他の種々の光ファイバ母材の製造に適用できる。また、
Al2O3 をドープするとGeO2と比較してガラス化工程での
ドーパントの揮散や拡散が少なく、ドーパントのプロフ
ァイルが急峻なものが作り易いという利点もある。ま
た、同様の理由でガラス化工程の多少の変動に対しても
再現性良く屈折率分布が求まるという利点がある。第1
実施の形態では、センタ・コア,ディプレスト層部分,
セグメント層部分およびクラッドを別々の工程で作製し
たが、センタ・コアとディプレスト層を同時にVAD法
やOVD法を用いて作製してもよい。また、ディプレス
ト層とクラッド層の一部もしくは全部をOVD法で作製
してもよい。
【0086】第2実施の形態 本発明の第2実施の形態として、図3(A)、(B)に
図解したM型の屈折率プロファイルを持つ光ファイバ
3、および、そのための光ファイバ母材の製造について
述べる。
【0087】M型の屈折率プロファイルを持つ光ファイ
バ3とそのための光ファイバ母材とは構造的に相似形で
あり、それらの屈折率分布も同じである。したがって、
図3(A)に図解したM型の屈折率プロファイルを持つ
光ファイバ3のセンタディプレスト層31、セグメント
層33、ディプレスト層35、クラッド層37と、光フ
ァイバ母材のセンタディプレスト層31に対応する部
分、セグメント層33に対応する部分、ディプレスト層
35に対応する部分、クラッド層37に対応する部分と
は1対1に対応している。そこで、光ファイバ母材につ
いて、光ファイバ母材3A、センタディプレスト層部分
31A、セグメント層部分33A、ディプレスト層部分
35A、クラッド層部分37Aと呼ぶ。
【0088】図3(A)、(B)に図解したM型の屈折
率プロファイルを持つ光ファイバ3のための光ファイバ
母材3Aを合成する場合について述べる。
【0089】工程101:センタディプレスト層部分の
製造 (a)センタディプレスト層部分31Aを、たとえば、
VAD装置を用いてVAD法で合成する。すなわち、ガ
ラス原料ガス(SiCl4) と、燃焼ガスをバーナに供給し
て、たとえば、VAD法でセンタディプレスト層31A
のシリカスートを合成する。
【0090】(b)次いで、合成したセンタディプレス
ト層部分31Aのスートをガラス化装置で脱水し、フッ
素をドープして屈折率を低下させ、ガラス化装置で焼結
して透明ガラスのセンタディプレスト層部分31Aを製
造する。上記フッ素のドープにより、クラッド層部分3
7Aの屈折率より低い屈折率を持つセンタディプレスト
層部分31Aが形成される。フッ素のドープ量によって
は、VAD工程でフッ素をドープすることも可能であ
る。
【0091】(c)さらに延伸装置において加熱延伸し
てセンタディプレスト層部分31Aのロッドを製造す
る。
【0092】工程102:セグメント層部分の製造 (a)上述したように製造されたセンタディプレスト層
部分31Aのロッドを出発母材120として、たとえ
ば、図4に図解したOVD装置100において、セグメ
ント層部分33Aのスート130とクラッド部の一部の
スート132を合成する。セグメント層部分33Aの屈
折率はクラッド層部分37Aの屈折率より高い。したが
って、このとき、OVD装置100におけるバーナ10
1に、ドーパント供給装置143からドーパントとして
塩化アルミニウム(AlCl3)、または、塩化アルミニウム
(AlCl3)と四塩化ゲルマニウム(GeCl4) を供給し、原料
ガス供給装置142からガラス原料ガス(SiCl4) を供給
し、燃焼ガス供給装置141からH2、O2、必要に応じて
Heを加えたて燃焼ガスを供給する。これにより、バーナ
101の火炎内において加水分解されて、シリカ微粒子
(SiO2) と、Al2O3 または(Al2O3とGeO2の混合物) が合
成されて、セグメント層部分33Aのスートが合成され
る。この時のクラッドとセグメント層の比屈折率差Δ33
は、0.6〜1%程度であり、そのうちAl2O3 の比屈折
率差にしめるのはΔAl=0.3〜0.4%が好ましい。
【0093】(b)このようにして合成されたセグメン
ト層部分33Aのスート母材130をガラス化装置で脱
水し、焼結して透明ガラス化したセグメント層部分33
Aを製造する。
【0094】(c)さらに透明ガラス化したセグメント
層部分33Aを延伸装置において加熱延伸してセグメン
ト層部分33Aのロッドを製造する。
【0095】工程103:ディプレスト層部分の製造 透明ガラス化したセグメント層部分33Aを含むロッド
を出発母材130として、OVD装置100で、センタ
ディプレスト層部分31の製造方法と同様な方法で、デ
ィプレスト層部分35Aを製造する。この場合、堆積さ
せるスートは、ドーパントの含まないシリカスートであ
る。
【0096】工程104:クラッド層部分の製造 製造したディプレスト層部分35Aを含むロッドを出発
部材とし、OVD装置100においてOVD法で、図1
(A)のクラッド層部分17Aの製造方法と同様の方法
で、クラッド層部分37Aを製造する。
【0097】以上により、図3(A)、(B)に図解し
た光ファイバ母材3Aが製造できる。このようにして製
造された光ファイバ母材3Aを線引装置で線引きし、樹
脂被覆装置で樹脂被覆すれば、M型の屈折率プロファイ
ルを持つ光ファイバ3が製造できる。
【0098】このように、ガラス化工程では必要に応じ
て脱水処理、石英ガラス(SiO2)の屈折率より屈折
率を低下させる処理、たとえば、フッ素ドープ処理を行
い、さらに焼結処理を行い透明ガラス母材とする。ドー
プ処理と焼結処理を一緒に行うこともある。以上のよう
に、光ファイバ1、2、3の各部分に対応する光ファイ
バ母材の各部分の製造(合成)ごとに工程を分けること
で、各層の厚さの制御が容易に出来る。
【0099】第2実施の形態において、クラッド層部分
37Aの屈折率に対するセグメント層部分33Aの比比
屈折率差(Δ33=0.4〜1%)が大きいので、第1実
施の形態において述べたように、ドーパントとしてAl
23 とGeO2 を両方ともドープする。具体的に述べ
ると、セグメント層部分33Aの最高屈折率とクラッド
層部分37Aの屈折率との比屈折率差が0.8%の場
合、比屈折率差の比率(ΔAl/ΔGe)を2とした。実験
によれば、比屈折率差の比率ΔAl/ΔGe=0.5〜2で
1以上とすることが好ましいことが判った。こうすると
GeO2 による脈理が低減できた。その結果、非破壊で
の屈折率測定ができた。また、伝送ロスの悪化の心配も
少ない。
【0100】なお、従来方法として、クラッド層部分3
7Aのドーパントとして全てGeO 2 を用いて前記比屈
折率差を形成した光ファイバの場合、屈折率測定が全く
出来なかった。
【0101】第2実施の形態においては、製造装置は第
1実施の形態において用いたものと実質的に同じ装置を
用いることができる。したがって、第2実施の形態の実
施に際して、装置の価格が高騰することがない。したが
って、本発明の第2実施の形態によってM型の屈折率プ
ロファイルを持つ光ファイバ3を製造しても価格が高騰
しない。
【0102】第3実施の形態 本発明の第3実施の形態として、図2(A)、(B)に
図解した階段型の屈折率プロファイルを持つ光ファイバ
2およびその光ファイバ母材の製造方法とその装置につ
いて、図8のVAD装置を参照して述べる。
【0103】階段型の屈折率プロファイルを持つ光ファ
イバ2とそのための光ファイバ母材とは構造的に相似形
であり、それらの屈折率分布も同じである。したがっ
て、図2(A)に図解した階段型の屈折率プロファイル
を持つ光ファイバ2のセンタ・コア21、サイドコア2
3、クラッド層25と、光ファイバ母材のセンタ・コア
21に対応する部分、サイドコア23に対応する部分、
クラッド層25に対応する部分とは1対1に対応してい
る。そこで、光ファイバ母材について、光ファイバ母材
2A、センタ・コア部分21A、サイドコア部分23
A、クラッド層部分25Aと呼ぶ。
【0104】工程201:センタ・コア部分およびサイ
ドコア部分の製造 (a)センタ・コア部分21Aおよびサイドコア部分2
3Aを図8に図解したVAD装置400で同時的に合成
する。
【0105】図8に図解したVAD装置400は、反応
容器401と、反応容器401の外壁に設けられた排気
管402と、排気管402の先に設けられたバッファタ
ンク403と、バッファタンク403に設けられた排気
管404を有する。VAD装置400はさらに、反応容
器401の上部に設けられた上蓋406、この上蓋40
6の開口を通して反応容器401内を上下する昇降軸4
05が設けられている。VAD装置400はさらに、反
応容器401の側壁に設けられた、コアバーナ412と
サイドバーナ413とを有する。VAD装置400は、
コアバーナ412およびサイドバーナ413に接続され
た、燃焼ガス供給源441、原料ガス供給源442、第
1ドーパント供給源443、および、第2ドーパント供
給源444を有する。
【0106】燃焼ガス供給装置441は図4に図解した
燃焼ガス供給装置141と同等の燃焼ガス、たとえば、
水素ガス(H2 )、酸素ガス(O2 )に加えて不活性シ
ールガス、たとえば、アルゴン(Ar )を供給する。原
料ガス供給装置442は図4に図解した原料ガス供給装
置142と同等の原料ガス、たとえば、ガラス原料ガス
(SiCl4) に加えて、不活性キャリアガス、たとえば、ア
ルゴン(Ar )またはHeを供給する。第1ドーパント
供給装置443は、サイドコア部分23Aの屈折率を高
めるためのドーパントを供給する。そのようなドーパン
トとしては、図4に図解したドーパント供給装置143
から供給されるドーパントと同様、塩化アルミニウム
(AlCl3)のみ、または、塩化アルミニウム(AlCl3)とゲ
ルマニウム(GeCl4) の混合物である。なお第1ドーパン
ト供給装置443は、これらのドーパントに加えて、キ
ャリアガス、たとえば、ヘリウム(He)をも供給す
る。(AlCl3)をドーパントとして用いる理由は、第1実
施の形態において述べたように、脈理を小さくするため
である。第2ドーパント供給源444はセンタ・コア部
分21Aの屈折率を高めるためのドーパントを供給す
る。そのようなドーパントとしては、四酸化ゲルマニウ
ム(GeCl4) である。第2ドーパント供給源444は四酸
化ゲルマニウム(GeCl4) に加えて、キャリアガス、たと
えば、ヘリウム(He)、またはさらに酸素(O2)を
供給する。センタ・コア部分21Aにアルミニウム混合
物をドープしない理由は、第1実施の形態において述べ
た理由と同様である。
【0107】昇降軸405の先端には支持棒把持部40
7が固定されており、支持棒把持部407の先端には支
持棒410が固定されている。この支持棒410の下部
先端周囲に、コアバーナ412からの火炎422および
サイドバーナ413からの火炎423が吹きつけられ
て、センタ・コア部分21Aおよびサイドコア部分23
Aに対応するスート190が堆積される。センタ・コア
部分21Aおよびサイドコア部分23Aのスート190
の合成の進展に伴い、昇降軸405が支持棒把持部40
7に把持された支持棒410を引き上げていく。このよ
うにして、センタ・コア部分21Aおよびサイドコア部
分23Aとのスート190が同時的に合成されている。
【0108】(b)堆積したセンタ・コア部分21Aお
よびサイドコア部分23Aのスートを、ガラス化装置に
導入して、脱水し、さらに焼結して、センタ・コア部分
21Aおよびサイドコア部分23Aからなる透明ガラス
母材を製造する。
【0109】(c)透明ガラス母材を延伸装置に導入し
て加熱延伸してロッドにする。
【0110】工程202:クラッド層部分の製造 (a)上記ロッドを、図9のOVD装置100Aに導入
して、OVD法で上記ロッドの上にクラッド層部分25
Aのスートを堆積させる。図9のOVD装置100Aに
は、燃焼ガス供給装置141と、原料ガス供給装置14
2は設けられているが、ドーパント供給装置が設けられ
ていない。OVD装置100Aによるクラッド層部分2
5Aの合成方法は、図4に図解したOVD装置100に
よる、図1(A)のクラッド層部分17A、図3(A)
のクラッド層部分37Aの合成方法と同様である。
【0111】(b)センタ・コア部分21Aおよびサイ
ドコア部分23Aのロッドの上に堆積したクラッド層部
分25Aのスートをガラス化装置に導入して、脱水し、
さらに焼結してクラッド層部分25Aを透明ガラス化す
る。
【0112】(c)透明ガラス母材を延伸装置に導入し
てロッドに延伸する。
【0113】実験例 従来方法により製造した階段型の屈折率プロファイルを
持つ光ファイバは屈折率プロファイルの変動が大きかっ
たが、本実験例の階段型の屈折率プロファイルを持つ光
ファイバ2ではセンタ・コア21にGeO2に加えてAl2O3
をドープした。その結果、屈折率の局所的な変動(脈
理)が少なかった。たとえば、第3実施の形態に基づい
て合成した階段型の屈折率プロファイルを持つ光ファイ
バ2のセンタ・コア21はクラッド層25との比屈折率
差ΔC=1%であり、サイドコア23は比屈折率差ΔS
=0.35%であった。このような階段型の屈折率プロ
ファイルを持つ光ファイバ2は屈折率の脈理が低減で
き、最終プリフォームまで非破壊方式で屈折率測定が出
来た。この場合は、サイドコアのドーパントはAl2O3
けとした。
【0114】さらに本発明の第3実施の形態によれば、
光ファイバ2の予測特性と、線引後の光ファイバ2の実
際の特性のバラツキが大幅に改善した。たとえば、特性
のバラツキの範囲が±10%から±5%に低減できた。
【0115】前述したように、センタ・コア部分(図1
(A)のセンタ・コア部分11A、図2(A)のセンタ
・コア21)に、Al23 を少なくともメインのドー
パントとしない方が好ましい。しかしながら、第3実施
の形態のように、VAD装置400を用いてVAD法で
センタ・コア部分21A(およびサイドコア部分23
A)のスートを製造すると、屈折率分布の脈理があって
も屈折率分布が測定し易いことが判った。これは、脈理
がロッドの軸と平行とならないためと考えている。すな
わち、第3実施の形態によれば、ある程度の脈理は許容
できることが判った。そこで、センタ・コア部分21A
のスート合成にAl23 とGeO2 をドーパントとし
て用いて希望する屈折率を達成した。
【0116】このように、第3実施の形態の階段型の屈
折率プロファイルを持つ光ファイバ2においては、セン
タ・コア21に少量のAl23 が混入する可能性があ
るが、混入するアルミニウム成分は伝送損失が問題にな
らない程度にしている。
【0117】たとえば、図10に図解したように、横軸
にAl23 をとり、縦軸に伝送損失の増加をとってグ
ラフ化すると、Al23 がセンタ・コア21に微量ド
ープされた場合、伝送損失増加が許容できる範囲がある
ことが判る。図10に図解した例示においては、Al2
3 のドープ量が比比屈折率差としてΔ=0.6%以下
ならば、伝送損失の増加が比較的問題にならないことが
判った。もちろん、使うAl原料(AlCl3 )の純度
に依存するが、99.99%の純度以上のものを使用す
ることがよい。好ましくは、99.9999%以上のA
lCl3 原料を使うのがよい。
【0118】このように、第1実施の形態においても言
及したように、微量のアルミニウムならば、伝送損失に
は実質的に影響を及ぼさない。このことは、図1(A)
および図3(A)を参照して述べた石英光ファイバ、石
英光ファイバ母材についても同様である。
【0119】第3実施の形態における製造装置を考察す
ると、図8に図解したVAD装置400において第1ド
ーパント(Al23 )供給装置443を既存のVAD
装置に付加するだけでよい。したがって、第3実施の形
態の実施に際して、装置の価格が高騰することがない。
したがって、本発明の第3実施の形態によって階段型の
屈折率プロファイルを持つ光ファイバを製造しても価格
が高騰しない。
【0120】上述した実施の形態は本発明の例示に過ぎ
ない。本発明は上述した実施の形態についての種々の変
形態様、置換態様などを取ることができる。
【0121】
【発明の効果】上述したように、本発明においては、屈
折率比をシリカよりも高める部分にアルミニウムをドー
プすることにより、屈折率分布の局所的な変動(脈理)
を低減できた。換言すれば、本発明によれば、複雑な屈
折率プロファイルを持つ光ファイバでも高い品質で製造
できた。その結果として、本発明によれば、屈折率分布
を非破壊方式でも測定できた。これにより、大幅に歩留
りを向上できた。
【0122】また本発明によれば、脈理を低減し、屈折
率分布が正しく測定できるという観点から、比比屈折率
差の大きさに応じて、ドーパントとして、Al23
みか、Al23 とGeO2 との混合物にするかを選択
的にドープすることが好ましいことが判った。したがっ
て、種々の屈折率プロファイルを持つ希望する屈折率プ
ロファイルを示すように光ファイバを製造することがで
きる。
【0123】特に本発明によれば、比屈折率差の大きさ
に応じて、Al23 だけドープするか、GeO2 とA
23 とのコドープ(共ドープ)をドープするかを選
択することが好ましいことが判った。したがって、この
基準に則して光ファイバを製造すれば、好ましい特性の
光ファイバが得られる。
【0124】本発明によれば、極力、光ファイバのセン
タ部分には、Al23 をドーパントとしない方が好ま
しいことが、センタ部分またはその近傍部分でもそのよ
うな部分をVAD法で製造すると脈理があっても屈折率
分布が測定し易いので、ある程度の脈理は許容できるこ
とが判った。この場合、Al23 とGeO2 の比屈折
率差の比ΔAl/ΔGe≧0.2でも、特性予測値と実測値
との差が実用上低減できた。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1(A)、(B)は本発明の光ファイバ母材
の製造方法および装置で製造される第1形態の光ファイ
バ母材(光ファイバ)の断面図と屈折率プロファイルを
図解した図である。
【図2】図2(A)、(B)は本発明の光ファイバ母材
の製造方法および装置で製造される第3形態の光ファイ
バ母材(光ファイバ)の断面図と屈折率プロファイルを
図解した図である。
【図3】図3(A)、(B)は本発明の光ファイバ母材
の製造方法および装置で製造される第2形態の光ファイ
バ母材(光ファイバ)の断面図と屈折率プロファイルを
図解した図である。
【図4】図4はディプレスト層部分、セグメント層部分
およびクラッド層部分などをOVD法で合成するOVD
装置の構成図である。
【図5】図5(A)は第1実施の形態の実験用光ファイ
バ母材の構成図であり、図5(B)は図5(A)に図解
した光ファイバ母材について、正しい屈折率分布を示す
曲線と脈理のため正しく屈折率が測定されない屈折率分
布を示す曲線との関係を示すグラフである。
【図6】図6は本発明の第1実施の形態により製造され
た光ファイバ母材の性能を評価する評価装置の系統図で
ある。
【図7】図7は図5(B)に図解した比比屈折率差と回
折光の広がりの関係を示すグラフである。
【図8】図8は本発明の第3実施の形態として図2
(A)、(B)に図解した光ファイバ母材のセンタ・コ
ア部分およびサイドコア部分を合成するVAD装置の構
成図である。
【図9】図9は本発明の第3実施の形態として図2
(A)、(B)に図解した光ファイバ母材のクラッド層
部分を合成するOVD装置の構成図である。
【図10】図10は本発明の実施の形態におけるAl2
3 のドープ量と伝送損失増加の関係の例を示すグラフ
である。
【符号の説明】
1・・セグメント型の屈折率プロファイルを持つ光ファ
イバ 1A・・光ファイバ母材 10・・コア部 11(11A)・・センタ・コア(部分) 13(13A)・・ディプレスト層(部分) 15(15A)・・セグメント層(部分) 17(17A)・・クラッド層(部分) 2・・階段型の屈折率プロファイルを持つ光ファイバ 2A・・光ファイバ母材 20・・コア部 21(21A)・・センタ・コア(部分) 23(23A)・・サイドコア(部分) 25(25A)・・クラッド層(部分) 3・・凹ガイド型の屈折率プロファイルを持つ光ファイ
バ 3A・・光ファイバ母材 30・・コア部 31(31A)・・センタディプレスト層(部分) 33(33A)・・セグメント層(部分) 35(35A)・・ディプレスト層(部分) 37(37A)・・クラッド層(部分) 100・・OVD装置 101・・バーナ、102・・反応容器 103・・バーナ収容部、104・・排気部 105・・スピンドル機構、106・・チャック 110・・火炎、 120・・出発母材、121・・支持部材 130・・第1堆積スート(ディプレスト層部分) 132・・第2堆積スート(セグメント層部分) 134・・第3堆積スート(クラッド層) 141・・燃焼ガス供給装置、142・・原料ガス供給
装置 143・・ドーパント供給装置、151〜153・・バ
ルブ 161〜164・・ガス供給ライン、170・・制御装
置 300・・評価装置 301・・He−Neレーザ、302・・レーザビーム 303・・収束レンズ、305・・マッチングオイル 306・・セル、307・・ステージ、308・・スク
リーン 309・・デジタルカメラ 400・・VAD装置 401・・反応容器、402・・排気管 403・・バッファタンク、404・・排気管 405・・昇降軸、406・・上蓋 407・・支持棒把持部、410・・支持棒 412・・コアバーナ、413・・サイドバーナ 422、423・・火炎 441・・燃焼ガス供給装置、442・・原料ガス供給
装置 443・・第1ドーパント供給装置、 444・・第2ドーパント供給装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 井上 克徳 東京都千代田区丸の内2丁目6番1号 古 河電気工業株式会社内 (72)発明者 中村 肇宏 東京都千代田区丸の内2丁目6番1号 古 河電気工業株式会社内 Fターム(参考) 2H050 AB04Y AB05X AB07X AB10X AB20X AC27 AC28 AC73 AD01 4G021 EA01 EA03 EB06 EB18 EB19 4G062 AA06 BB02 CC01 DA08 LA02 LA03 NN01

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】第1の屈折率のセンタ・コアと、該センタ
    ・コアの外周に形成された第2の屈折率の第2層と、該
    第2層の外周に形成された第3の屈折率の第3層と、ク
    ラッドとを少なくとも含み、3層以上の屈折率分布を持
    つ石英光ファイバにおいて、 前記クラッドの屈折率より屈折率が高い前記センタ・コ
    ア以外の前記第2層および/または前記3層にAl2
    2 を含むドーパントがドープされていることを特徴とす
    る、 石英光ファイバ。
  2. 【請求項2】前記クラッドの屈折率に対する前記第2層
    および/または前記第3層の比屈折率差が0以上0.4
    %未満の場合はAl22 のみドーパントとしてドープ
    されており、 前記クラッドの屈折率に対する前記第2層および/また
    は前記第3層の比屈折率差が0.4%以上の場合はAl
    22 とGeO2 がドーパントとしてドープされてい
    る、 請求項1記載の石英光ファイバ。
  3. 【請求項3】前記第2層および/または前記第3層にド
    ープされた前記Al22 とGeO 2 により形成される
    シリカの比屈折率差の比率ΔAl/ΔGeが、0.5〜2.
    0である、 請求項2記載の石英光ファイバ。
  4. 【請求項4】クラッドの屈折率より屈折率が高い第1屈
    折率のセンタ・コアと、 該センタ・コアの外周に形成されたシリカの屈折率より
    屈折率が低い第2屈折率のディプレスト層と、 該ディプレスト層の外周に形成され前記センタ・コアの
    屈折率より屈折率が低く前記クラッドの屈折率より高い
    第3屈折率のセグメント層と、 前記クラッドとを少なくとも有する石英光ファイバにお
    いて、 前記セグメント層にAl22 を含むドーパントがドー
    プされていることを特徴とする、 石英光ファイバ。
  5. 【請求項5】前記クラッドの屈折率に対する前記セグメ
    ント層の比屈折率差が0以上0.4%未満の場合はAl
    22 のみドーパントとしてドープされており、 前記クラッドの屈折率に対する前記セグメント層の比屈
    折率差が0以上0.4%以上の場合はAl22 とGe
    2 がドーパントとしてドープされている、 請求項4記載の石英光ファイバ。
  6. 【請求項6】前記センタ・コアはドーパントとしてGe
    2 のみがドープされている、 請求項4または5記載の石英光ファイバ。
  7. 【請求項7】クラッドの屈折率より屈折率が高い第1屈
    折率のセンタ・コアと、 該センタ・コアの外周に形成され、前記クラッドの屈折
    率より屈折率が高く前記第1屈折率より屈折率が低いサ
    イドコアと、 前記クラッドとを少なくとも有する石英光ファイバにお
    いて、 前記サイドコアにAl22 を含むドーパントがドープ
    されていることを特徴とする、 石英光ファイバ。
  8. 【請求項8】前記クラッドの屈折率に対する前記サイド
    コアの比屈折率差が0以上0.4%未満の場合はAl2
    2 のみドーパントとしてドープされており、 前記クラッドの屈折率に対する前記セグメント層の比屈
    折率差が0以上0.4%以上の場合はAl22 とGe
    2 がドーパントとしてドープされている、 請求項7記載の石英光ファイバ。
  9. 【請求項9】前記センタ・コアはドーパントとしてGe
    2 のみがドープされている、 請求項7または8記載の石英光ファイバ。
  10. 【請求項10】クラッドの屈折率より屈折率が低い第1
    屈折率のセンタディプレストと、 該センタディプレストの外周に形成された前記クラッド
    の屈折率より屈折率が高い第2屈折率のセグメント層
    と、 該セグメント層の外周に形成された、前記クラッドの屈
    折率より屈折率が低い第3の屈折率の第2ディプレスト
    層と、 前記クラッドとを少なくとも有する石英光ファイバにお
    いて、 前記セグメント層にAl22 を含むドーパントがドー
    プされていることを特徴とする、 石英光ファイバ。
  11. 【請求項11】前記クラッドの屈折率に対する前記セグ
    メント層の比屈折率差が0以上0.4%未満の場合はA
    22 のみドーパントとしてドープされており、 前記クラッドの屈折率に対する前記セグメント層の比屈
    折率差が0以上0.4%以上の場合はAl22 とGe
    2 がドーパントとしてドープされている、 請求項10記載の石英光ファイバ。
  12. 【請求項12】前記Al22 とGeO2 により形成さ
    れるシリカの比屈折率差の比率ΔAl/ΔGeが、0.5〜
    2.0である、 請求項11記載の石英光ファイバ。
  13. 【請求項13】第1の屈折率のセンタ・コア部分と、該
    センタ・コアの外周に形成された第2の屈折率の第2層
    部分と、該第2層の外周に形成された第3の屈折率の第
    3層部分と、クラッドを少なくとも含み、3層以上の屈
    折率分布を持つ石英光ファイバを形成するための光ファ
    イバ母材の製造方法において、 前記クラッドの屈折率より屈折率が高い前記センタ・コ
    ア部分以外の前記第2層部分および/または前記3層部
    分の合成の際、塩化アルミニウム(AlCl3)を含むドーパ
    ントを、ガラス原料ガス(SiCl4) および燃焼ガスととも
    にバーナに供給して、Al22 を含むドーパントをス
    ートにドープすることを特徴とする、石英光ファイバ母
    材の製造方法。
  14. 【請求項14】前記クラッドの屈折率に対する前記第2
    層および/または前記第3層の比屈折率差が0以上0.
    4%未満の場合はバーナに供給するドーパントとして塩
    化アルミニウム(AlCl3)を前記ガラス原料ガス(SiCl4)
    および前記燃焼ガスとともにバーナに供給して、Al2
    2 を前記スートにドープし、 前記クラッドの屈折率に対する前記第2層および/また
    は前記第3層の比屈折率差が0以上0.4%以上の場合
    はバーナに供給するドーパントとして塩化アルミニウム
    (AlCl3)および四塩化ゲルマニウム(GeCl4) を、前記ガ
    ラス原料ガス(SiCl4) および前記燃焼ガスとともにバー
    ナに供給してAl22 およびとGeO 2 を前記スート
    にドープする、 請求項13記載の石英光ファイバ母材の製造方法。
  15. 【請求項15】光ファイバのクラッド部分の屈折率より
    屈折率が高い第1屈折率のセンタ・コア部分と、 該センタ・コア部分の外周に形成され、前記クラッド部
    分の屈折率より屈折率が高く前記第1屈折率より屈折率
    が低いサイドコア部分と、 該サイドコアの外周に形成された前記クラッド部分とを
    少なくとも有する石英光ファイバ母材の製造方法におい
    て、 前記サイドコア部分の合成の際、塩化アルミニウム(Al
    Cl3)を含むドーパントを、ガラス原料ガス(SiCl4) およ
    び燃焼ガスとともにバーナに供給して、Al22 を含
    むドーパントを前記セグメント層部分のスートにドープ
    することを特徴とする、 石英光ファイバ母材の製造方法。
  16. 【請求項16】前記センタ・コア部分のドーパントとし
    てゲルマニウム(GeCl4) を供給し、前記サイドコア部分
    のドーパントとして前記塩化アルミニウム(AlCl3)を含
    むドーパントを用いて、VAD法により、前記センタ・
    コア部分および前記サイドコア部分を同時的に合成す
    る、 請求項15記載の石英光ファイバ母材の製造方法。
  17. 【請求項17】光ファイバのクラッド部分の屈折率より
    屈折率が低い第1屈折率のセンタディプレスト部分と、 該センタディプレスト部分の外周に形成された前記クラ
    ッド部分の屈折率より屈折率が高い第2屈折率のセグメ
    ント層部分と、 該セグメント層部分の外周に形成された、前記クラッド
    の屈折率より屈折率が低い第3の屈折率の第2ディプレ
    スト層部分と、 前記クラッド部分とを少なくとも有する石英光ファイバ
    母材の製造方法において、 前記セグメント層部分の合成の際、塩化アルミニウム
    (AlCl3)を含むドーパントを、ガラス原料ガス(SiCl4)
    および燃焼ガスとともにバーナに供給して、Al 22
    を含むドーパントを前記セグメント層部分のスートにド
    ープすることを特徴とする、 石英光ファイバ母材の製造方法。
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