JP2003133741A - Multilayered printed wiring board having filled-via structure - Google Patents

Multilayered printed wiring board having filled-via structure

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JP2003133741A
JP2003133741A JP2002312620A JP2002312620A JP2003133741A JP 2003133741 A JP2003133741 A JP 2003133741A JP 2002312620 A JP2002312620 A JP 2002312620A JP 2002312620 A JP2002312620 A JP 2002312620A JP 2003133741 A JP2003133741 A JP 2003133741A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a buildup multilayered printed wiring board that has a filled-via structure and is excellent in surface smoothness and connection reliability. SOLUTION: This multilayered printed wiring board is constituted by alternately laminating conductor circuits and interlayer resin insulating layers upon another. The insulating layers have openings. In each opening, a via hole which is filled up with a plated material and has a flat surface is formed so that the surface of the hole is flushed with that of the conductor circuit positioned in the same layer.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、微細パターンを形
成できるフィルドビア構造を有し、表面平滑性および接
続信頼性に優れるビルドアップ多層プリント配線板につ
いて提案する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention proposes a build-up multilayer printed wiring board having a filled via structure capable of forming a fine pattern and having excellent surface smoothness and connection reliability.

【0002】[0002]

【従来の技術】ビルドアップ多層プリント配線板は、導
体回路と層間樹脂絶縁層とが交互に積層されたものであ
り、下層の導体回路と上層の導体回路とが、層間絶縁層
を開口してそこにめっき膜を設けてなるいわゆるバイア
ホールによって、電気的に接続されたものである。
2. Description of the Related Art A build-up multilayer printed wiring board is one in which conductor circuits and interlayer resin insulation layers are alternately laminated, and a conductor circuit in a lower layer and a conductor circuit in an upper layer are opened in the interlayer insulation layer. It is electrically connected by a so-called via hole provided with a plating film.

【0003】このようなビルドアップ多層プリント配線
板において、バイアホールは、層間絶縁層の開口部内面
にめっき膜を被覆して形成したものが一般的であった
が、めっき析出不良やヒートサイクルによる断線が発生
しやすいという問題があった。そのため最近では、その
開口部をめっきで充填して充填バイアホールとする方法
が採用されるようになった。例えば、特開平2−188992
号公報、特開平3−3298号公報、特開平7−34048 号公報
には、その充填バイアホールを開示する図面がある。
In such a build-up multilayer printed wiring board, the via hole is generally formed by coating the inner surface of the opening of the interlayer insulating layer with a plating film. However, due to defective plating deposition or heat cycle. There was a problem that disconnection is likely to occur. Therefore, recently, a method of filling the opening with plating to form a filled via hole has been adopted. For example, Japanese Patent Laid-Open No. 2-188992
Japanese Patent Laid-Open No. 3-3298 and Japanese Patent Laid-Open No. 7-34048 have drawings that disclose the filled via holes.

【0004】しかしながら、このような充填バイアホー
ルによってもなお、その表面に窪みが生じるという他の
問題があった。この充填バイアホール表面の窪みは、さ
らに上層に層間樹脂絶縁層を形成した場合に、その表面
にも窪みを引き起こし、ひいては断線や実装不良の原因
になったりした。
However, such a filled via hole still has another problem that a depression is formed on the surface thereof. When the interlayer resin insulation layer was formed on the upper layer, the dent on the surface of the filled via hole also caused a dent on the surface, which eventually caused disconnection or mounting failure.

【0005】また、層間樹脂を複数回塗布して、充填バ
イアホール表面を平坦化することも可能であるが、バイ
アホールの窪み直上部分の層間樹脂絶縁層の厚みが、他
の導体回路上の層間樹脂絶層の厚みより厚くなる。その
ため、露光、現像処理やレーザ光にて層間樹脂絶縁層に
開口を設けると、樹脂残りが発生してバイアホールの接
続信頼性を低下させてしまうという問題があった。特に
量産において、層間樹脂絶縁層に開口を設ける場合は、
バイアホール上とそれ以外の導体回路上とで露光、現像
条件を変更することが困難であるため、このような樹脂
残りが発生しやすかった。
It is also possible to apply the interlayer resin a plurality of times to flatten the surface of the filled via hole. However, the thickness of the interlayer resin insulation layer immediately above the recess of the via hole is different from that on other conductor circuits. It becomes thicker than the thickness of the interlayer resin layer. Therefore, if an opening is provided in the interlayer resin insulation layer by exposure, development, or laser light, there is a problem that resin residue occurs and the connection reliability of the via hole is reduced. Especially in mass production, when opening the interlayer resin insulation layer,
Since it is difficult to change the exposure and development conditions on the via hole and on the other conductor circuits, such resin residue is likely to occur.

【0006】このような問題を解決すべく、特開平9−3
12472号公報などでは、充填バイアホールを有するビル
ドアップ多層プリント配線板が提案されている。この多
層プリント配線板では、導体回路の厚さをバイアホール
径の1/2以上にしてバイアホールを充填して、導体回
路の高さとバイアホールの高さを同一としている。
In order to solve such a problem, Japanese Patent Laid-Open No. 9-3
In Japanese Patent No. 12472 and the like, a build-up multilayer printed wiring board having a filled via hole is proposed. In this multilayer printed wiring board, the thickness of the conductor circuit is set to 1/2 or more of the diameter of the via hole to fill the via hole so that the height of the conductor circuit is the same as the height of the via hole.

【0007】ところが、このようなビルドアップ多層プ
リント配線板では、バイアホール径に比べて導体回路の
厚みが厚くなってしまう。そのため、めっきレジストの
厚さも厚くする必要があり、その結果、露光、現像しに
くくなり、微細パターンが形成できないという問題があ
った。また、特開平9−312472号公報の実施例にあるよ
うに、導体膜を形成した後にエッチングにより導体回路
を形成する場合には、導体回路の厚みが厚いために、エ
ッチングによって微細パターンを形成することができな
いという問題があった。
However, in such a build-up multilayer printed wiring board, the conductor circuit becomes thicker than the via hole diameter. Therefore, it is necessary to increase the thickness of the plating resist, and as a result, it is difficult to expose and develop, and there is a problem that a fine pattern cannot be formed. Further, as in the example of JP-A-9-312472, when a conductor circuit is formed by etching after forming a conductor film, a fine pattern is formed by etching because the conductor circuit is thick. There was a problem that I could not.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、微細
パターンを形成できるフィルドビア構造を有し、表面平
滑性および接続信頼性に優れるビルドアップ多層プリン
ト配線板を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a build-up multilayer printed wiring board having a filled via structure capable of forming a fine pattern and having excellent surface smoothness and connection reliability.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】発明者らは、上記目的の
実現に向け鋭意研究した結果、下記〜を必須の構成
要件とする発明に想到した。 .ビルドアップ多層プリント配線板であること(つま
り、導体回路が層間樹脂絶縁層を介して積層されている
こと)。 .バイアホールがめっきで充填されてなること。 .バイアホールの表面が平坦であること。 .バイアホールの表面と該バイアホールと同じ層に位
置する他の導体回路の表面とが同じ高さであること。 .導体回路の厚さがバイアホール径の1/2未満であ
ること。
Means for Solving the Problems As a result of intensive research aimed at realizing the above-mentioned object, the inventors have conceived an invention having the following essential requirements. . It is a build-up multilayer printed wiring board (that is, conductor circuits are laminated via an interlayer resin insulation layer). . The via holes must be filled with plating. . The surface of the via hole is flat. . The surface of the via hole and the surface of another conductor circuit located on the same layer as the via hole are at the same height. . The thickness of the conductor circuit must be less than half the diameter of the via hole.

【0010】すなわち、本発明の多層プリント配線板
は、導体回路と層間樹脂絶縁層とが交互に積層された多
層プリント配線板において、前記層間樹脂絶縁層には、
開口部が設けられ、かつこの開口部に、めっきを充填し
てなる表面の平坦なバイアホールが、該バイアホールと
同じ層に位置する他の導体回路と表面高さを同一にして
形成されており、前記導体回路は、その厚さがバイアホ
ール径の1/2未満であることを特徴とする。ここで、
本発明におけるバイアホール径とは、バイアホール用開
口の上端における開口径を意味する。
That is, the multilayer printed wiring board according to the present invention is a multilayer printed wiring board in which conductor circuits and interlayer resin insulation layers are alternately laminated, wherein the interlayer resin insulation layer comprises:
An opening is provided, and a flat via hole having a surface filled with plating is formed in the opening with the same surface height as other conductor circuits located in the same layer as the via hole. The conductor circuit is characterized in that its thickness is less than 1/2 of the via hole diameter. here,
The via hole diameter in the present invention means the opening diameter at the upper end of the via hole opening.

【0011】このような本発明の多層プリント配線板に
おいて、 (1) バイアホールおよび導体回路の表面は粗化処理され
ていることがより望ましい構成である。この理由は、上
層の層間樹脂絶縁層との密着性を改善するためである。 (2) 層間樹脂絶縁層に設けた開口部の内壁面は粗化処理
されていることがより望ましい構成である。この理由
は、その開口部に形成されるバイアホールとの密着性を
改善するためである。 (3) バイアホールが接続する下層側の導体回路(内層パ
ッド)は、その表面が粗化処理されており、その粗化面
を介して前記バイアホールと接続していることがより望
ましい構成である。この理由は、バイアホールと内層パ
ッド(下層導体回路)との密着性を向上させるためであ
る。
In such a multilayer printed wiring board of the present invention, (1) it is more desirable that the surfaces of the via holes and the conductor circuits are roughened. The reason for this is to improve the adhesion with the upper interlayer resin insulation layer. (2) It is more desirable that the inner wall surface of the opening provided in the interlayer resin insulation layer is roughened. The reason for this is to improve the adhesion with the via hole formed in the opening. (3) The conductor circuit on the lower layer side (inner layer pad) to which the via hole is connected has a roughened surface, and it is more desirable that the conductor circuit is connected to the via hole through the roughened surface. is there. The reason for this is to improve the adhesion between the via hole and the inner layer pad (lower layer conductor circuit).

【0012】特に、上記 (2)と(3) の組合せの構成で
は、内層パッドが層間樹脂絶縁層に密着し、かつバイア
ホールも層間樹脂絶縁層に密着するので、層間樹脂絶縁
層を介して、内層パッドとバイアホールとが完全に一体
化する。
In particular, in the constitution of the combination of (2) and (3), the inner layer pad adheres to the interlayer resin insulation layer, and the via hole also adheres to the interlayer resin insulation layer. , The inner layer pad and the via hole are completely integrated.

【0013】また、本発明の多層プリント配線板におい
て、 (4) バイアホール上に、さらに他のバイアホールが形成
されていることがより望ましい構成である。この理由
は、バイアホールによる配線のデットスペースを無く
し、より一層の高密度化が達成できるからである。 (5) バイアホールが形成された層間樹脂絶縁層は、熱可
塑性樹脂と熱硬化性樹脂との複合体、もしくは熱可塑性
樹脂からなることがより望ましい構成である。この理由
は、めっきを充填して形成してなる充填バイアホール
は、ヒートサイクル時に発生する応力が大きく、通常の
熱硬化性樹脂からなる層間樹脂絶縁層ではクラックが発
生しやすいが、熱可塑性樹脂を添加した熱硬化性樹脂、
あるいは熱可塑性樹脂のみからなる層間樹脂絶縁層によ
れば、靱性が高く、クラックを確実に抑制することがで
きるからである。 (6) (バイアホールの直径)/(層間樹脂絶縁層の厚
み)の比が1〜4であること、また導体回路の厚さが25
μm未満であることがより望ましい構成である。この理
由は、ファインパターンが形成しやすいからである。
Further, in the multilayer printed wiring board of the present invention, (4) it is more desirable that another via hole is formed on the via hole. The reason for this is that the dead space of the wiring due to the via hole can be eliminated and a higher density can be achieved. (5) It is more desirable that the interlayer resin insulation layer in which the via hole is formed is made of a composite of a thermoplastic resin and a thermosetting resin, or a thermoplastic resin. The reason for this is that the filled via hole formed by filling the plating has a large stress generated during the heat cycle, and cracks easily occur in the interlayer resin insulation layer made of a normal thermosetting resin. A thermosetting resin,
Alternatively, the interlayer resin insulating layer made of only the thermoplastic resin has high toughness and can reliably suppress cracks. (6) The ratio of (diameter of via hole) / (thickness of interlayer resin insulation layer) is 1 to 4, and the thickness of the conductor circuit is 25.
It is more desirable that the thickness is less than μm. The reason for this is that a fine pattern is easily formed.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】導体回路と層間樹脂絶縁層とが交
互に積層された本発明の多層プリント配線板は、前記層
間樹脂絶縁層に開口部が設けられ、かつこの開口部に
は、めっきを充填してなる表面の平坦なバイアホール
が、該バイアホールと同じ層に位置する他の導体回路と
表面高さを同一にして形成されており、前記導体回路
は、その厚さがバイアホール径の1/2未満である点に
特徴がある。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION A multilayer printed wiring board according to the present invention in which conductor circuits and interlayer resin insulation layers are alternately laminated is provided with an opening in the interlayer resin insulation layer, and the opening is plated. A flat via hole having a flat surface is formed with the same surface height as that of another conductor circuit located in the same layer as the via hole. It is characterized in that it is less than 1/2 of the diameter.

【0015】このような本発明の構成によれば、 .バイアホールがめっきで充填されているので、開口
がめっき膜で被覆されたものに比べて、めっきの析出不
良やヒートサイクルに起因する断線不良が発生しにくく
なる。 .バイアホール部分に表面の窪みがなく、層間樹脂絶
縁層の表面平坦性に優れるので、窪みに起因する断線や
ICチップ等の実装不良が発生しにくくなる。 .バイアホールおよび導体回路上の層間樹脂絶縁層の
厚みが均一になり、開口を形成した場合の樹脂残りが少
なくなる。 .導体回路の厚さがバイアホール径の1/2未満であ
るため、バイアホールにめっきを充填した場合でも導体
回路の厚さが厚くならず、めっきレジストを薄くするこ
とができ、微細なパターンの形成が可能となる。
According to the configuration of the present invention as described above, Since the via hole is filled with the plating, the deposition failure of the plating and the disconnection failure due to the heat cycle are less likely to occur as compared with the case where the opening is covered with the plating film. . Since there is no dent on the surface in the via hole portion and the surface flatness of the interlayer resin insulating layer is excellent, disconnection due to the dent and mounting failure of the IC chip or the like are less likely to occur. . The thickness of the via hole and the interlayer resin insulation layer on the conductor circuit becomes uniform, and the resin residue when forming the opening is reduced. . Since the thickness of the conductor circuit is less than 1/2 of the diameter of the via hole, the thickness of the conductor circuit does not become thick even when the via hole is filled with plating, and the plating resist can be made thin, resulting in a fine pattern. Can be formed.

【0016】このような本発明において、層間樹脂絶縁
層の開口内壁面には、粗化面が形成されていることが好
ましい。この理由は、充填めっきからなるバイアホール
と層間樹脂絶縁層との密着性を向上させるためである。
In the present invention as described above, it is preferable that a roughened surface is formed on the inner wall surface of the opening of the interlayer resin insulation layer. The reason for this is to improve the adhesion between the via hole formed of the filling plating and the interlayer resin insulation layer.

【0017】本発明の多層プリント配線板は、下層導体
回路の表面に設けた粗化層を介してバイアホールが電気
的に接続されていることが好ましい。これにより、その
粗化層が導体回路とバイアホールの密着性を改善してい
るので、PCTのような高温多湿条件下やヒートサイク
ル条件下でもその導体回路とバイアホールとの界面で剥
離が発生しにくくなる。
In the multilayer printed wiring board of the present invention, it is preferable that the via holes are electrically connected through the roughening layer provided on the surface of the lower conductor circuit. As a result, the roughened layer improves the adhesion between the conductor circuit and the via hole, so that peeling occurs at the interface between the conductor circuit and the via hole even under high temperature and high humidity conditions such as PCT and heat cycle conditions. Hard to do.

【0018】なお、前記導体回路の側面にも粗化層が形
成されていると、導体回路側面と層間樹脂絶縁層との密
着不足によりこれらの界面を起点として層間樹脂絶縁層
に向けて垂直に発生するクラックを抑制することができ
る点で有利である。
When the roughened layer is formed on the side surface of the conductor circuit, the contact between the side surface of the conductor circuit and the interlayer resin insulation layer is insufficient, and the interface between these surfaces serves as a starting point to vertically face the interlayer resin insulation layer. It is advantageous in that cracks that occur can be suppressed.

【0019】このような導体回路の表面に形成される粗
化層の厚さは、1〜10μmがよい。この理由は、厚すぎ
ると層間ショートの原因となり、薄すぎると被着体との
密着力が低くなるからである。この粗化層を形成する粗
化処理としては、導体回路の表面を、酸化(黒化)−還
元処理するか、有機酸と第二銅錯体の混合水溶液でスプ
レー処理するか、あるいは銅−ニッケル−リン針状合金
めっきで処理する方法がよい。
The thickness of the roughening layer formed on the surface of such a conductor circuit is preferably 1 to 10 μm. The reason for this is that if it is too thick, it causes interlayer short-circuiting, and if it is too thin, the adhesion to the adherend becomes low. As the roughening treatment for forming this roughened layer, the surface of the conductor circuit is subjected to oxidation (blackening) -reduction treatment, spray treatment with a mixed aqueous solution of an organic acid and a cupric complex, or copper-nickel. -Phosphorus needle alloy plating is preferable.

【0020】これらの処理のうち、酸化(黒化)−還元
処理による方法では、NaOH(20g/l)、NaClO2(50g
/l)、Na3PO4(15.0g/l)を酸化浴(黒化浴)、Na
OH(2.7g/l)、NaBH4 (1.0g/l)を還元浴とす
る。
Among these treatments, in the method of oxidation (blackening) -reduction treatment, NaOH (20 g / l), NaClO 2 (50 g
/ L), Na 3 PO 4 (15.0 g / l) in an oxidizing bath (blackening bath), Na
OH (2.7 g / l) and NaBH 4 (1.0 g / l) are used as the reducing bath.

【0021】また、有機酸−第二銅錯体の混合水溶液を
用いた処理では、スプレーやバブリングなどの酸素共存
条件下で次のように作用し、下層導体回路である銅など
の金属箔を溶解させる。 Cu+Cu(II)An →2Cu(I)An/2 2Cu(I)An/2 +n/4O2 +nAH (エアレー
ション)→2Cu(II)An +n/2H2 O ただし、Aは錯化剤(キレート剤として作用)、nは配
位数である。
Further, a mixed aqueous solution of an organic acid-cupric acid complex
In the treatment used, oxygen coexistence such as spraying and bubbling
Under the conditions, it works as follows, and it is the lower conductor circuit such as copper.
Melt the metal foil. Cu + Cu (II) An→ 2Cu (I) An / 2 2Cu (I) An / 2+ N / 4O2+ NAH (Airray
2) Cu (II) An+ N / 2H2O However, A is a complexing agent (acts as a chelating agent), and n is
It is a place.

【0022】この処理で用いられる第二銅錯体は、アゾ
ール類の第二銅錯体がよい。このアゾール類の第二銅錯
体は、金属銅などを酸化するための酸化剤として作用す
る。アゾール類としては、ジアゾール、トリアゾール、
テトラゾールがよい。なかでもイミダゾール、2−メチ
ルイミダゾール、2−エチルイミダゾール、2−エチル
−4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾー
ル、2−ウンデシルイミダゾールなどがよい。このアゾ
ール類の第二銅錯体の含有量は、1〜15重量%がよい。
この範囲内にあれば、溶解性および安定性に優れるから
である。
The cupric complex used in this treatment is preferably a cupric complex of an azole. This cupric complex of azoles acts as an oxidizing agent for oxidizing metallic copper and the like. As azoles, diazole, triazole,
Tetrazole is good. Among them, imidazole, 2-methylimidazole, 2-ethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-undecylimidazole and the like are preferable. The content of the cupric complex of the azoles is preferably 1 to 15% by weight.
This is because if it is within this range, the solubility and stability are excellent.

【0023】また、有機酸は、酸化銅を溶解させるため
に配合させるものである。具体例としては、ギ酸、酢
酸、プロピオン酸、酪酸、吉草酸、カプロン酸、アクリ
ル酸、クロトン酸、シュウ酸、マロン酸、コハク酸、グ
ルタル酸、マレイン酸、安息香酸、グリコール酸、乳
酸、リンゴ酸、スルファミン酸から選ばれるいずれか少
なくとも1種がよい。この有機酸の含有量は、 0.1〜30
重量%がよい。酸化された銅の溶解性を維持し、かつ溶
解安定性を確保するためである。なお、発生した第一銅
錯体は、酸の作用で溶解し、酸素と結合して第二銅錯体
となって、再び銅の酸化に寄与する。
The organic acid is added to dissolve copper oxide. Specific examples include formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid, valeric acid, caproic acid, acrylic acid, crotonic acid, oxalic acid, malonic acid, succinic acid, glutaric acid, maleic acid, benzoic acid, glycolic acid, lactic acid, apple. At least one selected from acid and sulfamic acid is preferable. The content of this organic acid is 0.1-30
Weight% is good. This is for maintaining the solubility of the oxidized copper and ensuring the dissolution stability. The generated cuprous complex is dissolved by the action of an acid, is combined with oxygen to form a cupric complex, and contributes to the oxidation of copper again.

【0024】この有機酸−第二銅錯体からなるエッチン
グ液には、銅の溶解やアゾール類の酸化作用を補助する
ために、ハロゲンイオン、例えば、フッ素イオン、塩素
イオン、臭素イオンなどを加えてもよい。このハロゲン
イオンは、塩酸、塩化ナトリウムなどを添加して供給で
きる。ハロゲンイオン量は、0.01〜20重量%がよい。こ
の範囲内にあれば、形成された粗化層は層間樹脂絶縁層
との密着性に優れるからである。
In order to assist the dissolution of copper and the oxidizing action of azoles, halogen ions such as fluorine ion, chlorine ion and bromine ion are added to the etching solution containing the organic acid-cupric acid complex. Good. This halogen ion can be supplied by adding hydrochloric acid, sodium chloride or the like. The amount of halogen ions is preferably 0.01 to 20% by weight. This is because if it is within this range, the formed roughening layer has excellent adhesion to the interlayer resin insulating layer.

【0025】この有機酸−第二銅錯体からなるエッチン
グ液は、アゾール類の第二銅錯体および有機酸(必要に
応じてハロゲンイオン)を、水に溶解して調製する。
The etchant containing the organic acid-cupric acid complex is prepared by dissolving the cupric complex of an azole and the organic acid (halogen ion as necessary) in water.

【0026】また、銅−ニッケル−リンからなる針状合
金のめっき処理では、硫酸銅1〜40g/l、硫酸ニッケ
ル 0.1〜6.0 g/l、クエン酸10〜20g/l、次亜リン
酸塩10〜100 g/l、ホウ酸10〜40g/l、界面活性剤
0.01〜10g/lからなる液組成のめっき浴を用いること
が望ましい。
Further, in the plating treatment of a needle-shaped alloy of copper-nickel-phosphorus, copper sulfate 1-40 g / l, nickel sulfate 0.1-6.0 g / l, citric acid 10-20 g / l, hypophosphite 10-100 g / l, boric acid 10-40 g / l, surfactant
It is desirable to use a plating bath having a liquid composition of 0.01 to 10 g / l.

【0027】本発明の多層プリント配線板は、充填バイ
アホール上に、さらに他のバイアホールが形成されてい
ることが好ましい。これにより、バイアホール直上に他
のバイアホールを形成することができるので、バイアホ
ールによる配線のデッドスペースなどを無くして配線の
高密度化を実現することができる。
In the multilayer printed wiring board of the present invention, it is preferable that another via hole is formed on the filled via hole. As a result, another via hole can be formed immediately above the via hole, so that the dead space of the wiring due to the via hole and the like can be eliminated and the wiring density can be increased.

【0028】本発明において、層間樹脂絶縁層として
は、熱硬化性樹脂、熱可塑性樹脂、あるいは熱硬化性樹
脂と熱可塑性樹脂の複合体を用いることができる。特に
本発明では、バイアホールが形成される層間樹脂絶縁層
として、熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂の複合体を用いる
ことが好ましい。熱硬化性樹脂としては、エポキシ樹
脂、ポリイミド樹脂、フェノール樹脂、熱硬化性ポリフ
ェニレンエーテル(PPE)などが使用できる。熱可塑
性樹脂としては、ポリテトラフルオロエチレン(PTF
E)等のフッ素樹脂、ポリエチレンテレフタレート(P
ET)、ポリスルフォン(PSF)、ポリフェニレンス
ルフィド(PPS)、熱可塑型ポリフェニレンエーテル
(PPE)、ポリエーテルスルフォン(PES)、ポリ
エーテルイミド(PEI)、ポリフェニレンスルフォン
(PPES)、4フッ化エチレン6フッ化プロピレン共
重合体(FEP)、4フッ化エチレンパーフロロアルコ
キシ共重合体(PFA)、ポリエチレンナフタレート
(PEN)、ポリエーテルエーテルケトン(PEE
K)、ポリオレフィン系樹脂などが使用できる。熱硬化
性樹脂と熱可塑性樹脂の複合体としては、エポキシ樹脂
−PES、エポキシ樹脂−PSF、エポキシ樹脂−PP
S、エポキシ樹脂−PPESなどが使用できる。
In the present invention, a thermosetting resin, a thermoplastic resin, or a composite of a thermosetting resin and a thermoplastic resin can be used as the interlayer resin insulation layer. Particularly in the present invention, it is preferable to use a composite of a thermosetting resin and a thermoplastic resin as the interlayer resin insulating layer in which the via hole is formed. As the thermosetting resin, epoxy resin, polyimide resin, phenol resin, thermosetting polyphenylene ether (PPE) or the like can be used. As the thermoplastic resin, polytetrafluoroethylene (PTF
Fluorine resin such as E), polyethylene terephthalate (P
ET), polysulfone (PSF), polyphenylene sulfide (PPS), thermoplastic polyphenylene ether (PPE), polyether sulfone (PES), polyetherimide (PEI), polyphenylene sulfone (PPES), tetrafluoroethylene 6 fluorine Propylene copolymer (FEP), tetrafluoroethylene perfluoroalkoxy copolymer (PFA), polyethylene naphthalate (PEN), polyether ether ketone (PEE)
K), polyolefin resin, etc. can be used. Examples of the composite of thermosetting resin and thermoplastic resin include epoxy resin-PES, epoxy resin-PSF, epoxy resin-PP.
S, epoxy resin-PPES or the like can be used.

【0029】また本発明では、層間樹脂絶縁層として、
フッ素樹脂繊維の布とその布の空隙に充填された熱硬化
性樹脂とからなる複合体を用いることが望ましい。かか
る複合体は、低誘電率であり、形状安定性に優れるから
である。この場合、熱硬化性樹脂としては、エポキシ樹
脂、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂、フェノール樹脂
から選ばれるいずれか少なくとも1種以上を用いること
が望ましい。フッ素樹脂繊維の布としては、その繊維を
織った布や不織布などを用いることが望ましい。不織布
は、フッ素樹脂繊維の短繊維または長繊維をバインダー
とともに抄造してシートを作り、このシートを加熱して
繊維同士を融着させて製造する。
In the present invention, as the interlayer resin insulation layer,
It is desirable to use a composite of a cloth of fluororesin fibers and a thermosetting resin filled in the voids of the cloth. This is because such a composite has a low dielectric constant and excellent shape stability. In this case, as the thermosetting resin, it is desirable to use at least one selected from epoxy resin, polyimide resin, polyamide resin, and phenol resin. As the cloth of fluororesin fiber, it is desirable to use cloth or non-woven cloth woven of the fibers. The non-woven fabric is manufactured by forming a short fiber or a long fiber of a fluororesin fiber together with a binder into a sheet, and heating the sheet to fuse the fibers to each other.

【0030】また本発明において、層間樹脂絶縁層とし
ては、無電解めっき用接着剤を用いることができる。こ
の無電解めっき用接着剤としては、硬化処理された酸あ
るいは酸化剤に可溶性の耐熱性樹脂粒子が、硬化処理に
よって酸あるいは酸化剤に難溶性となる未硬化の耐熱性
樹脂中に分散されてなるものが最適である。この理由
は、酸や酸化剤で処理することにより、耐熱性樹脂粒子
が溶解除去されて、表面に蛸つぼ状のアンカーからなる
粗化面を形成できるからである。
In the present invention, an adhesive for electroless plating can be used as the interlayer resin insulation layer. As the adhesive for electroless plating, heat-resistant resin particles soluble in a cured acid or an oxidant are dispersed in an uncured heat-resistant resin that is hardly soluble in an acid or an oxidant by the curing treatment. Is best. The reason for this is that the heat-resistant resin particles are dissolved and removed by treatment with an acid or an oxidizing agent, and a roughened surface composed of octopus-like anchors can be formed on the surface.

【0031】上記無電解めっき用接着剤において、特に
硬化処理された前記耐熱性樹脂粒子としては、平均粒
径が10μm以下の耐熱性樹脂粉末、平均粒径が2μm
以下の耐熱性樹脂粉末を凝集させた凝集粒子、平均粒
径が2〜10μmの耐熱性樹脂粉末と平均粒径が2μm以下
の耐熱性樹脂粉末との混合物、平均粒径が2〜10μm
の耐熱性樹脂粉末の表面に平均粒径が2μm以下の耐熱
性樹脂粉末または無機粉末のいずれか少なくとも1種を
付着させてなる疑似粒子、平均粒径が 0.1〜0.8 μm
の耐熱性樹脂粉末と平均粒径が 0.8μmを超え2μm未
満の耐熱性樹脂粉末との混合物、平均粒径が 0.1〜1.
0 μmの耐熱性樹脂粉末、から選ばれるいずれか少なく
とも1種を用いることが望ましい。これらは、より複雑
なアンカーを形成できるからである。この無電解めっき
用接着剤で使用される耐熱性樹脂は、前述の熱硬化性樹
脂、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂の複合
体を使用できる。特に本発明では、熱硬化性樹脂と熱可
塑性樹脂の複合体を用いることが好ましい。
In the above-mentioned adhesive for electroless plating, the heat-resistant resin particles which have been particularly hardened include heat-resistant resin powder having an average particle size of 10 μm or less, and an average particle size of 2 μm.
Aggregated particles obtained by aggregating the following heat-resistant resin powder, a mixture of heat-resistant resin powder having an average particle size of 2 to 10 μm and heat-resistant resin powder having an average particle size of 2 μm or less, and an average particle size of 2 to 10 μm
Pseudo particles formed by adhering at least one of a heat-resistant resin powder having an average particle size of 2 μm or less and an inorganic powder on the surface of the heat-resistant resin powder of 0.1 to 0.8 μm
A mixture of the heat-resistant resin powder and the heat-resistant resin powder having an average particle size of more than 0.8 μm and less than 2 μm, the average particle size of 0.1 to 1.
It is desirable to use at least one selected from 0 μm heat-resistant resin powder. This is because they can form more complex anchors. As the heat resistant resin used in the adhesive for electroless plating, the above-mentioned thermosetting resin, thermoplastic resin, or a composite of thermosetting resin and thermoplastic resin can be used. Particularly in the present invention, it is preferable to use a composite of a thermosetting resin and a thermoplastic resin.

【0032】次に、本発明の多層プリント配線板を製造
する一方法について説明する。 (1) まず、コア基板の表面に内層銅パターンを形成した
配線基板を作製する。このコア基板への銅パターンの形
成は、銅張積層板をエッチングして行うか、あるいは、
ガラスエポキシ基板やポリイミド基板、セラミック基
板、金属基板などの基板に無電解めっき用接着剤層を形
成し、この接着剤層表面を粗化して粗化面とし、ここに
無電解めっきを施す方法、もしくはいわゆるセミアディ
ティブ法(その粗化面全体に無電解めっきを施し、めっ
きレジストを形成し、めっきレジスト非形成部分に電解
めっきを施した後、めっきレジストを除去し、エッチン
グ処理して、電解めっき膜と無電解めっき膜とからなる
導体回路を形成する方法)により形成される。
Next, one method for manufacturing the multilayer printed wiring board of the present invention will be described. (1) First, a wiring board having an inner layer copper pattern formed on the surface of a core board is manufactured. The copper pattern is formed on the core substrate by etching the copper clad laminate, or
A method for forming an adhesive layer for electroless plating on a substrate such as a glass epoxy substrate, a polyimide substrate, a ceramic substrate, or a metal substrate, roughening the adhesive layer surface to a roughened surface, and performing electroless plating on the surface. Alternatively, the so-called semi-additive method (electroless plating is applied to the entire roughened surface to form a plating resist, electrolytic plating is applied to the non-plating resist forming portion, the plating resist is removed, and etching treatment is performed to perform electrolytic plating. Method for forming a conductor circuit including a film and an electroless plated film).

【0033】さらに必要に応じて、上記配線基板の銅パ
ターン表面(下層導体回路の表面)に銅−ニッケル−リ
ンからなる粗化層を形成する。この粗化層は、無電解め
っきにより形成される。この無電解めっき水溶液の液組
成は、銅イオン濃度、ニッケルイオン濃度、次亜リン酸
イオン濃度が、それぞれ 2.2×10-2〜 4.1×10-2 mol/
l、 2.2×10-3〜 4.1×10-3 mol/l、0.20〜0.25 mol
/lであることが望ましい。この範囲で析出する被膜の
結晶構造は針状構造になるため、アンカー効果に優れる
からである。この無電解めっき水溶液には上記化合物に
加えて錯化剤や添加剤を加えてもよい。粗化層の形成方
法としては、前述したように、銅−ニッケル−リン針状
合金めっきによる処理、酸化−還元処理、銅表面を粒界
に沿ってエッチングする処理にて粗化面を形成する方法
などがある。
Further, if necessary, a roughening layer made of copper-nickel-phosphorus is formed on the copper pattern surface (the surface of the lower conductor circuit) of the wiring board. This roughened layer is formed by electroless plating. The liquid composition of this electroless plating solution has a copper ion concentration, a nickel ion concentration, and a hypophosphite ion concentration of 2.2 × 10 -2 to 4.1 × 10 -2 mol /
1, 2.2 × 10 -3 to 4.1 × 10 -3 mol / l, 0.20 to 0.25 mol
/ L is desirable. This is because the crystal structure of the coating film deposited in this range has a needle-like structure and is excellent in the anchor effect. In addition to the above compounds, complexing agents and additives may be added to this electroless plating aqueous solution. As the method for forming the roughened layer, as described above, the roughened surface is formed by the treatment of copper-nickel-phosphorus needle-like alloy plating, the oxidation-reduction treatment, and the treatment of etching the copper surface along the grain boundaries. There are ways.

【0034】なお、コア基板には、スルーホールが形成
され、このスルーホールを介して表面と裏面の配線層を
電気的に接続することができる。また、スルーホールお
よびコア基板の導体回路間には樹脂が充填されて、平坦
性を確保してもよい。
A through hole is formed in the core substrate, and the wiring layers on the front surface and the back surface can be electrically connected through the through hole. Further, resin may be filled between the through holes and the conductor circuits of the core substrate to ensure the flatness.

【0035】(2) 次に、前記(1) で作製した配線基板の
上に、層間樹脂絶縁層を形成する。特に本発明では、バ
イアホールを形成する層間樹脂絶縁材として、熱硬化性
樹脂と熱可塑性樹脂の複合体を樹脂マトリックスとした
無電解めっき用接着剤を用いることが望ましい。
(2) Next, an interlayer resin insulation layer is formed on the wiring board prepared in the above (1). Particularly in the present invention, it is desirable to use an adhesive for electroless plating using a composite of a thermosetting resin and a thermoplastic resin as a resin matrix as an interlayer resin insulating material forming a via hole.

【0036】(3) 前記(2) で形成した無電解めっき用接
着剤層を乾燥した後、バイアホール形成用開口を設け
る。感光性樹脂の場合は、露光,現像してから熱硬化す
ることにより、また、熱硬化性樹脂の場合は、熱硬化し
たのち、レーザー加工することにより、前記接着剤層に
バイアホール形成用の開口部を設ける。このとき、(バ
イアホールの直径)/(層間樹脂絶縁層の厚み)の比が
1〜4であることが好ましい。この理由は、その比が1
未満であると、開口部に電解めっき液が入らず、開口部
にめっきが析出しないからであり、一方、その比が4を
超えると、開口部のめっき充填の程度が悪くなるからで
ある。
(3) After drying the adhesive layer for electroless plating formed in (2) above, an opening for forming a via hole is provided. In the case of a photosensitive resin, it is exposed and developed and then heat-cured, and in the case of a thermosetting resin, it is heat-cured and then laser-processed to form a via hole in the adhesive layer. Provide an opening. At this time, the ratio of (diameter of via hole) / (thickness of interlayer resin insulating layer) is preferably 1 to 4. The reason is that the ratio is 1
This is because if the ratio is less than this, the electrolytic plating solution does not enter the opening and plating does not deposit in the opening. On the other hand, if the ratio exceeds 4, the degree of plating filling of the opening deteriorates.

【0037】(4) 次に、硬化した前記接着剤層の表面に
存在するエポキシ樹脂粒子を酸あるいは酸化剤によって
分解または溶解して除去し、接着剤層表面を粗化処理す
る。ここで、上記酸としては、リン酸、塩酸、硫酸、あ
るいは蟻酸や酢酸などの有機酸があるが、特に有機酸を
用いることが望ましい。粗化処理した場合に、バイアホ
ールから露出する金属導体層を腐食させにくいからであ
る。一方、上記酸化剤としては、クロム酸、過マンガン
酸塩(過マンガン酸カリウムなど)を用いることが望ま
しい。
(4) Next, the epoxy resin particles existing on the surface of the hardened adhesive layer are decomposed or dissolved by an acid or an oxidizing agent and removed, and the surface of the adhesive layer is roughened. Here, examples of the acid include phosphoric acid, hydrochloric acid, sulfuric acid, and organic acids such as formic acid and acetic acid, and it is particularly preferable to use organic acids. This is because when the roughening treatment is performed, the metal conductor layer exposed from the via hole is unlikely to corrode. On the other hand, it is desirable to use chromic acid or permanganate (such as potassium permanganate) as the oxidizing agent.

【0038】(5) 次に、接着剤層表面を粗化した配線基
板に触媒核を付与する。触媒核の付与には、貴金属イオ
ンや貴金属コロイドなどを用いることが望ましく、一般
的には、塩化パラジウムやパラジウムコロイドを使用す
る。なお、触媒核を固定するために加熱処理を行うこと
が望ましい。このような触媒核としてはパラジウムがよ
い。
(5) Next, catalyst nuclei are applied to the wiring board whose surface of the adhesive layer has been roughened. It is desirable to use a noble metal ion, a noble metal colloid, or the like for providing the catalyst nucleus, and in general, palladium chloride or a palladium colloid is used. In addition, it is desirable to perform heat treatment to fix the catalyst nuclei. Palladium is preferable as such a catalyst nucleus.

【0039】(6) 次に、無電解めっき用接着剤表面に無
電解めっきを施し、粗化面全面に追従するように、無電
解めっき膜を形成する。このとき、無電解めっき膜の厚
みは、0.1〜5μm、より望ましくは 0.5〜3μmとす
る。つぎに、無電解めっき膜上にめっきレジストを形成
する。めっきレジスト組成物としては、特にクレゾール
ノボラック型エポキシ樹脂やフェノールノボラック型エ
ポキシ樹脂のアクリレートとイミダゾール硬化剤からな
る組成物を用いることが望ましいが、他に市販品のドラ
イフィルムを使用することもできる。
(6) Next, the surface of the adhesive for electroless plating is subjected to electroless plating to form an electroless plated film so as to follow the entire roughened surface. At this time, the thickness of the electroless plated film is set to 0.1 to 5 μm, and more preferably 0.5 to 3 μm. Next, a plating resist is formed on the electroless plated film. As the plating resist composition, it is particularly preferable to use a composition comprising an acrylate of a cresol novolac type epoxy resin or a phenol novolac type epoxy resin and an imidazole curing agent, but a commercially available dry film can also be used.

【0040】(7) 次に、めっきレジスト非形成部に電解
めっきを施し、導体回路、ならびに開口部にめっきを充
填したバイアホールを形成する。このとき、電解めっき
膜の厚みは、5〜30μmが望ましく、導体回路としての
厚みがバイアホール径の1/2未満となるようにする。
ここで、上記電解めっきとしては、銅めっきを用いるこ
とが望ましい。
(7) Next, electrolytic plating is applied to the plating resist non-formed portion to form a conductor circuit and a via hole having the opening filled with the plating. At this time, the thickness of the electrolytic plating film is preferably 5 to 30 μm, and the thickness of the conductor circuit is set to be less than 1/2 of the via hole diameter.
Here, it is desirable to use copper plating as the electrolytic plating.

【0041】(8) さらに、めっきレジストを除去した
後、硫酸と過酸化水素の混合液や過硫酸ナトリウム、過
硫酸アンモニウムなどのエッチング液でめっきレジスト
下の無電解めっき膜を溶解除去して、独立した導体回路
と充填バイアホールとする。
(8) Further, after removing the plating resist, the electroless plating film under the plating resist is dissolved and removed by a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide or an etching solution such as sodium persulfate or ammonium persulfate to remove the plating resist. Conductor circuit and filled via hole.

【0042】(9) 次に、導体回路の表面に粗化層を形成
する。粗化層の形成方法としては、エッチング処理、研
磨処理、酸化還元処理、めっき処理がある。これらの処
理のうち酸化還元処理は、NaOH(20g/l)、NaClO
2(50g/l)、Na3PO4(15.0g/l)を酸化浴(黒化
浴)、NaOH(2.7g/l)、NaBH4 (1.0g/l)を還元
浴とする。また、銅−ニッケル−リン合金層からなる粗
化層は、無電解めっき処理による析出により形成され
る。この合金の無電解めっき液としては、硫酸銅1〜40
g/l、硫酸ニッケル 0.1〜6.0 g/l、クエン酸10〜
20g/l、次亜リン酸塩10〜100 g/l、ホウ酸10〜40
g/l、界面活性剤0.01〜10g/lからなる液組成のめ
っき浴を用いることが望ましい。
(9) Next, a roughening layer is formed on the surface of the conductor circuit. As a method for forming the roughened layer, there are etching treatment, polishing treatment, redox treatment, and plating treatment. Among these treatments, the redox treatment is NaOH (20g / l), NaClO
2 (50 g / l), Na 3 PO 4 (15.0 g / l) as an oxidation bath (blackening bath), NaOH (2.7 g / l) and NaBH 4 (1.0 g / l) as a reduction bath. The roughened layer made of the copper-nickel-phosphorus alloy layer is formed by deposition by electroless plating. As electroless plating solution for this alloy, copper sulfate 1-40
g / l, nickel sulfate 0.1-6.0 g / l, citric acid 10-
20 g / l, hypophosphite 10-100 g / l, boric acid 10-40
It is desirable to use a plating bath having a liquid composition of g / l and a surfactant of 0.01 to 10 g / l.

【0043】さらに、この粗化層表面をイオン化傾向が
銅より大きくチタン以下である金属もしくは貴金属の層
にて被覆する。スズの場合は、ホウフッ化スズ−チオ尿
素、塩化スズ−チオ尿素液を使用する。このとき、Cu−
Snの置換反応により 0.1〜2μm程度のSn層が形成され
る。貴金属の場合は、スパッタや蒸着などの方法が採用
できる。
Further, the surface of the roughened layer is covered with a layer of a metal or a noble metal having an ionization tendency larger than that of copper and not more than titanium. In the case of tin, tin borofluoride-thiourea and tin chloride-thiourea liquids are used. At this time, Cu-
A Sn layer of about 0.1 to 2 μm is formed by the Sn substitution reaction. In the case of a noble metal, a method such as sputtering or vapor deposition can be adopted.

【0044】(10)次に、この基板上に層間樹脂絶縁層と
して、無電解めっき用接着剤層を形成する。 (11)さらに、前記 (3)〜(8) の工程を繰り返してさらに
上層の導体回路を設ける。この導体回路は、はんだパッ
ドとして機能する導体パッドあるいはバイアホールであ
る。
(10) Next, an adhesive layer for electroless plating is formed as an interlayer resin insulating layer on this substrate. (11) Further, the above steps (3) to (8) are repeated to provide an upper conductor circuit. This conductor circuit is a conductor pad or via hole that functions as a solder pad.

【0045】(12)次に、こうして得られた配線基板の表
面に、ソルダーレジスト組成物を塗布し、その塗膜を乾
燥した後、この塗膜に、開口部を描画したフォトマスク
フィルムを載置して露光、現像処理することにより、導
体回路のうちはんだパッド(導体パッド、バイアホール
を含む)部分を露出させた開口部を形成する。ここで、
前記開口部の開口径は、はんだパッドの径よりも大きく
することができ、はんだパッドを完全に露出させてもよ
い。また、逆に前記開口部の開口径は、はんだパッドの
径よりも小さくすることができ、はんだパッドの縁周を
ソルダーレジスト層で被覆することができる。この場
合、はんだパッドをソルダーレジスト層で抑えることが
でき、はんだパッドの剥離を防止できる。
(12) Next, the surface of the wiring board thus obtained is coated with a solder resist composition, the coating film is dried, and then a photomask film having an opening is drawn on the coating film. Then, the substrate is exposed to light and developed to form an opening that exposes the solder pad (including the conductor pad and the via hole) of the conductor circuit. here,
The opening diameter of the opening may be larger than the diameter of the solder pad, and the solder pad may be completely exposed. On the contrary, the opening diameter of the opening can be made smaller than the diameter of the solder pad, and the periphery of the solder pad can be covered with the solder resist layer. In this case, the solder pad can be suppressed by the solder resist layer, and peeling of the solder pad can be prevented.

【0046】(13)次に、前記開口部から露出した前記は
んだパッド部上に「ニッケル−金」の金属層を形成す
る。ニッケル層は1〜7μmが望ましく、金層は0.01〜0.
06μmがよい。この理由は、ニッケル層は、厚すぎると
抵抗値の増大を招き、薄すぎると剥離しやすいからであ
る。一方金層は、厚すぎるとコスト増になり、薄すぎる
とはんだ体との密着効果が低下するからである。
(13) Next, a "nickel-gold" metal layer is formed on the solder pad portion exposed from the opening. The nickel layer is preferably 1-7 μm, and the gold layer is 0.01-0.
06 μm is good. The reason for this is that if the nickel layer is too thick, the resistance value will increase, and if it is too thin, it will easily peel off. On the other hand, if the gold layer is too thick, the cost will increase, and if it is too thin, the adhesion effect with the solder body will decrease.

【0047】(14)次に、前記開口部から露出した前記は
んだパッド部上にはんだ体を供給する。はんだ体の供給
方法としては、はんだ転写法や印刷法を用いることがで
きる。ここで、はんだ転写法は、プリプレグにはんだ箔
を貼合し、このはんだ箔を開口部分に相当する箇所のみ
を残してエッチングすることによりはんだパターンを形
成してはんだキャリアフィルムとし、このはんだキャリ
アフィルムを、基板のソルダーレジスト開口部分にフラ
ックスを塗布した後、はんだパターンがパッドに接触す
るように積層し、これを加熱して転写する方法である。
一方、印刷法は、パッドに相当する箇所に貫通孔を設け
たメタルマスクを基板に載置し、はんだペーストを印刷
して加熱処理する方法である。
(14) Next, a solder body is supplied onto the solder pad portion exposed from the opening. As a method of supplying the solder body, a solder transfer method or a printing method can be used. Here, the solder transfer method is to bond a solder foil to a prepreg and form a solder carrier film by forming a solder pattern by etching this solder foil leaving only a portion corresponding to an opening portion, and this solder carrier film Is applied to the solder resist opening portion of the substrate, then laminated so that the solder pattern contacts the pad, and this is heated and transferred.
On the other hand, the printing method is a method in which a metal mask having through-holes at positions corresponding to pads is placed on a substrate, solder paste is printed, and heat treatment is performed.

【0048】[0048]

【実施例】(実施例1)(1) 下記〜で得た組成物を
混合攪拌し無電解めっき用接着剤を調製した。 .クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬
製、分子量2500)の25%アクリル化物を35重量部(固形
分80%)、感光性モノマー(東亜合成製、アロニックス
M315 )4重量部、消泡剤(サンノプコ製、S−65)0.
5 重量部、NMP3.6重量部を攪拌混合した。 .ポリエーテルスルフォン(PES)8重量部、エポ
キシ樹脂粒子(三洋化成製、ポリマーポール)の平均粒
径 0.5μmのものを 7.245重量部、を混合した後、さら
にNMP20重量部を添加し攪拌混合した。 .イミダゾール硬化剤(四国化成製、2E4MZ-CN)2重
量部、光開始剤(チバガイギー製、イルガキュア I−9
07 )2重量部、光増感剤(日本化薬製、DETX-S) 0.2
重量部、NMP 1.5重量部を攪拌混合した。
EXAMPLES (Example 1) (1) The compositions obtained in the following 1 to 3 were mixed and stirred to prepare an adhesive for electroless plating. . 35 parts by weight (solid content 80%) of 25% acrylate of cresol novolac type epoxy resin (Nippon Kayaku, molecular weight 2500), 4 parts by weight of photosensitive monomer (Toon Gosei, Aronix M315), defoaming agent (San Nopco Made, S-65) 0.
5 parts by weight and 3.6 parts by weight of NMP were mixed by stirring. . After mixing 8 parts by weight of polyether sulfone (PES) and 7.245 parts by weight of epoxy resin particles (manufactured by Sanyo Kasei Co., Ltd., polymer pole) having an average particle size of 0.5 μm, 20 parts by weight of NMP was further added and mixed by stirring. . Imidazole curing agent (Shikoku Kasei, 2E4MZ-CN) 2 parts by weight, photoinitiator (Ciba-Geigy, Irgacure I-9)
07) 2 parts by weight, photosensitizer (Nippon Kayaku, DETX-S) 0.2
By weight, 1.5 parts by weight of NMP were mixed by stirring.

【0049】(2) 表面に導体回路2を形成したビスマレ
イミドトリアジン(BT)樹脂基板1(図1 (a) 参
照)を、硫酸銅8g/l、硫酸ニッケル 0.6g、クエン
酸15g/l、次亜リン酸ナトリウム29g/l、ホウ酸31
g/l、界面活性剤 0.1g/lからなるpH=9の無電
解めっき液に浸漬し、該導体回路2の表面に厚さ3μm
の銅−ニッケル−リンからなる粗化層3を形成した。次
いで、その基板を水洗いし、0.1mol/lホウふっ化スズ
−1.0mol/lチオ尿素液からなる無電解スズ置換めっき
浴に50℃で1時間浸漬し、前記粗化層3の表面に 0.3μ
mのスズ層を設けた(図1(b) 参照、但し、スズ層につ
いては図示しない)。
(2) A bismaleimide triazine (BT) resin substrate 1 (see FIG. 1 (a)) having a conductor circuit 2 formed on the surface thereof was used, and 8 g / l of copper sulfate, 0.6 g of nickel sulfate, 15 g / l of citric acid, Sodium hypophosphite 29g / l, boric acid 31
g / l, 0.1 g / l of surfactant, pH = 9 electroless plating solution, and the conductor circuit 2 has a thickness of 3 μm.
A roughened layer 3 made of copper-nickel-phosphorus was formed. Then, the substrate was washed with water and immersed in an electroless tin displacement plating bath consisting of a 0.1 mol / l tin borofluoride-1.0 mol / l thiourea solution at 50 ° C. for 1 hour, and the surface of the roughened layer 3 was 0.3. μ
m tin layer was provided (see FIG. 1 (b), but the tin layer is not shown).

【0050】(3) 前記(1) で調製した無電解めっき用接
着剤を前記 (2)の処理を施した基板に塗布し(図1(c)
参照)、乾燥させた後、フォトマスクフィルムを載置し
て、露光、現像処理し、さらに熱硬化処理することによ
り、直径60μmの開口部(バイアホール用開口5)を有
する厚さ20μmの層間樹脂絶縁層4を形成した(図1
(d) 参照)。
(3) The adhesive for electroless plating prepared in (1) above was applied to the substrate treated in (2) above (FIG. 1 (c)).
After drying, a photomask film is placed, exposed, developed, and then heat-cured to form an interlayer with an opening (opening 5 for via hole) having a diameter of 60 μm and a thickness of 20 μm. A resin insulation layer 4 was formed (Fig. 1
(See (d)).

【0051】(4) 層間樹脂絶縁層4を形成した基板をク
ロム酸に19分間浸漬し、その表面に深さ4μmの粗化面
6を形成した(図1(e) 参照)。 (5) 粗化面6を形成した基板を無電解めっき液に浸漬
し、粗面全体に厚さ 0.6μmの無電解銅めっき膜7を形
成した(図1(f) 参照)。 (6) めっきレジスト8を常法に従い形成した(図2(a)
参照)。
(4) The substrate on which the interlayer resin insulation layer 4 was formed was dipped in chromic acid for 19 minutes to form a roughened surface 6 having a depth of 4 μm on the surface (see FIG. 1 (e)). (5) The substrate on which the roughened surface 6 was formed was immersed in an electroless plating solution to form an electroless copper plating film 7 having a thickness of 0.6 μm on the entire rough surface (see FIG. 1 (f)). (6) The plating resist 8 was formed by a conventional method (Fig. 2 (a)
reference).

【0052】(7) 次に、以下の条件にて、めっきレジス
ト非形成部分に電解めっきを施し、厚さ20μmの電解め
っき膜9を設けて導体回路を形成すると同時に、開口部
内をめっきで充填してバイアホール10を形成した(図2
(b) 参照)。 〔電解めっき水溶液〕 硫酸銅・5水和物 : 60 g/l レベリング剤(アトテック製、HL): 40 ml/l 硫酸 : 190 g/l 光沢剤(アトテック製、UV) : 0.5 ml/l 塩素イオン : 40 ppm 〔電解めっき条件〕 バブリング : 3.0リットル/分 電流密度 : 0.5A/dm2 設定電流値 : 0.18 A めっき時間 : 130分
(7) Next, under the following conditions, the plating resist
Electroless plating is applied to the non-formed part to obtain a 20 μm thick electrolytic
At the same time when the conductive film is formed by providing the plating film 9, the opening portion is formed.
The inside was filled with plating to form a via hole 10 (Fig. 2
(See (b)). [Electrolytic plating solution] Copper sulphate pentahydrate: 60 g / l Leveling agent (Atotech, HL): 40 ml / l Sulfuric acid: 190 g / l Brightener (Atotech, UV): 0.5 ml / l Chloride ion: 40 ppm [Electrolytic plating conditions] Bubbling: 3.0 liters / minute Current density: 0.5 A / dm2 Set current value: 0.18 A Plating time: 130 minutes

【0053】(8) めっきレジスト8を剥離除去した後、
硫酸と過酸化水素の混合液や過硫酸ナトリウム、過硫酸
アンモニウムなどのエッチング液でめっきレジスト下の
無電解めっき膜7を溶解除去して、無電解めっき膜7と
電解銅めっき膜9からなる厚さ約20μm、L/S=25μ
m/25μmの導体回路11を形成した。このとき、バイア
ホール10の表面は平坦であり、導体回路表面とバイアホ
ール表面の高さは同一であった。なお、発明者らの知見
によれば、層間樹脂絶縁層4の厚さが20μmの場合、バ
イアホール10の直径を25μm、40μm、60μm、80μm
にすると、それぞれの充填に必要なめっき膜の厚さは、
10.2μm、11.7μm、14.8μm、23.8μmである。
(8) After removing the plating resist 8 by peeling,
The electroless plated film 7 under the plating resist is dissolved and removed with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide or an etching solution such as sodium persulfate or ammonium persulfate to obtain a thickness composed of the electroless plated film 7 and the electrolytic copper plated film 9. About 20μm, L / S = 25μ
A conductor circuit 11 of m / 25 μm was formed. At this time, the surface of the via hole 10 was flat, and the heights of the conductor circuit surface and the via hole surface were the same. According to the knowledge of the inventors, when the thickness of the interlayer resin insulation layer 4 is 20 μm, the diameter of the via hole 10 is 25 μm, 40 μm, 60 μm, 80 μm.
Then, the thickness of the plating film required for each filling is
10.2 μm, 11.7 μm, 14.8 μm and 23.8 μm.

【0054】(9) この基板に前記(2) と同様にして粗化
層3を形成し、さらに前記 (3)〜(8)の工程を繰り返し
て多層プリント配線板を製造した(図2(c) 参照)。
(9) A roughened layer 3 was formed on this substrate in the same manner as in (2), and the steps (3) to (8) were repeated to produce a multilayer printed wiring board (see FIG. 2 ( See c)).

【0055】(実施例2)層間樹脂絶縁層を、厚さ20μ
mのフッ素樹脂フィルムを熱圧着させることにより形成
し、紫外線レーザを照射して直径60μmの開口を設けた
こと以外は、実施例1と同様にして多層プリント配線板
を製造した。
(Example 2) An interlayer resin insulation layer having a thickness of 20 μm
A multilayer printed wiring board was manufactured in the same manner as in Example 1 except that a fluororesin film having a diameter of 60 m was formed by thermocompression bonding, and an opening having a diameter of 60 μm was provided by irradiation with an ultraviolet laser.

【0056】(実施例3) (1) W.L.ゴア社(W.L. Gore & Associates, In
c.)のゴアテックス(登録商標 GORE−TEX、延
伸PTFE織物用繊維として入手できる延伸テトラフル
オロエチレン樹脂(PTFE)の繊維を用いて布を織っ
たものである。この布の構造は、長手方向2.54センチメ
ートル当たり53本の 400デニールの繊維、および横方向
2.54センチメートル当たり52本の 400デニールの繊維を
有する)を、層間樹脂絶縁層を構成するフッ素樹脂繊維
布として用いた。
(Example 3) (1) W. L. Gore (WL Gore & Associates, In
c. ) GORE-TEX (registered trademark GORE-TEX, a fiber of expanded tetrafluoroethylene resin (PTFE) available as a fiber for expanded PTFE woven fabric) is woven into a cloth, and the structure of the cloth is 2.54 cm in the longitudinal direction. 53 400 denier fibers per meter and transverse
(Having 52 400 denier fibers per 2.54 cm) was used as the fluororesin fiber cloth to make up the interlayer resin insulation layer.

【0057】(2) このフッ素樹脂繊維布を、15.24 セン
チメートル×15.24 センチメートルのシートに裁断し、
同じくW.L.ゴア社のテトラエッチ(登録商標 TE
TRA−ETCH)として入手できるアルカリ金属−ナ
フタレン溶液中に浸漬した。この処理の後、布を温水で
洗ってアセトンによりすすぎ洗いをした。このとき、繊
維は、テトラエッチによって暗褐色になり、布は、長手
方向および横方向に20%収縮した。そこで、この布を、
縁を手でつかんで元の寸法に引延ばした。一方、上記フ
ッ素樹脂繊維布に含浸させる熱硬化性樹脂として、ダウ
エポキシ樹脂 521−A80用のダウケミカル社製品カタロ
グの#296-396-783 のガイドラインに従って液状エポキ
シ樹脂を調製した。
(2) This fluororesin fiber cloth is cut into a sheet of 15.24 cm × 15.24 cm,
Similarly W. L. Gore Tetra Etch (registered trademark TE
TRA-ETCH) and immersed in an alkali metal-naphthalene solution. After this treatment, the cloth was washed with warm water and rinsed with acetone. At this time, the fibers turned dark brown due to tetraetch and the fabric shrank 20% in the machine and cross directions. So, this cloth
The edges were grabbed by hand and stretched to their original dimensions. On the other hand, as a thermosetting resin to be impregnated into the fluororesin fiber cloth, a liquid epoxy resin was prepared according to the guidelines of # 296-396-783 of Dow Chemical Co. product catalog for Dow epoxy resin 521-A80.

【0058】(3) この液状エポキシ樹脂を前記(2) で得
たフッ素樹脂繊維布に含浸させ、その樹脂含浸布を 160
℃で加熱乾燥させてBステージのシートとした。このと
き、シートの厚さは0.3556センチメートルで、シート中
の含浸樹脂量は5gであった。
(3) The liquid epoxy resin is impregnated in the fluororesin fiber cloth obtained in (2) above, and the resin-impregnated cloth is
It was heated and dried at 0 ° C. to obtain a B-stage sheet. At this time, the thickness of the sheet was 0.3556 cm, and the amount of impregnated resin in the sheet was 5 g.

【0059】(4) このBステージのシートを実施例1の
(2) の基板に積層し、175 ℃で80kg/cm2 の圧力でプレ
スして層間樹脂絶縁層を形成した。さらに、この層間樹
脂絶縁層に波長 220nmの紫外線レーザを照射して直径60
μmのバイアホール形成用開口を設けた。以後、実施例
1の (4)〜(9) の工程に従って多層プリント配線板を製
造した。
(4) This B-stage sheet is used in the first embodiment.
It was laminated on the substrate of (2) and pressed at a pressure of 80 kg / cm 2 at 175 ° C. to form an interlayer resin insulation layer. Further, the interlayer resin insulation layer is irradiated with an ultraviolet laser having a wavelength of 220 nm to obtain a diameter of 60 nm.
An opening for forming a via hole of μm was provided. Thereafter, a multilayer printed wiring board was manufactured according to the steps (4) to (9) of Example 1.

【0060】(比較例1)特開平2−188992号公報に準
じ、硫酸銅:0.06 mol/l、ホルマリン:0.3mol/l、
NaOH:0.35 mol/l、EDTA:0.35 mol/l、添加
剤:少々、温度:75℃、pH=12.4の無電解めっき水溶
液に11時間浸漬し、厚さ25μmの無電解めっき膜のみか
らなる導体回路とバイアホールを形成したこと以外は、
実施例1と同様にして多層プリント配線板を製造した。
この配線板においては、層間樹脂絶縁層の開口部はめっ
きで充填されていてもその中央部には、20〜25μm程度
の窪みが観察された。
(Comparative Example 1) Copper sulfate: 0.06 mol / l, formalin: 0.3 mol / l, according to JP-A-2-188992.
NaOH: 0.35 mol / l, EDTA: 0.35 mol / l, additive: a little, temperature: 75 ° C, immersed in an electroless plating solution of pH = 12.4 for 11 hours, a conductor consisting of a 25 μm thick electroless plating film only Except for forming circuits and via holes,
A multilayer printed wiring board was manufactured in the same manner as in Example 1.
In this wiring board, even if the opening of the interlayer resin insulation layer was filled with plating, a depression of about 20 to 25 μm was observed at the center thereof.

【0061】(比較例2)特開平9−312472号公報に準
じて多層プリント配線板を製造した。即ち、実施例1の
(1)〜(5) までを実施し、次いで、硫酸銅0.05mol /リ
ットル、ホルマリン0.3mol/リットル、水酸化ナトリウ
ム0.35mol /リットル、エチレンジアミン四酢酸(EDTA)
0.35mol/リットルの水溶液からなる無電解めっき液に
浸漬し、厚さ40μmのめっき膜を形成した。さらにドラ
イフィルムを貼着し、露光、現像してL/S=25μm/
25μmのエッチングレジストを形成し、硫酸と過酸化水
素の混合液によりエッチングしたところ、導体回路がア
ンダーカットにより剥離してしまった。
(Comparative Example 2) A multilayer printed wiring board was manufactured according to Japanese Patent Laid-Open No. 9-312472. That is, in the first embodiment
Perform steps (1) to (5), then copper sulfate 0.05 mol / liter, formalin 0.3 mol / liter, sodium hydroxide 0.35 mol / liter, ethylenediaminetetraacetic acid (EDTA)
It was immersed in an electroless plating solution consisting of an aqueous solution of 0.35 mol / liter to form a plating film having a thickness of 40 μm. Further, a dry film is attached, exposed and developed, L / S = 25 μm /
When a 25 μm etching resist was formed and etched with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide, the conductor circuit was peeled off due to undercut.

【0062】このように製造した実施例1,2,3およ
び比較例1の多層プリント配線板について、層間樹脂
絶縁層の表面平坦性、ならびにバイアホールの接続信
頼性を調べた。については、1回の塗布後で層間樹脂
絶縁層に窪みが生じるか否かで判断した。また、につ
いては、バイアホール上にさらにバイアホールを形成し
た場合に、上側のバイアホールに導通不良が存在するか
否かについてプローブにて調べた。その結果を表1に示
す。
With respect to the multilayer printed wiring boards of Examples 1, 2, 3 and Comparative Example 1 thus manufactured, the surface flatness of the interlayer resin insulating layer and the connection reliability of via holes were examined. With respect to the above, it was judged whether or not a recess was formed in the interlayer resin insulating layer after one application. As for the above, when a via hole was further formed on the via hole, it was examined with a probe whether or not there is a conduction failure in the upper via hole. The results are shown in Table 1.

【0063】この表1に示す結果から明らかなように、
実施例1,2,3の多層プリント配線板は、層間樹脂絶
縁層の表面平坦性に優れるので、バイアホール上にさら
にバイアホールを形成した場合にも、窪みに起因したパ
ターンの断線不良がなく接続信頼性に優れ、しかも、I
Cチップ等の実装性にも優れる。さらに、本発明にかか
る実施例1,2,3の多層プリント配線板は、量産した
場合でも、バイアホールの接続信頼性に優れるものであ
った。また、実施例1,2,3の多層プリント配線板に
よれば、L/S=25/25μmのような微細なパターンを
形成できる。
As is clear from the results shown in Table 1,
Since the multilayer printed wiring boards of Examples 1, 2 and 3 are excellent in the surface flatness of the interlayer resin insulation layer, even if a via hole is further formed on the via hole, there is no pattern disconnection defect due to the depression. Excellent connection reliability and I
Excellent mountability for C chips. Furthermore, the multilayer printed wiring boards of Examples 1, 2, and 3 according to the present invention were excellent in via hole connection reliability even when mass-produced. Further, according to the multilayer printed wiring boards of Examples 1, 2, and 3, a fine pattern such as L / S = 25/25 μm can be formed.

【0064】[0064]

【表1】 [Table 1]

【0065】[0065]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、微
細パターンを形成できるフィルドビア構造を有し、表面
平滑性および接続信頼性に優れた多層プリント配線板を
提供することができる。
As described above, according to the present invention, it is possible to provide a multilayer printed wiring board having a filled via structure capable of forming a fine pattern and having excellent surface smoothness and connection reliability.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】発明にかかる多層プリント配線板の各製造工程
を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing each manufacturing process of a multilayer printed wiring board according to the invention.

【図2】発明にかかる多層プリント配線板の各製造工程
を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing each manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2,11 導体回路 3 粗化層 4 層間樹脂絶縁層 5 バイアホール用開口 6 粗化面 7 無電解めっき膜 8 めっきレジスト 9 電解めっき膜 10 充填バイアホール 1 substrate 2,11 conductor circuit 3 roughening layer 4 Interlayer resin insulation layer 5 Via hole openings 6 roughened surface 7 Electroless plating film 8 Plating resist 9 Electroplated film 10 Filled via holes

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 浅井 元雄 岐阜県揖斐郡揖斐川町北方1−1 イビデ ン株式会社内 Fターム(参考) 5E343 AA07 AA16 AA17 AA18 AA19 AA22 AA23 BB23 BB24 BB44 BB54 BB67 CC17 CC73 DD33 DD43 EE37 EE52 GG13 5E346 AA43 CC08 CC09 CC10 CC12 CC13 CC14 CC16 CC32 CC37 CC43 DD12 DD23 DD24 GG40 HH07    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Motoo Asai             1-1 Ibide, Northern Ibigawa-cho, Ibi-gun, Gifu Prefecture             Within the corporation F-term (reference) 5E343 AA07 AA16 AA17 AA18 AA19                       AA22 AA23 BB23 BB24 BB44                       BB54 BB67 CC17 CC73 DD33                       DD43 EE37 EE52 GG13                 5E346 AA43 CC08 CC09 CC10 CC12                       CC13 CC14 CC16 CC32 CC37                       CC43 DD12 DD23 DD24 GG40                       HH07

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 導体回路と層間樹脂絶縁層とが交互に積
層された多層プリント配線板において、前記層間樹脂絶
縁層には、開口部が設けられ、かつこの開口部に、めっ
きを充填してなる表面の平坦なバイアホールが、該バイ
アホールと同じ層に位置する他の導体回路と表面高さを
同一にして形成されており、前記導体回路は、その厚さ
がバイアホール径の1/2未満であることを特徴とする
多層プリント配線板。
1. In a multilayer printed wiring board in which conductor circuits and interlayer resin insulation layers are alternately laminated, an opening is provided in the interlayer resin insulation layer, and the opening is filled with plating. The surface of the via hole having a flat surface is formed to have the same surface height as other conductor circuits located in the same layer as the via hole, and the thickness of the conductor circuit is 1 / the diameter of the via hole. A multilayer printed wiring board characterized by being less than 2.
【請求項2】 前記開口部は、その壁面が粗化処理され
ていることを特徴とする請求項1に記載の多層プリント
配線板。
2. The multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein a wall surface of the opening is roughened.
【請求項3】 前記バイアホールが接続する下層側の導
体回路は、その表面が粗化処理されていることを特徴と
する請求項1または2に記載の多層プリント配線板。
3. The multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the conductor circuit on the lower layer side to which the via hole is connected has a surface roughened.
【請求項4】 前記バイアホール上に、さらにバイアホ
ールが形成されていることを特徴とする請求項1〜3の
いずれか1に記載の多層プリント配線板。
4. The multilayer printed wiring board according to claim 1, further comprising a via hole formed on the via hole.
【請求項5】 バイアホールが形成された前記層間樹脂
絶縁層は、熱可塑性樹脂と熱硬化性樹脂の複合体からな
ることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1に記載の
多層プリント配線板。
5. The multi-layer print according to claim 1, wherein the interlayer resin insulation layer in which the via hole is formed is made of a composite of a thermoplastic resin and a thermosetting resin. Wiring board.
【請求項6】 (バイアホールの直径)/(層間樹脂絶
縁層の厚み)の比が1〜4であることを特徴とする請求
項1〜5のいずれか1に記載の多層プリント配線板。
6. The multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein a ratio of (diameter of via hole) / (thickness of interlayer resin insulation layer) is 1 to 4.
【請求項7】 導体回路の厚さは25μm未満である請求
項1〜6のいずれか1に記載の多層プリント配線板。
7. The multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the conductor circuit has a thickness of less than 25 μm.
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