JP2003065732A - 光ファイバセンサによる構造部材応力集中部位検出方法 - Google Patents

光ファイバセンサによる構造部材応力集中部位検出方法

Info

Publication number
JP2003065732A
JP2003065732A JP2001255133A JP2001255133A JP2003065732A JP 2003065732 A JP2003065732 A JP 2003065732A JP 2001255133 A JP2001255133 A JP 2001255133A JP 2001255133 A JP2001255133 A JP 2001255133A JP 2003065732 A JP2003065732 A JP 2003065732A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical fiber
fiber sensor
stress concentration
structural member
strain
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001255133A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3795779B2 (ja
Inventor
Akiyoshi Shimada
明佳 島田
Hiroshi Naruse
央 成瀬
Kazuo Kageyama
和郎 影山
Hideaki Murayama
英晶 村山
Manabu Kimura
學 木村
Kiyoshi Uzawa
潔 鵜沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP2001255133A priority Critical patent/JP3795779B2/ja
Publication of JP2003065732A publication Critical patent/JP2003065732A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3795779B2 publication Critical patent/JP3795779B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 構造部材に発生する応力集中部位を高い距離
分解能をもってより狭い範囲で適確に検出し得る光ファ
イバセンサによる構造部材応力集中部位検出方法を提供
する。 【解決手段】 部材3に光ファイバセンサ1を固定し、
この固定された光ファイバセンサ1の一端にひずみ測定
装置2を接続し、このひずみ測定装置2から光ファイバ
センサ1の一端に光パルスを入力し、この入力された光
パルスが部材3に固定された光ファイバセンサ1の例え
ば領域13に存在する応力集中部位において散乱光の光
学特性変化であるブリルアン後方散乱光の周波数スペク
トルのスペクトル幅変化を受け、このスペクトル変化を
受けて戻ってくる散乱光をひずみ測定装置2で受信し、
このスペクトル変化と散乱光の戻り時間に基づいて応力
集中部位を検出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、構造部材に光ファ
イバセンサを固定し、この光ファイバセンサを用いて構
造部材において応力が集中している部位を検出する光フ
ァイバセンサによる構造部材応力集中部位検出方法に関
する。
【0002】
【従来の技術】航空機や船舶、土木・建築などの構造物
を構成する構造部材には、設計時に適正な強度、すなわ
ちその構造物が耐えうる応力が、想定される外力や使用
される環境などを考慮して設定される。設計者は、使用
中の構造物に生じる構造部材内の応力が、設定された応
力以下となるように構造部材の材料や寸法などを決定す
る。ところが、不適切な設計、製造不良、使用中に発生
した欠陥・損傷などによって、構造部材に悪影響を及ぼ
す可能性のある応力集中部位が存在することがある。
【0003】この応力集中によって、想定された範囲内
にある外力であっても構造物の破壊に至ることがあるの
で、こうした応力集中部位を検出する技術は構造物の安
全性を高める上で必要不可欠な技術である。
【0004】構造部材の応力集中部位を検出する従来の
方法には光弾性法がある。また、ひずみセンサを用いた
方法もある。
【0005】光弾性法によって構造部材の応力集中部位
を測定する場合、面的なひずみの状態を把握することが
でき、そのひずみの状態から応力集中部位を検出するこ
とができるが、計測装置が大掛かりになる上、実際に使
用されている構造物の部材に適用することは非常な困難
を要し、更に構造物の形状や材料によっては測定するこ
とが不可能である。
【0006】また、ひずみセンサを利用して応力集中部
位を検出する場合、代表的なものとして、局所的なひず
みを測定するひずみゲージや「光ファイバ内に格子を形
成する方法」(特開昭62−500052号公報)によ
り作成される光ファイバセンサを用いる「分散的、離散
的に解析する光ファイバひずみ計」(特開昭61−50
2980号公報)がある。
【0007】ひずみゲージによりひずみの大きさを測定
し、そのひずみの値から応力集中を検出する場合、1つ
のひずみゲージでは局所的なひずみしか計測できないた
め、多数の測定点が必要となり、配線コードが増えて測
定系が大掛かりになってしまう。更に、電磁ノイズに影
響されやすく、防爆性が必要なタンカーなどへの適用は
難しい。
【0008】また、「分散的、離散的に解析する光ファ
イバひずみ計」(特開昭61−502980号公報)を
用いてひずみの大きさを測定し、そのひずみの値から応
力集中を検出する場合、上記ひずみゲージのように配線
コードは増えないが、センサ部が限定された範囲でしか
ひずみを測定できないため、予め予測できない場所で発
生する応力集中部位を検出することは困難となる。
【0009】更に、ひずみセンサとしてブリルアン後方
散乱光を利用した「後方散乱光の測定方法およびその装
置」(特開平5−231923号公報)も提案されてい
る。これは、図7に示すように、光ファイバセンサ1の
片端に光ひずみ測定装置2を接続し、この装置からパル
ス光9を入力したときに、光ファイバセンサ1の各位置
で生じるブリルアン散乱光の周波数スペクトル6の変
化、すなわち周波数スペクトルのピーク位置の移動から
光ファイバセンサ1に生じたひずみの大きさを検出し、
またブリルアン散乱光が戻ってくるのに要する時間に基
づき光ファイバセンサ1に生じたひずみの発生位置13
を連続的に測定するものである。また、距離分解能は、
パルス光9の幅によって決まる。例えば、10ナノ秒の
パルス光9では、1mの距離分解能に相当する。これに
より測定された連続的なひずみの分布を利用して応力集
中部位を検出することができるが、距離分解能パルス光
9の幅により制限されるため、空間分解能以下の大きさ
で応力が変動するような応力集中部位を検出することが
困難である。
【0010】上記「後方散乱光の測定方法およびその装
置」(特開平5−231923号公報)によって、測定
されたひずみ分布では、距離分解能の制限から応力集中
部位を検出できない例を図面により説明を行う。例え
ば、図2に示されているような応力集中がない場合と、
応力集中がある場合のひずみ分布をそれぞれひずみ分布
41とひずみ分布42として特開平5−231923号
公報に記載されている「後方散乱光の測定方法およびそ
の装置」を用いて距離に対応させて測定したとする。図
2の横軸は距離で、縦軸はひずみである。このとき、測
定されるひずみ分布は図6のようになる。図6では、横
軸が距離で、縦軸がひずみである。図6からわかるよう
に、応力集中がない場合に測定されたひずみ分布41a
は図2に示されているひずみ分布41と良く一致する
が、応力集中がある場合に測定されたひずみ分布42a
は、図2に示されているひずみ分布42の測定領域5に
おけるひずみ分布を正確に測定することができず、応力
集中の発生を検出することができない。なお、図6の測
定領域5は図2に示されている測定領域5に対応してい
る。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の応力集
中部位の検出方法のうち、ひずみセンサを用いる方法、
すなわち、ひずみゲージや特開昭61−502980号
公報に開示されているように「分散的、離散的に解析す
る光ファイバひずみ計」を用いて、ひずみを計測し、そ
の値から応力集中部位を検出する場合は、センサ部分が
限定されるため、発生位置が不明の応力集中部位を検出
するには人的な労力が必要であるという困難がある。
【0012】また、特開平5−231923号公報に記
載されているように、「後方散乱光の測定方法およびそ
の装置」を用いて距離に対応した連続的なひずみを測定
し、そのひずみの分布から応力集中部位を検出する場
合、距離分解能が低いために、上述したように狭い範囲
で発生する応力集中部位の検出は困難であるという問題
がある。
【0013】本発明は、上記に鑑みてなされたもので、
その目的とするところは、構造部材に発生する応力集中
部位を高い距離分解能をもってより狭い範囲で適確に検
出し得る光ファイバセンサによる構造部材応力集中部位
検出方法を提供することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1記載の本発明は、構造部材に光ファイバセ
ンサを固定し、この光ファイバセンサを用いて構造部材
において応力が集中している部位を検出する方法であっ
て、前記光ファイバセンサの一端から光パルスを入力
し、この入力された光パルスに対して光ファイバセンサ
で生じる散乱光の光学的特性の変化であるブリルアン後
方散乱光の周波数スペクトルのスペクトル幅変化から構
造部材に生じている応力集中部位を検出することを要旨
とする。
【0015】請求項1記載の本発明にあっては、構造部
材に光ファイバセンサを固定し、光ファイバセンサの一
端から光パルスを入力し、この入力された光パルスに対
して光ファイバセンサで生じる散乱光の光学的特性の変
化であるブリルアン後方散乱光の周波数スペクトルのス
ペクトル幅変化から構造部材に生じている応力集中部位
を検出するため、従来の方法に比較して、距離分解能を
向上させることができ、より狭い範囲で発生する応力集
中部位を検出することができる。
【0016】また、請求項2記載の本発明は、請求項1
記載の発明において、前記光パルスを光ファイバセンサ
の一端に入力してから、前記散乱光が光ファイバセンサ
の一端に戻ってくるまでの時間を測定し、この測定した
光ファイバセンサにおける散乱光の戻り時間に基づいて
構造部材の応力集中発生位置を検出することを要旨とす
る。
【0017】請求項2記載の本発明にあっては、散乱光
が光ファイバセンサの一端に戻ってくるまでの戻り時間
に基づいて構造部材の応力集中発生位置を検出するた
め、従来の方法に比較して、構造部材の応力集中の発生
位置をより正確に検出することができる。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、図面を用いて本発明の実施
の形態を説明する。図1は、本発明の一実施形態に係る
光ファイバセンサによる構造部材応力集中部位検出方法
を実施する装置構成を示す斜視図である。
【0019】本実施形態の光ファイバセンサによる応力
集中部位検出方法では、図1に示すように、構造部材3
に対して光ファイバセンサ1を樹脂などで固定し、該光
ファイバセンサ1の一端に光ファイバひずみ測定装置2
を接続する。なお、本発明で使用される光ファイバひず
み測定装置2は特開平5−231923号公報の「後方
散乱光の測定方法およびその装置」に開示されている光
ファイバひずみ測定装置を用いるものである。
【0020】次に、図1のように設定した光ファイバセ
ンサ1と部材3の位置関係を予め求めておき、部材3に
生じた応力集中とそれを検出する光ファイバセンサ1の
位置を対応させる。具体的には、光ファイバセンサ1の
内、部材3に固定されている部分の始点11および終点
12の間の光ファイバセンサ1が、部材3のどの位置に
存在するかを求めておき、光ファイバセンサ1で測定さ
れた応力集中の位置の対応付けを行う。
【0021】本実施形態の応力集中部位検出方法では、
光ファイバひずみ測定装置2から光ファイバセンサ1に
光パルスを入力し、この入力された光パルスに対して光
ファイバセンサ1で生じる散乱光の光学的特性の変化、
すなわちブリルアン後方散乱光の周波数スペクトルのス
ペクトル幅変化から部材3の応力集中部位を検出すると
ともに、散乱光が戻ってくるまでに要する時間を測定
し、この散乱光の戻り時間から応力集中の発生した位置
を検出するものである。
【0022】具体的には、図1に示すように、部材3に
固定された光ファイバセンサ1の始点11および終点1
2の間にある領域13において、応力集中が存在してい
ない場合と、応力集中が存在し、それに伴いひずみが局
所的に変化する場合では、ブリルアン後方散乱光の周波
数スペクトルのスペクトル幅が変化する。すなわち、光
ファイバひずみ測定装置2から光ファイバセンサ1に光
パルスを入力し、この入力した光パルスに対して光ファ
イバセンサ1で生じるブリルアン散乱光の周波数スペク
トルのスペクトル幅を測定した場合、領域13で応力集
中がある場合とない場合でスペクトル幅が変化する。ま
た、散乱光が戻ってくる時間を光ファイバひずみ測定装
置2で測定すれば、測定された散乱光の周波数スペクト
ルのスペクトル幅が光ファイバセンサ1のどの位置で得
られたものかを判定することができ、応力集中が領域1
3で生じていることがわかる。
【0023】図3は、図1に示す実施形態において領域
13の応力集中の検出を行った実験結果を示すグラフで
ある。横軸は周波数で、縦軸は受光パワーを表してい
る。図3には、2つのブリルアン散乱光の周波数スペク
トルとそのスペクトル幅が示されている。1つは、領域
13に応力集中がない場合に測定された周波数スペクト
ル61とそのスペクトル幅71、もう一方は、領域13
に応力集中がある場合に測定された周波数スペクトル6
2とそのスペクトル幅72である。それぞれの周波数ス
ペクトルおよびスペクトル幅は、領域13の中間点で測
定されたものであることが散乱光の戻り時間から求めら
れている。図3のスペクトル幅71およびスペクトル幅
72は、それぞれ受光パワーの最大値81および最大値
82の半値、すなわち図3の周波数スペクトルは対数表
示されているので、最大値81または最大値82から3
dB差し引いた値でのスペクトル幅を示している。これ
を半値幅と言うこともある。
【0024】図3のスペクトル幅71とスペクトル幅7
2を比較すると、応力集中の有無でスペクトル幅の値が
変化することがわかり、これにより応力集中の発生とそ
の位置を検出することが可能となる。なお、この実験で
は、図2に示すように、部材3に固定された光ファイバ
センサ1の始点11と終点12の長さ4mで測定を行
い、その中央部の領域13の長さ0.3mにおいて一様
なひずみ分布41で応力集中がない場合と、ひずみが変
化するひずみ分布42で応力集中がある場合に関して、
ブリルアン散乱光の周波数スペクトルとそのスペクトル
幅を比較した。図2の横軸は、光ファイバセンサ1の始
点11から終点12に対応する部材3の位置であり、同
図中にある測定領域5が領域13に対応する。
【0025】図4も、図1に示す実施形態において、光
ファイバセンサ1の始点11と終点12の間に図2のひ
ずみ分布41あるいはひずみ分布42のようなひずみが
生じている場合に、領域13の応力集中の検出を行った
実験結果を示すグラフである。図4では、横軸が距離
で、縦軸がブリルアン散乱光の周波数スペクトルのスペ
クトル幅である。図4は、周波数スペクトルのスペクト
ル幅を距離に対応させて連続的に示したスペクトル幅分
布であり、横軸は光ファイバセンサ1の始点11から終
点12に対応する部材3の位置である。同図中にある測
定領域5が領域13に対応する。図4から、応力集中が
ある場合、測定領域5付近で測定されたスペクトル幅
が、測定領域5以外で測定されたスペクトル幅に比べて
値が大きくなっていることから、領域13で応力集中が
存在していることがわかる。
【0026】また、応力集中によってブリルアン後方散
乱光の周波数スペクトルのスペクトル幅が変化すること
は、理論的に予測することができる。ブリルアン後方散
乱光はローレンツ型関数によって表せる周波数スペクト
ルを持ち、その形状は、
【数1】 と表せる。ここで、gB0 はブリルアンゲイン係数、vB
はブリルアン周波数シフト、ΔvBはブリルアンゲイン
線幅と呼ばれるもので、スペクトル幅に対応するもので
ある。またΔvはパルス光の周波数シフトである。ブリ
ルアン周波数シフトは光ファイバセンサに生じるひずみ
によって変化し、 vB=vB0+Mε(z) …(2) と表せる。ここでvB0 はひずみがゼロの時のブリルア
ン周波数シフト、Mはひずみ係数、ε(z)は光ファイバ
センサの長手方向の位置zに対応するひずみである。特
開平5−231923号公報に記載されている「後方散
乱光の測定方法およびその装置」で測定される実際の周
波数スペクトルは、距離分解能がLの時、
【数2】 と表すことができる。光ファイバセンサ1の始点11か
ら終点12に図2のひずみ分布42が生じた場合、周波
数スペクトルのスペクトル幅分布の測定値と上記の式か
ら予測した理論値は図5のようになる。測定領域5を含
むすべての位置で、測定値と理論値は良く一致するとい
える。
【0027】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
構造部材に光ファイバセンサを固定し、光ファイバセン
サの一端から光パルスを入力し、この入力された光パル
スに対して光ファイバセンサで生じる散乱光の光学的特
性の変化であるブリルアン後方散乱光の周波数スペクト
ルのスペクトル幅変化から構造部材に生じている応力集
中部位を検出するので、従来の方法に比較して、距離分
解能を向上させることができ、より狭い範囲で発生する
応力集中部位を検出することができる。
【0028】また、本発明によれば、散乱光が光ファイ
バセンサの一端に戻ってくるまでの戻り時間に基づいて
構造部材の応力集中発生位置を検出するので、従来の方
法に比較して、構造部材の応力集中の発生位置をより正
確に検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る光ファイバセンサに
よる構造部材応力集中部位検出方法を実施する装置構成
を示す斜視図である。
【図2】応力集中がある場合とない場合の実際のひずみ
分布を示す図である。
【図3】図1に示す実施形態の装置構成により図2のひ
ずみ分布において測定された周波数スペクトルとスペク
トル幅を示す図である。
【図4】図1に示す実施形態の装置構成により図2のひ
ずみ分布において測定されたスペクトル幅分布を示す図
である。
【図5】図1に示す実施形態の装置構成により図2のひ
ずみ分布において測定されたスペクトル幅分布と理論に
より予測されたスペクトル幅分布を示す図である。
【図6】従来技術の「後方散乱光の測定方法およびその
装置」(特開平5−231923号公報)により図2の
ひずみ分布において測定されたひずみ分布を示す図であ
る。
【図7】従来技術の「後方散乱光の測定方法およびその
装置」(特開平5−231923号公報)におけるひず
みの計測原理を示す模式図である。
【符号の説明】
1 光ファイバセンサ 2 光ファイバセンサひずみ測定装置 3 構造部材
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 影山 和郎 茨城県牛久市田宮町235−8 (72)発明者 村山 英晶 東京都練馬区桜台1−16−25 アーバンコ ート116 202号室 (72)発明者 木村 學 静岡県御殿場市板妻11−6 株式会社ジー エイチクラフト内 (72)発明者 鵜沢 潔 静岡県御殿場市板妻11−6 株式会社ジー エイチクラフト内 Fターム(参考) 2F065 AA01 AA65 CC14 FF12 FF32 FF41 GG08 LL02 PP01

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 構造部材に光ファイバセンサを固定し、
    この光ファイバセンサを用いて構造部材において応力が
    集中している部位を検出する方法であって、 前記光ファイバセンサの一端から光パルスを入力し、 この入力された光パルスに対して光ファイバセンサで生
    じる散乱光の光学的特性の変化であるブリルアン後方散
    乱光の周波数スペクトルのスペクトル幅変化から構造部
    材に生じている応力集中部位を検出することを特徴とす
    る光ファイバセンサによる構造部材応力集中部位検出方
    法。
  2. 【請求項2】 前記光パルスを光ファイバセンサの一端
    に入力してから、前記散乱光が光ファイバセンサの一端
    に戻ってくるまでの時間を測定し、この測定した光ファ
    イバセンサにおける散乱光の戻り時間に基づいて構造部
    材の応力集中発生位置を検出することを特徴とする請求
    項1記載の光ファイバセンサによる構造部材応力集中部
    位検出方法。
JP2001255133A 2001-08-24 2001-08-24 光ファイバセンサによる構造部材応力集中部位検出方法 Expired - Fee Related JP3795779B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001255133A JP3795779B2 (ja) 2001-08-24 2001-08-24 光ファイバセンサによる構造部材応力集中部位検出方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001255133A JP3795779B2 (ja) 2001-08-24 2001-08-24 光ファイバセンサによる構造部材応力集中部位検出方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003065732A true JP2003065732A (ja) 2003-03-05
JP3795779B2 JP3795779B2 (ja) 2006-07-12

Family

ID=19083163

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001255133A Expired - Fee Related JP3795779B2 (ja) 2001-08-24 2001-08-24 光ファイバセンサによる構造部材応力集中部位検出方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3795779B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1568981A3 (en) * 2004-02-25 2008-10-22 Korea Advanced Institute of Science and Technology Physical quantity measuring method using brillouin optical fiber sensor
JP2010038829A (ja) * 2008-08-07 2010-02-18 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> ライニング材で補修した管路のひずみ計測方法
CN107687811A (zh) * 2017-08-30 2018-02-13 中国航空工业集团公司北京航空精密机械研究所 一种用于大长径比空心薄壁细长轴类零件检测的装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1568981A3 (en) * 2004-02-25 2008-10-22 Korea Advanced Institute of Science and Technology Physical quantity measuring method using brillouin optical fiber sensor
JP2010038829A (ja) * 2008-08-07 2010-02-18 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> ライニング材で補修した管路のひずみ計測方法
CN107687811A (zh) * 2017-08-30 2018-02-13 中国航空工业集团公司北京航空精密机械研究所 一种用于大长径比空心薄壁细长轴类零件检测的装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP3795779B2 (ja) 2006-07-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7227123B2 (en) Physical quantity measuring method using Brillouin optical fiber sensor
DE19514852C2 (de) Verfahren und Anordnung zur Beschleunigungs- und Vibrationsmessung
US8744782B2 (en) System and method for simultaneously determining strain and temperature characteristics of an object
AU2014246684B2 (en) Optical measurement of fastener preload
CN105333841B (zh) 基于反射型太赫兹时域光谱的金属表面粗糙度检测方法
CA2798018C (en) Multi-gap interferometric sensors
EP2110651B1 (en) Method and system for simultaneous measurement of strain and temperature
CN110268230A (zh) 空气压力、温度、和风速的光学外差检测和方法
JP2005326326A (ja) 光ファイバセンサを用いたひずみ計測、および超音波・ae検出装置
JP2002162211A (ja) 歪み計測装置及びその設置方法
JP2003065732A (ja) 光ファイバセンサによる構造部材応力集中部位検出方法
US6636665B1 (en) Grating writing system
Suleiman et al. Interrogation of fiber Bragg grating dynamic strain sensors by self-mixing interferometry
Brown et al. Advances in distributed sensing using Brillouin scattering
Ravet et al. Criterion for subpulse-length resolution and minimum frequency shift in distributed Brillouin sensors
He et al. Three-dimensional force sensors based on all-fiber Fabry–Perot strain sensors
CN113494890B (zh) 基于fpi干涉仪的光纤光栅应变传感器精度测量装置及方法
JP3686588B2 (ja) 光ファイバひずみ計測方法及びその装置
RU2805128C1 (ru) Устройство для измерения скорости раскрытия трещины
Hong et al. Buckling behavior monitoring of composite wing box model using fiber Bragg grating sensor system
KR100546053B1 (ko) 구조물의 처짐 측정 방법
Chung et al. LABORATORY EVALUATION OF SOIL-NAILING QUALITY INSPECTION BY AN IMPROVED TDR METHOD.
JP2019174290A (ja) 梁の損傷評価方法及び損傷評価用梁
JP2001304823A (ja) 光ファイバひずみ計測方法およびその装置
KR100523939B1 (ko) 광커넥터 및 광섬유를 이용한 물리량 측정장치

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050414

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050517

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050715

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060404

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060413

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090421

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100421

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100421

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110421

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120421

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130421

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140421

Year of fee payment: 8

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees