JP2003057401A - Optical element - Google Patents

Optical element

Info

Publication number
JP2003057401A
JP2003057401A JP2002168224A JP2002168224A JP2003057401A JP 2003057401 A JP2003057401 A JP 2003057401A JP 2002168224 A JP2002168224 A JP 2002168224A JP 2002168224 A JP2002168224 A JP 2002168224A JP 2003057401 A JP2003057401 A JP 2003057401A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
quartz glass
exhaust
ingot
refractive index
optical element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002168224A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuhiro Nakagawa
和博 中川
Jun Takano
潤 高野
Norio Komine
典男 小峯
Hiroki Jinbo
宏樹 神保
Hiroyuki Hiraiwa
弘之 平岩
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP2002168224A priority Critical patent/JP2003057401A/en
Publication of JP2003057401A publication Critical patent/JP2003057401A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B19/00Other methods of shaping glass
    • C03B19/14Other methods of shaping glass by gas- or vapour- phase reaction processes
    • C03B19/1446Means for after-treatment or catching of worked reactant gases

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Glass Melting And Manufacturing (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To solve such problems that the distribution of the refractive index in conventional quartz glass is inhomogeneous, deposited substances dropping from the inner wall of a furnace are mixed in an ingot and the glass contains bubbles, foreign matters and striae. SOLUTION: In the method for manufacturing quartz glass by injecting a Si compound gas and a combustion gas from a burner to combust and by depositing quartz glass on a target to form an ingot, the ventilation amount of a ventilating means to discharge the quartz glass powder not depositing on the target is controlled so as to manufacture quartz glass having uniform distribution of the refractive index and no bubbles, foreign matter or striae.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、石英ガラス光学素
子に関するものであり、特に高均質性が要求される合成
石英ガラス光学素子を必要とする分野、例えば光リソグ
ラフィー、高精度分光器、レーザー等の精密光学機器に
有用とされる高均質な合成石英ガラスからなる光学素子
に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a silica glass optical element, and particularly to a field requiring a synthetic silica glass optical element requiring high homogeneity, such as photolithography, high precision spectroscope, laser, etc. The present invention relates to an optical element made of high-homogeneous synthetic silica glass, which is useful for precision optical instruments.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、シリコン等のウエハ上に集積回路
の微細パターンを露光・転写する光リソグラフィー技術
においては、ステッパーと呼ばれる露光装置が用いられ
ている。
2. Description of the Related Art Conventionally, an exposure apparatus called a stepper has been used in an optical lithography technique for exposing and transferring a fine pattern of an integrated circuit on a wafer such as silicon.

【0003】このステッパーの光源は、近年のLSIの
高集積化にともなってg線(436nm)からi線(3
65nm)、さらにはKrF(248nm)やArF
(193nm)エキシマレーザーへと短波長化が進めら
れている。
The light source of this stepper has a g-line (436 nm) to an i-line (3
65 nm), and further KrF (248 nm) and ArF
(193 nm) Shorter wavelengths are being promoted to excimer lasers.

【0004】一般に、ステッパーの照明系あるいは投影
レンズとして用いられる光学ガラスは、i線よりも短い
波長領域では光透過率が低下するため、従来の光学ガラ
スにかえて合成石英ガラスやCaF2(蛍石)等のフッ
化物単結晶を用いることが提案されている。
In general, the optical glass used as an illumination system of a stepper or a projection lens has a low light transmittance in the wavelength region shorter than the i-line, and therefore synthetic quartz glass or CaF 2 (fluorite) is used instead of the conventional optical glass. It has been proposed to use a fluoride single crystal such as stone.

【0005】このように、紫外線リソグラフィー用の光
学素子として用いられる石英ガラスには、紫外域の高透
過性と屈折率の高均質性が要求されている。紫外域の高
透過性を実現するためには、石英ガラス中の不純物濃度
を抑える必要がある。そこで、石英ガラスの原料となる
Si化合物ガス(Si化合物ガスを送り出すためのキャ
リアガスが同時に用いられる)と加熱、反応のための燃
焼ガス(O2ガスとH2ガス)とをバーナーから流出し、
火炎内で石英ガラスを堆積させる火炎加水合成法が一般
的に用いられている。
As described above, quartz glass used as an optical element for ultraviolet lithography is required to have high transmittance in the ultraviolet region and high homogeneity of the refractive index. In order to realize high transmittance in the ultraviolet region, it is necessary to suppress the impurity concentration in quartz glass. Therefore, a Si compound gas (a carrier gas for sending out the Si compound gas is used at the same time) as a raw material of the quartz glass and a combustion gas (O 2 gas and H 2 gas) for heating and reaction are discharged from the burner. ,
The flame hydrolysis synthesis method of depositing quartz glass in a flame is commonly used.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記のよう
な火炎加水合成法による石英ガラスの製造においては、
ターゲット上に堆積されなかった石英ガラス粉が、排気
口や排気管に付着して詰まらせ、定常的な排気を妨げる
変動要因となっていた。
However, in the production of quartz glass by the flame hydrolysis method as described above,
Quartz glass powder that was not deposited on the target adhered to the exhaust port and exhaust pipe and clogged, which was a variable factor that hindered steady exhaust.

【0007】さらに、これらの付着物が間欠的に剥がれ
たときに、排気量も間欠的に大きく変動する。
Further, when these deposits are intermittently peeled off, the exhaust amount also intermittently greatly changes.

【0008】これらの排気量の変動は、炉内部の雰囲気
(炉内部の温度、インゴット上部の合成面の温度等)の
揺らぎとなり、石英ガラスの屈折率の不均質を生じさせ
る。
These fluctuations in the exhaust amount cause fluctuations in the atmosphere inside the furnace (the temperature inside the furnace, the temperature at the composite surface at the top of the ingot, etc.), causing inhomogeneity in the refractive index of the silica glass.

【0009】また、石英ガラス粉が排気口や排気管に付
着することにより排気量が減少し、炉内壁にも石英ガラ
ス粉が付着してくる。この付着物とインゴットが接触
し、付着物(石英ガラス粉)を巻き上げた場合、インゴ
ットに混入し、泡、脈理、屈折率の不均質を生じてしま
う。
Further, since the quartz glass powder adheres to the exhaust port and the exhaust pipe, the amount of exhaust is reduced, and the quartz glass powder also adheres to the inner wall of the furnace. When the deposit and the ingot come into contact with each other and the deposit (quartz glass powder) is rolled up, the deposit is mixed into the ingot, and bubbles, striae, and inhomogeneity of the refractive index occur.

【0010】従って、これまでの石英ガラスは、屈折率
分布が不均質で、炉内壁からはがれ落ちた付着物がイン
ゴットに混入し、泡や異物、さらには脈理が存在するも
のであった。
Therefore, in the conventional quartz glass, the refractive index distribution was non-uniform, and the deposits peeled off from the inner wall of the furnace were mixed in the ingot, and bubbles, foreign matters, and even striae were present.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記の問題点を解決する
ために、本発明者らは、石英ガラスの製造装置に配置さ
れる排気装置において、排気ファンの回転数を制御する
制御装置を取り付け、任意の時間間隔で任意の排気量を
選択したところ、ターゲット上に堆積されなかった石英
ガラス粉が定常的な排気を妨げることなく、排気口、排
気管からスムーズに排出された。
In order to solve the above problems, the present inventors have installed a control device for controlling the rotation speed of an exhaust fan in an exhaust device arranged in a quartz glass manufacturing apparatus. When the amount of exhaust gas was selected at arbitrary time intervals, the silica glass powder not deposited on the target was smoothly discharged from the exhaust port and the exhaust pipe without hindering steady exhaustion.

【0012】すなわち、本発明らは、Si化合物ガスと
燃焼ガスとをバーナーから噴出して燃焼させ、ターゲッ
ト上に石英ガラスを堆積しインゴットを形成する石英ガ
ラスの製造方法において、前記ターゲット上に堆積され
なかった石英ガラス粉を排気する排気手段の排気量を調
整することにより、屈折率分布が均一で、泡や異物、脈
理のない石英ガラスを製造するに至った。
That is, the present invention provides a method for producing a quartz glass in which a Si compound gas and a combustion gas are jetted from a burner and burned to deposit quartz glass on the target to form an ingot. By adjusting the exhaust volume of the exhaust means for exhausting the silica glass powder that was not formed, it was possible to manufacture silica glass having a uniform refractive index distribution and no bubbles, foreign matters, or striae.

【0013】こうして得られた本発明の光学素子は、
「インゴット側面方向の屈折率の均質性がΔn≦4×1
-6であり、且つ屈折率分布の勾配が1×10-6以下で
ある石英ガラスを用いたことを特徴とする光学素子」で
ある。
The optical element of the present invention thus obtained is
“The homogeneity of the refractive index in the lateral direction of the ingot is Δn ≦ 4 × 1
0 is -6, an optical element ", characterized in that and the gradient of the refractive index distribution has a quartz glass is 1 × 10 -6 or less.

【0014】石英ガラスを用いて光学素子を製造する場
合、通常、インゴットの成長方向(側面方向)に垂直に
切り出される。そして、インゴットの成長方向に垂直な
面内の屈折率のばらつきが光学素子としての光学特性に
影響を及ぼすことが知られており、これを無くす工夫が
成されていた。
When an optical element is manufactured using quartz glass, it is usually cut out perpendicularly to the growth direction (side surface direction) of the ingot. Then, it is known that variations in the refractive index in the plane perpendicular to the growth direction of the ingot affect the optical characteristics of the optical element, and measures have been taken to eliminate this.

【0015】本発明は、面内の屈折率のばらつきではな
く、インゴットの成長方向の屈折率のばらつきもまた、
光学部材の光学性能に影響を及ぼすことをみいだし、こ
れを制御するために、石英ガラス製造装置の排気手段の
排気量を調整するものとし、インゴット側面方向の屈折
率の均質性及び屈折率分布の勾配を抑制するに至ったも
のである。
According to the present invention, not the variation of the in-plane refractive index but also the variation of the refractive index in the growth direction of the ingot,
It was found that it affects the optical performance of the optical member, and in order to control this, the exhaust volume of the exhaust means of the quartz glass manufacturing equipment shall be adjusted, and the homogeneity of the refractive index in the lateral direction of the ingot and the refractive index distribution. The result is that the gradient of is suppressed.

【0016】本発明は、好ましくは「三方向のいずれに
も脈理がみとめられない」ことを特徴とする。
The present invention is preferably characterized in that striae are not found in any of the three directions.

【0017】石英ガラスを合成中、ターゲット上に堆積
されなかった石英ガラス粉を排気する排気量を調整する
ことにより排気口や排気管の詰まりがなくなり炉内部の
雰囲気(炉内部の温度及びインゴット上部の合成面の温
度)が一定に保たれ、その結果脈理が生じることがなく
なる。
During the synthesis of the quartz glass, the exhaust amount for exhausting the silica glass powder not deposited on the target is adjusted so that the exhaust port and the exhaust pipe are not clogged and the atmosphere inside the furnace (the temperature inside the furnace and the upper part of the ingot) The temperature of the composite surface) is kept constant, and as a result, striae do not occur.

【0018】また、本発明は好ましくは「0.01mm
以上の泡、異物を含まない」ことを特徴とする。排気手
段の排気量を調整することにより、排気量の経時的な減
少による炉内壁への石英ガラス粉の付着もなく、付着物
がインゴットへ混入することもなくなる。
The present invention is also preferably "0.01 mm.
It is characterized in that it does not contain the above bubbles and foreign matters. By adjusting the exhaust amount of the exhaust means, the silica glass powder does not adhere to the inner wall of the furnace due to the decrease in the exhaust amount with time, and the deposits are not mixed in the ingot.

【0019】排気量の調整は、排気管の詰まり等の変動
要因に起因する排気量の変化を、排気管に設置した排気
量センサーあるいは排気圧力系により測定し、その測定
値を排気量制御装置にフィードバックすることにより達
成できる。
The adjustment of the exhaust gas amount is performed by measuring the change in the exhaust gas amount due to the fluctuation factors such as clogging of the exhaust pipe by an exhaust gas amount sensor or an exhaust pressure system installed in the exhaust pipe, and the measured value is measured by an exhaust gas control device. Can be achieved by giving feedback to.

【0020】なお、排気量を常に排気管が詰まらない程
度に大きく保つ(たとえば排気装置の最大排気量にす
る)ことも考えられるが、そのような排気量にした場
合、インゴット上部の合成面の温度が下がり過ぎてしま
い、ガラス化できない。
It should be noted that it is conceivable to keep the exhaust amount large enough to prevent the exhaust pipe from being clogged at all times (for example, to the maximum exhaust amount of the exhaust device). The temperature is too low to vitrify.

【0021】さらに、排気量の間欠的な変動に対して
は、上記のように排気量をフィードバックして調整する
だけでは充分でない。そこで、本発明は、好ましくは排
気量を間欠的にパルス状に変化させることにより、合成
面の温度を保ったまま詰まりかけた石英ガラス粉を取り
除くことができる。このパルス状の排気の変化及び間隔
をプログラムに従い適切に選択すれば、排気量の間欠的
な変動をなくすことができる。
Further, for the intermittent fluctuation of the exhaust amount, it is not enough to feed back and adjust the exhaust amount as described above. Therefore, in the present invention, preferably, the quartz glass powder that has been clogged can be removed while maintaining the temperature of the composite surface by changing the exhaust amount in a pulsed manner. If the change and interval of the pulsed exhaust gas are properly selected according to a program, the intermittent change of the exhaust gas amount can be eliminated.

【0022】本発明の石英ガラス光学素子は、主として
レンズ、プリズム、反射板、およびその母材である。母
材から光学素子を得る工程は任意であるが、母材の外周
部分を削り取り、必要に応じて切断、再成形されて任意
の形状に加工される。そして、内部歪をなくすためにア
ニール(熱処理)した後、研磨、コーティング工程を経
て光学素子となる。
The silica glass optical element of the present invention is mainly composed of a lens, a prism, a reflector and a base material thereof. The step of obtaining the optical element from the base material is arbitrary, but the outer peripheral portion of the base material is scraped off, cut and re-formed as necessary to be processed into an arbitrary shape. Then, after annealing (heat treatment) to eliminate the internal strain, polishing and coating steps are performed to obtain an optical element.

【0023】[0023]

【実施の形態】以下、実施例を用いて本発明に用いられ
るの石英ガラスの製造方法を説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A method for producing quartz glass used in the present invention will be described below with reference to examples.

【0024】[0024]

【実施例】図1は、石英ガラスの製造装置の一実施例を
示す概念図である。
EXAMPLE FIG. 1 is a conceptual diagram showing an example of a quartz glass manufacturing apparatus.

【0025】バーナー2は、炉1の上部からターゲット
4にその先端部を向けて設置されている。炉壁には、観
察用の窓(図示せず)と排気管がそれぞれ設けられてい
る。
The burner 2 is installed from the top of the furnace 1 toward the target 4 with its tip end facing. An observation window (not shown) and an exhaust pipe are provided on the furnace wall.

【0026】さらに、炉の下部には、インゴット形成用
のターゲット4が設置されている。バーナー2の先端部
の石英管からは、原料ガスとしてSiCl4およびキャ
リアガスが、燃焼ガスとしてO2ガスとH2ガスとがそれ
ぞれ流出される。
Further, a target 4 for forming an ingot is installed in the lower part of the furnace. From the quartz tube at the tip of the burner 2, SiCl 4 and carrier gas as raw material gases, and O 2 gas and H 2 gas as combustion gases respectively flow out.

【0027】そして、燃焼ガスによる火炎により、Si
Cl4が火炎加水分解されて合成石英となり、ターゲッ
ト上に堆積しインゴットを形成する。インゴット上部の
合成面は燃焼ガスによる火炎におおわれている。
Then, by the flame of the combustion gas, Si
Cl 4 is flame-hydrolyzed into synthetic quartz, which is deposited on the target to form an ingot. The synthetic surface on top of the ingot is covered with a flame due to combustion gas.

【0028】図2に、本実施例の排気手段であるスクラ
バーの概念図を示す。
FIG. 2 shows a conceptual diagram of a scrubber which is the exhaust means of this embodiment.

【0029】本実施例においては、熱電対あるいはIR
カメラ(図示せず)により炉内部及びインゴット上部
(合成面)の温度を測定し、その測定値を排気ファンの
周波数にフィードバックし、制御している。つまり、合
成面や炉内温度が合成当初と変化してきた場合、排気フ
ァンの周波数を制御し、温度が一定に保たれるように自
動制御している。
In this embodiment, a thermocouple or IR
The temperature inside the furnace and the upper part of the ingot (composite surface) are measured by a camera (not shown), and the measured values are fed back to the frequency of the exhaust fan for control. That is, when the synthesis surface and the temperature in the furnace change from the beginning of the synthesis, the frequency of the exhaust fan is controlled and the temperature is automatically controlled so as to be kept constant.

【0030】周波数の制御にはシーケンサを使用し、プ
ログラムに従い任意の時間間隔で排気ファンを駆動して
いるインダクションモーターに接続したインバーターの
周波数を変化させ、間欠的にパルス状に排気量を増加さ
せた。この周波数変化、排気量、炉内部の温度の関係を
図3に示した。パルス状の排気量の増加は、使用してい
る排気処理装置(スクラバー)の最大能力にするのが最
も効果があり、パルス幅T1が短いほど詰まり除去の効
果がある。
A sequencer is used to control the frequency, and the frequency of the inverter connected to the induction motor driving the exhaust fan is changed at arbitrary time intervals according to the program to intermittently increase the exhaust amount in a pulse form. It was The relationship between the frequency change, the exhaust gas amount, and the temperature inside the furnace is shown in FIG. The most effective way of increasing the pulsed exhaust amount is to maximize the capacity of the exhaust treatment device (scrubber) used, and the shorter the pulse width T1, the more effective the clogging removal.

【0031】プログラム排気のスケジュールは図5のよ
うに数種類行ったが、炉内部の雰囲気の安定性やインゴ
ットへの影響(泡、屈折率の均質性等)を考えると図4
のようなスケジュール(図5のパターン1)がもっとも
有効であった。
Several kinds of program exhaust schedules were performed as shown in FIG. 5, but considering the stability of the atmosphere inside the furnace and the influence on the ingot (foam, homogeneity of refractive index, etc.), FIG.
The schedule like this (Pattern 1 in FIG. 5) was the most effective.

【0032】[0032]

【発明の効果】以上のように、長期間にわたって一定の
排気量を保つことにより、炉内部の雰囲気(炉内部の温
度、インゴット上部の合成面の温度等)の変動がなく、
石英ガラスの屈折率の均質性を低下させないことができ
る。
As described above, by maintaining a constant displacement for a long period of time, there is no fluctuation in the atmosphere inside the furnace (temperature inside the furnace, temperature on the composite surface above the ingot, etc.).
It is possible to prevent deterioration of the homogeneity of the refractive index of quartz glass.

【0033】また、炉内壁に石英ガラス粉が付着するの
を防ぐことができるので、付着物がインゴットに混入し
て泡や脈理等を発生することがなく、屈折率の均質性を
低下させないことが可能となり、本発明の光学素子に用
いられる石英ガラスを提供するに至った。
Further, since it is possible to prevent the silica glass powder from adhering to the inner wall of the furnace, the adhered matter does not mix with the ingot to generate bubbles or striae, and the homogeneity of the refractive index is not deteriorated. This has made it possible to provide quartz glass used in the optical element of the present invention.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明に用いられる石英ガラスの製造装置の
概念図である。
FIG. 1 is a conceptual diagram of a quartz glass manufacturing apparatus used in the present invention.

【図2】 本発明に用いられる石英ガラスの製造装置の
排気手段の一実施例であるスクラバーの概念図である。
FIG. 2 is a conceptual diagram of a scrubber which is an example of an exhaust unit of a quartz glass manufacturing apparatus used in the present invention.

【図3】 合成中のスクラバーファン周波数変化に伴う
排気量と炉内部の温度の変動をプログラム排気の有無に
よってグラフ化したものである。
FIG. 3 is a graph showing changes in the exhaust amount and the temperature inside the furnace due to changes in the scrubber fan frequency during synthesis, depending on the presence or absence of program exhaust.

【図4】 プログラム排気の最適スケジュールを示した
ものである。
FIG. 4 shows an optimal schedule for program exhaust.

【図5】 プログラム排気のスケジュールを示したもの
である。
FIG. 5 shows a program exhaust schedule.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 炉 2 バーナー 3 インゴット 4 ターゲット 1 furnace 2 burners 3 ingots 4 targets

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 神保 宏樹 東京都千代田区丸の内3丁目2番3号 株 式会社ニコン内 (72)発明者 平岩 弘之 東京都千代田区丸の内3丁目2番3号 株 式会社ニコン内 Fターム(参考) 4G014 AH19    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Hiroki Jimbo             Marunouchi 3 2-3 No. 3 shares, Chiyoda-ku, Tokyo             Ceremony Company Nikon (72) Inventor Hiroyuki Hiraiwa             Marunouchi 3 2-3 No. 3 shares, Chiyoda-ku, Tokyo             Ceremony Company Nikon F-term (reference) 4G014 AH19

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】インゴット側面方向の屈折率の均質性がΔ
n≦4×10-6であり、且つ屈折率分布の勾配が1×1
-6以下である石英ガラスを用いたことを特徴とする光
学素子。
1. The homogeneity of the refractive index in the lateral direction of the ingot is Δ.
n ≦ 4 × 10 −6 and the gradient of the refractive index distribution is 1 × 1
An optical element characterized by using quartz glass having a size of 0 -6 or less.
【請求項2】請求項1に記載の光学素子であって、三方
向のいずれにも脈理がみとめられない石英ガラスを用い
たことを特徴とする光学素子。
2. The optical element according to claim 1, characterized in that quartz glass is used which has no striae in any of the three directions.
【請求項3】請求項1に記載の光学素子であって、0.
01mm以上の泡、異物を含まない石英ガラスを用いた
ことを特徴とする光学素子。
3. The optical element according to claim 1, wherein the optical element is 0.
An optical element characterized by using quartz glass that does not contain bubbles or foreign matter of 01 mm or more.
JP2002168224A 2002-06-10 2002-06-10 Optical element Pending JP2003057401A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002168224A JP2003057401A (en) 2002-06-10 2002-06-10 Optical element

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002168224A JP2003057401A (en) 2002-06-10 2002-06-10 Optical element

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25541793A Division JP3360374B2 (en) 1993-10-13 1993-10-13 Manufacturing method of quartz glass

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003057401A true JP2003057401A (en) 2003-02-26

Family

ID=19195086

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002168224A Pending JP2003057401A (en) 2002-06-10 2002-06-10 Optical element

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003057401A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW515782B (en) Silica glass and its manufacturing method
EP1462717A2 (en) Burner for the manufacture of synthetic quartz glass
EP1329429B1 (en) Synthetic quartz glass ingot, synthetic quartz glass and methods of manufacture thereof
US8596095B2 (en) Manufacture of synthetic quartz glass ingot and synthetic quartz glass member
EP1538130A1 (en) Burner and method for the manufacture of synthetic quartz glass
JP2814867B2 (en) Manufacturing method of quartz glass
JP3520541B2 (en) Quartz glass burner, quartz glass produced using the same, method for producing quartz glass using quartz glass burner
EP1207141A1 (en) Synthetic quartz glass member, photolithography apparatus, and method for producing photolithography apparatus
JP3360374B2 (en) Manufacturing method of quartz glass
JP2814866B2 (en) Manufacturing method of quartz glass
JP2003057401A (en) Optical element
JP3341395B2 (en) Quartz glass manufacturing equipment
JPH08165130A (en) Apparatus for producing synthetic quartz glass
JP4438948B2 (en) Synthetic quartz glass manufacturing burner and synthetic quartz glass ingot manufacturing method
JP2004131337A (en) Apparatus for manufacturing synthetic quartz glass
JP4831328B2 (en) Method for manufacturing synthetic quartz glass substrate for excimer laser
JP5609050B2 (en) Method for producing synthetic quartz glass base material and synthetic quartz glass base material
JP3897188B2 (en) Method and apparatus for producing synthetic quartz glass
JP2000063128A (en) Method and apparatus for producing synthetic quartz glass
JP2006265029A (en) Method for production of synthetic quartz glass, optical member, photolithography machine, and apparatus for production of synthetic quartz glass
JP2000281359A (en) Production of synthetic quartz glass and control of hydrogen molecule concentration in the synthetic quartz glass
JP2000053434A (en) Apparatus for producing quartz glass
JP2001335327A (en) Apparatus and method for manufacturing quartz glass, and quartz glass optical member
JP4114027B2 (en) Method for predicting occurrence of shape distortion in synthetic quartz glass production and method for producing synthetic quartz glass
JP2002226217A (en) Manufacturing method for synthetic quartz glass and synthetic quartz glass

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050301

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20050623