JP2003098217A - 絶縁耐圧試験器 - Google Patents
絶縁耐圧試験器Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 被測定電気機器のキャパシタ成分による影響
を受けることなく、被測定電気機器の漏れ電流を高精度
に測定する。 【解決手段】 高電圧発生部２のＨｉ端子ＰＨとＬｏ端
子ＰＬとを被測定電気機器Ｚｘの電源入力部と筐体とに
接続して所定の電圧Ｖ０を印加し、その印加電圧Ｖ０を
電圧検出部３により得られる検出電圧Ｖ２に基づいて算
出するとともに、そのときに被測定電気機器Ｚｘに流れ
る漏れ電流Ｉｏを電流検出抵抗Ｒｃにて検出する絶縁耐
圧試験器１０において、Ｌｏ端子ＰＬに保護接地端子Ｐ
Ｅを備え、電圧検出部３の一方の分圧抵抗Ｒ１と高電圧
発生部２のＬｏ側出力端子との接続点と、保護接地端子
ＰＥとの間に電流検出抵抗Ｒｃを接続し、上記接続点に
現れる電圧Ｖ３と電流検出抵抗Ｒｃの抵抗値とから、被
測定電気機器Ｚｘに発生する漏れ電流Ｉｏを求める。
を受けることなく、被測定電気機器の漏れ電流を高精度
に測定する。 【解決手段】 高電圧発生部２のＨｉ端子ＰＨとＬｏ端
子ＰＬとを被測定電気機器Ｚｘの電源入力部と筐体とに
接続して所定の電圧Ｖ０を印加し、その印加電圧Ｖ０を
電圧検出部３により得られる検出電圧Ｖ２に基づいて算
出するとともに、そのときに被測定電気機器Ｚｘに流れ
る漏れ電流Ｉｏを電流検出抵抗Ｒｃにて検出する絶縁耐
圧試験器１０において、Ｌｏ端子ＰＬに保護接地端子Ｐ
Ｅを備え、電圧検出部３の一方の分圧抵抗Ｒ１と高電圧
発生部２のＬｏ側出力端子との接続点と、保護接地端子
ＰＥとの間に電流検出抵抗Ｒｃを接続し、上記接続点に
現れる電圧Ｖ３と電流検出抵抗Ｒｃの抵抗値とから、被
測定電気機器Ｚｘに発生する漏れ電流Ｉｏを求める。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、絶縁耐圧試験器に
関し、さらに詳しく言えば、家電製品などの各種電気機
器における筐体への漏れ電流を高精度に検出できる信頼
性の高い絶縁耐圧試験器に関するものである。
関し、さらに詳しく言えば、家電製品などの各種電気機
器における筐体への漏れ電流を高精度に検出できる信頼
性の高い絶縁耐圧試験器に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】絶縁耐圧試験は、電気的に絶縁されてい
なければならない箇所について行われ、例えば一般家庭
用ＡＣ１００ボルトを使用する電気機器においては、そ
の電源線と筐体（外装）との間が絶縁耐圧試験の対象と
なる。
なければならない箇所について行われ、例えば一般家庭
用ＡＣ１００ボルトを使用する電気機器においては、そ
の電源線と筐体（外装）との間が絶縁耐圧試験の対象と
なる。
【０００３】すなわち、絶縁耐圧試験器の高圧側のＨｉ
端子を被測定電気機器の電源線（電源入力部）に接続
し、低圧側のＬｏ端子を被測定電気機器の筐体に接続し
て高電圧を印加し、絶縁破壊が起こるか否かを検査す
る。
端子を被測定電気機器の電源線（電源入力部）に接続
し、低圧側のＬｏ端子を被測定電気機器の筐体に接続し
て高電圧を印加し、絶縁破壊が起こるか否かを検査す
る。
【０００４】しかしながら、一般的には、絶縁破壊が起
こるまでの高電圧は印加せずに、規格や法律の規定によ
る最低限の高電圧（例えばＡＣ１５００Ｖ）を印加し、
そのときに電源入力部と筐体との間に流れる電流（漏れ
電流）を測定し、それが判定基準値を超えた場合に絶縁
不良と判定している。
こるまでの高電圧は印加せずに、規格や法律の規定によ
る最低限の高電圧（例えばＡＣ１５００Ｖ）を印加し、
そのときに電源入力部と筐体との間に流れる電流（漏れ
電流）を測定し、それが判定基準値を超えた場合に絶縁
不良と判定している。
【０００５】被測定電気機器は、それ固有の漏れ電流を
持ち、これに基づいて例えば印加電圧が何ボルトのとき
に漏れ電流が何アンペアなどのように判定基準値が定め
られている。したがって、絶縁耐圧試験において、印加
電圧および漏れ電流を正確に測定することは、非常に重
要な意味を持っている。従来において、絶縁耐圧試験器
には概ね次の２機種があり、その基本的な構成を図２と
図３に示す。
持ち、これに基づいて例えば印加電圧が何ボルトのとき
に漏れ電流が何アンペアなどのように判定基準値が定め
られている。したがって、絶縁耐圧試験において、印加
電圧および漏れ電流を正確に測定することは、非常に重
要な意味を持っている。従来において、絶縁耐圧試験器
には概ね次の２機種があり、その基本的な構成を図２と
図３に示す。
【０００６】まず、図２に示す第１従来例としての絶縁
耐圧試験器１Ａは、例えばＡＣ１５００Ｖの高電圧を発
生する高電圧発生部２を備え、この高電圧発生部２から
高圧側のＨｉ端子ＰＨと低圧側のＬｏ端子ＰＬとが引き
出されている。Ｌｏ端子ＰＬは保護接地端子ＰＥを備え
ており、この絶縁耐圧試験器１Ａの回路コモンＣＯＭは
保護接地端子ＰＥに接続されている。
耐圧試験器１Ａは、例えばＡＣ１５００Ｖの高電圧を発
生する高電圧発生部２を備え、この高電圧発生部２から
高圧側のＨｉ端子ＰＨと低圧側のＬｏ端子ＰＬとが引き
出されている。Ｌｏ端子ＰＬは保護接地端子ＰＥを備え
ており、この絶縁耐圧試験器１Ａの回路コモンＣＯＭは
保護接地端子ＰＥに接続されている。
【０００７】Ｈｉ端子ＰＨが被測定電気機器Ｚｘの電源
入力部に接続され、Ｌｏ端子ＰＬが被測定電気機器Ｚｘ
の筐体に接続されるのであるが、Ｈｉ端子ＰＨとＬｏ端
子Ｐ Ｌとの間には、２つの分圧抵抗Ｒｎ，Ｒ１とを直列
に接続してなり、被測定電気機器Ｚｘに対する印加電圧
検出用の電圧検出部３が接続されている。
入力部に接続され、Ｌｏ端子ＰＬが被測定電気機器Ｚｘ
の筐体に接続されるのであるが、Ｈｉ端子ＰＨとＬｏ端
子Ｐ Ｌとの間には、２つの分圧抵抗Ｒｎ，Ｒ１とを直列
に接続してなり、被測定電気機器Ｚｘに対する印加電圧
検出用の電圧検出部３が接続されている。
【０００８】電圧検出部３の一方の分圧抵抗Ｒ１の一端
は、高電圧発生部２のＬｏ側出力端子に接続されるが、
この第１従来例においては、その間、すなわち分圧抵抗
Ｒ１の一端と高電圧発生部２のＬｏ側出力端子との間
に、電流検出用の抵抗Ｒｃが接続されている。
は、高電圧発生部２のＬｏ側出力端子に接続されるが、
この第１従来例においては、その間、すなわち分圧抵抗
Ｒ１の一端と高電圧発生部２のＬｏ側出力端子との間
に、電流検出用の抵抗Ｒｃが接続されている。
【０００９】これによれば、被測定電気機器Ｚｘに対す
る印加電圧Ｖ０は、分圧抵抗Ｒｎ，Ｒ１の中点電圧Ｖ２
と、分圧抵抗Ｒｎ，Ｒ１の抵抗分圧比とにより、次式に
よって求められる。 Ｖ０＝Ｖ２（Ｒｎ＋Ｒ１）／Ｒ１〔Ｖ〕
る印加電圧Ｖ０は、分圧抵抗Ｒｎ，Ｒ１の中点電圧Ｖ２
と、分圧抵抗Ｒｎ，Ｒ１の抵抗分圧比とにより、次式に
よって求められる。 Ｖ０＝Ｖ２（Ｒｎ＋Ｒ１）／Ｒ１〔Ｖ〕
【００１０】また、高電圧発生に伴って電圧検出部３に
流れる電流をＩ１とし、被測定電気機器Ｚｘに発生する
漏れ電流をＩｏとすると、電流検出用抵抗Ｒｃにはそれ
らが加算された電流Ｉ２（＝Ｉ１＋Ｉｏ）が流れる。し
たがって、被測定電気機器Ｚｘの漏れ電流Ｉｏは、電流
Ｉ２から電流Ｉ１を引き算することにより得られる。
流れる電流をＩ１とし、被測定電気機器Ｚｘに発生する
漏れ電流をＩｏとすると、電流検出用抵抗Ｒｃにはそれ
らが加算された電流Ｉ２（＝Ｉ１＋Ｉｏ）が流れる。し
たがって、被測定電気機器Ｚｘの漏れ電流Ｉｏは、電流
Ｉ２から電流Ｉ１を引き算することにより得られる。
【００１１】すなわち、電流検出用抵抗Ｒｃの一端から
得られる電圧をＶ３とすると、電流Ｉ２はＶ３／Ｒｃに
より求められ、電流Ｉ１はＶ２／Ｒ１で表されるから、
漏れ電流Ｉｏは、 Ｉｏ＝Ｖ３／Ｒｃ−Ｖ２／Ｒ１〔Ａ〕 により求められる。
得られる電圧をＶ３とすると、電流Ｉ２はＶ３／Ｒｃに
より求められ、電流Ｉ１はＶ２／Ｒ１で表されるから、
漏れ電流Ｉｏは、 Ｉｏ＝Ｖ３／Ｒｃ−Ｖ２／Ｒ１〔Ａ〕 により求められる。
【００１２】次に、図３に示す第２従来例としての絶縁
耐圧試験器１Ｂにおいては、電流検出用抵抗ＲｃがＬｏ
端子ＰＬと保護接地端子ＰＥとの間に接続されており、
その他の構成は上記絶縁耐圧試験器１Ａと同じである。
耐圧試験器１Ｂにおいては、電流検出用抵抗ＲｃがＬｏ
端子ＰＬと保護接地端子ＰＥとの間に接続されており、
その他の構成は上記絶縁耐圧試験器１Ａと同じである。
【００１３】この絶縁耐圧試験器１Ｂによると、電流検
出用抵抗Ｒｃに流れる電流Ｉ２は被測定電気機器Ｚｘに
発生する漏れ電流Ｉｏそのものであるから、電流検出用
抵抗Ｒｃの一端から得られる電圧をＶ３として、漏れ電
流Ｉｏは、 Ｉｏ＝Ｖ３／Ｒｃ〔Ａ〕 により求められる。
出用抵抗Ｒｃに流れる電流Ｉ２は被測定電気機器Ｚｘに
発生する漏れ電流Ｉｏそのものであるから、電流検出用
抵抗Ｒｃの一端から得られる電圧をＶ３として、漏れ電
流Ｉｏは、 Ｉｏ＝Ｖ３／Ｒｃ〔Ａ〕 により求められる。
【００１４】一方、この絶縁耐圧試験器１Ｂにおいて、
被測定電気機器Ｚｘに対する印加電圧Ｖ０は、高電圧発
生部の出力電圧Ｖ１から電流検出用抵抗Ｒｃに発生する
電圧Ｖ３を引き算することにより得られる。
被測定電気機器Ｚｘに対する印加電圧Ｖ０は、高電圧発
生部の出力電圧Ｖ１から電流検出用抵抗Ｒｃに発生する
電圧Ｖ３を引き算することにより得られる。
【００１５】すなわち、高電圧発生部の出力電圧Ｖ１
は、分圧抵抗Ｒｎ，Ｒ１の中点電圧Ｖ２と、分圧抵抗Ｒ
ｎ，Ｒ１の抵抗分圧比とから次式、 Ｖ１＝Ｖ２（Ｒｎ＋Ｒ１）／Ｒ１ により求められる。したがって、被測定電気機器Ｚｘに
対する印加電圧Ｖ０は、 Ｖ０＝｛Ｖ２（Ｒｎ＋Ｒ１）／Ｒ１｝−Ｖ３〔Ｖ〕 により求められる。
は、分圧抵抗Ｒｎ，Ｒ１の中点電圧Ｖ２と、分圧抵抗Ｒ
ｎ，Ｒ１の抵抗分圧比とから次式、 Ｖ１＝Ｖ２（Ｒｎ＋Ｒ１）／Ｒ１ により求められる。したがって、被測定電気機器Ｚｘに
対する印加電圧Ｖ０は、 Ｖ０＝｛Ｖ２（Ｒｎ＋Ｒ１）／Ｒ１｝−Ｖ３〔Ｖ〕 により求められる。
【００１６】
【発明が解決しようとする課題】上記第１従来例の絶縁
耐圧試験器１Ａは、Ｌｏ端子ＰＬが保護接地端子ＰＥに
より接地されているため、これが接続される被測定電気
機器Ｚｘの筐体が接地されている場合においても、漏れ
電流Ｉｏが低く（最悪で０Ａ）測定されることがない
が、次のような課題がある。
耐圧試験器１Ａは、Ｌｏ端子ＰＬが保護接地端子ＰＥに
より接地されているため、これが接続される被測定電気
機器Ｚｘの筐体が接地されている場合においても、漏れ
電流Ｉｏが低く（最悪で０Ａ）測定されることがない
が、次のような課題がある。
【００１７】すなわち、絶縁耐圧試験の対象が抵抗成分
のみの場合はよいが、絶縁耐圧試験の対象に位相を変化
させるキャパシタ成分が含まれている場合には、漏れ電
流Ｉｏの真値が、 Ｉｏ＝Ｖ３／Ｒｃ−Ｖ２／Ｒ１ なる単純な引き算により求めた値と異なることがある。
通常、絶縁耐圧試験の対象は電気絶縁物であるため、キ
ャパシタ成分が含まれていることが多く、絶縁耐圧試験
器１Ａでは測定誤差が生じやすい。
のみの場合はよいが、絶縁耐圧試験の対象に位相を変化
させるキャパシタ成分が含まれている場合には、漏れ電
流Ｉｏの真値が、 Ｉｏ＝Ｖ３／Ｒｃ−Ｖ２／Ｒ１ なる単純な引き算により求めた値と異なることがある。
通常、絶縁耐圧試験の対象は電気絶縁物であるため、キ
ャパシタ成分が含まれていることが多く、絶縁耐圧試験
器１Ａでは測定誤差が生じやすい。
【００１８】これに対して、上記第２従来例の絶縁耐圧
試験器１Ｂによれば、上記の引き算により漏れ電流Ｉｏ
を求めるものでないため、絶縁耐圧試験の対象にキャパ
シタ成分が含まれていても、それに影響されることな
く、漏れ電流Ｉｏを正確に測定できるが、この絶縁耐圧
試験器１Ｂにおいても、次のような課題がある。
試験器１Ｂによれば、上記の引き算により漏れ電流Ｉｏ
を求めるものでないため、絶縁耐圧試験の対象にキャパ
シタ成分が含まれていても、それに影響されることな
く、漏れ電流Ｉｏを正確に測定できるが、この絶縁耐圧
試験器１Ｂにおいても、次のような課題がある。
【００１９】すなわち、絶縁耐圧試験器１Ｂによると、
Ｌｏ端子ＰＬが接地されていないため、これが接続され
る被測定電気機器Ｚｘの筐体が接地と導通状態にある場
合、電流検出用抵抗Ｒｃが筐体に対して並列に接続され
ることなり、漏れ電流Ｉｏがが本来の値（真値）よりも
低い値を示すようになる。最悪時、漏れ電流なしと判定
されることもある。多くの場合、被測定電気機器Ｚｘの
筐体は金属製であり、絶縁耐圧試験時に接地と導通する
可能性が高いため、このような状況になりやすいと言え
る。
Ｌｏ端子ＰＬが接地されていないため、これが接続され
る被測定電気機器Ｚｘの筐体が接地と導通状態にある場
合、電流検出用抵抗Ｒｃが筐体に対して並列に接続され
ることなり、漏れ電流Ｉｏがが本来の値（真値）よりも
低い値を示すようになる。最悪時、漏れ電流なしと判定
されることもある。多くの場合、被測定電気機器Ｚｘの
筐体は金属製であり、絶縁耐圧試験時に接地と導通する
可能性が高いため、このような状況になりやすいと言え
る。
【００２０】本発明は、上記課題を解決するためになさ
れたものであり、その目的は、絶縁耐圧試験の対象であ
る被測定電気機器にキャパシタ成分が含まれていたとし
ても、また、その被測定電気機器の筐体が接地と導通さ
れていたとしても、漏れ電流を高精度に検出できる信頼
性の高い絶縁耐圧試験器を提供することにある。
れたものであり、その目的は、絶縁耐圧試験の対象であ
る被測定電気機器にキャパシタ成分が含まれていたとし
ても、また、その被測定電気機器の筐体が接地と導通さ
れていたとしても、漏れ電流を高精度に検出できる信頼
性の高い絶縁耐圧試験器を提供することにある。
【００２１】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、高圧側のＨｉ端子および低圧側のＬｏ端
子を有する高電圧発生部と、上記Ｈｉ端子とＬｏ端子間
に直列に接続された２つの分圧抵抗よりなる電圧検出部
と、上記Ｌｏ端子と上記高電圧発生部との間に接続され
た電流検出抵抗とを備え、上記Ｈｉ端子を被測定電気機
器の電源入力部に接続し、上記Ｌｏ端子を上記被測定電
気機器の筐体に接続して上記高電圧発生部より所定の電
圧を印加し、その印加電圧を上記電圧検出部により得ら
れる検出電圧に基づいて算出するとともに、そのときに
上記電源入力部と上記筐体との間に流れる漏れ電流を上
記電流検出抵抗にて検出する絶縁耐圧試験器において、
上記Ｌｏ端子は保護接地端子を有し、上記電圧検出部の
一方の分圧抵抗と上記高電圧発生部のＬｏ側出力端子と
の接続点と、上記保護接地端子との間に上記電流検出抵
抗を接続し、上記接続点に現れる電圧Ｖ３と上記電流検
出抵抗の抵抗値とから、上記被測定電気機器の上記電源
入力部と上記筐体との間に流れる電流を求めることを特
徴としている。
め、本発明は、高圧側のＨｉ端子および低圧側のＬｏ端
子を有する高電圧発生部と、上記Ｈｉ端子とＬｏ端子間
に直列に接続された２つの分圧抵抗よりなる電圧検出部
と、上記Ｌｏ端子と上記高電圧発生部との間に接続され
た電流検出抵抗とを備え、上記Ｈｉ端子を被測定電気機
器の電源入力部に接続し、上記Ｌｏ端子を上記被測定電
気機器の筐体に接続して上記高電圧発生部より所定の電
圧を印加し、その印加電圧を上記電圧検出部により得ら
れる検出電圧に基づいて算出するとともに、そのときに
上記電源入力部と上記筐体との間に流れる漏れ電流を上
記電流検出抵抗にて検出する絶縁耐圧試験器において、
上記Ｌｏ端子は保護接地端子を有し、上記電圧検出部の
一方の分圧抵抗と上記高電圧発生部のＬｏ側出力端子と
の接続点と、上記保護接地端子との間に上記電流検出抵
抗を接続し、上記接続点に現れる電圧Ｖ３と上記電流検
出抵抗の抵抗値とから、上記被測定電気機器の上記電源
入力部と上記筐体との間に流れる電流を求めることを特
徴としている。
【００２２】この場合において、上記被測定電気機器の
印加電圧Ｖ０は、上記電圧検出部の電圧検出用電圧Ｖ２
から同電圧検出部の分圧比により上記高電圧発生部の出
力電圧Ｖ１を求め、上記出力電圧Ｖ１から上記接続点の
電圧Ｖ３を減算することにより算出される。
印加電圧Ｖ０は、上記電圧検出部の電圧検出用電圧Ｖ２
から同電圧検出部の分圧比により上記高電圧発生部の出
力電圧Ｖ１を求め、上記出力電圧Ｖ１から上記接続点の
電圧Ｖ３を減算することにより算出される。
【００２３】また、本発明の好ましい態様によれば、上
記一方の分圧抵抗の両端電圧をそれぞれ非反転の電圧バ
ッファ回路で受け、それら電圧バッファ回路の各出力を
差動増幅回路に入力することにより、同差動増幅回路よ
り上記電圧検出用電圧Ｖ２が得られる。
記一方の分圧抵抗の両端電圧をそれぞれ非反転の電圧バ
ッファ回路で受け、それら電圧バッファ回路の各出力を
差動増幅回路に入力することにより、同差動増幅回路よ
り上記電圧検出用電圧Ｖ２が得られる。
【００２４】
【発明の実施の形態】次に、図１を参照して、本発明の
実施形態について説明する。なお、この実施形態におい
て、先に説明した絶縁耐圧試験器１Ａ，１Ｂと同一もし
くは同一と見なされてよい構成要素には、同一の参照符
号が付されている。
実施形態について説明する。なお、この実施形態におい
て、先に説明した絶縁耐圧試験器１Ａ，１Ｂと同一もし
くは同一と見なされてよい構成要素には、同一の参照符
号が付されている。
【００２５】この実施形態に係る絶縁耐圧試験器１０に
おいては、Ｌｏ端子ＰＬに保護接地端子ＰＥが備えられ
ており、また、電圧検出部３の一方の分圧抵抗Ｒ１の一
端Ｃが高電圧発生部２のＬｏ側出力端子に接続されてい
る。そして、分圧抵抗Ｒ１の一端Ｃと保護接地端子ＰＥ
との間に、漏れ電流検出用の電流検出抵抗Ｒｃが接続さ
れている。
おいては、Ｌｏ端子ＰＬに保護接地端子ＰＥが備えられ
ており、また、電圧検出部３の一方の分圧抵抗Ｒ１の一
端Ｃが高電圧発生部２のＬｏ側出力端子に接続されてい
る。そして、分圧抵抗Ｒ１の一端Ｃと保護接地端子ＰＥ
との間に、漏れ電流検出用の電流検出抵抗Ｒｃが接続さ
れている。
【００２６】これによれば、電流検出抵抗Ｒｃに流れる
電流は、被測定電気機器Ｚｘに発生する漏れ電流Ｉｏの
みとなるため、分圧抵抗Ｒ１の一端Ｃ側に現れる電流検
出用電圧（電流検出抵抗Ｒｃによる電圧降下分）をＶ３
として、漏れ電流Ｉｏは、 Ｉｏ＝Ｖ３／Ｒｃ〔Ａ〕 により求められる。
電流は、被測定電気機器Ｚｘに発生する漏れ電流Ｉｏの
みとなるため、分圧抵抗Ｒ１の一端Ｃ側に現れる電流検
出用電圧（電流検出抵抗Ｒｃによる電圧降下分）をＶ３
として、漏れ電流Ｉｏは、 Ｉｏ＝Ｖ３／Ｒｃ〔Ａ〕 により求められる。
【００２７】また、被測定電気機器Ｚｘの印加電圧Ｖ０
は、高電圧発生部２の出力電圧をＶ１として、 Ｖ０＝Ｖ１−Ｖ３〔Ｖ〕 により算出される。
は、高電圧発生部２の出力電圧をＶ１として、 Ｖ０＝Ｖ１−Ｖ３〔Ｖ〕 により算出される。
【００２８】高電圧発生部２の出力電圧Ｖ１は、上記絶
縁耐圧試験器１Ｂで説明したように、電圧検出部３の電
圧検出用電圧Ｖ２と、分圧抵抗Ｒｎ，Ｒ１の抵抗分圧比
とにより、 Ｖ１＝Ｖ２（Ｒｎ＋Ｒ１）／Ｒ１〔Ｖ〕 なる式により求められるが、この実施形態では、次のよ
うにして、電圧検出部３の電圧検出用電圧Ｖ２と、電流
検出用電圧Ｖ３とを得るようにしている。
縁耐圧試験器１Ｂで説明したように、電圧検出部３の電
圧検出用電圧Ｖ２と、分圧抵抗Ｒｎ，Ｒ１の抵抗分圧比
とにより、 Ｖ１＝Ｖ２（Ｒｎ＋Ｒ１）／Ｒ１〔Ｖ〕 なる式により求められるが、この実施形態では、次のよ
うにして、電圧検出部３の電圧検出用電圧Ｖ２と、電流
検出用電圧Ｖ３とを得るようにしている。
【００２９】すなわち、分圧抵抗Ｒ１の一端Ｃ側の電圧
と他端側の電圧を、それぞれ非反転の電圧バッファ回路
Ａ１，Ａ２で受け、その各出力を後段の差動増幅回路Ａ
３に入力して、同差動増幅回路Ａ３により電圧検出部３
の電圧検出用電圧Ｖ２を得ている。なお、電流検出用電
圧Ｖ３については、電圧バッファ回路Ａ１の出力をその
まま用いている。
と他端側の電圧を、それぞれ非反転の電圧バッファ回路
Ａ１，Ａ２で受け、その各出力を後段の差動増幅回路Ａ
３に入力して、同差動増幅回路Ａ３により電圧検出部３
の電圧検出用電圧Ｖ２を得ている。なお、電流検出用電
圧Ｖ３については、電圧バッファ回路Ａ１の出力をその
まま用いている。
【００３０】したがって、被測定電気機器Ｚｘに対する
印加電圧Ｖ０は、上記絶縁耐圧試験器１Ｂと同様に、次
式によって求められる。 Ｖ０＝Ｖ２（Ｒｎ＋Ｒ１）／Ｒ１−Ｖ３〔Ｖ〕
印加電圧Ｖ０は、上記絶縁耐圧試験器１Ｂと同様に、次
式によって求められる。 Ｖ０＝Ｖ２（Ｒｎ＋Ｒ１）／Ｒ１−Ｖ３〔Ｖ〕
【００３１】なお、一般的に言って、電流検出抵抗Ｒｃ
での電圧降下Ｖ３は最大でも数Ｖ程度で、高電圧発生部
２の出力電圧Ｖ１に比べて遙かに小さいため、Ｖ１≒Ｖ
０としてもよい場合があるが、被測定電気機器Ｚｘの印
加電圧Ｖ０が低く、かつ、漏れ電流Ｉｏが大きい場合に
は、差動増幅回路Ａ３から出力される電圧検出用電圧Ｖ
２に対する電流検出抵抗Ｒｃでの電圧降下Ｖ３による影
響が無視できなくなることがある。
での電圧降下Ｖ３は最大でも数Ｖ程度で、高電圧発生部
２の出力電圧Ｖ１に比べて遙かに小さいため、Ｖ１≒Ｖ
０としてもよい場合があるが、被測定電気機器Ｚｘの印
加電圧Ｖ０が低く、かつ、漏れ電流Ｉｏが大きい場合に
は、差動増幅回路Ａ３から出力される電圧検出用電圧Ｖ
２に対する電流検出抵抗Ｒｃでの電圧降下Ｖ３による影
響が無視できなくなることがある。
【００３２】すなわち、電流検出抵抗Ｒｃでの電圧降下
Ｖ３が大きくなると、それに伴って分圧抵抗Ｒ１の一端
Ｃの電圧が必要以上に下げられてしまうため、差動増幅
回路Ａ３から出力される電圧検出用電圧Ｖ２が不正確に
なってしまう。
Ｖ３が大きくなると、それに伴って分圧抵抗Ｒ１の一端
Ｃの電圧が必要以上に下げられてしまうため、差動増幅
回路Ａ３から出力される電圧検出用電圧Ｖ２が不正確に
なってしまう。
【００３３】これを防止するには、分圧抵抗Ｒｎ，Ｒ１
の分圧比（抵抗比）に相当するゲインに設定された反転
増幅回路Ａ４にて、電流検出抵抗Ｒｃでの電圧降下Ｖ３
を補正した補正電圧Ｖ３ａを得て、この補正電圧Ｖ３ａ
を差動増幅回路Ａ３から出力される電圧検出用電圧Ｖ２
に加算すればよい。
の分圧比（抵抗比）に相当するゲインに設定された反転
増幅回路Ａ４にて、電流検出抵抗Ｒｃでの電圧降下Ｖ３
を補正した補正電圧Ｖ３ａを得て、この補正電圧Ｖ３ａ
を差動増幅回路Ａ３から出力される電圧検出用電圧Ｖ２
に加算すればよい。
【００３４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
電流検出用抵抗Ｒｃには、電圧検出部３の電流Ｉ１が流
れ込まないため、漏れ電流Ｉｏの検出にあたって、上記
第１従来例（絶縁耐圧試験器１Ａ）のように引き算する
必要がないため、被測定電気機器のキャパシタ成分によ
る影響を受けることなく、被測定電気機器の漏れ電流を
高精度に測定することができる。
電流検出用抵抗Ｒｃには、電圧検出部３の電流Ｉ１が流
れ込まないため、漏れ電流Ｉｏの検出にあたって、上記
第１従来例（絶縁耐圧試験器１Ａ）のように引き算する
必要がないため、被測定電気機器のキャパシタ成分によ
る影響を受けることなく、被測定電気機器の漏れ電流を
高精度に測定することができる。
【００３５】また、Ｌｏ端子ＰＬが保護接地端子ＰＥを
介して接地可能であるため、被測定電気機器の筐体が接
地と導通状態にあるとしても、被測定電気機器の漏れ電
流を正確に測定することができる。よって、本来絶縁不
良と判定されるべき製品を良品として判定してしまう誤
判定を防止できる。
介して接地可能であるため、被測定電気機器の筐体が接
地と導通状態にあるとしても、被測定電気機器の漏れ電
流を正確に測定することができる。よって、本来絶縁不
良と判定されるべき製品を良品として判定してしまう誤
判定を防止できる。
【図１】本発明の実施形態に係る絶縁耐圧試験器のブロ
ック図。
ック図。
【図２】第１従来例の絶縁耐圧試験器のブロック図。
【図３】第２従来例の絶縁耐圧試験器のブロック図。
２ 高電圧発生部
３ 電圧検出部
ＰＨ Ｈｉ端子
ＰＬ Ｌｏ端子
Ｚｘ 被測定電気機器
ＰＥ 保護接地端子
Ａ１，Ａ２ 電圧バッファ回路
Ａ３ 差動増幅回路
Ａ４ 反転増幅回路
Claims (3)
- 【請求項１】 高圧側のＨｉ端子および低圧側のＬｏ端
子を有する高電圧発生部と、上記Ｈｉ端子とＬｏ端子間
に直列に接続された２つの分圧抵抗よりなる電圧検出部
と、上記Ｌｏ端子と上記高電圧発生部との間に接続され
た電流検出抵抗とを備え、上記Ｈｉ端子を被測定電気機
器の電源入力部に接続し、上記Ｌｏ端子を上記被測定電
気機器の筐体に接続して上記高電圧発生部より所定の電
圧を印加し、その印加電圧を上記電圧検出部により得ら
れる検出電圧に基づいて算出するとともに、そのときに
上記電源入力部と上記筐体との間に流れる漏れ電流を上
記電流検出抵抗にて検出する絶縁耐圧試験器において、 上記Ｌｏ端子は保護接地端子を有し、上記電圧検出部の
一方の分圧抵抗と上記高電圧発生部のＬｏ側出力端子と
の接続点と、上記保護接地端子との間に上記電流検出抵
抗を接続し、上記接続点に現れる電圧Ｖ３と上記電流検
出抵抗の抵抗値とから、上記被測定電気機器の上記電源
入力部と上記筐体との間に流れる電流を求めることを特
徴とする絶縁耐圧試験器。 - 【請求項２】 上記一方の分圧抵抗の両端電圧をそれぞ
れ非反転の電圧バッファ回路で受け、それら電圧バッフ
ァ回路の各出力を差動増幅回路に入力して、同差動増幅
回路より電圧検出用電圧Ｖ２を得る請求項１に記載の絶
縁耐圧試験器。 - 【請求項３】 上記電圧検出用電圧Ｖ２から上記電圧検
出部の分圧比により上記高電圧発生部の出力電圧Ｖ１を
求め、上記出力電圧Ｖ１から上記接続点の電圧Ｖ３を減
算することにより、上記被測定電気機器の印加電圧Ｖ０
を算出する請求項２に記載の絶縁耐圧試験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001290718A JP2003098217A (ja) | 2001-09-25 | 2001-09-25 | 絶縁耐圧試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001290718A JP2003098217A (ja) | 2001-09-25 | 2001-09-25 | 絶縁耐圧試験器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003098217A true JP2003098217A (ja) | 2003-04-03 |
Family
ID=19112984
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001290718A Pending JP2003098217A (ja) | 2001-09-25 | 2001-09-25 | 絶縁耐圧試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003098217A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1521092A1 (en) * | 2003-09-30 | 2005-04-06 | Fanuc Ltd | Motor driver |
| JP2008047564A (ja) * | 2006-08-10 | 2008-02-28 | Tokyo Electron Ltd | 真空処理装置、静電チャックの診断方法及び記憶媒体 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62170570U (ja) * | 1986-04-21 | 1987-10-29 | ||
| JPH02195276A (ja) * | 1989-01-25 | 1990-08-01 | Meidensha Corp | 絶縁耐圧試験器 |
| JPH0432081U (ja) * | 1990-07-13 | 1992-03-16 | ||
| JPH07151820A (ja) * | 1993-11-29 | 1995-06-16 | Hodaka Denshi Gijutsu Kenkyusho:Kk | 耐圧試験装置 |
-
2001
- 2001-09-25 JP JP2001290718A patent/JP2003098217A/ja active Pending
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| US7064516B2 (en) | 2003-09-30 | 2006-06-20 | Fanuc Ltd | Motor driver |
| JP2008047564A (ja) * | 2006-08-10 | 2008-02-28 | Tokyo Electron Ltd | 真空処理装置、静電チャックの診断方法及び記憶媒体 |
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