JP2003142360A - Apparatus for manufacturing semiconductor device - Google Patents

Apparatus for manufacturing semiconductor device

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JP2003142360A
JP2003142360A JP2001337949A JP2001337949A JP2003142360A JP 2003142360 A JP2003142360 A JP 2003142360A JP 2001337949 A JP2001337949 A JP 2001337949A JP 2001337949 A JP2001337949 A JP 2001337949A JP 2003142360 A JP2003142360 A JP 2003142360A
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JP
Japan
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transfer
chamber
semiconductor device
line
manufacturing apparatus
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Application number
JP2001337949A
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Japanese (ja)
Inventor
Chikami Ishizaka
周巳 石坂
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Daikin Industries Ltd
Original Assignee
Daikin Industries Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an apparatus for manufacturing semiconductor devices, which can flexibly deal with the manufacturing of various type semiconductor devices and which has high productivity. SOLUTION: A conveying line 1 is coupled separably to a plurality of conveying modules 10. A plurality of processing chambers, in which works are arrayed according to the processing order of the works so as to process the works in a flow-shop method, are separably coupled via intermediate conveying chambers 70 to the line 1. The module 10 and the chamber are added or reduced to deal with the manufacture of the various types of semiconductor devices. Since the works are conveyed in one direction by the flow-shop method and processed at the line 1, it is not necessary to reciprocate the works, and the works can be processed sequentially one by one, and not wasted over a long time. Accordingly, high throughput is incorporated.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、半導体装置の製
造装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor device manufacturing apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、半導体装置の製造装置は、ワ
ークをジョブショップ方式で加工して半導体装置を製造
していた。このジョブショップ方式の半導体装置の製造
装置は、エッチングエリア、リソグラフィエリア、CV
D(気相成長)エリア、PVD(物理蒸着)エリア、洗
浄エリア、検査エリア等の複数のエリアを、コンベアを
有する真空搬送ラインや磁気浮上式真空搬送ライン等の
搬送ラインで接続して、ワークを何度もリソグラフィエ
リア、エッチングエリア、CVDエリア等に工程順に往
復移動して加工して、半導体装置を完成していた。
2. Description of the Related Art Conventionally, a semiconductor device manufacturing apparatus processes a work by a job shop method to manufacture a semiconductor device. This job shop type semiconductor device manufacturing apparatus includes an etching area, a lithography area, a CV
A plurality of areas such as a D (vapor phase growth) area, a PVD (physical vapor deposition) area, a cleaning area, and an inspection area are connected by a transfer line having a conveyor, such as a vacuum transfer line or a magnetic levitation vacuum transfer line, to work. Was repeatedly moved back and forth to a lithography area, an etching area, a CVD area, and the like in the order of steps to complete the semiconductor device.

【0003】より具体的に説明すると、図5に示すよう
に、CVDエリア100、エッチングエリア200およ
び図示しないリソグラフィエリア、洗浄エリア等を真空
搬送ライン300で接続している。上記CVDエリア1
00には、CVD装置を有するCVD処理室101,1
01,101(説明の便宜上、3個のみを示すが、実際
は、遥に多数のCVD処理室がある。)と、搬送ロボッ
ト等の搬送装置を有する搬送室102,102,102
を有する。また、上記エッチングエリア200は、エッ
チング処理室201,201,201(説明の便宜上、
3個のみを示すが、実際は、遥に多数のエッチング処理
室がある。)と、搬送ロボット等の搬送装置を有する搬
送室202,202,202を有する。
More specifically, as shown in FIG. 5, a vacuum transfer line 300 connects a CVD area 100, an etching area 200, a lithography area (not shown), a cleaning area, and the like. CVD area 1
00 is a CVD processing chamber 101, 1 having a CVD apparatus.
01, 101 (only three are shown for convenience of description, but actually, there are much more CVD processing chambers) and transfer chambers 102, 102, 102 having transfer devices such as a transfer robot.
Have. In addition, the etching area 200 includes etching processing chambers 201, 201, 201 (for convenience of explanation,
Only three are shown, but in reality there are far more etching chambers. ) And a transfer chamber 202, 202, 202 having a transfer device such as a transfer robot.

【0004】そして、半導体装置を製造するには、例え
ば、CVDエリア100のCVD処理室101で図示し
ないウェハーに膜を化学的に気相成長し、この膜を気相
成長したウェハーを搬送室102の搬送ロボットで、コ
ンベアを有する真空搬送ライン300に運び出して、図
示しないリソグラフィエリアに運んで、上記膜上にレジ
ストのマスクを形成し、このマスクを形成したウエハー
をエッチングエリア200に搬送する。このエッチング
エリア200では、エッチング処理室201で上記マス
クを用いてウエハーの膜の部分的なエッチングを行う。
このエッチングを行った膜を有するウエハーは、搬送室
202の搬送ロボットで真空搬送ライン300に送っ
て、図示しない洗浄エリアに搬送して、洗浄を行う。そ
して、この洗浄を行ったウエハーを、再度、CVDエリ
ア100に送って、別の膜を化学的に気相成長する。
To manufacture a semiconductor device, for example, a film is chemically vapor-deposited on a wafer (not shown) in the CVD processing chamber 101 in the CVD area 100, and the wafer obtained by vapor-depositing the film is transferred into the transfer chamber 102. The transfer robot of (1) transfers the wafer to a vacuum transfer line 300 having a conveyor, transfers it to a lithography area (not shown), forms a resist mask on the film, and transfers the wafer on which the mask is formed to the etching area 200. In the etching area 200, the film of the wafer is partially etched in the etching processing chamber 201 using the mask.
The wafer having the etched film is sent to the vacuum transfer line 300 by the transfer robot in the transfer chamber 202, transferred to a cleaning area (not shown), and cleaned. Then, the cleaned wafer is sent again to the CVD area 100 to chemically vapor-deposit another film.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】このように、上記従来
のジョブショップ方式の半導体装置の製造装置は、エッ
チングエリア、リソグラフィエリア、CVDエリア、P
VDエリア、洗浄エリア、検査エリア等の各エリア毎に
複数の処理室をまとめて配置して、処理に応じて、ワー
クを搬送ラインを通してエリア間を往復移動させるよう
にしているため、種々の半導体装置の製造に柔軟に対応
できるという利点を有する反面、搬送室の搬送ロボッ
ト、真空搬送ラインを介して、エリア間に何度もワーク
を往復移動させねばならないため、生産性が低く、すな
わち、スループット(処理量)が少ないと言う欠点があ
る。
As described above, the conventional job shop type semiconductor device manufacturing apparatus described above includes the etching area, the lithography area, the CVD area, and the P area.
Since a plurality of processing chambers are collectively arranged in each area such as a VD area, a cleaning area, and an inspection area, and a work is moved back and forth between the areas through a transfer line according to processing, various semiconductors can be used. Although it has the advantage of being able to flexibly respond to the manufacturing of equipment, it has low productivity because the work has to be reciprocated between the areas many times through the transfer robot in the transfer chamber and the vacuum transfer line, that is, throughput. There is a drawback that the (processing amount) is small.

【0006】そこで、この発明の課題は、種々の半導体
装置の製造に柔軟に対応でき、かつ、生産性の高い半導
体装置の製造装置を提供することである。
Therefore, an object of the present invention is to provide a semiconductor device manufacturing apparatus which can flexibly deal with the manufacture of various semiconductor devices and has high productivity.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項1の発明の半導体装置の製造装置は、搬送装
置を有する搬送室とワークを載置する載置室とからなる
搬送モジュールを複数個分離可能に連結してなる搬送ラ
インと、上記搬送ラインに分離可能に連結した複数の処
理室とを備えてフローショップ方式でワークを処理する
ことを特徴としている。
In order to solve the above problems, a semiconductor device manufacturing apparatus according to a first aspect of the present invention includes a transfer module including a transfer chamber having a transfer device and a mounting chamber on which a work is placed. It is characterized in that a plurality of transfer lines that are separably connected to each other and a plurality of processing chambers that are separably connected to the transfer line are provided to process a work by a flow shop method.

【0008】上記構成の半導体装置の製造装置は、搬送
ラインを、搬送モジュールを複数個分離可能に連結して
構成し、この搬送ラインに複数の処理室を分離可能に連
結している。したがって、上記半導体装置の製造装置
は、半導体装置の種類に応じて、搬送モジュールおよび
処理室を追加あるいは削除して、要求に応じた搬送ライ
ンを構成し、要求に応じた順序に処理室を搬送ラインに
連結することができる。したがって、この半導体装置の
製造装置は、種々の半導体装置の製造に対応でき、極め
て高いフレキシビリテイを有する。
In the semiconductor device manufacturing apparatus having the above-described structure, the transfer line is configured by connecting a plurality of transfer modules in a separable manner, and the plurality of processing chambers are connected in a separable manner to the transfer line. Therefore, in the above-described semiconductor device manufacturing apparatus, a transfer module and a processing chamber are added or deleted according to the type of the semiconductor device to configure a transfer line according to a request, and the processing chambers are transferred in an order according to the request. Can be connected to a line. Therefore, this semiconductor device manufacturing apparatus can be used for manufacturing various semiconductor devices, and has extremely high flexibility.

【0009】また、上記半導体装置の製造装置によれ
ば、上記複数の搬送モジュールからなる搬送ラインに、
フローショップ方式でワークを処理するように複数の処
理室を連結して、つまり、ワークの加工順序に従って処
理室を連結しているので、ワークを搬送ラインにおいて
往復移動させる必要がなくなり、かつ、ワークを次々と
順次加工できて長く待機させることがなくなって、スル
ープットが高くなる。
Further, according to the above semiconductor device manufacturing apparatus, in the transfer line including the plurality of transfer modules,
Since a plurality of processing chambers are connected so as to process the work by the flow shop method, that is, the processing chambers are connected according to the processing order of the work, it is not necessary to reciprocate the work in the transfer line, and Can be sequentially processed one after another, and there is no need to wait for a long time, and the throughput is increased.

【0010】また、請求項2の発明の半導体装置の製造
装置は、請求項1に記載の半導体装置の製造装置におい
て、上記搬送ラインと上記処理室との間に、搬送装置を
有する中間搬送室を連結したことを特徴としている。
A semiconductor device manufacturing apparatus according to a second aspect of the present invention is the semiconductor device manufacturing apparatus according to the first aspect, wherein the intermediate transfer chamber has a transfer device between the transfer line and the processing chamber. It is characterized by connecting.

【0011】上記構成によれば、上記搬送ラインと上記
処理室との間に、搬送装置を有する中間搬送室が存在す
るので、搬送ラインの搬送モジュールの搬送室の搬送装
置でワークを直接処理室に運ばなくても、中間搬送室の
搬送装置でワークを処理室に運び、また、処理室からワ
ークを運び出すことができる。したがって、上記搬送モ
ジュールの搬送室の搬送装置が、単一の標準寸法であっ
ても、その搬送装置の例えばアームの長さの不足等の問
題を生じることなく、中間搬送室の搬送装置を介するこ
とによって、処理室にワークを出し入れすることができ
る。また、上記処理室に入れることができる搬送装置の
材質を特別な材質にしなければならない制約があって
も、上記中間搬送室の搬送装置の材質をその特別な材質
にすることによって、上記搬送モジュールの搬送室の搬
送装置を標準的な材質にすることができる。したがっ
て、この半導体装置の製造装置のフレキシビリテイが一
層増大でき、かつ、搬送モジュール、ひいては、搬送ラ
インを安価に製造できる。
According to the above structure, since the intermediate transfer chamber having the transfer device exists between the transfer line and the processing chamber, the work is directly processed by the transfer device of the transfer chamber of the transfer module of the transfer line. It is possible to carry the work to and from the processing chamber by the transfer device of the intermediate transfer chamber without carrying it to the processing chamber. Therefore, even if the transfer device in the transfer chamber of the transfer module has a single standard size, the transfer device in the intermediate transfer chamber can be used without causing a problem such as insufficient arm length of the transfer device. By doing so, the work can be taken in and out of the processing chamber. Further, even if there is a constraint that the material of the transfer device that can be put in the processing chamber must be a special material, the transfer module of the intermediate transfer chamber can be made by using the special material. The transfer device in the transfer chamber can be made of a standard material. Therefore, the flexibility of the semiconductor device manufacturing apparatus can be further increased, and the transfer module, and thus the transfer line, can be manufactured at low cost.

【0012】また、請求項3の発明の半導体装置の製造
装置は、請求項1または2に記載の半導体装置の製造装
置において、上記搬送モジュールを複数個連結してなる
と共に、上記搬送ラインの少なくとも一部と並列になる
ように上記搬送ラインに接続されたバックアップライン
を備え、上記バックアップラインに処理室を連結したこ
とを特徴としている。
A semiconductor device manufacturing apparatus according to a third aspect of the present invention is the semiconductor device manufacturing apparatus according to the first or second aspect, in which a plurality of the transport modules are connected and at least the transport line is provided. It is characterized in that a backup line connected to the transfer line is provided so as to be in parallel with a part thereof, and the processing chamber is connected to the backup line.

【0013】上記構成によれば、上記搬送ラインや処理
室に故障が生じても、上記バックアップライン、およ
び、そのバックアップラインに連結した処理室を経由す
ることによって、この半導体装置の製造装置を稼動させ
続けることができる。したがって、この半導体装置の製
造装置は稼動率が高い。また、バックアップラインに搬
送ラインの処理室と異なる処理室を接続して、搬送ライ
ンのみを経由する半導体装置とバックアップラインを経
由する半導体装置との異なる種類の半導体装置を並行し
て製造することができる。
According to the above construction, even if a failure occurs in the transfer line or the processing chamber, the semiconductor device manufacturing apparatus can be operated by passing through the backup line and the processing chamber connected to the backup line. You can keep it going. Therefore, the operating rate of this semiconductor device manufacturing apparatus is high. Further, by connecting a processing chamber different from the processing chamber of the transfer line to the backup line, it is possible to manufacture different types of semiconductor devices in parallel, that is, a semiconductor device passing only the transfer line and a semiconductor device passing the backup line. it can.

【0014】また、請求項4の発明の半導体装置の製造
装置は、請求項1乃至3のいずれか1つに記載の半導体
装置の製造装置において、上記バックアップラインと上
記処理室との間に、搬送装置を有する中間搬送室を連結
したことを特徴としている。
A semiconductor device manufacturing apparatus according to a fourth aspect of the present invention is the semiconductor device manufacturing apparatus according to any one of the first to third aspects, wherein the backup line and the processing chamber are provided between the backup line and the processing chamber. It is characterized in that an intermediate transfer chamber having a transfer device is connected.

【0015】上記構成の半導体装置の製造装置は、搬送
装置を有する中間搬送室を有するから、請求項2の発明
の半導体装置の製造装置と同様に、フレキシビリテイが
高く、かつ、搬送モジュール、ひいては、搬送ラインを
安価に製造できる。
Since the semiconductor device manufacturing apparatus having the above structure has the intermediate transfer chamber having the transfer device, it has high flexibility and a transfer module, as in the semiconductor device manufacturing apparatus according to the present invention. As a result, the transfer line can be manufactured at low cost.

【0016】また、請求項5の発明の半導体装置の製造
装置は、請求項1乃至4のいずれか1つに記載の半導体
装置の製造装置において、上記複数の搬送モジュール
は、水平断面が略矩形であることを特徴としている。
A semiconductor device manufacturing apparatus according to a fifth aspect of the present invention is the semiconductor device manufacturing apparatus according to any one of the first to fourth aspects, wherein the plurality of transfer modules have a substantially rectangular horizontal cross section. It is characterized by being.

【0017】上記構成によれば、上記搬送モジュールの
水平断面が略矩形であるから、その搬送モジュールから
四方のいずれの方向にも搬送ラインを延長することが可
能になる。
According to the above construction, since the horizontal cross section of the transfer module is substantially rectangular, it is possible to extend the transfer line from the transfer module in any of the four directions.

【0018】また、請求項6の発明の半導体装置の製造
装置は、請求項5に記載の半導体装置の製造装置におい
て、上記搬送モジュールの少なくとも3側面に機械的連
結手段を、少なくとも2側面に電気的連結手段を備えて
いて、上記複数の搬送モジュールは機械的かつ電気的に
接続されていることを特徴としている。
A semiconductor device manufacturing apparatus according to a sixth aspect of the present invention is the semiconductor device manufacturing apparatus according to the fifth aspect, wherein at least three side surfaces of the transfer module are provided with mechanical connecting means and at least two side surfaces are electrically connected. And a plurality of transfer modules are mechanically and electrically connected to each other.

【0019】上記構成によれば、上記搬送モジュールの
少なくとも3側面に機械的連結手段を、少なくとも2側
面に電気的連結手段を備えているから、他の搬送モジュ
ールや処理室や中間搬送室等を機械的かつ電気的に簡単
に連結することができる。
According to the above construction, since at least three side surfaces of the transfer module are provided with mechanical connection means and at least two side surfaces are provided with electrical connection means, other transfer modules, processing chambers, intermediate transfer chambers and the like are provided. It can be easily mechanically and electrically connected.

【0020】また、請求項7の発明の半導体装置の製造
装置は、請求項1乃至6のいずれか1つに記載の半導体
装置の製造装置において、上記搬送モジュールの載置室
は、複数のワークを収納するバッファユニット、ワーク
を冷却するクーラーユニット、または、ワークを加熱す
るヒーターユニット、または、ワークの姿勢を検出し補
正するアライニングユニットのいずれかを含むことを特
徴としている。
A semiconductor device manufacturing apparatus according to a seventh aspect of the present invention is the semiconductor device manufacturing apparatus according to any one of the first to sixth aspects, wherein the transfer module mounting chamber has a plurality of workpieces. And a cooling unit for cooling the work, a heater unit for heating the work, or an aligning unit for detecting and correcting the posture of the work.

【0021】上記構成によれば、上記搬送モジュールの
載置室において、バッファユニットで複数のワークを収
納し、あるいは、クーラーユニットでワークを冷却し、
あるいは、ヒーターユニットでワークを加熱し、あるい
は、アライニングユニットでワークの姿勢を検出し補正
する。
According to the above construction, in the mounting chamber of the transfer module, a plurality of works are stored in the buffer unit, or the works are cooled by the cooler unit.
Alternatively, the work is heated by the heater unit, or the posture of the work is detected and corrected by the aligning unit.

【0022】また、請求項8の発明の半導体装置の製造
装置は、請求項1乃至7のいずれか1つに記載の半導体
装置の製造装置において、上記搬送モジュールの搬送室
の搬送装置または中間搬送室の搬送装置の少なくとも一
方は、2つのアームを有するダブルアーム式の搬送ロボ
ットであることを特徴としている。
According to an eighth aspect of the present invention, there is provided a semiconductor device manufacturing apparatus according to any one of the first to seventh aspects of the semiconductor device manufacturing apparatus, wherein the carrier module of the carrier chamber or the intermediate carrier is used. At least one of the chamber transfer devices is a double-arm transfer robot having two arms.

【0023】上記構成によれば、搬送装置は、2つのア
ームを有するダブルアーム式の搬送ロボットであるか
ら、2つのアームで、ワークの前段からの引き受けと後
段への引き渡し、あるいは、ワークの処理室等への挿入
と取り出しを同時にでき、したがって、多くのワークを
迅速に搬送できる。
According to the above construction, since the transfer device is a double-arm type transfer robot having two arms, the two arms receive the work from the front stage and the work to the rear stage, or process the work. It can be inserted into and taken out of a chamber or the like at the same time, so that many works can be transported quickly.

【0024】[0024]

【発明の実施の形態】以下、この発明を図示の実施の形
態により詳細に説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The present invention will be described in detail below with reference to the embodiments shown in the drawings.

【0025】(実施の形態1)図1は、この実施の形態
1の半導体装置の製造装置の模式図である。ウエハー等
のワークWを矢印X方向に搬送する搬送ライン1に、C
VD処理室20、リソグラフィ処理室30、エッチング
処理室40、洗浄処理室50およびPVD処理室60の
各々を中間搬送室70を介して連結している。上記搬送
ライン1は、複数の搬送モジュール10,10,・・・・を
連結してなる。上記CVD処理室20、リソグラフィ処
理室30、エッチング処理室40、洗浄処理室50およ
びPVD処理室60は、フローショップ方式でワークW
を加工できるように、加工順に配置している。
(First Embodiment) FIG. 1 is a schematic view of a semiconductor device manufacturing apparatus according to the first embodiment. In the transfer line 1 for transferring the work W such as a wafer in the direction of the arrow X, C
Each of the VD processing chamber 20, the lithography processing chamber 30, the etching processing chamber 40, the cleaning processing chamber 50, and the PVD processing chamber 60 is connected via an intermediate transfer chamber 70. The transfer line 1 is formed by connecting a plurality of transfer modules 10, 10, .... The CVD processing chamber 20, the lithography processing chamber 30, the etching processing chamber 40, the cleaning processing chamber 50, and the PVD processing chamber 60 are flow-shop type workpieces W.
Are arranged in the order of processing so that can be processed.

【0026】図2に示すように、上記搬送モジュール1
0は、水平断面が略矩形であって、搬送室2と載置室3
とからなる。上記搬送室2には、搬送装置の一例として
のスカラ型3リンクダブルアーム式の搬送ロボット5を
設けている。この搬送ロボット5は、関節結合したリン
ク6,7,8からなる2つのアーム11を上下に配置し
てなり、各アーム11,11が別々にウエハーW,Wを
搬送できるようになっている。なお、搬送装置として
は、上記スカラ型3リンクダブルアーム式の搬送ロボッ
ト5に代えて、図示しないが、スカラ型2リンクダブル
アーム式の搬送ロボット(各アームが2つのリンクから
なる)、スカラ型3リンクシングルアーム式の搬送ロボ
ット(アームが1つだけである。)、スカラ型2リンク
シングルアーム式の搬送ロボット等を用いてもよい。一
方、上記載置室3には、ウエハーWを載置する載置台1
2を設けている。
As shown in FIG. 2, the transfer module 1 is provided.
0 has a substantially rectangular horizontal cross section, and has a transfer chamber 2 and a loading chamber 3
Consists of. The transfer chamber 2 is provided with a SCARA type 3 link double arm type transfer robot 5 as an example of a transfer device. This transfer robot 5 has two arms 11 composed of articulated links 6, 7, and 8 arranged vertically, and each arm 11, 11 can transfer wafers W, W separately. As the transfer device, a SCARA type 2-link double arm type transfer robot (each arm is composed of two links), a SCARA type instead of the SCARA type 3-link double arm type transfer robot 5 are shown. A 3-link single-arm transfer robot (only one arm is provided), a scalar 2-link single-arm transfer robot, or the like may be used. On the other hand, the mounting table 1 on which the wafer W is mounted is placed in the mounting chamber 3 described above.
2 is provided.

【0027】上記搬送モジュール10の搬送室2の載置
室3に面する以外の3側面には、機械的連結手段の一例
としてのフランジ15,15,15を備えている。この
フランジ15によって、隣接する搬送モジュール10,
10同士が機械的に密にかつ分離可能に連結している。
勿論、フランジ15の当接面には、図示しないが、シー
ル材を設けている。また、上記搬送モジュール10の搬
送室2の他の1側面には、上記フランジ15によって中
間搬送室70を密にかつ分離可能に連結している。ま
た、もう1つの図2において下方のフランジ15には、
図示していないが、盲蓋をしている。上記フランジ1
5,15,15は、相手側にボルト等の締結具で締め付
けているので、この締結具を緩めることによって、搬送
モジュール10,10同士を分離したり、中間搬送室7
0を搬送モジュール10から分離できる。
Flange 15, 15, 15 as an example of mechanical connecting means is provided on three side surfaces of the transfer module 10 other than the mounting chamber 3 of the transfer chamber 2. By this flange 15, the adjacent transfer modules 10,
The ten members are mechanically tightly and separably connected to each other.
Of course, a sealing material (not shown) is provided on the contact surface of the flange 15. An intermediate transfer chamber 70 is densely and separably connected to the other side surface of the transfer chamber 2 of the transfer module 10 by the flange 15. Further, in another lower flange 15 in FIG. 2,
Although not shown, it has a blind lid. Above flange 1
Since 5, 15, 15 are fastened to the other side with fasteners such as bolts, by loosening the fasteners, the transport modules 10, 10 are separated from each other, or the intermediate transport chamber 7
0 can be separated from the transport module 10.

【0028】上記中間搬送室70には、搬送室2のスカ
ラ型3リンクダブルアーム式の搬送ロボット5と全く同
じスカラ型3リンクダブルアーム式の搬送ロボット5を
設けている。上記中間搬送室70,70に設けた機械的
連結手段の一例としてのフランジ16,16に、CVD
処理室20、リソグラフィ処理室30をボルト等の締結
具で分離可能に連結している。なお、上記エッチング処
理室40、洗浄処理室50およびPVD処理室60は、
図1では示していないが、同様に、フランジによって中
間搬送室70に密にかつ分離可能に連結している。
The intermediate transfer chamber 70 is provided with a scalar type 3 link double arm type transfer robot 5 which is exactly the same as the scalar type 3 link double arm type transfer robot 5 in the transfer chamber 2. The flanges 16, 16 as an example of mechanical connecting means provided in the intermediate transfer chambers 70, 70 are provided with CVD.
The processing chamber 20 and the lithography processing chamber 30 are separably connected to each other by fasteners such as bolts. The etching processing chamber 40, the cleaning processing chamber 50, and the PVD processing chamber 60 are
Although not shown in FIG. 1, similarly, it is tightly and separably connected to the intermediate transfer chamber 70 by a flange.

【0029】上記搬送モジュール10のフランジ15、
中間搬送室70のフランジ16には、図示しないが、電
気的連結手段の一例としてのコネクターを設けていて、
搬送モジュール10,10同士、あるいは、搬送モジュ
ール10と中間搬送室70、あるいは、中間搬送室70
とCVD処理室20等を電気的に分離可能に連結できる
ようにしている。
The flange 15 of the transfer module 10,
Although not shown, the flange 16 of the intermediate transfer chamber 70 is provided with a connector as an example of electrical connection means,
The transfer modules 10, 10 themselves, or the transfer module 10 and the intermediate transfer chamber 70, or the intermediate transfer chamber 70.
The CVD processing chamber 20 and the like can be electrically separated from each other.

【0030】上記構成の半導体装置の製造装置によれ
ば、図1に示すように、膜を形成したウエハー等のワー
クWは、フローショップ方式で、CVD処理室20、リ
ソグラフィ処理室30、エッチング処理室40、洗浄処
理室50およびPVD処理室60等で次々と順次加工さ
れながら、搬送ライン1を矢印Xに示す方向に搬送され
る。つまり、ワークWは、長く待機することなく、次々
と順次加工されながら、搬送ライン1を往復動すること
なく、X方向のみに搬送されるから、生産性が高く、ス
ループットが高い。
According to the semiconductor device manufacturing apparatus having the above-described structure, as shown in FIG. 1, a work W such as a film-formed wafer is processed by a flow shop method in a CVD processing chamber 20, a lithography processing chamber 30, and an etching process. While being successively processed in the chamber 40, the cleaning treatment chamber 50, the PVD treatment chamber 60, etc., the conveyance line 1 is conveyed in the direction indicated by the arrow X. That is, the work W is conveyed only in the X direction without being reciprocated in the conveyance line 1 while being sequentially processed one after another without waiting for a long time, so that the productivity is high and the throughput is high.

【0031】より詳しくは、図1,2に示すように、左
端の搬送モジュール10の搬送室2の搬送ロボット5の
1つのアーム11で、ワークWを中間搬送室70の搬送
ロボット5の1つのアーム11に渡し、このアーム11
でそのワークWをCVD処理室20に搬入する。それと
同時に、上記中間搬送室70の搬送ロボット5のもう1
つのアーム11で、CVD処理室20から、化学的気相
成長で成膜したウエハーであるワークWを取り出す。こ
の取り出されたワークWを、搬送モジュール10の搬送
室2の搬送ロボット5の空いているアーム11が、中間
搬送室70の搬送ロボット5のアーム11から受け取っ
て、載置室3の載置台12に載置する。このとき、上記
搬送モジュール10の搬送室2の搬送ロボット5のもう
1つのアーム11は、CVD処理装置20で気相成長す
べき次のウェハーであるワークWを持って待機してい
る。
More specifically, as shown in FIGS. 1 and 2, one arm 11 of the transfer robot 5 in the transfer chamber 2 of the leftmost transfer module 10 transfers the work W to one of the transfer robots 5 in the intermediate transfer chamber 70. Hand it over to arm 11
Then, the work W is carried into the CVD processing chamber 20. At the same time, another one of the transfer robots 5 in the intermediate transfer chamber 70
The work W, which is a wafer formed by chemical vapor deposition, is taken out from the CVD processing chamber 20 by one arm 11. The vacant arm 11 of the transfer robot 5 of the transfer chamber 2 of the transfer module 10 receives the taken-out work W from the arm 11 of the transfer robot 5 of the intermediate transfer chamber 70, and the mounting table 12 of the mounting chamber 3 is received. Place on. At this time, the other arm 11 of the transfer robot 5 in the transfer chamber 2 of the transfer module 10 stands by with the work W which is the next wafer to be vapor-phase grown in the CVD processing apparatus 20.

【0032】上記搬送モジュール10の載置室3の載置
台12上のワークWは、隣りの搬送モジュール10の搬
送室2の搬送ロボット5の1つのアーム11によって、
中間搬送室70の搬送ロボット5の1つのアーム11の
上に運ばれる。この中間搬送室70のアーム11は、そ
のワークWをリソグラフィ処理室30に搬入する。それ
と同時に、上記中間搬送室70の搬送ロボット5のもう
1つのアーム11で、リソグラフィ処理室30から、レ
ジストを形成したウエハーであるワークWを取り出す。
この取り出されたワークWを、搬送モジュール10の搬
送室2の搬送ロボット5の空いているアーム11が、中
間搬送室70の搬送ロボット5のアーム11から受け取
って、右隣りの載置室3の載置台12に載置する。
The workpiece W on the mounting table 12 of the mounting chamber 3 of the transfer module 10 is moved by one arm 11 of the transfer robot 5 of the transfer chamber 2 of the adjacent transfer module 10.
It is carried onto one arm 11 of the transfer robot 5 in the intermediate transfer chamber 70. The arm 11 of the intermediate transfer chamber 70 carries the work W into the lithography processing chamber 30. At the same time, another arm 11 of the transfer robot 5 in the intermediate transfer chamber 70 takes out the work W, which is a resist-formed wafer, from the lithography processing chamber 30.
The vacant arm 11 of the transfer robot 5 of the transfer chamber 2 of the transfer module 10 receives the taken-out work W from the arm 11 of the transfer robot 5 of the intermediate transfer chamber 70, and the workpiece W of the loading chamber 3 on the right side is received. It is mounted on the mounting table 12.

【0033】このように、搬送ロボット5,5,・・・・で
擬似的な手渡しでワークWを次から次へと一方向に送り
ながら、加工順に配列されたCVD処理室20、リソグ
ラフィ処理室30、エッチング処理室40、洗浄処理室
50およびPVD処理室60等でフローショップ方式で
ワークWを順次加工して、搬送ライン1を往復動するこ
となく矢印Xに示す方向のみに搬送する。このように、
ワークWをフローショップ方式で次々と順次加工して、
待機させる期間が長くなることがなく、かつ、搬送ライ
ン1を往復動させることがないから、この半導体装置の
製造装置は、生産性が高くて、スループットが高い。
As described above, the transfer robots 5, 5, ... Send the work W in one direction one after another by pseudo handing, and the CVD processing chamber 20 and the lithography processing chamber are arranged in the processing order. The work W is sequentially processed by the flow shop method in the 30, the etching processing chamber 40, the cleaning processing chamber 50, the PVD processing chamber 60, and the like, and is transported only in the direction indicated by the arrow X without reciprocating the transport line 1. in this way,
Work W is processed one after another by the flow shop method,
Since the waiting period does not become long and the carrier line 1 does not reciprocate, the semiconductor device manufacturing apparatus has high productivity and high throughput.

【0034】さらに、上記搬送モジュール10の搬送室
2および中間搬送室70の搬送ロボット5は、スカラ型
3リンクダブルアーム式の搬送ロボット5であって、2
つのアーム11,11を有するから、ワークWの前段か
らの引き受けと後段への引き渡し、あるいは、ワークW
のCVD処理室20等への挿入と取り出しを同時にで
き、したがって、多くのワークWを迅速に搬送できる。
Further, the transfer robot 2 in the transfer chamber 2 and the intermediate transfer chamber 70 of the transfer module 10 is a SCARA type 3 link double arm type transfer robot 5.
Since it has two arms 11, 11, it accepts the work W from the front stage and delivers it to the rear stage, or the work W.
Can be inserted into and removed from the CVD processing chamber 20 and the like at the same time, and therefore, many works W can be transported quickly.

【0035】また、上記搬送ライン1は、複数の搬送モ
ジュール10,10,・・・・をフランジ15および図示し
ないコネクターで機械的および電気的に分離可能に連結
して構成し、この搬送ライン1に中間搬送室70を介し
てCVD処理室20、リソグラフィ処理室30、エッチ
ング処理室40、洗浄処理室50およびPVD処理室6
0等をフランジ16および図示しないコネクターで機械
的および電気的に分離可能に連結している。したがっ
て、製造すべき半導体装置の種類に応じて、搬送モジュ
ール10およびCVD処理室20等の処理室を追加ある
いは削除して、要求に応じた搬送ライン1を容易に構成
でき、要求に応じた順序に処理室を搬送ライン1に連結
することができる。したがって、この半導体装置の製造
装置は、種々の半導体装置の製造に対応でき、極めて高
いフレキシビリテイを有すると言う利点を有する。
The transfer line 1 is constructed by connecting a plurality of transfer modules 10, 10, ... In a mechanically and electrically separable manner with a flange 15 and a connector (not shown). In addition, the CVD processing chamber 20, the lithography processing chamber 30, the etching processing chamber 40, the cleaning processing chamber 50, and the PVD processing chamber 6 via the intermediate transfer chamber 70.
0 and the like are mechanically and electrically separably connected by a flange 16 and a connector (not shown). Therefore, according to the type of semiconductor device to be manufactured, the transfer module 10 and the processing chamber such as the CVD processing chamber 20 can be added or deleted to easily configure the transfer line 1 according to the request, and the order according to the request can be obtained. The processing chamber can be connected to the transfer line 1. Therefore, this semiconductor device manufacturing apparatus has an advantage that it can be used for manufacturing various semiconductor devices and has extremely high flexibility.

【0036】また、上記実施の形態1では、上記搬送ラ
イン1と上記CVD処理室20等の処理室との間に、搬
送ロボット5を有する中間搬送室70を設けているの
で、例えば、搬送モジュール10の搬送ロボット5のア
ーム11の長さが不足して、そのアーム11でワークW
を直接CVD処理室20に運べなくても、中間搬送室7
0の搬送ロボット5のアーム11でワークWをCVD処
理室20に運び、また、CVD処理室20からワークW
を運び出すことができる。さらに、上記説明では、中間
搬送室70の搬送ロボット5を、搬送モジュール10の
搬送ロボット5と同じものであるとしたが、処理室の状
況に合わせて、中間搬送室の搬送ロボットを搬送モジュ
ール10の搬送ロボット5と異なるものにしてもよい。
例えば、中間搬送室70の搬送ロボットのアームを、搬
送モジュール10の搬送ロボット5のアーム11よりも
長くしてもよい。このようにすることによって、上記搬
送モジュール10の搬送室2の搬送ロボット5が、単一
の標準寸法であっても、そのアーム11の長さの不足等
の問題を生じることがない。また、上記CVD処理室2
0等の処理室に入れることができる搬送ロボット5のア
ーム11の材質をセラミックス等の特別な材質にしなけ
ればならない制約があっても、上記中間搬送室70の搬
送ロボットのアームの材質をその特別な材質にすること
によって、上記搬送モジュール10の搬送室2の搬送ロ
ボット5のアーム11を標準的な材質にすることができ
る。したがって、この半導体装置の製造装置のフレキシ
ビリテイが一層増大でき、かつ、搬送モジュール10、
ひいては、搬送ライン1を安価に製造できる。
In the first embodiment, since the intermediate transfer chamber 70 having the transfer robot 5 is provided between the transfer line 1 and the processing chamber such as the CVD processing chamber 20, the transfer module is, for example, a transfer module. The length of the arm 11 of the transfer robot 5 of 10 is insufficient, and the work W
Even if the wafer cannot be directly transferred to the CVD processing chamber 20, the intermediate transfer chamber 7
The work W is transported to the CVD processing chamber 20 by the arm 11 of the transfer robot 5 of 0, and the work W is also transported from the CVD processing chamber 20.
Can be carried out. Further, in the above description, the transfer robot 5 in the intermediate transfer chamber 70 is the same as the transfer robot 5 in the transfer module 10, but the transfer robot in the intermediate transfer chamber is changed to the transfer module 10 according to the situation of the processing chamber. It may be different from the transport robot 5.
For example, the arm of the transfer robot in the intermediate transfer chamber 70 may be longer than the arm 11 of the transfer robot 5 in the transfer module 10. By doing so, even if the transfer robot 5 in the transfer chamber 2 of the transfer module 10 has a single standard size, problems such as insufficient length of the arm 11 do not occur. In addition, the CVD processing chamber 2
Even if there is a constraint that the material of the arm 11 of the transfer robot 5 that can be placed in the processing chamber such as 0 is made of a special material such as ceramics, the material of the arm of the transfer robot in the intermediate transfer chamber 70 is made special. With such a material, the arm 11 of the transfer robot 5 in the transfer chamber 2 of the transfer module 10 can be made of a standard material. Therefore, the flexibility of the semiconductor device manufacturing apparatus can be further increased, and the transport module 10,
As a result, the transport line 1 can be manufactured at low cost.

【0037】(実施の形態2)図3は実施の形態2の半
導体装置の製造装置の模式図である。図3において、図
1,2に示す実施の形態1の半導体装置の製造装置の構
成要素と同一構成要素については、実施の形態1の構成
要素と同一参照番号を付して詳しい説明は省略する。
(Second Embodiment) FIG. 3 is a schematic diagram of a semiconductor device manufacturing apparatus according to a second embodiment. In FIG. 3, the same components as those of the semiconductor device manufacturing apparatus of the first embodiment shown in FIGS. 1 and 2 are designated by the same reference numerals as those of the first embodiment, and detailed description thereof will be omitted. .

【0038】この実施の形態2の半導体装置の製造装置
は、実施の形態1の半導体装置の製造装置の構成要素と
異なる構成要素として、処理室の一例としての検査室8
0、前置装置(Equipment Front End Module)90,9
1、カセット95、搬送モジュール110および中間搬
送室170,171を備える。
The semiconductor device manufacturing apparatus according to the second embodiment is different from the constituent elements of the semiconductor device manufacturing apparatus according to the first embodiment in that an inspection chamber 8 as an example of a processing chamber.
0, Equipment (Equipment Front End Module) 90, 9
1, a cassette 95, a transfer module 110, and intermediate transfer chambers 170 and 171.

【0039】上記搬送モジュール110は、実施の形態
1と同じ搬送ロボット5を有する搬送室2と、複数のワ
ーク(ウエハー)を収納する図示しないバッファユニッ
トを有する載置室113とからなる。この搬送モジュー
ル110は、搬送モジュール10とは、載置台12に代
えて、バッファユニットを有する点のみが異なる。この
搬送モジュール110と搬送モジュール10とは互いに
長手方向を直交させてフランジ15によって接続してい
る。
The transfer module 110 comprises a transfer chamber 2 having the same transfer robot 5 as in the first embodiment, and a mounting chamber 113 having a buffer unit (not shown) for accommodating a plurality of works (wafers). The transport module 110 differs from the transport module 10 only in that it has a buffer unit instead of the mounting table 12. The transport module 110 and the transport module 10 are connected by a flange 15 with their longitudinal directions orthogonal to each other.

【0040】上記中間搬送室170は、図示しないが、
中間搬送室70の搬送ロボット5と同じ搬送ロボット有
し、かつ、4側面に接続用のフランジを有して、2つの
CVD処理室20,20および2つの中間搬送室17
1,171に対してワークWを出し入れできるようにな
っている。上記中間搬送室171は、平面図において、
不等辺5角形をしていて、内部には搬送ロボットを備え
ていなくて、通路の役目をする。
The intermediate transfer chamber 170 is not shown,
The transfer robot has the same transfer robot as the transfer robot 5 in the intermediate transfer chamber 70, and has four connection side flanges, and has two CVD processing chambers 20 and 20 and two intermediate transfer chambers 17.
The work W can be taken in and out of the 1,171. The intermediate transfer chamber 171 has a plan view.
It has the shape of a scalene pentagon and does not have a transfer robot inside, and acts as a passage.

【0041】上記検査室80では、ワークWに所望の加
工が行われたか否かの検査を行う。上記前置装置90,
91には、ワークWの搬送を調整するために複数のワー
クWを前置する。上記カセット95は、例えば、25枚
のワーク(ウエハー)Wを収容する。
In the inspection room 80, it is inspected whether or not the desired processing has been performed on the work W. The front device 90,
A plurality of works W are placed in front of 91 in order to adjust the conveyance of the works W. The cassette 95 accommodates, for example, 25 works (wafers) W.

【0042】上記搬送モジュール10,10,110
は、順次、フランジ15およびコネクタ(図示せず7)
によって機械的および電気的に分離可能に連結されて鉤
型の第1の搬送ライン51を構成している。また、上記
搬送モジュール10,110は、順次、フランジ15お
よびコネクタ(図示せず7)によって機械的および電気
的に分離可能に連結されて鉤型の第2の搬送ライン52
を構成している。上記中間搬送室171,170,17
1は、第1の搬送ライン51と第2の搬送ライン52を
分離可能に機械的および電気的に接続する役目もしてい
る。
The transfer module 10, 10, 110
Are, in sequence, the flange 15 and the connector (not shown 7).
Are mechanically and electrically separably connected to each other to form a hook-shaped first transfer line 51. The transfer modules 10 and 110 are sequentially and mechanically and electrically separably connected to each other by a flange 15 and a connector (not shown) 7 to form a hook-shaped second transfer line 52.
Are configured. The intermediate transfer chambers 171, 170, 17
1 also serves to connect the first transfer line 51 and the second transfer line 52 so as to be separable mechanically and electrically.

【0043】上記構成において、上記カセット95から
のワークWは、前置装置90から第1の搬送ライン5
1、中間搬送室171,170,171および第2の搬
送ライン52を一方向に搬送されながら、エッチング処
理室40,40、CVD処理室20,20および検査室
80を経由して、加工および検査がされて、前置装置9
1に運ばれる。
In the above structure, the work W from the cassette 95 is transferred from the front device 90 to the first transfer line 5.
1, while being transferred in one direction through the intermediate transfer chambers 171, 170, 171 and the second transfer line 52, processing and inspection via the etching processing chambers 40, 40, the CVD processing chambers 20, 20 and the inspection chamber 80. The front device 9
Carried to 1.

【0044】この実施の形態2の半導体装置の製造装置
は、ワークWを第1の搬送ライン51、中間搬送室17
1,170,171および第2の搬送ライン52におい
て一方向のみに搬送して、ワークWをフローショップ方
式で次々と順次加工するから、ワークWを待機させる期
間が長くなることがなく、かつ、第1、第2の搬送ライ
ン51,52等を往復動させることがないから、生産性
が高くて、スループットが高い。
In the semiconductor device manufacturing apparatus according to the second embodiment, the work W is transferred to the first transfer line 51 and the intermediate transfer chamber 17.
1, 170, 171 and the second transport line 52 are transported in only one direction, and the workpieces W are sequentially processed by the flow shop method, so that the period for waiting the workpiece W does not become long, and Since the first and second transfer lines 51 and 52 are not reciprocated, the productivity is high and the throughput is high.

【0045】また、この実施の形態2の半導体装置の製
造装置は、第1の搬送ライン51を、搬送モジュール1
0,10,110をフランジ15およびコネクターで機
械的および電気的に分離可能に連結して構成すると共
に、第1の搬送ライン51にエッチング処理室40,4
0を中間搬送室70を介して図示しないフランジおよび
コネクターで機械的および電気的に分離可能に連結し、
かつ、第2の搬送ライン52を、搬送モジュール10,
110をフランジ15およびコネクターで機械的および
電気的に分離可能に連結して構成すると共に、第2の搬
送ライン52に検査室80を中間搬送室70を介して図
示しないフランジおよびコネクターで機械的および電気
的に分離可能に連結している。さらに、上記第1の搬送
ライン51と第2の搬送ライン52とを、中間搬送室1
71,170,171および図示しないフランジおよび
コネクターで機械的および電気的に分離可能に連結して
いる。したがって、この実施の形態2の半導体装置の製
造装置は、搬送モジュール10,110、中間搬送室1
70,171およびCVD処理室20等の追加、削除を
することによって、種々の半導体装置の製造に対応でき
て、フレキシビリテイが高いという利点を有する。
In the semiconductor device manufacturing apparatus according to the second embodiment, the first transfer line 51 is connected to the transfer module 1
0, 10, 110 are mechanically and electrically separably connected by a flange 15 and a connector, and the etching processing chambers 40, 4 are connected to the first transfer line 51.
0 is mechanically and electrically separably connected with a flange and a connector (not shown) via the intermediate transfer chamber 70,
In addition, the second transfer line 52 is connected to the transfer module 10,
110 is configured to be mechanically and electrically separably connected by the flange 15 and the connector, and the inspection chamber 80 is mechanically and electrically connected to the second transfer line 52 via the intermediate transfer chamber 70 by the flange and the connector (not shown). Electrically separable connection. Further, the first transfer line 51 and the second transfer line 52 are connected to the intermediate transfer chamber 1
71, 170, 171 and flanges and connectors (not shown) are mechanically and electrically separably connected. Therefore, the semiconductor device manufacturing apparatus according to the second embodiment includes the transfer modules 10 and 110 and the intermediate transfer chamber 1.
By adding and removing 70, 171 and the CVD processing chamber 20 and the like, there is an advantage that various semiconductor devices can be manufactured and flexibility is high.

【0046】さらに、この実施の形態2の半導体装置の
製造装置は、上記搬送モジュール110の載置室113
が複数のワークWを収納するバッファユニットを有する
ので、第1、第2の搬送ライン51,52の途中でワー
クWを蓄えて、ワークWの搬送速度を要求に応じて調節
することが可能である。
Further, in the semiconductor device manufacturing apparatus according to the second embodiment, the mounting chamber 113 of the transfer module 110 is used.
Has a buffer unit for accommodating a plurality of works W, it is possible to store the works W in the middle of the first and second transfer lines 51, 52 and adjust the transfer speed of the works W as required. is there.

【0047】なお、上記載置室113には、バッファユ
ニットに代えて、図示しないが、ワークを冷却するクー
ラーユニット、あるいは、ワークを予め加熱するヒータ
−ユニット、あるいは、ワークの姿勢を検出して補正す
るアライニングユニットを設けてもよい。
Although not shown in the figure, a cooler unit for cooling the work, a heater unit for preheating the work, or a posture of the work is detected in the placing chamber 113 instead of the buffer unit. An aligning unit for correction may be provided.

【0048】(実施の形態3)図4は実施の形態3の半
導体装置の製造装置の模式図である。図4において、図
3に示す実施の形態2の半導体装置の製造装置の構成要
素と同一構成要素については実施の形態2の構成要素と
同一参照番号を付して詳しい説明は省略する。
(Third Embodiment) FIG. 4 is a schematic view of a semiconductor device manufacturing apparatus according to a third embodiment. 4, the same components as those of the semiconductor device manufacturing apparatus of the second embodiment shown in FIG. 3 are designated by the same reference numerals as those of the second embodiment, and detailed description thereof will be omitted.

【0049】この実施の形態3の半導体装置の製造装置
では、第1の搬送ライン61を、略T字型に配置した搬
送モジュール10,110,110を図示しないフラン
ジおよびコネクターで分離可能に機械的かつ電気的に連
結して構成し、また、第2の搬送ライン62を、鉤型に
配置した搬送モジュール10,110を図示しないフラ
ンジおよびコネクターで分離可能に機械的かつ電気的に
接続して構成している。
In the semiconductor device manufacturing apparatus according to the third embodiment, the first transport line 61 is mechanically configured so that the transport modules 10, 110 and 110 arranged in a substantially T shape can be separated by a flange and a connector (not shown). In addition, the second transfer line 62 is configured by mechanically and electrically connecting the second transfer line 62 so that the transfer modules 10 and 110 arranged in a hook shape can be separated by a flange and a connector (not shown). is doing.

【0050】上記第1の搬送ライン61に並列に第1の
バックアップライン261を連結している。この第1の
バックアップライン261は、鉤型に配置した搬送モジ
ュール110,110を図示しないフランジおよびコネ
クターで分離可能に機械的かつ電気的に接続して構成し
ている。上記第1の搬送ライン61の搬送モジュール1
10,110と第1のバックアップライン261の搬送
モジュール110,110とで「ロ」字形状の通路を形
成している。また、上記第2の搬送ライン62に並列に
第2のバックアップライン262を連結している。この
第2のバックアップライン262は、鉤型に配置した搬
送モジュール110,110を図示しないフランジおよ
びコネクターで分離可能に機械的かつ電気的に接続して
構成している。上記第2の搬送ライン62の搬送モジュ
ール10,110と第2のバックアップライン262の
搬送モジュール110,110とで「ロ」字形状の通路
を形成している。
A first backup line 261 is connected in parallel with the first transfer line 61. The first backup line 261 is configured by mechanically and electrically connecting the transfer modules 110, 110 arranged in a hook shape so as to be separable by a flange and a connector (not shown). The transfer module 1 of the first transfer line 61
10, 110 and the transfer modules 110, 110 of the first backup line 261 form a “b” -shaped passage. A second backup line 262 is connected in parallel with the second transfer line 62. The second backup line 262 is configured by mechanically and electrically connecting the transfer modules 110, 110 arranged in a hook shape so as to be separable by a flange and a connector (not shown). The transfer modules 10 and 110 of the second transfer line 62 and the transfer modules 110 and 110 of the second backup line 262 form a "square" -shaped passage.

【0051】上記第1のバックアップライン261の搬
送モジュール110と第2のバックアップライン262
の搬送モジュール110とに、図示しない搬送ロボット
を有する中間搬送室170を不等辺5角形の中間搬送室
171,171を介して図示しないフランジおよびコネ
クターで分離可能に機械的かつ電気的に連結している。
The transfer module 110 of the first backup line 261 and the second backup line 262.
An intermediate transfer chamber 170 having a transfer robot (not shown) is mechanically and electrically connected to the transfer module 110 of FIG. 1 through a flange and a connector (not shown) via intermediate transfer chambers 171 and 171 having an isosceles pentagonal shape. There is.

【0052】この実施の形態3の半導体装置の製造装置
は、ワークWを第1の搬送ライン61、中間搬送室17
1,170,171および第2の搬送ライン62におい
て搬送ロボット5で擬似手渡し式で一方向のみに搬送し
て往復動させることなく、フローショップ方式で次々と
順次加工するから、実施の形態2の半導体装置の製造装
置と同様に、生産性が高くて、スループットが高い。
In the semiconductor device manufacturing apparatus according to the third embodiment, the work W is transferred to the first transfer line 61, the intermediate transfer chamber 17 and the intermediate transfer chamber 17.
1, 170, 171 and the second transfer line 62, the transfer robot 5 does not transfer by a pseudo handing method in only one direction and reciprocally moves, and sequentially processes the flow shop method one by one. Like a semiconductor device manufacturing apparatus, it has high productivity and high throughput.

【0053】また、この実施の形態3の半導体装置の製
造装置は、実施の形態2の半導体装置の製造装置と同様
に、搬送モジュール10,110、中間搬送室170,
171およびエッチング処理室、CVD処理室等(図3
を援用)の追加、削除をすることによって、種々の半導
体装置の製造に対応できて、フレキシビリテイが高いと
いう利点を有する。
The semiconductor device manufacturing apparatus according to the third embodiment is similar to the semiconductor device manufacturing apparatus according to the second embodiment in that the transfer modules 10, 110, the intermediate transfer chamber 170,
171, an etching processing chamber, a CVD processing chamber, etc. (see FIG.
By adding and deleting the above), it is possible to manufacture various semiconductor devices, and there is an advantage that flexibility is high.

【0054】さらにまた、この実施の形態3の半導体装
置の製造装置においては、例えば、第1の搬送ライン6
1の最後の搬送モジュール110、図4において上側の
中間搬送室171,170,171、第2の搬送ライン
62の最初の搬送モジュール110、上記中間搬送室1
70に連結されたCVD処理室(図3を援用)等が故障
した場合には、第1のバイパスライン261、図4にお
いて下側の中間搬送室171,170,171、その中
間搬送室170に連結された図示しないCVD処理室、
および、第2のバイパスライン262を経由してワーク
Wを搬送しながら処理できる。したがって、この実施の
形態3の半導体装置の製造装置は、第1の搬送ライン6
1、第2の搬送ライン62、上側の中間搬送室171,
170,171、CVD処理室、検査室(図3を援用)
等が故障しても、ワークWに、上記第1、第2のバック
アップライン261,262、および、その第1、第2
のバックアップライン261,262に連結した中間搬
送室171,170,171,70、CVD処理室(図
示せず)、および、検査室(図示せず)を経由させるこ
とによって、この半導体装置の製造装置を稼動させ続け
ることができる。したがって、この半導体装置の製造装
置は、稼動率が高い。さらに、この実施の形態3の半導
体装置の製造装置は、第1の搬送ライン61の一部と第
1のバックアップライン261とで「ロ」字形状の通路
を形成し、また、第2の搬送ライン62と第2のバック
アップライン262とで「ロ」字形状の通路を形成して
いるので、例えば、図4において上側の中間搬送室17
1,170,171,70、CVD処理室等が故障した
ときには、ワークWに、第1の搬送ライン61、第2の
搬送ライン62の全部、第1、第2のバックアップライ
ン261,262の起立した搬送モジュール110,1
10および下側の中間搬送室171,170,171,
70、CVD処理室等を経由させて、この半導体装置の
製造装置を稼動させ続けることができる。したがって、
この半導体装置の製造装置は、稼動率が高い。また、図
示しないが、バックアップラインに搬送ラインの処理室
と異なる処理室を接続して、搬送ラインのみを経由する
半導体装置とバックアップラインを経由する半導体装置
との異なる種類の半導体装置を並行して製造することが
できる。
Furthermore, in the semiconductor device manufacturing apparatus according to the third embodiment, for example, the first transfer line 6 is used.
1, the last transfer module 110, the upper intermediate transfer chambers 171, 170, 171 in FIG. 4, the first transfer module 110 of the second transfer line 62, the intermediate transfer chamber 1
When the CVD processing chamber (referred to in FIG. 3) connected to 70 fails, the first bypass line 261, the lower intermediate transfer chamber 171, 170, 171 in FIG. A connected CVD processing chamber (not shown),
Further, the work W can be processed while being transported via the second bypass line 262. Therefore, in the semiconductor device manufacturing apparatus according to the third embodiment, the first transfer line 6 is used.
1, the second transfer line 62, the upper intermediate transfer chamber 171,
170, 171, CVD processing room, inspection room (refer to FIG. 3)
Even if the above troubles occur, the work W has the first and second backup lines 261, 262, and the first and second backup lines thereof.
The intermediate transfer chambers 171, 170, 171, 70 connected to the backup lines 261 and 262, the CVD processing chamber (not shown), and the inspection chamber (not shown) are used to manufacture the semiconductor device. Can be kept running. Therefore, the operation rate of this semiconductor device manufacturing apparatus is high. Furthermore, in the semiconductor device manufacturing apparatus according to the third embodiment, a part of the first transfer line 61 and the first backup line 261 form a “b” -shaped passage, and the second transfer line Since the line 62 and the second backup line 262 form a "square" -shaped passage, for example, in FIG.
1, 170, 171, 70, when the CVD processing chamber or the like fails, the work W is erected with all of the first transfer line 61, the second transfer line 62, and the first and second backup lines 261 and 262. Transport module 110,1
10 and lower intermediate transfer chambers 171, 170, 171,
It is possible to continue operating the semiconductor device manufacturing apparatus via the CVD processing chamber 70 and the like. Therefore,
The operation rate of this semiconductor device manufacturing apparatus is high. Further, although not shown, a processing chamber different from the processing chamber of the transfer line is connected to the backup line so that different types of semiconductor devices, that is, a semiconductor device passing only through the transfer line and a semiconductor device passing through the backup line are connected in parallel. It can be manufactured.

【0055】上記実施の形態1,2および3では、搬送
装置として、リンクを関節で連結した関節型の搬送ロボ
ットを用いたが、直交軸式の搬送ロボットを用いてもよ
く、あるいは、搬送ロボットに代えて、例えば、コンベ
ア、昇降装置、揺動アーム等からなる搬送装置を用いて
もよい。
In the above-mentioned first, second and third embodiments, as the transfer device, the articulated transfer robot in which the links are connected by the joints is used, but an orthogonal axis transfer robot may be used, or the transfer robot may be used. Instead of this, for example, a transfer device including a conveyor, a lifting device, a swing arm, and the like may be used.

【0056】また、上記実施の形態1,2および3で
は、搬送ライン1、51,52,61および62に中間
搬送室70,170,171を介して処理室を連結した
が、搬送ラインに直接処理室を分離可能に連結してもよ
い。
In the first, second and third embodiments, the processing chambers are connected to the transfer lines 1, 51, 52, 61 and 62 via the intermediate transfer chambers 70, 170 and 171. The processing chambers may be separably connected.

【0057】また、上記実施の形態3では、第1の搬送
ライン61の一部と第1のバックアップライン261と
で「ロ」字形状の通路を形成し、また、第2の搬送ライ
ン62と第2のバックアップライン262とで「ロ」字
形状の通路を形成するように、第1,第2のバックアッ
プライン261,262を設けたが、バックアップライ
ンはこれに限らず種々の仕方で設けることができる。バ
ックアップラインは、搬送ラインの一部と並列に設けれ
ば、機能することができる。
Further, in the above-described third embodiment, a part of the first transfer line 61 and the first backup line 261 form a “square” -shaped passage, and the second transfer line 62 is connected to the second transfer line 62. Although the first and second backup lines 261 and 262 are provided so as to form a “b” -shaped passage with the second backup line 262, the backup lines are not limited to this and may be provided in various ways. You can The backup line can function if provided in parallel with a part of the transfer line.

【0058】[0058]

【発明の効果】以上より明らかなように、請求項1の発
明の半導体装置の製造装置は、搬送ラインを、搬送モジ
ュールを複数個分離可能に連結して構成し、この搬送ラ
インに複数の処理室を分離可能に連結しているので、半
導体装置の種類に応じて、搬送モジュールおよび処理室
を追加あるいは削除して、要求に応じた搬送ラインを構
成し、要求に応じた順序に処理室を搬送ラインに連結す
ることができ、したがって、種々の半導体装置の製造に
対応できて、極めて高いフレキシビリテイを有する。
As is apparent from the above, in the semiconductor device manufacturing apparatus of the first aspect of the present invention, the transfer line is configured by connecting a plurality of transfer modules so that the transfer module can be separated, and a plurality of processings are performed on the transfer line. Since the chambers are separably connected, a transfer module and a processing chamber can be added or deleted according to the type of semiconductor device to configure a transfer line according to the request, and the processing chambers can be arranged in an order according to the request. It can be connected to a transfer line, and therefore can be used for manufacturing various semiconductor devices, and has extremely high flexibility.

【0059】さらに、請求項1の発明の半導体装置の製
造装置は、上記複数の搬送モジュールからなる搬送ライ
ンに、フローショップ方式でワークを処理するようにワ
ークの加工順序に従って複数の処理室を連結しているの
で、ワークを搬送ラインにおいて往復移動させる必要が
なく、かつ、ワークを次々と順次加工できて長く待機さ
せることがなくて、高いスループットを有する。
Further, in the semiconductor device manufacturing apparatus according to the first aspect of the present invention, a plurality of processing chambers are connected to the transfer line composed of the plurality of transfer modules in accordance with the processing order of the works so as to process the works by the flow shop method. Therefore, it is not necessary to reciprocate the workpieces in the transfer line, and the workpieces can be sequentially machined one after another without waiting for a long time, thus having a high throughput.

【0060】また、請求項2の発明の半導体装置の製造
装置によれば、上記搬送ラインと上記処理室との間に、
搬送装置を有する中間搬送室を設けているので、上記搬
送モジュールの搬送室の搬送装置が、単一の標準寸法で
あっても、中間搬送室の搬送装置を介することによっ
て、処理室にワークを出し入れすることができ、また、
上記処理室に入れることができる搬送装置の材質を特別
な材質にしなければならない制約があっても、上記中間
搬送室の搬送装置の材質をその特別な材質にすることに
よって、上記搬送モジュールの搬送室の搬送装置を標準
的な材質にすることができる。したがって、請求項2の
発明の半導体装置の製造装置は、フレキシビリテイを一
層増大でき、かつ、搬送モジュール、ひいては、搬送ラ
インを安価に製造できる。
Further, according to the semiconductor device manufacturing apparatus of the invention of claim 2, between the transfer line and the processing chamber,
Since the intermediate transfer chamber having the transfer device is provided, even if the transfer device of the transfer chamber of the transfer module has a single standard size, the work is transferred to the processing chamber by the transfer device of the intermediate transfer chamber. Can be taken in and out, and also
Even if there is a constraint that the material of the transfer device that can be placed in the processing chamber must be a special material, the transfer module of the transfer module can be transferred by using the special material of the transfer device of the intermediate transfer chamber. The chamber carrier can be made of standard materials. Therefore, in the semiconductor device manufacturing apparatus according to the second aspect of the present invention, the flexibility can be further increased, and the transfer module, and thus the transfer line, can be manufactured at low cost.

【0061】また、請求項3の発明の半導体装置の製造
装置によれば、搬送モジュールを複数個連結してなると
共に、上記搬送ラインの少なくとも一部と並列になるよ
うに上記搬送ラインに接続されたバックアップライン
と、上記バックアップラインにに連結した処理室を備え
るので、上記搬送ラインやその搬送ラインに連結した処
理室に故障が生じても、上記バックアップライン、およ
び、そのバックアップラインに連結した処理室を経由す
ることによって、この半導体装置の製造装置を稼動させ
続けることができる。したがって、この請求項3の半導
体装置の製造装置は稼動率が高いと言う利点を有する。
また、バックアップラインに搬送ラインの処理室と異な
る処理室を接続して、搬送ラインのみを経由する半導体
装置とバックアップラインを経由する半導体装置との異
なる種類の半導体装置を並行して製造することができ
る。
According to the semiconductor device manufacturing apparatus of the third aspect of the present invention, a plurality of transfer modules are connected and connected to the transfer line in parallel with at least a part of the transfer line. Since the backup line and the processing chamber connected to the backup line are provided, even if a failure occurs in the transfer line or the processing chamber connected to the transfer line, the backup line and the processing connected to the backup line By passing through the chamber, the semiconductor device manufacturing apparatus can be continuously operated. Therefore, the semiconductor device manufacturing apparatus according to the third aspect has an advantage that the operating rate is high.
Further, by connecting a processing chamber different from the processing chamber of the transfer line to the backup line, it is possible to manufacture different types of semiconductor devices in parallel, that is, a semiconductor device passing only the transfer line and a semiconductor device passing the backup line. it can.

【0062】また、請求項4の発明の半導体装置の製造
装置は、搬送装置を有する中間搬送室を有するから、請
求項2の発明の半導体装置の製造装置と同様に、フレキ
シビリテイが高く、かつ、搬送モジュール、ひいては、
搬送ラインを安価に製造できる。
Further, the semiconductor device manufacturing apparatus according to the fourth aspect of the present invention has the intermediate transfer chamber having the transfer apparatus, and therefore has a high flexibility like the semiconductor device manufacturing apparatus according to the second aspect of the present invention. And the transport module, and by extension,
The transfer line can be manufactured at low cost.

【0063】また、請求項5の発明の半導体装置の製造
装置によれば、上記搬送モジュールの水平断面が略矩形
であるから、その搬送モジュールから四方のいずれの方
向にも搬送ラインを延長することが可能である。
Further, according to the semiconductor device manufacturing apparatus of the present invention, since the horizontal cross section of the transfer module is substantially rectangular, the transfer line can be extended from the transfer module in any of the four directions. Is possible.

【0064】また、請求項6の発明の半導体装置の製造
装置によれば、搬送モジュールの少なくとも3側面に機
械的連結手段を、少なくとも2側面に電気的連結手段を
備えているので、他の搬送モジュールや処理室や中間搬
送室等を機械的かつ電気的に簡単に連結することができ
る。
According to the semiconductor device manufacturing apparatus of the sixth aspect of the present invention, since at least three side surfaces of the transfer module are provided with mechanical connecting means and at least two side surfaces thereof are provided with electrical connecting means, another transfer apparatus is provided. Modules, processing chambers, intermediate transfer chambers, etc. can be mechanically and electrically connected easily.

【0065】また、請求項7の発明の半導体装置の製造
装置は、搬送モジュールの載置室に、複数のワークを収
納するバッファユニット、ワークを冷却するクーラーユ
ニット、または、ワークを加熱するヒーターユニット、
または、ワークの姿勢を補正するアライニングユニット
のいずれかを含むので、バッファユニットで複数のワー
クを収納し、あるいは、クーラーユニットでワークを冷
却し、あるいは、ヒーターユニットでワークを加熱し、
アライニングユニットでワークを補正することができ
る。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a semiconductor device manufacturing apparatus in which a buffer unit for accommodating a plurality of works, a cooler unit for cooling the works, or a heater unit for heating the works is installed in a mounting chamber of the transfer module. ,
Or, since it includes one of the aligning units for correcting the posture of the work, the buffer unit stores a plurality of works, or the cooler unit cools the works, or the heater unit heats the works.
Work can be corrected with the aligning unit.

【0066】また、請求項8の発明の半導体装置の製造
装置によれば、搬送装置は、2つのアームを有するダブ
ルアーム式の搬送ロボットであるので、2つのアーム
で、ワークの前段からの引き受けと後段への引き渡し、
あるいは、ワークの処理室等への挿入と取り出しを同時
にでき、したがって、多くのワークを迅速に搬送でき
る。
According to the semiconductor device manufacturing apparatus of the eighth aspect of the invention, since the transfer device is a double-arm transfer robot having two arms, the two arms can receive the work from the preceding stage. And handing over to the latter stage,
Alternatively, it is possible to insert and take out workpieces at the same time to the processing chamber and the like, and therefore, many workpieces can be transported quickly.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 この発明の実施の形態1の半導体装置の製造
装置の模式図である。
FIG. 1 is a schematic diagram of a semiconductor device manufacturing apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 図1の半導体装置の製造装置の一部の拡大図
である。
FIG. 2 is an enlarged view of part of the semiconductor device manufacturing apparatus of FIG.

【図3】 この発明の実施の形態2の半導体装置の製造
装置の模式図である。
FIG. 3 is a schematic diagram of a semiconductor device manufacturing apparatus according to a second embodiment of the present invention.

【図4】 この発明の実施の形態3の半導体装置の製造
装置の模式図である。
FIG. 4 is a schematic diagram of a semiconductor device manufacturing apparatus according to a third embodiment of the present invention.

【図5】 従来の半導体装置の製造装置の模式図であ
る。
FIG. 5 is a schematic view of a conventional semiconductor device manufacturing apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、51,52,61,62 搬送ライン 2 搬送室 3,113 載置室 5 搬送ロボット 10,110 搬送モジュール 11 アーム 12 載置台 15,16 フランジ 20 CVD処理室 30 リソグラフィ処理室 40 エッチング処理室 50 洗浄処理室 60 PVD処理室 70,170,171 中間搬送室 80 検査室 261,262 バックアップライン W ワーク 1, 51, 52, 61, 62 Transport line 2 transfer room 3,113 Placement room 5 Transport robot 10,110 transfer module 11 arms 12 mounting table 15, 16 flange 20 CVD processing chamber 30 Lithography processing room 40 Etching chamber 50 Cleaning process room 60 PVD processing room 70,170,171 Intermediate transfer chamber 80 inspection room 261,262 backup line W work

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 搬送装置(5)を有する搬送室(2)と
ワーク(W)を載置する載置室(3,113)とからな
る搬送モジュール(10,110)を複数個分離可能に
連結してなる搬送ライン(1,51,52,61,6
2)と、 上記搬送ライン(1,51,52,61,62)に分離
可能に連結した複数の処理室(20,30,40,5
0,60,80)とを備えてフローショップ方式でワー
ク(W)を処理することを特徴とする半導体装置の製造
装置。
1. A plurality of transfer modules (10, 110) each comprising a transfer chamber (2) having a transfer device (5) and a mounting chamber (3, 113) for mounting a work (W) are separable. Conveying line (1, 51, 52, 61, 6)
2) and a plurality of processing chambers (20, 30, 40, 5) that are separably connected to the transfer line (1, 51, 52, 61, 62).
0, 60, 80) and processing a work (W) by a flow shop method.
【請求項2】 請求項1に記載の半導体装置の製造装置
において、 上記搬送ライン(1,51,52,61,62)と上記
処理室(20,30,40,50,60,80)との間
に、搬送装置(5)を有する中間搬送室(70,17
0)を連結したことを特徴とする半導体装置の製造装
置。
2. The semiconductor device manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the transfer line (1, 51, 52, 61, 62) and the processing chamber (20, 30, 40, 50, 60, 80) Between the intermediate transfer chambers (70, 17) having the transfer device (5).
0) is connected to the semiconductor device manufacturing apparatus.
【請求項3】 請求項1または2に記載の半導体装置の
製造装置において、 上記搬送モジュール(10,110)を複数個連結して
なると共に、上記搬送ライン(61,62)の少なくと
も一部と並列になるように上記搬送ライン(61,6
2)に接続されたバックアップライン(261,26
2)を備え、 上記バックアップライン(261,262)に処理室
(20,80)を連結したことを特徴とする半導体装置
の製造装置。
3. The semiconductor device manufacturing apparatus according to claim 1, wherein a plurality of the transfer modules (10, 110) are connected to each other, and at least a part of the transfer lines (61, 62). The transfer lines (61, 6) are arranged in parallel.
Backup line (261, 26) connected to 2)
2), and a processing chamber (20, 80) is connected to the backup line (261, 262).
【請求項4】 請求項1乃至3のいずれか1つに記載の
半導体装置の製造装置において、 上記バックアップライン(261,262)と上記処理
室(20,80)との間に、搬送装置(5)を有する中
間搬送室(70,170)を連結したことを特徴とする
半導体装置の製造装置。
4. The semiconductor device manufacturing apparatus according to claim 1, further comprising a transfer device between the backup line (261, 262) and the processing chamber (20, 80). 5) An apparatus for manufacturing a semiconductor device, characterized in that an intermediate transfer chamber (70, 170) having the above 5) is connected.
【請求項5】 請求項1乃至4のいずれか1つに記載の
半導体装置の製造装置において、 上記複数の搬送モジュール(10,110)は、水平断
面が略矩形であることを特徴とする半導体装置の製造装
置。
5. The semiconductor device manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the plurality of transfer modules (10, 110) have a substantially rectangular horizontal cross section. Equipment manufacturing equipment.
【請求項6】 請求項5に記載の半導体装置の製造装置
において、上記搬送モジュール(10,110)の少な
くとも3側面に機械的連結手段( 15)を、少なくとも2側面に電気的連結手段を備えて
いて、上記複数の搬送モジュール(10,110)は機
械的かつ電気的に連結されていることを特徴とする半導
体装置の製造装置。
6. The apparatus for manufacturing a semiconductor device according to claim 5, wherein at least three side surfaces of the transfer module (10, 110) are provided with mechanical connection means (15) and at least two side surfaces thereof are provided with electrical connection means. The plurality of transfer modules (10, 110) are mechanically and electrically connected to each other, and the semiconductor device manufacturing apparatus is characterized.
【請求項7】 請求項1乃至6のいずれか1つに記載の
半導体装置の製造装置において、 上記搬送モジュール(10,110)の載置室(3,1
13)は、複数のワーク(W)を収納するバッファユニ
ット、ワーク(W)を冷却するクーラーユニット、また
は、ワーク(W)を加熱するヒーターユニット、また
は、ワーク(W)の姿勢を検出し補正するアライニング
ユニットのいずれかを含むことを特徴とする半導体装置
の製造装置。
7. The semiconductor device manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the mounting chamber (3, 1) of the transfer module (10, 110).
13) is a buffer unit that stores a plurality of works (W), a cooler unit that cools the works (W), a heater unit that heats the works (W), or a posture of the works (W) is detected and corrected. Which includes any of the aligning units described above.
【請求項8】 請求項1乃至7のいずれか1つに記載の
半導体装置の製造装置において、 上記搬送モジュール(10,110)の搬送室(2)の
搬送装置(5)または中間搬送室(70,170)の搬
送装置(5)の少なくとも一方は、2つのアームを有す
るダブルアーム式の搬送ロボット(5)であることを特
徴とする半導体装置の製造装置。
8. The semiconductor device manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the transfer device (5) or the intermediate transfer chamber (5) of the transfer chamber (2) of the transfer module (10, 110). 70, 170), at least one of the transfer devices (5) is a double-arm transfer robot (5) having two arms.
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