JPH0786371A - Substrate transfer equipment - Google Patents

Substrate transfer equipment

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JPH0786371A
JPH0786371A JP24991893A JP24991893A JPH0786371A JP H0786371 A JPH0786371 A JP H0786371A JP 24991893 A JP24991893 A JP 24991893A JP 24991893 A JP24991893 A JP 24991893A JP H0786371 A JPH0786371 A JP H0786371A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
hand
unit
cooling
hands
Prior art date
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Pending
Application number
JP24991893A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tsutomu Kamiyama
勉 上山
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PURPOSE:To enable hands to be efficiently controlled in temperature without deteriorating a substrate transfer equipment in treatment efficiency. CONSTITUTION:Hands 150a and 150b are changed in a space between them by a hand gap drive unit 160 at a position where they back from a unit treatment station so as to bring the undersides of the hands 150a and 150b into contact with cooling plates 171 and 172 respectively to cool down. By this setup, the hands of a substrate transfer equipment are brought into direct contact with cooling plates at a receding position to be cooled down in a short time, that the hands can be cooled down while the substrate transfer equipment is in movement, and consequently the equipment is prevented from deteriorating in substrate treatment efficiency.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、半導体製造装置や液
晶基板製造装置などの基板処理装置において、半導体ウ
エハや液晶用ガラス角型基板などの基板(以下、単に
「基板」という)を複数の単位処理部の間で搬送する基
板搬送装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate processing apparatus such as a semiconductor manufacturing apparatus or a liquid crystal substrate manufacturing apparatus in which a plurality of substrates such as semiconductor wafers and liquid crystal glass rectangular substrates (hereinafter simply referred to as "substrates") are used. The present invention relates to a substrate transfer device that transfers between unit processing units.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より周知のように、液晶表示基板や
半導体ウエハなどの精密電子基板の製造プロセスにおい
ては、例えば洗浄処理部や熱処理部,レジスト塗布部等
の複数の単位処理部が一定に配置され、基板搬送ロボッ
トなどの基板搬送装置によって基板をそれらの処理部の
間を所定の搬送順序で搬送しつつ、それぞれの処理部に
出し入れして一連の処理が行われる。
2. Description of the Related Art As is well known in the art, in the manufacturing process of precision electronic substrates such as liquid crystal display substrates and semiconductor wafers, for example, a plurality of unit processing units such as a cleaning processing unit, a heat treatment unit, a resist coating unit, etc. are uniformly operated. A substrate transfer apparatus such as a substrate transfer robot is used to transfer a substrate between the processing units in a predetermined transfer order, and to put the substrates in and out of the processing units to perform a series of processes.

【0003】このような基板搬送を行う基板搬送装置と
しては、ハンド(基板載置手段)の上に基板を載置し、
このハンドを別の駆動手段により移動させて所定の単位
処理部内に進出・後退動作させて当該基板を単位処理部
内に設置し、当該処理終了後に再びハンドを進出・後退
動作させて当該単位処理部から取り出して他の単位処理
部に搬送するように構成されている。
As a substrate transfer device for carrying out such a substrate transfer, a substrate is mounted on a hand (substrate mounting means),
The hand is moved by another driving means to move into and out of a predetermined unit processing unit to set the substrate in the unit processing unit, and after the processing is finished, the hand is moved in and out again to move the unit processing unit in question. It is configured to be taken out from and transported to another unit processing unit.

【0004】ところが、このような単位処理部のなかに
は相互に処理温度が異なるものがあり、そのため、当該
単位処理部に挿入されるハンド自体の温度も変化し、こ
のハンドの熱がその上に載置される基板に悪影響を与え
ることが従来から問題になっていた。特に、スピンコー
ターなどのレジスト塗布部において基板表面にレジスト
を塗布後、乾燥のため熱処理部に搬送する際、ハンド自
体が既に熱処理部内に何回も挿入されているため高温に
なっており、当該ハンドに接触した部分の基板のレジス
トとその他のレジストとの間に温度差を生じて乾燥ムラ
が発生し、基板の品質を劣化させる要因となっていた。
However, some of these unit processing units have different processing temperatures from each other. Therefore, the temperature of the hand itself inserted into the unit processing unit also changes, and the heat of this hand is placed on it. It has heretofore been a problem that a substrate to be placed is adversely affected. In particular, when the resist is applied to the substrate surface in the resist coating section such as a spin coater and then conveyed to the heat treatment section for drying, the hand itself has already been inserted into the heat treatment section many times, and thus the temperature is high. This causes a temperature difference between the resist of the substrate and the other resist in the portion in contact with the hand, which causes unevenness in drying, which is a factor of deteriorating the quality of the substrate.

【0005】この問題に対処するため、従来から次のよ
うに2つの方法が考えられていた。まず、従来の第1の
方法は、ハンドを2種類用意しておき、加熱装置を有す
る単位処理部への基板の設置・取り出し専用の第1のハ
ンドと、その他の常温の単位処理部への基板の設置・取
り出し専用の第2のハンドとを選択して使用するように
している。例えば、加熱処理部への基板の出し入れは第
1のハンドによって行ない、その他の常温での単位処理
部への基板の出し入れは、第2のハンドによって行なう
ことにより基板への悪影響を排するようにしている。
In order to deal with this problem, the following two methods have been conventionally considered. First, in the conventional first method, two types of hands are prepared, and a first hand dedicated to installing / removing a substrate to / from a unit processing unit having a heating device and another unit processing unit at room temperature are used. A second hand dedicated to the installation and removal of the substrate is selected for use. For example, the first hand is used for loading / unloading the substrate to / from the heat treatment section, and the other hand is used for loading / unloading the substrate to / from the unit treatment section at room temperature so that adverse effects on the substrate are eliminated. ing.

【0006】また、従来の第2の方法においては、使用
されるハンドは1種類であるが、複数の単位処理部とは
別にハンド冷却専用の冷却ステーションを設置し、ハン
ドを当該冷却ステーションまで移動させてその内部に挿
入し、非接触型の冷却装置により当該ハンドを所定の温
度まで冷却してから、目的の単位処理部に基板を取り出
しにいくようにしている。
Further, in the second conventional method, only one type of hand is used, but a cooling station dedicated to cooling the hand is installed separately from the plurality of unit processing units, and the hand is moved to the cooling station. The hand is then inserted into the inside, and the hand is cooled to a predetermined temperature by a non-contact type cooling device, and then the substrate is taken out to a target unit processing section.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の第1の方法では、2種類のハンドを選択的に使用す
るため、ハンド切替えのための駆動機構が別途必要にな
るとともにその制御も複雑になるという問題点がある。
その上、例えば、レジスト塗布後の基板を、常温用の第
2のハンドによって搬送してポストベークするべく加熱
処理部に搬送するような場合には、第2のハンドも加熱
処理部の高温にさらされて温度上昇するため、高温用、
常温用として2種類のハンドを用意した意味が失われる
結果となり、利用の自由度が低い。
However, in the above-mentioned first conventional method, since two types of hands are selectively used, a drive mechanism for hand switching is separately required and its control is complicated. There is a problem that
In addition, for example, when the substrate after resist coating is transported by the second hand for normal temperature and transported to the heat treatment section for post-baking, the second hand is also heated to a high temperature in the heat treatment section. For exposure to high temperatures, for high temperatures,
The meaning of having two types of hands for normal temperature is lost, and the degree of freedom of use is low.

【0008】一方、上記第2の従来技術においては、わ
ざわざ、ハンドを冷却ステーションまで移動して冷却し
てから目的の単位処理部まで基板を取りに行かなければ
ならず、そのための工程が1つ余分に必要になり、しか
も非接触による冷却のため冷却時間が長くなり、基板処
理の効率化に反する。
On the other hand, in the above second prior art, it is necessary to move the hand to the cooling station to cool the substrate and then take the substrate to the target unit processing unit, which requires one step. The extra cooling is required, and the cooling time is longer due to non-contact cooling, which is against the efficiency of substrate processing.

【0009】この発明は、上述のような問題を解消する
ためになされたもので、簡易な構造により、基板処理の
効率の妨げにならずにハンドを所定温度に調節し、基板
処理の精度を向上することができる基板搬送装置を提供
することを目的とする。
The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems. With a simple structure, the hand is adjusted to a predetermined temperature without hindering the efficiency of substrate processing, and the accuracy of substrate processing is improved. An object is to provide a substrate transfer device that can be improved.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、基板を複数の単位処理部間に搬送する基
板搬送装置であって、前記基板が載置される基板載置手
段と、前記単位処理部方向に進出した第1の位置と、前
記単位処理部から後退した第2の位置との間で前記基板
載置手段を移動させる駆動手段と、前記第2の位置にお
いて、前記基板載置手段に接触し当該基板載置手段を所
定の温度に調節する温度調節手段と、を備えている。
In order to achieve the above-mentioned object, the present invention is a substrate transfer apparatus for transferring a substrate between a plurality of unit processing parts, and a substrate mounting means on which the substrate is mounted. Drive means for moving the substrate mounting means between a first position advanced in the direction of the unit processing section and a second position retracted from the unit processing section; and at the second position, And a temperature adjusting means which is in contact with the substrate placing means and adjusts the substrate placing means to a predetermined temperature.

【0011】なお、この明細書において「単位処理部」
とは、洗浄処理部や熱処理部,レジスト塗布部などの基
板を処理するための単位ユニットを意味する。
In this specification, "unit processing unit"
Means a unit unit for processing a substrate, such as a cleaning processing unit, a heat treatment unit, or a resist coating unit.

【0012】[0012]

【作用】この発明では、基板載置手段が単位処理部から
後退した位置(第2の位置)において、温度調節手段が
当該基板載置手段に接触し、所定温度に調節する。これ
により当該基板載置手段を他の単位処理部に移動する際
に当該基板載置手段の温度調節も同時に行なうことがで
きる。
According to the present invention, at the position (second position) where the substrate placing means is retracted from the unit processing section, the temperature adjusting means comes into contact with the substrate placing means and adjusts the temperature to a predetermined temperature. Thereby, when the substrate mounting means is moved to another unit processing section, the temperature of the substrate mounting means can be adjusted at the same time.

【0013】[0013]

【実施例】A.基板搬送装置を備えた基板処理装置の構
EXAMPLES A. Structure of substrate processing apparatus having substrate transfer device

【0014】図1は、この発明にかかる基板搬送装置の
一実施例が組み込まれた基板処理装置の一例を示す側面
図であり、また図2は図1を上方より見た平面配置図で
ある。この基板処理装置1は、基板に一連の処理を施す
ための装置である。
FIG. 1 is a side view showing an example of a substrate processing apparatus in which an embodiment of the substrate transfer apparatus according to the present invention is incorporated, and FIG. 2 is a plan layout view of FIG. 1 seen from above. . The substrate processing apparatus 1 is an apparatus for performing a series of processing on a substrate.

【0015】なお、この図1および以下の各図において
は、床面に平行な水平面をX−Y面とし、鉛直方向をZ
方向とする3次元直角座標系X−Y−Zが定義されてい
る。また、(+X)方向と(−X)方向とを区別しない
場合には単に「X方向」と呼ぶ(YおよびZについても
同様)。
In FIG. 1 and the following drawings, the horizontal plane parallel to the floor is the XY plane, and the vertical direction is Z.
A three-dimensional rectangular coordinate system X-Y-Z is defined as a direction. Further, when the (+ X) direction and the (−X) direction are not distinguished, they are simply referred to as “X direction” (the same applies to Y and Z).

【0016】この装置1には、基板に一連の処理を行う
処理ユニット部A1が設けられるとともに、実施例にか
かる基板搬送装置100が搬送部A2に設けられ、この
処理ユニット部A1に沿ってX方向に基板を搬送するよ
うに構成されている(図2参照)。
The apparatus 1 is provided with a processing unit section A1 for performing a series of processing on a substrate, and a substrate transfer apparatus 100 according to the embodiment is provided in a transfer section A2, and X is provided along the processing unit section A1. It is configured to convey the substrate in the direction (see FIG. 2).

【0017】処理ユニット部A1は、上下2段に分けて
平行配列されており(図1)、下段C1 には、紫外線照
射ユニットUVからなる紫外線照射部30と、2つのス
ピンスクラバSS1 ,SS2 からなる洗浄処理部40が
X方向に配列される一方、上段C2 には、加熱処理部5
0,密着強化処理部70を構成する一方の密着強化ユニ
ットAP1 ,冷却処理部60,80およびもう一方の密
着強化ユニットAP2がX方向に配列されている。な
お、加熱処理部50では2つのホットプレートHP1 ,
HP2 が積層配置されている。また、2つのクールプレ
ートCP1 ,CP2 が積層配置され、上側のクールプレ
ートCP1 が第1の冷却処理部60として機能する一
方、下側のクールプレートCP2 が第2の冷却処理部8
0として機能する。
The processing unit section A1 is divided into two stages, upper and lower, and arranged in parallel (FIG. 1). The lower section C1 is composed of an ultraviolet irradiation section 30 composed of an ultraviolet irradiation unit UV and two spin scrubbers SS1 and SS2. While the cleaning processing unit 40 is arranged in the X direction, the heating processing unit 5 is provided in the upper stage C2.
0, one adhesion strengthening unit AP1, which constitutes the adhesion strengthening processing unit 70, the cooling processing units 60 and 80, and the other adhesion strengthening unit AP2 are arranged in the X direction. In the heat treatment unit 50, two hot plates HP1,
HP2 is stacked. Further, two cool plates CP1 and CP2 are laminated and arranged, and the upper cool plate CP1 functions as the first cooling processing unit 60, while the lower cool plate CP2 is the second cooling processing unit 8
Functions as 0.

【0018】搬送部A2の側端部(図2の左手側)に
は、基板の搬入および搬出を行う基板搬入・搬出処理部
90が設けられており、次に詳説する構成を有する基板
搬送装置100により、基板が各処理部30,40,5
0,60,70,80に順次搬送され、一連の処理を受
けるようになっている。
A substrate loading / unloading processing unit 90 for loading and unloading substrates is provided at a side end portion (left-hand side in FIG. 2) of the transportation unit A2, and has a configuration described in detail below. According to 100, the substrate is processed by each processing unit 30, 40, 5
It is sequentially transported to 0, 60, 70, 80 and is subjected to a series of processing.

【0019】B.基板搬送装置の構成B. Substrate transfer device configuration

【0020】次に、基板搬送装置100の構成および動
作について説明する。この基板搬送装置100は、2つ
の移動機構101,102と、上面に基板が載置される
ハンド150a,150bおよびハンドの冷却装置とを
備えている。
Next, the structure and operation of the substrate transfer apparatus 100 will be described. The substrate transfer apparatus 100 includes two moving mechanisms 101 and 102, hands 150a and 150b on which a substrate is placed, and a hand cooling device.

【0021】B−1.移動機構およびハンドB-1. Moving mechanism and hand

【0022】図3は、図1のI−I位置から(−X)方
向に見た側面構造図である。同図に示すように、処理ユ
ニット部A1の前面側すなわち(−Y)側には、X方向
に伸びるフレーム200が設けられている。このフレー
ム200には、X方向に延びる2本の平行ガイドレール
(搬送路)201,202がZ方向に間隔を隔てて固定
されている。上方のガイドレール201には、移動機構
101が付設されており、移動機構101はガイドレー
ル201によってガイドされつつX方向に並進自在とな
っている(図1では移動機構101とフレーム200と
の連結関係は図示省略されている)。また、下方のガイ
ドレール202には、移動機構102が付設されてお
り、移動機構102はガイドレール202によってガイ
ドされつつX方向に並進自在となっている。なお、この
基板搬送装置100では、2台の移動機構101,10
2が設けられているが、それらの基本構成は同一である
ため、以下では移動機構101を中心に説明する。
FIG. 3 is a side view of the structure seen from the I-I position in FIG. 1 in the (-X) direction. As shown in the figure, a frame 200 extending in the X direction is provided on the front surface side of the processing unit portion A1, that is, on the (−Y) side. Two parallel guide rails (conveyance paths) 201 and 202 extending in the X direction are fixed to the frame 200 at intervals in the Z direction. A moving mechanism 101 is attached to the upper guide rail 201, and the moving mechanism 101 can be translated in the X direction while being guided by the guide rail 201 (in FIG. 1, the moving mechanism 101 and the frame 200 are connected to each other. The relationship is not shown). A moving mechanism 102 is attached to the lower guide rail 202, and the moving mechanism 102 can be translated in the X direction while being guided by the guide rail 202. In this substrate transfer apparatus 100, the two moving mechanisms 101, 10
Although the two are provided, the basic configurations thereof are the same, and hence the moving mechanism 101 will be mainly described below.

【0023】図4は、移動機構の拡大側面図である。同
図に示すように、フレーム200に固定されたガイドレ
ール201,202のうち、上方のガイドレール201
に第1の移動機構101が付設されている。この移動機
構101は、移動機構101全体を水平X方向に並進さ
せるためのX移動機構110と、水平Y方向に移動させ
るための水平アーム機構140(図5参照)とを有して
いる。
FIG. 4 is an enlarged side view of the moving mechanism. As shown in the figure, of the guide rails 201 and 202 fixed to the frame 200, the upper guide rail 201
A first moving mechanism 101 is attached to the. The moving mechanism 101 has an X moving mechanism 110 for translating the entire moving mechanism 101 in the horizontal X direction, and a horizontal arm mechanism 140 (see FIG. 5) for moving in the horizontal Y direction.

【0024】このX移動機構110には、垂直Z方向に
屈伸する垂直アーム機構120aが連結されており、こ
の垂直アーム機構120aによってハウジング131が
支持されている。このハウジング131はY方向の両端
が開口した中空のボックス(図5参照)であり、その内
部には水平Y方向に屈伸可能な1組の水平アーム機構1
40が収容されている。そして、その先端には、基板載
置手段としての上下2段にハンド150a,150bが
連結されている。
A vertical arm mechanism 120a that bends and extends in the vertical Z direction is connected to the X moving mechanism 110, and a housing 131 is supported by the vertical arm mechanism 120a. The housing 131 is a hollow box (see FIG. 5) that is open at both ends in the Y direction, and has a set of horizontal arm mechanisms 1 that can bend and extend in the horizontal Y direction inside.
40 are accommodated. Then, hands 150a and 150b are connected to the tip thereof in upper and lower two stages as a substrate mounting means.

【0025】また、X移動機構110はガイドレール2
01を上下方向から挟むように配置された車輪111,
112を有している。また、支持部材115によって支
持されたモータ114には駆動輪113が連結されてお
り、モータ114によって駆動輪113を回転させるこ
とにより、X移動機構110(したがって移動機構10
1の全体)がガイドレール201によってガイドされつ
つX方向に並進する。
Further, the X moving mechanism 110 includes the guide rail 2
01 is arranged so as to sandwich 01 from above and below,
It has 112. The drive wheel 113 is connected to the motor 114 supported by the support member 115. By rotating the drive wheel 113 by the motor 114, the X moving mechanism 110 (and hence the moving mechanism 10) is driven.
(1 whole) is translated in the X direction while being guided by the guide rail 201.

【0026】支持部材115の下部にはモータ116が
固定されている。垂直アーム機構120aは実質的に等
長の2本のアーム121a,122aを備えており、こ
のうちの第1のアーム121aの端部がモータ116に
連結されている。また,第2のアーム122aの端部1
32aはハウジング131に連結されている。
A motor 116 is fixed to the lower part of the support member 115. The vertical arm mechanism 120a is provided with two arms 121a and 122a having substantially the same length, and an end portion of the first arm 121a among them is connected to the motor 116. In addition, the end portion 1 of the second arm 122a
32a is connected to the housing 131.

【0027】垂直アーム機構120aはいわゆるスカラ
ロボット機構とされている。このため、モータ116が
回転するとそれぞれのアーム121a,122bがそれ
ぞれ矢印θ1、θ2で示すように回転し、ハウジング1
31がその姿勢を維持しつつをZ方向に並進する(矢印
E1)。モータ116の回転方向を切り換えることによ
り、ハウジング131のZ方向における並進の向きが
(+Z)方向から(−Z)方向に、または(−Z)方向
から(+Z)方向に逆転する。
The vertical arm mechanism 120a is a so-called SCARA robot mechanism. Therefore, when the motor 116 rotates, the arms 121a and 122b rotate as indicated by arrows θ1 and θ2, respectively, and the housing 1
31 translates in the Z direction while maintaining its posture (arrow E1). By switching the rotation direction of the motor 116, the direction of translation of the housing 131 in the Z direction is reversed from the (+ Z) direction to the (-Z) direction or from the (-Z) direction to the (+ Z) direction.

【0028】なお、図示が省略されているが、垂直アー
ム機構120aと同じ構造を有する別の垂直アーム機構
がハウジング131の反対側に設けられ、水平X方向に
延びる連結材(図示省略)によって垂直アーム機構12
0aと連結されている。このため、モータ116の駆動
力は連結材を介して反対側の垂直アーム機構にも伝達さ
れ、ハウジング131は両端で支持されつつ、姿勢を変
えずにZ方向に変位する。
Although not shown, another vertical arm mechanism having the same structure as the vertical arm mechanism 120a is provided on the opposite side of the housing 131 and is vertically connected by a connecting member (not shown) extending in the horizontal X direction. Arm mechanism 12
It is connected to 0a. Therefore, the driving force of the motor 116 is also transmitted to the vertical arm mechanism on the opposite side via the connecting member, and the housing 131 is displaced in the Z direction without changing its posture while being supported at both ends.

【0029】図4には移動機構102も示されている
が、この移動機構102の構成もほぼ同様である。X移
動機構および垂直アーム機構については第1と第2の移
動機構101,102において上下対称になっている
が、ハウジング131,132およびその内部の構成
(後述する)は方向を含めて相互に同一である。
Although the moving mechanism 102 is also shown in FIG. 4, the structure of the moving mechanism 102 is substantially the same. The X movement mechanism and the vertical arm mechanism are vertically symmetrical in the first and second movement mechanisms 101 and 102, but the housings 131 and 132 and the internal configuration (described later) are the same in both directions. Is.

【0030】図5は、移動機構101の部分斜視図であ
る。また、図6は図5を(−Z)方向から見たときの平
面図である。両図に示すように、ハウジング131の中
には1対の水平アーム機構140が設けられている。こ
の水平アーム機構140は、実質的に長さの等しい2本
のアーム141,142を備えており、第1のアーム1
41は連結位置143においてモータ133aに連結さ
れている。また、第2のアーム142の先端はハンド間
隔駆動ユニット160を介してハンド150a,150
bに連結されている。
FIG. 5 is a partial perspective view of the moving mechanism 101. Further, FIG. 6 is a plan view when FIG. 5 is viewed from the (−Z) direction. As shown in both figures, a pair of horizontal arm mechanisms 140 is provided in the housing 131. The horizontal arm mechanism 140 includes two arms 141 and 142 having substantially the same length, and the first arm 1
41 is connected to the motor 133a at the connecting position 143. Further, the tip of the second arm 142 is connected to the hands 150 a, 150 via the hand interval drive unit 160.
connected to b.

【0031】この水平アーム機構140もまた、スカラ
ロボット機構として構成されており、モータ133aを
回転させるとアーム141,142は矢印α1,α2方
向にそれぞれ旋回し、ハンド150a,150bはその
姿勢を維持しつつY方向に並進する(矢印E2)。
The horizontal arm mechanism 140 is also constructed as a SCARA robot mechanism. When the motor 133a is rotated, the arms 141 and 142 pivot in the directions of arrows α1 and α2, respectively, and the hands 150a and 150b maintain their postures. While translating, it translates in the Y direction (arrow E2).

【0032】このため、モータ133aを駆動すること
によってハンド150a,150bが(+Y)方向に並
進するとハンド150a,150bはハウジング131
から外部に露出して単位処理部内に到達する。また、
(−Y)方向に並進するとハンド150a,150bは
ハウジング131内に収容される。
Therefore, when the hands 150a and 150b are translated in the (+ Y) direction by driving the motor 133a, the hands 150a and 150b are moved to the housing 131.
It is exposed to the outside and reaches the inside of the unit processing unit. Also,
When translated in the (-Y) direction, the hands 150a and 150b are housed in the housing 131.

【0033】ハンド間隔駆動ユニット160は公知のア
クチュエータ機構や、カム機構などによって構成され、
ハンド150a,150bの水平間隔を調節する作用を
有する。本実施例では、このような1個の水平アーム機
構140に対して、間隔の調節できる2つのハンド15
0a,150bを有すること(以下「1アーム2ハンド
機構」と呼ぶ。)により、合理的な基板交換を可能にす
るものである。
The hand interval drive unit 160 is composed of a known actuator mechanism, cam mechanism, etc.,
It has a function of adjusting the horizontal distance between the hands 150a and 150b. In this embodiment, two hands 15 with adjustable intervals are provided for one horizontal arm mechanism 140 as described above.
By having 0a and 150b (hereinafter referred to as "one-arm two-hand mechanism"), rational substrate exchange is possible.

【0034】このことを、図7の概略図により説明す
る。同図は、基板搬送装置101を用いて、例えばホッ
トプレートHPなどの基板処理装置300への基板10
を交換する要領を示す模式図である。基板処理装置30
0には、基板搬送装置101との間で基板10の受渡し
を行うための、上下2段構造の棚(基板保持部材)31
0a、310bが設けられている。棚310a、310
bは、処理を施す際に基板10を設置すべき所定位置と
の間で基板10の受渡しを行い得る構造を備えている。
基板搬送装置101が有する1対のハンド150a、1
50bの間隔は、上述のハンド間隔駆動ユニット160
を作動させることにより、1対の棚310a、310b
の間隔に比べて狭く調節することも、広く調節すること
も可能なようになっている。
This will be described with reference to the schematic view of FIG. In the figure, the substrate 10 is transferred to the substrate processing apparatus 300 such as a hot plate HP using the substrate transfer apparatus 101.
It is a schematic diagram which shows the point which exchanges. Substrate processing apparatus 30
0 is a shelf (substrate holding member) 31 having a two-tier structure for transferring the substrate 10 to and from the substrate transfer device 101.
0a and 310b are provided. Shelves 310a, 310
b is provided with a structure capable of delivering the substrate 10 to and from a predetermined position where the substrate 10 should be installed when processing is performed.
A pair of hands 150a, 1 of the substrate transfer apparatus 101
The interval of 50b is the same as the above-mentioned hand interval drive unit 160.
By operating the pair of shelves 310a, 310b
The distance can be adjusted narrower or wider than the interval.

【0035】未処理基板10bを下側ハンド150bに
載置した基板搬送装置101が、基板処理装置300の
正面で静止すると(図7(a))、ハンド150a、1
50bの間隔を狭くした状態(間隔d1)で、水平アー
ム機構140を(+Y)方向に伸張させて、ハンド15
0a、150bを基板処理装置300の中に挿入され
る。このとき、ハンド150a、150bの高さは、棚
310aと棚310bの中間に位置するようになってお
り、上側ハンド150aは処理済み基板10aの下方に
あり、棚310bは未処理基板10bの下方にある(図
7(b))。
When the substrate transfer apparatus 101 having the unprocessed substrate 10b mounted on the lower hand 150b stands still in front of the substrate processing apparatus 300 (FIG. 7A), the hands 150a, 1
The horizontal arm mechanism 140 is extended in the (+ Y) direction with the space of 50b narrowed (space d1), and the hand 15
0a and 150b are inserted into the substrate processing apparatus 300. At this time, the heights of the hands 150a and 150b are located between the shelves 310a and 310b, the upper hand 150a is below the processed substrate 10a, and the shelf 310b is below the unprocessed substrate 10b. (Fig. 7 (b)).

【0036】続いて、ハンド間隔駆動ユニット160を
駆動して、ハンド150a、150bの間隔が、棚31
0a、310bの間隔より大きな間隔d2になるように
拡張する(図7(c))。この拡張の過程で、処理済み
基板10aは上側ハンド150aに下方からすくい取ら
れ、未処理基板10bは棚310bに載置される。すな
わち、処理済み基板10aは棚310aから上側ハンド
150aへ移り、未処理基板10bは下側ハンド150
bから棚310bへ移る。
Then, the hand interval drive unit 160 is driven so that the space between the hands 150a and 150b is adjusted to the shelf 31.
It is expanded to have a distance d2 larger than the distance between 0a and 310b (FIG. 7C). In the process of expansion, the processed substrate 10a is scooped from below by the upper hand 150a, and the unprocessed substrate 10b is placed on the shelf 310b. That is, the processed substrate 10a moves from the shelf 310a to the upper hand 150a, and the unprocessed substrate 10b moves to the lower hand 150a.
Move from b to shelf 310b.

【0037】次に、水平アーム機構140を−Y方向に
収縮させながらハンド間隔駆動ユニット160によりハ
ンド150a、150b間の間隔を上記間隔d1と間隔
d2との中間の間隔d3(d1<d3<d2)に調節し
つつ後退し(図7(d))、ハンド150a、150b
がハウジング131内に収納される。
Next, while the horizontal arm mechanism 140 is contracted in the -Y direction, the hand spacing drive unit 160 sets the spacing between the hands 150a and 150b to a spacing d3 (d1 <d3 <d2) intermediate between the spacing d1 and the spacing d2. ), While retracting (FIG. 7 (d)), the hands 150a, 150b.
Are housed in the housing 131.

【0038】このような1アーム2ハンド機構の構成を
有することにより、単位処理部内の基板の交換動作を水
平アーム機構140の一回の伸縮動作により同時に行な
うことができ、基板処理の効率化に貢献する。
By having such a one-arm / two-hand mechanism structure, the exchange operation of the substrates in the unit processing section can be simultaneously performed by one expansion / contraction operation of the horizontal arm mechanism 140, which improves the efficiency of the substrate processing. To contribute.

【0039】B−2.ハンド冷却装置(温度調節手段)B-2. Hand cooling device (temperature control means)

【0040】ハウジング131内部には、ハンド150
a,150bの温度調節手段として、冷却板171,1
72が上記間隔d3とほぼ等しい間隔で、それぞれハウ
ジング131の前方((+Y)方向)及び水平アーム機
構140側((+X)方向)を自由端として水平に配設
されている(図5)。図8は、図5を(−Y)方向から
見たときの正面図である。図に示すように水平アーム機
構140を後退させてハンド150a,150bをハウ
ンジング131内に収納したとき、ハンド150aが冷
却板171の上面に、ハンド150bが冷却板172の
上面にそれぞれ近接する位置に来るようになっている。
Inside the housing 131, the hand 150
a, 150b as a temperature adjusting means, cooling plates 171, 1
72 are horizontally arranged at intervals substantially equal to the interval d3 with the front ((+ Y) direction) of the housing 131 and the horizontal arm mechanism 140 side ((+ X) direction) as free ends (FIG. 5). FIG. 8 is a front view when FIG. 5 is viewed from the (−Y) direction. As shown in the figure, when the horizontal arm mechanism 140 is retracted and the hands 150a and 150b are housed in the honing 131, the hand 150a is located close to the upper surface of the cooling plate 171, and the hand 150b is located close to the upper surface of the cooling plate 172. Is coming.

【0041】図10は、冷却板171を含めたハンド冷
却装置170の構成を示す概略図であって、当該冷却板
171内には、流路171aが形成され、当該流路17
1aの流入口171bには冷却気体供給装置173が接
続されて所定温度の気体が送風される。冷却気体は流路
171a内を通過しながら冷却板171を冷却し、流出
口171cから外部に排出される。
FIG. 10 is a schematic view showing the structure of the hand cooling device 170 including the cooling plate 171. In the cooling plate 171, a flow path 171a is formed, and the flow path 17 is formed.
A cooling gas supply device 173 is connected to the inflow port 171b of 1a to blow a gas having a predetermined temperature. The cooling gas cools the cooling plate 171 while passing through the flow passage 171a, and is discharged to the outside from the outlet 171c.

【0042】冷却板171には温度検出器174が取り
付けられ、この温度検出器174からの出力信号に基づ
いて温度制御装置175が冷却気体供給装置173の気
体供給動作を制御し、冷却板171を目的の温度に設定
するように構成される。
A temperature detector 174 is attached to the cooling plate 171, and a temperature control device 175 controls the gas supply operation of the cooling gas supply device 173 on the basis of an output signal from the temperature detector 174, so that the cooling plate 171 is operated. It is configured to set the desired temperature.

【0043】なお、冷却気体の代りに水などの冷却液体
を用いることも可能ではあるが、万一流路171aや流
入口171b、流出口171cなどから液体が漏れる
と、下方に載置された基板表面に落下してその品質を著
しく劣化させるおそれがある。したがって、冷却溶媒と
しては上述のように気体を用いることが望ましく、特に
不活性ガスを用いることが望ましい。このような温度制
御は、冷却板172についても同様に行なわれ、これら
冷却板171、172の温度は、ほぼ常温になるように
制御される。
Although it is possible to use a cooling liquid such as water instead of the cooling gas, if liquid should leak from the flow passage 171a, the inlet 171b, the outlet 171c, etc., the substrate placed below will be used. It may fall on the surface and significantly deteriorate its quality. Therefore, it is desirable to use the gas as the cooling solvent as described above, and it is particularly desirable to use the inert gas. Such temperature control is similarly performed on the cooling plate 172, and the temperatures of these cooling plates 171 and 172 are controlled to be substantially room temperature.

【0044】B−3.冷却動作B-3. Cooling operation

【0045】上述のように水平アーム機構140の収縮
によりハウジング131内に収納されたハンド150
a、150bは、既にハンド間隔駆動ユニット160に
より間隔d3に調節され、それぞれの下面が冷却板17
1、172の上面に近接した状態であり、接触はしてい
ない(図8)。これは、ハンド150a、150bと冷
却板171、172との摩擦によるパーティクルの発生
を防止するためである。
As described above, the hand 150 housed in the housing 131 due to the contraction of the horizontal arm mechanism 140.
The distances a and 150b have already been adjusted to the distance d3 by the hand distance drive unit 160, and the lower surface of each of them has the cooling plate 17
It is in a state of being close to the upper surfaces of Nos. 1 and 172 and is not in contact (Fig. 8). This is to prevent generation of particles due to friction between the hands 150a and 150b and the cooling plates 171 and 172.

【0046】その後、次の単位処理部に基板10を交換
すべく移動する間に、ハンド150a、150bの間隔
を広げ、もしくは狭めてそれぞれ冷却板171、172
と接触させてその温度を常温に冷却してから、基板10
aを保持しにいく。図9は,このときのハンド150
a、150bと冷却板171、172との位置関係を示
す図であって、上方のハンド150aに基板10aを載
置しているときは、ハンド間隔駆動ユニット160によ
りハンド150a、150bの間隔を広げて間隔d2ま
で拡張することにより、基板を載置していないハンド1
50bの下面を冷却板172の上面に接触させ、当該ハ
ンド150bの温度を調節して次の基板を保持するため
の準備をする(図9(a))。このときハンド150a
は冷却板171から離脱した状態であるが、載置してい
る基板10aを取りに行く前に既に常温に冷却されてい
るため問題はない。
Thereafter, while the substrate 10 is moved to the next unit processing section for replacement, the spaces between the hands 150a and 150b are widened or narrowed, respectively, to cool plates 171 and 172, respectively.
The substrate 10 is cooled to room temperature by contact with
go to hold a. FIG. 9 shows the hand 150 at this time.
It is a figure which shows the positional relationship of a, 150b and the cooling plates 171, 172, and when the board | substrate 10a is mounted on the hand 150a of the upper side, the space | interval of the hand 150a, 150b is expanded by the hand interval drive unit 160. The hand 1 on which no substrate is placed by expanding the distance to the distance d2.
The lower surface of 50b is brought into contact with the upper surface of the cooling plate 172, and the temperature of the hand 150b is adjusted to prepare for holding the next substrate (FIG. 9A). At this time, the hand 150a
Is in a state of being separated from the cooling plate 171, but there is no problem because it has already been cooled to room temperature before going to pick up the mounted substrate 10a.

【0047】下方のハンド150bに基板10bを載置
しているときには、ハンド間隔駆動ユニット160によ
りハンド150a、150bの間隔を狭めて間隔d1に
することにより、基板を載置していないハンド150a
の下面を冷却板171の上面に接触させ、当該ハンド1
50aの温度を調節して次の基板を保持するための準備
をする(図9(b))。
When the substrate 10b is placed on the lower hand 150b, the hand spacing drive unit 160 narrows the spacing between the hands 150a and 150b to the spacing d1 so that the hand 150a on which no substrate is placed.
The lower surface of the hand is brought into contact with the upper surface of the cooling plate 171, and the hand 1
The temperature of 50a is adjusted to prepare for holding the next substrate (FIG. 9B).

【0048】これらの動作は、次の単位処理部へ移動す
る間に、ハンド150a,150bの収納位置であるハ
ウジング131内部においてなされるので、ハンド15
0a,150bの冷却のための特別な冷却ステーション
を単位処理部とは別に設ける必要もなく、またその冷却
ステーションまでの移動の工程を不要となる。また、冷
却板を直接接触させてハンドを効果的に冷却するので、
短い移動時間内にハンドを冷却することができ、全体と
して基板処理効率を向上する。
Since these operations are performed inside the housing 131, which is the storage position of the hands 150a and 150b, while moving to the next unit processing section, the hand 15
It is not necessary to provide a special cooling station for cooling 0a and 150b separately from the unit processing section, and a process of moving to the cooling station is not necessary. In addition, since the cooling plate is brought into direct contact to cool the hand effectively,
The hand can be cooled within a short moving time, improving the substrate processing efficiency as a whole.

【0049】また、本実施例においては、基板交換を能
率に行なうため1アーム2ハンド機構におけるハンド間
隔駆動ユニット160によるハンド間隔の開閉動作を利
用して、他に特別な駆動機構を必要とせずに冷却板との
接離動作を行なうことができ合理的である。また、1ハ
ンドの場合であっても、当該ハンドを上下動するための
ロボット機構を利用して、上記冷却板との接離動作をす
るようにすればよい。
Further, in the present embodiment, in order to efficiently exchange the substrates, the opening / closing operation of the hand interval by the hand interval drive unit 160 in the one-arm two-hand mechanism is utilized, and no special drive mechanism is required. It is rational because it can move to and from the cooling plate. Further, even in the case of one hand, a robot mechanism for moving the hand up and down may be used to perform the contact / separation operation with the cooling plate.

【0050】B−4.ハンド冷却装置の変形実施例B-4. Modified embodiment of hand cooling device

【0051】図11は、ハンド冷却装置の第2の実施例
を示すものであって、ハウジング131内に設置されて
ハンドに接触する冷却部材が上下一体となっている。す
なわち、下方のハンド150cの指の幅が上方のハンド
150aよりも狭く構成され、その両側に配設された冷
却ブロック176,177により上下のハンド150
a,150bを冷却するようになっている。冷却ブロッ
ク176,177も内部に形成された流路に冷却気体供
給装置173により冷却気体を循環させることにより所
定温度に冷却されるように構成されるが、冷却板17
1、172に比べて熱容量を大きくとれるため、安定し
た冷却を行なうことができる。但し、ハンド150cを
ハウジング131に収納する際に、ハンド150cの、
ハンド間隔駆動ユニット160との連結のために伸びる
水平部分が、冷却ブロック176に係合するため、この
冷却ブロック176を下方に退避させる機構が必要にな
る。
FIG. 11 shows a second embodiment of the hand cooling device, in which the cooling members installed in the housing 131 and contacting the hand are vertically integrated. That is, the finger width of the lower hand 150c is configured to be narrower than that of the upper hand 150a, and the upper and lower hands 150c are provided by the cooling blocks 176 and 177 arranged on both sides thereof.
A and 150b are cooled. The cooling blocks 176 and 177 are also configured to be cooled to a predetermined temperature by circulating the cooling gas by the cooling gas supply device 173 through the flow passages formed inside.
Since the heat capacity can be made larger than those of Nos. 1 and 172, stable cooling can be performed. However, when the hand 150c is stored in the housing 131,
Since the horizontal portion extending for connection with the hand interval drive unit 160 engages with the cooling block 176, a mechanism for retracting the cooling block 176 downward is required.

【0052】図12は、ハンド冷却装置の第3の実施例
を示すものである。この実施例において、ハンド150
dは、下面が開放された断面コの字型をしており、2本
の指の形状は、それぞれほぼ2等3角形をしており、先
に行くほど細くなるテーパー形状をしている。
FIG. 12 shows a third embodiment of the hand cooling device. In this embodiment, the hand 150
d has a U-shaped cross section with an open lower surface, and the shape of each of the two fingers is a substantially isosceles triangle, and has a tapered shape that becomes thinner toward the front.

【0053】一方、冷却板178は、冷却板171、1
72と同様な空冷式であるが、その形状は、上記ハンド
150dとほぼ相似に形成されて、ハンド150dのコ
の字部分の裏側に嵌合するようになっている。但し、ハ
ンド150dに接触するのは冷却板178の側面178
aの外周部だけで、上面には接触しないように冷却板1
78の高さが設定されている。これは、ハンド移動時に
冷却板178の上面とハンド150d裏面が接触して摩
擦によるパーティクルが生じないようにするためであ
る。
On the other hand, the cooling plates 178 are the cooling plates 171, 1
It is an air-cooled type similar to 72, but its shape is formed to be substantially similar to the above-mentioned hand 150d, and is fitted to the back side of the U-shaped portion of the hand 150d. However, the side surface 178 of the cooling plate 178 is in contact with the hand 150d.
Cooling plate 1 so that only the outer peripheral part of a does not contact the upper surface.
A height of 78 is set. This is to prevent particles from being generated due to friction due to contact between the upper surface of the cooling plate 178 and the back surface of the hand 150d when the hand moves.

【0054】この冷却板178は、図示しない保持部材
によってY方向の所定範囲内で摺動可能なようにハウジ
ング131内に保持されるとともに、圧縮バネ178
b,178cによって(+Y)方向に付勢されている。
The cooling plate 178 is held in the housing 131 by a holding member (not shown) so as to be slidable within a predetermined range in the Y direction, and the compression spring 178 is also provided.
It is biased in the (+ Y) direction by b and 178c.

【0055】水平アーム機構140が作動してハンド1
50dが後退し、ハウジング131内に収納されてくる
と、冷却板178の指部178d,178eがハンド1
50dの指部150e,150fに挿入されるようにし
て、やがて冷却板178の側面178aの外周が、ハン
ド150dの内周側面に当接し、当該当接面で摺動する
ことなく、そのまま一体として圧縮バネ178の付勢に
抗して、若干(−Y)方向に後退した位置で停止する。
そのため、冷却板178とハンド150dの内周側面と
の間に摩擦は生ぜず、パーティクルが発生しない。
The horizontal arm mechanism 140 operates to operate the hand 1
When the 50d retracts and is housed in the housing 131, the fingers 178d and 178e of the cooling plate 178 come into contact with the hand 1.
The outer periphery of the side surface 178a of the cooling plate 178 comes into contact with the inner peripheral side surface of the hand 150d in such a manner that it is inserted into the finger portions 150e and 150f of the 50d, and as a unit as it is without sliding on the contact surface. It resists the bias of the compression spring 178 and stops at a position slightly retracted in the (-Y) direction.
Therefore, friction does not occur between the cooling plate 178 and the inner peripheral side surface of the hand 150d, and particles are not generated.

【0056】このような第3の実施例によると、上述し
た1アーム2ハンド機構の実施例のようにハンド間隔駆
動ユニット160を備えていなくても、冷却部材と摺動
するおそれをなくして、しかも他の余分な駆動機構を介
さずに、水平アーム機構140の収縮・伸張動作のみ
で、冷却部材とハンドとの接離を容易に行なうことが可
能となる。
According to the third embodiment as described above, even if the hand interval drive unit 160 is not provided unlike the above-described embodiment of the one-arm two-hand mechanism, there is no risk of sliding with the cooling member, Moreover, the cooling member and the hand can be easily brought into and out of contact with each other only by the contracting / expanding operation of the horizontal arm mechanism 140 without using another extra drive mechanism.

【0057】なお、図12の実施例では1アーム1ハン
ドになっているが、もちろんハンド間隔駆動ユニット1
60を介してハンド150dと同様なハンドをもう一つ
追加して2ハンドとすることも可能である。この場合に
は、冷却板178も2つ用意してその間隔をハンドの第
1の間隔もしくは第2の間隔と同一にしておけばよく、
ハンド間隔駆動ユニット160によるハンド間隔制御も
2位置制御のみでよい。
In the embodiment of FIG. 12, one arm and one hand are used, but of course the hand interval drive unit 1
It is also possible to add another hand similar to the hand 150d through 60 to make two hands. In this case, two cooling plates 178 may be prepared and their intervals may be the same as the first interval or the second interval of the hand.
The hand interval control by the hand interval drive unit 160 may be only two-position control.

【0058】なお、本実施例では、ハンド150dの上
面に複数のピン150gを設けて、ハンド150d本体
と所定の間隔をおいて基板を保持するようになってお
り、できるだけハンド150d本体の温度変化の影響を
基板に与えないようにしている。また、ハンド150d
には複数の穴150hが設けられており、ハンド150
dの質量を軽減して熱容量をきるだけ小さくしている。
これによりハンド150dを迅速に温度調節できる。
In this embodiment, a plurality of pins 150g are provided on the upper surface of the hand 150d to hold the substrate at a predetermined distance from the body of the hand 150d, and the temperature of the body of the hand 150d is changed as much as possible. The influence of is not given to the substrate. Also, the hand 150d
A plurality of holes 150h are provided in the hand 150
The mass of d is reduced to reduce the heat capacity.
This allows the temperature of the hand 150d to be adjusted quickly.

【0059】なお、上述の実施例において、ハウジング
内、すなわち水平アーム機構140が後退した位置に設
けた温度調節手段は、冷却装置のみであったが、場合に
よっては加熱装置であってもよい。この場合には冷却板
(冷却部材)を兼用して、内部の流路に高温の気体を流
入させるようにすればよい。
In the above-mentioned embodiment, the temperature adjusting means provided in the housing, that is, at the position where the horizontal arm mechanism 140 is retracted is only the cooling device, but it may be a heating device in some cases. In this case, the cooling plate (cooling member) may also be used to allow the high temperature gas to flow into the internal flow path.

【0060】また、ハウジング131は、基板搬送時に
クリーンエアのダウンフローの気流が乱れ、パーティク
ルの巻き返しが生じた場合に当該パーティクルが基板表
面に付着しないようにするためのものであって、本発明
の必須要件ではない。
The housing 131 is provided to prevent particles from adhering to the surface of the substrate when the flow of clean air downflow is disturbed and the particles are rewound during the transportation of the substrate. Is not an essential requirement of.

【0061】[0061]

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、基板
載置手段が単位処理部から後退した位置において、温度
調節手段に接触して当該基板載置手段を所定温度に調節
するようにしているので、迅速な温度調節が可能とな
る。しかも当該温度調節は単位処理部からの後退位置に
おいてなされるため、当該基板載置手段を他の単位処理
部に移動する際に基板載置手段の温度調節も同時に行な
うことができ、冷却のための特別ステーションや工程を
設ける必要がない。これにより、基板処理装置における
基板処理効率を維持しながら、ハンドの熱が基板に悪影
響を及ぼすことなくなり高品質な基板製造を可能にな
る。
As described above, according to the present invention, at the position where the substrate placing means is retracted from the unit processing section, the substrate placing means is brought into contact with the temperature adjusting means to adjust the substrate placing means to a predetermined temperature. Therefore, the temperature can be adjusted quickly. Moreover, since the temperature adjustment is performed at the retracted position from the unit processing unit, the temperature of the substrate mounting unit can be adjusted at the same time when the substrate mounting unit is moved to another unit processing unit, so that the temperature is adjusted. No special station or process is required. As a result, the heat of the hand does not adversely affect the substrate while maintaining the substrate processing efficiency in the substrate processing apparatus, and high-quality substrate manufacturing becomes possible.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明にかかる基板搬送装置が組み込まれた
基板処理装置の一例を示す側面図である。
FIG. 1 is a side view showing an example of a substrate processing apparatus in which a substrate transfer apparatus according to the present invention is incorporated.

【図2】図1を上方より見た平面配置図である。FIG. 2 is a plan layout view of FIG. 1 seen from above.

【図3】図1のI−I位置から(−X)方向に見た側面
構造図である。
FIG. 3 is a side view of the structure seen from the position I-I in FIG. 1 in the (−X) direction.

【図4】移動機構の拡大側面図である。FIG. 4 is an enlarged side view of the moving mechanism.

【図5】移動機構の部分斜視図である。FIG. 5 is a partial perspective view of a moving mechanism.

【図6】図5を上方から見た平面図である。FIG. 6 is a plan view of FIG. 5 seen from above.

【図7】単位処理部内の基板の交換動作を示す概略図で
ある。
FIG. 7 is a schematic view showing a substrate exchange operation in the unit processing unit.

【図8】図5を(−Y)方向から見たときの正面図であ
る。
FIG. 8 is a front view of FIG. 5 when viewed from the (−Y) direction.

【図9】ハンドと冷却板との位置関係を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing a positional relationship between a hand and a cooling plate.

【図10】ハンド冷却装置の全体の構成を示すブロック
図である。
FIG. 10 is a block diagram showing an overall configuration of a hand cooling device.

【図11】ハンド冷却装置の第2の実施例を示す図であ
る。
FIG. 11 is a diagram showing a second embodiment of the hand cooling device.

【図12】ハンド冷却装置の第3の実施例を示す図であ
る。
FIG. 12 is a diagram showing a third embodiment of the hand cooling device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101,102 移動機構 140 水平アーム機構 150a,150b,150c,150d ハンド(基
板載置手段) 160 ハンド間隔駆動ユニット 171,172,178 冷却板 176、177 冷却ブロック
101, 102 moving mechanism 140 horizontal arm mechanism 150a, 150b, 150c, 150d hand (substrate mounting means) 160 hand interval drive unit 171, 172, 178 cooling plate 176, 177 cooling block

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板を複数の単位処理部間に搬送する基
板搬送装置であって、 前記基板が載置される基板載置手段と、 前記単位処理部方向に進出した第1の位置と、前記単位
処理部から後退した第2の位置との間で前記基板載置手
段を移動させる駆動手段と、 前記第2の位置において前記基板載置手段に接触し、当
該基板載置手段を所定の温度に調節する温度調節手段
と、 を備えたことを特徴とする基板搬送装置。
1. A substrate transfer device for transferring a substrate between a plurality of unit processing parts, wherein the substrate mounting means mounts the substrate, and a first position in which the substrate is advanced toward the unit processing part. A driving means for moving the substrate placing means between a second position retracted from the unit processing section and the substrate placing means at the second position to bring the substrate placing means into a predetermined position. A substrate transfer apparatus comprising: a temperature adjusting unit that adjusts the temperature.
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