JP2003136368A

JP2003136368A - 旋削加工システム

Info

Publication number: JP2003136368A
Application number: JP2001332344A
Authority: JP
Inventors: Seiji Beppu; 征二別府; Ken Fujita; 藤田　　憲; Toshiyuki Kinugasa; 利行衣笠; Hisashi Kano; 尚志金生; Takanobu Yamada; 孝信山田; Masakazu Kaneoka; 正和金岡
Original assignee: Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Current assignee: Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority date: 2001-10-30
Filing date: 2001-10-30
Publication date: 2003-05-14

Abstract

(57)【要約】【課題】旋削加工において、精度よく被加工物を旋削
加工する。【解決手段】被加工物２１はＮＣ旋盤部１１によって
所定の形状に旋削加工される。旋削加工の都度、レーザ
センサ１２（発光部）によって被加工物に対してレーザ
光が発光され、レーザセンサコントローラ１３はレーザ
センサ（受光部）で受光された受光光に応じて被加工物
の外形寸法計測値を求める。パソコン１４では、外形寸
法計測値を少なくとも被加工物に付着した油膜に応じて
規定された油膜補正値で補正して補正後旋削指令値を生
成して、この補正後旋削指令値に応じてＮＣ旋盤部１１
を制御して被加工物を旋削加工する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、被加工物を旋削加
工する際に用いられるシステムに関し、特に、ＮＣ（数
値制御）旋削加工を行う際、旋削状況に応じて加工条件
を補正して被加工物を旋削加工するためのシステムに関
する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、旋削加工（例えば、ＮＣ旋削加
工）を行う際には、複数の工程に分けて被加工物を旋削
加工しており、例えば、試し削り、粗加工（疎加工）、
中加工、及び仕上げ加工の順に被加工物を旋削加工して
いる。旋削加工の際には、被加工物に対して種々の外的
要因（外乱）が作用する結果、予め設定した加工条件に
応じて被加工物を旋削加工しても、その加工精度が所望
の精度とならないことが多い。このため、各工程が終了
する都度その旋削精度を計測して、計測結果に応じて加
工条件を補正するようにしている。

【０００３】従来、旋削精度を計測する際には、例え
ば、オペレータ等がマイクロメーター等を用いて各工程
が終了する都度、被加工物の旋削加工形状（加工精度）
を計測して、その計測結果に応じて加工条件等を補正す
るようにしている。

【０００４】さらに、各工程が終了する都度、被加工物
の外形寸法（旋削加工形状）を自動的に計測して、この
計測結果に応じて、例えば、ＮＣ旋削機制御部が被加工
物の加工条件を補正して、被加工物を補正後の加工条件
に基づいて旋削加工することも行われている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述のよう
にして、被加工物の加工精度を計測して、その計測結果
に応じて加工条件を補正しても、計測精度がよくない
と、結果的に補正後の加工条件に悪影響を及ぼすことな
る。

【０００６】例えば、前述のように、オペレータ等がマ
イクロメーター等を用いて旋削形状を計測した際には、
不可避的に計測精度にバラツキが生じてしまい、所望の
計測精度を得ることが難しい。しかも、旋削形状を精度
よく計測するには熟練が必要となる。

【０００７】さらに、被加工物の旋削加工形状を計測す
る際には、外乱として、被加工物の温度、表面粗さの程
度、及び被加工物に付着した油膜等があり、このような
外乱を考慮して旋削加工形状を計測しないと、加工条件
を精度よく補正することができず、この結果、被加工物
を所定の旋削加工形状に加工することが困難となってし
まう。

【０００８】例えば、図面精度±２．５μｍの旋削加工
精度を確保するためには、±２５μｍ程度の計測精度が
必要となる。従って、前述の外乱が計測精度に与える影
響を無視することはできない。

【０００９】このような外乱を考慮して、従来の旋削加
工システムにおいては、被加工物を所望の旋削加工精度
で加工する際には、熟練オペレータ等が旋削加工形状を
計測して、この計測結果に応じて加工条件を補正しなけ
ればならず、不可避的に、旋削加工時間が長くなって、
加工コストがアップしてしまうという課題がある。

【００１０】本発明の目的は、精度よく被加工物を旋削
加工することのできる旋削加工システムを提供すること
にある。

【００１１】本発明の他の目的は加工コストが低減でき
る旋削加工システムを提供することにある。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本発明によれば、被加工
物を旋削加工する際に用いられる旋削加工システムであ
って、前記被加工物を旋削加工する都度前記被加工物の
外形寸法を計測して計測値を求める計測手段と、前記計
測値を少なくとも前記被加工物に付着した油膜に応じて
規定された油膜補正値で補正して補正後旋削指令値を生
成する指令値生成手段とを有し、前記補正後旋削指令値
に応じて前記被加工物を旋削するようにしたことを特徴
とする旋削加工システムが得られる。

【００１３】このようにして、少なくとも油膜に応じた
油膜補正値に基づいて外形寸法計測値を補正するように
したから、精度よく被加工物の外形寸法を求めることが
できる。さらに、このようにして補正された外形寸法に
応じて補正後旋削指令値を生成するようにしたから、精
度よく被加工物を旋削加工することができる。

【００１４】例えば、前記計測手段は、レーザ光を出射
する発光部と前記レーザ光を受光光として受光する受光
部とを備えるレーザセンサと、前記レーザ光の一部が前
記被加工物で遮られて前記受光部で前記受光光として受
光された際前記レーザ光の幅と前記受光光の幅とに基づ
いて前記計測値を求めるコントローラとを有している。

【００１５】さらに、前記被加工物の表面温度を計測し
て計測表面温度を得る温度センサを備えて、前記指令値
生成手段が前記計測表面温度と前記被加工物の線膨張率
とに基づいて求められた温度補正値で前記計測値を補正
して前記補正後旋削指令値を生成するようにしてもよ
い。

【００１６】このようにすれば、旋削加工によって被加
工物の表面温度が上昇することによる誤差を補正するこ
とができ、より精度よく被加工物を旋削加工することが
できる。

【００１７】例えば、前記温度補正値は前記計測値−
（前記計測表面温度＋室温）／前記線膨張率で求められ
る。

【００１８】また、前記指令値生成手段が前記被加工物
の表面粗さに応じて設定された表面粗さ補正値に応じて
前記計測値を補正して前記補正後旋削指令値を生成する
ようにしてもよい。

【００１９】このようにして、表面粗さ補正値で外形寸
法計測値を補正すれば、表面粗さに起因する計測誤差を
補正することができ、さらに精度よく被加工物を旋削加
工することができる。

【００２０】例えば、前記表面粗さ補正値は前記被加工
物の送り量をｆ（ｍｍ／１回転）、旋削工具の刃先の半
径をｒとした際、ｆ^２／８ｒで求められる理論粗さであ
り、前記指令値生成手段は前記理論粗さを前記計測値に
加算して前記計測値を補正する。

【００２１】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の好
適な実施例を例示的に詳しく説明する。但しこの実施例
に記載されている構成部品の寸法、材質、形状、その相
対的配置等は特に特定的な記載がない限りは、この発明
の範囲をそれに限定する趣旨ではなく、単なる説明例に
過ぎない。なお、以下の説明では、被加工物を円柱形状
に旋削加工する例をあげて説明するが、円柱形状に旋削
加工する場合に限らず、被加工物をその断面が対象とな
るように旋削加工する場合にも適用することができる。

【００２２】図１を参照して、図示の旋削加工システム
は、ＮＣ旋盤部１１、レーザセンサ（レーザスリットセ
ンサ）１２、レーザセンサコントローラ１３、及びパソ
コン（ＮＣ旋盤制御部）１４を備えており、後述するよ
うにして、ＮＣ旋盤部１１ではパソコン１４から与えら
れる加工条件指令値に応じて被加工物２１を旋削加工し
て、例えば、円柱状の加工物とする（旋削加工の際に
は、粗加工（疎加工）、中加工、及び仕上げ加工の各工
程順に旋削加工が行われる）。パソコン１４には、予め
加工条件（設定加工条件）が設定されており、パソコン
１４は設定加工条件に基づいてＮＣ旋盤部１１に加工条
件指令値を送出して旋削加工を行う。そして、この設定
加工条件は、後述するようにして、計測された補正値に
よって補正される。

【００２３】被加工物２１を旋削加工する際には、例え
ば、各工程が終了する都度、被加工物２１の加工精度が
計測される。図示の例では、レーザセンサ１２を用いて
被加工物２１の加工精度（加工形状）が計測される。

【００２４】図２を参照して、図示の例では、旋削加工
システムは第１及び第２のレーザセンサ１２ａ及び１２
ｂを有しており、第１及び第２のレーザセンサ１２ａ及
び１２ｂはそれぞれ発光部１１１及び１１２と受光部１
２１及び１２２を有している。発光部１１１及び１１２
は第１のセンサ移動機構（図示せず）に搭載されてお
り、図中、実線矢印で示す方向に、発光部１１１及び１
１２は第１のセンサ移動機構によって移動される。同様
にして、受光部１２１及び１２２は第２のセンサ移動機
構（図示せず）に搭載されており、受光部１２１及び１
２２は発光部１１１及び１１２と同期して第２のセンサ
移動機構によって移動される。

【００２５】ＮＣ旋盤部１１のバイト１１ａによって被
加工物２１を旋削して、一工程が終了すると、被加工物
２１の外形寸法（外径）が計測される。被加工物２１の
外形寸法を計測する際には、レーザコントローラ１３に
よって発光部１１１及び１１２が駆動されて、発光部１
１１及び１１２からの光（レーザ光）をそれぞれ受光部
１２１及び１２２で受光する。受光部１２１及び１２２
は受光光をそれぞれ第１及び第２の受光光としてレーザ
コントローラ１３に与える。そして、レーザコントロー
ラ１３では、第１及び第２の受光光に基づいて、後述す
るようにして、被加工物２１の外形寸法（外径）を求め
る。この計測外径はパソコン１４に与えられ、パソコン
１４では、計測外径に基づいて設定加工条件を補正し
て、補正後の設定加工条件に基づいてＮＣ旋盤部１１を
制御することになる。

【００２６】上述のようにして、レーザセンサ１２ａ及
び１２ｂで計測された外形寸法（計測結果）に基づい
て、パソコン１４は設定加工条件を補正するが、この
際、被加工物２１の温度、表面粗さによる誤差、及び被
加工物に付着した油膜等の外乱を考慮して設定加工条件
の補正が行われる。

【００２７】旋削加工を行うと、不可避的に、被加工物
２１の表面温度が上昇する。この際、被加工物２１の中
心付近の温度は表面温度とは異なっている（中心付近の
温度の方が一般的に低い）。被加工物２１の表面温度を
計測するため、図２に示すように、被加工物２１の近傍
には温度センサ（例えば、赤外線センサ）２２が配置さ
れている。温度センサ２２で計測された被加工物２１の
表面温度（計測表面温度）はパソコン１４に与えられ、
パソコン１４は計測表面温度に応じて外形寸法を室温
（例えば、２０℃）における外形寸法に補正する。

【００２８】いま、被加工物２１の材質がステンレス鋼
（ＳＵＳ３０４）であるとし、外径がφ６０〜φ３４０
であるとすると、ステンレス鋼の熱伝導率（１００℃）
は１６．３（Ｗ／ｍ・℃）、線膨張率（０〜１００℃）
は１７．３（１０^−６・℃⁻ ^１）であるから、外径（計
測表面温度）−中心（室温：計測値）間を、例えば、直
線補間した温度分布として温度補正値を求める。簡便な
手法としては、｛計測表面温度＋中心温度（室温：計測
値）｝／２＝平均温度として温度補正値を求めるように
してもよい。ここでは、平均温度に基づいて温度補正値
を求めることにすると、温度補正値＝計測外径−｛計測
表面温度＋中心温度（室温：計測値）｝／２・１７．３
・１０^−６となる。

【００２９】さらに、被加工物２１の表面状態による計
測誤差補正を行う。レーザセンサで計測した計測値（外
径）は、マイクロメーターで計測した値よりも小さく現
れる傾向がある。このことは、旋削（切削）後の被加工
物２１の表面粗さに起因している。いま、被加工物２１
の送りをｆ（ｍｍ／１回転）で表し、刃先の半径をｒ
（ｍｍ）で表すと、理論粗さＲｍａｘ＝ｆ^２／８ｒで表
される。そして、実際の粗さと理論粗さとの比を求める
と（実際の粗さ／理論粗さ）、約２倍となる。よって、
レーザセンサで計測された計測値（外径）に理論粗さを
加えて計測誤差補正を行うことになる。

【００３０】また、旋削加工においては、不可避的に切
削油が被加工物２１に付着する。このため、切削油付着
による計測誤差を補正する必要がある。一般に、被加工
物２１の外径寸法を計測する際には、油膜を最小限にす
るために、被加工物２１に対してエアーブローが行われ
る。エアーブロー圧力と油膜が最小限となる時間との関
係は、切削油の種類によって異なり、切削油の種類毎
に、エアーブロー圧力と油膜が最小限となる時間が予め
試験的に求められている。そして、切削試験を複数回行
って除去されなかった油膜に関する補正値値を切削油の
種類毎に求めておく。

【００３１】図３を参照すると、いま、被加工物の加工
面がドライであると、マイクロメーターで計測した計測
値（外形寸法）を基準計測値とすると、レーザセンサで
計測した計測値は基準計測値よりも小さくなるがドライ
よりも若干大きくなる（図３（ａ））。同様に、被加工
物の加工面が水溶性物で覆われていると、レーザセンサ
で計測した計測値は基準計測値よりも小さくなる（図３
（ｂ））。一方、被加工物の加工面が油性物（例えば、
油性切削油）で覆われていると、レーザセンサで計測し
た計測値は基準計測値よりも大きくなる（図３
（ｂ））。このように、被加工物の加工面が切削油で覆
われていると、レーザセンサで計測した計測値は基準計
測値よりも大きくなるから、切削試験を複数回行って、
マイクロメーターによって計測した計測値とレーザセン
サで計測した計測値との誤差を求めて、例えば、その平
均値を油膜補正値とする。

【００３２】ここで、図２及び図４を参照して、いま、
粗加工（疎加工）、中加工、及び仕上げ加工の各工程順
に被加工物２１を旋削加工するとすると、パソコン１４
には各工程毎に加工条件が設定されており（例えば、粗
加工条件、中加工条件、仕上げ加工条件）、各加工条件
には加工後の外形寸法が含まれている。なお、各工程は
さらに複数のステップに区分されるかもしれない。

【００３３】まず、粗加工が開始されると（Ｓ１）、パ
ソコン１４では粗加工条件に応じてＮＣ旋盤部１１を制
御して被加工物２１を旋削する。粗加工が一旦終了とす
ると（Ｓ２）、第１及び第２の移動機構によってレーザ
センサ１２ａ及び１２ｂが所定の位置に移動されて、粗
加工後の被加工物（以下粗加工物と呼ぶ）２１の外形寸
法が計測される（Ｓ３）。

【００３４】ここで、図５を参照して、いま、発光部１
１１及び発光部１１２から出射されたレーザ光の幅を
Ａ、発光部１１１及び１１２間のストローク（発光部１
１１から出射されるレーザ光の下側（又は上側）と発光
部１１２から出射されるレーザ光の下側（又は上側）と
の間隔）をＬ、受光部１２１で受光された受光光（第１
の受光光）の幅をＡ１、受光部１２２で受光された受光
光（第１の受光光）の幅をＡ２とすると、計測外形寸法
ＤｍはＤｍ＝（Ａ−Ａ１）＋（Ａ−Ａ２）＋（Ｌ−Ａ）
＝Ｌ＋Ａ−（Ａ１＋Ａ２）となる。

【００３５】再び、図２及び図４を参照して、上述のよ
うにして、レーザコントローラ１３では、計測外形寸法
Ｄｍを計測して、計測外形寸法Ｄｍをパソコン１４に与
える。パソコン１４では計測外形寸法Ｄｍに応じて補正
後粗加工指令値Ｄｈを生成する（Ｓ４）。

【００３６】いま、パソコン１４に設定された粗加工条
件中の設定外形寸法（設定粗外形寸法）をＤ０とする
と、パソコン１４は、補正後粗加工指令値Ｄｈ＝（Ｄｍ
−（Ｄ０×α×（ｔ−室温）−Ｂ１−Ｂ２−Ｂ３−Ｄ
０）×βとして、補正後粗加工指令値Ｄｈを求める。こ
こで、αは線膨張率であり、例えば、ＳＵＳ３０４の場
合には、線膨張率α１＝１７．３×１０^−６が与えら
れ、ＳＳ４００の場合には、線膨張率α２＝１１．７×
１０^−６が与えられる。ｔは温度センサ２２で計測され
た計測表面温度であり、室温としては、例えば、２０℃
が設定される。Ｂ１は前述した油膜補正値であり、Ｂ２
はレーザセンサ１２ａ及び１２ｂの位置決め補正値であ
る（前述のように、外形寸法を計測する際には、レーザ
センサ１２ａ及び１２ｂが移動される関係上、計測の都
度レーザセンサ１２ａ及び１２ｂの位置がずれることが
ある。従って、複数回の試験的旋削を行って位置ずれ誤
差を平均してこの平均値を位置決め補正値（初期誤差補
正値）とする）。Ｂ３はその他の補正値（誤差）であ
り、必要に応じて設定される。また、βは係数であり、
設定粗加工指令値（設定粗加工外形寸法）が直径寸法を
表している際には、β＝１．０、設定粗加工指令値が半
径寸法を表している際には、β＝０．５とする。なお、
前述の表面粗さによる計測誤差補正値は、設定粗外形寸
法（設定粗加工指令値）Ｄ０に含まれている。

【００３７】上述のようにして、補正後粗加工指令値Ｄ
ｈを求めた後、パソコン１４は補正後粗加工指令値Ｄｈ
＞許容値であると（Ｓ５：必ず補正後粗加工指令値Ｄｈ
≧０である。つまり、補正後粗加工指令値Ｄｈ＜０とな
ることはない）、パソコン１４は補正後粗加工指令値Ｄ
ｈに基づいてＮＣ旋盤部１１を制御して再び粗加工を実
行する（Ｓ１を実行する）。そして、粗加工が終了する
と、前述のようにして、被加工物２１の外形寸法が計測
されて、再びパソコン１２では計測外形寸法に基づいて
補正後粗加工指令値を求める。そして、補正後粗加工指
令値Ｄｈ＞許容値であれば、再びＳ１に戻る。一方、補
正後粗加工指令値Ｄｈが許容値以下であれば、中加工に
進む（Ｓ６）。

【００３８】中加工においても、粗加工と同様にして、
中加工が終了すると（Ｓ７）、外形寸法が計測されて、
補正後中加工指令値が求められる（この際には、設定中
加工指令値が用いられる：Ｓ８）。そして、補正後中加
工指令値が許容値以下となるまで、粗加工と同様にして
中加工が行われることになる。補正後中加工指令値が許
容値以下となると（Ｓ９）、仕上げ加工に進む（Ｓ１
０）。

【００３９】仕上げ加工においても、粗加工と同様にし
て、仕上げ加工が終了すると（Ｓ１１）、外形寸法が計
測されて、補正後仕上げ加工指令値が求められる（この
際には、設定仕上げ加工指令値が用いられる：Ｓ１
２）。そして、補正後仕上げ加工指令値が許容値以下と
なるまで、粗加工と同様にして仕上げ加工が行われるこ
とになる。補正後仕上げ加工指令値が許容値以下となる
と（Ｓ１３）、旋削加工が終了する。

【００４０】このようにして、被加工物の外形寸法を計
測して、この計測外形寸法を表面温度補正値、表面粗さ
補正値、及び油膜補正値で補正するようにしたから、被
加工物の外形寸法を精度よく求めることができ、この結
果、被加工物を精度よく旋削加工することができるばか
りでなく、加工コストを低減することができることにな
る。

【００４１】上述の例では、レーザセンサの位置決め補
正値も用いているがこの補正値は必ずしも必要なく、例
えば、レーザセンサを固定しておけば、この補正値は不
要となる。また、表面温度補正値、表面粗さ補正値、及
び油膜補正値のうち計測誤差に最も寄与するのは油膜補
正値であり、油膜補正値を用いて計測外形寸法を補正す
るようにすれば、精度の高い外形寸法を求めることがで
きる。

【００４２】さらに、上述の例では、１対のレーザセン
サを配置して、被加工物２１の外形を計測するようにし
たが、レーザセンサは一つでもよい。この際には、発光
部及び受光部を同期させて被加工物の径方向に移動させ
て、第１の位置で前述のＡ１を計測して、第２の位置で
前述のＡ２を計測して、第１の位置と第２の位置とのス
トロークをＬとして、外形寸法を求めるようにすればよ
い。

【００４３】また、被加工物２１の径がレーザ光（出射
光）の幅よりも小さければ、一つのレーザセンサを用い
て、レーザセンサを移動させることなく、外形寸法を計
測することができる。つまり、被加工物２１で遮られた
レーザ光の幅が外形寸法となる。

【００４４】なお、上述の例では、工程が終了する都
度、補正後加工指令値を生成するようにしたが、被加工
物を旋削加工しつつ加工指令値を補正後して旋削加工を
実施するようにしてもよい。

【００４５】

【発明の効果】以上説明したように、本発明では、被加
工物を旋削加工する都度、被加工物の外形寸法を計測し
て、計測値を少なくとも被加工物に付着した油膜に応じ
て規定された油膜補正値で補正して補正後旋削指令値を
生成し、補正後旋削指令値に応じて被加工物を旋削する
ようにしたから、精度よく被加工物の外形寸法を求める
ことができるという効果がある。さらに、このようにし
た補正された外形寸法に応じて補正後旋削指令値を生成
するようにしたから、精度よく被加工物を旋削加工する
ことができるという効果がある。そして、被加工物を精
度よく旋削加工できる結果、加工コストも低減できると
いう効果がある。

【００４６】さらに、本発明では、被加工物の計測表面
温度と被加工物の線膨張率とに基づいて求められた温度
補正値で外形寸法計測値を補正して補正後旋削指令値を
生成するようにしたから、旋削加工によって被加工物の
表面温度が上昇することよる誤差を補正することがで
き、より精度よく被加工物を旋削加工することができる
という効果がある。

【００４７】また、本発明では、被加工物の表面粗さに
応じて設定された表面粗さ補正値に応じて外形寸法計測
値を補正して補正後旋削指令値を生成するようにしたか
ら、表面粗さに起因する計測誤差を補正することがで
き、さらに精度よく被加工物を旋削加工することができ
るという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による旋削加工システムの一例を示す
ブロック図である。

【図２】図１に示す旋削加工システムの一部を拡大し
て示す図である。

【図３】マイクロメーターによる計測値とレーザセン
サによる計測値との誤差を説明するための図であり、
（ａ）は加工面がドライである状態を示す図、（ｂ）は
加工面が水溶性物質で覆われた状態を示す図、（ｃ）は
加工面が油性物質で覆われた状態を示す図である。

【図４】図１に示す旋削加工システムの動作の一例を
説明するためのフローチャートである。

【図５】被加工物の外形寸法を計測する手法の一例を
説明するための図である。

【符号の説明】

１１ＮＣ旋盤部１１ａバイト１２，１２ａ，１２ｂレーザセンサ（レーザスリット
センサ）１１１，１１２発光部１２１，１２２受光部１３レーザセンサコントローラ１４パソコン（ＮＣ旋盤制御部）２１被加工物２２温度センサ（赤外線センサ）

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号ＦＩテーマコート゛(参考） // Ｂ２３Ｂ 1/00 Ｂ２３Ｂ 1/00 Ｎ (72)発明者衣笠利行兵庫県高砂市荒井町新浜２丁目１番１号三菱重工業株式会社高砂研究所内 (72)発明者金生尚志神戸市兵庫区和田崎町一丁目１番１号三菱重工業株式会社神戸造船所内 (72)発明者山田孝信神戸市兵庫区和田崎町一丁目１番１号三菱重工業株式会社神戸造船所内 (72)発明者金岡正和神戸市兵庫区和田崎町一丁目１番１号三菱重工業株式会社神戸造船所内Ｆターム(参考） 3C001 KA05 KA08 KB01 TA03 TB03 TB10 TC05 3C029 AA40 BB03 3C045 HA05

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】被加工物を旋削加工する際に用いられる
旋削加工システムであって、前記被加工物を旋削加工す
る都度前記被加工物の外形寸法を計測して計測値を求め
る計測手段と、前記計測値を少なくとも前記被加工物に
付着した油膜に応じて規定された油膜補正値で補正して
補正後旋削指令値を生成する指令値生成手段とを有し、
前記補正後旋削指令値に応じて前記被加工物を旋削する
ようにしたことを特徴とする旋削加工システム。
【請求項２】前記計測手段は、レーザ光を出射する発
光部と前記レーザ光を受光光として受光する受光部とを
備えるレーザセンサと、前記レーザ光の一部が前記被加
工物で遮られて前記受光部で前記受光光として受光され
た際、前記レーザ光の幅と前記受光光の幅とに基づいて
前記計測値を求めるコントローラとを有することを特徴
とする請求項１に記載の旋削加工システム。
【請求項３】さらに前記被加工物の表面温度を計測し
て計測表面温度を得る温度センサを有し、前記指令値生
成手段は前記計測表面温度と前記被加工物の線膨張率と
に基づいて求められた温度補正値で前記計測値を補正し
て前記補正後旋削指令値を生成するようにしたことを特
徴とする請求項１に記載の旋削加工システム。
【請求項４】前記温度補正値は前記計測値−（前記計
測表面温度＋室温）／前記線膨張率で求められることを
特徴とする請求項３に記載の旋削加工システム。
【請求項５】前記指令値生成手段は前記被加工物の表
面粗さに応じて設定された表面粗さ補正値に応じて前記
計測値を補正して前記補正後旋削指令値を生成するよう
にしたことを特徴とする請求項３に記載の旋削加工シス
テム。
【請求項６】前記表面粗さ補正値は前記被加工物の送
り量をｆ（ｍｍ／１回転）、旋削工具の刃先の半径をｒ
とした際、ｆ^２／８ｒで求められる理論粗さであり、前
記指令値生成手段は前記理論粗さを前記計測値に加算し
て前記計測値を補正するようにしたことを特徴とする請
求項５に記載の旋削加工システム。