JP2003151257A - Static electricity sensor mounted disk storage device and static electricity application detecting method of the device - Google Patents

Static electricity sensor mounted disk storage device and static electricity application detecting method of the device

Info

Publication number
JP2003151257A
JP2003151257A JP2001346434A JP2001346434A JP2003151257A JP 2003151257 A JP2003151257 A JP 2003151257A JP 2001346434 A JP2001346434 A JP 2001346434A JP 2001346434 A JP2001346434 A JP 2001346434A JP 2003151257 A JP2003151257 A JP 2003151257A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
static electricity
head
sensor
electrostatic sensor
storage device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001346434A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3657906B2 (en
Inventor
Kazuyuki Shimizu
和志 清水
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP2001346434A priority Critical patent/JP3657906B2/en
Publication of JP2003151257A publication Critical patent/JP2003151257A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3657906B2 publication Critical patent/JP3657906B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve the reliability of a disk storage device by predicting head destruction caused by static electricity in order to avoid the loss of important data. SOLUTION: A static electricity sensor 40 which is constituted of a thin film resistor body that is weaker than heads 35-0 to 35-3 for electrostatic destruction and broken by the application of static electricity exceeding a reference level and is put into a non-conductive state, is arranged in the vicinity of the heads 35-0 to 35-3. A CPU 57 monitors the electrically conductive state of the sensor 40 through a sensor amplifier circuit 56 and a gate array 54 and detects the fact that static electricity exceeding the reference level is applied to the heads 35-0 to 35-3 in accordance with the monitoring result.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ヘッドにより少な
くとも情報の読み取りが行われるディスク記憶装置に係
り、特に静電気の印加を検知する静電気センサを搭載し
たディスク記憶装置及び同装置における静電気印加検知
方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a disk storage device in which at least information is read by a head, and more particularly to a disk storage device equipped with an electrostatic sensor for detecting the application of static electricity and a static electricity application detection method in the same. .

【0002】[0002]

【従来の技術】近時、ヘッドにより情報の読み出し/書
き込みが行われるディスク記憶装置、例えば磁気ディス
ク装置では、読み取りヘッドに、再生出力が大きく高記
録密度化に適したMRヘッドと呼ばれる磁気抵抗効果型
(Magneto Resistive)ヘッドを用いるのが一般的にな
っている。
2. Description of the Related Art Recently, in a disk storage device in which information is read / written by a head, for example, a magnetic disk device, a magnetoresistive effect called an MR head, which has a large reproduction output and is suitable for high recording density, in a read head It has become common to use a mold (Magneto Resistive) head.

【0003】ところが、MRヘッドは薄膜構造であるた
め、静電気の印加によって破壊されやすいという問題が
ある。加えてMRヘッドは、高記録密度化を目的とする
狭トラックピッチ化、高感度化に対応するため、年々微
細化の傾向をたどっており、ますます静電気に弱くなり
つつある。
However, since the MR head has a thin film structure, it has a problem that it is easily destroyed by the application of static electricity. In addition, MR heads are becoming finer year by year in order to cope with narrow track pitches and higher sensitivities aimed at higher recording densities, and are becoming more and more vulnerable to static electricity.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】磁気ディスク装置にお
ける静電気の印加によるヘッド破壊は、磁気ディスクに
記録されているデータが読み出せなくなることから、つ
まりデータの喪失を招くことから、磁気ディスク装置に
おいて致命的である。しかしながら、静電気の印加によ
るヘッド破壊の回避は難しい問題でもある。特にヘッド
の一部が破壊された場合は、完全な破壊まで徐々に症状
が進行し、そのため製造時の検査において破壊を検知で
きないこともあり得る。また静電気が頻繁に印加される
環境で使用されるような場合には筐体の金属部分からの
放電や誘導によるヘッド破壊も発生し得る。
The destruction of the head due to the application of static electricity in the magnetic disk device is fatal in the magnetic disk device because the data recorded on the magnetic disk cannot be read, that is, the data is lost. Target. However, avoiding head destruction due to the application of static electricity is also a difficult problem. In particular, when a part of the head is destroyed, the symptoms gradually progress to complete destruction, so that the destruction may not be detected in the inspection during manufacturing. Further, when used in an environment where static electricity is frequently applied, head destruction due to discharge or induction from the metal part of the housing may occur.

【0005】そのような場合にエンドユーザにおいてヘ
ッドの破壊という最悪の状況を回避するため、ヘッドの
破壊水準を超えるような静電気が過去に印加されたか、
或いは使用環境において静電気がたびたび印加されてい
ないかを検知することは重要な問題である。
In such a case, in order to avoid the worst situation of head destruction in the end user, whether static electricity exceeding the head destruction level has been applied in the past,
Alternatively, it is an important issue to detect whether static electricity is frequently applied in the usage environment.

【0006】しかしながら、MRヘッドを備えたディス
ク記憶装置において、現在のところ、そうした問題への
対策はなされていないのが現実である。
However, in the disk storage device equipped with the MR head, at present, no countermeasure is taken against such a problem.

【0007】本発明は上記事情を考慮してなされたもの
でその目的は、近年のディスク記憶装置において最も深
刻な問題の1つである静電気によるヘッド破壊を予知す
ることができ、これにより重要なデータの喪失を回避し
て、信頼性を高めることができるディスク記憶装置及び
同装置における静電気印加検知方法を提供することにあ
る。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to predict head damage due to static electricity, which is one of the most serious problems in recent disk storage devices, and is therefore important. It is an object of the present invention to provide a disk storage device capable of avoiding data loss and improving reliability, and a method of detecting static electricity application in the device.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明の第1の観点に係
るディスク記憶装置は、ヘッドにより少なくとも情報の
読み取りが行われるディスク記憶装置であって、上記ヘ
ッドより静電気破壊に弱く且つ基準レベルを超える静電
気の印加で破壊されて非導通状態となる薄膜抵抗体から
構成される静電気センサ、つまり破壊型静電気センサ
と、この静電気センサの導通状態を監視し、その監視結
果に応じて上記ヘッドに基準レベルを超える静電気が印
加されたことを検知する手段とを備えたことを特徴とす
る。
DISCLOSURE OF THE INVENTION A disk storage device according to a first aspect of the present invention is a disk storage device in which at least information is read by a head, which is weaker than the head with respect to electrostatic breakdown and has a reference level. An electrostatic sensor consisting of a thin-film resistor that becomes non-conductive when it is destroyed by the application of static electricity that exceeds it, that is, a destructive electrostatic sensor, and the conductive state of this electrostatic sensor is monitored, and the head is referenced according to the monitoring result. Means for detecting that static electricity exceeding a level is applied.

【0009】このような構成のディスク記憶装置におい
ては、ヘッドより静電気破壊に弱い薄膜抵抗体から構成
される静電気センサの破壊の有無を、当該センサの導通
状態により監視することで、上記ヘッドに基準レベルを
超える静電気が印加されたことを、上記ヘッドが破壊さ
れない状態で簡単に検知できる。また、ディスク記憶装
置の非動作状態において基準レベルを超える静電気印加
で静電気センサが破壊された場合、その破壊状態は維持
されることから、ディスク記憶装置が動作状態となった
ときに、ヘッドに基準レベルを超える静電気が印加され
たことを検知できる。つまりディスク記憶装置の非動作
時における基準レベルを超える静電気印加を検知でき
る。
In the disk storage device having such a structure, the presence or absence of the damage of the electrostatic sensor composed of the thin film resistor, which is more susceptible to the electrostatic damage than the head, is monitored by the conductive state of the sensor, so that the head can be used as a reference. The application of static electricity exceeding the level can be easily detected without destroying the head. In addition, when the electrostatic sensor is destroyed by the application of static electricity exceeding the reference level in the non-operating state of the disk storage device, the destroyed state is maintained. It is possible to detect that static electricity exceeding the level is applied. That is, it is possible to detect the application of static electricity exceeding the reference level when the disk storage device is not operating.

【0010】本発明の第2の観点に係るディスク記憶装
置は、コンデンサタイプの静電気センサと、静電気の印
加によって上記静電気センサに蓄積された電荷の量を反
映した当該静電気センサの電位を監視し、その監視結果
に応じてヘッドに基準レベルを超える静電気が印加され
たことを検知する手段とを備えたことを特徴とする。
A disk storage device according to a second aspect of the present invention monitors the potential of a capacitor type electrostatic sensor and the electrostatic sensor reflecting the amount of electric charge accumulated in the electrostatic sensor by application of static electricity, A means for detecting that static electricity exceeding a reference level is applied to the head according to the monitoring result is provided.

【0011】このような構成のディスク記憶装置におい
て、コンデンサタイプの静電気センサ、つまり非破壊型
の静電気センサの電位は、当該センサに蓄積される電荷
の量によって変化し、その電荷量は、当該センサに印加
される静電気のエネルギ量によって変化する。したがっ
てディスク記憶装置の動作時には、静電気センサの電位
を監視することで、その監視結果から、ヘッドに基準レ
ベルを超える静電気が印加されたことを簡単に検知する
ことができる。また、第2の観点に係るディスク記憶装
置で適用されるコンデンサタイプの静電気センサは非破
壊型のため、破壊型の静電気センサと異なって何度でも
ヘッドへの静電気印加を検知できる。
In the disk storage device having such a configuration, the electric potential of the capacitor type electrostatic sensor, that is, the nondestructive electrostatic sensor changes depending on the amount of electric charge accumulated in the sensor, and the electric charge amount changes. It changes depending on the amount of static electricity applied to the. Therefore, during operation of the disk storage device, by monitoring the potential of the static electricity sensor, it is possible to easily detect from the monitoring result that static electricity exceeding the reference level has been applied to the head. Further, since the capacitor type electrostatic sensor applied to the disk storage device according to the second aspect is a nondestructive type electrostatic sensor, unlike the destructive type electrostatic sensor, it is possible to detect static electricity applied to the head as many times as possible.

【0012】なお、第2の観点に係るディスク記憶装置
においては、コンデンサタイプの静電気センサに蓄積さ
れた電荷を強制的に放電する手段、例えば静電気センサ
の端子間を短絡するスイッチを設け、電荷を強制的に放
電した後にヘッドに基準レベルを超える静電気が印加さ
れたことの検知動作を行うとよい。
In the disk storage device according to the second aspect, a means for forcibly discharging the electric charge accumulated in the capacitor type electrostatic sensor, for example, a switch for short-circuiting the terminals of the electrostatic sensor is provided to store the electric charge. It is advisable to perform a detection operation that static electricity exceeding the reference level is applied to the head after the discharge is forcibly performed.

【0013】また、第2の観点に係るディスク記憶装置
において、静電気センサの電位を予め定められた基準電
位と比較する手段、例えばコンパレータを設け、その比
較結果(コンパレータの出力)によりヘッドに基準レベ
ルを超える静電気が印加されたか否かを判定する構成と
するならば、上記基準電位を変えることで、センサの感
度を容易に変えることが可能となる。
Further, in the disk storage device according to the second aspect, means for comparing the potential of the electrostatic sensor with a predetermined reference potential, for example, a comparator is provided, and the reference level is applied to the head according to the comparison result (output of the comparator). If the configuration is such that it is determined whether or not static electricity exceeding 10 is applied, the sensitivity of the sensor can be easily changed by changing the reference potential.

【0014】また、第2の観点に係るディスク記憶装置
において、上記比較手段の比較結果(コンパレータの出
力)を定期的にチェックして、一定時間内で静電気セン
サの電位が基準電位を超えたことが検知された回数を計
測し、その検知回数が予め定められた基準回数を超えた
場合、つまり静電気センサの電位が基準電位を超えたこ
とが検知される頻度が高い場合だけ、ヘッドに基準レベ
ルを超える静電気が印加されたと判定する構成とするな
らば、ノイズなどの影響で誤って判定されるのを防止す
ることが可能となる。
Further, in the disk storage device according to the second aspect, the comparison result of the comparison means (output of the comparator) is periodically checked, and the potential of the electrostatic sensor exceeds the reference potential within a fixed time. The number of detections is detected and the reference level is set on the head only when the number of detections exceeds a predetermined reference number, that is, when it is often detected that the electrostatic sensor potential exceeds the reference potential. If the configuration is such that it is determined that static electricity exceeding 10 is applied, it is possible to prevent erroneous determination due to the influence of noise or the like.

【0015】また、第1または第2の観点に係るディス
ク記憶装置において、ヘッドに基準レベルを超える静電
気が印加されたことが検知された場合に、その旨をディ
スク記憶装置を利用するホストに通知する構成とすると
よい。このように、ホストへの通知(警告)により、デ
ィスク記憶装置のヘッドがダメージを受けたことを示
し、データのバックアップを促すことで重要なデータの
喪失を未然に防ぐことが可能となる。なお、静電気セン
サは、ヘッドの近傍、例えば静電気が印加される経路と
なるフレキシブルプリント回路基板の先端部、或いはス
タックされたヘッドサスペンションアセンブリのうち最
下段のヘッドサスペンションアセンブリ上に配置すると
よい。
Further, in the disk storage device according to the first or second aspect, when it is detected that static electricity exceeding a reference level is applied to the head, the fact is notified to the host using the disk storage device. It is advisable to adopt the configuration. As described above, the notification (warning) to the host indicates that the head of the disk storage device has been damaged, and by prompting the backup of data, it is possible to prevent the loss of important data. It should be noted that the static electricity sensor may be arranged near the head, for example, on the tip end portion of the flexible printed circuit board that serves as a path to which static electricity is applied, or on the lowermost head suspension assembly of the stacked head suspension assemblies.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下、本発明を磁気ディスク装置
に適用した実施の形態につき図面を参照して説明する。
図1は本発明の一実施形態に係る磁気ディスク装置の内
部構造を示す斜視図である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT An embodiment in which the present invention is applied to a magnetic disk device will be described below with reference to the drawings.
FIG. 1 is a perspective view showing the internal structure of a magnetic disk device according to an embodiment of the present invention.

【0017】図1に示す磁気ディスク装置(以下、HD
Dと称する)は、上面の開口した矩形箱状の導電性ケー
ス10と、複数のねじにより当該ケース10にねじ止め
されてケース10の上端開口を閉塞するトップカバー
(図示せず)とを有している。
The magnetic disk device shown in FIG. 1 (hereinafter referred to as HD
(Referred to as D) has a rectangular box-shaped conductive case 10 having an open top surface, and a top cover (not shown) that is screwed to the case 10 with a plurality of screws to close the upper end opening of the case 10. is doing.

【0018】ケース10内には、少なくとも1枚、例え
ば2枚のディスク(磁気ディスク媒体)11-0及び11
-1と、当該ディスク11-0及び11-1を支持及び回転駆
動するスピンドルモータ(以下、SPMと称する)12
と、当該ディスク11-0及び11-1の各記録面に対して
情報の読み出し/書き込みを行うヘッド(磁気ヘッド、
複合ヘッド)35-0,35-1及び35-2,35-3(図2
及び図3参照)を備えたロータリ型のアクチュエータ
(キャリッジ)13と、ヘッド35-0〜35-3がディス
ク11-0,11-1の最外周の退避位置に移動した際、当
該ヘッドをディスク11-0,11-1から離間した位置に
保持するランプ(ランプ機構)14と、基板ユニット1
5とが収納されている。ヘッド35-i(i=1〜3)
は、MR(Magneto Resistive)素子からなるリードヘ
ッドと、誘導型の記録用薄膜素子からなるライトヘッド
(インダクティブヘッド)とがスライダ上に一体化され
た複合ヘッドである。ここでは、複合ヘッド35-iを便
宜的にMRヘッド35-iと称することにする。
At least one, for example, two disks (magnetic disk media) 11-0 and 11 are provided in the case 10.
-1 and a spindle motor (hereinafter referred to as SPM) 12 that supports and rotationally drives the disks 11-0 and 11-1.
And a head (magnetic head, which reads / writes information from / on each recording surface of the disks 11-0 and 11-1.
Composite heads) 35-0, 35-1 and 35-2, 35-3 (Fig. 2
And FIG. 3), the rotary actuator (carriage) 13 and the heads 35-0 to 35-3 move to the retreat position of the outermost circumference of the disks 11-0 and 11-1. A lamp (lamp mechanism) 14 held at a position separated from 11-0 and 11-1 and the substrate unit 1
5 and 5 are stored. Head 35-i (i = 1 to 3)
Is a composite head in which a read head including an MR (Magneto Resistive) element and a write head (inductive head) including an inductive recording thin film element are integrated on a slider. Here, the composite head 35-i will be referred to as an MR head 35-i for convenience.

【0019】各ディスク11-0,11-1は、例えば直径
65mmに形成された2.5インチ型の磁気記録媒体で
ある。ディスク11-0,11-1の上面及び下面の少なく
とも一方の面、例えば両面はデータを記録するための記
録面をなしている。ディスク11-0,11-1は、SPM
12の図示せぬハブに互いに同軸的に嵌合されると共に
クランプばね16により保持されている。ディスク11
-0,11-1は、SPM12によって所定の速度で回転駆
動される。
Each of the disks 11-0 and 11-1 is a 2.5-inch type magnetic recording medium having a diameter of 65 mm, for example. At least one of the upper surface and the lower surface of the disks 11-0 and 11-1, for example, both surfaces form a recording surface for recording data. Disks 11-0 and 11-1 are SPM
Twelve hubs (not shown) are coaxially fitted to each other and are held by the clamp springs 16. Disk 11
-0 and 11-1 are rotationally driven by the SPM 12 at a predetermined speed.

【0020】アクチュエータ13は、ディスク11-0及
び11-1の各記録面にそれぞれ対応して配置されるヘッ
ドサスペンションアセンブリ(以下、HSAと称する)
20-0,20-1及び20-2,20-3と、これらのHSA
20-0,20-1及び20-2,20-3をディスク11-0及
び11-1に対して回動自在に支持した軸受組立体22
と、当該アクチュエータ13の駆動源となるボイスコイ
ルモータ(以下、VCMと使用する)24とを備えてい
る。
The actuator 13 is a head suspension assembly (hereinafter referred to as HSA) arranged corresponding to each recording surface of the disks 11-0 and 11-1.
20-0, 20-1, 20-2, 20-3 and their HSA
Bearing assembly 22 in which 20-0, 20-1 and 20-2, 20-3 are rotatably supported with respect to the disks 11-0 and 11-1
And a voice coil motor (hereinafter, referred to as VCM) 24 that is a drive source of the actuator 13.

【0021】ランプ14は、ディスク11-0,11-1の
外周側に位置し、各HSA20-i(i=0〜3)のタブ
29(図2及び図3参照)をガイド及び支持するガイド
面を有している。各ガイド面は、それぞれ対応するサス
ペンション28のレベルに合わせて配置され、ディスク
11-0,11-1の半径方向に沿って、ディスク11-0,
11-1の外周縁近傍まで延びていると共に、タブ29の
移動経路上に配置されている。
The ramp 14 is located on the outer peripheral side of the disks 11-0 and 11-1, and guides and supports the tab 29 (see FIGS. 2 and 3) of each HSA 20-i (i = 0 to 3). Has a face. Each guide surface is arranged according to the level of the corresponding suspension 28, and along the radial direction of the disks 11-0, 11-1.
11-1 extends to the vicinity of the outer peripheral edge of 11-1 and is arranged on the movement path of the tab 29.

【0022】ケース10の底壁外面には、SPM12、
VCM24及びヘッド35-0〜35-3(図2及び図3参
照)の動作等を基板ユニット15を介して制御する(回
路群が実装された)図示せぬメインプリント回路基板
(以下、メインPCBと称する)がねじ止めされてい
る。
On the outer surface of the bottom wall of the case 10, the SPM 12,
A main printed circuit board (not shown) (on which a circuit group is mounted) (not shown) for controlling operations of the VCM 24 and the heads 35-0 to 35-3 (see FIGS. 2 and 3) via the board unit 15 Referred to as) is screwed.

【0023】各HSA20-iは、図2に示すように、ア
ーム26及びサスペンション28を備えている。サスペ
ンション28は、その基端がアーム26の先端にスポッ
ト溶接あるいは接着により固定され、アーム26から延
出している。サスペンション28の先端には、タブ29
が形成されている。アーム26は、例えば、SUS30
4等のステンレス系の材料により、板厚0.3mm程度
の薄い平板状に形成され、その基端には軸受組立体22
を挿通するための円形の透孔30(図3参照)が形成さ
れている。サスペンション28は、板厚50〜75μm
の細長い板ばねにより構成されている。なお、スペンシ
ョン28は、アーム26と同一の材料によりアームと一
体に形成されていてもよい。
Each HSA 20-i has an arm 26 and a suspension 28, as shown in FIG. The base end of the suspension 28 is fixed to the tip of the arm 26 by spot welding or adhesion and extends from the arm 26. A tab 29 is provided on the tip of the suspension 28.
Are formed. The arm 26 is, for example, SUS30.
A stainless steel material such as No. 4 is formed into a thin flat plate having a plate thickness of about 0.3 mm, and the bearing assembly 22 is provided at the base end thereof.
A circular through hole 30 (see FIG. 3) for inserting the through hole is formed. The suspension 28 has a plate thickness of 50 to 75 μm.
It is composed of an elongated leaf spring. The suspension 28 may be formed integrally with the arm 26 by using the same material as that of the arm 26.

【0024】HSA20-iはまた、サスペンション28
及びアーム26上に固定されたフレクシャ(flexure)
と呼ばれる中継用のフレキシブルプリントケーブル(フ
レキシブルプリント基板)(以下、中継FPCと称す
る)32-iと、この中継FPC32-i上に実装されたM
Rヘッド35-iを備えている。
The HSA 20-i also has a suspension 28
And flexure fixed on arm 26
A flexible printed cable (flexible printed circuit board) for relay (hereinafter referred to as a relay FPC) 32-i, and an M mounted on the relay FPC 32-i.
The R head 35-i is provided.

【0025】中継FPC32-iは細長い帯状に形成され
ており、図3に示すようにMRヘッド35-iと接続され
たヘッド配線パターン320-iを備えている。ヘッド配
線パターン320-iは、ステンレス板上に形成されたポ
リイミド等からなる絶縁層上に形成されている。中継F
PC32-iは、サスペンション28及びアーム26のう
ち、ディスクの記録面と対向する側の表面上に固定さ
れ、サスペンション28の先端からアーム26の中途部
まで延びている。中継FPC32-iの基端部には、後述
するメインFPC17(図1乃至図3参照)と接続する
ためのFPC接続部(図示せず)が設けられている。中
継FPC32-iのFPC接続部は、ヘッド配線パターン
320-iの端部と接続されており、アーム26から外方
に延出している。なお、図2及び図3に示すヘッド35
-0,35-1,35-2,35-3は実際にはスライダであ
り、本来のヘッドは当該スライダの所定箇所に形成され
るものであるが、ここでは作図の都合上、当該スライダ
がヘッドを表しているものとする。
The relay FPC 32-i is formed in an elongated strip shape and has a head wiring pattern 320-i connected to the MR head 35-i as shown in FIG. The head wiring pattern 320-i is formed on an insulating layer made of polyimide or the like formed on a stainless plate. Relay F
The PC 32-i is fixed on the surface of the suspension 28 and the arm 26 on the side facing the recording surface of the disk, and extends from the tip of the suspension 28 to the middle of the arm 26. An FPC connecting portion (not shown) for connecting to a main FPC 17 (see FIGS. 1 to 3) described later is provided at the base end portion of the relay FPC 32-i. The FPC connection portion of the relay FPC 32-i is connected to the end portion of the head wiring pattern 320-i and extends outward from the arm 26. The head 35 shown in FIGS.
-0, 35-1, 35-2, and 35-3 are actually sliders, and the original head is formed at a predetermined position of the slider, but here, for convenience of drawing, the slider is It shall represent the head.

【0026】アクチュエータ13は、図2に示すよう
に、軸受組立体22と、軸受組立体22に取り付けら
れ、HSA20-0〜20-3の各アーム26と反対方向に
延出している支持フレーム25と、この支持フレーム2
5に一体的に埋め込まれているボイスコイル240とを
備えている。軸受組立体22は、基台として機能する図
1に示すケース10の底壁上に固定されている。ボイス
コイル240は、図1に示すトップヨーク241と図示
せぬボトムヨークとの間に位置し、これら両ヨークとボ
トムヨークに固定された図示せぬ永久磁石と共にVCM
24を構成する。各HSA20-iは、軸受組立体22の
ハブをアーム26の透孔30(図3参照)に挿通するこ
とにより、当該軸受組立体22に取り付けられ、ボイス
コイル240を有するVCM24によって軸受組立体2
2の回りで回動される。各HSA20-iが回動すること
により、サスペンション28の先端部に支持されたMR
ヘッド35-iは、ほぼディスク11-j(j=0,1)の
半径方向に沿って移動される。
The actuator 13 is, as shown in FIG. 2, a bearing assembly 22 and a support frame 25 attached to the bearing assembly 22 and extending in a direction opposite to the arms 26 of the HSAs 20-0 to 20-3. And this support frame 2
5 and a voice coil 240 integrally embedded in the same. The bearing assembly 22 is fixed on the bottom wall of the case 10 shown in FIG. 1 that functions as a base. The voice coil 240 is located between the top yoke 241 shown in FIG. 1 and a bottom yoke (not shown), and the VCM together with the permanent magnets (not shown) fixed to the both yokes and the bottom yoke.
Make up 24. Each HSA 20-i is attached to the bearing assembly 22 by inserting the hub of the bearing assembly 22 into the through hole 30 (see FIG. 3) of the arm 26, and the bearing assembly 2 is attached by the VCM 24 having the voice coil 240.
It is rotated around 2. By rotating each HSA 20-i, the MR supported at the tip of the suspension 28
The head 35-i is moved substantially along the radial direction of the disk 11-j (j = 0, 1).

【0027】各HSA20-iに設けられている中継FP
C32-iのFPC接続部は、いずれも基板ユニット15
から延出したメインFPC17のFPC接続部170と
電気的且つ機械的に接続されている。メインFPC17
上には、各中継FPC32-i上のヘッド配線パターン3
20-iとFPC接続部を介して接続されるヘッド配線パ
ターン171-iが並行に形成されている。メインFPC
17上にはまた、VCM24と接続されているVCM配
線パターン172が形成されている。メインFPC17
上にはまた、グラウンド配線パターン(以下、GND配
線パターンと称する)173が形成されている。メイン
FPC17の先端部にはGND配線パターン173の先
端部を貫通する透孔(図示せず)が形成されている。メ
インFPC17の先端部は、上記透孔を介して導電性の
ねじ174によりアクチュエータ(キャリッジ)13の
軸受組立体22に固定されている。これにより、GND
配線パターン173の電位は、基本的には、軸受組立体
22が固定されている(基台としての)ケース10の底
壁と同レベルとなる。ここで、各配線パターンの並び
は、上から、配線パターン171-0,171-1,171
-2,171-3,173,172の順である。GND配線
パターン173は、電気的なシールドとしての機能を実
現するために、ヘッド配線パターン171-0〜171-3
とVCM配線パターン172との間に設けられている。
つまり、GND配線パターン173は、VCM24のボ
イスコイル240にスパイク状の電流が流れた際に、そ
の誘導電流がヘッド配線パターン171-0〜171-3に
流れるのを防止する目的で設けられている。
Relay FP provided in each HSA 20-i
All of the C32-i FPC connections are board units 15
It is electrically and mechanically connected to the FPC connection portion 170 of the main FPC 17 extending from the. Main FPC17
Above is the head wiring pattern 3 on each relay FPC 32-i.
Head wiring patterns 171-i connected in parallel with 20-i via the FPC connecting portion are formed in parallel. Main FPC
A VCM wiring pattern 172 connected to the VCM 24 is also formed on 17. Main FPC17
A ground wiring pattern (hereinafter referred to as a GND wiring pattern) 173 is also formed on the top. A through hole (not shown) is formed at the tip of the main FPC 17 to penetrate the tip of the GND wiring pattern 173. The tip of the main FPC 17 is fixed to the bearing assembly 22 of the actuator (carriage) 13 by a conductive screw 174 through the through hole. As a result, GND
The potential of the wiring pattern 173 is basically at the same level as the bottom wall of the case 10 (as a base) to which the bearing assembly 22 is fixed. Here, the wiring patterns are arranged from the top in the wiring patterns 171-0, 171-1, 171.
The order is -2, 171-3, 173, 172. The GND wiring pattern 173 has head wiring patterns 171-0 to 171-3 in order to realize a function as an electrical shield.
And the VCM wiring pattern 172.
That is, the GND wiring pattern 173 is provided for the purpose of preventing the induced current from flowing through the head wiring patterns 171-0 to 171-3 when a spike-shaped current flows through the voice coil 240 of the VCM 24. .

【0028】基板ユニット15は、ケース10の底壁上
に固定された基板本体150を有し、この基板本体15
0には、メインPCBとコネクタ接続するためのコネク
タ156等が隣接して実装されている。メインFPC1
7は、フレキシブルプリント回路基板により基板本体1
50と一体的に形成されている。つまり、基板本体15
0はメインFPC17の固定部といえる。
The board unit 15 has a board body 150 fixed on the bottom wall of the case 10.
A connector 156 and the like for connecting the main PCB with the connector are mounted adjacently to 0. Main FPC1
7 is a board main body 1 made of a flexible printed circuit board.
It is formed integrally with 50. That is, the substrate body 15
It can be said that 0 is a fixed part of the main FPC 17.

【0029】さて、静電気によってMRヘッド35-i
(i=0〜3)の破壊が起きる場合を考えると、本発明
者は当該静電気の経路が、図4に示すように、主として
3つ存在することを認識するに至っている。第1の経路
は、静電気が基板ユニット15(図2参照)側及びVC
M24のボイスコイル240側(図2参照)から矢印4
1及び42に示すようにVCM配線パターン172に印
加される経路(電気的な経路)であり、このVCM配線
パターン172に印加された静電気がヘッド配線パター
ン171-i,320-i(図4の例ではi=3)を介して
ヘッド35-iに影響を及ぼす。第2の経路は、静電気が
基台としてのケース10(図1参照)側から矢印43に
示すように軸受組立体22を介してヘッド配線パターン
171-i,320-i(図4の例ではi=3)に印加され
る経路である。第3の経路は、静電気が矢印44に示す
ように直接ヘッド配線パターン171-i,320-i(図
4の例ではi=3)に印加される経路である。但し、第
3の経路で静電気が印加される確率は第1または第2の
経路で静電気が印加される確率より低い。第1または第
2の経路で静電気が印加される場合、VCM配線パター
ン172により近い位置、或いはケース10により近い
位置にあるヘッド配線パターンほど、つまりヘッド配線
パターン171-3,320-3ほど、静電気が印加される
確率が高い。したがってヘッド35-0〜35-3が静電気
によって破壊される確率は、ヘッド配線パターン171
-3,320-3に対応するヘッド35-3が最も高く、以下
ヘッド35-2→ヘッド35-1→ヘッド35-0の順に低く
なる。
Now, the MR head 35-i is caused by static electricity.
Considering the case where the breakdown of (i = 0 to 3) occurs, the present inventor has come to recognize that there are mainly three routes of the static electricity, as shown in FIG. In the first path, static electricity is on the substrate unit 15 (see FIG. 2) side and VC side.
Arrow 4 from the voice coil 240 side of M24 (see FIG. 2)
1 and 42 are paths (electrical paths) applied to the VCM wiring pattern 172, and static electricity applied to the VCM wiring pattern 172 is applied to the head wiring patterns 171-i and 320-i (see FIG. 4). In the example, the head 35-i is affected via i = 3). In the second path, static electricity is transferred from the case 10 (see FIG. 1) as a base via the bearing assembly 22 as shown by an arrow 43 to the head wiring patterns 171-i, 320-i (in the example of FIG. 4, i = 3). The third route is a route in which static electricity is directly applied to the head wiring patterns 171-i and 320-i (i = 3 in the example of FIG. 4) as shown by an arrow 44. However, the probability that static electricity is applied through the third path is lower than the probability that static electricity is applied through the first or second path. When static electricity is applied through the first or second path, the static electricity is applied to the head wiring pattern closer to the VCM wiring pattern 172 or the position closer to the case 10, that is, the head wiring patterns 171-3 and 320-3. Is likely to be applied. Therefore, the probability that the heads 35-0 to 35-3 will be destroyed by static electricity depends on the head wiring pattern 171.
The head 35-3 corresponding to -3 and 320-3 is the highest, and the heads are lower in the order of head 35-2 → head 35-1 → head 35-0.

【0030】そこで本実施形態では、図4に示した静電
気の経路と当該経路に最も近いヘッド35-3との間に、
図2及び図3に示すように、静電気を検知する静電気セ
ンサ40を設けるようにしている。具体的には、図3に
示すように、メインFPC17の面上の、当該のFPC
17先端側で且つヘッド配線パターン171-3の近傍の
位置に、静電気センサ40を設けるようにしている。そ
のため、メインFPC17上には、静電気センサ40と
接続されたセンサ配線パターン175が形成されてい
る。本実施形態で適用される静電気センサ40は、例え
ば2つの端子を有する薄膜抵抗体から構成されている。
静電気センサ40は、MRヘッド35-0〜35-3(を構
成するMR素子)に比べてより低いレベルの静電気量で
破壊されるように、予め設定されている。つまり静電気
センサ40は一種の破壊型センサである。ここでは、静
電気センサ40を構成する薄膜抵抗体の幅を、ヘッド3
5-0〜35-3を構成するMR素子(MR膜)より細くす
ることで、静電気センサ40がMRヘッド35-0〜35
-3に比べてより静電気破壊に弱くなるようにしている。
Therefore, in this embodiment, between the static electricity path shown in FIG. 4 and the head 35-3 closest to the path,
As shown in FIGS. 2 and 3, a static electricity sensor 40 for detecting static electricity is provided. Specifically, as shown in FIG. 3, the relevant FPC on the surface of the main FPC 17 is
The electrostatic sensor 40 is provided at the tip end 17 side and near the head wiring pattern 171-3. Therefore, a sensor wiring pattern 175 connected to the electrostatic sensor 40 is formed on the main FPC 17. The electrostatic sensor 40 applied in the present embodiment is composed of, for example, a thin film resistor having two terminals.
The electrostatic sensor 40 is preset so as to be destroyed by a lower level of static electricity than the MR heads 35-0 to 35-3 (the MR elements constituting the MR heads). That is, the electrostatic sensor 40 is a kind of destructive sensor. Here, the width of the thin film resistor forming the electrostatic sensor 40 is set to the head 3
5-0 to 35-3, the electrostatic sensor 40 is made thinner than the MR element (MR film) constituting the MR heads 35-0 to 35-3.
Compared to -3, it is more susceptible to electrostatic damage.

【0031】図5は、図1の内部構造を持つHDDの主
として回路構成を示す。図5において、SPM12及び
VCM24は、モータドライバ(ドライバIC)51か
らそれぞれ供給される駆動電流により駆動される。モー
タドライバ51からSPM12及びVCM24にそれぞ
れ供給される駆動電流を決定するための値(制御量)
は、CPU57により決定される。
FIG. 5 mainly shows the circuit configuration of an HDD having the internal structure of FIG. In FIG. 5, the SPM 12 and the VCM 24 are driven by drive currents respectively supplied from the motor driver (driver IC) 51. A value (control amount) for determining the drive currents supplied from the motor driver 51 to the SPM 12 and the VCM 24, respectively.
Is determined by the CPU 57.

【0032】各ヘッド35-0〜35-3はヘッドIC52
と接続されている。このヘッドIC52は、図1乃至図
3では省略されているが、メインFPC17に実装され
ているものとする。ヘッドIC52は、ヘッド35-0〜
35-3により読み出されたリード信号を増幅するリード
アンプ、及びライトデータをライト電流に変換するライ
トアンプを含む、1チップ化されたヘッドアンプ回路で
ある。
Each head 35-0 to 35-3 is a head IC 52.
Connected with. Although not shown in FIGS. 1 to 3, the head IC 52 is assumed to be mounted on the main FPC 17. The head IC 52 is the head 35-0 to
35-3 is a head amplifier circuit that is made into one chip and includes a read amplifier that amplifies the read signal read by 35-3 and a write amplifier that converts write data into a write current.

【0033】ヘッドIC52は、リード/ライトチャネ
ル(以下、R/Wチャネルと称する)53と接続されて
いる。R/Wチャネル53は、ヘッドIC17から出力
される増幅されたリード信号(アナログ信号)に対する
A/D(アナログ/デジタル)変換処理、ライトデータ
の符号化処理及びリードデータの復号化処理等の各種の
信号処理を実行する。R/Wチャネル53はまた、リー
ド信号からヘッド35-iの位置決めに必要な情報(サー
ボ情報)を抽出してゲートアレイ(ASIC)54に出
力する。
The head IC 52 is connected to a read / write channel (hereinafter referred to as R / W channel) 53. The R / W channel 53 has various types of A / D (analog / digital) conversion processing, write data encoding processing, read data decoding processing, etc. for the amplified read signal (analog signal) output from the head IC 17. Signal processing of. The R / W channel 53 also extracts information (servo information) necessary for positioning the head 35-i from the read signal and outputs it to the gate array (ASIC) 54.

【0034】ゲートアレイ54は、R/Wチャネル53
により抽出されたサーボ情報からヘッド35-iの位置決
めに必要なヘッド位置信号を検出する。このヘッド位置
信号はCPU57に送られて、ヘッド35-iを目標位置
に位置決めするための制御に用いられる。ゲートアレイ
54はまた、HDDを利用するホストとの間のコマン
ド、データの通信を制御するインタフェース機能と、R
/Wチャネル53との間のデータの通信を制御するディ
スクコントローラ機能と、ホストに転送すべきデータ及
びR/Wチャネル53に転送すべきデータが一時記憶さ
れるバッファRAM55を制御するバッファコントロー
ラ機能とを有する。ゲートアレイ54は更に、静電気セ
ンサ40の検知出力をセンサアンプ回路56を介して入
力し、ディジタルデータに変換してCPU57から読み
込み可能な特定レジスタ(図示せず)に設定する機能も
有する。
The gate array 54 includes an R / W channel 53.
A head position signal necessary for positioning the head 35-i is detected from the servo information extracted by. This head position signal is sent to the CPU 57 and used for control for positioning the head 35-i at the target position. The gate array 54 also has an interface function for controlling command and data communication with a host using the HDD, and an R function.
A disk controller function for controlling data communication with the / W channel 53, and a buffer controller function for controlling a buffer RAM 55 in which data to be transferred to the host and data to be transferred to the R / W channel 53 are temporarily stored. Have. The gate array 54 also has a function of inputting the detection output of the electrostatic sensor 40 via the sensor amplifier circuit 56, converting it into digital data, and setting it in a specific register (not shown) readable by the CPU 57.

【0035】センサアンプ回路56は、図6に示すよう
に、アンプ561を含んでいる。アンプ561は、静電
気センサ40の一端と接続される入力と、当該センサ4
0の他端と接続される入力との2つの入力を有してい
る。この静電気センサ40とセンサアンプ回路56との
接続には、メインFPC17上のセンサ配線パターン1
75が用られている。アンプ561の一方の入力はプル
アップ抵抗562を介して電源電圧Vccに接続され、
アンプ561の他方の入力は接地されている。プルアッ
プ抵抗562には、静電気センサ40を構成する薄膜抵
抗体に比べて十分高い抵抗値の抵抗が用いられている。
The sensor amplifier circuit 56 includes an amplifier 561 as shown in FIG. The amplifier 561 includes an input connected to one end of the electrostatic sensor 40 and the sensor 4
It has two inputs, one connected to the other end of 0. To connect the electrostatic sensor 40 and the sensor amplifier circuit 56, the sensor wiring pattern 1 on the main FPC 17 is connected.
75 is used. One input of the amplifier 561 is connected to the power supply voltage Vcc via the pull-up resistor 562,
The other input of the amplifier 561 is grounded. As the pull-up resistor 562, a resistor having a resistance value sufficiently higher than that of the thin film resistor forming the electrostatic sensor 40 is used.

【0036】再び図5を参照すると、CPU57は、制
御プログラムが格納された不揮発性メモリ、例えば書き
換えが可能なFROM(フラッシュROM)58を内蔵
している。CPU57は、FROM58に格納されてい
る制御プログラムに従ってHDD内各部を制御する。C
PU57が制御プログラムを実行することにより実現さ
れる制御には、ゲートアレイ54から送られるヘッド位
置信号に基づいてヘッド35-iをディスク11-j上の目
標位置に位置決めする周知の制御が含まれている。CP
U57はまた、HDD内各部を制御する他に、ゲートア
レイ54を介して静電気センサ40の検知出力を監視す
ることで、更に具体的に述べるならば静電気センサ40
の導通状態を監視することで、ヘッド35-iへの過大な
静電気印加を判定(検知)するように構成されている。
Referring again to FIG. 5, the CPU 57 contains a non-volatile memory in which a control program is stored, for example, a rewritable FROM (flash ROM) 58. The CPU 57 controls each unit in the HDD according to the control program stored in the FROM 58. C
The control realized by the PU 57 executing the control program includes the well-known control for positioning the head 35-i at the target position on the disk 11-j based on the head position signal sent from the gate array 54. ing. CP
In addition to controlling each unit in the HDD, the U57 also monitors the detection output of the electrostatic sensor 40 via the gate array 54, and more specifically, the electrostatic sensor 40 will be described.
It is configured to determine (detect) an excessive application of static electricity to the head 35-i by monitoring the conduction state of.

【0037】次に本実施形態の動作について、ヘッド3
5-0〜35-3への静電気の印加状態を、静電気センサ4
0の導通状態により監視する場合を例に説明する。ま
ず、静電気センサ40に静電気が印加されていないか、
静電気が印加されていても静電気量が低レベルの場合に
は、静電気センサ40は破壊されない。この状態では、
当該静電気センサ40を構成する薄膜抵抗体の抵抗値は
センサアンプ回路56のプルアップ抵抗562より十分
低い。したがって、静電気センサ40と接続されている
センサアンプ回路56内のアンプ561の入力レベル
は、GNDレベル(接地レベル)に近い。
Next, regarding the operation of this embodiment, the head 3
The state of static electricity applied to 5-0 to 35-3 is indicated by the static electricity sensor 4
The case of monitoring by the conduction state of 0 will be described as an example. First, check if static electricity is not applied to the static electricity sensor 40.
Even if static electricity is applied, if the static electricity amount is at a low level, the static electricity sensor 40 is not destroyed. In this state,
The resistance value of the thin film resistor forming the electrostatic sensor 40 is sufficiently lower than that of the pull-up resistor 562 of the sensor amplifier circuit 56. Therefore, the input level of the amplifier 561 in the sensor amplifier circuit 56 connected to the electrostatic sensor 40 is close to the GND level (ground level).

【0038】これに対し、図4に示したような経路で静
電気がヘッド35-0〜35-3に印加され、これにより当
該経路上に設けられた静電気センサ40にも静電気が印
加されるようになると、その静電気の大きさによって
は、静電気センサ40が破壊される可能性がある。静電
気センサ40が破壊されると、当該静電気センサ40が
非導通状態となり、アンプ561の入力レベルは、ほぼ
GNDレベルからVccレベル近くまで上がる。
On the other hand, static electricity is applied to the heads 35-0 to 35-3 through the path as shown in FIG. 4, so that static electricity is also applied to the static electricity sensor 40 provided on the path. If so, the static electricity sensor 40 may be destroyed depending on the magnitude of the static electricity. When the electrostatic sensor 40 is destroyed, the electrostatic sensor 40 becomes non-conductive, and the input level of the amplifier 561 rises from the GND level to almost the Vcc level.

【0039】したがって、アンプ561の出力を監視す
ることで、静電気センサ40の破壊の有無、つまりヘッ
ド35-0〜35-3への危険な静電気印加の有無を検知す
ることが可能となる。そこで本実施形態では、アンプ5
61の出力レベルをゲートアレイ54内の図示せぬA/
D変換器でディジタル値に変換して、そのディジタル値
をCPU57から読み込み可能な特定レジスタに設定す
る動作を例えば定期的に行うことにより、アンプ561
の出力レベルをCPU57から監視できるようにしてい
る。CPU57は、例えばHDDの起動時及び又はHD
Dの動作期間に定期的(例えば1分毎)に、ゲートアレ
イ54内の上記特定レジスタの設定値を読み込む。そし
てCPU57は、読み込んだ値、即ちアンプ561の出
力レベルがしきい値を超えているか否かにより、静電気
センサ40の破壊の有無を判定する。CPU57は、静
電気センサ40の破壊の有無の判定結果から、静電気セ
ンサ40により検知された静電気の印加状態、即ちヘッ
ド35-0〜35-3、特にヘッド35-3を破壊する恐れの
ある静電気が当該ヘッドに印加されているか否かを認識
する。
Therefore, by monitoring the output of the amplifier 561, it is possible to detect whether or not the static electricity sensor 40 is broken, that is, whether or not dangerous static electricity is applied to the heads 35-0 to 35-3. Therefore, in the present embodiment, the amplifier 5
The output level of 61 is set to A / (not shown) in the gate array 54.
The amplifier 561 is operated by, for example, periodically performing an operation of converting the digital value into a digital value by the D converter and setting the digital value in a specific register readable by the CPU 57.
The output level of is monitored by the CPU 57. The CPU 57, for example, starts up the HDD and / or HD
The set value of the specific register in the gate array 54 is read periodically (for example, every minute) during the operation period of D. Then, the CPU 57 determines whether or not the electrostatic sensor 40 is broken, depending on the read value, that is, whether or not the output level of the amplifier 561 exceeds the threshold value. The CPU 57 determines whether or not the static electricity applied to the heads 35-0 to 35-3, particularly the head 35-3, is detected by the static electricity sensor 40 based on the determination result of whether or not the static electricity sensor 40 is destroyed. It is recognized whether or not the voltage is applied to the head.

【0040】CPU57はヘッド35-0〜35-3を破壊
する恐れのある静電気印加状態が静電気センサ40によ
り検知されたと判定した場合、その検知結果を、故障予
知等のためのデータの1つとして、ディスク11-0,1
1-1の各記録面に予め確保されているシステム領域(図
示せず)の少なくとも1つに保存する動作を行う。シス
テム領域は、システムのみが使用する、つまりユーザか
らは見えないリング状の非ユーザ領域である。ここで
は、システム領域上の特定位置が、静電気センサ40に
よる静電気印加状態の検知結果を示す特定のパラメータ
(システムパラメータ)の格納位置に予め割り当てられ
ている。CPU57は上記特定パラメータ(フラグ)を
所定値に設定する(ONする)制御を行うことで、静電
気センサ40による静電気印加状態の検知結果を保存す
る。システム領域内の故障予知等のためのデータは、ホ
ストからの専用のコマンドでホスト内に読み込むことが
可能である。
When the CPU 57 determines that the static electricity applied state that may damage the heads 35-0 to 35-3 is detected by the static electricity sensor 40, the detection result is used as one of data for failure prediction. , Disks 11-0, 1
The operation of storing in at least one of the system areas (not shown) which is secured in advance on each recording surface 1-1 is performed. The system area is a ring-shaped non-user area used only by the system, that is, invisible to the user. Here, the specific position on the system area is previously assigned to the storage position of the specific parameter (system parameter) indicating the detection result of the static electricity application state by the static electricity sensor 40. The CPU 57 saves the detection result of the static electricity application state by the static electricity sensor 40 by controlling (turning on) the specific parameter (flag) to a predetermined value. Data for predicting a failure in the system area can be read into the host by a dedicated command from the host.

【0041】ホストは、自身の起動時に、或いは自身が
動作状態にある場合に定期的に、例えば静電気センサ4
0による静電気印加状態の検知結果の通知を要求する特
定コマンドをHDDに発行する。HDD内のCPU57
は、ホストから上記特定コマンドが与えられた場合、デ
ィスク11-0または11-1のシステム領域内の特定位置
に保存されている特定パラメータを読み出し、当該パラ
メータの示す静電気センサ40による静電気印加状態の
検知結果をホストに通知する。
The host, for example, the electrostatic sensor 4 is activated when the host starts up or periodically when the host is in an operating state.
A specific command is issued to the HDD to request notification of the detection result of the static electricity application state by 0. CPU 57 in HDD
When the above-mentioned specific command is given from the host, the specific parameter stored in the specific position in the system area of the disk 11-0 or 11-1 is read, and the static electricity applied state by the electrostatic sensor 40 indicated by the parameter is read. Notify the host of the detection result.

【0042】なお、CPU57が上記特定パラメータを
所定値に設定して静電気センサ40による静電気印加状
態の検知結果を保存した際に、当該CPU57の制御に
よりゲートアレイ54からホストに割り込みを発生し
て、上記特定パラメータの読み取りをホストに要求する
ようにしてもよい。
When the CPU 57 saves the detection result of the static electricity applied state by the static electricity sensor 40 by setting the above-mentioned specific parameter to a predetermined value, an interrupt is generated from the gate array 54 to the host under the control of the CPU 57, You may make it require a host to read the said specific parameter.

【0043】この他に、ホストからHDDに上記特定コ
マンドが与えられた際に、CPU57がゲートアレイ5
4内の上記特定レジスタの設定値を読み込んで静電気印
加状態を判定し、その判定結果を静電気センサ40によ
る静電気印加状態の検知結果としてホストに通知するよ
うにしてもよい。また、特定パラメータをディスク11
-0または11-1のシステム領域ではなくて、FROM5
8内の特定領域に書き込むようにしてもよい。
In addition to this, when the specific command is given from the host to the HDD, the CPU 57 causes the gate array 5 to operate.
It is also possible to read the setting value of the specific register in 4 to determine the static electricity application state and notify the host of the determination result as the detection result of the static electricity application state by the static electricity sensor 40. In addition, the specific parameters
-FROM5, not the system area of 0 or 11-1
You may make it write in the specific area in 8.

【0044】ホストは、HDDから通知された静電気セ
ンサ40による静電気印加状態の検知結果により、ヘッ
ド35-0〜35-3を破壊する恐れのある静電気が印加さ
れたことが示されている場合、この静電気印加によりヘ
ッド35-0〜35-3にダメージが与えられた可能性があ
ったと判断する。この場合、ホストは、近い将来にHD
Dの故障が発生し得る旨の警告を、例えば表示画面等を
通してユーザに提示し、HDDに格納されているデータ
のバックアップを促す。
When the host detects that the static electricity applied state by the static electricity sensor 40 notified from the HDD indicates that static electricity that may damage the heads 35-0 to 35-3 is applied, It is determined that the static electricity may have damaged the heads 35-0 to 35-3. In this case, the host will
A warning that a failure of D may occur is presented to the user through, for example, a display screen, and a backup of the data stored in the HDD is urged.

【0045】このように本実施形態においては、静電気
の印加でヘッド35-0〜35-3よりも破壊されやすい構
造の薄膜抵抗体から構成された静電気センサ40を、H
DD内の、静電気の経路と当該経路から最も近いヘッド
35-3との間に設けることにより、ヘッド35-0〜35
-3にダメージを与える可能性のある静電気が印加された
ことを、ヘッド35-0〜35-3が実際に破壊され前に、
静電気センサ40の破壊により高感度に検知できる。ま
た、この状態をHDD(内のゲートアレイ54)からホ
ストに通知することで、ホストでは、ユーザに対してH
DDに格納されているデータのバックアップを促すこと
ができるため、その後にヘッド35-0〜35-3に静電気
が頻繁に印加されていずれかのヘッドが破壊されたとし
ても、重要なデータが喪失するのを未然に防止できる。
しかも本実施形態においては、静電気センサ40に、基
準レベル以上の静電気が印加されると破壊(切断)され
る、薄膜抵抗体から構成される破壊型静電気センサを用
いている。このため、HDDの非動作状態で例えばケー
ス10を介して基準レベル以上の静電気が印加されて
も、当該静電気センサ40が破壊されることで、ヘッド
35-0〜35-3にダメージが与えられた可能性があった
と簡単に判定できる。
As described above, in this embodiment, the electrostatic sensor 40 composed of the thin film resistor having a structure that is more easily destroyed by the application of static electricity than the heads 35-0 to 35-3 is
The heads 35-0 to 35-35 are provided by providing the path between the static electricity and the head 35-3 closest to the path in the DD.
-Because static electricity that may damage -3 was applied, before the heads 35-0 to 35-3 were actually destroyed,
It is possible to detect with high sensitivity by breaking the electrostatic sensor 40. In addition, by notifying the host of this state from the HDD (gate array 54 therein), the host sends H
Since the backup of the data stored in the DD can be promoted, important data will be lost even if one of the heads 35-0 to 35-3 is subsequently destroyed by static electricity being frequently applied. It can be prevented from doing.
In addition, in the present embodiment, the electrostatic sensor 40 is a destructive electrostatic sensor composed of a thin film resistor that is destroyed (cut) when static electricity of a reference level or higher is applied. Therefore, even when static electricity of a reference level or higher is applied through the case 10 in the non-operating state of the HDD, the static electricity sensor 40 is destroyed, and the heads 35-0 to 35-3 are damaged. It can be easily determined that there was a possibility.

【0046】[第1の変形例]次に、本実施形態の第1
の変形例について説明する。第1の変形例の特徴は、静
電気センサ40に、上記実施形態で適用した薄膜抵抗体
から構成される破壊型静電気センサに代えて、コンデン
サ(キャパシタ)と同様の構造の非破壊型静電気セン
サ、つまりコンデンサタイプの非破壊型静電気センサを
用いた点にある。このコンデンサタイプの非破壊型静電
気センサの端子間電圧は、静電気が印加されることによ
り蓄積される電荷の量に比例することから、当該電圧を
監視することにより静電気の印加状態を静電気のレベル
も含めて検知できる。
[First Modification] Next, the first modification of the present embodiment will be described.
A modified example will be described. The feature of the first modification is that the electrostatic sensor 40 is a non-destructive electrostatic sensor having a structure similar to that of a capacitor, instead of the destructive electrostatic sensor composed of the thin film resistor applied in the above embodiment. That is, a capacitor type non-destructive electrostatic sensor is used. The voltage across the terminals of this capacitor-type non-destructive electrostatic sensor is proportional to the amount of charge accumulated when static electricity is applied. It can be detected including.

【0047】静電気センサ40に、コンデンサタイプの
非破壊型静電気センサを用いた第1の変形例では、図6
の構成のセンサアンプ回路56に代えて、図7に示す構
成のセンサアンプ回路56′が用いられる。センサアン
プ回路56′は、静電気センサ40に蓄積されている電
荷を強制的に放電させるリセットスイッチ563と、静
電気センサ40の電位を増幅する入力抵抗値が非常に高
い高入力抵抗型アンプ564と、コンパレータ565と
を含んでいる。リセットスイッチ563は、ゲートアレ
イ54からの制御信号566によりオン/オフされる。
コンパレータ565は、アンプ564の出力電位をしき
い値電位567と比較することで、静電気センサ40に
一定レベル以上の電荷が蓄積されたか否かを示す静電気
検知信号568を出力する。しきい値電位567は、C
PU57の指示によりゲートアレイ54を介して可変設
定することが可能である。また、静電気検知信号568
はゲートアレイ54を介してCPU57から監視可能で
ある。
In the first modified example in which a capacitor-type nondestructive electrostatic sensor is used as the electrostatic sensor 40, as shown in FIG.
Instead of the sensor amplifier circuit 56 having the above structure, a sensor amplifier circuit 56 'having the structure shown in FIG. 7 is used. The sensor amplifier circuit 56 ′ includes a reset switch 563 that forcibly discharges the electric charge accumulated in the electrostatic sensor 40, a high input resistance type amplifier 564 that amplifies the electric potential of the electrostatic sensor 40, and has a very high input resistance value. And a comparator 565. The reset switch 563 is turned on / off by a control signal 566 from the gate array 54.
The comparator 565 compares the output potential of the amplifier 564 with the threshold potential 567 to output a static electricity detection signal 568 indicating whether or not the static electricity sensor 40 has accumulated a charge above a certain level. The threshold potential 567 is C
It can be variably set via the gate array 54 according to an instruction from the PU 57. In addition, the static electricity detection signal 568
Can be monitored from the CPU 57 via the gate array 54.

【0048】次に、静電気センサ40にコンデンサタイ
プの非破壊型静電気センサを適用した第1の変形例の動
作について、図8に示すゲートアレイ54の処理手順を
説明するためのフローチャート及び図9に示すCPU5
7の処理手順を説明するためのフローチャートを適宜参
照して説明する。
Next, regarding the operation of the first modification in which a capacitor-type nondestructive electrostatic sensor is applied to the electrostatic sensor 40, a flow chart for explaining the processing procedure of the gate array 54 shown in FIG. 8 and FIG. CPU5 shown
An explanation will be given by appropriately referring to a flowchart for explaining the processing procedure of No. 7.

【0049】まず、例えばHDDの起動時には、ゲート
アレイ54は、センサアンプ回路56′に制御信号56
6を出力して、リセットスイッチ563をオンさせる
(ステップS1)。リセットスイッチ563がオンする
(閉じる)と、静電気センサ40の端子間が短絡され
て、その時点までに当該静電気センサ40に蓄積されて
いた電荷が直ちに(強制的に)放電される。ゲートアレ
イ54は、リセットスイッチ563をオンしてから静電
気センサ40に蓄積されていた電荷が放電されるのに必
要な第1の一定時間が経過すると、リセットスイッチ5
63をオフする(開く)(ステップS2)。この状態で
ゲートアレイ54は、第2の一定時間経過後にセンサア
ンプ回路56′からの静電気検知信号568の2値状態
を取り込み(ステップS3)、しかる後にリセットスイ
ッチ563をオンする(閉じる)動作(ステップS1)
を、例えば定期的(ここでは、ディスク11-0,11-1
の1回転毎)に繰り返す。ここでは、第1の一定時間≪
第2の一定時間であり、第1の一定時間+第2の一定時
間≒ディスク11-0,11-1の1回転時間である。
First, for example, when the HDD is activated, the gate array 54 sends the control signal 56 to the sensor amplifier circuit 56 '.
6 is output to turn on the reset switch 563 (step S1). When the reset switch 563 is turned on (closed), the terminals of the electrostatic sensor 40 are short-circuited, and the electric charge accumulated in the electrostatic sensor 40 up to that point is immediately (forced) discharged. After the reset switch 563 is turned on, the gate array 54 resets the reset switch 5 when a first constant time required for discharging the charge accumulated in the electrostatic sensor 40 elapses.
63 is turned off (opened) (step S2). In this state, the gate array 54 takes in the binary state of the static electricity detection signal 568 from the sensor amplifier circuit 56 'after the lapse of the second constant time (step S3), and thereafter turns on (closes) the reset switch 563 (closed). Step S1)
On a regular basis (here, the disks 11-0, 11-1
Every 1 rotation). Here, the first fixed time <<
The second constant time, which is the first constant time + the second constant time≈one rotation time of the disks 11-0 and 11-1.

【0050】さて、コンデンサタイプの非破壊型静電気
センサ40の端子間電圧Vは、当該静電気センサ40に
印加される静電気によって当該静電気センサ40に蓄積
された電荷Qに比例し、当該センサ40のキャパシタン
ス(容量)をCとすると、V=Q/Cで表される。本実
施形態では、静電気センサ40の一端は接地されてい
る。したがって、静電気センサ40の他端の電位は、当
該センサ40の両端電圧Vに一致する。センサアンプ回
路56′内の高入力抵抗型アンプ564は、静電気セン
サ40の上記他端の電位を増幅する。コンパレータ56
5は、アンプ564の増幅出力電位をしきい値電位56
7と比較し、アンプ564の増幅出力電位がしきい値電
位567を超えている期間だけ、例えば論理“1”の有
効な静電気検知信号568を出力する。
The inter-terminal voltage V of the capacitor type non-destructive electrostatic sensor 40 is proportional to the charge Q accumulated in the electrostatic sensor 40 by the static electricity applied to the electrostatic sensor 40, and the capacitance of the sensor 40. When (capacity) is C, it is represented by V = Q / C. In this embodiment, one end of the electrostatic sensor 40 is grounded. Therefore, the potential at the other end of the electrostatic sensor 40 matches the voltage V across the sensor 40. The high input resistance type amplifier 564 in the sensor amplifier circuit 56 ′ amplifies the potential of the other end of the electrostatic sensor 40. Comparator 56
5 designates the amplified output potential of the amplifier 564 as the threshold potential 56.
7, the effective static electricity detection signal 568 of logic “1”, for example, is output only while the amplified output potential of the amplifier 564 exceeds the threshold potential 567.

【0051】ゲートアレイ54は、センサアンプ回路5
6′内のコンパレータ565からの静電気検知信号56
8の2値状態をディスク11-0,11-1の1回転毎に取
り込んで(ステップS3)、当該ゲートアレイ54内の
特定レジスタにセットし(ステップS4)、しかる後に
再度リセットスイッチ563をオンさせる(ステップS
1)。明らかなように、静電気検知信号568は、一定
期間(ディスク11-0,11-1が1回転する期間)内に
静電気センサ40に印加された静電気によって当該セン
サ40に蓄積された電荷の量が、しきい値電位567
(と静電気センサ40のキャパシタンスと)で決まるし
きい値の電荷量より多いか否か、つまり基準レベル以上
の静電気が静電気センサ40に印加された異常状態が検
知されたか否かを示す。
The gate array 54 includes the sensor amplifier circuit 5
Electrostatic detection signal 56 from comparator 565 in 6 '
The binary state of 8 is fetched for each rotation of the disks 11-0 and 11-1 (step S3), set in a specific register in the gate array 54 (step S4), and then the reset switch 563 is turned on again. Allow (Step S
1). As is apparent, the static electricity detection signal 568 indicates that the amount of electric charge accumulated in the static electricity sensor 40 by the static electricity applied to the static electricity sensor 40 within a certain period (the period in which the disks 11-0 and 11-1 make one revolution). , Threshold potential 567
It indicates whether or not the charge amount is larger than the threshold charge amount determined by (and the capacitance of the electrostatic sensor 40), that is, whether or not an abnormal state in which static electricity of a reference level or higher is applied to the electrostatic sensor 40 is detected.

【0052】一方、CPU57は、HDDが起動されて
一定時間(例えばディスク11-0,11-1が1回転する
期間)が経過すると、2つの変数n,cを初期値0に設
定する(ステップS11)。変数nは、ゲートアレイ5
4内の特定レジスタからの、静電気検知信号568の2
値状態の読み込み回数を示すカウンタ値であり、変数c
は、読み込んだ2値状態が“1”である回数を示すカウ
ンタ値である。
On the other hand, the CPU 57 sets the two variables n and c to initial values 0 after a certain time (for example, a period in which the disks 11-0 and 11-1 make one revolution) after the HDD is activated (step S1). S11). The variable n is the gate array 5
2 of the static electricity detection signal 568 from the specific register in 4
This is a counter value that indicates the number of times the value state has been read.
Is a counter value indicating the number of times the read binary state is “1”.

【0053】次にCPU57は、ゲートアレイ54内の
特定レジスタをアクセスして、センサアンプ回路56′
からの静電気検知信号568の2値状態を読み込む(ス
テップS12)。またCPU57は、静電気検知信号5
68の2値状態を読み込む毎に、その2値状態が“1”
であるか否かを判定する(ステップS13)。
Next, the CPU 57 accesses a specific register in the gate array 54 to make a sensor amplifier circuit 56 '.
The binary state of the static electricity detection signal 568 is read (step S12). Further, the CPU 57 uses the static electricity detection signal 5
Every time the 68 binary states are read, the binary state is "1".
It is determined whether or not (step S13).

【0054】CPU57は、読み込んだ2値状態が
“1”である場合だけ、変数cを1だけインクリメント
して(ステップS14)、ステップS15に進む。これ
に対し、読み込んだ2値状態が“0”の場合には、その
ままステップS15に進む。CPU57は、ステップS
15で変数nを1だけインクリメントした後、そのイン
クリメント後のnの値がしきい値nsを超えたか否かを
判定する(ステップS16)。ここで、nsの値は、例
えば100である。もし、nの値がnsを超えていない
ならば、CPU57は上記ステップS12の処理に戻
る。
Only when the read binary state is "1", the CPU 57 increments the variable c by 1 (step S14), and proceeds to step S15. On the other hand, when the read binary state is "0", the process directly proceeds to step S15. CPU57 is step S
After incrementing the variable n by 1 at 15, it is determined whether the value of n after the increment exceeds the threshold value ns (step S16). Here, the value of ns is 100, for example. If the value of n does not exceed ns, the CPU 57 returns to the process of step S12.

【0055】これに対し、nの値がしきい値nsを超え
たならば、CPU57はステップS12〜S15の処理
を予め定められたns回繰り返し、したがってステップ
S11の実行後一定時間が経過したと判断して、現在の
変数cの値がしきい値csを超えているか否かを判定す
る(ステップS17)。もし、cの値がcsを超えてい
るならば、CPU57は上記一定時間内で基準レベル以
上の静電気が静電気センサ40に印加された頻度が高
く、したがってヘッド35-0〜35-3にも基準レベル以
上の静電気が印加されており、ホストへの警告が必要で
あるものと判定する(ステップS18)。この場合、C
PU57は上記実施形態において静電気センサ40の破
壊を判定した場合と同様に、上記システム領域内の上記
特定パラメータを所定値に設定する(ONする)こと
で、ヘッド35-0〜35-3を破壊する恐れのある静電気
印加状態が検知されたことを記録して(ステップS1
9)、ステップS21に進む。これに対し、cの値がc
sを超えていないならば、CPU57は基準レベル以上
の静電気が静電気センサ40に印加された頻度が低く、
したがってヘッド35-0〜35-3には基準レベル以上の
静電気が印加されなかったものと判定する(ステップS
20)。この場合、CPU57はそのままステップS2
1に進む。CPU57は、ステップS21では終了条件
が成立したか否かを判定し、終了条件が成立していない
ならば、CPU57はステップS11以降の処理を再度
実行する。これに対し、終了条件が成立しているなら
ば、CPU57はステップS11以降の一連の処理を終
了する。ここで終了条件は、例えば、HDDが動作状態
から非動作状態となる場合、或いはHDDが起動されて
から、静電気印加の判定(ステップS17,S18また
はS17,S20)を予め定められた回数実行した場合
などである。
On the other hand, if the value of n exceeds the threshold value ns, the CPU 57 repeats the processing of steps S12 to S15 a predetermined number of times ns, so that it is determined that a certain time has elapsed after the execution of step S11. It is determined whether or not the current value of the variable c exceeds the threshold value cs (step S17). If the value of c exceeds cs, the CPU 57 frequently applies static electricity of the reference level or higher to the electrostatic sensor 40 within the above-mentioned fixed time, and therefore the heads 35-0 to 35-3 also have the reference. It is determined that the level of static electricity or more is applied and the warning to the host is necessary (step S18). In this case, C
The PU 57 sets the specific parameter in the system area to a predetermined value (turns on) to destroy the heads 35-0 to 35-3 in the same manner as when the PU 57 determines the breakdown of the electrostatic sensor 40 in the above embodiment. It is recorded that the static electricity application state that may occur is detected (step S1
9) and proceeds to step S21. On the other hand, the value of c is c
If it does not exceed s, the CPU 57 is less likely to apply static electricity of the reference level or higher to the static electricity sensor 40,
Therefore, it is determined that static electricity above the reference level has not been applied to the heads 35-0 to 35-3 (step S
20). In this case, the CPU 57 directly proceeds to step S2.
Go to 1. In step S21, the CPU 57 determines whether or not the ending condition is satisfied, and if the ending condition is not satisfied, the CPU 57 executes the processing in step S11 and thereafter again. On the other hand, if the ending condition is satisfied, the CPU 57 ends the series of processes from step S11. Here, the termination condition is, for example, when the HDD is changed from the operating state to the non-operating state, or after the HDD is activated, the determination of static electricity application (steps S17, S18 or S17, S20) is executed a predetermined number of times. Such is the case.

【0056】第1の変形例におけるホストの動作は上記
実施形態と同様である。即ちホストは、自身の起動時
に、或いは自身が動作状態にある場合に定期的に、上記
特定コマンドをHDDに発行する。HDD内のCPU5
7は、ホストから上記特定コマンドが与えられた場合、
ディスク11-0または11-1のシステム領域内の特定位
置に保存されている特定パラメータを読み出し、当該パ
ラメータの示す静電気センサ40による静電気印加状態
の検知結果をホストに通知する。ホストは、HDDから
通知された静電気センサ40による静電気印加状態の検
知結果により、ヘッド35-0〜35-3を破壊する恐れの
ある静電気が印加されたことが示されている場合、近い
将来にHDDの故障が発生し得ることを、表示画面等を
通してユーザに提示し、HDDに格納されているデータ
のバックアップを促す。
The operation of the host in the first modification is similar to that of the above-mentioned embodiment. That is, the host issues the specific command to the HDD at the time of starting itself or periodically when the host is in the operating state. CPU5 in HDD
7 is, when the above-mentioned specific command is given from the host,
A specific parameter stored at a specific position in the system area of the disk 11-0 or 11-1 is read out, and the host is notified of the detection result of the static electricity application state by the electrostatic sensor 40 indicated by the parameter. In the near future, if the host indicates that static electricity, which may damage the heads 35-0 to 35-3, is applied by the detection result of the static electricity application state by the static electricity sensor 40 notified from the HDD, The user is informed that a HDD failure may occur through a display screen or the like, and urges the user to back up the data stored in the HDD.

【0057】上記した第1の変形例によれば、静電気セ
ンサ40にコンデンサ(キャパシタ)タイプの非破壊型
静電気センサを用いていることから、ヘッド35-0〜3
5-3にダメージを与えるような静電気印加を何度でも検
知できる。但し、非破壊型静電気センサに蓄積された電
荷は自然放電されることから、上記実施形態で適用され
た破壊型静電気センサと異なって、HDDが非動作状態
にあるときの静電気印加は検知できない。
According to the first modification described above, since the electrostatic sensor 40 is the non-destructive electrostatic sensor of the capacitor type, the heads 35-0 to 35-3 are used.
The application of static electricity that damages 5-3 can be detected any number of times. However, since the electric charge accumulated in the non-destructive electrostatic sensor is naturally discharged, unlike the destructive electrostatic sensor applied in the above-described embodiment, the static electricity applied when the HDD is in a non-operating state cannot be detected.

【0058】また、第1の変形例では、基準レベル以上
の静電気が静電気センサ40に印加された頻度によっ
て、ヘッド35-0〜35-3にダメージを与えるような静
電気が印加されたか否かを判定しているため、ノイズの
影響で誤って静電気印加が判定されるのを防ぐことがで
きる。
Further, in the first modification, it is determined whether or not static electricity that damages the heads 35-0 to 35-3 is applied depending on the frequency at which static electricity of a reference level or higher is applied to the static electricity sensor 40. Since the determination is made, it is possible to prevent the application of static electricity from being erroneously determined due to the influence of noise.

【0059】なお、第1の変形例では、変数cの値、即
ち基準レベル以上の静電気が静電気センサ40に印加さ
れた回数がしきい値csを超えている場合に、特定パラ
メータを所定値に設定することで、ヘッド35-0〜35
-3にダメージを与えるような静電気が印加されたことを
記録しているが、これに限るものではない。例えば、ス
テップS11以降の一連の処理をns回繰り返した後
に、その時点の変数cの値自体、つまりns回の検査で
(一定時間内に)基準レベル以上の静電気が静電気セン
サ40に印加されたと判定された回数自体、或いは当該
回数の累積値を、故障予知等のためのデータとして記録
するようにしてもよい。
In the first modification, when the value of the variable c, that is, the number of times static electricity having a level higher than the reference level is applied to the electrostatic sensor 40 exceeds the threshold value cs, the specific parameter is set to a predetermined value. By setting, heads 35-0 to 35
It records that static electricity that damages -3 was applied, but it is not limited to this. For example, after repeating a series of processes from step S11 for ns times, the value of the variable c at that time, that is, ns times of inspection, when static electricity of a reference level or higher is applied to the electrostatic sensor 40 (within a fixed time). The determined number of times itself or the cumulative value of the number of times may be recorded as data for failure prediction or the like.

【0060】また、ユーザの操作で、ホストからHDD
に対して、異常検知のためのしきい値電位567、或い
は警告を発するのに及ぶしきい値csを可変設定するこ
とも可能である。また、HDDの出荷段階で、一定のノ
イズ環境下で、しきい値電位567を低電位から順次上
げていき、静電気検知信号568が論理“0”となるし
きい値電位567を求めて、そのしきい値電位から、当
該HDDの出荷後に当該HDDで使用するしきい値電位
567を決定することも可能である。このようにする
と、しきい値電位567を適切に設定できるため、静電
気検知信号568が論理“1”となったこと、即ちアン
プ564の出力がしきい値電位567を超えたことをも
って、直ちにヘッド35-0〜35-3にダメージを与える
ような静電気が印加されたと判定することも可能であ
る。
In addition, the user can operate the HDD from the host.
On the other hand, it is also possible to variably set the threshold potential 567 for detecting an abnormality or the threshold value cs for issuing a warning. In addition, at the shipping stage of the HDD, under a constant noise environment, the threshold potential 567 is sequentially increased from a low potential, and the threshold potential 567 at which the static electricity detection signal 568 becomes logical “0” is obtained, and the It is also possible to determine the threshold potential 567 used in the HDD after shipping the HDD from the threshold potential. In this way, the threshold potential 567 can be set appropriately, so that when the static electricity detection signal 568 becomes a logic "1", that is, when the output of the amplifier 564 exceeds the threshold potential 567, the head is immediately returned. It is also possible to determine that static electricity that damages 35-0 to 35-3 is applied.

【0061】[第2の変形例]次に、本実施形態の第2
の変形例について、図10を参照して説明する。第2の
変形例の特徴は、図10に示すように、静電気センサ4
0をメインFPC17上ではなくてMRヘッド35-3と
接続されたヘッド配線パターン320-3を含む中継FP
C32-3上に配置した点にある。ここでは、静電気セン
サ40は、HSA20-3のサスペンション28に対応す
る中継FPC32-3上に設けられている。そのため、中
継FPC32-3上には、静電気センサ40と接続される
センサ配線パターン321が形成されている。このセン
サ配線パターン321はメインFPC17上のセンサ配
線パターン175と接続されている。
[Second Modification] Next, the second modification of the present embodiment will be described.
A modified example will be described with reference to FIG. The second modification is characterized in that the electrostatic sensor 4 is used as shown in FIG.
0 is a relay FP including a head wiring pattern 320-3 connected to the MR head 35-3 instead of on the main FPC 17.
It is located on the C32-3. Here, the electrostatic sensor 40 is provided on the relay FPC 32-3 corresponding to the suspension 28 of the HSA 20-3. Therefore, a sensor wiring pattern 321 connected to the electrostatic sensor 40 is formed on the relay FPC 32-3. The sensor wiring pattern 321 is connected to the sensor wiring pattern 175 on the main FPC 17.

【0062】この第2の変形例においても、図4に示し
た静電気の経路と当該経路に最も近いヘッド35-3との
間に、静電気センサ40が設けられているため、ヘッド
35-0〜35-3、特にヘッド35-3にダメージを与える
ような静電気の印加を確実に検知できる。なお、静電気
センサ40を、HSA20-3のアーム26に対応する中
継FPC32-3上に設けてもよい。
Also in the second modification, since the electrostatic sensor 40 is provided between the static electricity path shown in FIG. 4 and the head 35-3 closest to the path, the heads 35-0 to 35-0. It is possible to reliably detect the application of static electricity that damages the head 35-3, especially the head 35-3. The electrostatic sensor 40 may be provided on the relay FPC 32-3 corresponding to the arm 26 of the HSA 20-3.

【0063】上記実施形態と第1及び第2の実施形態で
は、ヘッド35-0〜35-3とは別に静電気センサ40を
設けた場合について説明したが、これに限るものではな
い。例えば、ヘッド35-3に代えて静電気センサ40を
実装することも可能である。以下、このような構成が適
用可能なHDDについて説明する。まずHDDには、基
本構造は同一でありながら、実際にデータが記録可能な
データ面の数が異なる複数種類のモデル、つまり同一シ
リーズで複数種類のモデルが存在することがある。例え
ば、4本ヘッドモデルのHDDと同じシリーズで3本ヘ
ッドモデルや2本ヘッドモデルのHDDも製造する場合
が、これに該当する。この種の3本ヘッドモデルや2本
ヘッドモデルのHDDでは、通常は該当するヘッドに同
じ重量のダミーヘッドが搭載される。そこで、例えばヘ
ッド35-3のダミーヘッドに代えて、静電気センサ40
を搭載することも可能である。
In the above embodiment and the first and second embodiments, the case where the electrostatic sensor 40 is provided separately from the heads 35-0 to 35-3 has been described, but the present invention is not limited to this. For example, it is possible to mount the electrostatic sensor 40 instead of the head 35-3. An HDD to which such a configuration is applicable will be described below. First, HDDs may have a plurality of types of models having the same basic structure but different numbers of data surfaces on which data can be actually recorded, that is, a plurality of types of models in the same series. This applies, for example, when manufacturing a three-head model or a two-head model HDD in the same series as the four-head model HDD. In this type of three-head model or two-head model HDD, a dummy head of the same weight is usually mounted on the corresponding head. Therefore, for example, instead of the dummy head of the head 35-3, the electrostatic sensor 40
It is also possible to install.

【0064】以上は、本発明をHDD(磁気ディスク装
置)に適用した場合について説明したが、本発明は、ヘ
ッドにより少なくとも情報の読み取りが行われるHDD
以外のディスク記憶装置、例えば光磁気ディスク装置、
フレキシブルディスク装置等のディスク記憶装置にも適
用可能である。
The case where the present invention is applied to an HDD (magnetic disk device) has been described above, but the present invention is an HDD in which at least information is read by the head.
Other disk storage devices, such as magneto-optical disk devices,
It is also applicable to a disk storage device such as a flexible disk device.

【0065】なお、本発明は、上記実施形態及びその変
形例に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨
を逸脱しない範囲で種々に変形することが可能である。
更に、上記実施形態または変形例には種々の段階の発明
が含まれており、開示される複数の構成要件における適
宜な組み合わせにより種々の発明が抽出され得る。例え
ば、実施形態に示される全構成要件から幾つかの構成要
件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で
述べた課題が解決でき、発明の効果の欄で述べられてい
る効果が得られる場合には、この構成要件が削除された
構成が発明として抽出され得る。
The present invention is not limited to the above-described embodiments and modifications thereof, but can be variously modified at the stage of implementation without departing from the scope of the invention.
Furthermore, the above-described embodiments or modifications include inventions at various stages, and various inventions can be extracted by appropriately combining a plurality of disclosed constituent elements. For example, even if some constituent elements are deleted from all the constituent elements shown in the embodiment, the problem described in the section of the problem to be solved by the invention can be solved, and the effect described in the section of the effect of the invention can be solved. When the above is obtained, the configuration in which this constituent element is deleted can be extracted as the invention.

【0066】[0066]

【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、薄
膜抵抗体から構成される静電気センサまたはコンデンサ
タイプの静電気センサにより、ヘッド破壊を招く前に静
電気によるヘッド破壊を予知することができるため、ヘ
ッド破壊によりディスク媒体からデータが読み取れなく
なることによる重要なデータの喪失を回避して、ディス
ク記憶装置の信頼性を高めることができる。
As described in detail above, according to the present invention, an electrostatic sensor composed of a thin film resistor or a capacitor type electrostatic sensor can be used to predict head breakage due to static electricity before causing head breakage. Therefore, it is possible to avoid the loss of important data due to the fact that the data cannot be read from the disk medium due to the head destruction, and the reliability of the disk storage device can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施形態に係る磁気ディスク装置
(HDD)の内部構造を示す斜視図。
FIG. 1 is a perspective view showing an internal structure of a magnetic disk device (HDD) according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1中のアクチュエータ13と当該アクチュエ
ータ13の軸受組立体22に固定されるメインFPC1
7とを示す斜視図。
2 is a main FPC 1 fixed to an actuator 13 and a bearing assembly 22 of the actuator 13 in FIG.
7 is a perspective view of FIG.

【図3】メインFPC17及び中継FPC32-0〜32
-3上の配線パターン位置と静電気センサ40の位置との
関係を示す図。
FIG. 3 is a main FPC 17 and relay FPCs 32-0 to 32.
3 is a diagram showing the relationship between the wiring pattern position on the −3 and the position of the electrostatic sensor 40. FIG.

【図4】図1のHDDにおける静電気の経路を説明する
ための図。
FIG. 4 is a diagram for explaining static electricity paths in the HDD of FIG.

【図5】図1のHDDの回路構成を示すブロック図。5 is a block diagram showing a circuit configuration of the HDD of FIG.

【図6】上記静電気センサ40が破壊型静電気センサの
場合の図5中のセンサアンプ回路56の構成を示す図。
6 is a diagram showing a configuration of a sensor amplifier circuit 56 in FIG. 5 when the electrostatic sensor 40 is a destructive electrostatic sensor.

【図7】上記静電気センサ40に非破壊型静電気センサ
を用いた上記実施形態の第1の変形例において、上記セ
ンサアンプ回路56に代えて用いられるセンサアンプ回
路56′の構成を示す図。
FIG. 7 is a diagram showing a configuration of a sensor amplifier circuit 56 ′ used in place of the sensor amplifier circuit 56 in the first modified example of the embodiment in which a nondestructive electrostatic sensor is used as the electrostatic sensor 40.

【図8】同第1の変形例におけるゲートアレイ54の処
理手順を説明するためのフローチャート。
FIG. 8 is a flowchart for explaining a processing procedure of the gate array 54 in the first modified example.

【図9】同第1の変形例におけるCPU57の処理手順
を説明するためのフローチャート。
FIG. 9 is a flowchart for explaining a processing procedure of a CPU 57 in the first modified example.

【図10】静電気センサ40を中継FPC32-3上に配
置した上記実施形態の第2の変形例を説明するための
図。
FIG. 10 is a diagram for explaining a second modified example of the above embodiment in which the electrostatic sensor 40 is arranged on the relay FPC 32-3.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…ケース(基台) 11-0,11-1…ディスク(ディスク媒体) 12…SPM(スピンドルモータ) 13…アクチュエータ 17…メインFPC(フレキシブルプリント回路基板) 22…軸受組立体 24…VCM(ボイスコイルモータ) 26…アーム 28…サスペンション 32-0〜32-3…中継FPC 35-0〜35-3…ヘッド 40…静電気センサ 54…ゲートアレイ 56…センサアンプ回路 57…CPU(検知手段、通知手段) 171-0〜171-3,320-0〜320-3…ヘッド配線
パターン 172…VCM配線パターン 173…GND配線パターン 174…ねじ 175,321…センサ配線パターン 563…リセットスイッチ(放電手段) 565…コンパレータ(比較手段)
10 ... Case (base) 11-0, 11-1 ... Disk (disk medium) 12 ... SPM (spindle motor) 13 ... Actuator 17 ... Main FPC (flexible printed circuit board) 22 ... Bearing assembly 24 ... VCM (voice) Coil motor) 26 ... Arm 28 ... Suspension 32-0 to 32-3 ... Relay FPC 35-0 to 35-3 ... Head 40 ... Electrostatic sensor 54 ... Gate array 56 ... Sensor amplifier circuit 57 ... CPU (detection means, notification means) ) 171-0 to 171-3, 320-0 to 320-3 ... Head wiring pattern 172 ... VCM wiring pattern 173 ... GND wiring pattern 174 ... Screws 175, 321 ... Sensor wiring pattern 563 ... Reset switch (discharging means) 565 ... Comparator (comparing means)

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ヘッドにより少なくとも情報の読み取り
が行われるディスク記憶装置において、 前記ヘッドより静電気破壊に弱く且つ基準レベルを超え
る静電気の印加で破壊されて非導通状態となる薄膜抵抗
体から構成される静電気センサと、 前記静電気センサの導通状態を監視し、その監視結果に
応じて前記ヘッドに基準レベルを超える静電気が印加さ
れたことを検知する手段とを具備することを特徴とする
静電気センサを搭載したディスク記憶装置。
1. A disk storage device in which at least information is read by a head, and is composed of a thin film resistor that is weaker than the head to electrostatic breakdown and is destroyed by application of static electricity exceeding a reference level to be in a non-conductive state. A static electricity sensor equipped with a static electricity sensor and means for monitoring the conduction state of the static electricity sensor and detecting that static electricity exceeding a reference level is applied to the head according to the monitoring result. Disk storage device.
【請求項2】 ヘッドにより少なくとも情報の読み取り
が行われるディスク記憶装置において、 コンデンサタイプの静電気センサと、 静電気の印加によって前記静電気センサに蓄積された電
荷の量を反映した当該静電気センサの電位を監視し、そ
の監視結果に応じて前記ヘッドに基準レベルを超える静
電気が印加されたことを検知する手段とを具備すること
を特徴とする静電気センサを搭載したディスク記憶装
置。
2. In a disk storage device in which at least information is read by a head, a capacitor type electrostatic sensor and a potential of the electrostatic sensor reflecting the amount of electric charge accumulated in the electrostatic sensor by application of static electricity are monitored. And a means for detecting that static electricity exceeding a reference level is applied to the head according to the monitoring result, and a disk storage device equipped with a static electricity sensor.
【請求項3】 前記静電気センサに蓄積された電荷を強
制的に放電する手段を更に具備し、 前記検知手段は、前記放電手段による前記電荷の放電の
後に前記ヘッドに前記基準レベルを超える静電気が印加
されたことの検知動作を行うことを特徴とする請求項2
記載の静電気センサを搭載したディスク記憶装置。
3. The apparatus further comprises means for forcibly discharging the electric charge accumulated in the electrostatic sensor, wherein the detection means is configured to detect static electricity exceeding the reference level in the head after the electric charge is discharged by the discharging means. 3. The detection operation of application is performed.
A disk storage device equipped with the described electrostatic sensor.
【請求項4】 前記静電気センサの電位を予め定められ
た基準電位と比較する手段を更に具備し、 前記検知手段は前記比較手段の比較結果により前記静電
気センサの電位を監視し、当該比較結果により前記静電
気センサの電位が前記基準電位を超えていることが示さ
れている場合に、前記ヘッドに前記基準レベルを超える
静電気が印加されたことを検知することを特徴とする請
求項2記載の静電気センサを搭載したディスク記憶装
置。
4. The apparatus further comprises means for comparing the potential of the electrostatic sensor with a predetermined reference potential, wherein the detecting means monitors the potential of the electrostatic sensor according to the comparison result of the comparing means, and The static electricity according to claim 2, wherein when the potential of the static electricity sensor indicates that the potential exceeds the reference potential, it is detected that static electricity exceeding the reference level is applied to the head. Disk storage device equipped with a sensor.
【請求項5】 前記静電気センサの電位を予め定められ
た基準電位と比較する手段を更に具備し、 前記検知手段は、前記比較手段の比較結果を定期的にチ
ェックすることにより前記静電気センサの電位を監視し
て、一定時間内で前記静電気センサの電位が前記基準電
位を超えたことが検知された回数を計測し、その検知回
数が予め定められた基準回数を超えた場合に、前記ヘッ
ドに前記基準レベルを超える静電気が印加されたと判定
することを特徴とする請求項2記載の静電気センサを搭
載したディスク記憶装置。
5. The electric potential of the electrostatic sensor further comprises means for comparing the electric potential of the electrostatic sensor with a predetermined reference electric potential, wherein the detecting means periodically checks the comparison result of the comparing means. Is measured to measure the number of times that the potential of the electrostatic sensor exceeds the reference potential within a fixed time, and when the number of detections exceeds a predetermined reference number, the head The disk storage device equipped with an electrostatic sensor according to claim 2, wherein it is determined that static electricity exceeding the reference level is applied.
【請求項6】 前記ヘッドに前記基準レベルを超える静
電気が印加されたことが前記検知手段により検知された
場合に、その旨を前記ディスク記憶装置を利用するホス
トに通知する手段を更に具備することを特徴とする請求
項1または請求項2記載の静電気センサを搭載したディ
スク記憶装置。
6. When the detection means detects that static electricity exceeding the reference level is applied to the head, it further comprises means for notifying the host using the disk storage device of that fact. A disk storage device equipped with the electrostatic sensor according to claim 1 or 2.
【請求項7】 2つの面を有し、当該2つの面の少なく
とも一方が記録面をなす少なくとも1枚のディスク媒体
と、 前記ヘッドを支持する、アームから延出したサスペンシ
ョンを含むヘッドサスペンションアセンブリであって、
前記少なくとも1枚のディスク媒体の前記記録面に対応
してそれぞれ配置されるヘッドサスペンションアセンブ
リを前記ディスク媒体に対して回動自在にスタックした
アクチュエータと、 先端部が前記アクチュエータに固定されたフレキシブル
プリント回路基板とを更に具備し、 前記静電センサが、前記フレキシブルプリント回路基板
の先端部、または前記スタックされたヘッドサスペンシ
ョンアセンブリのうち最下段のヘッドサスペンションア
センブリに配置されていることを特徴とする請求項1ま
たは請求項2記載の静電気センサを搭載したディスク記
憶装置。
7. A head suspension assembly including at least one disk medium having two surfaces, at least one of which is a recording surface, and a suspension supporting the head, the suspension extending from an arm. There
An actuator in which head suspension assemblies respectively arranged corresponding to the recording surfaces of the at least one disk medium are rotatably stacked on the disk medium, and a flexible printed circuit having a tip end fixed to the actuator. A substrate is further provided, and the electrostatic sensor is disposed on a tip end portion of the flexible printed circuit board or a lowermost head suspension assembly of the stacked head suspension assemblies. A disk storage device equipped with the electrostatic sensor according to claim 1.
【請求項8】 ヘッドにより少なくとも情報の読み取り
が行われるディスク記憶装置における静電気印加検知方
法であって、 前記ヘッドより静電気破壊に弱く且つ基準レベルを超え
る静電気の印加で破壊されて非導通状態となる薄膜抵抗
体から構成され、前記ヘッドの近傍に配置された静電気
センサの導通状態を監視するステップと、 前記静電気センサの導通状態の監視の結果、前記静電気
センサが非導通状態となったことが検知された場合に、
前記ヘッドに基準レベルを超える静電気が印加されたと
判定するステップとを具備することを特徴とするディス
ク記憶装置における静電気印加検知方法。
8. A method of detecting static electricity application in a disk storage device in which at least information is read by a head, which is weaker than the head to electrostatic breakdown and is destroyed by application of static electricity exceeding a reference level to be in a non-conductive state. Detecting that the electrostatic sensor is in a non-conducting state as a result of monitoring the conducting state of the electrostatic sensor, which is composed of a thin film resistor and is arranged in the vicinity of the head, and monitoring the conducting state of the electrostatic sensor. If
A step of determining that static electricity exceeding a reference level is applied to the head, the method for detecting static electricity application in a disk storage device.
【請求項9】 ヘッドにより少なくとも情報の読み取り
が行われるディスク記憶装置における静電気印加検知方
法であって、 前記ヘッドの近傍に配置されたコンデンサタイプの静電
気センサの電位であって、静電気の印加によって当該セ
ンサに蓄積された電荷の量を反映した当該センサの電位
を監視するステップと、 前記静電気センサの電位の監視結果に応じて、前記ヘッ
ドに基準レベルを超える静電気が印加されたことを検知
するステップとを具備することを特徴とするディスク記
憶装置における静電気印加検知方法。
9. A method for detecting static electricity application in a disk storage device in which at least information is read by a head, the potential being a potential of a capacitor-type static electricity sensor arranged in the vicinity of the head, said static electricity being applied by application of static electricity. Monitoring the electric potential of the sensor reflecting the amount of electric charge accumulated in the sensor; and detecting the application of static electricity exceeding the reference level to the head according to the result of monitoring the electric potential of the electrostatic sensor. A method of detecting static electricity application in a disk storage device, comprising:
JP2001346434A 2001-11-12 2001-11-12 Disk storage device with electrostatic sensor Expired - Fee Related JP3657906B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001346434A JP3657906B2 (en) 2001-11-12 2001-11-12 Disk storage device with electrostatic sensor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001346434A JP3657906B2 (en) 2001-11-12 2001-11-12 Disk storage device with electrostatic sensor

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003151257A true JP2003151257A (en) 2003-05-23
JP3657906B2 JP3657906B2 (en) 2005-06-08

Family

ID=19159612

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001346434A Expired - Fee Related JP3657906B2 (en) 2001-11-12 2001-11-12 Disk storage device with electrostatic sensor

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3657906B2 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005174561A (en) * 2003-12-05 2005-06-30 Pi R & D Co Ltd Insulated electric wire and insulated coil
KR100505261B1 (en) * 2002-08-13 2005-08-03 김병삼 Electro-ststic Detector and control System
KR100817683B1 (en) 2005-08-10 2008-03-27 오므론 가부시키가이샤 Static Electricity Measurement Apparatus And Surface Potential Sensor

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100505261B1 (en) * 2002-08-13 2005-08-03 김병삼 Electro-ststic Detector and control System
JP2005174561A (en) * 2003-12-05 2005-06-30 Pi R & D Co Ltd Insulated electric wire and insulated coil
JP4594615B2 (en) * 2003-12-05 2010-12-08 株式会社ピーアイ技術研究所 Insulated wire and insulated coil
KR100817683B1 (en) 2005-08-10 2008-03-27 오므론 가부시키가이샤 Static Electricity Measurement Apparatus And Surface Potential Sensor

Also Published As

Publication number Publication date
JP3657906B2 (en) 2005-06-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7830632B2 (en) Large data block written on overlapping tracks in a hard disk drive
US7738208B2 (en) Data recovery through eliminating adjacent track interference
US7721049B2 (en) Disk drive write method
US7190547B2 (en) Methods for detecting contact between a read-write head and the accessed disk surface in a hard disk drive
US6822816B2 (en) Electrical detection of low flying read/write head for a disc drive
US5491394A (en) Acceleration sensing write disable system utilizing actuator arm coil
US20040100255A1 (en) Monitoring of phenomena indicative of PTP in a magnetic disk drive
US20090128944A1 (en) Hard disk drive tunneling magnetoresistive annealing heads with a fly on demand heater
JP2009032344A (en) Disk drive device and method of removing substance deposited on head
US6876510B2 (en) Detecting head landings on a data zone of a data storage disc
JP3657906B2 (en) Disk storage device with electrostatic sensor
US20080291564A1 (en) Detecting head-disk contact during off-track operations
US7382565B2 (en) Method to avoid contact between the head and disk protrusions
US20120030510A1 (en) Method to recover data sector damaged by abrupt power loss in hard disk drives
US7224548B1 (en) Determining contact write current in disk drive using position error signal variance
US20030132747A1 (en) Thermal decay test method of magnetic hard disk
JP2007004857A (en) Magnetic disk apparatus having tunnel magneto-resistive head element
US7253980B1 (en) Technique for recording bias current glitches in magnetoresistive heads
JPH08167121A (en) Method for detecting abnormal projection on magnetic disk and magnetic disk device
US20060146437A1 (en) Apparatus for detecting contact between a read-write head and the accessed disk surface in a hard disk drive
US7538963B2 (en) System, method, and apparatus for monitoring stray magnetic fields and protecting disk drives therefrom
JPH08255465A (en) Recording/reproducing device and its address-recognizing method
US7952828B2 (en) Hard disk drive, method for parking magnetic head of hard disk drive, and computer readable recording medium recording the method
JP4959641B2 (en) Information storage device
KR100440794B1 (en) Method for discerning damage of a magnetoresistive head by measuring resistance of a magnetoresistive sensor of the magnetoresistive head

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040212

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040302

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040421

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050308

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050310

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees