JP2003182700A - 宇宙航行光学機器及びその汚染物質除去方法 - Google Patents

宇宙航行光学機器及びその汚染物質除去方法

Info

Publication number
JP2003182700A
JP2003182700A JP2001383300A JP2001383300A JP2003182700A JP 2003182700 A JP2003182700 A JP 2003182700A JP 2001383300 A JP2001383300 A JP 2001383300A JP 2001383300 A JP2001383300 A JP 2001383300A JP 2003182700 A JP2003182700 A JP 2003182700A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
space
housing
optical
pollutant
door
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001383300A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3789812B2 (ja
Inventor
Kazuhiro Nagae
一博 永江
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2001383300A priority Critical patent/JP3789812B2/ja
Priority to US10/164,635 priority patent/US7021776B2/en
Publication of JP2003182700A publication Critical patent/JP2003182700A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3789812B2 publication Critical patent/JP3789812B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/0006Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 with means to keep optical surfaces clean, e.g. by preventing or removing dirt, stains, contamination, condensation
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B23/00Telescopes, e.g. binoculars; Periscopes; Instruments for viewing the inside of hollow bodies; Viewfinders; Optical aiming or sighting devices
    • G02B23/02Telescopes, e.g. binoculars; Periscopes; Instruments for viewing the inside of hollow bodies; Viewfinders; Optical aiming or sighting devices involving prisms or mirrors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Astronomy & Astrophysics (AREA)
  • Telescopes (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 一度宇宙空間に配置されてしまうと光学部品
鏡面における汚染物質を除去することができないことか
ら、汚染物質による不具合に対処することができないと
いう課題があった。 【解決手段】 光学部品を収納する筐体と、該筐体の外
周部のうち、宇宙航行中に宇宙空間と輻射熱結合する割
合が最も大きく、外部からの熱入力が最も小さい部位に
設けられ、筐体内部を宇宙空間に開放する汚染物質除去
用ドア部とを備えた宇宙航行光学機器において、筐体内
を高温部とし宇宙空間を低温部とする熱勾配を形成し、
汚染物質除去用ドア部によって筐体内部を宇宙空間に開
放して汚染物質を排出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は人工衛星に搭載す
る宇宙望遠鏡などの宇宙航行光学機器に係り、特に光学
機器を構成する筐体に汚染物質を宇宙空間に排出する機
構を設けた宇宙航行光学機器及びその汚染物質除去方法
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図6は従来の宇宙航行光学機器である宇
宙望遠鏡の概略的な構成を示す断面図であり、(a)は
観測運用前を示し、(b)は軌道上での観測運用時を示
している。当該宇宙望遠鏡は、所定の軌道上を周回する
人工衛星などに設けられる。図において、100a〜1
00cは宇宙望遠鏡を構成する光学部品であって、図示
の例では観測対象物Aからの観測光Bを入射する反射光
学系を構成する。101は光学部品100a〜100c
を収納する鏡筒で、熱、汚染物質(例えば、鏡筒101
内に設けたCFRP構造物(carbon fiber
reinforced plastics)及び有機
材料などから、真空環境下において発生する揮発性物質
や水分などがある)、及び、放射線などの過酷な宇宙環
境から内部の光学部品100a〜100cを保護する。
102は観測対象物Aからの観測光Bを光学部品100
a〜100cに導くための観測用の開口部(入射瞳)に
設けたトップドアであって、ヒンジ部103によって鏡
筒101に支持される。このトップドア102は、ヒン
ジ部103を中心に回転して開閉自在に動作する。ま
た、104は鏡筒101を被覆する断熱材であって、M
LI(Multi Layer Insulatio
n)と呼ばれる宇宙用断熱材である。
【0003】次に動作について説明する。当該宇宙望遠
鏡を搭載した衛星を打ち上げて所定の軌道上を周回する
ようになると、先ず、図6(a)に示すように、宇宙望
遠鏡の光学部品100a〜100cからなる光学系の光
軸を観測対象物Aからの観測光Bの光軸に指向させる。
このあと、図6(b)に示すように、トップドア102
を開放して光学部品100a〜100cに観測光Bを受
光させることで、観測運用が開始される。
【0004】ここで、例えば可視光領域の波長を観測光
Bとして取り込む宇宙望遠鏡においては、太陽光吸収率
(以下、「α値」と呼ぶ)によって、反射光学系の光学
部品鏡面の吸収熱量が決定される。この吸収熱量の大小
によって反射鏡などの光学的性質も影響を受けるため、
宇宙望遠鏡が軌道上運用時において要求性能を満足する
か否かは、上記α値の劣化量(α値が大きくなること)
を如何に抑えることができるかにかかっている。
【0005】上述した光学部品鏡面におけるα値の劣化
は、主に上記汚染物質の付着によって引き起こされる。
また、汚染物質が付着した鏡面に紫外線が照射される
と、汚染物質に含まれる有機物質が分解して黒色化し、
光学望遠鏡として致命的な不具合が生じる可能性もあ
る。
【0006】そこで、光学部品鏡面における汚染物質管
理については、先ず、衛星打ち上げ前に、地上において
製造、組立、試験、打ち上げの各工程ごとに汚染物質を
管理する定量的な評価が必要である。また、軌道上での
観測運用時においても汚染物質管理に関して定量的に評
価する必要がある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来の宇宙航行光学機
器は以上のように構成されているので、一度宇宙空間に
配置されてしまうと光学部品鏡面における汚染物質を除
去することができないことから、汚染物質による不具合
に対処することができないという課題があった。
【0008】上記課題を具体的に説明すると、上述した
ような衛星打ち上げ前に、汚染物質を管理する定量的な
評価を行うことは、実際には非常に困難である。例え
ば、大気圧下では発生しなくても超高真空下の宇宙空間
におかれると、気化してくる汚染物質については評価す
ることができない。また、そもそも大気圧下では光学部
品鏡面に水などの様々な吸着分子が存在し、宇宙空間に
おける表面状態とは大きく異なっている。
【0009】一方、衛星の打ち上げ直後から軌道上での
観測運用に至るまでの期間における光学部品鏡面への汚
染物質付着量の予測も困難である。つまり、衛星の打ち
上げ直後から軌道上での観測運用に至るまでに鏡筒10
1内に発生する汚染物質分子や光学部品鏡面の汚染物質
付着量を定量する手段がない。
【0010】このような状況において、図6(a)、
(b)に示すような従来の宇宙望遠鏡の運用方法を採用
すれば、光学部品鏡面に汚染物質が付着した状態でトッ
プドア102を展開することになる。このため、上述し
たような不具合が発生して宇宙望遠鏡の運用初期段階に
おいて要求性能を満足できなくなるばかりでなく、α値
の劣化の程度次第では観測不能となる危険性も十分にあ
る。
【0011】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたもので、上述したように、軌道上での観測
運用直前までの光学部品鏡面への汚染物質付着量の定量
評価が不可能である(汚染物質管理が不可能である)と
いう現実を踏まえ、光学部品を収納する筐体に、宇宙空
間へ汚染物質を排出する機構を設けることで、観測運用
直前(光学部品鏡面への受光直前)に、光学部品鏡面に
付着した汚染物質を除去することができる宇宙航行光学
機器を得ることを目的とする。
【0012】また、この発明は上記宇宙航行光学機器か
ら汚染物質を効率的に除去することができる汚染物質除
去方法を得ることを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】この発明に係る宇宙航行
光学機器は、光学部品を収納する筐体と、該筐体の外周
部のうち、宇宙航行中に宇宙空間と輻射熱結合する割合
が最も大きく、外部からの熱入力が最も小さい部位に設
けられ、筐体内部を宇宙空間に開放する汚染物質除去用
ドア部とを備えるものである。
【0014】この発明に係る宇宙航行光学機器は、筐体
内を高温部とし宇宙空間を低温部とする熱勾配を形成さ
せる熱勾配形成手段を備えるものである。
【0015】この発明に係る宇宙航行光学機器は、光学
部品を加熱する加熱手段を備えるものである。
【0016】この発明に係る宇宙航行光学機器は、汚染
物質除去用ドア部が宇宙空間に熱を放出する放熱手段を
備えるものである。
【0017】この発明に係る汚染物質除去方法は、光学
部品を収納する筐体と、該筐体の外周部のうち、宇宙航
行中に宇宙空間と輻射熱結合する割合が最も大きく、外
部からの熱入力が最も小さい部位に設けられ、筐体内部
を宇宙空間に開放する汚染物質除去用ドア部とを備えた
宇宙航行光学機器に対して、その筐体内を高温部とし宇
宙空間を低温部とする熱勾配を形成すると共に、汚染物
質除去用ドア部によって筐体内部を宇宙空間に開放して
汚染物質を排出するものである。
【0018】この発明に係る汚染物質除去方法は、光学
部品を加熱して筐体内で該光学部品を高温部とし筐体内
壁を低温部とする熱勾配を形成するものである。
【0019】この発明に係る汚染物質除去方法は、汚染
物質除去用ドア部を放熱させることで筐体内壁における
最低温部とするものである。
【0020】この発明に係る汚染物質除去方法は、光学
部品を加熱しながら筐体内部を宇宙空間に開放するもの
である。
【0021】この発明に係る汚染物質除去方法は、宇宙
航行光学機器は、汚染物質除去用ドア部とは別に、観測
対象物からの観測光を筐体内部の光学部品に導く観測系
側ドア部を有し、観測系側ドア部及び/又は汚染物質除
去用ドア部によって筐体内部を宇宙空間に開放するもの
である。
【0022】この発明に係る汚染物質除去方法は、観測
系側ドア部を開放した際に観測光が入射しない姿勢に光
学機器を制御して、光学部品を加熱しながら観測系側ド
ア部及び/又は汚染物質除去用ドア部によって筐体内部
を宇宙空間に開放して汚染物質を排出するものである。
【0023】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の一形態を
説明する。 実施の形態1.図1はこの発明の実施の形態1による宇
宙航行光学機器の概略的な構成を示す断面図であり、
(a)は軌道上での観測運用前の状態、(b)は(a)
の状態における汚染物質の挙動を概略的に示し、(c)
は軌道上での観測運用時を示している。また、この図で
は、宇宙航行光学機器として宇宙望遠鏡を例に挙げてい
る。図において、1a〜1cは当該宇宙望遠鏡の光学系
を構成する光学部品であって、図示の例では観測対象物
Aからの観測光Bを入射する反射光学系を構成する。2
は光学部品1a〜1cを収納する鏡筒(筐体)で、熱、
汚染物質7、及び、放射線などの過酷な宇宙環境から内
部の光学部品1a〜1cを保護する。3は観測対象物A
からの観測光Bを光学部品1a〜1cに導くために観測
用の開口部(入射瞳)に設けられたトップドア(観測系
側ドア部)であって、ヒンジ部4aによって鏡筒2に支
持されて外部環境から鏡筒2内部を保護する。このトッ
プドア3は、ヒンジ部4aを中心に回転して開閉自在に
動作する。
【0024】また、5はトップドア4とは別に鏡筒2に
設けられたサイドドア(汚染物質除去用ドア部)であっ
て、鏡筒2の外表面のうち、軌道上、宇宙空間(およそ
3K程度)と輻射熱結合している割合が最も大きく、外
部からの熱入力が最も小さい部分に開口部を設け、これ
を覆うようにして設けられる。このサイドドア5は、ヒ
ンジ部4bにより鏡筒2に支持されており、該ヒンジ部
4bを中心に回転して開閉自在に動作する機構となって
いる。6は鏡筒2を被覆する断熱材(熱勾配形成手段)
であって、MLI(Multi Layer Insu
lation)と呼ばれる宇宙用断熱材などで実現され
る。7は鏡筒2内に発生した汚染物質で、例えば、鏡筒
2内に設けたCFRP構造物(carbon fibe
r reinforced plastics)及び有
機材料などから真空環境下において発生する揮発性物質
や水分などがある。
【0025】次に動作について説明する。軌道上での観
測運用前では、図1(a)に示すように、宇宙望遠鏡の
光学部品1a〜1cからなる光学系の光軸を観測対象物
Aからの観測光Bの光軸に指向させている。また、トッ
プドア3も閉じた状態となっており、観測光Bは光学部
品鏡面に受光されない。このとき、鏡筒2の内壁や光学
部品鏡面などには、汚染物質が付着していると共に、鏡
筒2内の気相にも汚染物質分子が浮遊している。これら
の気相に浮遊する汚染物質分子が鏡筒2の内壁や光学部
品鏡面などに衝突することで、さらに汚染物質の付着が
進む。
【0026】そこで、この実施の形態1では、トップド
ア3を開いて観測光Bを光学部品鏡面に受光する前に、
図1(b)に示すように、サイドドア5のみを開放す
る。この動作によって、光学部品1a〜1cを含む鏡筒
2の内部が、サイドドア5の開口部を介してある視野角
で極低温の宇宙空間(3K程度)と空間的・熱的に結合
することになる。鏡筒2の外周は断熱材6によって極低
温の宇宙空間から熱的に切り離されており、内部は極低
温より高温の状態にある。このため、サイドドア5のみ
を開放することで、鏡筒2内部と宇宙空間との間にサイ
ドドア5の開口部を介して温度差(熱勾配)が生じる。
【0027】ここで、汚染物質(例えば、水分子や有機
材料からの揮発性物質など)7は、真空環境下において
高温部から低温部へ半球状に移動(浮遊)することが知
られている。このような汚染物質7の挙動を考慮すれ
ば、図1(b)に示す状態を実現することにより、宇宙
望遠鏡内部、特に光学部品鏡面に付着した汚染物質7を
宇宙空間に排出することができる(図1(b)中の破線
の矢印の部分を参照)。
【0028】この図1(b)に示す状態を、宇宙望遠鏡
に対して十分な時間維持したあと、図1(c)に示すよ
うに、トップドア3を開放することによって、観測光B
を光学部品1a〜1cに受光し観測運用が開始される。
【0029】以上のように、この実施の形態1によれ
ば、光学部品1a〜1cを収納する鏡筒2と、該鏡筒2
の外周部のうち、宇宙航行中に宇宙空間と輻射熱結合す
る割合が最も大きく外部からの熱入力が最も小さい部位
に設けられ、内部を宇宙空間に開放するサイドドア5と
を備えたので、鏡筒2内壁や光学部品鏡面に付着した汚
染物質を宇宙空間に排出することができる。
【0030】実施の形態2.図2はこの発明の実施の形
態2による宇宙航行光学機器の概略的な構成を示す断面
図であり、(a)は軌道上での観測運用前の状態、
(b)は軌道上での観測運用時を示し、(c)は軌道上
での観測運用前の他の状態を示している。また、この図
では、宇宙航行光学機器として宇宙望遠鏡を例に挙げて
いる。図において、8,9は光学部品1a〜1cの近傍
に設置されたデコンタミヒータ(加熱手段)であって、
光学部品1a〜1cをそれぞれ加熱する。このデコンタ
ミヒータ8,9は、例えば光学部品1a〜1cを構成す
る反射鏡の裏面に平面上に発熱素子を取り付けた構成な
どが考えられる。また、この発熱素子の電源を太陽電池
で供給するようにしてもよい。なお、図1と同一構成要
素には同一符号を付して重複する説明を省略する。
【0031】次に動作について説明する。先ず、観測運
用前においては、図2(a)に示すように、宇宙望遠鏡
の姿勢を観測対象物Aに指向させる。また、トップドア
3、及びサイドドア5は閉じた状態で、デコンタミヒー
タ8,9をそれぞれ発熱させ、各光学部品1a〜1cを
充分な時間加熱する(以下、軌道上ベーキングと呼
ぶ)。このように、デコンタミヒータ8,9で加熱する
ことによって、光学部品1a〜1cの温度を鏡筒2内部
の他の構成品(鏡筒2も含む)より上昇させて温度差
(熱勾配)を形成させる。これにより、光学部品1a〜
1cに付着した汚染物質7は、光学部品1a〜1cの表
面から脱離する(図2(a)中の破線の矢印参照)。
【0032】十分な時間、軌道上ベーキングが実施され
ると、光学部品1a〜1cから脱離した汚染物質7は、
鏡筒2内壁部に付着することになる。続いて、図2
(b)に示すように、トップドア3及びサイドドア5を
同時に開放することで、鏡筒2内部から2つの開口部を
介して汚染物質7が宇宙空間へ排出される(図2(b)
中の破線の矢印参照)。この場合、上記実施の形態1と
比較して、トップドア3及びサイドドア5が開放される
ことから宇宙空間とのコンダクタンスが大きく汚染物質
7の排出効率がよい。
【0033】また、図2(c)に示すように、観測運用
前において、サイドドア5は開放した状態でデコンタミ
ヒータ8,9をそれぞれ発熱させ、各光学部品1a〜1
cを十分な時間加熱する軌道上ベーキングを行っても良
い。この場合も上記と同様に、デコンタミヒータ8,9
で加熱することにより、汚染物質7を光学部品1a〜1
cから脱離させ、且つ、サイドドア5を開放することに
より生じた開口部から汚染物質7が宇宙空間に排出され
る。ここで、サイドドア5を開放した後もデコンタミヒ
ータ8,9による加熱を継続する。この軌道上ベーキン
グを十分な時間実施した後、トップドア3を開放して宇
宙望遠鏡の観測を開始する。このように、軌道上ベーキ
ング時に既にサイドドア5を開放しておくことで、鏡筒
2内部の汚染物質を宇宙空間へ効率よく排出することが
できる。
【0034】以上のように、この実施の形態2によれ
ば、光学部品1a〜1cを加熱するデコンタミヒータ
8,9を設けたので、光学部品1a〜1cを高温部とす
る熱勾配をより急峻にすることができ、光学部品鏡面に
付着した汚染物質を効率よく宇宙空間に排出することが
できる。
【0035】実施の形態3.図3はこの発明の実施の形
態3による宇宙航行光学機器の概略的な構成を示す断面
図であり、(a)は軌道上での観測運用前の状態を示
し、(b)は観測運用時を示している。また、この図で
は、宇宙航行光学機器として宇宙望遠鏡を例に挙げてい
る。図において、10,11はトップドア3及びサイド
ドア5の外表面(宇宙空間に暴露された面)にそれぞれ
設けたα/ε値が小さい熱制御材(又は表面処理)(放
熱手段)であって、トップドア3及びサイドドア5自身
を放熱面として低温板化する。これにより、トップドア
3及びサイドドア5自身を、それぞれ汚染物質7のトラ
ップ用板として機能させることが可能となる。ここで、
αは太陽光吸収率、εは赤外線放射率である。また、α
/ε値が小さい熱制御材(又は表面処理)10,11
は、例えばα/ε値が小さい粘着物質を用いた粘着テー
プであるシルバーテフロン(登録商標)、OSR(Op
tical Solar Reflector)、ホワ
イトペイントなどを施すことによって実現される。な
お、図1と同一構成要素には同一符号を付して重複する
説明を省略する。
【0036】次に動作について説明する。先ず、観測運
用前において、図3(a)に示すように、宇宙望遠鏡の
姿勢を観測対象物Aに指向させ、α/ε値が小さい熱制
御材10,11を施したトップドア3及びサイドドア5
を閉じた状態にする。このとき、トップドア3及びサイ
ドドア5の温度は、α/ε値が小さい熱制御材10,1
1によって鏡筒2又は鏡筒2内部の各構成品の温度と比
較して数十度下がることになる。つまり、光学部品1a
〜1cの温度より両ドア3,5の方が数十度低くなる。
このため、光学部品鏡面に付着していた汚染物質7は、
両ドア3,5の方へ移動(浮遊)して吸着する。このよ
うに、トップドア3及びサイドドア5の外表面にα/ε
値が小さい熱制御材を実装することで、汚染物質7を吸
着させる機能を持たせることが可能となる。
【0037】上述のようにして、光学部品鏡面などに付
着した汚染物質をトップドア3及びサイドドア5に吸着
させたあと、図3(b)に示すように、これらを同時に
開放する。これによって汚染物質7が排出されると共
に、宇宙望遠鏡の観測運用を開始することができる。
【0038】以上のように、この実施の形態3によれ
ば、トップドア3及びサイドドア5を低温板化する熱制
御材10,11を設けることにより、トップドア3及び
サイドドア5を汚染物質7のトラップとして機能させる
ことが可能となる。これにより、光学部品鏡面に付着し
た汚染物質7を効率よく排除することができる。
【0039】実施の形態4.図4はこの発明の実施の形
態4による宇宙航行光学機器の概略的な構成を示す断面
図であり、(a)は軌道上での観測運用前の状態、
(b)は軌道上での観測運用時を示し、(c)は軌道上
での観測運用前の他の状態を示している。また、この図
では、宇宙航行光学機器として宇宙望遠鏡を例に挙げて
いる。図4に示す宇宙航行光学機器は、図3の構成にデ
コンタミヒータ8,9を追加したものに相当する。
【0040】次に動作について説明する。先ず、観測運
用前においては、図4(a)に示すように、宇宙望遠鏡
の姿勢を観測対象物Aに指向させ、α/ε値が小さい熱
制御材10,11を施したトップドア3及びサイドドア
5を閉じた状態にする。ここで、デコンタミヒータ8,
9を発熱させて光学部品1a〜1cを加熱(軌道上ベー
キング)し、光学部品1a〜1cに付着した汚染物質7
をその表面から脱離させる。このとき、光学部品1a〜
1cの表面から脱離した汚染物質7は、熱制御材10,
11によって低温板化されたドア3,5に直ちにトラッ
プされる。このように、光学部品1a〜1cの温度を上
昇させることで光学部品鏡面からの汚染物質7の排除量
を多くさせると共に、熱制御材10,11によって光学
部品1a〜1cと両ドア3,5との温度差(熱勾配)を
大きくすることで、上記実施の形態3と比較して汚染物
質7の両ドア3,5に対する吸着効率を向上させること
ができる。
【0041】上述のような軌道上ベーキングを十分な時
間実施したあと、トップドア3及びサイドドア5を開放
して、図4(b)に示すように、光学部品鏡面に付着し
た汚染物質7を宇宙空間に排出し、宇宙望遠鏡の観測運
用を開始する。
【0042】また、観測運用前において、宇宙望遠鏡の
姿勢を観測対象物Aに指向させ、トップドア3及びサイ
ドドア5を閉じた状態で、デコンタミヒータ8,9をそ
れぞれ発熱させ、各光学部品1a〜1cを充分な時間加
熱する軌道上ベーキングを行っても良い。この場合も上
記と同様に、デコンタミヒータ8,9で加熱することに
より、汚染物質7を光学部品1a〜1cから脱離させる
と共に、低温板化しているトップドア3及びサイドドア
5に汚染物質7を吸着させる。この軌道上ベーキングを
十分な時間実施した後、図4(c)に示すように、サイ
ドドア5のみ開放し、サイドドア5に吸着した汚染物質
7及び鏡筒2内部の汚染物質7を宇宙空間に排出する。
このサイドドア5の開放後もデコンタミヒータ8,9に
よる軌道上ベーキングを十分な時間実施した後、トップ
ドア3を開放して宇宙望遠鏡の観測を開始する。このよ
うに、軌道上ベーキング時に既にサイドドア5を開放し
ておくことで、鏡筒2内部の汚染物質を宇宙空間へ効率
よく排出することができる。
【0043】以上のように、この実施の形態4によれ
ば、光学部品1a〜1cを他の構成部品より高温化する
デコンタミヒータ8,9と、トップドア3及びサイドド
ア5を低温板化する熱制御材10,11とを設けること
により、光学部品鏡面から脱離した汚染物質7を効率よ
くトップドア3及びサイドドア5にトラップさせること
ができる。これにより、光学部品鏡面に付着した汚染物
質7を効率よく排除することができる。
【0044】実施の形態5.図5はこの発明の実施の形
態5による宇宙航行光学機器の概略的な構成を示す断面
図であり、(a)は軌道上での観測運用前の状態を示
し、(b)は観測運用時を示している。また、この図で
は、宇宙航行光学機器として宇宙望遠鏡を例に挙げてい
る。図において、図5に示す宇宙航行光学機器は、全て
図2に記載されたものと同一である。上記実施の形態2
との相違点は、ドア3,5の運用方法にある。
【0045】次に動作について説明する。図5(a)に
示すように、観測運用前において、トップドア3を開放
した後であっても、光学部品1a〜1cにて観測光Bが
受光しないように宇宙望遠鏡の指向軸(姿勢)を制御す
る。このとき、光学部品1a〜1cでは、観測光Bを受
光しないため熱吸収がない。これにより、鏡筒2内部の
温度は観測運用時と比較して下がることになる。この姿
勢で、デコンタミヒータ8,9を発熱させることで光学
部品1a〜1cを加熱(軌道上ベーキング)し、トップ
ドア3及びサイドドア5を開放する。つまり、姿勢制御
によって鏡筒2内部の温度を観測運用時と比較して下げ
ることで、光学部品1a〜1cを高温部とする熱勾配が
より急峻になる。これにより、光学部品1a〜1cに付
着した汚染物質7は、より確実に排除される。
【0046】上記軌道上ベーキングを十分な時間実施し
たあと、図5(b)に示すように、宇宙望遠鏡の指向軸
(姿勢)を観測光の光軸に合わせて観測運用を開始す
る。
【0047】以上のように、この実施の形態5によれ
ば、トップドア3を開放した際に観測光Bが入射しない
姿勢に光学機器を制御して、光学部品1a〜1cを加熱
しながらトップドア3及び/又はサイドドア5によって
鏡筒2内部を宇宙空間に開放して汚染物質7を排出する
ので、光学部品1a〜1cを高温部とする熱勾配をより
急峻にすることができ、光学部品鏡面に付着した汚染物
質を効率よく宇宙空間に排出することができる。
【0048】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、光学
部品を収納する筐体に、宇宙空間へ汚染物質を効率よく
排出する機構を設けたので、宇宙航行中に光学部品の汚
染物質を除去することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1による宇宙航行光学
機器の概略的な構成を示す断面図である。
【図2】 この発明の実施の形態2による宇宙航行光学
機器の概略的な構成を示す断面図である。
【図3】 この発明の実施の形態3による宇宙航行光学
機器の概略的な構成を示す断面図である。
【図4】 この発明の実施の形態4による宇宙航行光学
機器の概略的な構成を示す断面図である。
【図5】 この発明の実施の形態5による宇宙航行光学
機器の概略的な構成を示す断面図である。
【図6】 従来の宇宙航行光学機器である宇宙望遠鏡の
概略的な構成を示す断面図である。
【符号の説明】
1a〜1c 光学部品、2 鏡筒(筐体)、3 トップ
ドア(観測系側ドア部)、4a,4b ヒンジ部、5
サイドドア(汚染物質除去用ドア部)、6 断熱材(熱
勾配形成手段)、7 汚染物質、8,9 デコンタミヒ
ータ(加熱手段)、10,11 熱制御材(又は表面処
理)(放熱手段)。

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光学部品を収納する筐体と、 該筐体の外周部のうち、宇宙航行中に宇宙空間と輻射熱
    結合する割合が最も大きく、外部からの熱入力が最も小
    さい部位に設けられ、上記筐体内部を宇宙空間に開放す
    る汚染物質除去用ドア部とを備えた宇宙航行光学機器。
  2. 【請求項2】 筐体内を高温部とし、宇宙空間を低温部
    とする熱勾配を形成させる熱勾配形成手段を備えたこと
    を特徴とする請求項1記載の宇宙航行光学機器。
  3. 【請求項3】 光学部品を加熱する加熱手段を備えたこ
    とを特徴とする請求項1記載の宇宙航行光学機器。
  4. 【請求項4】 汚染物質除去用ドア部は、宇宙空間に熱
    を放出する放熱手段を備えたことを特徴とする請求項1
    記載の宇宙航行光学機器。
  5. 【請求項5】 光学部品を収納する筐体と、該筐体の外
    周部のうち、宇宙航行中に宇宙空間と輻射熱結合する割
    合が最も大きく、外部からの熱入力が最も小さい部位に
    設けられ、上記筐体内部を宇宙空間に開放する汚染物質
    除去用ドア部とを備えた宇宙航行光学機器に対して、そ
    の筐体内を高温部とし上記宇宙空間を低温部とする熱勾
    配を形成すると共に、上記汚染物質除去用ドア部によっ
    て上記筐体内部を上記宇宙空間に開放して汚染物質を排
    出する宇宙航行光学機器の汚染物質除去方法。
  6. 【請求項6】 光学部品を加熱して筐体内で該光学部品
    を高温部とし上記筐体内壁を低温部とする熱勾配を形成
    することを特徴とする請求項5記載の宇宙航行光学機器
    の汚染物質除去方法。
  7. 【請求項7】 汚染物質除去用ドア部を放熱させること
    で筐体内壁における最低温部とすることを特徴とする請
    求項5記載の宇宙航行光学機器の汚染物質除去方法。
  8. 【請求項8】 光学部品を加熱しながら筐体内部を宇宙
    空間に開放することを特徴とする請求項5記載の宇宙航
    行光学機器の汚染物質除去方法。
  9. 【請求項9】 宇宙航行光学機器は、汚染物質除去用ド
    ア部とは別に、観測対象物からの観測光を筐体内部の光
    学部品に導く観測系側ドア部を有し、 上記観測系側ドア部及び/又は汚染物質除去用ドア部に
    よって筐体内部を宇宙空間に開放することを特徴とする
    請求項5記載の宇宙航行光学機器の汚染物質除去方法。
  10. 【請求項10】 観測系側ドア部を開放した際に観測光
    が入射しない姿勢に光学機器を制御し、光学部品を加熱
    しながら上記観測系側ドア部及び/又は汚染物質除去用
    ドア部によって筐体内部を宇宙空間に開放して汚染物質
    を排出することを特徴とする請求項9記載の宇宙航行光
    学機器の汚染物質除去方法。
JP2001383300A 2001-12-17 2001-12-17 宇宙航行光学機器及びその汚染物質除去方法 Expired - Fee Related JP3789812B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001383300A JP3789812B2 (ja) 2001-12-17 2001-12-17 宇宙航行光学機器及びその汚染物質除去方法
US10/164,635 US7021776B2 (en) 2001-12-17 2002-06-10 Space navigation optical instrument and contaminant removing method thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001383300A JP3789812B2 (ja) 2001-12-17 2001-12-17 宇宙航行光学機器及びその汚染物質除去方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003182700A true JP2003182700A (ja) 2003-07-03
JP3789812B2 JP3789812B2 (ja) 2006-06-28

Family

ID=19187567

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001383300A Expired - Fee Related JP3789812B2 (ja) 2001-12-17 2001-12-17 宇宙航行光学機器及びその汚染物質除去方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7021776B2 (ja)
JP (1) JP3789812B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009517699A (ja) * 2005-11-28 2009-04-30 テールズ ミラーが設置されている入口空洞を含む光学機器
JP2012224330A (ja) * 2011-04-21 2012-11-15 Thales 人工衛星の光学器械の防護装置
US10037604B2 (en) 2012-06-14 2018-07-31 International Business Machines Corporation Multi-cue object detection and analysis

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005101537A (ja) * 2003-08-29 2005-04-14 Canon Inc 露光装置及びそれを用いたデバイスの製造方法
GB0517627D0 (en) * 2005-08-30 2005-10-05 Tyco Electronics Ltd Uk Bus-bar and connector
US7911710B2 (en) * 2006-09-18 2011-03-22 Edwards Optical Corporation Telemicroscopic apparatus for the enhancement of simultaneous bi-level telescope viewing of objects both far and near
FR2920229B1 (fr) * 2007-08-24 2009-12-18 Thales Sa Amelioration des performances d'instruments d'observation par l'utilisation de revetements a emissivite variable
EP2659507B1 (en) * 2010-12-29 2022-09-14 Evatec AG Vacuum treatment apparatus

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5191469A (en) * 1988-03-17 1993-03-02 Margolis H Jay Afocal variation focusing system for mirrored optical systems
JPH02140517A (ja) 1988-11-21 1990-05-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電気調理器の加熱装置
JPH0367312A (ja) 1989-08-05 1991-03-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 湯水混合装置
US5296285A (en) * 1992-05-26 1994-03-22 Mcdonnell Douglas Corporation High emittance low absorptance coatings
US5418431A (en) * 1993-08-27 1995-05-23 Hughes Aircraft Company RF plasma source and antenna therefor
JP2688322B2 (ja) 1994-02-18 1997-12-10 三鷹光器株式会社 鏡筒内気流制御装置を備えた反射望遠鏡
US5716030A (en) * 1996-02-06 1998-02-10 Hughes Aircraft Company Aperture door and calibration source for spacecraft remote sensing devices

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009517699A (ja) * 2005-11-28 2009-04-30 テールズ ミラーが設置されている入口空洞を含む光学機器
JP2012224330A (ja) * 2011-04-21 2012-11-15 Thales 人工衛星の光学器械の防護装置
US10037604B2 (en) 2012-06-14 2018-07-31 International Business Machines Corporation Multi-cue object detection and analysis

Also Published As

Publication number Publication date
US7021776B2 (en) 2006-04-04
JP3789812B2 (ja) 2006-06-28
US20030112512A1 (en) 2003-06-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Keller et al. OSIRIS–The scientific camera system onboard Rosetta
JP3789812B2 (ja) 宇宙航行光学機器及びその汚染物質除去方法
CN110582669B (zh) 用于车辆前灯进行除湿或防止出现湿气的装置及车辆前灯
Quijada et al. Enhanced MgF2 and LiF over-coated Al mirrors for FUV space astronomy
CN108099277A (zh) 航天器用分子污染吸附控制结构及其控制方法
CN111071496A (zh) 用于减少从航天器脱气的挥发性可冷凝材料的污染限制器
Fiore et al. HEXIT-SAT: a mission concept for X-ray grazing incidence telescopes from 0.5 to 70 keV
Defise et al. SWAP: a novel EUV telescope for space weather
Suliga et al. Transmission loss of spacecraft optical materials due to ultraviolet-induced contamination
Portaluppi et al. Euclid cleanliness and contamination control
Nömayr et al. Degradation of solar array components in a combined UV/VUV high temperature test environment
Cohen et al. Architecture of the FIRST telescope
Leschly et al. Strategy for contamination control to improve Wide-Field Planetary Camera far-ultraviolet performance
Wood et al. Midcourse space experiment (MSX) satellite measurements of contaminant films using QCMs-5 years in space
Ohl IV et al. Assembly and test-induced distortions of the FUSE mirrors: lessons learned
Robberto et al. Performance of HST as an infrared telescope
Frink et al. Evaluation of the ultraviolet/ozone technique for on-orbit removal of photolyzed molecular contamination from optical surfaces
US20030133185A1 (en) Barrier and window for an optics head
Antonenko et al. Development of thermal control components for the BepiColombo mission to Mercury
Antonenko Thermal control materials in mercury environment
Lee et al. Design and development of the SIRTF cryogenic telescope assembly (CTA)
Tuttle et al. Thermal design of the Mercury transfer module
Heys et al. Thermal and contamination control of the mid-infrared instrument for JWST
Halain et al. The extreme UV imager telescope on-board the Solar Orbiter mission: overview of phase C and D
JP2964363B2 (ja) 宇宙環境試験装置

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050628

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060228

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060329

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100407

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees