JP2003229382A - Cutter - Google Patents

Cutter

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JP2003229382A
JP2003229382A JP2002028100A JP2002028100A JP2003229382A JP 2003229382 A JP2003229382 A JP 2003229382A JP 2002028100 A JP2002028100 A JP 2002028100A JP 2002028100 A JP2002028100 A JP 2002028100A JP 2003229382 A JP2003229382 A JP 2003229382A
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Naoya Tokumitsu
直哉 徳満
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Disco Corp
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Disco Abrasive Systems Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a cutter which comprises a first cutting means and a second cutting means provided with a first cutting blade and a second cutting blade arranged so as to face each other, and in which a notch amount is gradually deepened at the same Y coordinate value by using one cutting conditions to cut stepwise to a predetermined depth. <P>SOLUTION: A control means controls first and second indexing feed mechanisms for operating first and second cutting means in an indexing direction and first and second notching feed mechanisms which are operated in a notch direction, and the control means comprises a memory for storing a cutting condition table set in accordance with the order of cutting by the first cutting means. This control means controls the first indexing feed mechanism and the first notching feed mechanism in accordance with the order set in the cutting condition table, and turns over the order set in the cutting condition table to the second indexing feed mechanism and the second notching feed mechanism, and also controls the second notching feed mechanism from a Z coordinate value in the order of earlier times when a plurality of Z coordinate values exist in the same Y coordinate value. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】本発明は、互いに対向して配
設された第1の切削ブレードおよび第2の切削ブレード
を備えた第1の切削手段および第2の切削手段を具備す
る切削装置に関する。 【0002】 【従来の技術】半導体デバイス製造工程においては、略
円板形状である半導体ウエーハの表面に格子状に配列さ
れた多数の領域にIC、LSI等の回路を形成し、該回
路が形成された各領域を所定のストリート(切断ライ
ン)に沿ってダイシングすることにより個々の半導体チ
ップを製造している。この半導体ウエーハのダイシング
には一般にダイヤモンド砥粒からなる砥石ブレードによ
って構成された切削ブレードを回転しつつストリートに
沿って相対的に移動させることにより切削する切削装置
が用いられている。 【0003】近年、切削加工を効率的に行うために互い
に対向して配設された第1の切削ブレードおよび第2の
切削ブレードを備えた第1の切削手段および第2の切削
手段を具備する切削装置が実用化されている。このよう
な第1の切削手段および第2の切削手段を具備する切削
装置によって被加工物を切削する場合の割り出し制御お
よび切り込み制御について、図10を参照して説明す
る。図10には被加工物Wを第1の切削ブレードB1と
第2の切削ブレードB2によって、被加工物WのY座標
値に被加工物Wの中心を対象に外側から内側へ向けて割
り出し送りする例が示されている。なお、被加工物Wの
各Y座標値に記載したZ方向の線(切削溝)の長さは、
第1の切削ブレードB1および第2の切削ブレードB2
による切り込み位置(Z座標値)を示している。また、
図10においてnは、第1の切削ブレードB1が切削す
る順番である。このように切削する順番に対応したY座
標値およびZ座標値を設定した切削条件テーブルが制御
手段のメモリに格納されており、制御手段は第1の切削
ブレードB1による切削については設定された順番(図
示の例においてはn0から)に従ってY座標値およびZ
座標値を読み込んで割り出し制御および切り込み制御を
実行する。一方、第2の切削ブレードB2による切削に
ついては、制御手段は設定された順番を反転(図示の例
においてはn35から)してY座標値およびZ座標値を
読み込んで割り出し制御および切り込み制御を実行す
る。 【0004】 【発明が解決しようとする課題】而して、上述したよう
に第2の切削ブレードB2による切削において設定され
た順番を単に反転してY座標値およびZ座標値を読み込
んで割り出し制御および切り込み制御を実行すると、次
のような問題が発生する。即ち、サファイヤや厚いガラ
ス或いはセラミックス等の被加工物Wにおいては、図9
に示すように所定のY座標値(図9の例においてはY
5,Y25,・・・Y105,Y125)について切り
込み量を徐々に深くして段階的に所定の深さに切削する
所謂多段カットする場合がある。この場合、切削する順
番を単に反転してZ座標値を読み込むと、例えば図9の
例においては切削順番n33でY座標値をY125mm
と読み込み、Z座標値(切り込み量Z)を2μmと読み
込んで、Y125mmにおいては最初に2μmまで切削
してしまう。本来ならば、Y125mmにおいては、最
初に切り込み量Z4μmで切削(切削順番n31)し、
次に切り込み量(Z)を3μmで切削(切削順番n3
2)した後に切り込み量(Z)を2μmで切削(切削順
番n33)しなければならない。このように、第2の切
削ブレードB2による切削において設定された順番を単
に反転しただけでは、同一のY座標について切り込み量
(Z)を徐々に深くして段階的に所定の深さに切削する
所謂多段カットができない。 【0005】上述した問題を解消するためには、第1の
切削ブレードB1用の切削条件テーブルと第2の切削ブ
レードB2用の切削条件テーブルの2つの切削条件テー
ブルを用いればよい。しかるに、同一の被加工物に対し
て2つのデータを持つことは、データの入力に手数を要
するばかりでなく、入力ミスの可能性が高くなり、切削
装置を操作するオペレータにとっては扱い易い方法では
ない。 【0006】本発明は上記事実に鑑みてなされたもので
あり、その主たる技術課題は、互いに対向して配設され
た第1の切削ブレードおよび第2の切削ブレードを備え
た第1の切削手段および第2の切削手段を具備する切削
装置おいて、1つの切削条件テーブルを用い同一のY座
標値において切り込み量を徐々に深くして段階的に所定
の深さに切削することができる切削装置を提供すること
にある。 【0007】 【課題を解決するための手段】上記主たる技術課題を解
決するため、本発明によれば、被加工物を保持するチャ
ックテーブルと、互いに対向して配設され該チャックテ
ーブルに保持された被加工物を切削する第1の切削ブレ
ードおよび第2の切削ブレードを備えた第1の切削手段
および第2の切削手段と、該チャックテーブルを切削送
り方向に移動する切削送り機構と、該第1の切削手段お
よび該第2の切削手段を割り出し方向に移動する第1の
割り出し送り機構および第2の割り出し送り機構と、該
第1の切削手段および該第2の切削手段を切り込み方向
に移動する第1の切り込み送り機構および第2の切り込
み送り機構と、該切削送り機構と該第1の割り出し送り
機構と該第2の割り出し送り機構と該第1の切り込み送
り機構および該第2の切り込み送り機構を制御する制御
手段と、を具備する切削装置において、該制御手段は、
該第1の切削手段によって切削する順番に従って各割り
出し位置を設定したY座標値と該各Y座標値における切
り込み位置を設定したZ座標値とからなる切削条件テー
ブルを記憶するメモリを備えており、該第1の割り出し
送り機構および該第1の切り込み送り機構については該
切削条件テーブルに設定された順番に従って制御し、該
第2の割り出し送り機構および該第2の切り込み送り機
構については該切削条件テーブルに設定された順番を反
転するとともに、同一Y座標値に複数個のZ座標値が存
在する場合には早い順番のZ座標値から該第2の切り込
み送り機構を制御する、ことを特徴とする切削装置が提
供される。 【0008】 【発明の実施の形態】以下、本発明に従って構成された
切削装置の好適な実施形態について、添付図面を参照し
て詳細に説明する。 【0009】図1には、本発明に従って構成された切削
装置の斜視図が示されている。図1に示された切削装置
は、略直方体状の装置ハウジング1を具備している。こ
の装置ハウジング1には、半導体ウエーハ等の被加工物
をストックするカセット機構2と、該カセット機構2に
収納された被加工物を搬出するとともに切削作業終了後
の被加工物をカセット機構2に搬入する被加工物搬出・
搬入機構3と、該被加工物搬出・搬入機構3によって搬
出された被加工物を保持するチャックテーブル機構4
と、該チャックテーブル機構4に保持された被加工物を
切削する切削機構5と、該切削機構5によって切削され
た被加工物を洗浄する洗浄機構6と、チャックテーブル
機構4と洗浄機構6との間で被加工物を搬送する被加工
物搬送機構7が配設されている。また、装置ハウジング
1には、後述する光学手段によって撮像された画像を表
示するモニター8が配設されている。 【0010】上記カセット機構2、チャックテーブル機
構4および切削機構5について、図2を参照して説明す
る。図示の実施形態における切削装置は、装置ハウジン
グ1内に配設され上記各機構を装着する静止基台10を
具備している。上記カセット機構2は、静止基台10の
側面に上下方向に設けられた2本のガイドレール21、
21に摺動可能に配設されたカセットテーブル22と、
該カセットテーブル22をガイドレール21に沿って上
下方向(矢印Zで示す方向)に移動させるための駆動手
段23を具備している。駆動手段23は、上記2本のガ
イドレール21と21の間に平行に配設された雄ネジロ
ッド231と、カセットテーブル22に装着され雄ネジ
ロッド231に螺合する図示しない雌ネジブロックと、
雄ネジロッド231を回転駆動するための図示しないパ
ルスモータ等の駆動源を含んでいる。従って、図示しな
いパルスモータによって雄ネジロッド231を回動する
ことにより、カセットテーブル22が上下方向(矢印Z
で示す方向)に移動せしめられる。このように上下方向
に移動可能に構成されたカセットテーブル22上に複数
段の収容室を備えたカセット24が載置される。このカ
セット24の複数段の収容室に被加工物25が1枚ずつ
収容される。なお、図示の実施形態においては、被加工
物25として環状のフレーム251にテープ252によ
って装着された半導体ウエーハ250が示されている。 【0011】上記チャックテーブル機構4は、静止基台
10上に固定された支持台41と、該支持台41上に矢
印Xで示す方向に沿って平行に配設された2本のガイド
レール42、42と、該ガイドレール42、42上に矢
印Xで示す方向に移動可能に配設された被加工物を保持
する被加工物保持手段としてのチャックテーブル43を
具備している。このチャックテーブル43は、ガイドレ
ール42、42上に移動可能に配設された吸着チャック
支持台431と、該吸着チャック支持台431上に装着
された吸着チャック432とを具備しており、該吸着チ
ャック432上に被加工物である例えば円盤状の半導体
ウエーハを図示しない吸引手段によって保持するように
なっている。なお、チャックテーブル機構4は、チャッ
クテーブル43を2本のガイドレール42、42に沿っ
て矢印Xで示す方向に移動させるための駆動手段44を
具備している。駆動手段44は、上記2本のガイドレー
ル42、42の間に平行に配設された雄ネジロッド44
1と、吸着チャック支持台431に装着され雄ネジロッ
ド441に螺合する図示しない雌ネジブロックと、雄ネ
ジロッド441を回転駆動するための図示しないパルス
モータ等の駆動源を含んでいる。従って、図示しないパ
ルスモータを正転または逆転駆動して雄ネジロッド44
1を回動することにより、チャックテーブル43が矢印
Xで示す方向に移動せしめられる。即ち、チャックテー
ブル43は図1および図2で示す被加工物載置領域10
1から切削領域102の間を移動することができる。従
って、上記2本のガイドレール42、42および駆動手
段44は、チャックテーブル43を切削送り方向(X方
向)に移動する切削送り機構として機能する。なお、上
記チャックテーブル機構4は、吸着チャック432を回
転する図示しない回転機構を具備している。 【0012】次に、上記切削機構5について説明する。
切削機構5は、上記静止基台10上に固定された門型の
支持台51を具備している。この門型の支持台51は、
上記切削領域102を跨ぐように配設されている。支持
台51の側壁には矢印Yで示す方向に沿って平行に配設
された2本のガイドレール511、511が設けられて
おり、このガイドレール511、511に沿って後述す
る第1の切削手段を支持する第1の支持機構52aの基
板521aおよび後述する第2の切削手段を支持する第
2の支持機構52bの基板521bがそれぞれ矢印Yで
示す方向に摺動可能に配設されている。 【0013】また、上記支持台51には、上記第1の支
持機構52aおよび第2の支持機構52bを上記2本の
ガイドレール511、511に沿ってそれぞれ矢印Yで
示す方向に移動させるための第1の駆動手段53aおよ
び第2の駆動手段53bが配設されている。第1の駆動
手段53aおよび第2の駆動手段53bは、それぞれ上
記2本のガイドレール511、511の間に配設された
雄ネジロッド531aおよび531bと、該雄ネジロッ
ド531aおよび531bをそれぞれ回転駆動するため
のパルスモータ532a(M1)および532b(M
2)等の駆動源を含んでいる。雄ネジロッド531aお
よび531bは、それぞれ対向する内端部がそれぞれ軸
受533aおよび533bによって回転自在に支持され
ており、それぞれ外端がパルスモータ532a(M1)
および532b(M2)の駆動軸に連結されている。こ
の雄ネジロッド531aおよび531bの中間部には、
上記第1の支持機構52aの基板521aおよび第2の
支持機構52bの基板521bにそれぞれ装着された図
示しない雌ネジブロックが螺合される。この結果、パル
スモータ532a(M1)および532b(M2)を正
転または逆転駆動して雄ネジロッド531aおよび53
1bを回動することにより、第1の支持機構52aの基
板521aおよび第2の支持機構52bの基板521b
はガイドレール511、511に沿って矢印Yで示す方
向に移動せしめられる。従って、上記ガイドレール51
1、511および第1の駆動手段53aおよび第2の駆
動手段53bは、後述する第1の切削手段および第2の
切削手段を割り出し方向に移動する第1の割り出し送り
機構および第2の割り出し送り機構として機能する。 【0014】上記第1の支持機構52aの基板521a
および第2の支持機構52bの基板521bにはそれぞ
れ第1のガイドレール522aおよび第2のガイドレー
ル522bが矢印Zで示す切り込み送り方向に沿って設
けられており、この第1のガイドレール522aおよび
第2のガイドレール522bに沿って第1の懸垂ブラケ
ット523aおよび第2の懸垂ブラケット523bがそ
れぞれ矢印Zで示す切り込み送り方向に摺動可能に配設
されている。また、第1の支持機構52aの基板521
aおよび第2の支持機構52bの基板521bには、第
1の懸垂ブラケット523aおよび第2の懸垂ブラケッ
ト523bをそれぞれ第1のガイドレール522aおよ
び第2のガイドレール522bに沿って矢印Zで示す方
向に移動させるための第1の駆動手段54aおよび第2
の駆動手段54bが配設されている。第1の駆動手段5
4aおよび第2の駆動手段54bは、それぞれ第1のガ
イドレール522aおよび第2のガイドレール522b
と平行に配設された図示しない雄ネジロッドと、該雄ネ
ジロッドをそれぞれ回転駆動するためのパルスモータ5
41a(M3)および541b(M4)等の駆動源を含
んでいる。なお、上記第1の懸垂ブラケット523aお
よび第2の懸垂ブラケット523bには、それぞれ上記
雄ネジロッドに螺合する雌ネジブロックが装着されてい
る。この結果、パルスモータ541a(M3)および5
41b(M4)を正転または逆転駆動して図示しない雄
ネジロッドを回動することにより、第1の懸垂ブラケッ
ト523aおよび第2の懸垂ブラケット523bは第1
のガイドレール522aおよび第2のガイドレール52
2bに沿って矢印Zで示す切り込み送り方向に移動する
とができる。従って、上記第1のガイドレール522a
および第2のガイドレール522bおよび第1の駆動手
段54aおよび第2の駆動手段54bは、後述する第1
の切削手段および第2の切削手段を切り込み方向に移動
する第1の切り込み送り機構および第2の切り込み送り
機構として機能する。 【0015】上記第1の支持機構52aの第1の懸垂ブ
ラケット523aおよび第2の支持機構52bの第2の
懸垂ブラケット523bには、第1の切削手段としての
第1のスピンドルユニット55aと第2の切削手段とし
ての第2のスピンドルユニット55bが装着されてい
る。この第1のスピンドルユニット55aおよび第2の
スピンドルユニット55bについて、簡略化して示され
ている図3を参照して説明する。第1のスピンドルユニ
ット55aおよび第2のスピンドルユニット55bは、
それぞれ第1の懸垂ブラケット523aおよび第2の懸
垂ブラケット523bに固定されたスピンドルハウジン
グ551aおよび551bと、該スピンドルハウジング
551aおよび551bにそれぞれ回転可能に支持され
た回転スピンドル552aおよび552bと、該回転ス
ピンドル552aおよび552bの一端部に装着された
第1の切削ブレード553aおよび第2の切削ブレード
553bと、回転スピンドル552aおよび552bを
回転駆動するサーボモータ554a(M5)および55
4b(M6)とからなっている。このように構成された
第1のスピンドルユニット55aおよび第2のスピンド
ルユニット55bは、第1の切削ブレード553aと第
2の切削ブレード553bが互いに対向するように配設
されている。即ち、第1のスピンドルユニット55aと
第2のスピンドルユニット55bは、それぞれ軸芯が矢
印Yで示す割り出し送り方向に向くように一直線上に配
設されている。 【0016】上述した第1のスピンドルユニット55a
および第2のスピンドルユニット55bには、図2に示
すようにそれぞれ顕微鏡やCCDカメラ等で構成される
第1の光学手段56a(AM1)および第2の光学手段
56b(AM2)が設けられている。第1の光学手段5
6a(AM1)は第1のスピンドルハウジング551a
に固定され、第2の光学手段56b(AM2)は第2の
スピンドルハウジング551bに固定されている。な
お、図示の実施形態における切削装置は、支持台51に
2本のガイドレール511、511を平行に配設された
リニアスケール57(LS)を備えている。このリニア
スケール57(LS)は上記第1の切削ブレード553
aおよび第2の切削ブレード553bの割り出し位置即
ちY座標値を検出し、その検出信号を後述する制御手段
へ出力する。 【0017】図示実施形態における切削装置は、上記第
1の切削手段としての第1のスピンドルユニット55a
および第2の切削手段としての第2のスピンドルユニッ
ト55bに関連して、それぞれ第1の切削ブレード55
3aおよび第2の切削ブレード553bの切り込み深さ
を調整するために切削ブレードの切り込み方向の基準位
置を検出するための第1の切削ブレード検出器58a
(BD1)および第2の切削ブレード検出器58b(B
D2)を具備している。この第1の切削ブレード検出器
58a(BD1)および第2の切削ブレード検出器58
b(BD2)は、従来周知の構成でよく、それぞれ切削
ブレードの外周部が侵入するブレード侵入部と該ブレー
ド侵入部に対向して配設された発光部および受光部を備
えており、静止基台10上において上記第1の切削ブレ
ード553aおよび第2の切削ブレード553bの矢印
Yで示す割り出し送り方向の移動線上に配設されてい
る。このように構成された第1の切削ブレード検出器5
8a(BD1)および第2の切削ブレード検出器58b
(BD2)は、切削ブレードの外周部をブレード侵入部
に侵入させた状態で受光部によって受光される光量を検
出することによって、切削ブレードの切り込み方向の基
準位置を検出し、その検出信号を後述する制御手段へ出
力する。 【0018】図示の実施形態における切削装置は、図4
に示すように制御手段200を具備している。制御手段
200はマイクロコンピュータによって構成されてお
り、制御プログラムに従って演算処理する中央処理装置
(CPU)201と、制御プログラム等を格納するリー
ドオンリメモリ(ROM)202と、後述する切削条件
テーブルや演算結果等を格納する読み書き可能なランダ
ムアクセスメモリ(RAM)203と、入力インターフ
ェース204および出力インターフェース205とを備
えている。このように構成された制御手段200の入力
インターフェース204には、上記第1の光学手段56
a(AM1)、第2の光学手段56b(AM2)、リニ
アスケール57(LS)、第1の切削ブレード検出器5
8a(BD1)、第2の切削ブレード検出器58b(B
D2)等からの検出信号が入力される。また、出力イン
ターフェース205からは上記各パルスモータ532a
(M1)、532b(M2)、541a(M3)、54
1b(M4)およびサーボモータ554a(M5)、5
54b(M6)に制御信号を出力するとともに、上記カ
セット機構2、被加工物搬出・搬入機構3、チャックテ
ーブル機構4、洗浄機構6、被加工物搬送機構7、モニ
ター8等に制御信号を出力する。 【0019】次に、上述した切削装置の切削加工処理動
作について図1および図2に基づいて簡単に説明する。
先ず、カセット機構2の駆動手段23を作動してカセッ
トテーブル22に載置されたカセット24を適宜の高さ
に位置付ける。カセット24が適宜の高さに位置付けら
れたら、被加工物搬出・搬入機構3を作動しカセット2
4に収容された被加工物25を挟持部31で搬出して、
被加工物載置領域101に位置付けられているチャック
テーブル機構4の吸着チャック432上に載置する。吸
着チャック432上に載置された被加工物25は、図示
しない吸着手段によって吸着チャック432上に吸引保
持される。このようにして、吸着チャック432上に被
加工物25が吸引保持されたら、チャックテーブル43
を矢印X方向に移動するとともに、図2に示すように第
1のスピンドルユニット55aおよび第2のスピンドル
ユニット55bを装着した第1の懸垂ブラケット523
aおよび第2の懸垂ブラケット523bが取り付けられ
ている第1の基部521aおよび第2の基部521bを
矢印Y方向に移動し、吸着チャック432上に載置され
た被加工物25を第1の光学手段56a(AM1)およ
び第2の光学手段56b(AM2)の直下に位置付け
る。 【0020】吸着チャック432上に載置された被加工
物25を第1の光学手段56a(AM1)および第2の
光学手段56b(AM2)の直下に位置付けられたなら
ば、第1の光学手段56a(AM1)および第2の光学
手段56b(AM2)によって被加工物25である半導
体ウエーハ250の表面が撮像され、半導体ウエーハ2
50の表面に形成されたストリート(切断ライン)のう
ち少なくとも1本がそれぞれ検出されて、このそれぞれ
検出された切断ラインと第1の切削ブレード563aお
よび第2の切削ブレード563bの矢印Y方向の位置合
わせ(割り出し制御)が行われる。このとき図示の実施
形態においては、第1の基部53aおよび第2の基部5
3bの矢印Y方向の位置は、支持台51に配設された1
本のリニアスケール57(LS)による計測値に基づい
て精密制御される。なお、図示の実施形態においては、
リニアスケールを1本にして第1の基部53aと第2の
基部53bとで共用しているので、同じスケールで矢印
Y方向の制御が遂行されるため、スケールをそれぞれ個
別に設けた場合に比べ精度が向上する。このように、図
示の実施形態においては、第1のスピンドルユニット5
5aおよび第2のスピンドルユニット55bに関連して
それぞれ第1の光学手段56a(AM1)および第2の
光学手段56b(AM2)が設けられているので、第1
の切削ブレード553aおよび第2の切削ブレード55
3bの矢印Y方向の位置合わせ作業を同時に効率的に行
うことができる。 【0021】その後、第1のスピンドルユニット55a
および第2のスピンドルユニット55bを支持した第1
の懸垂ブラケット523aおよび第2の懸垂ブラケット
523bを切削位置まで下降せしめ、半導体ウエーハ2
50を吸引保持したチャックテーブル43を切削送り方
向である矢印X方向に切削領域102まで移動すること
により、高速回転する第1の切削ブレード553aおよ
び第2の切削ブレード553bの作用を受けて、上述の
ようにして検出された切断ラインが切削される。このよ
うに、第1のスピンドルユニット55aおよび第2のス
ピンドルユニット55bを装着した第1の懸垂ブラケッ
ト523aおよび第2の懸垂ブラケット523bが取り
付けられている第1の基部521aおよび第2の基部5
21bの矢印Y方向の割り出し移動と、半導体ウエーハ
250を吸引保持したチャックテーブル43の矢印X方
向切削送りを繰り返し実行することにより、半導体ウエ
ーハ250に形成された複数の切断ラインが順次切削さ
れる。そして、半導体ウエーハ250に形成された同方
向の切断ラインが全て切削されたら、半導体ウエーハ2
50を吸引保持した吸着チャック432を90度回転さ
せて、上記と同様の切削作業を実行することにより、半
導体ウエーハ250に格子状に形成された全ての切断ラ
インが切削されて個々のペレットが形成される。 【0022】上述したように切削作業が終了したら、図
1に示す切削領域102に位置しているチャックテーブ
ル43を被加工物載置領域101に移動する。チャック
テーブル43が被加工物載置領域101に位置付けられ
たら、被加工物搬送機構7を作動しチャックテーブル4
3に保持された半導体ウエーハ250を装着したフレー
ム251を吸着パッド71によって吸着して洗浄機構6
のスピンナーテーブル611上に搬送する。スピンナー
テーブル611上に搬送され上述したように切削された
半導体ウエーハ250は、洗浄水供給ノズル612から
噴射される洗浄水によって洗浄され切削屑が除去される
とともに、スピンナーテーブル611が回転することに
よる遠心力によって乾燥せしめられる。このようにして
半導体ウエーハ250が洗浄されたならば、被加工物搬
送機構7を作動し半導体ウエーハ250を装着したフレ
ーム251を吸着パッド71によって吸着して被加工物
載置領域101に位置付けられているチャックテーブル
43の吸着チャック432上に載置する。そして、被加
工物搬出・搬入機構3を作動し、吸着チャック432上
に載置され洗浄済の半導体ウエーハ250およびフレー
ム251をカセット24の所定の収容室に収容する。 【0023】次に、上記切削装置によって、上述した図
9で示す被加工物Wを切削する際の第1の切削手段およ
び第2の切削手段の割り出しおよび切り込み送り制御に
ついて、図5乃至図7に示すフローチャートおよび図8
に示す切削条件テーブルに基づいて説明する。なお、図
8は図9で示す被加工物Wに対して第1の切削手段の切
削順番(n)における割り出し位置(Y座標値)および
切り込み位置(Z座標値)を設定した切削条件テーブル
で、制御手段200のランダムアクセスメモリ(RA
M)203に格納されている。先ず、第1の切削手段即
ち第1のスピンドルユニット55aの制御について、図
5を参照して説明する。制御手段200は、ステップS
1において切削順番(n)を0番目とし、ステップS2
に進んで図8に示す切削条件テーブルにおけるn番(今
回は0番)のY座標値(0mm)およびZ座標値(0μ
m)を読み込み、これをランダムアクセスメモリ(RA
M)203に一時格納する。そして、制御手段200は
ステップS3に進んで、ステップS2で読み込んだYn
座標値に第1の切削ブレード553aを位置付ける。な
お、この第1の切削ブレード553aのYn座標値への
位置付けは、上述した割り出し制御を実行することによ
ってなされる。第1の切削ブレード553aをYn座標
値に位置付けたならば、制御手段200はステップS4
に進んで、ステップS2に読み込んだZn座標値に第1
の切削ブレード553aを位置付ける。なお、この第1
の切削ブレード553aのZn座標値への位置付けは、
上述した第1の切削ブレード553aの切り込み方向の
基準位置からZn座標値に対応した数のパルスをパルス
モータ541a(M3)に印加する(切り込み制御)こ
とによってなされる。 【0024】このようにして、第1の切削ブレード55
3aをYn座標値およびZn座標値に位置付けたなら
ば、制御手段200はステップQ0に進んで、切削制御
を実行する。この切削制御は、後述する第2の切削手段
の割り出しおよび切り込み送り制御が終了した後に、サ
ーボモータ554a(M5)および554b(M6)を
駆動して第1の切削ブレード553aおよび第2の切削
ブレード553bを回転しつつチャックテーブル43を
矢印Xで示す方向に切削送りすることによってなされ
る。そして、制御手段200はステップS5に進んで、
切削順番(n)をプラス1(n+1)して上記ステップ
S2に戻り、ステップS2乃至ステップS5を繰り返し
実行する。なお、図8に示す切削条件テーブルにおいて
は切削順番(n)が1番目、2番目、3番目はY座標値
が同一であり、3段階に分けでY座標値(5mm)の切
削が行われるが、1番目のZn座標値即ち切削送り位置
(チャックテーブル43の上面を基準値零(0)とした
上方の位置即ち被加工物Wの下面までの位置)が4μm
の位置、2番目のZn座標値が即ち切削送り位置3μm
の位置、3番目のZn座標値が即ち切削送り位置が2μ
mの位置に設定されているので、第1の切削ブレード5
53aによって切削順番(n)通りに段階的に切削する
ことができる。 【0025】次に、第2の切削手段即ち第1のスピンド
ルユニット55bの制御について、図6および図7を参
照して説明する。第2の切削手段による切削は、図8に
示す切削条件テーブルに設定された順番を反転して実行
する。制御手段200は、ステップP1において切削順
番(n)をN番目(図8に示す切削条件テーブルにおい
ては35番目)とし、ステップP2に進んで図8に示す
切削条件テーブルにおけるn番(今回は35番)のY座
標値(140mm)を読み込み、これをランダムアクセ
スメモリ(RAM)203に一時格納する。そして、制
御手段200はステップP3に進んで切削順番(n)を
マイナス1(n−1)し、更にステップP4に進んでこ
の切削順番(n)(図8に示す切削条件テーブルにおい
ては34番目)のY座標値(135mm)を読み込み、
これをランダムアクセスメモリ(RAM)203に一時
格納する。次に、制御手段200はステップP5に進ん
で、上記ステップP2において読み込んだY座標値(1
40mm)とステップP4において読み込んだY座標値
(135mm)が同一であるか否かをチェックする。ス
テップP2において読み込んだY座標値とステップP4
において読み込んだY座標値が同一である場合には、制
御手段200は段階的に切削する必要があると判断し、
後述するステップP12に移行する。 【0026】ステップP5において、ステップP2にお
いて読み込んだY座標値とステップP4において読み込
んだY座標値が同一でない場合には、制御手段200は
段階的に切削する必要がないと判断し、ステップP6に
進んで切削順番(n)をプラス1(n+1)し、更にス
テップP7に進んでこの切削順番(n)(図8に示す切
削条件テーブルにおいては35番目)のY座標値(14
0mm)およびZ座標値(今回は0μm)を読み込み、
これをランダムアクセスメモリ(RAM)203に一時
格納する。そして、制御手段200はステップP8に進
んで、ステップP7に読み込んだYn座標値に第2の切
削ブレード553bを位置付ける。なお、この第2の切
削ブレード553bのYn座標値への位置付けは、上述
した割り出し制御を実行することによってなされる。第
2の切削ブレード553bをYn座標値に位置付けたな
らば、制御手段200はステップP8に進んで、ステッ
プP7に読み込んだZn座標値に第2の切削ブレード5
53bを位置付ける。なお、この第2の切削ブレード5
53bのZn座標値への位置付けは、上述した第2の切
削ブレード553bの切り込み方向の基準位置からZn
座標値に対応した数のパルスをパルスモータ541b
(M4)に印加する(切り込み制御)ことによってなさ
れる。 【0027】このようにして、第2の切削ブレード55
3bをYn座標値およびZn座標値に位置付けたなら
ば、制御手段200はステップQ0に進んで、切削制御
を実行する。この切削制御は、上述した第1の切削手段
の切削制御と同時にサーボモータ554a(M5)およ
び554b(M6)を駆動して第1の切削ブレード55
3aおよび第2の切削ブレード553bを回転しつつチ
ャックテーブル43を矢印Xで示す方向に切削送りする
ことによってなされる。そして、制御手段200はステ
ップP10に進んで、切削順番(n)をマイナス1(n
−1)して上記ステップP2に戻り、次の切削順番
(n)の割り出しおよび切り込み制御を実行する。な
お、この割り出しおよび切り込み制御においては、上記
ステップP5においてステップP2で読み込んだY座標
値とステップP4で読み込んだY座標値が同一でない限
りステップP2乃至ステップP10を繰り返し実行す
る。 【0028】次に、上記ステップP5においてステップ
P2で読み込んだY座標値とステップP4で読み込んだ
Y座標値が同一である場合、即ち段階的に切削する必要
がある場合について、図8に示す切削条件テーブルにお
ける切削順番(n)の33番目、32番目、31番目を
例に説明する。上記ステップP5においてステップP2
で読み込んだY座標値とステップP4で読み込んだY座
標値が同一である場合は、切削順番33番目のY座標値
(125mm)と切削順番32番目のY座標値(125
mm)とが同一であるので、制御手段200は段階的に
切削する必要があると判断し、ステップP11に進んで
切削順番(n)をマイナス1(n−1)し、更にステッ
プP12に進んでこの切削順番(n)(図8に示す切削
条件テーブルにおいては31番目)のY座標値(125
mm)を読み込み、これをランダムアクセスメモリ(R
AM)203に一時格納する。次に、制御手段200は
ステップP13に進んで、ステップP4で読み込んだ切
削順番32番目のY座標値(125mm)とステップP
12で読み込んだ切削順番31番目のY座標値(125
mm)が同一であるか否かをチェックする。 【0029】ステップP13においてステップP4で読
み込んだ切削順番32番目のY座標値(125mm)と
ステップP12で読み込んだ切削順番31番目のY座標
値(125mm)が同一である場合は(図8に示す切削
条件テーブルでは同一)、制御手段200は上記ステッ
プP11に移行して切削順番(n)をマイナス1(n−
1)し、更にステップP12に進んでこの切削順番
(n)(図8に示す切削条件テーブルにおいては30番
目)のY座標値(120mm)を読み込み、これをラン
ダムアクセスメモリ(RAM)203に一時格納する。
そして、制御手段200はステップP13に進んで、前
回ステップP12において読み込んだ切削順番31番目
のY座標値(125mm)と今回ステップP13におい
て読み込んだ切削順番30番目のY座標値(120m
m)が同一であるか否かをチェックする。なお、ステッ
プP13において前回ステップP12で読み込んだ切削
順番のY座標値と今回ステップP12で読み込んだ切削
順番のY座標値が同一である場合には、ステップP11
乃至ステップP13を繰り返し実行する。 【0030】ステップP13において、前回ステップP
12で読み込んだ切削順番31番目のY座標値(125
mm)と今回ステップP12で読み込んだ切削順番30
番目のY座標値(120mm)が同一でない場合は(図
8に示す切削条件テーブルでは同一でない)、制御手段
200はステップP14に進んで切削順番(n)をプラ
ス1(n+1)し、更にステップP15に進んで切削順
番(n)(今回は31番目)は切削済か否かをチェック
する。ステップP15において切削順番(n)が切削済
でない場合は(今回の31番目は切削済でない)、制御
手段100はステップP16に進んで切削順番(n)
(今回は31番目)のY座標値(125mm)およびZ
座標値(今回は4μm)を読み込み、これをランダムア
クセスメモリ(RAM)203に一時格納する。そし
て、制御手段200はステップP17に進んで、ステッ
プP16で読み込んだYn座標値(125mm)に第2
の切削ブレード553bを位置付ける。第2の切削ブレ
ード553bをYn座標値に位置付けたならば、制御手
段200はステップP18に進んで、ステップP16に
読み込んだZn座標値(今回は4μm)に第2の切削ブ
レード553bを位置付ける。このようにして、第2の
切削ブレード553bをYn座標値(125mm)およ
びZn座標値(今回は4μm)に位置付けたならば、制
御手段200はステップQ0に進んで、上述したように
切削制御を実行する。 【0031】次に、制御手段200はステップP14に
戻って切削順番(n)をプラス1(n+1)し、更にス
テップP15に進んで切削順番(n)(今回は32番
目)は切削済か否かをチェックする。ステップP15に
おいて切削順番(n)が切削済でない場合は(今回の3
2番目は切削済でない)、制御手段200はステップP
16に進んで切削順番(n)(今回は32番目)のY座
標値(125mm)およびZ座標値(今回は3μm)を
読み込み、これをランダムアクセスメモリ(RAM)2
03に一時格納する。そして、制御手段200はステッ
プP17に進んで、ステップP16で読み込んだYn座
標値に第2の切削ブレード553bを位置付ける。第2
の切削ブレード553bをYn座標値に位置付けたなら
ば、制御手段200はステップP18に進んで、ステッ
プP16で読み込んだZn座標値(今回は3μm)に第
2の切削ブレード553bを位置付ける。このようにし
て、第2の切削ブレード553bをYn座標値(125
mm)およびZn座標値(今回は3μm)に位置付けた
ならば、制御手段100はステップQ0に進んで、上述
したように切削制御を実行する。 【0032】そして、制御手段200はステップP14
に戻って切削順番(n)をプラス1(n+1)し、更に
ステップP15に進んで切削順番(n)(今回は32番
目)は切削済か否かをチェックする。ステップP15に
おいて切削順番(n)が切削済でない場合は(今回の3
3番目は切削済でない)、制御手段200はステップP
16に進んで切削順番(n)(今回は33番目)のY座
標値(125mm)およびZ座標値(今回は2μm)を
読み込み、これをランダムアクセスメモリ(RAM)2
03に一時格納する。そして、制御手段200はステッ
プP17に進んで、ステップP16で読み込んだYn座
標値に第2の切削ブレード553bを位置付ける。第2
の切削ブレード553bをYn座標値に位置付けたなら
ば、制御手段200はステップP18に進んで、ステッ
プP16で読み込んだZn座標値(今回は2μm)に第
2の切削ブレード553bを位置付ける。このようにし
て、第2の切削ブレード553bをYn座標値(125
mm)およびZn座標値(今回は2μm)に位置付けた
ならば、制御手段200はステップQ0に進んで、上述
したように切削制御を実行する。以上のように、複数の
切削順番(n)が同一Y座標値を有する場合、即ち同一
Y座標値に複数個のZ座標値が存在する場合には、切削
順番(n)が早い順番のZ座標値から切削するので、段
階的に切削することができる。 【0033】次に、制御手段200はステップP14に
戻って切削順番(n)をプラス1(n+1)し、更にス
テップP15に進んで切削順番(n)(今回は34番
目)は切削済か否かをチェックする。切削順番34番目
は図8に示す切削条件テーブルの例においては既に切削
済であるため、制御手段200はステップP19に進ん
で切削順番(n)をマイナス1(n−1)し、更にステ
ップP20に進んで切削順番(n)(今回は33番目)
は切削済か否かをチェックする。切削順番33番目は今
回は切削済であるので、制御手段200はステップP1
9に戻って切削順番(n)をマイナス1(n−1)し、
更にステップP20に進んで切削順番(n)(今回は3
2番目)は切削済か否かをチェックする。切削順番32
番目も今回は切削済であるので、制御手段200はステ
ップP19に戻って切削順番(n)をマイナス1(n−
1)し、更にステップP20に進んで切削順番(n)
(今回は31番目)は切削済か否かをチェックする。切
削順番31番目も今回は切削済であるので、制御手段2
00はステップP19に戻って切削順番(n)をマイナ
ス1(n−1)し、更にステップP20に進んで切削順
番(n)(今回は30番目)は切削済か否かをチェック
する。切削順番30番目は今回は切削していないので、
制御手段200は上記ステップP2に戻る。 【0034】 【発明の効果】本発明による切削装置は以上のように構
成されており、第2の切削手段は第1の切削手段用の切
削条件テーブルに設定された順番を反転するとともに、
同一Y座標値に複数個のZ座標値が存在する場合には、
切削順番(n)が早い順番のZ座標値から切削するの
で、第2の切削手段用の切削条件テーブルを設定するこ
となく段階的に切削することができる。従って、第2の
切削手段用の切削条件テーブルを設定するためのデータ
入力が省けるとともに、入力ミスによる被加工物の損傷
を未然に回避することができる。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention
First and second cutting blades provided
A first cutting means and a second cutting means provided with
Cutting device. 2. Description of the Related Art In semiconductor device manufacturing processes,
Disk-shaped semiconductor wafers are arranged in a grid on the surface.
Circuits such as ICs and LSIs are formed in a large number of
Each area where a road is formed is connected to a predetermined street (cutting line).
Dicing along the individual semiconductor chips
Manufactures glass. Dicing of this semiconductor wafer
In general, a whetstone blade made of diamond
While rotating the cutting blade configured in the street
Cutting device that cuts by relatively moving along
Is used. In recent years, in order to perform cutting efficiently,
A first cutting blade and a second cutting blade
First cutting means with cutting blade and second cutting
Cutting devices having means have been put to practical use. like this
Equipped with a first cutting means and a second cutting means
Indexing control and cutting control when cutting a workpiece
And cut control will be described with reference to FIG.
You. In FIG. 10, the workpiece W is connected to the first cutting blade B1.
The Y coordinate of the workpiece W by the second cutting blade B2
From the outside to the inside with the center of the workpiece W as the target.
An example of sending out and sending is shown. In addition, of the workpiece W
The length of the line (cutting groove) in the Z direction described in each Y coordinate value is
First cutting blade B1 and second cutting blade B2
Indicates a cutting position (Z coordinate value). Also,
In FIG. 10, n denotes a value that the first cutting blade B1 cuts.
Order. Y seat corresponding to the cutting order in this way
Controlled by a cutting condition table that sets the target value and Z coordinate value
The control means is stored in a memory of the means,
For the cutting by the blade B1, the set order (Fig.
Y coordinate value and Z according to (n0 in the example shown)
Read coordinate values and perform indexing control and cutting control
Execute. On the other hand, for cutting by the second cutting blade B2
In this case, the control means reverses the set order (example shown in the figure).
In n), the Y coordinate value and the Z coordinate value are calculated from n35.
Read and execute index control and cut control
You. [0004] However, as described above,
Is set in the cutting by the second cutting blade B2.
Read the Y coordinate value and Z coordinate value by simply reversing the order
When index control and cut control are executed,
The following problems occur. That is, sapphire and thick glass
In the case of a workpiece W such as
As shown in FIG. 9, a predetermined Y coordinate value (Y in the example of FIG. 9)
5, Y25, ... Y105, Y125)
Cutting depth gradually to a specified depth
There are cases where so-called multi-stage cutting is performed. In this case, the order of cutting
When the number is simply inverted and the Z coordinate value is read, for example, FIG.
In the example, the Y coordinate value is 125 mm in the cutting order n33.
And read the Z coordinate value (cut amount Z) as 2 μm
And cut to 2μm first in Y125mm
Resulting in. Originally, in Y125mm,
First, cutting (cutting order n31) with cutting depth Z4μm,
Next, cutting is performed at a cutting depth (Z) of 3 μm (cutting order n3).
2) After the cutting, the cutting amount (Z) is cut at 2 μm (cutting order)
Number n33). Thus, the second cut
The order set in cutting by the cutting blade B2 is simply
Just inverts to the same Y coordinate
(Z) is gradually deepened and cut to a predetermined depth stepwise
So-called multi-stage cutting cannot be performed. In order to solve the above-mentioned problem, the first
Cutting condition table for cutting blade B1 and second cutting blade
Two cutting condition tables in the cutting condition table for blade B2
Bull may be used. However, for the same workpiece
Having two sets of data requires time and effort to enter the data
Not only cuts, but also increases the possibility of
In a way that is easy for operators to operate
Absent. [0006] The present invention has been made in view of the above facts.
The main technical problem is that they are
A first cutting blade and a second cutting blade
Provided with first cutting means and second cutting means
In the apparatus, the same Y seat is used by using one cutting condition table.
Set the depth of cut gradually at the standard value and set it stepwise
To provide a cutting device that can cut to a depth of
It is in. Means for Solving the Problems The above main technical problems are solved.
According to the present invention, the chamber for holding the workpiece is
And a chuck table disposed opposite to each other.
Cutting shake for cutting the workpiece held by the cable
Cutting means comprising a blade and a second cutting blade
And the second cutting means, and the chuck table
A cutting feed mechanism that moves in the cutting direction,
And a first for moving the second cutting means in the indexing direction.
An index feed mechanism and a second index feed mechanism;
Cutting direction of the first cutting means and the second cutting means
Notch feed mechanism and second notch moving to
Feed mechanism, the cutting feed mechanism, and the first indexing feed
Mechanism, the second index feed mechanism, and the first slit feed
Control for controlling the cutting mechanism and the second slit feed mechanism
Means, the control means,
Each division is performed according to the cutting order by the first cutting means.
The Y coordinate value for which the output position is set and the cutoff at each Y coordinate value
Cutting condition table consisting of the Z coordinate value
The first index
The feed mechanism and the first cut feed mechanism
Control according to the order set in the cutting condition table,
Second index feed mechanism and second cut feeder
For the structure, reverse the order set in the cutting condition table.
At the same time, there are multiple Z coordinate values for the same Y coordinate value.
If there is, the second cut from the Z-coordinate value in the earlier order
The cutting device is characterized by controlling the feed mechanism.
Provided. [0008] [Embodiment of the invention below]
Preferred embodiments of the cutting device will be described with reference to the accompanying drawings.
This will be described in detail. FIG. 1 shows a cutting machine constructed in accordance with the present invention.
A perspective view of the device is shown. Cutting device shown in FIG.
Includes a substantially rectangular parallelepiped device housing 1. This
A workpiece such as a semiconductor wafer is placed in the device housing 1
And a cassette mechanism 2 for stocking
After unloading the stored workpiece and after cutting
Unloading and loading the workpiece into the cassette mechanism 2
The loading mechanism 3 and the workpiece unloading and loading mechanism 3
Chuck table mechanism 4 for holding the output workpiece
And the workpiece held by the chuck table mechanism 4
A cutting mechanism 5 for cutting, and cutting by the cutting mechanism 5
Cleaning mechanism 6 for cleaning the workpiece, and a chuck table
Work that transports the work between the mechanism 4 and the cleaning mechanism 6
An object transport mechanism 7 is provided. Also the equipment housing
Reference numeral 1 denotes an image captured by an optical unit described later.
The monitor 8 shown is provided. The above-mentioned cassette mechanism 2, chuck table machine
The structure 4 and the cutting mechanism 5 will be described with reference to FIG.
You. The cutting apparatus in the illustrated embodiment is an apparatus housing.
The stationary base 10 which is disposed in the
I have it. The cassette mechanism 2 includes a stationary base 10
Two guide rails 21 provided on the side in the vertical direction,
A cassette table 22 slidably disposed at 21;
Raise the cassette table 22 along the guide rail 21
Driving hand for moving downward (direction indicated by arrow Z)
Step 23 is provided. The driving means 23 is provided with the two
Male screw thread arranged in parallel between idrails 21 and 21
231 and a male screw attached to the cassette table 22
A female screw block (not shown) screwed to the rod 231;
A not-shown path for rotationally driving the male screw rod 231 is provided.
A driving source such as a loose motor is included. Therefore,
The male screw rod 231 is rotated by a pulse motor
As a result, the cassette table 22 moves vertically (arrow Z).
(In the direction indicated by). Up and down
On the cassette table 22 configured to be movable
A cassette 24 having a tiered accommodation chamber is placed. This mosquito
The workpieces 25 are placed one by one in the plurality of storage chambers of the set 24.
Will be accommodated. In the illustrated embodiment, the workpiece
An object 25 is attached to an annular frame 251 by a tape 252.
The semiconductor wafer 250 is shown mounted thereon. The chuck table mechanism 4 includes a stationary base.
10, a support table 41 fixed on the support table 41, and an arrow
Two guides arranged in parallel along the direction indicated by mark X
Rails 42, 42 and arrows on the guide rails 42, 42
Holds workpieces movably arranged in the direction indicated by mark X
Chuck table 43 as a workpiece holding means
I have it. This chuck table 43 is
Chucks movably disposed on the rollers 42, 42
A support table 431 and mounted on the suction chuck support table 431
And a suction chuck 432 provided.
A workpiece, for example, a disc-shaped semiconductor, is placed on the jack 432.
Hold the wafer by suction means (not shown)
Has become. Note that the chuck table mechanism 4 is
Table 43 along the two guide rails 42, 42
Drive means 44 for moving in the direction indicated by arrow X
I have it. The driving means 44 is provided with the two guide rails.
Male screw rod 44 disposed in parallel between the
And a male screw lock attached to the suction chuck support base 431.
Female screw block (not shown)
A pulse (not shown) for rotationally driving the dirod 441
A driving source such as a motor is included. Therefore, a not-shown
Drive the screw motor forward or reverse to rotate the male screw rod 44
1 by rotating the chuck table 43,
It is moved in the direction indicated by X. That is, the chuck
The bull 43 is a work placement area 10 shown in FIGS.
1 to the cutting area 102. Subordinate
Thus, the two guide rails 42, 42 and the driving hand
The step 44 moves the chuck table 43 in the cutting feed direction (X direction).
Function as a cutting feed mechanism that moves in the direction In addition, above
The chuck table mechanism 4 rotates the suction chuck 432.
It has a rotating mechanism (not shown) that rotates. Next, the cutting mechanism 5 will be described.
The cutting mechanism 5 has a portal type fixed on the stationary base 10.
A support table 51 is provided. This portal support 51 is
It is arranged so as to straddle the cutting area 102. support
Arranged parallel to the side wall of the table 51 along the direction indicated by the arrow Y
Provided two guide rails 511 and 511 are provided.
And will be described later along the guide rails 511 and 511.
Of a first support mechanism 52a for supporting the first cutting means
A plate supporting the plate 521a and a second cutting means described later
The substrates 521b of the second support mechanism 52b are indicated by arrows Y, respectively.
It is slidably disposed in the direction shown. The first support is mounted on the support table 51.
Holding mechanism 52a and second support mechanism 52b
Arrow Y along guide rails 511 and 511, respectively.
The first driving means 53a for moving in the direction shown
And a second driving means 53b. First drive
The means 53a and the second driving means 53b are respectively
It is disposed between the two guide rails 511 and 511.
Male screw rods 531a and 531b,
531a and 531b are driven to rotate, respectively.
Pulse motors 532a (M1) and 532b (M
2) etc. are included. Male screw rod 531a
And 531b have their inner ends facing each other
Rotatably supported by receivers 533a and 533b
And the outer end is a pulse motor 532a (M1)
And 532b (M2). This
In the middle part of the male screw rods 531a and 531b,
The substrate 521a of the first support mechanism 52a and the second
FIG. 2 is a view showing the support mechanism 52b mounted on the substrate 521b.
A female screw block (not shown) is screwed. As a result,
Sumer 532a (M1) and 532b (M2)
The male screw rods 531 a and 53
1b, the base of the first support mechanism 52a is rotated.
Plate 521a and Substrate 521b of Second Support Mechanism 52b
Is the direction indicated by arrow Y along guide rails 511 and 511
It is moved in the direction. Therefore, the guide rail 51
1, 511 and the first driving means 53a and the second drive
The moving means 53b includes a first cutting means and a second
First indexing feed for moving the cutting means in the indexing direction
It functions as a mechanism and a second index feed mechanism. The substrate 521a of the first support mechanism 52a
And a substrate 521b of the second support mechanism 52b.
The first guide rail 522a and the second guide rail
522b is set along the cut feed direction indicated by arrow Z.
This first guide rail 522a and
A first suspension bracket along the second guide rail 522b
523a and the second suspension bracket 523b.
Arranged slidably in the cutting feed direction indicated by arrow Z
Have been. Also, the substrate 521 of the first support mechanism 52a
a and the substrate 521b of the second support mechanism 52b
The first suspension bracket 523a and the second suspension bracket
To the first guide rails 522a and 522b, respectively.
The direction indicated by arrow Z along the second guide rail 522b
Driving means 54a for moving the
Of the driving means 54b. First drive means 5
4a and the second driving means 54b
Guide rail 522a and second guide rail 522b
And a male screw rod (not shown)
A pulse motor 5 for rotating each of the rods
41a (M3) and 541b (M4).
It is. The first suspension bracket 523a and the
And the second suspension bracket 523b, respectively,
A female screw block to be screwed into the male screw rod is attached.
You. As a result, the pulse motors 541a (M3) and 5
41b (M4) is driven forward or reverse to drive a male (not shown).
By rotating the screw rod, the first suspension bracket
523a and the second suspension bracket 523b
Guide rail 522a and second guide rail 52
2b along the cutting feed direction indicated by arrow Z
Can be. Therefore, the first guide rail 522a
And the second guide rail 522b and the first driving hand
The step 54a and the second driving means 54b are connected to a first
Moving the cutting means and the second cutting means in the cutting direction
First infeed mechanism and second infeed mechanism
Functions as a mechanism. The first suspension mechanism of the first support mechanism 52a
The racket 523a and the second support mechanism 52b
The suspension bracket 523b has a first cutting means
As the first spindle unit 55a and the second cutting means
All of the second spindle units 55b are mounted.
You. The first spindle unit 55a and the second spindle unit 55a
The spindle unit 55b is shown in a simplified manner.
This will be described with reference to FIG. First spindle unit
And the second spindle unit 55b
The first suspension bracket 523a and the second suspension bracket 523a respectively
Spindle housing fixed to vertical bracket 523b
551a and 551b and the spindle housing
551a and 551b rotatably supported respectively
Rotating spindles 552a and 552b,
Attached to one end of pindles 552a and 552b
First cutting blade 553a and second cutting blade
553b and rotating spindles 552a and 552b
Servo motors 554a (M5) and 55 for rotational driving
4b (M6). Configured like this
First spindle unit 55a and second spindle unit
Unit 55b is connected to the first cutting blade 553a and the
2 cutting blades 553b are arranged to face each other
Have been. That is, the first spindle unit 55a and
The second spindle unit 55b has an axis
Arrange in a straight line to face the indexing feed direction indicated by mark Y.
Is established. The above-mentioned first spindle unit 55a
2 and the second spindle unit 55b shown in FIG.
Each consists of a microscope, CCD camera, etc.
First optical means 56a (AM1) and second optical means
56b (AM2) is provided. First optical means 5
6a (AM1) is the first spindle housing 551a
And the second optical means 56b (AM2) is
It is fixed to the spindle housing 551b. What
In addition, the cutting device in the illustrated embodiment
Two guide rails 511 and 511 are arranged in parallel.
A linear scale 57 (LS) is provided. This linear
The scale 57 (LS) is the first cutting blade 553
a and the indexing position of the second cutting blade 553b
Control means for detecting a Y-coordinate value and outputting the detected signal
Output to The cutting device in the illustrated embodiment is
First spindle unit 55a as one cutting means
And a second spindle unit as a second cutting means.
In connection with the first cutting blade 55
3a and the cutting depth of the second cutting blade 553b
Reference position of cutting direction of cutting blade to adjust
Cutting blade detector 58a for detecting the position
(BD1) and the second cutting blade detector 58b (B
D2). This first cutting blade detector
58a (BD1) and second cutting blade detector 58
b (BD2) may have a conventionally well-known configuration, and each cutting
A blade entry portion into which the outer peripheral portion of the blade enters, and the blade
A light-emitting part and a light-receiving part
The first cutting shake on the stationary base 10.
Arrows of the blade 553a and the second cutting blade 553b.
It is arranged on the movement line in the index feed direction indicated by Y.
You. First cutting blade detector 5 thus configured
8a (BD1) and second cutting blade detector 58b
(BD2) shows the outer peripheral portion of the cutting blade as the blade entry portion.
The amount of light received by the light receiving
Out, the cutting direction of the cutting blade
The reference position is detected and the detection signal is output to the control means described later.
Power. The cutting device in the illustrated embodiment is shown in FIG.
The control means 200 is provided as shown in FIG. Control means
200 is constituted by a microcomputer,
Central processing unit that performs arithmetic processing according to the control program
(CPU) 201 and a lead for storing a control program and the like.
Do-only memory (ROM) 202 and cutting conditions described later
A readable and writable lander that stores tables, calculation results, etc.
Access memory (RAM) 203 and an input interface
Interface 204 and an output interface 205.
I have. The input of the control means 200 thus configured
The interface 204 includes the first optical unit 56
a (AM1), the second optical means 56b (AM2),
Ascale 57 (LS), first cutting blade detector 5
8a (BD1), the second cutting blade detector 58b (B
D2) and the like are input. Also, output in
Each of the pulse motors 532a from the interface 205
(M1), 532b (M2), 541a (M3), 54
1b (M4) and servo motor 554a (M5), 5
54b (M6), and outputs the control signal.
Setting mechanism 2, Workpiece unloading / loading mechanism 3, Chuck
Cable mechanism 4, cleaning mechanism 6, workpiece transfer mechanism 7, monitor
The control signal is output to the monitor 8 or the like. Next, the cutting processing operation of the above-described cutting device will be described.
The operation will be briefly described with reference to FIGS.
First, the drive means 23 of the cassette mechanism 2 is operated to set the cassette.
The cassette 24 placed on the table 22 to an appropriate height.
Position. Cassette 24 is positioned at an appropriate height
Then, the work unloading / loading mechanism 3 is operated to operate the cassette 2
4. The work 25 stored in 4 is carried out by the holding portion 31,
A chuck positioned in the workpiece mounting area 101
It is placed on the suction chuck 432 of the table mechanism 4. Sucking
The workpiece 25 placed on the attachment chuck 432 is shown
Suction is maintained on the suction chuck 432 by suction means that does not
Be held. In this way, the object is placed on the suction chuck 432.
When the workpiece 25 is sucked and held, the chuck table 43
In the direction of arrow X, and as shown in FIG.
First spindle unit 55a and second spindle
First suspension bracket 523 equipped with unit 55b
a and the second suspension bracket 523b are attached
The first base 521a and the second base 521b
It moves in the direction of the arrow Y and is placed on the suction chuck 432.
The workpiece 25 is moved to the first optical means 56a (AM1) and
And immediately below the second optical means 56b (AM2)
You. Workpiece placed on suction chuck 432
The object 25 is connected to the first optical means 56a (AM1) and the second
If positioned just below the optical means 56b (AM2)
For example, the first optical means 56a (AM1) and the second optical
By means 56b (AM2), the semiconductor
The surface of the body wafer 250 is imaged, and the semiconductor wafer 2
Street (cut line) formed on the surface of 50
At least one of each is detected and
The detected cutting line and the first cutting blade 563a and 563a
And the position of the second cutting blade 563b in the direction of arrow Y.
(Indexing control) is performed. At this time,
In the embodiment, the first base 53a and the second base 5
The position of the arrow 3b in the direction of the arrow Y corresponds to the position of the 1
Based on the value measured by the linear scale 57 (LS)
Is precisely controlled. In the illustrated embodiment,
The first base 53a and the second
Since it is shared with the base 53b, the arrow is on the same scale
Since the control in the Y direction is performed,
Accuracy is improved as compared with the case where it is separately provided. Thus, the figure
In the illustrated embodiment, the first spindle unit 5
5a and the second spindle unit 55b
The first optical means 56a (AM1) and the second
Since the optical means 56b (AM2) is provided, the first
Cutting blade 553a and second cutting blade 55
3b simultaneously perform the alignment work in the direction of the arrow Y efficiently.
I can. Thereafter, the first spindle unit 55a
And the first supporting the second spindle unit 55b
Suspension bracket 523a and second suspension bracket
523b is lowered to the cutting position, and the semiconductor wafer 2
How to feed the chuck table 43 holding the suction 50 by cutting
To the cutting area 102 in the direction of the arrow X
As a result, the first cutting blade 553a rotating at a high speed
And under the action of the second cutting blade 553b,
The cutting line thus detected is cut. This
Thus, the first spindle unit 55a and the second spindle unit 55a
First suspension bracket with pindle unit 55b
523a and the second suspension bracket 523b
Attached first base 521a and second base 5
Indexing movement of arrow 21b of arrow 21b and semiconductor wafer
Arrow X of chuck table 43 holding suction 250
The semiconductor wafer is repeatedly executed by
The plurality of cutting lines formed on the wafer 250 are sequentially cut.
It is. Then, the same wafer formed on the semiconductor wafer 250 is formed.
When all the cutting lines in the directions are cut, the semiconductor wafer 2
The suction chuck 432 holding the suction 50 is rotated 90 degrees.
By performing the same cutting work as above,
All the cutting laminations formed in a grid on the conductor wafer 250
The ins are cut to form individual pellets. When the cutting operation is completed as described above,
Chuck table located in the cutting area 102 shown in FIG.
The tool 43 is moved to the work placement area 101. Chuck
The table 43 is positioned in the workpiece placement area 101.
Then, the workpiece transfer mechanism 7 is operated to operate the chuck table 4.
3 mounted with the semiconductor wafer 250 held in
The cleaning mechanism 6 by sucking the system 251 by the suction pad 71.
On the spinner table 611. Spinner
Conveyed on table 611 and cut as described above
The semiconductor wafer 250 is supplied from the cleaning water supply nozzle 612.
Cleaning water is removed by the sprayed cleaning water to remove cutting chips
At the same time, the spinner table 611 rotates
It is dried by the centrifugal force. Like this
After the semiconductor wafer 250 has been cleaned, the workpiece is transferred.
The transfer mechanism 7 is operated to set the frame on which the semiconductor wafer 250 is mounted.
The workpiece 251 is sucked by the suction pad 71 and
Chuck table positioned in mounting area 101
43 is mounted on the suction chuck 432. And add
Activate the work unloading / loading mechanism 3 and move the suction chuck 432
Semiconductor wafer 250 and the frame
The cassette 251 is stored in a predetermined storage chamber of the cassette 24. Next, the above-described drawing
A first cutting means for cutting the workpiece W indicated by 9;
For indexing and cutting feed control of the second cutting means
The flowcharts shown in FIGS. 5 to 7 and FIG.
This will be described based on the cutting condition table shown in FIG. The figure
8 is the cutting of the first cutting means with respect to the workpiece W shown in FIG.
Indexing position (Y coordinate value) in cutting order (n) and
Cutting condition table with cutting position (Z coordinate value) set
Then, the random access memory (RA
M) 203. First, the first cutting means
FIG. 7 shows the control of the first spindle unit 55a.
This will be described with reference to FIG. The control means 200 determines in step S
In step 1, the cutting order (n) is set to 0th, and step S2
To the n-th (now
Time is 0) Y coordinate value (0mm) and Z coordinate value (0μ)
m) is read and stored in a random access memory (RA).
M) Temporarily store in 203. And the control means 200
Proceeding to step S3, Yn read in step S2
Position the first cutting blade 553a at the coordinate value. What
Note that the Yn coordinate value of the first cutting blade 553a is
Positioning is performed by executing the index control described above.
It is done. The first cutting blade 553a is positioned on the Yn coordinate.
If the position is determined as the value, the control means 200 proceeds to step S4
To the Zn coordinate value read in step S2.
Of the cutting blade 553a. In addition, this first
The position of the cutting blade 553a in the Zn coordinate value is
In the cutting direction of the first cutting blade 553a described above,
Pulse the number of pulses corresponding to the Zn coordinate value from the reference position
Applying (cutting control) to the motor 541a (M3)
And done by. In this manner, the first cutting blade 55
If 3a is positioned at Yn coordinate value and Zn coordinate value
If so, the control means 200 proceeds to step Q0,
Execute This cutting control is performed by a second cutting means described later.
After indexing and feed control of
Robot motors 554a (M5) and 554b (M6)
Drive the first cutting blade 553a and the second cutting
While rotating the blade 553b, the chuck table 43 is
This is done by cutting and feeding in the direction indicated by arrow X.
You. Then, the control means 200 proceeds to step S5,
The cutting order (n) is increased by 1 (n + 1), and the above steps are performed.
Return to S2 and repeat steps S2 to S5
Execute. In the cutting condition table shown in FIG.
Is the first, second, and third cutting order (n) is the Y coordinate value
Are the same, and the Y coordinate value (5 mm) is cut in three stages.
Cutting is performed, but the first Zn coordinate value, that is, the cutting feed position
(The upper surface of the chuck table 43 was set to a reference value of zero (0).
The upper position, that is, the position up to the lower surface of the workpiece W) is 4 μm.
Position, the second Zn coordinate value is the cutting feed position 3 μm
Position, the third Zn coordinate value is the cutting feed position is 2μ
m, the first cutting blade 5
Cutting stepwise according to cutting order (n) by 53a
be able to. Next, the second cutting means, that is, the first spindle
6 and 7 for the control of the module unit 55b.
It will be described in the light of the above. The cutting by the second cutting means is shown in FIG.
Reverses the order set in the cutting condition table shown and executes
I do. The control means 200 determines the cutting order in Step P1.
Number (n) is the Nth (in the cutting condition table shown in FIG. 8)
35th), and proceeds to step P2 to be shown in FIG.
No. n (No. 35 this time) Y-coordinate in the cutting condition table
The standard value (140 mm) is read, and
Temporarily stored in the storage memory (RAM) 203. And the system
The control means 200 proceeds to Step P3 and determines the cutting order (n).
-1 (n-1), and then proceed to Step P4.
(N) in the cutting condition table shown in FIG.
34th) Y coordinate value (135 mm)
This is temporarily stored in the random access memory (RAM) 203.
Store. Next, the control means 200 proceeds to Step P5
Then, the Y coordinate value (1
40 mm) and the Y coordinate value read in step P4
Check whether (135 mm) is the same. S
Y coordinate value read in step P2 and step P4
If the read Y coordinate values are the same,
The control means 200 determines that it is necessary to cut in stages,
The program shifts to Step P12 described later. In step P5, the process proceeds to step P2.
And read in step P4
If the Y coordinate values are not the same, the control means 200
It is determined that there is no need to cut in steps, and
The cutting order (n) is increased by 1 (n + 1), and
Proceeding to step P7, the cutting order (n) (the cutting shown in FIG. 8)
35th Y coordinate value (14 in the cutting condition table).
0 mm) and Z coordinate value (0 μm this time)
This is temporarily stored in the random access memory (RAM) 203.
Store. Then, the control means 200 proceeds to Step P8.
Then, the second offset is applied to the Yn coordinate value read in step P7.
Position the cutting blade 553b. This second cut
The positioning of the cutting blade 553b to the Yn coordinate value is described above.
This is performed by executing the determined index control. No.
No. 2 cutting blade 553b was positioned at the Yn coordinate value.
If so, the control means 200 proceeds to step P8, and
The second cutting blade 5 is added to the Zn coordinate value
Position 53b. The second cutting blade 5
Positioning of 53b on the Zn coordinate value is based on the second
From the reference position in the cutting direction of the cutting blade 553b, Zn
The number of pulses corresponding to the coordinate value is output to the pulse motor 541b.
(M4) (cut control)
It is. In this manner, the second cutting blade 55
If 3b is positioned at Yn coordinate value and Zn coordinate value
If so, the control means 200 proceeds to step Q0,
Execute This cutting control is performed by the first cutting means described above.
Servo motor 554a (M5) and cutting control
And 554b (M6) to drive the first cutting blade 55
3a and the second cutting blade 553b while rotating.
Feeds the rack table 43 in the direction indicated by the arrow X
It is done by things. Then, the control means 200
Proceeding to Step P10, the cutting order (n) is set to minus 1 (n
-1) to return to the above-described step P2, and the next cutting order
The indexing and cutting control of (n) is executed. What
In this indexing and cutting control,
In step P5, the Y coordinate read in step P2
Unless the value and the Y coordinate value read in step P4 are the same
Steps P2 to P10 are repeatedly executed.
You. Next, in step P5,
Y coordinate value read in P2 and read in step P4
When the Y coordinate value is the same, that is, it is necessary to cut in steps
In the cutting condition table shown in FIG.
The 33rd, 32nd, 31st of the cutting order (n)
An example will be described. In the above step P5, step P2
Y coordinate value read in step and Y coordinate read in step P4
If the target values are the same, the Y coordinate value of the 33rd cutting order
(125 mm) and the Y-coordinate value (125
mm) is the same, the control means 200
Judge that it is necessary to cut, and proceed to Step P11
The cutting order (n) is reduced by 1 (n-1), and further
Proceeding to Step P12, the cutting order (n) (the cutting order shown in FIG. 8)
The 31st Y coordinate value (125 in the condition table)
mm) and read it into a random access memory (R
AM) 203. Next, the control means 200
Proceeding to step P13, the disconnection read in step P4
32nd Y coordinate value (125 mm) of cutting order and step P
The Y coordinate value of the 31st cutting order (125
mm) are the same. In step P13, the read in step P4
The Y coordinate value (125 mm) of the 32nd cutting order
Y coordinate of the 31st cutting order read in step P12
When the values (125 mm) are the same (the cutting shown in FIG. 8)
(The same is true in the condition table.)
The cutting order (n) is shifted to minus 1 (n-
1) Then, the process further proceeds to Step P12 and the cutting order
(N) (No. 30 in the cutting condition table shown in FIG. 8)
Read the Y coordinate value (120 mm) of
The data is temporarily stored in a dumb access memory (RAM) 203.
Then, the control means 200 proceeds to Step P13,
31st cutting order read in step P12
Y coordinate value (125 mm) and this time in step P13
Y coordinate value of the 30th cutting order (120m
Check if m) is the same. Note that
In P13, the cutting read in the previous step P12
The Y coordinate value of the order and the cutting read in this step P12
If the Y coordinate values of the order are the same, the process proceeds to Step P11
To Step P13 are repeatedly executed. In step P13, the previous step P
The Y coordinate value of the 31st cutting order (125
mm) and the cutting order 30 read this time in step P12.
If the second Y coordinate value (120 mm) is not the same (Fig.
8 are not the same), control means
The program 200 proceeds to Step P14 and sets the cutting order (n).
1 (n + 1), and then goes to step P15 to cut
Number (n) (31st this time) checks whether or not it has been cut
I do. In step P15, the cutting order (n) has been cut.
If not (the 31st is not already cut), control
Means 100 proceeds to Step P16 and cutting order (n)
(This time 31st) Y coordinate value (125mm) and Z
Read the coordinate value (4 μm in this case),
Access memory (RAM) 203. Soshi
Then, the control means 200 proceeds to step P17,
The Yn coordinate value (125 mm) read in
Of the cutting blade 553b. Second cutting blur
When the code 553b is positioned at the Yn coordinate value, the control
The stage 200 proceeds to step P18 and proceeds to step P16.
The second cutting block is added to the read Zn coordinate value (4 μm this time).
Position the blade 553b. Thus, the second
The cutting blade 553b is moved to the Yn coordinate value (125 mm) and
And positioned on the Zn coordinate value (4 μm this time)
The control means 200 proceeds to step Q0, as described above.
Execute cutting control. Next, the control means 200 proceeds to step P14.
Return and increase the cutting order (n) by 1 (n + 1).
Proceed to step P15 to cut (n) (this time No. 32
Eye) checks if it has been cut. To step P15
If the cutting order (n) is not already cut (3
(The second is not already cut.)
Go to No. 16 and cut Y (32)
The standard value (125 mm) and the Z coordinate value (3 μm this time)
Read and store this in random access memory (RAM) 2
03 is temporarily stored. Then, the control means 200
Proceed to step P17 and read the Yn seat in step P16
Position the second cutting blade 553b at the benchmark. Second
If the cutting blade 553b of No. is positioned at the Yn coordinate value
If the control means 200 proceeds to step P18,
To the Zn coordinate value (3 μm this time) read in step P16
Position the second cutting blade 553b. Like this
Then, the second cutting blade 553b is moved to the Yn coordinate value (125
mm) and Zn coordinate value (3 μm in this case)
If so, the control means 100 proceeds to step Q0, and
The cutting control is executed as described above. Then, the control means 200 determines in step P14
And the cutting order (n) is increased by 1 (n + 1).
Proceeding to step P15, the cutting order (n) (this time
Eye) checks if it has been cut. To step P15
If the cutting order (n) is not already cut (3
(The third is not already cut.)
Go to No. 16 and cut Y (33rd)
The standard value (125 mm) and the Z coordinate value (2 μm this time)
Read and store this in random access memory (RAM) 2
03 is temporarily stored. Then, the control means 200
Proceed to step P17 and read the Yn seat in step P16
Position the second cutting blade 553b at the benchmark. Second
If the cutting blade 553b of No. is positioned at the Yn coordinate value
If the control means 200 proceeds to step P18,
To the Zn coordinate value (2 μm this time) read in step P16
Position the second cutting blade 553b. Like this
Then, the second cutting blade 553b is moved to the Yn coordinate value (125
mm) and Zn coordinate value (2 μm in this case)
If so, the control means 200 proceeds to step Q0, and
The cutting control is executed as described above. As mentioned above,
When the cutting order (n) has the same Y coordinate value, that is, the same
If there are multiple Z coordinate values in the Y coordinate value,
Since the cutting is performed from the Z-coordinate value in the order (n) which is earlier,
Can be cut in stages. Next, the control means 200 proceeds to step P14.
Return and increase the cutting order (n) by 1 (n + 1).
Proceed to step P15 to cut (n) (this time No. 34
Eye) checks if it has been cut or not. 34th cutting order
Is already cut in the example of the cutting condition table shown in FIG.
Control means 200 proceeds to step P19.
To reduce the cutting order (n) by 1 (n-1),
Proceed to step P20 to cut order (n) (this time 33rd)
Checks if it has been cut. 33rd cutting order is now
Since the round has been cut, the control means 200 returns to step P1
9, the cutting order (n) is subtracted by 1 (n-1).
Further, the process proceeds to Step P20, and the cutting order (n) (this time, 3
The second) checks whether or not cutting has been completed. Cutting order 32
The control means 200 has already
Returning to step P19, the cutting order (n) is set to minus 1 (n-
1) Then, the process further proceeds to Step P20 and the cutting order (n)
(This time, the 31st) checks whether or not cutting has been completed. Off
Since the 31st cutting order has already been cut this time, the control means 2
00 returns to step P19 to change the cutting order (n)
1 (n-1), and further proceeds to Step P20 to execute the cutting order.
Check number (n) (30th in this case)
I do. Since the cutting order 30 was not cut this time,
The control means 200 returns to Step P2. The cutting device according to the present invention is constructed as described above.
Cutting means for the first cutting means.
Invert the order set in the cutting condition table,
When there are a plurality of Z coordinate values for the same Y coordinate value,
The cutting order (n) starts from the Z-coordinate value in the earlier order.
To set the cutting condition table for the second cutting means.
It can be cut step by step. Therefore, the second
Data for setting a cutting condition table for cutting means
Input can be omitted, and workpiece damage due to input error
Can be avoided beforehand.

【図面の簡単な説明】 【図1】本発明に従って構成された切削装置である切削
装置の斜視図。 【図2】図1に示す切削装置の要部斜視図。 【図3】図1に示す切削装置を構成する第1の切削手段
と第2の切削手段を簡略化して示す説明図。 【図4】図1に示す切削装置に装備される制御手段のブ
ロック図。 【図5】図4に示す制御手段の操作手順を示す一部フロ
ーチャート。 【図6】図4に示す制御手段の操作手順を示す一部フロ
ーチャート。 【図7】図4に示す制御手段の操作手順を示す一部フロ
ーチャート。 【図8】図1に示す切削装置を構成する第1の切削手段
の切削順番(n)における割り出し位置(Y座標値)お
よび切り込み位置(Z座標値)を設定した切削条件テー
ブル。 【図9】被加工物に対する割り出し位置と切り込み位置
および切削順番の一例を示す説明図。 【図10】被加工物に対する割り出し位置と切り込み位
置および切削順番の他の例を示す説明図。 【符号の説明】 1:装置ハウジング 10:静止基台 2:カセット機構 21:ガイドレール 22:カセットテーブル 23:駆動手段 24:カセット 25:被加工物 3:被加工物搬出・搬入機構 4:チャックテーブル機構 41:支持台 42:ガイドレール 43:チャックテーブル 44:駆動手段 5:切削機構 51:支持台 511:ガイドレール 52a:第1の支持機構 52b:第2の支持機構 523a:第1の懸垂ブラケット 523b:第2の懸垂ブラケット 53a:第1の駆動手段 53b:第2の駆動手段 532a:パルスモータ(M1) 532b:パルスモータ(M2) 54a:第1の駆動手段 54b:第2の駆動手段 541a:パルスモータ(M3) 541b:パルスモータ(M4) 55a:第1のスピンドルユニット 551a:第1のスピンドルハウジング 552a:第1の回転スピンドル 553a:第1の切削ブレード 55b:第2のスピンドルユニット 551b:第2のスピンドルハウジング 552b:第2の回転スピンドル 553b:第2の切削ブレード 554a:サーボモータ(M5) 554b:サーボモータ(M6) 56a:第1の光学手段(AM1) 56b:第2の光学手段(AM2) 57:リニアスケール(LS) 58a:第1の切削ブレード検出器(BD1) 58b:第2の切削ブレード検出器(BD2) 6:洗浄機構 661:スピンナーテーブル 662:洗浄水供給ノズル 7:被加工物搬送機構 71:被加工物搬送機構の吸着パッド 8:モニター 200:制御手段
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a perspective view of a cutting device that is a cutting device configured according to the present invention. FIG. 2 is a perspective view of a main part of the cutting device shown in FIG. FIG. 3 is an explanatory view schematically showing a first cutting means and a second cutting means constituting the cutting device shown in FIG. 1; FIG. 4 is a block diagram of control means provided in the cutting device shown in FIG. FIG. 5 is a partial flowchart showing an operation procedure of a control unit shown in FIG. 4; FIG. 6 is a partial flowchart showing an operation procedure of a control unit shown in FIG. 4; FIG. 7 is a partial flowchart showing the operation procedure of the control means shown in FIG. 4; FIG. 8 is a cutting condition table in which an index position (Y coordinate value) and a cutting position (Z coordinate value) in a cutting order (n) of a first cutting means included in the cutting device shown in FIG. 1 are set. FIG. 9 is an explanatory diagram showing an example of an indexing position, a cutting position, and a cutting order for a workpiece. FIG. 10 is an explanatory diagram showing another example of an indexing position, a cutting position, and a cutting order for a workpiece. [Description of Signs] 1: Device housing 10: Stationary base 2: Cassette mechanism 21: Guide rail 22: Cassette table 23: Driving means 24: Cassette 25: Workpiece 3: Workpiece unloading / loading mechanism 4: Chuck Table mechanism 41: support base 42: guide rail 43: chuck table 44: driving means 5: cutting mechanism 51: support base 511: guide rail 52a: first support mechanism 52b: second support mechanism 523a: first suspension. Bracket 523b: Second suspension bracket 53a: First drive means 53b: Second drive means 532a: Pulse motor (M1) 532b: Pulse motor (M2) 54a: First drive means 54b: Second drive means 541a: Pulse motor (M3) 541b: Pulse motor (M4) 55a: First spindle unit 551a: First Spindle housing 552a: first rotating spindle 553a: first cutting blade 55b: second spindle unit 551b: second spindle housing 552b: second rotating spindle 553b: second cutting blade 554a: servo motor (M5 554b: servo motor (M6) 56a: first optical means (AM1) 56b: second optical means (AM2) 57: linear scale (LS) 58a: first cutting blade detector (BD1) 58b: first 2. Cutting blade detector (BD2) 6: Cleaning mechanism 661: Spinner table 662: Cleaning water supply nozzle 7: Workpiece transfer mechanism 71: Suction pad 8 of workpiece transfer mechanism 8: Monitor 200: Control means

Claims (1)

【特許請求の範囲】 【請求項1】 被加工物を保持するチャックテーブル
と、互いに対向して配設され該チャックテーブルに保持
された被加工物を切削する第1の切削ブレードおよび第
2の切削ブレードを備えた第1の切削手段および第2の
切削手段と、該チャックテーブルを切削送り方向に移動
する切削送り機構と、該第1の切削手段および該第2の
切削手段を割り出し方向に移動する第1の割り出し送り
機構および第2の割り出し送り機構と、該第1の切削手
段および該第2の切削手段を切り込み方向に移動する第
1の切り込み送り機構および第2の切り込み送り機構
と、該切削送り機構と該第1の割り出し送り機構と該第
2の割り出し送り機構と該第1の切り込み送り機構およ
び該第2の切り込み送り機構を制御する制御手段と、を
具備する切削装置において、 該制御手段は、該第1の切削手段によって切削する順番
に従って各割り出し位置を設定したY座標値と該各Y座
標値における切り込み位置を設定したZ座標値とからな
る切削条件テーブルを記憶するメモリを備えており、該
第1の割り出し送り機構および該第1の切り込み送り機
構については該切削条件テーブルに設定された順番に従
って制御し、該第2の割り出し送り機構および該第2の
切り込み送り機構については該切削条件テーブルに設定
された順番を反転するとともに、同一Y座標値に複数個
のZ座標値が存在する場合には早い順番のZ座標値から
該第2の切り込み送り機構を制御する、 ことを特徴とする切削装置。
Claims: 1. A chuck table for holding a workpiece, a first cutting blade arranged opposite to each other for cutting the workpiece held by the chuck table, and a second cutting blade. A first cutting unit and a second cutting unit having a cutting blade, a cutting feed mechanism for moving the chuck table in a cutting feed direction, and a first cutting unit and a second cutting unit in the indexing direction. A moving first indexing mechanism and a second indexing mechanism, and a first cutting mechanism and a second cutting mechanism for moving the first cutting means and the second cutting means in the cutting direction; Control means for controlling the cutting feed mechanism, the first index feed mechanism, the second index feed mechanism, the first cut feed mechanism and the second cut feed mechanism. In the cutting apparatus, the control means includes: a cutting condition including a Y coordinate value in which each index position is set according to an order of cutting by the first cutting means, and a Z coordinate value in which a cutting position in each Y coordinate value is set. A memory for storing a table, wherein the first indexing mechanism and the first cutting mechanism are controlled in accordance with the order set in the cutting condition table, and the second indexing mechanism and the second indexing mechanism are controlled. For the second cutting feed mechanism, the order set in the cutting condition table is reversed, and when a plurality of Z coordinate values are present at the same Y coordinate value, the second cutting is performed from the Z coordinate value in the earlier order. A cutting device for controlling a feed mechanism.
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