JP2003216680A - Clearance check method in cad for printed circuit board and computer program - Google Patents

Clearance check method in cad for printed circuit board and computer program

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JP2003216680A
JP2003216680A JP2002008643A JP2002008643A JP2003216680A JP 2003216680 A JP2003216680 A JP 2003216680A JP 2002008643 A JP2002008643 A JP 2002008643A JP 2002008643 A JP2002008643 A JP 2002008643A JP 2003216680 A JP2003216680 A JP 2003216680A
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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a clearance check method to suppress any cross-talk noises between copper foil patterns including not only between same layers but also between dissimilar layers. <P>SOLUTION: The copper foil pattern in which a current of a high-speed digital signal of a frequency higher than a predetermined value runs is extracted as an element to be inspected (#102), and the copper foil pattern for a signal in proximity to the element to be inspected in the same copper foil layer as the element to be inspected and the copper foil pattern for signal in proximity to the element to be inspected in the copper foil layer dissimilar from the element to be inspected are extracted as proximity elements, and the minimum distance between the element to be inspected and the proximity elements is obtained (#103). If the minimum distance is smaller than the preset violation distance, the length of the copper foil pattern of the element to be inspected or the proximity elements included in a range in which the distance between the element to be inspected and the proximity element is shorter than the violation distance is obtained as the proximity pattern length (#105), and if the proximity pattern length is larger than the present violation length, the proximity pattern length is detected as a clearance violation (#106 and #107). <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線板を
コンピュータ支援によって設計するプリント基板CAD
におけるクリアランスチェック方法及びコンピュータプ
ログラムに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a printed circuit board CAD for designing a printed wiring board with computer support.
Relates to a clearance check method and a computer program.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子回路、特にディジタル回路のプリン
ト配線板の設計には、専用のコンピュータプログラムで
あるプリント基板CAD(コンピュータ支援による設
計)プログラムが使用されることが一般的である。プリ
ント基板CADプログラムが備える機能の一つとして、
導電箔パターン(一般的には銅箔パターン)間の距離
(間隙)が十分に確保されているか否かをチェックする
クリアランスチェック機能がある。ここでいう銅箔パタ
ーンとは、プリント配線板の製作工程においてレジスト
露光、エッチング等の処理を経てプリント配線板の銅箔
層に残される所定幅の銅箔線路を意味する。なお、銅箔
以外の導電箔、例えば金や銀等の導電箔もあるが、最も
一般的な銅箔パターンとして以下説明する。
2. Description of the Related Art A printed circuit board CAD (computer-aided design) program, which is a dedicated computer program, is generally used for designing a printed wiring board of an electronic circuit, particularly a digital circuit. As one of the functions of the printed board CAD program,
There is a clearance check function for checking whether or not the distance (gap) between the conductive foil patterns (generally copper foil patterns) is secured. The copper foil pattern referred to here means a copper foil line having a predetermined width that is left in the copper foil layer of the printed wiring board after undergoing resist exposure, etching, etc. in the process of manufacturing the printed wiring board. There are conductive foils other than copper foil, for example, conductive foils such as gold and silver, but the most common copper foil pattern will be described below.

【0003】銅箔パターン間の距離(間隙)が十分に確
保されていなければ、プリント基板の製造工程に(エッ
チング工程等)において銅箔パターン間のブリッジ不良
が生じやすくなる。また、電気絶縁性能等の観点から製
品規格において銅箔パターン間の最小距離が定められて
いる場合もある。
If a sufficient distance (gap) between the copper foil patterns is not ensured, bridging defects between the copper foil patterns are likely to occur in the manufacturing process of the printed circuit board (etching process etc.). In some cases, the minimum distance between copper foil patterns is defined in the product standard from the viewpoint of electrical insulation performance.

【0004】近年は更に、ディジタル信号の高速化に伴
い、電気絶縁性能だけでなく隣接する配線パターン間の
クロストークノイズが問題になりやすく、これを抑える
観点からも銅箔パターン間距離の管理が重要になってき
ている。銅箔パターン間距離が小さすぎる場合は、隣接
配線パターン間で生じるクロストークノイズによって製
品が誤動作するおそれがある。
In recent years, along with the speeding up of digital signals, not only electrical insulation performance but also crosstalk noise between adjacent wiring patterns is apt to become a problem. From the viewpoint of suppressing this, it is possible to control the distance between copper foil patterns. Getting important. If the distance between the copper foil patterns is too small, the product may malfunction due to crosstalk noise generated between adjacent wiring patterns.

【0005】また、特に携帯機器の普及に伴い、それに
使用されるプリント配線板の小型化、薄型化が急速に進
んでいる。ディジタル回路のプリント配線板には、複数
の銅箔層と複数の絶縁層を積層した多層基板を使用する
ことが多い。従来の層厚が比較的大きい多層基板の場合
は、層間の銅箔パターン間距離が問題になることはな
く、したがって従来のプリント基板CADプログラムに
おけるクリアランスチェック機能は、同一層における隣
接パターン間の距離(クリアランス)をチェックするも
のであった。
Further, with the spread of portable devices, in particular, printed wiring boards used therein are rapidly becoming smaller and thinner. A printed circuit board for a digital circuit often uses a multilayer substrate in which a plurality of copper foil layers and a plurality of insulating layers are laminated. In the case of a conventional multi-layered board having a relatively large layer thickness, the distance between copper foil patterns between layers does not matter, and therefore the clearance check function in the conventional printed circuit board CAD program is used to measure the distance between adjacent patterns in the same layer. It was to check (clearance).

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、プリン
ト配線板の小型化、薄型化に伴って多層基板の層厚が小
さくなると、そして、ディジタル信号の高速化が進む
と、異なる銅箔層の銅箔パターン間でのクロストークノ
イズが問題になる場合がある。
However, as the printed wiring board becomes smaller and thinner and the layer thickness of the multilayer substrate becomes smaller, and as the speed of digital signals increases, copper foils of different copper foil layers are formed. Crosstalk noise between patterns may be a problem.

【0007】本発明は、このような課題に鑑みてなされ
たものであり、プリント基板CADにおいて、同一層だ
けでなく異層間も含めた銅箔パターン間のクロストーク
ノイズを抑える観点から行うクリアランスチェック方法
及びコンピュータプログラムを提供することを目的とす
る。
The present invention has been made in view of the above problems, and in a printed circuit board CAD, a clearance check is performed from the viewpoint of suppressing crosstalk noise between copper foil patterns not only in the same layer but also in different layers. It is an object to provide a method and a computer program.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明によるプリント基
板CADにおけるクリアランスチェック方法は、複数の
導電箔層と複数の絶縁層が交互に積層された多層プリン
ト配線板の設計をコンピュータ支援によって行う際に、
導電箔パターン間の距離をチェックする方法であって、
(a)所定値より高い周波数の高速ディジタル信号の電
流が流れる導電箔パターンを検査対象要素として抽出
し、(b)前記検査対象要素と同一の導電箔層において
前記検査対象要素に近接する信号用導電箔パターン及び
前記検査対象要素と異なる導電箔層において前記検査対
象要素に近接する信号用導電箔パターンを近接要素とし
て抽出し、(c)前記検査対象要素と前記近接要素との
最短距離を求め、(d)前記最短距離があらかじめ定め
た違反距離より小さい場合は、前記検査対象要素と前記
近接要素との距離が前記違反距離より短い範囲に含まれ
る前記検査対象要素又は前記近接要素の導電箔パターン
の長さを近接パターン長として求め、(e)前記近接パ
ターン長があらかじめ定めた違反長さより長い場合に設
計違反として検出することを特徴とする。
A clearance check method in a printed circuit board CAD according to the present invention is a computer-aided method for designing a multilayer printed wiring board in which a plurality of conductive foil layers and a plurality of insulating layers are alternately laminated. ,
A method for checking the distance between conductive foil patterns,
(A) A conductive foil pattern through which a current of a high-speed digital signal having a frequency higher than a predetermined value flows is extracted as an inspection target element, and (b) for a signal which is adjacent to the inspection target element in the same conductive foil layer as the inspection target element. In the conductive foil pattern and the conductive foil layer different from the inspection target element, the signal conductive foil pattern adjacent to the inspection target element is extracted as a proximity element, and (c) the shortest distance between the inspection target element and the proximity element is obtained. (D) When the shortest distance is smaller than a predetermined violation distance, the inspection target element or the conductive foil of the proximity element included in the range in which the distance between the inspection target element and the proximity element is shorter than the violation distance. The pattern length is obtained as the proximity pattern length, and (e) if the proximity pattern length is longer than a predetermined violation length, it is detected as a design violation. It is characterized in.

【0009】また、本発明によるコンピュータプログラ
ムは、複数の導電箔層と複数の絶縁層が交互に積層され
た多層プリント配線板の設計をコンピュータ支援によっ
て行う際に、導電箔パターン間の距離をチェックするた
めのコンピュータプログラムであって、(a)所定値よ
り高い周波数の高速ディジタル信号の電流が流れる導電
箔パターンを検査対象要素として抽出し、(b)前記検
査対象要素と同一の導電箔層において前記検査対象要素
に近接する信号用導電箔パターン及び前記検査対象要素
と異なる導電箔層において前記検査対象要素に近接する
信号用導電箔パターンを近接要素として抽出し、(c)
前記検査対象要素と前記近接要素との最短距離を求め、
(d)前記最短距離があらかじめ定めた違反距離より小
さい場合は、前記検査対象要素と前記近接要素との距離
が前記違反距離より短い範囲に含まれる前記検査対象要
素又は前記近接要素の導電箔パターンの長さを近接パタ
ーン長として求め、(e)前記近接パターン長があらか
じめ定めた違反長さより長い場合に設計違反として検出
する処理をコンピュータに実行させることを特徴とす
る。
Further, the computer program according to the present invention checks the distance between the conductive foil patterns when computer-aided design of a multilayer printed wiring board in which a plurality of conductive foil layers and a plurality of insulating layers are alternately laminated. (A) extracting a conductive foil pattern in which a current of a high-speed digital signal having a frequency higher than a predetermined value flows as an inspection target element, and (b) in the same conductive foil layer as the inspection target element. A signal conductive foil pattern adjacent to the inspection target element and a signal conductive foil pattern adjacent to the inspection target element in a conductive foil layer different from the inspection target element are extracted as proximity elements, (c)
Obtaining the shortest distance between the inspection target element and the proximity element,
(D) When the shortest distance is smaller than a predetermined violation distance, the inspection target element or the conductive foil pattern of the proximity element included in a range in which the distance between the inspection target element and the proximity element is shorter than the violation distance. Is calculated as the proximity pattern length, and (e) the computer is caused to execute a process of detecting a design violation when the proximity pattern length is longer than a predetermined violation length.

【0010】上記のようなクリアランスチェック方法及
びコンピュータプログラムによれば、同一層だけでなく
異層間も含めた立体的な導電箔パターン間距離がチェッ
クされ、しかも、2つの導電箔パターンが単に交差して
いる場合は除外して、所定の長さ(違反長さ)より長い
区間で近接している(違反距離より短い)場合にのみク
リアランス違反として検出される。この結果、同一層だ
けでなく異層間も含めた導電箔パターン間のクロストー
クノイズが抑えられる。なお、導電箔パターン間のクリ
アランスチェックにとどまらず、層間の導電接続である
ビアホール(スルーホールともいう)同士のクリアラン
スチェックや導電箔パターンとビアホールとの間のクリ
アランスチェックを含めてもよい。
According to the above-described clearance check method and computer program, the distance between three-dimensional conductive foil patterns including not only the same layer but also different layers is checked, and two conductive foil patterns simply intersect. However, the clearance violation is detected only when the areas are close to each other in a section longer than a predetermined length (violation length) (shorter than the violation distance). As a result, crosstalk noise between the conductive foil patterns including not only the same layer but also different layers can be suppressed. In addition to the clearance check between the conductive foil patterns, a clearance check between via holes (also referred to as through holes) which are conductive connections between layers and a clearance check between the conductive foil patterns and the via holes may be included.

【0011】好ましくは、前記ステップ(c)の後に、
前記検査対象要素と前記近接要素とが互いに異なる導電
箔層に存在し、かつ、前記検査対象要素と前記近接要素
との間に接地電位に接続される接地導電箔要素が存在す
る条件を満たすか否かを判別し、前記条件が満たされる
場合は、前記検査対象要素と前記近接要素との間の距離
を実際より増加する補正、あるいは前記違反距離を減少
する補正を行った後に前記ステップ(d)及び(e)を
実行する。つまり、導電箔パターン間に接地電位に接続
される接地導電箔要素が存在する場合は、導電箔パター
ン間のクロストークノイズが減少することがわかってい
るので、そのような場合に設計違反として検出する基準
を緩めることが好ましい。
Preferably, after the step (c),
Does the condition under which the inspection target element and the proximity element are present in different conductive foil layers and the ground conductive foil element connected to the ground potential is present between the inspection target element and the proximity element is satisfied? If the condition is satisfied, it is determined whether or not the distance between the inspection target element and the adjacent element is increased more than the actual distance or the violation distance is decreased, and then the step (d) is performed. ) And (e) are executed. In other words, it is known that crosstalk noise between conductive foil patterns is reduced when there is a ground conductive foil element that is connected to the ground potential between the conductive foil patterns. It is preferable to loosen the standard.

【0012】上記のようなコンピュータプログラムは、
例えばCD−ROMのようなコンピュータ読み取り可能
な記録媒体に記録されて供給され、パーソナルコンピュ
ータ等にこのコンピュータプログラムをインストールし
て実行させることができる。
The above computer program is
For example, it is supplied by being recorded in a computer-readable recording medium such as a CD-ROM, and this computer program can be installed and executed in a personal computer or the like.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。図1は、本発明に係るプリント基板
CADにおけるクリアランスチェック方法を実施するた
めのコンピュータシステムの例を示すブロック図であ
る。パーソナルコンピュータやワークステーションのよ
うなコンピュータシステムに専用のプリント基板CAD
プログラムをインストールすることによってプリント基
板CADシステムが実現され、その一機能として本発明
のクリアランスチェック方法が実現される。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an example of a computer system for carrying out a clearance check method in a printed circuit board CAD according to the present invention. Printed circuit board CAD dedicated to computer systems such as personal computers and workstations
The printed board CAD system is realized by installing the program, and the clearance check method of the present invention is realized as one function thereof.

【0014】例えば、プリント基板CADプログラムが
記録されたCD−ROM(光ディスク)のような記録媒
体5からドライブ装置4を介してコンピュータ本体1の
補助記憶装置(ハードディスクドライブHDD)13に
チェックプログラムをインストールする。
For example, the check program is installed in the auxiliary storage device (hard disk drive HDD) 13 of the computer main body 1 from the recording medium 5 such as a CD-ROM (optical disk) on which the printed board CAD program is recorded via the drive device 4. To do.

【0015】補助記憶装置13にインストールされたチ
ェックプログラムは、主メモリ12にロードされ、実行
される。コンピュータ本体1は、主メモリ12及び補助
記憶装置13の他に、入力部11及び表示出力部14を
備えている。入力部11にはキーボード、マウス等の入
力装置2が接続され、表示出力部14にはCRT(陰極
線管)、LCD(液晶表示装置)等の表示装置3が接続
されている。
The check program installed in the auxiliary storage device 13 is loaded into the main memory 12 and executed. The computer main body 1 includes an input unit 11 and a display output unit 14 in addition to the main memory 12 and the auxiliary storage device 13. An input device 2 such as a keyboard and a mouse is connected to the input unit 11, and a display device 3 such as a CRT (cathode ray tube) and an LCD (liquid crystal display device) is connected to the display output unit 14.

【0016】補助記憶装置13には、オペレーティング
システム、チェックプログラム等の各種プログラムの他
に、プリント配線板の設計情報やクリアランスチェック
のルール等のデータファイル6が記憶されている。プリ
ント配線板の設計情報には、多層プリント基板の種類、
各層間の厚さ、各信号ラインのネット名、ネット番号等
のネット固有情報(ネット識別情報ともいう)が含まれ
る。
In addition to various programs such as an operating system and a check program, the auxiliary storage device 13 stores a data file 6 such as design information of the printed wiring board and clearance check rules. The printed wiring board design information includes the type of multilayer printed circuit board,
It includes net-specific information (also referred to as net identification information) such as the thickness between layers, the net name of each signal line, and the net number.

【0017】図2は、本発明に係るプリント基板CAD
において実行されるクリアランスチェック処理の第1例
を示すフローチャートである。ステップ#101におい
て、データファイル6から制約条件が読み込まれる。こ
の制約条件には、検査対象とすべき銅箔パターンの条
件、近接パターン間の確保すべき距離(違反距離)、違
反距離より短いパターン間距離の許容されるパターン長
さ(違反長さ)が含まれる。
FIG. 2 is a printed circuit board CAD according to the present invention.
5 is a flowchart showing a first example of a clearance check process executed in. In step # 101, the constraint condition is read from the data file 6. These constraint conditions include the conditions of the copper foil pattern to be inspected, the distance (violation distance) to be secured between adjacent patterns, and the allowable pattern length (violation length) of the inter-pattern distance shorter than the violation distance. included.

【0018】次のステップ#102において、検査対象
要素とすべき銅箔パターンが検索される。プリント配線
板を構成する銅箔パターンは、同一電位であるネット単
位に分離されるが、複雑なプリント配線板ではネットの
数が数千に達する場合がある。これらのネット間の距離
をすべての組み合わせに対して行うとすれば、それに要
する処理時間が長くなりすぎる。そこで、クロストーク
ノイズを発生しやすい高速ディジタル信号のライン(ネ
ット)に絞って検査対象要素を検索(抽出する)。例え
ば、30MHzを超える周波数の信号電流が流れるクロ
ック信号ライン、データバスライン等を検査対象要素と
する。
In the next step # 102, the copper foil pattern to be inspected is searched. The copper foil patterns forming the printed wiring board are separated into nets having the same potential, but the number of nets may reach several thousands in a complicated printed wiring board. If the distances between these nets are set for all combinations, the processing time required for them will be too long. Therefore, the elements to be inspected are searched (extracted) by narrowing down to the line (net) of the high-speed digital signal that easily causes crosstalk noise. For example, a clock signal line, a data bus line, or the like through which a signal current having a frequency exceeding 30 MHz flows is an inspection target element.

【0019】検査対象要素の指定方法として、3種類の
方法を使用することができる。第1の指定方法では、ネ
ット名又はネット番号を用いて検査対象要素を指定す
る。外部ファイル(データファイル)6に、検査対象と
すべきネットの識別情報(ネット名、ネット番号等のネ
ット固有情報)を記載しておく。
Three types of methods can be used as the method of designating the element to be inspected. In the first specification method, the inspection target element is specified by using the net name or the net number. In the external file (data file) 6, the identification information (net unique information such as net name and net number) of the net to be inspected is described.

【0020】第2の指定方法では、ネット種別を用いて
検査対象要素を指定する。つまり、外部ファイル(デー
タファイル)6に、検査対象とすべきネットの種別(ク
ロック、データバス等)に関する情報を記載しておく。
In the second designating method, the element to be inspected is designated using the net type. That is, the external file (data file) 6 has information about the type of the net to be inspected (clock, data bus, etc.).

【0021】第3の指定方法では、プリント配線板に実
装される部品(IC等)の品番やピン番号を用いて検査
対象要素を指定する。つまり、これらの情報を外部ファ
イル(データファイル)6に記載しておき、該当する部
品のピン番号に接続されるネットを検査対象要素として
抽出する。
In the third designating method, the element to be inspected is designated by using the product number or pin number of the component (IC or the like) mounted on the printed wiring board. That is, these pieces of information are described in the external file (data file) 6, and the net connected to the pin number of the corresponding component is extracted as the inspection target element.

【0022】次のステップ#103において、検査対象
要素に近接する銅箔パターン(近接要素)を検索し、検
査対象要素と近接要素との最短距離dを算出する。この
際、検査対象要素と同じ銅箔層における近接要素だけで
なく、検査対象要素と異なる銅箔層の近接要素も検索し
て最短距離dを算出する。同一層内での最短距離dは、
単に二次元平面内での距離情報から算出される。
In the next step # 103, the copper foil pattern (proximity element) adjacent to the inspection target element is searched, and the shortest distance d between the inspection target element and the proximity element is calculated. At this time, not only the proximity element in the same copper foil layer as the inspection target element but also the proximity element in the copper foil layer different from the inspection target element are searched to calculate the shortest distance d. The shortest distance d in the same layer is
It is simply calculated from the distance information in the two-dimensional plane.

【0023】異層間での最短距離dは、平面視での距離
情報と層間の厚さ情報(層厚情報)からピタゴラスの定
理によって求めることができる。層厚情報は、プリント
基板の種類に関する情報と共にデータファイル6として
補助記憶装置13に記憶されている。6層ビルドアップ
基板の場合の層厚情報の例を図3に示す。
The shortest distance d between different layers can be obtained by the Pythagorean theorem from the distance information in plan view and the thickness information (layer thickness information) between layers. The layer thickness information is stored in the auxiliary storage device 13 as the data file 6 together with the information regarding the type of the printed circuit board. FIG. 3 shows an example of layer thickness information in the case of a 6-layer build-up board.

【0024】次のステップ#104では、上記の最短距
離dがあらかじめ定めた違反距離より小さいか否かをチ
ェックする。最短距離dが違反距離より小さくない場合
は問題なしとしてステップ#103に戻り次の近接要素
を検索する。最短距離dが違反距離より小さい場合は、
次のステップ#105に移行する。なお、異層間での最
短距離dの場合は、平面視での距離が違反距離より大き
ければ層厚を含めた三次元での距離は更に大きくなる。
したがって、ステップ#103の最短距離dの算出ステ
ップの中で、平面視での距離が違反距離より大きければ
問題なしとして次の近接要素の検索に移行することが可
能である。
In the next step # 104, it is checked whether or not the above-mentioned shortest distance d is smaller than a predetermined violation distance. If the shortest distance d is not smaller than the violation distance, it is determined that there is no problem and the process returns to step # 103 to search for the next adjacent element. If the shortest distance d is smaller than the violation distance,
Then, the process proceeds to step # 105. In the case of the shortest distance d between different layers, if the distance in plan view is larger than the violation distance, the three-dimensional distance including the layer thickness is further increased.
Therefore, in the step of calculating the shortest distance d in step # 103, if the distance in plan view is larger than the violation distance, there is no problem and it is possible to shift to the search for the next adjacent element.

【0025】ステップ#105では、近接パターン長L
を求める。近接パターン長は、検査対象要素と近接要素
との距離が違反距離より短い範囲に含まれる検査対象要
素又は近接要素の銅箔パターンの長さを意味する。
In step # 105, the proximity pattern length L
Ask for. The proximity pattern length means the length of the copper foil pattern of the inspection target element or the proximity element included in the range where the distance between the inspection target element and the proximity element is shorter than the violation distance.

【0026】図4は、異層間での銅箔パターン間の最短
距離d及び近接パターン長Lの例を示す模式図である。
この例では、上側の層に形成された銅箔パターンP1と
下側の層に形成された銅箔パターンP2が長さLにわた
って最短距離dで対向している(平行に延びている)。
したがって、最短距離dが違反距離より小さい場合は、
長さLが近接パターン長に相当することになる。
FIG. 4 is a schematic diagram showing an example of the shortest distance d between adjacent copper foil patterns and the adjacent pattern length L between different layers.
In this example, the copper foil pattern P1 formed in the upper layer and the copper foil pattern P2 formed in the lower layer face each other over the length L at the shortest distance d (extend in parallel).
Therefore, when the shortest distance d is smaller than the violation distance,
The length L corresponds to the proximity pattern length.

【0027】なお、この例では最短距離dは銅箔パター
ンP1の銅箔層と銅箔パターンP2の銅箔層との層間隔
(層厚)に等しい。つまり、平面視で銅箔パターンP1
と銅箔パターンP2とが長さLにわたって重なり合って
いる。平面視で銅箔パターンP1と銅箔パターンP2と
が重なり合わずに、距離d1だけずれた状態で互いに平
行に延びている場合は、銅箔パターンP1と銅箔パター
ンP2との最短距離d’は層厚をtとすると、ピタゴラ
スの定理により、d’=(t2+d121/2となる。
In this example, the shortest distance d is equal to the layer interval (layer thickness) between the copper foil layer of the copper foil pattern P1 and the copper foil layer of the copper foil pattern P2. That is, the copper foil pattern P1 in plan view
And the copper foil pattern P2 overlap each other over the length L. When the copper foil pattern P1 and the copper foil pattern P2 do not overlap each other in a plan view and extend parallel to each other with a distance d1 from each other, the shortest distance d ′ between the copper foil pattern P1 and the copper foil pattern P2. When the layer thickness is t, d ′ = (t 2 + d1 2 ) 1/2 according to the Pythagorean theorem.

【0028】次のステップ#106において、近接パタ
ーン長Lがあらかじめ定めた違反長さより長いか否かを
チェックする。近接パターン長Lが違反長さより長くな
い場合は問題なしとしてステップ#103に戻り次の近
接要素を検索する。近接パターン長Lが違反長さより長
い場合はステップ#107で違反レポートに記録する。
これにより、例えば検査対象要素の銅箔パターンと近接
要素の銅箔パターンが単に交差しているような場合は、
最短距離dが違反距離より小さくても問題なしと判断さ
れる。このような場合は、クロストークノイズが発生し
にくいからである。つまり、ある程度の長さ(違反長さ
以上)にわたって2つの銅箔パターンが近接してほぼ平
行に延びているときに、両者間のクロストークノイズが
発生しやすくなる。
In the next step # 106, it is checked whether or not the proximity pattern length L is longer than a predetermined violation length. If the proximity pattern length L is not longer than the violation length, it is determined that there is no problem and the process returns to step # 103 to search for the next proximity element. If the proximity pattern length L is longer than the violation length, it is recorded in the violation report in step # 107.
Thereby, for example, when the copper foil pattern of the inspection target element and the copper foil pattern of the adjacent element simply intersect,
Even if the shortest distance d is smaller than the violation distance, it is determined that there is no problem. This is because in such a case, crosstalk noise is unlikely to occur. That is, when the two copper foil patterns are close to each other and extend substantially parallel to each other over a certain length (violation length or more), crosstalk noise between them is likely to occur.

【0029】次のステップ#108では、現在の検査対
象要素に関してすべての近接要素のチェックを終了した
か否かをチェックする。すべての近接要素のチェックを
終了するまでステップ#103からステップ#108の
処理が繰り返される。
In the next step # 108, it is checked whether or not all the adjacent elements have been checked for the current inspection target element. The processing from step # 103 to step # 108 is repeated until the check of all the proximity elements is completed.

【0030】すべての近接要素のチェックが終了すれ
ば、次のステップ#109において、すべての検査対象
要素のチェックを終了したか否かをチェックする。すべ
ての検査対象要素のチェックを終了するまでステップ#
102からステップ#109の処理が繰り返される。す
べての検査対象要素のチェックが終了すれば、ステップ
#110で違反レポートを出力してクリアランスチェッ
ク処理を終了する。
When all the adjacent elements have been checked, it is checked in the next step # 109 whether all the check target elements have been checked. Step through until you have checked all the inspected elements #
The processing from step 102 to step # 109 is repeated. When all the inspection target elements have been checked, a violation report is output in step # 110 and the clearance check processing is ended.

【0031】図5は、本発明に係るプリント基板CAD
において実行されるクリアランスチェック処理の第2例
を示すフローチャートである。この例では、図2に示し
た第1例のフローチャートにおいて、ステップ#103
とステップ#104との間に、ステップ#151からス
テップ#153の処理が追加されている。
FIG. 5 is a printed circuit board CAD according to the present invention.
6 is a flowchart showing a second example of the clearance check process executed in. In this example, step # 103 in the flowchart of the first example shown in FIG.
Between step # 104 and step # 104, the processing from step # 151 to step # 153 is added.

【0032】すてなわち、ステップ#103で検査対象
要素と近接要素との最短距離dを算出した後、ステップ
#151では検査対象要素と近接要素とが同一の銅箔層
にあるか否かをチェックする。同一の銅箔層にある場合
は、そのままステップ#104に移行するので、図2に
示した第1例となんら変わらない。
That is, after calculating the shortest distance d between the inspection target element and the proximity element in step # 103, it is determined in step # 151 whether the inspection target element and the proximity element are on the same copper foil layer. Check. If they are in the same copper foil layer, the process proceeds to step # 104 as they are, so there is no difference from the first example shown in FIG.

【0033】同一の銅箔層にない場合、つまり検査対象
要素と近接要素とが互いに異なる銅箔層に存在する場合
は、ステップ#152で検査対象要素と近接要素との間
に接地銅箔要素が存在するか否かをチェックする。接地
銅箔要素とは、接地電位に接続される銅箔を意味する。
If they are not in the same copper foil layer, that is, if the element to be inspected and the adjacent element are in different copper foil layers, the ground copper foil element is placed between the element to be inspected and the adjacent element in step # 152. Check if exists. By grounded copper foil element is meant a copper foil that is connected to ground potential.

【0034】図6は、異層間での銅箔パターン間に接地
銅箔要素が存在する場合の例を示す模式図である。この
例では、上側の層に形成された銅箔パターンP1と下側
の層に形成された銅箔パターンP2が長さLにわたって
最短距離dで対向しており、その間に接地銅箔要素P3
が存在する。
FIG. 6 is a schematic diagram showing an example in which a grounding copper foil element is present between copper foil patterns between different layers. In this example, the copper foil pattern P1 formed on the upper layer and the copper foil pattern P2 formed on the lower layer are opposed to each other at the shortest distance d over the length L, and the ground copper foil element P3 is provided therebetween.
Exists.

【0035】接地銅箔要素が存在する場合は、検査対象
要素と近接要素との間のクロストークノイズが接地銅箔
要素によって低減される効果が得られる。そこで、この
場合はステップ#153において、最短距離dに1より
大きい補正係数kを掛けて得られる値を新たな最短距離
dとする補正が行われる。すなわち、クリアランス違反
の判定条件を緩和する補正が行われる。検査対象要素と
近接要素との間に接地銅箔要素が存在しない場合は、そ
のままステップ#104に移行する。
If a grounded copper foil element is present, the effect is that crosstalk noise between the element under test and the adjacent element is reduced by the grounded copper foil element. Therefore, in this case, in step # 153, correction is performed by setting the value obtained by multiplying the shortest distance d by the correction coefficient k larger than 1 as the new shortest distance d. That is, the correction for relaxing the clearance violation determination condition is performed. If the ground copper foil element does not exist between the inspection target element and the adjacent element, the process directly proceeds to step # 104.

【0036】なお、最短距離dに1より大きい補正係数
kを掛ける補正の代わりに、違反距離を1より大きい補
正係数kで除する補正を行ってもよい。あるいは、1よ
り小さい補正係数で最短距離dを除する補正、又は1よ
り小さい補正係数を違反係数に掛ける補正を行ってもよ
い。乗除算による補正の代わりに最短距離d又は違反距
離に所定の補正量を加減算する補正を行ってもよい。要
は、いずれかの補正演算でクリアランス違反の判定条件
を緩和すればよい。また、近接パターン長Lを短くする
補正や違反距離を長くする補正をクリアランス違反の判
定条件を緩和する補正として採用してもよい。
Instead of multiplying the shortest distance d by a correction coefficient k greater than 1, correction may be performed by dividing the violation distance by a correction coefficient k greater than 1. Alternatively, a correction for dividing the shortest distance d by a correction coefficient smaller than 1 or a correction for multiplying the violation coefficient by a correction coefficient smaller than 1 may be performed. Instead of correction by multiplication / division, correction may be performed by adding or subtracting a predetermined correction amount to the shortest distance d or the violation distance. In short, the correction condition for the clearance violation may be relaxed by any correction calculation. Further, the correction for shortening the proximity pattern length L or the correction for increasing the violation distance may be adopted as the correction for relaxing the determination condition for the clearance violation.

【0037】クリアランス違反の判定条件を緩和する条
件として、検査対象要素と近接要素との間に存在する接
地銅箔要素の面積が所定値以上であることを加えてもよ
い。面積が小さい場合は、検査対象要素と近接要素との
間のクロストークノイズを低減する効果がほとんど得ら
れないか、無視できるほど小さいからである。
As a condition for relaxing the clearance violation determination condition, it may be added that the area of the grounding copper foil element existing between the inspection target element and the adjacent element is equal to or larger than a predetermined value. This is because when the area is small, the effect of reducing crosstalk noise between the inspected element and the adjacent element is hardly obtained or is negligibly small.

【0038】図7は、上述のようなクリアランスチェッ
ク条件を指定する記述例を示す図表である。図7におい
て、例1の記述例は、ネット名(信号名)「DATA
0」の銅箔パターンとネット名「DATA1」の銅箔パ
ターンとの距離を検査し、0.2mmが確保されている
か否かを判定する場合である。すなわち、検査対象要素
及び近接要素が「DATA0」及び「DATA1」であ
り、違反距離が0.2mmの場合に相当する。
FIG. 7 is a table showing a description example for designating the clearance check condition as described above. In FIG. 7, the description example of Example 1 is the net name (signal name) “DATA
This is a case where the distance between the copper foil pattern of "0" and the copper foil pattern of the net name "DATA1" is inspected to determine whether or not 0.2 mm is secured. That is, this corresponds to the case where the inspection target element and the proximity element are “DATA0” and “DATA1” and the violation distance is 0.2 mm.

【0039】例2の記述例では、「DATA」で始まる
ネット名の銅箔パターン同士の距離を検査し、0.2m
mが確保されているか否かを判定する。そして、2つの
銅箔パターンが異なる銅箔層に存在し、その間に接地銅
箔要素が存在する場合は、違反距離が0.2mmから
0.18mmに緩和される。
In the description example of Example 2, the distance between the copper foil patterns having a net name starting with "DATA" is inspected, and the distance is 0.2 m.
It is determined whether or not m is secured. And if the two copper foil patterns are on different copper foil layers with a ground copper foil element in between, the violation distance is mitigated from 0.2 mm to 0.18 mm.

【0040】例3の記述例では、「CLK」で始まるネ
ット名の銅箔パターンと他の任意の銅箔パターンとの距
離を検査し、0.2mmが確保されているか否かを判定
する。そして、2つの銅箔パターンが異なる銅箔層に存
在し、その間に接地銅箔要素が存在する場合は、違反距
離が0.2mmから5%だけ緩和され0.19mmにな
る。また、違反長さは30mmであり、30mmを超え
る長さにわたって2つの銅箔パターン間の距離が違反距
離より短い場合にクリアランス違反と判定される。
In the description example of Example 3, the distance between the copper foil pattern having the net name starting with "CLK" and another arbitrary copper foil pattern is inspected to determine whether or not 0.2 mm is secured. Then, if the two copper foil patterns are on different copper foil layers with a ground copper foil element in between, the violation distance is mitigated by 5% from 0.2 mm to 0.19 mm. Further, the violation length is 30 mm, and if the distance between the two copper foil patterns is shorter than the violation distance over the length exceeding 30 mm, it is determined that the clearance is in violation.

【0041】例4の記述例では、ネット種別が「DAT
A」である銅箔パターンと他の任意の銅箔パターンとの
距離を検査し、0.2mmが確保されているか否かを判
定する。
In the description example of Example 4, the net type is "DAT.
The distance between the copper foil pattern “A” and any other copper foil pattern is inspected to determine whether 0.2 mm is secured.

【0042】例5の記述例では、部品名「PENTIU
M(登録商標)3」のピン番号112番に接続される信
号ラインの銅箔パターンとネット種別が「DATA」で
ある銅箔パターンとの距離を検査し、0.2mmが確保
されているか否かを判定する。そして、2つの銅箔パタ
ーンが異なる銅箔層に存在し、その間に接地銅箔要素が
存在する場合は、違反距離が0.2mmから0.18m
mに緩和される。
In the description example of Example 5, the part name "PENTIU
The distance between the copper foil pattern of the signal line connected to the pin number 112 of "M (registered trademark) 3" and the copper foil pattern of which the net type is "DATA" is inspected, and whether 0.2 mm is secured or not. To determine. And if the two copper foil patterns are on different copper foil layers and there is a ground copper foil element between them, the violation distance is from 0.2 mm to 0.18 m.
relaxed to m.

【0043】なお、上記の実施形態では、検査対象要素
及び近接要素が共に銅箔パターンである場合に絞って説
明した。しかし、本発明のクリアランスチェック方法を
実施するに際して、銅箔パターン間のクリアランスチェ
ックにとどまらず、層間の導電接続であるビアホール
(スルーホールともいう)同士のクリアランスチェック
や銅箔パターンとビアホールとの間のクリアランスチェ
ックを含めてもよい。更には、プリント配線板に実装さ
れるジャンパ線も含めてクリアランスチェックを実施し
てもよい。また、銅箔パターン以外の導電箔、例えば金
や銀、アルミニウム等の金属を用いた導電箔パターンの
場合も同様に、本発明のクリアランスチェック方法を適
用することができる。
In the above embodiment, the case where both the inspection target element and the proximity element are copper foil patterns has been described. However, when carrying out the clearance check method of the present invention, not only the clearance check between copper foil patterns but also the clearance check between via holes (also referred to as through holes) that are conductive connections between layers and between copper foil patterns and via holes are performed. Clearance check may be included. Furthermore, the clearance check may be performed including the jumper wires mounted on the printed wiring board. Further, the clearance check method of the present invention can also be applied to the conductive foil pattern other than the copper foil pattern, for example, the conductive foil pattern using a metal such as gold, silver or aluminum.

【0044】以上、本発明の実施形態をいくつかの具体
例を示しながら説明したが、本発明は上記の実施形態に
限らず、種々の形態で実施することができる。
Although the embodiment of the present invention has been described with reference to some specific examples, the present invention is not limited to the above embodiment and can be implemented in various forms.

【0045】[0045]

【発明の効果】以上に説明したように、本発明のプリン
ト基板CADにおけるクリアランスチェック方法及びコ
ンピュータプログラムによれば、同一の銅箔層における
銅箔パターン間距離だけでなく互いに異なる銅箔層に存
在する銅箔パターン間の距離を含めた立体的な銅箔パタ
ーン間距離がチェックされ、しかも、2つの銅箔パター
ンが単に交差している場合は除外して、所定の長さより
長い区間で近接している場合にのみクリアランス違反と
して検出される。この結果、同一層だけでなく異層間も
含めた銅箔パターン間のクロストークノイズが抑えられ
る。
As described above, according to the clearance check method and the computer program for the printed circuit board CAD of the present invention, not only the distance between the copper foil patterns in the same copper foil layer but also the different copper foil layers exist. The distance between three-dimensional copper foil patterns including the distance between the copper foil patterns to be checked is checked, and if two copper foil patterns are simply intersecting, the distance is longer than the specified length. Is detected as a clearance violation. As a result, crosstalk noise between copper foil patterns including not only the same layer but also different layers can be suppressed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係るプリント基板CADにおけるクリ
アランスチェック方法を実施するためのコンピュータシ
ステムの例を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an example of a computer system for implementing a clearance check method in a printed circuit board CAD according to the present invention.

【図2】本発明に係るプリント基板CADにおいて実行
されるクリアランスチェック処理の第1例を示すフロー
チャートである。
FIG. 2 is a flowchart showing a first example of a clearance check process executed in the printed circuit board CAD according to the present invention.

【図3】6層ビルドアップ基板の場合の層厚情報の例を
示す図表である。
FIG. 3 is a chart showing an example of layer thickness information in the case of a 6-layer build-up board.

【図4】異層間での銅箔パターン間の最短距離及び近接
パターン長の例を示す模式図である。
FIG. 4 is a schematic view showing an example of a shortest distance between copper foil patterns and different pattern lengths between different layers.

【図5】本発明に係るプリント基板CADにおいて実行
されるクリアランスチェック処理の第2例を示すフロー
チャートである。
FIG. 5 is a flowchart showing a second example of clearance check processing executed in the printed circuit board CAD according to the present invention.

【図6】異層間での銅箔パターン間に接地銅箔要素が存
在する場合の例を示す模式図である。
FIG. 6 is a schematic diagram showing an example in which a grounding copper foil element is present between copper foil patterns between different layers.

【図7】クリアランスチェック条件を指定する記述例を
示す図表である。
FIG. 7 is a chart showing a description example that specifies clearance check conditions.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

d 最短距離 L 近接パターン長 P1 第1の銅箔パターン(検査対象要素又は近接要
素) P2 第2の銅箔パターン(検査対象要素又は近接要
素) P3 接地銅箔要素
d Shortest distance L Proximity pattern length P1 First copper foil pattern (inspection target element or proximity element) P2 Second copper foil pattern (inspection target element or proximity element) P3 Grounding copper foil element

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 牧野 良二 福岡県福岡市早良区百道浜2丁目2番1号 株式会社富士通九州システムエンジニア リング内 (72)発明者 三輪 昇平 兵庫県神戸市兵庫区御所通1丁目2番28号 富士通テン株式会社内 Fターム(参考) 5B046 AA08 BA06 JA01 5E346 AA12 AA15 AA35 BB02 BB03 BB04 BB06 GG12 GG31 HH01   ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Ryoji Makino             2-2-1 Hyakudohama, Sawara-ku, Fukuoka, Fukuoka               Fujitsu Kyushu System Engineer Co., Ltd.             In the ring (72) Inventor Shohei Miwa             1-228 Goshodori, Hyogo-ku, Kobe-shi, Hyogo               Within Fujitsu Ten Limited F-term (reference) 5B046 AA08 BA06 JA01                 5E346 AA12 AA15 AA35 BB02 BB03                       BB04 BB06 GG12 GG31 HH01

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】複数の導電箔層と複数の絶縁層が交互に積
層された多層プリント配線板の設計をコンピュータ支援
によって行う際に、導電箔パターン間の距離をチェック
する方法であって、 (a)所定値より高い周波数の高速ディジタル信号の電
流が流れる導電箔パターンを検査対象要素として抽出
し、 (b)前記検査対象要素と同一の導電箔層において前記
検査対象要素に近接する信号用導電箔パターン及び前記
検査対象要素と異なる導電箔層において前記検査対象要
素に近接する信号用導電箔パターンを近接要素として抽
出し、 (c)前記検査対象要素と前記近接要素との最短距離を
求め、 (d)前記最短距離があらかじめ定めた違反距離より小
さい場合は、前記検査対象要素と前記近接要素との距離
が前記違反距離より短い範囲に含まれる前記検査対象要
素又は前記近接要素の導電箔パターンの長さを近接パタ
ーン長として求め、 (e)前記近接パターン長があらかじめ定めた違反長さ
より長い場合に設計違反として検出することを特徴とす
るプリント基板CADにおけるクリアランスチェック方
法。
1. A method of checking a distance between conductive foil patterns when designing a multilayer printed wiring board in which a plurality of conductive foil layers and a plurality of insulating layers are alternately laminated by computer assistance, comprising: a) A conductive foil pattern through which a current of a high-speed digital signal having a frequency higher than a predetermined value flows is extracted as an element to be inspected, and (b) Conduction for signals that is adjacent to the element to be inspected in the same conductive foil layer as the element to be inspected Extracting a signal conductive foil pattern close to the inspection target element in a foil pattern and a conductive foil layer different from the inspection target element as a proximity element, (c) obtaining a shortest distance between the inspection target element and the proximity element, (D) If the shortest distance is smaller than a predetermined violation distance, the distance between the inspection target element and the adjacent element is included in a range shorter than the violation distance. The length of the conductive foil pattern of the inspection target element or the proximity element to be obtained is determined as a proximity pattern length, and (e) the design violation is detected when the proximity pattern length is longer than a predetermined violation length. Clearance check method in printed circuit board CAD.
【請求項2】前記ステップ(c)の後に、前記検査対象
要素と前記近接要素とが互いに異なる導電箔層に存在
し、かつ、前記検査対象要素と前記近接要素との間に接
地電位に接続される接地導電箔要素が存在する条件を満
たすか否かを判別し、前記条件が満たされる場合は、前
記検査対象要素と前記近接要素との間の距離を実際より
増加する補正、あるいは前記違反距離を減少する補正を
行った後に前記ステップ(d)及び(e)を実行するこ
とを特徴とする請求項1記載のプリント基板CADにお
けるクリアランスチェック方法。
2. After the step (c), the element to be inspected and the proximity element are present in different conductive foil layers, and are connected to the ground potential between the element to be inspected and the proximity element. It is determined whether or not the ground conductive foil element to be satisfied satisfies the condition, and if the condition is satisfied, a correction for increasing the distance between the inspection target element and the adjacent element from the actual value, or the violation. The clearance check method in a printed circuit board CAD according to claim 1, wherein the steps (d) and (e) are executed after the correction for reducing the distance is performed.
【請求項3】複数の導電箔層と複数の絶縁層が交互に積
層された多層プリント配線板の設計をコンピュータ支援
によって行う際に、導電箔パターン間の距離をチェック
するためのコンピュータプログラムであって、 (a)所定値より高い周波数の高速ディジタル信号の電
流が流れる導電箔パターンを検査対象要素として抽出
し、 (b)前記検査対象要素と同一の導電箔層において前記
検査対象要素に近接する信号用導電箔パターン及び前記
検査対象要素と異なる導電箔層において前記検査対象要
素に近接する信号用導電箔パターンを近接要素として抽
出し、 (c)前記検査対象要素と前記近接要素との最短距離を
求め、 (d)前記最短距離があらかじめ定めた違反距離より小
さい場合は、前記検査対象要素と前記近接要素との距離
が前記違反距離より短い範囲に含まれる前記検査対象要
素又は前記近接要素の導電箔パターンの長さを近接パタ
ーン長として求め、 (e)前記近接パターン長があらかじめ定めた違反長さ
より長い場合に設計違反として検出する処理をコンピュ
ータに実行させることを特徴とするコンピュータプログ
ラム。
3. A computer program for checking a distance between conductive foil patterns when a computer-aided design of a multilayer printed wiring board in which a plurality of conductive foil layers and a plurality of insulating layers are alternately laminated is performed. (A) A conductive foil pattern through which a current of a high-speed digital signal having a frequency higher than a predetermined value flows is extracted as an inspection target element, and (b) is adjacent to the inspection target element in the same conductive foil layer as the inspection target element. A signal conductive foil pattern and a signal conductive foil pattern adjacent to the inspection target element in a conductive foil layer different from the inspection target element are extracted as a proximity element, and (c) the shortest distance between the inspection target element and the proximity element. (D) If the shortest distance is smaller than a predetermined violation distance, the distance between the inspection target element and the adjacent element is the difference. The length of the conductive foil pattern of the inspection target element or the proximity element included in the range shorter than the anti-distance is determined as the proximity pattern length, and (e) it is a design violation when the proximity pattern length is longer than a predetermined violation length. A computer program that causes a computer to execute a process of detecting.
【請求項4】前記ステップ(c)と前記ステップ(d)
との間に、前記検査対象要素と前記近接要素とが互いに
異なる導電箔層に存在し、かつ、前記検査対象要素と前
記近接要素との間に接地電位に接続される接地導電箔要
素が存在する条件を満たすか否かを判別し、前記条件が
満たされる場合は、前記検査対象要素と前記近接要素と
の間の距離を実際より増加する補正、あるいは前記違反
距離を減少する補正を行うステップを更に有することを
特徴とする請求項3記載のコンピュータプログラム。
4. The step (c) and the step (d)
Between the element to be inspected and the adjacent element are in different conductive foil layers, and there is a ground conductive foil element connected to the ground potential between the element to be inspected and the adjacent element. Determining whether or not the condition is satisfied, and if the condition is satisfied, performing a correction to increase the distance between the inspection target element and the adjacent element from the actual value or a correction to decrease the violation distance. The computer program according to claim 3, further comprising:
【請求項5】複数の導電箔層と複数の絶縁層が交互に積
層された多層プリント配線板の設計をコンピュータ支援
によって行う際に、導電箔パターン間の距離をチェック
するためのコンピュータプログラムが記録された記録媒
体であって、 (a)所定値より高い周波数の高速ディジタル信号の電
流が流れる導電箔パターンを検査対象要素として抽出
し、 (b)前記検査対象要素と同一の導電箔層において前記
検査対象要素に近接する信号用導電箔パターン及び前記
検査対象要素と異なる導電箔層において前記検査対象要
素に近接する信号用導電箔パターンを近接要素として抽
出し、 (c)前記検査対象要素と前記近接要素との最短距離を
求め、 (d)前記最短距離があらかじめ定めた違反距離より小
さい場合は、前記検査対象要素と前記近接要素との距離
が前記違反距離より短い範囲に含まれる前記検査対象要
素又は前記近接要素の導電箔パターンの長さを近接パタ
ーン長として求め、 (e)前記近接パターン長があらかじめ定めた違反長さ
より長い場合に設計違反として検出する処理をコンピュ
ータに実行させるためのコンピュータプログラムが記録
されていることを特徴とするコンピュータ読み取り可能
な記録媒体。
5. A computer program for checking the distance between conductive foil patterns when computer-aided design of a multilayer printed wiring board in which a plurality of conductive foil layers and a plurality of insulating layers are alternately laminated is recorded. (A) a conductive foil pattern through which a current of a high-speed digital signal having a frequency higher than a predetermined value flows is extracted as an inspection target element, and (b) the same conductive foil layer as the inspection target element is used. The signal conductive foil pattern adjacent to the inspection target element and the signal conductive foil pattern adjacent to the inspection target element in a conductive foil layer different from the inspection target element are extracted as the adjacent elements, and (c) the inspection target element and the above (D) If the shortest distance is smaller than a predetermined violation distance, the inspection target element and the proximity are obtained. The length of the conductive foil pattern of the inspection target element or the proximity element included in the range in which the distance to the element is shorter than the violation distance is determined as the proximity pattern length, and (e) the proximity pattern length is determined from the predetermined violation length. A computer-readable recording medium having recorded thereon a computer program for causing a computer to execute a process of detecting a design violation when it is long.
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