JP2003065916A - Test piece-gripping apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、材料試験機などに
おいて試験片を把持するための試験片把持装置に関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a test piece holding device for holding a test piece in a material testing machine or the like.
【０００２】[0002]
【従来の技術】材料試験においては、チャックなどの試
験片把持装置により把持した試験片に対し、引張、圧
縮、引張と圧縮、曲げ、捩りなど各種の荷重を印加し、
その力学的挙動を調べることが行われる。図２は、従来
の試験片把持装置の構成を示す断面図である。なお、こ
こでは、試験片に載荷するピストン（アクチュエータ）
が下側、荷重を測定するロードセルが上側に配置されて
いるものとして説明する。図２において、５１は試験片
（テストピース）であり、その上部と下部の外周面には
ネジ部が形成されている。５２は第１のフランジ、５３
は該第１のフランジ５２をピストンなどのアクチュエー
タに接続された治具に固定するボルト、５４は前記試験
片５１の下部のネジ部と螺合される第２のフランジ（ネ
ジフランジ）、５５は該ネジフランジ５４を前記第１の
フランジ５２に固定するボルト、５６は試験片５１の下
端面が当接する第３のフランジ、５７は該第３のフラン
ジを前記第１のフランジ５２に固定するボルトであり、
これらにより、ピストン側の試験片把持装置が構成され
ている。また、５８は第４のフランジ（ロードセルフラ
ンジ）、５９は前記第４のフランジをロードセル側の治
具に固定するボルト、６０は前記試験片５１の上部のネ
ジ部と螺合される第５のフランジ（ネジフランジ）、６
１は該ネジフランジ６０を前記ロードセルフランジ５８
に固定するボルト、６２は前記試験片５１の上端面が当
接する第６のフランジ、６３は該第６のフランジを前記
ロードセルフランジ５８に固定するボルトであり、これ
らにより、ロードセル側の試験片把持装置が構成されて
いる。2. Description of the Related Art In a material test, various loads such as tension, compression, tension and compression, bending, and torsion are applied to a test piece held by a test piece holding device such as a chuck,
It is carried out to investigate its mechanical behavior. FIG. 2 is a cross-sectional view showing the configuration of a conventional test piece gripping device. In addition, here, the piston (actuator) loaded on the test piece
Will be described on the lower side and the load cell for measuring the load will be disposed on the upper side. In FIG. 2, reference numeral 51 is a test piece (test piece), and a screw portion is formed on the outer peripheral surfaces of the upper and lower portions thereof. 52 is the first flange, 53
Is a bolt for fixing the first flange 52 to a jig connected to an actuator such as a piston, 54 is a second flange (screw flange) screwed with a threaded portion at the bottom of the test piece 51, and 55 is A bolt for fixing the screw flange 54 to the first flange 52, 56 a third flange with which the lower end surface of the test piece 51 abuts, 57 a bolt for fixing the third flange to the first flange 52. And
These constitute the piston side test piece gripping device. Further, 58 is a fourth flange (load cell flange), 59 is a bolt for fixing the fourth flange to a jig on the load cell side, and 60 is a fifth screw part which is screwed with an upper screw part of the test piece 51. Flange (screw flange), 6
1, the screw flange 60 is connected to the load cell flange 58.
, 62 is a sixth flange against which the upper end surface of the test piece 51 abuts, and 63 is a bolt for fixing the sixth flange to the load cell flange 58, by which the test piece grip on the load cell side is held. The device is configured.
【０００３】このように構成された試験片把持装置にお
いて、試験片５１の装着は、次のように行われる。ま
ず、試験片５１に前記第２のフランジ５４と前記第５の
フランジ６０を捩じ込んでおく。そして、ピストンを下
げた状態で、前記第２のフランジ５４と前記第５のフラ
ンジ６０が取り付けられた前記試験片５１を前記ロード
セルフランジ５８と前記第１のフランジ５２との間に位
置させ、ボルト５５で前記第１のフランジ５２に前記第
２のフランジ５４を取り付ける。このとき、ボルトの締
付けが片締めにならないように行う。次に、前記試験片
５１が上側の前記第６のフランジ６２に軽く当たるとこ
ろまでピストンを上昇させる。そして、その状態で、ボ
ルト６１により前記第５のフランジ６０を前記ロードセ
ルフランジ５８に手で取り付ける。次に、トルクレンチ
を用いて、ボルト６１を対角状に締付ける。このとき、
片締めにならないように十分気をつけて作業を行う。In the test piece gripping device thus configured, the test piece 51 is mounted as follows. First, the second flange 54 and the fifth flange 60 are screwed into the test piece 51. Then, with the piston lowered, the test piece 51 to which the second flange 54 and the fifth flange 60 are attached is located between the load cell flange 58 and the first flange 52, and the bolt At 55, the second flange 54 is attached to the first flange 52. At this time, tighten the bolts so that they are not partially tightened. Next, the piston is lifted up until the test piece 51 lightly hits the upper sixth flange 62. Then, in this state, the fifth flange 60 is manually attached to the load cell flange 58 with the bolt 61. Next, the bolts 61 are diagonally tightened using a torque wrench. At this time,
Be careful not to tighten it in one direction.
【０００４】[0004]
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の試験片
把持装置においては、試験片５１の装着後に、第１のフ
ランジ５２とネジフランジ５４との間、および、ロード
セルフランジ５８とネジフランジ６０との間に、図２中
にＳで示す隙間が必ず空いていることになる。そのた
め、ボルト５５、６１の締付け具合で試験片に偏荷重
（曲げ応力）が加わる可能性が大変高くなる。このよう
な偏荷重の存在は、試験の正確性を損なうものであり、
特に、高周波加振、大歪み、加熱などの短時間で疲労さ
せる試験においては、その試験結果を大きく左右する原
因となる。そこで試験片５１に歪みゲージを装着して偏
荷重がなくなるようにボルト５５、６１の締付け具合を
調整することも行われていたが、これは非常に作業性が
悪いという問題点がある。また、従来の試験片把持装置
は、その構造上、サイズが大きく、重量が重くなって、
高周波加振した場合の荷重誤差が大きくなるという欠点
がある。In the above-described conventional test piece gripping device, after mounting the test piece 51, between the first flange 52 and the screw flange 54, and between the load cell flange 58 and the screw flange 60. A gap indicated by S in FIG. Therefore, it is highly likely that an unbalanced load (bending stress) is applied to the test piece depending on the tightening condition of the bolts 55 and 61. The presence of such an unbalanced load impairs the accuracy of the test,
In particular, in a test in which fatigue is caused in a short time such as high-frequency vibration, large strain, and heating, the test result is greatly affected. Therefore, a strain gauge is attached to the test piece 51 to adjust the tightening condition of the bolts 55 and 61 so as to eliminate the unbalanced load, but this has a problem that workability is extremely poor. In addition, the conventional test piece gripping device has a large size and heavy weight due to its structure,
There is a drawback that the load error becomes large when high-frequency vibration is applied.
【０００５】そこで本発明は、試験片に加わる偏荷重を
小さくすることができるとともに、試験片の装着が容易
な試験片把持装置を提供することを目的としている。ま
た、サイズおよび重量が小さく高周波加振したときにお
ける荷重誤差が少ない試験片把持装置を提供することを
目的としている。Therefore, it is an object of the present invention to provide a test piece gripping device which can reduce an eccentric load applied to the test piece and can easily mount the test piece. It is another object of the present invention to provide a test piece gripping device which is small in size and weight and has a small load error when being subjected to high frequency vibration.
【０００６】[0006]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の試験片把持装置は、試験片が螺合されるネ
ジフランジと、前記ネジフランジとチャック本体との間
に介在するスペーサフランジと、前記スペーサフランジ
に設けられ、前記スペーサフランジと前記ネジフランジ
との間に弾性力により所定量のギャップを形成する部材
と、前記ネジフランジと前記チャック本体とを螺合する
ボルトとを有し、前記ボルトにより前記試験片を前記チ
ャック本体に固定する力が、前記ネジフランジを前記ギ
ャップ分たわませる力となるようにしたものである。ま
た、本発明の他の試験片把持装置は、試験片が螺合され
るネジフランジと、前記ネジフランジの外側に配置され
るフランジと、前記ネジフランジおよび前記フランジと
チャック本体との間に介在するスペーサフランジと、前
記スペーサフランジに設けられ、前記スペーサフランジ
と前記フランジとの間に弾性力により所定量のギャップ
を形成する部材と、前記フランジと前記チャック本体と
を螺合するボルトとを有し、前記ボルトにより前記フラ
ンジおよび前記ネジフランジを介して前記試験片を前記
チャック本体に固定する力が、前記フランジを前記ギャ
ップ分たわませる力となるようにしたものである。さら
に、前記ギャップを形成する部材は、皿バネと該皿バネ
の弾性力によりその端部が前記スペーサフランジより前
記所定量だけ突出するようになされた皿バネガイド部材
により構成されているものである。In order to achieve the above object, a device for gripping a test piece according to the present invention comprises a screw flange to which a test piece is screwed, and a spacer interposed between the screw flange and the chuck body. A flange, a member provided on the spacer flange to form a predetermined amount of gap between the spacer flange and the screw flange by an elastic force, and a bolt for screwing the screw flange and the chuck body together. However, the force for fixing the test piece to the chuck body by the bolt is a force for bending the screw flange by the gap. Further, another test piece gripping device of the present invention includes a screw flange into which a test piece is screwed, a flange arranged outside the screw flange, and the screw flange and the flange and the chuck body. A spacer flange, a member provided on the spacer flange to form a predetermined amount of gap between the spacer flange and the flange by an elastic force, and a bolt for screwing the flange and the chuck body together. However, the force for fixing the test piece to the chuck body via the flange and the screw flange by the bolt is a force for bending the flange by the gap. Further, the member for forming the gap is composed of a disc spring and a disc spring guide member whose end portion is projected from the spacer flange by the predetermined amount by the elastic force of the disc spring.
【０００７】[0007]
【発明の実施の形態】図１は本発明の試験片把持装置の
一実施の形態の構成を示す断面図である。この図におい
て、１は試験片（テストピース）であり、前述の場合と
同様に、その上部と下部の外周面にはネジ部が形成され
ている。２はアクチュエータのピストン軸に接続された
下部チャック本体、３はスペーサフランジ、４は前記試
験片１の下部外周面に設けられたネジ部と螺合する下部
ネジフランジ、５は前記下部ネジフランジ４を前記下部
チャック本体２に固定するためのボルト、６は加速度セ
ンサ取付フランジ、７は加速度センサ取付フランジ６を
前記下部チャック本体２に固定するボルト、８は前記試
験片１の下端面が当接する下部テストピース受け、９は
前記下部テストピース受け８を前記加速度センサ取付フ
ランジ６に固定するボルト、１２は加速度センサであ
る。FIG. 1 is a sectional view showing the structure of an embodiment of a test piece gripping device of the present invention. In this figure, reference numeral 1 is a test piece (test piece), and similarly to the above-mentioned case, a screw portion is formed on the outer peripheral surfaces of the upper and lower portions thereof. Reference numeral 2 is a lower chuck body connected to a piston shaft of an actuator, 3 is a spacer flange, 4 is a lower screw flange which is screwed with a screw portion provided on the lower outer peripheral surface of the test piece 1, and 5 is the lower screw flange 4. For fixing the lower chuck body 2 to the lower chuck body 2, 6 is an acceleration sensor mounting flange, 7 is a bolt for fixing the acceleration sensor mounting flange 6 to the lower chuck body 2, and 8 is a lower end surface of the test piece 1 to abut. A lower test piece receiver, 9 is a bolt for fixing the lower test piece receiver 8 to the acceleration sensor mounting flange 6, and 12 is an acceleration sensor.
【０００８】また、図中に拡大して示すように、前記ス
ペーサフランジ３には、前記下部チャック本体２側が大
径、前記スペーサフランジ３側が小径となる孔が複数個
所設けられており、該孔に複数枚積層された皿バネ１０
と皿バネガイド１１が設けられている。図示するよう
に、複数枚積層された皿バネ１０は前記皿バネガイド１
１の大径部と前記下部チャック本体２との間の前記孔の
大径部に配置されている。また、前記皿バネガイド１１
の前記下部ネジフランジ４側の小径部の長さは、前記ス
ペーサフランジ３の孔の小径部の長さよりもＤだけ長く
されており、皿バネガイド１１の下部ネジフランジ４側
の端部がスペーサフランジ３の上面からＤだけ突出する
ように構成されている。この突出長さＤは、例えば、
０．１ｍｍとされている。すなわち、この皿バネ１０と
皿バネガイド１１からなる部材により、前記下部ネジフ
ランジ４と前記スペーサフランジ３との間に、ボルト締
付け前に幅Ｄのギャップが形成されるようになされてい
る。この部材は、前記スペーサフランジ３中に複数個設
けられるが、その数は少なくとも３個以上とされ、対称
の位置に配置されるのが望ましい。また、皿バネ１０の
枚数は任意に決定することができ、所要の弾性力を得る
ことができる場合には、１枚とすることができる。さら
に、前記突出長さＤは、０．１ｍｍに限られることはな
い。Further, as shown enlarged in the drawing, the spacer flange 3 is provided with a plurality of holes having a large diameter on the lower chuck body 2 side and a small diameter on the spacer flange 3 side. Multiple disc springs 10
And a disc spring guide 11 are provided. As shown in the drawing, the disc springs 10 having a plurality of laminated layers are the disc spring guides 1
It is arranged in the large diameter portion of the hole between the large diameter portion 1 and the lower chuck body 2. In addition, the disc spring guide 11
The length of the small-diameter portion of the lower screw flange 4 side is longer than the length of the small-diameter portion of the hole of the spacer flange 3, and the end of the disc spring guide 11 on the lower screw flange 4 side is the spacer flange. 3 is configured to project from the upper surface of D by D. This protrusion length D is, for example,
It is set to 0.1 mm. That is, the member composed of the disc spring 10 and the disc spring guide 11 forms a gap having a width D between the lower screw flange 4 and the spacer flange 3 before tightening the bolt. A plurality of these members are provided in the spacer flange 3, and the number of the members is preferably at least three, and it is desirable that the members are arranged at symmetrical positions. Further, the number of the disc springs 10 can be arbitrarily determined, and if the required elastic force can be obtained, the number can be one. Furthermore, the protrusion length D is not limited to 0.1 mm.
【０００９】図中上部のロードセル側において、１３は
上部チャック本体、１４はスペーサフランジ、１５は前
記試験片１の上部外周面に設けられたネジ部と螺合する
上部ネジフランジ、１６は前記上部ネジフランジ１５の
外側に嵌合するフランジ、１７は前記フランジ１６を前
記上部チャック本体１３に固定するためのボルト、１８
は前記試験片１の上端面が当接する上部テストピース受
け、１９は前記上部テストピース受け１８を前記上部チ
ャック本体１３に固定するボルト、２０は加速度セン
サ、２１は荷重を測定するロードセル、２２は前記上部
チャック本体１３をフレームなどに固定するボルトであ
る。ここで、前記スペーサフランジ１４には、前記スペ
ーサフランジ３と同様に複数個の孔が設けられており、
その内部に複数枚積層された皿バネ１０と皿バネガイド
１１とからなる部材が設けられている。これにより、前
記スペーサフランジ１４と前記上部ネジフランジ１５と
の間にボルト締付け前に幅Ｄのギャップが形成されるよ
うになされている。On the load cell side of the upper part in the figure, 13 is an upper chuck body, 14 is a spacer flange, 15 is an upper screw flange that is screwed with a screw portion provided on the upper outer peripheral surface of the test piece 1, and 16 is the upper part. A flange fitted to the outside of the screw flange 15, 17 is a bolt for fixing the flange 16 to the upper chuck body 13, and 18
Is an upper test piece receiver with which the upper end surface of the test piece 1 abuts, 19 is a bolt for fixing the upper test piece receiver 18 to the upper chuck body 13, 20 is an acceleration sensor, 21 is a load cell for measuring a load, and 22 is A bolt for fixing the upper chuck body 13 to a frame or the like. Here, the spacer flange 14 is provided with a plurality of holes similarly to the spacer flange 3,
A member composed of a plurality of Belleville springs 10 and a Belleville spring guide 11 stacked therein is provided therein. As a result, a gap having a width D is formed between the spacer flange 14 and the upper screw flange 15 before bolting.
【００１０】このように、本発明の試験片把持装置にお
いては、前記皿バネ１０と皿バネガイド１１により、ボ
ルト締付け前に、前記スペーサフランジ３（１４）と前
記下部ネジフランジ４（上部ネジフランジ１５）との間
に間隔Ｄのギャップが形成されており、前記皿バネ１０
の弾性力に抗して前記ギャップＤを零とするようにボル
ト５（１７）を締め付けるようにしている。従って、締
付けが終わった状態でギャップがちょうど零となり、偏
荷重をなくすことができる。また、前記下部ネジフラン
ジ４あるいは上部ネジフランジ１５を前記皿バネ１０の
弾性力に抗して前記ギャップＤだけたわませる力が試験
片１をチャック本体２あるいは１３に固定する力となる
ため、この力が試験荷重よりも大きくなるように前記下
部ネジフランジ４および前記上部ネジフランジ１５を設
計する。図示するように、前記下部ネジフランジ４はそ
の下部に平坦面を有し、該平坦面に前記ボルト５の取り
付け穴が設けられる形状とされている。また、前記上部
ネジフランジ１５はその中央部付近に段部を設け、該段
部に前記フランジ１６が係合する形状とされている。い
ずれの場合においても、前述した従来技術におけるネジ
フランジ５４，６０と比較して、その形状が小型化され
ており、バネ性を有するように構成されている。As described above, in the test piece gripping apparatus of the present invention, the spacer flange 3 (14) and the lower screw flange 4 (upper screw flange 15) are tightened by the disc spring 10 and the disc spring guide 11 before tightening the bolts. ) And a gap of a distance D is formed between
The bolt 5 (17) is tightened so that the gap D becomes zero against the elastic force of. Therefore, the gap becomes just zero when the tightening is completed, and the unbalanced load can be eliminated. Further, the force for bending the lower screw flange 4 or the upper screw flange 15 against the elastic force of the disc spring 10 by the gap D serves as a force for fixing the test piece 1 to the chuck body 2 or 13. The lower screw flange 4 and the upper screw flange 15 are designed so that this force is larger than the test load. As shown in the figure, the lower screw flange 4 has a flat surface on the lower portion thereof, and the flat surface is provided with a mounting hole for the bolt 5. Further, the upper screw flange 15 is provided with a step portion near the center thereof, and the flange 16 is engaged with the step portion. In any case, the shape thereof is smaller than that of the above-described threaded flanges 54 and 60 in the prior art, and is configured to have a spring property.
【００１１】このように構成された本発明の試験片把持
装置における前記試験片１の装着手順について説明す
る。なお、前記下部チャック本体２に前記加速度センサ
取付けフランジ６および前記下部テストピース受け８が
既にボルト７，９により取り付けられており、前記上部
チャック本体１３に前記上部テストピース受け１８がボ
ルト１９により取り付けられているものとする。また、
前記下部チャック本体２上に前記スペーサフランジ３が
載置されているものとする。A procedure for mounting the test piece 1 in the test piece gripping apparatus of the present invention having the above structure will be described. The acceleration sensor mounting flange 6 and the lower test piece receiver 8 are already attached to the lower chuck body 2 with bolts 7 and 9, and the upper test piece receiver 18 is attached to the upper chuck body 13 with bolts 19. It is supposed to be. Also,
It is assumed that the spacer flange 3 is placed on the lower chuck body 2.
【００１２】初めに、前記試験片１に下部ネジフランジ
４を捩じ込んでおく。このときの捩じ込み量は多少深め
とし、試験片１の下端面が前記下側テストピース受け８
に最初に当接するようにしておく。次に、試験片１と下
部ネジフランジ４を下部チャック本体２上、すなわち、
前記スペーサフランジ３上にセットする。このとき、試
験片１の下端部は下側テストピース受け８上に置かれた
状態となり、下部ネジフランジ４の下面とスペーサフラ
ンジ３の上面との隙間が少なくとも１ｍｍ程度となるよ
うに前記下部ネジフランジ４が前記試験片１に捩じ込ま
れているものとする。次に、試験片１を手で押さえた状
態で下部ネジフランジ４のみを軽く回して、前記皿バネ
ガイド１１に当接するまで、下部ネジフランジ４を下げ
る。そして、その状態で、試験片１と下部ネジフランジ
４を一体として回転させ、ボルト５のネジ穴が合った状
態とする。そして、ボルト５を取り付け、まず手で締め
た後、工具で対角状に締め上げる。その結果、下部ネジ
フランジ４とスペーサフランジ３との隙間は零となる。First, the lower screw flange 4 is screwed into the test piece 1. At this time, the screw-in amount is slightly deeper, and the lower end surface of the test piece 1 is the lower test piece receiver 8
First to contact. Next, the test piece 1 and the lower screw flange 4 are placed on the lower chuck body 2, that is,
Set on the spacer flange 3. At this time, the lower end of the test piece 1 is placed on the lower test piece receiver 8, and the lower screw is adjusted so that the gap between the lower surface of the lower screw flange 4 and the upper surface of the spacer flange 3 is at least about 1 mm. It is assumed that the flange 4 is screwed into the test piece 1. Next, while holding the test piece 1 by hand, only the lower screw flange 4 is lightly turned, and the lower screw flange 4 is lowered until it comes into contact with the disc spring guide 11. Then, in that state, the test piece 1 and the lower screw flange 4 are integrally rotated, and the screw holes of the bolts 5 are aligned. Then, the bolt 5 is attached, first tightened by hand, and then tightened diagonally with a tool. As a result, the gap between the lower screw flange 4 and the spacer flange 3 becomes zero.
【００１３】次に、前記上部チャック本体１３に前記上
部スペーサフランジ１４を嵌め、前記試験片１に前記フ
ランジ１６を挿入した状態で、試験片１に前記上部ネジ
フランジ１５を捩じ込む。このとき、前述した下側と同
様に、捩じ込む量を多少深めとする。次に、ピストンを
上昇させ、前記試験片１が上部テストピース受け１８に
軽く当たるところでピストンの上昇を停止する。そし
て、その状態で、前記上部ネジフランジ１５を回転し
て、上昇させる。このとき、前記上部ネジフランジ１５
と前記フランジ１６は密着させたままの状態で回転さ
せ、フランジ１６が上部皿バネガイド１１に当接するま
で上昇させる。次に、フランジ１６を回転させ、ボルト
１７の穴が一致する状態とする。そして、ボルト１７を
用いて、前記フランジ１６を上部チャック本体１３に固
定する。そのとき、最初は手で行い、次に工具を用いて
対角状に締め付ける。その結果、フランジ１６と前記ス
ペーサフランジ１４との間の隙間は零となる。最後に、
全てのボルト５，１７をトルクレンチを用いて規定トル
クで締め付ける。以上により、試験片１を装着すること
ができる。Next, with the upper spacer flange 14 fitted in the upper chuck body 13 and the flange 16 inserted in the test piece 1, the upper screw flange 15 is screwed into the test piece 1. At this time, as in the case of the above-mentioned lower side, the screwing amount is slightly deepened. Next, the piston is raised, and when the test piece 1 lightly hits the upper test piece receiver 18, the rise of the piston is stopped. Then, in this state, the upper screw flange 15 is rotated and raised. At this time, the upper screw flange 15
The flange 16 is rotated in a state of being in close contact with the flange 16 and is raised until the flange 16 contacts the upper disc spring guide 11. Next, the flange 16 is rotated to bring the holes of the bolts 17 into alignment. Then, the flange 16 is fixed to the upper chuck body 13 using the bolt 17. At that time, first do it by hand and then use tools to tighten it diagonally. As a result, the gap between the flange 16 and the spacer flange 14 becomes zero. Finally,
Tighten all bolts 5 and 17 to the specified torque with a torque wrench. As described above, the test piece 1 can be mounted.
【００１４】なお、上述した実施の形態では、下部（ピ
ストン側）の試験片把持装置においては、下部ネジフラ
ンジ４にボルト５を取り付けるようにしているのに対
し、上部（ロードセル側）の試験片把持装置において
は、上部ネジフランジ１５とフランジ１６を設け、フラ
ンジ１６にボルト１７を取り付けるようにして、２部品
で構成するようにしている。このように一方を２部品で
構成することにより、ボルト（１７）の穴とタップの位
置とが合わなくなることを防止するようにしている。た
だし、これに限られることはなく、両方の試験片把持装
置をともに前述した下部の試験片把持装置の構成あるい
は前述した２部品を用いる構成とすることもできる。ま
た、以上の説明では、ピストン側を下部、ロードセル側
を上部として説明したがこれに限られることはない。さ
らに、上述した実施の形態では、皿バネを使用してその
弾性力により前記ギャップを形成させるようにしたが、
これに限られることはなく、所要の弾性力を得ることが
できるものであれば、他の弾性体を用いるようにしても
よい。In the embodiment described above, in the lower (piston side) test piece gripping device, the bolt 5 is attached to the lower screw flange 4, whereas the upper (load cell side) test piece is mounted. In the gripping device, the upper screw flange 15 and the flange 16 are provided, and the bolt 17 is attached to the flange 16 so as to be configured by two parts. By constructing one of the two parts in this way, it is possible to prevent the hole of the bolt (17) and the position of the tap from being misaligned. However, the present invention is not limited to this, and both the test piece gripping devices may be configured as the above-described lower test piece gripping device or a configuration using the above-described two parts. In the above description, the piston side is the lower side and the load cell side is the upper side, but the present invention is not limited to this. Further, in the above-described embodiment, the disc spring is used to form the gap by its elastic force.
The present invention is not limited to this, and another elastic body may be used as long as a required elastic force can be obtained.
【００１５】[0015]
【発明の効果】以上説明したように、本発明の試験片把
持装置によれば、隙間を保った状態で複数のボルトで締
付けるという構造ではなく、ボルトの締付けが終わった
状態でスペーサフランジとチャック本体との間のギャッ
プがちょうど零となるようにしているため、試験片に偏
荷重が印加されることを防止することができる。したが
って、試験結果における偏荷重に起因する誤差をなくす
ことができる。また、ネジフランジはバネ性を持たせる
ためにスリム化されているため、小型化、軽量化を実現
することができるため、高周波数での使用における荷重
誤差を少なくすることができる。As described above, according to the test piece gripping apparatus of the present invention, it is not a structure in which a plurality of bolts are tightened in a state in which a gap is maintained, but the spacer flange and the chuck are tightened in a state in which the bolts are tightened. Since the gap with the main body is set to just zero, it is possible to prevent an unbalanced load from being applied to the test piece. Therefore, it is possible to eliminate the error in the test result due to the unbalanced load. Further, since the screw flange is made slim to have springiness, it is possible to realize size reduction and weight reduction, so that it is possible to reduce a load error in use at a high frequency.
【図１】 本発明の試験片把持装置の一実施の形態の構
成を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an embodiment of a test piece gripping device of the present invention.
【図２】 従来の試験片把持装置の構成を示す図であ
る。FIG. 2 is a diagram showing a configuration of a conventional test piece gripping device.
１ 試験片、２ 下部チャック本体、３ 下部スペーサ
フランジ、４ 下部ネジフランジ、５，７，９ ボル
ト、１０ 皿バネ、１１ 皿バネガイド、１２加速度セ
ンサ、１３ 上部チャック本体、１４ 上部スペーサフ
ランジ、１５上部ネジフランジ、１６ フランジ、１
７，１９，２２ ボルト、２１ ロードセル1 test piece, 2 lower chuck body, 3 lower spacer flange, 4 lower screw flange, 5, 7, 9 bolt, 10 disc spring, 11 disc spring guide, 12 acceleration sensor, 13 upper chuck body, 14 upper spacer flange, 15 upper part Screw flange, 16 flange, 1
7,19,22 volt, 21 load cell
Claims (3)
ーサフランジと、 前記スペーサフランジに設けられ、前記スペーサフラン
ジと前記ネジフランジとの間に弾性力により所定量のギ
ャップを形成する部材と、 前記ネジフランジと前記チャック本体とを螺合するボル
トとを有し、 前記ボルトにより前記試験片を前記チャック本体に固定
する力が、前記ネジフランジを前記ギャップ分たわませ
る力となるようにしたことを特徴とする試験片把持装
置。1. A screw flange on which a test piece is screwed, a spacer flange interposed between the screw flange and a chuck body, and a spacer flange provided on the spacer flange and between the spacer flange and the screw flange. It has a member that forms a predetermined amount of gap by elastic force, and a bolt that screws the screw flange and the chuck body together, and the force that fixes the test piece to the chuck body by the bolt is the screw flange. The test piece gripping device is characterized in that a force for bending the above is obtained.
の間に介在するスペーサフランジと、 前記スペーサフランジに設けられ、前記スペーサフラン
ジと前記フランジとの間に弾性力により所定量のギャッ
プを形成する部材と、 前記フランジと前記チャック本体とを螺合するボルトと
を有し、 前記ボルトにより前記フランジおよび前記ネジフランジ
を介して前記試験片を前記チャック本体に固定する力
が、前記フランジを前記ギャップ分たわませる力となる
ようにしたことを特徴とする試験片把持装置。2. A screw flange into which a test piece is screwed, a flange arranged outside the screw flange, a spacer flange interposed between the screw flange and the chuck body, and the spacer flange. And a member for forming a predetermined amount of gap between the spacer flange and the flange by elastic force, and a bolt for screwing the flange and the chuck body together, the flange and the flange and The test piece gripping device is characterized in that the force for fixing the test piece to the chuck body via the screw flange is a force for bending the flange by the gap.
と該皿バネの弾性力によりその端部が前記スペーサフラ
ンジより前記所定量だけ突出するようになされた皿バネ
ガイド部材により構成されていることを特徴とする請求
項１あるいは２記載の試験片把持装置。3. A member for forming the gap is composed of a disc spring and a disc spring guide member whose end portion is projected from the spacer flange by the predetermined amount by elastic force of the disc spring. The test piece gripping device according to claim 1 or 2.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001259435A JP2003065916A (en) | 2001-08-29 | 2001-08-29 | Test piece-gripping apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001259435A JP2003065916A (en) | 2001-08-29 | 2001-08-29 | Test piece-gripping apparatus |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003065916A true JP2003065916A (en) | 2003-03-05 |
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ID=19086810
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| JP2001259435A Withdrawn JP2003065916A (en) | 2001-08-29 | 2001-08-29 | Test piece-gripping apparatus |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003065916A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008241530A (en) * | 2007-03-28 | 2008-10-09 | Sumitomo Metal Ind Ltd | Stress test fixture and stress test method |
| CN103364270A (en) * | 2013-06-21 | 2013-10-23 | 西南交通大学 | Integrated test fixture for circulation, stretch, compression and torsion of advanced materials under hygrothermal environment |
-
2001
- 2001-08-29 JP JP2001259435A patent/JP2003065916A/en not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2008241530A (en) * | 2007-03-28 | 2008-10-09 | Sumitomo Metal Ind Ltd | Stress test fixture and stress test method |
| WO2008123197A1 (en) * | 2007-03-28 | 2008-10-16 | Sumitomo Metal Industries, Ltd. | Jig for stress test and stress test method |
| CN103364270A (en) * | 2013-06-21 | 2013-10-23 | 西南交通大学 | Integrated test fixture for circulation, stretch, compression and torsion of advanced materials under hygrothermal environment |
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