JP2003203960A - Substrate processing device - Google Patents

Substrate processing device

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JP2003203960A
JP2003203960A JP2002001175A JP2002001175A JP2003203960A JP 2003203960 A JP2003203960 A JP 2003203960A JP 2002001175 A JP2002001175 A JP 2002001175A JP 2002001175 A JP2002001175 A JP 2002001175A JP 2003203960 A JP2003203960 A JP 2003203960A
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Sanenobu Matsunaga
実信 松永
Kenji Sugimoto
憲司 杉本
Katsuji Yoshioka
勝司 吉岡
Kaoru Aoki
薫 青木
Moritaka Yano
守隆 矢野
Satoshi Yamamoto
聡 山本
Takeshi Mihashi
毅 三橋
Takashi Nagao
隆 長尾
Mitsumasa Kodama
光正 児玉
Masakazu Sanada
雅和 真田
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate processing device having high flexibility of layout. <P>SOLUTION: Related to an interface position IP1, that gives/receives a substrate W among a plurality of transfer robots 30, a substrate-holding part 51 is made movable by an operation of an air cylinder 53 within a range, corresponding to the size of other processing units arranged in a laminate. Since a movable range can be varied by adjusting length of the air cylinder 53, restriction in the size of the arranged processing unit is reduced. Further, since a telescopic range of an arm 40 can be made minimum, the structure of the transfer robot 30 can be simplified and uniformalized. Since an occupied area also becomes small, the device footprint is reduced. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体基板、液晶
表示装置用ガラス基板等(以下、「基板」と称する)に
所定の処理を行う基板処理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate processing apparatus for performing a predetermined process on a semiconductor substrate, a glass substrate for a liquid crystal display device or the like (hereinafter referred to as "substrate").

【0002】[0002]

【従来の技術】周知のように、半導体や液晶ディスプレ
イなどの製品は、上記基板に対して洗浄、レジスト塗
布、露光、現像、エッチング、層間絶縁膜の形成、熱処
理、ダイシングなどの一連の諸処理を施すことにより製
造されている。
As is well known, products such as semiconductors and liquid crystal displays are subjected to a series of various treatments such as cleaning, resist coating, exposure, development, etching, interlayer insulating film formation, heat treatment, and dicing on the above-mentioned substrate. It is manufactured by applying.

【0003】こうした複数の工程を含む製造ラインにお
ける製造効率を高めるために、従来から、それぞれの処
理工程を担当する処理部や、処理部間で基板を受け渡す
搬送路を、できるだけ小型化および高集積化した基板処
理装置の開発・実用化が行われてきた。すなわち、複数
の処理部の効率的な配置や、複数の移載ロボットを工程
ごとに配置することで、処理・搬送効率を高めることが
目指されてきた。
In order to improve the manufacturing efficiency in a manufacturing line including a plurality of processes, conventionally, a processing section in charge of each processing step and a transfer path for transferring a substrate between the processing sections are made as small and high as possible. An integrated substrate processing apparatus has been developed and put into practical use. That is, it has been aimed to improve the processing / transport efficiency by efficiently disposing a plurality of processing units and disposing a plurality of transfer robots for each process.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】こうした小型化および
高集積化に伴って、個々の処理部や移載ロボットの構造
やレイアウトには、自ずから制約条件が生じてくる。つ
まり、処理部のレイアウトの効率化を求めるが故に、複
雑な、あるいは特別な構造や素材を採用せざるを得ない
状況が生じる。それらは、設計および製造上の困難さや
製造コストの増加を生じさせる原因となる。
With such miniaturization and high integration, there are naturally constraints on the structures and layouts of individual processing units and transfer robots. That is, a situation arises in which a complicated or special structure or material has to be adopted because the layout of the processing unit is required to be efficient. They cause design and manufacturing difficulties and increase manufacturing costs.

【0005】より具体的な例を、図5にて説明する。図
5は、従来の基板処理装置100において、複数の移載
ロボット101(101a〜101c)同士の基板Wの
授受を説明する図である。それぞれの移載ロボット10
1は、3本の支持ピンを備えるインタフェースポジショ
ン103を囲むように配置されている。インタフェース
ポジション103の上部または下部、あるいはそれらの
両方には、基板に対し所定の処理を行う処理ユニットが
積層配置されているとする。
A more specific example will be described with reference to FIG. FIG. 5 is a diagram for explaining the transfer of the substrate W between the plurality of transfer robots 101 (101a to 101c) in the conventional substrate processing apparatus 100. Each transfer robot 10
1 is arranged so as to surround an interface position 103 having three support pins. It is assumed that processing units for performing a predetermined processing on the substrate are stacked and arranged on the upper part or the lower part of the interface position 103, or both of them.

【0006】それぞれの移載ロボット101は、図示を
省略する駆動機構によって、紙面に垂直な方向への移
動、および図示を省略する紙面に垂直な方向の中心軸の
周りの回転が可能である。また、移載ロボット101は
それぞれ、図示を省略する駆動機構によって紙面の面内
の一方向に伸縮自在であり、基板を搭載可能なアーム1
02(102a〜102c)を備えている。移載ロボッ
ト101は、移載ロボット101それ自体の回転および
上下動と、アーム102の伸縮とを適宜組み合わせるこ
とにより、積層配置された各処理ユニットへのアクセ
ス、および基板の授受を行う。
Each transfer robot 101 can be moved in a direction perpendicular to the paper surface by a drive mechanism (not shown) and rotated about a central axis in a direction perpendicular to the paper surface (not shown). In addition, each transfer robot 101 is extendable and retractable in one direction within the plane of the drawing by a drive mechanism (not shown), and the arm 1 on which a substrate can be mounted.
02 (102a to 102c). The transfer robot 101 appropriately accesses the rotation and vertical movement of the transfer robot 101 itself and the expansion and contraction of the arm 102 to access the processing units arranged in a stack and transfer the substrates.

【0007】また、移載ロボット101同士の基板の授
受は、インタフェースポジション103にて行われる。
例えば、移載ロボット101aがアーム102a上に保
持している基板Wの、移載ロボット101bへの受け渡
しは、移載ロボット101aがアーム102aを伸ばし
て、3本の支持ピンP上に基板Wを載置した後、移載ロ
ボット101bがアーム102bを伸ばしてこれを取得
するというプロセスによって実現される。他の移載ロボ
ット間の基板の受け渡しについても、これらと同様に行
われる。
The transfer of substrates between the transfer robots 101 is performed at the interface position 103.
For example, when the substrate W held by the transfer robot 101a on the arm 102a is transferred to the transfer robot 101b, the transfer robot 101a extends the arm 102a and transfers the substrate W onto the three support pins P. After the placement, the transfer robot 101b extends the arm 102b and acquires it. Substrate transfer between other transfer robots is performed in the same manner.

【0008】基板処理装置を小型化するという観点から
は、インタフェースポジション103の占有面積はでき
るだけ小さいことが好ましい。しかしながらインタフェ
ースポジション103の大きさは、上下に積層配置され
た処理ユニットのうち、最も大きな平面専有面積を有要
する処理ユニットの平面占有面積によって規定される
が、積層配置される処理ユニットの種別によっては、小
型化が困難なものがある。インタフェースポジション1
03が大きい箇所ほど、他の箇所に比べ、基板を受け渡
す移載ロボット101が、大きな伸縮範囲(これをスト
ローク範囲Sとする)を有するアーム102が必要とさ
れる。また、アーム102のストローク範囲は、ロボッ
トの外形寸法A、および積層配置される処理ユニットの
大きさBによって規定されるが、ストローク範囲Sが大
きいほど、移載ロボットが大型化し、基板処理装置全体
の平面占有面積が大きくなってしまう。同時に移載ロボ
ットの大型化によるコスト高の要因となってしまう。
From the viewpoint of downsizing the substrate processing apparatus, it is preferable that the area occupied by the interface position 103 is as small as possible. However, the size of the interface position 103 is defined by the plane occupying area of the processing unit that requires the largest plane occupying area among the processing units arranged in the upper and lower layers. , There are some that are difficult to miniaturize. Interface position 1
As the area 03 is larger, the transfer robot 101 that transfers the substrate is required to have an arm 102 having a larger expansion / contraction range (this range is referred to as a stroke range S) than other areas. The stroke range of the arm 102 is defined by the outer dimension A of the robot and the size B of the processing units to be stacked, and the larger the stroke range S, the larger the transfer robot becomes, and the entire substrate processing apparatus. The area occupied by the plane becomes large. At the same time, the transfer robot becomes large in size, which causes a high cost.

【0009】すなわち、製造コストやメンテナンスの面
からは、複数の移載ロボット101が、配置される場所
によらずできるだけ同一の構造を有し、かつ、できるだ
けストロークの短いアーム102を備えることが望まし
いことになる。
That is, from the viewpoint of manufacturing cost and maintenance, it is desirable that the plurality of transfer robots 101 have the same structure as much as possible regardless of the place where they are arranged and that the arm 102 has the shortest possible stroke. It will be.

【0010】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
であり、処理ユニットの平面専有面積やアクセス方向に
依存しない、自由度の高い処理ユニットの配置が可能な
基板処理装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above problems, and it is an object of the present invention to provide a substrate processing apparatus capable of arranging processing units with a high degree of freedom, without depending on the plane occupation area of the processing unit or the access direction. To aim.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項1の発明は、基板に所定の処理を行う複数の
処理ユニットと、前期複数の処理ユニットにアクセスし
て基板の移載を行う複数の移載手段と、前記複数の移載
手段同士の基板の授受に供される少なくとも1つの授受
手段を収容した基板授受ユニットと、を備える基板処理
装置であって、前記複数の処理ユニットと、前記基板授
受ユニットとが積層配置され、前記移載手段からの当該
複数の処理ユニットに対するアクセス方向が、それぞれ
の処理ユニットによって異なっており、かつ、前記少な
くとも1つの授受手段が前記基板授受ユニット中におい
て、前記複数の処理ユニットのうち最大の平面占有面積
を有する処理ユニットの平面占有面積の範囲内で水平方
向に移動可能であること、を特徴とする。
In order to solve the above-mentioned problems, the invention of claim 1 is to transfer a substrate by accessing a plurality of processing units for performing a predetermined processing on a substrate and a plurality of processing units in the previous period. A substrate processing apparatus comprising: a plurality of transfer means for performing the transfer; and a substrate transfer unit accommodating at least one transfer means used for transfer of substrates between the plurality of transfer means, the plurality of processing units And the substrate transfer unit are stacked and arranged, access directions of the plurality of processing units from the transfer unit are different depending on each processing unit, and the at least one transfer unit is the substrate transfer unit. Of the plurality of processing units, the processing unit having the largest plane occupying area is horizontally movable within the range of the plane occupying area. And, characterized by.

【0012】また、請求項2の発明は、請求項1に記載
の基板処理装置であって、前記複数の処理ユニットに、
基板に対し加熱処理を行う加熱ユニット、あるいは冷却
処理を行う冷却ユニットが含まれることを特徴とする。
The invention according to claim 2 is the substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the plurality of processing units include:
It is characterized in that it includes a heating unit for performing heat treatment on the substrate or a cooling unit for performing cooling treatment.

【0013】また、請求項3の発明は、基板に所定の処
理を行う複数の処理ユニットと、水平方向において互い
に異なる位置に独立して配置され、前記複数の処理ユニ
ットにアクセスして基板の移載を行う複数の移載手段
と、前記複数の移載手段の間の基板の授受に供される複
数の授受手段と、を備える基板処理装置であって、前記
複数の授受手段が、隣接配置される移載手段が占有する
領域の水平幅の範囲内で移動可能である、ことを特徴と
する。
According to a third aspect of the present invention, a plurality of processing units for performing a predetermined processing on a substrate are independently arranged at positions different from each other in the horizontal direction, and the plurality of processing units are accessed to transfer the substrate. 1. A substrate processing apparatus comprising: a plurality of transfer means for performing a transfer; and a plurality of transfer means for transferring a substrate between the plurality of transfer means, wherein the plurality of transfer means are adjacent to each other. The transfer means is movable within the range of the horizontal width of the area occupied by the transfer means.

【0014】また、請求項4の発明は、請求項3に記載
の基板処理装置であって、前記複数の授受手段が積層配
置されることを特徴とする。
The invention according to a fourth aspect is the substrate processing apparatus according to the third aspect, wherein the plurality of transfer means are arranged in layers.

【0015】また、請求項5の発明は、基板に所定の処
理を行う複数の処理ユニットと、水平方向において互い
に異なる位置に独立して配置され、前記複数の処理ユニ
ットにアクセスして基板の移載を行う複数の移載手段
と、前記複数の移載手段の間の基板の授受に供される授
受手段と、を備える基板処理装置であって、前記授受手
段が基板に対し所定の処理を行いつつ水平方向に移動可
能であること、を特徴とする。
According to a fifth aspect of the present invention, a plurality of processing units for performing a predetermined processing on the substrate are independently arranged at different positions in the horizontal direction, and the plurality of processing units are accessed to transfer the substrates. What is claimed is: 1. A substrate processing apparatus comprising: a plurality of transfer means for performing a transfer; and a transfer means for transferring a substrate between the plurality of transfer means, wherein the transfer means performs a predetermined process on the substrate. It is characterized in that it can move in the horizontal direction while performing.

【0016】また、請求項6の発明は、請求項1ないし
請求項4のいずれかに記載の基板処理装置であって、前
記授受手段が基板に対し所定の処理を行いつつ移動可能
であること、を特徴とする。
The invention according to claim 6 is the substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein the transfer means is movable while performing a predetermined process on the substrate. , Is characterized.

【0017】また、請求項7の発明は、請求項5ないし
請求項6のいずれかに記載の基板処理装置であって、前
記所定の処理が基板の冷却処理であることを特徴とす
る。
The invention of claim 7 is the substrate processing apparatus according to any one of claims 5 to 6, wherein the predetermined process is a cooling process of the substrate.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】<第1の実施の形態>図1は、本
発明の第1の実施の形態に係る基板処理装置1の要部を
示す図である。なお、図1には、水平面をxy平面、こ
れに垂直な方向をz方向とする3次元座標系を付してい
る。xy平面については、紙面に垂直な方向をy方向と
している。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION <First Embodiment> FIG. 1 is a diagram showing a main part of a substrate processing apparatus 1 according to a first embodiment of the present invention. In FIG. 1, a three-dimensional coordinate system in which the horizontal plane is the xy plane and the direction perpendicular to the horizontal plane is the z direction is attached. Regarding the xy plane, the direction perpendicular to the plane of the drawing is the y direction.

【0019】基板処理装置1は、基板Wに対し種々の処
理を行う複数の処理ユニットが積層配置された処理部1
0(11、12、13)を備える。また、それぞれの処
理部10の間には、基板の移載や搬送を行う移載手段と
しての移載ロボット30(31、32)が備わる搬送路
20(21、22)が配置される。これらの移載ロボッ
ト31、32は、それらの水平方向の配置位置が互いに
異なっている。
The substrate processing apparatus 1 includes a processing section 1 in which a plurality of processing units for performing various kinds of processing on a substrate W are stacked and arranged.
0 (11, 12, 13). A transfer path 20 (21, 22) provided with a transfer robot 30 (31, 32) as transfer means for transferring and transferring substrates is arranged between the processing units 10. These transfer robots 31 and 32 are different from each other in the arrangement position in the horizontal direction.

【0020】移載ロボット30は、アーム40(41、
42)を備えている。また、図示を省略する駆動機構に
よる、矢印AR1に示すような移載ロボット30そのも
ののz軸方向の上下動と、z軸方向を回転軸とする回転
と、矢印AR2に示すようなアーム40の水平方向の伸
縮動作とを適宜組み合わせることにより、移載ロボット
30は、積層された各処理ユニットとの間における基板
の受け渡しと、ある処理ユニットから他の処理ユニット
への基板の搬送を行う。移載ロボット30およびアーム
40の図示しない駆動機構の動作は、コントローラ61
によって制御されている。
The transfer robot 30 includes an arm 40 (41,
42). In addition, a vertical movement of the transfer robot 30 itself as shown by an arrow AR1 in the z-axis direction by a drive mechanism (not shown), a rotation about the z-axis as a rotation axis, and an arm 40 as shown by an arrow AR2. The transfer robot 30 transfers the substrates to and from the stacked processing units and transfers the substrates from one processing unit to another processing unit by appropriately combining the horizontal expansion and contraction operation. The operation of the drive mechanism (not shown) of the transfer robot 30 and the arm 40 is performed by the controller 61.
Is controlled by.

【0021】処理部11には、処理ユニットとして、上
から順に加熱ユニットHP1、冷却ユニットCP1、加
熱ユニットHP2、冷却ユニットCP2の各処理ユニッ
トが積層配置されている。加熱ユニットHP1およびH
P2には、基板を所定の温度にまで加熱し、あるいは高
温度状態に維持する、いわゆるホットプレートが備わっ
ている。冷却ユニットCP1およびCP2には、基板を
所定の温度にまで冷却し、あるいは低温度状態に維持す
る、いわゆるクールプレートが備わっている。また、加
熱ユニットHP1およびHP2のx軸方向の占有幅をD
H、冷却ユニットCP1およびCP2のx軸方向の占有
幅をDCとし、DH>DCであるとすると、積層配置さ
れた状態においては、加熱ユニットHP1およびHP2
の占有幅DHが、処理部11の占有幅であると規定する
ことができる。
In the processing section 11, as a processing unit, a heating unit HP1, a cooling unit CP1, a heating unit HP2 and a cooling unit CP2 are stacked in this order from the top. Heating units HP1 and H
The P2 is provided with a so-called hot plate that heats the substrate to a predetermined temperature or maintains the high temperature state. The cooling units CP1 and CP2 are provided with so-called cool plates that cool the substrate to a predetermined temperature or maintain it in a low temperature state. In addition, the occupied width of the heating units HP1 and HP2 in the x-axis direction is D
If H and the occupying widths of the cooling units CP1 and CP2 in the x-axis direction are DC and DH> DC, the heating units HP1 and HP2 in the stacked arrangement state.
The occupying width DH can be defined as the occupying width of the processing unit 11.

【0022】加熱ユニットHP1および冷却ユニットC
P1には、搬送路21側に、開口部111および112
がそれぞれ備わっており、搬送路21に備わる移載ロボ
ット31のアーム41が、これらの開口部を介して、そ
れぞれの処理ユニットにアクセス可能となっている。一
方、加熱ユニットHP2および冷却ユニットCP2に
は、搬送路22側に、開口部113および114がそれ
ぞれ備わっており、搬送路22に備わる移載ロボット3
2のアーム42が、これらの開口部を介して、それぞれ
の処理ユニットにアクセス可能となっている。本実施の
形態においては、基板Wに対して、処理部12における
所定の処理、加熱ユニットHP1および冷却ユニットC
P1にける熱処理、処理部13における所定の処理、さ
らには加熱ユニットHP1および冷却ユニットCP2に
おける熱処理という順に処理がなされるものとする。処
理部12における処理としては、例えば反射防止膜塗布
処理、処理部13における処理としては、例えばレジス
ト塗布処理などが、好適な態様の一例として考えられ
る。あるいは、いずれかの処理部において、現像処理が
行える態様であってもよい。
Heating unit HP1 and cooling unit C
P1 has openings 111 and 112 on the side of the transport path 21.
Are provided, and the arm 41 of the transfer robot 31 provided in the transport path 21 can access the respective processing units through these openings. On the other hand, the heating unit HP2 and the cooling unit CP2 are provided with openings 113 and 114 on the transport path 22 side, respectively, and the transfer robot 3 provided in the transport path 22.
Two arms 42 can access the respective processing units through these openings. In the present embodiment, with respect to the substrate W, the predetermined processing in the processing unit 12, the heating unit HP1 and the cooling unit C are performed.
It is assumed that the heat treatment in P1, the predetermined treatment in the processing unit 13, and the heat treatment in the heating unit HP1 and the cooling unit CP2 are performed in this order. As the processing in the processing section 12, for example, an antireflection film coating processing, and as the processing in the processing section 13, for example, resist coating processing is considered as an example of a suitable aspect. Alternatively, the development processing may be performed in any of the processing units.

【0023】冷却ユニットCP2の下方には、さらに、
基板授受ユニットとしてのインタフェースポジションI
P1が設置されている。インタフェースポジションIP
1は、上述のような処理手順を遂行するうえで必須とな
る、搬送路21の移載ロボット31と搬送路22の移載
ロボット32との間の、基板Wの受け渡しを可能とする
ために設けられている。インタフェースポジションIP
1には、3本の支持ピン52からなる授受手段としての
基板支持部51が備わっており、基板Wは、アーム40
によって、この3本の支持ピン52上に載置される。あ
るいは、支持ピン52上に載置された基板Wが、アーム
40によって取得される。
Below the cooling unit CP2,
Interface position I as board transfer unit
P1 is installed. Interface position IP
1 is to enable the transfer of the substrate W between the transfer robot 31 of the transfer path 21 and the transfer robot 32 of the transfer path 22, which is indispensable for performing the above-described processing procedure. It is provided. Interface position IP
1 is provided with a substrate support portion 51 as a transfer means composed of three support pins 52, and the substrate W is connected to the arm 40.
Is placed on these three support pins 52. Alternatively, the substrate W placed on the support pins 52 is acquired by the arm 40.

【0024】本発明においては、この基板支持部51
が、矢印AR3に示すようにx軸方向にスライド可能と
なっている。すなわち、処理部12、加熱ユニットHP
1および冷却ユニットCP1にて所定の処理がなされた
基板Wが、移載ロボット31のアーム41によって、イ
ンタフェースポジションIP1の端部にて基板支持部5
1の3本の支持ピン52上に載置されると、基板支持部
51は、x軸の負の向きにもう一方の端部までスライド
移動する。移動がなされた後、今度は移載ロボット32
のアーム42が、載置された基板Wをこの位置において
受け取って、処理部13、加熱ユニットHP2および冷
却ユニットCP2における後段の処理に供することにな
る。
In the present invention, this substrate support portion 51
However, it is slidable in the x-axis direction as shown by arrow AR3. That is, the processing unit 12, the heating unit HP
1 and the substrate W which has been subjected to the predetermined processing in the cooling unit CP1 by the arm 41 of the transfer robot 31 at the end of the interface position IP1.
When placed on the three support pins 52 of No. 1, the substrate support unit 51 slides to the other end in the negative direction of the x-axis. After being moved, this time the transfer robot 32
The arm 42 receives the mounted substrate W at this position and provides it for the subsequent processing in the processing unit 13, the heating unit HP2, and the cooling unit CP2.

【0025】この基板支持部51の移動は、エアシリン
ダ53の動作によって実現される。コントローラ61
が、位置確認センサ54からの信号を検知しつつ電磁弁
62を制御することにより、AIR配管63を通じてエ
アシリンダ53内の空気の流出入が調整され、基板支持
部51の移動が可能とされている。
The movement of the substrate support portion 51 is realized by the operation of the air cylinder 53. Controller 61
However, by controlling the solenoid valve 62 while detecting the signal from the position confirmation sensor 54, the inflow and outflow of the air in the air cylinder 53 through the AIR pipe 63 is adjusted, and the substrate support portion 51 can be moved. There is.

【0026】基板支持部51の可動範囲M1は、処理部
の占有幅、すなわち積層配置された処理ユニットがそれ
ぞれ有する水平方向の占有幅のうちの最大値によって規
定されるので、図1の場合は加熱ユニットHP1および
HP2の占有幅DHによって規定されることになる。一
般に処理ユニットに応じて、処理部の占有幅は異なるの
で、基板支持部51の可動範囲M1も異なることになる
が、エアシリンダ53の長さを調整することで、上記と
同様の態様で対応可能である。一方、アーム40と基板
支持部51との間の基板Wの授受は、インタフェースポ
ジションIP1端部においてのみ行えればよいので、移
載ロボット30およびアーム40は、基板支持部51の
可動範囲M1にかかわらず、あるいは使用される箇所に
よらず同一の構造のものを用いることができる。しか
も、アーム40は、常に一定かつ短範囲でのみ伸縮すれ
ばよいことから、たわみ等の影響を回避できるととも
に、移載ロボットの小型化、占有面積の最小化が実現で
きる。
Since the movable range M1 of the substrate supporting portion 51 is defined by the maximum value of the occupation width of the processing portion, that is, the horizontal occupation width of each of the processing units arranged in a stack, in the case of FIG. It will be defined by the occupied width DH of the heating units HP1 and HP2. Generally, since the occupying width of the processing unit is different depending on the processing unit, the movable range M1 of the substrate supporting unit 51 is also different, but by adjusting the length of the air cylinder 53, it is possible to cope in the same manner as described above. It is possible. On the other hand, since the transfer of the substrate W between the arm 40 and the substrate support 51 need only be performed at the end of the interface position IP1, the transfer robot 30 and the arm 40 are within the movable range M1 of the substrate support 51. Regardless of the location or where it is used, the same structure can be used. Moreover, since the arm 40 is always required to expand and contract only within a fixed and short range, it is possible to avoid the influence of bending and the like, and it is possible to reduce the size of the transfer robot and minimize the occupied area.

【0027】以上より、本発明によって、積層配置され
た処理ユニットの下部にて基板支持部をスライド移動可
能とすることで、処理ユニットのレイアウトにおける制
約が低減されるといえる。これにより、生産効率の向上
を図ることができる。さらに、移載ロボットの構造の単
純化、画一化が可能となり、製造コストの低減も可能と
なる。また、基板処理装置の平面占有面積も最小化する
ことができる。
From the above, according to the present invention, it can be said that the restriction on the layout of the processing units is reduced by making the substrate supporting portions slidable under the processing units arranged in layers. Thereby, the production efficiency can be improved. Furthermore, the structure of the transfer robot can be simplified and standardized, and the manufacturing cost can be reduced. Further, the area occupied by the surface of the substrate processing apparatus can be minimized.

【0028】なお、処理部10に配置される処理ユニッ
トは上述の例に限定されないし、インタフェースポジシ
ョンIP1の配置箇所は、処理ユニットの下方には限定
されない。また、インタフェースポジションIP1に対
する移載ロボット30のアーム40のアクセスは、図1
に示すような2方向からのアクセスに限定されない。
The processing unit arranged in the processing unit 10 is not limited to the above-mentioned example, and the arrangement position of the interface position IP1 is not limited to below the processing unit. Further, the access of the arm 40 of the transfer robot 30 to the interface position IP1 is as shown in FIG.
The access is not limited to two directions as shown in FIG.

【0029】<第2の実施の形態>第1の実施形態にお
いては、インタフェースポジションにおける基板支持部
の態様が、積層配置された処理ユニットの水平方向の占
有幅に基づいて定まる場合を説明したが、本発明におい
て、基板支持部の態様はこれに限定されない。以下、第
2の実施形態において、隣接配置された装置構成要素の
水平方向の占有幅に基づいて、基板支持部の態様が定ま
り、かつ基板支持部が積層配置された場合の例について
説明する。
<Second Embodiment> In the first embodiment, the case where the mode of the substrate support portion at the interface position is determined based on the horizontal occupancy width of the processing units arranged in layers is described. In the present invention, the aspect of the substrate supporting portion is not limited to this. Hereinafter, in the second embodiment, an example in which the mode of the substrate support portion is determined based on the occupied widths of the adjacent device components in the horizontal direction and the substrate support portions are stacked is described.

【0030】図2は、第2の実施形態に係る基板処理装
置2の概略を示す平面図である。図3は、基板処理装置
2における基板の搬送を説明する側面図である。図1の
場合と同様に、図2および図3にも、3次元座標系を付
している。
FIG. 2 is a plan view showing the outline of the substrate processing apparatus 2 according to the second embodiment. FIG. 3 is a side view illustrating the transfer of the substrate in the substrate processing apparatus 2. Similar to the case of FIG. 1, a three-dimensional coordinate system is also attached to FIGS. 2 and 3.

【0031】図2および図3に示すように、基板処理装
置2は、カセットから基板の搬出入を行うインデクサI
Dと、第1処理部201と、第2処理部202と、イン
タフェースモジュールIFMとを主として備える。
As shown in FIGS. 2 and 3, the substrate processing apparatus 2 has an indexer I for loading and unloading substrates from a cassette.
It mainly includes a D, a first processing unit 201, a second processing unit 202, and an interface module IFM.

【0032】インデクサIDは、複数の基板を多段に収
納可能なカセットCを複数載置することができるととも
に、そのカセットCからの基板の払い出し、およびカセ
ットCへの基板の収納を担う移載ロボット211を備え
る。また、移載ロボット211にはアーム221が備わ
っている。移載ロボット211においては、図示を省略
する駆動機構により、y軸方向の水平移動、z軸方向の
垂直移動、z軸周りの回転、およびアーム221の伸縮
が可能となっている。移載ロボット211は、矢印AR
21およびAR22に示すように、これらの動作を適宜
組み合わせることによって、カセットCおよび後述する
インタフェースポジションIP2aとの間で基板Wの移
載を行う。なお、図2においてはカセットCが4つ載置
された場合を示しているが、載置されるカセットCの数
は、これに限定されない。
The indexer ID is capable of mounting a plurality of cassettes C capable of accommodating a plurality of substrates in multiple stages, and is also a transfer robot that takes out the substrates from the cassette C and stores the substrates in the cassette C. 211 is provided. Further, the transfer robot 211 is equipped with an arm 221. In the transfer robot 211, a drive mechanism (not shown) enables horizontal movement in the y-axis direction, vertical movement in the z-axis direction, rotation around the z-axis, and extension / contraction of the arm 221. The transfer robot 211 has an arrow AR.
21 and AR22, the substrate W is transferred between the cassette C and an interface position IP2a described later by appropriately combining these operations. Although FIG. 2 shows the case where four cassettes C are mounted, the number of cassettes C to be mounted is not limited to this.

【0033】第1処理部201は、複数の処理ユニット
群UN(UN1〜UN4)を備え、それぞれの処理ユニ
ット群UNごとに、基板に対し所定の処理を行う複数の
処理ユニットが積層配置されている。例えば、図3にお
いては、処理ユニット群UN1に3つの処理ユニットU
N11〜UN13が積層配置されている場合を示してい
る。なお、図3においては、図示の都合上、処理ユニッ
ト群UN1を、図2に示す本来の配置とは異なる配置で
示している。また、処理ユニット群の数および配置は、
図2の場合に限定されない。
The first processing unit 201 includes a plurality of processing unit groups UN (UN1 to UN4), and a plurality of processing units for performing a predetermined processing on a substrate are stacked and arranged for each processing unit group UN. There is. For example, in FIG. 3, three processing units U are included in the processing unit group UN1.
The case where N11 to UN13 are stacked is shown. In FIG. 3, for convenience of illustration, the processing unit group UN1 is shown in an arrangement different from the original arrangement shown in FIG. Further, the number and arrangement of the processing unit groups are
It is not limited to the case of FIG.

【0034】また、第1処理部201の中央部には、個
々の処理ユニットに基板Wを搬送し移載する、移載ロボ
ット212が備わっている。また、移載ロボット212
にはアーム222が備わっている。移載ロボット212
においては、図示を省略する駆動機構により、x軸方向
の水平移動、z軸方向の垂直移動、z軸周りの回転、お
よびアーム222の伸縮が可能となっている。移載ロボ
ット212は、矢印AR23〜AR26に示すように、
これらの動作を適宜組み合わせることによって、各処理
ユニットおよび後述するインタフェースポジションIP
2(IP2a、IP2b)との間で基板の移載を行う。
Further, at the center of the first processing unit 201, there is provided a transfer robot 212 for transferring and transferring the substrate W to each processing unit. In addition, the transfer robot 212
Is equipped with an arm 222. Transfer robot 212
In FIG. 3, a drive mechanism (not shown) enables horizontal movement in the x-axis direction, vertical movement in the z-axis direction, rotation around the z-axis, and extension / contraction of the arm 222. The transfer robot 212, as shown by arrows AR23 to AR26,
By appropriately combining these operations, each processing unit and an interface position IP described later
The substrate is transferred between the two (IP2a, IP2b).

【0035】各処理ユニットを構成する要素としては、
加熱ユニット、冷却ユニット、レジスト塗布処理ユニッ
ト、現像処理ユニット、洗浄処理ユニット、検査ユニッ
トなどがあり、基板処理装置2の目的に応じ適切な配置
がなされる。
The elements constituting each processing unit are as follows:
There are a heating unit, a cooling unit, a resist coating processing unit, a development processing unit, a cleaning processing unit, an inspection unit, and the like, which are arranged appropriately according to the purpose of the substrate processing apparatus 2.

【0036】第2処理部202も、第1処理部201と
同様に、基板に対し所定の処理を行うことを目的に設け
られている。第2処理部202を構成する要素として
は、基板に対して露光処理を行う露光装置や基板の検査
を行う検査装置などがあり、基板処理装置2の目的に応
じ適切な配置がなされる。
The second processing section 202, like the first processing section 201, is also provided for the purpose of performing a predetermined processing on the substrate. The elements that make up the second processing unit 202 include an exposure device that performs an exposure process on a substrate, an inspection device that inspects the substrate, and the like, and an appropriate arrangement is made according to the purpose of the substrate processing device 2.

【0037】インタフェースモジュールIFMには、移
載ロボット213と、授受手段としてのインタフェース
ポジションIP2(IP2a、IP2b)とが備わって
いる。
The interface module IFM includes a transfer robot 213 and an interface position IP2 (IP2a, IP2b) as a transfer means.

【0038】移載ロボット213は、インデクサIDと
第1処理部201との間にはさまれるように配置され、
かつインタフェースポジションIP2にも隣接配置され
ている。移載ロボット213は、アーム223を備え、
図示を省略する駆動機構によって第2処理部202、お
よびインタフェースポジションIP2bとの間で基板W
の受け渡しを行う。
The transfer robot 213 is arranged so as to be sandwiched between the indexer ID and the first processing section 201,
Further, it is also arranged adjacent to the interface position IP2. The transfer robot 213 includes an arm 223,
The substrate W is moved between the second processing unit 202 and the interface position IP2b by a drive mechanism (not shown).
To deliver.

【0039】2つのインタフェースポジションIP2
a、IP2bは、前者を下側、後者を上側とした積層配
置がなされている。インタフェースポジションIP2a
は、インデクサIDの移載ロボット211と第1処理部
201の移載ロボット212との間の基板の授受を担
い、インタフェースポジションIP2bは、第1処理部
201の移載ロボット212と第2処理部202の移載
ロボット213との間の基板の授受を担う。
Two interface positions IP2
The a and the IP2b are laminated so that the former is on the lower side and the latter is on the upper side. Interface position IP2a
Is responsible for the transfer of substrates between the transfer robot 211 of the indexer ID and the transfer robot 212 of the first processing unit 201, and the interface position IP2b is the transfer robot 212 of the first processing unit 201 and the second processing unit. It is responsible for the transfer of substrates to and from the transfer robot 213 of 202.

【0040】これらの間の基板Wの授受を可能とするた
め、それぞれのインタフェースポジションIP2aおよ
びIP2bには、第1の実施形態におけるインタフェー
スポジションIP1と同様に、矢印AR27およびAR
28にて示すようなx軸方向にスライド可能な基板支持
部231(231a、231b)が備わっている。基板
支持部231は3本の支持ピン232(232a、23
2b)によって基板Wを保持し、エアシリンダ233の
動作によってスライドする。基板支持部231の動作に
ついては第1の実施形態と同様であるので説明は省略す
る。
In order to enable the transfer of the substrate W between them, the arrows AR27 and AR are provided in the respective interface positions IP2a and IP2b, as in the interface position IP1 in the first embodiment.
Substrate support 231 (231a, 231b) that is slidable in the x-axis direction as shown at 28 is provided. The substrate support portion 231 includes three support pins 232 (232a, 23a).
The substrate W is held by 2b) and is slid by the operation of the air cylinder 233. The operation of the substrate support part 231 is the same as that of the first embodiment, and therefore its explanation is omitted.

【0041】また、移載ロボット213が、動作を行う
ための構造上の必要から、x軸方向において占有幅Dを
有するとすると、隣接するインタフェースポジションI
P2aの基板支持部231aが、この占有幅Dを隔てて
配置されたインデクサIDと第1処理部201との間で
受け渡し可能となるような可動範囲M2aを有すること
により、移載ロボット211アーム221、および移載
ロボット212のアーム222に長い伸縮範囲を備える
ことなく、基板の授受が可能となる。
Further, assuming that the transfer robot 213 has an occupied width D in the x-axis direction because of the structural necessity for performing an operation, the adjacent interface position I
The transfer robot 211 arm 221 has the movable range M2a in which the substrate support portion 231a of P2a can be passed between the indexer ID disposed with the occupied width D and the first processing portion 201. , And it is possible to transfer the substrate without providing the arm 222 of the transfer robot 212 with a long expansion / contraction range.

【0042】さらに、インタフェースポジションIP2
aの上部に積層配置されたインタフェースIP2bは、
移載ロボット212と移載ロボット213との間の基板
Wの授受を担うことから、両者がそれぞれインタフェー
スIP2bにアクセスする位置の間が、インタフェース
IP2bの基板支持部231bの可動範囲M2bとな
る。
Further, the interface position IP2
The interface IP2b stacked on top of a is
Since the substrate W is transferred between the transfer robot 212 and the transfer robot 213, the movable range M2b of the substrate support portion 231b of the interface IP2b is between the positions where they both access the interface IP2b.

【0043】上述のように、隣接配置された構成要素の
占有幅に応じて基板支持部231を可動とすることで、
基板処理装置における各構成要素の配置に対する制約が
低減される。また、それぞれの移載ロボットのアーム
は、常に短範囲でのみ伸縮すればよいことから、移載ロ
ボットの小型化、占有面積の最小化が可能となる。
As described above, by making the substrate supporting portion 231 movable in accordance with the occupied width of the adjacently arranged components,
The restrictions on the arrangement of each component in the substrate processing apparatus are reduced. In addition, since the arms of the respective transfer robots need to always extend and contract only within a short range, it is possible to downsize the transfer robots and minimize the occupied area.

【0044】さらに、インタフェースポジションを複数
備えることにより、異なる構成要素間との基板の授受を
同時に行うことができ、それら複数のインタフェースポ
ジションを積層配置することで、省スペースを図ること
もできる。
Furthermore, by providing a plurality of interface positions, it is possible to transfer the substrate between different components at the same time, and by arranging the plurality of interface positions in layers, it is possible to save space.

【0045】<第3の実施の形態>第1および第2の実
施形態においては、基板支持部は単に基板の搬送を中継
するだけであったが、基板支持部そのものが、搬送と同
時に所定の処理を施すことも可能である。以下、本実施
の形態では、基板支持部が冷却処理機能を兼ね備えた場
合を説明する。
<Third Embodiment> In the first and second embodiments, the substrate support portion merely relays the transfer of the substrate, but the substrate support portion itself is provided with a predetermined transfer at the same time. It is also possible to perform processing. Hereinafter, in the present embodiment, a case where the substrate supporting unit also has a cooling processing function will be described.

【0046】図4は、第3の実施の形態の基板処理装置
に係る授受手段としてのインタフェースポジションIP
3、およびこれに備わる基板支持部300を模式的に示
す図である。図4(a)は平面図、図4(b)は側面図
である。インタフェースポジションIP3は、例えば、
基板処理装置1におけるインタフェースポジションIP
1と置換して用いることができる。
FIG. 4 shows an interface position IP as a transfer means according to the substrate processing apparatus of the third embodiment.
3A and 3B are diagrams schematically showing a substrate support portion 300 provided therein. FIG. 4A is a plan view and FIG. 4B is a side view. The interface position IP3 is, for example,
Interface position IP in the substrate processing apparatus 1
It can be used in place of 1.

【0047】基板支持部300は、エアシリンダ307
の動作により、ガイド308に沿って位置(ア)から位
置(イ)まで移動可能である。移動の機構については、
第1の実施の形態における基板支持部51と同様である
ので説明を省略する。また、基板支持部300は、その
上部にクールプレート301を備えており、基板Wがそ
の上に載置されると、冷却水チューブ303を通じて内
部に供給される冷却水を冷媒として、基板Wが冷却され
る。なお、冷却水チューブ303は、基板支持部300
の移動に応じて引き回し可能となっており、基板支持部
300の移動と同時に基板Wの冷却が行える。
The substrate support portion 300 is composed of an air cylinder 307.
By the operation of, it is possible to move from position (A) to position (A) along the guide 308. For the mechanism of movement,
The description is omitted because it is the same as the substrate support portion 51 in the first embodiment. Further, the substrate support part 300 is provided with a cool plate 301 on the upper part thereof, and when the substrate W is placed thereon, the substrate W is cooled by the cooling water supplied inside through the cooling water tube 303 as a coolant. To be cooled. The cooling water tube 303 is used for the substrate supporting unit 300.
The substrate W can be cooled according to the movement of the substrate W, and the substrate W can be cooled simultaneously with the movement of the substrate supporting unit 300.

【0048】位置(ア)において基板Wが載置される
と、上述のように、基板Wは冷却されつつ位置(イ)ま
で搬送される。位置(イ)に達すると、圧空チューブ3
04から空気を供給されたエアシリンダ302の動作に
よって、基板押上部305に備わる3本の押上ピン30
6が、基板Wを保持しつつ垂直上方へ押し上げる。エア
シリンダ302の動作は、例えば、基板処理装置1にて
インタフェースポジションIP3を用いる態様であれ
ば、コントローラ61によって制御されてよいし、他の
独立した制御手段が備わっていてもよい。
When the substrate W is placed at the position (A), the substrate W is transported to the position (A) while being cooled, as described above. When the position (a) is reached, the compressed air tube 3
By the operation of the air cylinder 302 supplied with air from 04, the three push-up pins 30 provided on the board push-up portion 305.
6 holds the substrate W and pushes it up vertically. The operation of the air cylinder 302 may be controlled by the controller 61, or may be provided with other independent control means, for example, if the interface position IP3 is used in the substrate processing apparatus 1.

【0049】上述のように、基板支持部300が基板を
搬送しつつ冷却処理する機能を備えることで、基板処理
装置の冷却ユニットにおける冷却処理時間の低減や、場
合によっては冷却ユニットそのもの削除、およびこれに
伴う他の処理ユニットの設置などが可能となる。
As described above, since the substrate supporting unit 300 has the function of performing the cooling process while transporting the substrate, the cooling process time in the cooling unit of the substrate processing apparatus can be reduced, and in some cases, the cooling unit itself can be deleted. As a result, other processing units can be installed.

【0050】<変形例>第3の実施の形態において、基
板支持部が備える機能は、冷却処理に限定されない。加
熱処理機能を備えるものであってもよいし、アライメン
ト機能を備えるものであってもよい。
<Modification> In the third embodiment, the function of the substrate support is not limited to the cooling process. It may have a heat treatment function or may have an alignment function.

【0051】基板処理装置が、インタフェースポジショ
ンにおいて、ファンフィルタユニット等の清浄空気を供
給する手段、および温湿度を制御する手段を備えていて
もよい。
The substrate processing apparatus may include means for supplying clean air such as a fan filter unit and means for controlling temperature and humidity at the interface position.

【0052】[0052]

【発明の効果】以上、説明したように、請求項1ないし
請求項4の発明によれば、処理ユニットのレイアウトに
おける処理ユニットのサイズについての制約が低減で
き、生産効率が高い基板処理装置が実現できる。
As described above, according to the first to fourth aspects of the present invention, it is possible to reduce the restriction on the size of the processing unit in the layout of the processing unit and to realize the substrate processing apparatus with high production efficiency. it can.

【0053】特に、請求項1ないし請求項2の発明によ
れば、処理ユニットの積層配置に際しての制約が低減さ
れる。また、移載手段の構造を単純化、画一化すること
ができ、製造コストを低減できる。さらに、移載手段の
平面占有面積を最小化することができるため、基板処理
装置全体の平面占有面積もまた縮小することが可能とな
る。
In particular, according to the first and second aspects of the present invention, restrictions on the stacking arrangement of the processing units are reduced. Further, the structure of the transfer means can be simplified and uniformized, and the manufacturing cost can be reduced. Further, since the plane occupying area of the transfer means can be minimized, the plane occupying area of the entire substrate processing apparatus can be reduced.

【0054】特に、請求項3ないし請求項4の発明によ
れば、処理ユニットの平面配置に際しての制約が低減さ
れる。また、移載手段の構造を単純化することができ、
製造コストを低減できる。
In particular, according to the inventions of claims 3 to 4, restrictions on the planar arrangement of the processing units are reduced. Also, the structure of the transfer means can be simplified,
Manufacturing cost can be reduced.

【0055】特に、請求項4の発明によれば、1つの処
理部と、他の複数の処理部との間で基板の授受が可能と
なる。
In particular, according to the invention of claim 4, the substrate can be transferred between one processing section and a plurality of other processing sections.

【0056】また、請求項5ないし請求項7の発明によ
れば、基板処理装置における生産効率が向上できる。
According to the inventions of claims 5 to 7, the production efficiency in the substrate processing apparatus can be improved.

【0057】特に、請求項7の発明によれば、基板の冷
却時間の短縮、および基板処理装置における冷却ユニッ
トの削減を図ることができる。
In particular, according to the invention of claim 7, it is possible to shorten the cooling time of the substrate and reduce the number of cooling units in the substrate processing apparatus.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】第1の実施の形態に係る基板処理装置1の要部
を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a main part of a substrate processing apparatus 1 according to a first embodiment.

【図2】第2の実施形態に係る基板処理装置2の概略を
示す平面図である。
FIG. 2 is a plan view showing an outline of a substrate processing apparatus 2 according to a second embodiment.

【図3】基板処理装置2における基板の搬送を説明する
側面図である。
FIG. 3 is a side view illustrating the transfer of a substrate in the substrate processing apparatus 2.

【図4】第3の実施の形態の基板処理装置に係るインタ
フェースポジションIP3、およびこれに備わる基板支
持部300を模式的に示す図である。
FIG. 4 is a diagram schematically showing an interface position IP3 according to the substrate processing apparatus of the third embodiment, and a substrate supporting section 300 provided therein.

【図5】従来の基板処理装置100において、複数の移
載ロボット101(101a〜101c)同士の基板W
の授受を説明する図である。
FIG. 5 shows a substrate W of a plurality of transfer robots 101 (101a to 101c) in the conventional substrate processing apparatus 100.
And FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、2 基板処理装置 20 搬送路 30、211〜213 移載ロボット 40、221〜223 アーム 51、231、300 基板支持部 52、232 支持ピン 53、233、302、307 エアシリンダ 54 位置確認センサ 61 コントローラ 62 電磁弁 301 クールプレート 305 基板押上部 306 押上ピン C カセット CP1、CP2 冷却ユニット D、DH 占有幅 HP1、HP2 加熱ユニット ID インデクサ IFM インタフェースモジュール IP1〜IP3 インタフェースポジション M1、M2 可動範囲 UN 処理ユニット群 W 基板 1, 2 substrate processing equipment 20 transport paths 30, 211-213 Transfer robot 40, 221-223 arms 51, 231, 300 Substrate support 52,232 Support pins 53, 233, 302, 307 Air cylinder 54 Position confirmation sensor 61 Controller 62 Solenoid valve 301 cool plate 305 Substrate push-up 306 Push-up pin C cassette CP1, CP2 cooling unit D, DH occupied width HP1, HP2 heating unit ID indexer IFM interface module IP1 to IP3 interface positions M1, M2 movable range UN processing unit group W board

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松永 実信 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目天神 北町1番地の1 大日本スクリーン製造株 式会社内 (72)発明者 杉本 憲司 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目天神 北町1番地の1 大日本スクリーン製造株 式会社内 (72)発明者 吉岡 勝司 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目天神 北町1番地の1 大日本スクリーン製造株 式会社内 (72)発明者 青木 薫 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目天神 北町1番地の1 大日本スクリーン製造株 式会社内 (72)発明者 矢野 守隆 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目天神 北町1番地の1 大日本スクリーン製造株 式会社内 (72)発明者 山本 聡 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目天神 北町1番地の1 大日本スクリーン製造株 式会社内 (72)発明者 三橋 毅 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目天神 北町1番地の1 大日本スクリーン製造株 式会社内 (72)発明者 長尾 隆 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目天神 北町1番地の1 大日本スクリーン製造株 式会社内 (72)発明者 児玉 光正 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目天神 北町1番地の1 大日本スクリーン製造株 式会社内 (72)発明者 真田 雅和 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目天神 北町1番地の1 大日本スクリーン製造株 式会社内 Fターム(参考) 5F031 CA02 FA01 FA07 FA12 FA15 GA02 GA45 GA47 GA55 JA01 JA22 LA15 MA02 MA03 MA06 PA02 PA30    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Mitsunobu Matsunaga             4-chome Tenjin, which runs up to Teranouchi, Horikawa-dori, Kamigyo-ku, Kyoto             1 Kitamachi No. 1 Dai Nippon Screen Manufacturing Co., Ltd.             Inside the company (72) Inventor Kenji Sugimoto             4-chome Tenjin, which runs up to Teranouchi, Horikawa-dori, Kamigyo-ku, Kyoto             1 Kitamachi No. 1 Dai Nippon Screen Manufacturing Co., Ltd.             Inside the company (72) Inventor Katsushi Yoshioka             4-chome Tenjin, which runs up to Teranouchi, Horikawa-dori, Kamigyo-ku, Kyoto             1 Kitamachi No. 1 Dai Nippon Screen Manufacturing Co., Ltd.             Inside the company (72) Inventor Kaoru Aoki             4-chome Tenjin, which runs up to Teranouchi, Horikawa-dori, Kamigyo-ku, Kyoto             1 Kitamachi No. 1 Dai Nippon Screen Manufacturing Co., Ltd.             Inside the company (72) Inventor Moritaka Yano             4-chome Tenjin, which runs up to Teranouchi, Horikawa-dori, Kamigyo-ku, Kyoto             1 Kitamachi No. 1 Dai Nippon Screen Manufacturing Co., Ltd.             Inside the company (72) Inventor Satoshi Yamamoto             4-chome Tenjin, which runs up to Teranouchi, Horikawa-dori, Kamigyo-ku, Kyoto             1 Kitamachi No. 1 Dai Nippon Screen Manufacturing Co., Ltd.             Inside the company (72) Inventor Takeshi Mitsuhashi             4-chome Tenjin, which runs up to Teranouchi, Horikawa-dori, Kamigyo-ku, Kyoto             1 Kitamachi No. 1 Dai Nippon Screen Manufacturing Co., Ltd.             Inside the company (72) Inventor Takashi Nagao             4-chome Tenjin, which runs up to Teranouchi, Horikawa-dori, Kamigyo-ku, Kyoto             1 Kitamachi No. 1 Dai Nippon Screen Manufacturing Co., Ltd.             Inside the company (72) Inventor Mitsumasa Kodama             4-chome Tenjin, which runs up to Teranouchi, Horikawa-dori, Kamigyo-ku, Kyoto             1 Kitamachi No. 1 Dai Nippon Screen Manufacturing Co., Ltd.             Inside the company (72) Inventor Masakazu Sanada             4-chome Tenjin, which runs up to Teranouchi, Horikawa-dori, Kamigyo-ku, Kyoto             1 Kitamachi No. 1 Dai Nippon Screen Manufacturing Co., Ltd.             Inside the company F term (reference) 5F031 CA02 FA01 FA07 FA12 FA15                       GA02 GA45 GA47 GA55 JA01                       JA22 LA15 MA02 MA03 MA06                       PA02 PA30

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板に所定の処理を行う複数の処理ユニ
ットと、 前期複数の処理ユニットにアクセスして基板の移載を行
う複数の移載手段と、 前記複数の移載手段同士の基板の授受に供される少なく
とも1つの授受手段を収容した基板授受ユニットと、を
備える基板処理装置であって、 前記複数の処理ユニットと、前記基板授受ユニットとが
積層配置され、 前記移載手段からの当該複数の処理ユニットに対するア
クセス方向が、それぞれの処理ユニットによって異なっ
ており、かつ、 前記少なくとも1つの授受手段が前記基板授受ユニット
中において、前記複数の処理ユニットのうち最大の平面
占有面積を有する処理ユニットの平面占有面積の範囲内
で水平方向に移動可能であること、を特徴とする基板処
理装置。
1. A plurality of processing units for performing a predetermined processing on a substrate, a plurality of transfer means for accessing the plurality of processing units in the previous period to transfer a substrate, and a plurality of transfer units for transferring the substrates. A substrate processing apparatus comprising: a substrate transfer unit accommodating at least one transfer unit that is used for transfer, wherein the plurality of processing units and the substrate transfer unit are stacked and arranged, A process in which access directions to the plurality of processing units are different depending on the respective processing units, and the at least one transfer unit has the largest planar occupation area of the plurality of processing units in the substrate transfer unit. A substrate processing apparatus, which is movable in a horizontal direction within a plane occupied area of the unit.
【請求項2】 請求項1に記載の基板処理装置であっ
て、 前記複数の処理ユニットに、基板に対し加熱処理を行う
加熱ユニット、あるいは冷却処理を行う冷却ユニットが
含まれることを特徴とする基板処理装置。
2. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the plurality of processing units include a heating unit that performs a heating process on the substrate or a cooling unit that performs a cooling process. Substrate processing equipment.
【請求項3】 基板に所定の処理を行う複数の処理ユニ
ットと、 水平方向において互いに異なる位置に独立して配置さ
れ、前記複数の処理ユニットにアクセスして基板の移載
を行う複数の移載手段と、 前記複数の移載手段の間の基板の授受に供される複数の
授受手段と、を備える基板処理装置であって、 前記複数の授受手段が、隣接配置される移載手段が占有
する領域の水平幅の範囲内で移動可能である、ことを特
徴とする基板処理装置。
3. A plurality of processing units for performing a predetermined processing on a substrate, and a plurality of transfer units independently arranged at different positions in the horizontal direction and accessing the plurality of processing units to transfer the substrates. And a plurality of transfer means used for transfer of substrates between the plurality of transfer means, wherein the plurality of transfer means are occupied by transfer means adjacent to each other. A substrate processing apparatus, wherein the substrate processing apparatus is movable within a horizontal width of a region to be processed.
【請求項4】 請求項3に記載の基板処理装置であっ
て、前記複数の授受手段が積層配置されることを特徴と
する基板処理装置。
4. The substrate processing apparatus according to claim 3, wherein the plurality of transfer means are arranged in layers.
【請求項5】 基板に所定の処理を行う複数の処理ユニ
ットと、 水平方向において互いに異なる位置に独立して配置さ
れ、前記複数の処理ユニットにアクセスして基板の移載
を行う複数の移載手段と、 前記複数の移載手段の間の基板の授受に供される授受手
段と、を備える基板処理装置であって、 前記授受手段が基板に対し所定の処理を行いつつ水平方
向に移動可能であること、を特徴とする基板処理装置。
5. A plurality of processing units for performing a predetermined processing on a substrate, and a plurality of transfer units independently arranged at different positions in the horizontal direction and accessing the plurality of processing units to transfer the substrates. A substrate processing apparatus comprising: a transfer means and a transfer means for transferring a substrate between the plurality of transfer means, wherein the transfer means is movable in a horizontal direction while performing a predetermined process on the substrate. The substrate processing apparatus is characterized by:
【請求項6】 請求項1ないし請求項4のいずれかに記
載の基板処理装置であって、 前記授受手段が基板に対し所定の処理を行いつつ移動可
能であること、を特徴とする基板処理装置。
6. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the transfer unit is movable while performing a predetermined process on the substrate. apparatus.
【請求項7】 請求項5ないし請求項6のいずれかに記
載の基板処理装置であって、 前記所定の処理が基板の冷却処理であることを特徴とす
る基板処理装置。
7. The substrate processing apparatus according to claim 5, wherein the predetermined process is a substrate cooling process.
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