JP2003107488A - Method and apparatus for scattering spacer - Google Patents

Method and apparatus for scattering spacer

Info

Publication number
JP2003107488A
JP2003107488A JP2001298680A JP2001298680A JP2003107488A JP 2003107488 A JP2003107488 A JP 2003107488A JP 2001298680 A JP2001298680 A JP 2001298680A JP 2001298680 A JP2001298680 A JP 2001298680A JP 2003107488 A JP2003107488 A JP 2003107488A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
stage
spacer
spacers
suction
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001298680A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Naoki Masuko
尚樹 増子
Takashi Takahashi
崇史 高橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shibaura Mechatronics Corp
Original Assignee
Shibaura Mechatronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shibaura Mechatronics Corp filed Critical Shibaura Mechatronics Corp
Priority to JP2001298680A priority Critical patent/JP2003107488A/en
Publication of JP2003107488A publication Critical patent/JP2003107488A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To smoothly remove a substrate, on which spacers are scattered, from a stage without disturbing the scattered state in the case of scattering the spacers to the substrate. SOLUTION: In the spacer scattering apparatus that scatters spacers onto the substrate 2 held by suction on the stage 1 in a chamber 4, when the scattered state of the spacers onto the substrate 2 is defective, a changeover device 8 selects a position of increasing the suction holding force exerted on the substrate 2 on the stage 1 and a cleaner 10 sucks and removes the spacers 3 on the substrate 2 strongly sucked. Since the suction holding force exerted to the substrate 2 in the stage 1 is increased only when the spacers 3 whose scattering state is defective are removed, the substrate 2 on which the spacers are normally scattered is held on the stage 1 with a smaller suction holding force. Thus, a vacuum destructive force exerted when the substrate 2 is removed is small, production of new static electricity is reduced and disturbance of the distribution of the spacers properly scattered can be avoided.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、例えば液晶表示
装置等を製造する際に使用されるスペーサ散布装置及び
スペーサ散布方法の改良に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an improvement of a spacer spraying device and a spacer spraying method used for manufacturing a liquid crystal display device or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶表示パネルの製造では、所定間隔の
セルギャップを形成するため、重ね合わせられる2枚の
ガラス基板の一方の基板の合わせ面に、スペーサと称す
るシリカ製等からなる真球状のビーズが散布される。
2. Description of the Related Art In the manufacture of a liquid crystal display panel, in order to form cell gaps with a predetermined distance, one spherical substrate made of silica or the like called a spacer is formed on the mating surface of one of two glass substrates to be superposed. Beads are sprinkled.

【0003】スペーサの散布には、湿式散布方式と乾式
散布方式が知られている。湿式散布方式とは、スペーサ
をフロンやエタノール等の有機溶媒に混合して、チャン
バ(散布槽)内の基板面に散布する方法であり、乾式散
布方式とは、スペーサをステンレス製等の配管内を空気
や窒素等のガスにより圧送し、チャンバ内の基板面に散
布する方法である。
Wet spraying methods and dry spraying methods are known for spraying spacers. The wet spray method is a method in which the spacer is mixed with an organic solvent such as CFC or ethanol and sprayed on the substrate surface in the chamber (spray tank) .The dry spray method is the spacer in a pipe made of stainless steel or the like. Is pressure-fed by a gas such as air or nitrogen and is sprayed on the substrate surface in the chamber.

【0004】乾式散布方式においてスペーサは、圧送途
中における配管壁との間の摩擦力によりマイナス(負)
に帯電するので、各スペーサは互いに反発しあいつつ散
布されるが、均一な散布が効率良く行われるべく、チャ
ンバ内壁をスペーサと同じマイナス極性に、また基板を
吸着保持したステージはスペーサとは反対のプラス
(正)極性あるいはアース(接地)状態とし、さらに散
布ノズルを揺動させつつ散布するなど、種々の工夫がな
されている。
In the dry spraying method, the spacer is negative due to the frictional force between the spacer and the pipe wall during the pressure feeding.
Since each spacer is repelled by each other, the spacers are sprayed while repelling each other.However, in order to perform uniform spraying efficiently, the inner wall of the chamber has the same negative polarity as the spacer, and the stage that holds the substrate by suction is opposite the spacer. Various measures have been taken, such as setting to a positive (positive) polarity or earth (ground) state, and further spraying while swinging the spray nozzle.

【0005】乾式散布方式においては、上記のように、
各スペーサはマイナスに帯電して互いに反発し合うの
で、スペーサの凝集は比較的少なく基板面上には比較的
均一性良く散布されるが、スペーサ自体は粒子径の極め
て小さい粉体であるので、もともと凝集体を形成しやす
いという性質を有している。従って、もしも凝集した状
態で基板面に散布されると、その部分だけセルギャップ
が大きくなり、それが液晶表示パネル等における表示む
らの発生要因となった。
In the dry spray method, as described above,
Since each spacer is negatively charged and repels each other, the agglomeration of the spacers is relatively small and the spacers are dispersed relatively uniformly on the substrate surface, but the spacers themselves are powders with an extremely small particle size. Originally, it has the property of easily forming aggregates. Therefore, if they are scattered on the substrate surface in an agglomerated state, the cell gap becomes large only in that portion, which becomes a cause of display unevenness in a liquid crystal display panel or the like.

【0006】また、チャンバ内壁や散布ノズル周辺に付
着したスペーサが、塊となって滑落して基板面に付着す
ることもあるので、いずれにしても、表示パネルの製造
では、散布後のスペーサに付着むら等があるかどうかの
散布状態チェックが行われ、スペーサが良好に散布され
たと判定された基板のみが、ステージにおける吸着が解
除されて取り外され次の工程へと向け搬出される。散布
状態が不良の場合には、その基板上のスペーサが除去さ
れ、改めてスペーサの散布が行われる。
In addition, since spacers attached to the inner wall of the chamber or the periphery of the spray nozzle may slip and attach to the substrate surface as a lump, in any case, in the manufacture of the display panel, the spacer after spraying is used. The dispersion state is checked to see if there is uneven adhesion, etc., and only the substrates for which it is determined that the spacers have been dispersed well are released after removal of the suction on the stage and carried out to the next step. When the sprayed state is poor, the spacers on the substrate are removed and the spacers are sprayed again.

【0007】スペーサ散布装置では、集塵機能を有する
いわゆるクリーナが設置され、散布状態不良と判定され
た基板面上のスペーサは、クリーナによる吸引により除
去されるように構成されている。クリーナは、吸引ノズ
ルを用いてスペーサを吸引除去するものであることか
ら、このノズルによりスペーサを吸引するときにノズル
の吸引力により基板が吸い寄せられることがないよう
に、基板はステージ面に強く真空吸着されて保持されて
いる。
In the spacer spraying device, a so-called cleaner having a dust collecting function is installed, and the spacers on the substrate surface which are determined to be in a poor spraying state are removed by suction by the cleaner. Since the cleaner uses a suction nozzle to suck and remove the spacer, the substrate is strongly vacuumed onto the stage surface so that the suction force of the nozzle does not attract the substrate when the spacer is sucked by this nozzle. Adsorbed and retained.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】上記のように、スペー
サ散布装置では、基板上のスペーサ散布状態が不良と判
定されたとき、スペーサをクリーナにより吸引除去する
ので、基板自体はステージ面に予め強く吸着保持されて
いる。
As described above, in the spacer spraying device, when the spacer spraying state on the substrate is determined to be defective, the spacer is sucked and removed by the cleaner, so that the substrate itself is strongly attached to the stage surface in advance. Adsorbed and held.

【0009】スペーサが基板面に良好に散布されたと判
定された基板は、次の工程に引き渡されるに際して、ス
テージにおける真空吸着の解除と、ステージ面からの取
り外しが行われる。
The substrate for which it is determined that the spacers are well dispersed on the substrate surface is released from the vacuum suction on the stage and removed from the stage surface when it is delivered to the next step.

【0010】基板がステージから真空吸着が解除されて
引き剥がされる状態を観察すると、基板は、強く真空吸
着され面接触状態から急激な真空破壊を経て剥離される
ので、その剥離の際に外側からステージ面と基板面との
間に流れ込む空気流により、基板との間に強い空気摩擦
が発生し、新たな静電気が発生するという現象がみられ
る。
Observing the state in which the substrate is released from the stage by vacuum suction and is peeled off, the substrate is strongly vacuum-sucked and is peeled off from the surface contact state through a rapid vacuum break. There is a phenomenon in which a strong air friction is generated between the stage surface and the substrate surface and strong static air friction is generated between the substrate surface and the static electricity surface.

【0011】このように、ステージ面での吸着保持を解
除して基板を取り外す際に、新たに静電気が発生すると
その発生した静電気により基板がマイナスに帯電してし
まい、せっかく均一かつ適正に散布されていたスペーサ
の分布が乱れ、液晶表示パネル等における表示不良をも
たらす要因となった。
As described above, when the substrate is removed by removing the suction and holding on the stage surface, if a new static electricity is generated, the static electricity generated negatively charges the substrate, and it is uniformly and properly dispersed. The distribution of the spacers used to be disturbed causes a display defect in a liquid crystal display panel or the like.

【0012】本発明は上記従来の課題を解決するために
なされたもので、スペーサの良好な散布状態を乱すこと
なく散布後の基板をステージから取り外すことができる
スペーサ散布装置及びスペーサ散布方法を提供すること
を目的とする。
The present invention has been made to solve the above-mentioned conventional problems, and provides a spacer spraying device and a spacer spraying method capable of removing a substrate after spraying from a stage without disturbing a good spraying state of spacers. The purpose is to do.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】第1の発明は、チャンバ
内のステージに基板を吸着保持し、その基板面にスペー
サを散布するスペーサ散布装置において、前記基板を吸
着保持するステージと、このステージにおける前記基板
の吸着保持力を切替え選択可能な切替器と、前記基板面
に散布されたスペーサを、基板面から除去可能に構成さ
れたクリーナと、を具備することを特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a stage for adsorbing and holding a substrate on a stage in a chamber, and a stage for adsorbing and holding the substrate in a spacer sprinkling device for sprinkling spacers on the substrate surface. And a cleaner configured to be capable of removing the spacers scattered on the substrate surface from the substrate surface.

【0014】このように、本発明のスペーサ散布装置
は、基板の吸着保持力を切替え選択可能な切替器を設け
たので、切替え選択により、クリーナによるスペーサの
除去操作においてのみ、ステージにおける基板の吸着保
持力を高めるようにすることができる。
As described above, since the spacer spraying device of the present invention is provided with the switch capable of switching and selecting the suction holding force of the substrate, the switching selection allows the suction of the substrate on the stage only in the spacer removing operation by the cleaner. The holding power can be increased.

【0015】従って、均一かつ適正にスペーサ散布が行
われた状態では、比較的低く小さな吸着保持力が維持さ
れた状態でスペーサ散布後の基板をステージから取り外
すことができ、吸着解除に際して、スペーサの散布状態
に影響を与えるような新たな静電気の発生を抑制するこ
とができる。
Therefore, in the state where the spacers are uniformly and properly dispersed, the substrate after the spacers can be removed from the stage while maintaining the relatively low and small suction holding force. It is possible to suppress the generation of new static electricity that affects the spraying state.

【0016】また、第2の発明は、チャンバ内で吸着保
持された基板面にスペーサを散布するスペーサ散布方法
において、前記基板をステージに吸着保持する工程と、
前記ステージに吸着保持された基板の面に、前記スペー
サを散布する工程と、スペーサ散布後、前記基板面にお
けるスペーサの散布状態を判定する工程と、スペーサ散
布状態が不良と判定されたとき、前記ステージの吸着保
持力を高める工程と、吸着保持力が高められた状態で基
板面のスペーサを除去する工程と、基板面のスペーサが
除去された後、前記ステージの吸着保持力を低下させる
工程と、吸着保持力が低下された状態で基板面にスペー
サを改めて散布する工程と、からなることを特徴とす
る。
A second aspect of the invention is a spacer spraying method of spraying spacers on the surface of a substrate suction-held in a chamber, the step of sucking and holding the substrate on a stage,
On the surface of the substrate suction-held on the stage, the step of spraying the spacer, the step of, after spraying the spacer, determining the spraying state of the spacer on the surface of the substrate, when the spacer spraying state is determined to be defective, A step of increasing the suction holding force of the stage; a step of removing the spacer on the substrate surface in a state where the suction holding force is increased; and a step of reducing the suction holding force of the stage after the spacer on the substrate surface is removed. And a step of spraying spacers again on the substrate surface in a state where the suction holding force is reduced.

【0017】このように本発明のスペーサ散布方法によ
れば、スペーサの散布状態が不良のときに、ステージの
吸着保持力が高められてスペーサを除去し、その他の場
合はステージの吸着保持力が低く小さな状態でスペーサ
散布後の基板の取り外しが行われるので、従来のよう
に、適正に散布されたスペーサの散布状態を乱すような
静電気の発生を回避することができる。
As described above, according to the spacer spraying method of the present invention, when the spacer spraying state is poor, the suction holding force of the stage is increased to remove the spacer, and in other cases, the stage suction holding force is increased. Since the substrate is removed in a low and small state after the spacers have been scattered, it is possible to avoid the generation of static electricity that disturbs the scattered state of the spacers properly dispersed, as in the conventional case.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】以下、この発明のスペーサ散布装
置及びスペーサ散布方法の一実施の形態を図1及び図2
を参照して説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION An embodiment of a spacer spraying device and a spacer spraying method of the present invention will be described below with reference to FIGS.
Will be described with reference to.

【0019】図1は本発明の一実施の形態のスペーサ散
布装置の概略構成図である。なお図1は、ステージ1に
吸着保持された基板2面にスペーサ3が散布されている
状態を示したものであるが、装置全体の具体的構成とと
もに、散布の動作手順を以下詳細説明する。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a spacer spraying device according to an embodiment of the present invention. Although FIG. 1 shows a state in which the spacers 3 are scattered on the surface of the substrate 2 sucked and held by the stage 1, the spraying operation procedure will be described in detail below together with the specific configuration of the entire apparatus.

【0020】すなわち、基板2はチャンバ(散布槽)4
内にあり、スペーサ3を収納したスペーサ供給器5は、
配管5aを介してチャンバ4の天井に設けられた散布ノ
ズル5bに連結されている。
That is, the substrate 2 is a chamber (spray tank) 4
The spacer feeder 5 which is inside and stores the spacer 3 is
It is connected to a spray nozzle 5b provided on the ceiling of the chamber 4 via a pipe 5a.

【0021】基板2を吸着保持するステージ1は、搬送
レール6上を図示矢印X方向に移動して、スペーサ3が
散布されるチャンバ4内と、図示2点鎖線で示した基板
2の受け取り及び引き渡し位置との間を往復可能に構成
されている。
The stage 1 for sucking and holding the substrate 2 moves on the carrier rail 6 in the direction of the arrow X in the figure to receive the substrate 2 in the chamber 4 in which the spacers 3 are scattered and the substrate 2 indicated by the two-dot chain line in the figure. It is configured to be reciprocable to and from the delivery position.

【0022】スペーサ3が散布される基板2は、図示2
点鎖線で示した位置において、不図示の基板2の供給装
置を介して、ステージ1上に供給される。
The substrate 2 on which the spacers 3 are scattered is shown in FIG.
At the position shown by the dotted line, it is supplied onto the stage 1 via a supply device for the substrate 2 (not shown).

【0023】ステージ1には、基板2の受渡し用のピン
1aが上下動可能に設けられており、上昇したピン1a
が基板2を受け取り下降して、ステージ1面に基板2を
載置する。
A pin 1a for delivering the substrate 2 is provided on the stage 1 so as to be movable up and down, and the pin 1a is raised.
Receives the substrate 2 and descends to mount the substrate 2 on the surface of the stage 1.

【0024】散布装置には、装置全体の散布動作を統制
して制御する制御器7が設置され、ステージ1上に載置
された基板2は、制御器7による切替器8の制御によ
り、予め設定された所定の比較的弱い吸着保持力(ステ
ージ1上で基板2をずれることなく保持するに必要最小
限の吸着力)によりステージ1に吸着保持される。
A controller 7 is installed in the spraying device to control and control the spraying operation of the entire device. The substrate 2 placed on the stage 1 is controlled in advance by the controller 7 by the switching device 8. It is sucked and held on the stage 1 by a predetermined set relatively weak suction and holding force (the minimum suction force necessary for holding the substrate 2 on the stage 1 without shifting).

【0025】なお、図示は省略したが、基板2を吸着す
るためにステージ1面に開口した吸着孔は、従来と同様
に、基板2吸着用の吸引ポンプにつらなっており、基板
2はその吸引ポンプの吸引力により、ステージ1に真空
吸着される。そして、切替器8は制御器7の制御を受
け、吸引ポンプにおける吸引動作のON−OFF制御に
加えて、吸引力を少なくとも大小2段階(予め設定され
た所定の吸着力が得られる吸引力(小)と、後述のクリ
ーナ10による吸引により基板2が引き寄せられること
を阻止するに充分な吸引力(大))に切替設定が可能に
構成されている。また、吸着孔には、不図示の大気開放
弁が接続されており、この大気開放弁は切替器8による
吸引動作のOFF制御に連動して作動し、吸着孔内の真
空圧を大気に開放する。
Although not shown, the suction hole opened on the surface of the stage 1 for sucking the substrate 2 is connected to a suction pump for sucking the substrate 2 as in the conventional case, and the substrate 2 is attached to the suction pump. The stage 1 is vacuum-adsorbed by the suction force of the suction pump. Then, the switching device 8 is controlled by the controller 7, and in addition to the ON-OFF control of the suction operation in the suction pump, the suction force is at least in two stages of large and small (a suction force (a suction force that gives a preset predetermined suction force ( (Small) and a suction force (large) sufficient to prevent the substrate 2 from being attracted by suction by the cleaner 10, which will be described later, can be switched and set. Further, an atmosphere release valve (not shown) is connected to the adsorption hole, and this atmosphere release valve operates in conjunction with OFF control of the suction operation by the switching unit 8 to open the vacuum pressure in the adsorption hole to the atmosphere. To do.

【0026】基板2を受け取り吸着保持したステージ1
は、制御器7の制御により、搬送レール6上を移動し、
ドア4aが矢印Y方向に上昇して開口したチャンバ4の
入り口から、実線で示した位置に移動し、ドア4aが閉
じられた後、チャンバ4天井の散布ノズル5bから、ス
ペーサ3がステージ1に吸着保持された基板2面上に供
給散布されるように構成されている。
The stage 1 which receives the substrate 2 and holds it by suction
Moves on the transport rail 6 under the control of the controller 7,
After the door 4a moves upward in the direction of the arrow Y and opens from the entrance of the chamber 4 to the position shown by the solid line, and the door 4a is closed, the spacer 3 is moved to the stage 1 from the spray nozzle 5b on the ceiling of the chamber 4. It is configured so as to be supplied and scattered on the surface of the substrate 2 that is suction-held.

【0027】なお、ステージ1はプラス極性に帯電され
ているか、あるいはアース状態に保持され、内壁面がマ
イナス極性に帯電されたチャンバ4とは絶縁されて配置
されている。
The stage 1 is charged with a positive polarity, or is held in a grounded state, and is disposed so as to be insulated from the chamber 4 whose inner wall surface is charged with a negative polarity.

【0028】スペーサ3は、スペーサ供給器5から空気
または不活性ガスの圧力によりステンレス製の配管5a
内を圧送されつつ、散布ノズル5bからチャンバ4内に
噴出供給されるが、配管5a内壁との間の摩擦によりマ
イナスに帯電されたスペーサ3は、チヤンバ4内壁のマ
イナス帯電により、チャンバ4内壁への付着は軽減され
て、ステージ1上の基板2面には効率良く均一に散布さ
れる。
The spacer 3 is a pipe 5a made of stainless steel by the pressure of air or an inert gas from the spacer feeder 5.
While being pressure-fed, the spacer 3 is jetted and supplied from the spray nozzle 5b into the chamber 4, but the spacer 3 that is negatively charged by the friction with the inner wall of the pipe 5a is transferred to the inner wall of the chamber 4 by the negative charge of the inner wall of the chamber 4. Is reduced, and is efficiently and uniformly dispersed on the surface of the substrate 2 on the stage 1.

【0029】スペーサ3の散布が終了した基板2は、ス
テージ1の搬送レール6上の移動により、開けられたド
ア4aから図1(a)に2点鎖線で示した位置に戻され
基板2は取り外されるが、その基板2の取り外し位置ま
での途中経路の上方に撮像機器9が設置されていて、基
板2上に散布されたスペーサ3の散布状態が撮影され、
その撮像パターンは制御器7に供給される。
The substrate 2 on which the spacers 3 have been sprayed is returned from the opened door 4a to the position shown by the chain double-dashed line in FIG. 1A by the movement of the stage 1 on the transport rail 6. Although detached, the imaging device 9 is installed above the intermediate path to the removal position of the substrate 2, and the scattered state of the spacers 3 scattered on the substrate 2 is photographed.
The imaging pattern is supplied to the controller 7.

【0030】制御器7は、撮像機器9からの撮像パター
ンを導入し、例えばパターン認識により、基板2上にス
ペーサ3が適正に分布した状態か否か、つまり散布状態
を判定する。
The controller 7 introduces the image pickup pattern from the image pickup device 9 and judges, for example, by pattern recognition, whether the spacers 3 are properly distributed on the substrate 2, that is, the scattered state.

【0031】制御器7は、散布後の基板2における散布
状態が良好と判定したとき、切替器8を制御してステー
ジ1の吸着孔への吸引動作をOFF制御(大気開放弁作
動)するとともに、ステージ1のピン1aを上昇制御す
ることにより、吸着保持が解除された基板2をステージ
1の上面から引き離す。ステージ1上面から引き離され
た基板2は、不図示の搬出ロボットにより、次の工程へ
と搬送される。
When the controller 7 determines that the sprayed state on the substrate 2 after spraying is good, it controls the switch 8 to turn off the suction operation to the suction hole of the stage 1 (atmosphere opening valve operation). , The pin 1a of the stage 1 is controlled to be lifted, so that the substrate 2 from which the suction holding is released is separated from the upper surface of the stage 1. The substrate 2 separated from the upper surface of the stage 1 is carried to the next step by a carry-out robot (not shown).

【0032】また、制御器7は、スペーサ3が適正に分
布していない、つまり不良と判定したとき、ステージ1
の吸着孔に作用させる吸引力を高め、ステージ1による
基板2の吸着保持力を高めるよう切替器8を制御し、ス
テージ1を再びチャンバ4に向け移動させる。
Further, when the controller 7 determines that the spacers 3 are not properly distributed, that is, when the spacers 3 are defective, the stage 1
The switching device 8 is controlled so as to increase the suction force applied to the suction holes and to increase the suction holding force of the substrate 2 by the stage 1, and move the stage 1 toward the chamber 4 again.

【0033】そこで、チャンバ4の手前上方には、基板
2上のスペーサ3を吸引除去可能に構成されたクリーナ
10が配置されている。クリーナ10は、図示のように
真空源10aがパイプ10bを介してクリーナヘッド1
0cに連結接続されて構成され、制御器7による真空源
10aの作動操作により、チャンバ4に向けて通過する
基板2面上のスペーサ3を吸引除去する。なお、スペー
サ3を吸引するためのクリーナヘッド10cの開口は、
図1(a)のA−A線から矢印方向を見た図1(b)に
示すように基板2の幅Hよりやや広い幅を有するように
形成されている。
Therefore, above the front side of the chamber 4, a cleaner 10 is arranged so that the spacer 3 on the substrate 2 can be removed by suction. As shown in the figure, the cleaner 10 includes a vacuum head 10a and a cleaner head 1 through a pipe 10b.
0c, the spacer 3 on the surface of the substrate 2 passing toward the chamber 4 is sucked and removed by the operation of the vacuum source 10a by the controller 7. The opening of the cleaner head 10c for sucking the spacer 3 is
As shown in FIG. 1B when the arrow direction is taken from the line AA of FIG. 1A, it is formed to have a width slightly wider than the width H of the substrate 2.

【0034】このように、制御器7によるクリーナ10
の制御により、スペーサ3が不適切に散布された基板2
が、改めてスペーサ3の散布を受けるべく、チャンバ4
内に戻る過程で、基板2上のスペーサ3は吸引除去され
る。
Thus, the cleaner 10 by the controller 7
Of the substrate 2 on which the spacers 3 are improperly dispersed by the control of the
However, in order to receive the spraying of the spacer 3 again, the chamber 4
In the process of returning to the inside, the spacer 3 on the substrate 2 is sucked and removed.

【0035】チャンバ4内にステージ1が移動した後、
新たに散布ノズル5bからのスペーサ3の散布を受ける
までの間に、制御器7は切替器8を制御して、ステージ
1の吸着孔への吸引動作を一旦OFF制御(大気開放弁
作動)した後、吸着孔に作用させる吸引力をそれまでの
吸引力よりも低い、すなわち予め設定された所定の吸着
力が得られる吸引力に切替制御して吸引動作をONす
る。
After the stage 1 is moved into the chamber 4,
The controller 7 controls the switch 8 to temporarily turn off the suction operation to the suction hole of the stage 1 (atmosphere opening valve operation) until the spraying of the spacer 3 from the spraying nozzle 5b is newly performed. After that, the suction force applied to the suction holes is controlled to be lower than the suction force up to that point, that is, the suction force that provides a predetermined preset suction force is switched to turn on the suction operation.

【0036】このように、ステージ1の吸着孔に作用さ
れている大きな吸引力が一旦OFFとされるとともに大
気に開放されることで、ステージ1と基板2との間で強
く面接触した状態が一旦解除され、その後、小さな吸着
保持力で保持し直されるので、散布後の基板2のステー
ジ1からの剥離の際の真空破壊による静電気の発生量は
軽減される。
As described above, since the large suction force acting on the suction hole of the stage 1 is once turned off and released to the atmosphere, the state where the stage 1 and the substrate 2 are in strong surface contact is maintained. Since it is once released and then held again with a small suction holding force, the amount of static electricity generated by the vacuum break at the time of peeling the substrate 2 after the spraying from the stage 1 is reduced.

【0037】もちろん、吸着孔を大気に開放する代わり
に、吸着孔を正圧供給源に切替接続可能に構成し、ステ
ージ1上の基板2が大きく位置ずれを生じない程度の正
圧を付与するようにしても良い。
Of course, instead of opening the adsorption holes to the atmosphere, the adsorption holes can be switched and connected to a positive pressure supply source, and a positive pressure is applied to the substrate 2 on the stage 1 so as not to cause a large displacement. You may do it.

【0038】いずれにしても、上記のように、不適切に
散布されたスペーサ3が除去された基板2は、チャンバ
4内において、自動的にはじめの低く小さな真空吸着力
でステージ1に保持された状態に復帰して、通常の散布
が再開される。
In any case, as described above, the substrate 2 from which the spacers 3 which have been improperly scattered are removed is automatically held in the chamber 1 on the stage 1 by the initial low vacuum suction force. The normal spraying is resumed after returning to the normal state.

【0039】上記のように、この実施の形態のスペーサ
散布装置及び散布方法によれば、基板2は、制御器7の
制御により、スペーサ3散布後のステージ1からの取り
外されるときには、小さく低い真空吸着状態とされてい
るので、基板2のステージ1からの取り外しに際し、散
布プロセスに悪影響を与えるような大きな静電気の発生
を回避でき、良好な散布状態を乱すことなく基板2をス
テージ1上から取り外すことができ、これにより、スペ
ーサ散布の効率を向上させることができる。
As described above, according to the spacer spraying apparatus and the spraying method of this embodiment, the substrate 2 is controlled by the controller 7, and when it is removed from the stage 1 after the spacers 3 have been sprayed, a small and low vacuum is applied. Since it is in the adsorption state, when the substrate 2 is removed from the stage 1, it is possible to avoid the generation of large static electricity that adversely affects the spraying process, and the substrate 2 is removed from the stage 1 without disturbing the good spraying state. Therefore, it is possible to improve the efficiency of spacer dispersion.

【0040】上記構成の制御器7における具体的手順を
図2に示しフローチャートを参照して更に説明する。
A concrete procedure in the controller 7 having the above construction will be further described with reference to the flow chart shown in FIG.

【0041】すなわち、図2は制御器7における散布制
御動作の手順を示したもので、まず制御器7は搬送され
てきた基板2をステージ1に吸着保持する(ステップ2
A)。次に、制御器7は、ステージ1を搬送レール6上
で移動させ、チャンバ4内に搬送移動させるとともに。
その後、ドア4aを閉じ、基板2上にスペーサ3を散布
させる(ステップ2B)。
That is, FIG. 2 shows the procedure of the spraying control operation in the controller 7. First, the controller 7 sucks and holds the conveyed substrate 2 on the stage 1 (step 2).
A). Next, the controller 7 moves the stage 1 on the transfer rail 6 and transfers the stage 1 into the chamber 4.
Then, the door 4a is closed and the spacers 3 are scattered on the substrate 2 (step 2B).

【0042】スペーサ3の散布が終了した後、制御器7
は、ステージ1を搬送レール6上で移動させ、図1
(a)に2点鎖線で示す位置に位置付ける。そしてこの
位置で、制御器7は、撮像機器9により基板2を撮影
し、この撮像パターンに基づいて、スペーサ3が基板2
上に適正に散布され分布しているか否か、散布状態の良
否の判定を行う(ステップ2C)。
After the spraying of the spacers 3 is completed, the controller 7
Moves the stage 1 on the transfer rail 6,
It is positioned at the position indicated by the two-dot chain line in (a). Then, at this position, the controller 7 captures an image of the substrate 2 by the image capturing device 9, and the spacer 3 detects the substrate 2 based on the image capturing pattern.
It is determined whether or not the particles are properly dispersed and distributed on the upper side, and whether or not the dispersion state is good (step 2C).

【0043】次に、制御器7は、ステップ2Dにおい
て、基板2上のスペーサ3の散布状態を適正と判定(Y
ES)したとき、ステップ2Eに移行し、切替器8を制
御してステージ1の吸着孔への吸引動作をOFFすると
ともに、ピン1aを上昇制御して、基板2をステージ1
上面から引き外し、次の工程へと搬送して(ステップ2
E)、一枚の基板2に対するスペーサの散布は終了す
る。
Next, in step 2D, the controller 7 determines that the dispersion state of the spacers 3 on the substrate 2 is proper (Y
ES), the process proceeds to step 2E, the switching device 8 is controlled to turn off the suction operation to the suction hole of the stage 1, and the pin 1a is controlled to move upward to move the substrate 2 to the stage 1.
Remove it from the top surface and transport it to the next process (Step 2
E), the spraying of the spacers on one substrate 2 is completed.

【0044】上記ステップ2Dにおいて、スペーサ3の
散布状態を不適正(不良)と判定(NO)したとき、ス
テップ2Fに移行し、制御器7は、切替器8を制御して
ステージ1の吸着孔に作用させる吸引力を高める。
When it is determined in step 2D that the spraying state of the spacer 3 is improper (defective) (NO), the process proceeds to step 2F, and the controller 7 controls the switch 8 to hold the suction holes of the stage 1. Increase the suction force that acts on.

【0045】続いて、ステップ2Gにおいて、制御器7
は、クリーナ10を起動させるとともに、ステージ1を
チャンバ4内へと移動させ、この移動過程において基板
2面に散布されたスペーサ3をクリーナ10にて吸引除
去する。ステージ1がチャンバ4内に移動した後、制御
器7は、切替器8を制御して、ステージ1の吸着孔への
吸引動作を一旦OFFする。
Then, in step 2G, the controller 7
Activates the cleaner 10, moves the stage 1 into the chamber 4, and sucks and removes the spacers 3 scattered on the surface of the substrate 2 in the movement process. After the stage 1 has moved into the chamber 4, the controller 7 controls the switch 8 to temporarily turn off the suction operation of the stage 1 to the suction holes.

【0046】このステップ2Gの後、制御器7は、クリ
ーナ10の動作をOFFにするとともに、その後、ステ
ージ1の吸着孔に作用させる吸引力をそれまでの吸引力
よりも小さな予め設定された所定の吸着保持力が得られ
る吸引力に切替制御して吸引動作をONし、吸着力基板
2をステージ1に吸着させて、通常のスペーサ3の散布
動作を再開させる(ステップ2H)。
After step 2G, the controller 7 turns off the operation of the cleaner 10, and thereafter, the suction force applied to the suction holes of the stage 1 is set to a predetermined value smaller than the suction force up to that point. Then, the suction operation is turned on by controlling the suction force to obtain the suction holding force of 1, and the suction force substrate 2 is sucked onto the stage 1, and the normal spraying operation of the spacer 3 is restarted (step 2H).

【0047】ステップ2Hの後は、制御器7はステップ
2Cに戻り、以後のステップを実行する。
After step 2H, the controller 7 returns to step 2C and executes the subsequent steps.

【0048】上記のように、不適切に散布されたスペー
サ3が除去された場合でも、基板2は、予め設定された
所定の吸引力でステージ1に吸着保持され直された後
に、散布動作が行なわれることとなる。
As described above, even if the spacers 3 which have been improperly dispersed are removed, the substrate 2 is re-adsorbed and held on the stage 1 by a predetermined suction force set in advance, and then the spraying operation is performed. Will be done.

【0049】上記のように、この実施の形態のスペーサ
散布装置及びスペーサ散布方法によれば、基板2は、制
御器7の制御により、スペーサ3散布後のステージ1か
らの取り外しに際し、散布プロセスに悪影響を与えるよ
うな大きな静電気の発生が防止できるので、良好な散布
状態を乱すことなく基板2をステージ1上から取り外す
ことができ、この結果、効率の良いスペーサ散布を行う
ことができる。
As described above, according to the spacer spraying apparatus and the spacer spraying method of this embodiment, the substrate 2 is controlled by the controller 7 so that it can be removed from the stage 1 after the spacers 3 have been sprayed. Since it is possible to prevent the generation of large static electricity that has an adverse effect, it is possible to remove the substrate 2 from the stage 1 without disturbing the good dispersion state, and as a result, it is possible to perform efficient spacer dispersion.

【0050】また、クリーナ10によりスペーサ3が吸
引除去されるときには、基板2は強い吸引力で保持され
ることから、クリーナ10の吸引により基板2が吸い寄
せられることなく確実にスペーサ3の除去を行なうこと
ができる。
Further, when the spacer 3 is sucked and removed by the cleaner 10, the substrate 2 is held by a strong suction force, so that the spacer 3 is surely removed without the substrate 2 being sucked by the cleaner 10. be able to.

【0051】なお、図1に示す構成において、詳細な説
明は省略したが、切替器8によるステージ1の真空吸着
による基板2の吸着保持力の切替構成において、切替器
8は吸引ポンプとステージ1との間のパイプ(配管)に
設けられた電磁弁を開閉制御するように構成し、またパ
イプに圧力センサやレギュレータを設けて、ステージ1
における吸着力を監視してフィードバック制御するよう
に構成しても良い。
Although detailed description is omitted in the configuration shown in FIG. 1, in the configuration for switching the suction holding force of the substrate 2 by the vacuum suction of the stage 1 by the switch 8, the switch 8 includes the suction pump and the stage 1. A solenoid valve provided on a pipe between the stage 1 and the stage 1 is configured to control opening and closing, and a pressure sensor and a regulator are provided on the pipe to provide the stage 1
It may be configured to monitor the suction force at and to perform feedback control.

【0052】また、基板2は面状に広がりを有してステ
ージ1面に吸着されるので、ステージ1面に複数個の吸
着孔を設け、その個々の吸着孔につらなる吸着配管毎に
吸着保持力を設定可能に構成し、複数個の吸着孔のうち
所定数の吸着孔の吸着保持力を低く設定し、残りの吸着
孔の吸着保持力を高く設定して、不適切に散布されたス
ペーサ3を除去するときのみ、吸着保持力が高く設定さ
れた吸着孔に吸引力を作用させるように切替制御しても
良い。このように構成することによっても、上述の実施
の形態と同様の作用効果を得ることができる。
Further, since the substrate 2 has a planar spread and is adsorbed on the surface of the stage 1, a plurality of adsorption holes are provided on the surface of the stage 1 and adsorption is held for each adsorption pipe connected to each of the adsorption holes. The force is settable, the suction holding force of a predetermined number of the suction holes is set low, and the suction holding force of the remaining suction holes is set high, and spacers improperly sprayed. Only when 3 is removed, the switching control may be performed so that the suction force acts on the suction hole for which the suction holding force is set to be high. With such a configuration, it is possible to obtain the same effects as the above-described embodiment.

【0053】いずれにしても、本発明のスペーサ散布装
置及び散布方法によれば、スペーサが不適切に散布され
た状態のときのみ、ステージにおける基板の真空吸着の
保持力を高めて、スペーサを除去するので、正常かつ適
正にスペーサが散布された基板は、常に小さな真空吸着
力のもとでステージからの取り外しが可能となり、スペ
ーサの散布を乱すような静電気の発生は回避され、円滑
かつ効率的なスペーサ散布を行うことができる。
In any case, according to the spacer spraying apparatus and the spraying method of the present invention, the holding force of the vacuum suction of the substrate on the stage is enhanced and the spacers are removed only when the spacers are inappropriately sprayed. Therefore, the substrate with the spacers properly and properly dispersed can be removed from the stage under a small vacuum suction force at all times, the generation of static electricity that disturbs the spacer dispersion is avoided, and it is smooth and efficient. Different spacers can be sprayed.

【0054】[0054]

【発明の効果】以上説明のように、本発明によれば、ス
ペーサが不適切に散布されたときのみ、ステージに対す
る基板の吸着保持力を高めてスペーサを除去するので、
スペーサの良好な散布状態を乱すことなく散布後の基板
をステージから取り外すことができ、スペーサ散布の効
率を向上させることができるものであり、液晶表示パネ
ルの製造等に採用して顕著な効果を発揮することができ
る。
As described above, according to the present invention, the spacer is removed by enhancing the suction holding force of the substrate with respect to the stage only when the spacer is improperly dispersed.
The substrate after spraying can be removed from the stage without disturbing the good spraying state of the spacers, and the efficiency of spacer spraying can be improved. Can be demonstrated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図1(a)は本発明によるスペーサ散布装置の
一実施の形態を示す全体構成図、図1(b)は図1
(a)のA−A線矢視断面図である。
FIG. 1 (a) is an overall configuration diagram showing an embodiment of a spacer spraying device according to the present invention, and FIG. 1 (b) is FIG.
It is the sectional view on the AA line of (a).

【図2】図1に示す装置の動作手順を説明するフローチ
ャートである。
FIG. 2 is a flowchart illustrating an operation procedure of the device shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ステージ 2 基板 3 スペーサ 4 チャンバ 5 スペーサ供給器 5a 配管 5b 散布ノズル 6 搬送レール 7 制御器 8 切替器 9 撮像機器 10 クリーナ 10a バキューム 10c クリーナヘッド 1 stage 2 substrates 3 spacers 4 chambers 5 Spacer feeder 5a piping 5b spray nozzle 6 Conveyor rail 7 controller 8 switch 9 Imaging equipment 10 cleaners 10a vacuum 10c cleaner head

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H089 LA07 NA10 NA11 NA24 NA48 NA56 QA02 QA09 QA12 QA13 QA14 TA04    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    F-term (reference) 2H089 LA07 NA10 NA11 NA24 NA48                       NA56 QA02 QA09 QA12 QA13                       QA14 TA04

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 チャンバ内のステージに基板を吸着保持
し、その基板面にスペーサを散布するスペーサ散布装置
において、 前記基板を吸着保持するステージと、 このステージにおける前記基板の吸着保持力を切替え選
択可能な切替器と、 前記基板面に散布されたスペーサを、基板面から除去可
能に構成されたクリーナと、 を具備することを特徴とするスペーサ散布装置。
1. A spacer spraying device for sucking and holding a substrate on a stage in a chamber and spraying spacers on the surface of the substrate, wherein a stage for sucking and holding the substrate and a suction holding force for the substrate on the stage are selected. A spacer spraying device comprising: a switch capable of switching and a cleaner configured to remove the spacers sprayed on the substrate surface from the substrate surface.
【請求項2】 前記切替器は、前記クリーナによるスペ
ーサの除去に際して、前記基板面にスペーサを散布する
ときよりも、前記基板の吸着保持力を高めるように切替
え設定することを特徴とする請求項1記載のスペーサ散
布装置。
2. The switching device is set so that, when the spacer is removed by the cleaner, the suction holding force of the substrate is increased more than when the spacer is scattered on the substrate surface. 1. The spacer spraying device according to 1.
【請求項3】 チャンバ内で吸着保持された基板面にス
ペーサを散布するスペーサ散布方法において、 前記基板をステージに吸着保持する工程と、 前記ステージに吸着保持された基板の面に、前記スペー
サを散布する工程と、 スペーサ散布後、前記基板面におけるスペーサの散布状
態を判定する工程と、 スペーサ散布状態が不良と判定されたとき、前記ステー
ジの吸着保持力を高める工程と、 吸着保持力が高められた状態で基板面のスペーサを除去
する工程と、 基板面のスペーサが除去された後、前記ステージの吸着
保持力を低下させる工程と、 吸着保持力が低下された状態で基板面にスペーサを改め
て散布する工程と、からなることを特徴とするスペーサ
散布方法。
3. A spacer spraying method for spraying spacers on a surface of a substrate suction-held in a chamber, the step of suction-holding the substrate on a stage, and the step of depositing the spacer on the surface of the substrate suction-held on the stage. The step of spraying, the step of determining the spraying state of the spacers on the substrate surface after spraying the spacers, the step of increasing the suction holding force of the stage when the spacer spraying state is determined to be poor, and the step of increasing the suction holding force. The spacer on the substrate surface is removed, the step of reducing the suction holding force of the stage after the spacer on the substrate surface is removed, and the step of removing the spacer on the substrate surface with the suction holding force reduced. A spacer spraying method comprising the steps of spraying again.
【請求項4】 前記ステージの吸着保持力を低下させる
とき、吸着保持力を解除してから所定の吸着保持力が得
られるように設定することを特徴とする請求項3記載の
スペーサ散布方法。
4. The spacer spraying method according to claim 3, wherein when the suction holding force of the stage is reduced, the suction holding force is released and then a predetermined suction holding force is obtained.
JP2001298680A 2001-09-27 2001-09-27 Method and apparatus for scattering spacer Pending JP2003107488A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001298680A JP2003107488A (en) 2001-09-27 2001-09-27 Method and apparatus for scattering spacer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001298680A JP2003107488A (en) 2001-09-27 2001-09-27 Method and apparatus for scattering spacer

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003107488A true JP2003107488A (en) 2003-04-09

Family

ID=19119543

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001298680A Pending JP2003107488A (en) 2001-09-27 2001-09-27 Method and apparatus for scattering spacer

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003107488A (en)

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6488429A (en) * 1987-09-29 1989-04-03 Matsushita Electric Ind Co Ltd Manufacture of liquid crystal panel
JPH06154695A (en) * 1992-11-17 1994-06-03 Nkk Corp Powdery spacer material sprinkler
JPH0735696A (en) * 1993-07-23 1995-02-07 Sharp Corp Particle aggregation detecting and removing apparatus
JPH09218412A (en) * 1996-02-08 1997-08-19 Advanced Display:Kk Spacer spraying device and spraying method as well as liquid crystal display device produced by using the same
JPH10142609A (en) * 1996-11-13 1998-05-29 Hitachi Ltd Manufacture of liquid crystal display element and device therefor
JPH10325958A (en) * 1997-05-26 1998-12-08 Hitachi Ltd Manufacture of liquid crystal display panel
JP2000107715A (en) * 1998-10-07 2000-04-18 Sharp Corp Apparatus for cleaning substrate
JP2000162611A (en) * 1998-11-25 2000-06-16 Hitachi Ltd Device for removing agglomerated particles
JP2000258776A (en) * 1999-03-10 2000-09-22 Ricoh Co Ltd Apparatus for spraying space particle for liquid crystal
JP2000330120A (en) * 1999-05-20 2000-11-30 Hitachi Ltd Manufacture of fine particle-mounted substrate, device therefor and manufacture of liquid crystal display panel
JP2001021899A (en) * 1999-07-07 2001-01-26 Sony Corp Method and device for removing spacer from substrate for liquid crystal display panel and manufacture of liquid crystal display panel

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6488429A (en) * 1987-09-29 1989-04-03 Matsushita Electric Ind Co Ltd Manufacture of liquid crystal panel
JPH06154695A (en) * 1992-11-17 1994-06-03 Nkk Corp Powdery spacer material sprinkler
JPH0735696A (en) * 1993-07-23 1995-02-07 Sharp Corp Particle aggregation detecting and removing apparatus
JPH09218412A (en) * 1996-02-08 1997-08-19 Advanced Display:Kk Spacer spraying device and spraying method as well as liquid crystal display device produced by using the same
JPH10142609A (en) * 1996-11-13 1998-05-29 Hitachi Ltd Manufacture of liquid crystal display element and device therefor
JPH10325958A (en) * 1997-05-26 1998-12-08 Hitachi Ltd Manufacture of liquid crystal display panel
JP2000107715A (en) * 1998-10-07 2000-04-18 Sharp Corp Apparatus for cleaning substrate
JP2000162611A (en) * 1998-11-25 2000-06-16 Hitachi Ltd Device for removing agglomerated particles
JP2000258776A (en) * 1999-03-10 2000-09-22 Ricoh Co Ltd Apparatus for spraying space particle for liquid crystal
JP2000330120A (en) * 1999-05-20 2000-11-30 Hitachi Ltd Manufacture of fine particle-mounted substrate, device therefor and manufacture of liquid crystal display panel
JP2001021899A (en) * 1999-07-07 2001-01-26 Sony Corp Method and device for removing spacer from substrate for liquid crystal display panel and manufacture of liquid crystal display panel

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7926444B2 (en) Method for forming thin film and film-forming device
US7771789B2 (en) Method of forming mask and mask
JP6480009B2 (en) Substrate liquid processing apparatus, substrate liquid processing method, and storage medium
US20060169207A1 (en) Semiconductor manufacturing apparatus capable of preventing adhesion of particles
US20050268408A1 (en) Cleaning system
US20120211029A1 (en) Load lock assembly and method for particle reduction
JP2001282126A (en) Substrate assembling device
US8647442B2 (en) Cleaning substrate and cleaning method
JP2001042341A (en) Method for assembling liquid crystal substrate
KR20100049041A (en) Methods of and apparatus for reducing amounts of particles on a wafer during wafer de-chucking
JPH09152615A (en) Method for spraying spacer particle to liquid crystal display element substrate and jig plate for spraying and spraying device
KR0161058B1 (en) Surface removal method and mechanism for effecting the method
KR101068384B1 (en) Glass support system and support pin structure
US10786837B2 (en) Method for cleaning chamber of substrate processing apparatus
JP2007073833A (en) Reduced pressure drying apparatus and substrate drying method
JP2003107488A (en) Method and apparatus for scattering spacer
JP2002353086A (en) Apparatus and method for manufacturing semiconductor
KR101402235B1 (en) Substrate processing appratus and method for treating subtrate
KR101395820B1 (en) Assembly chamber with cleaning apparatus
US6306770B1 (en) Method and apparatus for plasma etching
JP2828027B2 (en) Substrate processing equipment
KR101124035B1 (en) Atmosphere cleaning device
JP2000294472A (en) Stage with static eliminating function, method for static- eliminating processing body, and processing apparatus and seal agent coater using the same
CN116745458A (en) Vacuum processing apparatus
JP2004022979A (en) Attracting stage and substrate-bonding apparatus using the same

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080925

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110526

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110705

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20111115