JP2003042744A - フィルムの厚み測定方法 - Google Patents
フィルムの厚み測定方法Info
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- JP2003042744A JP2003042744A JP2001227332A JP2001227332A JP2003042744A JP 2003042744 A JP2003042744 A JP 2003042744A JP 2001227332 A JP2001227332 A JP 2001227332A JP 2001227332 A JP2001227332 A JP 2001227332A JP 2003042744 A JP2003042744 A JP 2003042744A
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- film thickness
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 オンラインでのフィルムの厚み測定における
誤差をフィルム走行位置による測定誤差を補正すること
によって解消し、良好な測定結果を得ることのできるフ
ィルムの厚み測定方法を提供する。 【解決手段】 プラスチックフィルムの走行位置を測定
する手段を備えたオンラインでのフィルムの厚み測定方
法であって、厚み計とフィルム走行位置の変動による測
定誤差を調整することを特徴とするフィルムの厚み測定
方法。
誤差をフィルム走行位置による測定誤差を補正すること
によって解消し、良好な測定結果を得ることのできるフ
ィルムの厚み測定方法を提供する。 【解決手段】 プラスチックフィルムの走行位置を測定
する手段を備えたオンラインでのフィルムの厚み測定方
法であって、厚み計とフィルム走行位置の変動による測
定誤差を調整することを特徴とするフィルムの厚み測定
方法。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はフィルムの厚み測定
方法に関し、更に詳しくはオンラインでのフィルムの厚
み測定における誤差をフィルム走行位置の変動の監視に
より解消し、良好な測定結果を得ることのできるフィル
ムの厚み測定方法に関する。
方法に関し、更に詳しくはオンラインでのフィルムの厚
み測定における誤差をフィルム走行位置の変動の監視に
より解消し、良好な測定結果を得ることのできるフィル
ムの厚み測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】ポリエステル、ポリアミド、ポリプロピ
レンなどの熱可塑性樹脂から成るフィルムの製造工程に
おいて、フィルムの幅方向の厚さを所定のプロフィール
例えば全幅均一厚さに制御することが要求される。この
フィルムの厚さ調整は、通常非接触の透過型厚み計によ
って測定された厚みデータを基に制御される。
レンなどの熱可塑性樹脂から成るフィルムの製造工程に
おいて、フィルムの幅方向の厚さを所定のプロフィール
例えば全幅均一厚さに制御することが要求される。この
フィルムの厚さ調整は、通常非接触の透過型厚み計によ
って測定された厚みデータを基に制御される。
【０００３】この厚み計は、走行中のフィルムを幅方向
に移動しながらポジションごとの厚みデータを測定する
ように構成されている。フィルムへのダメージを起こさ
せないために透過型の厚み計が用いられるが、透過した
物理量を受け取るのに必要なスポットが存在する。本来
このスポット内のフィルムは、形状がフラットで且つ、
安定した位置にあることが望ましいが、フィルムが高速
で搬送されているので実質的にはフラットにすることは
困難であり、しわや傾きといったものが存在するものに
なってしまったり、厚み計とその前後のロールの平行度
がずれ、安定した位置になかったりする。
に移動しながらポジションごとの厚みデータを測定する
ように構成されている。フィルムへのダメージを起こさ
せないために透過型の厚み計が用いられるが、透過した
物理量を受け取るのに必要なスポットが存在する。本来
このスポット内のフィルムは、形状がフラットで且つ、
安定した位置にあることが望ましいが、フィルムが高速
で搬送されているので実質的にはフラットにすることは
困難であり、しわや傾きといったものが存在するものに
なってしまったり、厚み計とその前後のロールの平行度
がずれ、安定した位置になかったりする。
【０００４】しかし、フィルムの位置が安定しないと、
スポット内のフィルム重量が増減することとなり、透過
型厚み計では実際のフィルム厚みよりも厚く指示された
り、逆に薄く指示されてしまい誤差が重畳してしまう問
題が生じる。
スポット内のフィルム重量が増減することとなり、透過
型厚み計では実際のフィルム厚みよりも厚く指示された
り、逆に薄く指示されてしまい誤差が重畳してしまう問
題が生じる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明はかかる現状に
鑑みてなされたものであり、オンライン厚み計によるフ
ィルムの厚み測定において、フィルム走行位置の影響に
よる測定誤差を解消することを目的としたものである。
鑑みてなされたものであり、オンライン厚み計によるフ
ィルムの厚み測定において、フィルム走行位置の影響に
よる測定誤差を解消することを目的としたものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の目的は、本発明
によれば、プラスチックフィルムの走行位置を測定する
手段を備えたオンラインでのフィルムの厚み測定方法で
あって、走行位置の変化による測定誤差を低減するよう
測定値を調整することを特徴とするフィルムの厚み測定
方法により達成できる。
によれば、プラスチックフィルムの走行位置を測定する
手段を備えたオンラインでのフィルムの厚み測定方法で
あって、走行位置の変化による測定誤差を低減するよう
測定値を調整することを特徴とするフィルムの厚み測定
方法により達成できる。
【０００７】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態につい
て、図面を参照しながら説明する。
て、図面を参照しながら説明する。
【０００８】図１は本発明を実施する製膜工程を模式的
に例示した模式工程図である。図１において、１はフィ
ルム、２は透過型厚み計、３はガイドロール、４はフィ
ルム走行位置測定装置をそれぞれ示す。
に例示した模式工程図である。図１において、１はフィ
ルム、２は透過型厚み計、３はガイドロール、４はフィ
ルム走行位置測定装置をそれぞれ示す。
【０００９】図２はフィルムの走行位置よって厚み測定
値が実際の厚みと誤差を生じてしまうことを説明する模
式図である。図２において５は測定スポットを示す。
値が実際の厚みと誤差を生じてしまうことを説明する模
式図である。図２において５は測定スポットを示す。
【００１０】以上のように構成される本発明の測定方法
において、透過型厚み計２はフィルムの走行方向と直交
する方向でフィルムの幅方向に走査し、フィルムの厚み
をオンラインで測定することができる。
において、透過型厚み計２はフィルムの走行方向と直交
する方向でフィルムの幅方向に走査し、フィルムの厚み
をオンラインで測定することができる。
【００１１】本発明においてフィルムの厚み測定は、透
過型オンライン厚み計により行なうことが好ましく、フ
ィルムを挟んで配置された上下ヘッドにてフィルムの単
位面積あたりの重量を測定し、得られた結果からフィル
ムの厚みを求める方式のものが好ましいが、フィルムの
走行位置によって厚み測定値に影響を与える厚み計にも
当然応用できる。
過型オンライン厚み計により行なうことが好ましく、フ
ィルムを挟んで配置された上下ヘッドにてフィルムの単
位面積あたりの重量を測定し、得られた結果からフィル
ムの厚みを求める方式のものが好ましいが、フィルムの
走行位置によって厚み測定値に影響を与える厚み計にも
当然応用できる。
【００１２】このような透過型オンライン厚み計として
は、例えば放射線の透過量によってフィルムの厚みを求
める方式のもの、光の透過量によってフィルムの厚みを
求める方式のもの、超音波の透過量によってフィルムの
厚みを求める方式のものを挙げることができる。
は、例えば放射線の透過量によってフィルムの厚みを求
める方式のもの、光の透過量によってフィルムの厚みを
求める方式のもの、超音波の透過量によってフィルムの
厚みを求める方式のものを挙げることができる。
【００１３】図２は、フィルムの走行位置によって厚み
測定値が実際と異なり、誤差を生じてしまうことを説明
する模式図である。走行位置が安定しないことは、距離
計からなるフィルムの走行位置測定装置４によって厚み
計とフィルムとの距離が監視されており、フィルムの走
行位置が変動したことによって認識することができる。
測定値が実際と異なり、誤差を生じてしまうことを説明
する模式図である。走行位置が安定しないことは、距離
計からなるフィルムの走行位置測定装置４によって厚み
計とフィルムとの距離が監視されており、フィルムの走
行位置が変動したことによって認識することができる。
【００１４】本発明において、フィルムの走行位置の測
定は、例えばフィルムまでの距離をレーザー式距離計で
測定する方法、超音波式距離計で測定する方法、画像解
析式距離計で測定する方法、静電容量式距離計で測定す
る方法などを挙げることができる。
定は、例えばフィルムまでの距離をレーザー式距離計で
測定する方法、超音波式距離計で測定する方法、画像解
析式距離計で測定する方法、静電容量式距離計で測定す
る方法などを挙げることができる。
【００１５】ここでは、レーザー式距離計を用いたフィ
ルムの走行位置測定装置について説明するが、フィルム
の走行位置を測定できるものであれば特に測定器を限定
するものでなく超音波式距離計や画像解析式距離計で測
定する方法など、特に限定される必要は無い。
ルムの走行位置測定装置について説明するが、フィルム
の走行位置を測定できるものであれば特に測定器を限定
するものでなく超音波式距離計や画像解析式距離計で測
定する方法など、特に限定される必要は無い。
【００１６】安定したフィルムの位置をａｍｍ、走行位
置測定装置４によって測定したフィルムの位置をｂｍｍ
とすると、フィルム走行位置の変化（Δｄ＝ａ−ｂ）に
よってフィルム厚みの測定値が変動してしまう。これは
図２に示すようにΔｄによって測定スポット５のサイズ
が変化したり,フィルムを挟んだ雰囲気の状態が異なっ
ていたり,透過させる物理量の強度が変化したりするた
め起こると考えられる。
置測定装置４によって測定したフィルムの位置をｂｍｍ
とすると、フィルム走行位置の変化（Δｄ＝ａ−ｂ）に
よってフィルム厚みの測定値が変動してしまう。これは
図２に示すようにΔｄによって測定スポット５のサイズ
が変化したり,フィルムを挟んだ雰囲気の状態が異なっ
ていたり,透過させる物理量の強度が変化したりするた
め起こると考えられる。
【００１７】本発明では、プラスチックフィルムの走行
位置を測定し、この量の変化によって変動する厚みを補
正する。
位置を測定し、この量の変化によって変動する厚みを補
正する。
【００１８】フィルムの走行位置による厚みの補正量は
あらかじめ厚みが既知のフィルムを走行位置が変動した
ものとして測定しておくことによって厚み補正量をΔｄ
の関数として求めることができる。
あらかじめ厚みが既知のフィルムを走行位置が変動した
ものとして測定しておくことによって厚み補正量をΔｄ
の関数として求めることができる。
【００１９】このフィルムの走行位置の測定結果によっ
てΔｄを求め,更に補正量の関数から厚み補正値を求め
たものを測定厚みに加えることによって実現できる。
てΔｄを求め,更に補正量の関数から厚み補正値を求め
たものを測定厚みに加えることによって実現できる。
【００２０】
【実施例】以下、実施例によって本発明を更に説明す
る。本発明における種々の特性値は下記の通り測定し
た。尚，本発明は、その要旨を超えない限り、以下の実
施例に限定されるものではない。
る。本発明における種々の特性値は下記の通り測定し
た。尚，本発明は、その要旨を超えない限り、以下の実
施例に限定されるものではない。
【００２１】（１）フィルムの厚み
放射線透過型厚み計として、β線厚み計を用いた。
【００２２】（２）フィルム走行位置検出装置
レーザーの反射を用いた走行位置測定装置。本実施例で
は、キーエンス社製レーザー距離計ＬＫ−０３０を使用
した。
は、キーエンス社製レーザー距離計ＬＫ−０３０を使用
した。
【００２３】［実施例１］平均粒径０．６μｍの炭酸カ
ルシウム粒子を０．０２重量％、平均粒径０．１μｍの
シリカ粒子を０．２重量％含有したポリエチレン―２，
６―ナフタレートを１８０℃で５時間乾燥した後、押出
機ホッパーに供給し、３００℃で溶融し、Ｔ型押出ダイ
を用いて押出し、表面仕上げ０．３Ｓ、表面温度６０℃
に保持したキャスティングドラム上で急冷固化せしめ
て、未延伸フィルムを得た。
ルシウム粒子を０．０２重量％、平均粒径０．１μｍの
シリカ粒子を０．２重量％含有したポリエチレン―２，
６―ナフタレートを１８０℃で５時間乾燥した後、押出
機ホッパーに供給し、３００℃で溶融し、Ｔ型押出ダイ
を用いて押出し、表面仕上げ０．３Ｓ、表面温度６０℃
に保持したキャスティングドラム上で急冷固化せしめ
て、未延伸フィルムを得た。
【００２４】この未延伸フィルムを７５℃にて予熱し、
更に低速、高速のロール間で１４ｍｍ上方より８３０℃
の表面温度の赤外線ヒーターにて加熱して５．１倍に延
伸し、急冷し、続いてステンターに供給し、１２５℃に
て横方向に４．８倍延伸した。更に引き続いて２４０℃
で１０秒間熱固定した後、１２０℃にて横方向に１．０
％弛緩処理をし、厚み４．５μｍの二軸配向フィルムを
得た。
更に低速、高速のロール間で１４ｍｍ上方より８３０℃
の表面温度の赤外線ヒーターにて加熱して５．１倍に延
伸し、急冷し、続いてステンターに供給し、１２５℃に
て横方向に４．８倍延伸した。更に引き続いて２４０℃
で１０秒間熱固定した後、１２０℃にて横方向に１．０
％弛緩処理をし、厚み４．５μｍの二軸配向フィルムを
得た。
【００２５】このフィルムをガイドロール３ａと３ｂの
間に搬送し、その間で、透過型厚み計２を用いて、オン
ラインで幅方向のプロファイルを測定した。ここで用い
た透過型厚み計としては、β線厚み計を利用した。β線
厚み計の２つのヘッド間距離は１０ｍｍと設計されてお
り,フィルムの走行位置もその中心である線源側ヘッド
から５ｍｍの位置として設計されていた。
間に搬送し、その間で、透過型厚み計２を用いて、オン
ラインで幅方向のプロファイルを測定した。ここで用い
た透過型厚み計としては、β線厚み計を利用した。β線
厚み計の２つのヘッド間距離は１０ｍｍと設計されてお
り,フィルムの走行位置もその中心である線源側ヘッド
から５ｍｍの位置として設計されていた。
【００２６】しかし、ガイドロール３とβ線厚み計の平
行度が悪く、フィルムの走行位置測定装置４で測定した
結果,フィルムの幅方向に最大で１ｍｍの走行位置の差
が有り,線源側ヘッドから６ｍｍの位置を走行する部分
が有った。
行度が悪く、フィルムの走行位置測定装置４で測定した
結果,フィルムの幅方向に最大で１ｍｍの走行位置の差
が有り,線源側ヘッドから６ｍｍの位置を走行する部分
が有った。
【００２７】厚みの補正量を求める関数に安定したフィ
ルム走行位置からのズレを代入し,フィルムの幅方向の
測定値にそれぞれの補正量を加えることによって、より
真値に近い厚みをオンラインで測定できるようになっ
た。
ルム走行位置からのズレを代入し,フィルムの幅方向の
測定値にそれぞれの補正量を加えることによって、より
真値に近い厚みをオンラインで測定できるようになっ
た。
【００２８】この補正量を加えず厚み制御を行ない、１
００００ｍ製膜した後に得られたロールの外径差を測定
すると幅方向に３５０μｍ有り、ロール状にしわが入り
製品として品質の悪いものであった。
００００ｍ製膜した後に得られたロールの外径差を測定
すると幅方向に３５０μｍ有り、ロール状にしわが入り
製品として品質の悪いものであった。
【００２９】それに対し,補正量を加えて厚み制御を行
った結果得られたロールの外径差は７０μｍであり、ロ
ールの外観上もしわがなく、品質の良いものが生産でき
た。
った結果得られたロールの外径差は７０μｍであり、ロ
ールの外観上もしわがなく、品質の良いものが生産でき
た。
【００３０】
【発明の効果】本発明によれば、従来製膜後にオフライ
ンで測定しなければフィルムの正確な厚みを測定できな
かったものが、オンラインで正確に測定できるようにな
り、生産性の向上、製品の高品質化に大きな寄与をなす
もので、大きな効果を得るものである。
ンで測定しなければフィルムの正確な厚みを測定できな
かったものが、オンラインで正確に測定できるようにな
り、生産性の向上、製品の高品質化に大きな寄与をなす
もので、大きな効果を得るものである。
【図１】図１は本発明を実施する製膜工程を模式的に例
示した模式工程図である。
示した模式工程図である。
【図２】図２はフィルムの走行位置よって厚み測定値が
実際の厚みと誤差を生じてしまうことを説明する模式図
である。
実際の厚みと誤差を生じてしまうことを説明する模式図
である。
１ フィルム
２ 透過型厚み計
３ａ ガイドロール
３ｂ ガイドロール
４ フィルム走行位置測定装置
５ 測定スポット
Δｄ フィルム走行位置の変化
Claims (6)
- 【請求項１】 プラスチックフィルムの走行位置を測定
する手段を備えたオンラインでのフィルムの厚み測定方
法であって、厚み計とフィルム走行位置の変動による測
定誤差を調整することを特徴とするフィルムの厚み測定
方法。 - 【請求項２】 フィルムの厚み測定を、透過型オンライ
ン厚み計によりフィルムを挟んで配置された上下ヘッド
にてフィルムの単位面積あたりの重量を測定し、得られ
た結果からフィルムの厚みを求め、且つ、フィルムの幅
方向に移動しながらフィルムの厚みを測定する請求項１
に記載のフィルムの厚み測定方法。 - 【請求項３】 透過型オンライン厚み計が、エネルギー
の透過に伴う変化を捉えることによってフィルムの厚み
を求める方式である請求項２に記載のフィルムの厚み測
定方法。 - 【請求項４】 透過型オンライン厚み計が、放射線の透
過量、光の透過量、超音波の透過量のいずれかによって
フィルムの厚みを求める方式である請求項２に記載のフ
ィルムの厚み測定方法。 - 【請求項５】 フィルムの厚み測定を、光干渉型オンラ
イン厚み計、静電容量式厚み計、超音波式厚み計、レー
ザー式厚み計のいずれか、もしくはそれぞれの組み合わ
せにより行ない、且つ、フィルムの幅方向に移動しなが
らフィルムの厚みを測定する請求項１に記載のフィルム
の厚み測定方法。 - 【請求項６】 走行位置の測定を、レーザー式距離計、
超音波式距離計、画像解析式距離計、静電容量式距離計
のいずれか、もしくは組み合わせた方法を用いて測定す
る請求項２乃至５のいずれか１項に記載のフィルムの厚
み測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001227332A JP2003042744A (ja) | 2001-07-27 | 2001-07-27 | フィルムの厚み測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001227332A JP2003042744A (ja) | 2001-07-27 | 2001-07-27 | フィルムの厚み測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003042744A true JP2003042744A (ja) | 2003-02-13 |
Family
ID=19060011
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001227332A Pending JP2003042744A (ja) | 2001-07-27 | 2001-07-27 | フィルムの厚み測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003042744A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105091821A (zh) * | 2014-05-04 | 2015-11-25 | 河南安彩高科股份有限公司 | 光伏压延玻璃在线自动测厚装置及方法 |
| CN114812473A (zh) * | 2022-06-28 | 2022-07-29 | 江苏卓高新材料科技有限公司 | 隔膜厚度自动测试装置及其测试方法 |
-
2001
- 2001-07-27 JP JP2001227332A patent/JP2003042744A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105091821A (zh) * | 2014-05-04 | 2015-11-25 | 河南安彩高科股份有限公司 | 光伏压延玻璃在线自动测厚装置及方法 |
| CN114812473A (zh) * | 2022-06-28 | 2022-07-29 | 江苏卓高新材料科技有限公司 | 隔膜厚度自动测试装置及其测试方法 |
| CN114812473B (zh) * | 2022-06-28 | 2022-11-04 | 江苏卓高新材料科技有限公司 | 隔膜厚度自动测试装置及其测试方法 |
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