JP2003212685A - Thin film forming method, electronic device fabricating method and thin film forming apparatus - Google Patents

Thin film forming method, electronic device fabricating method and thin film forming apparatus

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JP2003212685A
JP2003212685A JP2002295160A JP2002295160A JP2003212685A JP 2003212685 A JP2003212685 A JP 2003212685A JP 2002295160 A JP2002295160 A JP 2002295160A JP 2002295160 A JP2002295160 A JP 2002295160A JP 2003212685 A JP2003212685 A JP 2003212685A
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for crystallizing a very small amount of solution disposed in the prescribed position on a substrate. <P>SOLUTION: Liquid droplets of the solution in which a thin film forming material is dissolved are arranged on the substrate by ejecting the solution by an ink-jet method. Crystalline nuclei are produced in the solution by controlling a partial pressure of a gas having the same component as that of the solvent in the vicinity of the liquid droplets just after being arranged to a value equal to or almost equal to the saturated vapor pressure, for example. After the crystalline nuclei are produced, the partial pressure of the gas in the vicinity of the liquid droplets is lowered to 1/10 to 1/100 for the saturated vapor pressure, for example. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、薄膜形成材料が溶
媒に溶解している溶液の液滴を基板上に配置する工程を
有する薄膜の形成方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for forming a thin film, which has a step of disposing droplets of a solution in which a thin film forming material is dissolved in a solvent on a substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、有機薄膜(有機物からなる薄膜)
を機能性薄膜として有する電子デバイスが注目されてお
り、代表的なものとして有機EL装置が挙げられる。有
機EL装置の発光層として使用される有機薄膜として
は、例えば真空蒸着法で形成されたAlq3(キノリノ
ール−アルミニウム錯体)からなる薄膜が挙げられる。
この薄膜は、通常の真空蒸着法で形成されると、結晶状
態ではなくアモルファス状態で得られる。
2. Description of the Related Art In recent years, organic thin films (thin films made of organic substances)
An electronic device that has as a functional thin film is drawing attention, and a typical example thereof is an organic EL device. Examples of the organic thin film used as the light emitting layer of the organic EL device include a thin film made of Alq3 (quinolinol-aluminum complex) formed by a vacuum deposition method.
When this thin film is formed by the usual vacuum evaporation method, it is obtained in an amorphous state instead of a crystalline state.

【0003】フラーレンからなる層を下地層として設け
ることにより、真空蒸着法で結晶性のAlq3薄膜が得
られることは公知である(例えば、特許文献1参照)。
また、この方法で形成された結晶性Alq3薄膜を発光
層とすることによって、通常の真空蒸着法で形成された
Alq3薄膜を用いた場合よりも、有機EL装置の発光
効率が向上できると記載されている。
It is known that a crystalline Alq3 thin film can be obtained by a vacuum vapor deposition method by providing a fullerene layer as an underlayer (see, for example, Patent Document 1).
Further, it is described that by using the crystalline Alq3 thin film formed by this method as a light emitting layer, the luminous efficiency of the organic EL device can be improved as compared with the case of using the Alq3 thin film formed by a normal vacuum deposition method. ing.

【0004】[0004]

【特許文献1】特開平10−41070号公報[Patent Document 1] Japanese Unexamined Patent Publication No. 10-41070

【0005】また、液相プロセスで結晶性有機薄膜が形
成された例もあり、例えば、材料によっては、有機物の
溶液をスピンコート法で塗布する方法で、結晶性有機薄
膜を形成できることも発表されている。その材料として
は、α−セキチオフェン、ヘキサデカフルオロ銅フタロ
シアニン、ナフタレンテトラカルボキシルジイミド等が
挙げられる。
There is also an example in which a crystalline organic thin film is formed by a liquid phase process. For example, depending on the material, it is also announced that a crystalline organic thin film can be formed by applying a solution of an organic substance by spin coating. ing. Examples of the material include α-sekithiophene, hexadecafluorocopper phthalocyanine, naphthalene tetracarboxylic diimide, and the like.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】一方、多くの電子デバ
イスでは、機能性薄膜がパターニングされて使用される
が、結晶性有機薄膜をフォトリソグラフィ工程とエッチ
ング工程からなる通常のパターニング方法でパターニン
グすることは、有機物のレジスト耐性が低いために困難
である。前述の結晶性有機薄膜でも、各結晶性有機薄膜
が記載されている文献にパターニング法についての記載
はない。また、結晶の完全性は物性に直接反映される
が、前記各文献にはそれについての詳細な記述もない。
したがって、現時点では、パターニングされた結晶性有
機薄膜を任意の材料で得ることのできる方法は存在しな
いと言うことができる。
On the other hand, in many electronic devices, a functional thin film is patterned and used. However, a crystalline organic thin film is patterned by a general patterning method including a photolithography process and an etching process. Is difficult because the resist resistance of organic substances is low. Even in the above-mentioned crystalline organic thin film, there is no description of the patterning method in the literature describing each crystalline organic thin film. Further, although the crystal perfection is directly reflected in the physical properties, there is no detailed description about it in the above-mentioned documents.
Therefore, at present, it can be said that there is no method capable of obtaining a patterned crystalline organic thin film with any material.

【0007】これに対して、インクジェット法で基板上
の所定位置に極少量の有機物の溶液を配置し、この配置
された溶液を結晶化できれば、パターン状の結晶性有機
薄膜を基板上に容易に形成できる。また、この方法で
は、溶液化可能な全ての材料について結晶性薄膜を形成
できるようになり、さらに、原理的には完全な結晶(単
結晶)を作ることが可能になる。
On the other hand, if a very small amount of organic solution is placed at a predetermined position on the substrate by the ink jet method and the placed solution can be crystallized, a patterned crystalline organic thin film can be easily formed on the substrate. Can be formed. In addition, this method makes it possible to form a crystalline thin film for all materials that can be solubilized, and further, in principle, it becomes possible to form a perfect crystal (single crystal).

【0008】本発明は、このような点に着目してなされ
たものであり、基板上の所定位置に配置された極少量の
溶液を結晶化させることのできる方法を提供することに
より、インクジェット法でパターン状の結晶性薄膜を基
板上に容易に形成できるようにすることを目的とする。
The present invention has been made paying attention to such a point, and provides an ink jet method by providing a method capable of crystallizing a very small amount of a solution arranged at a predetermined position on a substrate. The purpose is to easily form a patterned crystalline thin film on a substrate.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は、薄膜形成材料が溶媒に溶解している溶液
の液滴を基板上に配置する工程を有する薄膜の形成方法
において、配置された後の前記液滴近傍での前記溶媒と
同じ成分からなる気体の分圧を、当該液滴をなす溶液が
過飽和状態になる第1の分圧(例えば、飽和蒸気圧と同
じかほぼ同じ分圧)に制御することにより、前記液滴に
結晶核を生成させ、前記結晶核の生成後に、前記液滴近
傍での前記気体の分圧を、前記結晶核が結晶成長可能と
なる第2の分圧(例えば、飽和蒸気圧の1/10〜1/
100)に低下させることを特徴とする薄膜の形成方法
を提供する。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a method for forming a thin film, which comprises a step of disposing a droplet of a solution in which a thin film forming material is dissolved in a solvent on a substrate. The partial pressure of the gas composed of the same component as the solvent in the vicinity of the droplet after being arranged is the first partial pressure at which the solution forming the droplet becomes supersaturated (for example, equal to or almost equal to the saturated vapor pressure). By controlling the same partial pressure), crystal nuclei are generated in the droplets, and after the crystal nuclei are generated, the partial pressure of the gas in the vicinity of the droplets allows the crystal nuclei to grow crystals. 2 partial pressure (for example, 1/10 to 1/1 / of saturated vapor pressure)
A method for forming a thin film is provided.

【0010】本発明はまた、薄膜形成材料が溶媒に溶解
している溶液の液滴を基板上に配置する工程を有する薄
膜形成方法において、前記配置された液滴をなす溶液を
過飽和状態にするとともに、前記液滴近傍での前記溶媒
と同じ成分からなる気体の分圧を、当該液滴をなす溶液
から溶媒が蒸発し難い第1の分圧(例えば、飽和蒸気圧
と同じかほぼ同じ分圧)に制御することにより、前記液
滴に結晶核を生成させ、前記結晶核の生成後に、前記液
滴近傍での前記気体の分圧を、当該結晶核の結晶成長が
更なる結晶核の生成よりも優先的に生じる第2の分圧
(例えば、飽和蒸気圧の1/10〜1/100)となる
まで低下させることを特徴とする薄膜の形成方法を提供
する。
The present invention also provides a thin film forming method including a step of arranging droplets of a solution in which a thin film forming material is dissolved in a solvent on a substrate, and the solution forming the arranged droplets is supersaturated. At the same time, the partial pressure of the gas composed of the same component as the solvent in the vicinity of the droplet is set to the first partial pressure at which the solvent is difficult to evaporate from the solution forming the droplet (for example, the same partial pressure as the saturated vapor pressure or almost the same partial pressure). Pressure) to generate crystal nuclei in the droplets, and after the crystal nuclei are generated, the partial pressure of the gas in the vicinity of the droplets is controlled so that the crystal growth of the crystal nuclei causes further crystal nuclei. Provided is a method for forming a thin film, which is characterized in that the pressure is reduced to a second partial pressure (for example, 1/10 to 1/100 of the saturated vapor pressure) that is generated preferentially to the generation.

【0011】この方法によれば、先ず、基板上に配置さ
れた直後の液滴をなす溶液が過飽和状態となることによ
って、結晶化に必要な結晶核が前記溶液内に生成され
る。次に、前記液滴近傍での前記気体(溶媒と同じ成分
からなる気体)の分圧を、前記第1の分圧(液滴をなす
溶液から溶媒が蒸発し難い高い分圧)から前記第2の分
圧(既に生じた結晶核の結晶成長が、更なる結晶核の生
成よりも優先的に生じる低い分圧)となるまで低下させ
ることにより、結晶成長が始まる。
According to this method, first, the solution forming the droplet immediately after being placed on the substrate becomes supersaturated, whereby crystal nuclei necessary for crystallization are generated in the solution. Next, the partial pressure of the gas (gas consisting of the same component as the solvent) in the vicinity of the droplet is changed from the first partial pressure (high partial pressure at which the solvent is difficult to evaporate from the solution forming the droplet) to the first partial pressure. The crystal growth is initiated by reducing it to a partial pressure of 2 (a low partial pressure in which the crystal growth of already generated crystal nuclei occurs preferentially over the formation of further crystal nuclei).

【0012】したがって、この方法において、例えば、
前記液滴の配置をインクジェット法により所定パターン
で行うことによって、パターン状の結晶性薄膜を基板上
に容易に形成することができる。ここで、液滴配置工程
を例えばインクジェット法で行った場合のように、基板
上に配置された液滴の体積が例えば20ピコリットルと
極少量である場合には、液滴近傍での前記気体(液滴を
なす溶液の溶媒と同じ成分からなる気体)の分圧が低い
と、溶媒が液滴から蒸発し易いため、液滴をなす溶液の
濃度が急上昇して溶液の過飽和度も急激に高くなり、多
数の結晶核が形成されて溶質が粉末化し易い。これに対
して、本発明の方法では、液滴配置直後の液滴近傍での
前記気体の分圧を、前記第1の分圧(液滴をなす溶液か
ら溶媒が蒸発し難い高い分圧)に制御することにより、
液滴をなす溶液が比較的低い過飽和度の過飽和状態で安
定する(すなわち、液滴をなす溶液の過飽和度の上昇度
合いが穏やかになる)ため、少数(理想的には1個)の
核が生成される。
Therefore, in this method, for example,
By arranging the droplets in a predetermined pattern by an inkjet method, a patterned crystalline thin film can be easily formed on the substrate. Here, when the volume of the droplets placed on the substrate is extremely small, for example, 20 picoliters, as in the case where the droplet placement step is performed by, for example, an inkjet method, the gas in the vicinity of the droplets If the partial pressure of (gas consisting of the same component as the solvent of the solution forming the droplet) is low, the solvent easily evaporates from the droplet, so the concentration of the solution forming the droplet rises rapidly and the degree of supersaturation of the solution also sharply increases. As the solute becomes high, many crystal nuclei are formed and the solute is easily pulverized. On the other hand, in the method of the present invention, the partial pressure of the gas in the vicinity of the droplets immediately after the droplets are arranged is the first partial pressure (a high partial pressure at which the solvent is difficult to evaporate from the solution forming the droplets). By controlling
A small number (ideally one) of nuclei is obtained because the solution forming the droplet stabilizes in a supersaturated state of relatively low supersaturation (that is, the degree of increase in the supersaturation degree of the solution forming the droplet becomes moderate). Is generated.

【0013】また、単結晶の薄膜を形成するためには、
1個の核が生成された後にこの核のみを結晶成長させ、
他の核形成を生じさせないようにする必要があるが、液
滴配置直後の液滴近傍での前記気体の分圧が高いままで
あると、更なる核が生成されることになる。これに対し
て、本発明の方法では、結晶核の生成後に前記分圧を、
既に生じた結晶核の結晶成長が更なる結晶核の生成より
も優先的に生じる低い分圧(第2の分圧)となるまで低
下させることにより、更なる核生成を防止しながら結晶
成長を促進している。
In order to form a single crystal thin film,
After one nucleus is generated, only this nucleus is crystal-grown,
Other nucleation needs to be prevented, but if the partial pressure of the gas remains high in the vicinity of the droplet immediately after droplet placement, further nucleation will occur. On the other hand, in the method of the present invention, the partial pressure after the formation of crystal nuclei is
By lowering the crystal growth of already generated crystal nuclei to a low partial pressure (second partial pressure) that occurs preferentially over the formation of further crystal nuclei, crystal growth is prevented while preventing further nucleation. It is promoting.

【0014】したがって、本発明の方法においては、前
記第1の分圧から第2の分圧への分圧低下を、前記溶液
に少数(理想的には1個)の結晶核が生成した直後に急
激に行うことによって、例えば、飽和蒸気圧と同じかほ
ぼ同じ分圧である第1の分圧から、1.3Pa(10-2
torr)である第2の分圧まで、1〜10秒間で低下させ
ることことによって、液滴をなす溶液の過飽和度を急激
に高くして、単結晶の結晶性薄膜を得ることができる。
Therefore, in the method of the present invention, the partial pressure reduction from the first partial pressure to the second partial pressure is performed immediately after a small number (ideally one) of crystal nuclei is generated in the solution. Abruptly, for example, from the first partial pressure, which is the same or almost the same as the saturated vapor pressure, to 1.3 Pa (10 -2
By lowering to a second partial pressure of 1 to 10 seconds in 1 to 10 seconds, the supersaturation degree of the solution forming the droplet can be rapidly increased, and a single crystal crystalline thin film can be obtained.

【0015】なお、本発明の方法では、配置された直後
の液滴をなす溶液が過飽和状態となるようにする必要が
あり、そのためには、(1)液滴配置工程で溶液を吐出
する時に飽和状態となる量の薄膜形成材料を含有してい
る溶液、または(2)前記吐出時に濃度が飽和濃度の1
/10以上飽和濃度未満となる量の薄膜形成材料を含有
している溶液、または(3)前記吐出時に過飽和状態と
なる量の薄膜形成材料を含有している溶液を使用するこ
とが好ましい。
In the method of the present invention, it is necessary that the solution forming the droplets immediately after being placed is in a supersaturated state. To this end, (1) when the solution is discharged in the droplet placement step. A solution containing an amount of the thin film forming material that is saturated, or (2) the concentration is 1 when the concentration is saturated at the time of ejection.
It is preferable to use a solution containing a thin film forming material in an amount of / 10 or more and less than the saturation concentration, or (3) a solution containing an amount of a thin film forming material in a supersaturated state during the ejection.

【0016】本発明の方法において、前記第1の分圧へ
の分圧制御方法としては、前記液滴の吐出間隔(配置
間隔)を調整する方法、前記溶液の吐出量(前記液滴
をなす溶液の量)を調整する方法、前記液滴配置工程
前に、液滴が配置される位置の前記気体の分圧を調整す
る方法が挙げられる。本発明の方法において、前記第1
の分圧から第2の分圧への分圧低下方法としては、前
記液滴近傍の雰囲気を減圧する方法、前記液滴近傍の
温度を上昇させる方法、前記液滴近傍の雰囲気を不活
性ガス雰囲気に置換する方法が挙げられる。なお、の
方法では前記気体の分圧低下が生じない場合(一連の工
程を密閉空間で行う場合等)もあるが、その場合でも、
温度上昇によって飽和蒸気圧が高くなり、液滴の溶媒が
蒸発し易い状態となるため、前記気体の分圧低下が生じ
た場合と同じ作用(液滴をなす溶液の過飽和度を急激に
高くする)が得られる。
In the method of the present invention, as a method of controlling the partial pressure to the first partial pressure, a method of adjusting a discharge interval (arrangement interval) of the droplets, a discharge amount of the solution (forming the droplets There is a method of adjusting the amount of the solution) and a method of adjusting the partial pressure of the gas at the position where the droplet is arranged before the droplet arrangement step. In the method of the present invention, the first
As a method of reducing the partial pressure from the partial pressure to the second partial pressure, the atmosphere in the vicinity of the droplet is reduced, the temperature in the vicinity of the droplet is increased, and the atmosphere in the vicinity of the droplet is made an inert gas. A method of substituting the atmosphere is included. In the method, there is a case where the partial pressure of the gas does not decrease (such as a case where a series of steps is performed in a closed space), but even in that case,
As the temperature rises, the saturated vapor pressure rises, and the solvent of the droplets becomes easy to evaporate. Therefore, the same action as when the partial pressure of the gas drops (the supersaturation degree of the solution forming the droplets is rapidly increased. ) Is obtained.

【0017】本発明の方法で使用可能な薄膜形成材料と
しては、オリゴフェニレンまたはその誘導体、あるいは
オリゴチオフェンまたはその誘導体が挙げられる。オリ
ゴフェニレンは下記の(1)式で表され、オリゴチオフ
ェンは下記の(2)式で表され、いずれの場合もnは2
以上である。また、いずれの場合もnが2以上6以下で
あるものが好ましい。
Examples of the thin film forming material usable in the method of the present invention include oligophenylene or its derivative, or oligothiophene or its derivative. Oligophenylene is represented by the following formula (1), oligothiophene is represented by the following formula (2), and in each case, n is 2
That is all. In any case, it is preferable that n is 2 or more and 6 or less.

【0018】[0018]

【化1】 [Chemical 1]

【0019】[0019]

【化2】 [Chemical 2]

【0020】オリゴフェニレンの例としては、下記の
(3)式で示されるp−ターフェニルが挙げられる。オ
リゴチオフェンの例としては、下記の(4)式で示され
るターチオフェンが挙げられる。オリゴフェニレンの誘
導体の例としては、下記の(5)式で示される4−アミ
ノ−p−ターフェニルが挙げられる。オリゴチオフェン
の誘導体の例としては、下記の(6)式で示される2,
2':5',2"−ターチオフェン−5,5"−ジカルボキシアルデ
ヒドが挙げられる。
Examples of oligophenylene include p-terphenyl represented by the following formula (3). Examples of oligothiophene include terthiophene represented by the following formula (4). Examples of the oligophenylene derivative include 4-amino-p-terphenyl represented by the following formula (5). An example of the oligothiophene derivative is represented by the following formula (6):
2 ': 5', 2 "-terthiophene-5,5" -dicarboxaldehyde.

【0021】[0021]

【化3】 [Chemical 3]

【0022】[0022]

【化4】 [Chemical 4]

【0023】[0023]

【化5】 [Chemical 5]

【0024】[0024]

【化6】 [Chemical 6]

【0025】本発明の方法で使用可能な薄膜形成材料と
しては、また、下記の(7)式で示されるAlq3(キ
ノリノール−アルミニウム錯体)が挙げられる。
The thin film-forming material usable in the method of the present invention also includes Alq3 (quinolinol-aluminum complex) represented by the following formula (7).

【0026】[0026]

【化7】 [Chemical 7]

【0027】本発明はまた、本発明の方法で薄膜を形成
する工程を有する電子デバイスの形成方法を提供する。
本発明はまた、基板を載置するステージと、薄膜形成材
料が溶媒に溶解している溶液を液滴として吐出する吐出
装置と、前記ステージの上部の気体組成を変化させる気
体成分調整装置と、を備えた薄膜形成装置を提供する。
The present invention also provides a method of forming an electronic device, which comprises the step of forming a thin film by the method of the present invention.
The present invention also includes a stage on which a substrate is placed, a discharge device that discharges a solution in which a thin film forming material is dissolved in a solvent as droplets, and a gas component adjustment device that changes the gas composition above the stage, Provided is a thin film forming apparatus.

【0028】本発明はまた、基板を載置するステージ
と、薄膜形成材料が溶媒に溶解している溶液を液滴とし
て吐出する吐出装置と、前記ステージの上部に所定成分
の気体を導入する気体導入装置と、前記ステージの上部
の圧力を低下させる減圧装置と、を備えた薄膜形成装置
を提供する。本発明はまた、薄膜形成材料が溶媒に溶解
している溶液の液滴を基板上に配置し、前記液滴近傍で
の前記溶媒と同じ成分からなる気体の分圧を制御するこ
とにより、前記液滴に結晶核を生成させた後に前記結晶
核を成長させて結晶性薄膜を形成することを特徴とする
薄膜の形成方法を提供する。
The present invention also provides a stage on which a substrate is placed, an ejecting device for ejecting a solution in which a thin film forming material is dissolved in a solvent as droplets, and a gas for introducing a gas of a predetermined component above the stage. Provided is a thin film forming apparatus including an introduction device and a decompression device for reducing the pressure on the upper part of the stage. The present invention also provides that by depositing a droplet of a solution in which the thin film forming material is dissolved in a solvent on a substrate and controlling the partial pressure of a gas consisting of the same component as the solvent in the vicinity of the droplet, Provided is a method for forming a thin film, which comprises forming crystal nuclei in droplets and then growing the crystal nuclei to form a crystalline thin film.

【0029】[0029]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
説明する。 <第1実施形態>前記化学式(3)で示される構造のp
−ターフェニル(薄膜形成材料)を、2,3-ジヒドロベン
ゾフラン(溶媒)に0.1重量%濃度となるように溶解
させた。また、シリコン基板の表面に紫外線を照射し
て、この表面を親インク性(前記溶液によって濡れ易い
性質)にした。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below. <First Embodiment> p of the structure represented by the chemical formula (3)
-Terphenyl (film forming material) was dissolved in 2,3-dihydrobenzofuran (solvent) to a concentration of 0.1% by weight. Further, the surface of the silicon substrate was irradiated with ultraviolet rays to make the surface ink-philic (easy to be wet with the solution).

【0030】なお、25℃(溶液吐出時の温度)での
2,3−ジヒドロベンゾフランに対するp−ターフェニ
ルの飽和濃度は1.0重量%である。したがって、この
溶液のp−ターフェニル濃度は吐出時に飽和濃度の1/
10となる。次に、図1に示す薄膜形成装置を使用し
て、前記シリコン基板に対する薄膜形成を行った。この
装置は、密閉容器1と、この密閉容器1内に設置された
X−Yステージ2と、インクジェット装置のヘッド3
と、密閉容器1内を減圧するためのポンプ6と配管7と
で構成されている。
The saturated concentration of p-terphenyl relative to 2,3-dihydrobenzofuran at 25 ° C. (temperature at the time of discharging the solution) is 1.0% by weight. Therefore, the p-terphenyl concentration of this solution is 1 / l of the saturation concentration during ejection.
It becomes 10. Next, the thin film forming apparatus shown in FIG. 1 was used to form a thin film on the silicon substrate. This apparatus includes a closed container 1, an XY stage 2 installed in the closed container 1, and a head 3 of an inkjet device.
And a pump 6 and a pipe 7 for reducing the pressure inside the closed container 1.

【0031】ヘッド3は密閉容器1の上部に固定されて
おり、このヘッド3内に外部から、前記溶液が供給され
るように構成されている。ヘッド3とX−Yステージ2
は、互いに向かい合う位置に配置されている。ポンプ6
用の配管7は密閉容器1の底部に接続されている。イン
クジェット装置としては、セイコーエプソン(株)製の
インクジェット装置「MJ−930C」を用いた。ヘッ
ド3としては、ノズルを1個備えたものを使用した。
The head 3 is fixed to the upper part of the closed container 1, and the solution is supplied into the head 3 from the outside. Head 3 and XY stage 2
Are arranged at positions facing each other. Pump 6
The pipe 7 for use is connected to the bottom of the closed container 1. As the inkjet device, an inkjet device “MJ-930C” manufactured by Seiko Epson Corporation was used. As the head 3, a head provided with one nozzle was used.

【0032】先ず、この装置のX−Yステージ2に、前
記処理を行ったシリコン基板を載せて密閉した。次に、
この密閉容器1内を25℃に保持し、この基板の表面に
ヘッド3から、前記溶液を1滴当たり20ピコリットル
の吐出量で吐出した。この吐出を、X−Yステージ2を
210μmずつ基板の1辺に沿って移動させながら10
回繰り返した。ヘッドのノズルと基板との距離は1mm
とした。これにより、基板上の一直線に沿ってピッチ2
10μmで10個の液滴が形成された。
First, the treated silicon substrate was placed on the XY stage 2 of this apparatus and hermetically sealed. next,
The inside of the closed container 1 was kept at 25 ° C., and the solution was discharged from the head 3 onto the surface of the substrate at a discharge amount of 20 picoliter per droplet. This discharge is performed 10 times while moving the XY stage 2 by 210 μm along one side of the substrate.
Repeated times. The distance between the nozzle of the head and the substrate is 1 mm
And This allows pitch 2 along a straight line on the substrate.
Ten droplets were formed at 10 μm.

【0033】この液滴形成を終了すると同時に、減圧ポ
ンプ6を稼働させてこの密閉容器1内を1.3Pa(1
-2torr)まで減圧し、この状態を6時間保持した。6
時間後に密閉空間から取り出したシリコン基板には、各
液滴が形成された各位置に、一辺が20μm〜30μm
である略菱形のp−ターフェニル薄膜(厚さ0.5μ
m)が、略単結晶の状態で形成されていた。p−ターフ
ェニル単結晶薄膜は、各種電子デバイス用の半導体膜と
して好適に使用可能な機能性薄膜である。
At the same time when the formation of the liquid droplets is completed, the decompression pump 6 is operated so that the pressure inside the closed container 1 is 1.3 Pa (1
The pressure was reduced to 0 -2 torr) and this state was maintained for 6 hours. 6
The silicon substrate taken out from the closed space after a lapse of time had a side of 20 μm to 30 μm at each position where each droplet was formed.
Is a diamond-shaped p-terphenyl thin film (thickness 0.5 μ
m) was formed in a substantially single crystal state. The p-terphenyl single crystal thin film is a functional thin film that can be suitably used as a semiconductor film for various electronic devices.

【0034】これに対して、液滴をピッチ420μmで
形成した以外は全て上述の方法を行った場合、6時間後
に密閉容器1から取り出したシリコン基板には、各液滴
が形成された各位置に、一辺が1μm以下である略菱形
のp−ターフェニルからなる微結晶が形成されていた。
液滴をピッチ560μmで形成した場合も同様であっ
た。
On the other hand, in the case where the above-described method is performed except that the droplets are formed with a pitch of 420 μm, the silicon substrate taken out from the closed container 6 after 6 hours is at each position where the droplets are formed. In addition, fine crystals of substantially rhombic p-terphenyl having a side of 1 μm or less were formed.
The same was true when the droplets were formed with a pitch of 560 μm.

【0035】この実施形態では、吐出時の溶液の濃度が
飽和濃度の1/10であるため、基板上に配置された直
後に液滴をなす溶液が過飽和状態になり易い。また、1
滴当たりの吐出量を20ピコリットルとした場合には、
液滴をピッチ210μmで形成することによって、配置
された直後の液滴近傍での2,3−ジヒドロベンゾフラ
ン(溶媒と同じ成分)からなる気体の分圧が、液滴とな
っている溶液から2,3−ジヒドロベンゾフラン(溶
媒)が蒸発し難い高い分圧となっている。これらのこと
から、液滴となっている溶液が比較的低い過飽和度の過
飽和状態で安定して、少数の核形成がなされたと考えら
れる。
In this embodiment, since the concentration of the solution at the time of ejection is 1/10 of the saturated concentration, the solution forming droplets is likely to be in a supersaturated state immediately after being placed on the substrate. Also, 1
When the discharge amount per drop is 20 picoliters,
By forming the droplets with a pitch of 210 μm, the partial pressure of the gas consisting of 2,3-dihydrobenzofuran (the same component as the solvent) in the vicinity of the droplets immediately after being placed is 2 The high partial pressure makes 3,3-dihydrobenzofuran (solvent) difficult to evaporate. From these facts, it is considered that a small number of nuclei were formed because the solution in the form of droplets was stable in a supersaturated state with a relatively low degree of supersaturation.

【0036】これに対して、同じ吐出量で液滴をピッチ
420μmおよび560μmで形成すると、液滴の配置
直後に前記気体の分圧が前記高い分圧とならずに、多数
の核形成がなされたと考えられる。また、液滴形成を終
了すると同時に密閉空間(密閉容器1)内の減圧を開始
することによって、液滴近傍での溶媒蒸気の分圧が、少
数の結晶核が形成された段階で急激に低下し、液滴とな
っている溶液の過飽和度が急激に高くなって、更なる結
晶核の形成よりも結晶成長が優先的に生じる状態とな
り、この減圧状態を6時間保持することによって、結晶
成長が促進されたと考えられる。
On the other hand, when the droplets are formed with the same discharge amount at the pitches of 420 μm and 560 μm, the partial pressure of the gas does not become the high partial pressure immediately after the droplets are arranged, and a large number of nuclei are formed. It is thought that In addition, the partial pressure of the solvent vapor in the vicinity of the droplet is rapidly reduced when a small number of crystal nuclei are formed by starting the pressure reduction in the closed space (closed container 1) at the same time when the formation of the droplet is completed. However, the degree of supersaturation of the solution in the form of liquid droplets suddenly increases, and the crystal growth occurs preferentially over the formation of further crystal nuclei. Is believed to have been promoted.

【0037】なお、本実施形態では図1に示す薄膜形成
装置を使用しているが、減圧をより確実に行うために、
図1の薄膜形成装置のヘッド3とステージ2および配管
7とを隔てる仕切り板を設けたものを使用してもよい。
この仕切り板を設けることにより、密閉容器1内部のヘ
ッド設置側は減圧させずに、ステージ設置側のみを減圧
することができる。 <第2実施形態>1滴当たりの吐出量を40ピコリット
ルとした以外は全て第1実施形態と同じ方法を行った。
液滴の形成ピッチは420μmとした。その結果、6時
間後に密閉空間から取り出したシリコン基板には、各液
滴が形成された各位置に、一辺が20μm〜30μmで
ある略菱形のp−ターフェニル薄膜(厚さ0.8μm)
が、略単結晶の状態で形成されていた。
Although the thin film forming apparatus shown in FIG. 1 is used in this embodiment, in order to perform the pressure reduction more reliably,
The thin film forming apparatus of FIG. 1 may be provided with a partition plate that separates the head 3 from the stage 2 and the pipe 7.
By providing this partition plate, it is possible to depressurize only the stage installation side without depressurizing the head installation side inside the closed container 1. <Second Embodiment> The same method as in the first embodiment was performed except that the ejection amount per droplet was 40 picoliters.
The formation pitch of the droplets was 420 μm. As a result, the silicon substrate taken out from the closed space after 6 hours had a substantially rhombic p-terphenyl thin film (thickness 0.8 μm) with a side of 20 μm to 30 μm at each position where each droplet was formed.
However, it was formed in a substantially single crystal state.

【0038】なお、第1実施形態では1滴当たりの吐出
量が20ピコリットルであるため、第1実施形態で液滴
をピッチ420μmで形成した例が、この実施形態の比
較例(対照例)となるが、この例では、上述のように、
6時間後に密閉空間から取り出したシリコン基板には、
各液滴が形成された各位置に、一辺が1μm以下である
略菱形のp−ターフェニルからなる微結晶が形成されて
いた。
In the first embodiment, since the discharge amount per droplet is 20 picoliters, the example in which the droplets are formed with a pitch of 420 μm in the first embodiment is a comparative example (control example) of this embodiment. However, in this example, as described above,
For the silicon substrate taken out from the sealed space after 6 hours,
At each position where each droplet was formed, fine crystals of substantially rhombic p-terphenyl having a side of 1 μm or less were formed.

【0039】以上のことから、液滴をピッチ420μm
で形成した場合には、1滴当たりの吐出量を40ピコリ
ットルとすることによって、配置された直後の液滴近傍
での2,3−ジヒドロベンゾフランからなる気体の分圧
が、液滴をなす溶液から2,3−ジヒドロベンゾフラン
(溶媒)が蒸発し難い高い分圧となって、少数の核形成
がなされるが、1滴当たりの吐出量を20ピコリットル
とすると、液滴の配置直後に前記気体の分圧が前記高い
分圧とならずに、多数の核形成がなされたと考えられ
る。 <第3実施形態>溶液の吐出直前に基板表面にスピンコ
ート法(回転速度2000rpmで30秒間)により溶
媒(2,3−ジヒドロベンゾフラン)を塗布した以外
は、全て第1実施形態と同じ方法を行った。液滴の形成
ピッチは420μmとした。その結果、6時間後に密閉
空間から取り出したシリコン基板には、各液滴が形成さ
れた各位置に、一辺が20μm〜30μmである略菱形
のp−ターフェニル薄膜(厚さ0.1μm)が、略単結
晶の状態で形成されていた。
From the above, the droplet pitch is 420 μm.
In the case of the above-mentioned method, by setting the discharge amount per droplet to 40 picoliters, the partial pressure of the gas composed of 2,3-dihydrobenzofuran in the vicinity of the droplet immediately after being arranged forms a droplet. 2,3-Dihydrobenzofuran (solvent) becomes a high partial pressure that is difficult to evaporate from the solution, and a small number of nuclei are formed. However, if the discharge amount per droplet is 20 picoliters, immediately after the droplets are arranged. It is considered that a large number of nuclei were formed without the partial pressure of the gas becoming the high partial pressure. <Third Embodiment> The same method as in the first embodiment is used except that the solvent (2,3-dihydrobenzofuran) is applied to the surface of the substrate by spin coating (rotation speed: 2000 rpm for 30 seconds) immediately before discharging the solution. went. The formation pitch of the droplets was 420 μm. As a result, on the silicon substrate taken out from the closed space after 6 hours, a substantially rhombic p-terphenyl thin film having a side of 20 μm to 30 μm (thickness 0.1 μm) was formed at each position where each droplet was formed. , Was formed in a substantially single crystal state.

【0040】なお、第1実施形態で液滴をピッチ420
μmで形成した例が、この実施形態の比較例(対照例)
となるが、この例では、上述のように、6時間後に密閉
空間から取り出したシリコン基板には、各液滴が形成さ
れた各位置に、一辺が1μm以下である略菱形のp−タ
ーフェニルからなる微結晶が形成されていた。以上のこ
とから、液滴をピッチ420μmで形成した場合には、
薄膜形成材料の溶液を吐出する直前に基板表面にこの溶
液の溶媒を塗布することによって、配置された直後の液
滴近傍での2,3−ジヒドロベンゾフランからなる気体
の分圧が、液滴をなす溶液から2,3−ジヒドロベンゾ
フラン(溶媒)が蒸発し難い高い分圧となって、少数の
核形成がなされるが、溶媒塗布を行わないと前記気体の
分圧が前記高い分圧とならずに、多数の核形成がなされ
ると考えられる。 <第4実施形態>上記化学式(4)で示される構造のタ
ーチオフェン(2,2':5',2"−ターチオフェン、薄膜形成
材料)を、ドデシルベンゼン(溶媒)に、濃度が1.0
重量%となるように溶解させて溶液を得た。25℃(溶
液吐出時の温度)でのドデシルベンゼンに対するターチ
オフェンの飽和濃度は1.0重量%である。したがっ
て、この溶液は、吐出時に、ターチオフェンが飽和状態
となる。
In the first embodiment, the liquid droplets are pitched 420.
The example formed by μm is a comparative example (control example) of this embodiment.
However, in this example, as described above, in the silicon substrate taken out from the sealed space after 6 hours, a substantially rhombic p-terphenyl having a side of 1 μm or less is formed at each position where each droplet is formed. A fine crystal consisting of was formed. From the above, when droplets are formed with a pitch of 420 μm,
By coating the surface of the substrate with the solvent of this solution immediately before discharging the solution of the thin film forming material, the partial pressure of the gas composed of 2,3-dihydrobenzofuran in the vicinity of the droplet immediately after being placed causes the droplet to be discharged. 2,3-Dihydrobenzofuran (solvent) becomes a high partial pressure that is difficult to evaporate from the eggplant solution, and a small number of nuclei are formed, but if the solvent is not applied, the partial pressure of the gas is the high partial pressure. However, it is considered that a large number of nucleation is performed. <Fourth Embodiment> Terthiophene (2,2 ': 5', 2 "-terthiophene, a thin film forming material) having a structure represented by the above chemical formula (4) is added to dodecylbenzene (solvent) at a concentration of 1. 0
A solution was obtained by dissolving the solution so that the weight% was obtained. The saturated concentration of terthiophene with respect to dodecylbenzene at 25 ° C. (temperature at the time of discharging the solution) is 1.0% by weight. Therefore, in this solution, terthiophene is saturated when ejected.

【0041】この溶液を用い、1滴あたりの吐出量を2
0ピコリットルとし、吐出ピッチを210μmとして、
第1実施形態と同じ方法を行った。その結果、6時間後
に密閉空間から取り出したシリコン基板には、各液滴が
形成された各位置に、10μm×5μmの略長方形のタ
ーチオフェン薄膜(厚さ0.5μm)が、略単結晶の状
態で形成されていた。ターチオフェン結晶性薄膜は、各
種電子デバイス用の半導体膜として好適に使用可能な機
能性薄膜である。 <第5実施形態>前記化学式(5)で示される構造の4
−アミノ−p−ターフェニル(薄膜形成材料)を、ジメ
チルホルムアミド(溶媒)に、濃度が1.0重量%とな
るように溶解させて溶液を得た。25℃(溶液吐出時の
温度)でのジメチルホルムアミドに対する4−アミノ−
p−ターフェニルの飽和濃度は1.0重量%である。し
たがって、この溶液は、吐出時に、4−アミノ−p−タ
ーフェニルが飽和状態となる。
Using this solution, the discharge amount per drop is 2
With 0 picoliter and a discharge pitch of 210 μm,
The same method as in the first embodiment was performed. As a result, on the silicon substrate taken out from the closed space after 6 hours, a 10 μm × 5 μm substantially rectangular terthiophene thin film (thickness 0.5 μm) was formed into a substantially single crystal at each position where each droplet was formed. It was formed in the state. The terthiophene crystalline thin film is a functional thin film that can be suitably used as a semiconductor film for various electronic devices. <Fifth Embodiment> 4 of the structure represented by the chemical formula (5)
-Amino-p-terphenyl (material for forming a thin film) was dissolved in dimethylformamide (solvent) to a concentration of 1.0% by weight to obtain a solution. 4-Amino-to dimethylformamide at 25 ° C (temperature at the time of solution discharge)
The saturated concentration of p-terphenyl is 1.0% by weight. Therefore, in this solution, 4-amino-p-terphenyl becomes saturated upon ejection.

【0042】この溶液を用い、1滴あたりの吐出量を2
0ピコリットルとし、吐出ピッチを210μmとして、
第1実施形態と同じ方法を行った。その結果、6時間後
に密閉空間から取り出したシリコン基板には、各液滴が
形成された各位置に、一辺が20μm〜30μmである
略菱形の4−アミノ−p−ターフェニル薄膜(厚さ0.
1μm)が、略単結晶の状態で形成されていた。4−ア
ミノ−p−ターフェニル結晶性薄膜は、各種電子デバイ
ス用の半導体膜として好適に使用可能な機能性薄膜であ
る。 <第6実施形態>前記化学式(6)で示される構造の2,
2':5',2"−ターチオフェン−5,5"−ジカルボキシアルデ
ヒド(ターチオフェンの誘導体、薄膜形成材料)を、ジ
メチルホルムアミド(溶媒)に、濃度が1.0重量%と
なるように溶解させて溶液を得た。25℃(溶液吐出時
の温度)でのジメチルホルムアミドに対する前記誘導体
の飽和濃度は1.0重量%である。したがって、この溶
液は、吐出時に、前記誘導体が飽和状態となる。
Using this solution, the discharge amount per drop is 2
With 0 picoliter and a discharge pitch of 210 μm,
The same method as in the first embodiment was performed. As a result, in the silicon substrate taken out from the closed space after 6 hours, a substantially rhombic 4-amino-p-terphenyl thin film (having a thickness of 0 to 30 μm on each side) was formed at each position where each droplet was formed. .
1 μm) was formed in a substantially single crystal state. The 4-amino-p-terphenyl crystalline thin film is a functional thin film that can be suitably used as a semiconductor film for various electronic devices. <Sixth Embodiment> 2, of the structure represented by the chemical formula (6),
2 ': 5', 2 "-terthiophene-5,5" -dicarboxaldehyde (derivative of terthiophene, thin film forming material) was added to dimethylformamide (solvent) at a concentration of 1.0% by weight. A solution was obtained by dissolving. The saturated concentration of the above derivative with respect to dimethylformamide at 25 ° C. (temperature at the time of discharging the solution) is 1.0% by weight. Therefore, in this solution, the above-mentioned derivative becomes saturated when ejected.

【0043】この溶液を用い、1滴あたりの吐出量を2
0ピコリットルとし、吐出ピッチを210μmとして、
第1実施形態と同じ方法を行った。その結果、6時間後
に密閉空間から取り出したシリコン基板には、各液滴が
形成された各位置に、一辺が20μm〜30μmである
略菱形の2,2':5',2"−ターチオフェン−5,5"−ジカルボ
キシアルデヒド薄膜(厚さ0.1μm)が、略単結晶の
状態で形成されていた。2,2':5',2"−ターチオフェン−
5,5"−ジカルボキシアルデヒド結晶性薄膜は、各種電子
デバイス用の半導体膜として好適に使用可能な機能性薄
膜である。 <第7実施形態>上記化学式(7)で示される構造のA
lq3(キノリノール−アルミニウム錯体;薄膜形成材
料)を、2,3−ジヒドロベンゾフラン(溶媒)に、濃
度が0.1重量%となるように溶解させて溶液を得た。
25℃での2,3−ジヒドロベンゾフランに対するAl
q3の飽和濃度は1.0重量%であるため、この溶液の
Alq3濃度は吐出時に飽和濃度の1/10となってい
る。
Using this solution, the discharge amount per drop is 2
With 0 picoliter and a discharge pitch of 210 μm,
The same method as in the first embodiment was performed. As a result, in the silicon substrate taken out from the closed space after 6 hours, a substantially rhombic 2,2 ': 5', 2 "-terthiophene having a side of 20 μm to 30 μm was formed at each position where each droplet was formed. A -5,5 "-dicarboxaldehyde thin film (thickness 0.1 µm) was formed in a substantially single crystal state. 2,2 ': 5', 2 "-Terthiophene-
The 5,5 "-dicarboxaldehyde crystalline thin film is a functional thin film that can be suitably used as a semiconductor film for various electronic devices. <Seventh Embodiment> A having the structure represented by the chemical formula (7) above.
lq3 (quinolinol-aluminum complex; thin film forming material) was dissolved in 2,3-dihydrobenzofuran (solvent) to a concentration of 0.1% by weight to obtain a solution.
Al to 2,3-dihydrobenzofuran at 25 ° C
Since the saturated concentration of q3 is 1.0% by weight, the Alq3 concentration of this solution is 1/10 of the saturated concentration at the time of ejection.

【0044】この溶液を用い、1滴あたりの吐出量を2
0ピコリットルとし、吐出ピッチを210μmとして、
第1実施形態と同じ方法を行った。その結果、6時間後
に密閉空間から取り出したシリコン基板には、各液滴が
形成された各位置に、長さ30μmの針状で厚さ0.1
μmのAlq3薄膜が、略単結晶の状態で形成されてい
た。Alq3単結晶薄膜は有機EL装置の発光層等とし
て好適に使用可能な機能性薄膜である。 <第8実施形態>図2に示す薄膜形成装置を用いて、本
発明の一実施形態に相当する方法を行った。
Using this solution, the discharge amount per droplet is 2
With 0 picoliter and a discharge pitch of 210 μm,
The same method as in the first embodiment was performed. As a result, the silicon substrate taken out from the closed space after 6 hours had a needle-like shape with a length of 30 μm and a thickness of 0.1 at each position where each droplet was formed.
A μm Alq3 thin film was formed in a substantially single crystal state. The Alq3 single crystal thin film is a functional thin film that can be suitably used as a light emitting layer of an organic EL device. <Eighth Embodiment> A method corresponding to an embodiment of the present invention was performed using the thin film forming apparatus shown in FIG.

【0045】この装置は、密閉容器1と、この密閉容器
1内に設置されたX−Yステージ2と、インクジェット
装置のヘッド3と、密閉容器1内に溶媒(2,3−ジヒ
ドロベンゾフラン)と同じ成分からなる気体を導入する
ためのタンク4および配管5と、密閉容器1内を減圧す
るためのポンプ6と配管7とで構成されている。ヘッド
3は密閉容器1の上部に固定されており、このヘッド3
内に外部から、第1実施形態で使用した溶液と同じ溶液
が供給されるように構成されている。また、このヘッド
3としては、ノズルを1個備えたものを使用した。ヘッ
ド3とX−Yステージ2は、互いに向かい合う位置に配
置されている。タンク4内には前記溶液の溶媒である2,
3-ジヒドロベンゾフランが入れてあり、タンク4の配管
5は密閉容器1の側壁上部に接続されている。ポンプ6
用の配管7は密閉容器1の底部に接続されている。
This apparatus comprises a closed container 1, an XY stage 2 installed in the closed container 1, a head 3 of an ink jet device, and a solvent (2,3-dihydrobenzofuran) in the closed container 1. It is composed of a tank 4 and a pipe 5 for introducing a gas containing the same components, a pump 6 for depressurizing the inside of the closed container 1, and a pipe 7. The head 3 is fixed to the upper part of the closed container 1.
The same solution as the solution used in the first embodiment is supplied from the outside into the inside. As the head 3, one having one nozzle was used. The head 3 and the XY stage 2 are arranged at positions facing each other. In the tank 4, the solvent of the solution 2,
3-Dihydrobenzofuran is contained, and the pipe 5 of the tank 4 is connected to the upper side wall of the closed container 1. Pump 6
The pipe 7 for use is connected to the bottom of the closed container 1.

【0046】先ず、この装置のX−Yステージ2に、第
1実施形態と同じ処理を行ったシリコン基板を載せて密
閉し、タンク4から2,3−ジヒドロベンゾフランの気
体を密閉容器1内に導入して、密閉容器1内のジヒドロ
ベンゾフランの分圧を飽和蒸気圧に保持した。次に、X
−Yステージ2上の基板の表面にヘッド3から、前記溶
液を1滴当たり20ピコリットルの吐出量で吐出した。
この吐出を、X−Yステージ2を420μmずつ基板の
1辺に沿って移動させながら10回繰り返した。ヘッド
のノズルと基板との距離は1mmとした。これにより、
基板上の一直線に沿ってピッチ420μmで10個の液
滴が形成された。
First, a silicon substrate which has been subjected to the same treatment as in the first embodiment is placed on the XY stage 2 of this apparatus and hermetically sealed, and a gas of 2,3-dihydrobenzofuran from the tank 4 is placed in the hermetically sealed container 1. After the introduction, the partial pressure of dihydrobenzofuran in the closed container 1 was maintained at the saturated vapor pressure. Then X
-The above solution was ejected from the head 3 onto the surface of the substrate on the Y stage 2 at an ejection amount of 20 picoliter per droplet.
This discharge was repeated 10 times while moving the XY stage 2 by 420 μm along one side of the substrate. The distance between the nozzle of the head and the substrate was 1 mm. This allows
Ten droplets were formed along the straight line on the substrate at a pitch of 420 μm.

【0047】この液滴形成を終了すると同時に、タンク
4から密閉容器1内への前記気体の導入を停止するとと
もに、減圧ポンプを稼働させてこの密閉容器1内を1.
3Pa(10-2torr)まで減圧し、この状態を6時間保
持した。6時間後に密閉容器1から取り出したシリコン
基板には、各液滴が形成された各位置に、一辺が20μ
m〜30μmである略菱形のp−ターフェニル薄膜(厚
さ0.5μm)が、略単結晶の状態で形成されていた。 <第9実施形態>第1実施形態と同じ処理を行ったシリ
コン基板を、ホットプレートが内蔵されたステージ上に
配置し、ホットプレートを加熱しない状態で、この基板
の表面に第1実施形態と同じ方法で、同じ溶液の吐出を
行った。これにより、基板上にピッチ210μmで10
個の液滴が一直線に沿って形成された。
At the same time when the formation of the droplets is completed, the introduction of the gas from the tank 4 into the closed container 1 is stopped, and the decompression pump is operated to move the inside of the closed container 1 to 1.
The pressure was reduced to 3 Pa (10 -2 torr), and this state was maintained for 6 hours. The silicon substrate taken out from the closed container 6 after 6 hours had 20 μm on each side at each position where each droplet was formed.
A substantially diamond-shaped p-terphenyl thin film (thickness 0.5 μm) having a thickness of m to 30 μm was formed in a substantially single crystal state. <Ninth Embodiment> A silicon substrate that has been subjected to the same treatment as that of the first embodiment is placed on a stage having a built-in hot plate, and the hot plate is not heated. The same solution was discharged in the same manner. As a result, a pitch of 210 μm on the substrate
Individual droplets were formed along a straight line.

【0048】この液滴形成を終了すると同時にホットプ
レートを加熱して、ホットプレート上の基板を30℃、
50℃、70℃の各温度に15分間保持した。15分経
過後に前記空間から取り出したシリコン基板には、50
℃の場合は、各液滴が形成された各位置に、一辺が30
μmである略菱形のp−ターフェニル薄膜(厚さ0.4
μm)が、略単結晶の状態で形成されていた。30℃の
場合は、各液滴が形成された各位置に、一辺が1μm以
下である略菱形のp−ターフェニルからなる微結晶が形
成されていた。70℃の場合は、各液滴が形成された各
位置に、長軸30μm程度の涙形のp−ターフェニル薄
膜(厚さ0.3μm)が略アモルファスの状態で形成さ
れていた。
Simultaneously with the completion of this droplet formation, the hot plate is heated to bring the substrate on the hot plate to 30 ° C.
The temperature was kept at 50 ° C. and 70 ° C. for 15 minutes. The silicon substrate taken out of the space after 15 minutes had 50
In the case of ° C, one side is 30 at each position where each droplet is formed.
An approximately rhombic p-terphenyl thin film (thickness 0.4
μm) was formed in a substantially single crystal state. In the case of 30 ° C., microcrystals made of substantially diamond-shaped p-terphenyl having a side of 1 μm or less were formed at each position where each droplet was formed. In the case of 70 ° C., a tear-shaped p-terphenyl thin film (thickness 0.3 μm) having a major axis of about 30 μm was formed in a substantially amorphous state at each position where each droplet was formed.

【0049】ホットプレートを加熱しないで15分保持
した場合、15分経過後に前記空間から取り出したシリ
コン基板には、各液滴が形成された各位置に、粒界を多
く含む凸凹上の多結晶状態のp−ターフェニルの塊が形
成されているか、微粉末が析出していた。この実施形態
では、液滴の溶媒が蒸発し易い状態にする工程(核形成
後の液滴近傍での溶媒と同じ成分からなる気体の分圧低
下と同じ作用が得られる工程)を、ホットプレートでの
加熱により液滴近傍の温度を上昇させることで行ってい
る。 <第10実施形態>図3に示すステージ8を用意した。
このステージ8は、基板を載せる長方形の台部81と、
この台部81の長手方向一端に設けられた気体吹き出し
部82と、他端に設けられた気体吸い込み部83とで構
成されている。気体吹き出し部82には、横方向に多数
の吹き出し口82aが等間隔で形成されている。気体吸
い込み部83には、横方向に多数の吸い込み口83aが
等間隔で形成されている。これらの吹き出し口82aと
吸い込み口83aは、台部81の上方30cmの位置
に、互いに対向する配置で形成されている。
When the hot plate is held for 15 minutes without heating, the polycrystal on the uneven surface containing a lot of grain boundaries is formed at each position where each droplet is formed on the silicon substrate taken out of the space after 15 minutes. A solid p-terphenyl mass was formed or fine powder was deposited. In this embodiment, the step of bringing the solvent of the droplet into a state in which it easily evaporates (the step of obtaining the same effect as reducing the partial pressure of the gas containing the same component as the solvent in the vicinity of the droplet after nucleation) is performed by the hot plate. This is done by raising the temperature in the vicinity of the droplet by heating in the above. <Tenth Embodiment> The stage 8 shown in FIG. 3 was prepared.
The stage 8 includes a rectangular base 81 on which a substrate is placed,
The base 81 includes a gas blowing portion 82 provided at one end in the longitudinal direction and a gas suction portion 83 provided at the other end. The gas blowing portion 82 has a large number of blowing ports 82a formed in the lateral direction at equal intervals. The gas suction portion 83 has a large number of suction ports 83a formed at equal intervals in the lateral direction. The blowout port 82a and the suction port 83a are formed at a position 30 cm above the base 81 so as to face each other.

【0050】気体吹き出し部82には外部から不活性ガ
スが導入され、吹き出し口82aから対向する吸い込み
口83aに向けて不活性ガスが吹き出され、この吹き出
された不活性ガスが吸い込み口83aから気体吸い込み
部83内に吸い込まれるようになっている。これによ
り、台部81の上方に不活性ガスの層流が形成される。
先ず、このステージ8を密閉空間に配置し、このステー
ジ8上に基板を載せて第1実施形態と同じ方法で前記溶
液の吐出を行った。このときにはステージ8による不活
性ガスの層流形成を行わず、第1実施形態と同様に、大
気圧の空気中で液滴の形成を行った。これにより、基板
上にピッチ210μmで一直線に沿って10個の液滴が
形成された。
An inert gas is introduced into the gas blowing portion 82 from the outside, the inert gas is blown from the blowing outlet 82a toward the opposite suction inlet 83a, and the blown inert gas is discharged from the suction inlet 83a. It is adapted to be sucked into the suction portion 83. As a result, a laminar flow of the inert gas is formed above the base 81.
First, the stage 8 was placed in a closed space, a substrate was placed on the stage 8, and the solution was discharged by the same method as in the first embodiment. At this time, the formation of the laminar flow of the inert gas by the stage 8 was not performed, and the droplets were formed in the air at the atmospheric pressure as in the first embodiment. As a result, 10 droplets were formed on the substrate at a pitch of 210 μm along a straight line.

【0051】この液滴形成を終了すると同時に、ステー
ジ8による不活性ガスの層流形成を行い、この状態で1
5分放置した。不活性ガスとしては窒素ガスを0.2M
Paで吹き出した。その後に密閉空間から取り出したシ
リコン基板には、各液滴が形成された各位置に、一辺が
10μmである略菱形のp−ターフェニル薄膜(厚さ
0.5μm)が、略単結晶の状態で形成されていた。た
だし、この薄膜には、いくつかの粒界が存在する部分も
あった。
At the same time when the formation of the droplets is completed, the laminar flow of the inert gas is formed by the stage 8, and in this state 1
Leave for 5 minutes. Nitrogen gas is 0.2M as inert gas
Blew out at Pa. Then, on the silicon substrate taken out from the closed space, a substantially diamond-shaped p-terphenyl thin film (thickness 0.5 μm) having a side of 10 μm was formed in a substantially single crystal state at each position where each droplet was formed. Was formed by. However, there were some grain boundaries in this thin film.

【0052】この実施形態では、核形成後の液滴近傍で
の溶媒と同じ成分からなる気体の分圧低下を、液滴近傍
の雰囲気を不活性ガス雰囲気に置換することで行ってい
る。なお、図2の装置は請求項13の薄膜形成装置の一
実施形態であって、タンク4および配管5が気体導入装
置に相当し、ポンプ6および配管7が減圧装置に相当す
る。また、図2でポンプ6および配管7のない装置は、
請求項12の薄膜形成装置の一実施形態であって、この
場合にはタンク4および配管5が気体成分調整装置に相
当する。
In this embodiment, the partial pressure of the gas consisting of the same component as the solvent in the vicinity of the droplet after nucleation is reduced by replacing the atmosphere in the vicinity of the droplet with an inert gas atmosphere. The apparatus of FIG. 2 is an embodiment of the thin film forming apparatus of claim 13, in which the tank 4 and the pipe 5 correspond to a gas introducing device, and the pump 6 and the pipe 7 correspond to a decompressor. In addition, the device without the pump 6 and the pipe 7 in FIG.
It is one embodiment of the thin film forming apparatus of claim 12, and in this case, the tank 4 and the pipe 5 correspond to a gas component adjusting device.

【0053】また、本発明の方法が実施可能な装置の別
の例としては、図2の装置で、タンク4、ポンプ6、
および配管5,7がなく、ステージ2上にホットプレー
トとスピコーターを兼ねる装置が設置されているもの、
図2の装置で、タンク4と配管5がなく、ステージ2
上にスピコーターが設置されているもの、図2の装置
で、ポンプ6および配管7がなく、ステージ2上にホッ
トプレートが設置されているもの、図2の薄膜形成装
置のヘッド3とステージ2および配管7とを隔てる仕切
り板を設けたもの等が挙げられる。
Another example of an apparatus capable of carrying out the method of the present invention is the apparatus shown in FIG.
Also, there is no piping 5 or 7, and a device that doubles as a hot plate and a spin coater is installed on the stage 2.
In the apparatus of FIG. 2, without the tank 4 and the pipe 5, the stage 2
2 having a spin coater installed thereon, the apparatus of FIG. 2 having no pump 6 and piping 7 and having a hot plate installed on the stage 2, the head 3 and stage 2 of the thin film forming apparatus of FIG. Examples thereof include those provided with a partition plate that separates the pipe 7.

【0054】なお、前記各実施形態(第1〜第8)で
は、液滴形成を終了すると同時に密閉空間内の減圧を開
始することによって、第1の分圧を第2の分圧に急激に
低下させて、液滴をなす溶液の過飽和度を急激に高くし
て単結晶の結晶性薄膜を得ているが、前記減圧開始のタ
イミングは液滴形成の終了と同時に限定されるものでは
なく、他の条件等によって適切なタイミングで行うこと
ができる。第9実施形態の加熱および第10実施形態の
気体置換のタイミングについても前記と同様である。
In each of the above embodiments (first to eighth), the first partial pressure is rapidly changed to the second partial pressure by starting the pressure reduction in the closed space at the same time when the droplet formation is completed. By lowering, the degree of supersaturation of the solution forming the droplet is rapidly increased to obtain a single crystal crystalline thin film, but the timing of the start of the depressurization is not limited to the end of the droplet formation, It can be performed at an appropriate timing according to other conditions. The timing of heating in the ninth embodiment and gas replacement in the tenth embodiment is the same as above.

【0055】本発明の形成方法により形成された結晶性
薄膜は、各種電子デバイス(トランジスタ、ダイオー
ド、キャパシタ、有機EL装置における発光層や正孔注
入/輸送層等)用の半導体膜として好適に使用できる。
また、本発明の方法で薄膜形成がなされた電子デバイス
を備えた表示装置としては、液晶表示装置や有機EL表
示装置等が挙げられる。これらの表示装置は、例えば、
図4に示す各種電子機器に適用することができる。
The crystalline thin film formed by the forming method of the present invention is suitably used as a semiconductor film for various electronic devices (transistors, diodes, capacitors, light emitting layers in organic EL devices, hole injection / transport layers, etc.). it can.
A liquid crystal display device, an organic EL display device, or the like can be given as a display device including an electronic device on which a thin film is formed by the method of the present invention. These display devices are, for example,
It can be applied to various electronic devices shown in FIG.

【0056】図4(a)は、携帯電話の一例を示した斜
視図である。図4(a)において、符号600は携帯電
話本体を示し、符号601は前記表示装置を用いた表示
部を示している。図4(b)は、ワープロ、パソコンな
どの携帯型情報処理装置の一例を示した斜視図である。
図4(b)において、符号700は情報処理装置、符号
701はキーボードなどの入力部、符号703は情報処
理装置本体、符号702は前記表示装置を用いた表示部
を示している。
FIG. 4A is a perspective view showing an example of a mobile phone. In FIG. 4A, reference numeral 600 indicates a mobile phone main body, and reference numeral 601 indicates a display unit using the display device. FIG. 4B is a perspective view showing an example of a portable information processing device such as a word processor and a personal computer.
In FIG. 4B, reference numeral 700 is an information processing apparatus, reference numeral 701 is an input unit such as a keyboard, reference numeral 703 is the information processing apparatus main body, and reference numeral 702 is a display unit using the display device.

【0057】図4(c)は、腕時計型電子機器の一例を
示した斜視図である。図4(c)において、符号800
は時計本体を示し、符号801は前記表示装置を用いた
表示部を示している。図4(a)〜(c)に示すそれぞ
れの電子機器は、前記実施形態の方法で形成された結晶
性薄膜を半導体膜として使用した電子デバイスを備えた
表示装置を表示部として備えたものであり、本発明の薄
膜形成方法の特徴を有する。そのため、本発明の薄膜形
成方法によれば、これらの電子機器の製造方法を容易に
することができる。
FIG. 4C is a perspective view showing an example of a wrist watch type electronic device. In FIG. 4C, reference numeral 800
Indicates a watch body, and reference numeral 801 indicates a display unit using the display device. Each of the electronic devices shown in FIGS. 4A to 4C is provided with a display unit including a display device including an electronic device using the crystalline thin film formed by the method of the embodiment as a semiconductor film. There is a feature of the thin film forming method of the present invention. Therefore, according to the thin film forming method of the present invention, the manufacturing method of these electronic devices can be facilitated.

【0058】[0058]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の方法によ
れば、基板上の所定位置に配置された極少量の溶液を結
晶化させることができる。その結果、インクジェット法
によりパターン状の結晶性薄膜を基板上に容易に形成で
きるようになる。また、本発明の装置によれば、本発明
の方法が容易に実施できる。
As described above, according to the method of the present invention, it is possible to crystallize a very small amount of solution placed at a predetermined position on the substrate. As a result, the patterned crystalline thin film can be easily formed on the substrate by the inkjet method. Further, according to the device of the present invention, the method of the present invention can be easily implemented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の方法を実施可能な薄膜形成装置を示
す概略構成図である。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing a thin film forming apparatus capable of carrying out the method of the present invention.

【図2】 本発明の薄膜形成装置の一実施形態を示す概
略構成図である。
FIG. 2 is a schematic configuration diagram showing an embodiment of a thin film forming apparatus of the present invention.

【図3】 本発明の請求項8に係る方法が容易に実施可
能なステージを示す概略斜視図である。
FIG. 3 is a schematic perspective view showing a stage on which a method according to claim 8 of the present invention can be easily implemented.

【図4】 本発明の方法で薄膜形成がなされた電子デバ
イスを備えた表示装置を有する電子機器の例を示す斜視
図である。
FIG. 4 is a perspective view showing an example of an electronic apparatus having a display device including an electronic device on which a thin film is formed by the method of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…密閉容器、2…X−Yステージ、3…ヘッド(イン
クジェット装置)、4…タンク(気体導入装置、気体成
分調整装置)、5…配管(気体導入装置、気体成分調整
装置)、6…ポンプ(減圧装置)、7…配管(減圧装
置)、8…ステージ、81…基板を載せる台部、82…
気体吹き出し部、83…気体吸い込み部、82a…吹き
出し口、83a…吸い込み口、600…携帯電話本体、
601…表示部、700…情報処理装置、701…入力
部、703…情報処理装置本体、702…表示部、80
0…時計本体、801…表示部。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Airtight container, 2 ... XY stage, 3 ... Head (inkjet device), 4 ... Tank (gas introducing device, gas component adjusting device), 5 ... Piping (gas introducing device, gas component adjusting device), 6 ... Pump (pressure reducing device), 7 ... Piping (pressure reducing device), 8 ... Stage, 81 ... Stand for mounting substrate, 82 ...
Gas blowing part, 83 ... Gas sucking part, 82a ... Blowing port, 83a ... Sucking port, 600 ... Mobile phone main body,
601 ... Display unit, 700 ... Information processing device, 701 ... Input unit, 703 ... Information processing device main body, 702 ... Display unit, 80
0 ... Clock body, 801 ... Display section.

Claims (14)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 薄膜形成材料が溶媒に溶解している溶液
の液滴を基板上に配置する工程を有する薄膜の形成方法
において、 配置された後の前記液滴近傍での前記溶媒と同じ成分か
らなる気体の分圧を、当該液滴をなす溶液が過飽和状態
になる第1の分圧に制御することにより、前記液滴に結
晶核を生成させ、 前記結晶核の生成後に、前記液滴近傍での前記気体の分
圧を、前記結晶核が結晶成長可能となる第2の分圧に低
下させることを特徴とする薄膜の形成方法。
1. A method of forming a thin film, comprising the step of placing a droplet of a solution in which a thin film forming material is dissolved in a solvent on a substrate, and the same component as the solvent in the vicinity of the droplet after being placed. By controlling the partial pressure of the gas consisting of the first partial pressure of the solution forming the droplet to become supersaturated, crystal nuclei are generated in the droplets, and after the crystal nuclei are generated, the droplets A method for forming a thin film, characterized in that the partial pressure of the gas in the vicinity is lowered to a second partial pressure at which the crystal nuclei can grow crystals.
【請求項2】 薄膜形成材料が溶媒に溶解している溶液
の液滴を基板上に配置する工程を有する薄膜形成方法に
おいて、 前記配置された液滴をなす溶液を過飽和状態にするとと
もに、前記液滴近傍での前記溶媒と同じ成分からなる気
体の分圧を、当該液滴をなす溶液から溶媒が蒸発し難い
第1の分圧に制御することにより、前記液滴に結晶核を
生成させ、 前記結晶核の生成後に、前記液滴近傍での前記気体の分
圧を、当該結晶核の結晶成長が更なる結晶核の生成より
も優先的に生じる第2の分圧となるまで低下させること
を特徴とする薄膜の形成方法。
2. A thin film forming method comprising a step of arranging a droplet of a solution in which a thin film forming material is dissolved in a solvent on a substrate, wherein the solution forming the arranged droplet is supersaturated, and By controlling the partial pressure of the gas composed of the same component as the solvent in the vicinity of the droplet to a first partial pressure at which the solvent does not easily evaporate from the solution forming the droplet, crystal nuclei are generated in the droplet. After the formation of the crystal nuclei, the partial pressure of the gas in the vicinity of the droplet is reduced until the crystal growth of the crystal nuclei reaches a second partial pressure that occurs preferentially over the formation of further crystal nuclei. A method for forming a thin film, comprising:
【請求項3】 前記第1の分圧への分圧制御を、前記液
滴の配置間隔の調整によって行う請求項1または2記載
の薄膜の形成方法。
3. The method for forming a thin film according to claim 1, wherein the partial pressure control to the first partial pressure is performed by adjusting an arrangement interval of the droplets.
【請求項4】 前記第1の分圧への分圧制御を、前記液
滴をなす溶液の量の調整によって行う請求項1または2
記載の薄膜の形成方法。
4. The partial pressure control to the first partial pressure is performed by adjusting the amount of the solution forming the droplet.
A method for forming a thin film as described above.
【請求項5】 前記第1の分圧への分圧制御を、前記液
滴を基板上に配置する前に、当該液滴が配置される位置
の前記気体の分圧を調整することによって行う請求項1
または2記載の薄膜の形成方法。
5. The partial pressure control to the first partial pressure is performed by adjusting the partial pressure of the gas at the position where the droplet is arranged before the droplet is arranged on the substrate. Claim 1
Alternatively, the method of forming a thin film as described in 2.
【請求項6】 前記気体の分圧を前記第2の分圧に低下
させるために、前記液滴近傍の雰囲気を減圧する請求項
1または2記載の薄膜の形成方法。
6. The method for forming a thin film according to claim 1, wherein the atmosphere in the vicinity of the droplet is reduced in order to reduce the partial pressure of the gas to the second partial pressure.
【請求項7】 前記気体の分圧を前記第2の分圧に低下
させるために、前記液滴近傍の温度を上昇させる請求項
1または2記載の薄膜の形成方法。
7. The method of forming a thin film according to claim 1, wherein the temperature in the vicinity of the droplet is increased in order to reduce the partial pressure of the gas to the second partial pressure.
【請求項8】 前記気体の分圧を前記第2の分圧に低下
させるために、前記液滴近傍の雰囲気を不活性ガス雰囲
気に置換する請求項1または2記載の薄膜の形成方法。
8. The method for forming a thin film according to claim 1, wherein the atmosphere in the vicinity of the droplet is replaced with an inert gas atmosphere in order to reduce the partial pressure of the gas to the second partial pressure.
【請求項9】 薄膜形成材料はオリゴフェニレンまたは
その誘導体である請求項1乃至8のいずれか1項に記載
の薄膜の形成方法。
9. The method for forming a thin film according to claim 1, wherein the thin film forming material is oligophenylene or a derivative thereof.
【請求項10】 薄膜形成材料はオリゴチオフェンまた
はその誘導体である請求項1乃至8のいずれか1項に記
載の薄膜の形成方法。
10. The method for forming a thin film according to claim 1, wherein the thin film forming material is oligothiophene or a derivative thereof.
【請求項11】 請求項1乃至10のいずれか1項に記
載の方法で薄膜を形成する工程を有する電子デバイスの
形成方法。
11. A method for forming an electronic device, comprising a step of forming a thin film by the method according to claim 1.
【請求項12】 基板を載置するステージと、薄膜形成
材料が溶媒に溶解している溶液を液滴として吐出する吐
出装置と、前記ステージの上部の気体組成を変化させる
気体成分調整装置と、を備えた薄膜形成装置。
12. A stage for mounting a substrate, a discharge device for discharging a solution in which a thin film forming material is dissolved in a solvent as droplets, and a gas component adjusting device for changing the gas composition above the stage. A thin film forming apparatus.
【請求項13】 基板を載置するステージと、薄膜形成
材料が溶媒に溶解している溶液を液滴として吐出する吐
出装置と、前記ステージの上部に所定成分の気体を導入
する気体導入装置と、前記ステージの上部の圧力を低下
させる減圧装置と、を備えた薄膜形成装置。
13. A stage on which a substrate is placed, a discharge device for discharging a solution in which a thin film forming material is dissolved in a solvent as droplets, and a gas introduction device for introducing a gas of a predetermined component onto the upper part of the stage. And a pressure reducing device for reducing the pressure on the upper part of the stage.
【請求項14】 薄膜形成材料が溶媒に溶解している溶
液の液滴を基板上に配置し、前記液滴近傍での前記溶媒
と同じ成分からなる気体の分圧を制御することにより、
前記液滴に結晶核を生成させた後に前記結晶核を成長さ
せて結晶性薄膜を形成することを特徴とする薄膜の形成
方法。
14. A droplet of a solution in which a thin film forming material is dissolved in a solvent is arranged on a substrate, and the partial pressure of a gas composed of the same component as the solvent in the vicinity of the droplet is controlled,
A method for forming a thin film, comprising forming crystal nuclei in the droplets and then growing the crystal nuclei to form a crystalline thin film.
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